JP5252500B2 - 絶縁電線の内部診断方法及び診断装置 - Google Patents
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Description
1.絶縁電線の準備
先ず、酸化膜が問題となる量未満である絶縁電線(これを「良基準電線」と称する)と、酸化膜が多量に発生した絶縁電線(これを「劣基準電線」と称する)と、診断対象とする絶縁電線とを用意する。「酸化膜が問題となる量未満」というのは、銅製内部素線に酸化膜の発生がないかあるとしても発生量が僅かであるため素線表面のクラック発生を生じていないものをいう。また、「酸化膜が多量に発生した絶縁電線」というのは、銅製内部素線表面のクラック発生を生じているか生じる直前の状態となるほど酸化膜が多量に発生している絶縁電線をいう。
光源11aとしては、前述の銅製素線とその酸化膜に対する遠赤外線の反射特性の知見に基づき、1.3〜2.3THzの周波数範囲から選択した判定用遠赤外線と、1.3THz未満又は2.3THz超過の較正用遠赤外線とを用いる。したがって、精密で高価な周波数可変光源を用いて周波数を設定する必要はない。また、センサ14もこれらの周波数に対応し得るものであればよい。
次に、検知部1の保持部12に電線を保持しない状態で判定用遠赤外線及び較正用遠赤外線を照射し、センサ14に直接到達させる。このときセンサ14から制御部15を経て演算記憶装置21に送られた遠赤外線強度の測定値を各々判定用出射強度及び較正用出射強度として保存する。
次に、診断対象電線を検知部1の保持部12に固定し、出射部11から判定用遠赤外線及び較正用遠赤外線を照射し、センサ14から演算記憶装置21に送られた遠赤外線強度の測定値と、判定用出射強度及び較正用出射強度との比から反射率を算出し、各々判定反射強度及び較正反射強度として保存する。
次に、較正反射強度と良較正基準値とを比較し、両者に有意差があれば、それをなくすのに必要な修正量を求める。そして、その修正量を判定用遠赤外線の照射によって得られた反射率に適用することにより、判定反射強度の較正を行なう。具体的には、較正反射強度と良較正基準値との比を求めて修正量とし、この修正量を判定反射強度に掛け算することにより、判定反射強度の較正を行なう。この較正を行なった上で、較正後の判定反射強度を良基準値と比較する。
[実験例]
以下、本発明の原理に関する実験例について説明する。次に示す絶縁電線を用い、図1に示した診断装置を使用して内部素線の診断に関する実験を行なった。
2 処理部
10 フレーム
11 出射部
12 保持部
13 凹面鏡
14 センサ
15 制御部
21 演算記憶装置
22 表示装置
23 操作部
Claims (10)
- 絶縁電線の銅製内部素線における酸化膜発生を調べるための内部診断方法であって、
内部素線の酸化膜が問題となる量未満である良基準電線と、酸化膜が多量に発生した劣基準電線とに対し、1.3〜2.3THzの範囲から選んだ周波数の判定用遠赤外線を照射し、測定した反射強度を各々良基準値及び劣基準値として保存し、
1.3THz未満又は2.3THz超過の周波数の較正用遠赤外線を前記良基準電線及び劣基準電線の少なくとも一方に照射し、測定した反射強度に基づいた較正基準値を保存し、
診断対象電線に対して前記判定用遠赤外線及び較正用遠赤外線を照射し、各遠赤外線について測定した反射強度を判定反射強度及び較正反射強度とし、前記判定反射強度を、前記較正反射強度と前記較正基準値との比較により較正した上で、前記良基準値及び劣基準値と比較することにより、前記診断対象電線の酸化膜の発生状態を診断することを特徴とする絶縁電線の内部診断方法。 - 前記較正用遠赤外線が、1.5THz未満又は2.5THz超過の周波数の遠赤外線であることを特徴とする請求項1に記載の絶縁電線の内部診断方法。
- 前記判定用遠赤外線と較正用遠赤外線との周波数の差が、0.3THz以上であることを特徴とする請求項1又は2に記載の絶縁電線の内部診断方法。
- 前記各絶縁電線への各遠赤外線の照射による反射光を集光部材によって集光して反射強度測定を行なうことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の絶縁電線の内部診断方法。
- 前記集光部材を用いた測定位置に診断対象電線を至らせるための通路を確保することにより、架渉された状態にある絶縁電線を切断せずに診断対象電線を前記測定位置に至らせて前記反射強度測定を行なうことを特徴とする請求項4に記載の絶縁電線の内部診断方法。
- 内部素線の酸化膜の量が前記良基準電線と劣基準電線とにおける酸化膜の量の中間にあたる一又は複数の銅製内部素線を有する絶縁電線を中間基準電線とし、該中間基準電線に前記判定用遠赤外線を照射し、測定した反射強度を中間基準値として保存し、前記判定反射強度を、前記較正反射強度と前記較正基準値との比較により較正した上で、前記良基準値、劣基準値及び中間基準値と比較することにより、前記診断対象電線の酸化膜の発生状態を診断することを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の絶縁電線の内部診断方法。
