JP5215722B2 - オーバーレンジ論理制御を伴う光子計数x線検出器 - Google Patents
オーバーレンジ論理制御を伴う光子計数x線検出器 Download PDFInfo
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Images
Description
12 ガントリ
14 X線源
16 X線ビーム
17 レール
18 検出器アセンブリまたはコリメータ
19 コリメーティングブレードまたはプレート
20 複数の検出器
20a 直接変換検出器
20b 検出器
20c 検出器
20d 検出器
22 患者
24 回転の中心
26 制御機構
28 X線コントローラ
30 ガントリモータコントローラ
32 データ獲得システム
34 画像再構成器
36 コンピュータ
38 大容量記憶装置
40 コンソール
42 ディスプレイ
44 テーブルモータコントローラ
46 電動式テーブル
48 ガントリ開口部
50 検出器要素
51 パック
52 ピン
53 バックリットダイオードアレイ
54 多層基板
55 スペーサ
56 フレックス回路
57 面
59 複数のダイオード
62 第1の半導体層
64 第2の半導体層
65 検出要素または接触部
66 高電圧電極
67 2D配列
68 高電圧電極
69 2D配列
74 半導体層
76 半導体層
78 単一の共通信号収集層または2D接触部アレイ
80 高電圧電極
82 高電圧電極
84 半導体層
86 半導体層
87 高電圧電極
88 半導体層
89 高電圧電極
90 半導体層
91 高電圧電極
92 導電性の線または経路
93 収集接触部アレイ
94 導電性の線または経路
95 収集接触部アレイ
96 半導体層
98 半導体層
100 半導体層
102 半導体層
104 導電性層
106 導電性層
108 導電性層
110 層
112 層
114 半導体材料
116 収集接触部アレイ
118 高電圧電極層
120 孔
122 信号フィードパス
124 収集接触部
126 検出器
128 基板
130 検出器層
132 検出器層
134 X線方向
136 フレックス層
138 高電圧バイアス線
140 変換コンポーネント
142 変換コンポーネント
144 検出器要素アレイ
146 検出器要素アレイ
148 検出器要素
150 検出器要素
152 直接変換層
154 フレックス層
156 検出器要素
158 行
159 行
160 ピクセル領域
162 サブピクセル
164 専用読み出しリード
165 ピクセル領域
166 データシステム入力
168 出力
170 真理表回路
172 出力
174 入力
176 スイッチネットワーク
180 出力
182 DAS
184 信号整形器
186 エネルギーレベル弁別器
188 計数レジスタ
200 検出器モジュール
202 第1の検出器層
203 スペーサ
204 第2の検出器層
205 孔
206 直接変換材料
207 孔
208 ピクセル化アノード接触部
209 第1のフレキシブル相互接続
210 第1の表面
212 高電圧電極
213 第2の表面
214 X線減衰グリッドアセンブリ
215 高電圧リード
216 棒または桟
218 棒または桟
220 外周フレーム
222 開口
224 外縁または周囲
226 電荷共有領域
230 シンチレータ
232 フォトダイオードアレイ
234 基板
236 第2のフレキシブル相互接続
240 DAS
241 DAS集積回路
243 コネクタ
250 データ獲得パイプライン
252 検出器層
254 検出器層
256 読み出し電子機器
258 読み出し電子機器
260 総信号レベル論理値
262 論理コントローラ
264 画像チェーン
300 検出器モジュール
301 第1の検出器層
302 直接変換材料
303 第2の検出器層
304 ピクセル化アノード接触部
306 高電圧電極
308 グリッドアセンブリ
309 コンポーネント
310 第1のフレキシブル回路
311 コンポーネント
312 シンチレータ
314 フォトダイオードアレイ
316 多層基板
318 第2のフレキシブル回路
320 DAS
321 IC
322 IC
323 相互接続ボード
325 コネクタ
350 検出器モジュール
351 第1の検出器層
352 直接変換材料
353 第2の検出器層
354 ピクセル化アノード接触部
356 高電圧電極
358 グリッドアセンブリ
360 フレキシブル回路
362 シンチレータ
364 フォトダイオードアレイ
366 多層基板
370 DAS
371 IC
400 検出器モジュール
401 第1の検出器層
402 直接変換材料
403 第2の検出器層
404 ピクセル化アノード接触部
406 高電圧電極
408 グリッドアセンブリ
410 多層基板
412 シンチレータ
414 フォトダイオードアレイ
416 フレキシブル回路
420 DAS
421 IC
425 コネクタ
500 検出器モジュール
502 第1の検出器層
503 直接変換材料
504 ピクセル化アノード接触部
506 高電圧電極
508 グリッドアセンブリ
510 第1のフレキシブル回路
