JP5219244B2

JP5219244B2 - スチール・コード

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Publication number: JP5219244B2
Application number: JP2007315362A
Authority: JP
Inventors: 聡玉田; 義見高橋
Original assignee: Tokyo Rope Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Tokyo Rope Manufacturing Co Ltd
Priority date: 2007-12-06
Filing date: 2007-12-06
Publication date: 2013-06-26
Anticipated expiration: 2027-12-06
Also published as: JP2009138295A

Description

この発明は，スチール・コード，特に，ゴム製品，合成樹脂製品等の補強部材として利用されるスチール・コードに関する。

ゴム製品または合成樹脂製品，たとえば，自動車用タイヤ，オートバイ用タイヤ等の耐久性を向上させるために，スチール・ワイヤ（スチール製のワイヤ単線）を複数本撚り合わせてつくられたスチール・コードが補強部材として用いられている。図１１は自動車用タイヤの内部構造の一例を示している。自動車用タイヤ70は，カーカス層71，２つのベルト層72，73，およびトレッド層74が積層されて構成されており，ベルト層72，73のそれぞれに多数のスチール・コード75が埋設されている。

近年のタイヤの生産では，大規模大量生産方式に代えて小規模小ロット生産方式の導入が増えている。小規模小ロット生産方式では，スチール・コードの周囲にあらかじめゴム被覆（または合成樹脂被覆）を施したもの（スチール・コードとゴムまたは合成樹脂の複合体）を，ベルト層72，73に埋設することが多い。

スチール・コードの周囲へのゴムの被覆に，ゴム押出し方式が採用されることがある。ゴム押出し方式では，エクストルーダ（押出し成型器）から押出されるゴムがスチール・コードに被覆される。スチール・コードにゴムを被覆するエクストルーダでは，孔径の小さいダイスにスチール・コードを通し，スチール・コードを移動させながら，ダイスの出口部分において，連続して押出されるゴムをスチール・コードに被覆していく。

ところが，スチール・コードが通過するダイスの孔径は小さい（スチール・コードの直径とダイスの孔径が近い）ので，スチール・コードがダイスを通過するときに，ダイスによってスチール・コードがしごかれることがある。スチール・コードがしごかれると，側ワイヤがスチール・コードの長手方向に移動して側ワイヤに浮きが発生し，スチール・コードに型くずれが生じることがある。しごかれる程度が大きいとスチール・コードが断線することもある。

特許文献１および特許文献２には，側ワイヤの移動によるスチール・コードの型くずれを防止するために，側ワイヤの型付率を１００％未満に抑えることが記載されている。型付率はワイヤ（素線）の型付けの大きさ（波高さ）の程度を表す。側ワイヤの型付率を低くすることによって側ワイヤと心ストランドの接触圧が比較的大きくなるので，側ワイヤの移動の抑制を図ることができる。

型付率を１００％未満にすると側ワイヤの移動が抑制されるが，上述のように，心ストランドと側ワイヤとの接触圧が大きくなるので心ストランドと側ワイヤとにフレッティング摩耗が生じやすくなる。フレッティング摩耗はスチール・コードの耐久性を低める要因であるので，これを防止することが肝要である。また，型付率を小さくするとスチール・コードの末端がばらけやすくもなる。
特開２００６−２１８９３４号公報特許第３８０５００７号公報

この発明は，側ワイヤの型付率を小さくしたときに発生しやすい，心ストランドおよび側ワイヤの間のフレッティング摩耗，ならびにスチール・コードのばらけのいずれもが抑制されたスチール・コードを提供することを目的とする。

この発明によるスチール・コードは，心ストランドと，その周囲に位置する複数本のスチール・ワイヤ側線（以下，側ワイヤという）が撚り合わされてつくられる。スチール・コードと心ストランドは同一の撚り方向を持つ。心ストランドは，複数本のスチール・ワイヤ心線（以下，心ワイヤという）を撚り合わせてつくられる。

スチール・コードの撚りピッチＰｓと心ストランドの撚りピッチＰｃとの比Ｐｓ／Ｐｃ（以下，ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃという）が，１．１８≦Ｐｓ／Ｐｃ≦２．００の範囲内とされている。スチール・コードの撚りピッチＰｓまたは心ストランドの撚りピッチＰｃのいずれか，または両方を調節することによって，ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃは調節される。

さらに，複数本の側ワイヤのそれぞれは７０％以上８８％以下の型付率を持つように型付けられている。型付率とは，ワイヤ（素線）の型付けの大きさ（波高さ）の程度を表すもので，次式によって得られる数値を用いる。

型付率＝Ｈ／Ｄ×１００（％）

ここでＨは側ワイヤの型付けの大きさ（波高さ）を，Ｄはスチール・コードの直径を示す。

側ワイヤへの型付けは，たとえば，高低差をもって配置された複数のピンに沿わせて側ワイヤを走行させることによって，側ワイヤに付与（形成）することができる。上記ピンの間隔または配置位置を調節することによって型付率は調節される。

側ワイヤのそれぞれにはさらに，４回以上の残留回転応力が上記スチール・コードの撚り方向と同一方向に付与されている。本願では，６ｍの側ワイヤの一端を固定し，側ワイヤの他端を開放したときの他端の回転数によって残留回転応力の大きさを表す。

残留回転応力は，側ワイヤを所定方向に所定回数ねじり，かつ所定回数ねじり戻すことによって，側ワイヤに付与される。残留回転応力の方向はねじりを入れるときのねじり方向と同じ方向となる。側ワイヤのねじり回数（ねじるときのねじり速度）を調節することよって，残留回転応力の大きさは調節される。

側ワイヤの型付けの型付率を８８％以下に調整することによって側ワイヤの移動の抑制が図られる。そして，側ワイヤの移動を抑制するような比較的小さな型付率の採用に伴って生じやすくなるスチール・コードのばらけが，ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃを１．１８以上とし，側ワイヤの型付率を７０％以上とし，側ワイヤの残留回転応力を４回以上とすることによって抑制される。ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃ，側ワイヤの型付率，および側ワイヤの残留回転応力は，いずれも心ストランドと側ワイヤとの接触圧に関係する。そして，これらの３つの下限値（ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃについて１．１８，側ワイヤの型付率について７０％，側ワイヤの残留回転応力について４回）のうちのいずれか一つでも下限値を下回る数値をもつスチール・コードは，ばらけが発生する試験結果が得られた。ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃを１．１８以上とし，かつ側ワイヤの型付率を７０％以上とし，かつ側ワイヤの残留回転応力を４回以上とすると，スチール・コードのばらけが発生しなかった。

さらに，心ストランドの撚り方向と上記スチール・コードの撚り方向を同一にし，かつ，上記心ストランドの撚りピッチＰｃと上記スチール・コードの撚りピッチＰｓの比をＰｃ／Ｐｓ≦２．００とすることによって，心ストランドと側ワイヤとの間のフレッティング摩耗が抑制される。心ストランドと側ワイヤとの間のフレッティング摩耗を抑制するためのピッチ比Ｐｓ／Ｐｃの上限値（２．００）も，試験結果によって得られた数値である。

この発明によると，側ワイヤの移動を抑制するために側ワイヤの型付率を低くしたスチール・コードについて，さらに，フレッティング摩耗，およびスチール・コードのばらけについても抑制が図られる。側ワイヤの移動，フレッティング摩耗，およびスチール・コードのばらけのいずれもが抑制されたスチール・コードが得られる。

好ましくは，上記スチール・ワイヤ側線の残留回転応力は，上記スチール・コード全体の回転応力に影響を与えない程度に抑えられている。側ワイヤに付与されている残留回転応力が大きいと，側ワイヤの残留回転応力によってスチール・コード全体に回転応力が生じる（残存，残留する）ことがあり，スチール・コード全体に回転応力が残存していると，スチール・コードを埋設したゴム製シート（このゴム製シートを切断することによって上述したベルト部材（図１１参照）が形成される）が，スチール・コード全体の回転応力によって反ってしまい，ベルト部材の生産効率が悪くなることがあるからである。好ましくは，側ワイヤに付与されている残留回転応力を６回以下とする。側ワイヤに付与されている残留回転応力によってスチール・コード全体に回転応力が比較的残存しなくなるので，自動車タイヤ等のベルト部材の生産効率に影響を及ぼさないようにすることができる。

この発明はまた，スチール・コードの周囲にゴムまたは合成樹脂が被覆されている複合体を提供する。

この発明によるゴムまたは合成樹脂製の複合体は，上記のスチール・コードの周囲にゴムまたは合成樹脂が被覆されたものである。

上述したように，この発明によるスチール・コードは側ワイヤの移動が抑制され，かつフレッティング摩耗が生じにくく，さらにスチール・コードにばらけが生じにくいので，このスチール・コードの周囲にゴムまたは合成樹脂を被覆した複合体の疲労強度を増大させることができる。

図１はスチール・コード製造装置の全体的構成を，図２はプリフォーマ（型付け機）の構成を，図３は回転応力調整装置の構成を，それぞれ示している。

この実施例におけるスチール・コード製造装置は，スチール製の３本の心ワイヤ（素線）（コア・ワイヤ）ｃＷを撚りながら束ねることによって製造された心ストランドｃＳを中心にして，この心ストランドｃＳと心ストランドｃＳの周囲に位置する７本のスチール製の側ワイヤ（素線）（シース・ワイヤ）ｓＷを撚りながら束ねることによってスチール・コードを製造するもので，いわゆる３＋７構成のスチール・コード（撚線）をつくるものである。

ボビン41に，３本の心ワイヤｃＷを撚りながら束ねることによって製造された心ストランドｃＳが巻回されている。心ストランドｃＳが巻回されたボビン41から心ストランドｃＳが，側ワイヤｓＷが巻回された７つのボビン42から７本の側ワイヤｓＷが，それぞれ撚線機３に供給される。

ボビン41から繰出された心ストランドｃＳは直接に撚線機３に供給される。他方，７本の側ワイヤｓＷのそれぞれは，ボビン42から繰出された後，撚線機３に供給される前に，プリフォーマ１および回転応力調整装置２を通過する。

図２を参照して，プリフォーマ１は，３つの回転自在の回転ピン１ａ〜１ｃが所定の間隔をあけて設けられた筒体10を含む。筒体10はフレーム（図示略）に固定的に設けられている。３つの回転ピン１ａ〜１ｃのうち，回転ピン１ａ，１ｃは配置位置に関して固定的に設けられ，他方，回転ピン１ａおよび回転ピン１ｃに挟まれた回転ピン１ｂはその配置位置が変位自在に設けられている（たとえば，図２において上下方向に位置が変位する）。３つの回転ピン１ａ，１ｂ，１ｃのそれぞれに側ワイヤｓＷが掛けられており，側ワイヤｓＷは回転ピン１ａ〜１ｃ間をしごかれて通過する。プリフォーマ１から送出された側ワイヤｓＷは，後述する回転応力調整装置２によってねじられる。プリフォーマ１によってしごかれ，かつ回転応力調整装置２によってねじられることにより，側ワイヤｓＷは螺旋状に型付けられる。

側ワイヤｓＷに付与される螺旋状型付けの程度（大きさ）は，型付率によって表すことができ，この型付率は回転ピン１ｂの位置を変位させることによって制御することができる。側ワイヤｓＷの型付率についての詳細は後述する。

プリフォーマ１から送出された側ワイヤｓＷは，回転応力調整装置２へ送られる。

図３を参照して，回転応力調整装置２は，２つの溝（図示略）が並行にそれぞれに形成された回転自在の第１および第２のロール２ａ，２ｂが，間隔をあけて一直線上に配置された筒体20を備えている。側ワイヤｓＷは，筒体20内において，第１のロール２ａの側方を通過して第２のロール２ｂの第１の溝にかけられ，続いて第１のロール２ａの第１の溝にかけられている。側ワイヤｓＷは，第１のロール２ａの第１の溝からさらに第２のロール２ｂの第２の溝，第１のロール２ａの第２の溝にかけられ，第２のロール２ｂの側方を通過した後に，筒体20の外部に送り出される。

回転応力調整装置２のフレーム（図示略）には，中空回転軸51が軸受52によって回転自在に支持されている。中空回転軸51の一端に筒体20が固定され，中空回転軸51の他端にプーリ53が固定されている。プーリ53にかけられたベルト54が，モータ（図示略）によって駆動される。ベルト54を介して中空回転軸51および筒体20は回転する。回転応力調整装置２のそれぞれにモータを設けてモータのそれぞれを同期回転させてもよいし，１台のモータを，７台の回転応力調整装置２のそれぞれに共用してもよい。

筒体20が回転すると，側ワイヤｓＷは筒体20の入口側でねじられ，かつ出口側でそのねじりが戻される。筒体20を比較的高速に回転させることによって，側ワイヤｓＷは弾性域（ねじりが完全に元に戻る程度のねじれ）を超えて塑性域（ねじりが完全に元に戻らない程度のねじれ）に達するまでねじりが入れられ，かつねじり戻される。これにより，側ワイヤｓＷに残留回転応力が付与される。側ワイヤｓＷの一端を固定した状態で他端を開放すると，残留回転応力によって側ワイヤｓＷはねじりが入れられた方向に回転する。すなわち，筒体20の回転方向と，側ワイヤｓＷに付与される残留回転応力の方向は一致する。

残留回転応力の大きさは，側ワイヤｓＷのねじり回数（筒体20の回転速度）を異ならせることによって調整することができる。なお，筒体20は，上述の心ストランドｃＳの撚り方向および後述する撚線機３によるスチール・コード全体の撚り方向と同一方向に回転する。したがって側ワイヤｓＷに付与される残留回転応力の方向は，心ストランドｃＷの撚り方向およびスチール・コード（撚線）の撚り方向と同一の方向となる。

図１に戻って，プリフォーマ１および回転応力調整装置２によって螺旋状に型付けられ，かつ回転応力調整装置２によって残留回転応力が付与された７本の側ワイヤｓＷと，ボビン41から繰出された心ストランドｃＳとが，案内ローラ43を介して集合器44で集められる。束にされた心ストランドｃＳおよび７本の側ワイヤｓＷは，ボイス45を介して撚線機３に送られる。側ワイヤｓＷは残留回転応力を残存させたままで撚線機３に送られる。

撚線機３のフレーム（図示略）には，２つの中空回転軸17，18がそれぞれ軸受39，40により回転自在に支持されている。これらの中空回転軸17，18は，互いに離れて設けられており，かつ一直線上に配置されている。後述するように，中空回転軸17と18は同期して回転駆動される。

中空回転軸17と18の内端部に，クレードル19が，その両端部において軸受24，25により回転自在に支持されている。中空回転軸17，18が回転しても，クレードル19はほぼ静止状態に保たれる。

クレードル19には，スチール・コード（撚線）を巻取る巻取用ボビン23，スチール・コードを引き取るキャプスタン21，スチール・コードをキャプスタン21からボビン23に案内する案内ローラ22，スチール・コード全体をねじり，かつねじり戻すことでスチール・コード全体の回転応力を調整するための回転応力調整装置26等が設けられている。

中空回転軸17および18に，フライヤ取付部材13を介して弓形フライヤ11が固定されている。フライヤ11は中空回転軸17および18と一緒に回転する。フライヤ11にはスチール・コードを案内するためのガイドチップ12が複数設けられている。

フレームにはさらに，駆動軸（通り軸）34を回転自在に支持する軸受35，および駆動モータ30が固定されている。駆動モータ30の出力軸に取付けられたプーリ31と駆動軸34に固定されたプーリ33との間にベルト32が掛けられている。駆動軸34の両端部にもプーリ36が取付けられている。さらに，回転軸17，18の外側端部にもプーリ37がそれぞれ固定され，これらのプーリ36と37との間にベルト38が掛けられている。したがって，中空回転軸17，18はモータ30によって同方向に同回転数で同期して回転し，これによりフライヤ11が回転する。フライヤ11の回転方向は，上述したように，回転応力調整装置２の回転方向と同方向である。

束になった心ストランドｃＳおよび７本の側ワイヤｓＷは，中空回転軸17内を通り，案内ローラ14，15を経て，フライヤ11のガイドチップ12に掛けられてフライヤ11に沿って案内され，案内ローラ16，中空回転軸18の内部を通り，応力調整装置26を経てキャプスタン21に巻付けられ，キャプスタン21から案内ローラ22を経て巻取用ボビン23に巻取られる。中空回転軸17，18，フライヤ11が回転することにより，心ストランドｃＳおよび７本の側ワイヤｓＷの束に撚りが加えられ，スチール・コード（撚線）ｔＷとなっていく。フライヤ11の回転速度を調整することによって，スチール・コードｔＷ（側ワイヤｓＷ）の撚りピッチが調整される。

