JP5180624B2 - 帯状ワークの露光方法および露光装置 - Google Patents

帯状ワークの露光方法および露光装置 Download PDF

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Description

本発明は、帯状ワークの露光方法に関する。より詳しくは、TABテープやリードフレーム等の電子部品を製造する露光工程において用いられ、露光マスクに形成されたパターンを長尺薄物銅基板等の帯状ワークに露光する露光方法および露光装置に関する。
帯状ワークの露光装置は、露光マスクに形成された回路パターンを、間欠的に搬送される帯状ワークの被露光領域に順次露光するように構成される。この手の装置では、一般的には、ロール体に巻かれた帯状ワークを順次繰り出し、搬送中の帯状ワークのうねりに対する矯正を行いつつ露光を行い、露光終了後に、再びロール体に巻き取る。
従来、上記うねりに対する矯正は、帯状ワーク上の所定箇所にパンチャーにより予めマーク孔を穿孔し、このマーク孔位置を基にマスクパターンの位置補正(調整)をしていた。この手法によると、専用のパンチャーが必要であり装置コストが高くなる。また、穿孔時のパーティクルが原因となって、歩留まりが低下することがある。
そこで、下記特許文献1のように、帯状ワークに前もって位置合せ用のマーク孔を開けずに、露光によって位置合わせ用の露光マークを形成し、この露光マークの位置と、帯状ワークの端部位置とを基にマスクパターンの位置補正を行う方法もある。
特開2001−60008号公報
しかし、特許文献1の手法では、露光を繰り返すうちにマスクパターンが帯状ワークからはみ出す不都合があり、実用には至らなかった。また、はみ出さない場合でも、この手法では、互いに連続するパターンの位置精度を所定範囲内に収める必要があるため、最初のマスクパターンの位置がずれていたり、角度を持っていたりすると、露光を繰り返して理想の位置に収束するまでに多くの露光回数が必要になった(図11参照)。(ここで、理想の位置とは、露光を繰り返しても露光された回路パターンが帯状ワークからはみ出さない位置となる。)本発明は、上述の問題に鑑みてなされたものであり、マスクパターンの位置が理想の位置に収束するまでの露光回数が少なくて済む、帯状ワークの露光方法および露光装置を提供することを目的とする。
上述の目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、
間欠搬送される帯状ワーク(W)上に露光マスク(7)への露光動作により互いに隣り合う回路パターン(P)を形成させる露光方法において、
初回の回路パターン(P)の露光時に露光マスク(7)を固定保持するマスク保持枠(62)に設けられた帯状ワーク(W)の側端位置を検出するエッジセンサ(63)の第1の出力(y1)を記憶し、
2回目の露光の前に、帯状ワーク(W)を所定の搬送距離(D)だけ搬送した後、初回の
回路パターン(P)の端部に露光された露光マーク(M1)と、露光マスク(7)の端部に設けられた撮像窓(73)と、の位置合わせを行い、前記エッジセンサ(63)の第2の出力(y2)を記憶し、
前記第1の出力(y1)と、前記第2の出力(y2)から帯状ワーク(W)の中心線(CL2)に対する露光マスク(7)の中心線(CL1)の傾きを計算し、求められた傾きに基づいて露光マスク(7)の角度を、露光マスク(7)の中心線(CL1)と帯状ワーク(W)の中心線(CL2)が平行になるように補正し2回目の回路パターン(P)の露光を行う帯状ワークの露光方法である。
