JP5140611B2 - Power amplifier adjustment method - Google Patents

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本発明は、RFパルス信号を増幅する電力増幅器の調整方法に関する。   The present invention relates to a method for adjusting a power amplifier that amplifies an RF pulse signal.

近年、船用レーダ、気象レーダ、航空管制用レーダなどの高周波数(以下、「RF」という。)の無線信号を用いる分野において、従来のマグネトロン、クライストロンなどの電子管を用いた電力増幅器から、化合物半導体デバイスを増幅デバイスとして使用する固体化電力増幅器への移行が進んでいる。
単体の化合物半導体デバイスによって出力可能な電力は、マグネトロン、クライストロンなどの電子管による出力可能な電力に対して小電力となる。出力電力を効率よく用いるための方法として、パルス幅を伸張して生成し、そのパルス信号に対してパルス圧縮処理を組み合わせる方法がある。このようなパルス圧縮処理を組み合わせたとしても、化合物半導体デバイス単体では、従来の電子管によるシステム同等以上の性能を実現するほど十分な出力電力を得ることは困難である。
このような化合物半導体デバイスの利得不足並びに出力電力不足を解決するために、複数の化合物半導体デバイスを用いた電力増幅回路を組み合わせて、その出力電力を合成した最終出力によって所望の電力を得ている。
In recent years, in fields using high frequency (hereinafter referred to as “RF”) radio signals such as ship radar, weather radar, and air traffic control radar, power amplifiers using conventional electron tubes such as magnetrons and klystrons, compound semiconductors The transition to solid state power amplifiers that use devices as amplification devices is advancing.
The power that can be output by a single compound semiconductor device is smaller than the power that can be output by an electron tube such as a magnetron or a klystron. As a method for efficiently using the output power, there is a method in which a pulse width is generated by being expanded and a pulse compression process is combined with the pulse signal. Even if such a pulse compression process is combined, it is difficult for a compound semiconductor device alone to obtain output power sufficient to realize performance equal to or higher than that of a conventional electron tube system.
In order to solve such a shortage of gain and output power shortage of a compound semiconductor device, desired power is obtained by combining the power amplification circuits using a plurality of compound semiconductor devices and combining the output power. .

図12は、電力増幅器300のブロック図である。この図に示される電力増幅器300は、複数の電力増幅回路の組み合わせで構成される。電力増幅器300における複数の電力増幅回路の組み合わせ方法には、複数の電力増幅回路を直列に多段接続としたり、或いは、複数の電力増幅回路を並列接続したり、さらにそれらを組み合わせる方法によって実現されている。図12に示される電力増幅器300では、入力される信号は、初段の電力増幅回路311と直列に接続された電力増幅回路321によって順に増幅され、増幅された信号は、2つに分配されて電力増幅回路331と332にそれぞれ入力され増幅される。電力増幅回路331の出力信号は4つに分配され、分配された信号は電力増幅回路341〜344によってそれぞれ増幅され、それぞれの出力信号は合成される。他方の、電力増幅回路332の出力信号は4つに分配され、分配された信号は電力増幅回路345〜348によってそれぞれ増幅され、それぞれの出力信号は合成される。2系統に分配されて増幅された出力信号はまとめて合成されて、8つの電力増幅回路の出力信号を合成することができる。すなわち、電力増幅器300では、化合物半導体デバイスによる電力増幅回路を4段直列に接続することで利得を増加し、最終段にて8個の電力増幅回路を並列接続することにより、電力増幅回路ごとの出力を合成し所望の出力電力を得ている。
さらなる大電力出力が要求される場合は、上記のような電力増幅器300を複数組み合わせ、それぞれの出力を合成することで、より大きな大電力出力を実現する。この合成方法により、従来の電子管を用いたシステム同等以上の性能を実現した大型レーダの送信部が実現されている。
FIG. 12 is a block diagram of the power amplifier 300. The power amplifier 300 shown in this figure is composed of a combination of a plurality of power amplifier circuits. The combination method of a plurality of power amplifier circuits in the power amplifier 300 is realized by a method in which a plurality of power amplifier circuits are connected in multiple stages in series, or a plurality of power amplifier circuits are connected in parallel, or further combined. Yes. In the power amplifier 300 shown in FIG. 12, the input signal is sequentially amplified by the power amplifier circuit 321 connected in series with the power amplifier circuit 311 in the first stage, and the amplified signal is divided into two to be power. The signals are respectively input to the amplifier circuits 331 and 332 and amplified. The output signal of the power amplifier circuit 331 is distributed into four, the distributed signals are amplified by the power amplifier circuits 341 to 344, and the respective output signals are synthesized. On the other hand, the output signal of the power amplifier circuit 332 is distributed into four, the distributed signals are respectively amplified by the power amplifier circuits 345 to 348, and the respective output signals are synthesized. The output signals distributed and amplified in the two systems are combined together and the output signals of the eight power amplifier circuits can be combined. That is, in the power amplifier 300, the gain is increased by connecting the power amplifier circuits of the compound semiconductor devices in four stages in series, and eight power amplifier circuits are connected in parallel at the final stage, so that each power amplifier circuit is connected. The output is synthesized to obtain the desired output power.
When a further high power output is required, a plurality of power amplifiers 300 as described above are combined and the outputs are combined to achieve a larger high power output. By this combining method, a transmission unit of a large radar that realizes performance equal to or higher than that of a system using a conventional electron tube is realized.

特開平10−322144号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-322144 特開2000−031753号公報JP 2000-031753 A

ところで、複数の電力増幅回路を組み合わせて構成されているRFパルス信号の電力増幅器300では、それぞれの電力増幅回路の特性を所定の範囲内にそろえるための調整工程が必要とされている。
図13は、電力増幅回路400の電力増幅特性の調整時の構成を示すブロック図である。
図に示される電力増幅回路400は、高周波増幅素子11を備える増幅部10と、高周波増幅素子11の動作点を定めるバイアス電圧発生部30と、直流電力計40を備えている。バイアス電圧発生部30は、電源電圧Vggが可変抵抗器35によって分圧され、増幅器31によって、その分圧された電圧がバイアス電圧として出力する。出力されたバイアス電圧によって、高周波増幅素子11のアイドル電流、増幅率などが制御される。
By the way, in the RF pulse signal power amplifier 300 configured by combining a plurality of power amplifier circuits, an adjustment process is required to align the characteristics of the respective power amplifier circuits within a predetermined range.
FIG. 13 is a block diagram showing a configuration at the time of adjusting the power amplification characteristic of the power amplification circuit 400.
The power amplifying circuit 400 shown in the figure includes an amplifying unit 10 including a high-frequency amplifying element 11, a bias voltage generating unit 30 that determines an operating point of the high-frequency amplifying element 11, and a DC wattmeter 40. The bias voltage generator 30 divides the power supply voltage Vgg by the variable resistor 35, and the amplifier 31 outputs the divided voltage as a bias voltage. The idle current, amplification factor, and the like of the high frequency amplification element 11 are controlled by the output bias voltage.

電力増幅回路400の電力増幅特性を調整する工程には、高周波増幅素子11のアイドル電流を測定する工程と、増幅特性を決定するゲート・ソース間電圧を調整する工程などがある。高周波増幅素子11のアイドル電流を測定する工程では、一般的にプリント基板上に構成される回路網において行われるため、困難な作業となる。電力増幅回路が複数接続された回路網においては、さらに困難となる。
そのため、予め高周波増幅素子11ごとに特性を取得しておき、ゲート・ソース間電圧を調整する方法、或いは、高周波増幅素子11の製造段階でランク分けし、ランク分けされた高周波増幅素子11を組み合わせて組み付ける方法がとられていた。これらの方法では、手間の増大と生産性を落す要因となる問題がある。
The step of adjusting the power amplification characteristic of the power amplification circuit 400 includes a step of measuring the idle current of the high-frequency amplification element 11 and a step of adjusting the gate-source voltage that determines the amplification characteristic. The process of measuring the idle current of the high-frequency amplifying element 11 is generally performed in a circuit network formed on a printed circuit board, which is a difficult task. This becomes even more difficult in a network in which a plurality of power amplifier circuits are connected.
Therefore, characteristics are acquired for each high-frequency amplifying element 11 in advance, and the gate-source voltage is adjusted, or the high-frequency amplifying element 11 is ranked at the manufacturing stage, and the ranked high-frequency amplifying elements 11 are combined. The method of assembling was taken. In these methods, there are problems that increase labor and reduce productivity.

若しくは、図14に示す手順にしたがって電力増幅回路500を調整する場合がある。
最初に、電力増幅器を構成する全ての高周波増幅素子511、521、531をピンチオフ状態とし、動作する高周波増幅素子を一つずつ増やしていく。図では、初段の高周波増幅素子511から、バイアス電圧を可変抵抗511bで調整を行う工程を、はじめに行う。そのときの電流の値を直流電流計40によって測定し、高周波増幅素子511のアイドル電流Idとする。続いて、次段の高周波増幅素子521について、バイアス電圧を可変抵抗521bで調整を行う工程を行う。そのときの電流の値を直流電流計40によって測定する。その測定された電流の値は、高周波増幅素子511と521のアイドル電流Idの和となる。このように、前段の測定結果のアイドル電流Idの値を減算することにより、調整中の高周波増幅素子521のアイドル電流を求めることができる。このように、それぞれの段階の電流測定結果の差分値を、該当の高周波増幅素子のドレイン電流として取り扱い、調整を進めることができる。この電流値を重ねていく調整方法では、最初に全ての高周波増幅素子をピンチオフ状態に設定する必要があり、また、個々のデバイスに流れる電流値を後から確認することができない。そのため、調整がずれるようなことがあれば、全ての高周波増幅素子511、521、531をピンチオフ状態に戻し、最初から調整をやり直さなければならないという問題がある。
Alternatively, the power amplifier circuit 500 may be adjusted according to the procedure shown in FIG.
First, all the high frequency amplifying elements 511, 521, and 531 constituting the power amplifier are set in a pinch-off state, and the number of operating high frequency amplifying elements is increased one by one. In the figure, the step of adjusting the bias voltage with the variable resistor 511b from the first-stage high-frequency amplifying element 511 is first performed. The value of the current at that time is measured by the DC ammeter 40 and is set as the idle current Id of the high frequency amplifying element 511. Subsequently, a step of adjusting the bias voltage with the variable resistor 521b is performed for the high-frequency amplifying element 521 at the next stage. The current value at that time is measured by the DC ammeter 40. The measured current value is the sum of the idle currents Id of the high frequency amplifying elements 511 and 521. Thus, by subtracting the value of the idle current Id as the measurement result of the previous stage, the idle current of the high-frequency amplifying element 521 being adjusted can be obtained. Thus, the difference value of the current measurement result at each stage can be handled as the drain current of the corresponding high-frequency amplifying element, and the adjustment can be advanced. In the adjustment method in which the current values are overlapped, it is necessary to first set all the high-frequency amplifying elements to the pinch-off state, and the current values flowing through the individual devices cannot be confirmed later. Therefore, if there is a case where the adjustment is deviated, there is a problem that all the high frequency amplifying elements 511, 521 and 531 must be returned to the pinch-off state and the adjustment must be performed again from the beginning.

本発明は、上記問題を解決すべくなされたもので、その目的は、個々の高周波増幅素子の特性のバラツキを吸収して、高周波増幅素子のアイドル電流を揃える調整方法を提供することにある。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an adjustment method that absorbs variations in characteristics of individual high-frequency amplifying elements and aligns idle currents of the high-frequency amplifying elements.

上記問題を解決するために、本発明は、高周波増幅素子によって構成される電力増幅回路を備える電力増幅器における調整方法であって、電源遮断回路が該電源遮断回路の出力端に電源供給線路を介して接続される前記電力増幅回路に電源を供給する過程と、前記電源供給線路に接続される静電容量が充電される過程と、前記電源遮断回路が前記電力増幅回路への電源を遮断する過程と、前記静電容量に充電された電荷が放電されるときの該静電容量の端子電圧の応答波形を検出する波形検出過程と、前記応答波形によって示される前記端子電圧の変化に基づいて前記電力増幅回路のアイドル電流値が設定されるアイドル電流値設定過程と、を備えることを特徴とする電力増幅器の調整方法である。   In order to solve the above problem, the present invention provides an adjustment method in a power amplifier including a power amplifier circuit configured by a high frequency amplifier element, wherein a power cutoff circuit is connected to an output terminal of the power cutoff circuit via a power supply line. Supplying the power to the power amplifier circuit connected to the power supply, charging the capacitance connected to the power supply line, and shutting off the power to the power amplifier circuit by the power cutoff circuit And a waveform detection process for detecting a response waveform of the terminal voltage of the capacitance when the electric charge charged in the capacitance is discharged, and the change in the terminal voltage indicated by the response waveform And an idle current value setting process in which an idle current value of the power amplifier circuit is set.

また、本発明は、上記発明において、前記波形検出過程は、前記静電容量に充電された電荷が放電されるときの該静電容量の端子電圧が、放電開始から予め定められた所定の時間における該端子電圧の値を検出し、前記アイドル電流値設定過程は、前記静電容量の端子電圧が予め定められた所定の電圧範囲内となる前記電力増幅回路のアイドル電流値が設定されることとする。   Further, the present invention is the above invention, wherein in the waveform detection process, the terminal voltage of the capacitance when the charge charged in the capacitance is discharged is a predetermined time from the start of discharge. In the idle current value setting process, the idle current value of the power amplifier circuit in which the terminal voltage of the capacitance falls within a predetermined voltage range is set. And

また、本発明は、上記発明において、電流検出回路が前記電源遮断回路に供給される電流の値を検出する過程と、を備え、前記アイドル電流値設定過程は、前記静電容量の端子電圧が前記電流の値に基づいて定められる所定の電圧範囲内となる前記電力増幅回路のアイドル電流値が設定されることとする。   According to the present invention, in the above invention, the current detection circuit includes a step of detecting a value of the current supplied to the power cut-off circuit, and the idle current value setting step includes: An idle current value of the power amplifier circuit that falls within a predetermined voltage range determined based on the value of the current is set.

また、本発明は、上記発明において、前記静電容量の容量値は、該電源供給線路に接続される前記電力増幅回路の出力回路が有する寄生容量の容量値に対し十分大きな値とすることとする。   Further, according to the present invention, in the above invention, the capacitance value of the capacitance is sufficiently larger than the capacitance value of the parasitic capacitance included in the output circuit of the power amplifier circuit connected to the power supply line. To do.

また、本発明は、上記発明において、前記静電容量の容量値は、該電源供給線路に接続される前記電力増幅回路の出力回路及び前記電源供給線路が有する寄生容量の容量値に対し十分大きな値とすることとする。   In the present invention, the capacitance value of the capacitance is sufficiently larger than the capacitance value of the parasitic capacitance of the output circuit of the power amplifier circuit connected to the power supply line and the power supply line. Value.

また、本発明は、上記発明において、前記静電容量の容量値は、該電源供給線路に接続される前記電力増幅回路の出力回路が有する寄生容量に基づく値とすることとする。   According to the present invention, in the above invention, the capacitance value of the capacitance is a value based on a parasitic capacitance included in an output circuit of the power amplifier circuit connected to the power supply line.

この本発明によれば、電力増幅器における調整方法は、高周波増幅素子によって構成される電力増幅回路を備える電力増幅器における調整方法である。電源遮断回路がその電源遮断回路の出力端に接続される電源供給線路を介して電力増幅回路に電源を供給する。電源供給線路に接続される静電容量が充電される。電源遮断回路が電力増幅回路への電源を遮断する。その静電容量に充電された電荷が放電されるときの静電容量の端子電圧の応答波形を検出する。検出された端子電圧の応答波形によって示される端子電圧の変化に基づいて電力増幅回路のアイドル電流値が設定される。
これにより、測定が困難な電力増幅回路のアイドル電流を、電圧波形の変化から間接的に検出することができ、電流計などの計測手段を電源供給経路に設けることなく調整することができる。また、直列や並列に接続された複数の電力増幅回路において、その接続を崩すことなくそれぞれの電力増幅回路の調整を行うことができる。
According to the present invention, the adjustment method in the power amplifier is an adjustment method in the power amplifier including the power amplification circuit configured by the high frequency amplification element. The power cutoff circuit supplies power to the power amplification circuit via a power supply line connected to the output terminal of the power cutoff circuit. The capacitance connected to the power supply line is charged. A power cut-off circuit cuts off power to the power amplifier circuit. The response waveform of the terminal voltage of the capacitance when the charge charged in the capacitance is discharged is detected. The idle current value of the power amplifier circuit is set based on the change in the terminal voltage indicated by the detected response waveform of the terminal voltage.
Thereby, the idle current of the power amplifier circuit that is difficult to measure can be indirectly detected from the change in the voltage waveform, and can be adjusted without providing a measuring means such as an ammeter in the power supply path. In addition, in a plurality of power amplifier circuits connected in series or in parallel, each power amplifier circuit can be adjusted without breaking the connection.

また、本発明によれば、上記発明において、電源供給線路に接続される静電容量に充電された電荷が放電されるときの静電容量の端子電圧が、放電開始から予め定められた所定の時間における該端子電圧の値を検出する。そして、静電容量の端子電圧が予め定められた所定の電圧範囲内となる電力増幅回路のアイドル電流値が設定される。
また、これにより、静電容量に充電された電荷が放電されるときの静電容量の端子電圧を検出し、その電圧波形の変化が所定の時間において、所定の電圧範囲とすることで間接的に電力増幅回路のアイドル電流値を検出することが可能となる。直接的に電流を測定する場合には、回路の途中に電流検出回路を設けることが必要になるが、そのような電流検出回路を用いることなく回路に設けられた静電容量の端子電圧を検出することで電流値を検出することができる。
Further, according to the present invention, in the above invention, the terminal voltage of the electrostatic capacitance when the electric charge charged in the electrostatic capacitance connected to the power supply line is discharged is a predetermined predetermined value from the start of discharge. The value of the terminal voltage in time is detected. Then, an idle current value of the power amplifying circuit in which the terminal voltage of the capacitance is within a predetermined voltage range is set.
In addition, this detects the capacitance terminal voltage when the charge charged in the capacitance is discharged, and indirectly changes the voltage waveform within a predetermined voltage range at a predetermined time. In addition, the idle current value of the power amplifier circuit can be detected. When measuring the current directly, it is necessary to provide a current detection circuit in the middle of the circuit, but the capacitance terminal voltage provided in the circuit can be detected without using such a current detection circuit. By doing so, the current value can be detected.

また、本発明によれば、上記発明において、電源遮断回路に供給する電流の電流値を検出する。静電容量の端子電圧が、電流の値に基づいて定められる所定の電圧範囲内となる電力増幅回路のアイドル電流値が設定される。
また、これにより、電源遮断回路に供給される電流の電流値を検出でき、所望の電流値となっているかを確認することができる。すなわち、基準とされる電流値を定め、複数の電力増幅回路における調整のばらつきを、定量的な検出方法を用いて低減することができる。
According to the present invention, in the above invention, the current value of the current supplied to the power shutoff circuit is detected. An idle current value of the power amplifier circuit is set such that the terminal voltage of the capacitance falls within a predetermined voltage range determined based on the current value.
In addition, this makes it possible to detect the current value of the current supplied to the power shutoff circuit and confirm whether the current value is a desired value. That is, it is possible to determine a reference current value and reduce variations in adjustment among a plurality of power amplifier circuits using a quantitative detection method.

また、本発明によれば、上記発明において、設けられる静電容量の容量値は、電力増幅回路の出力回路及び電源遮断回路における出力回路が有する寄生容量の容量値に対し十分大きな値とする。さらに、設けられる静電容量の容量値は、電源供給線路に接続される前記電力増幅回路の出力回路及び前記電源供給線路が有する寄生容量の容量値に対し十分大きな値とする。或いは、静電容量の容量値は、該電源供給線路に接続される電力増幅回路の出力回路が有する寄生容量に基づく値とする。
また、これにより、電力増幅回路及び電源遮断回路が有する静電容量の容量値の精度にバラツキが大きい場合であっても、電源供給線路に設けられる静電容量の容量値を大きくすることにより、バラツキの影響を低減することができ、電流値の精度を高めた調整を行うことができる。
According to the present invention, in the above invention, the capacitance value of the capacitance provided is sufficiently larger than the capacitance value of the parasitic capacitance included in the output circuit of the power amplifier circuit and the output circuit in the power cutoff circuit. Furthermore, the capacitance value of the provided capacitance is set to a value sufficiently larger than the capacitance value of the parasitic capacitance of the output circuit of the power amplifier circuit connected to the power supply line and the power supply line. Alternatively, the capacitance value of the capacitance is a value based on the parasitic capacitance of the output circuit of the power amplifier circuit connected to the power supply line.
In addition, by this, even when there is a large variation in the accuracy of the capacitance value of the capacitance of the power amplifier circuit and the power cutoff circuit, by increasing the capacitance value of the capacitance provided in the power supply line, The influence of variation can be reduced, and adjustment with improved accuracy of the current value can be performed.

本発明の第1実施形態における電力増幅回路を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the power amplifier circuit in 1st Embodiment of this invention. 第1実施形態における電力増幅回路を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the power amplifier circuit in 1st Embodiment. 第1実施形態における電力増幅回路におけるパルス出力時の説明図である。It is explanatory drawing at the time of the pulse output in the power amplifier circuit in 1st Embodiment. 第1実施形態における電力増幅回路におけるパルス出力時の説明図である。It is explanatory drawing at the time of the pulse output in the power amplifier circuit in 1st Embodiment. 第1実施形態における増幅器の増幅特性を示す特性図である。It is a characteristic view which shows the amplification characteristic of the amplifier in 1st Embodiment. 第1実施形態における増幅器の遮断特性を示す特性図である。It is a characteristic view which shows the cutoff characteristic of the amplifier in 1st Embodiment. 第2実施形態における電力増幅回路を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the power amplifier circuit in 2nd Embodiment. 第2実施形態における増幅器の遮断動作を示すタイミングチャートである。It is a timing chart which shows interruption | blocking operation | movement of the amplifier in 2nd Embodiment. 第2実施形態における増幅器の調整手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the adjustment procedure of the amplifier in 2nd Embodiment. 第3実施形態における電力増幅回路を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the power amplifier circuit in 3rd Embodiment. 第3実施形態における電力増幅回路の調整手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the adjustment procedure of the power amplifier circuit in 3rd Embodiment. 従来の実施形態における電力増幅回路を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the power amplifier circuit in conventional embodiment. 従来の実施形態における電力増幅回路を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the power amplifier circuit in conventional embodiment. 従来の実施形態における電力増幅回路の調整手順を示す図である。It is a figure which shows the adjustment procedure of the power amplifier circuit in the conventional embodiment.

以下、本発明の一実施形態について図面を参照して説明する。
(第1実施形態)
船舶用レーダ、気象レーダ、航空管制用レーダなどは、そのレーダの方式から一般にパルスレーダと呼ばれている。パルスレーダは、短い時間RFパルス信号を送信し、空間に放射されたRFパルス信号が、目標物に到達する。目標物では、放射されたパルス信号の反射が起こる。パルスレーダは、目標物で反射された反射信号を受信して、送信時から受信時までの電波伝搬に要した時間を測定し、目標物までの距離を計測する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
(First embodiment)
Ship radars, weather radars, air traffic control radars, and the like are generally called pulse radars because of their radar systems. The pulse radar transmits an RF pulse signal for a short time, and the RF pulse signal radiated into the space reaches the target. At the target, reflection of the emitted pulse signal occurs. The pulse radar receives the reflected signal reflected by the target, measures the time required for radio wave propagation from the time of transmission to the time of reception, and measures the distance to the target.

このような、パルスレーダの送信回路に適用される電力増幅器について説明を行う。
化合物半導体デバイスを用いた電力増幅器(固体化電力増幅器)においても、真空管による電力増幅器と同じくRFパルス信号を増幅するのに適したものが要求される。化合物半導体デバイスを用いた電力増幅回路(以下、特に示す場合を除き化合物半導体デバイスを用いた電力増幅回路を「電力増幅回路」という。)では、B級又はAB級での増幅特性が必要とされる。B級又はAB級で動作する電力増幅回路は、RFパルス信号が入力されていない状況であっても、化合物半導体デバイスのドレイン・ソース間に常にアイドル電流を流すことになる。このアイドル電流による損失は、電力効率の低下や発熱を招くことになる。そのため、電力増幅回路では、RFパルス信号を送信しない無信号時のアイドル電流を遮断する方法がとられている。アイドル電流を遮断する方法として、化合物半導体デバイスのドレイン電源の供給を停止することにより、そのアイドル電流を遮断して、電力効率の向上と発熱の抑圧をはかるドレイン制御ドライブ回路が電力増幅器の回路として実現されている。
A power amplifier applied to such a pulse radar transmission circuit will be described.
A power amplifier (solid-state power amplifier) using a compound semiconductor device is also required to be suitable for amplifying an RF pulse signal, similar to a vacuum tube power amplifier. In a power amplifier circuit using a compound semiconductor device (hereinafter, a power amplifier circuit using a compound semiconductor device is referred to as a “power amplifier circuit” unless otherwise specified), amplification characteristics in class B or AB are required. The A power amplifier circuit operating in class B or class AB always allows an idle current to flow between the drain and source of the compound semiconductor device, even when no RF pulse signal is input. The loss due to the idle current causes a reduction in power efficiency and heat generation. For this reason, in the power amplifier circuit, a method of cutting off idle current when no signal is transmitted without transmitting an RF pulse signal is employed. As a method of shutting off the idle current, the drain control drive circuit that cuts off the idle current by stopping the supply of the drain power of the compound semiconductor device and improves the power efficiency and suppresses the heat generation is used as the power amplifier circuit. It has been realized.

図を参照して、複数の電力増幅回路によって構成される電力増幅器におけるドレイン制御ドライブ回路の一例について説明する。
図1は、本発明の第1実施形態における電力増幅回路を示すブロック図である。
図に示される電力増幅回路100は、高周波増幅素子11を備える増幅部10と、増腹部10への電源供給を制御する電源制御部20と、高周波増幅素子11の動作点を定めるバイアス電圧発生部30を備えている。
増幅部10は、高周波増幅素子11、コンデンサ12、13、17、整合パタン14、15及び電源供給線路16を備える。
高周波増幅素子11は、電界効果型トランジスタである。ここでは、nチャネル型を示す。コンデンサ12、13は、直流成分を遮断するカプリングコンデンサである。整合パタン14、15は、高周波増幅素子11の入出力インピーダンスのマッチングを取る分布定数回路である。電源供給線路16は、高周波増幅素子11に電力を供給するドレイン電源供給線路の一部を形成する。コンデンサ17は、電源供給線路16の電源側の端子を高周波的に接地することを目的とするコンデンサである。
An example of a drain control drive circuit in a power amplifier constituted by a plurality of power amplifier circuits will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing a power amplifier circuit according to the first embodiment of the present invention.
The power amplifying circuit 100 shown in the figure includes an amplifying unit 10 that includes a high-frequency amplifying element 11, a power supply control unit 20 that controls power supply to the abdominal part 10, and a bias voltage generator that determines the operating point of the high-frequency amplifying element 11. 30.
The amplifying unit 10 includes a high-frequency amplifying element 11, capacitors 12, 13, and 17, matching patterns 14 and 15, and a power supply line 16.
The high frequency amplifying element 11 is a field effect transistor. Here, an n-channel type is shown. Capacitors 12 and 13 are coupling capacitors that block DC components. The matching patterns 14 and 15 are distributed constant circuits that match the input / output impedance of the high-frequency amplifying element 11. The power supply line 16 forms part of a drain power supply line that supplies power to the high-frequency amplification element 11. The capacitor 17 is a capacitor intended to ground the power supply side terminal of the power supply line 16 at a high frequency.

電源制御部20は、電源制御トランジスタ21、駆動回路22及びコンデンサ23を備える。電源制御部20における電源制御トランジスタ21は、ソースが電源Vddに接続され、ドレインが増幅部10に接続され、電源Vddの供給においてON(オン)状態/OFF(オフ)状態を切り換えるスイッチである。電源制御トランジスタ21は、pチャネル型MOS FETとして示されている。駆動回路22は、入力端がドレイン電源制御信号の入力端子に接続され、出力端が電源制御トランジスタ21のゲートに接続される。駆動回路22は、電源Vddに接続されるpチャネル型MOS FETと基準電位に接続されるnチャネル型MOS FETとからなるインバータ回路である。駆動回路22は、入力されるドレイン電源制御信号を反転し出力する。コンデンサ23は、電源制御トランジスタ21のソース端子に接続されたパルス電流対応の充電コンデンサである。   The power control unit 20 includes a power control transistor 21, a drive circuit 22, and a capacitor 23. The power supply control transistor 21 in the power supply control unit 20 is a switch having a source connected to the power supply Vdd and a drain connected to the amplification unit 10 and switching between an ON state and an OFF state when the power supply Vdd is supplied. The power control transistor 21 is shown as a p-channel type MOS FET. The drive circuit 22 has an input terminal connected to the input terminal of the drain power control signal and an output terminal connected to the gate of the power control transistor 21. The drive circuit 22 is an inverter circuit composed of a p-channel MOS FET connected to the power supply Vdd and an n-channel MOS FET connected to a reference potential. The drive circuit 22 inverts and outputs the input drain power supply control signal. The capacitor 23 is a charging capacitor corresponding to a pulse current connected to the source terminal of the power supply control transistor 21.

バイアス電圧発生部30は、演算増幅器31、抵抗32、36、信号伝送線路33、37、コンデンサ34、38、39及び可変抵抗35を備える。
バイアス電圧発生部30における演算増幅器31は、出力端が信号伝送線路37、抵抗36、32及び信号伝送線路33を介して反転入力端子に接続され、非反転出力端子に入力される電圧を等倍で増幅するボルテージフォロアアンプである。可変抵抗器35は、電源電圧Vggを分圧し、演算増幅器31の非反転出力端子に入力する。コンデンサ34、38は、それぞれ信号伝送線路33、37を高周波的に接地し、それぞれショートスタブを形成する。コンデンサ39は、演算増幅器31の電源端子に接続されるバイパスコンデンサである。
The bias voltage generator 30 includes an operational amplifier 31, resistors 32 and 36, signal transmission lines 33 and 37, capacitors 34, 38 and 39, and a variable resistor 35.
The operational amplifier 31 in the bias voltage generator 30 has an output terminal connected to the inverting input terminal via the signal transmission line 37, the resistors 36 and 32, and the signal transmission line 33, and equalizes the voltage input to the non-inverting output terminal. This is a voltage follower amplifier that amplifies the signal. The variable resistor 35 divides the power supply voltage Vgg and inputs it to the non-inverting output terminal of the operational amplifier 31. Capacitors 34 and 38 respectively ground signal transmission lines 33 and 37 in high frequency, and form short stubs, respectively. The capacitor 39 is a bypass capacitor connected to the power supply terminal of the operational amplifier 31.

