JP4698546B2 - Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, method for manufacturing magnetic disk - Google Patents

Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, method for manufacturing magnetic disk Download PDF

Info

Publication number
JP4698546B2
JP4698546B2 JP2006269722A JP2006269722A JP4698546B2 JP 4698546 B2 JP4698546 B2 JP 4698546B2 JP 2006269722 A JP2006269722 A JP 2006269722A JP 2006269722 A JP2006269722 A JP 2006269722A JP 4698546 B2 JP4698546 B2 JP 4698546B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
texture
magnetic disk
glass substrate
circumferential direction
magnetic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006269722A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2008090907A (en
Inventor
宏尚 田中
義浩 俵
敏彰 橘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoya Corp filed Critical Hoya Corp
Priority to JP2006269722A priority Critical patent/JP4698546B2/en
Publication of JP2008090907A publication Critical patent/JP2008090907A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4698546B2 publication Critical patent/JP4698546B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスクの製造方法、磁気ディスク用ガラス基板、および磁気ディスクに関するものである。   The present invention relates to a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, a method for manufacturing a magnetic disk, a glass substrate for a magnetic disk, and a magnetic disk.

近年、情報化技術の高度化に伴い、情報記録技術、特に磁気記録技術は著しく進歩している。磁気記録媒体のひとつであるHDD(ハードディスクドライブ)等の磁気記録媒体用基板としては、アルミニウム基板が広く用いられてきた。しかし磁気ディスクの小型化、薄板化、および高記録密度化に伴い、アルミニウム基板に比べ基板表面の平坦性および基板強度に優れたガラス基板に徐々に置き換わりつつある。特に携帯電話やデジタルカメラ、携帯型音楽再生機などにも搭載される要請があり、磁気ディスクには一層の小型化、高記録密度化が求められている。   In recent years, with the advancement of information technology, information recording technology, particularly magnetic recording technology, has made remarkable progress. An aluminum substrate has been widely used as a substrate for a magnetic recording medium such as an HDD (Hard Disk Drive) which is one of the magnetic recording media. However, with the miniaturization, thinning, and high recording density of magnetic disks, glass substrates are gradually being replaced with glass substrates that are superior in substrate surface flatness and substrate strength compared to aluminum substrates. In particular, there is a demand for mounting on mobile phones, digital cameras, portable music players, and the like, and magnetic disks are required to be further downsized and have higher recording density.

また、テープ研磨によるテクスチャ加工は、従来のCSS(Contact Start Stop)方式での磁気ヘッドの吸着性能、および磁気ディスクの記録密度を制御する技術として、アルミニウム基板を用いた磁気ディスクにおいて広く採用されてきた。CSS方式は、磁気ディスクの非回転時に磁気ディスク上に設けたCSSゾーンに磁気ヘッドを接触させて待機させる方式である。CSSは待機中の磁気ヘッドの吸着を防止するためにある程度の表面粗さとする必要があった。   Texture processing by tape polishing has been widely adopted in magnetic disks using an aluminum substrate as a technique for controlling the magnetic head adsorption performance and the magnetic disk recording density in the conventional CSS (Contact Start Stop) method. It was. The CSS system is a system in which a magnetic head is brought into contact with a CSS zone provided on a magnetic disk when the magnetic disk is not rotating, and is placed on standby. The CSS needs to have a certain degree of surface roughness in order to prevent adsorption of the magnetic head in standby.

上記のような状況において、特許文献1(特開平4−238116号公報)には、磁気ディスク円周方向からテクスチャ痕がなす角度を5°〜30°とする、いわゆるクロステクスチャの構成が記載されている。特許文献1では、上記構成により、電磁気変換特性を劣化させずに良好なCSS特性を得られるとしている。また特許文献2(特開平4−349218号公報)には円周方向へ向いた円形テクスチャ痕と2°〜40°の円周方向からずらした交差テクスチャ(クロステクスチャ)を組み合わせることにより、良好な電磁気変換特性とCSS方式による磁気ヘッドの吸着防止を両立できるとしている。
特開平4−238116号公報 特開平4−349218号公報
Under such circumstances, Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 4-238116) describes a so-called cross texture configuration in which the angle formed by the texture marks from the circumferential direction of the magnetic disk is 5 ° to 30 °. ing. According to Patent Document 1, the above configuration allows obtaining excellent CSS characteristics without deteriorating electromagnetic conversion characteristics. In addition, Patent Document 2 (Japanese Patent Laid-Open No. 4-349218) is excellent by combining a circular texture mark oriented in the circumferential direction and a cross texture shifted from the circumferential direction of 2 ° to 40 ° (cross texture). Both the electromagnetic conversion characteristics and the magnetic head adsorption prevention by the CSS method can be achieved.
JP-A-4-238116 JP-A-4-349218

しかし昨今は、磁気ディスクの主表面を有効利用するために、従来のCSS方式に代えて、LUL(Load UnLoad)方式(ロードアンロード方式)が用いられるようになってきた。LUL方式は、磁気ディスクの外部に設けたランプ(傾斜部)に磁気ヘッドを退避させる方式である。上記のようにCSS方式はある程度の表面粗さが必要であるため、平滑化を推進することが困難であったが、LUL方式を採用したことにより磁気ディスク全面を記録領域として利用可能となると共に、その表面にあえて凹凸形状を設ける必要がなく、磁気ディスク表面を極めて平滑化することが可能となった。 However, recently, in order to effectively use the main surface of the magnetic disk, a LUL (Load UnLoad) method (load unload method) has been used instead of the conventional CSS method. The LUL method is a method in which the magnetic head is retracted to a ramp (tilted portion) provided outside the magnetic disk. As described above, since the CSS method requires a certain degree of surface roughness, it has been difficult to promote smoothing. However, by adopting the LUL method, the entire surface of the magnetic disk can be used as a recording area. The surface of the magnetic disk need not be provided with an uneven shape, and the surface of the magnetic disk can be extremely smoothed.

また、磁気記録技術の高密度化に伴い、磁気ヘッドの方も薄膜ヘッドから、磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)、大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)へと推移してきている。しかしGMRヘッドは感度が高く、また高記録密度化もあいまって、ヘッドと基板が離れていては隣接する記録ビットの情報を拾ってしまうために、磁気ヘッドの浮上量を低く抑える必要がある。   Further, as the magnetic recording technology has been increased in density, the magnetic head has been changed from a thin film head to a magnetoresistive head (MR head) and a large magnetoresistive head (GMR head). However, the GMR head has high sensitivity and high recording density, and if the head and the substrate are separated from each other, information on adjacent recording bits is picked up. Therefore, it is necessary to keep the flying height of the magnetic head low.

