JP5138802B2 - 回転塗布装置の洗浄用治具および洗浄方法 - Google Patents
回転塗布装置の洗浄用治具および洗浄方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5138802B2 JP5138802B2 JP2011172133A JP2011172133A JP5138802B2 JP 5138802 B2 JP5138802 B2 JP 5138802B2 JP 2011172133 A JP2011172133 A JP 2011172133A JP 2011172133 A JP2011172133 A JP 2011172133A JP 5138802 B2 JP5138802 B2 JP 5138802B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cleaning
- cleaning jig
- substrate
- unit
- solvent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims description 158
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 27
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 60
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 57
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 41
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 31
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 25
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 68
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 46
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 46
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 18
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 15
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 15
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 11
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 3
- 229930040373 Paraformaldehyde Natural products 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- -1 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 230000008719 thickening Effects 0.000 description 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
図10(a)は本発明の一の実施形態の変形例1による洗浄用治具を示す断面図であり、図10(b)は図10(a)におけるI−I線に沿った断面図である。図示のとおり、洗浄用治具51は、外周面510に円周方向に沿って形成された溝部511を有している。溝部511により、外周面510に保持される溶剤溜まりRの量を増加することができ、外周面510からカップ体2へ飛散する溶剤の量を増加することが可能となる。
図11(a)は本発明の一の実施形態の変形例2による洗浄用治具を示す斜視図であり、図11(b)は図11(a)におけるI−I線に沿った断面図である。図11(a)に示すように、洗浄用治具52は、環状部52bにおける隆起部52eの内周に沿って、所定の角度間隔で複数の貫通孔521が設けられている。貫通孔521は、図11(b)に示すように、バックリンスノズル14から環状部52bの裏面に沿って流れる溶剤が、環状部52bの表面に回り込むのを許容する。表面に回り込んだ溶剤は、隆起部52eを乗り越えて外周面520へ到達する。すなわち、隆起部52eの上から溶剤溜まりRへ溶剤を供給することができ、したがって、外周面520からカップ体2へ飛散する溶剤の量を増加することが可能となる。
図12(a)は本発明の一の実施形態の変形例2による洗浄用治具を示す斜視図であり、図12(b)は図12(a)におけるI−I線に沿った断面図である。図示のとおり、洗浄用治具53は、環状部53bの裏面から隆起部53eを貫通し、外周面530に開口する複数の貫通孔531を有している。複数の貫通孔531は、変形例2による洗浄用治具52の貫通孔521と同様に、所定の角度間隔で設けられている。この貫通孔531を通して、バックリンスノズル14からの溶剤を溶剤溜まりRへ供給することができるため、外周面530からカップ体2へ飛散する溶剤の量を増加することが可能となる。
2b アウターカップ
2c インナーカップ
11 スピンチャック
14 バックリンスノズル
10 塗布ユニット
20 塗布現像装置
50,51,52,53 洗浄用治具
500,510,520,530 外周面
Claims (8)
- 容器内に設けられた基板保持具により回転可能に保持された基板の上に処理液を滴下し、該基板の回転により該基板上に前記処理液の膜を塗布する回転塗布装置において前記容器の洗浄に使用することができる洗浄用治具であって、
前記基板保持具より大きい寸法に形成され、当該基板保持具に保持される中心部材と、
前記中心部材に着脱可能に接続され、前記基板と略同一の直径を有する環状部材と、
を備え、
前記環状部材の外周部は、前記基板保持具により回転されながら前記洗浄液が裏面に対して供給された際に、当該洗浄液が前記裏面より上向きに回り込むように形成された外周面を備えることを特徴とする洗浄用治具。 - 前記中心部材が、前記環状部材よりも厚く形成されることを特徴とする、請求項1に記載の洗浄用治具。
- 前記中心部材が、樹脂により形成されることを特徴とする、請求項1又は2に記載の洗浄用治具。
- 前記中心部材が、ガラスにより形成されることを特徴とする、請求項1又は2に記載の洗浄用治具。
- 前記環状部材が、親水性を有する材料により形成されることを特徴とする、請求項1から4のいずれか一項に記載の洗浄用治具。
- 前記外周面の高さが2mmから7mmまでの範囲にあることを特徴とする、請求項1から5のいずれか一項に記載の洗浄用治具。
- 容器内に設けられた基板保持具により回転可能に保持された基板の上に処理液を滴下し、該基板の回転により該基板上に前記処理液の膜を塗布する回転塗布装置を請求項1から6のいずれか一項に記載の洗浄用治具を用いて洗浄する洗浄方法であって、
前記洗浄用治具を所定の保管場所から取り出して前記基板保持具に載置するステップと、
前記基板保持具より前記洗浄用治具を回転するステップと、
前記回転塗布装置に備わる溶剤供給部から前記洗浄用治具の裏面へ溶剤を供給するステップと、
を有することを特徴とする洗浄方法。 - 前記所定の保管場所は冷却ユニットであることを特徴とする、請求項7に記載の洗浄方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011172133A JP5138802B2 (ja) | 2011-08-05 | 2011-08-05 | 回転塗布装置の洗浄用治具および洗浄方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011172133A JP5138802B2 (ja) | 2011-08-05 | 2011-08-05 | 回転塗布装置の洗浄用治具および洗浄方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008177377A Division JP2010016315A (ja) | 2008-07-07 | 2008-07-07 | 回転塗布装置の洗浄用治具および洗浄方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012009878A JP2012009878A (ja) | 2012-01-12 |
JP5138802B2 true JP5138802B2 (ja) | 2013-02-06 |
Family
ID=45539982
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011172133A Active JP5138802B2 (ja) | 2011-08-05 | 2011-08-05 | 回転塗布装置の洗浄用治具および洗浄方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5138802B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6501685B2 (ja) * | 2015-09-18 | 2019-04-17 | 東京エレクトロン株式会社 | カップ洗浄用治具を用いてカップを洗浄する基板液処理装置並びにカップ洗浄方法 |
JP6735384B2 (ja) * | 2019-04-09 | 2020-08-05 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置および基板処理方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3118858B2 (ja) * | 1991-04-23 | 2000-12-18 | 富士通株式会社 | レジスト塗布装置とその洗浄方法 |
JP2893149B2 (ja) * | 1991-12-05 | 1999-05-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 塗布装置 |
JP3587723B2 (ja) * | 1999-04-30 | 2004-11-10 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP4024252B2 (ja) * | 2005-02-28 | 2007-12-19 | Tdk株式会社 | カップ内面のレジスト除去装置とレジスト除去用治具とレジスト除去方法 |
-
2011
- 2011-08-05 JP JP2011172133A patent/JP5138802B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012009878A (ja) | 2012-01-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2010016315A (ja) | 回転塗布装置の洗浄用治具および洗浄方法 | |
JP5012651B2 (ja) | 塗布装置、塗布方法、塗布、現像装置及び記憶媒体 | |
JP4788785B2 (ja) | 現像装置、現像処理方法及び記憶媒体 | |
JP6740028B2 (ja) | 基板処理装置、基板処理方法および記憶媒体 | |
KR102410089B1 (ko) | 액 처리 장치 및 액 처리 방법 | |
US8051862B2 (en) | Liquid processing apparatus and liquid processing method | |
JP3834542B2 (ja) | 基板洗浄装置及び基板洗浄方法 | |
TWI538044B (zh) | 用來清洗基板處理裝置的清洗治具及清洗方法、與基板處理系統 | |
JP6543534B2 (ja) | 基板処理装置 | |
US8043440B2 (en) | Cleaning apparatus and method and computer readable medium | |
KR101530959B1 (ko) | 액 처리 장치, 액 처리 방법 및 기억 매체 | |
US20100051059A1 (en) | Cleaning and drying-preventing method, and cleaning and drying-preventing apparatus | |
JP2010206019A (ja) | 液処理装置及び液処理方法 | |
JP6712482B2 (ja) | 基板処理方法および基板処理装置 | |
JP2010219168A (ja) | 基板処理装置、基板処理方法、塗布、現像装置、塗布、現像方法及び記憶媒体 | |
JP2011166088A (ja) | 塗布、現像装置、現像方法及び記憶媒体 | |
JP6961362B2 (ja) | 基板処理装置 | |
US10707098B2 (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing method and memory medium | |
JP2024113023A (ja) | 洗浄方法、塗布装置及び洗浄用治具 | |
JP5138802B2 (ja) | 回転塗布装置の洗浄用治具および洗浄方法 | |
JP2015170617A (ja) | 液処理装置 | |
JP7378556B2 (ja) | 基板処理装置 | |
KR20220002532A (ko) | 기판 처리 장치, 기판 처리 방법 및 컴퓨터로 판독 가능한 기억 매체 | |
JP3740377B2 (ja) | 液供給装置 | |
US8006636B2 (en) | Substrate treatment apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121106 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121114 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5138802 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151122 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |