JP5210902B2 - Automatic analyzer and analysis method using automatic analyzer - Google Patents

Automatic analyzer and analysis method using automatic analyzer Download PDF

Info

Publication number
JP5210902B2
JP5210902B2 JP2009018949A JP2009018949A JP5210902B2 JP 5210902 B2 JP5210902 B2 JP 5210902B2 JP 2009018949 A JP2009018949 A JP 2009018949A JP 2009018949 A JP2009018949 A JP 2009018949A JP 5210902 B2 JP5210902 B2 JP 5210902B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
sample
reaction vessel
automatic analyzer
reaction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009018949A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2010175417A5 (en
JP2010175417A (en
Inventor
高通 森
宏明 石澤
和美 草野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2009018949A priority Critical patent/JP5210902B2/en
Publication of JP2010175417A publication Critical patent/JP2010175417A/en
Publication of JP2010175417A5 publication Critical patent/JP2010175417A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5210902B2 publication Critical patent/JP5210902B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本発明は、血液,尿等の生体試料の成分の分析を自動的に実行する自動分析装置に係り、特に、該試料容器や試薬容器から液体を採取して反応容器に分注する自動分析装置に関する。   The present invention relates to an automatic analyzer that automatically executes analysis of components of biological samples such as blood and urine, and more particularly to an automatic analyzer that collects a liquid from the sample container or reagent container and dispenses it into a reaction container. About.

血液,尿などの生体サンプルの定性・定量分析を行う自動分析装置は、測定再現性の高さ,高い分析処理速度により、検査センター,大病院を中心に普及が進んでいる。自動分析装置は、サンプル中の分析対象成分と反応し、反応液の色が変るような試薬を用いる方法(比色分析),対象成分と直接あるいは間接的に特異的に結合する物質に標識体を付加した試薬を用い、標識体をカウントする方法(免疫分析)に大分される。いずれの方法でもサンプルに所定量の試薬を混合して分析を行うが、近年、分析コストの低減要求に伴い、分析に使用する試薬の量を少なくできる分析装置が求められている。これに伴い、1回の分析に使用するサンプル量の低減が必要となる。現在の自動分析装置での1回の分析に使用するサンプル量は1桁マイクロリットルのオーダーである。これだけ少ない液体をサンプルが収容されたサンプル容器から、試薬と反応させるための反応容器に移送しなければならない。マイクロリットルオーダーの液体の移送では、液体の表面張力の制御が重要である。すなわち、注射針用のノズルの先端から、マイクロリットルオーダーの液体を吐出しようとしても、ノズル先端に液玉となって付着するだけで反応容器に落下しない。そこで、ノズルを反応容器に接触させることで、液体が反応容器底面に濡れ広がろうとする表面張力により、液体を反応容器に移し替えることが一般的である。   Automatic analyzers that perform qualitative / quantitative analysis of biological samples such as blood and urine are becoming popular, especially in examination centers and large hospitals, due to high measurement reproducibility and high analysis processing speed. The automatic analyzer is a method that uses a reagent that reacts with the analyte in the sample and changes the color of the reaction solution (colorimetric analysis), and a label that specifically binds directly or indirectly to the analyte. This method is largely classified into a method (immunoassay) for counting the label using a reagent to which is added. In any method, a sample is mixed with a predetermined amount of reagent for analysis, but in recent years, an analysis apparatus capable of reducing the amount of reagent used for analysis has been demanded in accordance with a demand for reducing the analysis cost. Accordingly, it is necessary to reduce the amount of sample used for one analysis. The amount of sample used for one analysis with the current automatic analyzer is on the order of one-digit microliters. Such a small amount of liquid must be transferred from the sample container containing the sample to a reaction container for reacting with the reagent. Control of the surface tension of the liquid is important in the transfer of liquid in the microliter order. That is, even if it is attempted to discharge a liquid in the microliter order from the tip of the nozzle for the injection needle, it only adheres as a liquid ball to the tip of the nozzle and does not fall into the reaction vessel. Therefore, it is common to transfer the liquid to the reaction vessel by bringing the nozzle into contact with the reaction vessel and the surface tension that causes the liquid to wet and spread on the bottom surface of the reaction vessel.

上記従来の技術については例えば特許文献1に記載されている。   The above conventional technique is described in Patent Document 1, for example.

日本特許第3247471号公報Japanese Patent No. 3247471

しかし上記従来の技術には、以下の欠点がある。   However, the conventional technique has the following drawbacks.

反応容器の底にサンプルプローブ先端を接触させて試料を分注する方法での欠点であるが、斜めにカットされたサンプルプローブ先端が反応容器の底に毎回接触されるため、サンプルプローブの先端がダメージを受ける可能性があり、プローブの定期的な交換が必要である。また、反応容器の底が傷つく可能性もあるため、反応容器についても定期的に交換する必要がある。特に最近は試料分注量が1μリットル以下と少ない量で分注精度を維持するためにサンプルプローブ先端径が細く尖がっており、反応容器の底やサンプルプローブ先端のダメージは受けやすくなっていると言える。   This is a disadvantage of the method of dispensing the sample by bringing the tip of the sample probe into contact with the bottom of the reaction vessel. However, since the tip of the sample probe cut obliquely comes into contact with the bottom of the reaction vessel every time, It can be damaged and requires periodic replacement of the probe. In addition, since the bottom of the reaction vessel may be damaged, it is necessary to periodically exchange the reaction vessel. Especially recently, the sample probe tip diameter is thin and sharp to maintain the dispensing accuracy with a sample dispensing volume of 1 μL or less, and the bottom of the reaction vessel and the sample probe tip are susceptible to damage. I can say that.

また、反応容器底面にサンプルプローブを押し付けた状態(しなっている状態)でサンプル分注動作を行い、サンプル分注後、サンプルプローブが上昇すると、サンプルプローブ側面にサンプルの付着が存在する。またサンプルプローブが押し付けられた状態から上昇時に元の状態(しなりの無い状態)に戻る動作によりサンプルプローブの振動がサンプルプローブ側面,カット先端部についたサンプルを反応容器側面へ飛散らせる可能性がある。又はサンプルプローブ側面にサンプルを付着させたまま持ち帰りしてしまう可能性がある。   Further, when the sample dispensing operation is performed in a state where the sample probe is pressed against the bottom surface of the reaction vessel (the state of the sample probe) and the sample probe rises after sample dispensing, the sample is attached to the side surface of the sample probe. In addition, when the sample probe is pushed up, it returns to its original state (without bending) when it is lifted, and the vibration of the sample probe may cause the sample on the side of the sample probe and the sample attached to the cutting tip to scatter to the side of the reaction vessel. There is. Or there is a possibility that the sample is taken home with the sample attached to the side of the sample probe.

