JP5127746B2 - Touch panel - Google Patents

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Description

本発明は、タッチパネルの技術分野に関する。   The present invention relates to the technical field of touch panels.

タッチパネルとしては、抵抗膜方式、静電容量方式、超音波方式、光学方式等のものが知られている(例えば特許文献1及び2参照)。タッチパネルは、液晶パネル等の表示パネルに重なるように配置されることが多い。   As the touch panel, a resistance film type, a capacitance type, an ultrasonic type, an optical type, etc. are known (see, for example, Patent Documents 1 and 2). The touch panel is often arranged so as to overlap a display panel such as a liquid crystal panel.

例えば、静電容量方式のタッチパネルでは、表示パネルからの電磁的なノイズを防ぐシールドとして、タッチパネルにおける表示パネル側の面(即ち、入力面とは反対側の面)に透明導電膜が設けられることがある(例えば特許文献1の図6参照)。このような透明導電膜は、タッチパネルに接続されたフレキシブル基板上に形成された電位供給用端子(或いは電位供給線)を介して所定電位が供給されることで、上述したシールドとして機能することが可能となる。   For example, in a capacitive touch panel, a transparent conductive film is provided on the display panel side surface of the touch panel (that is, the surface opposite to the input surface) as a shield to prevent electromagnetic noise from the display panel. (See, for example, FIG. 6 of Patent Document 1). Such a transparent conductive film can function as the shield described above by being supplied with a predetermined potential via a potential supply terminal (or potential supply line) formed on a flexible substrate connected to the touch panel. It becomes possible.

特表2003−511799号公報Special table 2003-511799 gazette 特開2004−118754号公報JP 2004-118754 A

上述したシールドとしての透明導電膜が設けられたタッチパネルでは、その検査工程において、電位供給用端子と透明導電膜とが互いに電気的に接続されているか否かの検査が行われる。このような検査は、一般的には、電位供給端子における透明導電膜に接続される側とは反対側の端部と、透明導電膜とに検査用プローブを接触させて、その電位供給用端子及び透明導電膜間の抵抗値を測定することにより行われる。このように検査用プローブを透明導電膜に接触させる場合、検査用プローブの透明導電膜に対する接触状態が不安定となり、電位供給用端子及び透明導電膜間の抵抗値を安定して測定することが困難になるおそれがある。また、検査用プローブを透明導電膜に接触させるので、透明導電膜に傷がついてしまったり、透明導電膜が形成されたガラス基板が割れてしまったりするおそれがある。   In the touch panel provided with the transparent conductive film as the shield described above, in the inspection process, it is inspected whether or not the potential supply terminal and the transparent conductive film are electrically connected to each other. Such inspection is generally performed by bringing an inspection probe into contact with the end of the potential supply terminal opposite to the side connected to the transparent conductive film and the transparent conductive film, and then supplying the potential supply terminal. And measuring the resistance value between the transparent conductive films. When the inspection probe is brought into contact with the transparent conductive film in this way, the contact state of the inspection probe with respect to the transparent conductive film becomes unstable, and the resistance value between the potential supply terminal and the transparent conductive film can be stably measured. May be difficult. In addition, since the inspection probe is brought into contact with the transparent conductive film, the transparent conductive film may be damaged or the glass substrate on which the transparent conductive film is formed may be broken.

本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、シールド膜と電位供給用端子との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することが可能なタッチパネルを提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, for example, and it is an object to provide a touch panel capable of easily and reliably inspecting an electrical connection state between a shield film and a potential supply terminal. To do.

本発明のタッチパネルは上記課題を解決するために、タッチパネル本体と、前記タッチパネル本体の入力面とは反対側の裏面に設けられたシールド膜と、前記タッチパネルの前記シールド膜に接続された接続基板と、前記接続基板上に設けられ、所定電位を供給する電位供給線と、前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記電位供給線及び前記シールド膜に電気的に接続された電位供給用接続端子と、前記電位供給用接続端子に前記電位供給線を介して電気的に接続された第1の検査用端子と、前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記シールド膜に電気的に接続された検査用接続端子と、前記検査用接続端子に電気的に接続された第2の検査用端子とを備える。   In order to solve the above problems, the touch panel of the present invention includes a touch panel body, a shield film provided on the back surface opposite to the input surface of the touch panel body, and a connection substrate connected to the shield film of the touch panel. A potential supply line that is provided on the connection substrate and supplies a predetermined potential; and a potential that is provided on a side of the connection substrate facing the shield film and is electrically connected to the potential supply line and the shield film. A supply connection terminal; a first inspection terminal electrically connected to the potential supply connection terminal via the potential supply line; and a side of the connection substrate facing the shield film, A test connection terminal electrically connected to the shield film; and a second test terminal electrically connected to the test connection terminal.

本発明のタッチパネルによれば、例えば、指やタッチペン等の対象物体の位置を検出する位置検出素子が例えばガラス基板等の基板上に形成されてなるタッチパネル本体の裏面(例えば、タッチパネル本体を構成する基板における位置検出素子が形成される一の基板面とは反対側の他の基板面)に、例えばITO(Indium Tin Oxide)等の導電膜からなるシールド膜が設けられる。本発明のタッチパネルは、例えば液晶パネル等の表示パネルに重なるように配置された状態(即ち、タッチパネル本体の裏面側に表示パネルが配置された状態)で用いられる。本発明のタッチパネルの動作時には、タッチパネル本体に接続された例えばフレキシブル基板等である接続基板上に設けられた電位供給線によってシールド膜に所定電位が供給される。これにより、シールド膜は、表示パネルからの電磁的なノイズを防ぐシールドとして機能することができる。尚、所定電位は、例えば、接地電位或いはグランド電位の如く、時間軸に対して完全に一定電位に固定された電位であってもよいし、或いは、時間軸に対して変動する電位であってもよい。   According to the touch panel of the present invention, for example, a back surface of a touch panel body in which a position detection element for detecting the position of a target object such as a finger or a touch pen is formed on a substrate such as a glass substrate (for example, constituting the touch panel body). A shield film made of a conductive film such as ITO (Indium Tin Oxide) is provided on another substrate surface of the substrate opposite to the one substrate surface on which the position detection element is formed. The touch panel of the present invention is used in a state where the touch panel is disposed so as to overlap a display panel such as a liquid crystal panel (that is, a state where the display panel is disposed on the back side of the touch panel body). During the operation of the touch panel of the present invention, a predetermined potential is supplied to the shield film by a potential supply line provided on a connection substrate such as a flexible substrate connected to the touch panel body. Thus, the shield film can function as a shield that prevents electromagnetic noise from the display panel. The predetermined potential may be, for example, a ground potential or a ground potential that is completely fixed at a constant potential with respect to the time axis, or a potential that varies with respect to the time axis. Also good.

