JP5123029B2 - Grinding equipment - Google Patents
Grinding equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP5123029B2 JP5123029B2 JP2008101358A JP2008101358A JP5123029B2 JP 5123029 B2 JP5123029 B2 JP 5123029B2 JP 2008101358 A JP2008101358 A JP 2008101358A JP 2008101358 A JP2008101358 A JP 2008101358A JP 5123029 B2 JP5123029 B2 JP 5123029B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluid
- grinding
- fluid supply
- plate
- chuck table
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
Description
本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物を研削するための研削装置に関する。 The present invention relates to a grinding apparatus for grinding a workpiece such as a semiconductor wafer.
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハをストリートに沿って切断することによりデバイスが形成された領域を分割して個々の半導体チップを製造している。また、サファイヤ基板や炭化珪素(SiC)基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体等が積層された光デバイスウエーハもストリートに沿って切断することにより個々の発光ダイオード、レーザーダイオード等の光デバイスに分割され、電気機器に広く利用されている。このようにして分割されるウエーハは、ストリートに沿って切断する前に研削装置によって裏面が研削され、所定の厚さに加工される。 In the semiconductor device manufacturing process, a plurality of regions are partitioned by dividing lines called streets arranged in a lattice pattern on the surface of a substantially wafer-shaped semiconductor wafer, and devices such as ICs, LSIs, etc. are partitioned in the partitioned regions. Form. Then, the semiconductor wafer is cut along the streets to divide the region in which the device is formed to manufacture individual semiconductor chips. In addition, optical device wafers in which gallium nitride compound semiconductors are laminated on the surface of sapphire substrates and silicon carbide (SiC) substrates are also cut into individual optical devices such as light-emitting diodes and laser diodes by cutting along the streets. Widely used in electrical equipment. The wafer divided in this way is ground to a predetermined thickness by a grinding device before being cut along the street.
半導体ウエーハの裏面を研削する研削装置は、ウエーハを保持する保持面を備えたチャックテーブルと、該チャックテーブル上に保持されたウエーハを研削する環状の研削砥石を有する研削ホイールを備えた研削ユニットと、該研削ユニットをチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向に研削送りする研削送り機構を具備している。(例えば、特許文献1参照)
而して、LED等の光デバイスが形成されるウエーハの基板はサファイヤや炭化珪素(SiC)等のモース硬度の高い材料によって形成されているため、ダイヤモンド砥粒をビトリファイドボンド等で固めた研削砥石でも裏面を研削することが困難である。即ち、機械的剛性が高い研削装置によって炭化珪素(SiC)基板からなるウエーハを研削すると比較的良好に研削することができるが、サファイヤ基板からなるウエーハを研削するとウエーハが割れるという問題がある。また、機械的剛性が低い研削装置によって炭化珪素(SiC)基板からなるウエーハを研削すると研削が困難であるが、サファイヤ基板からなるウエーハを研削すると比較的良好に研削することができる。 Therefore, since the wafer substrate on which optical devices such as LEDs are formed is made of a material with high Mohs hardness such as sapphire or silicon carbide (SiC), a grinding wheel in which diamond abrasive grains are hardened by vitrified bonds or the like. However, it is difficult to grind the back surface. That is, when a wafer made of a silicon carbide (SiC) substrate is ground with a grinding machine having high mechanical rigidity, it can be ground relatively well. However, when a wafer made of a sapphire substrate is ground, there is a problem that the wafer is broken. Further, grinding a wafer made of a silicon carbide (SiC) substrate with a grinding machine having low mechanical rigidity makes it difficult to grind the wafer, but grinding a wafer made of a sapphire substrate enables relatively good grinding.
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、サファイヤや炭化珪素(SiC)等のモース硬度の高い材料からなる被加工物であっても良好に研削することができる研削装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above facts, and the main technical problem thereof is that even a workpiece made of a material having a high Mohs hardness such as sapphire or silicon carbide (SiC) can be ground well. It is to provide a grinding apparatus.
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、被加工物を保持する保持面を有するチャックテーブルを備えたチャックテーブル機構と、該チャックテーブルの該保持面に保持された被加工物を研削するための研削手段と、該研削手段を該チャックテーブルの該保持面に垂直な方向に研削送りする研削送り手段とを具備する研削装置において、
該研削手段は、外周面にスラストプレートが設けられた回転スピンドルと、該回転スピンドルの周囲に流体層を形成して流体支持するラジアル軸受部および該スラストプレートを収容するプレート収容空間と該プレート収容空間の複数の領域にそれぞれ開口する複数の流体供給孔を有するスラスト軸受部を備えたスピンドルハウジングと、該回転スピンドルの下端に設けられたホイールマウントと、該ホイールマウントに取り付けられた研削ホイールと、該ラジアル軸受部および該スラスト軸受部の該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室の該プレート収容室の該複数の領域に流体を供給する流体供給手段を具備しており、
該流体供給手段は、該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し該スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えている、
ことを特徴とする研削装置が提供される。
In order to solve the above main technical problem, according to the present invention, a chuck table mechanism including a chuck table having a holding surface for holding a workpiece, and a workpiece held on the holding surface of the chuck table are provided. In a grinding apparatus comprising grinding means for grinding, and grinding feed means for grinding and feeding the grinding means in a direction perpendicular to the holding surface of the chuck table,
The grinding means includes a rotary spindle provided with a thrust plate on the outer peripheral surface, a radial bearing portion that forms a fluid layer around the rotary spindle and supports the fluid, a plate storage space for storing the thrust plate, and the plate storage A spindle housing having a thrust bearing portion having a plurality of fluid supply holes respectively opening in a plurality of regions of the space, a wheel mount provided at the lower end of the rotary spindle, and a grinding wheel attached to the wheel mount; Fluid supply means for supplying fluid to the plurality of regions of the plate storage chamber of the plate storage chamber through the plurality of fluid supply holes of the radial bearing portion and the thrust bearing portion;
The fluid supply means includes support stiffness adjusting means for adjusting a support stiffness of the thrust plate by adjusting a supply region of fluid supplied to the plate housing chamber through the plurality of fluid supply holes.
A grinding device is provided.
上記支持剛性調整手段は、該複数の流体供給孔に供給する流体を選択する選択手段を備えている。 The support rigidity adjusting means includes selection means for selecting a fluid to be supplied to the plurality of fluid supply holes.
