JP5242015B2 - Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk - Google Patents

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Description

本発明は、ハードディスクドライブ(HDD)などの情報記録装置における記録媒体となる磁気ディスクに使用される磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及びこの磁気ディスク用ガラス基板を使用する磁気ディスクの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk used for a magnetic disk serving as a recording medium in an information recording apparatus such as a hard disk drive (HDD), and a method for manufacturing a magnetic disk using the glass substrate for a magnetic disk.

近年、情報化社会の高度化に伴って種々の情報処理装置が提案されており、また、これら情報処理装置において使用されるハードディスクドライブ(HDD)などの情報記録装置が提案されている。そして、このような情報記録装置においては、情報処理装置の小型化、高性能化のために、情報記録容量の大量化、記録密度の高密度化が求められている。   In recent years, various information processing apparatuses have been proposed with the advancement of the information society, and information recording apparatuses such as hard disk drives (HDD) used in these information processing apparatuses have been proposed. In such an information recording apparatus, in order to reduce the size and performance of the information processing apparatus, an increase in information recording capacity and an increase in recording density are required.

ハードディスクドライブにおいて、情報記録密度を高密度化するためには、いわゆるスペーシングロスを低減させる必要があり、記録媒体となる磁気ディスクに対して記録再生を行なう磁気ヘッドの浮上量(グライド・ハイト)を少なくする必要がある。   In a hard disk drive, in order to increase the information recording density, it is necessary to reduce so-called spacing loss, and the flying height (glide height) of the magnetic head that performs recording and reproduction on the magnetic disk as the recording medium Need to be reduced.

磁気ヘッドの浮上量は、磁気ディスクの表面の表面粗さに相関があり、また、磁気ヘッドの浮上量を少なくした場合、磁気ヘッドが磁気ディスクの表面に接触してしまう虞れが大きくなる。このような磁気ヘッドの接触を防止しつつ、磁気ヘッドの浮上量を少なくするには、磁気ディスクの主表面を、極めて平滑な面として仕上げておく必要がある。   The flying height of the magnetic head has a correlation with the surface roughness of the surface of the magnetic disk, and when the flying height of the magnetic head is reduced, the possibility that the magnetic head contacts the surface of the magnetic disk increases. In order to reduce the flying height of the magnetic head while preventing such contact of the magnetic head, it is necessary to finish the main surface of the magnetic disk as a very smooth surface.

また、ハードディスクドライブにおける磁気ヘッドとしては、記録再生時の信号強度を向上させるために、従来広く用いられていた薄膜ヘッドに代えて、磁気抵抗効果型素子(MR素子)を用いた磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)や大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)が広く用いられるようになってきている。このような磁気抵抗効果型素子を用いた磁気抵抗型ヘッドにおいては、磁気ディスクの表面に微小な凹凸があると、サーマルアスペリティ(Thermal Asperity)障害を生じ、再生に誤動作を生じたり、再生が不可能になる虞れがある。このサーマルアスペリティ障害の原因は、ガラス基板上の異物によって磁気ディスクの表面に形成された凸部が磁気ディスクの高速回転により磁気抵抗型ヘッドの近傍の空気の断熱圧縮及び断熱膨張を発生させ、磁気抵抗型ヘッドが発熱して磁気抵抗効果型素子の抵抗値が変動し、電磁変換が悪影響を受けることである。   In addition, as a magnetic head in a hard disk drive, a magnetoresistive head using a magnetoresistive element (MR element) instead of a conventionally used thin film head in order to improve signal strength during recording and reproduction. (MR heads) and large magnetoresistive heads (GMR heads) have been widely used. In a magnetoresistive head using such a magnetoresistive effect element, if there are minute irregularities on the surface of the magnetic disk, a thermal asperity failure will occur, causing a malfunction in playback or failure in playback. May be possible. The cause of this thermal asperity failure is that the convex part formed on the surface of the magnetic disk by the foreign matter on the glass substrate causes adiabatic compression and adiabatic expansion of the air in the vicinity of the magnetoresistive head due to the high-speed rotation of the magnetic disk. The resistance type head generates heat and the resistance value of the magnetoresistive effect element fluctuates, and electromagnetic conversion is adversely affected.

すなわち、このようなサーマルアスペリティ障害は、磁気ヘッドが磁気ディスクに接触しない場合においても発生し得る。このようなサーマルアスペリティ障害を防止するためにも、磁気ディスクの主表面は、極めて平滑で、かつ、異物の無い高清浄化された面に仕上げておく必要がある。   That is, such a thermal asperity failure can occur even when the magnetic head does not contact the magnetic disk. In order to prevent such a thermal asperity failure, the main surface of the magnetic disk needs to be finished to a very smooth surface free from foreign matter.

このような磁気ディスクの主表面の平滑性を実現するため、ディスク基板としては、従来広く用いられていたアルミニウム基板に代えて、ガラス基板が用いられるようになっている。ガラス基板は、アルミニウム基板に比較して、主表面の平坦性及び基板強度において優れているからである。なお、このようなガラス基板としては、基板強度を上げるために、化学強化されたガラス基板や、結晶化によって基板強度を上げた結晶化ガラス基板が用いられている。このようなガラス基枚は、その表面に研削(ラッピング)処理及び研磨処理を施すことにより製造されている。   In order to realize such smoothness of the main surface of the magnetic disk, a glass substrate is used as the disk substrate instead of the conventionally widely used aluminum substrate. This is because the glass substrate is superior in the flatness of the main surface and the substrate strength as compared with the aluminum substrate. As such a glass substrate, a chemically tempered glass substrate or a crystallized glass substrate whose substrate strength is increased by crystallization is used in order to increase the substrate strength. Such a glass base sheet is manufactured by performing grinding (lapping) treatment and polishing treatment on the surface thereof.

本件出願人は、先に、このようなディスク基板の主表面を平滑な面に仕上げる目的を以て、軟質ポリシャの研磨布を貼り付けた上下定盤の間にガラスディスクをセットし、遊星歯車機構を用いてこれら研磨布とガラスディスクとを相対的に摺動させ、ガラスディスクの両主表面を研磨する研磨工程を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提案している。また、本件出願人は、このような研磨工程において使用する研磨液として、特許文献1に記載されているように、コロイダルシリカ砥粒を含む研磨液を用いることを提案している。   For the purpose of finishing the main surface of such a disk substrate to a smooth surface, the applicant of the present application first sets a glass disk between upper and lower surface plates to which a polishing cloth of a soft polisher is attached, and sets the planetary gear mechanism. The manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs which has the grinding | polishing process which grind | polishes both the main surfaces of a glass disc by making these abrasive cloths and a glass disc slide relatively using is proposed. In addition, the applicant of the present application has proposed using a polishing liquid containing colloidal silica abrasive grains as described in Patent Document 1 as a polishing liquid used in such a polishing process.

遊星歯車機構においては、ガラスディスクは、上下定盤に挟圧され、これら定盤に対する相対的な運動を行いながら、板厚を削減される。この過程で、ガラスディスクは、所定の板厚に削減されるとともに、表面が所定の平坦面、平滑面に仕上げられる。   In the planetary gear mechanism, the glass disk is sandwiched between upper and lower surface plates, and the plate thickness is reduced while performing relative movement with respect to the surface plates. In this process, the glass disk is reduced to a predetermined plate thickness and the surface is finished to a predetermined flat surface and a smooth surface.

他方で、磁気ディスクにおける高密度記録化を達成するためには、磁気ディスクの表面の研磨砥粒の残滓をはじめとする欠陥を低減する必要がある。このような磁気ディスクの表面の欠陥を低減するため、研磨工程後の洗浄として、水やアルカリ水溶液を用いた超音波洗浄を行っている。   On the other hand, in order to achieve high density recording on the magnetic disk, it is necessary to reduce defects such as residues of abrasive grains on the surface of the magnetic disk. In order to reduce such defects on the surface of the magnetic disk, ultrasonic cleaning using water or an aqueous alkali solution is performed as cleaning after the polishing process.

また、低価格の磁気ディスクを大量に供給するためには、製造コストの低廉化も必要であり、そのため、研磨工程において使用した研磨液を回収し、フィルタを通して循環再利用することが行われている。   In addition, in order to supply a large amount of low-priced magnetic disks, it is necessary to reduce the manufacturing cost. For this reason, the polishing liquid used in the polishing process is collected and recycled through a filter. Yes.

特開2003−173518公報JP 2003-173518 A

ところで、コロイダルシリカ砥粒を含む研磨液を用いて研磨された磁気ディスク用ガラス基板に対しては、研磨工程後に水やアルカリ水溶液を用いた超音波洗浄が行われるが、水を用いた洗浄の場合には、コロイダルシリカ研磨砥粒を十分に除去しきれず、ガラス基板上に研磨砥粒が残留する虞れがある。   By the way, for a glass substrate for a magnetic disk polished using a polishing liquid containing colloidal silica abrasive grains, ultrasonic cleaning using water or an alkaline aqueous solution is performed after the polishing process. In such a case, the colloidal silica abrasive grains cannot be sufficiently removed, and the abrasive grains may remain on the glass substrate.

また、アルカリ水溶液(例えば、濃度6wt%、pH12.5)を用いた洗浄を行った場合には、コロイダルシリカ研磨砥粒は溶解除去され、磁気ディスク用ガラス基板上に残留することはない。しかし、研磨砥粒の除去を確実とするためにアルカリ水溶液濃度を高くするなど洗浄条件を強くすると、ガラス基板にアルカリ水溶液によるダメージ(凹欠陥)が発生したり、ガラス基板の表面粗さが増大するという問題がある。   Further, when cleaning with an alkaline aqueous solution (for example, concentration 6 wt%, pH 12.5) is performed, the colloidal silica abrasive grains are dissolved and removed and do not remain on the magnetic disk glass substrate. However, if the cleaning conditions are increased, such as increasing the concentration of the alkaline aqueous solution to ensure the removal of the abrasive grains, the glass substrate may be damaged by the aqueous alkaline solution (concave defect) or the surface roughness of the glass substrate will increase. There is a problem of doing.

また、研磨砥粒を含んだ研磨液を循環再利用することとした場合には、研磨時間の経過とともに、研磨液の温度が上昇するという問題がある。研磨液の温度が上昇すると、磁気ディスク用ガラス基板の表面エネルギーが高活性状態となり、研磨液に含まれる研磨砥粒が、機械的研磨作用を及ぽした後に、ガラス基板の表面に再付着する虞れがある。また、研磨液の温度が上昇すると、研磨工程後の磁気ディスク用ガラス基板の表面の乾燥が早くなり、この表面に研磨砥粒が固着する虞れがある。   Further, when the polishing liquid containing the abrasive grains is circulated and reused, there is a problem that the temperature of the polishing liquid increases with the lapse of the polishing time. When the temperature of the polishing liquid rises, the surface energy of the glass substrate for magnetic disks becomes highly active, and the abrasive grains contained in the polishing liquid re-adhere to the surface of the glass substrate after exerting a mechanical polishing action. There is a fear. Further, when the temperature of the polishing liquid rises, the surface of the magnetic disk glass substrate after the polishing process is dried quickly, and the abrasive grains may adhere to this surface.

なお、コロイダルシリカ研磨砥粒は、ガラス基板に付着しやすいという課題がある。コロイダルシリカ研磨砥粒に主成分として含まれるシリカは、ガラス基板の主成分である。ガラス基板に一度コロイダルシリカ研磨砥粒が付着すると、除去が困難である。   In addition, there exists a subject that colloidal silica abrasive grain tends to adhere to a glass substrate. Silica contained as a main component in the colloidal silica abrasive is the main component of the glass substrate. Once the colloidal silica abrasive grains adhere to the glass substrate, it is difficult to remove.

また、研磨工程においては、ガラス基板の表面にコロイダルシリカ研磨砥粒が押圧されることになるので、一層強固に付着しやすいのである。   Further, in the polishing step, colloidal silica abrasive grains are pressed against the surface of the glass substrate, so that they are more likely to adhere more firmly.