接続基板は、例えば、タッチパネル本体の入力面側に接続される本体部と、この本体部から例えば裏面側に回り込むように延設され、シールド膜に接続される延設部とを有する。例えば、延設部には、電位供給線に電気的に接続された電位供給用接続端子がシールド膜に面するように設けられており、電位供給用接続端子がシールド膜に接触することにより、電位供給線とシールド膜との電気的な導通が可能となる。電位供給線は、例えば、接続基板の本体部に実装された集積回路(IC:Integrated Circuit)から接続基板の延設部に設けられた電位供給用接続端子まで引き回される。   The connection substrate includes, for example, a main body connected to the input surface side of the touch panel main body, and an extended portion that extends from the main body to, for example, the back surface and is connected to the shield film. For example, in the extended portion, the potential supply connection terminal electrically connected to the potential supply line is provided so as to face the shield film, and the potential supply connection terminal contacts the shield film, Electrical connection between the potential supply line and the shield film becomes possible. The potential supply line is routed from, for example, an integrated circuit (IC) mounted on the main body portion of the connection board to a potential supply connection terminal provided on the extension portion of the connection board.

尚、接続基板がシールド膜に接続される接続部は、2つに分離していても(或は二股に分かれる構成であっても)よく、2つの部材からなっていてもよい。   Note that the connection portion where the connection substrate is connected to the shield film may be separated into two parts (or may be divided into two parts), or may be composed of two members.

本発明では特に、シールド膜と電位供給用接続端子との電気的な接続状態の検査を行うための第1及び第2の検査用端子並びに検査用接続端子を備える。第1の検査用端子は、例えば、接続基板の本体部に設けられ、電位供給用接続端子に電位供給線を介して電気的に接続される。検査用接続端子は、例えば接続基板の延設部におけるシールド膜に面する側に設けられ、シールド膜に電気的に接続される。第2の検査用端子は、例えば接続基板の本体部及び延設部の少なくとも一方に設けられ、検査用接続端子に電気的に接続される。例えば、第2の検査用端子が接続基板の延設部に設けられる場合には、第2の検査用端子は、延設部におけるシールド膜に面しない側に設けられ、例えば延設部に形成されたスルーホールを介して、延設部におけるシールド膜に面する側に設けられた検査用接続端子に電気的に接続される。   In particular, the present invention includes first and second inspection terminals and an inspection connection terminal for inspecting an electrical connection state between the shield film and the potential supply connection terminal. The first inspection terminal is provided, for example, on the main body of the connection substrate, and is electrically connected to the potential supply connection terminal via the potential supply line. The inspection connection terminal is provided, for example, on the side facing the shield film in the extended portion of the connection substrate, and is electrically connected to the shield film. The second inspection terminal is provided, for example, on at least one of the main body portion and the extension portion of the connection substrate, and is electrically connected to the inspection connection terminal. For example, when the second inspection terminal is provided in the extended portion of the connection substrate, the second inspection terminal is provided on the side of the extended portion that does not face the shield film, for example, formed in the extended portion. Through the formed through hole, the connecting portion is electrically connected to the inspection connecting terminal provided on the side of the extending portion facing the shield film.

よって、タッチパネルの検査工程において、例えば、第1の検査用端子と第2の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。具体的には、例えば、第1及び第2の検査用端子の各々に検査用プローブを接触させて、第1の検査用端子と第2の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定する。ここで、例えば、第1の検査用端子は、接続基板の本体部に設けられ、第2の検査用端子は、接続基板の本体部、或いは接続基板の延設部におけるシールド膜に面しない側に設けられているので、例えば検査用プローブを容易に安定して接触させることができ、第1の検査用端子と第2の検査用端子との間の電気的な抵抗値を安定して測定することができる。したがって、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を確実に検査することができる。尚、検査用プローブを用いて第1の検査用端子と第2の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定するのではなく、第1及び第2の検査用端子の各々を、接続基板上に或いは外部に設けられた検査用回路に電気的に接続し、この検査用回路によって第1の検査用端子と第2の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定するように構成することもできる。   Accordingly, in the touch panel inspection process, for example, by measuring the electrical resistance value between the first inspection terminal and the second inspection terminal, the electrical connection between the potential supply connection terminal and the shield film is achieved. It is possible to easily and surely check the connection state. Specifically, for example, an inspection probe is brought into contact with each of the first and second inspection terminals, and the electrical resistance value between the first inspection terminal and the second inspection terminal is determined. taking measurement. Here, for example, the first inspection terminal is provided on the main body of the connection board, and the second inspection terminal is the side not facing the shield film in the main body of the connection board or the extension of the connection board. For example, the inspection probe can be contacted easily and stably, and the electrical resistance value between the first inspection terminal and the second inspection terminal can be measured stably. can do. Therefore, the electrical connection state between the potential supply connection terminal and the shield film can be reliably inspected. Instead of measuring the electrical resistance value between the first inspection terminal and the second inspection terminal using the inspection probe, each of the first and second inspection terminals is Electrical connection is made to an inspection circuit provided on the connection board or externally, and an electrical resistance value between the first inspection terminal and the second inspection terminal is measured by this inspection circuit. It can also be configured as follows.