また、反応容器底面に毎回サンプルプローブが接触することで、反応容器底面でのサンプルプローブ先端の滑りが発生し、反応容器底面に傷をつけ、且つ滑りが発生することで反応容器底面に対する分注位置の再現性が取れないことにより攪拌精度再現性に影響し分析結果に影響を及ぼす可能性がある。   In addition, each time the sample probe contacts the bottom surface of the reaction container, the tip of the sample probe slips on the bottom surface of the reaction container, and the bottom surface of the reaction container is damaged. If the reproducibility of the position cannot be obtained, the agitation accuracy reproducibility may be affected and the analysis result may be affected.

微量分注になるほど前記の影響が高くなり測定結果の信頼性に影響を及ぼすことが可能性が高くなる。   The smaller the amount of dispensing, the higher the above-mentioned influence and the possibility of affecting the reliability of the measurement result.

本発明の目的は、サンプルプローブの先端や反応容器の底のダメージを受けずに微量でも分注精度が維持できる自動分析装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an automatic analyzer that can maintain dispensing accuracy even with a small amount without being damaged at the tip of a sample probe or the bottom of a reaction vessel.

上記目的を達成するための本発明の構成は以下の通りである。   The configuration of the present invention for achieving the above object is as follows.

試験管等からサンプルを吸引する際に、圧力センサで圧力変化を測定し、サンプル粘性等の情報を得る。サンプルの粘性,分注量に応じ、分注させながらサンプルプローブ上昇速度を最適な動作で駆動をさせる。   When a sample is sucked from a test tube or the like, a pressure change is measured by a pressure sensor to obtain information such as sample viscosity. Depending on the viscosity of the sample and the amount of sample dispensed, the sample probe is driven at an optimum speed while dispensing.

また、サンプル分注を行う反応容器ポジションに小型のカメラを配置し、各反応容器の反応容器底面とサンプルプローブの隙間寸法をカメラにて正確に測定を実施し分注時の反応容器底面からサンプルプローブ先端との距離を正確に制御する。   In addition, a small camera is placed at the reaction container position where sample dispensing is performed, and the gap between the reaction container bottom surface and the sample probe of each reaction container is accurately measured with the camera, and the sample is taken from the reaction container bottom surface during dispensing. The distance from the probe tip is accurately controlled.

反応容器への分注状態を観察することで、ノズル側面付着(持ち帰り)の有無モニタリング、且つ反応容器底面への確実な分注動作確認を実施する。   By observing the state of dispensing into the reaction vessel, it is possible to monitor the presence or absence of nozzle side surface adhesion (takeaway) and confirm the reliable dispensing operation on the bottom of the reaction vessel.

本発明によれば、試料を反応容器に分注する際に、サンプルプローブ側面へのサンプル付着,反応容器へのサンプル飛散りを無くすことが可能となり、サンプルプローブ先端と反応容器の底を接触させないのでプローブや反応容器にダメージを与えない。   According to the present invention, when dispensing a sample into a reaction container, it is possible to eliminate sample adhesion to the side surface of the sample probe and scattering of the sample to the reaction container, and the sample probe tip and the bottom of the reaction container are not brought into contact with each other. So it will not damage the probe or reaction vessel.

また、サンプルプローブ先端と反応容器の底の隙間寸法を一定に確保することができ、サンプルの粘性等にとらわれることなく分注精度の向上および維持が可能となる。   In addition, the gap between the tip of the sample probe and the bottom of the reaction container can be kept constant, and the dispensing accuracy can be improved and maintained without being restricted by the viscosity of the sample.

一般的な自動分析装置概略図。Schematic diagram of a general automatic analyzer. 分注方法1。Dispensing method 1. 分注方法2。Dispensing method 2. CCDカメラを用いた配置図。The layout using a CCD camera. 分割ブロック形状をした反応容器。A reaction vessel in the form of a divided block. 最小隙間測定1。Minimum gap measurement 1. 最小隙間測定2。Minimum gap measurement 2. 反応容器回転によるCCDカメラスキャン。CCD camera scan by reaction vessel rotation. サンプルプローブ先端形状。Sample probe tip shape. 分注方法3。Dispensing method 3. 分注方法4。Dispensing method 4. 分注方法5。Dispensing method 5. サンプリングノズル上昇速度と吐出終了の関係。Relationship between sampling nozzle rise speed and discharge end. 疎水性を持たせたサンプリングノズル側面のサンプル付着量。The amount of sample adhering to the side of the sampling nozzle with hydrophobicity.

以下、図面を用いて本発明の実施例を説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1に本発明が実施される一般的な自動分析装置の概略を示す。   FIG. 1 shows an outline of a general automatic analyzer in which the present invention is implemented.

各部の機能は公知のものであるため、詳細についての記述は省略する。   Since the function of each part is well-known, detailed description is omitted.

サンプリング機構1のサンプリングアーム2は上下すると共に回転し、サンプリングアーム2に取り付けられたサンプルプローブ3を用いて、左右に回転するサンプルディスク102に配置された試料容器101内の試料を吸引し、反応容器5へ分注するように構成されている。本図からもわかるように試料容器101のサンプルディスク102上への配置はサンプルディスク102上へ直接配置する場合や試験管(図示は無い)上に試料容器101を載せることも可能なユニバーサルな配置に対応可能な構造のものが一般的である。   The sampling arm 2 of the sampling mechanism 1 moves up and down and rotates. Using the sample probe 3 attached to the sampling arm 2, the sample in the sample container 101 arranged on the sample disk 102 rotating left and right is sucked and reacted. It is configured to dispense into the container 5. As can be seen from this figure, the sample container 101 is placed on the sample disk 102 in a universal arrangement in which the sample container 101 can be placed directly on the sample disk 102 or on the test tube (not shown). In general, a structure that can cope with the above is applicable.

回転自在な試薬ディスク125上には分析対象となる複数の分析項目に対応する試薬ボトル112が配置されている。可動アームに取り付けられた試薬分注プローブ110は、試薬ボトル112から反応容器5へ所定量の試薬を分注する。   On the rotatable reagent disk 125, reagent bottles 112 corresponding to a plurality of analysis items to be analyzed are arranged. The reagent dispensing probe 110 attached to the movable arm dispenses a predetermined amount of reagent from the reagent bottle 112 to the reaction container 5.