- 絶縁電線の銅製内部素線における酸化膜発生を調べるための内部診断装置であって、1.3〜2.3THzの範囲から選ばれた周波数の遠赤外線、並びに、1.3THz未満又は2.3THz超過の周波数の遠赤外線を、選択的に出射し得る出射部と、該出射部から出射された遠赤外線の照射を受ける位置に診断対象電線を保持する保持部と、該診断対象電線で反射された遠赤外線を集光する集光部材と、該集光部材からの遠赤外線を受けてその強度を検出するセンサと、該センサから送られる検出信号を保存し複数の検出信号の比較を行なう信号処理部とを備えていることを特徴とする絶縁電線の内部診断装置。
- 前記保持部と前記集光部材との間に、診断対象電線を該電線の径方向に移動して前記保持部による保持位置に至らせるための間隙が設けられていることを特徴とする請求項7に記載の絶縁電線の内部診断装置。
- 前記保持部と前記集光部材とは、両者を離反させることにより診断対象電線を該電線の径方向に移動して前記保持部による保持位置に至らせ得る開放位置と、両者を接近させて前記保持部上の診断対象電線からの反射光の集光作用を奏し得る接近位置とをとり得るように、前記保持部及び集光部材の少なくとも一方が移動可能に設けられていることを特徴とする請求項7に記載の絶縁電線の内部診断装置。
- 前記集光部材に対して前記保持部と反対側の位置に前記出射部が配置されており、前記集光部材には前記出射部からの遠赤外線を前記保持部上の診断対象電線に到達させるための透光部が設けられていることを特徴とする請求項7から9のいずれか1項に記載の絶縁電線の内部診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009007834A JP5252500B2 (ja) | 2009-01-16 | 2009-01-16 | 絶縁電線の内部診断方法及び診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009007834A JP5252500B2 (ja) | 2009-01-16 | 2009-01-16 | 絶縁電線の内部診断方法及び診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010164475A JP2010164475A (ja) | 2010-07-29 |
JP5252500B2 true JP5252500B2 (ja) | 2013-07-31 |
Family
ID=42580753
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009007834A Expired - Fee Related JP5252500B2 (ja) | 2009-01-16 | 2009-01-16 | 絶縁電線の内部診断方法及び診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5252500B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6694792B2 (ja) * | 2016-10-04 | 2020-05-20 | 日本特殊陶業株式会社 | 絶縁体の欠陥を検出する検出方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61183478A (ja) * | 1985-02-08 | 1986-08-16 | Japan Carlit Co Ltd:The | 銅の表面酸化処理方法 |
JPS6228643A (ja) * | 1985-07-31 | 1987-02-06 | Toshiba Corp | 照明・受光装置 |
JPH0756474B2 (ja) * | 1989-10-12 | 1995-06-14 | 日立電線株式会社 | 線材表面欠陥検出器 |
JPH06273326A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-09-30 | Densen Sogo Gijutsu Center | 可塑剤および充填剤を含有する合成樹脂成形品の非破壊的劣化診断方法 |
JP4614436B2 (ja) * | 2005-02-18 | 2011-01-19 | 財団法人電力中央研究所 | 固体絶縁体の異常検出方法及び異常検出装置 |
JP4817826B2 (ja) * | 2005-11-09 | 2011-11-16 | 国立大学法人東北大学 | 検査システム |
JP5035618B2 (ja) * | 2006-12-05 | 2012-09-26 | 独立行政法人理化学研究所 | 電磁波を用いた検出方法、及び検出装置 |
-
2009
- 2009-01-16 JP JP2009007834A patent/JP5252500B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010164475A (ja) | 2010-07-29 |
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A621 | Written request for application examination |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20111226 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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