これらの事情から、磁気ヘッドの低浮上量化が求められており、磁気ヘッドの基板からの浮上量が8nm程度にまで狭くなってきている。磁気ヘッドを低浮上量化した場合、ヘッドクラッシュ障害やサーマルアスペリティ障害を引き起こす場合がある。ヘッドクラッシュ障害は、磁気ヘッドが磁気ディスクの凸部に衝突して損傷する障害である。サーマルアスペリティ障害とは、磁気ディスク面上の微小な凸形状あるいは凹形状上を磁気ヘッドが浮上飛行しながら通過するときに、空気の断熱圧縮または接触により磁気抵抗効果型素子が加熱されることにより、読み出しエラーを生じる障害である。したがって磁気抵抗型素子を搭載した磁気ヘッドに対しては、磁気ディスク表面の平滑化、平坦化と共に、異常な凹凸形状を持たないような極めて高度な均一化が求められる。   Under these circumstances, the flying height of the magnetic head is required to be reduced, and the flying height of the magnetic head from the substrate is narrowed to about 8 nm. If the flying height of the magnetic head is reduced, a head crash failure or thermal asperity failure may occur. The head crash failure is a failure in which the magnetic head collides with the convex portion of the magnetic disk and is damaged. Thermal asperity failure means that the magnetoresistive element is heated by adiabatic compression or contact of air when the magnetic head passes over a minute convex or concave shape on the magnetic disk surface while flying. This is a failure that causes a read error. Therefore, for a magnetic head equipped with a magnetoresistive element, it is required to make the surface of the magnetic disk smooth and flat and to have a very high level of uniformity so as not to have an abnormal uneven shape.

ここで、LUL方式ではあえて凹凸形状は必要ではないが、Co合金系の磁性層を採用する場合、基板の表面形状によって磁性結晶粒子の配向性を制御することが可能である。すなわち磁性結晶粒子は基板表面に対して法線方向に並びやすいため、円周方向(トラック方向)に溝を形成することにより、粒子の軸方向を円周方向に集中させることができる。そのため、LUL方式においてもテクスチャを形成することには意義がある。   Here, in the LUL method, an uneven shape is not necessary, but when a Co alloy magnetic layer is employed, the orientation of the magnetic crystal grains can be controlled by the surface shape of the substrate. That is, since the magnetic crystal grains are easily aligned in the normal direction with respect to the substrate surface, the axial direction of the grains can be concentrated in the circumferential direction by forming grooves in the circumferential direction (track direction). Therefore, it is meaningful to form a texture even in the LUL method.

ところが、テクスチャと同様に、ガラス基板上にスクラッチ(凹形状欠陥)がある場合にも、同様の磁性結晶粒子の配向に影響を与える。そして磁気ディスクの高記録密度化に伴って記録ビット長が短くなっているため、スクラッチの影響で磁性結晶粒子の配向に狂いが生じると出力が規定値以下に低下し、記録ビットが欠損してしまうようになってきている。このことは、高記録密度のHDDを製品化する上で大きな障害となっている。さらに、テクスチャ加工はガラス基板を回転させながら円周方向に研磨するものであり、円周方向のスクラッチを発生しやすい。このためテクスチャ加工は、読み書き方向に連続した信号エラー(ネガティブモジュレーション:Negative Modulation)を発生しやすいという問題がある。   However, similarly to the texture, when there is a scratch (concave defect) on the glass substrate, the orientation of the same magnetic crystal particle is affected. And since the recording bit length has become shorter as the recording density of magnetic disks increases, the output drops below the specified value and the recording bits are lost if the orientation of the magnetic crystal grains is distorted due to scratches. It's starting to end up. This is a major obstacle to commercializing a high recording density HDD. Further, the texture processing is to polish the glass substrate in the circumferential direction while rotating the glass substrate, and it is easy to generate circumferential scratches. For this reason, the texture processing has a problem that signal errors (negative modulation) that are continuous in the reading and writing directions are likely to occur.

上述の特許文献1、特許文献2に開示された従来技術は、クロステクスチャによるCSS方式でのヘッド吸着防止、および異常に高い凸形状の除去による磁気ヘッドの耐久性を主たる課題とし、電磁気変換特性の劣化を最小限に抑える目的で構成されたものである。これは、LUL方式における磁気ヘッドの低浮上量領域で要求される磁気ディスクの上のスクラッチ発生防止については何ら考慮されていない。   The conventional techniques disclosed in the above-mentioned Patent Document 1 and Patent Document 2 are mainly concerned with the prevention of head adsorption in the CSS system by cross texture and the durability of the magnetic head by removing abnormally high convex shape, and the electromagnetic conversion characteristics It is configured for the purpose of minimizing the deterioration of the. This does not take into consideration the prevention of scratches on the magnetic disk required in the low flying height region of the magnetic head in the LUL system.

そこで本発明は、テクスチャ加工におけるネガティブモジュレーションの発生を防止すると共に、磁性結晶粒子の配向性を高め、磁気ディスクの高記録密度化を図ることを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to prevent the occurrence of negative modulation in texturing and to enhance the orientation of magnetic crystal grains to increase the recording density of a magnetic disk.

上記課題を解決するために、本発明にかかる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法の代表的な構成は、ロードアンドロード方式の磁気記録装置に搭載される磁気ディスクに用いられる円盤状の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、回転する基板に対して研磨ヘッドを半径方向に相対的に反復移動させることにより円周方向に対して所定の角度で交差する軌跡からなる第1テクスチャを形成する工程と、円周方向に対して第1テクスチャとは異なる角度で交差する軌跡からなる第2テクスチャを形成する工程とを、この順に含み、第1テクスチャの円周方向に対する交差角度は、第2テクスチャの円周方向に対する交差角度よりも大きいことを特徴とする。 In order to solve the above problems, a typical configuration of a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention is for a disk-shaped magnetic disk used in a magnetic disk mounted on a load-and-load magnetic recording apparatus . In the method for manufacturing a glass substrate, a step of forming a first texture having a locus intersecting at a predetermined angle with respect to a circumferential direction by repeatedly moving a polishing head in a radial direction relative to a rotating substrate; Forming a second texture having a trajectory intersecting the circumferential direction at an angle different from that of the first texture, in this order, and the intersecting angle of the first texture with respect to the circumferential direction of the second texture It is characterized by being larger than the crossing angle with respect to the circumferential direction.

上記構成によれば、交差角度の大きな第1テクスチャを形成する工程はランダムな方向の軌跡を描くことから深いスクラッチを防止することができる。仮にスクラッチを発生させたとしても円周方向に対して傾いていることから、ネガティブモジュレーションを最小限に抑えることができる。さらにランダムな方向の軌跡を描くことにより、マイクロウェービネスを低くすることができ、磁気ヘッドの低浮上量化の向上、安定性も確保することができる。   According to the said structure, since the process of forming the 1st texture with a big intersection angle draws the locus | trajectory of a random direction, it can prevent a deep scratch. Even if scratches are generated, since they are inclined with respect to the circumferential direction, negative modulation can be minimized. Furthermore, by drawing a trajectory in a random direction, it is possible to reduce the micro-waveness, to improve the low flying height of the magnetic head and to ensure stability.

そして交差角度の小さな第2テクスチャを形成する工程では、すでに凸形状異物が除去されていることからスクラッチの発生が抑えられ、また円周方向に近い角度であることから円周方向の表面粗さが小さくなり、低浮上量領域におけるクラッシュ障害およびサーマルアスペリティの防止を達成することができる。   Then, in the step of forming the second texture with a small intersection angle, the occurrence of scratches is suppressed because the convex foreign matter has already been removed, and the surface roughness in the circumferential direction is close to the circumferential direction. And the prevention of crash failure and thermal asperity in the low flying height region can be achieved.