また、本発明によれば、被加工物を保持する保持面を有するチャックテーブルを備えたチャックテーブル機構と、該チャックテーブルの該保持面に保持された被加工物を研削するための研削手段と、該研削手段を該チャックテーブルの該保持面に垂直な方向に研削送りする研削送り手段とを具備する研削装置において、
該チャックテーブル機構は、該チャックテーブルに上端が連結され外周面にスラストプレートが設けられた回転スピンドルと、該回転スピンドルの周囲に流体層を形成して流体支持するラジアル軸受部および該スラストプレートを収容するプレート収容空間と該プレート収容空間の複数の領域にそれぞれ開口する複数の流体供給孔を有するスラスト軸受部を備えたスピンドルハウジングと、該ラジアル軸受部および該スラスト軸受部の該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室の該複数の領域に流体を供給する流体供給手段を具備しており、
該流体供給手段は、該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し該スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えている、
ことを特徴とする研削装置が提供される。
In addition, according to the present invention, a chuck table mechanism including a chuck table having a holding surface for holding a workpiece, and a grinding means for grinding the workpiece held on the holding surface of the chuck table; A grinding apparatus comprising a grinding feed means for grinding and feeding the grinding means in a direction perpendicular to the holding surface of the chuck table,
The chuck table mechanism includes a rotary spindle having an upper end coupled to the chuck table and a thrust plate provided on an outer peripheral surface, a radial bearing portion that forms a fluid layer around the rotary spindle and supports the fluid, and the thrust plate. A spindle housing having a thrust housing portion having a plate housing space to be accommodated and a plurality of fluid supply holes that open to a plurality of regions of the plate housing space, the radial bearing portion, and the plurality of fluid supplies of the thrust bearing portion Fluid supply means for supplying fluid to the plurality of regions of the plate storage chamber through holes;
The fluid supply means includes support stiffness adjusting means for adjusting a support stiffness of the thrust plate by adjusting a supply region of fluid supplied to the plate housing chamber through the plurality of fluid supply holes.
A grinding device is provided.
上記支持剛性調整手段は、該複数の流体供給孔に供給する流体を選択する選択手段を備えている。 The support rigidity adjusting means includes selection means for selecting a fluid to be supplied to the plurality of fluid supply holes.
更に、本発明によれば、被加工物を保持する保持面を有するチャックテーブルを備えたチャックテーブル機構と、該チャックテーブルの該保持面に保持された被加工物を研削するための研削手段と、該研削手段を該チャックテーブルの該保持面に垂直な方向に研削送りする研削送り手段とを具備する研削装置において、
該研削手段は、外周面にスラストプレートが設けられた回転スピンドルと、該回転スピンドルの周囲に流体層を形成して流体支持するラジアル軸受部および該スラストプレートを収容するプレート収容空間と該プレート収容空間の複数の領域にそれぞれ開口する複数の流体供給孔を有するスラスト軸受部を備えたスピンドルハウジングと、該回転スピンドルの下端に設けられたホイールマウントと、該ホイールマウントに取り付けられた研削ホイールと、該ラジアル軸受部および該スラスト軸受部の該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室の該複数の領域に流体を供給する流体供給手段を具備し、該流体供給手段は該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し該スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えており、
該チャックテーブル機構は、該チャックテーブルに上端が連結され外周面にスラストプレートが設けられた回転スピンドルと、該回転スピンドルの周囲に流体層を形成して流体支持するラジアル軸受部および該スラストプレートを収容するプレート収容空間と該プレート収容空間の複数の領域にそれぞれ開口する複数の流体供給孔を有するスラスト軸受部を備えたスピンドルハウジングと、該ラジアル軸受部および該スラスト軸受部の該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室の該複数の領域に流体を供給する流体供給手段を具備し、該流体供給手段は該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し該スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えている、
ことを特徴とする研削装置が提供される。
Furthermore, according to the present invention, a chuck table mechanism having a chuck table having a holding surface for holding a workpiece, and a grinding means for grinding the workpiece held on the holding surface of the chuck table; A grinding apparatus comprising a grinding feed means for grinding and feeding the grinding means in a direction perpendicular to the holding surface of the chuck table,
The grinding means includes a rotary spindle provided with a thrust plate on the outer peripheral surface, a radial bearing portion that forms a fluid layer around the rotary spindle and supports the fluid, a plate storage space for storing the thrust plate, and the plate storage A spindle housing having a thrust bearing portion having a plurality of fluid supply holes respectively opening in a plurality of regions of the space, a wheel mount provided at the lower end of the rotary spindle, and a grinding wheel attached to the wheel mount; Fluid supply means for supplying fluid to the plurality of regions of the plate housing chamber through the plurality of fluid supply holes of the radial bearing portion and the thrust bearing portion is provided, and the fluid supply means passes through the plurality of fluid supply holes. Adjusting the supply area of the fluid supplied to the plate storage chamber and adjusting the support rigidity of the thrust plate Comprises a supporting rigidity adjusting means that,
The chuck table mechanism includes a rotary spindle having an upper end coupled to the chuck table and a thrust plate provided on an outer peripheral surface, a radial bearing portion that forms a fluid layer around the rotary spindle and supports the fluid, and the thrust plate. A spindle housing having a thrust housing portion having a plate housing space to be accommodated and a plurality of fluid supply holes that open to a plurality of regions of the plate housing space, the radial bearing portion, and the plurality of fluid supplies of the thrust bearing portion Fluid supply means for supplying fluid to the plurality of regions of the plate storage chamber through holes, the fluid supply means adjusting the supply region of fluid supplied to the plate storage chamber through the plurality of fluid supply holes; A support stiffness adjusting means for adjusting the support stiffness of the thrust plate is provided.
A grinding device is provided.
本発明による研削装置は、研削手段の回転スピンドルを流体支持するスピンドルハウジングに形成され回転スピンドルに設けられたスラストプレートを収容するプレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し、スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えているので、被加工物であるウエーハの基板を形成する材料に対応して上記支持剛性を調整することができるため、チャックテーブルに保持されたウエーハを常に良好に研削することができる。
また、本発明による研削装置は、チャックテーブル機構のチャックテーブルに連結された回転スピンドルを流体支持するスピンドルハウジングに形成され回転スピンドルに設けられたスラストプレートを収容するプレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し、スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えているので、被加工物であるウエーハの基板を形成する材料に対応して上記支持剛性を調整することができるため、チャックテーブルに保持されたウエーハを常に良好に研削することができる。
A grinding apparatus according to the present invention adjusts a supply area of a fluid supplied to a plate housing chamber that is formed in a spindle housing that fluidly supports a rotating spindle of a grinding means and that is provided on the rotating spindle, and supports the thrust plate. Since the supporting rigidity adjusting means for adjusting the rigidity is provided, the supporting rigidity can be adjusted in accordance with the material forming the substrate of the wafer as the workpiece, so that the wafer held on the chuck table is always kept. It can be ground well.
Further, the grinding apparatus according to the present invention supplies a fluid to be supplied to a plate housing chamber that is formed in a spindle housing that fluidly supports a rotating spindle connected to the chuck table of the chuck table mechanism and accommodates a thrust plate provided on the rotating spindle. Since the support rigidity adjusting means for adjusting the region and adjusting the support rigidity of the thrust plate is provided, the support rigidity can be adjusted in accordance with the material forming the wafer substrate that is the workpiece. The wafer held on the chuck table can always be ground well.