サンプルプローブ3は、サンプル用シリンジポンプ107の動作に伴ってサンプルの吸引動作、及び分注動作を実行する。試薬分注プローブ110は、試薬用ポンプ111の動作に伴って試薬の吸引動作、及び分注動作を実行する。各試料のために分析すべき分析項目は、キーボード121、又はCRT118の画面のような入力装置から入力される。この自動分析装置における各ユニットの動作はコンピュータ103により制御される。   The sample probe 3 performs a sample suction operation and a dispensing operation in accordance with the operation of the sample syringe pump 107. The reagent dispensing probe 110 performs a reagent aspirating operation and a dispensing operation with the operation of the reagent pump 111. Analysis items to be analyzed for each sample are input from an input device such as the keyboard 121 or the screen of the CRT 118. The operation of each unit in this automatic analyzer is controlled by the computer 103.

サンプルディスク102の間欠回転に伴って試料容器101はサンプル吸引位置へ移送され、停止中の試料容器内にサンプルプローブ3が降下される。その下降動作に伴ってサンプルプローブ3の先端が試料の液面に接触すると液面検出回路151から検出信号が出力され、それに基づいてコンピュータ103がサンプリングアーム2の駆動部の下降動作を停止するよう制御する。次にサンプルプローブ3内に所定量の試料を吸引した後、サンプルプローブ3は上死点まで上昇する。サンプルプローブ3が試料を所定量吸引している間は、サンプルプローブ3とサンプル用ポンプ107流路間の吸引動作中の流路内圧力変動を圧力センサ152からの信号を用い圧力検出回路153で監視し、吸引中の圧力変動に異常を発見した場合は所定量吸引されていない可能性が高いため、当該分析データに対しアラームを付加する。   As the sample disk 102 rotates intermittently, the sample container 101 is transferred to the sample suction position, and the sample probe 3 is lowered into the stopped sample container. When the tip of the sample probe 3 comes into contact with the liquid level of the sample in accordance with the lowering operation, a detection signal is output from the liquid level detection circuit 151, and based on this, the computer 103 stops the lowering operation of the driving unit of the sampling arm 2. Control. Next, after a predetermined amount of sample is sucked into the sample probe 3, the sample probe 3 rises to the top dead center. While the sample probe 3 is sucking the sample by a predetermined amount, the pressure detection circuit 153 uses the signal from the pressure sensor 152 to detect the pressure fluctuation in the channel during the suction operation between the sample probe 3 and the sample pump 107 channel. If an abnormality is detected in the pressure fluctuation during the suction, there is a high possibility that the predetermined amount is not sucked, so an alarm is added to the analysis data.

次にサンプリングアーム2が水平方向に旋回し反応ディスク4上の反応容器5の位置でサンプルプローブ3を下降し反応容器5内へ保持していた試料を分注する。試料が入った反応容器5が試薬添加位置まで移動された時に、該当する分析項目に対応した試薬が試薬分注プローブ110から添加される。サンプル、及び試薬の分注に伴って試料容器101内の試料、及び試薬ボトル112内の試薬の液面が検出される。試料、及び試薬が加えられた反応容器内の混合物は、攪拌器113により攪拌される。混合物が収納された反応容器が光度計115に移送され、各混合物の発光値、或いは吸光度が測定手段としての光電子増倍管、或いは光度計により測定される。発光信号あるいは受光信号は、A/D変換器116を経由しインターフェース104を介してコンピュータ103に入り、分析項目の濃度が計算される。分析結果は、インターフェース104を介してプリンタ117に印字出力するか、又はCRT118に画面出力すると共に、メモリ122に格納される。測光が終了した反応容器5は、反応容器洗浄機構119の位置にて洗浄される。洗浄用ポンプ120は、反応容器へ洗浄水を供給すると共に、反応容器から廃液を排出する。図1の例では、サンプルディスク102に同心円状に3列の試料容器101がセットできるように3列の容器保持部が形成されており、サンプルプローブ3による試料吸引位置が各々の列に1個ずつ設定されている。   Next, the sampling arm 2 rotates in the horizontal direction, the sample probe 3 is lowered at the position of the reaction vessel 5 on the reaction disk 4, and the sample held in the reaction vessel 5 is dispensed. When the reaction container 5 containing the sample is moved to the reagent addition position, a reagent corresponding to the corresponding analysis item is added from the reagent dispensing probe 110. As the sample and reagent are dispensed, the liquid level of the sample in the sample container 101 and the reagent in the reagent bottle 112 is detected. The mixture in the reaction vessel to which the sample and the reagent are added is stirred by the stirrer 113. The reaction container containing the mixture is transferred to the photometer 115, and the luminescence value or absorbance of each mixture is measured by a photomultiplier tube or photometer as a measuring means. The light emission signal or light reception signal enters the computer 103 via the interface 104 via the A / D converter 116, and the concentration of the analysis item is calculated. The analysis result is printed out to the printer 117 via the interface 104 or output to the CRT 118 and stored in the memory 122. After completion of photometry, the reaction vessel 5 is washed at the position of the reaction vessel washing mechanism 119. The cleaning pump 120 supplies cleaning water to the reaction container and discharges waste liquid from the reaction container. In the example of FIG. 1, three rows of container holders are formed so that three rows of sample vessels 101 can be set concentrically on the sample disc 102, and one sample suction position by the sample probe 3 is provided in each row. It is set one by one.

以上が自動分析装置の一般的な動作である。   The above is the general operation of the automatic analyzer.

次に図2から図14を用いて本特許の実施例を説明する。   Next, an embodiment of this patent will be described with reference to FIGS.

図2のようにサンプルプローブ3先端を反応容器底面201に接触させる。サンプル用ポンプ107で吐出する際はサンプルプローブ3でサンプルを吐出しながらサンプルプローブ3を上昇させる。   As shown in FIG. 2, the tip of the sample probe 3 is brought into contact with the reaction vessel bottom surface 201. When discharging with the sample pump 107, the sample probe 3 is raised while discharging the sample with the sample probe 3.

