JP5162833B2 - 半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 - Google Patents
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また、半導体装置の表面実装化が一般的になってきている現状では、吸湿した半導体装置が半田処理時に高温にさらされ、気化した水蒸気の爆発的応力により半導体装置にクラックが発生することにより、電気的信頼性を大きく損なう不良が生じ、これらの不良の防止、即ち信頼性の向上も大きな課題となっている。
この信頼性の向上を達成するためには、従来から低応力特性を付与するためにゴム粒子などに代表される低応力剤を添加するという方法が知られている。
一方、ダイオード、トランジスタ、集積回路等の電子部品は、主にエポキシ樹脂組成物の硬化物が直接接する形式で封止されているが、エポキシ樹脂組成物の硬化物で封止された半導体装置を高温下で保管した場合、封止材の構成成分から熱分解したハロゲン化物や分解物などが遊離し、半導体素子の接合部を腐食し、半導体装置の信頼性を損なうことが知られている。このように、半導体装置を高温下(例えば、185℃等)に保管した後の半導体素子の接合部(ボンディングパッド部)の耐腐食性のことを高温保管特性といい、この高温保管特性を改善する手法としては、臭素原子含有難燃剤を使用せずに、水酸化アルミニウムを使用する方法(例えば、特許文献1、2参照。)等が提案され、効果が確認されているが、エポキシ樹脂組成物の種類によっては最近の半導体装置における高温保管特性の高い要求レベルに対しては不満足なものもあった。
以上の事情から、低応力特性を付与しつつ、高温保管特性に優れ、かつ耐湿信頼性、耐半田性に優れたエポキシ樹脂組成物が求められている。
[1](A)エポキシ樹脂、(B)フェノール樹脂系硬化剤、(C)硬化促進剤、(D)無機質充填材、(E)下記一般式(1)で表される両末端にカルボキシル基を有するブタジエン・アクリロニトリル共重合体を主成分とする液状低応力剤を含むエポキシ樹脂組成物であって、更に(F)非リン系酸化防止剤を含み、(F)非リン系酸化防止剤がフェノール系酸化防止剤であり、(D)無機充填材の含有量は、全エポキシ樹脂組成物中に70重量%以上、90重量%以下であり、(E)成分の配合量が全エポキシ樹脂組成物中に0.01重量%以上1重量%以下であり、(F)成分の配合量は(E)成分に対して0.
01重量%以上、3重量%以下の割合であることを特徴とする半導体封止用エポキシ樹脂組成物。
[3] 前記(E)成分に含まれるナトリウムイオン量が10ppm以下、塩素イオン量が450ppm以下である請求項第[1]項又は第[2]項記載の半導体封止用エポキシ樹脂組成物、
[4] 第[1]項ないし第[3]項のいずれかに記載の半導体封止用エポキシ樹脂組成物を混合及び/又は溶融混練してなる半導体封止用エポキシ樹脂成形材料、
[5] 第[1]項ないし第[3]項のいずれかに記載の半導体封止用エポキシ樹脂組成物の硬化物により半導体素子を封止してなることを特徴とする半導体装置、
である。
以下、本発明について詳細に説明する。
また、前記(E)液状低応力剤の主成分である両末端にカルボキシル基を有するブタジエン・アクリロニトリル共重合体のカルボキシル基当量は、1200以上、3000以下が好ましく、より好ましくは1700以上、2500以下である。上記範囲内にすることで、樹脂組成物の成形時における流動性や離型性を低下させることなく、金型や成形品の汚れがより発生し難く、連続成形性が特に良好となる効果が得られる。
本発明のエポキシ樹脂成形材料を用いて、半導体素子等の各種の電子部品を封止し、半導体装置を製造するには、トランスファーモールド、コンプレッションモールド、インジェクションモールド等の従来からの成形方法で硬化成形すればよい。
エポキシ樹脂1:ビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル型エポキシ樹脂(日本化薬(株)製、NC3000P、軟化点58℃、エポキシ当量274)
7.8重量部
フェノール樹脂1:ビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル樹脂(明和化成(株)製、MEH7851SS、軟化点107℃、水酸基当量203)
5.2重量部
硬化促進剤:1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン 0.2重量部
溶融球状シリカ(平均粒径26.5μm) 86.0重量部
γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン 0.1重量部
カルナバワックス 0.2重量部
カーボンブラック 0.2重量部
を常温でミキサーを用いて混合し、70〜100℃でロール混練し、冷却後粉砕してエポキシ樹脂成形材料を得た。得られたエポキシ樹脂成形材料を用いて以下の方法で評価した。結果を表1に示す。
スパイラルフロー:低圧トランスファー成形機を用いて、EMMI−1−66に準じたスパイラルフロー測定用金型に、金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒の条件でエポキシ樹脂成形材料を注入し、流動長を測定した。単位はcm。
表1、表2の配合に従い、実施例1と同様にしてエポキシ樹脂成形材料を得、実施例1と同様にして評価した。結果を表1、表2に示す。
実施例1以外で用いた成分について、以下に示す。
エポキシ樹脂2:ビフェニル型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製、YX−4000HK、エポキシ当量193、融点105℃)
フェノール樹脂2:フェノールアラルキル樹脂(三井化学(株)製、商品名XLC−LL、水酸基当量174、軟化点79℃)
液状低応力剤2:式(1)のブタジエン・アクリロニトリル共重合体(式(1)においてx=0.82、y=0.18、zの平均値は62、数平均分子量3550、カルボキシル基当量2200g/eq、ナトリウムイオン量5ppm、塩素イオン量200ppm、酸化防止剤としてAGIRITE製Geltrol(有機リン系酸化防止剤)を3.0重量%含有)
液状低応力剤3:式(1)のブタジエン・アクリロニトリル共重合体(式(1)においてx=0.82、y=0.18、zの平均値は62、数平均分子量3550、カルボキシル基当量2200g/eq、ナトリウムイオン量500ppm、塩素イオン量1500ppm、酸化防止剤としてAGIRITE製Geltrol(有機リン系酸化防止剤)を3.0重量%含有)
液状低応力剤4:式(1)のブタジエン・アクリロニトリル共重合体(式(1)においてx=0.82、y=0.18、zの平均値は62、数平均分子量3550、カルボキシル基当量2200g/eq、ナトリウムイオン量5ppm、塩素イオン量200ppm、酸化防止剤無し)