512 第2の検出器層
514 シンチレータ
516 フォトダイオードアレイ
518 多層基板
520 第2のフレキシブル回路
522 IC
524 IC
525 相互接続ボード
550 検出器モジュール
552 第1の検出器層
554 直接変換材料
556 ピクセル化アノード接触部
558 高電圧電極
560 グリッドアセンブリ
562 IC
564 第2の検出器層
566 シンチレータ
568 フォトダイオードアレイ
570 多層基板
572 フレキシブル回路
574 DAS
576 IC
600 検出器モジュール
601 第1の検出器層
602 直接変換材料
603 第2の検出器層
604 ピクセル化アノード接触部
606 高電圧電極
608 グリッドアセンブリ
610 第1のフレキシブル回路
612 基板
614 直接変換材料
616 ピクセル化アノード接触部
618 高電圧電極
620 第2のフレキシブル回路
622 基板
624 IC
626 DAS
628 IC
650 検出器モジュール
651 第1の検出器層
652 直接変換材料
653 第2の検出器層
654 ピクセル化アノード接触部
655 多層基板
656 高電圧電極
658 グリッドアセンブリ
660 直接変換材料
662 ピクセル化アノード接触部
664 高電圧電極
666 多層基板
668 第2のフレキシブル回路
670 IC
672 DAS
674 IC
700 検出器モジュール
701 第1の検出器層
702 直接変換材料
703 第2の検出器層
704 ピクセル化アノード接触部
706 高電圧電極
708 グリッドアセンブリ
710 第1のフレキシブル回路
712 基板
714 直接変換材料
716 ピクセル化アノード接触部
718 高電圧電極
720 第2のフレキシブル回路
724 IC
726 DAS
728 IC
800 コンベヤシステム
802 コンベヤベルト
804 構造
806 手荷物
890 検査システム
892 回転可能ガントリ
894 開口
896 放射源
898 検出器アセンブリ
Claims (10)
- X線撮影エネルギーをエネルギー感知X線撮影データを表す電気信号に変換するように構成される第1の検出器(202、252)と、
X線撮影エネルギーをエネルギー感知X線撮影データを表す電気信号に変換するように構成され、前記第1の検出器(202、252)を透過したX線を受け取るように配置される第2の検出器(204、254)と、
前記第1の検出器(202、252)および前記第2の検出器(204、254)に電気的に接続される論理コントローラ(262)であって、
前記第1の検出器(202、252)の飽和レベルの量を表す前記第2の検出器(204、254)からの論理出力信号(260)を受け取り、
前記論理出力信号(260)を閾値と比較し、
前記比較に基づいて、前記第1の検出器(202、252)、前記第2の検出器(204、254)、またはそれらの組合せからの電気信号を画像チェーンに出力する、ように構成される論理コントローラ(262)と、を備えるコンピュータ断層撮影(CT)検出器(200)。 - 前記論理コントローラ(262)が、FPGA回路、DSP回路、ASIC回路、コンピュータ可読記憶媒体上で実施されるソフトウェア、およびファームウェアの1つである、請求項1記載のCT検出器(200)。
- 前記第1の検出器(202、252)が、直接変換層を有するエネルギー弁別検出器を備える、請求項1記載のCT検出器(200)。
- 前記直接変換層内に形成される電荷共有領域(226)と端部トラッピング領域(224)の少なくとも一方をさらに備え、電荷共有領域(226)と端部トラッピング領域(224)の前記少なくとも一方に向けて送られるX線を減衰するように配置されるX線減衰材料をさらに備える、請求項3記載のCT検出器(200)。
- 前記エネルギー弁別検出器が、光子計数モードで動作するように構成される、請求項3記載のCT検出器(200)。
- 前記第2の検出器が、光子計数モードとエネルギー積分モードの一方で動作するように構成されるエネルギー弁別検出器を備える、請求項1記載のCT検出器(200)。
- 前記第2の検出器(204、254)が、フォトダイオードアレイに光学的に結合されるシンチレーティング層を備える、請求項1記載のCT検出器(200)。
- 前記第1の検出器(202、252)で飽和が発生しなかったことを前記論理出力信号が示している場合、前記論理コントローラ(262)が、前記第1の検出器(202、252)でのみ変換された電気信号を出力するようにさらに構成される、請求項1記載のCT検出器(200)。
- 前記第1の検出器(202、252)が飽和させられていることを前記論理出力信号が示している場合、前記論理コントローラ(262)が、前記第2の検出器(204、254)でのみ変換された電気信号を出力するようにさらに構成される、請求項1記載のCT検出器(200)。
- 前記論理出力信号が、前記第1の検出器に入射するフラックスのレートを表す、請求項1記載のCT検出器(200)。
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