請求項1の発明によれば、露光マスク(7)の側辺に設けられたエッジセンサ(63)の第1の出力と第2の出力に基づいて、2回目の露光マスク(7)の角度補正が行われる。初回の露光の際に、露光マスク(7)が帯状ワーク(W)に対して角度を持っていても、露光マスクの(7)の角度補正が行われた状態で2回目の露光が行われる。そのため、2回目以降の露光において回路パターン(P)が帯状ワーク(W)の側端からはみだすことがない。従って、露光マスク(7)の理想の位置までの収束の露光回数が少なくてすむ。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の帯状ワークの露光方法において、
初回の露光の前に、露光マスク(7)の中心線(CL1)と帯状ワーク(W)の中心線(CL2)を同一直線上に配置したときのエッジセンサ(63)の基準出力(y0)を記憶し、
2回目の露光の前に、エッジセンサ(63)の前記基準出力(y0)と前記第1の出力(y1)と前記第2の出力(y2)から帯状ワーク(W)の中心線(CL2)に対する露光マスク(7)の中心線(CL1)の位置ずれを計算し、求められた位置ずれに基づいて露光マスク(7)の位置を、露光マスク(7)の中心線(7)と帯状ワークの中心線(CL2)が重なるように補正し2回目の回路パターン(P)の露光を行う帯状ワークの露
光方法である。
請求項2の発明のよれば、露光マスク(7)の中心線(CL1)と帯状ワーク(W)の中心線(CL2)を同一直線上に配置したときのエッジセンサ(63)の出力を基準出力(y0)として、1回目の露光時に得られた第1の出力(y1)と2回目の露光の前の第2の出力(y2)から帯状ワーク(W)に対する露光マスク(7)の位置ずれを計算するので、2回目の露光前の帯状ワーク(W)の中心線(CL2)と露光マスク(7)の中心線(CL1)の位置ずれ計算することができ、露光マスク(7)の位置を補正することができる。そのため、2回目の露光以降は回路パターン(P)が帯状ワーク(W)の幅方向に対して中央に位置するようになる。回路パターン(P)から帯状ワーク(W)の側端までの距離が均等になり、帯状ワーク(W)の片側に偏った回路パターン(P)が形成されることがない。また、帯状ワーク(W)のうねりが発生しても、回路パターン(P)の露光位置にマージンを持った露光が可能となる。
請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の帯状ワークの露光方法において、
2回目の露光の前に、帯状ワーク(W)を所定の搬送距離(D)だけ搬送した後、初回の回路パターン(P)の端部に露光された露光マーク(M1)と、露光マスク(7)の端部に設けられた撮像窓(73)と、の位置合わせを行い、エッジセンサ(63)の第2の出力(y2)を記憶し、2回目の回路パターン(P)の露光を行い、2回目の露光の、帯状ワーク(W)の中心線(CL2)に対する露光マスク(7)の中心線(CL1)の傾き
を前記第1の出力(y1)と前記第2の出力(y2)から求め、2回目の露光の際に行われた露光動作をN回行うとともに各露光時の露光マスク(7)の傾きをN回分記憶し、N回分の帯状ワーク(W)の中心線(CL2)に対する露光マスク(7)の中心線(CL1)の傾きの平均値を求め、
N+1回目の露光の前に、求められた傾きの平均値に基づいて露光マスク(7)の角度を補正しN+1回目の回路パターン(P)の露光を行う帯状ワークの露光方法である。
請求項3の発明によれば、N回の露光による露光マスク(7)の傾きの平均値を求めて、N+1回目の露光で露光マスク(7)を角度補正するので帯状ワーク(W)と露光マスク(7)の傾きが平均化され精度よく露光マスク(7)を角度補正することができる。
請求項4に記載の発明は、間欠搬送される帯状ワーク(W)上に露光マスク(7)への露光動作により互いに隣り合う回路パターン(P)を形成させる露光装置において、
露光マスク(7)に帯状ワーク(W)の1ピッチ分の搬送距離(D)に等しい間隔で、帯状ワーク(W)の露光領域に露光マーク(M1)を露光するマークパターン窓(72)と撮像窓(73)を設け、撮像窓(73)に撮像される露光マーク(M1)の位置に基づいて露光マスク(7)を位置合わせする手段と、