回転応力調整装置２の筒体20の回転方向とフライヤ11の回転方向は同方向であるので，側ワイヤｓＷに付与されている残留回転応力の方向と，スチール・コードｔＷの撚り方向は一致する。また，上述のように，側ワイヤｓＷに付与されている残留回転応力の方向およびスチール・コードｔＷの撚り方向は，心ストランドｃＳの撚り方向とも一致する。なお，撚線機３に設けられている応力調整装置26は，上述のようにスチール・コードｔＷ全体の回転応力を調整するためのもので，ここではスチール・コードｔＷの全体がスチール・コードの撚り方向と同じ方向にねじられ，かつねじり戻される。撚線機３に設けられている応力調整装置26は，上述した応力調整装置２（図３）と同様の構成を持つ。

心ストランドｃＳも，上述した撚線機３と同様の撚線機（図示略）によって，３本の心ワイヤｃＷを撚りながら束ねることによってつくられる。心ストランドｃＳをつくる撚線機のフライヤの回転方向と，上述したスチール・コードｔＷをつくる撚線機３のフライヤの回転方向は同じ方向とされる。これにより，心ストランドｃＳの撚り方向と，スチール・コードｔＷの撚り方向が一致する。心ストランドｃＳを撚るときのフライヤの回転速度を調整することによって，心ストランドｃＳ（心ワイヤｃＷ）の撚りピッチが調整される。

図４（Ａ）は，上述したスチール・コード製造装置によって製造される３＋７構成のスチール・コードｔＷの斜視図を，図４（Ｂ）はその断面図を，それぞれ示している。

側ワイヤｓＷの本数を増やすことによって，スチール・コード製造装置は，上述した３＋７構成のスチール・コードｔＷのみならず，３＋８構成のスチール・コードｔＷを製造することもできる。図５（Ａ）は３＋８構成のスチール・コードｔＷの斜視図を，図５（Ｂ）はその断面図をそれぞれ示している。

図６は３＋７構成のスチール・コードｔＷを，心ストランドｃＳの外観が見えるように，側ワイヤｃＷの一部を省略して示す斜視図である。

上述したように，３本の心ワイヤｃＷを撚りながら束ねることによって製造される心ストランドｃＳの撚り方向と，この心ストランドｃＳと７本の側ワイヤｃＷを撚りながら束ねることによって製造されるスチール・コードｔＷの撚り方向とは，同じ方向とされる。さらに，この実施例のスチール・コード製造装置によって製造されるスチール・コードｔＷは，スチール・コードｔＷの撚りピッチＰｓと心ストランドｃＳの撚りピッチＰｃの比（以下，「ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃ」という）は，１．１８≦Ｐｓ／Ｐｃ≦２．００に調整される。図６に示すスチール・コードｔＷは，心ストランドｃＳの撚りピッチＰｃが８ｍｍ，スチール・コードｔＷの撚りピッチＰｓが１２ｍｍ，すなわちピッチ比Ｐｓ／Ｐｃ＝１．５であるスチール・コードｔＷを拡大して示している。ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃを，１．１８≦Ｐｓ／Ｐｃ≦２．００に調整するのは，ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃが１．１８未満であるとスチール・コードｔＷのばらけが抑制できず，他方，ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃが２．００より大きいとフレッティング摩耗を抑制できないことがあるからである。ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃを１．１８≦Ｐｓ／Ｐｃ≦２．００に調節すべき理由の詳細（評価試験の結果）については後述する。

（評価試験について）
表１は，直径が０．２０ｍｍの３本の心ワイヤｃＷによって構成される心ストランドｃＳと，直径が０．２３ｍｍの７本の側ワイヤｓＷとによって構成される，３＋７構成のスチール・コードｔＷ（被試験体）の評価試験の結果を，表２は，直径が０．２２ｍｍの３本の心ワイヤｃＷによって構成される心ストランドｃＳと，直径が０．２２ｍｍの８本の側ワイヤｓＷとによって構成される，３＋８構成のスチール・コードｔＷ（被試験体）の評価試験の結果を示すものである。表１および表２には，それぞれ１３個の被試験体（１）〜（１３）についての評価試験結果が示されている。

評価試験では，「ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃ」を１．１８≦Ｐｃ／Ｐｓ≦２．０の範囲内とした上で，「側ワイヤの型付率」および「側ワイヤの残留回転応力」をそれぞれ調整した多数のスチール・コードｔＷ（被試験体）を試験した。また，評価試験では，「側ワイヤの型付率」を７０％以上８０％以下とし，かつ「側ワイヤの残留回転応力」を４回以上６回以下とした上で，「ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃ」を調整した多数のスチール・コードｔＷ（被試験体）も試験した。「ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃ」は，スチール・コードｔＷを作製する撚線機３におけるフライヤ11（図１参照）の回転速度を制御することによって調節した。側ワイヤｓＷの型付率はプリフォーマ１に設けられている回転ピン１ｂ（図２参照）配置位置を異ならせることによって調整した。側ワイヤｓＷの残留回転応力は側ワイヤｓＷのねじり回数（回転応力調整装置２の筒体20（図３参照）の回転速度）を異ならせることによって調整した。

側ワイヤｓＷの型付率は，次式によって算出される値を用いた。

側ワイヤｓＷの型付率＝Ｈ／Ｄ×１００（％）

ここで，Ｈは側ワイヤｓＷの螺旋状型付けの大きさ（波高さ）であり，Ｄはスチール・コードｔＷ（被試験体）の直径である。

側ワイヤｓＷの波高さＨは，次のように測定した。

作製したスチール・コードｔＷ（被試験体）を適当な長さに切断し，側ワイヤｓＷをほぐして素線とする。図７に示すように，投影機によって側ワイヤｓＷを投影して側ワイヤｓＷの投影像をスクリーン等に映し，螺旋状型付けの波の高さｈ₁〜ｈ₄を４カ所計測する。この計測を被試験体を構成する７本（または８本）の側ワイヤｓＷのすべてについて行い，その平均値を被試験体の側ワイヤｓＷの波高さＨとする。

スチール・コードｔＷ（被試験体）の直径Ｄは，次式により得られる数値を用いた。

Ｄ＝（２／√３＋１）ｄ_c＋２ｄ_s

ここでｄ_cは心ワイヤｃＷの直径，ｄ_sは側ワイヤｓＷの直径である。

側ワイヤｓＷの残留回転応力は，次のように測定した。

作製したスチール・コードｔＷ（被試験体）を６ｍに切断し，スチール・コードｔＷの全体を撚り方向と逆の方向に回転させながら，残留回転応力が開放されないように注意して（側ワイヤｓＷ自体が回転しないようにして），側ワイヤｓＷを分離する。分離された側ワイヤｓＷの一端を固定して，側ワイヤｓＷの他端を開放すると，側ワイヤｓＷは残留回転応力によって撚り方向と同じ方向に回転する。側ワイヤｓＷの他端の回転数（静止するに至るまでの回転数）を，１／４回転単位で測定する。この測定を被試験体を構成する７本（または８本）の側ワイヤｓＷのすべてについて行い，その平均値を被試験体の側ワイヤｓＷの残留回転応力（単位：回）とする。

なお，評価試験では，スチール・コードｔＷ（被試験体）の全体についても，残留回転応力を測定した。

評価試験では，各被試験体について「側ワイヤのばらけ」，「フレッティング摩耗」および「側ワイヤの移動」についての評価を行った。「側ワイヤのばらけ」の評価，「フレッティング摩耗」の評価，および「側ワイヤの移動」の評価は，それぞれ次のようにして行った。

まず「側ワイヤのばらけ」の評価について説明する。「側ワイヤのばらけ」の評価では，次のようにして，Ａ判定からＤ判定の４段階の評価を行った。

スチール・コード（被試験体）を用意し，切断すべき箇所から５０ｍｍ離れた部位を手でもち，切断箇所をペンチで切断する。
（１）切断時にばらけが生じない場合
切断時にばらけが生じなかった場合には，さらに切断箇所に軽い衝撃を加える（ペンチで叩く，机に打ち付ける等）。切断箇所を変えて，この切断および衝撃を３回繰り返す。
（１−１）３回連続でばらけが生じなかった場合はＡ判定とする。
（１−２）軽い衝撃を加えることによって３回のうちで１回でもばらけが生じた場合には，切断箇所を変えて切断のみを３回繰り返す（衝撃は加えない）。３回連続でばらけが生じなかった場合はＢ判定とする。
（２）切断時にばらけが生じた，または上記（１−２）で１回でもばらけが生じた場合
この場合には，切断箇所のすぐ近くを手でもち，ペンチで切断した後，切断箇所の近くを持っている手を静かに離す。切断箇所を変えてこの切断を３回繰り返す。
（２−１）３回のうち，１回でもばらけが生じなかった場合はＣ判定とする。
（２−２）３回連続でばらけが生じた場合はＤ判定とする。

「フレッティング摩耗」の評価について説明する。「フレッティング摩耗」の評価では，次のようにして，フレッティング摩耗の「あり」，またはフレッティング摩耗の「なし」を評価した。

ゴム被覆されたスチール・コード（被試験体）を３ロール疲労試験機を用いて疲労させる。図８を参照して，３ロール疲労試験機60は，一直線上に配置された回転可能なロール61，63と，これらのロール61，63の間において上記一直線上から外れた位置に配置された回転可能なロール62の３つのロール61，62，63を備えている。これらのロール61，62，63に被試験体を掛け，３ロール疲労試験機60をスチール・コードに沿う方向に往復移動させる。被試験体の一端は固定され，他端には重り64によって張力が加えられる。所定サイクル数まで３ロール疲労試験機60を往復移動させた後，３ロール疲労試験機60から被試験体を取り外す。ゴム被覆をはぎ取り，さらに側ワイヤｓＷを分離して，側ワイヤｓＷおよび心ストランドｃＳの状態を観察する。側ワイヤｓＷの表面または心ストランドｃＳの表面に摩耗による傷（圧痕）が見つかった場合，フレッティング摩耗「あり」と評価し，摩耗による傷（圧痕）が見つからなかった場合にはフレッティング摩耗「なし」と評価した。

「側ワイヤの移動」の評価では，次のようにして，側ワイヤの移動「あり」，または側ワイヤの移動「なし」を評価した。

両末端を溶断した数ｍ程度のスチール・コードｔＷ（被試験体）と，スチール・コードｔＷの直径より少しだけ大きな孔径（たとえば，スチール・コードｔＷの直径より０．５ｍｍ大きい孔径）を有するダイスとを用意する。ダイスの孔にスチール・コードｔＷを通過させる。

（１）側ワイヤｓＷの移動が発生することなく，スチール・コードｔＷの全長がダイスを通過した場合，側ワイヤの移動は「なし」と評価する。

（２）側ワイヤｓＷの移動が発生し，スチール・コードｔＷの型が崩れてスチール・コードｔＷの全長がダイスを通過できなかった場合，側ワイヤの移動は「あり」と評価する。

図９は，横軸を側ワイヤの型付率，縦軸を側ワイヤの残留回転応力とした座標軸上に，表１に基づく測定試験の結果をプロットしたものである。各プロット点に，表１に示す被試験体の番号（（１）〜（１３）の番号）を付している。図１０は，横軸を側ワイヤの型付率，縦軸を側ワイヤの残留回転応力とした座標軸上に，表２に基づく測定試験の結果をプロットしたものである。各プロット点には表２に示す被試験体の番号（（１）〜（１３）の番号）を付している。図９および図１０において，スチール・コードのばらけ，フレッティング摩耗および側ワイヤの移動のすべてについて評価が良好であった被試験体についてのプロット点を○により，スチール・コードのばらけ，フレッティング摩耗，側ワイヤの移動のいずれかについての評価が不良であった被試験体の測定試験結果と，スチール・コード全体に残留回転応力が残っていた被試験体の測定試験結果についてのプロット点を，×によって区別している。

（Ａ）３＋７構成のスチール・コードについて（表１および図９）
(i) 側ワイヤの型付率が８９％以上になると，側ワイヤｓＷの移動が生じた（被試験体（１１））。型付率が８８％以下であれば側ワイヤｓＷの移動は生じなかった。

(ii)型付率が６９％以下であるとばらけの評価がＤ判定となった（被試験体（１０））。型付率が７０％以上であれば，残留回転応力が４回以上であり，ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃが１．１８以上である場合に，ばらけの評価はＡ判定またはＢ判定であった。