第1テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.1°以上であって、第2テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.1°より小さいことが好ましい。さらには、第1テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.2°以上であることが好ましい。かかる範囲とすることにより、円周方向のスクラッチの防止と、高記録密度化の両立を図ることができる。磁気ヘッドの浮上高さが8nm以下の磁気ディスクに用いられることが好ましい。このように低浮上量の磁気ヘッドに対しても安定性を確保することができるためである。
The intersection angle of the first texture with respect to the circumferential direction is preferably 0.1 ° or more, and the intersection angle of the second texture with respect to the circumferential direction is preferably smaller than 0.1 °. Furthermore, the intersection angle of the first texture with respect to the circumferential direction is preferably 0.2 ° or more. By setting this range, it is possible to achieve both prevention of circumferential scratching and high recording density. The magnetic head is preferably used for a magnetic disk having a flying height of 8 nm or less. This is because stability can be ensured even for a magnetic head with a low flying height.

本発明にかかる磁気ディスクの製造方法の代表的な構成は、上記の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により得られた磁気ディスク用ガラス基板の表面に、少なくともCo合金系の磁性層を形成することを特徴とする。磁性層をCo合金系とすることにより、ガラス基板上のテクスチャによって磁性結晶粒子の配向性を制御することができる。ここで、特に第2テクスチャの円周方向に対する交差角度が小さいことから、円周方向の配向性を高めることができ、磁気ディスクの高記録密度化を図ることができる。   A typical configuration of the magnetic disk manufacturing method according to the present invention is to form at least a Co alloy-based magnetic layer on the surface of the magnetic disk glass substrate obtained by the above magnetic disk glass substrate manufacturing method. It is characterized by. By using a Co alloy system for the magnetic layer, the orientation of the magnetic crystal grains can be controlled by the texture on the glass substrate. Here, in particular, since the crossing angle of the second texture with respect to the circumferential direction is small, the orientation in the circumferential direction can be improved, and the recording density of the magnetic disk can be increased.

本発明にかかる磁気ディスク用ガラス基板の代表的な構成は、円盤状の磁気ディスク用ガラス基板において、円周方向に対して所定の角度で交差する軌跡からなる第1テクスチャと、円周方向に対して第1テクスチャとは異なる角度で交差する軌跡からなる第2テクスチャとを有し、第1テクスチャの上に第2テクスチャが施されており、かつ、第1テクスチャの円周方向に対する交差角度が第2テクスチャの円周方向に対する交差角度よりも大きいことを特徴とする。   A typical configuration of a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention is a disk-shaped glass substrate for a magnetic disk, wherein a first texture having a trajectory intersecting at a predetermined angle with respect to the circumferential direction, and a circumferential direction. A second texture having a trajectory intersecting at an angle different from that of the first texture, the second texture is applied on the first texture, and the intersection angle of the first texture with respect to the circumferential direction Is larger than the crossing angle with respect to the circumferential direction of the second texture.

本発明にかかる磁気ディスクの代表的な構成は、上記磁気ディスク用ガラス基板の上に、少なくともCo合金系の磁性層を備えていることを特徴とする。   A typical configuration of the magnetic disk according to the present invention is characterized in that at least a Co alloy-based magnetic layer is provided on the magnetic disk glass substrate.

本発明によれば、テクスチャ加工におけるネガティブモジュレーションの発生を防止すると共に、磁性結晶粒子の配向性を高め、磁気ディスクの高記録密度化を図ることができる。   According to the present invention, it is possible to prevent the occurrence of negative modulation in texture processing, increase the orientation of magnetic crystal grains, and increase the recording density of a magnetic disk.

本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスクの製造方法の実施形態について、図を用いて説明する。図1はテープ研磨装置およびテクスチャの状態を説明する図、図2は検査装置で観察したテクスチャ形状を説明する図、図3は円周方向とテクスチャの交差角度を変えて評価した結果を説明する図である。なお、以下の実施例に示す寸法、材料、その他具体的な数値などは、発明の理解を容易とするための例示に過ぎず、特に断る場合を除き、本発明を限定するものではない。   Embodiments of a magnetic disk glass substrate and a magnetic disk manufacturing method according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram for explaining the state of the tape polishing device and the texture, FIG. 2 is a diagram for explaining the texture shape observed by the inspection device, and FIG. 3 is a diagram for explaining the evaluation results obtained by changing the intersecting angle between the circumferential direction and the texture. FIG. Note that dimensions, materials, and other specific numerical values shown in the following examples are merely examples for facilitating the understanding of the invention, and do not limit the present invention unless otherwise specified.

図1に示すのは、テープ研磨装置の要部説明図である。図においてガラス基板1は円盤状の磁気ディスク用ガラス基板であって、スピンドル10に支持されており、所定の速度で回転駆動される。スラリーノズル11からは研磨材を含む研磨液が吐出され、研磨テープ12とローラ13とからなる研磨ヘッドに供給される。研磨テープ12はローラ13に巻き付けられており、ローラ13は研磨テープ12をガラス基板1の両主表面に押圧する。研磨テープ12はガラス基板1との接触部位においてガラス基板1の回転方向と逆方向に巻き取られ、常に新しい面がガラス基板1に接触する。これによりガラス基板1の主表面は摺擦研磨され、円周状のテクスチャが形成される。   FIG. 1 is an explanatory view of a main part of the tape polishing apparatus. In the figure, a glass substrate 1 is a disk-shaped glass substrate for a magnetic disk, is supported by a spindle 10 and is driven to rotate at a predetermined speed. A polishing liquid containing an abrasive is discharged from the slurry nozzle 11 and supplied to a polishing head composed of a polishing tape 12 and a roller 13. The polishing tape 12 is wound around a roller 13, and the roller 13 presses the polishing tape 12 against both main surfaces of the glass substrate 1. The polishing tape 12 is wound up in a direction opposite to the rotation direction of the glass substrate 1 at a contact portion with the glass substrate 1, and a new surface always contacts the glass substrate 1. As a result, the main surface of the glass substrate 1 is rubbed and polished to form a circumferential texture.

また、スピンドル10と研磨テープ12とをローラ13の軸方向(ガラス基板の半径方向)に相対的に揺動可能とすることにより、円周方向に対して所定の角度を有するクロステクスチャや螺旋状テクスチャを形成する。このときガラス基板1の回転速度(スピンドル10の回転速度)と、スピンドル10と研磨テープ12との相対的な揺動の周期を調節することで、テクスチャの軌跡(円周方向に対する交差角度)を調節することができる。   Further, by allowing the spindle 10 and the polishing tape 12 to swing relatively in the axial direction of the roller 13 (radial direction of the glass substrate), a cross texture or a spiral shape having a predetermined angle with respect to the circumferential direction. Form a texture. At this time, the texture locus (intersection angle with respect to the circumferential direction) is adjusted by adjusting the rotation speed of the glass substrate 1 (rotation speed of the spindle 10) and the relative oscillation cycle of the spindle 10 and the polishing tape 12. Can be adjusted.

研磨テープ12の材質および形状については特に限定されるものではなく、例えば植毛テープ、織布テープ、不織布テープなどが挙げられる。テープ繊維の材料としては、たとえばポリエステル、ナイロン等のプラスチック繊維が挙げられる。研磨液に含まれる研磨材は、例えば、ダイヤモンド砥粒、アルミナ、酸化セリウム、コロイダルシリカ等のガラス基板の研磨に使用される砥粒であれば特に限定されず、またこれらの混合であってもよい。   The material and shape of the polishing tape 12 are not particularly limited, and examples thereof include a flocking tape, a woven fabric tape, and a non-woven fabric tape. Examples of the tape fiber material include plastic fibers such as polyester and nylon. The abrasive contained in the polishing liquid is not particularly limited as long as it is an abrasive grain used for polishing a glass substrate such as diamond abrasive grains, alumina, cerium oxide, colloidal silica, or a mixture thereof. Good.

ここで本実施形態においては、円周方向に対するテクスチャの軌跡の交差角度が異なる2種類のテクスチャを形成する。すなわち、まず交差角度αが大きい第1テクスチャ20を形成し、次に交差角度βが小さい第2テクスチャ21を形成する。   Here, in the present embodiment, two types of textures having different intersection angles of the texture locus with respect to the circumferential direction are formed. That is, first, the first texture 20 having a large intersection angle α is formed, and then the second texture 21 having a small intersection angle β is formed.

図2は、光学反射式微細欠陥検査装置MicroMax(VISION PSYTEC社)によって観察したテクスチャ形状である。図2(a)は、本実施形態にかかるテクスチャを施した例、図2(b)は比較例1として交差角度が大きいテクスチャのみを施した例、図2(c)は比較例2として交差角度が小さいテクスチャのみを施した例を示している。MicroMaxは反射光を映像化する評価装置であり、白く写る部分が深い凹形状を持つテクスチャのスクラッチを表している。図2(c)を参照すれば交差角度が小さいテクスチャは多数の連続した深いスクラッチが形成され、図2(b)を参照すれば交差角度が大きいテクスチャは深いスクラッチがほとんど形成されていないことがわかる。そして図2(a)を参照すれば、交差角度が大きいテクスチャの後に交差角度の小さいテクスチャを施した場合は、連続した大きなものは形成されないことがわかる。   FIG. 2 shows a texture shape observed by an optical reflection type fine defect inspection apparatus MicroMax (VISION PSYTEC). 2A is an example in which a texture according to the present embodiment is applied, FIG. 2B is an example in which only a texture having a large intersection angle is applied as Comparative Example 1, and FIG. The example which gave only the texture with a small angle is shown. MicroMax is an evaluation device that visualizes reflected light, and represents a texture scratch having a deep concave shape in a white portion. Referring to FIG. 2C, a texture having a small intersection angle forms many continuous deep scratches. Referring to FIG. 2B, a texture having a large intersection angle has almost no deep scratches. Recognize. Then, referring to FIG. 2A, it is understood that when a texture having a small intersection angle is applied after a texture having a large intersection angle, a large continuous one is not formed.

これは、発明者の考察によれば、ガラス基板をテープ研磨するに際し、はじめはガラス基板上に凸形状異物が存在した場合、テープ研磨によって凸形状異物が除去されて、コンタミ(かけら)として浮遊する。このとき交差角度が小さい場合には浮遊するコンタミがガラス基板1と研磨テープ12との間に挟まって逃げ場がなく、ガラス基板1上にスクラッチを形成してしまうものと考えられる。このスクラッチは円周方向、すなわち読み書き方向(トラック方向)に連続した信号エラー(ネガティブモジュレーション)を発生させてしまう。ネガティブモジュレーション(Negative Modulation)は、高周波信号(例えば300kfci)をトラック1周に書き込んだときに、平均出力から所定以下となる出力の記録ビットが所定数以上連続した場合にカウントされる信号エラーである。   According to the inventor's consideration, when a glass substrate is polished with a tape, first, if there is a convex foreign material on the glass substrate, the convex foreign material is removed by tape polishing and floated as a contamination. To do. At this time, when the crossing angle is small, it is considered that floating contaminants are sandwiched between the glass substrate 1 and the polishing tape 12 and there is no escape space, and scratches are formed on the glass substrate 1. This scratch generates a signal error (negative modulation) that is continuous in the circumferential direction, that is, the read / write direction (track direction). Negative modulation is a signal error that is counted when a high-frequency signal (for example, 300 kfci) is written on one track, when a predetermined number of output recording bits that are less than or equal to the average output continue. .

しかし交差角度が大きい場合にはランダムな方向の軌跡を描くことから、コンタミはガラス基板1と研磨テープとの間から早期に脱落するため、ガラス基板1に深いスクラッチを形成しないと考えられる。仮にスクラッチを発生させたとしても円周方向に対して傾いていることから、読み書き方向に連続した信号エラーを最小限に抑えることができる。   However, when the crossing angle is large, a trajectory in a random direction is drawn. Therefore, it is considered that the contamination is quickly dropped from between the glass substrate 1 and the polishing tape, so that a deep scratch is not formed on the glass substrate 1. Even if a scratch is generated, since it is inclined with respect to the circumferential direction, signal errors continuous in the read / write direction can be minimized.

さらにランダムな方向の軌跡を描くことにより、マイクロウェービネスを低くすることができ、磁気ヘッドの低浮上量化の向上、安定性も確保することができる。マイクロウェービネスとは周期をもったうねりを高さで表す量であり、算術平均粗さ(Ra)や2乗平均粗さ(Rq)を単位として表記される。本実施形態においてマイクロウェービネスは、基板表面を非接触レーザー干渉法によって測定したとき、微小うねりの周期が2μm〜4mmであって、次に示す関係式によって求められる微小うねりの平均高さ(平均値)Ra′が、0.4nm以下であることが好ましい。
Furthermore, by drawing a trajectory in a random direction, it is possible to reduce the micro-waveness, to improve the low flying height of the magnetic head and to ensure stability. Microwaveness is a quantity that expresses a waviness with a period as a height, and is expressed in units of arithmetic average roughness (Ra) and root mean square roughness (Rq). In the present embodiment, the micro-waveness is the average height (average) of micro-waviness obtained by the following relational expression when the period of micro-waviness is 2 μm to 4 mm when the substrate surface is measured by non-contact laser interferometry. Value) Ra ′ is preferably 0.4 nm or less.

そして交差角度の小さな第2テクスチャを形成する工程では、すでに凸形状異物が除去されていることからスクラッチの発生が抑えられる。また円周方向に近い角度であることから円周方向の表面粗さが小さくなり、低浮上量領域におけるクラッシュ障害およびサーマルアスペリティの防止を達成することができる。さらに交差角度が小さいことから、円周方向の磁性結晶粒子の配向性を高めることができ、磁気ディスクの高記録密度化を図ることができる。   In the step of forming the second texture having a small intersection angle, the occurrence of scratches can be suppressed because the convex foreign matter has already been removed. In addition, since the angle is close to the circumferential direction, the surface roughness in the circumferential direction is reduced, and the prevention of crash failure and thermal asperity in the low flying height region can be achieved. Furthermore, since the crossing angle is small, the orientation of the magnetic crystal grains in the circumferential direction can be improved, and the recording density of the magnetic disk can be increased.

また後述するように、第1テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.1°以上であって、第2テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.1°より小さいことが好ましい。さらには、第1テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.2°以上であることが好ましい。   As will be described later, it is preferable that the intersection angle of the first texture with respect to the circumferential direction is 0.1 ° or more and the intersection angle of the second texture with respect to the circumferential direction is smaller than 0.1 °. Furthermore, the intersection angle of the first texture with respect to the circumferential direction is preferably 0.2 ° or more.

[実施例]
以下に、本発明を適用した磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスクの製造方法について実施例を説明する。この磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスクは、0.85インチ型ディスク(内径6mm、外径21.6mm、板厚0.381mm)、1.0インチ型ディスク(内径7mm、外径27.4mm、板厚0.381mm)、1.8インチ型磁気ディスク(内径12mm、外径48mm、板厚0.508mm)などの所定の形状を有する磁気ディスクとして製造される。また、2.5インチ型ディスクや3.5インチ型ディスクとして製造してもよい。
[Example]
Examples of a glass substrate for a magnetic disk and a method for manufacturing the magnetic disk to which the present invention is applied will be described below. This glass substrate for magnetic disk and magnetic disk are 0.85 inch type disk (inner diameter 6 mm, outer diameter 21.6 mm, plate thickness 0.381 mm), 1.0 inch type disk (inner diameter 7 mm, outer diameter 27.4 mm, It is manufactured as a magnetic disk having a predetermined shape such as a plate thickness of 0.381 mm) and a 1.8 inch type magnetic disk (inner diameter of 12 mm, outer diameter of 48 mm, plate thickness of 0.508 mm). Further, it may be manufactured as a 2.5 inch type disc or a 3.5 inch type disc.

(1)形状加工工程および第1ラッピング工程
まず、溶融させたアルミノシリケートガラスを上型、下型、胴型を用いたダイレクトプレスによりディスク形状に成型し、アモルファスの板状ガラスを得た。なお、アルミノシリケートガラスはSiOからなる網目状のガラス骨格と、修飾イオンとしてアルミニウムを含む構造を有し、アルカリ金属元素を含むガラスである。ダイレクトプレス以外に、ダウンドロー法やフロート法で形成したシートガラスから研削砥石で切り出して円盤状の磁気ディスク用ガラス基板を得てもよい。なお、アルミノシリケートガラスとしては、SiO:58〜75重量%、Al:5〜23重量%、LiO:3〜10重量%、NaO:4〜13重量%を主成分として含有する化学強化ガラスを使用した。
(1) Shape processing step and first lapping step First, the melted aluminosilicate glass was molded into a disk shape by direct pressing using an upper die, a lower die, and a barrel die to obtain an amorphous plate glass. The aluminosilicate glass is a glass containing an alkali metal element having a network-like glass skeleton made of SiO and a structure containing aluminum as a modifying ion. In addition to direct pressing, a disk-shaped glass substrate for a magnetic disk may be obtained by cutting a sheet glass formed by a downdraw method or a float method with a grinding wheel. As the aluminosilicate glass, SiO 2: 58 to 75 wt%, Al 2 O 3: 5~23 wt%, Li 2 O: 3 to 10 wt%, Na 2 O: 4 to 13 principal component weight% Chemically strengthened glass contained as

次に、この板状ガラスの両主表面をラッピング加工し、ディスク状のガラス母材とした。ラッピング加工は、板状ガラスの主表面にラップ定盤を押圧し、荒削りする研削加工である。   Next, both main surfaces of the plate glass were lapped to form a disk-shaped glass base material. The lapping process is a grinding process in which a lapping platen is pressed against the main surface of the sheet glass and roughed.

(2)切り出し工程(コアリング、フォーミング)
次に、円筒状のダイヤモンドドリルを用いて中心部に内孔を形成した(コアリング)。そして内周端面および外周端面をダイヤモンド砥石によって研削し、所定の面取り加工を施した(フォーミング)。
(2) Cutting process (coring, forming)
Next, an inner hole was formed in the center using a cylindrical diamond drill (coring). Then, the inner peripheral end face and the outer peripheral end face were ground with a diamond grindstone and subjected to predetermined chamfering (forming).

(3)端面研磨工程
次に、ガラス基板の端面について、ブラシ研磨方法により、鏡面研磨を行った。この端面研磨工程により、ガラス基板の端面は、パーティクル等の発塵を防止できる鏡面状態に加工された。
(3) End surface polishing process Next, the end surface of the glass substrate was mirror-polished by a brush polishing method. By this end surface polishing step, the end surface of the glass substrate was processed into a mirror surface state capable of preventing generation of particles and the like.

(4)第2ラッピング工程
次に、得られたガラス基板の両主表面について、第1ラッピング工程と同様に、第2ラッピング加工を行った。この第2ラッピング工程を行うことにより、前工程である切り出し工程や端面研磨工程において主表面に形成された微細な凹凸形状を予め除去しておくことができ、後続の主表面に対する研磨工程を短時間で完了させることができるようになる。
(4) Second Lapping Step Next, a second lapping process was performed on both main surfaces of the obtained glass substrate in the same manner as in the first lapping step. By performing this second lapping step, it is possible to remove in advance the fine unevenness formed on the main surface in the cutting step and end surface polishing step, which are the previous steps, and shorten the subsequent polishing step on the main surface. Will be able to be completed in time.

第2ラッピング工程では、砥粒の粒度として#1000を選択し、主表面の平坦度を3μm、表面粗さRmaxが2μm程度、算術平均粗さRaを0.2μm程度とした(RmaxおよびRaは日本工業規格(JIS)B0601に従う)。なお、Rmax、Raは原子間力顕微鏡(AFM)(デジタルインスツルメンツ社製ナノスコープ)にて測定した。平坦度は平坦度測定装置で測定したもので、基板表面の最も高い部分と、最も低い部分との上下方向(表面に垂直な方向)の距離(高低差)である。   In the second lapping step, # 1000 is selected as the grain size of the abrasive grains, the flatness of the main surface is 3 μm, the surface roughness Rmax is about 2 μm, and the arithmetic average roughness Ra is about 0.2 μm (Rmax and Ra are According to Japanese Industrial Standard (JIS) B0601). Rmax and Ra were measured with an atomic force microscope (AFM) (Digital Instruments Nanoscope). The flatness is measured by a flatness measuring device, and is the distance (height difference) between the highest part and the lowest part of the substrate surface in the vertical direction (direction perpendicular to the surface).

(5)主表面の第1研磨工程
主表面の研磨工程として、まず第1研磨工程を施した。この第1研磨工程は次工程である第2研磨工程(鏡面研磨工程)に先立って予め主表面を研磨し、前述のラッピング工程において主表面に残留したキズや歪みを除去することを主たる目的とするものである。
(5) 1st grinding | polishing process of a main surface First, the 1st grinding | polishing process was given as a grinding | polishing process of a main surface. The primary purpose of this first polishing step is to polish the main surface in advance prior to the second polishing step (mirror polishing step), which is the next step, and to remove scratches and distortions remaining on the main surface in the lapping step described above. To do.

この第1研磨工程においては、一度に100枚から200枚のガラス基板を研磨可能な両面研磨装置によって研磨した。この両面研磨装置は、上記多数枚のガラス基板を研磨布を介して上方定盤および下方定盤によって挟持し、遊星歯車機構によって相対的に移動させることにより研磨を行う。第1研磨工程における研磨布としては、硬質樹脂ポリッシャを用いた。研磨材としては酸化セリウム砥粒を用い、粒径の最大値が3.5μm、平均値が1.1μm、D50値が1.1μmのものを水に混入させて用いた。   In the first polishing step, 100 to 200 glass substrates were polished at once by a double-side polishing apparatus capable of polishing. This double-side polishing apparatus performs polishing by sandwiching a large number of glass substrates with an upper surface plate and a lower surface plate through a polishing cloth and relatively moving them by a planetary gear mechanism. A hard resin polisher was used as the polishing cloth in the first polishing step. As the abrasive, cerium oxide abrasive grains were used, and those having a maximum particle size of 3.5 μm, an average value of 1.1 μm, and a D50 value of 1.1 μm were mixed in water.

この第1研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。   The glass substrate which finished this 1st grinding | polishing process was immersed in each washing tank of neutral detergent, a pure water, and IPA (isopropyl alcohol) one by one, and was wash | cleaned.

(6)主表面の第2研磨工程
次に主表面の研磨工程として、第2研磨工程を施した。この第2研磨工程は、主表面を鏡面状に仕上げることを目的とする。この第2研磨工程においては、第1研磨工程と同様の両面研磨装置により、研磨布として軟質発泡樹脂ポリッシャ、具体的には発泡ポリウレタンを用いて、主表面の鏡面研磨を行った。
(6) Second polishing step for main surface Next, a second polishing step was performed as a polishing step for the main surface. The purpose of this second polishing step is to finish the main surface into a mirror surface. In the second polishing step, mirror polishing of the main surface was performed using a soft foam resin polisher, specifically, foamed polyurethane, as the polishing cloth, using the same double-side polishing apparatus as in the first polishing step.

研磨材としてはグレイン径が40nmのコロイド状シリカ砥粒を準備し、水と、全解離性の無機酸として硫酸、緩衝作用のある薬液として、有機酸である酒石酸加えて研磨液を作製した。研磨液中のシリカの含有量は5〜40重量%とすることが好ましい。本実施例では10重量%とした。研磨液中の残部は超純水である。   Colloidal silica abrasive grains having a grain diameter of 40 nm were prepared as abrasives, and a polishing liquid was prepared by adding water, sulfuric acid as a total dissociating inorganic acid, and tartaric acid as an organic acid as a chemical solution having a buffering action. The content of silica in the polishing liquid is preferably 5 to 40% by weight. In this example, it was 10% by weight. The balance in the polishing liquid is ultrapure water.

(7)鏡面研磨処理後の洗浄工程
第2研磨工程を終えたガラス基板を、濃度3〜5wt%のNaOH水溶液に浸漬してアルカリ洗浄を行った。尚、洗浄は超音波を印加して行った。さらに、中性洗剤、純水、純水、IPA、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して洗浄した。なお、各洗浄槽には、超音波を印加した。
(7) Cleaning step after mirror polishing The glass substrate after the second polishing step was immersed in an aqueous NaOH solution having a concentration of 3 to 5 wt% to perform alkali cleaning. The cleaning was performed by applying ultrasonic waves. Furthermore, it wash | cleaned by immersing in each washing tank of neutral detergent, a pure water, a pure water, IPA, and IPA (steam drying) sequentially. Note that ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

(8)化学強化工程
次に、前述のラッピング工程および研磨工程を終えたガラス基板に、化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この化学強化溶液を375℃に加熱しておくとともに、洗浄済みのガラス基板を300℃に予熱し、化学強化溶液中に約3時間浸漬することによって行った。この浸漬の際には、ガラス基板の表面全体が化学強化されるようにするため、複数のガラス基板が端面で保持されるように、ホルダに収納した状態で行った。
(8) Chemical strengthening process Next, the glass substrate which finished the above-mentioned lapping process and polishing process was chemically strengthened. For chemical strengthening, a chemical strengthening solution prepared by mixing potassium nitrate (60%) and sodium nitrate (40%) is prepared, and the chemically strengthened solution is heated to 375 ° C., and the cleaned glass substrate is preheated to 300 ° C. And was immersed in the chemical strengthening solution for about 3 hours. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, it was performed in a state of being housed in a holder so that a plurality of glass substrates were held at the end surfaces.

このように、化学強化溶液に浸漬処理することによって、ガラス基板の表層のリチウムイオンおよびナトリウムイオンが、化学強化溶液中のナトリウムイオンおよびカリウムイオンにそれぞれ置換され、ガラス基板が強化される。ガラス基板の表層に形成された圧縮応力層の厚さは、約100μmから200μmであった。   Thus, by immersing in the chemical strengthening solution, the lithium ions and sodium ions in the surface layer of the glass substrate are replaced with sodium ions and potassium ions in the chemical strengthening solution, respectively, and the glass substrate is strengthened. The thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer of the glass substrate was about 100 μm to 200 μm.

化学強化処理を終えたガラス基板を、20℃の水槽に浸漬して急冷し、約10分間維持した。そして、急冷を終えたガラス基板を、約40℃に加熱した濃硫酸に浸漬して洗浄を行った。さらに、硫酸洗浄を終えたガラス基板を純水、IPA(イソプロピルアルコール)の各洗浄槽に順次浸漬して洗浄した。   The glass substrate that had been subjected to the chemical strengthening treatment was immersed in a 20 ° C. water bath and rapidly cooled, and maintained for about 10 minutes. And the glass substrate which finished quenching was immersed in the concentrated sulfuric acid heated at about 40 degreeC, and was wash | cleaned. Further, the glass substrate after the sulfuric acid cleaning was cleaned by immersing in a cleaning bath of pure water and IPA (isopropyl alcohol) sequentially.

(9)テープ研磨工程
次に、上記(8)によって洗浄されたガラス基板に対して、上記説明したテープ研磨装置(図1参照)を用いて、テープ研磨を行った。このとき、図3(a)に示すように、円周方向とテクスチャの交差角度を様々に変えて、実施例1〜7と比較例1〜4の構成で実験を行った。実施例1〜7は第1テクスチャの円周方向に対する交差角度を0.1°以上、第2テクスチャの円周方向に対する交差角度を0.1°より小さい範囲としている。比較例1は第1テクスチャのみを施したもの(図2(b)参照)、比較例2は第2テクスチャのみを施したもの(図2(c)参照)、比較例3は第1テクスチャの交差角度が第2テクスチャより小さいもの、比較例4は第1テクスチャと第2テクスチャが共に交差角度が小さいものである。なお図中の交差角度の数値は、2.5インチ型ディスクの半径22mmの位置で測定した角度である。
(9) Tape grinding | polishing process Next, tape grinding | polishing was performed with respect to the glass substrate wash | cleaned by said (8) using the tape grinding apparatus (refer FIG. 1) demonstrated above. At this time, as shown to Fig.3 (a), it experimented by the structure of Examples 1-7 and Comparative Examples 1-4 by changing the intersection angle of the circumferential direction and a texture variously. In Examples 1 to 7, the intersection angle of the first texture with respect to the circumferential direction is 0.1 ° or more, and the intersection angle of the second texture with respect to the circumferential direction is smaller than 0.1 °. Comparative Example 1 has only the first texture (see FIG. 2B), Comparative Example 2 has only the second texture (see FIG. 2C), and Comparative Example 3 has the first texture. The intersection angle is smaller than the second texture, and in Comparative Example 4, both the first texture and the second texture have a small intersection angle. In addition, the numerical value of the crossing angle in the figure is an angle measured at a position of a radius of 22 mm of a 2.5 inch type disk.

テープ研磨が終了した後、各実施例および比較例においてガラス基板の表面は清浄な鏡面状態であった。表面には、磁気ヘッドの浮上を妨げる異物や、サーマルアスペリティ障害の原因となる異物は存在しなかった。すなわち、平坦、かつ、平滑な、高剛性の磁気ディスク用ガラス基板を得た。   After the tape polishing was completed, the surface of the glass substrate in each example and comparative example was in a clean mirror state. There were no foreign objects on the surface that could hinder the flying of the magnetic head or cause thermal asperity failure. That is, a flat and smooth high-rigidity glass substrate for a magnetic disk was obtained.

以上のように製造された磁気ディスク用のガラス基板を用いて長手磁気記録方式の磁気ディスクを製造した。   A magnetic disk of the longitudinal magnetic recording system was manufactured using the glass substrate for a magnetic disk manufactured as described above.

(11)磁気ディスク製造工程
上述した工程を経て得られた磁気ディスク用ガラス基板に対し、インライン型スパッタリング装置にて、CrTi層、CoW下地層、CoPtCrB磁性層、水素化カーボン保護層を成膜し、ディップ法によりパーフルオロポリエーテル潤滑層を形成して磁気ディスクを作製した。なお、本構成は面内磁気ディスクの構成の一例であるが、垂直磁気ディスクとして磁性層等を構成してもよい。
(11) Magnetic disk manufacturing process A CrTi layer, a CoW underlayer, a CoPtCrB magnetic layer, and a hydrogenated carbon protective layer are formed on an in-line type sputtering apparatus on the magnetic disk glass substrate obtained through the above-described processes. Then, a perfluoropolyether lubricating layer was formed by a dip method to produce a magnetic disk. Although this configuration is an example of the configuration of the in-plane magnetic disk, a magnetic layer or the like may be configured as a perpendicular magnetic disk.

[評価]
上記製造方法によって得られた各実施例、比較例の構成の磁気ディスクについて、記録再生試験を行った。そして図3(a)に示すように、磁気異方性係数であるOR(Mrt)=Mrt(円周方向)/Mrt(半径方向)、スクラッチ発生率、ネガティブモジュレーションのカウント回数について、評価を行った。
[Evaluation]
A recording / reproducing test was performed on the magnetic disks having the configurations of the examples and the comparative examples obtained by the above manufacturing method. Then, as shown in FIG. 3 (a), the magnetic anisotropy coefficient OR (Mrt) = Mrt (circumferential direction) / Mrt (radial direction), the scratch occurrence rate, and the negative modulation count were evaluated. It was.

まず、図3(a)を参照すれば、第2テクスチャの交差角度の大きい比較例3、および第2テクスチャを施さなかった比較例1(すなわち交差角度の大きい第1テクスチャのままの状態)は、ORの値が低くなっている。一方、その他の実施例および比較例では第2テクスチャは0.01°に一定であるが、図3(b)からわかるように、いずれも同様に高いORの値を示している。図3(b)は、第1テクスチャの交差角度に対するORの値を視覚化したグラフである。このことから、テクスチャ最終工程としての第2テクスチャは、交差角度が小さいことが好ましいことがわかる。そして実験結果より、第2テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.1°より小さいことが好ましいことがわかる。   First, referring to FIG. 3A, Comparative Example 3 in which the second texture has a large intersection angle and Comparative Example 1 in which the second texture is not applied (that is, the state where the first texture has a large intersection angle) are obtained. , OR value is low. On the other hand, in the other examples and comparative examples, the second texture is constant at 0.01 °. However, as can be seen from FIG. FIG. 3B is a graph visualizing the value of OR with respect to the intersection angle of the first texture. From this, it is understood that the second texture as the texture final step preferably has a small intersection angle. From the experimental results, it can be seen that the intersection angle of the second texture with respect to the circumferential direction is preferably smaller than 0.1 °.

図3(b)は、第1テクスチャの交差角度に対するスクラッチ発生率とネガティブモジュレーションを視覚化したグラフである。図からわかるように、第1テクスチャの交差角度を大きくするほど、スクラッチ発生率もネガティブモジュレーションのカウント回数も大幅に減少することがわかる。そして実験結果より、第1テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.1°以上、さらには0.2°以上であることが好ましいことがわかる。   FIG. 3B is a graph visualizing the scratch occurrence rate and the negative modulation with respect to the intersection angle of the first texture. As can be seen from the figure, as the crossing angle of the first texture is increased, the scratch occurrence rate and the negative modulation count are significantly reduced. From the experimental results, it can be seen that the crossing angle of the first texture with respect to the circumferential direction is preferably 0.1 ° or more, and more preferably 0.2 ° or more.

上記説明した如く、本発明によれば、円周方向に対して交差角度の大きな第1テクスチャと、交差角度の小さな第2テクスチャをこの順に形成したことにより、円周方向の深いスクラッチを防止してネガティブモジュレーションを最小限に抑えつつ、磁性結晶粒子の配向性を高めて磁気ディスクの高記録密度化を図ることができる。さらにマイクロウェービネスを低くし、かつ表面粗さを小さくすることができ、磁気ヘッドの低浮上量化および安定性の向上、低浮上量領域におけるクラッシュ障害およびサーマルアスペリティの防止を達成することができる。   As described above, according to the present invention, the first texture having a large intersection angle with respect to the circumferential direction and the second texture having a small intersection angle are formed in this order, thereby preventing deep scratches in the circumferential direction. Thus, it is possible to increase the orientation of the magnetic crystal grains while minimizing negative modulation and to increase the recording density of the magnetic disk. Further, the micro-waveness can be lowered and the surface roughness can be reduced, so that the flying height and stability of the magnetic head can be reduced, and the crash failure and the thermal asperity can be prevented in the low flying height region.

以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   The preferred embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, but it goes without saying that the present invention is not limited to such examples. It will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made within the scope of the claims, and these are naturally within the technical scope of the present invention. Understood.

本発明は磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスクの製造方法、および磁気ディスクとして利用することができる。   The present invention can be used as a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, a method for manufacturing a magnetic disk, and a magnetic disk.

テープ研磨装置およびテクスチャの状態を説明する図である。It is a figure explaining the state of a tape grinding | polishing apparatus and a texture. 検査装置で観察したテクスチャ形状を説明する図である。It is a figure explaining the texture shape observed with the inspection apparatus. 円周方向とテクスチャの交差角度を変えて評価した結果を説明する図である。It is a figure explaining the result evaluated by changing the intersection angle of the circumference direction and a texture.