以下、本発明に従って構成された研削装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して更に詳細に説明する。
図1には、本発明に従って構成された研削装置の斜視図が示されている。図1に示す研削装置は、全体を番号2で示す装置ハウジングを具備している。この装置ハウジング2は、細長く延在する直方体形状の主部21と、該主部21の後端部(図1において右上端)に設けられ実質上鉛直に上方に延びる直立壁22とを有している。直立壁22の前面には、上下方向に延びる一対の案内レール221、221が設けられている。この一対の案内レール221、221に研削手段としての研削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されている。
Preferred embodiments of a grinding apparatus constructed according to the present invention will be described below in more detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 shows a perspective view of a grinding apparatus constructed in accordance with the present invention. The grinding apparatus shown in FIG. 1 is provided with an apparatus housing generally indicated by
研削ユニット3は、移動基台31と該移動基台31に装着されたスピンドルユニット4を具備している。移動基台31は、後面両側に上下方向に延びる一対の脚部311、311が設けられており、この一対の脚部311、311に上記一対の案内レール221、221と摺動可能に係合する被案内溝312、312が形成されている。このように直立壁22に設けられた一対の案内レール221、221に摺動可能に装着された移動基台31の前面には前方に突出した支持部313が設けられている。この支持部313にスピンドルユニット4が取り付けられる。
The
スピンドルユニット4は、支持部313に装着された円筒状のスピンドルハウジング41と、該スピンドルハウジング41に回転自在に配設された回転スピンドル42とを具備している。このスピンドルユニット4について、図2を参照して説明する。図2に示す回転スピンドル42は、外周面に径方向に突出するスラストプレート421が設けられており、その下端部がスピンドルハウジング41の下端より下方に突出して配設されている。この回転スピンドル42の下端にはホイールマウント43が設けられており、該ホイールマウント43の下面に研削ホイール44が取付けられる。研削ホイール44は、円環状のホイール基台441と該ホイール基台441の下面に装着される複数の研削砥石442とからなっており、ホイール基台441がホイールマウント43の下面に締結ボルト45によって取付けられる。
The
上記回転スピンドル42を回転自在に支持する円筒状のスピンドルハウジング41は、軸方向に貫通する軸穴411を備えている。このスピンドルハウジング41に形成された軸穴411を挿通して上記回転スピンドル42が配設される。スピンドルハウジング41に形成された軸穴411の中央部内周面には、軸方向に所定の間隔を置いて複数の環状の流体供給溝412a、412b、412c、412d、412eが形成されている。また、スピンドルハウジング41には、複数の環状の流体供給溝412a、412b、412c、412d、412eにそれぞれ開口する複数の流体供給孔413a、413b、413c、413d、413eと、該流体供給孔413a、413b、413c、413d、413eと連通する連通路414が形成されている。この連通路414が後述する流体供給手段に接続されている。従って、後述する流体供給手段によって高圧エアー、高圧水、高圧オイル等の高圧流体を供給することにより、連通路414および複数の流体供給孔413a、413b、413c、413d、413eを介して複数の環状の流体供給溝412a、412b、412c、412d、412eに高圧流体が供給される。この結果、スピンドルハウジング41の軸穴411の内周面と回転スピンドル42の外周面との間には高圧流体によって流体層が形成され、回転スピンドル42は流体層によって回転自在に流体支持される。従って、スピンドルハウジング41の軸穴411の内周面と複数の環状の流体供給溝412a、412b、412c、412d、412eおよび複数の流体供給孔413a、413b、413c、413d、413eは、回転スピンドル42を回転自在に流体支持するラジアル軸受部として機能する。
A
上記スピンドルハウジング41の下部には回転スピンドル42に設けられたスラストプレート421を収容するプレート収容室415が形成されている。このプレート収容室415を形成する上壁415aには、軸穴411を中心として径が異なる複数の環状の流体供給溝416a、416b、416cが径方向に所定の間隔を置いて形成されており、この複数の環状の流体供給溝416a、416b、416cによって複数の領域が区画されている。また、プレート収容室415を形成する下壁415bには、軸穴411を中心として径が異なる複数の環状の流体供給溝417a、417b、417cが径方向に所定の間隔を置いて形成されおり、この複数の環状の流体供給溝417a、417b、417cによって複数の領域が区画されている。また、スピンドルハウジング41には、複数の環状の流体供給溝416a、416b、416cおよび417a、417b、417cにそれぞれ開口する複数の流体供給孔418a、418b、418cと、該複数の流体供給孔418a、418b、418cとそれぞれ連通する複数の連通路419a、419b、419cが形成されている。この複数の連通路419a、419b、419cが後述する流体供給手段に接続されている。従って、後述する流体供給手段によって高圧エアー、高圧水、高圧オイル等の高圧流体を供給することにより、複数の連通路419a、419b、419cと複数の流体供給孔418a、418b、418cと複数の環状の流体供給溝416a、416b、416cおよび417a、417b、417cを介して高圧流体がプレート収容室415に供給される。この結果、プレート収容室415の上壁415aおよび下壁415bとスラストプレート421との間に高圧流体によって流体層が形成され、スラストプレート421は流体層によって流体支持される。従って、プレート収容室415と複数の環状の流体供給溝416a、416b、416cおよび417a、417b、417cと複数の流体供給孔418a、418b、418cは、スラストプレート421を軸方向に対して流体支持するスラスト軸受部として機能する。
A
図示の実施形態におけるスピンドルユニット4は、上記回転スピンドル42を回転駆動するための電動モータ46を備えている。図示の電動モータ46は、永久磁石式モータによって構成されている。永久磁石式の電動モータ46は、回転スピンドル42の上端部に形成されたモータ装着部422に装着された永久磁石からなるロータ461と、該ロータ461の外周側においてスピンドルハウジング41に配設されたステータコイル462とからなっている。このように構成された電動モータ46は、ステータコイル462に交流電力を印加することによりロータ461が回転し、該ロータ461を装着した回転スピンドル42を回転せしめる。
The
図2を参照して説明を続けると、図示の実施形態における研削手段としての研削ユニット3は、上記ラジアル軸受部およびスラスト軸受部に流体を供給する流体供給手段47を具備している。流体供給手段47は、高圧エアー、高圧水、高圧オイル等の高圧流体源471と、該高圧流体源471と上記スピンドルハウジング41に形成された連通路414とを接続するラジアル軸受配管472と、高圧流体源471と上記スピンドルハウジング41に形成された連通路419a、419b、419cとをそれぞれ接続するスラスト軸受配管473a、473b、473cと、ラジアル軸受配管472に配設された電磁開閉弁474およびスラスト軸受配管473a、473b、473cにそれぞれ配設された電磁開閉弁475a、475b、475cとからなっており、電磁開閉弁474および電磁開閉弁475a、475b、475cは図示しない制御手段によって制御される。なお、上記電磁開閉弁474および475a、475b、475cは、図示の実施形態においては除勢(OFF)されている状態においては閉路しており、附勢(ON)されると開路するように構成されている。
Continuing with reference to FIG. 2, the grinding
図示の実施形態における流体供給手段47は以上のように構成されており、電磁開閉弁474が附勢(ON)されると、高圧流体源471の高圧流体がラジアル軸受配管472と上記連通路414および複数の流体供給孔413a、413b、413c、413d、413eを介して複数の環状の流体供給溝412a、412b、412c、412d、412eからスピンドルハウジング41の軸穴411の内周面と回転スピンドル42との間に供給される。この結果、スピンドルハウジング41の軸穴411の内周面と回転スピンドル42の外周面との間に流体層が形成され、この流体層によって回転スピンドル42は回転自在に流体支持される。また、上記電磁開閉弁475a、475b、475cが附勢(ON)されると、高圧流体源461の高圧流体がスラスト軸受配管473a、473b、473cと上記複数の連通路419a、419b、419cと複数の流体供給孔418a、418b、418cを介して複数の環状の流体供給溝416a、416b、416cおよび417a、417b、417cからプレート収容室415に供給される。この結果、プレート収容室415の上壁415aおよび下壁415bとスラストプレート421との間に供給される高圧流体によって流体層が形成され、この流体層によってプレート収容室415に収容されたスラストプレート421は軸方向に対して流体支持される。なお、上記スラスト軸受配管473a、473b、473cにそれぞれ配設された電磁開閉弁475a、475b、475cを選択して附勢(ON)することにより、プレート収容室415に供給する流体の供給領域を調整し、スラストプレート421の支持剛性を調整することができる。従って、スラスト軸受配管473a、473b、473cおよび該スラスト軸受配管473a、473b、473cにそれぞれ配設された電磁開閉弁475a、475b、475cは、スラストプレート421の支持剛性を調整する支持剛性調整手段として機能する。また、支持剛性調整手段を構成する上記電磁開閉弁475a、475b、475cは、複数の流体供給孔418a、418b、418cに供給する流体を選択する選択手段として機能する。
The fluid supply means 47 in the illustrated embodiment is configured as described above. When the electromagnetic on-off
なお、上述した実施形態においては、複数の流体供給孔418a、418b、418cを介してプレート収容室415を形成する上壁415aに形成された複数の環状の流体供給溝416a、416b、416cおよびプレート収容室415を形成する下壁415bに形成された複数の環状の流体供給溝417a、417b、417cに高圧流体を供給する例を示したが、プレート収容室415を形成する上壁415aに形成された複数の環状の流体供給溝416a、416b、416cとプレート収容室415を形成する下壁415bに形成された複数の環状の流体供給溝417a、417b、417cにそれぞれ独立した流体供給孔を接続し、この独立した流体供給孔に供給する流体を選択するようにしてもよい。このように構成することにより、スラストプレート421の上側に作用する高圧流体による支持剛性と、スラストプレート421の下側に作用する高圧流体による支持剛性を変更することができる。
In the above-described embodiment, the plurality of annular
図1に戻って説明を続けると、図示の実施形態における研削装置は、上記研削ユニット3を上記一対の案内レール221、221に沿って上下方向(後述するチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向)に移動せしめる研削送り手段5を備えている。この研削送り手段5は、直立壁22の前側に配設され実質上鉛直に延びる雄ねじロッド51を具備している。この雄ねじロッド51は、その上端部および下端部が直立壁22に取り付けられた軸受部材52および53によって回転自在に支持されている。上側の軸受部材52には雄ねじロッド51を回転駆動するための駆動源としてのパルスモータ54が配設されており、このパルスモータ54の出力軸が雄ねじロッド51に伝動連結されている。移動基台31の後面にはその幅方向中央部から後方に突出する連結部(図示していない)も形成されており、この連結部には鉛直方向に延びる貫通雌ねじ穴(図示していない)が形成されており、この雌ねじ穴に上記雄ねじロッド51が螺合せしめられている。従って、パルスモータ54が正転すると移動基台31即ち研削ユニット3が下降即ち前進せしめられ、パルスモータ54が逆転すると移動基台31即ち研削ユニット3が上昇即ち後退せしめられる。
Referring back to FIG. 1, the grinding apparatus in the illustrated embodiment moves the grinding
図1を参照して説明を続けると、ハウジング2の主部21にはチャックテーブル機構6が配設されている。チャックテーブル機構6は、チャックテーブル61と、該チャックテーブル61の周囲を覆うカバー部材62と、該カバー部材62の前後に配設された蛇腹手段63および64を具備している。チャックテーブル62は、後述するスピンドルユニットによって回転せしめられるようになっており、その上面に被加工物であるウエーハを後述する吸引手段を作動することにより吸引保持するように構成されている。また、チャックテーブル61は、後述するチャックテーブル移動手段によって図1に示す被加工物載置域24と上記研削ユニット3のスピンドルユニット4を構成する研削ホイール44と対向する研削域25との間で移動せしめられる。蛇腹手段63および64はキャンパス布の如き適宜の材料から形成することができる。蛇腹手段63の前端は主部21の前面壁に固定され、後端はカバー部材62の前端面に固定されている。また、蛇腹手段64の前端はカバー部材62の後端面に固定され、後端は装置ハウジング2の直立壁22の前面に固定されている。チャックテーブル61が矢印23aで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段63が伸張されて蛇腹手段64が収縮され、チャックテーブル612が矢印23bで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段63が収縮されて蛇腹手段64が伸張せしめられる。
Continuing the description with reference to FIG. 1, the
次に、上記チャックテーブル61および該チャックテーブル61を回転駆動するためのスピンドルユニット7について、図3を参照して説明する。
図3に示すチャックテーブル61は、チャックテーブル本体611と、該チャックテーブル本体611の上面に配設された吸着保持チャック612とからなっている。チャックテーブル本体611は、ステンレス鋼等の金属材によって円板状に形成されており、上面に円形の嵌合凹部611aが形成されており、この嵌合凹部611aの底面外周部に環状の載置棚611bが設けられている。そして、嵌合凹部611aに無数の吸引孔を備えたポーラスなセラミックス等からなる多孔性部材によって形成された吸着保持チャック612が嵌合される。このようにチャックテーブル本体611に形成された嵌合凹部611aに嵌合された吸着保持チャック612は、上面が被加工物を吸引保持する保持面として機能する。また、チャックテーブル本体611の中心部には、嵌合凹部611aに連通する吸引通路611cが形成されている。この吸引通路611cは、後述する吸引手段に接続される。
Next, the chuck table 61 and the
The chuck table 61 shown in FIG. 3 includes a chuck table
図3を参照して説明を続けると、チャックテーブル61を回転駆動するためのスピンドルユニット7は、チャックテーブル61の下側に配設された円筒状のスピンドルハウジング71と、該スピンドルハウジング71に回転自在に配設された回転スピンドル72とを具備している。回転スピンドル72は、外周面に径方向に突出するスラストプレート721が設けられており、その上端部がスピンドルハウジング71の上端より上方に突出して配設されている。この回転スピンドル72の上端に上記チャックテーブル61の下面が接合される。回転スピンドル72の中心部には軸方向に延びる連通路722が形成されており、この連通路722の上端が上記チャックテーブル61のチャックテーブル本体611に形成された吸引通路611cと連通するようになっている。このように構成された回転スピンドル72の下端部は上記スピンドルハウジング71の下端より下方に突出して配設されており、回転スピンドル72の下端部には上記連通路722の下端と連通するロータリージョイント73が装着されている。なお、ロータリージョイント73に形成された通路731は、吸引手段74に接続されている。吸引手段74は、吸引源741と、該吸引源741とロータリージョイント73に形成された通路731とを接続する吸引配管742と、該吸引配管742に配設された電磁開閉弁743とからなっており、電磁開閉弁743は図示しない制御手段によって制御される。なお、上記電磁開閉弁743は、図示の実施形態においては除勢(OFF)されている状態においては閉路しており、附勢(ON)されると開路するように構成されている。従って、電磁開閉弁743が附勢(ON)されると、吸引源741から吸引配管742、ロータリージョイント73に形成された通路731、連通路722、吸引通路611c、嵌合凹部611aを介して吸着保持チャック612の上面である保持面に負圧が作用せしめられる。
3, the
次に、上記回転スピンドル72を回転自在に支持する円筒状のスピンドルハウジング71について説明する。図3に示すスピンドルハウジング71は、軸方向に貫通する軸穴711を備えている。このスピンドルハウジング71に形成された軸穴711を挿通して上記回転スピンドル72が配設される。スピンドルハウジング71に形成された軸穴711の中央部内周面には、軸方向に所定の間隔を置いて複数の環状の流体供給溝712a、712b、712c、712d、712eが形成されている。また、スピンドルハウジング71には、複数の環状の流体供給溝712a、712b、712c、712d、712eにそれぞれ開口する複数の流体供給孔713a、713b、713c、713d、713eと、該複数の流体供給孔713a、713b、713c、713d、713eと連通する連通路714が形成されている。この連通路714が後述する流体供給手段に接続されている。従って、後述する流体供給手段によって高圧エアー、高圧水、高圧オイル等の高圧流体を供給することにより、連通路714および複数の流体供給孔713a、713b、713c、713d、713eを介して複数の環状の流体供給溝712a、712b、712c、712d、712eに高圧流体が供給される。この結果、スピンドルハウジング71の軸穴711の内周面と回転スピンドル72の外周面との間には高圧流体によって流体層が形成され、回転スピンドル72は流体層によって回転自在に流体支持される。従って、スピンドルハウジング71の軸穴711の内周面と複数の環状の流体供給溝712a、712b、712c、712d、712eおよび複数の流体供給孔713a、713b、713c、713d、713eは、回転スピンドル72を回転自在に流体支持するラジアル軸受部として機能する。
Next, a
上記スピンドルハウジング71の上部には回転スピンドル72に設けられたスラストプレート721を収容するプレート収容室715が形成されている。このプレート収容室715を形成する上壁715aには、軸穴711を中心として径が異なる複数の環状の流体供給溝716a、716b、716cが径方向に所定の間隔を置いて形成されており、この複数の環状の流体供給溝716a、716b、716cによって複数の領域が区画されている。また、プレート収容室715を形成する下壁715bには、軸穴711を中心として径が異なる複数の環状の流体供給溝717a、717b、717cが径方向に所定の間隔を置いて形成されており、この複数の環状の流体供給溝717a、717b、717cによって複数の領域が区画されている。また、スピンドルハウジング71には、複数の環状の流体供給溝716a、716b、716cおよび717a、717b、717cにそれぞれ開口する複数の流体供給孔718a、718b、718cと、該複数の流体供給孔718a、718b、718cとそれぞれ連通する複数の連通路719a、719b、719cが形成されている。この複数の連通路719a、719b、719cが後述する流体供給手段に接続されている。従って、後述する流体供給手段によって高圧エアー、高圧水、高圧オイル等の高圧流体を供給することにより、複数の連通路719a、719b、719cと複数の流体供給孔718a、718b、718cと複数の環状の流体供給溝716a、716b、716cおよび717a、717b、717cを介してに高圧流体がプレート収容室715に供給される。この結果、プレート収容室715の上壁715aおよび下壁715bとスラストプレート721との間に高圧流体によって流体層が形成され、スラストプレート721は流体層によって流体支持される。従って、プレート収容室715と複数の環状の流体供給溝716a、716b、716cおよび717a、717b、717cと複数の流体供給孔718a、718b、718cは、スラストプレート721を軸方向に対して流体支持するスラスト軸受部として機能する。
A
図示の実施形態におけるスピンドルユニット7は、上記回転スピンドル72を回転駆動するための電動モータ75を備えている。図示の電動モータ75は、永久磁石式モータによって構成されている。永久磁石式の電動モータ75は、回転スピンドル72の上端部に形成されたモータ装着部723に装着された永久磁石からなるロータ751と、該ロータ751の外周側においてスピンドルハウジング71に配設されたステータコイル752とからなっている。このように構成された電動モータ75は、ステータコイル752に交流電力を印加することによりロータ751が回転し、該ロータ751を装着した回転スピンドル72を回転せしめる。
The
図3を参照して説明を続けると、図示の実施形態におけるチャックテーブル機構6は、上記ラジアル軸受部およびスラスト軸受部に流体を供給する流体供給手段76を具備している。流体供給手段76は、高圧エアー、高圧水、高圧オイル等の高圧流体源761と、該高圧流体源761と上記スピンドルハウジング71に形成された連通路714とを接続するラジアル軸受配管762と、高圧流体源761と上記スピンドルハウジング71に形成された連通路719a、719b、719cとをそれぞれ接続するスラスト軸受配管763a、763b、763cと、ラジアル軸受配管762に配設された電磁開閉弁764およびスラスト軸受配管763a、763b、763cにそれぞれ配設された電磁開閉弁765a、765b、765cとからなっており、電磁開閉弁764および電磁開閉弁765a、765b、765cは図示しない制御手段によって制御される。なお、上記電磁開閉弁764および765a、765b、765cは、図示の実施形態においては除勢(OFF)されている状態においては閉路しており、附勢(ON)されると開路するように構成されている。
Continuing with reference to FIG. 3, the
図示の実施形態における流体供給手段76は以上のように構成されており、電磁開閉弁764が附勢(ON)されると、高圧流体源761の高圧流体がラジアル軸受配管762と上記連通路714および複数の流体供給孔713a、713b、713c、713d、713eを介して複数の環状の流体供給溝712a、712b、712c、712d、712eからスピンドルハウジング71の軸穴711の内周面と回転スピンドル72との間に供給される。この結果、スピンドルハウジング71の軸穴711の内周面と回転スピンドル72の外周面との間に流体層が形成され、この流体層によって回転スピンドル72は回転自在に流体支持される。また、上記電磁開閉弁765a、765b、765cが附勢(ON)されると、高圧流体源761の高圧流体がスラスト軸受配管763a、763b、763cと上記複数の連通路719a、719b、719cと複数の流体供給孔718a、718b、718cを介して複数の環状の流体供給溝716a、716b、716cおよび717a、717b、717cからプレート収容室715に供給される。この結果、プレート収容室715の上壁715aおよび下壁715bとスラストプレート721との間に供給される高圧流体によって流体層が形成され、この流体層によってプレート収容室715に収容されたスラストプレート721は軸方向に対して流体支持される。なお、上記スラスト軸受配管763a、763b、763cにそれぞれ配設された電磁開閉弁765a、765b、765cを選択して附勢(ON)することにより、プレート収容室715に供給する流体の供給領域を調整し、スラストプレート721の支持剛性を調整することができる。従って、スラスト軸受配管763a、763b、763cおよび該スラスト軸受配管763a、763b、763cにそれぞれ配設された電磁開閉弁765a、765b、765cは、スラストプレート721の支持剛性を調整する支持剛性調整手段として機能する。また、支持剛性調整手段を構成する上記電磁開閉弁765a、765b、765cは、複数の流体供給孔718a、718b、718cに供給する流体を選択する選択手段として機能する。
The fluid supply means 76 in the illustrated embodiment is configured as described above. When the electromagnetic on-off
なお、上述した実施形態においては、複数の流体供給孔718a、718b、718cを介してプレート収容室715を形成する上壁715aに形成された複数の環状の流体供給溝716a、716b、716cおよびプレート収容室715を形成する下壁715bに形成された複数の環状の流体供給溝717a、717b、717cに高圧流体を供給する例を示したが、プレート収容室715を形成する上壁715aに形成された複数の環状の流体供給溝716a、716b、716cとプレート収容室715を形成する下壁715bに形成された複数の環状の流体供給溝717a、717b、717cにそれぞれ独立した流体供給孔を接続し、この独立した流体供給孔に供給する流体を選択するようにしてもよい。このように構成することにより、スラストプレート721の上側に作用する高圧流体による支持剛性と、スラストプレート721の下側に作用する高圧流体による支持剛性を変更することができる。
In the above-described embodiment, the plurality of annular
図示の実施形態におけるチャックテーブル機構6は、上記チャックテーブル61を図1に示す被加工物載置域24と上記研削ユニット3のスピンドルユニット4を構成する研削ホイール44と対向する研削域25との間で移動せしめるための図4に示すチャックテーブル移動手段8を具備している。図4に示すチャックテーブル移動手段8は、上記スピンドルユニット7を支持する支持台81と、該支持台81を摺動可能に支持する一対の案内レール82、82を具備している。一対の案内レール82、82は、上記ハウジング2の主部21上に前後方向(直立壁22の前面に垂直な方向)である矢印23aおよび23bで示す方向に向けて配設されている。この一対の案内レール82、82に摺動可能に載置される支持台81は、移動機構83によって図4において実線で示す被加工物載置域(図1に示す被加工物載置域24)と図4において2点鎖線で示す研削域(図1に示す研削域25)との間で移動せしめられる。移動機構83は、一対の案内レール82、82間に配設され案内レール82、82と平行に延びる雄ねじロッド831と、該雄ねじロッド831を回転駆動するサーボモータ832を具備している。雄ねじロッド831は、上記支持基台81に設けられたネジ穴811と螺合して、その先端部が一対の案内レール82、82を連結して取り付けられた軸受部材833によって回転自在に支持されている。サーボモータ832は、その駆動軸が雄ねじロッド831の基端と伝動連結されている。従って、サーボモータ832が正転すると支持基台81即ちチャックテーブル61が矢印23aで示す方向に移動し、サーボモータ832が逆転すると支持基台81即ちチャックテーブル61が矢印23bで示す方向に移動せしめられる。
The
図示の実施形態における研削装置は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