したがって、ガラス基板の鏡面研磨に際してコロイダルシリカ研磨砥粒を用いると、平滑な鏡面が得られる一方で、コロイダルシリカの付着残渣と思われる凸状異物を生じやすい。よって、期待通りに磁気ヘッドの浮上量を低減することが困難であるという課題がある。   Therefore, when colloidal silica polishing abrasive grains are used for mirror polishing of a glass substrate, a smooth mirror surface can be obtained, while convex foreign matters that are thought to be adhered residues of colloidal silica are likely to be generated. Therefore, there is a problem that it is difficult to reduce the flying height of the magnetic head as expected.

前述したとおり、洗浄液等を用いて異物を化学的に除去しようとすれば、ガラス基板表面の平滑状態が乱されてしまい、また、機械的な処理で除去しようとしても、固着程度が強いために、ガラス基板の表面から十分に除去することができないのである。また、機械的に除去しようとすると、コロイダルシリカ研磨砥粒の残渣をガラス基板に押圧することになり、結果的に洗浄作用を阻害してしまう場合もある。   As described above, if the foreign matter is chemically removed using a cleaning solution or the like, the smooth state of the glass substrate surface is disturbed, and even if it is removed by mechanical treatment, the degree of fixation is strong. It cannot be sufficiently removed from the surface of the glass substrate. Moreover, when it tries to remove mechanically, the residue of a colloidal silica abrasive grain will be pressed on a glass substrate, and as a result, a cleaning action may be inhibited.

シリカを主成分とするガラス基板の場合では、鏡面研磨に際してコロイダルシリカ研磨砥粒を利用しても、平滑鏡面であって、かつ、凸状の異物のない表面を創生することは困難なのである。   In the case of a glass substrate mainly composed of silica, it is difficult to create a smooth mirror surface and a surface free from convex foreign matter even if colloidal silica abrasive grains are used for mirror polishing. .

そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提案されるものであって、その第1の目的は、磁気ディスク用ガラス基板の主表面の研磨工程後における研磨砥粒の残滓や凹欠陥の発生が防止されて高平滑性の磁気ディスク用ガラス基板を製造できる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供することにある。   Therefore, the present invention has been proposed in view of the above-described circumstances, and the first object thereof is to generate residues of polishing abrasive grains and concave defects after the polishing process of the main surface of the magnetic disk glass substrate. It is an object of the present invention to provide a method for producing a glass substrate for a magnetic disk, which can prevent the occurrence of the problem and can produce a highly smooth glass substrate for a magnetic disk.

また、本発明の第2の目的は、安定した品質の磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクを廉価に大量に提供することを可能とすることにある。   A second object of the present invention is to provide a stable and high quality glass substrate for magnetic disk and a large amount of magnetic disk at low cost.

さらに、本発明の第3の目的は、磁気ディスク用ガラス基板を用いた磁気ディスクにおいて、磁気ヘッドの浮上量を狭矮化してもサーマルアスペリティ障害やヘッドクラッシュが防止されるようにして、磁気ディスクにおける情報記録面密度の高密度化に資することにある。   Furthermore, a third object of the present invention is to provide a magnetic disk using a glass substrate for a magnetic disk so that thermal asperity failure and head crash can be prevented even if the flying height of the magnetic head is narrowed. This contributes to an increase in information recording surface density.

以上の課題に対しては、研磨工程の後に、ガラス基板の表面に付着した研磨砥粒を除去しようとする解決手段だけを用いていては、十分な効果を上げることは困難である。   With respect to the above problems, it is difficult to achieve a sufficient effect by using only a solution for removing polishing abrasive grains adhering to the surface of the glass substrate after the polishing step.

本発明者は、研磨工程において、ガラス基板の表面に研磨砥粒が付着することを抑制する手段を完成させた。   The present inventor has completed a means for suppressing polishing grains from adhering to the surface of the glass substrate in the polishing step.

本発明者は、前記課題を解決すべく研究を進めた結果、磁気ディスク用ガラス基板の製造工程における研磨工程において、研磨液の温度を所定の温度以下に制御することによって、前記課題を解決できるとの知見を得た。   As a result of conducting research to solve the above problems, the present inventor can solve the above problems by controlling the temperature of the polishing liquid below a predetermined temperature in the polishing process in the manufacturing process of the glass substrate for magnetic disks. And gained knowledge.

すなわち、本発明は、以下の構成のいずれか一を備えるものである。   That is, the present invention includes any one of the following configurations.

〔構成1〕
本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、円盤状のガラスディスクの表面を研削した後に、研磨砥粒を含む研磨液と、互いに対向する一対の定盤に貼付された発泡樹脂ポリシャとを用い、研磨液を一対の定盤とガラスディスクとの間に供給しつつ、一対の定盤とガラスディスクを互いに摺接させて遊星歯車機構によりガラスディスクの両主表面を研磨して当該両主表面の粗さを Raで0.1nm乃至0.7nm、Rmaxで3nm以下の鏡面とする研磨工程を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、ガラスディスクの材料としてアルミノシリケートガラスが用いられ、研磨液として、研磨砥粒としてコロイダルシリカ砥粒を含むものを使用し、かつ、研磨液を貯留タンクとガラスディスクの表面との間を循環させ、この循環経路上において、熱交換手段によって当該研磨液を冷却し、研磨液をガラスディスクの表面に供給するときの当該研磨液の温度を、雰囲気温度以下、かつ、20°C以下とし、研磨工程を終了したときのガラスディスクの表面の温度を、雰囲気温度以下、かつ、30°C以下とすることを特徴とするものである。
[Configuration 1]
A method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention comprises: a polishing liquid containing abrasive grains after grinding the surface of a disk-shaped glass disk ; and a foamed resin polisher affixed to a pair of surface plates facing each other. , The polishing liquid is supplied between the pair of surface plates and the glass disk, the pair of surface plates and the glass disk are brought into sliding contact with each other, and both main surfaces of the glass disk are polished by a planetary gear mechanism. A method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk including a polishing step in which the roughness of the main surface is a mirror surface with a Ra of 0.1 nm to 0.7 nm and an Rmax of 3 nm or less , wherein aluminosilicate glass is used as the material of the glass disk A polishing liquid containing colloidal silica abrasive grains is used as the abrasive grains, and the polishing liquid is circulated between the storage tank and the surface of the glass disk. On the circulation path, the polishing liquid is cooled by heat exchanging means , and the temperature of the polishing liquid when supplying the polishing liquid to the surface of the glass disk is set to an ambient temperature or lower and 20 ° C. or lower, and the polishing step is performed. The temperature of the surface of the glass disk when it is finished is not more than the ambient temperature and not more than 30 ° C.

なお、本発明において用いるガラスディスクの材料には特に制限はなく、例えば、石英ガラス、ソーダライムガラス、アルミノシリケートガラス、ボロシリケートガラス、アルミノボロシリケートガラス、無アルカリガラス結晶化ガラスなどが挙げられる。
コロイダルシリカ砥粒の平均粒径は、研磨工程によって実現するガラス基板の平滑性(表面粗さ)によって適宜調整することができ、例えば、0.01乃至0.5μmとする。近年の高密度記録再生が可能な磁気ディスクに対応するために十分な平滑性のガラス基板、例えば、表面粗さRmaxが3nm以下のガラス基板を得るためには、コロイダルシリカの平均粒径は、0.5μm以下とすることが望ましい。
また、コロイダルシリカ砥粒の濃度は、加工速度やガラス基板の表面粗さに応じて適宜調整することができ、例えば、加工速度を考慮して、5乃至35wt%とすることが好ましい。研磨剤の濃度を高くするにしたがって、研磨工程後のガラス基板の表面は粗くなる。
The material of the glass disk used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include quartz glass, soda lime glass, aluminosilicate glass, borosilicate glass, aluminoborosilicate glass, and alkali-free glass crystallized glass.
The average particle size of the colloidal silica abrasive grains can be appropriately adjusted depending on the smoothness (surface roughness) of the glass substrate realized by the polishing step, and is set to 0.01 to 0.5 μm, for example. In order to obtain a glass substrate that is sufficiently smooth to support a magnetic disk capable of high-density recording / reproduction in recent years, for example, a glass substrate having a surface roughness Rmax of 3 nm or less, the average particle diameter of colloidal silica is: It is desirable that the thickness be 0.5 μm or less.
Further, the concentration of the colloidal silica abrasive grains can be appropriately adjusted according to the processing speed and the surface roughness of the glass substrate. For example, it is preferably 5 to 35 wt% in consideration of the processing speed. As the concentration of the polishing agent is increased, the surface of the glass substrate after the polishing step becomes rough.

〔構成2〕
本発明は、構成1を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、一対の定盤とガラスディスクを互いに摺接させる際の荷重は、30g/cm 乃至120g/cm であることを特徴とするものである。
〔構成3〕
本発明は、構成1、または、構成2を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、研磨液中には、研磨砥粒が5〜32wt%含有されており、研磨砥粒に含まれるコロイダルシリカ砥粒の平均粒径は、0.01μm乃至0.1μmであることを特徴とするものである。
〔構成4〕
本発明は、構成1乃至構成3のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、発泡樹脂ポリシャは、軟質発泡樹脂ポリシャであることを特徴とするものである。
[Configuration 2]
The present invention provides a method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having the configuration 1, the load at the time of each other sliding contact with the pair of platen glass disk, and characterized by a 30 g / cm 2 to 120 g / cm 2 To do.
[Configuration 3]
The present invention relates to a method for producing a glass substrate for a magnetic disk having Configuration 1 or Configuration 2, wherein the polishing liquid contains 5 to 32 wt% of abrasive grains, and the colloidal silica contained in the abrasive grains The average grain size of the abrasive grains is 0.01 μm to 0.1 μm.
[Configuration 4]
The present invention is a method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having any one of Configurations 1 to 3, wherein the foamed resin polisher is a soft foamed resin polisher.

〔構成
本発明は、構成1乃至構成4のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、熱交換手段として、内部に冷却液が流通されコイル状に巻回された冷却管を有する冷却装置を用いることを特徴とするものである。
[Configuration 5 ]
The present invention relates to a method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having any one of Configurations 1 to 4, and a cooling device having a cooling pipe in which a coolant is circulated and wound in a coil shape as heat exchange means It is characterized by using.

〔構成
本発明は、構成を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、冷却装置として、冷却管内を流通する冷却液の温度及び流量並びに研磨液の温度を検出する検出手段と、この検出手段による検出結果を表示する表示手段とを備えたものを用いることを特徴とするものである。
[Configuration 6 ]
According to the present invention, in the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having the configuration 5, as a cooling device, a detecting means for detecting the temperature and flow rate of the cooling liquid flowing in the cooling pipe and the temperature of the polishing liquid, and detection by this detecting means What is provided with the display means which displays a result is used, It is characterized by the above-mentioned.

〔構成
本発明は、構成を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、冷却装置として、検出手段による冷却液の温度及び研磨液の温度の検出結果に基づいて冷却液の冷却管内の流量を制御する機能を有するものを用いることを特徴とするものである。
[Configuration 7 ]
According to the present invention, in the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having the configuration 5, as a cooling device, the flow rate of the cooling liquid in the cooling pipe is controlled based on the detection result of the cooling liquid temperature and the polishing liquid temperature by the detecting means. What has a function is used.

〔構成
本発明に係る磁気ディスクの製造方法は、構成1乃至構成のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に、少なくとも磁性層を形成することを特徴とするものである。
[Configuration 8 ]
According to the magnetic disk manufacturing method of the present invention, at least a magnetic layer is formed on the main surface of the magnetic disk glass substrate manufactured by the magnetic disk glass substrate manufacturing method having any one of configurations 1 to 7. It is characterized by doing.