露光マスク(7)を固定保持するマスク保持枠(62)に設けられた帯状ワーク(W)の側端の位置を検出するエッジセンサ(63)の出力に基づいて露光マスク(7)と帯状ワーク(W)の位置ずれを計算し露光マスク(7)を、露光マスク(7)の中心線(7)と帯状ワーク(W)の中心線が平行になるように、位置合わせする手段を備えた帯状ワークの露光装置である。
請求項4の発明によれば、露光によって帯状ワーク(W)の露光領域に露光マーク(M1)が形成されるとともに、帯状ワーク(W)の1ピッチ分の搬送後、露光マーク(M1)に基づいて露光マスク(7)の位置合わせがされる。そして、帯状ワーク(W)の側端の位置を検出するエッジセンサ(63)の出力に基づいて露光マスク(7)と帯状ワーク(W)の位置ずれを補正することができるので、露光マスク(7)の理想の位置(回路パターン(P)が帯状ワーク(W)からはみ出すことのない位置)までの収束の露光回数が少なくてすむ。
なお、特許請求の範囲及び解決するための手段の各欄において各構成要素に付した括弧書きの符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
本発明によると、マスクパターンの位置が理想の位置に収束するまでの露光回数が少なくて済むようになる。
まず、実施の形態の1について説明する。
図1は本発明を実施するための露光装置1の全体構成を示す概略図、図2は本発明を実施するための露光装置1の要部を示す正面一部断面図、図3は図2のI−I線矢示図である。各図において、直交座標系の3軸をX,Y,Zとし、XY平面は水平面、Z軸方向は鉛直方向、Z軸周り方向はθ方向である。また図中、紙面左側が帯状ワークWの搬送上流側であり、紙面右側が搬送下流側である。
図1に示すように、露光装置1は、ワーク送出し機構2、ワークステージ機構3、グリップフィード機構4、光照射機構5、マスクステージ機構6、露光マスク7、撮像カメラ8、ワーク巻取り機構9及び制御装置10などを備える。
ワーク送出し機構2は、巻取体回転駆動部21、案内ローラ22、吸引箱23及び送りローラ24を備える。巻取体回転駆動部21は、巻取体W’を水平軸回りに回転駆動可能に支持する。ここで巻取体W’は、フォトレジストが塗布された長尺薄物銅基板等の帯状ワークWをリール状に巻き取ったものである。案内ローラ22は、吸引箱23の上流側において帯状ワークWを掛け渡した状態で水平軸回りに回転駆動自在に軸支される。吸引箱23は、U字状に弛んだ状態の帯状ワークWを収容可能な箱体であり、その底部はダクト231を介して吸引ポンプ232に接続される。送りローラ24は、吸引箱23の下流側において帯状ワークWを掛け渡した状態で水平軸回りに回転駆動自在に軸支される。
ワークステージ機構3は、吸着ステージ31及び昇降ローラ32を備える。吸着ステージ31は、帯状ワークWを水平保持するためのステージ面を有する。このステージ面には、帯状ワークWを真空吸引保持するための多数の吸着孔が穿設される。昇降ローラ32は、吸着ステージ31を挟んで帯状ワークWの搬送方向X1の上流側と下流側とに設置され、それぞれ昇降駆動可能とされる。昇降ローラ32は、帯状ワークWの搬送時には該帯状ワークWをステージ面から持ち上げて支持し、帯状ワークWの露光時には該帯状ワークWをステージ面に降ろすことができる。
グリップフィード機構4は、固定グリップ部41、可動グリップ部42及び駆動モータ43を備える。固定グリップ部41は、機枠44における最上流側に設置され、帯状ワークWを挟持する可動爪を有する。可動グリップ部42は、帯状ワークWを挟持しながら、機枠44に形成されたレール45に沿って帯状ワークWを搬送方向X1に移動させるように設置され、帯状ワークWを挟持する可動爪を有する。駆動手段43は、可動グリップ部42を搬送開始位置A(図中左の三角マーク)から搬送終端位置B(図中右の三角マーク)に、また搬送終端位置Bから搬送開始位置Aに往復動できるように構成される。