図1に示すように研削装置の被加工物載置域24に位置付けられているチャックテーブル61の上面である保持面上に被加工物としてのウエーハWを載置する。なお、ウエーハWにはデバイスが形成された表面にデバイスを保護するための保護テープTが貼着されており、この保護テープT側をチャックテーブル61の上面に載置する。このようにしてチャックテーブル61上に被加工物としてのウエーハWを載置したならば、上記図3に示すチャックテーブル機構6の吸引手段74を構成する電磁開閉弁743を附勢(ON)する。この結果、上述したように吸引源741から吸引配管742、ロータリージョイント73に形成された通路731、連通路722、吸引通路611c、嵌合凹部611aを介して吸着保持チャック612の上面である保持面に負圧が作用せしめられ、チャックテーブル61上に保護テープTを介して載置されたウエーハWが吸引保持される。このようにして、チャックテーブル61上にウエーハWを吸引保持したならば、上記図4に示すチャックテーブル移動手段8の移動機構83を作動してチャックテーブル62を矢印23aで示す方向に移動し研削域25に位置付ける。
The grinding apparatus in the illustrated embodiment is configured as described above, and the operation thereof will be described below.
As shown in FIG. 1, a wafer W as a workpiece is placed on a holding surface which is an upper surface of a chuck table 61 positioned in a
このようにチャックテーブル61が研削域25に位置付けられたならば、チャックテーブル機構6のスピンドルユニット7を構成する電動モータ75を駆動して回転スピンドル72を回転しチャックテーブル61を所定の方向に例えば300rpmの回転速度で回転するとともに、研削ユニット3のスピンドルユニット4を構成する電動モータ46を駆動して回転スピンドル42を回転し研削ホイール44を所定の方向に例えば6000rpmの回転速度で回転する。このとき、チャックテーブル機構6の流体供給手段76を構成するラジアル軸受配管762に配設された電磁開閉弁764を附勢(ON)して上述したようにスピンドルハウジング71の軸穴711の内周面と回転スピンドル72の外周面との間に流体層を形成し回転スピンドル72を回転自在に流体支持するとともに、スラスト軸受配管763a、763b、763cにそれぞれ配設された電磁開閉弁765a、765b、765cを附勢(ON)して上述したようにプレート収容室715の上壁715aおよび下壁715bとスラストプレート721との間に流体層を形成しプレート収容室715に収容されたスラストプレート721を軸方向に対して流体支持する。なお、スラストプレート721を流体支持する支持剛性は、被加工物であるウエーハWの基板を形成する材料によって調整する。例えば、ウエーハWの基板がサファイヤによって形成されている場合には、上記流体供給手段76を構成する電磁開閉弁765aと765bを附勢(ON)してスラスト軸受配管763aと763bを通して高圧流体をプレート収容室714に流入せしめる。一方、ウエーハWの基板が炭化珪素(SiC)によって形成されている場合には、上記流体供給手段76を構成する電磁開閉弁765a、765b、765cを附勢(ON)してスラスト軸受配管763a、763b、763cを通して高圧流体をプレート収容室714に流入せしめることにより支持剛性を高める。
When the chuck table 61 is positioned in the grinding
また、研削ユニット3のスピンドルユニット4を構成する電動モータ46を駆動して回転スピンドル42を回転し研削ホイール44を回転する際には、研削ユニット3の流体供給手段47を構成するラジアル軸受配管472に配設された電磁開閉弁474を附勢(ON)して上述したようにスピンドルハウジング41の軸穴411の内周面と回転スピンドル42の外周面との間に流体層を形成して回転スピンドル42を回転自在に流体支持するとともに、スラスト軸受配管473a、473b、473cにそれぞれ配設された電磁開閉弁475a、475b、475cを附勢(ON)して上述したようにプレート収容室415の上壁415aおよび下壁415bとスラストプレート421との間に流体層を形成しプレート収容室415に収容されたスラストプレート421を軸方向に対して流体支持する。なお、スラストプレート421を流体支持する支持剛性は、被加工物であるウエーハWの基板を形成する材料によって調整する。例えば、ウエーハWの基板がサファイヤによって形成されている場合には、上記流体供給手段47を構成する電磁開閉弁475aと475bを附勢(ON)してスラスト軸受配管473aと473bを通して高圧流体をプレート収容室415に流入せしめる。一方、ウエーハWの基板が炭化珪素(SiC)によって形成されている場合には、上記流体供給手段47を構成する電磁開閉弁475a、475b、475cを附勢(ON)してスラスト軸受配管473a、473b、473cを通して高圧流体をプレート収容室415に流入せしめることにより支持剛性を高める。
Further, when the
上述したチャックテーブル機構6のスピンドルユニット7を構成するプレート収容室715に収容されたスラストプレート721の軸方向に対する支持剛性および研削ユニット3のスピンドルユニット4を構成するプレート収容室415に収容されたスラストプレート421の軸方向に対する支持剛性の調整は、いずれか一方のみでもよい。例えば、チャックテーブル機構6においては流体供給手段76を構成する電磁開閉弁765a、765b、765cを附勢(ON)してスラスト軸受配管763a、763b、763cを通して高圧流体をプレート収容室715に流入せしめることによりスラストプレート721の支持剛性を高めた状態に維持し、研削ユニット3において被加工物であるウエーハWの基板を形成する材料に対応して流体供給手段47を構成する電磁開閉弁475a、475b、475cを選択して附勢(ON)することによりスラストプレート421の支持剛性を調整してもよい。また、研削ユニット3においては流体供給手段47を構成する電磁開閉弁475a、475b、475cを附勢(ON)してスラスト軸受配管473a、473b、473cを通して高圧流体をプレート収容室415に流入せしめることによりスラストプレート421の支持剛性を高めた状態に維持し、チャックテーブル機構6において流体供給手段76を構成する電磁開閉弁765a、765b、765cを選択して附勢(ON)することによりスラストプレート721の支持剛性を調整してもよい。
The axial rigidity of the
以上のようにして研削ユニット3のスピンドルユニット4を構成するプレート収容室415に収容されたスラストプレート421の軸方向に対する支持剛性またはチャックテーブル機構6のスピンドルユニット7を構成するプレート収容室715に収容されたスラストプレート721の軸方向に対する支持剛性或いはスラストプレート421およびスラストプレート721の軸方向に対する支持剛性を被加工物であるウエーハWの基板を形成する材料に対応して調整したならば、研削送り手段5のパルスモータ54を正転駆動して研削ユニット3を下降し、研削ホイール44の複数の研削砥石442の研削面をチャックテーブル61に保持されたウエーハWの上面(裏面)に接触させ所定量研削送りする。この結果、チャックテーブル61に保持されたウエーハWは、所定の厚さに研削される。このとき、上述したように研削ユニット3のスピンドルユニット4を構成するプレート収容室415に収容されたスラストプレート421の軸方向に対する支持剛性またはチャックテーブル機構6のスピンドルユニット7を構成するプレート収容室715に収容されたスラストプレート721の軸方向に対する支持剛性或いはスラストプレート421およびスラストプレート721の軸方向に対する支持剛性が被加工物であるウエーハWの基板を形成する材料に対応して調整されているので、チャックテーブル61に保持されたウエーハWは良好に研削される。
As described above, the support rigidity with respect to the axial direction of the
以上、本発明を図示の実施形態に基いて説明したが、本発明は実施形態のみに限定されるものではなく、本発明の趣旨の範囲で種々の変形は可能である。例えば、図示の実施形態においては、研削ユニット3のスピンドルユニット4を構成する回転スピンドル42の軸受機構およびチャックテーブル機構6のスピンドルユニット7を構成する回転スピンドル72の軸受機構をそれぞれ流体軸受機構によって構成にした例を示したが、いずれか一方のみを本発明による流体軸受機構によって構成にしてもよい。
As mentioned above, although this invention was demonstrated based on embodiment of illustration, this invention is not limited only to embodiment, A various deformation | transformation is possible in the range of the meaning of this invention. For example, in the illustrated embodiment, the bearing mechanism of the
2:装置ハウジング
3:研削ユニット
31:移動基台
4:研削ユニットのスピンドルユニット
41:スピンドルハウジング