実際は、サンプルプローブ3上部に取り付けられたバネにより、反応容器底面201に接触後、さらにサンプルプローブ3を反応容器底面201に押し付ける動作でサンプルプローブ3をバネクッションで反応容器底面201に押し付ける。サンプルプローブ3を上昇させる時にサンプルプローブ3はバネクッションしている寸法分は反応容器底面201から離れず反応容器底面201に接触したままであり、バネクッションが無くなり反応容器底面201から外れる時にサンプルプローブ3で吐出しながらサンプルプローブ3を上昇させながら分注を開始することでサンプルプローブ3外面にサンプル付着をつけない分注が可能となる。   Actually, the sample probe 3 is pressed against the reaction vessel bottom surface 201 with a spring cushion by an operation of pressing the sample probe 3 against the reaction vessel bottom surface 201 after contacting the reaction vessel bottom surface 201 with a spring attached to the upper portion of the sample probe 3. When the sample probe 3 is raised, the sample probe 3 does not move away from the reaction vessel bottom surface 201 and remains in contact with the reaction vessel bottom surface 201, and when the sample probe 3 is removed from the reaction vessel bottom surface 201, the sample probe 3 remains in contact with the reaction vessel bottom surface 201. By starting dispensing while raising the sample probe 3 while discharging at 3, it becomes possible to dispense without attaching the sample to the outer surface of the sample probe 3.

また、図3に示すように分注量に対する反応容器5の分注後サンプル高さ203は、反応容器の縦×横の寸法から容易に算出可能であり、分注する場合、サンプルプローブ3を隙間200まで下降させ、分注したサンプルが反応容器底面201に接触後、サンプルプローブ3を分注させながら分注後サンプル高さ203まで上昇させ、吐出したサンプルが、分注後サンプル高さ203になるのを待つことで、サンプルプローブ3先端のサンプル玉残りを低減しサンプルプローブ3外面に付着するサンプルを無くすことが可能となる。   In addition, as shown in FIG. 3, the post-dispensing sample height 203 of the reaction vessel 5 with respect to the dispensed amount can be easily calculated from the vertical and horizontal dimensions of the reaction vessel. The sample is lowered to the gap 200, and after the dispensed sample comes into contact with the bottom surface 201 of the reaction vessel, the sample probe 3 is dispensed while being raised to the sample height 203, and the discharged sample becomes the sample height 203 after dispensing. By waiting for this to occur, the sample ball remaining at the tip of the sample probe 3 can be reduced, and the sample adhering to the outer surface of the sample probe 3 can be eliminated.

ここで、サンプルプローブ3と全反応容器5の寸法にはバラツキがあり、そのバラツキを補正する手段として以下の方法が考えられる。   Here, there are variations in the dimensions of the sample probe 3 and all the reaction vessels 5, and the following methods can be considered as means for correcting the variations.

図4のようにサンプルプローブ3にて反応容器5に分注するポジションにCCDカメラ202を配置し全反応容器底面201とサンプルプローブ3先端との隙間200の高さを測定する。各反応容器の隙間200はバラツキがある。隙間200のバラツク原因として反応容器は樹脂製の成型品で製作されており、成型時の熱収縮変形が原因で僅かな反りが発生したり、また、反応容器形状は反応ディスク一周分を一体で樹脂成形するのは大変困難であるため、図5のように分割ブロック状の形状をした反応容器を用いる。複数ブロックで一周分を形成しネジ穴11を使って反応容器ブロック17を反応ディスク4にネジでしっかり固定することで反応容器が変形することも反応容器の隙間200のバラツク原因となっている。   As shown in FIG. 4, the CCD camera 202 is disposed at a position where the sample probe 3 dispenses the reaction vessel 5, and the height of the gap 200 between the bottom surface 201 of all the reaction vessels and the tip of the sample probe 3 is measured. The gap 200 between the reaction vessels varies. The reaction container is made of a resin molded product as a cause of the gap 200 variation, and a slight warp occurs due to heat shrink deformation at the time of molding, and the reaction container shape is integrated with the entire reaction disk. Since it is very difficult to mold the resin, a reaction vessel having a divided block shape as shown in FIG. 5 is used. The deformation of the reaction vessel gap 200 is also caused by deformation of the reaction vessel by forming one round with a plurality of blocks and firmly fixing the reaction vessel block 17 to the reaction disk 4 with screws using the screw holes 11.

隙間200の測定方法は、図6のようにサンプリング機構1の上下動作を駆動しているパルスモータにて、一番目の反応容器底面201にサンプルプローブ3を接触させ、サンプルプローブ3が接触するまでの使用したパルス数からサンプルプローブ3から反応容器底面201の反応容器底からサンプルプローブ先端の高さ204を算出し、この動作を各々全ての反応容器底面201に対して実施することで、全ての反応容器5の隙間200を算出可能とする。   As shown in FIG. 6, the gap 200 is measured by bringing the sample probe 3 into contact with the bottom surface 201 of the first reaction vessel with a pulse motor that drives the vertical movement of the sampling mechanism 1 until the sample probe 3 comes into contact. By calculating the height 204 of the tip of the sample probe from the reaction vessel bottom of the reaction vessel bottom surface 201 from the sample probe 3 from the number of pulses used in the above, The clearance 200 of the reaction vessel 5 can be calculated.

もしくは、図7のように基準面206を設ける。CCDカメラ202と基準面206の高さ位置は、サンプルプローブ3と反応容器5との取り付けには依存しない、つまり不変であるので、反応容器5を取り付けた反応ディスク4を図8のように回転させ、基準面206に対するセル底からの高さ207とサンプルプローブ先端からの高さ208をCCDカメラ202で読み取りサンプルプローブ3を隙間200で停止する必要移動量を算出する。   Alternatively, a reference surface 206 is provided as shown in FIG. The height positions of the CCD camera 202 and the reference surface 206 do not depend on the attachment of the sample probe 3 and the reaction vessel 5, that is, do not change. Therefore, the reaction disk 4 to which the reaction vessel 5 is attached is rotated as shown in FIG. Then, the height 207 from the cell bottom with respect to the reference plane 206 and the height 208 from the tip of the sample probe are read by the CCD camera 202, and the necessary movement amount for stopping the sample probe 3 at the gap 200 is calculated.

もしくは、金属製の基準面206を設け、サンプルプローブ3を基準面206に接触させ、接触した位置から異常下降検知が入るまでの移動パルス量を記憶する。サンプル分注時、サンプルプローブ3が反応容器底面201に接触してから異常下降検知が入るまでのパルス数は前記で求めてあるので、サンプルプローブ3が反応容器底面201に接触し異常検知停止後、前記記憶したパルス数に隙間200分の必要パルス数を足し、サンプルプローブ3を上昇させ隙間200で停止させる。   Alternatively, a metal reference surface 206 is provided, the sample probe 3 is brought into contact with the reference surface 206, and the movement pulse amount from when the contact is made until the abnormal lowering detection is entered is stored. At the time of sample dispensing, the number of pulses from when the sample probe 3 comes into contact with the reaction vessel bottom surface 201 to when abnormal drop detection is detected is obtained as described above, so after the sample probe 3 comes into contact with the reaction vessel bottom surface 201 and abnormality detection stops. Then, the necessary number of pulses for 200 gaps is added to the stored number of pulses, and the sample probe 3 is raised and stopped at the gap 200.

