JP5169737B2 - Electro-optical device and electronic apparatus - Google Patents

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本発明は、電気光学装置及び電子機器に係り、特に有機エレクトロルミネッセンス材料を備えた電気光学装置及び当該電気光学装置を備える電子機器に関する。   The present invention relates to an electro-optical device and an electronic apparatus, and more particularly, to an electro-optical device including an organic electroluminescence material and an electronic apparatus including the electro-optical device.

近年、画素電極(陽極)及び陰極の間に、有機蛍光材料等の発光材料からなる発光素子が挟持された構造のカラー電気光学装置、特に発光材料として有機エレクトロルミネッセンス(有機EL)材料を用いた有機EL表示装置の開発が行われている。以下、従来の電気光学装置(有機EL表示装置)について簡単に説明する。   In recent years, a color electro-optical device having a structure in which a light emitting element made of a light emitting material such as an organic fluorescent material is sandwiched between a pixel electrode (anode) and a cathode, in particular, an organic electroluminescence (organic EL) material is used as the light emitting material. An organic EL display device has been developed. A conventional electro-optical device (organic EL display device) will be briefly described below.

図13は、従来の電気光学装置の配線構造を示す図である。図13に示すように、従来の電気光学装置は、複数の走査線901と、走査線901に対して交差する方向に延びる複数の信号線902と、信号線902に並行して延びる複数の発光用電源配線903とがそれぞれ配線され、走査線901と信号線902との各交点毎に、画素領域Aが設けられている。各信号線902は、シフトレジスタ、レベルシフタ、ビデオライン、及びアナログスイッチを備えるデータ側駆動回路904に接続されており、各走査線901は、シフトレジスタ及びレベルシフタを備える走査側駆動回路905に接続されている。   FIG. 13 is a diagram illustrating a wiring structure of a conventional electro-optical device. As shown in FIG. 13, the conventional electro-optical device includes a plurality of scanning lines 901, a plurality of signal lines 902 extending in a direction intersecting the scanning lines 901, and a plurality of light emitting elements extending in parallel with the signal lines 902. A power supply wiring 903 is provided, and a pixel region A is provided at each intersection of the scanning line 901 and the signal line 902. Each signal line 902 is connected to a data side driving circuit 904 including a shift register, a level shifter, a video line, and an analog switch, and each scanning line 901 is connected to a scanning side driving circuit 905 including a shift register and a level shifter. ing.

また、画素領域Aの各々には、走査線901を介して走査信号がゲート電極に供給されるスイッチング薄膜トランジスタ913と、このスイッチング薄膜トランジスタ913を介して信号線902から供給される画像信号を保持する保持容量Capと、保持容量Capによって保持された画像信号がゲート電極に供給されるカレント薄膜トランジスタ914と、このカレント薄膜トランジスタ914を介して発光用電源配線903に電気的に接続されたときに発光用電源配線903から駆動電流が流れ込む画素電極911と、この画素電極911と陰極912との間に挟み込まれる発光層910とが設けられている。陰極912は、陰極用電源回路931に接続されている。   Each pixel region A has a switching thin film transistor 913 to which a scanning signal is supplied to the gate electrode via the scanning line 901 and a holding for holding an image signal supplied from the signal line 902 via the switching thin film transistor 913. The capacitor Cap, the current thin film transistor 914 to which the image signal held by the holding capacitor Cap is supplied to the gate electrode, and the light emission power supply wiring when electrically connected to the light emission power supply wiring 903 via the current thin film transistor 914 A pixel electrode 911 into which a driving current flows from 903 and a light emitting layer 910 sandwiched between the pixel electrode 911 and the cathode 912 are provided. The cathode 912 is connected to the cathode power supply circuit 931.

上記の発光層910には、赤色に発光する発光層910R、緑色に発光する発光層910G、青色に発光する発光層910Bの3種の発光素子が含まれ、各発光層910R,910G,910Bがストライプ配置されている。そして、カレント薄膜トランジスタ914を介して各発光層910R,910G,910Bに接続される発光用電源配線903R,903G,903Bは、それぞれ発光用電源回路932に接続されている。各色毎に発光用電源配線が配線されているのは、発光層910の駆動電位が各色毎に異なるためである。   The light emitting layer 910 includes three types of light emitting elements, a light emitting layer 910R that emits red light, a light emitting layer 910G that emits green light, and a light emitting layer 910B that emits blue light. The light emitting layers 910R, 910G, and 910B include Striped arrangement. The light emitting power supply wirings 903R, 903G, and 903B connected to the light emitting layers 910R, 910G, and 910B via the current thin film transistor 914 are connected to the light emitting power supply circuit 932, respectively. The reason why the power supply wiring for light emission is wired for each color is that the driving potential of the light emitting layer 910 is different for each color.

以上の構成において、走査線901に走査信号が供給されてスイッチング薄膜トランジスタ913がオン状態になると、そのときに信号線902に供給されている画像信号に応じた電荷が保持容量Capに保持される。この保持容量Capに保持された電荷の量に応じて、カレント薄膜トランジスタ914のオン・オフ状態が決まる。そして、カレント薄膜トランジスタ914を介して発光用電源配線903R,903G,903Bから画素電極911に電流が流れ、更に発光層910を介して陰極912に駆動電流が流れる。このとき、発光層910を流れた電流量に応じた量の発光が発光層910から得られる。   In the above configuration, when a scanning signal is supplied to the scanning line 901 and the switching thin film transistor 913 is turned on, electric charge corresponding to the image signal supplied to the signal line 902 at that time is held in the holding capacitor Cap. The on / off state of the current thin film transistor 914 is determined according to the amount of charge held in the storage capacitor Cap. Then, a current flows from the light emitting power supply wirings 903R, 903G, and 903B to the pixel electrode 911 via the current thin film transistor 914, and further, a drive current flows to the cathode 912 via the light emitting layer 910. At this time, light emission corresponding to the amount of current flowing through the light emitting layer 910 is obtained from the light emitting layer 910.

ところで、図13に示した電気光学装置は、走査線901、信号線902、陰極912、発光用電源配線903(903R,903G,903B)、走査側駆動回路905、及び画素領域Aがガラス等の透明基板(表示基板)上に形成され、陰極用電源回路931、発光用電源回路932、及びデータ側駆動回路904等の回路が可撓性のあるフレキシブル基板(中継基板)上に配置された構成とされることがある。   By the way, in the electro-optical device shown in FIG. 13, the scanning line 901, the signal line 902, the cathode 912, the light-emitting power supply wiring 903 (903R, 903G, 903B), the scanning side driving circuit 905, and the pixel region A are made of glass or the like. A configuration in which circuits such as a cathode power supply circuit 931, a light emission power supply circuit 932, and a data side driving circuit 904 are formed on a transparent substrate (display substrate) and arranged on a flexible flexible substrate (relay substrate). Sometimes it is said.

かかる構成の場合には、基板に対してフレキシブル基板を固着させ、走査線901、信号線902、陰極912、及び発光用電源配線903とフレキシブル基板上に形成された回路とを電気的に導通させる必要がある。基板とフレキシブル基板との固着及び電気的な接続は、基板とフレキシブル基板との間に導電粒子を含む異方性導電膜を配置し、フレキシブル基板を基板に対して圧着させることにより行われる。   In such a configuration, the flexible substrate is fixed to the substrate, and the scanning line 901, the signal line 902, the cathode 912, and the light-emitting power supply wiring 903 are electrically connected to the circuit formed on the flexible substrate. There is a need. The fixing and electrical connection between the substrate and the flexible substrate are performed by disposing an anisotropic conductive film containing conductive particles between the substrate and the flexible substrate and pressing the flexible substrate against the substrate.

上述した電気光学装置に設けられる発光層910を安定して発光させるためには、発光用電源配線903から画素電極911に印加する駆動電流の電位変動をできるだけ少なくすることが要求される。特に、図13に示した電気光学装置は電流駆動型の電気光学装置であり、表示ムラ及びコントラスト低下等の表示上の不具合を防止するためには、陰極912及び発光用電源配線903の配線抵抗等による電圧降下を極力抑える必要がある。このため、陰極912及び発光用電源配線903は、走査線901及び信号線902よりも幅広に形成されている。   In order to stably emit light from the light emitting layer 910 provided in the above-described electro-optical device, it is required to reduce the potential fluctuation of the driving current applied from the light emitting power supply wiring 903 to the pixel electrode 911 as much as possible. In particular, the electro-optical device shown in FIG. 13 is a current-driven electro-optical device. In order to prevent display defects such as display unevenness and contrast reduction, the wiring resistance of the cathode 912 and the light-emitting power supply wiring 903 is used. It is necessary to minimize the voltage drop due to the above. For this reason, the cathode 912 and the light-emitting power supply wiring 903 are formed wider than the scanning line 901 and the signal line 902.

基板とフレキシブル基板と固着させる際には、主として圧着部において生ずる電気的抵抗の均一化を図るために、固着部の全面に亘って圧着条件を同一にしたいという要求がある。この要求を満たすためには、固着部に設けられ、上述した種々の配線が接続される端子の形状を同一にする必要がある。   When the substrate and the flexible substrate are fixed, there is a demand to make the pressure bonding conditions the same over the entire surface of the fixing portion in order to make the electrical resistance generated mainly in the pressing portion uniform. In order to satisfy this requirement, it is necessary to make the shape of the terminal provided in the fixing portion to which the above-described various wirings are connected the same.

しかしながら、上述したように、図13に示した電気光学装置は電流駆動型の電気光学装置であるため、陰極912及び発光用電源配線903の配線幅を狭くすることは配線抵抗等による電圧降下を考慮すると困難である。また、走査線901及び信号線902は数が多く、これら全てを配置するためには細線化及び狭ピッチ化する必要があるため、走査線901及び信号線902の線幅を陰極912及び発光用電源配線903の線幅と同程度にすることも困難である。   However, as described above, since the electro-optical device shown in FIG. 13 is a current-driven electro-optical device, reducing the wiring width of the cathode 912 and the light-emitting power supply wiring 903 causes a voltage drop due to wiring resistance or the like. It is difficult to consider. In addition, since the scanning lines 901 and the signal lines 902 are large in number, and it is necessary to make the lines thin and narrow in order to arrange all of them, the line widths of the scanning lines 901 and the signal lines 902 are set to the cathode 912 and the light emission. It is also difficult to make it the same width as the power supply wiring 903.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、表示基板と中継基板との圧着条件を固着部全体に亘って同一にすることにより、固着部における電気的抵抗の不均一性を解消することができるとともに、コントラストの低下等の表示上の不具合を生ずることがない電気光学装置、及び当該電気光学装置を備える電子機器を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and eliminates the non-uniformity of electrical resistance in the fixed portion by making the pressure bonding conditions of the display substrate and the relay substrate the same throughout the fixed portion. It is an object of the present invention to provide an electro-optical device that does not cause display problems such as a decrease in contrast and an electronic apparatus including the electro-optical device.

上記課題を解決するために、本発明の電気光学装置は、基板上の有効領域に設けられた、第1の電極と、第2の電極と、前記第1の電極および前記第2の電極との間に設けられた発光層と、を有する電気光学素子と、前記有効領域の外側で前記第2の電極に接続された電極用配線と、を備え、前記電極用配線は前記基板の外周をなす第1の辺、第2の辺および第3の辺に沿って形成されており、前記電極用配線は、第1配線層に設けられた第1電極用配線と、第2配線層に設けられた第2電極用配線と、を有し、前記第1電極用配線と前記第2電極用配線とは、電気的に接続されており、前記第1の辺、前記第2の辺および前記第3の辺に沿って平面的に重なることを特徴とする。
上記課題を解決するために、本発明の電気光学装置は、基板上の有効領域に設けられた、第1の電極と第2の電極との間に挟まれた機能層を有する電気光学素子を備えた、複数の画素と、前記有効領域の外側で前記第2の電極に接続された電極用配線と、を含み、前記電極用配線は、前記基板の外周をなす複数の辺のうち少なくとも3辺に沿って形成され、かつ第1配線層に設けられた第1電極用配線と、第2配線層に設けられた第2電極用配線と、を有し、前記第1電極用配線と前記第2電極用配線とは、電気的に接続されており、かつ少なくとも1部分は平面的に重なっていることを特徴とする。
上記課題を解決するために、本発明の電気光学装置の製造方法は、外部接続用端子が形成された電気光学装置の製造方法であって、前記外部接続用端子を、導電材料を含有した液体材料を塗布することにより形成する工程を有することを特徴とする。
In order to solve the above problems, an electro-optical device according to the present invention includes a first electrode, a second electrode, the first electrode, and the second electrode provided in an effective region on a substrate. An electro-optic element having a light emitting layer provided between, and an electrode wiring connected to the second electrode outside the effective region, the electrode wiring extending around the outer periphery of the substrate Formed along the first side, the second side, and the third side, and the electrode wiring is provided in the first wiring layer provided in the first wiring layer and the second wiring layer. a wiring and a second electrode which is a, wherein the first electrode wire and the second electrode wiring lines, are electrically connected, the first side, said second side and said It is characterized by overlapping in a plane along the third side.
In order to solve the above problems, an electro-optical device according to the present invention includes an electro-optical element having a functional layer sandwiched between a first electrode and a second electrode provided in an effective region on a substrate. A plurality of pixels, and an electrode wiring connected to the second electrode outside the effective region, wherein the electrode wiring is at least 3 of a plurality of sides forming an outer periphery of the substrate A first electrode wiring provided along the side and provided in the first wiring layer; and a second electrode wiring provided in the second wiring layer, wherein the first electrode wiring and the The second electrode wiring is electrically connected, and at least one portion overlaps in a plane.
In order to solve the above problems, an electro-optical device manufacturing method of the present invention is an electro-optical device manufacturing method in which an external connection terminal is formed, and the external connection terminal is a liquid containing a conductive material. It has the process of forming by apply | coating material, It is characterized by the above-mentioned.

また、少なくとも前記第1電極用配線と前記第2電極用配線のどちらか一方は、前記第1の辺、前記第2の辺および前記第3の辺に沿って前記第2の電極と電気的に接続されていることを特徴とする。
また、前記第1電極用配線および前記第2電極用配線は、前記基板の外周をなす複数の辺のうち3辺に沿って平面的に重なっていることを特徴とする。
また、前記第1の電極に接続されたトランジスタを有し、前記トランジスタのゲート電極は、前記第1配線層に設けられ、前記トランジスタのソース又はドレイン電極は、前記第2配線層に設けられていることを特徴とする。
また、前記機能層は、有機エレクトロルミネッセンス材料から構成されていることを特徴とする。
また、前記外部接続用端子には凸状の絶縁膜が形成されてなり、前記凸部によって形成された領域に前記液体材料を塗布することを特徴とする。

Further, at least one of the first electrode wiring and the second electrode wiring is electrically connected to the second electrode along the first side, the second side, and the third side. It is characterized by being connected to.
Further, the first electrode wiring and the second electrode wiring overlap in a plane along three sides among a plurality of sides forming the outer periphery of the substrate.
A transistor connected to the first electrode; a gate electrode of the transistor is provided in the first wiring layer; and a source or drain electrode of the transistor is provided in the second wiring layer. It is characterized by being.
The functional layer is made of an organic electroluminescent material.
Further, a convex insulating film is formed on the external connection terminal, and the liquid material is applied to a region formed by the convex portion.

また、前記液体液体材料をインクジェット法により塗布することを特徴とする。   Further, the liquid liquid material is applied by an ink jet method.

また、上記製造方法を用いて製造されたことを特徴とする電気光学装置。   An electro-optical device manufactured using the above manufacturing method.

さらには上記に記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。   Furthermore, an electronic apparatus comprising the electro-optical device described above.

以下、図面を参照して本発明の一実施形態による電気光学装置及び電子機器について詳細に説明する。尚、以下の説明で参照する各図は、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。   Hereinafter, an electro-optical device and an electronic apparatus according to an embodiment of the invention will be described in detail with reference to the drawings. Each drawing referred to in the following description has a different scale for each layer and each member so that each layer and each member can be recognized on the drawing.

図1は、本発明の一実施形態による電気光学装置を模式的に示す分解斜視図である。図1に示すように、本実施形態の電気光学装置10は、大別すると表示基板20と、表示基板20に接続される中継基板30とから構成される。表示基板20は、スイッチング素子として薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor)を用いたアクティブマトリクス方式の有機EL装置である。   FIG. 1 is an exploded perspective view schematically showing an electro-optical device according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the electro-optical device 10 according to the present embodiment is roughly composed of a display substrate 20 and a relay substrate 30 connected to the display substrate 20. The display substrate 20 is an active matrix organic EL device using a thin film transistor as a switching element.

この表示基板20には、複数の走査線21が形成されており、この走査線21に交差する方向に延びる複数の信号線22が形成されている。また、表示基板20には、発光素子が複数形成された表示素子20aが設けられている。更に、図1においては図示を省略しているが、表示基板20には電源線及び陰極が形成されている。また、表示基板20の一端には、走査線21、信号線22、並びに不図示の電源線及び陰極各々に対する外部接続端子27が形成されている。   A plurality of scanning lines 21 are formed on the display substrate 20, and a plurality of signal lines 22 extending in a direction crossing the scanning lines 21 are formed. The display substrate 20 is provided with a display element 20a in which a plurality of light emitting elements are formed. Further, although not shown in FIG. 1, the display substrate 20 is provided with a power supply line and a cathode. Further, one end of the display substrate 20 is formed with scanning lines 21, signal lines 22, and external connection terminals 27 for power supply lines and cathodes (not shown).

尚、図1に示した電気光学装置10は、あくまでも主要な構成を模式的に示したものであり、実際の走査線21、信号線22、及び外部接続端子27は、極めて狭い間隔をもって多数が表示基板20上にそれぞれ形成されている点に注意されたい。また、外部接続端子27と走査線21との接続状態との接続状態も図1においては図示を省略している。   The electro-optical device 10 shown in FIG. 1 is a schematic diagram of the main configuration to the last, and there are many actual scanning lines 21, signal lines 22, and external connection terminals 27 with very narrow intervals. It should be noted that each is formed on the display substrate 20. Also, the connection state between the external connection terminal 27 and the scanning line 21 is not shown in FIG.

中継基板30は、可撓性を有するベース基板31上に複数の配線32が形成されており、更に中継基板30の所定位置に半導体チップ33を搭載した構成である。配線32の一端には、表示基板20に形成された走査線21及び信号線22等の配線と電気的に接続するための外部接続端子34が形成されている。尚、図1では、中継基板30上に半導体チップ33のみが実装された構成であるが、半導体チップ33が実装される部位以外の部位の所定位置に抵抗、コンデンサ、その他のチップ部品を実装しても良い。また、中継基板30に形成される配線32及び外部接続端子34も、その構造の理解を容易にするために、間隔を拡大して模式的に示すとともに、構造を簡略化して図示してある。   The relay substrate 30 has a configuration in which a plurality of wirings 32 are formed on a flexible base substrate 31 and a semiconductor chip 33 is mounted at a predetermined position of the relay substrate 30. At one end of the wiring 32, an external connection terminal 34 for electrically connecting to the wiring such as the scanning line 21 and the signal line 22 formed on the display substrate 20 is formed. In FIG. 1, only the semiconductor chip 33 is mounted on the relay substrate 30, but a resistor, a capacitor, and other chip components are mounted at predetermined positions other than the portion where the semiconductor chip 33 is mounted. May be. In addition, the wiring 32 and the external connection terminal 34 formed on the relay board 30 are also schematically shown with an enlarged interval and a simplified structure in order to facilitate understanding of the structure.

図1に示すように、中継基板30は、異方性導電膜40を介して表示基板20に固着される。このとき、中継基板30の外部接続端子34は異方性導電膜40を介して表示基板20の外部接続端子27と電気的に接続される。この異方性導電膜40は、一対の端子間を異方性を持たせて電気的に一括接続するために用いられる導電性のある高分子フィルムであって、例えば、図2に示すように、熱可塑性又は熱硬化性の接着用樹脂41aの中に多数の導電粒子41bを分散させることによって形成される。   As shown in FIG. 1, the relay substrate 30 is fixed to the display substrate 20 via an anisotropic conductive film 40. At this time, the external connection terminal 34 of the relay substrate 30 is electrically connected to the external connection terminal 27 of the display substrate 20 through the anisotropic conductive film 40. The anisotropic conductive film 40 is a conductive polymer film used to electrically connect a pair of terminals with anisotropy, and is, for example, as shown in FIG. It is formed by dispersing a large number of conductive particles 41b in a thermoplastic or thermosetting adhesive resin 41a.

図2は、異方性導電膜40により中継基板30と表示基板20とが固着される様子を示す断面図である。図2に示すように、表示基板20に形成された外部接続端子27と中継基板30に形成された外部接続端子34との間に導電粒子41bが挟持されるため、外部接続端子27と中継配線である外部接続端子34との間が電気的に接続されることになる。一方、外部接続端子27及び外部接続端子34が形成されている部位以外の部位においては、導電粒子41bが挟持されていても、接続端子が存在しないため、導通は取れていない。このようにして、外部接続端子27及び外部接続端子34との間のみで導通をとることができる。   FIG. 2 is a cross-sectional view showing how the relay substrate 30 and the display substrate 20 are fixed by the anisotropic conductive film 40. As shown in FIG. 2, since the conductive particles 41b are sandwiched between the external connection terminal 27 formed on the display substrate 20 and the external connection terminal 34 formed on the relay substrate 30, the external connection terminal 27 and the relay wiring are connected. Is electrically connected to the external connection terminal 34. On the other hand, in a portion other than the portion where the external connection terminal 27 and the external connection terminal 34 are formed, even if the conductive particles 41b are sandwiched, the connection terminal does not exist, and thus conduction is not achieved. In this way, conduction can be established only between the external connection terminal 27 and the external connection terminal 34.