415:プレート収容室
42:回転スピンドル
421:スラストプレート
43:ホイールマウン
44:研削ホイール
46:電動モータ
47:流体供給手段
471:流体供給手段
472:高圧流体源
473:ラジアル軸受配管
474:電磁開閉弁
475a、475b、475c:電磁開閉弁
5:研削送り手段
6:チャックテーブル機構
61:チャックテーブル
7:チャックテーブル機構のスピンドルユニット
71:スピンドルハウジング
715:プレート収容室
72:回転スピンドル
721:スラストプレート
73:ロータリージョイント
74:吸引手段
741:吸引源
742:吸引配管
743:電磁開閉弁
75:電動モータ
76:流体供給手段
761:流体供給手段
762:高圧流体源
763:ラジアル軸受配管
764:電磁開閉弁
765a、765b、765c:電磁開閉弁
2: Device housing 3: Grinding unit 31: Moving base 4: Spindle unit of grinding unit 41: Spindle housing 415: Plate housing chamber 42: Rotating spindle 421: Thrust plate 43: Wheel mount 44: Grinding wheel 46: Electric motor 47 : Fluid supply means 471: Fluid supply means 472: High pressure fluid source 473: Radial bearing piping 474: Electromagnetic on-off
Claims (5)
該研削手段は、外周面にスラストプレートが設けられた回転スピンドルと、該回転スピンドルの周囲に流体層を形成して流体支持するラジアル軸受部および該スラストプレートを収容するプレート収容空間と該プレート収容空間の複数の領域にそれぞれ開口する複数の流体供給孔を有するスラスト軸受部を備えたスピンドルハウジングと、該回転スピンドルの下端に設けられたホイールマウントと、該ホイールマウントに取り付けられた研削ホイールと、該ラジアル軸受部および該スラスト軸受部の該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室の該プレート収容室の該複数の領域に流体を供給する流体供給手段を具備しており、
該流体供給手段は、該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し該スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えている、
ことを特徴とする研削装置。 A chuck table mechanism having a chuck table having a holding surface for holding a workpiece, a grinding means for grinding the workpiece held on the holding surface of the chuck table, and the grinding means for the chuck table A grinding apparatus comprising a grinding feed means for grinding and feeding in a direction perpendicular to the holding surface of
The grinding means includes a rotary spindle provided with a thrust plate on the outer peripheral surface, a radial bearing portion that forms a fluid layer around the rotary spindle and supports the fluid, a plate storage space for storing the thrust plate, and the plate storage A spindle housing having a thrust bearing portion having a plurality of fluid supply holes respectively opening in a plurality of regions of the space, a wheel mount provided at the lower end of the rotary spindle, and a grinding wheel attached to the wheel mount; Fluid supply means for supplying fluid to the plurality of regions of the plate storage chamber of the plate storage chamber through the plurality of fluid supply holes of the radial bearing portion and the thrust bearing portion;
The fluid supply means includes support stiffness adjusting means for adjusting a support stiffness of the thrust plate by adjusting a supply region of fluid supplied to the plate housing chamber through the plurality of fluid supply holes.
A grinding apparatus characterized by that.
該チャックテーブル機構は、該チャックテーブルに上端が連結され外周面にスラストプレートが設けられた回転スピンドルと、該回転スピンドルの周囲に流体層を形成して流体支持するラジアル軸受部および該スラストプレートを収容するプレート収容空間と該プレート収容空間の複数の領域にそれぞれ開口する複数の流体供給孔を有するスラスト軸受部を備えたスピンドルハウジングと、該ラジアル軸受部および該スラスト軸受部の該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室の該複数の領域に流体を供給する流体供給手段を具備しており、
該流体供給手段は、該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し該スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えている、
ことを特徴とする研削装置。 A chuck table mechanism having a chuck table having a holding surface for holding a workpiece, a grinding means for grinding the workpiece held on the holding surface of the chuck table, and the grinding means for the chuck table A grinding apparatus comprising a grinding feed means for grinding and feeding in a direction perpendicular to the holding surface of
The chuck table mechanism includes a rotary spindle having an upper end coupled to the chuck table and a thrust plate provided on an outer peripheral surface, a radial bearing portion that forms a fluid layer around the rotary spindle and supports the fluid, and the thrust plate. A spindle housing having a thrust housing portion having a plate housing space to be accommodated and a plurality of fluid supply holes that open to a plurality of regions of the plate housing space, the radial bearing portion, and the plurality of fluid supplies of the thrust bearing portion Fluid supply means for supplying fluid to the plurality of regions of the plate storage chamber through holes;
The fluid supply means includes support stiffness adjusting means for adjusting a support stiffness of the thrust plate by adjusting a supply region of fluid supplied to the plate housing chamber through the plurality of fluid supply holes.