また、隙間200の測定方法は、図4のように各々の反応容器5に対しサンプルプローブ3をある一定量下降させ反応容器底面201との高さをCCDカメラ202で測定し、必要な隙間200を算出する。   As shown in FIG. 4, the gap 200 is measured by lowering the sample probe 3 by a certain amount with respect to each reaction vessel 5 and measuring the height from the reaction vessel bottom surface 201 with the CCD camera 202. Is calculated.

もしくはサンプルプローブ3をある一定量下降させ一番目の反応容器5の隙間200を測定し、残りの反応容器5の隙間200は反応容器5を取り付けた反応ディスク4を図8のように回転させると同時にCCDカメラ202で反応容器底面201の高さを測定し、最初に測定した反応容器底面201との差分により各反応容器の隙間200を算出しても同等の結果が得られ、反応容器底面201にサンプルプローブ3を非接触で隙間200を測定できるので反応容器底面201に傷をつけない。   Alternatively, when the sample probe 3 is lowered by a certain amount and the gap 200 of the first reaction vessel 5 is measured, the remaining gap 200 of the reaction vessel 5 is rotated by rotating the reaction disk 4 with the reaction vessel 5 attached as shown in FIG. Simultaneously, the height of the reaction vessel bottom surface 201 is measured by the CCD camera 202, and the same result is obtained even if the gap 200 of each reaction vessel is calculated based on the difference from the reaction vessel bottom surface 201 measured first. In addition, since the gap 200 can be measured without contacting the sample probe 3, the reaction vessel bottom surface 201 is not damaged.

尚、隙間200の測定は、サンプルプローブ3及び反応容器5の交換時、または装置イニシャライズ動作時に実施する。   The measurement of the gap 200 is performed when the sample probe 3 and the reaction vessel 5 are replaced or when the apparatus is initialized.

次にサンプル吸引動作について説明する。   Next, the sample suction operation will be described.

サンプルプローブ3にてサンプルディスク102に架設された試験管等内のサンプルをサンプル用ポンプ107で必要量を吸引する。サンプルは粘性等が個々によって異なる。   The sample probe 3 sucks a necessary amount of the sample in the test tube or the like installed on the sample disk 102 by the sample probe 3. Samples have different viscosities.

圧力センサ152でこの吸引動作にかかる圧力をサンプル吸引毎に測定し、サンプル用ポンプ107で反応容器5に分注する際、吸引動作にかかる圧力の違いから、血清,尿,標準液、等を区別し、分注する際にサンプルプローブ3とサンプル用ポンプ107の分注動作を変化させる。つまりサンプルプローブ3の分注位置高さとサンプル用ポンプ107の分注動作をサンプルの粘性により変化させ分注精度の向上を図る。   When the pressure applied to the suction operation is measured by the pressure sensor 152 for each sample suction and dispensed into the reaction vessel 5 by the sample pump 107, serum, urine, standard solution, etc. are removed from the difference in the pressure applied to the suction operation. When distinguishing and dispensing, the dispensing operation of the sample probe 3 and the sample pump 107 is changed. That is, the dispensing position height of the sample probe 3 and the dispensing operation of the sample pump 107 are changed depending on the viscosity of the sample to improve the dispensing accuracy.

ここでサンプルプローブ3先端の形状は従来の斜め加工より平ら加工にするほうが望ましい。例えばサンプル吸引時、先端が斜め形状であるとサンプルの吸引動作の流速にムラが生じるが、平ら形状であると、吸引時のサンプルの流速を一定に吸引できる。また、サンプルにサンプルプローブ3は液面検知後、一定量サンプルに突っ込んで停止する。   Here, the shape of the tip of the sample probe 3 is preferably flatter than the conventional oblique processing. For example, when the sample is aspirated, if the tip has an oblique shape, unevenness occurs in the flow rate of the sample aspirating operation. However, if the tip is flat, the flow rate of the sample during aspiration can be aspirated at a constant rate. In addition, after detecting the liquid level, the sample probe 3 is pushed into the sample by a certain amount and stopped.

サンプル吸引後、再度液面検知でサンプルプローブ3がサンプルの中にあるか確認する。空吸いを防止するためである。ノズル先端が斜めであると図9のようにサンプル吸引後に空気を吸引していても斜め先端がサンプルに接触しており液面検知をしていることになり、サンプルでなく空気を吸引していることに気が付かない。よってサンプルプローブ3先端が平らであることは誤吸引することを防止できるという利点もある。   After the sample is aspirated, it is confirmed again whether the sample probe 3 is in the sample by detecting the liquid level. This is to prevent empty sucking. If the nozzle tip is slanted, as shown in Fig. 9, even if air is sucked after sample suction, the slanted tip is in contact with the sample and the liquid level is detected. I do not realize that Therefore, the fact that the tip of the sample probe 3 is flat also has an advantage that erroneous suction can be prevented.

サンプル分注後の洗浄動作においても、断面積を低減することで洗浄水のサンプルプローブ3先端の付着を低減できる。   Also in the cleaning operation after sample dispensing, the adhesion of the tip of the sample probe 3 to the cleaning water can be reduced by reducing the cross-sectional area.

また、サンプルプローブ3先端の形状が平らであるとサンプルとの接触面積を低減でき、図10に示すように1μリットル以下の微量分注において、親水性をもたせた反応容器底面201に分注する際、予めサンプルプローブ3先端にサンプルを吐出させておいて、その後反応容器底面201にサンプルを接触させ親水性をもたせた反応容器底面201に分注することが可能になる。   Moreover, if the shape of the tip of the sample probe 3 is flat, the contact area with the sample can be reduced. As shown in FIG. 10, in a minute amount of 1 μL or less, the sample is dispensed onto the bottom surface 201 of the reaction vessel having hydrophilicity. At this time, the sample can be discharged to the tip of the sample probe 3 in advance, and then the sample can be dispensed to the reaction container bottom surface 201 having hydrophilicity by contacting the sample with the reaction container bottom surface 201.