構成1を有する本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、研磨液として、研磨砥粒としてコロイダルシリカ砥粒を含むものを使用し、かつ、研磨液を貯留タンクとガラスディスクの表面との間を循環させ、この循環経路上において、熱交換手段によって当該研磨液を冷却し、研磨液をガラスディスクの表面に供給するときの当該研磨液の温度を、雰囲気温度以下、かつ、20°C以下とし、研磨工程を終了したときのガラスディスクの表面の温度を、雰囲気温度以下、かつ、30°C以下とするので、研磨工程後における研磨液の蒸散を抑制してガラス基板の表面の乾燥を防止し、この表面に研磨砥粒が固着することを防止することができる。
また、ガラスディスクの材料としてアルミノシリケートガラスが用いられ、研磨液として研磨砥粒としてコロイダルシリカ砥粒を含むものを使用するので、ガラスディスクの主面を良好な平滑面に研磨することができる。
さらに、研磨液を貯留タンクとガラスディスクの表面との間を循環させ、この循環経路上において熱交換手段によって当該研磨液を冷却するので、ガラスディスクの表面に供給される研磨液の温度を下げることができ、研磨工程後において、研磨液の蒸散を抑制してガラス基板の表面の乾燥を防止するとともに、磁気ディスク用ガラス基板の表面エネルギーを低活性状態として、研磨液に含まれる研磨砥粒がガラス基板の表面に再付着し固着するすることを防止することができる。
また、研磨工程後において、磁気ディスク用ガラス基板の表面エネルギーを低活性状態として、研磨液に含まれる研磨砥粒がガラス基板の表面に再付着することを防止することができる。すなわち、研磨工程後の研磨砥粒がガラス基板の表面から除去され易い状態とすることができるので、研磨工程後の水やアルカリ水溶液を用いた超音波洗浄における研磨砥粒の残留を防止することができ、また、アルカリ水溶液の濃度を高くするなど洗浄条件を強くする必要がないので、凹欠陥のない高い平滑性を有する磁気ディスク用ガラス基板を製造することができる。
In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention having Configuration 1, a polishing liquid containing a colloidal silica abrasive as the abrasive is used, and the polishing liquid is stored on the surface of the storage tank and the glass disk. The temperature of the polishing liquid when the polishing liquid is cooled on the circulation path by the heat exchange means and the polishing liquid is supplied to the surface of the glass disk is equal to or lower than the ambient temperature, and 20 Since the temperature of the surface of the glass disk when the polishing process is completed is set to be equal to or lower than ° C and the atmospheric temperature is equal to or lower than 30 ° C, the evaporation of the polishing liquid after the polishing process is suppressed and the surface of the glass substrate is suppressed. It is possible to prevent the abrasive grains from adhering to the surface.
In addition, since aluminosilicate glass is used as the material of the glass disk and a material containing colloidal silica abrasive grains as the abrasive grains is used as the polishing liquid, the main surface of the glass disk can be polished to a good smooth surface.
Further, the polishing liquid is circulated between the storage tank and the surface of the glass disk, and the polishing liquid is cooled by the heat exchanging means on this circulation path, so that the temperature of the polishing liquid supplied to the surface of the glass disk is lowered. After the polishing process, it is possible to prevent the polishing liquid from evaporating to prevent the surface of the glass substrate from being dried and to reduce the surface energy of the glass substrate for magnetic disk to a low activity state, thereby polishing abrasive grains contained in the polishing liquid. Can be prevented from reattaching and adhering to the surface of the glass substrate.
In addition, after the polishing step, the surface energy of the magnetic disk glass substrate can be set to a low activity state, and the abrasive grains contained in the polishing liquid can be prevented from reattaching to the surface of the glass substrate. That is, since the abrasive grains after the polishing process can be easily removed from the surface of the glass substrate, it is possible to prevent the abrasive grains from remaining in ultrasonic cleaning using water or an alkaline aqueous solution after the polishing process. In addition, since it is not necessary to increase the cleaning conditions such as increasing the concentration of the aqueous alkali solution, it is possible to produce a glass substrate for magnetic disk having high smoothness without a concave defect.

構成を有する本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、熱交換手段として内部に冷却液が流通されコイル状に巻回された冷却管を有する冷却装置を用いるので、ガラスディスクの表面に供給される研磨液の温度を効率よく下げることができる。 In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention having the configuration 5 , a cooling device having a cooling pipe in which a cooling liquid is circulated and wound in a coil shape is used as a heat exchange means. The temperature of the polishing liquid supplied to the surface can be lowered efficiently.

構成を有する本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、冷却装置として冷却管内を流通する冷却液の温度及び流量並びに研磨液の温度を検出する検出手段とこの検出手段による検出結果を表示する表示手段とを備えたものを用いるので、ガラスディスクの表面に供給される研磨液の温度を正確に制御することができる。 In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention having the configuration 6, as a cooling device, a detecting means for detecting the temperature and flow rate of the cooling liquid flowing in the cooling pipe and the temperature of the polishing liquid, and a detection result by the detecting means Therefore, the temperature of the polishing liquid supplied to the surface of the glass disk can be accurately controlled.

構成を有する本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、冷却装置として検出手段による冷却液の温度及び研磨液の温度の検出結果に基づいて冷却液の冷却管内の流量を制御する機能を有するものを用いるので、ガラスディスクの表面に供給される研磨液の温度を正確に制御することができる。 In the method for manufacturing a magnetic disk glass substrate according to the present invention having the configuration 7 , the flow rate of the cooling liquid in the cooling pipe is controlled based on the detection result of the temperature of the cooling liquid and the temperature of the polishing liquid by the detecting means as the cooling device. Since one having a function is used, the temperature of the polishing liquid supplied to the surface of the glass disk can be accurately controlled.

そして、構成を有する本発明に係る磁気ディスクの製造方法においては、前述の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に、少なくとも磁性層を形成するので、磁気ディスク用ガラス基板の主表面における研磨砥粒の残滓や、欠陥(凹欠陥)、表面粗さの劣化による問題、すなわち、ヘッドクラッシュやサーマルアスペリテイ障害が確実に防止された磁気ディスクを製造することができる。 In the method for manufacturing a magnetic disk according to the present invention having configuration 8 , at least the magnetic layer is formed on the main surface of the glass substrate for magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for magnetic disk described above. , Manufactures magnetic disks that reliably prevent problems such as head crush and thermal asperity failure due to residual abrasive grains, defects (concave defects), and surface roughness degradation on the main surface of the glass substrate for magnetic disks can do.

すなわち、本発明は、磁気ディスク用ガラス基板の主表面の研磨工程後における研磨砥粒の残滓や凹欠陥の発生が防止されて高平滑性の磁気ディスク用ガラス基板を製造できる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供することができるものである。   That is, the present invention provides a magnetic disk glass substrate that can prevent the generation of residual abrasive grains or concave defects after the polishing process of the main surface of the magnetic disk glass substrate, thereby producing a highly smooth glass substrate for magnetic disks. This manufacturing method can be provided.

また、本発明は、安定した品質の磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクを廉価に大量に提供することを可能とするものである。   In addition, the present invention makes it possible to provide a stable and high quality glass substrate for magnetic disk and a large number of magnetic disks at low cost.

さらに、本発明は、磁気ディスク用ガラス基板を用いた磁気ディスクにおいて、磁気ヘッドの浮上量を狭矮化してもサーマルアスペリティ障害やヘッドクラッシュが防止されるようにして、磁気ディスクにおける情報記録面密度の高密度化に資することができるものである。   Further, the present invention provides a magnetic disk using a magnetic disk glass substrate, so that even if the flying height of the magnetic head is narrowed, thermal asperity failure and head crash are prevented, so that the information recording surface density on the magnetic disk is reduced. It can contribute to the higher density.

以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.

本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、例えば、ハードディスクドライブ(HDD)等に搭載される磁気ディスクのディスク基板として使用される磁気ディスク用ガラス基板を製造するものである。この磁気ディスクは、面内磁気記録方式や、垂直磁気記録方式によって、高密度の情報信号記録及び再生を行うことができる記録媒体である。   The method for manufacturing a glass substrate for magnetic disk according to the present invention is for manufacturing a glass substrate for magnetic disk used as a disk substrate of a magnetic disk mounted on, for example, a hard disk drive (HDD). This magnetic disk is a recording medium capable of performing high-density information signal recording and reproduction by an in-plane magnetic recording system or a perpendicular magnetic recording system.

図1は、本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により製造される磁気ディスク用ガラス基板の構成を示す斜視図である。   FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a glass substrate for magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for magnetic disk according to the present invention.

この磁気ディスク用ガラス基板は、図1に示すように、外径15mm乃至30mm、内径5mm乃至12mm、板厚0.35mm乃至0.5mmであり、例えば、「0.8インチ(inch)型磁気ディスク」(内径6mm、外径21.6mm、板厚0.381mm)、「1.0インチ型磁気ディスク」(内径7mm、外径27.4mm、板厚0.381mm)などの所定の直径を有する磁気ディスクとして作製される。また、「2.5インチ型磁気ディスク」、「3.5インチ型磁気ディスク」など磁気ディスクとして作製されるものとしてもよい。なお、ここで、「内径」とは、磁気ディスク用ガラス基板1の中心孔2の内径である。   As shown in FIG. 1, the glass substrate for a magnetic disk has an outer diameter of 15 to 30 mm, an inner diameter of 5 to 12 mm, and a plate thickness of 0.35 to 0.5 mm. Predetermined diameters such as “disk” (inner diameter 6 mm, outer diameter 21.6 mm, plate thickness 0.381 mm), “1.0 inch type magnetic disk” (inner diameter 7 mm, outer diameter 27.4 mm, plate thickness 0.381 mm), etc. It is manufactured as a magnetic disk. Further, it may be manufactured as a magnetic disk such as a “2.5 inch magnetic disk” or a “3.5 inch magnetic disk”. Here, the “inner diameter” is the inner diameter of the center hole 2 of the glass substrate 1 for magnetic disks.

この磁気ディスク用ガラス基板1は、ガラスからなることにより、鏡面研磨によって優れた平滑性を実現することができ、硬度が高く、また、剛性が高いので、耐衝撃性に優れている。特に、携帯(持運び)用、あるいは、車載用の情報機器に搭載されるハードディスクドライブに使用される磁気ディスクには、高い耐衝撃性が要求されるので、このような磁気ディスクにおいてガラス基板を用いることには有用性が高い。ガラス基板の主表面の表面粗さは、Raで0.1nm乃至0.7nm、Rmaxが3nm以下とされることが好ましい。   Since the glass substrate 1 for magnetic disks is made of glass, it can realize excellent smoothness by mirror polishing, has high hardness, and high rigidity, and thus has excellent impact resistance. In particular, a magnetic disk used for a hard disk drive mounted on a portable (carried) or in-vehicle information device is required to have high impact resistance. Usefulness is high. The surface roughness of the main surface of the glass substrate is preferably 0.1 nm to 0.7 nm in Ra and 3 nm or less in Rmax.

ガラスは脆性材料であるが、化学強化や風冷強化などの強化処理、あるいは、結晶化の手段により、破壊強度を向上させることができる。このような磁気ディスク用ガラス基板1の材料として好ましいガラスとしては、アルミノシリケートガラスを挙げることができる。アルミノシリケートガラスは、優れた平滑鏡面を実現することができるとともに、例えば、化学強化を行なうことによって、破壊強度を高めることができるからである。   Although glass is a brittle material, the fracture strength can be improved by a strengthening treatment such as chemical strengthening or air cooling strengthening or by means of crystallization. A preferable example of the material for the glass substrate 1 for magnetic disks is aluminosilicate glass. This is because the aluminosilicate glass can realize an excellent smooth mirror surface and can increase the breaking strength by, for example, chemical strengthening.

アルミノシリケートガラスとしては、SiO:62乃至75重量%、Al:5乃至15重量%、LiO:4乃至10重量%、NaO:4乃至12重量%、ZrO:5.5乃至15重量%を主成分として含有するとともに、NaOとZrOとの重量比が0.5乃至2.0、AlとZrOとの重量比が0.4乃至2.5である化学強化用ガラスが好ましい。 The aluminosilicate glass, SiO 2: 62 to 75 wt%, Al 2 O 3: 5 to 15 wt%, Li 2 O: 4 to 10 wt%, Na 2 O: 4 to 12 wt%, ZrO 2: 5 0.5 to 15 wt% as a main component, the weight ratio of Na 2 O to ZrO 2 is 0.5 to 2.0, and the weight ratio of Al 2 O 3 to ZrO 2 is 0.4 to 2 A glass for chemical strengthening of .5 is preferred.

また、このようなガラス基板において、ZrOの未溶解物が原因で生じるガラス基板表面の突起をなくすためには、SiOを57乃至74mol%、ZrOを0乃至2.8mol%、Alを3乃至15mol%、LiOを7乃至16mol%、NaOを4乃至14mol%含有する化学強化用ガラスを使用することが好ましい。このような組成のアルミノシリケートガラスは、化学強化することによって、抗折強度が増加し、圧縮応力層の深さも深く、ヌープ硬度にも優れている。 Further, in such a glass substrate, in order to eliminate the protrusion of the glass substrate surface undissolved product of ZrO 2 occurs causes a SiO 2 57 to 74 mol%, a ZrO 2 0 to 2.8 mol%, Al 2 It is preferable to use a chemically strengthening glass containing 3 to 15 mol% of O 3 , 7 to 16 mol% of LiO 2 and 4 to 14 mol% of Na 2 O. The aluminosilicate glass having such a composition has an increased bending strength, a deep compressive stress layer, and an excellent Knoop hardness when chemically strengthened.

なお、本発明において製造する磁気ディスク用ガラス基板1をなす材料は、前述したものに限定されるわけではない。すなわち、磁気ディスク用ガラス基板1の材質としては、前述したアルミノシリケートガラスの他に、例えば、ソーダライムガラス、ソーダアルミノケイ酸ガラス、アルミノボロシリケートガラス、ボロシリケートガラス、石英ガラス、チェーンシリケートガラス、または、結晶化ガラス等のガラスセラミックなどを挙げることができる。   In addition, the material which comprises the glass substrate 1 for magnetic discs manufactured in this invention is not necessarily limited to what was mentioned above. That is, as the material of the magnetic disk glass substrate 1, in addition to the aluminosilicate glass described above, for example, soda lime glass, soda aluminosilicate glass, aluminoborosilicate glass, borosilicate glass, quartz glass, chain silicate glass, or And glass ceramics such as crystallized glass.

また、本発明において、磁気ディスク用ガラス基板1は、端面の両側の稜部が面取りされたものであることが好ましい。磁気ディスク用ガラス基板1は、端面の稜部が面取りされていることにより、破壊強度が高まるからである。   In the present invention, it is preferable that the magnetic disk glass substrate 1 has chamfered ridges on both sides of the end surface. This is because the glass substrate 1 for a magnetic disk has a high crushing strength due to the chamfered edge portion of the end surface.

以下、本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法について、工程順に説明する。   Hereinafter, the manufacturing method of the glass substrate for magnetic disks which concerns on this invention is demonstrated in order of a process.

(1)形状加工工程
本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、まず、円板状のガラスディスクを形成する。このガラスディスクは、前述したように、アルミノシリケートガラスからなることが好ましい。このガラスディスクは、例えば、溶融させたガラス母材などから、プレス法などにより、製造する磁気ディスク用ガラス基板1の直径よりもやや大きな直径を有するように形成する。
(1) Shape processing process In the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs concerning this invention, a disk-shaped glass disc is formed first. As described above, the glass disk is preferably made of aluminosilicate glass. The glass disk is formed to have a diameter slightly larger than the diameter of the magnetic disk glass substrate 1 to be manufactured, for example, from a molten glass base material by a pressing method or the like.

次に、このガラスディスクの中心部に、所定の大きさの中心孔を形成する。この中心孔は、磁気ディスク用ガラス基板1における中心孔2となるものであり、この中心孔2の内径よりもやや小径の内径の孔として形成する。また、この工程において、ガラスディスクの外周側端面部分及び内周側端面部分に面取り加工を施す。   Next, a center hole of a predetermined size is formed at the center of the glass disk. This central hole is the central hole 2 in the magnetic disk glass substrate 1 and is formed as a hole having an inner diameter slightly smaller than the inner diameter of the central hole 2. Further, in this step, chamfering is performed on the outer peripheral side end surface portion and the inner peripheral side end surface portion of the glass disk.

(2)研削(ラッピング)工程
この工程では、ガラスディスクの形状を整えるとともに、主表面を研削加工する。研削加工では、両面研削装置とアルミナ砥粒を用いて加工を行い、ガラスディスクの寸法精度と形状精度を所定のものとする。
(2) Grinding (lapping) step In this step, the shape of the glass disk is adjusted and the main surface is ground. In grinding processing, processing is performed using a double-sided grinding device and alumina abrasive grains, and the dimensional accuracy and shape accuracy of the glass disk are set to predetermined values.

図2は、両面研削装置となる遊星歯車機構の構成を示す斜視図である。   FIG. 2 is a perspective view showing a configuration of a planetary gear mechanism serving as a double-side grinding apparatus.

この研削工程においては、図2に示すように、両面研削装置となる遊星歯車機構を用いる。この遊星歯車機構は、図2に示すように、上下一対の定盤3,4を有している。これら定盤3,4は、球状黒鉛含有鋳鉄によって、平板状に形成されている。これら定盤3,4の表面部には、研磨剤を供給するための複数の溝9が格子状に形成されている。なお、この研削工程においては、定盤の摺接面を球状黒鉛を含有する材料により構成してもよいし、また、定盤の摺接面をなす材料をダイヤモンド砥粒を含有する材料としてもよい。   In this grinding process, as shown in FIG. 2, a planetary gear mechanism serving as a double-side grinding apparatus is used. This planetary gear mechanism has a pair of upper and lower surface plates 3, 4 as shown in FIG. These surface plates 3 and 4 are formed in a flat plate shape from spheroidal graphite-containing cast iron. A plurality of grooves 9 for supplying an abrasive is formed in a lattice shape on the surface portions of the surface plates 3 and 4. In this grinding step, the slidable contact surface of the surface plate may be composed of a material containing spherical graphite, or the material forming the slidable contact surface of the surface plate may be a material containing diamond abrasive grains. Good.

この両面研削装置においては、各定盤3,4間にガラスディスク7を設置し、各定盤3,4のいずれか一方、または、双方を移動操作することにより、ガラスディスク7と各定盤3,4とを互いに摺接させて、このガラスディスク7の両主表面を研削することができる。   In this double-side grinding apparatus, a glass disk 7 is installed between the surface plates 3 and 4, and either or both of the surface plates 3 and 4 are moved to operate the glass disk 7 and the surface plates. Both main surfaces of the glass disk 7 can be ground by bringing 3 and 4 into sliding contact with each other.

すなわち、この遊星歯車機構は、下側定盤3と、この下側定盤3の中心部に設けられた太陽歯車11と、この下側定盤3の外縁に設けられた内歯車12と、ガラスディスク7を保持する円板状のキャリア13とを有している。このキャリア13は、外周部に、太陽歯車11及び内歯車12に噛合する歯部14を有している。このキャリア13は、ガラスディスク7よりもやや薄い円板状に形成され、このガラスディスク7の外径よりもやや大きい内径の少なくとも一の円形の透孔部15を有している。このキャリア13は、透孔部15内にガラスディスク7を位置させることにより、このガラスディスク7を保持する。そして、この遊星歯車機構は、下側定盤3に対向する上側定盤4を有している。   That is, the planetary gear mechanism includes a lower surface plate 3, a sun gear 11 provided at the center of the lower surface plate 3, an internal gear 12 provided at the outer edge of the lower surface plate 3, And a disk-shaped carrier 13 for holding the glass disk 7. The carrier 13 has a tooth portion 14 that meshes with the sun gear 11 and the internal gear 12 on the outer peripheral portion. The carrier 13 is formed in a disk shape that is slightly thinner than the glass disk 7, and has at least one circular through-hole portion 15 having an inner diameter slightly larger than the outer diameter of the glass disk 7. The carrier 13 holds the glass disk 7 by positioning the glass disk 7 in the through hole portion 15. The planetary gear mechanism has an upper surface plate 4 that faces the lower surface plate 3.

この遊星歯車機構においては、キャリア13の透孔部15内にガラスディスク7を保持させた状態で、このキャリア13の外周部の歯部14を太陽歯車11及び内歯車12に噛合させる。そして、このキャリア13及びガラスディスク7を各定盤3,4によって挟持させることにより、ガラスディスク7は、両側の主表面を各定盤3,4によって保持され、周縁部をキャリア13の透孔部15の内縁部に保持された状態となる。   In this planetary gear mechanism, the tooth portion 14 on the outer peripheral portion of the carrier 13 is engaged with the sun gear 11 and the internal gear 12 with the glass disk 7 held in the through-hole portion 15 of the carrier 13. Then, by sandwiching the carrier 13 and the glass disk 7 by the respective surface plates 3, 4, the glass disk 7 is held at the main surfaces on both sides by the surface plates 3, 4, and the peripheral portion is a through hole of the carrier 13. It will be in the state hold | maintained at the inner edge part of the part 15. FIG.

そして、この遊星歯車機構において、各定盤3,4とガラスディスク7の主表面との間に研削液を供給しつつ、太陽歯車11及び内歯車12の両方、または、いずれか一方を回転駆動することにより、各定盤3,4とガラスディスク7の主表面とが相対的に摺動され、このガラスディスク7の主表面の研削が行われる。また、このとき、定盤3,4の両方、または、いずれか一方を、回転駆動することが好ましい。   And in this planetary gear mechanism, while supplying a grinding fluid between each surface plate 3 and 4 and the main surface of the glass disk 7, either or both of the sun gear 11 and the internal gear 12 are rotationally driven. By doing so, each surface plate 3 and 4 and the main surface of the glass disc 7 are slid relatively, and the main surface of this glass disc 7 is ground. At this time, it is preferable that both or one of the surface plates 3 and 4 is rotationally driven.

(3)端面部分鏡面研磨工程
次に、ガラスディスクの内外周の端面部分を研磨し、鏡面加工する。この工程における研磨は、研磨剤を用いて、ブラシ等により行う。この工程において使用する研磨剤に含まれる研磨砥粒としては、ガラスディスクに対して研磨能力を奏する研磨砥粒であれば、特に制限なく使用することができる。例えば、酸化セリウム(CeO)砥粒、コロイダルシリカ砥粒、アルミナ砥粒、ダイヤモンド砥粒などを挙げることができ、特に、酸化セリウム研磨砥粒が好ましい。研磨砥粒の粒径については、適宜選択することができるが、例えば、0.5μm乃至3μm程度とすることが好ましい。また、研磨剤は、研磨砥粒を含む研磨剤に、水(純水)などの液体を加え、この研磨剤をスラリーとして用いることが好ましい。
(3) End surface partial mirror polishing step Next, the end surfaces of the inner and outer circumferences of the glass disk are polished and mirror-finished. Polishing in this step is performed with a brush or the like using an abrasive. The abrasive grains contained in the abrasive used in this step can be used without particular limitation as long as they are abrasive grains that exhibit a polishing ability with respect to a glass disk. Examples thereof include cerium oxide (CeO 2 ) abrasive grains, colloidal silica abrasive grains, alumina abrasive grains, and diamond abrasive grains, and cerium oxide abrasive grains are particularly preferable. The particle size of the abrasive grains can be selected as appropriate, but is preferably about 0.5 μm to 3 μm, for example. In addition, it is preferable that the abrasive is used as a slurry by adding a liquid such as water (pure water) to the abrasive containing abrasive grains.

なお、この端面部分鏡面研磨工程は、ガラス基板を重ね合わせて端面研磨する際にガラス基板の主表面にキズ等が付くことを避けるため、後述する第1研磨工程の前、あるいは、第2研磨工程の前後に行うことが好ましい。この端面部分鏡面研磨工程により、ガラスディスクの内外周の端面部分の表面粗さは、Raで0.1μm以下、Rmaxで1μm以下の鏡面とされる。   The end surface partial mirror polishing step is performed before the first polishing step described later or the second polishing in order to avoid scratching the main surface of the glass substrate when end surfaces are polished by overlapping the glass substrates. It is preferable to carry out before and after the process. By this end surface partial mirror polishing step, the surface roughness of the inner and outer peripheral end surfaces of the glass disk is a mirror surface with Ra of 0.1 μm or less and Rmax of 1 μm or less.

(4)第1研磨工程
次に、主表面研磨工程として、第1研磨工程を施す。この第1研磨工程は、前述の研削工程で主表面に残留したキズや歪みの除去を主たる目的とする。この工程は、両面研磨装置と、本発明に係る研磨布(硬質樹脂ポリッシャの研磨パッド)とを用いて行う。
(4) 1st grinding | polishing process Next, a 1st grinding | polishing process is given as a main surface grinding | polishing process. This first polishing step is mainly intended to remove scratches and distortions remaining on the main surface in the above-described grinding step. This step is performed using a double-side polishing apparatus and the polishing cloth (a polishing pad of a hard resin polisher) according to the present invention.

両面研磨装置としては、前述した遊星歯車機構を用いる。この第1研磨工程においては、上下定盤3,4の互いに対向する主表面部に、一対の研磨布(硬質樹脂ポリッシャの研磨パッド)を貼付して使用する。この両面研磨装置においては、各定盤3,4に貼付された研磨布間にガラスディスク7を設置し、各定盤3,4のいずれか一方、または、双方を移動操作することにより、ガラスディスク7と各定盤3,4とを互いに摺接させて、このガラスディスク7の両主表面を研磨する。   As the double-side polishing apparatus, the planetary gear mechanism described above is used. In the first polishing step, a pair of polishing cloths (a polishing pad of a hard resin polisher) is applied to the main surface portions of the upper and lower surface plates 3 and 4 facing each other. In this double-side polishing apparatus, a glass disk 7 is installed between polishing cloths attached to the surface plates 3 and 4, and either one or both of the surface plates 3 and 4 are moved to operate glass. The disk 7 and the surface plates 3 and 4 are brought into sliding contact with each other, and both main surfaces of the glass disk 7 are polished.

研磨布としては、不織布の繊維基材にポリウレタン樹脂を含浸させ、湿式凝固させて円形に形成された研磨パッドを使用することができる。この研磨布の硬度は、アスカーA硬度で、60乃至80程度とすることが好ましい。この研磨布は、ガラスディスクに対する摺接面に、研磨液の流路となる溝が形成されたものを用いる。   As the polishing cloth, it is possible to use a polishing pad formed into a circular shape by impregnating a non-woven fiber base material with a polyurethane resin and wet coagulating it. The hardness of the polishing cloth is preferably about 60 to 80 in terms of Asker A hardness. As this polishing cloth, one having a groove which becomes a flow path of the polishing liquid is formed on the sliding surface with respect to the glass disk.

この第1研磨工程において使用する研磨剤に含まれる研磨砥粒としては、ガラスディスク7に対して研磨能力を奏する研磨砥粒であれば、特に制限なく使用することができる。例えば、酸化セリウム(CeO)砥粒、コロイダルシリカ砥粒、アルミナ砥粒、ダイヤモンド砥粒などを挙げることができるが、なかでも、酸化セリウム砥粒が好ましい。 As the abrasive grains contained in the abrasive used in the first polishing process, any abrasive grains capable of polishing the glass disk 7 can be used without particular limitation. Examples thereof include cerium oxide (CeO 2 ) abrasive grains, colloidal silica abrasive grains, alumina abrasive grains, and diamond abrasive grains. Among them, cerium oxide abrasive grains are preferable.

研磨砥粒の粒径については、適宜選択することができるが、例えば、1.5μm乃至5μm程度とすることが好ましい。   The particle size of the abrasive grains can be selected as appropriate, but is preferably about 1.5 μm to 5 μm, for example.

この遊星歯車機構において、研磨剤は、研磨布に設けられた溝内を流路として、これら研磨布の研磨領域の全域に効率良く供給される。また、この遊星歯車機構においては、各定盤3,4がガラスディスク7を保持する圧力を調整することにより、研磨代を調整することができる。この第1研磨工程においては、後述する第2研磨工程に比較して、研磨代を大きくして、研磨効率を高めることが望ましい。なお、遊星歯車機構を用いることにより、一度に大量のガラスディスク7について、効率良く研磨を行うことができる。   In this planetary gear mechanism, the abrasive is efficiently supplied to the entire polishing area of the polishing cloth, using the inside of the groove provided in the polishing cloth as a flow path. Further, in this planetary gear mechanism, the polishing allowance can be adjusted by adjusting the pressure at which the surface plates 3 and 4 hold the glass disk 7. In this first polishing step, it is desirable to increase the polishing allowance and increase the polishing efficiency as compared to the second polishing step described later. By using the planetary gear mechanism, it is possible to efficiently polish a large number of glass disks 7 at a time.

この遊星歯車機構を用いて第1研磨を行う場合、ガラスディスク7は、各研磨布により両主表面部を挟まれた状態において、これら研磨布に対して相対的に移動されることとなる。この遊星歯車機構においては、研磨布に対するガラスディスク7の移動軌跡は、サイクロイド曲線、または、サイクロイド曲線と円弧とが合成された曲線となる。この移動軌跡は、太陽歯車11、内歯車12、各定盤3,4の回転方向及び回転速度の比率、並びに、太陽歯車11とキャリア13との径の比率によって変化する。   When performing the first polishing using this planetary gear mechanism, the glass disk 7 is moved relative to the polishing cloth in a state where both main surface portions are sandwiched between the polishing cloths. In this planetary gear mechanism, the movement trajectory of the glass disk 7 with respect to the polishing cloth is a cycloid curve or a curve obtained by combining a cycloid curve and an arc. This movement trajectory changes depending on the ratio of the rotational direction and rotational speed of the sun gear 11, the internal gear 12, and the surface plates 3 and 4, and the ratio of the diameters of the sun gear 11 and the carrier 13.

研磨効率や研磨代の均一性を考慮すると、太陽歯車11及び内歯車12の回転速度に対して、定盤3,4の両方、または、いずれか一方の回転速度を十分に早くすることにより、研磨布に対するガラスディスク7の移動軌跡を、この研磨布の周方向の成分が支配的となっているものとすることが好ましい。   Considering the polishing efficiency and the uniformity of the polishing allowance, by making the rotational speeds of both the surface plates 3 and 4 or either one sufficiently faster than the rotational speeds of the sun gear 11 and the internal gear 12, It is preferable that the movement trajectory of the glass disk 7 with respect to the polishing cloth is dominated by the circumferential component of the polishing cloth.

(5)第2研磨工程
次に、主表面の鏡面研磨工程として、第2研磨工程を施す。この第2研磨工程は、主表面を鏡面状に仕上げることを目的とする。この第2研磨工程は、第1研磨工程と同様に、両面研磨装置と、研磨布(軟質発泡樹脂ポリッシャ)とを用いて行うことができ、また、前述のような遊星歯車機構を用いて行うこともできる。
(5) Second Polishing Step Next, a second polishing step is performed as a mirror polishing step for the main surface. The purpose of this second polishing step is to finish the main surface into a mirror surface. Similar to the first polishing step, the second polishing step can be performed using a double-side polishing apparatus and a polishing cloth (soft foam resin polisher), and is also performed using the planetary gear mechanism as described above. You can also

この第2研磨工程においては、研磨布(軟質発泡樹脂ポリッシャ)としては、ガラスディスクに対する摺接面が、平坦、すなわち、溝のない状態であるものを使用する。また、この第2研磨工程における研磨布は、第1研磨工程において使用する研磨布に比較して、軟質の材料からなるものとなっている。   In the second polishing step, a polishing cloth (soft foam resin polisher) having a flat sliding surface with respect to the glass disk, that is, a state having no groove is used. Further, the polishing cloth in the second polishing process is made of a soft material as compared with the polishing cloth used in the first polishing process.

したがって、この第2研磨工程においては、前述の第1研磨工程に比較して、研磨代が少なく、かつ、より高度の鏡面加工が行われる。   Accordingly, in this second polishing step, the polishing allowance is small and higher-level mirror finishing is performed as compared with the first polishing step described above.

この第2研磨工程において使用する研磨剤としては、第1研磨工程で用いる酸化セリウム砥粒に比べて微細なコロイダルシリカ砥粒を用いることが好ましい。このコロイダルシリカ砥粒の粒径は、例えば、0.5μm以下とすることが好ましい。   As a polishing agent used in the second polishing step, it is preferable to use fine colloidal silica abrasive grains as compared with the cerium oxide abrasive grains used in the first polishing step. The particle size of the colloidal silica abrasive is preferably 0.5 μm or less, for example.

図3は、研磨液を循環させる装置を示すブロック図である。   FIG. 3 is a block diagram showing an apparatus for circulating the polishing liquid.

この第2研磨工程においては、図3に示すように、コロイダルシリカ砥粒を含む研磨液を循環再利用して遊星歯車機構に供給するとともに、この研磨液の温度を所定の温度以下に制御する。   In this second polishing step, as shown in FIG. 3, the polishing liquid containing colloidal silica abrasive grains is recycled and supplied to the planetary gear mechanism, and the temperature of this polishing liquid is controlled to a predetermined temperature or lower. .

すなわち、この第2研磨工程において、貯留タンク20に貯留された研磨液21は、ポンプ22により、貯留タンク20より搬送パイプ23を通じて搬送され、フィルタ24を経て、遊星歯車機構25に供給される。この遊星歯車機構25においてガラスディスクの研磨を行った研磨液は、遊星歯車機構25より排出されて、貯留タンク20に戻る。   That is, in this second polishing step, the polishing liquid 21 stored in the storage tank 20 is transferred from the storage tank 20 through the transfer pipe 23 by the pump 22 and supplied to the planetary gear mechanism 25 through the filter 24. The polishing liquid that has polished the glass disk in the planetary gear mechanism 25 is discharged from the planetary gear mechanism 25 and returns to the storage tank 20.

そして、貯留タンク20には、熱交換手段となるコイル状に巻回された冷却管26が挿入されており、この貯留タンク20に貯蔵された研磨液21中に浸漬されている。この冷却管26内には、冷却液冷却装置27との間で、冷却液が循環し流通している。これら冷却管26及び冷却液冷却装置27により、冷却装置が構成されている。すなわち、冷却液は、冷却液冷却装置27において冷却されて冷却管26内に供給され、冷却管26内において周囲を冷却することにより温度を上昇された後、冷却液冷却装置27に戻る。そして、再び冷却液冷却装置27において冷却されて冷却管26内に供給される。   A cooling pipe 26 wound in a coil shape serving as a heat exchange means is inserted into the storage tank 20 and is immersed in the polishing liquid 21 stored in the storage tank 20. In the cooling pipe 26, the coolant circulates and circulates with the coolant cooler 27. The cooling pipe 26 and the cooling liquid cooling device 27 constitute a cooling device. That is, the cooling liquid is cooled in the cooling liquid cooling device 27 and supplied into the cooling pipe 26. After the temperature is raised by cooling the surroundings in the cooling pipe 26, the cooling liquid returns to the cooling liquid cooling apparatus 27. Then, it is cooled again in the coolant cooling device 27 and supplied into the cooling pipe 26.