バイアス電圧発生部30は、電源電圧Vggが可変抵抗器35によって分圧され、その分圧された電圧が増幅器31によってバッファリングされ、その電圧をバイアス電圧として出力する。バイアス電圧発生部30から供給されるバイアス電圧は、演算増幅器31の帰還路に設けられた抵抗32と36の接続点から出力され、高周波増幅素子11のゲートに入力される。
高周波増幅素子11のゲート・ソース間電圧には、常に一定の電圧が印加され、最適なバイアス電圧が印加される。出力されたバイアス電圧によって、高周波増幅素子11の動作点が定められアイドル電流、増幅率などが制御される。
The bias voltage generator 30 divides the power supply voltage Vgg by the variable resistor 35, the divided voltage is buffered by the amplifier 31, and outputs the voltage as a bias voltage. The bias voltage supplied from the bias voltage generator 30 is output from the connection point between the resistors 32 and 36 provided in the feedback path of the operational amplifier 31 and input to the gate of the high-frequency amplifier 11.
A constant voltage is always applied to the gate-source voltage of the high-frequency amplifying element 11, and an optimum bias voltage is applied. The operating point of the high frequency amplifying element 11 is determined by the output bias voltage, and the idle current, the amplification factor, and the like are controlled.

続いて、電力増幅回路100の増幅動作を示す。
図2は、第1実施形態における電力増幅回路の増幅動作を示すための概略ブロック図である。
図1に示した構成と同じ構成には、同じ符号を付し、異なる構成について説明する。
電源制御トランジスタ21のゲートは、抵抗24を介してドレイン電源制御信号が入力される。ドレイン電源制御信号は、図1で示したようにインバータ22を介して入力するほかに、抵抗24を介して入力することができる。図2で示すドレイン電源制御信号は、図1に示すドレイン電源制御信号と信号の論理が反転することになる。
Subsequently, an amplifying operation of the power amplifier circuit 100 will be described.
FIG. 2 is a schematic block diagram for illustrating an amplifying operation of the power amplifier circuit according to the first embodiment.
The same components as those illustrated in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and different components will be described.
A drain power supply control signal is input to the gate of the power supply control transistor 21 via the resistor 24. The drain power supply control signal can be input via the resistor 24 in addition to being input via the inverter 22 as shown in FIG. The drain power supply control signal shown in FIG. 2 is inverted in logic from the drain power supply control signal shown in FIG.

高周波増幅素子11のゲート・ソース間電圧は、RFパルス信号の有無に関わらず常に最適なバイアス電圧が印加されている。RFパルス信号の入力に先立ち、ドレイン電源供給線路に挿入された電源制御トランジスタ21(スイッチングMOSFET)がドレイン電源制御信号により制御され、オン状態となる。電源制御トランジスタ21における電力消費および発熱を抑圧するためには、電源制御トランジスタ21のオン抵抗は極力小さいことが望ましい。高周波増幅素子11にRFパルス信号が入力されると、電源Vddより電源制御トランジスタ21を介して、高周波増幅素子11(化合物半導体デバイス)のドレイン・ソース間にドレイン電流が流れる。この間、高周波増幅素子11は、B級又はAB級で増幅動作を行う。RFパルス信号の入力が途絶える状態になると、ドレイン電源制御信号により電源制御トランジスタ21はオフ状態となる。また、高周波増幅素子11の出力容量及び接続されたコンデンサ17に充電された電荷は、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間を経て放電される。
出力容量及び接続されたコンデンサ17に充電された電荷が放電されると、ドレイン電流はやがてゼロとなり増幅動作を停止する。
An optimum bias voltage is always applied to the gate-source voltage of the high-frequency amplifying element 11 regardless of the presence or absence of an RF pulse signal. Prior to the input of the RF pulse signal, the power control transistor 21 (switching MOSFET) inserted in the drain power supply line is controlled by the drain power control signal and is turned on. In order to suppress power consumption and heat generation in the power supply control transistor 21, it is desirable that the on-resistance of the power supply control transistor 21 be as small as possible. When an RF pulse signal is input to the high frequency amplifying element 11, a drain current flows between the drain and source of the high frequency amplifying element 11 (compound semiconductor device) from the power source Vdd via the power control transistor 21. During this time, the high frequency amplifying element 11 performs an amplifying operation with a class B or class AB. When the input of the RF pulse signal is interrupted, the power supply control transistor 21 is turned off by the drain power supply control signal. The output capacitor of the high frequency amplifying element 11 and the charge charged in the connected capacitor 17 are discharged through the drain and source of the high frequency amplifying element 11.
When the electric charge charged in the output capacitor and the connected capacitor 17 is discharged, the drain current eventually becomes zero and the amplification operation is stopped.

図を参照し、高周波増幅素子11のドレイン制御ドライブ回路における、ゲート・ソース間電圧を調整し、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間に流れるアイドル電流を揃え、高周波増幅素子11の特性のバラツキを吸収する方法を説明する。
図3は、第1実施形態における電力増幅回路におけるパルス出力時の説明図である。
図1に示した構成と同じ構成には、同じ符号を付し、異なる構成について説明する。
電源制御トランジスタ21のゲートは、抵抗26を介して自己バイアス電圧が印加され、コンデンサ25を介してドレイン電源制御信号が入力される。ドレイン電源制御信号は、図1で示したようにインバータ22を介して入力するほかに、コンデンサ25を介して入力することができる。コンデンサ25を介することにより、Vdd電圧とドレイン電源制御信号の電圧の相違を吸収することが可能となる。図2で示すドレイン電源制御信号は、図1に示すドレイン電源制御信号と信号の論理が反転することになる。
Referring to the figure, the gate-source voltage in the drain control drive circuit of the high-frequency amplifying element 11 is adjusted, the idle current flowing between the drain and source of the high-frequency amplifying element 11 is aligned, and the characteristics of the high-frequency amplifying element 11 vary. The absorption method will be described.
FIG. 3 is an explanatory diagram at the time of pulse output in the power amplifier circuit according to the first embodiment.
The same components as those illustrated in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and different components will be described.
A self-bias voltage is applied to the gate of the power supply control transistor 21 via the resistor 26, and a drain power supply control signal is input via the capacitor 25. The drain power supply control signal can be input via the capacitor 25 in addition to being input via the inverter 22 as shown in FIG. By using the capacitor 25, it is possible to absorb the difference between the Vdd voltage and the drain power supply control signal. The drain power supply control signal shown in FIG. 2 is inverted in logic from the drain power supply control signal shown in FIG.

ドレイン電源制御信号により、電源制御トランジスタ21がオン状態になると、高周波増幅素子11にドレイン電源が供給される。同時に、高周波増幅素子11の出力容量11c(以下、「出力容量11c」は、ドレイン・ソース間容量11c2(容量値Cds)とドレイン・ゲート間容量11c1(容量値Cdg)を合わせた容量を示す。)は急速に充電される。
このコンデンサ17は、増幅されるRF信号波長の1/4の距離でRF線路(ストリップラインやマイクロストリッブラインともいう。)と結ばれ、全体でショートスタブを構成している。このような場合、コンデンサ17は、高周波に対して低損失で、数pFの容量値であり、高周波増幅素子11の出力容量の容量値に対して十分小さな値であるため無視できる。同時に、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間にドレイン電流が流れる。この電流量は、高周波増幅素子11のゲート・ソース間電圧にて制御される。
When the power control transistor 21 is turned on by the drain power control signal, the drain power is supplied to the high frequency amplifier 11. At the same time, the output capacitance 11c (hereinafter, “output capacitance 11c”) of the high-frequency amplifying element 11 is a sum of the drain-source capacitance 11c2 (capacitance value Cds) and the drain-gate capacitance 11c1 (capacitance value Cdg). ) Is charged quickly.
The capacitor 17 is connected to an RF line (also referred to as a stripline or a microstrip line) at a distance of 1/4 of the amplified RF signal wavelength, and constitutes a short stub as a whole. In such a case, the capacitor 17 has a low loss with respect to the high frequency, has a capacitance value of several pF, and can be ignored because it is a sufficiently small value with respect to the capacitance value of the output capacitance of the high frequency amplifying element 11. At the same time, a drain current flows between the drain and source of the high-frequency amplifying element 11. This amount of current is controlled by the gate-source voltage of the high-frequency amplifier element 11.

次に、ドレイン電源供給がオフ状態になる場合の状態遷移について示す。
図4は、第1実施形態における電力増幅回路におけるパルスRF停止時の説明図である。
この図に示す構成は、図3に示した構成と同じ構成であり、同じ符号を付す。
ドレイン電源制御信号によって電源制御トランジスタ21がオフ状態にされると、電源制御トランジスタ21を介して供給されるドレイン電流が遮断される。代わりに高周波増幅素子11の出力容量11cに充電された電荷が、高周波増幅素子11のドレインに流れ込み、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間にはドレイン電流が引き続き流れる。高周波増幅素子11の出力容量11cからの放電は、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間電圧が低下しながら行われる。その後、高周波増幅素子11の出力容量11cの電荷がなくなると、ドレイン電流が停止し、ドレイン・ソース間電圧が0ボルトとなる。出力容量11cからの放電が終了すると、高周波増幅素子11の増幅動作も終了する。
Next, state transition when the drain power supply is turned off will be described.
FIG. 4 is an explanatory diagram when the pulse RF is stopped in the power amplifier circuit according to the first embodiment.
The configuration shown in this figure is the same as the configuration shown in FIG. 3, and is given the same reference numerals.
When the power supply control transistor 21 is turned off by the drain power supply control signal, the drain current supplied through the power supply control transistor 21 is cut off. Instead, the charge charged in the output capacitor 11 c of the high frequency amplification element 11 flows into the drain of the high frequency amplification element 11, and a drain current continues to flow between the drain and source of the high frequency amplification element 11. The discharge from the output capacitor 11 c of the high frequency amplifying element 11 is performed while the drain-source voltage of the high frequency amplifying element 11 is lowered. Thereafter, when the electric charge of the output capacitor 11c of the high frequency amplifying element 11 is exhausted, the drain current stops and the drain-source voltage becomes 0 volts. When the discharge from the output capacitor 11c is finished, the amplifying operation of the high frequency amplifying element 11 is also finished.