一方、(E)液状低応力剤を添加しなかった比較例1、5では、樹脂系に関わらず耐半田性、及び耐温度サイクル性が著しく劣る結果が得られた。また、リン系酸化防止剤を含む液状低応力剤を用いた比較例2では、高温保管特性が著しく劣り、耐湿信頼性、耐半田性、耐温度サイクル性も若干劣る結果が得られた。また、リン系酸化防止剤を含み、かつイオン性不純物量が多い液状低応力剤を用いた比較例3では、高温保管特性、耐湿信頼性が著しく劣る結果が得られた。さらに、酸化防止剤を含まない液状低応力剤を用いた比較例4では、耐半田性、耐温度サイクル性が著しく劣る結果となった。これは、成形時の熱により低応力剤が劣化し、低応力剤としての効果が薄れたことが原因であると推察される。
本発明に従うと、低応力特性を付与しつつ、高温保管特性、耐湿信頼性、耐半田性に優れたエポキシ樹脂組成物が得られることが分かった。
Claims (5)
- (A)エポキシ樹脂、(B)フェノール樹脂系硬化剤、(C)硬化促進剤、(D)無機質充填材、(E)下記一般式(1)で表される両末端にカルボキシル基を有するブタジエン・アクリロニトリル共重合体を主成分とする液状低応力剤を含むエポキシ樹脂組成物であって、更に(F)非リン系酸化防止剤を含み、(F)非リン系酸化防止剤がフェノール系酸化防止剤であり、(D)無機充填材の含有量は、全エポキシ樹脂組成物中に70重量%以上、90重量%以下であり、(E)成分の配合量が全エポキシ樹脂組成物中に0.01重量%以上1重量%以下であり、(F)成分の配合量は(E)成分に対して0.01重量
%以上、3重量%以下の割合であることを特徴とする半導体封止用エポキシ樹脂組成物。
- 前記(F)非リン系酸化防止剤が前記(E)液状低応力剤に含まれる請求項1記載の半導体封止用エポキシ樹脂組成物。
- 前記(E)成分に含まれるナトリウムイオン量が10ppm以下、塩素イオン量が450ppm以下である請求項1又は請求項2記載の半導体封止用エポキシ樹脂組成物。
- 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の半導体封止用エポキシ樹脂組成物を混合及び/又は溶融混練してなる半導体封止用エポキシ樹脂成形材料。
- 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の半導体封止用エポキシ樹脂組成物の硬化物により半導体素子を封止してなることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006049356A JP5162833B2 (ja) | 2006-02-24 | 2006-02-24 | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006049356A JP5162833B2 (ja) | 2006-02-24 | 2006-02-24 | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007224219A JP2007224219A (ja) | 2007-09-06 |
JP5162833B2 true JP5162833B2 (ja) | 2013-03-13 |
Family
ID=38546316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006049356A Active JP5162833B2 (ja) | 2006-02-24 | 2006-02-24 | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5162833B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101234845B1 (ko) * | 2008-12-17 | 2013-02-19 | 제일모직주식회사 | 반도체 소자 밀봉용 에폭시 수지 조성물 및 이를 이용한 반도체 소자 |
JP5185890B2 (ja) * | 2009-06-17 | 2013-04-17 | 株式会社日立産機システム | 高電圧電気機器用絶縁注型樹脂及びこれを用いた高電圧電気機器 |
JP6715523B2 (ja) * | 2015-05-13 | 2020-07-01 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | エポキシ樹脂組成物 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6272745A (ja) * | 1985-09-25 | 1987-04-03 | Matsushita Electric Works Ltd | エポキシ樹脂組成物 |
JPS6335615A (ja) * | 1986-07-29 | 1988-02-16 | Ube Ind Ltd | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
JPS63230725A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-27 | Fujitsu Ltd | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
JPH0286149A (ja) * | 1988-09-21 | 1990-03-27 | Nitto Denko Corp | 半導体装置 |
JPH09153570A (ja) * | 1995-11-30 | 1997-06-10 | Namitsukusu Kk | 半導体封止用流動性樹脂組成物 |
JPH10130374A (ja) * | 1996-09-06 | 1998-05-19 | Toray Ind Inc | 半導体封止用樹脂組成物およびその半導体装置 |
JP3911088B2 (ja) * | 1997-04-28 | 2007-05-09 | 日東電工株式会社 | 半導体装置 |
JPH11140274A (ja) * | 1997-11-05 | 1999-05-25 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 |
SG160407A1 (en) * | 2005-03-16 | 2010-04-29 | Sumitomo Bakelite Co | Epoxy resin composition and semiconductor device |
-
2006
- 2006-02-24 JP JP2006049356A patent/JP5162833B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007224219A (ja) | 2007-09-06 |
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