(iii) 側ワイヤｓＷの残留回転応力が４回よりも小さいと，型付率が８０％程度，ピッチ比が１．９８程度であっても，ばらけの評価がＤ判定となった（被試験体（９））。

(iv)ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃが１．１８よりも小さいとき，型付率が８０％程度で，かつ側ワイヤの残留回転応力が５回程度であっても，ばらけの評価がＤ判定となった（被試験体（１２））。ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃが１．１８以上であり，残留回転応力が４回以上かつ型付率が７０％以上であれば，ばらけの評価はＡ判定またはＢ判定であった。

(v) 側ワイヤｓＷの残留回転応力が６回より大きいとき，スチール・コードｔＷ（被試験体）全体に回転応力が残存していることがあった（被試験体（８））。これは，側ワイヤｓＷの残留回転応力が大きいために，側ワイヤｓＷの残留回転応力がスチール・コードｔＷ全体の回転応力に影響を及ぼしたものである。スチール・コードｔＷ全体に回転応力が残存していると，スチール・コードｔＷを埋設したゴム製シートが回転応力によって反ってしまい，自動車タイヤ等に用いられるスチール・コードｔＷを埋設したベルト部材の生産効率が悪くなってしまう。

(vi)ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃが２．００を超えているとき，型付率が８０％程度でかつ側ワイヤの残留回転応力が５回程度であっても，フレッティング摩耗が生じた（被試験体（１３））。ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃが２．００以下であればフレッティング摩耗が生じることはなかった。

（Ｂ）３＋８構成のスチール・コードについて（表２および図１０）
３＋８構成のスチール・コードについても，上述した３＋７構成のスチール・コードと同様の測定試験結果を得ることができた。

測定試験の結果によると，側ワイヤｓＷの型付率を７０％以上８８％以下，側ワイヤｓＷの残留回転応力を４回以上，ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃを１．１８以上とすることによって，側ワイヤｓＷの移動が生じず，かつばらけについても抑制が図られる（Ａ判定またはＢ判定）ことが分かった。さらに，側ワイヤｓＷの残留回転応力を６回以下にすることによって，スチール・コードｔＷ全体に回転応力が残存することがないことが分かった。さらに，ピッチ比Ｐｓ／Ｐｃを２．００以下とすることによって，フレッティング摩耗について抑制が図られることが分かった（被試験体（１）〜（７））。

スチール・コード製造装置の全体的な構造を示す。プリフォーマの構造を示す。回転応力調整装置の構造を示す。（Ａ）は３＋７構成のスチール・コードの斜視図を，（Ｂ）はその断面図をそれぞれ示す。（Ａ）は３＋８構成のスチール・コードの斜視図を，（Ｂ）はその断面図をそれぞれ示す。心ストランドの撚りピッチとスチール・コードの撚りピッチを示す。側ワイヤの波高さの測定の様子を示す。３ロール疲労試験の様子を示す。３＋７構成のスチール・コードについての試験結果を示す。３＋８構成のスチール・コードについての試験結果を示す。自動車用タイヤの構造を示す。

符号の説明

１プリフォーマ
１ａ，１ｂ，１ｃ回転ピン
２回転応力調整装置
２ａ，２ｂロール
３撚線機
ｃＷスチール・ワイヤ心線（心ワイヤ）
ｃＳ心ストランド
ｓＷスチール・ワイヤ側線（側ワイヤ）
ｔＷスチール・コード

Claims

心ストランドと，その周囲に位置する複数本のスチール・ワイヤ側線とが撚り合わされているスチール・コードにおいて，
上記スチール・コードの撚り方向と上記心ストランドの撚り方向とが同一であり，
上記スチール・コードの撚りピッチＰｓと上記心ストランドの撚りピッチＰｃとの比が，１．１８≦Ｐｓ／Ｐｃ≦２．００の範囲内にあり，
上記スチール・ワイヤ側線のそれぞれが７０％以上８８％以下の型付率を持つように型付けられており，
上記スチール・ワイヤ側線のそれぞれに４回以上６回以下の残留回転応力が上記スチール・コードの撚り方向と同一方向に付与されている，
スチール・コード。
請求項１に記載のスチール・コードの周囲に，ゴムまたは合成樹脂が被覆されている，上記スチール・コードと，ゴムまたは合成樹脂の複合体。