高周波増幅素子11の出力容量11cに充電された電荷の放電に要する時間は、高周波増幅素子11の出力容量11cとドレイン・ソース間に流れる電流量で決定される。
高周波増幅素子11の出力容量11cを定数と考えることができれば、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間電圧を測定し、放電時間を検出することで、間接的にドレイン・ソース間を流れるドレイン電流を検出することができる。
The time required to discharge the electric charge charged in the output capacitor 11c of the high-frequency amplifier 11 is determined by the amount of current flowing between the output capacitor 11c of the high-frequency amplifier 11 and the drain / source.
If the output capacitance 11c of the high-frequency amplifying element 11 can be considered as a constant, the drain current flowing between the drain and the source is indirectly measured by measuring the drain-source voltage of the high-frequency amplifying element 11 and detecting the discharge time. Can be detected.

図5は、第1実施形態における電力増幅器の増幅特性を示す特性図である。
この図に示されるグラフは、横軸にドレイン・ソース電圧、縦軸にドレイン電流を示す電界効果型トランジスタの静特性を示すグラフである。
このグラフに示される特性線VGS0、VGS1、VGS2及びVGS3は、ゲート・ソース間電圧が異なる複数のグラフが示され、順に電圧が大きくなる。特性線VGS2で示される特性において、動作点をP51として設定したとすると、RFパルス信号が入力されない無信号状態において、そのP51に応じたドレイン電流がアイドル電流となる。このアイドル電流が流れる時にゲート・ソース間に印加された電圧が、バイアス電圧となる。また、動作点P51からドレイン・ソース間電圧が低くなると、ドレイン電流はほぼ一定のまま同じ特性線VGS2に沿ってP52に達する。
図4に示したようにドレイン電源Vddが遮断された後、出力容量11cが放電されることにより、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間電圧が低下していく。その過程で、高周波増幅素子11の飽和領域において、ほぼ一定のドレイン電流を流し続ける。さらに放電がすすみ、十分にドレイン・ソース間電圧が低下した点(P52)では、高周波増幅素子11は非飽和領域での動作となり、ドレイン・ソース間電圧に比例して、ドレイン電流が減少していくことが知られている。
FIG. 5 is a characteristic diagram showing amplification characteristics of the power amplifier according to the first embodiment.
The graph shown in this figure is a graph showing the static characteristics of a field effect transistor in which the horizontal axis represents the drain-source voltage and the vertical axis represents the drain current.
In the characteristic lines VGS0, VGS1, VGS2, and VGS3 shown in this graph, a plurality of graphs having different gate-source voltages are shown, and the voltages increase in order. Assuming that the operating point is set as P51 in the characteristic indicated by the characteristic line VGS2, the drain current corresponding to P51 becomes an idle current in a no-signal state where no RF pulse signal is input. The voltage applied between the gate and the source when this idle current flows becomes the bias voltage. When the drain-source voltage decreases from the operating point P51, the drain current reaches P52 along the same characteristic line VGS2 while remaining substantially constant.
As shown in FIG. 4, after the drain power source Vdd is shut off, the output capacitor 11c is discharged, whereby the drain-source voltage of the high-frequency amplifying element 11 decreases. In the process, a substantially constant drain current continues to flow in the saturation region of the high-frequency amplification element 11. Furthermore, at the point where the discharge has proceeded and the drain-source voltage has sufficiently decreased (P52), the high-frequency amplifying element 11 operates in the non-saturated region, and the drain current decreases in proportion to the drain-source voltage. It is known to go.

図6は、第1実施形態における電力増幅器の遮断特性を示す特性図である。
この図に示されるグラフは、縦軸にドレイン・ソース間電圧を示すタイミングチャートである。
時刻t0において、電源制御トランジスタ21がオン状態となり、ドレイン電源Vddが供給され、高周波増幅素子11が能動状態となる。時刻t1において電源制御トランジスタ21がオフ状態となり、ドレイン電源Vddが遮断される。時刻t1を過ぎても、高周波増幅素子11の出力容量11cに充電された電荷が放電されるまでは、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間電圧は過度的に変化する特性を持って低下する。このグラフに示されるように、過度的に変化する電圧の変化は、ドレイン電流が多いほど急な変化を示すことになる。
FIG. 6 is a characteristic diagram showing a cutoff characteristic of the power amplifier according to the first embodiment.
The graph shown in this figure is a timing chart showing the drain-source voltage on the vertical axis.
At time t0, the power supply control transistor 21 is turned on, the drain power supply Vdd is supplied, and the high frequency amplifying element 11 is activated. At time t1, the power supply control transistor 21 is turned off, and the drain power supply Vdd is cut off. Even after time t1, the voltage between the drain and source of the high-frequency amplifying element 11 decreases with a characteristic that changes excessively until the electric charge charged in the output capacitor 11c of the high-frequency amplifying element 11 is discharged. As shown in this graph, the voltage change that changes excessively shows a sudden change as the drain current increases.

そこで、高周波増幅素子11を飽和領域で動作させ、高周波増幅素子11ごとにドレイン・ソース間電圧を測定する。すべての高周波増幅素子11において、所定の電圧に低下するまでの時間を放電時間(t2−t1)とし、放電時間(t2−t1)が同じになるように高周波増幅素子11のゲート・ソース間電圧を調整する。この調整は、調整者が可変抵抗器35を操作し、高周波増幅素子11に最適なバイアス電圧を印加することで、高周波増幅素子11ごとのアイドル電流を一定にすることができる。これにより、高周波増幅素子11ごとのバラツキを吸収し、高周波増幅素子11の特性を揃えることが可能となる。   Therefore, the high frequency amplifying element 11 is operated in the saturation region, and the drain-source voltage is measured for each high frequency amplifying element 11. In all the high frequency amplifying elements 11, the time until the voltage is lowered to a predetermined voltage is set as the discharge time (t2-t1), and the gate-source voltage of the high frequency amplifying element 11 is set so that the discharge time (t2-t1) is the same. Adjust. In this adjustment, the adjuster operates the variable resistor 35 and applies an optimum bias voltage to the high-frequency amplifying element 11, whereby the idle current for each high-frequency amplifying element 11 can be made constant. As a result, it is possible to absorb variations among the high-frequency amplifying elements 11 and make the characteristics of the high-frequency amplifying elements 11 uniform.

上記に示した調整方法では、高周波増幅素子11の出力容量11cを定数として取り扱った場合の例である。また、ドレイン電源供給線路に挿入された電源制御トランジスタ21の出力容量を考慮していない。
実際には、高周波増幅素子11に印加されるドレイン・ソース間電圧や高周波増幅素子11の特性により、容量値のバラツキが含まれている。実際との差異が考慮されない条件によって調整されることになるため、調整されたバイアス電圧、アイドル電流にも誤差が含まれることになる。
The adjustment method described above is an example when the output capacitance 11c of the high-frequency amplification element 11 is handled as a constant. Further, the output capacitance of the power control transistor 21 inserted in the drain power supply line is not taken into consideration.
Actually, variations in capacitance values are included depending on the drain-source voltage applied to the high-frequency amplifying element 11 and the characteristics of the high-frequency amplifying element 11. Since adjustment is performed according to a condition in which a difference from the actual is not taken into consideration, the adjusted bias voltage and idle current also include an error.

(第2実施形態)
第1実施形態の結果に見込まれる含有される誤差を減少させ、精密な調整を行うことを可能とする高周波増幅素子11のドライブ回路の一例を示す。
図7は、第2実施形態における電力増幅回路を示すブロック図である。
図1に示した構成と同じ構成には、同じ符号を付し、異なる構成について説明する。
図1に示したコンデンサ17に対して、放電用コンデンサ18が、並列に接続されることが異なっている。コンデンサ17は、増幅されるRF信号波長の1/4の距離でRF線路と結ばれる電源供給線路16を高周波的に接地する。
放電用コンデンサ18は、高周波増幅素子11の出力容量11c及び電源制御トランジスタ21の出力容量21cに対して、10倍以上の大きさの静電容量値を有し、加えて、放電用コンデンサ18の静電容量値18cの許容誤差が小さいものが望ましい。例えば、高周波増幅素子11の出力容量11c及び電源制御トランジスタ21の出力容量21cを加算した結果、そのバラツキが±50%となる場合でも、放電用コンデンサ18の静電容量値18cが10倍であれば、影響は±5%以下となり、放電用コンデンサ18の静電容量値18cの許容誤差と同等かそれ以下のバラツキ誤差となる。
(Second Embodiment)
An example of the drive circuit of the high-frequency amplifying element 11 that reduces the contained error expected in the result of the first embodiment and enables precise adjustment is shown.
FIG. 7 is a block diagram showing a power amplifier circuit in the second embodiment.
The same components as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and different components will be described.
1 is different from the capacitor 17 shown in FIG. 1 in that a discharging capacitor 18 is connected in parallel. The capacitor 17 grounds the power supply line 16 connected to the RF line at a distance of ¼ of the amplified RF signal wavelength in terms of high frequency.
The discharging capacitor 18 has a capacitance value that is 10 times or more larger than the output capacitance 11c of the high frequency amplifying element 11 and the output capacitance 21c of the power supply control transistor 21. In addition, the discharging capacitor 18 It is desirable that the tolerance value of the capacitance value 18c is small. For example, even if the variation is ± 50% as a result of adding the output capacitance 11c of the high-frequency amplifier 11 and the output capacitance 21c of the power control transistor 21, the capacitance value 18c of the discharge capacitor 18 should be 10 times. For example, the influence is ± 5% or less, and the variation error is equal to or less than the allowable error of the capacitance value 18c of the discharging capacitor 18.

図8は、第2実施形態における電力増幅器の遮断動作を示すタイミングチャートである。
(a)に示されるグラフは、縦軸にドレイン・ソース間電圧を示すタイミングチャートである。(b)に示されるグラフは、縦軸に高周波増幅素子11の利得を示すタイミングチャートである。縦軸に示される値に応じて、その利得の高さが示される。(c)に示されるグラフは、縦軸にパルスレーダの受信機プロテクタの動作を示すタイミングチャートである。受信機プロテクタの動作状態を2値で示し、縦軸において値が大きい条件はプロテクト動作が作動している状態を示し、縦軸において値が小さい条件はプロテクト動作が作動していない状態を示す。
FIG. 8 is a timing chart showing the cutoff operation of the power amplifier in the second embodiment.
The graph shown in (a) is a timing chart showing the drain-source voltage on the vertical axis. The graph shown in (b) is a timing chart showing the gain of the high-frequency amplification element 11 on the vertical axis. The gain height is indicated according to the value indicated on the vertical axis. The graph shown in (c) is a timing chart showing the operation of the receiver protector of the pulse radar on the vertical axis. The operation state of the receiver protector is represented by binary values, a condition where the value is large on the vertical axis indicates a state where the protect operation is activated, and a condition where the value is small on the vertical axis indicates a state where the protect operation is not activated.

(a)に示されるように、時刻t0において、電源制御トランジスタ21がオン状態となり、ドレイン電源Vddが供給され、高周波増幅素子11が能動状態となる。時刻t1において電源制御トランジスタ21がオフ状態となり、ドレイン電源Vddが遮断される。時刻t1を過ぎても、高周波増幅素子11の出力容量11c及び放電用コンデンサ18の静電容量値18cに充電された電荷が放電されるまでは、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間電圧は過度的に変化する特性を持って低下する。過度的に変化する電圧の変化は、ドレイン電流が多いほど急な変化を示すことになる。   As shown in (a), at time t0, the power supply control transistor 21 is turned on, the drain power supply Vdd is supplied, and the high-frequency amplifying element 11 is activated. At time t1, the power supply control transistor 21 is turned off, and the drain power supply Vdd is cut off. Even after the time t1, the drain-source voltage of the high-frequency amplifying element 11 is excessive until the charges charged in the output capacitance 11c of the high-frequency amplifying element 11 and the electrostatic capacitance value 18c of the discharging capacitor 18 are discharged. Decreases with changing characteristics. The voltage change that changes excessively shows a sudden change as the drain current increases.

高周波増幅素子11を飽和領域で動作させ、高周波増幅素子11ごとにドレイン・ソース間電圧を測定する。すべての高周波増幅素子11において、所定の電圧に低下するまでの時間を放電時間(t2−t1)とし、放電時間(t2−t1)が同じになるよう、高周波増幅素子11のゲート・ソース間電圧を調整する。最適なバイアス電圧を印加することで、高周波増幅素子11ごとのアイドル電流を一定にすることが可能である。これにより、高周波増幅素子11ごとのバラツキを吸収し、高周波増幅素子11の特性を揃えることが可能となる。   The high frequency amplifying element 11 is operated in the saturation region, and the drain-source voltage is measured for each high frequency amplifying element 11. In all the high frequency amplifying elements 11, the time until the voltage decreases to a predetermined voltage is set as the discharge time (t 2 -t 1), and the gate-source voltage of the high frequency amplifying elements 11 is set so that the discharge time (t 2 -t 1) is the same Adjust. By applying an optimum bias voltage, the idle current for each high-frequency amplifier element 11 can be made constant. As a result, it is possible to absorb variations among the high-frequency amplifying elements 11 and make the characteristics of the high-frequency amplifying elements 11 uniform.

また、放電コンデンサ18の静電容量値18cを増やすほど、放電時間が長くなる。そして、高周波増幅素子11のゲート・ソース間電圧の調整は容易になる。放電時間が長くなることは、ドレイン・ソース間にドレイン電源が印加され続ける状態が長くなることになる。
(b)に示されるように、時刻t1において、ドレイン電源制御信号によって電源制御トランジスタ21が遮断されているにもかかわらず高周波増幅素子11は、増幅動作状態にあり、徐々にその利得が低下する。増幅動作状態にある高周波増幅素子11は、漏れRF信号などのノイズを増幅し、システムに影響を及ぼす恐れがある。そのため、高周波増幅素子11の利得がなくなるまでの放電時間(t3−t1)は、受信機プロテクタが作動し、パルスレーダの受信機に信号が漏れ込まない時間内に完了することが望ましい。
Moreover, the discharge time becomes longer as the capacitance value 18c of the discharge capacitor 18 is increased. And the adjustment of the gate-source voltage of the high frequency amplifying element 11 becomes easy. The longer discharge time means a longer state in which the drain power source is continuously applied between the drain and the source.
As shown in (b), at time t1, the high frequency amplifying element 11 is in an amplifying operation state even though the power control transistor 21 is cut off by the drain power control signal, and its gain gradually decreases. . The high-frequency amplification element 11 in the amplification operation state amplifies noise such as a leaky RF signal and may affect the system. For this reason, it is desirable that the discharge time (t3-t1) until the gain of the high-frequency amplifying element 11 disappears be completed within the time when the receiver protector is activated and no signal leaks into the pulse radar receiver.

(c)に示すように、パルスレーダでは、その受信機へ入力信号が漏れ込まないように入力信号を受信機プロテクタによって遮断させている。受信機プロテクタを解除した後は、反射信号を受信する時間となる。したがって、受信機プロテクタが動作し、受信機への入力を遮断している時間の間に、高周波増幅素子11の利得をなくすことが必要となる。すなわち、時刻t3までに高周波増幅素子11の利得がなくなるが、受信機プロテクタの解除の時刻t4は、それ以降とすることが望ましい。
受信機プロテクタは、TRリミッター、ダイオードリミッター、固体化リミッターなどがあり、所定の時間の入力を遮断する。
As shown in (c), in the pulse radar, the input signal is blocked by the receiver protector so that the input signal does not leak into the receiver. After releasing the receiver protector, it is time to receive the reflected signal. Therefore, it is necessary to eliminate the gain of the high frequency amplifying element 11 during the time when the receiver protector is operating and the input to the receiver is cut off. That is, the gain of the high-frequency amplifying element 11 disappears by time t3, but it is desirable that the time t4 at which the receiver protector is released be later.
The receiver protector includes a TR limiter, a diode limiter, a solidification limiter, and the like, and blocks input for a predetermined time.

図9は、第2実施形態における電力増幅器の調整手順を示すフローチャートである。
最初に、電力増幅器にドレイン電源制御信号が入力され、インバータ22が入力されたドレイン電源制御信号を検出し、電源制御トランジスタ21に制御信号を入力する(ステップSa1)。電源制御トランジスタ21は、入力された制御信号を検出するとオン状態に遷移し、ドレイン電源を高周波増幅素子11(化合物半導体デバイス)に供給する(ステップSa2)。
FIG. 9 is a flowchart showing the adjustment procedure of the power amplifier in the second embodiment.
First, the drain power control signal is input to the power amplifier, the drain power control signal input to the inverter 22 is detected, and the control signal is input to the power control transistor 21 (step Sa1). When the power control transistor 21 detects the input control signal, the power control transistor 21 transitions to the ON state, and supplies the drain power to the high frequency amplifier 11 (compound semiconductor device) (step Sa2).

高周波増幅素子11のドレイン・ソース電圧の測定を開始する(ステップSa3)。
可変抵抗器35によって、高周波増幅素子11のゲート・ソース電圧の調整を行う。バイアス電圧発生部30は、可変抵抗器35によって調整された電圧を高周波増幅素子11のゲートに印加する(ステップSa4)。調整された高周波増幅素子11のゲート・ソース電圧によって定められる高周波増幅素子11のアイドル電流により、放電用コンデンサ18の端子電圧が変化する。その端子電圧、すなわち高周波増幅素子11のドレイン・ソース電圧の変化を測定した結果から、所定の電圧となるまでの時間が、基準とされる時間に対して所定の時間の範囲となっているかの判定を行う。判定の結果、所定の電圧となるまでの時間が、所定の時間の範囲にないと判定された場合には、ステップSa4からの処理を繰り返す(ステップSa5)。
Measurement of the drain-source voltage of the high-frequency amplifying element 11 is started (step Sa3).
The variable resistor 35 adjusts the gate-source voltage of the high-frequency amplification element 11. The bias voltage generation unit 30 applies the voltage adjusted by the variable resistor 35 to the gate of the high-frequency amplification element 11 (step Sa4). The terminal voltage of the discharging capacitor 18 changes due to the idle current of the high-frequency amplifier 11 determined by the adjusted gate-source voltage of the high-frequency amplifier 11. Whether the time until the voltage reaches a predetermined voltage from the result of measuring the change in the terminal voltage, that is, the drain-source voltage of the high-frequency amplifier 11, is within a predetermined time range with respect to the reference time. Make a decision. As a result of the determination, if it is determined that the time until the predetermined voltage is reached is not within the predetermined time range, the processing from step Sa4 is repeated (step Sa5).

ステップSa5の判定の結果、所定の電圧となるまでの時間が、所定の時間の範囲にあると判定され、高周波増幅素子11が調整されたと判定された場合には、続いて、全ての高周波増幅素子11に対しての調整が行えたかどうかの判定を行う。判定の結果、全ての高周波増幅素子11の調整、すなわち全ての電力増幅回路110の調整が終了したと判定されると、電力増幅回路110を備える電力増幅器の調整を終了する(ステップSa6)。ステップSa6の判定の結果、全ての高周波増幅素子11の調整が終了したと判定されなかった場合は、残りの高周波増幅素子11を備える電力増幅回路110の中から次の電力増幅回路110の調整を行うため、ステップSa3からの処理を行う(ステップSa7)。
以上に示した手順により、第2実施形態における電力増幅回路110を備えた電力増幅器の調整が行える。
As a result of the determination in step Sa5, when it is determined that the time until the predetermined voltage is reached is within the predetermined time range and it is determined that the high frequency amplifying element 11 has been adjusted, all the high frequency amplifications are subsequently performed. It is determined whether or not adjustment to the element 11 has been performed. As a result of the determination, when it is determined that the adjustment of all the high frequency amplifying elements 11, that is, the adjustment of all the power amplifying circuits 110 is completed, the adjustment of the power amplifier including the power amplifying circuit 110 is ended (step Sa6). As a result of the determination in step Sa6, when it is not determined that the adjustment of all the high frequency amplification elements 11 is completed, the next power amplification circuit 110 is adjusted from the power amplification circuits 110 including the remaining high frequency amplification elements 11. In order to do so, the processing from step Sa3 is performed (step Sa7).
The power amplifier provided with the power amplifier circuit 110 in the second embodiment can be adjusted by the procedure described above.