また、貯留タンク20には、この貯留タンク20に貯蔵された研磨液21の温度を検出する検出手段となる温度センサ28が設けられている。この温度センサ28による検出結果は、この検出結果を表示する表示手段となるコンピュータ装置29に送られる。このコンピュータ装置29は、温度センサ28により検出された貯留タンク20に貯蔵された研磨液21の温度を表示するとともに、この研磨液21の温度に応じて、冷却管26内の冷却液の流量を制御する。すなわち、冷却管26と冷却液冷却装置27との間の流路には、流量制御バルブ30が設けられおり、この流量制御バルブ30は、コンピュータ装置29によって制御される。コンピュータ装置29は、貯留タンク20内の研磨液21の温度が所定温度よりも高い場合には、冷却管26内の冷却液の流量を多くして、研磨液21の温度を下げる。また、コンピュータ装置29は、貯留タンク20内の研磨液21の温度が所定温度よりも低い場合には、冷却管26内の冷却液の流量を少なくして、研磨液21の温度をさらには下げないようにする。   Further, the storage tank 20 is provided with a temperature sensor 28 serving as a detecting means for detecting the temperature of the polishing liquid 21 stored in the storage tank 20. The detection result by the temperature sensor 28 is sent to a computer device 29 serving as display means for displaying the detection result. The computer device 29 displays the temperature of the polishing liquid 21 stored in the storage tank 20 detected by the temperature sensor 28, and the flow rate of the cooling liquid in the cooling pipe 26 according to the temperature of the polishing liquid 21. Control. That is, a flow rate control valve 30 is provided in the flow path between the cooling pipe 26 and the coolant cooling device 27, and the flow rate control valve 30 is controlled by the computer device 29. When the temperature of the polishing liquid 21 in the storage tank 20 is higher than a predetermined temperature, the computer device 29 increases the flow rate of the cooling liquid in the cooling pipe 26 and decreases the temperature of the polishing liquid 21. Further, when the temperature of the polishing liquid 21 in the storage tank 20 is lower than a predetermined temperature, the computer device 29 reduces the flow rate of the cooling liquid in the cooling pipe 26 to further reduce the temperature of the polishing liquid 21. Do not.

そして、この第2研磨工程においては、研磨液21を遊星歯車機構25内のガラスディスクの表面に供給するときの研磨液21の温度を、雰囲気温度以下とすることが好ましい。さらに、ガラスディスクの表面に供給するときの研磨液21の温度は、20°C以下とすることが好ましい。   In the second polishing step, the temperature of the polishing liquid 21 when the polishing liquid 21 is supplied to the surface of the glass disk in the planetary gear mechanism 25 is preferably set to the ambient temperature or lower. Furthermore, the temperature of the polishing liquid 21 when it is supplied to the surface of the glass disk is preferably 20 ° C. or less.

あるいは、この第2研磨工程においては、研磨液21の温度を制御することによって、第2研磨工程を終了したときのガラスディスクの表面の温度が雰囲気温度以下となるようにすることが好ましい。さらに、研磨液21の温度を制御することによって、第2研磨工程を終了したときのガラスディスクの表面の温度が30°C以下となるようにすることが好ましい。   Alternatively, in this second polishing step, it is preferable to control the temperature of the polishing liquid 21 so that the temperature of the surface of the glass disk when the second polishing step is finished is equal to or lower than the ambient temperature. Furthermore, it is preferable to control the temperature of the polishing liquid 21 so that the temperature of the surface of the glass disk when the second polishing step is finished is 30 ° C. or less.

(6)第1洗浄工程
第2研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤(1)、純水(1)、中性洗剤(2)、純水(2)、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄する。なお、各洗浄槽には、超音波を印加することが好ましい。
(6) 1st washing process The glass substrate which finished the 2nd polishing process, neutral detergent (1), pure water (1), neutral detergent (2), pure water (2), IPA (isopropyl alcohol), Immerse in each washing tank of IPA (steam drying) and wash. In addition, it is preferable to apply an ultrasonic wave to each washing tank.

(7)化学強化工程
次に、前述の研削及び研磨工程を終えたガラスディスクに化学強化を施す。化学強化は、例えば、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この化学強化溶液を400°C程度に加熱し、300°Cに予熱された洗浄済みのガラスディスクを約3時間程度浸漬して行う。この浸漬の際に、ガラスディスクの表面全体が化学強化されるようにするため、複数のガラスディスクが端面で保持されるようにホルダーに収納した状態で行うことが好ましい。
(7) Chemical Strengthening Step Next, chemical strengthening is performed on the glass disk after the above-described grinding and polishing steps. For chemical strengthening, for example, a chemical strengthening solution prepared by mixing potassium nitrate (60%) and sodium nitrate (40%) is prepared, and this chemical strengthening solution is heated to about 400 ° C and preheated to 300 ° C. The glass disk is immersed for about 3 hours. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass disk, it is preferable to carry out in a state in which the plurality of glass disks are housed in a holder so as to be held by the end surfaces.

このように、化学強化溶液に浸漬処理することによって、ガラスディスク表層のリチウムイオン、ナトリウムイオンが、化学強化溶液中のナトリウムイオン、カリウムイオンにそれぞれ置換され、ガラスディスクが強化される。   Thus, by immersing in a chemical strengthening solution, the lithium ion and sodium ion of a glass disk surface layer are each substituted by the sodium ion and potassium ion in a chemical strengthening solution, and a glass disk is strengthened.

(8)第2洗浄工程
化学強化処理を終えたガラスディスクを、40°C程度に加熱した濃硫酸に浸漬して洗浄を行い、さらに、硫酸洗浄を終えたガラスディスクを、純水(1)、純水(2)、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄する。なお、各洗浄槽には、超音波を印加することが好ましい。
(8) Second cleaning step The glass disk that has been subjected to the chemical strengthening treatment is cleaned by immersing it in concentrated sulfuric acid heated to about 40 ° C. Further, the glass disk that has been cleaned with sulfuric acid is purified with pure water (1) Then, it is cleaned by immersing in pure water (2), IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam-dried) cleaning baths. In addition, it is preferable to apply an ultrasonic wave to each washing tank.

なお、本発明において使用するガラス基板をなす材料は、前述したものに限定されるわけではない。すなわち、ガラス基板の材質としては、前述したアルミノシリケートガラスの他に、例えば、ソーダライムガラス、ソーダアルミノケイ酸ガラス、アルミノボロシリケートガラス、ボロシリケートガラス、石英ガラス、チェーンシリケートガラス、または、結晶化ガラス等のガラスセラミックなどを挙げることができる。   In addition, the material which comprises the glass substrate used in this invention is not necessarily limited to what was mentioned above. That is, as the material of the glass substrate, in addition to the aluminosilicate glass described above, for example, soda lime glass, soda aluminosilicate glass, aluminoborosilicate glass, borosilicate glass, quartz glass, chain silicate glass, or crystallized glass Examples thereof include glass ceramics.

(9)磁気ディスクの製造工程
このようにして作成された磁気ディスク用ガラス基板を用いて、この磁気ディスク用ガラス基板の主表面部上に少なくとも磁性層を形成することにより、ヘッドクラッシュやサーマルアスペリティー障害の防止が図られた磁気ディスクを構成することができる。
(9) Manufacturing process of magnetic disk By using the glass substrate for magnetic disk thus prepared, at least a magnetic layer is formed on the main surface portion of the glass substrate for magnetic disk. It is possible to configure a magnetic disk in which the parity failure is prevented.

磁性層としては、高い異方性磁場(Hk)を備えるCo−Pt系合金磁性層が好ましい。また、磁気ディスク用ガラス基板と磁性層との間には、磁性層の結晶配向性やグレインの均一化、微細化を図る観点から、適宜下地層を形成するようにしてもよい。これら下地層及び磁性層の成膜方法としては、例えば、DCマグネトロンスパッタリング法を用いることができる。   As the magnetic layer, a Co—Pt alloy magnetic layer having a high anisotropic magnetic field (Hk) is preferable. In addition, an underlayer may be appropriately formed between the magnetic disk glass substrate and the magnetic layer from the viewpoint of achieving crystal orientation of the magnetic layer and making the grains uniform and fine. As a method for forming these underlayer and magnetic layer, for example, a DC magnetron sputtering method can be used.

また、磁性層上には、磁性層を保護するための保護層を設けることが好ましい。保護層の材料としては、炭素系保護層を挙げることができる。炭素系保護層としては水素化炭素、窒素化炭素を用いることができる。この保護層の形成には、プラズマCVD法、または、DCマグネトロンスパッタリング法を用いることができる。   Moreover, it is preferable to provide a protective layer for protecting the magnetic layer on the magnetic layer. Examples of the material for the protective layer include a carbon-based protective layer. As the carbon-based protective layer, hydrogenated carbon or nitrogenated carbon can be used. For the formation of this protective layer, plasma CVD or DC magnetron sputtering can be used.

さらに、保護層上には、磁気ヘッドからの衝撃を緩和するための潤滑層を形成することが好ましい。潤滑層としては、パーフルオロポリエーテル系潤滑層を挙げることができる。特に、保護層との親和性に優れる水酸基を具備するアルコール変性パーフルオロポリエーテル潤滑層が好ましい。この潤滑層は、ディップ法を用いて形成することができる。   Furthermore, it is preferable to form a lubricating layer for reducing the impact from the magnetic head on the protective layer. An example of the lubricating layer is a perfluoropolyether lubricating layer. In particular, an alcohol-modified perfluoropolyether lubricating layer having a hydroxyl group having excellent affinity with the protective layer is preferable. This lubricating layer can be formed using a dip method.

以下、本発明の実施例について、詳細に説明する。   Examples of the present invention will be described in detail below.

〔実施例〕
この実施例においては、以下の工程を経て磁気ディスク用ガラス基板を製造した。
〔Example〕
In this example, a glass substrate for a magnetic disk was manufactured through the following steps.

(1)形状加工工程
溶融させたアルミノシリケートガラスをプレス加工によりディスク状に成型し、ガラスディスクを得た。なお、アルミノシリケートガラスとしては、SiOを58乃至75重量%、Alを5乃至23重量%、LiOを3乃至10重量%、NaOを4乃至13重量%を主成分として含有する化学強化用ガラスを使用した。
(1) Shape processing step The molten aluminosilicate glass was molded into a disk shape by press working to obtain a glass disk. As the aluminosilicate glass, the SiO 2 58 to 75 wt%, the Al 2 O 3 5 to 23 wt%, the LiO 2 3 to 10% by weight, as a main component 4 to 13% by weight of Na 2 O The contained glass for chemical strengthening was used.

次いで、砥石を用いて研削することによりガラスディスクの中心部に円孔を形成するとともに、外周側端面及び内周側端面に所定の面取り加工を施した。   Next, a circular hole was formed at the center of the glass disk by grinding with a grindstone, and predetermined chamfering was performed on the outer peripheral side end surface and the inner peripheral side end surface.

(2)研削工程
次に、得られたガラスディスクの主表面を研削加工した。研削加工では、両面研削装置として遊星歯車機構を用いて、粒度#400のアルミナ砥粒を含む研削液を用いて加工を行い、ガラスディスクの寸法精度と形状精度を所定とした。遊星歯車機構の上下定盤は、球状黒鉛含有鋳鉄からなるものを使用した。
(2) Grinding process Next, the main surface of the obtained glass disk was ground. In the grinding process, a planetary gear mechanism was used as a double-sided grinding device, and the grinding was performed using a grinding liquid containing alumina abrasive grains having a particle size of # 400, and the dimensional accuracy and shape accuracy of the glass disk were set to be predetermined. The upper and lower surface plates of the planetary gear mechanism were made of cast iron containing spheroidal graphite.

得られたガラスディスクの内径は20mm、外径は65mm、板厚は0.635mmであり、2.5インチ型磁気ディスク用ガラス基板の所定寸法であることを確認した。   The obtained glass disk had an inner diameter of 20 mm, an outer diameter of 65 mm, a plate thickness of 0.635 mm, and was confirmed to be a predetermined size of a glass substrate for a 2.5 inch magnetic disk.

ガラスディスクの表面形状を観察したところ、主表面の表面粗さはRmaxで2μm、Raで0.3μm程度であった。端面の表面粗さを観察したところ、側面部及び面取り面ともにRmaxで4μm、Raで0.5μmであった。   When the surface shape of the glass disk was observed, the surface roughness of the main surface was about 2 μm in Rmax and about 0.3 μm in Ra. When the surface roughness of the end face was observed, it was 4 μm for Rmax and 0.5 μm for Ra for both the side surface portion and the chamfered surface.

(3)端面部分鏡面研磨工程
まず、ガラスディスクの外周側端面について、ブラシ研磨方法により鏡面研磨を行った。このとき、研磨砥粒としては酸化セリウム砥粒を含むスラリー(遊離砥粒)を用いた。次に内周側端面についても、ブラシ研磨方法により鏡面研磨を行った。ガラスディスクの外周側端面の表面粗さをRmaxで1μm、Raで0.3μm程度に研磨した。そして、端面部分鏡面研磨を終えたガラスディスクを水洗浄した。
(3) End surface partial mirror polishing step First, the outer peripheral side end surface of the glass disk was subjected to mirror polishing by a brush polishing method. At this time, slurry (free abrasive grains) containing cerium oxide abrasive grains was used as the abrasive grains. Next, the inner peripheral side end face was also subjected to mirror polishing by a brush polishing method. The surface roughness of the outer peripheral side of the glass disk was polished to about 1 μm for Rmax and about 0.3 μm for Ra. And the glass disk which finished the end surface partial mirror polishing was washed with water.

(4)精研削工程
次に、砥粒の粒度を#1000に変え、ガラスディスクの表面を研削することにより、平坦度3μm、表面粗さRmaxを2μm程度、Raを0.2μm程度とした。なお、Rmax、Raは、原子間力顕微鏡(AFM)(デジタルインスツルメンツ社製ナノスコープ)にて測定、平坦度は、平坦度測定装置で測定したもので、基板表面の最も高い部分と最も低い部分との上下方向(表面に垂直な方向)の距離(高低差)である。
(4) Fine grinding step Next, the grain size of the abrasive grains was changed to # 1000, and the surface of the glass disk was ground, so that the flatness was 3 μm, the surface roughness Rmax was about 2 μm, and Ra was about 0.2 μm. Rmax and Ra are measured with an atomic force microscope (AFM) (Digital Instruments Nanoscope), and the flatness is measured with a flatness measuring device. The highest and lowest portions of the substrate surface. The distance (height difference) in the vertical direction (direction perpendicular to the surface).

精研削工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、水の各洗浄層に順次浸漬して洗浄した。   The glass substrate after the fine grinding step was cleaned by immersing it in each cleaning layer of neutral detergent and water.

(5)第1研磨工程
次に、主表面研磨工程として、第1研磨工程を施した。この第1研磨工程においては、研磨布(硬質樹脂ポリッシャの研磨パッド)を用いて、遊星歯車機構により主表面研磨を行った。研磨剤としては、酸化セリウム砥粒(平均粒径:1.5μm)及び水からなるものを用いた。この第1研磨工程における除去量(研磨代)は、35μm乃至45μm程度である。
(5) 1st grinding | polishing process Next, the 1st grinding | polishing process was performed as a main surface grinding | polishing process. In the first polishing step, main surface polishing was performed by a planetary gear mechanism using a polishing cloth (a polishing pad of a hard resin polisher). As an abrasive | polishing agent, what consists of a cerium oxide abrasive grain (average particle diameter: 1.5 micrometers) and water was used. The removal amount (polishing allowance) in the first polishing step is about 35 μm to 45 μm.

第1研磨工程を終えたガラス基板を、純水(1)、中性洗剤、純水(2)、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。   The glass substrate after the first polishing process was cleaned by sequentially immersing it in each cleaning tank of pure water (1), neutral detergent, pure water (2), IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying). .

(6)第2研磨工程
次に、主表面の鏡面研磨工程として、第2研磨工程を施した。この第2研磨工程においては、研磨布(軟質発泡樹脂ポリッシャ)を用いて、遊星歯車機構により主表面の鏡面研磨を行った。研磨剤としては、第1研磨工程で用いた酸化セリウム砥粒に比べ微細なコロイダルシリカ砥粒を用いた。
(6) Second Polishing Step Next, a second polishing step was performed as a mirror polishing step for the main surface. In this second polishing step, mirror polishing of the main surface was performed by a planetary gear mechanism using a polishing cloth (soft foam resin polisher). As the polishing agent, colloidal silica abrasive finer than the cerium oxide abrasive used in the first polishing step was used.

研磨条件としては、研磨液として、平均粒径0.01μm乃至0.1μmのコロイダルシリカ砥粒を5wt%乃至32wt%含有するものを用いた。遊星歯車機構における荷重は、30g/cm乃至120g/cmで、研磨時間は、5分乃至40分である。除去量(研磨代)は、0.5μm乃至8μmとした。 As polishing conditions, a polishing liquid containing 5 wt% to 32 wt% of colloidal silica abrasive grains having an average particle diameter of 0.01 μm to 0.1 μm was used. The load in the planetary gear mechanism is 30 g / cm 2 to 120 g / cm 2 , and the polishing time is 5 minutes to 40 minutes. The removal amount (polishing allowance) was 0.5 μm to 8 μm.

そして、この第2研磨工程では、前述したように、ガラスディスクに供給される研磨液の温度を、20°C以下となるように制御した。   In the second polishing step, as described above, the temperature of the polishing liquid supplied to the glass disk was controlled to be 20 ° C. or lower.

(7)第1洗浄工程
第2研磨工程を終えたガラス基板を、濃度5wt%乃至7wt%のKOH水溶液に浸漬して、アルカリ洗浄を行った。なお、洗浄は超音波を印加して行った。さらに、中性洗剤、純水(1)、純水(2)、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。
(7) 1st washing | cleaning process The glass substrate which finished the 2nd grinding | polishing process was immersed in KOH aqueous solution with a density | concentration of 5 wt% thru | or 7 wt%, and alkali cleaning was performed. Cleaning was performed by applying ultrasonic waves. Furthermore, it was immersed in each washing tank of neutral detergent, pure water (1), pure water (2), IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam-dried), and washed.

(8)化学強化工程
次に、前述の研削及び研磨工程を終えたガラス基板に化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この化学強化溶液を375°Cに加熱し、300°Cに予熱された洗浄済みのガラス基板を約3時間浸漬して行った。この浸漬の際に、ガラス基板の表面全体が化学強化されるようにするため、複数のガラス基板が端面で保持されるようにホルダーに収納した状態で行った。
(8) Chemical strengthening process Next, the glass substrate which finished the above-mentioned grinding and polishing process was chemically strengthened. For chemical strengthening, a chemically strengthened solution prepared by mixing potassium nitrate (60%) and sodium nitrate (40%) is prepared, and this chemically strengthened solution is heated to 375 ° C. and preheated to 300 ° C. Was immersed for about 3 hours. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, the plurality of glass substrates were stored in a holder so as to be held by the end surfaces.

このように、化学強化溶液に浸漬処理することによって、ガラス基板表層のリチウムイオン、ナトリウムイオンが、化学強化溶液中のナトリウムイオン、カリウムイオンにそれぞれ置換され、ガラス基板が強化される。   Thus, by immersing in the chemical strengthening solution, the lithium ions and sodium ions on the surface of the glass substrate are replaced with sodium ions and potassium ions in the chemical strengthening solution, respectively, and the glass substrate is strengthened.

ガラス基板の表層に形成された圧縮応力層の厚さは、約100乃至200μmであった。   The thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer of the glass substrate was about 100 to 200 μm.

化学強化を終えたガラス基板を、20°Cの水槽に浸漬して急冷し、約10分間維持した。   The glass substrate that had been chemically strengthened was immersed in a 20 ° C. water bath for rapid cooling and maintained for about 10 minutes.

(9)第2洗浄工程
化学強化処理を終えたガラス基板を、約40°Cに加熱した濃硫酸に浸漬して洗浄を行った。さらに、硫酸洗浄を終えたガラス基板を、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。なお、各洗浄槽には超音波を印加した。
(9) 2nd washing | cleaning process The glass substrate which finished the chemical strengthening process was immersed in the concentrated sulfuric acid heated to about 40 degreeC, and was wash | cleaned. Furthermore, the glass substrate that had been subjected to the sulfuric acid cleaning was sequentially immersed in each cleaning tank of pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying) and cleaned. In addition, ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

前述の工程を経て得られた磁気ディスク用ガラス基板の円孔の内周側端面の表面粗さは、面取り面でRmax0.4μm、Ra0.04μm、側面部でRmax0.4μm、Ra0.05μmであった。外周端面における表面粗さRaは、面取り面で0.04μm、側面部で、0.07μmであった。このように、内周側端面は、外周側端面と同様に、鏡面状に仕上がっていることを確認した。   The surface roughness of the inner peripheral side end surface of the circular hole of the magnetic disk glass substrate obtained through the above-described steps was Rmax 0.4 μm and Ra 0.04 μm on the chamfered surface, and Rmax 0.4 μm and Ra 0.05 μm on the side surface. It was. The surface roughness Ra at the outer peripheral end surface was 0.04 μm at the chamfered surface and 0.07 μm at the side surface portion. As described above, it was confirmed that the inner peripheral side end face was finished in a mirror surface like the outer peripheral side end face.

また、ガラス基板の主表面部の表面粗さRaは、0.5nm(AFMで測定)であった。電子顕微鏡(4000倍)で端面表面を観察したところ、側面部及び面取り面は鏡面状態であった。また、円孔の内周側端面である側面部及び面取り面に異物やクラックは認められず、ガラス基板の表面についても、異物やサーマルアスペリティの原因となるパーティクルは認められなかった。   Further, the surface roughness Ra of the main surface portion of the glass substrate was 0.5 nm (measured by AFM). When the end surface was observed with an electron microscope (4000 times), the side surface and the chamfered surface were in a mirror state. Further, no foreign matter or cracks were observed on the side surface and the chamfered surface, which are the inner peripheral side end faces of the circular holes, and no foreign matter or particles causing thermal asperity were found on the surface of the glass substrate.

(10)成膜工程
次に、以下の工程を経て、磁気ディスクを製造した。
(10) Film formation process Next, the magnetic disk was manufactured through the following processes.

前述のようにして得た磁気ディスク用ガラス基板の両主表面に、静止対向型のDCマグネトロンスパッタリング装置を用いて、Al−Ru合金第1下地層、Cr−Mo合金第2下地層、Co−Cr−Pt−B合金磁性層、水素化炭素保護層を順次成膜した。次にアルコール変性パーフロロポリエーテル潤滑層をディップ法で成膜した。この様にして磁気ディスクを得た。   On both main surfaces of the glass substrate for magnetic disk obtained as described above, an Al—Ru alloy first underlayer, a Cr—Mo alloy second underlayer, Co— A Cr—Pt—B alloy magnetic layer and a hydrogenated carbon protective layer were sequentially formed. Next, an alcohol-modified perfluoropolyether lubricating layer was formed by dipping. In this way, a magnetic disk was obtained.

〔比較例〕
この比較例においては、第2研磨工程において、研磨液の冷却を行わないようにした。そして、他の工程については前述の実施例と同様として、磁気ディスク用ガラス基板を作成した。また、この磁気ディスク用ガラス基板を用いて、前述の実施例と同様の工程により、磁気ディスクを作成した。
[Comparative Example]
In this comparative example, the polishing liquid was not cooled in the second polishing step. And about the other process, it carried out similarly to the above-mentioned Example, and created the glass substrate for magnetic discs. In addition, a magnetic disk was prepared by using the magnetic disk glass substrate by the same process as in the previous example.

〔各実施例と各比較例との対比〕
(磁気ディスク用ガラス基板としての比較)
図4は、第2研磨工程における研磨液の冷却の有無と凸欠陥の検出数との関係を示すグラフである。
[Contrast between each example and each comparative example]
(Comparison as glass substrate for magnetic disk)
FIG. 4 is a graph showing the relationship between the presence or absence of cooling of the polishing liquid and the number of detected convex defects in the second polishing step.

実施例及び比較例において作製した磁気ディスク用ガラス基板を光学式欠陥検査装置にて検査を実施したところ、図4に示すように、実施例(研磨液の冷却あり)の磁気ディスク用ガラス基板は、比較例(研磨液の冷却なし)の磁気ディスク用ガラス基板と比較して、凸欠陥の検出数が低いという結果を得た。   When the magnetic disk glass substrates produced in the examples and comparative examples were inspected with an optical defect inspection apparatus, as shown in FIG. 4, the magnetic disk glass substrates of the examples (with cooling of the polishing liquid) were As a result, the number of detected convex defects was low as compared with the glass substrate for magnetic disk of the comparative example (without cooling of the polishing liquid).

また、ここで検出された既知の座標位置にある欠陥を分析したところ、比較例のガラス基板の表面からは、シリコン(Si)元素及び酸素(O)元素が検出されたのに対し、実施例のガラス基板からは、シリコン元素は検出されなかった。このシリコン元素は、コロイダルシリカ砥粒の残滓と思われ、比較例のガラス基板の表面に存在する凸欠陥は、コロイダルシリカ砥粒の残滓であると思われる。   Further, when the defect at the known coordinate position detected here was analyzed, the silicon (Si) element and the oxygen (O) element were detected from the surface of the glass substrate of the comparative example, whereas the example No silicon element was detected from the glass substrate. This silicon element seems to be a residue of colloidal silica abrasive grains, and the convex defects present on the surface of the glass substrate of the comparative example are considered to be residues of colloidal silica abrasive grains.

(磁気ディスクとしての比較)
実施例の磁気ディスク用ガラス基板を用いた磁気ディスクについて、異物により磁性層等の膜に欠陥が発生していないことを確認した。また、グライドテストを実施したところ、ヒット(ヘッドが磁気ディスク表面の突起にかすること)やクラッシュ(ヘッドが磁気ディスク表面の突起に衝突すること)は認められなかった。さらに、磁気抵抗型ヘッドで再生試験を行ったところ、サーマルアスペリティ障害による再生の誤動作は認められなかった。
(Comparison as a magnetic disk)
Regarding the magnetic disk using the glass substrate for magnetic disk of the example, it was confirmed that no defect occurred in the film such as the magnetic layer due to the foreign matter. In addition, when the glide test was performed, no hit (the head bited against the protrusion on the surface of the magnetic disk) or crash (the head collided with the protrusion on the surface of the magnetic disk) was not recognized. Furthermore, when a reproduction test was conducted with a magnetoresistive head, no malfunction of reproduction due to thermal asperity failure was found.

比較例の磁気ディスク用ガラス基板を用いた磁気ディスクについて、異物により磁性層等の膜に欠陥が発生していないことを確認した。また、グライドテストを実施したところ、ヒット(ヘッドが磁気ディスク表面の突起にかすること)が生ずる場合が見られた。   About the magnetic disk using the glass substrate for magnetic disks of a comparative example, it confirmed that the defects, such as a magnetic layer, did not generate | occur | produce with the foreign material. In addition, when the glide test was performed, a case where a hit (the head bites a protrusion on the surface of the magnetic disk) occurred was observed.

次に、実施例及び比較例において得られた磁気ディスクのについてのロードアンロード(LUL)耐久試験を行った。すなわち、得られた磁気ディスクをハードディスクドライブに搭載して連続してロードアンロード動作を繰り返し行った。その結果は、実施例については、ロードアンロード耐久性として、100台中100台において、60万回以上のロードアンロード動作に耐久することができ、充分な耐久性となっていることが確認された。   Next, a load / unload (LUL) durability test was performed on the magnetic disks obtained in the examples and comparative examples. That is, the obtained magnetic disk was mounted on a hard disk drive, and the load / unload operation was repeated continuously. As a result, it was confirmed that the load and unload durability of the examples can be withstood for 600,000 times or more of load / unload operations in 100 out of 100 units, and the durability is sufficient. It was.

これに対し、比較例については、100台中45台において、60万回未満のロードアンロード動作においてクラッシュ障害を生じ、充分な耐久性が実現されていないことが確認された。   On the other hand, as for the comparative example, in 45 out of 100 units, it was confirmed that a crash failure occurred in the load / unload operation less than 600,000 times, and sufficient durability was not realized.

したがって、本発明は、ロードアンロード(LUL)方式で記録再生されるハードディスクドライブに搭載される磁気ディスク、あるいは、この磁気ディスク用のガラス基板としても好適であることが確認された。また、ロードアンロード方式のハードディスクドライブでは、コンタクトスタートストップ(CSS)方式のハードディスクドライブに比ペて、表面が平坦平滑な磁気ディスクを用いる必要があるが、本発明に係る磁気ディスクは、例えば、タッチダウンハイトが4nm、あるいは、それ以下の磁気ディスクとすることができるので、ロードアンロード方式のハードディスクドライブに好ましく搭載することができる。   Therefore, it has been confirmed that the present invention is suitable as a magnetic disk mounted on a hard disk drive that is recorded / reproduced by a load / unload (LUL) method, or as a glass substrate for this magnetic disk. Further, in a load / unload type hard disk drive, it is necessary to use a magnetic disk having a flat and smooth surface as compared with a contact start / stop (CSS) type hard disk drive. Since the magnetic disk having a touchdown height of 4 nm or less can be used, it can be preferably mounted on a load / unload type hard disk drive.

本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造される磁気ディスク用ガラス基板の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the glass substrate for magnetic discs manufactured by the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs which concerns on this invention. 前記磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において使用する両面研削装置となる遊星歯車機構の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the planetary gear mechanism used as the double-sided grinding apparatus used in the manufacturing method of the said glass substrate for magnetic discs. 前記磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において使用する研磨液を循環させる装置を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the apparatus which circulates the polishing liquid used in the manufacturing method of the said glass substrate for magnetic discs. 前記磁気ディスク用ガラス基板の製造方法の第2研磨工程における研磨液の冷却の有無と凸欠陥の検出数との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the presence or absence of cooling of the polishing liquid in the 2nd grinding | polishing process of the manufacturing method of the said glass substrate for magnetic discs, and the detected number of convex defects.

符号の説明Explanation of symbols

1 磁気ディスク用ガラス基板
2 中心孔
3,4 定盤
7 ガラスディスク
11 太陽ギヤ
12 内歯ギヤ
13 キャリア
14 歯部
15 透孔部
20 貯留タンク
21 研磨液
22 ポンプ
23 搬送パイプ
24 フィルタ
25 遊星歯車機構
26 冷却管
27 冷却液冷却装置
28 温度センサ
29 コンピュータ装置
30 流量制御バルブ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Glass substrate for magnetic disks 2 Center hole 3, 4 Surface plate 7 Glass disk 11 Sun gear 12 Internal gear 13 Carrier 14 Tooth part 15 Through-hole part 20 Storage tank 21 Polishing liquid 22 Pump 23 Transport pipe 24 Filter 25 Planetary gear mechanism 26 Cooling Pipe 27 Coolant Cooling Device 28 Temperature Sensor 29 Computer Device 30 Flow Control Valve

Claims (8)

円盤状のガラスディスクの表面を研削した後に、研磨砥粒を含む研磨液と、互いに対向する一対の定盤に貼付された発泡樹脂ポリシャとを用い、前記研磨液を前記一対の定盤とガラスディスクとの間に供給しつつ、前記一対の定盤と前記ガラスディスクを互いに摺接させて遊星歯車機構により前記ガラスディスクの両主表面を研磨して当該両主表面の粗さを Raで0.1nm乃至0.7nm、Rmaxで3nm以下の鏡面とする研磨工程を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
前記ガラスディスクの材料としてアルミノシリケートガラスが用いられ、
前記研磨液として、前記研磨砥粒としてコロイダルシリカ砥粒を含むものを使用し、
かつ、前記研磨液を貯留タンクと前記ガラスディスクの表面との間を循環させ、この循環経路上において、熱交換手段によって当該研磨液を冷却し、
前記研磨液を前記ガラスディスクの表面に供給するときの当該研磨液の温度を、雰囲気温度以下、かつ、20°C以下とし、
前記研磨工程を終了したときの前記ガラスディスクの表面の温度を、雰囲気温度以下、かつ、30°C以下とす
ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
After grinding the surface of the disk-shaped glass disk, a polishing liquid containing polishing abrasive grains and a foamed resin polisher affixed to a pair of surface plates facing each other are used to remove the polishing liquid from the pair of surface plates and glass. The pair of surface plates and the glass disk are brought into sliding contact with each other while being supplied to the disk, and both the main surfaces of the glass disk are polished by a planetary gear mechanism so that the roughness of both the main surfaces is 0 by Ra. A method for producing a glass substrate for a magnetic disk, comprising a polishing step of making a mirror surface having a mirror surface of 1 nm to 0.7 nm and Rmax of 3 nm or less ,
Aluminosilicate glass is used as the material of the glass disk,
As the polishing liquid, use what contains colloidal silica abrasive grains as the abrasive grains,
And circulating the polishing liquid between the storage tank and the surface of the glass disk, on the circulation path, the polishing liquid is cooled by heat exchange means,
The temperature of the polishing liquid when supplying the polishing liquid to the surface of the glass disk is set to an ambient temperature or lower and 20 ° C or lower,
The temperature of the surface of the glass disk at the time of completion of the polishing process, ambient temperature or lower, and method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, wherein you than 30 ° C.
前記一対の定盤と前記ガラスディスクを互いに摺接させる際の荷重は、30g/cm  The load when the pair of surface plates and the glass disk are in sliding contact with each other is 30 g / cm 2 乃至120g/cm~ 120g / cm 2 であるIs
ことを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。  The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1.
前記研磨液中には、前記研磨砥粒が5〜32wt%含有されており、前記研磨砥粒に含まれる前記コロイダルシリカ砥粒の平均粒径は、0.01μm乃至0.1μmである  The polishing liquid contains 5 to 32 wt% of the polishing abrasive grains, and the average particle diameter of the colloidal silica abrasive grains contained in the polishing abrasive grains is 0.01 μm to 0.1 μm.
ことを特徴とする請求項1、または、請求項2記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。  The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1 or 2, wherein
前記発泡樹脂ポリシャは、軟質発泡樹脂ポリシャである  The foamed resin polisher is a soft foamed resin polisher
ことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。  The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of claims 1 to 3, wherein:
前記熱交換手段として、内部に冷却液が流通されコイル状に巻回された冷却管を有する冷却装置を用いる
ことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
The magnetic disk according to any one of claims 1 to 4, wherein a cooling device having a cooling pipe in which a cooling liquid is circulated and wound in a coil shape is used as the heat exchange means. A method for producing a glass substrate.
前記冷却装置として、前記冷却管内を流通する冷却液の温度及び流量並びに前記研磨液の温度を検出する検出手段と、この検出手段による検出結果を表示する表示手段とを備えたものを用いる
ことを特徴とする請求項記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
As the cooling device, a device provided with a detecting means for detecting the temperature and flow rate of the coolant flowing through the cooling pipe and the temperature of the polishing liquid, and a display means for displaying the detection result by the detecting means is used. The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 5, wherein:
前記冷却装置として、前記検出手段による前記冷却液の温度及び前記研磨液の温度の検出結果に基づいて前記冷却液の前記冷却管内の流量を制御する機能を有するものを用いる
ことを特徴とする請求項記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
The cooling device having a function of controlling the flow rate of the cooling liquid in the cooling pipe based on the detection result of the temperature of the cooling liquid and the temperature of the polishing liquid by the detection unit is used. Item 6. A method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to Item 5 .
請求項1乃至請求項のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に、少なくとも磁性層を形成する
ことを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
To claim 1 or on the main surface of the magnetic disk glass substrate manufactured by the manufacturing method of the glass substrate according to any one of claims 7, a magnetic disk, which comprises forming at least a magnetic layer Manufacturing method.
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