光照射機構5は、図2に示すように、紫外線ランプ51、光学系52及びケース53などから構成される。光学系52は、集光鏡54、反射鏡55、楕円ミラー56などからなり、次に示す配置とされる。即ち、紫外線ランプ51から発した光が、集光鏡54で集光でされた後、反射鏡55による反射、楕円ミラー56による光分布の均一化、平行光化などを経て、マスクステージ機構6における露光マスク7の上面に向けて照射される配置である。
図1にもどり、マスクステージ機構6は、XYθステージ61、マスク保持枠62及び
エッジセンサ63などを備える。XYθステージ61は、駆動部611によりXYθ各方
向に駆動可能とされる。図2に示すように、マスク保持枠62は、ネジ留めまたは係止等
の固定手段により露光マスク7を着脱自在に固定保持する。マスク保持枠62には、ブラ
ケット64を介してエッジセンサ63が取り付けられている。図3に示すように、エッジ
センサ63は、帯状ワークWと露光マスク7の側端の位置を検出するために、帯状ワーク
Wの側端に配置されている。エッジセンサ63の出力は、帯状ワークWの側端の位置に応
じて可変される。なお、エッジセンサ63は帯状ワークWの側端2箇所の位置情報を検出
可能なように、帯状ワークWの搬送方向X1に沿ってマスク保持枠62における両端2箇
所に取り付けられている。2箇所に取り付けられたエッセンサ63の出力の平均値は、
露光マスク7の搬送方向X1に対する中心位置におけるエッジセンサ63の出力値として
用いる。
露光マスク7は、図3に示すように、回路パターン窓(本明細書ではこれを単にマスクパターンと記すこともある)71、マークパターン窓72及び撮像窓73を備えたフィルム体またはガラス板体である。マークパターン窓72の中心位置と撮像窓73の中心位置との距離は、帯状ワークWの1ピッチ分の搬送距離Dに等しい。マークパターン窓72は、撮像窓73より小さいサイズの円形状とされる。例えば、マークパターン窓72の直径が約0.5mmの場合、撮像窓73の直径は1.5〜2.0mm程度となる。
図2に示す撮像カメラ8は、CCD(Charge Coupled Device)等の光電変換素子を有し、撮像によって得た画像データを制御部10に送信可能な構成とされる。その撮像領域は、図3に示す撮像窓73よりも大きなサイズの長方形状とされる。撮像カメラ8は、2つの撮像窓73の上方にそれぞれ1台ずつ合計2台が設置されている。
図1にもどり、ワーク巻取り機構9は、案内ローラ91、吸引箱92、送りローラ93及び巻取体回転駆動部94を備える。案内ローラ91は、吸引箱92の上流側において帯状ワークWを掛け渡した状態で水平軸回りに回転駆動自在に軸支される。吸引箱92は、U字状に弛んだ状態の帯状ワークWを収容可能な箱体であり、その底部はダクト921を介して吸引ポンプ922に接続される。送りローラ93は、吸引箱92の下流側において帯状ワークWを掛け渡した状態で水平軸回りに回転駆動自在に軸支される。巻取体回転駆動部94は、露光処理が終了した帯状ワークWをリール状の巻取体W’’に巻き取る部位である。
制御装置10は、タッチパネル等の入出力装置、メモリチップやマイクロプロセッサなどを主体とした適当なハードウエア、このハードウエアを動作させるためのコンピュータプログラムを組み込んだハードディスク装置、及び各構成部とデータ通信を行う適当なインターフェイス回路などから構成され、露光装置1が一連の露光動作を行うための指令信号を各構成部に送るように構成される。なお、この一連の露光動作の一部をPLC(プログラマブルロジックコントローラ)で行うようにしてもよい。
次に、以上のように構成された露光装置1の動作について説明する。図4は露光装置1の動作を示すフローチャート、図5は初期位置合わせ動作を説明するための図、図6は露光された露光領域を説明するための図、図7は初期位置合わせに用いる補正量算出法を説明するための図、図8は初期位置合わせ動作を説明するための図、図9は初期位置合わせ以降に帯状ワークWに露光・転写された回路パターンPを示す図である。図6,7,8において、帯状ワークWの中心線CL2を点線で表記し、露光マスク7および第1露光領域R1の中心線CL1を一点鎖線で表記している。
図4に示す各ステップの順にそれぞれの動作内容を説明する。
〔ステップS1〕
先ず、帯状ワークWおよび露光マスク7をセットした時のエッジセンサ63の出力を露光装置1の設計値から求める。このとき、帯状ワークWの中心線CL2と、露光マスク7の中心線CL1が一直線上に並んだ状態とする。このときのエッジセンサ63の出力をy0とする。y0は、本発明の基準出力に対応する。
そして、次のようにして露光装置1に帯状ワークWをセットする。即ち、巻取体w’から引出した帯状ワークWの始端部を吸引箱23、ワークステージ機構3、グリップフィード機構4及び吸引箱92などを通して巻取体回転駆動部94に巻き付ける。マスクステージ機構6のマスク保持枠62に所定の露光マスク7を固定する。露光マスク7の中心線CL1が帯状ワークWの中心線CL2と一致するようにマスクステージ機構6のマスク保持枠62を位置調整する。ここまでは手動で行う。次いで、帯状ワークWにおける1回目に露光すべき領域(第1露光領域)R1を露光マスク7の下方に位置させる。この状態で昇降ローラ32を下降させ、吸着ステージ31を作動させて、帯状ワークWを吸着ステージ31に固定した後、グリップフィード機構4の固定グリップ部41を閉とし、ステップS2へ進み、1回目の露光を行う。
〔ステップS2〕
紫外線ランプ51は光を照射する。この光は、図5(A)に示すように、回路パターン窓71およびマークパターン窓72から出て、第1露光領域R1に回路パターンPと露光マークM1を露光する。このとき、露光マスク7の中心線CL1と第1露光領域R1の中心線は同一の線となるので、第1露光領域R1の中心線もCL1と表記する。なお、露光マークM1は、露光マスク7に形成されたマークパターン窓72により、露光されるマークである。露光される場所は、帯状ワークWの搬送方向X1に対して送り出し側(図5(A)の左側)となる。露光の結果、2つの露光マークM1が帯状ワークWに形成される。このときの、帯状ワークWと第1露光領域R1の位置関係を図6(A)に示す。第1露光領域R1の中心線CL1と帯状ワークWの中心線CL2は位置ずれしている。位置ずれは、マスクステージ機構6のマスク保持枠62と帯状ワークWの手動による位置合わせが起因となり発生している。なお、この時点で第1露光領域R1は露光マスク7を介した光により露光されるが、このとき形成された回路パターンPは無効(製品化されない)なものとして処理される。
〔ステップS3〕
エッジセンサ63は、ステップS2のときの帯状ワークWの側端を検出し、それらの位置情報y1を制御装置10に送る。y1は本発明の第1の出力に対応する。制御装置10は、2つのエッジセンサ63から送られた位置情報y1の平均処理を行い、この平均値とステップS1で設定したy0(露光マスク7の中心線CL1と帯状ワークWの中心線が一直線上に並んだときのエッジセンサ63の設計出力値)との差から、第1距離Y1を求める。第1距離Y1は、帯状ワークWの中心線CL2と第1露光領域R1の中心線CL1との距離となる。図7の右側に第1露光領域R1の中心線CL1と帯状ワークWの中心線CL2とが第1距離Y1離れている場合の位置関係を示す。第1距離Y1は第1露光領域R1の中心線CL1上で第1露光領域のR1の中心位置から、Y方向(帯状ワークWの側端方向)に伸ばした線が帯状ワークWの中心線CL2と交差する点までの長さとなる。
〔ステップS4〕
図5(B)に示すように、帯状ワークWを1ピッチ搬送する。この搬送は次のようにして行う。即ち、先ず、グリップフィード機構4の固定グリップ部41を開にすると共に、可動グリップ部42を閉にし、吸着ステージ31の吸引状態を解除し、昇降ローラ32を上昇させる。次いで、グリップフィード機構4における駆動モータ43を駆動させることにより、可動グリップ部42を搬送開始位置Aから搬送終端位置Bに移動させ、帯状ワークWを1ピッチ分の搬送距離Dだけ搬送方向X1に移動させる。そうすると、露光マスク7の撮像窓73が第1の露光領域R1に露光された露光マークM1の上部にくるようになる。露光マスク7の中心線CL1と帯状ワークWの中心線CL2は露光マスク7をステップS1のときに手動で位置合わせしているため、帯状ワークWが搬送距離Dだけ搬送方向X1移動しても、露光マークM1の中心と撮像窓73の中心は一致しない。図6(B)に搬送方向X1に移動後の露光マスク7と第1露光領域R1の位置関係を示す。
その後、昇降ローラ32を下降させ、固定グリップ部41を閉にし、可動グリップ部42を開にすると共に、吸着ステージ31を吸引状態にする。可動グリップ部42はグリップフィード機構4における駆動モータ43を駆動させることにより搬送開始位置Aに戻る。
〔ステップS5〕
図5(C)に示すように、撮像カメラ8は、1回目の露光で形成された露光マークM1を撮像窓73越しに撮像し、その画像データを制御装置10に送る。制御装置10は、撮像カメラ8から送られた画像データに基づいて、撮像窓73の中心位置と露光マークM1の中心位置のずれ量(中心位置間のずれ量)を求める。
〔ステップS6〕
制御装置10は、上記ずれ量に基づいて、撮像窓73の中心位置と露光マークM1の中心位置とが一致するように、XYθステージ61を駆動制御し、露光マスク7の位置合わせを行う。露光マスク7には撮像窓73が2箇所設けられており、また露光マークM1は、2箇所に付されているので両者の中心を位置合わせすることにより、第1露光領域R1の中心線CL1と露光マスク7の中心線CL1が一直線上に並ぶことになる。図6(C)に一直線上に並んだ状態を示す。
〔ステップS7〕
エッジセンサ63は、このときの帯状ワークWの側端を検出し、それらの位置情報y2を制御装置10に送る。y2は本発明の第2の出力に対応する。制御装置10は、2つのエッジセンサ63から送られた位置情報y2の平均処理を行い、この平均値とステップS1で設定したy0(露光マスク7の中心線CL1と帯状ワークWの中心線CL2が一直線上に並んだときのエッジセンサ63の設計出力値)との差から、第2距離Y2を求める。第2距離Y2は、帯状ワークWの中心線CL2と露光マスク7の中心線CL1との距離となる。図7の左側に露光マスク7の中心線CL1と帯状ワークWの中心線CL2とが第2距離Y2離れている場合の位置関係を示す。第2距離Y2は露光マスク7の中心線CL1上で露光マスク7の中心位置から、Y方向に伸ばした線の帯状ワークWの中心線CL2と交差する点までの長さとなる。
〔ステップS8〕
制御装置10は、ステップS3で求めた第1距離Y1、ステップS7で求めた第2距離Y2、及び帯状ワークWの1ピッチ分の搬送距離Dに基づき、次の計算式(1)により角度θ2を求める。角度θ2は、帯状ワークWの中心線CL2と第1露光領域R1および露光マスク7の中心線CL1から構成される傾き角となる。図7に角度θ2を示す。図7および図8では説明をわかりやすくするため、傾き角θ2を大きく表記している。
θ2=tan−1[(Y2−Y1)/D]・・・・(1)
〔ステップS9〕
制御装置10は、XYθステージ61を駆動制御し、図6(D)に示すように、露光マスク7の位置補正を行う。図6(D)の露光マスク7と第1露光領域R1との位置関係を図8に示す。制御量は、露光マスク7を、Y方向に「−Y2」移動し、θ方向に「−θ2」の角度だけ回転させる。露光マスク7を「−θ2」の角度だけ回転させることにより、露光マスク7の中心線CL1と帯状ワークWの中心線CL2とが平行になる。さらに、露光マスク7を「−Y2」の距離だけ移動させることにより、露光マスク7の中心線CL1と帯状ワークWの中心線CL2とが重なる。