また、図11に示すように反応容器底面201にサンプルプローブ3を下降させた後、分注動作を開始する。サンプルプローブ3先端に作られるサンプル液玉205が親水性をもたせた反応容器底面201に接触させ、図14のような疎水性を持たせたサンプルプローブ3で分注することでサンプルプローブ3が上昇しながら分注する際、サンプルプローブ3でのサンプル持ち帰りを無くすことが可能になる。   Further, as shown in FIG. 11, after the sample probe 3 is lowered to the reaction vessel bottom surface 201, the dispensing operation is started. A sample liquid ball 205 made at the tip of the sample probe 3 is brought into contact with the bottom surface 201 of the reaction vessel having hydrophilicity, and dispensed with the sample probe 3 having hydrophobicity as shown in FIG. However, when dispensing, it is possible to eliminate the take-out of the sample by the sample probe 3.

また、図12に示すように必要分注量は予め設定するのでサンプルプローブ3先端に作られるサンプル液玉205の大きさを予測できる。よって、分注量に応じサンプルプローブ3の下降量を変化させ隙間200を分注量によって変えて分注する。   In addition, as shown in FIG. 12, since the necessary dispensing amount is set in advance, the size of the sample liquid ball 205 made at the tip of the sample probe 3 can be predicted. Therefore, the amount of lowering of the sample probe 3 is changed according to the dispensing amount, and the gap 200 is changed depending on the dispensing amount.

また、サンプルプローブ3先端の形状が平らであると、反応容器底面201に傷をつけないので、反応容器5の長寿命化が図れ、且つ測定時の泡,汚れ低減を図ることができる。   If the shape of the tip of the sample probe 3 is flat, the reaction vessel bottom surface 201 is not damaged, so that the life of the reaction vessel 5 can be extended, and bubbles and dirt during measurement can be reduced.

図11に分注動作による実施例を示す。サンプルを反応容器底面201に分注する動作は、サンプルプローブ3が隙間200になるまで下降し、サンプル用ポンプ107で反応容器5に分注する。この分注の様子をCCDカメラ202で観察し、サンプルが反応容器底面201に接触且つ一定の大きさになったところでサンプルプローブ3を上昇させながら分注動作を実施する。予め圧力センサ152で測定したサンプルの粘性に合わせサンプルプローブ3の上昇動作、サンプル用ポンプ107の吸引動作を変えることでサンプルプローブ3側面にサンプルの付着を存在させない。つまり分注精度の向上を図ることができる。   FIG. 11 shows an example of the dispensing operation. In the operation of dispensing the sample to the reaction vessel bottom surface 201, the sample probe 3 is lowered until the gap 200 is reached, and dispensed to the reaction vessel 5 by the sample pump 107. The state of this dispensing is observed with the CCD camera 202, and the dispensing operation is performed while raising the sample probe 3 when the sample comes into contact with the bottom surface 201 of the reaction container and becomes a certain size. By changing the ascending operation of the sample probe 3 and the suction operation of the sample pump 107 in accordance with the viscosity of the sample measured by the pressure sensor 152 in advance, the sample does not adhere to the side surface of the sample probe 3. That is, the dispensing accuracy can be improved.

図13に分注時のサンプルプローブ3上昇の駆動パラメータ図を示す。分注精度向上を図るためには、サンプルプローブ3加速上昇終了のB点でサンプル用ポンプ107の分注が終了することは望ましいことではない。サンプルプローブ3の加速度域から一定速度域へ(図13(a))、また一定速度域から加速度域(図13(b))の速度変化が起こりサンプルプローブ3の振動が発生し、反応容器5側面にサンプルが飛散ったり、サンプルプローブ3側面へのサンプル付着となる要因となるためである。分注精度向上を図るためには、分注終了はA〜Bの区間で終了させることが必要である。   FIG. 13 shows a drive parameter diagram for ascending the sample probe 3 during dispensing. In order to improve the dispensing accuracy, it is not desirable that the dispensing of the sample pump 107 is completed at the point B where the acceleration of the sample probe 3 is finished. From the acceleration region of the sample probe 3 to the constant velocity region (FIG. 13A), the speed change from the constant velocity region to the acceleration region (FIG. 13B) occurs, the sample probe 3 vibrates, and the reaction vessel 5 This is because the sample scatters on the side surface or causes the sample to adhere to the side surface of the sample probe 3. In order to improve the dispensing accuracy, it is necessary to finish dispensing in the section A to B.

また、図13の点線のようにサンプルの粘性によりサンプルプローブ3上昇速度を変化させ、サンプルプローブ3を分注しながら上昇させることで、粘性の影響を受けない高精度の分注が可能となる。   Further, as shown by the dotted line in FIG. 13, by changing the ascending speed of the sample probe 3 depending on the viscosity of the sample and raising the sample probe 3 while dispensing, it is possible to perform dispensing with high accuracy without being affected by the viscosity. .

一般にはサンプル用ポンプ107駆動モータとサンプルプローブ200の駆動モータは各々別々のコントローラを使用しているが、サンプル用ポンプ107の分注動作とサンプルプローブ200の上昇動作を、同一のコントローラから動作指示を出すことで、各駆動モータ間の動作指示からの時間差を埋めることができ、分注精度向上を図れる。   In general, the sample pump 107 drive motor and the sample probe 200 drive motor use separate controllers, but the dispensing operation of the sample pump 107 and the ascending operation of the sample probe 200 are operated from the same controller. Thus, the time difference from the operation instruction between the drive motors can be filled, and the dispensing accuracy can be improved.

本実施例では、サンプルの分注にのみついて説明したが、試薬の分注においても反応容器5に一番最初に試薬を分注する場合に限っては、サンプルプローブ3側面に試薬をつけない技術から同様なことが可能(試薬分注量が微量のとき効果大)であり、分注対象の液体の種別や用途などによって適用範囲が制限されるものではない。   In the present embodiment, only the sample dispensing has been described, but the reagent is not attached to the side surface of the sample probe 3 only when the reagent is dispensed into the reaction vessel 5 first. The same can be done from the technology (the effect is great when the reagent dispensing amount is very small), and the application range is not limited by the type or use of the liquid to be dispensed.

1 サンプリング機構
2 サンプリングアーム
3 サンプルプローブ
4 反応ディスク
5 反応容器
6 機構ベース
7 駆動機構
8 駆動シャフト
9 反応槽
10 反応槽水
11 ネジ穴
12 中心ステンレス管
13 絶縁接着剤
14 シールドステンレス管
15 段差
16 反応容器の縁
17 反応容器ブロック
18,101 試料容器
102 サンプルディスク
103 コンピュータ
104 インターフェース
107 サンプル用ポンプ
110 試薬分注プローブ
111 試薬用ポンプ
112 試薬ボトル
113 攪拌機構
114 光源ランプ
115 光度計
116 A/D変換器
117 プリンタ
118 CRT
119 反応容器洗浄機構
120 洗浄用ポンプ
121 キーボード
122 メモリ
125 試薬ディスク
151 液面検出回路
152 圧力センサ
153 圧力検出回路
200 隙間
201 反応容器底面
202 CCDカメラ
203 分注後サンプル高さ
204 反応容器底からサンプルプローブ先端の高さ
205 液玉
206 基準面
207 セル底からの高さ
208 サンプルプローブ先端からの高さ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sampling mechanism 2 Sampling arm 3 Sample probe 4 Reaction disk 5 Reaction container 6 Mechanism base 7 Drive mechanism 8 Drive shaft 9 Reaction tank 10 Reaction tank water 11 Screw hole 12 Center stainless pipe 13 Insulating adhesive 14 Shield stainless pipe 15 Step 16 Reaction Container edge 17 Reaction container block 18, 101 Sample container 102 Sample disk 103 Computer 104 Interface 107 Sample pump 110 Reagent dispensing probe 111 Reagent pump 112 Reagent bottle 113 Stirring mechanism 114 Light source lamp 115 Photometer 116 A / D converter 117 Printer 118 CRT
119 Reaction vessel cleaning mechanism 120 Cleaning pump 121 Keyboard 122 Memory 125 Reagent disk 151 Liquid level detection circuit 152 Pressure sensor 153 Pressure detection circuit 200 Gap 201 Reaction vessel bottom surface 202 CCD camera 203 Sample height after dispensing 204 Sample from reaction vessel bottom Probe tip height 205 Liquid ball 206 Reference surface 207 Height from cell bottom 208 Height from sample probe tip

Claims (7)

サンプルを吸引・吐出するプローブと、
前記プローブから吐出されるサンプルを収容する複数の反応容器と、を備えた自動分析装置を用いた分析方法において、
前記プローブを前記反応容器中へ下降させる前又は途中において前記プローブの先端にサンプル液滴を生成させるステップと、
前記液滴をプローブ先端に付着させた状態で該液滴が反応容器に接触するまで前記プローブを下降させるステップと、
前記液滴の様子をCCDカメラで観察し、サンプルが反応容器底面に接触し、かつ一定の大きさになったところで、サンプルを吐出しながら前記プローブを上昇させるステップと、を有し、
前記プローブを下降させるステップは、前記プローブと反応容器との取り付けには依存しない基準面に対する反応容器底からの高さと前記プローブ先端からの高さを前記CCDカメラで読み取り、前記プローブを反応容器の底から一定の隙間で停止する移動量を算出し、各々の反応容器で算出された移動量に基き、前記プローブを下降させることを特徴とする自動分析装置を用いた分析方法。
A probe for aspirating and discharging a sample;
In an analysis method using an automatic analyzer equipped with a plurality of reaction containers containing samples discharged from the probe,
Generating a sample droplet at the tip of the probe before or during lowering of the probe into the reaction vessel;
Lowering the probe until the droplet contacts the reaction vessel with the droplet attached to the probe tip; and
The state of the droplets was observed with a CCD camera, a sample is brought into contact with the reaction vessel bottom, and upon reaching a certain size, possess the steps of raising the probe while discharging the sample, a,
The step of lowering the probe reads the height from the bottom of the reaction vessel and the height from the tip of the probe with respect to a reference plane that does not depend on the attachment of the probe and the reaction vessel, and reads the probe from the reaction vessel. An analysis method using an automatic analyzer, characterized in that an amount of movement that stops at a certain gap from the bottom is calculated, and the probe is lowered based on the amount of movement calculated in each reaction vessel .
請求項1記載の自動分析装置を用いた分析方法において、
前記自動分析装置は、複数の前記反応容器を取り付けた反応ディスクを備え、
前記反応ディスクを回転させると同時に前記CCDカメラで前記複数の反応容器の夫々の底面の高さを測定するステップを有することを特徴とする自動分析装置を用いた分析方法。
In the analysis method using the automatic analyzer according to claim 1,
The automatic analyzer includes a reaction disk on which a plurality of the reaction vessels are attached,
An analysis method using an automatic analyzer, comprising the step of rotating the reaction disk and simultaneously measuring the height of the bottom surface of each of the plurality of reaction vessels with the CCD camera.
請求項1又は2記載の自動分析装置を用いた分析方法において、
前記プローブを上昇させるステップにおいて、サンプルの粘性により上昇速度を変化させることを特徴とする自動分析装置を用いた分析方法。
In the analysis method using the automatic analyzer according to claim 1 or 2,
An analysis method using an automatic analyzer, wherein in the step of raising the probe, the raising speed is changed by the viscosity of the sample.
サンプルを吸引・吐出するプローブと、
前記プローブから吐出されるサンプルを収容する複数の反応容器と、
前記プローブの先端に生成されるサンプル液滴の様子を観察するCCDカメラと、
前記プローブの動作を制御するコンピュータを備えた自動分析装置において、
前記コンピュータは、
前記CCDカメラから、前記プローブと反応容器との取り付けには依存しない基準面に対する反応容器底からの高さと前記プローブ先端からの高さを読み取り、前記プローブを反応容器の底から一定の隙間で停止する移動量を算出し、
前記プローブを前記反応容器中へ、各々の反応容器で算出された移動量下降させる前又は途中において前記プローブ先端にサンプル液滴を生成させ、
前記液滴をプローブ先端に付着させた状態で該液滴が反応容器に接触するまで前記プローブを下降させ、
前記液滴の様子を前記CCDカメラで観察し、サンプルが反応容器底面に接触し、かつ一定の大きさになったところで、サンプルを吐出しながら前記プローブを上昇させる、
制御を行うことを特徴とする自動分析装置。
A probe for aspirating and discharging a sample;
A plurality of reaction containers containing samples discharged from the probe;
A CCD camera for observing the state of the sample droplet generated at the tip of the probe;
In an automatic analyzer comprising a computer for controlling the operation of the probe,
The computer
Read from the CCD camera the height from the bottom of the reaction vessel and the height from the tip of the probe relative to the reference plane that does not depend on the attachment of the probe and the reaction vessel, and stop the probe at a certain gap from the bottom of the reaction vessel. Calculate the amount of movement
Before or during lowering of the amount of movement calculated in each reaction vessel into the reaction vessel, a sample droplet is generated at the probe tip,
With the droplet attached to the probe tip, the probe is lowered until the droplet contacts the reaction vessel,
The state of the droplet is observed with the CCD camera, and when the sample comes into contact with the bottom surface of the reaction vessel and becomes a certain size, the probe is raised while discharging the sample,
An automatic analyzer characterized by performing control.
請求項4記載の自動分析装置において、
さらに、複数の前記反応容器を取り付けた反応ディスクを備え、
前記反応ディスクを回転させると同時に前記CCDカメラで前記複数の反応容器の夫々の底面の高さを測定することを特徴とする自動分析装置。
The automatic analyzer according to claim 4,
Furthermore, a reaction disk provided with a plurality of the reaction vessels is provided,
An automatic analyzer which measures the height of the bottom surface of each of the plurality of reaction vessels with the CCD camera at the same time as the reaction disk is rotated.
請求項4又は5記載の自動分析装置において、
前記CCDカメラは、前記プローブ前記反応容器に分注する位置に配置されることを特徴とする自動分析装置。
The automatic analyzer according to claim 4 or 5,
The CCD camera is disposed at a position where the probe is dispensed into the reaction container.
請求項4〜6のいずれか記載の自動分析装置において、
前記プローブの上昇は、サンプルの粘性により上昇速度を変化させることを特徴とする自動分析装置。
The automatic analyzer according to any one of claims 4 to 6,
The automatic analyzer according to claim 1, wherein the probe is raised by changing a rising speed according to a viscosity of the sample.
JP2009018949A 2009-01-30 2009-01-30 Automatic analyzer and analysis method using automatic analyzer Active JP5210902B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009018949A JP5210902B2 (en) 2009-01-30 2009-01-30 Automatic analyzer and analysis method using automatic analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009018949A JP5210902B2 (en) 2009-01-30 2009-01-30 Automatic analyzer and analysis method using automatic analyzer

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010175417A JP2010175417A (en) 2010-08-12
JP2010175417A5 JP2010175417A5 (en) 2011-04-21
JP5210902B2 true JP5210902B2 (en) 2013-06-12

Family

ID=42706536

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009018949A Active JP5210902B2 (en) 2009-01-30 2009-01-30 Automatic analyzer and analysis method using automatic analyzer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5210902B2 (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5322781B2 (en) * 2009-06-02 2013-10-23 株式会社東芝 Automatic analyzer
JP5752545B2 (en) 2011-09-22 2015-07-22 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analyzer
JP6886243B2 (en) * 2016-02-25 2021-06-16 株式会社日立ハイテク Automatic analyzer
US11009515B2 (en) 2016-09-21 2021-05-18 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analyzer
JP6830406B2 (en) * 2017-06-01 2021-02-17 株式会社日立製作所 Dispenser
JP7379264B2 (en) 2020-04-21 2023-11-14 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 automatic analyzer

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0277652A (en) * 1988-09-14 1990-03-16 Hitachi Ltd Dividedly pouring device
JPH0777483A (en) * 1993-09-08 1995-03-20 Sanyo Electric Co Ltd Supporting device for dispensing plate and automatic dispenser
JP3328048B2 (en) * 1994-02-25 2002-09-24 富士写真フイルム株式会社 How to mix liquids
JP3390297B2 (en) * 1995-09-04 2003-03-24 富士写真フイルム株式会社 Liquid spotting method and liquid spotting apparatus for spotted material
JPH11344498A (en) * 1998-06-01 1999-12-14 Aloka Co Ltd Nozzle device
JP2000354811A (en) * 1999-04-16 2000-12-26 Juki Corp Viscid agent discharge control apparatus
JP2001242183A (en) * 2000-02-28 2001-09-07 Hitachi Ltd Apparatus for processing liquid sample
JP3926546B2 (en) * 2000-09-22 2007-06-06 富士フイルム株式会社 Spotting detection method and spotting detection device
JP2002219810A (en) * 2001-01-26 2002-08-06 Seiko Epson Corp System and method for evaluating ink jet performance of functional liquid
JP2002340915A (en) * 2001-05-21 2002-11-27 Aloka Co Ltd Dispenser and dispensing method
JP2003172744A (en) * 2001-12-07 2003-06-20 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Noncontact type trace liquid dripping method and device
JP3767500B2 (en) * 2002-03-12 2006-04-19 セイコーエプソン株式会社 Method and apparatus for measuring dynamic contact angle
JP2003344426A (en) * 2002-05-22 2003-12-03 Aloka Co Ltd Dispensation device
JP2006061884A (en) * 2004-08-30 2006-03-09 Yec Co Ltd Sample liquid injection device
JP2006126013A (en) * 2004-10-28 2006-05-18 Shimadzu Corp Proteome analyzer
JP2007278986A (en) * 2006-04-11 2007-10-25 Seiko Epson Corp Apparatus and method for dispensation and apparatus and method for manufacturing microarray
JP4875507B2 (en) * 2007-02-07 2012-02-15 国立大学法人電気通信大学 Droplet applicator

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010175417A (en) 2010-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5686744B2 (en) Automatic analyzer
JP4117181B2 (en) Automatic analyzer
JP6581905B2 (en) Automatic analyzer
JP5178830B2 (en) Automatic analyzer
JP5222771B2 (en) Automatic analyzer
JP5752545B2 (en) Automatic analyzer
JP5210902B2 (en) Automatic analyzer and analysis method using automatic analyzer
EP2184610A1 (en) Cleaning equipment, method for detecting clogging of suction nozzle, and autoanalyzer
JP2013064673A (en) Automatic analyzer
US6890761B2 (en) Automatic analyzer
JP4538477B2 (en) Automatic analyzer
JP5337619B2 (en) Automatic analyzer and dispensing device control method
JP5941692B2 (en) Automatic analyzer
JP2009175132A (en) Automatic analysis apparatus and its dispensing method
CN110352355B (en) Automatic analysis device and analysis method
WO2007132632A1 (en) Cleaning equipment and automatic analyzer
JP2005017144A (en) Automatic analyzer
JP6121743B2 (en) Automatic analyzer
JP5606843B2 (en) Automatic analyzer
JP7305891B2 (en) automatic analyzer
JP6711690B2 (en) Automatic analyzer
JP2010286243A (en) Automatic analyzer
WO2019176298A1 (en) Automatic analysis device
JP2021173555A (en) Automatic analyzer
WO2023106039A1 (en) Automated analysis device

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110207

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110207

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110207

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120710

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120731

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120920

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121106

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121225

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130129

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130225

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160301

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5210902

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350