符号の説明Explanation of symbols

1 …ガラス基板
10 …スピンドル
11 …スラリーノズル
12 …研磨テープ
13 …ローラ
20 …第1テクスチャ
21 …第2テクスチャ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Glass substrate 10 ... Spindle 11 ... Slurry nozzle 12 ... Polishing tape 13 ... Roller 20 ... 1st texture 21 ... 2nd texture

Claims (5)

ロードアンドロード方式の磁気記録装置に搭載される磁気ディスクに用いられる円盤状の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、
回転する基板に対して研磨ヘッドを半径方向に相対的に反復移動させることにより円周方向に対して所定の角度で交差する軌跡からなる第1テクスチャを形成する工程と、
円周方向に対して前記第1テクスチャとは異なる角度で交差する軌跡からなる第2テクスチャを形成する工程とを、この順に含み、
前記第1テクスチャの円周方向に対する交差角度は、前記第2テクスチャの円周方向に対する交差角度よりも大きいことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
In the method of manufacturing a disk-shaped glass substrate for a magnetic disk used for a magnetic disk mounted on a load-and-load magnetic recording apparatus,
Forming a first texture having a trajectory that intersects the circumferential direction at a predetermined angle by repeatedly moving the polishing head in a radial direction relative to the rotating substrate;
Forming a second texture consisting of trajectories intersecting at a different angle from the first texture with respect to the circumferential direction in this order,
A method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, wherein an intersection angle of the first texture with respect to a circumferential direction is larger than an intersection angle of the second texture with respect to a circumferential direction.
前記第1テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.1°以上であって、前記第2テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.1°より小さいことを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   2. The magnetism according to claim 1, wherein the crossing angle of the first texture with respect to the circumferential direction is 0.1 ° or more, and the crossing angle of the second texture with respect to the circumferential direction is smaller than 0.1 °. A method for producing a glass substrate for a disk. 前記第1テクスチャの円周方向に対する交差角度は0.2°以上であることを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   2. The method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1, wherein an angle of intersection of the first texture with respect to the circumferential direction is 0.2 [deg.] Or more. 磁気ヘッドの浮上高さが8nm以下の磁気ディスクに用いられることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of claims 1 to 3, wherein the flying height of the magnetic head is used for a magnetic disk of 8 nm or less. 請求項1〜請求項4に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により得られた磁気ディスク用ガラス基板の表面に、少なくともCo合金系の磁性層を形成することを特徴とする磁気ディスクの製造方法。   A magnetic disk manufacturing method comprising: forming a magnetic layer of at least a Co alloy system on a surface of a glass substrate for a magnetic disk obtained by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1. Method.
JP2006269722A 2006-09-29 2006-09-29 Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, method for manufacturing magnetic disk Expired - Fee Related JP4698546B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006269722A JP4698546B2 (en) 2006-09-29 2006-09-29 Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, method for manufacturing magnetic disk

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006269722A JP4698546B2 (en) 2006-09-29 2006-09-29 Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, method for manufacturing magnetic disk

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008090907A JP2008090907A (en) 2008-04-17
JP4698546B2 true JP4698546B2 (en) 2011-06-08

Family

ID=39374910

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006269722A Expired - Fee Related JP4698546B2 (en) 2006-09-29 2006-09-29 Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, method for manufacturing magnetic disk

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4698546B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011248966A (en) * 2010-05-28 2011-12-08 Wd Media (Singapore) Pte. Ltd Perpendicular magnetic recording medium

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63160010A (en) * 1986-12-23 1988-07-02 Asahi Glass Co Ltd Galss base for magnetic disk and its manufacture
JPH02297722A (en) * 1989-05-10 1990-12-10 Fujitsu Ltd Production of magnetic disk medium
JPH0369018A (en) * 1989-08-05 1991-03-25 Mitsubishi Electric Corp Magnetic disk
JPH03125325A (en) * 1989-10-11 1991-05-28 Hitachi Metals Ltd Magnetic recording medium
JPH0434719A (en) * 1990-05-30 1992-02-05 Fujitsu Ltd Magnetic disk base and texture processing method
JPH04238116A (en) * 1991-01-22 1992-08-26 Sony Corp Magnetic disk
JPH04339312A (en) * 1991-05-16 1992-11-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Magnetic disk
JPH04349218A (en) * 1991-05-27 1992-12-03 Fuji Electric Co Ltd Substrate for magnetic recording medium, magnetic recording medium and production of this substrate
JPH07244845A (en) * 1994-03-04 1995-09-19 Mitsubishi Chem Corp Manufacture of magnetic recording medium
JPH08297837A (en) * 1996-04-26 1996-11-12 Hitachi Ltd Production of magnetic disk

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63160010A (en) * 1986-12-23 1988-07-02 Asahi Glass Co Ltd Galss base for magnetic disk and its manufacture
JPH02297722A (en) * 1989-05-10 1990-12-10 Fujitsu Ltd Production of magnetic disk medium
JPH0369018A (en) * 1989-08-05 1991-03-25 Mitsubishi Electric Corp Magnetic disk
JPH03125325A (en) * 1989-10-11 1991-05-28 Hitachi Metals Ltd Magnetic recording medium
JPH0434719A (en) * 1990-05-30 1992-02-05 Fujitsu Ltd Magnetic disk base and texture processing method
JPH04238116A (en) * 1991-01-22 1992-08-26 Sony Corp Magnetic disk
JPH04339312A (en) * 1991-05-16 1992-11-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Magnetic disk
JPH04349218A (en) * 1991-05-27 1992-12-03 Fuji Electric Co Ltd Substrate for magnetic recording medium, magnetic recording medium and production of this substrate
JPH07244845A (en) * 1994-03-04 1995-09-19 Mitsubishi Chem Corp Manufacture of magnetic recording medium
JPH08297837A (en) * 1996-04-26 1996-11-12 Hitachi Ltd Production of magnetic disk

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008090907A (en) 2008-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8763428B2 (en) Method for producing glass substrate for magnetic disk and method for manufacturing magnetic disk
US10607647B2 (en) Magnetic disk substrate with specified changes in height or depth between adjacent raised or lowered portions and an offset portion on a main surface within a range of 92.0 to 97.0% in a radial direction from a center, a magnetic disk with substrate and magnetic disk device
JP5142548B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and polishing pad
JPWO2005093720A1 (en) Glass substrate for magnetic disk
WO2005096275A1 (en) Glass substrate for magnetic disk and magnetic disk
JP3512702B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for information recording medium and method for manufacturing information recording medium
JP2007118172A (en) Polishing device, polishing method, manufacturing method for glass substrate for magnetic disk, and method for magnetic method
JP5037975B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
JP5344806B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, glass substrate polishing apparatus for magnetic disk, and method for manufacturing magnetic disk
US20050074635A1 (en) Information recording medium and method of manufacturing glass substrate for the information recording medium, and glass substrate for the information recording medium, manufactured using the method
JP2007197235A (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk, glass substrate for magnetic disk, and manufacturing method of magnetic disk
JP2008080482A (en) Manufacturing method and manufacturing device for magnetic disk glass substrate, magnetic disk glass substrate, magnetic disk manufacturing method, and magnetic disk
JP4808985B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
JP5235118B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
JP2007118173A (en) Polishing brush, brush adjusting fixture, and polishing brush adjusting method
JP4612600B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk and method for manufacturing magnetic disk
JP2007102843A (en) Glass substrate for magnetic recording medium and magnetic disk
JP4698546B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, method for manufacturing magnetic disk
JP3156265U (en) Polishing brush, brush adjusting jig, glass substrate for magnetic disk, and magnetic disk
JP4860580B2 (en) Magnetic disk substrate and magnetic disk
JP2007111852A (en) Manufacturing method for glass substrate for magnetic disk, manufacturing method for magnetic disk, and abrasive cloth
JP4942305B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
JP5242015B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
JP5306759B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
JP4347146B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090812

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100302

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100506

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101019

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110119

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20110127

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110301

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110301

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4698546

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees