JP5258683B2 - 材料劣化診断装置及び方法 - Google Patents
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Description
2 光ファイバセンサ部
3 光源
4 光干渉計
5 計測・制御部
6 波形信号発生器
7 アンプ
8 金属
11 永久磁石
12 電気コイル
21 光ファイバ
22 金属箔
23 樹脂シート
Claims (6)
- スポット溶接により金属製材料の表面に接合された金属箔及び前記金属箔に圧着された樹脂シートを含む圧着膜と、
前記圧着膜に貼着され、光源から光が入力される光ファイバと、
前記光ファイバ上に設けられ、前記金属製材料中に振動を与える発振子と、
前記金属製材料中の振動に応じた前記光ファイバを透過する光の変動を電気信号に変換する光干渉計と、
前記電気信号に基づいて前記金属製材料の厚さを算出し、前記金属製材料の劣化度を判定する計測・制御部と、
を備える材料劣化診断装置。 - 前記光ファイバは前記樹脂シート上に設けられており、前記金属箔の前記樹脂シートが圧着された領域の外側の複数箇所が前記スポット溶接により前記金属製材料の表面に接合されていることを特徴とする請求項1に記載の材料劣化診断装置。
- 前記樹脂シートが前記金属製材料の表面に接しており、前記光ファイバが前記金属箔に貼着されていることを特徴とする請求項1に記載の材料劣化診断装置。
- 前記金属箔と前記金属製材料の表面とが、接着剤又は接着剤含浸ガラスクロス材により接着されていることを特徴とする請求項1乃至3に記載の材料劣化診断装置。
- 金属製材料の表面にろう付けされた金属箔及び前記金属箔に圧着された樹脂シートを含む圧着膜と、
前記樹脂シートに貼着され、光源から光が入力される光ファイバと、
前記光ファイバ上に設けられ、前記金属製材料中に振動を与える発振子と、
前記金属製材料中の振動に応じた前記光ファイバを透過する光の変動を電気信号に変換する光干渉計と、
前記電気信号に基づいて前記金属製材料の厚さを算出し、前記金属製材料の劣化度を判定する計測・制御部と、
を備える材料劣化診断装置。 - スポット溶接又はろう付けにより金属製材料の表面に接合された金属箔と前記金属箔に圧着された樹脂シートとを含む圧着膜に貼着された光ファイバに光を入力し、
前記光ファイバ上に設けられた発振子から前記金属製材料中に振動を与え、
前記金属製材料中の振動に応じた前記光ファイバを透過する光の変動を光干渉計により電気信号に変換し、
前記電気信号に基づいて前記金属製材料の厚さを算出して、前記金属製材料の劣化度を判定する材料劣化診断方法。
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