仮に、検査用接続端子及び第2の検査用端子が設けられず、第1の検査用端子とシールド膜との各々に検査用プローブを接触させて、第1の検査用端子とシールド膜との間の電気的な抵抗値を測定することにより、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を検査する場合には、検査用プローブのシールド膜に対する接触状態が不安定となり、第1の検査用端子とシールド膜との間の電気的な抵抗値を安定して測定することが困難になってしまうおそれがある。また、検査用プローブをシールド膜に接触させるので、シールド膜に傷がついてしまったり、シールド膜が形成された、タッチパネル本体を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりするおそれがある。しかるに、本発明によれば、上述したように、第1、第2及びの検査用端子並びに検査用接続端子を備えるので、第1の検査用端子と第2の検査用端子との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。更に、検査用プローブをシールド膜に接触させずに、電位供給用接続端子とシールド膜との電気的な接続状態を検査することができるので、シールド膜に傷がついてしまったり、シールド膜が形成された、タッチパネル本体を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりする事態を回避することができる。   Temporarily, the inspection connection terminal and the second inspection terminal are not provided, and the inspection probe is brought into contact with each of the first inspection terminal and the shield film, so that the first inspection terminal and the shield film are in contact with each other. When the electrical connection state between the potential supply connection terminal and the shield film is inspected by measuring the electrical resistance value between them, the contact state of the inspection probe with the shield film becomes unstable, and the first It may be difficult to stably measure the electrical resistance value between the inspection terminal 1 and the shield film. Further, since the inspection probe is brought into contact with the shield film, the shield film may be damaged, or a substrate such as a glass substrate constituting the touch panel body on which the shield film is formed may be broken. However, according to the present invention, as described above, since the first and second inspection terminals and the inspection connection terminal are provided, the electric power between the first inspection terminal and the second inspection terminal is provided. By measuring the resistance value, the electrical connection state between the potential supply connection terminal and the shield film can be easily and reliably inspected. Furthermore, the electrical connection between the connection terminal for potential supply and the shield film can be inspected without bringing the inspection probe into contact with the shield film, so that the shield film is damaged or a shield film is formed. Thus, it is possible to avoid a situation where a substrate such as a glass substrate constituting the touch panel body is broken.

以上説明したように、本発明のタッチパネルによれば、検査工程において、シールド膜と電位供給用接続端子との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。この結果、当該タッチパネルの信頼性を高めることができる。   As described above, according to the touch panel of the present invention, it is possible to easily and reliably inspect the electrical connection state between the shield film and the potential supply connection terminal in the inspection process. As a result, the reliability of the touch panel can be improved.

本発明のタッチパネルの一態様では、前記第2の検査用端子は、前記接続基板に設けられる。   In one aspect of the touch panel of the present invention, the second inspection terminal is provided on the connection substrate.

この態様によれば、第1の検査用端子と第2の検査用端子との間の電気的な抵抗値をより安定して測定することができる。   According to this aspect, the electrical resistance value between the first inspection terminal and the second inspection terminal can be measured more stably.

本発明のタッチパネルの他の態様では、前記接続基板は、前記タッチパネル本体に信号を供給する本体部を有する。   In another aspect of the touch panel of the present invention, the connection board has a main body that supplies a signal to the touch panel main body.

この態様によれば、タッチパネル本体に信号を確実に供給することができる。   According to this aspect, a signal can be reliably supplied to the touch panel body.

上述した接続基板が本体部を有する態様では、前記接続基板は、前記本体部から分離した延設部を有し、前記延設部には前記電位供給用接続端子と前記検査用接続端子が設けられてもよい。   In the aspect in which the connection board includes the main body, the connection board has an extending portion separated from the main body, and the extending portion is provided with the potential supply connection terminal and the inspection connection terminal. May be.

この場合には、電位供給用接続端子及び検査用接続端子を互いに近接して配置することができる。   In this case, the potential supply connection terminal and the inspection connection terminal can be arranged close to each other.

本発明のタッチパネルの他の態様では、前記第2の検査用端子は、前記接続基板における前記シールド膜に面しない側に設けられ、前記接続基板に形成されたスルーホールを介して前記検査用接続端子に電気的に接続される。   In another aspect of the touch panel of the present invention, the second inspection terminal is provided on a side of the connection substrate that does not face the shield film, and the inspection connection is made through a through hole formed in the connection substrate. Electrically connected to the terminal.

この態様によれば、第2の検査用端子は、例えば、接続基板の延設部におけるシールド膜に面しない側(即ち、延設部に対して第2の検査用端子の反対側)に設けられ、延設部に形成されたスルーホールを介して検査用接続端子に電気的に接続されるので、検査用接続端子と第2の検査用端子とを電気的に接続するための配線を接続基板上に形成する必要がない。よって、例えば、接続基板の本体部における他の配線或いは電子素子のレイアウトの自由度が高まる。或いは、接続基板の本体部を小さくすることも可能となる。   According to this aspect, the second inspection terminal is provided, for example, on the side of the extension portion of the connection substrate that does not face the shield film (that is, on the opposite side of the extension portion from the second inspection terminal). Connected to the inspection connection terminal through a through hole formed in the extending portion, so that the wiring for electrically connecting the inspection connection terminal and the second inspection terminal is connected. There is no need to form it on a substrate. Therefore, for example, the degree of freedom in the layout of other wirings or electronic elements in the main body portion of the connection board is increased. Or it becomes possible to make the main-body part of a connection board small.

本発明のタッチパネルの他の態様では、前記接続基板は、前記タッチパネル本体の前記入力面側に接続され、前記接続基板は、前記入力面側から前記裏面側に回り込むように形成される。   In another aspect of the touch panel of the present invention, the connection substrate is connected to the input surface side of the touch panel body, and the connection substrate is formed to wrap around from the input surface side to the back surface side.

この態様によれば、例えば、接続基板は、その本体部がタッチパネル本体の入力面側に接続され、この本体部から裏面側に回り込むように形成された延設部を有している。よって、タッチパネル本体の入力面側に形成された、例えば位置検出素子に電気的に接続された端子等の各種端子に、接続基板の本体部上に形成された接続端子を電気的に接続することができる共に、タッチパネル本体部の裏面側に設けられたシールド膜に、接続基板の延設部に設けられた電位供給用接続端子及び検査用接続端子を電気的に接続することができる。   According to this aspect, for example, the connection substrate has an extending portion that is formed so that the main body portion is connected to the input surface side of the touch panel main body and wraps around from the main body portion to the back surface side. Therefore, the connection terminals formed on the main body of the connection board are electrically connected to various terminals such as terminals electrically connected to the position detection element formed on the input surface side of the touch panel main body. In addition, the potential supply connection terminal and the inspection connection terminal provided in the extending portion of the connection substrate can be electrically connected to the shield film provided on the back side of the touch panel body.

本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされる。   The operation and other advantages of the present invention will become apparent from the best mode for carrying out the invention described below.

第1実施形態に係るタッチパネルの全体構成を概略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematically the whole structure of the touchscreen which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るタッチパネルの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the touchscreen which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るFPC延設部の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the FPC extension part which concerns on 1st Embodiment. 図2のC1部分の拡大斜視図である。It is an expansion perspective view of the C1 part of FIG. 第1実施形態に係るFPC上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the terminal for a test | inspection provided on FPC which concerns on 1st Embodiment. 比較例に係るFPC上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the terminal for a test | inspection provided on FPC which concerns on a comparative example. 第2実施形態に係るFPC上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the terminal for a test | inspection provided on FPC which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係るFPC延設部に設けられた2つの検査用端子の接続構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the connection structure of the two terminals for a test | inspection provided in the FPC extension part which concerns on 2nd Embodiment.

以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

<第1実施形態>
第1実施形態に係るタッチパネルについて、図1から図5を参照して説明する。
<First Embodiment>
The touch panel according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.

先ず、本実施形態に係るタッチパネルの全体構成について、図1及び図2を参照して概略的に説明する。   First, the overall configuration of the touch panel according to the present embodiment will be schematically described with reference to FIGS. 1 and 2.

図1は、本実施形態に係るタッチパネルの全体構成を概略的に示す断面図である。尚、図1では、本実施形態に係るタッチパネルを備えるタッチパネル付き液晶装置を示している。   FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the overall configuration of the touch panel according to the present embodiment. In addition, in FIG. 1, the liquid crystal device with a touchscreen provided with the touchscreen which concerns on this embodiment is shown.

図1において、本実施形態に係るタッチパネル付き液晶装置は、液晶パネル20と、バックライト40と、本実施形態に係るタッチパネル100とを備えている。   1, the liquid crystal device with a touch panel according to the present embodiment includes a liquid crystal panel 20, a backlight 40, and a touch panel 100 according to the present embodiment.

液晶パネル20は、例えばガラス等の透光性材料から夫々形成された第1基板21及び第2基板22間に液晶層(図示省略)が挟持された構造を有する透過型の液晶パネルとして構成されている。第1基板21及び第2基板22は、枠状のシール材(図示省略)によって互いに貼り合わされている。この枠状のシール材によって規定される領域に液晶層が設けられている。尚、本発明では、液晶パネル20は、特定の構成に限定されず、周知の種々の構成を採り得る。   The liquid crystal panel 20 is configured as a transmissive liquid crystal panel having a structure in which a liquid crystal layer (not shown) is sandwiched between a first substrate 21 and a second substrate 22 each formed of a translucent material such as glass, for example. ing. The first substrate 21 and the second substrate 22 are bonded to each other by a frame-shaped sealing material (not shown). A liquid crystal layer is provided in a region defined by the frame-shaped sealing material. In the present invention, the liquid crystal panel 20 is not limited to a specific configuration, and may employ various known configurations.

より具体的には、液晶パネル20の第1基板21は、当該第1基板21の一辺において第2基板22より張り出した基板張出部21tを有している。基板張出部21t(より正確には、基板張出部21tにおける第2基板22側の表面)上には、例えば液晶パネル20を駆動するための駆動回路等を含む電子部品25が実装されている。第1基板21及び第2基板22の外面側には、偏光板27及び28が配置されている。   More specifically, the first substrate 21 of the liquid crystal panel 20 has a substrate protruding portion 21 t that protrudes from the second substrate 22 on one side of the first substrate 21. An electronic component 25 including, for example, a drive circuit for driving the liquid crystal panel 20 is mounted on the substrate extension portion 21t (more precisely, the surface of the substrate extension portion 21t on the second substrate 22 side). Yes. Polarizing plates 27 and 28 are disposed on the outer surface sides of the first substrate 21 and the second substrate 22.

バックライト40は、液晶パネル20に対して照射光を照射するバックライト(照明装置)として構成されている。   The backlight 40 is configured as a backlight (illuminating device) that irradiates the liquid crystal panel 20 with irradiation light.

図2は、本実施形態に係るタッチパネルの構成を示す斜視図である。尚、図2は、本実施形態に係るタッチパネルをその裏面側から見た場合の斜視図である。   FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of the touch panel according to the present embodiment. FIG. 2 is a perspective view of the touch panel according to the present embodiment as viewed from the back side.

図1及び図2において、タッチパネル100は、本発明に係る「タッチパネル本体」の一例としてのセンサー基板110と、シールド膜120と、フレキシブル基板(FPC(Flexible printed circuits))130と、コントローラIC140(図1参照)と、接着層150(図1参照)と、カバー部材160とを備えている。   1 and 2, a touch panel 100 includes a sensor substrate 110 as an example of a “touch panel body” according to the present invention, a shield film 120, a flexible substrate (FPC (Flexible printed circuits)) 130, and a controller IC 140 (FIG. 1), an adhesive layer 150 (see FIG. 1), and a cover member 160.

センサー基板110は、例えばガラス基板上に位置検出素子等が形成されてなり、例えば静電容量方式のタッチパネルセンサー基板として構成されている。センサー基板110は、その入力面110sにおいて例えば指やタッチペン等の対象物体の位置を検出可能に構成されている。   The sensor substrate 110 has a position detection element formed on a glass substrate, for example, and is configured as, for example, a capacitive touch panel sensor substrate. The sensor substrate 110 is configured to be able to detect the position of a target object such as a finger or a touch pen on the input surface 110s.

シールド膜120は、例えばITO等の透明導電膜からなり、センサー基板110の入力面110sとは反対側の裏面110rのほぼ全面にベタ状に形成されている。シールド膜120は、本実施形態に係るタッチパネル付きの液晶装置の動作時に、後述するコントローラIC140から所定電位が供給されるように構成されており、液晶パネル20からの電磁的なノイズを防ぐシールドとして機能する。尚、シールド膜120に供給される所定電位は、例えば、接地電位或いはグランド電位の如く、時間軸に対して完全に一定電位に固定された電位であってもよいし、或いは、時間軸に対して変動する電位であってもよい。   The shield film 120 is made of, for example, a transparent conductive film such as ITO, and is formed in a solid shape on almost the entire back surface 110r of the sensor substrate 110 opposite to the input surface 110s. The shield film 120 is configured to be supplied with a predetermined potential from a controller IC 140 (described later) during operation of the liquid crystal device with a touch panel according to the present embodiment, and serves as a shield that prevents electromagnetic noise from the liquid crystal panel 20. Function. The predetermined potential supplied to the shield film 120 may be a potential that is completely fixed at a constant potential with respect to the time axis, such as a ground potential or a ground potential, or may be The potential may vary.

FPC130は、センサー基板110の入力面110s側に接続されるFPC本体部131と、このFPC本体部131から延設され、シールド膜120に接続されるFPC延設部132とを有している。FPC本体部131の端部には、外部回路を接続するための接続端子部133(図2参照)が形成されている。FPC本体部131には、コントローラIC140が実装されている。FPC延設部132は、センサー基板110の入力面110s側から裏面110r側に回り込むように形成されている。尚、図3から図5を参照して後に詳細に説明するように、本実施形態では、FPC130上には、シールド膜120に所定電位を供給するための電位供給線173及び電位供給用端子171や検査用端子172、191及び192などが、例えば銅(Cu)などの金属をパターニングすることにより形成されている。電位供給用端子171は、本発明に係る「電位供給用接続端子」の一例である。   The FPC 130 includes an FPC main body 131 connected to the input surface 110 s side of the sensor substrate 110, and an FPC extension 132 extending from the FPC main body 131 and connected to the shield film 120. A connection terminal portion 133 (see FIG. 2) for connecting an external circuit is formed at the end of the FPC main body 131. A controller IC 140 is mounted on the FPC main body 131. The FPC extending portion 132 is formed so as to go from the input surface 110 s side of the sensor substrate 110 to the back surface 110 r side. As will be described in detail later with reference to FIGS. 3 to 5, in this embodiment, a potential supply line 173 for supplying a predetermined potential to the shield film 120 and a potential supply terminal 171 are provided on the FPC 130. And inspection terminals 172, 191 and 192 are formed by patterning a metal such as copper (Cu). The potential supply terminal 171 is an example of the “potential supply connection terminal” according to the present invention.

コントローラIC140は、FPC本体部131に実装されており、センサー基板110(より正確には、センサー基板110が有する位置検出素子)を駆動するための回路及びシールド膜120に所定電位を供給するための回路を含んでいる。   The controller IC 140 is mounted on the FPC main body 131, and supplies a predetermined potential to the circuit for driving the sensor substrate 110 (more precisely, the position detection element included in the sensor substrate 110) and the shield film 120. Includes circuitry.

接着層150は、透光性を有する接着材からなり、センサー基板110とカバー部材160とを接着する。   The adhesive layer 150 is made of a light-transmitting adhesive and adheres the sensor substrate 110 and the cover member 160.

カバー部材160は、例えばガラス基板或いはプラスチック基板等の透明基板からなり、タッチパネル基板110を入力面110s側から覆うように設けられている。カバー部材160は、接着層150によってセンサー基板110の入力面110sに接着されている。尚、カバー部材160には、センサー基板110の入力面110sの周囲を囲む遮光膜が形成されていてもよい。   The cover member 160 is made of a transparent substrate such as a glass substrate or a plastic substrate, for example, and is provided so as to cover the touch panel substrate 110 from the input surface 110s side. The cover member 160 is bonded to the input surface 110 s of the sensor substrate 110 by the adhesive layer 150. The cover member 160 may be formed with a light shielding film surrounding the input surface 110s of the sensor substrate 110.

次に、本実施形態に係るFPC上に設けられた検査用端子について、図3から図5を参照して説明する。   Next, the inspection terminals provided on the FPC according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.

図3は、本実施形態に係るFPC延設部の構成を示す斜視図である。図4は、図2のC1部分の拡大斜視図である。図5は、本実施形態に係るFPC上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。尚、図3から図5は、本実施形態に係るタッチパネルの裏面側からFPC130を見た場合の斜視図である。   FIG. 3 is a perspective view showing the configuration of the FPC extending portion according to the present embodiment. FIG. 4 is an enlarged perspective view of a portion C1 in FIG. FIG. 5 is a schematic diagram showing the configuration of the inspection terminal provided on the FPC according to the present embodiment. 3 to 5 are perspective views when the FPC 130 is viewed from the back side of the touch panel according to the present embodiment.

図1及び図2を参照して上述したように、FPC130は、センサー基板110の入力面110s側に接続されるFPC本体部131と、このFPC本体部131から延設され、シールド膜120に接続されるFPC延設部132とを有している。   As described above with reference to FIGS. 1 and 2, the FPC 130 is connected to the shield film 120 by extending from the FPC main body 131 connected to the input surface 110 s side of the sensor substrate 110 and the FPC main body 131. The FPC extending portion 132 is provided.

図3及び図5において、FPC130上には、シールド膜120に所定電位を供給するための電位供給線173が形成されている。電位供給線173の一端は、図1を参照して上述したコントローラIC140に電気的に接続されており、電位供給線173の他端は、FPC延設部132の端部132aに形成された電位供給用端子171に電気的に接続されている。電位供給線173は、FPC本体部131におけるコントローラIC140が形成された部分からFPC延設部132の端部132aまで引き回されている。尚、本実施形態では、電位供給線173は、FPC130におけるコントローラIC140が実装された面とは反対側の面に形成されている。   3 and 5, a potential supply line 173 for supplying a predetermined potential to the shield film 120 is formed on the FPC 130. One end of the potential supply line 173 is electrically connected to the controller IC 140 described above with reference to FIG. 1, and the other end of the potential supply line 173 is a potential formed at the end 132 a of the FPC extension portion 132. It is electrically connected to the supply terminal 171. The potential supply line 173 is routed from the portion of the FPC main body 131 where the controller IC 140 is formed to the end 132a of the FPC extension 132. In the present embodiment, the potential supply line 173 is formed on the surface of the FPC 130 opposite to the surface on which the controller IC 140 is mounted.

図3及び図4に示すように、FPC延設部132は、電位供給用端子171がシールド膜120に接触して電気的に接続されるように、センサー基板110の入力面110s側から裏面110r側に回り込むように曲げられている。電位供給用端子171とシールド膜120とは、例えばACF(Anisotropic Conductive Film:異方性導電フィルム)によって接続されている。本実施形態に係るタッチパネル付き液晶装置の動作時には、コントローラIC140から電位供給線173及び電位供給用端子171を介して所定電位がシールド膜120に供給される。   As shown in FIGS. 3 and 4, the FPC extension 132 has a back surface 110 r from the input surface 110 s side of the sensor substrate 110 so that the potential supply terminal 171 is in contact with and electrically connected to the shield film 120. Bent around the side. The potential supply terminal 171 and the shield film 120 are connected by, for example, an ACF (Anisotropic Conductive Film). During operation of the liquid crystal device with a touch panel according to the present embodiment, a predetermined potential is supplied from the controller IC 140 to the shield film 120 via the potential supply line 173 and the potential supply terminal 171.

尚、図3において、センサー基板110におけるFPC本体部131が接続される一辺に沿って支持部材139が設けられている。支持部材139は、FPC本体部131をセンサー基板110の裏面110r側から支持する。   In FIG. 3, a support member 139 is provided along one side of the sensor substrate 110 to which the FPC main body 131 is connected. The support member 139 supports the FPC main body 131 from the back surface 110 r side of the sensor substrate 110.

図3及び図5において、本実施形態では特に、シールド膜120と電位供給用端子171との電気的な接続状態の検査を行うための検査用端子172、191及び192がFPC130上に設けられている。   3 and 5, in this embodiment, in particular, inspection terminals 172, 191 and 192 for inspecting the electrical connection state between the shield film 120 and the potential supply terminal 171 are provided on the FPC 130. Yes.

検査用端子172は、本発明に係る「第1の検査用端子」の一例であり、FPC本体部131に設けられ、電位供給用端子171に電位供給線173を介して電気的に接続されている。   The inspection terminal 172 is an example of the “first inspection terminal” according to the present invention. The inspection terminal 172 is provided in the FPC main body 131 and is electrically connected to the potential supply terminal 171 via the potential supply line 173. Yes.

検査用端子191は、本発明に係る「検査用接続端子」の一例であり、FPC延設部132におけるシールド膜120に面する側に(より具体的には、FPC延設部132の端部132aにおいて電位供給用端子171と並んで)設けられ、シールド膜120に電気的に接続されている。検査用端子191とシールド膜120とは、例えばACFによって接続されている。   The inspection terminal 191 is an example of the “inspection connection terminal” according to the present invention, and is on the side facing the shield film 120 in the FPC extension 132 (more specifically, the end of the FPC extension 132). 132a is provided in parallel with the potential supply terminal 171) and is electrically connected to the shield film 120. The inspection terminal 191 and the shield film 120 are connected by, for example, ACF.

検査用端子192は、本発明に係る「第2の検査用端子」の一例であり、FPC本体部131に設けられ、上述した検査用端子191に検査用配線193を介して電気的に接続されている。検査用配線193は、検査用端子191及び192間を電気的に接続するように、FPC130上に形成されている。   The inspection terminal 192 is an example of the “second inspection terminal” according to the present invention, and is provided in the FPC main body 131 and is electrically connected to the inspection terminal 191 described above via the inspection wiring 193. ing. The inspection wiring 193 is formed on the FPC 130 so as to electrically connect the inspection terminals 191 and 192.

以上のように構成された検査用端子172、191及び192によれば、本実施形態に係るタッチパネルの検査工程において、例えば、検査用端子172と検査用端子192との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用端子171とシールド膜120との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。具体的には、例えば、検査用端子172及び192の各々に検査用プローブを接触させて、検査用端子172と検査用端子192との間の電気的な抵抗値を測定する。ここで、検査用端子172及び192は、いずれもFPC本体部131上に設けられているので、例えば検査用プローブを容易に安定して接触させることができ、検査用端子172と検査用端子192との間の電気的な抵抗値を安定して測定することができる。したがって、電位供給用端子171とシールド膜120との電気的な接続状態を確実に検査することができる。尚、検査用プローブを用いて検査用端子172と検査用端子192との間の電気的な抵抗値を測定するのではなく、検査用端子172及び192の各々を、FPC130上に或いは外部に設けられた検査用回路に電気的に接続し、この検査用回路によって検査用端子172と検査用端子192との間の電気的な抵抗値を測定するように構成してもよい。   According to the inspection terminals 172, 191 and 192 configured as described above, in the touch panel inspection process according to the present embodiment, for example, the electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 192. Is measured, the electrical connection state between the potential supply terminal 171 and the shield film 120 can be easily and reliably inspected. Specifically, for example, an inspection probe is brought into contact with each of the inspection terminals 172 and 192, and the electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 192 is measured. Here, since both of the inspection terminals 172 and 192 are provided on the FPC main body 131, for example, the inspection probe can be easily and stably brought into contact, and the inspection terminal 172 and the inspection terminal 192 can be contacted. It is possible to stably measure the electrical resistance value between. Therefore, the electrical connection state between the potential supply terminal 171 and the shield film 120 can be reliably inspected. Instead of measuring the electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 192 using the inspection probe, each of the inspection terminals 172 and 192 is provided on the FPC 130 or externally. The electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 192 may be measured by electrically connecting to the inspection circuit.

更に、本実施形態では特に、検査用端子192は、FPC延設部132よりも大きく形成されるFPC本体部131に設けられるので、レイアウトの自由度が比較的高く、実践上有利である。   Furthermore, in particular, in the present embodiment, the inspection terminal 192 is provided in the FPC main body 131 formed larger than the FPC extending portion 132, so that the degree of freedom in layout is relatively high, which is advantageous in practice.

図6は、比較例に係るFPC上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。尚、図6において、図1から図5に示した第1実施形態に係る構成要素と同様の構成要素に同一の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。   FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a configuration of an inspection terminal provided on the FPC according to the comparative example. In FIG. 6, the same reference numerals are given to the same components as the components according to the first embodiment shown in FIGS. 1 to 5, and description thereof will be omitted as appropriate.

図6に比較例として示すように、仮に、FPC130上に上述した検査用端子191及び192が設けられず、検査用端子172とシールド膜120との各々に検査用プローブPb1及びPb2を接触させて、検査用端子172とシールド膜120との間の電気的な抵抗値を測定することにより、電位供給用端子171とシールド膜120との電気的な接続状態を検査する場合には、検査用プローブPb2のシールド膜120に対する接触状態が不安定となり、検査用端子172とシールド膜120との間の電気的な抵抗値を安定して測定することが困難になってしまうおそれがある。また、検査用プローブPb2をシールド膜120に接触させるので、シールド膜120に傷がついてしまったり、シールド膜120が形成された、センサー基板110を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりするおそれがある。   As shown in FIG. 6 as a comparative example, if the above-described inspection terminals 191 and 192 are not provided on the FPC 130, the inspection probes Pb1 and Pb2 are brought into contact with the inspection terminal 172 and the shield film 120, respectively. When inspecting the electrical connection state between the potential supply terminal 171 and the shield film 120 by measuring the electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the shield film 120, an inspection probe is used. The contact state of Pb2 with respect to the shield film 120 becomes unstable, and it may be difficult to stably measure the electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the shield film 120. Further, since the inspection probe Pb2 is brought into contact with the shield film 120, the shield film 120 is damaged, or a substrate such as a glass substrate constituting the sensor substrate 110 on which the shield film 120 is formed is broken. There is a risk.

しかるに、本実施形態によれば、上述したように、検査用端子172、191及び192を備えるので、検査用端子172と検査用端子192との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用端子171とシールド膜120との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。更に、検査用プローブをシールド膜120に接触させずに、電位供給用端子171とシールド膜120との電気的な接続状態を検査することができるので、シールド膜120に傷がついてしまったり、シールド膜120が形成された、センサー基板110を構成する例えばガラス基板等の基板が割れてしまったりする事態を回避することができる。   However, according to the present embodiment, as described above, since the inspection terminals 172, 191 and 192 are provided, by measuring the electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 192, The electrical connection state between the potential supply terminal 171 and the shield film 120 can be easily and reliably inspected. Further, since the electrical connection state between the potential supply terminal 171 and the shield film 120 can be inspected without bringing the inspection probe into contact with the shield film 120, the shield film 120 is damaged or shielded. It is possible to avoid a situation in which a substrate such as a glass substrate that forms the sensor substrate 110 on which the film 120 is formed is broken.

以上説明したように、本実施形態によれば、検査工程において、シールド膜120と電位供給用端子171との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。この結果、当該装置の信頼性を高めることができる。   As described above, according to the present embodiment, it is possible to easily and reliably inspect the electrical connection state between the shield film 120 and the potential supply terminal 171 in the inspection process. As a result, the reliability of the device can be improved.

<第2実施形態>
第2実施形態に係るタッチパネルについて、図7及び図8を参照して説明する。
Second Embodiment
A touch panel according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 7 and 8.

図7は、第2実施形態に係るFPC上に設けられた検査用端子の構成を示す模式図である。図8は、第2実施形態に係るFPC延設部に設けられた2つの検査用端子の接続構成を示す断面図である。   FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a configuration of an inspection terminal provided on the FPC according to the second embodiment. FIG. 8 is a cross-sectional view showing a connection configuration of two inspection terminals provided in the FPC extending portion according to the second embodiment.

第2実施形態に係るタッチパネルは、上述した検査用端子192に代えて検査用端子292を備える点で、上述した第1実施形態に係るタッチパネルと異なり、その他の点については、上述した第1実施形態に係るタッチパネルと概ね同様に構成されている。   The touch panel according to the second embodiment differs from the touch panel according to the first embodiment described above in that it includes an inspection terminal 292 instead of the above-described inspection terminal 192, and other points are described in the first embodiment described above. The configuration is almost the same as that of the touch panel according to the embodiment.

図7及び図8において、検査用端子292は、本発明に係る「第2の検査用端子」の一例であり、FPC延設部132におけるシールド膜120に面しない側に設けられており、FPC延設部132に形成されたスルーホール293を介して検査用端子191に電気的に接続されている。   7 and 8, the inspection terminal 292 is an example of the “second inspection terminal” according to the present invention, and is provided on the side of the FPC extending portion 132 that does not face the shield film 120. It is electrically connected to the inspection terminal 191 through a through hole 293 formed in the extended portion 132.

よって、本実施形態に係るタッチパネルの検査工程において、例えば、検査用端子172と検査用端子292との間の電気的な抵抗値を測定することで、電位供給用端子171とシールド膜120との電気的な接続状態を容易且つ確実に検査することができる。具体的には、例えば、検査用端子172及び292の各々に検査用プローブを接触させて、検査用端子172と検査用端子292との間の電気的な抵抗値を測定する。ここで、検査用端子172は、FPC本体部131上に設けられ、検査用端子292は、FPC延設部132におけるシールド膜120に面しない側に設けられているので、例えば検査用プローブを容易に安定して接触させることができ、検査用端子172と検査用端子292との間の電気的な抵抗値を安定して測定することができる。したがって、電位供給用端子171とシールド膜120との電気的な接続状態を確実に検査することができる。尚、検査用プローブを用いて検査用端子172と検査用端子292との間の電気的な抵抗値を測定するのではなく、検査用端子172及び292の各々を、FPC130上に或いは外部に設けられた検査用回路に電気的に接続し、この検査用回路によって検査用端子172と検査用端子292との間の電気的な抵抗値を測定するように構成してもよい。   Therefore, in the touch panel inspection process according to the present embodiment, for example, by measuring the electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 292, the potential supply terminal 171 and the shield film 120 are The electrical connection state can be easily and reliably inspected. Specifically, for example, an inspection probe is brought into contact with each of the inspection terminals 172 and 292, and the electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 292 is measured. Here, since the inspection terminal 172 is provided on the FPC main body 131 and the inspection terminal 292 is provided on the side of the FPC extending portion 132 that does not face the shield film 120, for example, an inspection probe can be easily used. The electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 292 can be stably measured. Therefore, the electrical connection state between the potential supply terminal 171 and the shield film 120 can be reliably inspected. Instead of measuring the electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 292 using the inspection probe, each of the inspection terminals 172 and 292 is provided on the FPC 130 or externally. The electrical resistance value between the inspection terminal 172 and the inspection terminal 292 may be measured by electrically connecting to the inspection circuit.

更に、本実施形態では特に、検査用端子292は、FPC延設部132におけるシールド膜132に面しない側(即ち、FPC延設部132に対して検査用端子191の反対側)に設けられ、FPC延設部132に形成されたスルーホール293を介して検査用端子191に電気的に接続されるので、検査用端子191と検査用端子292とを電気的に接続するための配線をFPC本体部131上に形成する必要がない。よって、FPC本体部131における他の配線或いは電子素子のレイアウトの自由度が高まる。或いは、FPC本体部131を小さくすることも可能となる。   Further, particularly in the present embodiment, the inspection terminal 292 is provided on the side of the FPC extension portion 132 that does not face the shield film 132 (that is, the side opposite to the inspection terminal 191 with respect to the FPC extension portion 132). Since it is electrically connected to the inspection terminal 191 through the through hole 293 formed in the FPC extension portion 132, wiring for electrically connecting the inspection terminal 191 and the inspection terminal 292 is provided in the FPC main body. It is not necessary to form it on the part 131. Therefore, the degree of freedom of layout of other wirings or electronic elements in the FPC main body 131 is increased. Alternatively, the FPC main body 131 can be made smaller.

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴うタッチパネルもまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately changed without departing from the gist or concept of the invention that can be read from the claims and the entire specification. A touch panel with such a change can also be used. It is included in the technical scope of the present invention.

20…液晶パネル、40…バックライト、100…タッチパネル、110…センサー基板、120…シールド膜、130…FPC、131…FPC本体部、132…FPC延設部、140…コントローラIC、150…接着層、160…カバー部材、171…電位供給用端子、172…検査用端子、173…電位供給線、191、192…検査用端子、193…検査用配線、292…検査用端子、293…スルーホール   DESCRIPTION OF SYMBOLS 20 ... Liquid crystal panel, 40 ... Back light, 100 ... Touch panel, 110 ... Sensor board | substrate, 120 ... Shield film, 130 ... FPC, 131 ... FPC main-body part, 132 ... FPC extension part, 140 ... Controller IC, 150 ... Adhesive layer , 160 ... Cover member, 171 ... Terminal for potential supply, 172 ... Terminal for inspection, 173 ... Electric potential supply line, 191, 192 ... Terminal for inspection, 193 ... Wiring for inspection, 292 ... Terminal for inspection, 293 ... Through-hole

Claims (6)

タッチパネル本体と、
前記タッチパネル本体の入力面とは反対側の裏面に設けられたシールド膜と、
前記タッチパネルの前記シールド膜に接続された接続基板と、
前記接続基板上に設けられ、所定電位を供給する電位供給線と、
前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記電位供給線及び前記シールド膜に電気的に接続された電位供給用接続端子と、
前記電位供給用接続端子に前記電位供給線を介して電気的に接続された第1の検査用端子と、
前記接続基板における前記シールド膜に面する側に設けられ、前記シールド膜に電気的に接続された検査用接続端子と、
前記検査用接続端子に電気的に接続された第2の検査用端子と
を備えることを特徴とするタッチパネル。
The touch panel body,
A shield film provided on the back surface opposite to the input surface of the touch panel body;
A connection substrate connected to the shield film of the touch panel;
A potential supply line provided on the connection substrate for supplying a predetermined potential;
A potential supply connection terminal provided on a side of the connection substrate facing the shield film, electrically connected to the potential supply line and the shield film;
A first inspection terminal electrically connected to the potential supply connection terminal via the potential supply line;
A connection terminal for inspection provided on the side of the connection substrate facing the shield film and electrically connected to the shield film;
A touch panel comprising: a second inspection terminal electrically connected to the inspection connection terminal.
前記第2の検査用端子は、前記接続基板に設けられることを特徴とする請求項1に記載のタッチパネル。   The touch panel according to claim 1, wherein the second inspection terminal is provided on the connection board. 前記接続基板は、前記タッチパネル本体に信号を供給する本体部を有することを特徴とする請求項1に記載のタッチパネル。   The touch panel as set forth in claim 1, wherein the connection substrate has a main body that supplies a signal to the touch panel main body. 前記接続基板は、前記本体部から分離した延設部を有し、前記延設部には前記電位供給用接続端子と前記検査用接続端子が設けられることを特徴とする請求項3に記載のタッチパネル。   The said connection board | substrate has the extension part isolate | separated from the said main-body part, and the said connection part for electric potential supply and the said connection terminal for a test | inspection are provided in the said extension part. Touch panel. 前記第2の検査用端子は、前記接続基板における前記シールド膜に面しない側に設けられ、前記接続基板に形成されたスルーホールを介して前記検査用接続端子に電気的に接続されることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載のタッチパネル。   The second inspection terminal is provided on a side of the connection substrate that does not face the shield film, and is electrically connected to the inspection connection terminal through a through hole formed in the connection substrate. The touch panel according to claim 1, wherein the touch panel is characterized. 前記接続基板は、前記タッチパネル本体の前記入力面側に接続され、
前記接続基板は、前記入力面側から前記裏面側に回り込むように形成される
ことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載のタッチパネル。
The connection board is connected to the input surface side of the touch panel body,
The touch panel according to any one of claims 1 to 5, wherein the connection substrate is formed so as to wrap around from the input surface side to the back surface side.
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