異方性導電膜40を用いて表示基板20と中継基板30とを固着させるには、表示基板20を表面が粗面とされた案内板を有する載置台(何れも図示省略)上に配置し、表示基板20を真空吸着する。このとき、少なくとも表示基板20に対して中継基板30が固着される部位が案内板の上方に位置するように表示基板20を載置台上に載置する。ここで、表面が粗面とされた案内板を用いるのは、案内板と表示基板20の接触面積を低減して案内板からの熱放散を抑えることで、表示基板20に加える温度を低下させるためである。   In order to fix the display substrate 20 and the relay substrate 30 using the anisotropic conductive film 40, the display substrate 20 is placed on a mounting table (not shown) having a guide plate having a rough surface. The display substrate 20 is vacuum-sucked. At this time, the display substrate 20 is mounted on the mounting table so that at least a portion where the relay substrate 30 is fixed to the display substrate 20 is positioned above the guide plate. Here, the guide plate having a rough surface is used to reduce the temperature applied to the display substrate 20 by reducing the contact area between the guide plate and the display substrate 20 and suppressing heat dissipation from the guide plate. Because.

表示基板20の載置台上への載置が完了すると、中継基板30が固着される表示基板20の部位に異方性導電膜40を貼付し、更に、半導体チップ33が搭載された面を下側にして、外部接続端子34が異方性導電膜40の上方に位置するように中継基板30の位置合わせを行う。以上の工程が終了すると、図示しない加熱加圧ヘッドを用いて外部接続端子34が形成されている面の裏面を加熱・加圧して、外部接続端子34と表示基板20に形成されている外部接続端子27との導通をとるとともに、中継基板30を表示基板20に固着させる。このとき、加熱加圧ヘッドから中継基板30及び表示基板20に加える温度は百数十〜数百°程度であり、加える圧力は数メガパスカルである。以上の工程を経ることにより、中継基板30を表示基板20に固着させることができる。   When the mounting of the display substrate 20 on the mounting table is completed, the anisotropic conductive film 40 is attached to the portion of the display substrate 20 to which the relay substrate 30 is fixed, and the surface on which the semiconductor chip 33 is mounted is placed downward. The relay substrate 30 is aligned so that the external connection terminal 34 is positioned above the anisotropic conductive film 40 on the side. When the above steps are finished, the external connection formed on the external connection terminal 34 and the display substrate 20 is heated and pressurized on the back surface of the surface on which the external connection terminal 34 is formed using a heating and pressure head (not shown). Conductivity with the terminal 27 is established, and the relay substrate 30 is fixed to the display substrate 20. At this time, the temperature applied to the relay substrate 30 and the display substrate 20 from the heating and pressing head is about several hundreds to several hundreds of degrees, and the applied pressure is several megapascals. Through the above steps, the relay substrate 30 can be fixed to the display substrate 20.

次に、本実施形態の電気光学装置10の配線構造の詳細について説明する。図3は、本発明の一実施形態による電気光学装置の配線構造を模式的に示す図である。図3に示したように電気光学装置10は、複数の走査線21と、走査線21に対して交差する方向に延びる複数の信号線22と、信号線22に並行して延びる複数の発光用電源配線23とがそれぞれ配線されており、走査線21及び信号線22の各交点付近に、画素領域Aが設けられている。   Next, details of the wiring structure of the electro-optical device 10 of the present embodiment will be described. FIG. 3 is a diagram schematically showing a wiring structure of the electro-optical device according to the embodiment of the invention. As shown in FIG. 3, the electro-optical device 10 includes a plurality of scanning lines 21, a plurality of signal lines 22 extending in a direction intersecting the scanning lines 21, and a plurality of light emitting elements extending in parallel with the signal lines 22. A power supply wiring 23 is wired, and a pixel region A is provided in the vicinity of each intersection of the scanning line 21 and the signal line 22.

各信号線22には、シフトレジスタ、レベルシフタ、ビデオライン、及びアナログスイッチを備えるデータ側駆動回路33aが接続されている。また、各信号線22には、薄膜トランジスタを備える検査回路25が接続されている。更に、各走査線21には、シフトレジスタ及びレベルシフタを備える走査線駆動回路24が接続されている。   Each signal line 22 is connected to a data side drive circuit 33a including a shift register, a level shifter, a video line, and an analog switch. Each signal line 22 is connected to an inspection circuit 25 having a thin film transistor. Further, a scanning line driving circuit 24 having a shift register and a level shifter is connected to each scanning line 21.

また、画素領域Aの各々には、スイッチング薄膜トランジスタ52、保持容量Cap、カレント薄膜トランジスタ53、画素電極51、発光層50、及び陰極26が設けられる。スイッチング薄膜トランジスタ52は、そのゲート電極に走査線21が接続されており、走査線21から供給される走査信号に応じて駆動されてオン状態又はオフ状態となる。保持容量Capは、スイッチング薄膜トランジスタ52を介して信号線22から供給される画像信号を保持する。   In each of the pixel regions A, a switching thin film transistor 52, a storage capacitor Cap, a current thin film transistor 53, a pixel electrode 51, a light emitting layer 50, and a cathode 26 are provided. The switching thin film transistor 52 has a gate electrode connected to the scanning line 21 and is driven according to a scanning signal supplied from the scanning line 21 to be turned on or off. The holding capacitor Cap holds an image signal supplied from the signal line 22 via the switching thin film transistor 52.

カレント薄膜トランジスタ53は、そのゲート電極がスイッチング薄膜トランジスタ52及び保持容量Capに接続されており、保持容量Capによって保持された画像信号がゲート電極に供給される。画素電極51は、カレント薄膜トランジスタ53に接続されており、カレント薄膜トランジスタ53を介して発光用電源配線23に電気的に接続したときに発光用電源配線23から駆動電流が流れ込む。発光層50は画素電極51と陰極26との間に挟み込まれている。   The gate electrode of the current thin film transistor 53 is connected to the switching thin film transistor 52 and the storage capacitor Cap, and an image signal held by the storage capacitor Cap is supplied to the gate electrode. The pixel electrode 51 is connected to the current thin film transistor 53, and when the pixel electrode 51 is electrically connected to the light emission power supply wiring 23 via the current thin film transistor 53, a drive current flows from the light emission power supply wiring 23. The light emitting layer 50 is sandwiched between the pixel electrode 51 and the cathode 26.

上記、発光層50には、赤色に発光する発光層50R、緑色に発光する発光層50G、及び青色に発光する発光層50Bの3種の発光素子が含まれ、各発光層50R,50G,50Bがストライプ配置されている。そして、カレント薄膜トランジスタ53を介して各発光層50R,50G,50Bに接続される発光用電源配線23R,23G,23Bがそれぞれ、発光用電源回路33cに接続されている。各色毎に発光用電源配線23R,23G,23Bが配線されているのは、発光層50R,50G,50Bの駆動電位が各色毎に異なるためである。   The light emitting layer 50 includes three types of light emitting elements: a light emitting layer 50R that emits red light, a light emitting layer 50G that emits green light, and a light emitting layer 50B that emits blue light. The light emitting layers 50R, 50G, and 50B are included. Are arranged in stripes. The light emitting power supply wirings 23R, 23G, and 23B connected to the light emitting layers 50R, 50G, and 50B through the current thin film transistor 53 are connected to the light emitting power supply circuit 33c. The reason why the light-emitting power supply wirings 23R, 23G, and 23B are wired for each color is that the driving potentials of the light-emitting layers 50R, 50G, and 50B are different for each color.

また、本実施形態の電気光学装置においては、陰極26と発光用電源配線23R,23G,23Bとの間に静電容量C1が形成されている。電気光学装置10が駆動するとこの静電容量C1に電荷が蓄積される。電気光学装置10の駆動中に各発光用電源配線23を流れる駆動電流の電位が変動した場合には、蓄積された電荷が各発光用電源配線23に放電されて駆動電流の電位変動を抑制する。これにより、電気光学装置10の画像表示を正常に保つことができる。 In the electro-optical device of this embodiment, a capacitance C 1 is formed between the cathode 26 and the light-emitting power supply wirings 23R, 23G, and 23B. When the electro-optical device 10 is driven, charges are accumulated in the capacitance C 1 . When the potential of the drive current flowing through each light emission power supply line 23 varies during driving of the electro-optical device 10, the accumulated charge is discharged to each light emission power supply line 23 to suppress the potential fluctuation of the drive current. . Thereby, the image display of the electro-optical device 10 can be kept normal.

尚、この電気光学装置10においては、走査線21から走査信号が供給されてスイッチング薄膜トランジスタ52がオン状態になると、そのときの信号線22の電位が保持容量Capに保持され、保持容量Capに保持された電位に応じてカレント薄膜トランジスタ53のオン・オフ状態が決まる。そして、カレント薄膜トランジスタ53のチャネルを介して、発光用電源配線23R,23G,23Bから画素電極51に駆動電流が流れ、更に発光層50R,50G,50Bを介して陰極26に電流が流れる。このとき、発光層50を流れた電流量に応じた量の発光が発光層50から得られる。   In the electro-optical device 10, when a scanning signal is supplied from the scanning line 21 and the switching thin film transistor 52 is turned on, the potential of the signal line 22 at that time is held in the holding capacitor Cap and held in the holding capacitor Cap. The on / off state of the current thin film transistor 53 is determined in accordance with the applied potential. A drive current flows from the light emitting power supply wirings 23R, 23G, and 23B to the pixel electrode 51 through the channel of the current thin film transistor 53, and further a current flows to the cathode 26 through the light emitting layers 50R, 50G, and 50B. At this time, light emission corresponding to the amount of current flowing through the light emitting layer 50 is obtained from the light emitting layer 50.

次に、本実施形態の電気光学装置10の具体的な構成について、図4及び図5を参照して説明する。図4は、本実施形態の電気光学装置の平面模式図であり、図5は、図4のA−A’線に沿う断面図である。図4に示すように、本実施形態の電気光学装置10は、基板60、不図示の画素電極群領域、発光用電源配線23(23R,23G,23B)、及び表示画素部61(図中一点鎖線の枠内)とから概略構成される。   Next, a specific configuration of the electro-optical device 10 of the present embodiment will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. 4 is a schematic plan view of the electro-optical device according to this embodiment, and FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line A-A ′ of FIG. 4. As shown in FIG. 4, the electro-optical device 10 of this embodiment includes a substrate 60, a pixel electrode group region (not shown), a light-emitting power supply wiring 23 (23R, 23G, 23B), and a display pixel unit 61 (one point in the figure). It is roughly composed of a chain line).

基板60は、例えばガラス等からなる透明な基板である。画素電極群領域は、図3に示したカレント薄膜トランジスタ53に接続された画素電極(図示省略)を基板60上にマトリックス状に配置した領域である。発光用電源配線23(23R,23G,23B)は、図4に示したように、画素電極群領域の周囲に配置され、各画素電極に接続されている。表示画素部61は、少なくとも画素電極群領域上に位置し、平面視略矩形形状である。この表示画素部61は、中央部分の実表示領域(又は、有効表示領域ともいう)62(図中二点鎖線の枠内)と、実表示領域62の外側に配置されたダミー領域63(一点鎖線及び二点鎖線の間の領域)とに区画されている。   The substrate 60 is a transparent substrate made of, for example, glass. The pixel electrode group region is a region in which pixel electrodes (not shown) connected to the current thin film transistor 53 shown in FIG. As shown in FIG. 4, the light-emitting power supply wiring 23 (23R, 23G, 23B) is arranged around the pixel electrode group region and connected to each pixel electrode. The display pixel unit 61 is located at least on the pixel electrode group region and has a substantially rectangular shape in plan view. The display pixel unit 61 includes an actual display area (or also referred to as an effective display area) 62 (inside the frame of the two-dot chain line in the figure) in the center portion and a dummy area 63 (one point) arranged outside the actual display area 62. And a region between a chain line and a two-dot chain line).

また、実表示領域62の図中両側には、走査線駆動回路24が配置されている。この走査線駆動回路24はダミー領域63の下層側(基板60側)に位置して設けられている。更に、ダミー領域63の下層側には、走査線駆動回路24に接続される走査線駆動回路用制御信号配線24aと走査線駆動回路用電源配線24bとが設けられている。また更に、実表示領域62の図中上側には、前述の検査回路25が配置されている。この検査回路25はダミー領域63の下層側(基板側2)に位置して設けられており、この検査回路25により、製造途中や出荷時の電気光学装置の品質、欠陥の検査を行うことができる。   Further, the scanning line driving circuit 24 is disposed on both sides of the actual display area 62 in the drawing. The scanning line driving circuit 24 is provided on the lower layer side (substrate 60 side) of the dummy region 63. Further, on the lower layer side of the dummy region 63, a scanning line driving circuit control signal wiring 24a and a scanning line driving circuit power supply wiring 24b connected to the scanning line driving circuit 24 are provided. Furthermore, the above-described inspection circuit 25 is arranged above the actual display area 62 in the drawing. The inspection circuit 25 is provided on the lower layer side (substrate side 2) of the dummy region 63, and the inspection circuit 25 can inspect the quality and defects of the electro-optical device during manufacturing or at the time of shipment. it can.

図4に示すように、発光用電源配線23R,23G,23Bは、ダミー領域63の周囲に配設されている。各発光用電源配線23R,23G,23Bは、基板60の図2中下側から走査線駆動回路用制御信号配線24aに沿って図4中上方に延在し、走査線駆動回路用制御信号配線24aが途切れた位置から折曲してダミー領域63の外側に沿って延在し、実表示領域62内にある図示略の画素電極に接続されている。また、基板60には、陰極26に接続される陰極用配線26aが形成されている。この陰極用配線26aは、発光用電源配線23R,23G,23Bを囲むように平面視略コ字状に形成されている。   As shown in FIG. 4, the light-emitting power supply wirings 23 </ b> R, 23 </ b> G, and 23 </ b> B are disposed around the dummy region 63. Each light-emitting power supply wiring 23R, 23G, 23B extends from the lower side of the substrate 60 in FIG. 2 along the scanning line drive circuit control signal wiring 24a to the upper side in FIG. 24 a is bent from the position where it is interrupted, extends along the outside of the dummy area 63, and is connected to a pixel electrode (not shown) in the actual display area 62. Further, a cathode wiring 26 a connected to the cathode 26 is formed on the substrate 60. The cathode wiring 26a is formed in a substantially U shape in plan view so as to surround the light-emitting power supply wirings 23R, 23G, and 23B.

次に、図5に示すように、基板60上には回路部11が形成され、この回路部11上に表示画素部61が形成されている。また、基板60には、表示画素部61を環状に囲む封止材13が形成されており、更に表示画素部61上に封止基板14が備えられている。封止基板14は、封止材13を介して基板60に接合されており、ガラス、金属、又は樹脂等からなるものである。この封止基板14の裏側には、吸着剤15が貼付され、表示画素部61と封止基板14との間の空間に混入した水又は酸素を吸収できるようになっている。尚、吸着剤15に代えてゲッター剤を用いても良い。また、封止材13は、例えば熱硬化樹脂又は紫外線硬化樹脂からなるものであり、特に熱硬化樹脂の一種であるエポキシ樹脂よりなることが好ましい。   Next, as shown in FIG. 5, the circuit unit 11 is formed on the substrate 60, and the display pixel unit 61 is formed on the circuit unit 11. In addition, the sealing material 13 that annularly surrounds the display pixel portion 61 is formed on the substrate 60, and the sealing substrate 14 is further provided on the display pixel portion 61. The sealing substrate 14 is bonded to the substrate 60 via the sealing material 13 and is made of glass, metal, resin, or the like. The adsorbent 15 is attached to the back side of the sealing substrate 14 so that water or oxygen mixed in the space between the display pixel unit 61 and the sealing substrate 14 can be absorbed. A getter agent may be used instead of the adsorbent 15. Further, the sealing material 13 is made of, for example, a thermosetting resin or an ultraviolet curable resin, and is particularly preferably made of an epoxy resin which is a kind of thermosetting resin.

回路部11の中央部分には、画素電極群領域11aが設けられている。この画素電極群領域11aには、カレント薄膜トランジスタ53と、カレント薄膜トランジスタ53に接続された画素電極51が備えられている。カレント薄膜トランジスタ53は、基板60上に積層された下地保護層281、第2層間絶縁層283、及び第1層間絶縁層284に埋め込まれて形成され、画素電極51は、第1層間絶縁層284上に形成されている。カレント薄膜トランジスタ53に接続され、第2層間絶縁層283上に形成された電極の一方(ソース電極)には、発光用電源配線23(23R,23G,23B)が接続されている。尚、回路部11には、前述した保持容量Cap及びスイッチング薄膜トランジスタ52も形成されているが、図5ではこれらの図示を省略している。更に、図5においては、信号線22の図示を省略している。   A pixel electrode group region 11 a is provided in the central portion of the circuit portion 11. The pixel electrode group region 11 a includes a current thin film transistor 53 and a pixel electrode 51 connected to the current thin film transistor 53. The current thin film transistor 53 is embedded in the base protective layer 281, the second interlayer insulating layer 283, and the first interlayer insulating layer 284 stacked on the substrate 60, and the pixel electrode 51 is formed on the first interlayer insulating layer 284. Is formed. One of the electrodes (source electrode) connected to the current thin film transistor 53 and formed on the second interlayer insulating layer 283 is connected to the light-emitting power supply wiring 23 (23R, 23G, 23B). The circuit unit 11 is also formed with the storage capacitor Cap and the switching thin film transistor 52 described above, but these are not shown in FIG. Further, in FIG. 5, illustration of the signal line 22 is omitted.

次に、図5において、画素電極群領域11aの図中両側には、前述の走査線駆動回路24が設けられている。図4に示した走査線駆動回路24には、シフトレジスタに含まれるインバータを構成するNチャネル型又はPチャネル型の薄膜トランジスタ24cが備えられ、この薄膜トランジスタ24cは、画素電極51に接続されていない点を除いて上記のカレント薄膜トランジスタ53と同様の構造とされている。尚、図5においては、検査回路25の図示を省略しているが、この検査回路25にも同様に薄膜トランジスタが備えられている。検査回路25に備えられている薄膜トランジスタは、後述するダミー画素電極51’に接続されていない点を除いてカレント薄膜トランジスタ53と同様の構造とされている。   Next, in FIG. 5, the above-described scanning line driving circuit 24 is provided on both sides of the pixel electrode group region 11a in the drawing. 4 includes an N-channel or P-channel thin film transistor 24c that constitutes an inverter included in the shift register, and the thin film transistor 24c is not connected to the pixel electrode 51. Except for, the structure is the same as that of the current thin film transistor 53 described above. Although the inspection circuit 25 is not shown in FIG. 5, the inspection circuit 25 is similarly provided with a thin film transistor. The thin film transistor provided in the inspection circuit 25 has the same structure as the current thin film transistor 53 except that the thin film transistor is not connected to a dummy pixel electrode 51 ′ described later.

図5に示すように、走査線駆動回路24の図中外側の下地保護層281上には、走査線駆動回路用制御信号配線24aが形成されている。また、走査線駆動回路用制御信号配線24aの外側の第2層間絶縁層283上には、走査線駆動回路用電源配線24bが形成されている。また、走査線駆動回路用電源配線24bの外側には、発光用電源配線23が形成されている。この発光用電源配線23は、2つの配線からなる二重配線構造を採用しており、前述したように表示画素部61の外側に配置されている。二重配線構造を採用することで配線抵抗を軽減できる。   As shown in FIG. 5, a scanning line driving circuit control signal wiring 24a is formed on the base protective layer 281 outside the scanning line driving circuit 24 in the drawing. A scanning line driving circuit power supply wiring 24b is formed on the second interlayer insulating layer 283 outside the scanning line driving circuit control signal wiring 24a. Further, a light emitting power supply wiring 23 is formed outside the scanning line driving circuit power supply wiring 24b. The light-emitting power supply wiring 23 employs a double wiring structure including two wirings, and is disposed outside the display pixel unit 61 as described above. Wiring resistance can be reduced by adopting a double wiring structure.

例えば、図5中左側にある赤色用の発光用電源配線23Rは、下地保護層281上に形成された第1配線23R1と、第2層間絶縁層283を介して第1配線23R1上に形成された第2配線23R2とから構成されている。第1配線23R1及び第2配線23R2は、図4および5に示すように第2層間絶縁層283を貫通するコンタクトホール23R3により接続されている。このように、第1配線23R1は、陰極用配線26aと同じ階層位置に形成されており、第1配線23R1と陰極用配線26aとの間は第2層間絶縁層283が配置されている。また、図5に示す通り、陰極用配線26aはコンタクトホールを介して第2層間絶縁層283上に形成された陰極用配線26bと電気的に接続されおり、いわば陰極用配線26aも二重配線構造になっている。よって、第2配線23R2は、陰極用配線26bと同じ階層位置に形成されており、第配線23R2と陰極用配線26bとの間は第1層間絶縁層284が配置されている。このような構造をとることで、第1配線23R1と陰極用配線26aとの間、及び、第2配線23R2と陰極用配線26bとの間に第2の静電容量C2が形成されている。 For example, the red light-emitting power supply line 23R on the left side in FIG. The second wiring 23R2. First wiring 23R1 and the second wiring 23R2 are connected by a contact hole 23R3 penetrating the second interlayer insulating layer 283 as shown in FIGS. 4 and 5. Thus, the first wiring 23R1 is formed at the same hierarchical position as the cathode wiring 26a, and the second interlayer insulating layer 283 is disposed between the first wiring 23R1 and the cathode wiring 26a. Further, as shown in FIG. 5, the cathode wiring 26a is electrically connected to the cathode wiring 26b formed on the second interlayer insulating layer 283 through the contact hole, so to speak, the cathode wiring 26a is also a double wiring. It has a structure. Accordingly, the second wiring 23R2 is formed at the same level as the cathode wiring 26b, and the first interlayer insulating layer 284 is disposed between the second wiring 23R2 and the cathode wiring 26b. By adopting such a structure, the second capacitance C2 is formed between the first wiring 23R1 and the cathode wiring 26a and between the second wiring 23R2 and the cathode wiring 26b.

同様に、図5の右側にある青色及び緑色用の発光用電源配線23G,23Bも二重配線構造を採用しており、それぞれ下地保護層281上に形成された第1配線23G1,23B1と、第2層間絶縁層283上に形成された第2配線23G2,23B2とから構成され、第1配線23G1,23B1及び第2配線23G2,23B2は、図4に示すように第2層間絶縁層283を貫通するコンタクトホール23G3,23B3により接続されている。そして、青色の第1配線23B1と陰極用配線26aの間、及び、青色の第2配線23B2と陰極用配線26bとの間に第2の静電容量C2が形成されている。 Similarly, the blue and green light-emitting power supply wirings 23G and 23B on the right side of FIG. 5 also adopt a double wiring structure, and the first wirings 23G 1 and 23B 1 formed on the base protective layer 281 respectively. 4 and second wirings 23G 2 and 23B 2 formed on the second interlayer insulating layer 283. The first wirings 23G 1 and 23B 1 and the second wirings 23G 2 and 23B 2 are as shown in FIG. Are connected by contact holes 23G 3 and 23B 3 penetrating through the second interlayer insulating layer 283. A second capacitance C 2 is formed between the blue first wiring 23B 1 and the cathode wiring 26a and between the blue second wiring 23B 2 and the cathode wiring 26b.

第1配線23R1と第2配線23R2との間隔は、例えば、0.6〜1.0μmの範囲が好ましい。間隔が0.6μm未満であると、信号線22及び走査線21のような異なる電位を有するソースメタルとゲートメタルとの間の寄生容量が増えるため好ましくない。例えば、実表示領域62内においては、ソースメタルとゲートメタルとが交差する箇所が多く存在し、かかる箇所の寄生容量が多いと画像信号の時間遅延を引き起こす虞がある。その結果として、定められた期間内に画像信号を画素電極51に書き込むことができないため、コントラストの低下を引き起こす。第1配線23R1及び第2配線23R2に挟まれる第2層間絶縁層283の材質は、例えばSiO2等が好ましいが、1.0μm以上形成するとSiO2の応力により基板60が割れる恐れが生じる。 The distance between the first wiring 23R 1 and the second wiring 23R 2 is preferably in the range of 0.6 to 1.0 μm, for example. If the distance is less than 0.6 μm, parasitic capacitance between the source metal and the gate metal having different potentials such as the signal line 22 and the scanning line 21 is not preferable. For example, in the actual display area 62, there are many locations where the source metal and the gate metal intersect, and if there is a large parasitic capacitance at such locations, there is a risk of causing a time delay of the image signal. As a result, an image signal cannot be written into the pixel electrode 51 within a predetermined period, which causes a decrease in contrast. The material of the second interlayer insulating layer 283 sandwiched between the first wiring 23R 1 and the second wiring 23R 2 is preferably, for example, SiO 2, but if formed to be 1.0 μm or more, the substrate 60 may be broken by the stress of SiO 2. .

また、各発光用電源配線23Rの上側には、表示画素部61から延出した陰極26が形成されている。これにより、各発光用電源配線23Rの第2配線23R2が、第1層間絶縁層284を挟んで陰極26と対向配置され、これにより第2配線23R2と陰極26との間に前述の第1の静電容量C1が形成される。ここで、第2配線23R2と陰極26との間隔は、例えば、0.6〜1.0μmの範囲が好ましい。間隔が0.6μm未満だと、画素電極及びソースメタルのような異なる電位を有する画素電極とソースメタルとの間の寄生容量が増える為、ソースメタルを用いている信号線の配線遅延が生じる。その結果、定められた期間内に画像信号を書き込むことができない為、コントラストの低下を引き起こす。第2配線23R2と陰極26に挟まれる第1層間絶縁層284の材質は、例えばSiO2やアクリル樹脂等が好ましい。しかしながら、SiO2を1.0μm以上形成すると応力により基板60が割れる恐れが生じる。また、アクリル樹脂の場合は、2.0μm程度まで形成することができるが、水を含むと膨張する性質があるため、その上に形成する画素電極を割る恐れがある。 Further, a cathode 26 extending from the display pixel portion 61 is formed on the upper side of each light emitting power supply wiring 23R. As a result, the second wiring 23R 2 of each light-emitting power supply wiring 23R is disposed opposite to the cathode 26 with the first interlayer insulating layer 284 interposed therebetween, whereby the second wiring 23R 2 and the cathode 26 have the aforementioned first wiring. 1 capacitance C 1 is formed. Here, the distance between the second wiring 23R 2 and the cathode 26 is preferably in the range of 0.6 to 1.0 μm, for example. When the distance is less than 0.6 μm, parasitic capacitance between the pixel electrode and the source metal having different potentials such as the pixel electrode and the source metal increases, and therefore a wiring delay of the signal line using the source metal occurs. As a result, the image signal cannot be written within a predetermined period, which causes a decrease in contrast. The material of the first interlayer insulating layer 284 sandwiched between the second wiring 23R 2 and the cathode 26 is preferably, for example, SiO 2 or acrylic resin. However, if SiO 2 is formed to have a thickness of 1.0 μm or more, the substrate 60 may be broken by stress. In the case of an acrylic resin, it can be formed up to about 2.0 μm. However, since it has a property of expanding when it contains water, the pixel electrode formed thereon may be broken.

このように、表示基板20には、発光用電源配線23と陰極26との間に第1の静電容量C1が設けられるので、発光用電源配線23を流れる駆動電流の電位が変動した場合に第1の静電容量C1に蓄積された電荷が発光用電源配線23に供給され、駆動電流の電位不足分がこの電荷により補われて電位変動を抑制することができ、発光装置1の画像表示を正常に保つことができる。特に、発光用電源配線23と陰極26とが表示画素部61の外側で対向しているので、発光用電源配線23と陰極26との間隔を小さくして第1の静電容量C1に蓄積される電荷量を増大させることができ、駆動電流の電位変動をより小さくして画像表示を安定に行うことができる。更に、発光用電源配線23が第1配線及び第2配線からなる二重配線構造を有し、第1配線と陰極用配線との間に第2の静電容量C2が設けられているので、第2の静電容量C2に蓄積された電荷も発光用電源配線23に供給されるため、電位変動をより抑制することができ、発光装置1の画像表示をより正常に保つことができる。 As described above, the display substrate 20 is provided with the first capacitance C 1 between the light emitting power supply wiring 23 and the cathode 26, so that the potential of the drive current flowing through the light emitting power supply wiring 23 varies. In addition, the charge accumulated in the first capacitance C 1 is supplied to the light-emitting power supply wiring 23, and the potential deficiency of the drive current is compensated by this charge, so that the potential fluctuation can be suppressed. The image display can be kept normal. In particular, since the light-emitting power supply wiring 23 and the cathode 26 face each other outside the display pixel portion 61, the distance between the light-emitting power supply wiring 23 and the cathode 26 is reduced and stored in the first capacitance C1. The amount of charge that is generated can be increased, and the potential fluctuation of the drive current can be further reduced to stably display an image. Further, the light-emitting power supply wiring 23 has a double wiring structure composed of the first wiring and the second wiring, and the second capacitance C 2 is provided between the first wiring and the cathode wiring. Further, since the electric charge accumulated in the second capacitance C 2 is also supplied to the light emitting power supply wiring 23, the potential fluctuation can be further suppressed, and the image display of the light emitting device 1 can be kept more normal. .

次に、表示画素部61の実画素領域62には、発光層50及びバンク部(絶縁部)122が形成されている。発光層50は図5に示すように、画素電極51上の各々に積層されている。また、バンク部122は、各画素電極51及び各発光層50の間に備えられており、各発光層50を区画している。バンク部122は、基板60側に位置する無機物バンク層122aと基板60から離れて位置する有機物バンク層122bとが積層されて構成されている。尚、無機物バンク層122aと有機物バンク層122bとの間に遮光層を配置してもよい。   Next, the light emitting layer 50 and the bank part (insulating part) 122 are formed in the actual pixel region 62 of the display pixel part 61. As shown in FIG. 5, the light emitting layer 50 is laminated on each of the pixel electrodes 51. The bank unit 122 is provided between each pixel electrode 51 and each light emitting layer 50, and partitions each light emitting layer 50. The bank unit 122 is configured by laminating an inorganic bank layer 122 a located on the substrate 60 side and an organic bank layer 122 b located away from the substrate 60. A light shielding layer may be disposed between the inorganic bank layer 122a and the organic bank layer 122b.

無機物、有機物バンク層122a,122bは、画素電極51の周縁部上に乗上げるまで延出形成されており、また無機物バンク層122aは、有機物バンク層122bよりも画素電極51の中央側に延出形成されている。また、無機物バンク層122aは、例えば、SiO2、TiO2、SiN等の無機材料からなることが好ましい。また無機物バンク層122aの膜厚は、50〜200nmの範囲が好ましく、特に150nmがよい。膜厚が50nm未満では、無機物バンク層122aが後述する正孔注入/輸送層より薄くなり、正孔注入/輸送層の平坦性を確保できなくなるので好ましくない。また膜厚が200nmを越えると、無機物バンク層122aによる段差が大きくなって、正孔注入/輸送層上に積層する後述の発光層の平坦性を確保できなくなるので好ましくない。 The inorganic and organic bank layers 122a and 122b are formed to extend on the peripheral edge of the pixel electrode 51, and the inorganic bank layer 122a extends to the center side of the pixel electrode 51 from the organic bank layer 122b. Is formed. Also, the inorganic bank layer 122a is, for example, preferably made of an inorganic material of SiO 2, TiO 2, SiN or the like. The film thickness of the inorganic bank layer 122a is preferably in the range of 50 to 200 nm, particularly 150 nm. If the film thickness is less than 50 nm, the inorganic bank layer 122a is thinner than the hole injection / transport layer described later, and the flatness of the hole injection / transport layer cannot be ensured. On the other hand, if the film thickness exceeds 200 nm, the step due to the inorganic bank layer 122a becomes large, and the flatness of the light emitting layer to be described later stacked on the hole injection / transport layer cannot be secured, which is not preferable.

更に、有機物バンク層122bは、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂等の通常のレジストから形成されている。この有機物バンク層122bの厚さは、0.1〜3.5μmの範囲が好ましく、特に2μm程度がよい。厚さが0.1μm未満では、後述する正孔注入/輸送層及び発光層の合計厚より有機物バンク層122bが薄くなり、発光層が上部開口部から溢れるおそれがあるので好ましくない。また、厚さが3.5μmを越えると、上部開口部による段差が大きくなり、有機物バンク層122b上に形成する陰極26のステップカバレッジを確保できなくなるので好ましくない。また、有機物バンク層122bの厚さを2μm以上にすれば、陰極26と画素電極51との絶縁を高めることができる点でより好ましい。
このようにして、発光層50は、バンク部122より薄く形成されている。
Furthermore, the organic bank layer 122b is formed of a normal resist such as an acrylic resin or a polyimide resin. The thickness of the organic bank layer 122b is preferably in the range of 0.1 to 3.5 μm, and particularly preferably about 2 μm. If the thickness is less than 0.1 μm, the organic bank layer 122b becomes thinner than the total thickness of the hole injection / transport layer and the light emitting layer, which will be described later, and the light emitting layer may overflow from the upper opening, which is not preferable. On the other hand, if the thickness exceeds 3.5 μm, the step due to the upper opening becomes large, and step coverage of the cathode 26 formed on the organic bank layer 122b cannot be ensured. Further, if the thickness of the organic bank layer 122b is 2 μm or more, it is more preferable because the insulation between the cathode 26 and the pixel electrode 51 can be improved.
In this way, the light emitting layer 50 is formed thinner than the bank portion 122.

また、バンク部122の周辺には、親液性を示す領域と、撥液性を示す領域が形成されている。親液性を示す領域は、無機物バンク層122a及び画素電極51であり、これらの領域には、酸素を反応ガスとするプラズマ処理によって水酸基等の親液基が導入されている。また、撥液性を示す領域は、有機物バンク層122bであり、4フッ化メタンを反応ガスとするプラズマ処理によってフッ素等の撥液基が導入されている。   Further, an area showing lyophilicity and an area showing liquid repellency are formed around the bank portion 122. The lyophilic regions are the inorganic bank layer 122a and the pixel electrode 51, and lyophilic groups such as hydroxyl groups are introduced into these regions by plasma treatment using oxygen as a reactive gas. Further, the region showing liquid repellency is the organic bank layer 122b, and a liquid repellent group such as fluorine is introduced by plasma treatment using tetrafluoromethane as a reaction gas.

発光層50は、画素電極51上に積層された図示せぬ正孔注入/輸送層上に積層されている。尚、本明細書では、発光層50及び正孔注入/輸送層を含む構成を機能層といい、画素電極51、機能層、及び陰極26含む構成を発光素子という。正孔注入/輸送層は、正孔を発光層50に注入する機能を有するとともに、正孔を正孔注入/輸送層内部において輸送する機能を有する。このような正孔注入/輸送層を画素電極51と発光層50の間に設けることにより、発光層50の発光効率、寿命等の素子特性が向上する。また、発光層50では、正孔注入/輸送層から注入された正孔と、陰極26からの電子とが結合して蛍光を発生させる。発光層50は、赤色(R)に発光する赤色発光層、緑色(G)に発光する緑色発光層、及び青色(B)に発光する青色発光層の3種類を有し、図3及び図4に示すように、各発光層がストライプ配置されている。   The light emitting layer 50 is laminated on a hole injection / transport layer (not shown) laminated on the pixel electrode 51. In the present specification, a configuration including the light emitting layer 50 and the hole injection / transport layer is referred to as a functional layer, and a configuration including the pixel electrode 51, the functional layer, and the cathode 26 is referred to as a light emitting element. The hole injection / transport layer has a function of injecting holes into the light emitting layer 50 and a function of transporting holes inside the hole injection / transport layer. By providing such a hole injecting / transporting layer between the pixel electrode 51 and the light emitting layer 50, device characteristics such as light emitting efficiency and life of the light emitting layer 50 are improved. Further, in the light emitting layer 50, holes injected from the hole injection / transport layer and electrons from the cathode 26 are combined to generate fluorescence. The light emitting layer 50 has three types, a red light emitting layer that emits red (R), a green light emitting layer that emits green (G), and a blue light emitting layer that emits blue (B). As shown in FIG. 2, the light emitting layers are arranged in stripes.

次に、図5に示したように、表示画素部61のダミー領域63には、ダミー発光層210及びダミーバンク部212が形成されている。ダミーバンク部212は、基板60側に位置するダミー無機物バンク層212aと基板60から離れて位置するダミー有機物バンク層212bとが積層されて構成されている。ダミー無機物バンク層212aは、ダミー画素電極51’の全面に形成されている。またダミー有機物バンク層212bは、有機物バンク層122bと同様に画素電極51の間に形成されている。そして、ダミー発光層210は、ダミー無機物バンク212aを介してダミー画素電極51’上に形成されている。   Next, as shown in FIG. 5, the dummy light emitting layer 210 and the dummy bank unit 212 are formed in the dummy region 63 of the display pixel unit 61. The dummy bank unit 212 is configured by laminating a dummy inorganic bank layer 212 a located on the substrate 60 side and a dummy organic bank layer 212 b located away from the substrate 60. The dummy inorganic bank layer 212a is formed on the entire surface of the dummy pixel electrode 51 '. The dummy organic bank layer 212b is formed between the pixel electrodes 51 in the same manner as the organic bank layer 122b. The dummy light emitting layer 210 is formed on the dummy pixel electrode 51 'via the dummy inorganic bank 212a.

ダミー無機物バンク層212a及びダミー有機物バンク層211bは、先に説明した無機物、有機物バンク層122a,122bと同様の材質、同様の膜厚を有するものである。また、ダミー発光層210は、図示略のダミー正孔注入/輸送層上に積層されており、ダミー正孔注入/輸送層及びダミー発光層の材質や膜厚は、前述の正孔注入/輸送層及び発光層50と同様である。従って、上記の発光層50と同様に、ダミー発光層210はダミーバンク部212より薄く形成されている。   The dummy inorganic bank layer 212a and the dummy organic bank layer 211b have the same material and the same film thickness as the inorganic and organic bank layers 122a and 122b described above. The dummy light-emitting layer 210 is laminated on a dummy hole injection / transport layer (not shown), and the material and film thickness of the dummy hole injection / transport layer and the dummy light-emitting layer are the above-described hole injection / transport. This is the same as the layer and the light emitting layer 50. Therefore, like the light emitting layer 50 described above, the dummy light emitting layer 210 is formed thinner than the dummy bank portion 212.

ダミー領域63を実表示領域62の周囲に配置することにより、実表示領域62の発光層50の厚さを均一にすることができ、表示ムラを抑制することができる。即ち、ダミー領域63を配置することで、表示素子をインクジェット法によって形成する場合における吐出した組成物インクの乾燥条件を実表示領域62内で一定にすることができ、実表示領域62の周縁部で発光層50の厚さに偏りが生じる虞がない。   By disposing the dummy region 63 around the actual display region 62, the thickness of the light emitting layer 50 in the actual display region 62 can be made uniform, and display unevenness can be suppressed. That is, by arranging the dummy region 63, the drying condition of the discharged composition ink when the display element is formed by the ink jet method can be made constant in the actual display region 62. Therefore, there is no possibility that the thickness of the light emitting layer 50 is uneven.

次に、陰極26は、実表示領域62とダミー領域63の全面に形成されるとともにダミー領域63の外側にある基板60上まで延出され、ダミー領域63の外側、即ち表示画素部61の外側で発光用電源配線23と対向配置されている。また陰極26の端部が、回路部11に形成された陰極用配線26aに接続されている。陰極26は、画素電極51の対向電極として発光層50に電流を流す役割を果たす。この陰極26は、例えば、フッ化リチウムとカルシウムの積層体からなる陰極層26bと反射層26cとが積層されて構成されている。陰極26のうち、反射層26cのみが表示画素部61の外側まで延出されている。反射層26cは、発光層50から発した光を基板60側に反射させるもので、例えば、Al、Ag、Mg/Ag積層体等からなることが好ましい。更に、反射層26c上にSiO2、SiN等からなる酸化防止用の保護層を設けても良い。 Next, the cathode 26 is formed on the entire surface of the actual display region 62 and the dummy region 63 and extends to the substrate 60 outside the dummy region 63, and outside the dummy region 63, that is, outside the display pixel unit 61. The light-emitting power supply wiring 23 is opposed to the light-emitting power supply wiring 23. The end of the cathode 26 is connected to a cathode wiring 26 a formed in the circuit unit 11. The cathode 26 serves as a counter electrode of the pixel electrode 51 and causes a current to flow through the light emitting layer 50. The cathode 26 is formed by, for example, laminating a cathode layer 26b made of a laminate of lithium fluoride and calcium and a reflective layer 26c. Of the cathode 26, only the reflective layer 26 c extends to the outside of the display pixel unit 61. The reflective layer 26c reflects light emitted from the light emitting layer 50 toward the substrate 60, and is preferably made of, for example, Al, Ag, Mg / Ag laminate, or the like. Furthermore, an anti-oxidation protective layer made of SiO 2 , SiN or the like may be provided on the reflective layer 26c.

また、図4に示すように、基板60の一端には前述した異方性導電膜40を用いて中継基板30が固着されている。尚、中継基板30上に搭載された半導体チップ33には、図3に示したデータ側駆動回路33a、陰極用電源回路33b、及び発光用電源回路33cが内蔵されている。図4中の破線で囲った部分は、表示基板20と中継基板30との固着部を示している。図6は、図4に示した固着部65付近の上面図である。尚、図6においては、異方性導電膜40及び中継基板30の図示を省略している。   As shown in FIG. 4, the relay substrate 30 is fixed to one end of the substrate 60 using the anisotropic conductive film 40 described above. The semiconductor chip 33 mounted on the relay substrate 30 incorporates the data side drive circuit 33a, the cathode power supply circuit 33b, and the light emission power supply circuit 33c shown in FIG. A portion surrounded by a broken line in FIG. 4 indicates a fixing portion between the display substrate 20 and the relay substrate 30. FIG. 6 is a top view of the vicinity of the fixing portion 65 shown in FIG. In FIG. 6, the anisotropic conductive film 40 and the relay substrate 30 are not shown.

図6に示したように、固着部65においては、外部接続端子が形成されている。外部接続端子には、線幅の細い配線各々に対して配線の幅と同程度の幅を有する第1外部接続端子が設けられ、幅広の配線に対しては線幅よりも幅の狭い複数の第2外部接続端子が設けられる。例えば、線幅の細い走査線駆動回路用制御信号配線24aの各々に対しては、走査線駆動回路用制御信号配線24aの線幅と同程度の幅を有する第1外部接続端子67,68,69が設けられる。一方、幅が広い発光用電源配線23Rに対しては、発光用電源配線23Rの線幅よりも幅の狭い第2外部接続端子66a,66b,66cが設けられる。また、走査線駆動回路用制御信号配線24aよりも幅が狭い信号線22に対しては、信号線22と同程度の線幅を有する第2外部接続端子70がそれぞれ設けられる。尚、第1外部接続端子及び第2外部接続端子の数は、基板60に形成される配線の線幅に応じて適宜設定される。   As shown in FIG. 6, an external connection terminal is formed in the fixing portion 65. The external connection terminal is provided with a first external connection terminal having a width approximately equal to the width of the wiring for each narrow wiring, and a plurality of narrower widths than the line width are provided for the wide wiring. A second external connection terminal is provided. For example, for each of the scanning line drive circuit control signal wirings 24a having a narrow line width, the first external connection terminals 67, 68 having a width comparable to the line width of the scanning line drive circuit control signal wirings 24a, 69 is provided. On the other hand, for the light emission power supply wiring 23R having a wide width, second external connection terminals 66a, 66b, 66c having a width smaller than the line width of the light emission power supply wiring 23R are provided. Further, the second external connection terminal 70 having a line width comparable to that of the signal line 22 is provided for each of the signal lines 22 narrower than the scanning line drive circuit control signal wiring 24a. Note that the numbers of the first external connection terminals and the second external connection terminals are appropriately set according to the line width of the wiring formed on the substrate 60.

このように、基板60に形成された配線の線幅に応じて第1外部接続端子及び第2外部接続端子の数を変えるのは、固着部65の全面に亘って圧着条件を極力同一にするためである。つまり、図1及び図2を用いて説明したように、表示基板10と中継基板20とは異方性導電膜40により固着されるが、固着条件(例えば、端子の幅、接着面積、圧力の掛かり具合等)が異なると固着部65内部における電気的抵抗がその位置に応じて異なる。固着部65における電気的抵抗が位置に応じて異なると、表示ムラ及びコントラスト低下等の表示上の不具合を生ずる。このために、固着部65において、基板60に形成された配線の線幅に応じて外部接続端子の数を変えることにより圧着条件を極力同一にしている。更に、複数の外部接続端子を設けることにより、接着面積を増大させることができる。即ち、複数の外部接続端子間に異方性導電膜を配置することができるので、強固な接着が可能となる。   As described above, the number of the first external connection terminals and the second external connection terminals is changed in accordance with the line width of the wiring formed on the substrate 60. Because. That is, as described with reference to FIGS. 1 and 2, the display substrate 10 and the relay substrate 20 are fixed by the anisotropic conductive film 40, but the fixing conditions (for example, the width of the terminal, the bonding area, and the pressure) If the degree of engagement is different, the electrical resistance in the fixing portion 65 varies depending on the position. If the electrical resistance of the fixing portion 65 varies depending on the position, display defects such as display unevenness and contrast reduction occur. For this reason, in the adhering portion 65, the crimping conditions are made the same as much as possible by changing the number of external connection terminals according to the line width of the wiring formed on the substrate 60. Furthermore, the bonding area can be increased by providing a plurality of external connection terminals. That is, since an anisotropic conductive film can be disposed between a plurality of external connection terminals, strong adhesion is possible.

次に、固着部65に形成される外部接続端子の構造について詳細に説明する。
図7は、図6中のB−B’線に沿う第2外部接続端子66c及び第2外部接続端子70の断面図であり、図8は、図7中の外部接続端子70の拡大図である。図7及び図8に示すように、基板60上には下地保護層281が形成されており、この下地保護層281上にSiO2及び/又はSiNを主体とするゲート絶縁層71が形成されている。このゲート絶縁層71は、図示しない薄膜トランジスタのチャネル領域とゲート電極とを電気的に絶縁するために形成されるものである。尚、本明細書において、「主体」とする成分とは最も含有率の高い成分のことをいうものとする。
Next, the structure of the external connection terminal formed on the fixing portion 65 will be described in detail.
7 is a cross-sectional view of the second external connection terminal 66c and the second external connection terminal 70 taken along the line BB ′ in FIG. 6, and FIG. 8 is an enlarged view of the external connection terminal 70 in FIG. is there. As shown in FIGS. 7 and 8, a base protective layer 281 is formed on the substrate 60, and a gate insulating layer 71 mainly composed of SiO 2 and / or SiN is formed on the base protective layer 281. Yes. The gate insulating layer 71 is formed to electrically insulate a channel region of a thin film transistor (not shown) from a gate electrode. In the present specification, the “main component” means a component having the highest content.

ゲート絶縁層71上には信号線22及び発光用電源配線23Rが形成されており、更に信号線22及び発光用電源配線23R上に第2層間絶縁層283が形成されている。また、発光用電源配線23、走査線駆動回路用制御信号配線24aは、図3に記載の走査線21と同時に形成される。   A signal line 22 and a light-emitting power supply wiring 23R are formed on the gate insulating layer 71, and a second interlayer insulating layer 283 is formed on the signal line 22 and the light-emitting power supply wiring 23R. The light-emitting power supply wiring 23 and the scanning line drive circuit control signal wiring 24a are formed simultaneously with the scanning line 21 shown in FIG.

上記第2層間絶縁層283には、信号線22及び発光用電源配線23Rの上部位置にコンタクトホールHが複数形成されている。また、発光用電源配線23Rの上方の第2層間絶縁層283上には電極73が形成され、信号線22の上方の第2層間絶縁層283上には電極74,75が形成されている。   A plurality of contact holes H are formed in the second interlayer insulating layer 283 above the signal lines 22 and the light-emitting power supply wirings 23R. An electrode 73 is formed on the second interlayer insulating layer 283 above the light-emitting power supply wiring 23R, and electrodes 74 and 75 are formed on the second interlayer insulating layer 283 above the signal line 22.

これらの電極73,74,75は、コンタクトホールHを形成した後でスパッタリング法等により形成されるため、コンタクトホールHの上部にはコンタクトホールH内に堆積した金属材料の分だけ表面に凹部Bが形成される。このようにして、コンタクトホールHを介して、第2層間絶縁層283に覆われた発光用電源配線23Rと第2層間絶縁層283上に形成された電極74との導通、及び、第2層間絶縁層283に覆われた信号線22と第2層間絶縁層283上に形成された電極74,75の導通がとられる。   Since these electrodes 73, 74, 75 are formed by sputtering after forming the contact hole H, a concave portion B is formed on the surface above the contact hole H by the amount of the metal material deposited in the contact hole H. Is formed. In this way, the electrical connection between the light-emitting power supply wiring 23R covered by the second interlayer insulating layer 283 and the electrode 74 formed on the second interlayer insulating layer 283 through the contact hole H, and the second interlayer The signal line 22 covered with the insulating layer 283 and the electrodes 74 and 75 formed on the second interlayer insulating layer 283 are electrically connected.

また、第2層間絶縁層283上に形成された電極73,74,75の端部、側部、及びこれらの電極73,74,75間には、電気的な絶縁を目的としたSiN等の無機材料からなる第1層間絶縁層284が形成されている。電極73,74,75の上部、側部、及び周辺部には、ITO等からなる透明電極77が形成され、更に電極73,74,75の周辺部に形成された透明電極77及び第2外部接続端子66c,70,70間にはSiO2からなる保護層78が形成されている。尚、電極73,74,75は、図3に記載されているゲート線と同時に形成され、又、透明電極77は、ITOにより形成され、画素電極(陽極)と同時に形成される。このとき、ITOなどの材料をスパッタ等の方法により形成している。 Further, the ends and sides of the electrodes 73, 74, 75 formed on the second interlayer insulating layer 283, and between these electrodes 73, 74, 75 are made of SiN or the like for the purpose of electrical insulation. A first interlayer insulating layer 284 made of an inorganic material is formed. Transparent electrodes 77 made of ITO or the like are formed on the upper, side, and peripheral portions of the electrodes 73, 74, and 75. Further, the transparent electrodes 77 and the second external portion formed on the peripheral portions of the electrodes 73, 74, and 75 are formed. A protective layer 78 made of SiO 2 is formed between the connection terminals 66c, 70, 70. The electrodes 73, 74, and 75 are formed simultaneously with the gate line shown in FIG. 3, and the transparent electrode 77 is formed of ITO and formed simultaneously with the pixel electrode (anode). At this time, a material such as ITO is formed by a method such as sputtering.

この方法とは別に、インクジェット法により導電材料を含む液体材料を塗布することにより、外部接続端子の最上面に金属層を形成することができる。なお、図9等に示されているように、外部接続端子は複数層の導電層から形成されているため、前述の例の如く最上面に限ることなく、複数層の導電層のうち少なくとも一層にこの手法を適用することができ、また全ての層をインクジェット法により形成することも可能である。   Apart from this method, a metal layer can be formed on the uppermost surface of the external connection terminal by applying a liquid material containing a conductive material by an inkjet method. As shown in FIG. 9 and the like, since the external connection terminal is formed of a plurality of conductive layers, it is not limited to the uppermost surface as in the above example, and at least one of the plurality of conductive layers. It is also possible to apply this method to all the layers, and it is also possible to form all the layers by the ink jet method.

導電膜配線用の液体材料として、本例では導電性微粒子を分散媒に分散させた分散液(液状体)が用いられ、これは水性であると油性であるとを問わない。ここで用いられる導電性微粒子は、金、銀、銅、パラジウム、及びニッケルのうち少なくとも1種類を含有する金属微粒子の他、導電性ポリマーや超電導体の微粒子などが用いられる。これらの導電性微粒子は、分散性を向上させるために表面に有機物などをコーティングして使うこともできる。導電性微粒子の表面にコーティングするコーティング材としては、例えばキシレン、トルエン等の有機溶剤やクエン酸等が挙げられる。   As the liquid material for the conductive film wiring, a dispersion liquid (liquid material) in which conductive fine particles are dispersed in a dispersion medium is used in this example, and it does not matter whether it is aqueous or oily. As the conductive fine particles used here, fine particles of conductive polymer, superconductor, and the like are used in addition to metal fine particles containing at least one of gold, silver, copper, palladium, and nickel. These conductive fine particles can be used by coating the surface with an organic substance or the like in order to improve dispersibility. Examples of the coating material that coats the surface of the conductive fine particles include organic solvents such as xylene and toluene, citric acid, and the like.

導電性微粒子の粒径は1nm以上0.1μm以下であることが好ましい。特に、5nm以上0.1μmであることが好ましい。0.1μmより大きいと、上記液滴吐出ヘッドのノズルに目詰まりが生じるおそれがある。また、5nmより小さいと、導電性微粒子に対するコーテイング剤の体積比が大きくなり、得られる膜中の有機物の割合が過多となる。   The particle diameter of the conductive fine particles is preferably 1 nm or more and 0.1 μm or less. In particular, the thickness is preferably 5 nm or more and 0.1 μm. If it is larger than 0.1 μm, the nozzle of the droplet discharge head may be clogged. On the other hand, if it is smaller than 5 nm, the volume ratio of the coating agent to the conductive fine particles becomes large, and the ratio of the organic matter in the obtained film becomes excessive.

導電性微粒子を含有する液体の分散媒としては、室温での蒸気圧が0.001mmHg以上200mmHg以下(約0.133Pa以上26600Pa以下)であるものが好ましい。蒸気圧が200mmHgより高い場合には、吐出後に分散媒が急激に蒸発し、良好な膜を形成することが困難となる。また、分散媒の蒸気圧は0.001mmHg以上50mmHg以下(約0.133Pa以上6650Pa以下)であることがより好ましい。蒸気圧が50mmHgより高い場合には、インクジェット法で液滴を吐出する際に乾燥によるノズル詰まりが起こりやすい。一方、室温での蒸気圧が0.001mmHgより低い分散媒の場合、乾燥が遅くて膜中に分散媒が残留しやすくなり、後工程の熱・光処理後に良質の導電膜が得られにくい。   The liquid dispersion medium containing conductive fine particles preferably has a vapor pressure at room temperature of 0.001 mmHg to 200 mmHg (about 0.133 Pa to 26600 Pa). When the vapor pressure is higher than 200 mmHg, the dispersion medium rapidly evaporates after discharge, making it difficult to form a good film. The vapor pressure of the dispersion medium is more preferably 0.001 mmHg to 50 mmHg (about 0.133 Pa to 6650 Pa). When the vapor pressure is higher than 50 mmHg, nozzle clogging due to drying tends to occur when droplets are ejected by the inkjet method. On the other hand, in the case of a dispersion medium having a vapor pressure lower than 0.001 mmHg at room temperature, drying is slow and the dispersion medium tends to remain in the film, and it is difficult to obtain a high-quality conductive film after the subsequent heat / light treatment.

上記分散媒としては、上記の導電性微粒子を分散できるものであって凝集を起こさないものであれば特に限定されない。例えば、水の他に、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノールなどのアルコール類、n−ヘプタン、n−オクタン、デカン、トルエン、キシレン、シメン、デュレン、インデン、ジペンテン、テトラヒドロナフタレン、デカヒドロナフタレン、シクロヘキシルベンゼンなどの炭化水素系化合物、またエチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、1,2−ジメトキシエタン、ビス(2−メトキシエチル)エーテル、p−ジオキサンなどのエーテル系化合物、さらにプロピレンカーボネート、γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、シクロヘキサノンなどの極性化合物を例示できる。これらのうち、微粒子の分散性と分散液の安定性、またインクジェット法への適用の容易さの点で、水、アルコール類、炭化水素系化合物、エーテル系化合物が好ましく、より好ましい分散媒としては、水、炭化水素系化合物を挙げることができる。これらの分散媒は、単独で使用してもよく、2種以上の混合物として使用してもよい。   The dispersion medium is not particularly limited as long as it can disperse the conductive fine particles and does not cause aggregation. For example, in addition to water, alcohols such as methanol, ethanol, propanol, butanol, n-heptane, n-octane, decane, toluene, xylene, cymene, durene, indene, dipentene, tetrahydronaphthalene, decahydronaphthalene, cyclohexylbenzene Hydrocarbon compounds such as ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol methyl ethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, 1,2-dimethoxyethane, bis (2-methoxyethyl) ether , Ether compounds such as p-dioxane, propylene carbonate, γ-butyrolactone, N-methyl 2-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, and cyclohexanone. Of these, water, alcohols, hydrocarbon compounds, and ether compounds are preferred from the viewpoints of fine particle dispersibility, dispersion stability, and ease of application to the inkjet method, and more preferred dispersion media , Water, and hydrocarbon compounds. These dispersion media may be used alone or as a mixture of two or more.

上記導電性微粒子を分散媒に分散する場合の分散質濃度は1質量%以上80質量%以下であり、所望の導電膜の膜厚に応じて調整するとよい。なお、80質量%を超えると凝集をおこしやすく、均一な膜が得にくい。   The dispersoid concentration when the conductive fine particles are dispersed in the dispersion medium is 1% by mass or more and 80% by mass or less, and may be adjusted according to the desired film thickness of the conductive film. In addition, when it exceeds 80 mass%, it will be easy to aggregate and it will be difficult to obtain a uniform film | membrane.

上記導電性微粒子の分散液の表面張力は0.02N/m以上0.07N/m以下の範囲内であることが好ましい。インクジェット法にて液体を吐出する際、表面張力が0.02N/m未満であると、インク組成物のノズル面に対する濡れ性が増大するため飛行曲りが生じやすくなり、0.07N/mを超えるとノズル先端でのメニスカスの形状が安定しないため吐出量や、吐出タイミングの制御が困難になる。   The surface tension of the conductive fine particle dispersion is preferably in the range of 0.02 N / m to 0.07 N / m. When the liquid is ejected by the ink jet method, if the surface tension is less than 0.02 N / m, the wettability of the ink composition to the nozzle surface increases, and thus flight bending tends to occur, exceeding 0.07 N / m. Since the meniscus shape at the nozzle tip is not stable, it becomes difficult to control the discharge amount and the discharge timing.

表面張力を調整するため、上記分散液には、基板との接触角を大きく低下させない範囲で、フッ素系、シリコーン系、ノニオン系などの表面張力調節剤を微量添加するとよい。ノニオン系表面張力調節剤は、液体の基板への濡れ性を向上させ、膜のレベリング性を改良し、膜の微細な凹凸の発生などの防止に役立つものである。上記分散液は、必要に応じて、アルコール、エーテル、エステル、ケトン等の有機化合物を含んでもよい。   In order to adjust the surface tension, a small amount of a surface tension regulator such as a fluorine-based, silicone-based, or nonionic-based material may be added to the dispersion within a range that does not significantly reduce the contact angle with the substrate. The nonionic surface tension modifier improves the wettability of the liquid to the substrate, improves the leveling property of the film, and helps prevent the occurrence of fine irregularities in the film. The dispersion may contain an organic compound such as alcohol, ether, ester, or ketone as necessary.

上記分散液の粘度は1mPa・s以上50mPa・s以下であることが好ましい。インクジェット法を用いて液体材料を液滴として吐出する際、粘度が1mPa・sより小さい場合にはノズル周辺部がインクの流出により汚染されやすく、また粘度が50mPa・sより大きい場合は、ノズル孔での目詰まり頻度が高くなり円滑な液滴の吐出が困難となる。   The viscosity of the dispersion is preferably 1 mPa · s to 50 mPa · s. When a liquid material is ejected as droplets using the inkjet method, if the viscosity is less than 1 mPa · s, the nozzle periphery is easily contaminated by the outflow of the ink, and if the viscosity is greater than 50 mPa · s, the nozzle hole The clogging frequency of the liquid becomes high, and it becomes difficult to smoothly discharge the droplets.

以下に、金微粒子を用いた例を示す。   An example using gold fine particles is shown below.

直径10nmの金微粒子がトルエン中に分散した金微粒子分散液(真空冶金社製、商品名「パーフェクトゴールド」)にキシレンを添加し、その粘度を3cpとした液体を用いた。その際、凸部の間に形成された領域(端子の平坦な部分)にインクジェット法を用いて前述の液体を塗布した。その際、端子部の平坦部上、及び凸部の表面の少なくとも平坦な領域側に金からなる金属薄膜が形成される。   Xylene was added to a gold fine particle dispersion (trade name “Perfect Gold” manufactured by Vacuum Metallurgical Co., Ltd.) in which gold fine particles having a diameter of 10 nm were dispersed in toluene, and a liquid having a viscosity of 3 cp was used. At that time, the above-described liquid was applied to a region (a flat portion of the terminal) formed between the convex portions by using an inkjet method. At that time, a metal thin film made of gold is formed on the flat portion of the terminal portion and at least on the flat region side of the surface of the convex portion.

インクジェット法として用いるインクジェット装置(液体塗布装置ともいう)は、例えば図14に示した装置を用いることができる。   For example, the apparatus illustrated in FIG. 14 can be used as an inkjet apparatus (also referred to as a liquid coating apparatus) used as an inkjet method.

インクジェット装置は、インクジェットヘッド群1、X軸方向駆動軸4、Y方向ガイド軸5、制御装置6、載置台7、クリーニング機構部8、基台9及びヒーター15を備えている。   The ink jet device includes an ink jet head group 1, an X-axis direction drive shaft 4, a Y-direction guide shaft 5, a control device 6, a mounting table 7, a cleaning mechanism unit 8, a base 9, and a heater 15.

インクジェットヘッド群は所定の導電性微粒子を含有する液体をノズル(吐出口)から吐出して所定間隔で基板に付与するインクジェット塗布手段としてのヘッドを備えている。ヘッド群は、複数のノズルが形成されたヘッドが複数個配列されて形成している。この複数個配列しているヘッド群は、図15のようなレイアウトで構成されている。すなわち、ヘッドの走査方向に対して各ヘッドを傾けて配置された構造となっている。   The ink jet head group includes a head as an ink jet application unit that discharges a liquid containing predetermined conductive fine particles from a nozzle (discharge port) and applies the liquid to a substrate at predetermined intervals. The head group is formed by arranging a plurality of heads each having a plurality of nozzles. The plurality of head groups arranged has a layout as shown in FIG. That is, each head is inclined and arranged with respect to the scanning direction of the head.

図示されているように、インクジェット装置に設けられているインクジェットヘッドは複数個配置されている。複数個のインクジェットヘッドを走査方向に対して交差する方向に傾けて配置し、インクジェットによる描画を行うことができる。例えば、走査方向に対して30度傾けることによってインクジェット装置による描画が可能となる。インクジェットヘッドを走査方向に対して交差する方向に傾けることにより以下の効果が得られる。すなわち、形成するパターンの間隔が狭いときに、ヘッドを傾けることにより見かけ上、ノズル間隔が狭くなる。このようにすることによって、挟ピッチのパターンの描画が可能になり、しかも傾ける角度を変化させることにより、どのようなパターンでも形成することができる。なお、その場合には、インクジェットヘッドを所望の角度に変更、調整できる機能をインクジェット装置に設ける。   As shown in the drawing, a plurality of inkjet heads provided in the inkjet apparatus are arranged. A plurality of ink jet heads can be arranged to be inclined in a direction intersecting the scanning direction, and ink jet drawing can be performed. For example, it is possible to draw with an ink jet apparatus by tilting 30 degrees with respect to the scanning direction. The following effects can be obtained by tilting the inkjet head in the direction intersecting the scanning direction. That is, when the interval between patterns to be formed is narrow, the nozzle interval is apparently narrowed by tilting the head. By doing so, it becomes possible to draw a pattern with a narrow pitch, and any pattern can be formed by changing the angle of inclination. In that case, the ink jet apparatus is provided with a function capable of changing and adjusting the ink jet head to a desired angle.

以下にインクジェットヘッド、及びユニットについて詳細に説明する。   The inkjet head and unit will be described in detail below.

〔ヘッドユニットの構成〕
次に、ヘッドユニット420の構成について説明する。図15は、液滴吐出処理装置に設けられたヘッドユニットを示す平面図である。図26は、ヘッドユニットを示す側面図である。図27は、ヘッドユニットを示す正面図である。図28は、ヘッドユニットを示す断面図である。
[Configuration of head unit]
Next, the configuration of the head unit 420 will be described. FIG. 15 is a plan view showing a head unit provided in the droplet discharge processing apparatus. FIG. 26 is a side view showing the head unit. FIG. 27 is a front view showing the head unit. FIG. 28 is a cross-sectional view showing the head unit.

ヘッドユニット420は、図15ないし図28に示すように、ヘッド本体部430と、インク供給部431とを有している。また、ヘッド本体部430は、平板状のキャリッジ426と、このキャリッジ426に複数取り付けられた実質的に略同一形状のヘッド装置433とを有している。   The head unit 420 includes a head main body 430 and an ink supply unit 431 as shown in FIGS. The head main body 430 includes a flat carriage 426 and a plurality of substantially identical head devices 433 attached to the carriage 426.

(ヘッド装置の構成)
図29はヘッドユニット420に配設されたヘッド装置433を示す分解斜視図である。
(Configuration of head device)
FIG. 29 is an exploded perspective view showing the head device 433 disposed in the head unit 420.

ヘッド装置433は、図29に示すように、短冊状のプリント基板435を有している。このプリント基板435には、各種電気部品436が実装され図示しない電気配線が設けられている。また、プリント基板435には、長手方向の一端側(図6中右側)に位置して窓部437が貫通形成されている。さらに、プリント基板435には、インクであるフィルタエレメント材料13が流通可能な流通路438が窓部437の両側に位置して設けられている。   As shown in FIG. 29, the head device 433 includes a strip-shaped printed board 435. Various electrical components 436 are mounted on the printed board 435, and electrical wiring (not shown) is provided. Further, a window portion 437 is formed through the printed circuit board 435 so as to be located at one end side in the longitudinal direction (right side in FIG. 6). Further, the printed circuit board 435 is provided with flow passages 438 through which the filter element material 13 that is ink can flow, on both sides of the window portion 437.

そして、このプリント基板435の一面側(図29中下面側)には、長手方向の略一端側(図29中右側)に位置してインクジェットヘッド421が取付部材440により一体的に取り付けられている。このインクジェットヘッド421は、長手矩形状に形成され、長手方向がプリント基板435の長手方向に沿う状態で取り付けられる。   The inkjet head 421 is integrally attached to one surface side (the lower surface side in FIG. 29) of the printed circuit board 435 by a mounting member 440 located at substantially one end side (the right side in FIG. 29) in the longitudinal direction. . The inkjet head 421 is formed in a rectangular shape, and is attached in a state where the longitudinal direction is along the longitudinal direction of the printed circuit board 435.

なお、各ヘッド装置433における各インクジェットヘッド421は、実質的に略同一形状、すなわち例えば所定の規格の製品であって、所定の品質に選別されたものなどであればよい。具体的には、これらインクジェットヘッド421が同一個数の後述するノズルを有し、ノズルの形成位置が互いに同一であることが、キャリッジ426に対してインクジェットヘッド421を組み立てる際に効率的となり、また組み立て精度も高まるので、好ましい。さらに、同一の製造・組立工程を経て作られた製品を用いれば、特別な製品を作る必要が無くなり、低コストとすることができる。   In addition, each inkjet head 421 in each head device 433 may have substantially the same shape, that is, a product of a predetermined standard, for example, that is selected to have a predetermined quality. Specifically, these inkjet heads 421 have the same number of nozzles, which will be described later, and the nozzles are formed at the same position, which is efficient when assembling the inkjet head 421 with respect to the carriage 426. It is preferable because accuracy is improved. Furthermore, if products made through the same manufacturing and assembly process are used, it is not necessary to make a special product, and the cost can be reduced.

また、プリント基板435の他面側(図29中上面側)には、長手方向の略他端側(図29中左側)に位置してインクジェットヘッド421に電気配線442にて電気的に接続されるコネクタ441が一体的に取り付けられている。これらコネクタ441には、ヘッドユニット420の移動に影響しないように副走査駆動装置427に配線された電気配線442(電源配線、信号配線を含む)が接続される。この電気配線442は図示しない制御装置とヘッドユニット420を接続するものとなる。すなわち、これら電気配線442は、図15および図28に二点鎖線の矢印で模式的に示すように、副走査駆動装置427からヘッドユニット420の2列のヘッド装置433の配列方向の両側であるヘッドユニット420の外周側に配線されてコネクタ441に接続され、電気ノイズが生じないようになっている。   Further, on the other surface side (upper surface side in FIG. 29) of the printed circuit board 435, it is located on the substantially other end side in the longitudinal direction (left side in FIG. 29) and is electrically connected to the ink jet head 421 by the electric wiring 442. A connector 441 is integrally attached. These connectors 441 are connected to electrical wirings 442 (including power supply wiring and signal wiring) wired to the sub-scanning drive device 427 so as not to affect the movement of the head unit 420. The electrical wiring 442 connects the control unit (not shown) and the head unit 420. That is, these electrical wirings 442 are on both sides in the arrangement direction of the two rows of head devices 433 from the sub-scanning driving device 427 to the head unit 420 as schematically shown by the two-dot chain arrows in FIGS. It is wired on the outer peripheral side of the head unit 420 and connected to the connector 441 so that no electrical noise is generated.

さらに、プリント基板435の他面側(図29中上面側)には、長手方向の略一端側(図29中右側)でインクジェットヘッド421に対応してインク導入部443が取り付けられている。このインク導入部443は、取付部材440に設けられプリント基板435を貫通する位置決めピン部444を嵌合する略円筒状の位置決め筒部445と、プリント基板435に係止する係止爪部446とを有している。   Furthermore, an ink introducing portion 443 is attached to the other surface side (upper surface side in FIG. 29) of the printed board 435 corresponding to the ink jet head 421 on substantially one end side in the longitudinal direction (right side in FIG. 29). The ink introduction portion 443 includes a substantially cylindrical positioning tube portion 445 that fits a positioning pin portion 444 that is provided on the attachment member 440 and penetrates the printed circuit board 435, and a locking claw portion 446 that engages with the printed circuit board 435. have.

また、インク導入部443には、先端先細り形状の略円筒状の連結部448が一対突設されている。これら連結部448は、プリント基板435側となる基端部にプリント基板435の流通路438に略液密に連通する図示しない開口を有し、先端部にフィルタエレメント材料13が流通可能な図示しない孔を有している。   The ink introduction part 443 is provided with a pair of tapered connection parts 448 each having a tapered end. These connecting portions 448 have an opening (not shown) that communicates with the flow passage 438 of the printed circuit board 435 in a substantially liquid-tight manner at the base end on the printed circuit board 435 side, and the filter element material 13 can flow through the distal end (not shown). It has a hole.

さらに、これら連結部448には、図26ないし図29に示すように、先端側に位置してシール連結部450がそれぞれ取り付けられている。これらシール連結部450は、内周側に連結部448を略液密に嵌着する略円筒状に形成され、先端部にシール部材449が設けられている。   Further, as shown in FIGS. 26 to 29, seal connecting portions 450 are respectively attached to these connecting portions 448 so as to be located on the distal end side. These seal connecting portions 450 are formed in a substantially cylindrical shape in which the connecting portion 448 is fitted in a substantially liquid-tight manner on the inner peripheral side, and a seal member 449 is provided at the tip portion.

次に、本体の構造の説明をする。   Next, the structure of the main body will be described.

載置台7は、この塗布装置によって液滴(液体)を付与される基板101を載置させるもので、この基板101を基準位置に固定する機構を備える。   The mounting table 7 is for mounting the substrate 101 to which droplets (liquid) are applied by the coating apparatus, and includes a mechanism for fixing the substrate 101 at a reference position.

X方向駆動軸4には、X方向駆動モータ2が接続されている。X方向駆動モータ2は、ステッピングモータ等であり、制御装置6からX軸方向の駆動信号が供給されると、X方向駆動軸4を回転させる。X方向駆動軸4が回転させられると、インクジェットヘッド群1がX軸方向に移動する。   An X-direction drive motor 2 is connected to the X-direction drive shaft 4. The X direction drive motor 2 is a stepping motor or the like, and rotates the X direction drive shaft 4 when a drive signal in the X axis direction is supplied from the control device 6. When the X direction drive shaft 4 is rotated, the inkjet head group 1 moves in the X axis direction.

Y方向ガイド軸5は、基台9に対して動かないように固定されている。載置台7は、Y方向駆動モータ3を備えている。Y方向駆動モータ3は、ステッピングモータ等であり、制御装置6からY軸方向の駆動信号が供給されると、載置台7をY軸方向に移動させる。   The Y-direction guide shaft 5 is fixed so as not to move with respect to the base 9. The mounting table 7 includes a Y-direction drive motor 3. The Y-direction drive motor 3 is a stepping motor or the like, and moves the mounting table 7 in the Y-axis direction when a drive signal in the Y-axis direction is supplied from the control device 6.

制御回路6は、インクジェットヘッド群1の各ヘッドに液滴の吐出制御用の電圧を供給する。また、X方向駆動モータ2にインクジェットヘッド群1のX軸方向の移動を制御する駆動パルス信号を、Y方向駆動モータ3に載置台7のY軸方向の移動を制御する駆動パルス信号を供給する。   The control circuit 6 supplies a droplet discharge control voltage to each head of the inkjet head group 1. Further, a drive pulse signal for controlling the movement of the inkjet head group 1 in the X-axis direction is supplied to the X-direction drive motor 2, and a drive pulse signal for controlling the movement of the mounting table 7 in the Y-axis direction is supplied to the Y-direction drive motor 3. .

クリーニング機構部8は、インクジェットヘッド群1をクリーニングする機構を備えている。クリーニング機構部8には、図示しないY方向の駆動モータが備えられる。このY方向の駆動モータの駆動により、クリーニング機構8は、Y方向ガイド軸5に沿って移動する。クリーニング機構8の移動も、制御装置6によって制御される。   The cleaning mechanism unit 8 includes a mechanism for cleaning the inkjet head group 1. The cleaning mechanism unit 8 includes a Y-direction drive motor (not shown). The cleaning mechanism 8 moves along the Y-direction guide shaft 5 by driving the Y-direction drive motor. The movement of the cleaning mechanism 8 is also controlled by the control device 6.

ヒータ15は、ここではランプアニールにより基板101を熱処理する手段であり、基板上に塗布された液体の蒸発・乾燥を行うとともに導電膜に変換させる。このヒータの電源の投入及び遮断も制御回路6によって制御される。なお、ヒーターの代わりにホットプレートを用いた熱処理、乾燥炉を用いた熱処理であってもかまわない。   Here, the heater 15 is a means for heat-treating the substrate 101 by lamp annealing, evaporates and dries the liquid applied on the substrate, and converts it into a conductive film. The heater 6 is also turned on and off by the control circuit 6. Note that heat treatment using a hot plate instead of the heater or heat treatment using a drying furnace may be used.

このようなインクジェット装置において、インクジェット装置による描画には、予備吐出、フラッシングが必要となる。   In such an ink jet apparatus, preliminary ejection and flushing are required for drawing by the ink jet apparatus.

配線パターンとしての外部接続用端子を形成する際、予め基板の外に予備吐出を行う。これは、ノズルの目詰まりを防止し、所定の量の液滴を吐出させるためのものである。予備吐出する液滴の量は約200〜5000発であり、インクジェットヘッドに形成されている全ノズルから吐出を行うものである。また、フラッシングも同様であり、全ノズルから液滴を吐出し、吐出安定性を確保する。吐出量は適宜設定されるが、予備吐出と同様の量が吐出される。   When forming an external connection terminal as a wiring pattern, preliminary discharge is performed in advance outside the substrate. This is for preventing clogging of the nozzle and discharging a predetermined amount of droplets. The amount of liquid droplets to be preliminarily ejected is about 200 to 5000 and is ejected from all nozzles formed on the ink jet head. The flushing is the same, and droplets are ejected from all nozzles to ensure ejection stability. The discharge amount is set as appropriate, but the same amount as the preliminary discharge is discharged.

このようなインクジェットヘッドにより吐出される液滴は、例えば図16〜23のような順番で吐出される。以下、本発明の外部接続用端子を形成する形成方法について図面を参照しながら説明する。図16は本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示すフローチャート図である。   The droplets ejected by such an ink jet head are ejected in the order as shown in FIGS. Hereinafter, a forming method for forming an external connection terminal of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 16 is a flowchart showing an embodiment of the pattern forming method of the present invention.

ここで、本実施形態では基板上に導電膜配線パターンを形成する場合を例にして説明する。   Here, in this embodiment, a case where a conductive film wiring pattern is formed on a substrate will be described as an example.

図16において、本実施形態に係るパターンの形成方法は、液体材料の液滴が配置される基板を所定の溶媒等を用いて洗浄する工程(ステップS1)と、基板の表面処理工程の一部を構成する撥液化処理工程(ステップS2)と、撥液化処理された基板表面の撥液性を調整する表面処理工程の一部を構成する撥液性低下処理工程(ステップS3)と、表面処理された基板上に液滴吐出法に基づいて導電膜配線形成用材料を含む液体材料の液滴を配置して膜パターンを描画(形成)する材料配置工程(ステップS4)と、基板上に配置された液体材料の溶媒成分の少なくとも一部を除去する熱・光処理を含む中間乾燥処理工程(ステップS5)と、所定の膜パターンが描画された基板を焼成する焼成工程(ステップS7)とを有している。なお、中間乾燥処理工程の後、所定のパターン描画が終了したかどうかが判断され(ステップS6)、パターン描画が終了したら焼成工程が行われ、一方、パターン描画が終了していなかったら材料配置工程が行われる。   In FIG. 16, the pattern forming method according to the present embodiment includes a step (step S1) of cleaning a substrate on which liquid material droplets are arranged using a predetermined solvent and a part of the substrate surface treatment step. A liquid repellency treatment process (step S2), a liquid repellency reduction treatment process (step S3) constituting a part of the surface treatment process for adjusting the liquid repellency of the liquid-repellent substrate surface, and a surface treatment. A material placement step (step S4) for placing (forming) a film pattern by placing droplets of a liquid material containing a conductive film wiring forming material on the substrate, based on a droplet discharge method; An intermediate drying treatment step (step S5) including heat / light treatment for removing at least a part of the solvent component of the liquid material, and a firing step (step S7) for firing the substrate on which a predetermined film pattern is drawn. Have. After the intermediate drying process, it is determined whether or not the predetermined pattern drawing is completed (step S6). When the pattern drawing is completed, the baking process is performed. On the other hand, when the pattern drawing is not completed, the material arranging process is performed. Is done.

次に、図17〜図23を参照しながら本発明の特徴部分である液滴吐出法に基づく材料配置工程(ステップS4)について説明する。   Next, the material placement step (step S4) based on the droplet discharge method, which is a characteristic part of the present invention, will be described with reference to FIGS.

本実施形態の材料配置工程は、導電膜配線形成用材料を含む液体材料の液滴を液滴吐出装置の液滴吐出ヘッドより基板上に吐出することにより基板上に線状の膜パターン(配線パターン)Wである外部接続用端子を形成する工程である。液体材料は導電膜配線形成用材料である金属等の導電性微粒子を分散媒に分散した液状体である。   In the material placement process of the present embodiment, a liquid film containing a conductive film wiring forming material is ejected onto a substrate from a droplet ejection head of a droplet ejection apparatus, thereby forming a linear film pattern (wiring) on the substrate. Pattern) is a step of forming an external connection terminal W. The liquid material is a liquid material in which conductive fine particles such as metal, which are conductive film wiring forming materials, are dispersed in a dispersion medium.

図16において、材料配置工程(ステップS4)は、液滴吐出装置の液滴吐出ヘッド10(前述のヘッド群)の吐出ノズル10Aより液体材料の液滴を吐出して基板11に配置することで、この基板11上に膜パターンWの線幅方向中央部(中央パターン)W1を形成する第1工程(図16(a)参照)と、基板11に形成された中央パターンW1に対して一方の側部(第1側部パターン)W2を形成する第2工程(図17(b)参照)と、基板11に形成された中央パターンW1に対して他方の側部(第2側部パターン)W3を形成する第3工程(図17(c)参照)とを有している。これら第1、第2、及び第3工程により、図17(c)に示すような線状の膜パターンWが形成される。   In FIG. 16, the material placement step (step S4) is performed by ejecting liquid material droplets from the ejection nozzle 10A of the droplet ejection head 10 (the above-described head group) of the droplet ejection apparatus and placing the droplets on the substrate 11. The first step (see FIG. 16A) for forming the central portion (center pattern) W1 in the line width direction of the film pattern W on the substrate 11 and one of the central pattern W1 formed on the substrate 11 A second step (see FIG. 17B) for forming the side portion (first side portion pattern) W2, and the other side portion (second side portion pattern) W3 with respect to the central pattern W1 formed on the substrate 11. And a third step (see FIG. 17C). By these first, second, and third steps, a linear film pattern W as shown in FIG. 17C is formed.

第1工程では、図17(a)に示すように、液滴吐出ヘッド10から液体材料の液滴が吐出され、基板11上に一定の距離間隔(ピッチ)で配置される。そして、この液滴の配置動作を繰り返すことにより基板11上における膜パターンWの形成予定領域W4の中央部に、この膜パターンWの一部を構成する線状の中央パターンW1が形成される。なお、基板11の表面はステップS2及びS3により所望の撥液性に予め加工されているので、基板11上に配置した液滴の拡がりが抑制される。そのためパターン形状を良好な状態に確実に制御できるとともに厚膜化も容易である。   In the first step, as shown in FIG. 17A, droplets of the liquid material are ejected from the droplet ejection head 10 and arranged on the substrate 11 at a constant distance interval (pitch). Then, by repeating this droplet placement operation, a linear center pattern W1 constituting a part of the film pattern W is formed in the center of the film pattern W formation scheduled region W4 on the substrate 11. In addition, since the surface of the substrate 11 is previously processed to have a desired liquid repellency by steps S2 and S3, the spread of the droplets arranged on the substrate 11 is suppressed. Therefore, the pattern shape can be reliably controlled to be in a good state and the film thickness can be easily increased.

ここで、基板11上に中央パターンW1を形成するための液滴を配置した後、分散媒の除去を行うために必要に応じて中間乾燥処理(ステップS5)が行われる。中間乾燥処理は、例えばホットプレート、電気炉、及び熱風発生機等の加熱装置を用いた一般的な熱処理の他にランプアニールを用いた光処理であってもよい。   Here, after disposing the droplets for forming the central pattern W1 on the substrate 11, an intermediate drying process (step S5) is performed as necessary to remove the dispersion medium. The intermediate drying process may be a light process using lamp annealing in addition to a general heat treatment using a heating device such as a hot plate, an electric furnace, and a hot air generator.

次に、第2工程では、図17(b)に示すように、液滴吐出ヘッド10から液体材料の液滴が吐出され、これにより中央パターンW1の一方の側に隣接する線状の第1側部パターンW2が形成される。ここで、液滴吐出ヘッド10は第1側部パターンW2を形成するに際し、吐出した液滴と基板11上に形成された中央パターンW1との少なくとも一部が重なるように、液滴を吐出する。これにより中央パターンW1と第1側部パターンW2を形成する液滴とは確実に接続され、形成された膜パターンWに導電膜配線形成用材料の不連続部が生じることがない。   Next, in the second step, as shown in FIG. 17B, the liquid material droplets are ejected from the droplet ejection head 10, and thereby the linear first adjacent to one side of the central pattern W 1. Side pattern W2 is formed. Here, when forming the first side pattern W2, the droplet discharge head 10 discharges the droplet so that the discharged droplet and the central pattern W1 formed on the substrate 11 overlap each other. . As a result, the central pattern W1 and the liquid droplets forming the first side pattern W2 are reliably connected, and the formed film pattern W does not have a discontinuous portion of the conductive film wiring forming material.

そして、第2工程においても液滴は基板11上に一定のピッチで配置され、この配置動作を繰り返すことにより、膜パターンWの形成予定領域W4の一方の側部にこの膜パターンWの一部を構成する第1側部パターンW2が形成され、中央パターンW1と第1側部パターンW2とが一体化される。   Also in the second step, the droplets are arranged on the substrate 11 at a constant pitch, and by repeating this arrangement operation, a part of the film pattern W is formed on one side of the region W4 where the film pattern W is to be formed. Are formed, and the central pattern W1 and the first side pattern W2 are integrated.

ここでも、基板11上に第1側部パターンW2を形成するための液滴を配置した後、分散媒の除去を行うために必要に応じて中間乾燥処理(ステップS5)が行われる。   Also here, after the droplets for forming the first side pattern W2 are arranged on the substrate 11, an intermediate drying process (step S5) is performed as necessary to remove the dispersion medium.

次に、第3工程では、図17(c)に示すように、液滴吐出ヘッド10から液体材料の液滴が吐出され、これにより中央パターンW1の他方の側に隣接する線状の第2側部パターンW3が形成される。ここでも、液滴吐出ヘッド10は第2側部パターンW3を形成するに際し、吐出した液滴と基板11上に形成された中央パターンW1との少なくとも一部が重なるように、液滴を吐出する。これにより中央パターンW1と第2側部パターンW3を形成する液滴とは確実に接続され、形成された膜パターンWに導電膜配線形成用材料の不連続部が生じることがない。こうして、中央パターンW1と第2側部パターンW3とが一体化され、3つの線状のパターンW1、W2、及びW3が一体化されて幅広の膜パターンWが形成される。そして、第3工程においても液滴は基板上に一定のピッチで配置され、この配置動作を繰り返すことにより、膜パターンWの形成予定領域W4の他方の側部にこの膜パターンWの一部を構成する第2側部パターンW3が形成される。   Next, in the third step, as shown in FIG. 17C, liquid droplets of the liquid material are discharged from the liquid droplet discharge head 10, whereby the second linear line adjacent to the other side of the central pattern W1. Side pattern W3 is formed. Also in this case, when forming the second side pattern W3, the droplet discharge head 10 discharges the droplet such that at least a part of the discharged droplet and the central pattern W1 formed on the substrate 11 overlap. . As a result, the central pattern W1 and the droplets forming the second side pattern W3 are securely connected, and a discontinuous portion of the conductive film wiring forming material does not occur in the formed film pattern W. Thus, the central pattern W1 and the second side pattern W3 are integrated, and the three linear patterns W1, W2, and W3 are integrated to form a wide film pattern W. In the third step, the droplets are arranged on the substrate at a constant pitch. By repeating this arrangement operation, a part of the film pattern W is formed on the other side of the region W4 where the film pattern W is to be formed. A second side pattern W3 is formed.

このとき、第2、第3工程で吐出する液滴の吐出位置(中央パターンWとの距離)を調整することで最終的な線状の膜パターンWの線幅を制御することができる。また、第1、第2、及び第3の各工程で形成する複数のパターンW1、W2、及びW3の基板11の表面からの高さ(厚み)を変化させることにより、一体化後の膜パターンWの膜厚を制御できる。   At this time, the line width of the final linear film pattern W can be controlled by adjusting the discharge position (distance from the central pattern W) of the droplets discharged in the second and third steps. Further, by changing the height (thickness) of the plurality of patterns W1, W2, and W3 formed in each of the first, second, and third steps from the surface of the substrate 11, the film pattern after integration is changed. The film thickness of W can be controlled.

なお、パターンの輪郭において凹凸形状が形成された場合には、必要に応じて凹凸部を埋めるように微小液滴を塗布することが好ましい。この微小液滴は、通常塗布する液滴(W1、W2、W3で塗布する液滴を指す)よりも小さい液滴であり、吐出量も通常の液滴よりも少なく設定されている。このように微小液滴を塗布することにより、パターンの輪郭に凹凸がなく、直線的なパターンを形成することができる。   In addition, when uneven | corrugated shape is formed in the outline of a pattern, it is preferable to apply | coat a microdroplet so that an uneven | corrugated part may be filled as needed. These micro droplets are droplets smaller than the droplets to be applied normally (referring to the droplets applied by W1, W2, and W3), and the ejection amount is set to be smaller than that of the normal droplets. By applying the fine liquid droplets in this way, the pattern outline has no irregularities and a linear pattern can be formed.

次に、図18(a)〜(c)を参照しながら、線状の中央パターンW1、及び側部パターンW2、W3を形成する手順について説明する。   Next, a procedure for forming the linear center pattern W1 and the side patterns W2 and W3 will be described with reference to FIGS.