(第3実施形態)
図を参照し電力増幅回路の調整方法について説明する。
図10は、第3実施形態における電力増幅回路120を示す概略ブロック図である。
電力増幅回路120は、電力増幅回路110及び直流電流計40を備える。図には電力増幅回路110の一部が示されている。図1及び図2に示した構成と同じ構成には、同じ符号を付し、異なる構成について説明する。
直流電流計40は、ドレイン電源Vddと電源制御トランジスタ21のソースとの間に接続され、電源制御トランジスタ21のドレイン電流を測定することができる。図に示した接続では、インバータ22への電源も直流電流計40を介して供給されるが、電源制御トランジスタ21のドレイン電流に比べると微弱となるため無視することができる。
アイドル電流の測定において、高周波増幅素子11のゲートには、RFパルス信号を入力することなく、バイアス電圧だけを印加する。
(Third embodiment)
A method for adjusting the power amplifier circuit will be described with reference to the drawings.
FIG. 10 is a schematic block diagram showing the power amplifier circuit 120 in the third embodiment.
The power amplifier circuit 120 includes a power amplifier circuit 110 and a DC ammeter 40. A part of the power amplifier circuit 110 is shown in the figure. The same components as those shown in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and different components will be described.
The DC ammeter 40 is connected between the drain power supply Vdd and the source of the power supply control transistor 21 and can measure the drain current of the power supply control transistor 21. In the connection shown in the figure, power to the inverter 22 is also supplied via the DC ammeter 40, but it is negligible compared to the drain current of the power control transistor 21 and can be ignored.
In the measurement of the idle current, only the bias voltage is applied to the gate of the high frequency amplifying element 11 without inputting the RF pulse signal.

第2実施形態に示した調整方法では、電力増幅器に実装された電力増幅回路110における高周波増幅素子11のバイアス電圧を個別に調整し、それぞれの電力増幅回路のアイドル電流を合わせ込むことは可能である。本実施形態では、さらに、定量的にアイドル電流を測定する測定方法について説明する。   In the adjustment method shown in the second embodiment, it is possible to individually adjust the bias voltage of the high-frequency amplification element 11 in the power amplification circuit 110 mounted on the power amplifier, and to adjust the idle current of each power amplification circuit. is there. In the present embodiment, a measurement method for quantitatively measuring the idle current will be described.

高周波増幅素子11の飽和領域では、ドレイン・ソース間電圧に依存せず、電流量が一定となる。すなわち、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間のインピーダンスがドレイン・ソース間電圧に応じて刻々と変化していることとなる。そのため、放電時間と接続された放電用コンデンサ18が備える静電容量値18cから、時定数を求め、高周波増幅素子11のドレイン・ソース間のインピーダンスを求める方法が使用できない。
それに代わる解決方法として、高周波増幅素子11単体でのドレイン電流を検出する直流電流計を備え、予め、アイドル電流の値と放電用コンデンサ18に充電された電荷の放電時間の関係を記録する。
In the saturation region of the high-frequency amplifying element 11, the amount of current is constant regardless of the drain-source voltage. That is, the drain-source impedance of the high-frequency amplifying element 11 changes every moment according to the drain-source voltage. For this reason, a method for obtaining a time constant from the capacitance value 18c of the discharge capacitor 18 connected to the discharge time and obtaining the impedance between the drain and the source of the high frequency amplifying element 11 cannot be used.
As an alternative solution, a DC ammeter that detects the drain current of the high-frequency amplifier 11 alone is provided, and the relationship between the value of the idle current and the discharge time of the charge charged in the discharge capacitor 18 is recorded in advance.

以下にドレイン電流計測モジュール回路とその概略手順を示す。
最初に、ドレイン電源制御信号(パルス信号)を入力し、ドレイン電源供給線路に挿入された電源制御トランジスタ21においてオン状態とオフ状態とを切り換える。この時のドレイン電流の値を直流電流計40で測定する。直流電流計40で測定された値は、平均電流値になるので、ドレイン電源のオン状態とオフ状態の比率よりデューティ比を求め、電源制御トランジスタ21がオン状態のときのドレイン電流の値を算出する。
次に、電源制御トランジスタ21がオン状態のときのドレイン電流が、高周波増幅素子11における所望のアイドル電流の値になるように、高周波増幅素子11のゲート・ソース間電圧を調整する。
最後に、高周波増幅素子11における所望のアイドリング電流が得られた状態で、ドレイン・ソース間電圧をオシロスコープで測定し、放電に要する時間を測定する。
上記で得られたアイドル電流と放電時間の関係に基づいて、他の電力増幅回路における放電時間を合わせ込み、所望のアイドル電流を得る。この時の誤差は、放電用コンデンサ18の静電容量値18cの許容誤差にほぼ等しいものとなる。
The drain current measurement module circuit and its outline procedure are shown below.
First, a drain power control signal (pulse signal) is input, and the power control transistor 21 inserted in the drain power supply line is switched between an on state and an off state. The value of the drain current at this time is measured with the DC ammeter 40. Since the value measured by the DC ammeter 40 is an average current value, the duty ratio is obtained from the ratio of the ON state and the OFF state of the drain power supply, and the drain current value when the power supply control transistor 21 is ON is calculated. To do.
Next, the gate-source voltage of the high-frequency amplifying element 11 is adjusted so that the drain current when the power supply control transistor 21 is in the ON state becomes a desired idle current value in the high-frequency amplifying element 11.
Finally, the drain-source voltage is measured with an oscilloscope in a state where a desired idling current in the high-frequency amplifier element 11 is obtained, and the time required for discharge is measured.
Based on the relationship between the idle current and the discharge time obtained above, the discharge time in other power amplifier circuits is combined to obtain a desired idle current. The error at this time is substantially equal to the allowable error of the capacitance value 18c of the discharging capacitor 18.

上記の測定項目を追加した調整方法についての手順を示す。
図11は、第3実施形態における電力増幅器の調整手順を示すフローチャートである。
この電力増幅器は、複数の電力増幅器の組み合わせによって構成され、個々の電力増幅器は、複数の電力増幅回路110を備えている。
最初に、電力増幅回路120の構成において直流電流計40を用いて、基準とする高周波増幅素子11(化合物半導体デバイス)のドレイン電流の測定を開始する(ステップSb1)。特定の電力増幅回路120における高周波増幅素子11のゲート・ソース間電圧の調整を行う。ゲート・ソース間電圧の調整は、高周波増幅素子11のバイアス電圧の設定変更によって行う(ステップSb2)。ステップSb2の調整の結果、高周波増幅素子11のドレイン電流が所望のアイドル電流の値になっているか判定する。判定の結果、ドレイン電流が所望のアイドル電流の値になっていないと判定される場合には、ステップSb2からの処理を繰り返す(ステップSb3)。ドレイン電流が所望のアイドル電流の値になっていると判定された場合には、放電時間の測定を行う(ステップSb4)。
ステップSb4の結果に基づいて、所望のアイドル電流の値における放電時間基準値を決定する(ステップSb5)。
The procedure for the adjustment method with the above measurement items added will be described.
FIG. 11 is a flowchart showing the adjustment procedure of the power amplifier in the third embodiment.
This power amplifier is configured by a combination of a plurality of power amplifiers, and each power amplifier includes a plurality of power amplifier circuits 110.
First, measurement of the drain current of the reference high-frequency amplifier element 11 (compound semiconductor device) is started using the DC ammeter 40 in the configuration of the power amplifier circuit 120 (step Sb1). The voltage between the gate and the source of the high frequency amplifying element 11 in the specific power amplifying circuit 120 is adjusted. Adjustment of the gate-source voltage is performed by changing the setting of the bias voltage of the high-frequency amplifying element 11 (step Sb2). As a result of the adjustment in step Sb2, it is determined whether the drain current of the high frequency amplifying element 11 has a desired idle current value. As a result of the determination, when it is determined that the drain current is not the desired idle current value, the processing from step Sb2 is repeated (step Sb3). When it is determined that the drain current has a desired idle current value, the discharge time is measured (step Sb4).
Based on the result of step Sb4, a discharge time reference value at a desired idle current value is determined (step Sb5).

続いて、ステップSb5で導かれた放電時間基準値に基づいて電力増幅器の調整を行う。電力増幅器の調整は、電力増幅器を構成するそれぞれの電力増幅回路110の調整によって行われる。それぞれの電力増幅回路110の調整は、前述の図8に示した調整手順と同じ処理を行う。同じ符号を付したステップの処理は、それぞれ図8を参照することとして、説明を省略する(ステップSb6)。
全ての電力増幅器の調整が完了しているかの判定を行う。判定の結果、全ての電力増幅器の調整が完了したと判定された場合には、電力増幅器の調整処理を終了する(ステップSb7)。ステップSb7における判定の結果、全ての電力増幅器の調整が完了していないと判定された場合には、次の電力増幅器の調整処理を行うため、ステップSb6からの処理を繰り返す(ステップSb8)。
Subsequently, the power amplifier is adjusted based on the discharge time reference value derived in step Sb5. The power amplifier is adjusted by adjusting each power amplifier circuit 110 constituting the power amplifier. The adjustment of each power amplifier circuit 110 performs the same process as the adjustment procedure shown in FIG. The processing of steps denoted by the same reference numerals will be omitted with reference to FIG. 8 (step Sb6).
It is determined whether all power amplifiers have been adjusted. As a result of the determination, when it is determined that the adjustment of all the power amplifiers is completed, the power amplifier adjustment process is terminated (step Sb7). As a result of the determination in step Sb7, when it is determined that adjustment of all the power amplifiers is not completed, the process from step Sb6 is repeated to perform the next power amplifier adjustment process (step Sb8).

以上に示した実施形態から、測定が困難な電力増幅回路100、110のアイドル電流を、電圧波形の変化から間接的に検出することができ、直流電流計40などの計測手段を電源供給経路に設けることなく調整することができる。また、直列や並列に接続された複数の電力増幅回路100、110において、その接続を崩すことなくそれぞれの電力増幅回路100、110の調整を行うことができる。
また、電源制御部20の電源制御トランジスタ21(出力回路)、増幅部10の高周波増幅素子11及びコンデンサ18に充電された電荷が放電されるときのコンデンサ18の端子電圧を検出し、その電圧波形の変化が所定の時間において、所定の電圧範囲とすることで間接的に高周波増幅素子11のアイドル電流値を検出することが可能となる。直接的に電流を測定する場合には、回路の途中に直流電流計40を設けることが必要になるが、そのような直流電流計40を用いることなく回路に設けられたコンデンサ18の端子電圧を検出することで電流値を検出することができる。
From the embodiment described above, the idle current of the power amplifier circuits 100 and 110 that are difficult to measure can be indirectly detected from the change in the voltage waveform, and the measuring means such as the DC ammeter 40 is used as the power supply path. It can be adjusted without providing. In addition, in the plurality of power amplifier circuits 100 and 110 connected in series or in parallel, the power amplifier circuits 100 and 110 can be adjusted without breaking the connection.
Further, the terminal voltage of the capacitor 18 when the electric charge charged in the power supply control transistor 21 (output circuit) of the power supply control unit 20, the high frequency amplification element 11 of the amplification unit 10 and the capacitor 18 is discharged is detected, and the voltage waveform thereof is detected. It is possible to indirectly detect the idle current value of the high-frequency amplifying element 11 by making the change in a predetermined voltage range within a predetermined time. In the case of directly measuring the current, it is necessary to provide a DC ammeter 40 in the middle of the circuit, but the terminal voltage of the capacitor 18 provided in the circuit without using such a DC ammeter 40 is used. By detecting, a current value can be detected.