この補正後の露光マスク7の位置で紫外線ランプ51の照射を行い、2回目の回路パターンPと露光マークM1を帯状ワークWに露光する。以上で初期位置合わせ(初期補正)の処理が終了する。
〔ステップS10〕
初期位置合わせの処理終了後に、帯状ワークWを1ピッチ分の搬送距離Dだけ移動させてからは、図9に示すように、帯状ワークWに露光された露光マークM1の中心と撮像窓73の中心の位置合わせを行い、順次露光を行っていく。
以降、帯状ワークWにおける長手方向に沿う中心線CL2と、露光マスク7における帯状ワークWの搬送方向X1についての中心線CL1とは、ほぼ一致する。
次に実施の形態の2について説明する。露光装置1の構成は、実施の形態の1と同様である。
実施の形態の1では、2回目の露光で露光マスク7の初期補正(帯状ワークWの中心線CL2と露光マスク7の中心線CL1の位置合わせ)を実行したが、実施の形態の2では、露光マークM1の中心と撮像窓73の中心の位置合わせを用いて、複数回(N回)の露光を行った後に、露光マスク7の傾きの平均θnを求め露光マスク7の初期補正を行う。
図10にN回後(Nが3の場合)に初期補正を行う場合の露光マスク7と露光領域の位置関係を示す。図10では初回に露光された領域をR1、2回目に露光された領域をR2と示し、3回目の露光のための露光マスクの位置を7と示し、露光マスクの7の傾きをθ3と示している。
露光マスク7の手動による位置合わせが帯状ワークWに対して精度良く行われている場合は、このようにN回の露光を行った後にそれぞれの傾きを平均化すると手動による位置合わせ誤差を正確に検出することができる。
これにより、複数回の露光による露光マスクの傾きのばらつきが平均化され精度よく露光マスク7の中心線CL1と帯状ワークWの中心線CL2の位置合わせすることができる。そして、露光マスク7の理想の位置(回路パターンPが帯状ワークWからはみ出ことのない位置)までの収束の露光回数が少なくてすむ。
本発明を実施するための露光装置の全体構成を示す概略図である。 本発明を実施するための露光装置の要部を示す正面一部断面図である。 図2のI−I線矢示図である。 露光装置の動作を示すフローチャートである。 初期位置合わせ動作を説明するための図である。 露光された露光領域を説明するための図である。 初期位置合わせに用いる補正量算出法を説明するための図である。 初期位置合わせ動作を説明するための図である。 初期位置合わせ以降に帯状ワークに露光・転写された回路パターンPを示す図である。 N回後(Nが3の場合)に初期位置合わせを行う場合の露光マスクと露光領域の位置関係を示す図である。 従来の露光動作を説明するための図である。
符号の説明
1 露光装置
2 ワーク送出し機構
3 ワークステージ機構
4 グリップフィード機構
5 光照射機構
6 マスクステージ機構
7 露光マスク
8 撮像カメラ
9 ワーク巻取り機構
D 搬送距離
P 回路パターン
W 帯状ワーク
10 制御装置
21 巻取体回転駆動部
22 案内ローラ
23 吸引箱
24 送りローラ
31 吸着ステージ
32 昇降ローラ
41 固定グリップ部
43 駆動モータ
43 駆動手段
44 機枠
45 レール
51 紫外線ランプ
52 光学系
53 ケース
54 集光鏡
55 反射鏡
61 XYθステージ
62 マスク保持枠
63 エッジセンサ
64 ブラケット
71 回路パターン窓
72 マークパターン窓
73 撮像窓
91 案内ローラ
92 吸引箱
93 送りローラ
M1 露光マーク
M2 露光マーク
R1 第1露光領域
X1 搬送方向
Y1 第1距離
Y2 第2距離
y1 位置情報
y2 位置情報
231 ダクト
232 吸引ポンプ
611 駆動部
921 ダクト
922 吸引ポンプ
CL1 露光マスクの中心線
CL2 帯状ワークの中心線

Claims (4)

  1. 間欠搬送される帯状ワーク(W)上に露光マスク(7)への露光動作により互いに隣り合う回路パターン(P)を形成させる露光方法において、
    初回の回路パターン(P)の露光時に露光マスク(7)を固定保持するマスク保持枠(62)に設けられた帯状ワーク(W)の側端位置を検出するエッジセンサ(63)の第1の出力(y1)を記憶し、
    2回目の露光の前に、帯状ワーク(W)を所定の搬送距離(D)だけ搬送した後、初回の回路パターン(P)の端部に露光された露光マーク(M1)と、露光マスク(7)の端部に設けられた撮像窓(73)と、の位置合わせを行い、前記エッジセンサ(63)の第2の出力(y2)を記憶し、
    前記第1の出力(y1)と、前記第2の出力(y2)から帯状ワーク(W)の中心線(CL2)に対する露光マスク(7)の中心線(CL1)の傾きを計算し、求められた傾きに基づいて露光マスク(7)の角度を、露光マスク(7)の中心線(CL1)と帯状ワーク(W)の中心線(CL2)が平行になるように補正し2回目の回路パターン(P)の露光を行う帯状ワークの露光方法。
  2. 請求項1に記載の帯状ワークの露光方法において、
    初回の露光の前に、露光マスク(7)の中心線(CL1)と帯状ワーク(W)の中心線(CL2)を同一直線上に配置したときのエッジセンサ(63)の基準出力(y0)を記憶し、
    2回目の露光の前に、エッジセンサ(63)の前記基準出力(y0)と前記第1の出力(y1)と前記第2の出力(y2)から帯状ワーク(W)の中心線(CL2)に対する露光マスク(7)の中心線(CL1)の位置ずれを計算し、求められた位置ずれに基づいて露光マスク(7)の位置を、露光マスク(7)の中心線(7)と帯状ワークの中心線(CL2)が重なるように補正し2回目の回路パターン(P)の露光を行う帯状ワークの露
    光方法。
  3. 請求項1または2に記載の帯状ワークの露光方法において、
    2回目の露光の前に、帯状ワーク(W)を所定の搬送距離(D)だけ搬送した後、初回の回路パターン(P)の端部に露光された露光マーク(M1)と、露光マスク(7)の端部に設けられた撮像窓(73)と、の位置合わせを行い、エッジセンサ(63)の第2の出力(y2)を記憶し、2回目の回路パターン(P)の露光を行い、2回目の露光の、帯状ワーク(W)の中心線(CL2)に対する露光マスク(7)の中心線(CL1)の傾き
    を前記第1の出力(y1)と前記第2の出力(y2)から求め、2回目の露光の際に行われた露光動作をN回行うとともに各露光時の露光マスク(7)の傾きをN回分記憶し、N回分の帯状ワーク(W)の中心線(CL2)に対する露光マスク(7)の中心線(CL1)の傾きの平均値を求め、
    N+1回目の露光の前に、求められた傾きの平均値に基づいて露光マスク(7)の角度を補正しN+1回目の回路パターン(P)の露光を行う帯状ワークの露光方法。
  4. 間欠搬送される帯状ワーク(W)上に露光マスク(7)への露光動作により互いに隣り合う回路パターン(P)を形成させる露光装置において、
    露光マスク(7)に帯状ワーク(W)の1ピッチ分の搬送距離(D)に等しい間隔で、帯状ワーク(W)の露光領域に露光マーク(M1)を露光するマークパターン窓(72)と撮像窓(73)を設け、撮像窓(73)に撮像される露光マーク(M1)の位置に基づいて露光マスク(7)を位置合わせする手段と、
    露光マスク(7)を固定保持するマスク保持枠(62)に設けられた帯状ワーク(W)の側端の位置を検出するエッジセンサ(63)の出力に基づいて露光マスク(7)と帯状ワーク(W)の位置ずれを計算し露光マスク(7)を、露光マスク(7)の中心線(7)と帯状ワーク(W)の中心線が平行になるように、位置合わせする手段を備えた帯状ワークの露光装置。
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