まず、図18(a)に示すように、液滴吐出ヘッド10から吐出した液滴L1が所定の間隔をあけて基板11上に順次配置される。すなわち、液滴吐出ヘッド10は基板11上で液滴L1どうしが重ならないように配置する(第1配置工程)。本例では、液滴L1の配置ピッチP1は基板11上に配置した直後の液滴L1の直径よりも大きくなるように設定されている。これにより基板11上に配置された直後の液滴L1どうしは重ならずに(接触せずに)、液滴L1どうしが合体して基板11上で濡れ拡がることが防止される。また、液滴L1の配置ピッチP1は基板11上に配置した直後の液滴L1の直径の2倍以下となるように設定されている。   First, as shown in FIG. 18A, the droplets L1 ejected from the droplet ejection head 10 are sequentially arranged on the substrate 11 at a predetermined interval. That is, the droplet discharge head 10 is arranged so that the droplets L1 do not overlap on the substrate 11 (first arrangement step). In this example, the arrangement pitch P1 of the droplets L1 is set to be larger than the diameter of the droplets L1 immediately after being arranged on the substrate 11. As a result, the droplets L1 immediately after being placed on the substrate 11 do not overlap (but do not contact), and the droplets L1 are prevented from coalescing and spreading on the substrate 11. The arrangement pitch P1 of the droplets L1 is set to be not more than twice the diameter of the droplets L1 immediately after being arranged on the substrate 11.

ここで、基板11上に液滴L1を配置した後、分散媒の除去を行うために必要に応じて中間乾燥処理(ステップS5)を行うことができる。中間乾燥処理は、上述したように、例えばホットプレート、電気炉、及び熱風発生機等の加熱装置を用いた一般的な熱処理の他に、ランプアニールを用いた光処理であってもよい。この場合、分散媒の除去だけでなく、分散液を導電膜に変換するまで、加熱や光照射の度合いを高めても差し支えないが、分散媒をある程度除去できれば十分である。   Here, after disposing the droplet L1 on the substrate 11, an intermediate drying process (step S5) can be performed as necessary to remove the dispersion medium. As described above, the intermediate drying treatment may be, for example, a light treatment using lamp annealing in addition to a general heat treatment using a heating device such as a hot plate, an electric furnace, and a hot air generator. In this case, not only the dispersion medium but also the degree of heating and light irradiation may be increased until the dispersion liquid is converted into a conductive film, but it is sufficient if the dispersion medium can be removed to some extent.

次に、図18(b)に示すように、上述した液滴の配置動作が繰り返される。
すなわち図18(a)に示した前回と同様に、液滴吐出ヘッド10から液体材料が液滴L2として吐出され、その液滴L2が一定距離ごとに基板11に配置される。
Next, as shown in FIG. 18B, the above-described droplet placement operation is repeated.
That is, as in the previous time shown in FIG. 18A, the liquid material is ejected from the droplet ejection head 10 as the droplet L2, and the droplet L2 is arranged on the substrate 11 at regular intervals.

このとき、液滴L2の体積(1つの液滴あたりの液体材料の量)、及びその配置ピッチP2は前回の液滴L1と同じである。そして、液滴L2の配置位置は前回の液滴L1から1/2ピッチだけシフトされ、基板11上に配置されている前回の液滴L1どうしの中間位置に今回の液滴L2が配置される(第2配置工程)。図示されているように、最初に塗布された第1の液滴L1の間を補完するように第2の液滴L2を塗布することにより、平坦性に優れた配線パターン(ここでは外部接続用端子)が形成できる。   At this time, the volume of the droplet L2 (the amount of the liquid material per droplet) and the arrangement pitch P2 thereof are the same as the previous droplet L1. The arrangement position of the droplet L2 is shifted by 1/2 pitch from the previous droplet L1, and the current droplet L2 is arranged at an intermediate position between the previous droplets L1 disposed on the substrate 11. (Second arrangement step). As shown in the drawing, the second liquid droplet L2 is applied so as to complement the space between the first liquid droplets L1 applied first, thereby providing a wiring pattern with excellent flatness (here, for external connection). Terminal) can be formed.

前述したように、基板11上の液滴L1の配置ピッチP1は、基板11上に配置した直後の液滴L1の直径よりも大きく且つ、その直径の2倍以下である。そのため、液滴L1の中間位置に液滴L2が配置されることにより、液滴L1に液滴L2が一部重なり、液滴L1どうしの間の隙間が埋まる。このとき、今回の液滴L2と前回の液滴L1とが接するが、前回の液滴L1はすでに分散媒が完全に又はある程度除去されているので、両者が合体して基板11上で拡がることは少ない。   As described above, the arrangement pitch P1 of the droplets L1 on the substrate 11 is larger than the diameter of the droplets L1 immediately after being arranged on the substrate 11 and not more than twice the diameter. For this reason, the droplet L2 is arranged at an intermediate position between the droplets L1, so that the droplet L2 partially overlaps the droplet L1, and the gap between the droplets L1 is filled. At this time, the current droplet L2 and the previous droplet L1 are in contact with each other, but since the dispersion medium has already been completely or partially removed from the previous droplet L1, the two merge together and spread on the substrate 11. There are few.

なお、図18(b)では、液滴L2の配置を開始する位置を前回と同じ側(図18(a)に示す左側)としているが逆側(右側)としてもよい。往復動作の各方向への移動時に液滴の吐出を行うことにより、液滴吐出ヘッド10と基板11との相対移動の距離を少なくできる。   In FIG. 18B, the position where the droplet L2 starts to be arranged is on the same side as the previous time (left side shown in FIG. 18A), but may be on the opposite side (right side). By ejecting droplets during reciprocating movement in each direction, the distance of relative movement between the droplet ejection head 10 and the substrate 11 can be reduced.

液滴L2を基板11上に配置した後、分散媒の除去を行うために前回と同様に必要に応じて中間乾燥処理を行うことが可能である。   After placing the droplet L2 on the substrate 11, in order to remove the dispersion medium, it is possible to perform an intermediate drying process as necessary, similarly to the previous time.

こうした一連の液滴の配置動作を複数回繰り返すことにより、基板11上に配置される液滴どうしの隙間が埋まり、図18(c)に示すように、線状の連続したパターンである中央パターンW1、及び側部パターンW2、W3が基板11上に形成される。この場合、液滴の配置動作の繰り返し回数を増やすことにより基板11上に液滴が順次重なり、パターンW1、W2、W3の膜厚、すなわち基板11の表面からの高さ(厚み)が増す。線状パターンW1、W2、W3の高さ(厚み)は最終的な膜パターンに必要とされる所望の膜厚に応じて設定され、この設定した膜厚に応じて上記液滴の配置動作の繰り返し回数が設定される。   By repeating such a series of droplet placement operations a plurality of times, the gaps between the droplets placed on the substrate 11 are filled, and as shown in FIG. 18C, a central pattern that is a linear continuous pattern is formed. W1 and side patterns W2 and W3 are formed on the substrate 11. In this case, by increasing the number of times the droplet placement operation is repeated, the droplets sequentially overlap the substrate 11, and the film thickness of the patterns W1, W2, and W3, that is, the height (thickness) from the surface of the substrate 11 increases. The height (thickness) of the linear patterns W1, W2, and W3 is set according to the desired film thickness required for the final film pattern, and the droplet placement operation is performed according to the set film thickness. The number of repetitions is set.

なお、線状パターンの形成方法は図18(a)〜(c)に示したものに限定されない。例えば、液滴の配置ピッチや繰り返しの際のシフト量等を任意に設定可能であり、パターンW1、W2、W3を形成する際の液滴の基板P上での配置ピッチをそれぞれ異なる値に設定してもよい。例えば、中央パターンW1を形成する際の液滴ピッチがP1である場合、側部パターンW2、W3を形成する際の液滴ピッチをP1より広いピッチ(例えばP1×2)としてもよい。もちろん、P1より狭いピッチ(例えばP1×0.5)としてもよい。また、パターンW1、W2、W3を形成する際の液滴の体積をそれぞれ異なる値に設定してもよい。あるいは、第1、第2、及び第3の各工程において基板11や液滴吐出ヘッド10が配置される雰囲気である液滴配置雰囲気(温度や湿度等)、すなわち材料配置環境条件を互いに異なる条件に設定してもよい。   In addition, the formation method of a linear pattern is not limited to what was shown to Fig.18 (a)-(c). For example, it is possible to arbitrarily set the arrangement pitch of the droplets and the shift amount at the time of repetition, and the arrangement pitches of the droplets on the substrate P when forming the patterns W1, W2, and W3 are set to different values. May be. For example, when the droplet pitch when forming the central pattern W1 is P1, the droplet pitch when forming the side patterns W2 and W3 may be wider than P1 (for example, P1 × 2). Of course, the pitch may be narrower than P1 (for example, P1 × 0.5). Further, the volume of the droplets when forming the patterns W1, W2, and W3 may be set to different values. Alternatively, in each of the first, second, and third steps, the droplet placement atmosphere (temperature, humidity, etc.) that is the atmosphere in which the substrate 11 and the droplet discharge head 10 are placed, that is, the material placement environment conditions are different from each other. May be set.

なお、本実施形態では複数の側部パターンW2、W3は1本ずつ形成されるが2本同時に形成されてもよい。ここで、1本ずつ複数のパターンW2、W3を形成する場合と2本同時に形成する場合とでは、乾燥処理の回数の合計が異なる可能性があるため、基板11の撥液性が損なわれないように乾燥条件を定めるとよい。   In the present embodiment, the plurality of side patterns W2 and W3 are formed one by one, but two may be formed simultaneously. Here, there is a possibility that the total number of drying processes may be different between the case where a plurality of patterns W2 and W3 are formed one by one and the case where two patterns are simultaneously formed, so that the liquid repellency of the substrate 11 is not impaired. The drying conditions should be determined as follows.

なお、本実施形態では、第1工程で1本の中央パターンW1を形成したが、中央パターンW1を2本以上の複数形成してもよい。そして、この複数本の中央パターンW1の両側部に対して液滴を吐出し、これらを連続させることにより、より広い線幅の膜パターンを容易に形成できる。   In the present embodiment, one central pattern W1 is formed in the first step, but two or more central patterns W1 may be formed. A film pattern having a wider line width can be easily formed by discharging droplets to both sides of the plurality of central patterns W1 and continuing them.

更に、ある1つのノズルから液滴を塗布することも可能であるが、ノズル間における液滴の吐出量のばらつきをできるだけ抑えるために、異なるノズルによって液滴を塗布することも可能である。例えば、液滴L1の塗布には第1のノズルにより塗布を行い、液滴L1の間を保管する液滴L2は第1のノズルとは異なる第2のノズルにより塗布することが好ましい。更に、第1のノズルと第2のノズルは同じヘッドに形成されていても良いが、前述のとおり複数個のヘッドが形成されているので、別のヘッドに形成されていても良い。すなわち、第1のノズルは第1のヘッドに形成され、第2のノズルは第2のヘッドに形成され、所望のパターンを形成する際は、第1のノズル、第2のノズルにより塗布を行う、ことも可能である。   Furthermore, it is possible to apply droplets from one nozzle, but it is also possible to apply droplets by using different nozzles in order to suppress variations in the discharge amount of droplets between nozzles as much as possible. For example, it is preferable to apply the droplet L1 by using a first nozzle, and apply the droplet L2 stored between the droplets L1 by using a second nozzle different from the first nozzle. Further, the first nozzle and the second nozzle may be formed in the same head, but since a plurality of heads are formed as described above, they may be formed in different heads. That is, the first nozzle is formed in the first head, the second nozzle is formed in the second head, and when forming a desired pattern, the first nozzle and the second nozzle are used for coating. It is also possible.

次に、図19〜図22を参照しながら基板上に液滴を吐出する順序の一例について説明する。これらの図に示すように、基板11上には液体材料の液滴が吐出される格子状の複数の単位領域であるピクセルを有するビットマップが設定されている。液滴吐出ヘッド10は液滴をビットマップで設定されたピクセル位置に対して吐出する。ここで、1つのピクセルは正方形に設定されている。また、液滴吐出ヘッド10は基板11に対してY軸方向に走査しながら吐出ノズル10Aより液滴を吐出するものとする。そして、図19〜図22を用いた説明において、1回目の走査時に吐出された液滴には「1」を付し、2回目、3回目、…、n回目の走査時に吐出された液滴には「2」、「3」…、「n」を付す。また、以下の説明では、図19のグレーで示す領域(パターン形成予定領域)のそれぞれに液滴を吐出して膜パターンWを形成するものとする。   Next, an example of the order in which droplets are ejected onto the substrate will be described with reference to FIGS. As shown in these drawings, a bitmap having pixels, which are a plurality of grid-like unit regions, on which liquid material droplets are ejected is set on the substrate 11. The droplet discharge head 10 discharges droplets to pixel positions set by a bitmap. Here, one pixel is set to a square. The droplet discharge head 10 discharges droplets from the discharge nozzle 10A while scanning the substrate 11 in the Y-axis direction. In the description using FIG. 19 to FIG. 22, “1” is given to the droplets ejected at the first scanning, and the droplets ejected at the second, third,..., N-th scanning. “2”, “3”,..., “N” are attached to. In the following description, it is assumed that a film pattern W is formed by discharging droplets to each of the regions (pattern formation scheduled regions) indicated by gray in FIG.

図19(a)に示すように、1回目の走査時において、中央パターンW1を形成するために中央パターン形成予定領域に1つ分のピクセルをあけつつ液滴が吐出される。ここで、基板11に対して吐出された液滴は基板11に着弾することにより基板11上で濡れ拡がる。つまり、図19(a)に円で示すように、基板11に着弾した液滴は1つのピクセルの大きさより大きい直径cを有するように濡れ拡がる。ここで、液滴はY軸方向において所定間隔(1つ分のピクセル)をあけて吐出されているので、基板11上に配置された液滴どうしは重ならないように設定されている。こうすることによりY軸方向において基板11上に液体材料が過剰に設けられることを防ぎ、バルジの発生を防止することができる。   As shown in FIG. 19A, at the time of the first scanning, a droplet is ejected while forming one pixel in the central pattern formation scheduled region in order to form the central pattern W1. Here, the droplets ejected to the substrate 11 are wetted and spread on the substrate 11 by landing on the substrate 11. That is, as shown by a circle in FIG. 19A, the droplet that has landed on the substrate 11 spreads so as to have a diameter c larger than the size of one pixel. Here, since the droplets are ejected at a predetermined interval (one pixel) in the Y-axis direction, the droplets arranged on the substrate 11 are set so as not to overlap each other. By doing so, it is possible to prevent the liquid material from being excessively provided on the substrate 11 in the Y-axis direction and to prevent the occurrence of bulges.

なお、図19(a)では基板11に配置された際の液滴どうしは重ならないように配置されているが、僅かに重なるように液滴が配置されてもよい。また、ここでは1つ分のピクセルをあけて液滴が吐出されているが、2つ以上の任意の数のピクセル分だけ間隔をあけて液滴を吐出してもよい。この場合、基板11に対する液滴吐出ヘッド10の走査動作及び吐出動作を増やして基板上の液滴どうしの間を補間すればよい。   In FIG. 19A, the liquid droplets arranged on the substrate 11 are arranged so as not to overlap each other, but the liquid droplets may be arranged so as to slightly overlap each other. Further, here, the liquid droplets are ejected with one pixel being opened, but the liquid droplets may be ejected with an interval of an arbitrary number of two or more pixels. In this case, the number of scanning operations and ejection operations of the droplet ejection head 10 with respect to the substrate 11 may be increased to interpolate between droplets on the substrate.

図19(b)は2回目の走査により液滴吐出ヘッド10の吐出ノズル10Aから基板11に液滴を吐出した際の模式図である。なお、図19(b)において、2回目の走査時で吐出された液滴には「2」を付している。2回目の走査時では、1回目の走査時で吐出された液滴「1」の間を補間するように液滴が吐出される。   FIG. 19B is a schematic diagram when droplets are ejected from the ejection nozzle 10 </ b> A of the droplet ejection head 10 to the substrate 11 by the second scanning. In FIG. 19B, “2” is given to the droplets ejected during the second scanning. During the second scan, the droplets are ejected so as to interpolate between the droplets “1” ejected during the first scan.

そして、1回目及び2回目の走査及び吐出動作で液滴どうしが連続し、中央パターンW1が形成される。   Then, droplets are continuous in the first and second scanning and discharging operations, and a central pattern W1 is formed.

次に、液滴吐出ヘッド10と基板11とが1つのピクセルの大きさ分だけX軸方向に相対移動する。ここでは液滴吐出ヘッド10が基板11に対して−X方向に1つのピクセル分だけステップ移動する。そして、液滴吐出ヘッド10は3回目の走査を行う。これにより、図20(a)に示すように、中央パターンW1の−X側に隣接するように、第1側部パターンW2を形成するための液滴「3」が基板11上に配置される。ここでも、液滴「3」はY軸方向に1つ分のピクセルをあけて配置される。ここで、液滴吐出ヘッド10のX軸方向へのステップ移動後における1回目の走査時(すなわち全体における3回目の走査時)における液滴「3」は、ステップ移動前の1回目の走査時における液滴「1」に対してX軸について隣接する位置に配置される。   Next, the droplet discharge head 10 and the substrate 11 are relatively moved in the X-axis direction by the size of one pixel. Here, the droplet discharge head 10 is moved by one pixel in the −X direction with respect to the substrate 11. Then, the droplet discharge head 10 performs the third scan. Accordingly, as shown in FIG. 20A, the droplet “3” for forming the first side pattern W2 is disposed on the substrate 11 so as to be adjacent to the −X side of the central pattern W1. . Again, the droplet “3” is arranged with one pixel in the Y-axis direction. Here, the droplet “3” in the first scanning after the step movement of the droplet discharge head 10 in the X-axis direction (that is, the third scanning in the whole) is the first scanning before the step movement. Is disposed at a position adjacent to the droplet “1” in the X axis.

図20(b)は4回目の走査により液滴吐出ヘッド10から基板11に液滴を吐出した際の模式図である。なお、図20(b)において、4回目の走査時で吐出された液滴には「4」を付している。4回目の走査時では、3回目の走査時で吐出された液滴「3」の間を補間するように液滴が吐出される。そして、3回目及び4回目の走査及び吐出動作で液滴どうしが連続し、第1側部パターンW2が形成される。ここで、ステップ移動後の2回目の走査時(すなわち全体における4回目の走査時)における液滴「4」は、ステップ移動前の2回目の走査時における液滴「2」に対してX軸について隣接する位置に配置される。   FIG. 20B is a schematic diagram when droplets are ejected from the droplet ejection head 10 to the substrate 11 by the fourth scan. In FIG. 20B, the droplets ejected during the fourth scan are marked with “4”. During the fourth scan, the droplets are ejected so as to interpolate between the droplets “3” ejected during the third scan. Then, the droplets are continuous in the third and fourth scanning and discharging operations, and the first side pattern W2 is formed. Here, the droplet “4” at the second scanning after the step movement (that is, at the fourth scanning in the whole) is the X axis with respect to the droplet “2” at the second scanning before the step movement. Are arranged at adjacent positions.

次に、液滴吐出ヘッド10と基板11とが2つのピクセル分だけX軸方向に相対移動する。ここでは液滴吐出ヘッド10が基板に対して+X方向に2つのピクセル分だけステップ移動する。そして、液滴吐出ヘッド10は5回目の走査を行う。これにより、図21(a)に示すように、中央パターンW1の+X側に隣接するように、第2側部パターンW3を形成するための液滴「5」が基板上に配置される。ここでも、液滴「5」はY軸方向に1つ分のピクセルをあけて配置される。ここで、液滴吐出ヘッド10のX軸方向へのステップ移動後である5回目の走査時における液滴「5」は、液滴「1」に対してX軸について隣接する位置に配置される。   Next, the droplet discharge head 10 and the substrate 11 are relatively moved in the X-axis direction by two pixels. Here, the droplet discharge head 10 is stepped by two pixels in the + X direction with respect to the substrate. Then, the droplet discharge head 10 performs the fifth scan. Thereby, as shown in FIG. 21A, the droplet “5” for forming the second side pattern W3 is arranged on the substrate so as to be adjacent to the + X side of the central pattern W1. Again, the droplet “5” is arranged with one pixel in the Y-axis direction. Here, the droplet “5” at the time of the fifth scanning after the step movement of the droplet discharge head 10 in the X-axis direction is arranged at a position adjacent to the droplet “1” with respect to the X-axis. .

図21(b)は6回目の走査により液滴吐出ヘッド10から基板11に液滴を吐出した際の模式図である。なお、図21(b)において、6回目の走査時で吐出された液滴には「6」を付している。6回目の走査時では、5回目の走査時で吐出された液滴「5」の間を補間するように液滴が吐出される。そして、5回目及び6回目の走査及び吐出動作で液滴どうしが連続し、第2側部パターンW3が形成される。ここで、6回目の走査時における液滴「6」は、液滴「2」に対してX軸について隣接する位置に配置される。   FIG. 21B is a schematic diagram when droplets are ejected from the droplet ejection head 10 to the substrate 11 by the sixth scan. In FIG. 21B, “6” is given to the droplets ejected during the sixth scan. During the sixth scan, droplets are ejected so as to interpolate between the droplets “5” ejected during the fifth scan. Then, the droplets are continuous in the fifth and sixth scans and discharge operations, and the second side pattern W3 is formed. Here, the droplet “6” at the time of the sixth scanning is arranged at a position adjacent to the droplet “2” with respect to the X axis.

このように、1つのパターンに対し、同じノズルにより液滴を吐出することが可能であるが、前述の通り異なるノズルにより液滴を吐出することも可能である。異なるノズルで液滴を吐出する場合の吐出方法は前述の通りである。また、ノズルの活用に関しては、以下に記載の例においても、同様に実施可能である。   As described above, it is possible to eject droplets to one pattern by the same nozzle, but it is also possible to eject droplets by different nozzles as described above. The ejection method when ejecting liquid droplets with different nozzles is as described above. Further, the use of nozzles can be similarly implemented in the examples described below.

図22は液滴の吐出位置の配置順序を変えた例を示す図である。図22において、中央パターンW1を形成する液滴「1」のX軸について−X側に隣接する位置には、液滴吐出ヘッド10のX軸方向へのステップ移動後において2回目の走査時(全体で4回目の走査時)で吐出された液滴「4」が配置され、一方、中央パターンW1を形成する液滴「2」のX軸について−X側に隣接する位置には、液滴吐出ヘッド10のX軸方向へのステップ移動後において1回目の走査時(全体で3回目の走査時)で吐出された液滴「3」が配置されている。同様に、液滴「1」のX軸について+X側に隣接する位置には、全体で6回目の走査時において吐出された液滴「6」が配置され、一方、中央パターンW1を形成する液滴「2」の+X側に隣接する位置には、全体で5回目の走査時において吐出された液滴「5」が配置されている。このように、各ラインW1、W2、W3を形成するに際し、液滴の吐出位置の順序のそれぞれを各ライン毎に異なるように設定してもよい。   FIG. 22 is a diagram showing an example in which the arrangement order of droplet discharge positions is changed. In FIG. 22, the position adjacent to the −X side with respect to the X axis of the droplet “1” forming the central pattern W <b> 1 is the second scan after the step movement of the droplet discharge head 10 in the X axis direction ( The droplet “4” ejected at the time of the fourth scanning as a whole is disposed, while the droplet “2” forming the central pattern W1 is disposed at a position adjacent to the −X side with respect to the X axis. After the step movement of the ejection head 10 in the X-axis direction, the droplet “3” ejected at the first scanning (when the third scanning as a whole) is arranged. Similarly, at the position adjacent to the + X side with respect to the X axis of the droplet “1”, the droplet “6” discharged during the sixth scan as a whole is arranged, while the liquid forming the central pattern W1 At a position adjacent to the + X side of the droplet “2”, the droplet “5” ejected in the fifth scan as a whole is arranged. Thus, when forming each line W1, W2, W3, you may set so that each of the order of the discharge position of a droplet may differ for every line.

更に、図23に示す例のように、中央パターンW1を形成するための液滴「1」を配置した後、液滴吐出ヘッド10をステップ移動し、第1側部パターンW2を形成するための液滴「2」を配置し、次いで、液滴吐出ヘッド10をステップ移動して第2側部パターンW2を形成するための液滴「3」を配置するといった順序も可能である。そして、これらを補間するように液滴「4」、「5」、「6」が順次吐出される。このように、中央パターンW1を形成した後に側部パターンW2、W3を形成するに際し、例えば中央パターンW1を完全に形成してから側部パターンW2、W3を形成せずに、中央パターンW1が未完成の状態で側部パターンW2、W3の形成動作を開始してもよい。   Further, as in the example shown in FIG. 23, after the droplet “1” for forming the central pattern W1 is arranged, the droplet discharge head 10 is moved stepwise to form the first side pattern W2. The order of arranging the droplet “2” and then arranging the droplet “3” for forming the second side pattern W2 by moving the droplet ejection head 10 stepwise is also possible. Then, droplets “4”, “5”, and “6” are sequentially ejected so as to interpolate these. As described above, when the side patterns W2 and W3 are formed after the central pattern W1 is formed, the central pattern W1 is not formed without forming the side patterns W2 and W3 after the central pattern W1 is completely formed. The forming operation of the side patterns W2 and W3 may be started in a completed state.

図24(a)、(b)は、上記第2、第3工程において、中央パターンW1の両側部に第1、第2側部パターンW2、W3を形成するための液滴の配置例を示す図である。図24(a)の例では、図18を参照して説明した吐出条件(配置条件)と同じ条件で中央パターンW1が形成される。一方、第2、第3工程の吐出条件(配置条件)は中央パターンW1を形成するための吐出条件と異なっている。具体的には、第1工程に比べて液滴Lnの体積が大きく設定されている。すなわち、一度に吐出される液体材料の量が増加されている。なお、本例では、液滴Lnの配置ピッチは第1工程と同じである。液滴Lnの体積を大きくすることにより膜パターンW全体の形成時間を短縮でき、スループット向上を図ることができる。なお、液滴の体積が大きくなるとバルジが発生しやすくなるため、液体材料の材料特性に応じてバルジが生じない液滴体積条件を予め求めておき、この求めた条件に基づいて吐出液滴の最大可能体積を設定すればよい。   24A and 24B show examples of the arrangement of droplets for forming the first and second side patterns W2 and W3 on both sides of the central pattern W1 in the second and third steps. FIG. In the example of FIG. 24A, the central pattern W1 is formed under the same conditions as the ejection conditions (arrangement conditions) described with reference to FIG. On the other hand, the discharge conditions (arrangement conditions) in the second and third steps are different from the discharge conditions for forming the central pattern W1. Specifically, the volume of the droplet Ln is set larger than that in the first step. That is, the amount of liquid material discharged at a time is increased. In this example, the arrangement pitch of the droplets Ln is the same as that in the first step. By increasing the volume of the droplet Ln, the formation time of the entire film pattern W can be shortened, and the throughput can be improved. In addition, since the bulge is likely to be generated when the volume of the droplet is increased, a droplet volume condition in which no bulge is generated according to the material characteristics of the liquid material is obtained in advance, and based on the obtained condition, What is necessary is just to set the maximum possible volume.

図24(b)の例では、第2、第3工程の吐出条件は第1工程に比べて液滴Lnの配置ピッチを狭くしている。なお、液滴Lnの体積は第1工程と同じでもよく、図24(a)に示したように第1工程に比べて大きくしてもよい。液滴の配置ピッチを狭くすることにより単位面積あたりの液滴の配置量が増え、短時間でパターン形成が可能となる。   In the example of FIG. 24B, the discharge conditions of the second and third steps are such that the arrangement pitch of the droplets Ln is narrower than that of the first step. Note that the volume of the droplet Ln may be the same as that in the first step, or may be larger than that in the first step as shown in FIG. By narrowing the arrangement pitch of the liquid droplets, the amount of liquid droplets arranged per unit area increases, and a pattern can be formed in a short time.

以上のように、各種吐出方法を説明したが、異なるノズルにより液滴を吐出する方法について以下に補足する。   As described above, various ejection methods have been described. A method for ejecting liquid droplets using different nozzles will be supplemented below.

1つのパターン(ここでは1ライン)を形成する際、複数のノズルを用いて形成することが可能である。例えば、1番目の液滴を第1のノズルにより塗布し、2番目の液滴を第1のノズルとは異なる第2のノズルにより塗布することが可能である。さらには、3番目の液滴を第3のノズルから塗布し、4番目の液滴を第4のノズルから塗布することができる。このような塗布方法とすることにより、ノズルによって吐出量のばらつきがある場合、その差を最小限に抑えることができる。すなわち、同じノズルによって塗布した場合、吐出された液滴の総量に差が生じる。その結果、膜厚の差、更には電極としての抵抗値の差にも影響が出る。そこで、このような問題を改善するために、1つの電極(または1つのパターン)に対し異なるノズルにより液滴を塗布することにより、膜厚の差を最小限に抑えることができ、電極の抵抗もほぼ均一にすることが可能となる。   When forming one pattern (here, one line), it is possible to use a plurality of nozzles. For example, the first droplet can be applied by a first nozzle, and the second droplet can be applied by a second nozzle different from the first nozzle. Furthermore, the third droplet can be applied from the third nozzle, and the fourth droplet can be applied from the fourth nozzle. By adopting such a coating method, when there is a variation in the discharge amount depending on the nozzle, the difference can be minimized. That is, when applied by the same nozzle, a difference occurs in the total amount of ejected droplets. As a result, the difference in film thickness and the difference in resistance value as an electrode are also affected. Therefore, in order to improve such a problem, by applying droplets to one electrode (or one pattern) with different nozzles, the difference in film thickness can be minimized, and the resistance of the electrode Can be made substantially uniform.

<表面処理工程>
次に、図16で示した表面処理工程S2、S3について説明する。表面処理工程では、導電膜配線(外部接続用端子)を形成する基板の表面を液体材料に対して撥液性に加工する(ステップS2)。
<Surface treatment process>
Next, the surface treatment steps S2 and S3 shown in FIG. 16 will be described. In the surface treatment process, the surface of the substrate on which the conductive film wiring (external connection terminal) is formed is processed to be liquid repellent with respect to the liquid material (step S2).

具体的には、導電性微粒子を含有した液体材料に対する所定の接触角が、60℃以上、好ましくは90℃以上110℃以下となるように基板に対して表面処理を施す。表面の撥液性(濡れ性)を制御する方法としては、例えば、基板の表面に自己組織化膜を形成する方法、プラズマ処理法、UV照射をする方法等を採用できる。   Specifically, the substrate is subjected to surface treatment so that a predetermined contact angle with respect to the liquid material containing conductive fine particles is 60 ° C. or higher, preferably 90 ° C. or higher and 110 ° C. or lower. As a method for controlling the liquid repellency (wetting property) of the surface, for example, a method of forming a self-assembled film on the surface of the substrate, a plasma treatment method, a method of performing UV irradiation, or the like can be employed.

自己組織膜形成法では、導電膜配線を形成すべき基板の表面に、有機分子膜などからなる自己組織化膜を形成する。基板表面を処理するための有機分子膜は、基板に結合可能な官能基と、その反対側に親液基あるいは撥液基といった基板の表面性を改質する(表面エネルギーを制御する)官能基と、これらの官能基を結ぶ炭素の直鎖あるいは一部分岐した炭素鎖とを備えており、基板に結合して自己組織化して分子膜、例えば単分子膜を形成する。   In the self-assembled film forming method, a self-assembled film made of an organic molecular film or the like is formed on the surface of a substrate on which conductive film wiring is to be formed. The organic molecular film for treating the substrate surface has a functional group that can bind to the substrate and a functional group that modifies the surface properties of the substrate, such as a lyophilic group or a liquid repellent group, on the opposite side (controls the surface energy). And a carbon straight chain or a partially branched carbon chain connecting these functional groups, and is bonded to a substrate and self-assembles to form a molecular film, for example, a monomolecular film.

ここで、自己組織化膜とは、基板の下地層等の構成原子と反応可能な結合性官能基とそれ以外の直鎖分子とからなり、直鎖分子の相互作用により極めて高い配向性を有する化合物を、配向させて形成された膜である。この自己組織化膜は、単分子を配向させて形成されているので、極めて膜厚を薄くすることができ、しかも、分子レベルで均一な膜となる。すなわち、膜の表面に同じ分子が位置するため、膜の表面に均一でしかも優れた撥液性や親液性を付与することができる。   Here, the self-assembled film is composed of a binding functional group capable of reacting with constituent atoms such as an underlayer of the substrate and other linear molecules, and has extremely high orientation due to the interaction of the linear molecules. It is a film formed by orienting a compound. Since this self-assembled film is formed by orienting single molecules, the film thickness can be extremely reduced, and the film is uniform at the molecular level. That is, since the same molecule is located on the surface of the film, uniform and excellent liquid repellency and lyophilicity can be imparted to the surface of the film.

上記の高い配向性を有する化合物として、例えばフルオロアルキルシランを用いることにより、膜の表面にフルオロアルキル基が位置するように各化合物が配向されて自己組織化膜が形成され、膜の表面に均一な撥液性が付与される。   By using, for example, fluoroalkylsilane as the compound having high orientation, each compound is oriented so that the fluoroalkyl group is located on the surface of the film, and a self-assembled film is formed. Liquid repellency is imparted.

自己組織化膜を形成する化合物としては、ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデシルトリエトキシシラン、ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデシルトリメトキシシラン、ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデシルトリクロロシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロオクチルトリエトキシシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロオクチルトリメトキシシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロオクチルトリクロロシラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン等のフルオロアルキルシラン(以下「FAS」という)を例示できる。これらの化合物は、単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。   Examples of compounds that form a self-assembled film include heptadecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrodecyltriethoxysilane, heptadecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrodecyltrimethoxysilane, heptadecafluoro-1 , 1,2,2 tetrahydrodecyltrichlorosilane, tridecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrooctyltriethoxysilane, tridecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrooctyltrimethoxysilane, tridecafluoro-1 , 1,2,2 tetrahydrooctyltrichlorosilane, trifluoropropyltrimethoxysilane, and other fluoroalkylsilanes (hereinafter referred to as “FAS”). These compounds may be used alone or in combination of two or more.

なお、FASを用いることにより、基板との密着性と良好な撥液性とを得ることができる。   Note that by using FAS, adhesion to the substrate and good liquid repellency can be obtained.

FASは、一般的に構造式RnSiX(4-n)で表される。ここでnは1以上3以下の整数を表し、Xはメトキシ基、エトキシ基、ハロゲン原子などの加水分解基である。またRはフルオロアルキル基であり、(CF3)(CF2x(CH2yの(ここでxは0以上10以下の整数を、yは0以上4以下の整数を表す)構造を持ち、複数個のR又はXがSiに結合している場合には、R又はXはそれぞれすべて同じでもよく、異なっていてもよい。Xで表される加水分解基は加水分解によりシラノールを形成して、基板(ガラス、シリコン)の下地のヒドロキシル基と反応してシロキサン結合で基板と結合する。一方、Rは表面に(CF3)等のフルオロ基を有するため、基板の下地表面を濡れない(表面エネルギーが低い)表面に改質する。 FAS is generally represented by the structural formula R n SiX (4-n) . Here, n represents an integer of 1 to 3, and X is a hydrolyzable group such as a methoxy group, an ethoxy group, or a halogen atom. R is a fluoroalkyl group, and has a structure of (CF 3 ) (CF 2 ) x (CH 2 ) y (where x represents an integer of 0 to 10 and y represents an integer of 0 to 4). And when a plurality of R or X are bonded to Si, each R or X may be the same or different. The hydrolyzable group represented by X forms silanol by hydrolysis, reacts with the hydroxyl group of the base of the substrate (glass, silicon), and bonds to the substrate with a siloxane bond. On the other hand, since R has a fluoro group such as (CF 3 ) on the surface, the base surface of the substrate is modified to a surface that does not get wet (surface energy is low).

有機分子膜などからなる自己組織化膜は、上記の原料化合物と基板とを同一の密閉容器中に入れておき、室温で2〜3日程度の間放置することにより基板上に形成される。また、密閉容器全体を100℃に保持することにより、3時間程度で基板上に形成される。これらは気相からの形成法であるが、液相からも自己組織化膜を形成できる。例えば、原料化合物を含む溶液中に基板を浸積し、洗浄、乾燥することで基板上に自己組織化膜が形成される。なお、自己組織化膜を形成する前に、基板表面に紫外光を照射したり、溶媒により洗浄したりして、基板表面の前処理を施すことが望ましい。   A self-assembled film made of an organic molecular film or the like is formed on a substrate by placing the above raw material compound and the substrate in the same sealed container and leaving them at room temperature for about 2 to 3 days. Further, by holding the entire sealed container at 100 ° C., it is formed on the substrate in about 3 hours. These are formation methods from the gas phase, but a self-assembled film can also be formed from the liquid phase. For example, the self-assembled film is formed on the substrate by immersing the substrate in a solution containing the raw material compound, washing, and drying. Note that before the self-assembled film is formed, it is desirable to pre-treat the substrate surface by irradiating the substrate surface with ultraviolet light or washing with a solvent.

FAS処理を施した後、所望の撥液性に処理する撥液性低下処理が必要に応じて行われる(ステップS3)。すなわち、撥液化処理としてFAS処理を施した際に、撥液性の作用が強すぎて基板とこの基板上に形成した膜パターンWとが剥離しやすくなる場合がある。そこで、撥液性を低下(調整)する処理が行われる。撥液性を低下する処理としては波長170〜400nm程度の紫外線(UV)照射処理が挙げられる。所定のパワーの紫外線を所定時間だけ基板に照射することで、FAS処理された基板の撥液性が低下され、基板は所望の撥液性を有するようになる。あるいは、基板をオゾン雰囲気に曝すことにより基板の撥液性を制御することもできる。   After performing the FAS process, a liquid repellency reduction process for processing to a desired liquid repellency is performed as necessary (step S3). That is, when the FAS treatment is performed as the lyophobic treatment, the lyophobic action is too strong and the substrate and the film pattern W formed on the substrate may be easily peeled off. Therefore, a process for reducing (adjusting) the liquid repellency is performed. Examples of the treatment for reducing the liquid repellency include ultraviolet (UV) irradiation treatment having a wavelength of about 170 to 400 nm. By irradiating the substrate with ultraviolet rays having a predetermined power for a predetermined time, the liquid repellency of the FAS-treated substrate is lowered, and the substrate has a desired liquid repellency. Alternatively, the liquid repellency of the substrate can be controlled by exposing the substrate to an ozone atmosphere.

一方、プラズマ処理法では、常圧又は真空中で基板に対してプラズマ照射を行う。プラズマ処理に用いるガス種は、導電膜配線を形成すべき基板の表面材質等を考慮して種々選択できる。処理ガスとしては、例えば、4フッ化メタン、パーフルオロヘキサン、パーフルオロデカン等が例示できる。   On the other hand, in the plasma processing method, plasma irradiation is performed on the substrate under normal pressure or vacuum. Various types of gas used for the plasma treatment can be selected in consideration of the surface material of the substrate on which the conductive film wiring is to be formed. Examples of the processing gas include tetrafluoromethane, perfluorohexane, perfluorodecane, and the like.

なお、基板表面を撥液性に加工する処理は、所望の撥液性を有するフィルム、例えば4フッ化エチレン加工されたポリイミドフィルム等を基板表面に貼着することによっても行ってもよい。また、撥液性の高いポリイミドフィルムをそのまま基板として用いてもよい。   The processing for processing the substrate surface to be liquid repellent may also be performed by sticking a film having a desired liquid repellent property, such as a polyimide film processed with ethylene tetrafluoride, to the substrate surface. Moreover, you may use a polyimide film with high liquid repellency as a board | substrate as it is.

このような表面処理を、外部接続用端子を形成する表面に行うことにより、液滴を吐布した際、平坦性に優れ、輪郭に凹凸が少ない配線パターンを形成することができる。なお、電極73,74,75を形成する場合であれば、第2層間絶縁層283に上記のような表面処理を施す。また、透明電極77に相当する位置にインクジェットにより電極を形成する場合には、この下層にあたる電極73、74、75に表面処理を行うことにより最上層にインクジェット方による電極(外部接続用端子)を形成することができる。   By performing such surface treatment on the surface on which the external connection terminals are formed, it is possible to form a wiring pattern that has excellent flatness and less irregularities in the outline when droplets are spouted. If the electrodes 73, 74, and 75 are to be formed, the surface treatment as described above is performed on the second interlayer insulating layer 283. Further, when an electrode is formed by ink jet at a position corresponding to the transparent electrode 77, an electrode (external connection terminal) by an ink jet method is formed on the uppermost layer by performing a surface treatment on the electrodes 73, 74, 75 which are the lower layers. Can be formed.

<中間乾燥工程>
次に、図16で示した中間乾燥工程S5について説明する。中間乾燥工程(熱・光処理工程)では、基板上に配置された液滴に含まれる分散媒あるいはコーティング材を除去する。すなわち、基板上に配置された導電膜形成用の液体材料は、微粒子間の電気的接触をよくするために分散媒を完全に除去する必要がある。
また、導電性微粒子の表面に分散性を向上させるために有機物などのコーティング材がコーティングされている場合には、このコーティング材も除去する必要がある。
<Intermediate drying process>
Next, the intermediate drying step S5 shown in FIG. 16 will be described. In the intermediate drying process (heat / light treatment process), the dispersion medium or the coating material contained in the droplets arranged on the substrate is removed. That is, the liquid material for forming a conductive film disposed on the substrate needs to completely remove the dispersion medium in order to improve the electrical contact between the fine particles.
Further, when a coating material such as an organic material is coated on the surface of the conductive fine particles in order to improve dispersibility, it is also necessary to remove this coating material.

熱・光処理は通常大気中で行われるが、必要に応じて、窒素、アルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰囲気中で行ってもよい。熱/光処理の処理温度は、分散媒の沸点(蒸気圧)、雰囲気ガスの種類や圧力、微粒子の分散性や酸化性等の熱的挙動、コーティング材の有無や量、基材の耐熱温度などを考慮して適宜決定される。例えば有機物からなるコーティング材を除去するためには、約300℃で焼成することが必要である。また、プラスチックなどの基板を使用する場合には、室温以上100℃以下で行うことが好ましい。   The heat / light treatment is usually performed in the air, but may be performed in an inert gas atmosphere such as nitrogen, argon, or helium as necessary. The heat / light treatment temperature includes the boiling point (vapor pressure) of the dispersion medium, the type and pressure of the atmospheric gas, the thermal behavior such as the dispersibility and oxidation of fine particles, the presence and amount of coating material, and the heat resistance temperature of the substrate. It is determined appropriately in consideration of the above. For example, in order to remove a coating material made of an organic material, it is necessary to bake at about 300 ° C. In the case where a substrate such as plastic is used, it is preferably performed at a temperature between room temperature and 100 ° C.

熱処理には、例えばホットプレート、電気炉等の加熱装置を用いることができる。光処理にはランプアニールを用いることができる。ランプアニールに使用する光の光源としては、特に限定されないが、赤外線ランプ、キセノンランプ、YAGレーザ、アルゴンレーザ、炭酸ガスレーザ、XeF、XeCl、XeBr、KrF、KrCl、ArF、ArClなどのエキシマレーザーなどを使用することができる。これらの光源は一般には、出力10W以上5000W以下の範囲のものが用いられるが、本実施形態例では100W以上1000W以下の範囲で十分である。上記熱・光処理により微粒子間の電気的接触が確保され、導電膜に変換される。   For the heat treatment, for example, a heating device such as a hot plate or an electric furnace can be used. Lamp annealing can be used for the light treatment. The light source used for lamp annealing is not particularly limited, but excimer lasers such as infrared lamps, xenon lamps, YAG lasers, argon lasers, carbon dioxide lasers, XeF, XeCl, XeBr, KrF, KrCl, ArF, ArCl, etc. Can be used. These light sources generally have a power output in the range of 10 W to 5000 W, but in the present embodiment, a range of 100 W to 1000 W is sufficient. By the heat and light treatment, electrical contact between the fine particles is ensured and converted into a conductive film.

なお、この際、分散媒の除去だけでなく、分散液を導電膜に変換するまで、加熱や光照射の度合いを高めても差し支えない。ただし、導電膜の変換は、すべての液体材料の配置が終了してから、熱処理・光処理工程においてまとめて行えばよいので、ここでは、分散媒をある程度除去できれば十分である。例えば、熱処理の場合は、通常100℃程度の加熱を数分行えばよい。また、乾燥処理は液体材料の吐出と並行して同時に進行させることも可能である。例えば、基板を予め加熱しておいたり、液滴吐出ヘッドの冷却とともに沸点の低い分散媒を使用したりすることにより、基板に液滴を配置した直後から、その液滴の乾燥を進行させることができる。   At this time, not only the removal of the dispersion medium but also the degree of heating and light irradiation may be increased until the dispersion is converted into a conductive film. However, since the conversion of the conductive film may be performed collectively in the heat treatment / light treatment process after the arrangement of all the liquid materials is completed, it is sufficient here that the dispersion medium can be removed to some extent. For example, in the case of heat treatment, heating at about 100 ° C. is usually performed for several minutes. Also, the drying process can proceed simultaneously with the discharge of the liquid material. For example, by drying the droplets immediately after placing the droplets on the substrate by heating the substrate in advance or using a dispersion medium having a low boiling point along with cooling of the droplet discharge head. Can do.

前述の通り、塗布後、過熱処理を加えることもある。すなわち、微粒子分散液21が所定パターンに塗布された基板101は、溶媒を除去し、微粒子間の電気的接触をよくするために、熱処理に供される。熱処理は通常大気中で行われるが、必要に応じて、窒素、アルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰囲気中で行うこともできる。上記の熱処理の処理温度は溶媒の沸点(蒸気圧)、圧力および微粒子の熱的挙動により適宜定めればよく、特に限定されるものではないが室温以上300℃以下で行うことが望ましい。プラスチックなどの基板を使用する場合には、室温以上100℃以下で行うことが好ましい。   As described above, an overheat treatment may be applied after coating. That is, the substrate 101 on which the fine particle dispersion 21 is applied in a predetermined pattern is subjected to heat treatment in order to remove the solvent and improve electrical contact between the fine particles. The heat treatment is usually performed in the air, but can be performed in an inert gas atmosphere such as nitrogen, argon, or helium as necessary. The treatment temperature of the above heat treatment may be appropriately determined depending on the boiling point (vapor pressure) of the solvent, the pressure, and the thermal behavior of the fine particles, and is not particularly limited, but is desirably performed at room temperature or higher and 300 ° C. or lower. In the case of using a substrate such as plastic, it is preferably performed at a temperature between room temperature and 100 ° C.

熱処理は通常のホットプレート、電気炉などによる処理の他、ランプアニールによって行うこともできる。ランプアニールに使用する光の光源としては、特に限定されないが、赤外線ランプ、キセノンランプ、YAGレーザー、アルゴンレーザー、炭酸ガスレーザー、XeF、XeCl、XeBr、KrF、KrCl、ArF、ArClなどのエキシマレーザーなどを光源として使用することができる。これらの光源は一般には、出力10W以上5000W以下の範囲のものが用いられるが、本実施形態では100W以上1000W以下の範囲で十分である。   The heat treatment can be performed by lamp annealing in addition to the treatment by a normal hot plate, electric furnace or the like. The light source used for lamp annealing is not particularly limited, but excimer laser such as infrared lamp, xenon lamp, YAG laser, argon laser, carbon dioxide laser, XeF, XeCl, XeBr, KrF, KrCl, ArF, ArCl, etc. Can be used as a light source. In general, these light sources have an output in the range of 10 W to 5000 W, but in the present embodiment, a range of 100 W to 1000 W is sufficient.

図7及び図8に示すように、本実施形態の電気光学装置に設けられる第2外部接続端子66c,70,70の表面には複数の凹部Bが形成されされており、この凹部Bにより、第2外部接続端子66c,70,70を複数の電極として分割した構成となっている。図6に示したように、発光用電源配線23R及び信号線22の線幅に応じて外部接続端子の数を変えることにより、固着部65における固着条件の均一化を図っているが、第2外部接続端子66c,70,70の表面に複数の凹部Bが形成されているため、第2外部接続端子66c,70,70は更に複数の電極に分割されたものとなり、固着条件の均一化を図る上で極めて好適である。   As shown in FIGS. 7 and 8, a plurality of recesses B are formed on the surfaces of the second external connection terminals 66c, 70, 70 provided in the electro-optical device of the present embodiment. The second external connection terminals 66c, 70, 70 are divided as a plurality of electrodes. As shown in FIG. 6, the number of external connection terminals is changed in accordance with the line widths of the light-emitting power supply wiring 23R and the signal line 22, so that the fixing condition in the fixing portion 65 is made uniform. Since the plurality of recesses B are formed on the surfaces of the external connection terminals 66c, 70, 70, the second external connection terminals 66c, 70, 70 are further divided into a plurality of electrodes, so that the fixing conditions can be made uniform. This is extremely suitable for the purpose.

また、電極73,74,75の端部に第1層間絶縁層284を形成することにより、第2外部接続端子66c,70,70の端部に凸部79が形成される。この凸部79は、異方性導電膜40を用いて表示基板10と中継基板20とを固着する際に、異方性導電膜40に含まれる導電粒子41bが第2外部接続端子66c,70,70の側部にはみ出るのを防止するように作用する。その結果、より多くの導電粒子41bが第2外部接続端子66c,70,70上に配置されることになるため、固着部65における電気的抵抗を低減する極めて優れた構造である。   Further, by forming the first interlayer insulating layer 284 at the ends of the electrodes 73, 74, 75, the convex portions 79 are formed at the ends of the second external connection terminals 66 c, 70, 70. When the projection 79 fixes the display substrate 10 and the relay substrate 20 using the anisotropic conductive film 40, the conductive particles 41 b included in the anisotropic conductive film 40 are connected to the second external connection terminals 66 c and 70. , 70 acts to prevent it from protruding from the sides. As a result, more conductive particles 41b are disposed on the second external connection terminals 66c, 70, and 70, so that the electrical resistance of the fixing portion 65 is extremely excellent.

以上説明した本実施形態の表示基板20は、固着部65において圧着条件を均一化するための構成が設けられているため、固着部65に固着される中継基板30に形成される外部接続端子34は、図6に示す発光用電源配線23R及び走査線駆動回路用制御信号配線24a等と同様の線幅で形成されていても良い。しかしながら、より均一な圧着条件下で中継基板30と表示基板20とを固着するには、固着部65に形成された第2外部接続端子66c,70,70等と同様のパターンであることが好適である。   Since the display substrate 20 of the present embodiment described above is provided with a configuration for uniformizing the crimping condition in the fixing portion 65, the external connection terminal 34 formed on the relay substrate 30 fixed to the fixing portion 65. May be formed with the same line width as the light emitting power supply wiring 23R and the scanning line drive circuit control signal wiring 24a shown in FIG. However, in order to fix the relay substrate 30 and the display substrate 20 under more uniform pressure bonding conditions, it is preferable that the pattern is the same as the second external connection terminals 66c, 70, 70, etc. formed on the fixing portion 65. It is.

ところで、図5に示した第2層間絶縁層283上に形成された各種配線と、実表示領域62及びダミー領域63の上部(基板60側に対する反対側)を覆うように形成されている陰極26との間の寄生容量を低減して表示ムラ及びコントラスト低下等の表示上の不具合を極力低減するために、第1層間絶縁層284の厚みを厚くする傾向がある。   By the way, the cathode 26 formed so as to cover the various wirings formed on the second interlayer insulating layer 283 shown in FIG. 5 and the upper portion of the actual display region 62 and the dummy region 63 (opposite side to the substrate 60 side). There is a tendency to increase the thickness of the first interlayer insulating layer 284 in order to reduce the parasitic capacitance between them and display defects such as display unevenness and contrast reduction as much as possible.

図9は、第1層間絶縁層284の厚みが厚く形成された第2外部接続端子70,70の拡大図である。図9に示すように、電極74,75間の第1層間絶縁層284の厚みが厚くなると、第1外部接続端子70,70の端部に形成されている凸部79の高さが、図8に示した凸部79の高さよりも高く形成される。尚、図7及び図8においては、第1層間絶縁層284がSiNから形成されていたが、図9では、第1層間絶縁層284をSiO2を用いて形成している。 FIG. 9 is an enlarged view of the second external connection terminals 70, 70 in which the first interlayer insulating layer 284 is formed thick. As shown in FIG. 9, when the thickness of the first interlayer insulating layer 284 between the electrodes 74 and 75 is increased, the height of the convex portions 79 formed at the end portions of the first external connection terminals 70 and 70 is increased. 8 is formed higher than the height of the convex portion 79 shown in FIG. 7 and 8, the first interlayer insulating layer 284 is made of SiN. However, in FIG. 9, the first interlayer insulating layer 284 is formed using SiO 2 .

図9に示すように、第1層間絶縁層284の厚みを増すことにより、電極74,75の端部に形成される凸部79の高さが高くなって、電極74,75と透明電極77との間の厚みが共に薄くなる。また、第2層間絶縁層283及び電極74,75上に直接第1層間絶縁層284を形成すると、電極74,75の端部に形成された凸部79は、電極74,75に対してのみならず第1外部接続端子70,70間における第1層間絶縁層284の表面に対しても突出した形状になって平坦性が損なわれ、異方性導電膜40を用いて中継基板30を固着するときに不具合が生ずる虞がある。   As shown in FIG. 9, by increasing the thickness of the first interlayer insulating layer 284, the height of the convex portions 79 formed at the ends of the electrodes 74 and 75 is increased, and the electrodes 74 and 75 and the transparent electrode 77 are increased. The thickness between the two becomes thinner. Further, when the first interlayer insulating layer 284 is formed directly on the second interlayer insulating layer 283 and the electrodes 74, 75, the convex portions 79 formed at the ends of the electrodes 74, 75 are only on the electrodes 74, 75. In addition, the flatness is lost due to the shape protruding from the surface of the first interlayer insulating layer 284 between the first external connection terminals 70 and 70, and the relay substrate 30 is fixed using the anisotropic conductive film 40. There is a risk that problems will occur.

かかる不具合を防止すべく、本実施形態では電極74,75により形成される凹凸を平坦化するための平坦化膜を設けている。図10は、第1層間絶縁層284の厚みが厚く形成され、且つ電極74,75間に平坦化膜が設けられた第1外部接続端子70,70の拡大図である。この平坦化膜80は第1層間絶縁層284を形成する前に、電極74及び電極75等の電極が形成された部位以外の部位に形成される。   In order to prevent such a problem, in this embodiment, a flattening film for flattening the unevenness formed by the electrodes 74 and 75 is provided. FIG. 10 is an enlarged view of the first external connection terminals 70 and 70 in which the first interlayer insulating layer 284 is formed thick and a planarizing film is provided between the electrodes 74 and 75. The planarizing film 80 is formed in a portion other than the portion where the electrodes such as the electrode 74 and the electrode 75 are formed before the first interlayer insulating layer 284 is formed.

図10を参照すると、平坦化膜80を形成した後で第1層間絶縁層284を形成することにより、第1外部接続端子70,70間における第1層間絶縁層284の表面と凸部79との高低差(段差)が小さくなることが分かる。よって、異方性導電膜40を用いて中継基板30を固着する際も不具合が生じない。   Referring to FIG. 10, by forming the first interlayer insulating layer 284 after forming the planarizing film 80, the surface of the first interlayer insulating layer 284 between the first external connection terminals 70, 70, the protrusions 79, and the like. It can be seen that the height difference (step) of the is small. Therefore, no trouble occurs when the relay substrate 30 is fixed using the anisotropic conductive film 40.

以上、本発明の一実施形態による電気光学装置について説明したが、前述に示した有機EL(エレクトロルミネッセンス)装置以外にも、この端子構造は液晶表示装置、図25に示すようなプラズマディスプレイ装置、無機EL装置、電気泳動装置、等のディスプレイに適用できる。   The electro-optical device according to the embodiment of the present invention has been described above. In addition to the organic EL (electroluminescence) device described above, this terminal structure is a liquid crystal display device, a plasma display device as shown in FIG. The present invention can be applied to displays such as inorganic EL devices and electrophoresis devices.

更に、ディスプレイに形成される実装端子を例にとって示したが、実装端子に実装されるテープ側を本発明のようなプロセスにすることも可能である。すなわち、ディスプレイの外部接続端子は従来通りの構造とし、テープ(明細書では中継基板)を前述のようなプロセスとすることも可能である。   Furthermore, although the mounting terminals formed on the display have been shown as an example, the tape side mounted on the mounting terminals can be a process as in the present invention. That is, the external connection terminals of the display can have a conventional structure, and the tape (relay board in the specification) can be processed as described above.

また、以上に説明した電気光学装置、CPU(中央処理装置)等を備えたマザーボード、キーボード、ハードディスク等の電子部品を筐体内に組み込むことで、例えば図11に示すノート型のパーソナルコンピュータ600(電子機器)が製造される。図11は、本発明の一実施形態による電気光学装置を備える電子機器の一例を示す図である。尚、図9において601は筐体であり、602は液晶表示装置であり、603はキーボードである。図12は、他の電子機器としての携帯電話機を示す斜視図である。図12に示した携帯電話機700は、アンテナ701、受話器702、送話器703、液晶表示装置704、及び操作釦部705等を備えて構成されている。   In addition, by incorporating electronic components such as an electro-optical device, a mother board having a CPU (central processing unit), a keyboard, and a hard disk described above into a housing, for example, a notebook personal computer 600 (electronic) shown in FIG. Equipment). FIG. 11 is a diagram illustrating an example of an electronic apparatus including the electro-optical device according to the embodiment of the invention. In FIG. 9, 601 is a casing, 602 is a liquid crystal display device, and 603 is a keyboard. FIG. 12 is a perspective view showing a mobile phone as another electronic apparatus. A cellular phone 700 illustrated in FIG. 12 includes an antenna 701, a receiver 702, a transmitter 703, a liquid crystal display device 704, an operation button unit 705, and the like.

また、上記実施形態では、電子機器としてノート型コンピュータ及び携帯電話機を例に挙げて説明したが、これらに限らず、液晶プロジェクタ、マルチメディア対応のパーソナルコンピュータ(PC)及びエンジニアリング・ワークステーション(EWS)、ページャ、ワードプロセッサ、テレビ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、電子手帳、電子卓上計算機、カーナビゲーション装置、POS端末、タッチパネルを備えた装置等の電子機器に適用することが可能である。   In the above-described embodiment, a notebook computer and a mobile phone have been described as examples of electronic devices. However, the present invention is not limited to these, and a liquid crystal projector, a multimedia-compatible personal computer (PC), and an engineering workstation (EWS). It can be applied to electronic devices such as pagers, word processors, televisions, viewfinder type or monitor direct-view type video tape recorders, electronic notebooks, electronic desk calculators, car navigation devices, POS terminals, and devices equipped with touch panels. .

以上説明したように、本発明によれば、第1端子間、第2端子間、及び第1端子と第2端子との間に平坦化膜が設けられ、この平坦化膜上、第1端子の端部、及び第2端子の端部に絶縁膜を形成した構成であるため、絶縁層の厚みを厚くしたとしても第1端子の端部及び第2端子の端部に形成される絶縁層の高さが、平坦化膜上に形成される絶縁層の表面に対してさほど高くならずに平坦性を確保することができるという効果がある。その結果として、第1端子及び第2端子と接続される配線の接続不良を生ずることがないという効果がある。   As described above, according to the present invention, the planarization film is provided between the first terminals, between the second terminals, and between the first terminal and the second terminal, and the first terminal is formed on the planarization film. Since the insulating film is formed on the end of the first terminal and the end of the second terminal, the insulating layer is formed on the end of the first terminal and the end of the second terminal even if the thickness of the insulating layer is increased. There is an effect that the flatness can be ensured without the height of the insulating layer being so high as to the surface of the insulating layer formed on the planarizing film. As a result, there is an effect that the connection failure of the wiring connected to the first terminal and the second terminal does not occur.

本発明の一実施形態による電気光学装置を模式的に示す分解斜視図である。1 is an exploded perspective view schematically showing an electro-optical device according to an embodiment of the present invention. 異方性導電膜40により中継基板30と表示基板20とが固着される様子を示す断面図である。3 is a cross-sectional view showing a state where the relay substrate 30 and the display substrate 20 are fixed by an anisotropic conductive film 40. FIG. 本発明の一実施形態による電気光学装置の配線構造を模式的に示す図である。1 is a diagram schematically showing a wiring structure of an electro-optical device according to an embodiment of the present invention. 本実施形態の電気光学装置の平面模式図である。1 is a schematic plan view of an electro-optical device according to an embodiment. 図4のA−A’線に沿う断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line A-A ′ of FIG. 4. 図4に示した固着部65付近の上面図である。FIG. 5 is a top view of the vicinity of a fixing portion 65 shown in FIG. 4. 図6中のB−B’線に沿う第2外部接続端子66c及び第2外部接続端子70の断面図である。It is sectional drawing of the 2nd external connection terminal 66c and the 2nd external connection terminal 70 which follow the B-B 'line in FIG. 図7中の外部接続端子70の拡大図である。It is an enlarged view of the external connection terminal 70 in FIG. 第1層間絶縁層284の厚みが厚く形成された第2外部接続端子70,70の拡大図である。FIG. 5 is an enlarged view of second external connection terminals 70 and 70 in which a first interlayer insulating layer 284 is formed thick. 第1層間絶縁層284の厚みが厚く形成され、且つ電極74,75間に平坦化膜が設けられた第1外部接続端子70,70の拡大図である。FIG. 5 is an enlarged view of first external connection terminals 70 and 70 in which a first interlayer insulating layer 284 is formed thick and a planarizing film is provided between electrodes 74 and 75. 本発明の一実施形態による電気光学装置を備える電子機器の一例を示す図である。1 is a diagram illustrating an example of an electronic apparatus including an electro-optical device according to an embodiment of the invention. 他の電子機器としての携帯電話機を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the mobile telephone as another electronic device. 従来の電気光学装置の配線構造を示す図である。It is a figure which shows the wiring structure of the conventional electro-optical apparatus. 塗布装置の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of a coating device. ヘッドユニットを示す平面図を示す図である。It is a figure which shows the top view which shows a head unit. 本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示すフローチャート図である。It is a flowchart figure which shows one Embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子の他の実施例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the other Example of a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子の他の実施例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the other Example of a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 本発明のパターンの形成方法の他の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows other embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明の電気光学装置の一実施形態を示す図であってプラズマ型表示装置に適用した例を示す分解斜視図である。1 is an exploded perspective view illustrating an example of an electro-optical device according to an embodiment of the invention applied to a plasma display device. ヘッドユニットを示す側面図である。It is a side view which shows a head unit. ヘッドユニットを示す正面図である。It is a front view which shows a head unit. ヘッドユニットを示す断面図である。It is sectional drawing which shows a head unit. ヘッドユニットを示す射視図である。It is a perspective view which shows a head unit.

符号の説明Explanation of symbols

10…電気光学装置、22…信号線(第1配線)、23,23R…発光用電源配線(第2配線、電源線)、24a…走査線駆動回路用制御信号配線(第1配線)、30…中継基板、40…異方性導電膜、50…発光素子、53…スイッチング素子、66a,66b,66c…電極(第2端子)、67,68,69,70…電極(第1端子)、284…第1層間絶縁層(絶縁層)、79…凸部、80…平坦化膜、B…凹部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Electro-optical apparatus, 22 ... Signal line (1st wiring), 23, 23R ... Light emission power supply wiring (2nd wiring, power supply line), 24a ... Scan line drive circuit control signal wiring (1st wiring), 30 ... Relay substrate, 40 ... Anisotropic conductive film, 50 ... Light-emitting element, 53 ... Switching element, 66a, 66b, 66c ... Electrode (second terminal), 67, 68, 69, 70 ... Electrode (first terminal), 284: first interlayer insulating layer (insulating layer), 79: convex portion, 80: planarizing film, B: concave portion.

Claims (5)

基板上の有効領域に設けられた、第1の電極と、第2の電極と、前記第1の電極および前記第2の電極との間に設けられた発光層と、を有する電気光学素子と、
前記有効領域の外側で前記第2の電極に接続された電極用配線と、を備え、
前記電極用配線は前記基板の外周をなす第1の辺、第2の辺および第3の辺に沿って形成されており、
前記電極用配線は、第1配線層に設けられた第1電極用配線と、第2配線層に設けられた第2電極用配線と、を有し、
前記第1電極用配線と前記第2電極用配線とは、電気的に接続されており、
前記第1の辺、前記第2の辺および前記第3の辺に沿って平面的に重なることを特徴とする電気光学装置。
An electro-optic element having a first electrode, a second electrode, and a light-emitting layer provided between the first electrode and the second electrode, provided in an effective region on the substrate; ,
An electrode wiring connected to the second electrode outside the effective area, and
The electrode wiring is formed along the first side, the second side, and the third side forming the outer periphery of the substrate,
The electrode wiring has a first electrode wiring provided in the first wiring layer and a second electrode wiring provided in the second wiring layer,
The first electrode wiring and the second electrode wiring are electrically connected,
The first side, an electro-optical device characterized by planarly overlapping along the second side and the third side.
請求項1に記載の電気光学装置において、
少なくとも前記第1電極用配線と前記第2電極用配線のどちらか一方は、前記第1の辺、前記第2の辺および前記第3の辺に沿って前記第2の電極と電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1.
At least one of the first electrode wiring and the second electrode wiring is electrically connected to the second electrode along the first side, the second side, and the third side. An electro-optical device.
請求項1または請求項2に記載の電気光学装置において、
前記第1の電極に電気的に接続されたトランジスタを有し、
前記トランジスタのゲート電極は、前記第1配線層に設けられ、
前記トランジスタのソース又はドレイン電極は、前記第2配線層に設けられていることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1 or 2,
A transistor electrically connected to the first electrode;
A gate electrode of the transistor is provided in the first wiring layer;
An electro-optical device, wherein a source or drain electrode of the transistor is provided in the second wiring layer.
請求項1乃至3のいずれかに記載の電気光学装置において、
前記発光層は、有機エレクトロルミネッセンス材料から構成されていることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to any one of claims 1 to 3,
The electro-optical device is characterized in that the light emitting layer is made of an organic electroluminescent material.
請求項1乃至4のいずれかに記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 1.
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