また、直流電流計40が電源制御部20に供給される電流の電流値を検出する。バイアス電圧発生部30は、コンデンサ18の端子電圧が、電流値に基づいて定められる所定の電圧範囲内となる電力増幅回路100、110のアイドル電流値が設定される。
また、直流電流計40によって、電源制御部20に供給される電流の電流値を検出でき、所望の電流値となっているかを確認することができる。すなわち、基準とされる電流値を定め、複数の電力増幅回路100、110における調整のばらつきを、定量的な検出方法を用いて低減することができる。
Further, the DC ammeter 40 detects the current value of the current supplied to the power supply control unit 20. In the bias voltage generation unit 30, the idle current value of the power amplifier circuits 100 and 110 in which the terminal voltage of the capacitor 18 is within a predetermined voltage range determined based on the current value is set.
Further, the current value of the current supplied to the power supply control unit 20 can be detected by the DC ammeter 40, and it can be confirmed whether the current value is a desired value. That is, it is possible to determine a reference current value and reduce adjustment variations in the plurality of power amplification circuits 100 and 110 using a quantitative detection method.

また、電力増幅回路110において電源制御部20から供給される電源供給線路に設けられるコンデンサ18の静電容量値は、増幅部10及び電源制御部20、電源制御トランジスタ21、増幅部10の高周波増幅素子11が有する静電容量の容量値に対し十分大きな値とすることにより、増幅部10及び電源制御部20における出力回路が有する静電容量の容量値の精度にバラツキが大きいものであっても、そのバラツキの影響を低減することができ、電流値の精度を高めた調整を行うことができる。   Further, the capacitance value of the capacitor 18 provided on the power supply line supplied from the power control unit 20 in the power amplifier circuit 110 is the high frequency amplification of the amplifying unit 10, the power control unit 20, the power control transistor 21, and the amplifying unit 10. Even if there is a large variation in the accuracy of the capacitance values of the output circuits in the amplifying unit 10 and the power supply control unit 20 by making the value sufficiently larger than the capacitance value of the capacitance of the element 11. Therefore, the influence of the variation can be reduced, and adjustment with improved accuracy of the current value can be performed.

なお、本発明は、上記の各実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で変更可能である。本発明の電力増幅器の調整方法では、電力増幅器が備える電力増幅回路の構成数、接続形態についても特に限定されるものではない。
また、電力増幅回路100が備える高周波増幅素子11は、適応する周波数帯域に応じたあらゆる種類の化合物半導体デバイスを適応することができ、例えば、GaAs FET、GaAs HEMT(高電子移動度トランジスタ:High Electron Mobility Transistor)、GaN HEMTなどの化合物半導体デバイスをはじめとする半導体素子とすることができる。
また、電源制御部20の電源制御トランジスタ21の駆動方法は、例示した駆動方法以外にも、他のあらゆる接続構成に適応でき、入力されるドレイン電流制御信号に応じて電源制御トランジスタ21をスイッチング動作させることができればよい。
The present invention is not limited to the above embodiments, and can be modified without departing from the spirit of the present invention. In the method for adjusting a power amplifier according to the present invention, the number and configuration of power amplifier circuits included in the power amplifier are not particularly limited.
In addition, the high-frequency amplifying element 11 included in the power amplifying circuit 100 can adapt all kinds of compound semiconductor devices according to the frequency band to be applied. For example, GaAs FET, GaAs HEMT (High Electron Mobility Transistor: High Electron Mobility transistor), semiconductor devices including compound semiconductor devices such as GaN HEMT.
Further, the driving method of the power control transistor 21 of the power controller 20 can be applied to any other connection configuration besides the exemplified driving method, and the power control transistor 21 is switched according to the input drain current control signal. It only has to be made.

なお、本発明における電力増幅器は、電力増幅回路100、110、120に相当する。また、本発明における電力増幅回路は、増幅部10に相当する。また、本発明における高周波増幅素子は、高周波増幅素子11に相当する。また、本発明における電源遮断回路は、電源制御部20に相当する。また、本発明におけるアイドル電流値設定回路は、バイアス電圧発生部30に相当する。また、本発明における電流検出回路は、直流電流計40に相当する。   The power amplifier in the present invention corresponds to the power amplifier circuits 100, 110, and 120. The power amplifier circuit in the present invention corresponds to the amplifier unit 10. Further, the high frequency amplifying element in the present invention corresponds to the high frequency amplifying element 11. The power shutoff circuit in the present invention corresponds to the power control unit 20. The idle current value setting circuit according to the present invention corresponds to the bias voltage generation unit 30. Further, the current detection circuit in the present invention corresponds to the DC ammeter 40.

100 電力増幅回路
10 増幅部
11 高周波増幅素子
12、13、17 コンデンサ
14、15 整合パタン
16 電源供給線路
20 電源制御部
21 電源制御トランジスタ
22 駆動回路
23 コンデンサ
30 バイアス電圧発生部
31 演算増幅器
32、36 抵抗
33、37 信号伝送線路
34、38、39 コンデンサ
35 可変抵抗器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Power amplification circuit 10 Amplification part 11 High frequency amplification element 12, 13, 17 Capacitor 14, 15 Matching pattern 16 Power supply line 20 Power supply control part 21 Power supply control transistor 22 Drive circuit 23 Capacitor 30 Bias voltage generation part 31 Operational amplifier 32, 36 Resistor 33, 37 Signal transmission line 34, 38, 39 Capacitor 35 Variable resistor

Claims (6)

高周波増幅素子によって構成される電力増幅回路を備える電力増幅器における調整方法であって、
電源遮断回路が該電源遮断回路の出力端に電源供給線路を介して接続される前記電力増幅回路に電源を供給する過程と、
前記電源供給線路に接続される静電容量が充電される過程と、
前記電源遮断回路が前記電力増幅回路への電源を遮断する過程と、
前記静電容量に充電された電荷が放電されるときの該静電容量の端子電圧の応答波形を検出する波形検出過程と、
前記応答波形によって示される前記端子電圧の変化に基づいて前記電力増幅回路のアイドル電流値が設定されるアイドル電流値設定過程と、
を備えることを特徴とする電力増幅器の調整方法。
An adjustment method in a power amplifier including a power amplification circuit constituted by a high-frequency amplification element,
A process of supplying power to the power amplifier circuit, wherein the power cutoff circuit is connected to the output terminal of the power cutoff circuit via a power supply line;
A process of charging a capacitance connected to the power supply line;
A process in which the power cutoff circuit shuts off power to the power amplifier circuit;
A waveform detection process for detecting a response waveform of a terminal voltage of the capacitance when the electric charge charged in the capacitance is discharged;
An idle current value setting process in which an idle current value of the power amplifier circuit is set based on a change in the terminal voltage indicated by the response waveform;
A method for adjusting a power amplifier, comprising:
前記波形検出過程は、
前記静電容量に充電された電荷が放電されるときの該静電容量の端子電圧が、放電開始から予め定められた所定の時間における該端子電圧の値を検出し、
前記アイドル電流値設定過程は、
前記静電容量の端子電圧が予め定められた所定の電圧範囲内となる前記電力増幅回路のアイドル電流値が設定される
ことを特徴とする請求項1に記載の電力増幅器の調整方法。
The waveform detection process includes:
The terminal voltage of the capacitance when the charge charged in the capacitance is discharged detects the value of the terminal voltage at a predetermined time from the start of discharge,
The idle current value setting process includes:
The method of adjusting a power amplifier according to claim 1, wherein an idle current value of the power amplifier circuit in which a terminal voltage of the capacitance is within a predetermined voltage range is set.
電流検出回路が前記電源遮断回路に供給される電流の値を検出する過程と、
を備え、
前記アイドル電流値設定過程は、
前記静電容量の端子電圧が前記電流の値に基づいて定められる所定の電圧範囲内となる前記電力増幅回路のアイドル電流値が設定される
ことを特徴とする請求項2に記載の電力増幅器の調整方法。
A process in which a current detection circuit detects a value of a current supplied to the power cut-off circuit;
With
The idle current value setting process includes:
3. The power amplifier according to claim 2, wherein an idle current value of the power amplifier circuit is set such that a terminal voltage of the capacitance is within a predetermined voltage range determined based on the value of the current. Adjustment method.
前記静電容量の容量値は、該電源供給線路に接続される前記電力増幅回路の出力回路が有する寄生容量の容量値に対し十分大きな値とする
ことを特徴とする請求項1に記載の電力増幅器の調整方法。
2. The power according to claim 1, wherein the capacitance value of the capacitance is sufficiently larger than a capacitance value of a parasitic capacitance included in an output circuit of the power amplifier circuit connected to the power supply line. Amplifier adjustment method.
前記静電容量の容量値は、該電源供給線路に接続される前記電力増幅回路の出力回路及び前記電源供給線路が有する寄生容量の容量値に対し十分大きな値とする
ことを特徴とする請求項4に記載の電力増幅器の調整方法。
The capacitance value of the capacitance is a value sufficiently larger than the capacitance value of the parasitic capacitance of the output circuit of the power amplifier circuit and the power supply line connected to the power supply line. 5. A method for adjusting a power amplifier according to 4.
前記静電容量の容量値は、該電源供給線路に接続される前記電力増幅回路の出力回路が有する寄生容量に基づく値とする
ことを特徴とする請求項1に記載の電力増幅器の調整方法。
The method for adjusting a power amplifier according to claim 1, wherein the capacitance value of the capacitance is a value based on a parasitic capacitance of an output circuit of the power amplifier circuit connected to the power supply line.
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