JP5130262B2 - 光線路障害探索装置 - Google Patents
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Description
Terminal)側から光スプリッタ経由してユーザ宅側の各ONU(Optical Network Unit)間の光ファイバ線路の障害検知を行う装置に関する。
異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路(17)の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置(10)と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に個別に設けられた個別光ファイバ線路(181〜18n)の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器(15)と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置(161〜16n)とを有するWDM−PONシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ(21)と、
前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路を伝送する信号光を受け、そのスペクトラムを検出する信号光スペクトラム検出部(30)と、
前記信号光スペクトラム検出部の検出結果に基づいて、前記共通光ファイバ線路を伝送していない信号光波長を調べ、該信号光波長を試験波長と決定する制御部(50)と、
前記制御部によって決定された試験波長の光パルスを生成して、前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ入射し、該光パルスに対する前記WDM−PONシステムからの戻り光を受光して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める光反射測定部(40)とを備え、
前記制御部は装置の動作モードを信号光スペクトラム検出モードと光反射測定モードにいずれかに指定する機能を有しており、
前記信号光スペクトラム検出部および前記光反射測定部が、
前記線路カプラに接続され、前記WDM−PONシステムが通信に用いる全ての信号光の波長範囲から指定された波長の光を選択的に且つ双方向に通過させる波長可変フィルタ(22)と、
前記信号光スペクトラム検出モードが指定されているときには、前記波長可変フィルタの通過波長を、前記全ての信号光の波長を含む範囲で掃引させ、前記試験波長が決定されて光反射測定モードが指定されたときには、前記波長可変フィルタの通過波長を前記試験波長に設定する第1の波長コントローラ(23)と、
前記波長可変フィルタに接続され、前記線路カプラおよび波長可変フィルタを介して入射された光を第1光路で受けて第2光路へ出射し、第3光路から入射された光を前記第1光路の前記波長可変フィルタへ出射するカプラ(24)と、
前記カプラから前記第2光路へ出射された光を受けてその強度に応じた振幅をもつ電気の信号に変換する受光器(25)と、
前記信号光スペクトラム検出モードが指定されているときに、前記受光器の出力信号と、前記第1の波長コントローラによって掃引される前記波長可変フィルタの通過波長とを対応付けして信号光スペクトラムとして記憶し、該信号光スペクトラムを前記制御部へ出力する信号光スペクトラム記憶手段(31)と、
前記光反射測定モードが指定されているときに、前記全ての信号光の波長のいずれかの波長の光を出射する波長可変光源(41)と、
前記波長可変光源から出射された光を受けて、光パルスを発生させ前記カプラの前記第3光路へ出射する光パルス発生手段(44)と、
前記光反射測定モードが指定されているときに、前記試験波長に等しい波長の光を前記波長可変光源から出射させて、前記光パルス発生手段、前記カプラ、前記波長可変フィルタおよび前記線路カプラを介して前記WDM−PONシステムに入射させる第2の波長コントローラ(42)と、
前記WDM−PONシステムに入射された光パルスに対する戻り光が、前記線路カプラ、前記波長可変フィルタ、前記カプラを介して前記受光器に入射されている間、前記受光器の出力信号を取得して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める伝送損失特性算出手段(43)とにより、構成されていることを特徴とする。
異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路(17)の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置(10)と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に個別に設けられた個別光ファイバ線路(18 1 〜18 n )の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器(15)と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置(16 1 〜16 n )とを有するWDM−PONシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ(21)と、
前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路を伝送する信号光を受け、そのスペクトラムを検出する信号光スペクトラム検出部(30)と、
前記信号光スペクトラム検出部の検出結果に基づいて、前記共通光ファイバ線路を伝送していない信号光波長を調べ、該信号光波長を試験波長と決定する制御部(50)と、
前記制御部によって決定された試験波長の光パルスを生成して、前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ入射し、該光パルスに対する前記WDM−PONシステムからの戻り光を受光して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める光反射測定部(40)とを備え、
前記信号光スペクトラム検出部と前記光反射測定部は、光スイッチ(27)を介して前記線路カプラに選択的に接続されるようになっており、
前記光反射測定部は、
前記全ての信号光の波長範囲内で指定された波長の光を出射する波長可変光源(141)と、
前記制御部で決定された試験波長に等しい波長の光を前記波長可変光源から出射させる波長コントローラ(142)と、
前記波長可変光源から出射された光を2分岐する光分岐器(143)と、
前記光分岐器で分岐された一方の光を受け、光パルスを発生させる光パルス発生手段(153)と、
前記光パルスを第1光路で受けて第2光路から前記光スイッチおよび前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ出射し、該光パルスに対する戻り光を前記第2光路から受けて第3光路へ出射させるカプラ(144)と、
前記光分岐器で分岐された他方の光の光周波数を、前記試験波長の近傍で且つ前記試験波長以外の信号光の光周波数と一致しない範囲で所定量(Δf)シフトさせる周波数シフタ(146)と、
前記カプラの前記第3光路から出射された戻り光と、前記周波数シフタからの出射光とを合波する合波器(147)と、
前記合波器から出射される光を受光する受光器(148)と、
前記受光器の出力信号から前記周波数シフタによる周波数のシフト量に等しい周波数のビート成分を抽出するバンドパスフィルタ(149)と、
前記バンドパスフィルタによって抽出されたビート成分の振幅を検出する検波器(150)と、
前記検波器の出力に基づいて、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める伝送損失特性算出手段(152)とを備えていることを特徴とする。
異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路(17)の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置(10)と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に個別に設けられた個別光ファイバ線路(18 1 〜18 n )の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器(15)と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置(16 1 〜16 n )とを有するWDM−PONシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ(21)と、
前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路を伝送する信号光を受け、そのスペクトラムを検出する信号光スペクトラム検出部(30)と、
前記信号光スペクトラム検出部の検出結果に基づいて、前記共通光ファイバ線路を伝送していない信号光波長を調べ、該信号光波長を試験波長と決定する制御部(50)と、
前記制御部によって決定された試験波長の光パルスを生成して、前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ入射し、該光パルスに対する前記WDM−PONシステムからの戻り光を受光して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める光反射測定部(40)とを備え、
前記信号光スペクトラム検出部と前記光反射測定部は、光スイッチ(27)を介して前記線路カプラに選択的に接続されるようになっており、
前記光反射測定部は、
前記全ての信号光の波長範囲内で指定された波長の光を出射する波長可変光源(141)と、
前記制御部で決定された試験波長に対し、該試験波長の近傍で且つ前記試験波長以外の他の信号光波長と一致しない範囲で所定周波数(Δf)の差をもつ波長の光を前記波長可変光源から出射させる波長コントローラ(142)と、
前記波長可変光源から出射された光を2分岐する光分岐器(143)と、
前記光分岐器で分岐された一方の光を受け、光パルスを発生させる光パルス発生手段(153)と、
前記光パルスの光周波数を、前記所定周波数シフトさせて前記試験波長にする周波数シフタ(146)と、
前記周波数シフタから出射された前記試験波長の光パルスを第1光路で受けて第2光路から前記光スイッチおよび前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ出射し、該光パルスに対する戻り光を前記第2光路から受けて第3光路へ出射させるカプラ(144)と、
前記カプラの前記第3光路から出射された戻り光と、前記光分岐器で分岐された他方の光パルスとを合波する合波器(147)と、
前記合波器から出射される光を受光する受光器(148)と、
前記受光器の出力信号から前記周波数シフタによる周波数のシフト量に等しい周波数のビート成分を抽出するバンドパスフィルタ(149)と、
前記バンドパスフィルタによって抽出されたビート成分の振幅を検出する検波器(150)と、
前記検波器の出力に基づいて、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める伝送損失特性算出手段(152)とを備えていることを特徴とする。
異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路(17)の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置(10)と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に個別に設けられた個別光ファイバ線路(18 1 〜18 n )の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器(15)と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置(16 1 〜16 n )とを有するWDM−PONシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ(21)と、
前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路を伝送する信号光を受け、そのスペクトラムを検出する信号光スペクトラム検出部(30)と、
前記信号光スペクトラム検出部の検出結果に基づいて、前記共通光ファイバ線路を伝送していない信号光波長を調べ、該信号光波長を試験波長と決定する制御部(50)と、
前記制御部によって決定された試験波長の光パルスを生成して、前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ入射し、該光パルスに対する前記WDM−PONシステムからの戻り光を受光して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める光反射測定部(40)とを備え、
前記信号光スペクトラム検出部と前記光反射測定部は、光スイッチ(27)を介して前記線路カプラに選択的に接続されるようになっており、
前記光反射測定部は、
前記全ての信号光の波長範囲内で指定された波長の光を出射する波長可変光源(141)と、
前記制御部で決定された試験波長に対し、該試験波長の近傍で且つ前記試験波長以外の他の信号光波長と一致しない範囲で所定周波数(Δf)の差をもつ波長の光を前記波長可変光源から出射させる波長コントローラ(142)と、
前記波長可変光源から出射された光を2分岐する光分岐器(143)と、
前記光分岐器で分岐された一方の光の光周波数を、前記所定周波数シフトさせて前記試験波長にする周波数シフタ(146)と、
前記周波数シフタから出射された光を受け、前記試験波長の光パルスを発生させる光パルス発生手段(153)と、
前記光パルスを第1光路で受けて第2光路から前記光スイッチおよび前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ出射し、該光パルスに対する戻り光を前記第2光路から受けて第3光路へ出射させるカプラ(144)と、
前記カプラの前記第3光路から出射された戻り光と、前記光分岐器で分岐された他方の光とを合波する合波器(147)と、
前記合波器から出射される光を受光する受光器(148)と、
前記受光器の出力信号から前記周波数シフタによる周波数のシフト量に等しい周波数のビート成分を抽出するバンドパスフィルタ(149)と、
前記バンドパスフィルタによって抽出されたビート成分の振幅を検出する検波器(150)と、
前記検波器の出力に基づいて、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める伝送損失特性算出手段(152)とを備えていることを特徴とする。
図1は、WDM−PONシステムと本発明を適用した光線路障害探索装置20の基本構成を示している。
次に、光線路障害探索装置20の信号光スペクトラム検出部30と光反射測定部40の具体的な構成例の一つを、図4を用いて説明する。
図5は、信号光スペクトラム検出部30と光反射測定部40とが分離した構成例であり、信号光スペクトラム検出部30の構成は任意(前記実施形態の信号光スペクトラム検出に必要な要素で構成してもよい)とし、光反射測定部40については、ヘテロダイン型の構成を採用している。
波長可変フィルタ145は、その通過波長を信号光波長のいずれかに可変できるようになっており、前記波長コントローラ142の制御により、制御部50から指定された試験波長の光を選択的に通過させる。つまり、光パルス生成手段153が生成した光パルスPoを通過させ、線路カプラ21を介して共通光ファイバ線路17へ入射させ、前記したように、その光パルスに対する戻り光Prを、線路カプラ21を介して受けてカプラ144にの第2光路に入射させ、第3光路から出射させる。なお、信号光波長が少なく、これらの信号光が後述する受光器148に入射されても過負荷にならない場合には、この波長可変フィルタ145を省略することができる。
Claims (4)
- 異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路(17)の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置(10)と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に個別に設けられた個別光ファイバ線路(181〜18n)の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器(15)と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置(161〜16n)とを有するWDM−PONシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ(21)と、
前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路を伝送する信号光を受け、そのスペクトラムを検出する信号光スペクトラム検出部(30)と、
前記信号光スペクトラム検出部の検出結果に基づいて、前記共通光ファイバ線路を伝送していない信号光波長を調べ、該信号光波長を試験波長と決定する制御部(50)と、
前記制御部によって決定された試験波長の光パルスを生成して、前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ入射し、該光パルスに対する前記WDM−PONシステムからの戻り光を受光して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める光反射測定部(40)とを備え、
前記制御部は装置の動作モードを信号光スペクトラム検出モードと光反射測定モードにいずれかに指定する機能を有しており、
前記信号光スペクトラム検出部および前記光反射測定部が、
前記線路カプラに接続され、前記WDM−PONシステムが通信に用いる全ての信号光の波長範囲から指定された波長の光を選択的に且つ双方向に通過させる波長可変フィルタ(22)と、
前記信号光スペクトラム検出モードが指定されているときには、前記波長可変フィルタの通過波長を、前記全ての信号光の波長を含む範囲で掃引させ、前記試験波長が決定されて光反射測定モードが指定されたときには、前記波長可変フィルタの通過波長を前記試験波長に設定する第1の波長コントローラ(23)と、
前記波長可変フィルタに接続され、前記線路カプラおよび波長可変フィルタを介して入射された光を第1光路で受けて第2光路へ出射し、第3光路から入射された光を前記第1光路の前記波長可変フィルタへ出射するカプラ(24)と、
前記カプラから前記第2光路へ出射された光を受けてその強度に応じた振幅をもつ電気の信号に変換する受光器(25)と、
前記信号光スペクトラム検出モードが指定されているときに、前記受光器の出力信号と、前記第1の波長コントローラによって掃引される前記波長可変フィルタの通過波長とを対応付けして信号光スペクトラムとして記憶し、該信号光スペクトラムを前記制御部へ出力する信号光スペクトラム記憶手段(31)と、
前記光反射測定モードが指定されているときに、前記全ての信号光の波長のいずれかの波長の光を出射する波長可変光源(41)と、
前記波長可変光源から出射された光を受けて、光パルスを発生させ前記カプラの前記第3光路へ出射する光パルス発生手段(44)と、
前記光反射測定モードが指定されているときに、前記試験波長に等しい波長の光を前記波長可変光源から出射させて、前記光パルス発生手段、前記カプラ、前記波長可変フィルタおよび前記線路カプラを介して前記WDM−PONシステムに入射させる第2の波長コントローラ(42)と、
前記WDM−PONシステムに入射された光パルスに対する戻り光が、前記線路カプラ、前記波長可変フィルタ、前記カプラを介して前記受光器に入射されている間、前記受光器の出力信号を取得して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める伝送損失特性算出手段(43)とにより、構成されていることを特徴とする光線路障害探索装置。 - 異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路(17)の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置(10)と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に個別に設けられた個別光ファイバ線路(18 1 〜18 n )の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器(15)と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置(16 1 〜16 n )とを有するWDM−PONシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ(21)と、
前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路を伝送する信号光を受け、そのスペクトラムを検出する信号光スペクトラム検出部(30)と、
前記信号光スペクトラム検出部の検出結果に基づいて、前記共通光ファイバ線路を伝送していない信号光波長を調べ、該信号光波長を試験波長と決定する制御部(50)と、
前記制御部によって決定された試験波長の光パルスを生成して、前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ入射し、該光パルスに対する前記WDM−PONシステムからの戻り光を受光して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める光反射測定部(40)とを備え、
前記信号光スペクトラム検出部と前記光反射測定部は、光スイッチ(27)を介して前記線路カプラに選択的に接続されるようになっており、
前記光反射測定部は、
前記全ての信号光の波長範囲内で指定された波長の光を出射する波長可変光源(141)と、
前記制御部で決定された試験波長に等しい波長の光を前記波長可変光源から出射させる波長コントローラ(142)と、
前記波長可変光源から出射された光を2分岐する光分岐器(143)と、
前記光分岐器で分岐された一方の光を受け、光パルスを発生させる光パルス発生手段(153)と、
前記光パルスを第1光路で受けて第2光路から前記光スイッチおよび前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ出射し、該光パルスに対する戻り光を前記第2光路から受けて第3光路へ出射させるカプラ(144)と、
前記光分岐器で分岐された他方の光の光周波数を、前記試験波長の近傍で且つ前記試験波長以外の信号光の光周波数と一致しない範囲で所定量(Δf)シフトさせる周波数シフタ(146)と、
前記カプラの前記第3光路から出射された戻り光と、前記周波数シフタからの出射光とを合波する合波器(147)と、
前記合波器から出射される光を受光する受光器(148)と、
前記受光器の出力信号から前記周波数シフタによる周波数のシフト量に等しい周波数のビート成分を抽出するバンドパスフィルタ(149)と、
前記バンドパスフィルタによって抽出されたビート成分の振幅を検出する検波器(150)と、
前記検波器の出力に基づいて、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める伝送損失特性算出手段(152)とを備えていることを特徴とする光線路障害探索装置。 - 異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路(17)の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置(10)と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に個別に設けられた個別光ファイバ線路(18 1 〜18 n )の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器(15)と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置(16 1 〜16 n )とを有するWDM−PONシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ(21)と、
前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路を伝送する信号光を受け、そのスペクトラムを検出する信号光スペクトラム検出部(30)と、
前記信号光スペクトラム検出部の検出結果に基づいて、前記共通光ファイバ線路を伝送していない信号光波長を調べ、該信号光波長を試験波長と決定する制御部(50)と、
前記制御部によって決定された試験波長の光パルスを生成して、前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ入射し、該光パルスに対する前記WDM−PONシステムからの戻り光を受光して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める光反射測定部(40)とを備え、
前記信号光スペクトラム検出部と前記光反射測定部は、光スイッチ(27)を介して前記線路カプラに選択的に接続されるようになっており、
前記光反射測定部は、
前記全ての信号光の波長範囲内で指定された波長の光を出射する波長可変光源(141)と、
前記制御部で決定された試験波長に対し、該試験波長の近傍で且つ前記試験波長以外の他の信号光波長と一致しない範囲で所定周波数(Δf)の差をもつ波長の光を前記波長可変光源から出射させる波長コントローラ(142)と、
前記波長可変光源から出射された光を2分岐する光分岐器(143)と、
前記光分岐器で分岐された一方の光を受け、光パルスを発生させる光パルス発生手段(153)と、
前記光パルスの光周波数を、前記所定周波数シフトさせて前記試験波長にする周波数シフタ(146)と、
前記周波数シフタから出射された前記試験波長の光パルスを第1光路で受けて第2光路から前記光スイッチおよび前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ出射し、該光パルスに対する戻り光を前記第2光路から受けて第3光路へ出射させるカプラ(144)と、
前記カプラの前記第3光路から出射された戻り光と、前記光分岐器で分岐された他方の光パルスとを合波する合波器(147)と、
前記合波器から出射される光を受光する受光器(148)と、
前記受光器の出力信号から前記周波数シフタによる周波数のシフト量に等しい周波数のビート成分を抽出するバンドパスフィルタ(149)と、
前記バンドパスフィルタによって抽出されたビート成分の振幅を検出する検波器(150)と、
前記検波器の出力に基づいて、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める伝送損失特性算出手段(152)とを備えていることを特徴とする光線路障害探索装置。 - 異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路(17)の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置(10)と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に個別に設けられた個別光ファイバ線路(18 1 〜18 n )の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器(15)と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置(16 1 〜16 n )とを有するWDM−PONシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ(21)と、
前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路を伝送する信号光を受け、そのスペクトラムを検出する信号光スペクトラム検出部(30)と、
前記信号光スペクトラム検出部の検出結果に基づいて、前記共通光ファイバ線路を伝送していない信号光波長を調べ、該信号光波長を試験波長と決定する制御部(50)と、
前記制御部によって決定された試験波長の光パルスを生成して、前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ入射し、該光パルスに対する前記WDM−PONシステムからの戻り光を受光して、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める光反射測定部(40)とを備え、
前記信号光スペクトラム検出部と前記光反射測定部は、光スイッチ(27)を介して前記線路カプラに選択的に接続されるようになっており、
前記光反射測定部は、
前記全ての信号光の波長範囲内で指定された波長の光を出射する波長可変光源(141)と、
前記制御部で決定された試験波長に対し、該試験波長の近傍で且つ前記試験波長以外の他の信号光波長と一致しない範囲で所定周波数(Δf)の差をもつ波長の光を前記波長可変光源から出射させる波長コントローラ(142)と、
前記波長可変光源から出射された光を2分岐する光分岐器(143)と、
前記光分岐器で分岐された一方の光の光周波数を、前記所定周波数シフトさせて前記試験波長にする周波数シフタ(146)と、
前記周波数シフタから出射された光を受け、前記試験波長の光パルスを発生させる光パルス発生手段(153)と、
前記光パルスを第1光路で受けて第2光路から前記光スイッチおよび前記線路カプラを介して前記共通光ファイバ線路へ出射し、該光パルスに対する戻り光を前記第2光路から受けて第3光路へ出射させるカプラ(144)と、
前記カプラの前記第3光路から出射された戻り光と、前記光分岐器で分岐された他方の光とを合波する合波器(147)と、
前記合波器から出射される光を受光する受光器(148)と、
前記受光器の出力信号から前記周波数シフタによる周波数のシフト量に等しい周波数のビート成分を抽出するバンドパスフィルタ(149)と、
前記バンドパスフィルタによって抽出されたビート成分の振幅を検出する検波器(150)と、
前記検波器の出力に基づいて、前記共通光ファイバ線路から試験波長に対応した個別光ファイバ線路に至る光路の伝送損失特性を求める伝送損失特性算出手段(152)とを備えていることを特徴とする光線路障害探索装置。
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