A grinding apparatus characterized by that.
該研削手段は、外周面にスラストプレートが設けられた回転スピンドルと、該回転スピンドルの周囲に流体層を形成して流体支持するラジアル軸受部および該スラストプレートを収容するプレート収容空間と該プレート収容空間の複数の領域にそれぞれ開口する複数の流体供給孔を有するスラスト軸受部を備えたスピンドルハウジングと、該回転スピンドルの下端に設けられたホイールマウントと、該ホイールマウントに取り付けられた研削ホイールと、該ラジアル軸受部および該スラスト軸受部の該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室の該複数の領域に流体を供給する流体供給手段を具備し、該流体供給手段は該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し該スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えており、
該チャックテーブル機構は、該チャックテーブルに上端が連結され外周面にスラストプレートが設けられた回転スピンドルと、該回転スピンドルの周囲に流体層を形成して流体支持するラジアル軸受部および該スラストプレートを収容するプレート収容空間と該プレート収容空間の複数の領域にそれぞれ開口する複数の流体供給孔を有するスラスト軸受部を備えたスピンドルハウジングと、該ラジアル軸受部および該スラスト軸受部の該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室の該複数の領域に流体を供給する流体供給手段を具備し、該流体供給手段は該複数の流体供給孔を通して該プレート収容室に供給する流体の供給領域を調整し該スラストプレートの支持剛性を調整する支持剛性調整手段を備えている、
ことを特徴とする研削装置。 A chuck table mechanism having a chuck table having a holding surface for holding a workpiece, a grinding means for grinding the workpiece held on the holding surface of the chuck table, and the grinding means for the chuck table A grinding apparatus comprising a grinding feed means for grinding and feeding in a direction perpendicular to the holding surface of
The grinding means includes a rotary spindle provided with a thrust plate on the outer peripheral surface, a radial bearing portion that forms a fluid layer around the rotary spindle and supports the fluid, a plate storage space for storing the thrust plate, and the plate storage A spindle housing having a thrust bearing portion having a plurality of fluid supply holes respectively opening in a plurality of regions of the space, a wheel mount provided at the lower end of the rotary spindle, and a grinding wheel attached to the wheel mount; Fluid supply means for supplying fluid to the plurality of regions of the plate housing chamber through the plurality of fluid supply holes of the radial bearing portion and the thrust bearing portion is provided, and the fluid supply means passes through the plurality of fluid supply holes. Adjusting the supply area of the fluid supplied to the plate storage chamber and adjusting the support rigidity of the thrust plate Comprises a supporting rigidity adjusting means that,
The chuck table mechanism includes a rotary spindle having an upper end coupled to the chuck table and a thrust plate provided on an outer peripheral surface, a radial bearing portion that forms a fluid layer around the rotary spindle and supports the fluid, and the thrust plate. A spindle housing having a thrust housing portion having a plate housing space to be accommodated and a plurality of fluid supply holes that open to a plurality of regions of the plate housing space, the radial bearing portion, and the plurality of fluid supplies of the thrust bearing portion Fluid supply means for supplying fluid to the plurality of regions of the plate storage chamber through holes, the fluid supply means adjusting the supply region of fluid supplied to the plate storage chamber through the plurality of fluid supply holes; A support stiffness adjusting means for adjusting the support stiffness of the thrust plate is provided.
A grinding apparatus characterized by that.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008101358A JP5123029B2 (en) | 2008-04-09 | 2008-04-09 | Grinding equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008101358A JP5123029B2 (en) | 2008-04-09 | 2008-04-09 | Grinding equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009248267A JP2009248267A (en) | 2009-10-29 |
JP5123029B2 true JP5123029B2 (en) | 2013-01-16 |
Family
ID=41309432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008101358A Active JP5123029B2 (en) | 2008-04-09 | 2008-04-09 | Grinding equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5123029B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5437046B2 (en) * | 2009-12-16 | 2014-03-12 | 株式会社ディスコ | Spindle unit mechanism for mounting rotating tools |
WO2012093422A1 (en) | 2011-01-07 | 2012-07-12 | 坂東機工株式会社 | Method and apparatus for scribing silicon carbide board |
JP6104029B2 (en) * | 2013-04-18 | 2017-03-29 | 株式会社ディスコ | Grinding wheel |
JP2015036179A (en) * | 2013-08-16 | 2015-02-23 | 株式会社ディスコ | Chuck table mechanism |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08276338A (en) * | 1995-04-06 | 1996-10-22 | Nippon Steel Corp | Posture adjusting mechanism of rotary body |
JPH10277897A (en) * | 1997-03-31 | 1998-10-20 | Nippei Toyama Corp | Two-head grinder |
JP2000074066A (en) * | 1998-08-26 | 2000-03-07 | Disco Abrasive Syst Ltd | Rotor supporting device |
JP2002346923A (en) * | 2001-05-29 | 2002-12-04 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Machining device |
JP2004308726A (en) * | 2003-04-04 | 2004-11-04 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Hydrostatic bearing device and double-head grinding device |
JP2005022032A (en) * | 2003-07-02 | 2005-01-27 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Spindle device and double wheel grinding device |
-
2008
- 2008-04-09 JP JP2008101358A patent/JP5123029B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009248267A (en) | 2009-10-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5123029B2 (en) | Grinding equipment | |
CN107639530B (en) | Grinding device | |
JP2010188433A (en) | Machining device with rotary tool | |
JP2008078424A (en) | Cutting device | |
JP4977416B2 (en) | Grinding equipment and grinding wheel | |
JP2009255239A (en) | Spindle unit mechanism mounted with rotary tool | |
JP2012166274A (en) | Polishing apparatus | |
KR20080103315A (en) | A flushing unit for jig of machine tools | |
JP7032217B2 (en) | Polishing equipment | |
JP2007216372A (en) | Ultrasonic excitation unit/ultrasonic excitation table unit/ultrasonic excitation basin unit/ultrasonic excitation horn unit | |
JP2012016770A (en) | Method and device for grinding | |
JP2018015825A (en) | Processing device | |
JP4944569B2 (en) | Wafer grinding method | |
JP4847353B2 (en) | Wafer processing equipment | |
JP5437046B2 (en) | Spindle unit mechanism for mounting rotating tools | |
KR101207118B1 (en) | Supersonic machine | |
JP2021126743A (en) | Machining device | |
JP5508120B2 (en) | Hard substrate processing method | |
JP2006068862A (en) | Chuck table | |
JP2012148389A (en) | Method for grinding hard substrate | |
JP5679183B2 (en) | Hard substrate grinding method | |
JP4977449B2 (en) | Wafer grinding method and grinding apparatus | |
JP2009255220A (en) | Spindle unit mechanism mounted with rotary tool | |
JP6125357B2 (en) | Wafer processing method | |
JP2008155312A (en) | Grinding wheel |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110315 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121002 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121025 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151102 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5123029 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151102 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |