JP5080861B2 - Pickup device and pickup method - Google Patents

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Description

本発明は半導体チップなどのピックアップ対象物を高速でピックアップ可能なピックアップ装置とピックアップ方法に関する。   The present invention relates to a pickup device and a pickup method capable of picking up a pickup object such as a semiconductor chip at high speed.

従来から、ICチップ等の半導体チップをプリント基板等に装着する方法として超音波による方法や熱圧着方法が採用されている。半導体ウエハからで切り出された状態で配列された多数の半導体チップは、粘着性のシートの片面にそのまま貼着され、二次元的に駆動制御されるリング状の架台に装着される。架台に装着された半導体チップはピックアップ装置で1つずつピックアップされて圧着装置(熱圧着装置その他の圧着装置)に受け渡される。   Conventionally, an ultrasonic method or a thermocompression bonding method has been employed as a method for mounting a semiconductor chip such as an IC chip on a printed circuit board or the like. A large number of semiconductor chips arranged in a state of being cut out from a semiconductor wafer are directly attached to one side of an adhesive sheet and mounted on a ring-shaped gantry that is driven and controlled two-dimensionally. The semiconductor chips mounted on the gantry are picked up one by one by a pickup device and delivered to a crimping device (thermocompression bonding device or other crimping device).

一般的なピックアップ装置は、半導体チップを装着した架台の下方に配置される突き上げユニットと、それに対向するように架台の上方に配置されるピックアップユニットを備えており、そのようなピックアップ装置は例えば特許文献1に記載されている。一方、ピックアップ速度を上げる技術として、ピックアップユニットの本体に複数の吸着部を設け、ピックアップユニットを回転させることにより複数の吸着部を順次架台に対向させながら半導体チップを次々と吸着していく方法が特許文献2に記載されている。   A general pickup device includes a push-up unit disposed below a gantry on which a semiconductor chip is mounted, and a pickup unit disposed above the gantry so as to face the pickup unit. It is described in Document 1. On the other hand, as a technique for increasing the pickup speed, there is a method in which a plurality of suction portions are provided in the main body of the pickup unit, and semiconductor chips are sucked one after another while rotating the pickup unit so that the plurality of suction portions are sequentially opposed to the frame. It is described in Patent Document 2.

従来のピックアップ装置における突き上げユニットは、本体と、その本体に設けた突き上げピンを備えており、突き上げピンは回転モータやシリンダ等の駆動手段により架台方向に往復駆動される。ピックアップユニットはシリンダ等の駆動手段により架台方向に往復駆動する本体と、その本体に設けた吸着部を備えており、吸着部は半導体チップをその先端で吸着する微小口径の筒体を有している。筒体の内部空間は真空装置に連通しており、真空装置による吸引力で半導体チップを吸着部先端に吸着するようになっている。なお架台の駆動制御、突き上げピンの駆動制御、ピックアップユニットの駆動制御と吸着制御などは、例えばコンピュータ装置で構成される制御手段により互いに連携されて自動制御される。   The push-up unit in the conventional pickup device includes a main body and a push-up pin provided on the main body, and the push-up pin is driven to reciprocate in the direction of the gantry by driving means such as a rotary motor or a cylinder. The pickup unit has a main body that reciprocates in the direction of the gantry by driving means such as a cylinder, and an adsorption part provided on the main body, and the adsorption part has a small-diameter cylinder that adsorbs the semiconductor chip at its tip. Yes. The internal space of the cylinder communicates with the vacuum device, and the semiconductor chip is adsorbed on the tip of the adsorbing portion by the suction force of the vacuum device. The gantry drive control, the push-up pin drive control, the pickup unit drive control, and the suction control are automatically controlled in cooperation with each other by a control means constituted by, for example, a computer device.

上記ピックアップ装置により半導体チップを1つずつピックアップするには、先ず多数の半導体チップを粘着性のシート上に配列したものを架台の所定位置に位置合わせして装着し、ピックアップすべき半導体チップをピックアップ位置に移動させるように架台を水平方向に二次元的に駆動する。次に突き上げピンを架台方向に駆動(上昇)し、その先端で粘着性のシートを貫通して半導体チップに接触させる。   In order to pick up semiconductor chips one by one with the above pickup device, first, a large number of semiconductor chips arranged on an adhesive sheet are aligned and mounted at a predetermined position on the mount, and the semiconductor chip to be picked up is picked up The gantry is driven two-dimensionally in the horizontal direction so as to move to the position. Next, the push-up pin is driven (raised) in the direction of the gantry, and the tip of the push-through pin passes through the adhesive sheet to contact the semiconductor chip.

次いで上方からピックアップユニットを架台方向に駆動(下降)し、その吸着部の先端で半導体チップを吸着する。次に半導体チップを吸着したピックアップユニットを上昇してから水平方向に移動し、吸着した半導体チップを圧着装置に受け渡す。   Next, the pickup unit is driven (lowered) in the direction of the gantry from above, and the semiconductor chip is adsorbed at the tip of the adsorbing portion. Next, the pickup unit that adsorbs the semiconductor chip is raised and then moved in the horizontal direction, and the adsorbed semiconductor chip is delivered to the crimping apparatus.

上記のように半導体チップをピックアップユニットで吸着する際に、吸着部の先端と半導体チップの表面の間に微小な隙間が存在すると安定した真空吸着ができないので、吸着部の先端と半導体チップの表面とは接触時にはある程度の圧力で互いに密着させなければならない。このような密着状態を達成する方法として、吸着部を本体に移動自在に装着し、その吸着部を本体から突出させる方向に押し出すバフィングバネを設ける方法が一般に採用されている。そのようなバフィングバネを設けたピックアップユニットの吸着部を半導体チップに接触させると、バフィングバネの反発作用により吸着部が半導体チップに所定の圧力で押し付けられて密着する。   As described above, when the semiconductor chip is sucked by the pickup unit, if there is a minute gap between the tip of the suction portion and the surface of the semiconductor chip, stable vacuum suction cannot be performed, so the tip of the suction portion and the surface of the semiconductor chip And must be brought into close contact with each other at a certain pressure at the time of contact. As a method for achieving such a close contact state, a method is generally employed in which a suction part is movably attached to a main body and a buffing spring is provided to push out the suction part in a direction in which the suction part protrudes from the main body. When the suction part of the pickup unit provided with such a buffing spring is brought into contact with the semiconductor chip, the suction part is pressed against the semiconductor chip with a predetermined pressure due to the repulsive action of the buffing spring.

特開2001―196442号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2001-196442 特開2004−172548号公報JP 2004-172548 A

半導体チップを吸着するピックアップユニットは、架台に対する往復移動と、圧着装置に対する往復移動を行い、且つそれらの移動途中で複数の方向転換も行われる。半導体チップのピックアップ速度を上げるためには、ピックアップユニットの移動を高速化する必要があるが、あまり高速にするとバフィングバネを介してピックアップユニットに装着されている吸着部がバネ振動により不安定化し、半導体チップのピックアップ操作や圧着装置への受け渡し操作の安定性が損なわれる。そのためには吸着部がバネ振動を起こさないように、バフィングバネの押圧力を或る程度高い範囲に設定することが望ましい。   The pickup unit that adsorbs the semiconductor chip performs reciprocal movement with respect to the gantry and reciprocal movement with respect to the crimping apparatus, and a plurality of directions are changed during the movement. In order to increase the pick-up speed of the semiconductor chip, it is necessary to speed up the movement of the pick-up unit, but if it is made too fast, the suction part attached to the pick-up unit via the buffing spring becomes unstable due to the spring vibration, The stability of the pick-up operation of the semiconductor chip and the delivery operation to the crimping device is impaired. For this purpose, it is desirable to set the pressing force of the buffing spring within a certain range so that the suction portion does not cause spring vibration.

しかしバフィングバネの押圧力をあまり高い範囲に設定すると、その押圧力により半導体チップが損傷を受ける恐れがある。そのためバフィングバネによる押圧力は半導体チップに損傷を与えない範囲に制限せざるを得ないので、ピックアップ速度もそれに応じた範囲までしか上げられない。   However, if the pressing force of the buffing spring is set in a very high range, the semiconductor chip may be damaged by the pressing force. For this reason, the pressing force by the buffing spring must be limited to a range that does not damage the semiconductor chip, so that the pickup speed can be increased only to a range corresponding thereto.

一方、従来の標準的な半導体チップの厚さ(またはウエハの厚さ)は100μ〜200μ程度であったが、その厚さは年々薄くなっており、最近では30μ以下のものまで出現している。そのような薄い半導体チップは強度も低いので、それに対応するためにはバフィングバネの押圧力も更に下げなければならないが、従来の技術では安定性の点からも限界がある。   On the other hand, the thickness of a conventional standard semiconductor chip (or the thickness of a wafer) is about 100 μ to 200 μ, but the thickness is decreasing year by year, and recently, the thickness of 30 μ or less has appeared. . Since such a thin semiconductor chip is low in strength, the pressing force of the buffing spring must be further reduced in order to cope with it, but the conventional technology has a limit in terms of stability.

さらに、一般にバフィングバネによる押圧力の設定精度はそれほど高くできないので、設定に際しての安全係数を考慮すると、ピックアップ速度をある程度犠牲にしなければならない。そこで本発明はこのような諸問題を解決することを課題とし、そのための新しいピックアップ装置およびピックアップ方法を提供することを目的とする。   Furthermore, since the setting accuracy of the pressing force by the buffing spring cannot generally be so high, the pickup speed must be sacrificed to some extent in consideration of the safety factor at the time of setting. SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a new pickup apparatus and pickup method for solving such problems.

前記課題を解決する本発明のピックアップ装置は、
ピックアップ対象物(4)が配置される架台(5)を挟んで対向配置される突き上げユニット(2)とピックアップユニット(3)を備えたピックアップ装置において、
ピックアップユニット(3)は位置検出手段(18)と駆動手段(17)により架台(5)方向に往復駆動される本体(14)と、その本体(14)に設けた吸着部(15)を備え、
突き上げユニット(2)は圧力検出手段(12)と位置検出手段(13)と駆動手段(11)により架台(5)方向に往復駆動可能な突き上げピン(9)を備え、突き上げピン(9)の先端とピックアップ対象物(4)との接触圧を圧力検出手段(12)で検出するように構成され、
その突き上げユニット(2)は、リニアモータによる駆動手段(11)により、その突き上げピン(9)を架台(5)に接近する方向に駆動操作して、エンコーダ(13a)およびエンコーダガラススケール(13b)よる前記位置検出手段(13)で位置を検出しつつ、その先端を架台(5)に配置したピックアップ対象物(4)に接触させ、圧力検出手段(12)によるその接触圧検出により、突き上げピン(9)の先端がピックアップ対象物(4)に接触したことを検出し、その検出結果に基づいて突き上げピン(9)の駆動操作を停止し、若しくは更に所定距離だけ追加移動してから駆動操作を停止し、
次いでその状態で、前記ピックアップユニット(3)は、エンコーダ(18a)およびエンコーダガラススケール(18b)による前記位置検出手段(18)とリニアモータによる駆動手段(17)との前記位置制御により、それを架台(5)に接近する方向に、駆動操作してその吸着部(15)をピックアップ対象物(4)に接触させ、その接触圧を前記圧力検出手段(12)で検出し、その検出に基づき、圧力制御(もしくはトルク制御)に切り換えて、その検出圧力が予め設定された値になるように本体(14)の駆動力を調整し、次いで吸着部(15)でピックアップ対象物(4)を吸着してから本体(14)を架台(5)から離反する方向に駆動操作することを特徴とする(請求項1)。
The pickup device of the present invention that solves the above problems is
In a pickup apparatus comprising a push-up unit (2) and a pickup unit (3) arranged opposite to each other with a mount (5) on which a pickup object (4) is arranged,
The pickup unit (3) includes a main body (14) reciprocally driven in the direction of the gantry (5) by the position detection means (18) and the driving means (17), and an adsorption portion (15) provided on the main body (14). ,
The push-up unit (2) includes a push-up pin (9) that can be driven back and forth in the direction of the gantry (5) by the pressure detection means (12), the position detection means (13), and the drive means (11). The pressure detection means (12) is configured to detect the contact pressure between the tip and the pickup object (4),
The push-up unit (2) is driven by a drive means (11) by a linear motor so that the push-up pin (9) is driven in a direction approaching the gantry (5), and the encoder (13a) and the encoder glass scale (13b) while detecting the position by the position detecting means (13) by, the tip is contacted to the frame pickup object disposed in the (5) (4), by the contact pressure detection by the pressure detecting means (12), push-up It is detected that the tip of the pin (9) has contacted the pickup object (4), and based on the detection result, the drive operation of the push-up pin (9) is stopped or further moved by a predetermined distance before being driven. Stop the operation,
Then, in that state, the pickup unit (3) performs the position control by the position detection means (18) by the encoder (18a) and the encoder glass scale (18b) and the drive means (17) by the linear motor. Drive operation in the direction approaching the gantry (5) to bring the suction part (15) into contact with the pickup object (4), the contact pressure is detected by the pressure detection means (12), and based on the detection , Switch to pressure control (or torque control), adjust the driving force of the main body (14) so that the detected pressure becomes a preset value, and then pick up the pickup object (4) with the suction part (15) After the suction, the main body (14) is driven to move away from the gantry (5) (Claim 1).

上記のピックアップ装置において、ピックアップユニットは回転駆動手段で回転する本体と、その本体に設けた2つの吸着部とを備え、本体が180度回転するごとに2つの吸着部が交互に架台に対向するように構成することができる(請求項2)。 In the above-described pickup device, the pickup unit includes a main body that is rotated by rotation driving means and two suction portions provided on the main body, and each time the main body rotates 180 degrees, the two suction portions alternately face the gantry. ( Claim 2 ).

さらに上記いずれかのピックアップ装置において、圧力検出手段(12)は突き上げユニット(2)の移動方向におけるZ方向接触圧と、前記移動方向に直交する2つのX方向接触圧とY方向接触圧とからなる3成分の接触圧を検出して、そのX方向接触圧、Y方向接触圧の存在または、Z方向接触圧の基準値以下の値により、突き上げピン(9)の突き上げ状態の異常を検知できるように構成されていることを特徴とする請求項3)。 Further, in any one of the above-described pickup devices, the pressure detection means (12) includes the Z direction contact pressure in the moving direction of the push-up unit (2), and two X direction contact pressures and Y direction contact pressures orthogonal to the moving direction. By detecting the three-component contact pressure, the presence of the X-direction contact pressure, the Y-direction contact pressure, or the value below the reference value of the Z-direction contact pressure can detect an abnormality in the push-up state of the push-up pin (9). It is comprised as follows ( Claim 3 ).

さらに上記いずれかのピックアップ装置において、ピックアップ対象物が粘着シート上に配列された半導体チップである場合に、前記架台はピックアップすべき半導体チップをピックアップ位置に移動するための二次元駆動手段を備え、移動した架台位置を検出する位置検出手段と、その位置検出手段により検出される架台位置に関連付けて圧力検出手段で検出した突き上げピンの先端と半導体チップとの接触圧をピックアップごとに記憶する記憶手段を設けることができる(請求項4)。 Furthermore, in any one of the pickup devices described above, when the pickup object is a semiconductor chip arranged on an adhesive sheet, the gantry includes a two-dimensional drive means for moving the semiconductor chip to be picked up to a pickup position, Position detection means for detecting the position of the gantry moved, and storage means for storing the contact pressure between the tip of the push-up pin and the semiconductor chip detected by the pressure detection means in association with the gantry position detected by the position detection means for each pickup ( Claim 4 ).

前記課題を解決する本発明のピックアップ方法は、ピックアップ対象物(4)が配置される架台(5)を挟んで対向配置される突き上げユニット(2)とピックアップユニット(3)を備えたピックアップ装置を用いて前記ピックアップ対象物(4)をピックアップする方法において、
ピックアップユニット(3)は位置検出手段(18)と駆動手段(17)により架台(5)方向に往復駆動される本体(14)と、その本体(14)に設けた吸着部(15)を備え、
突き上げユニット(2)は、圧力検出手段(12)と、位置検出手段(13)および駆動手段(11)とを有し、架台(5)方向に往復駆動可能な突き上げピン(9)を備え、
リニアモータによる前記駆動手段(11)およびエンコーダ(13a)およびエンコーダガラススケール(13b)による位置検出手段(13)により、位置を検出しつつ、前記突き上げピン(9)を架台(5)に接近する方向に駆動操作して、その先端を架台(5)に配置したピックアップ対象物(4)に接触させ、圧力検出手段(12)によるその接触圧検出により、突き上げピン(9)の先端がピックアップ対象物(4)に接触したことを検出し、その検出結果に基づいて突き上げピン(9)の駆動操作を停止し、若しくは更に所定距離だけ追加移動してから駆動操作を停止し、
次いでその状態で、前記ピックアップユニット(3)を、エンコーダ(18a)およびエンコーダガラススケール(18b)による位置検出手段(18)とリニアモータによる駆動手段(17)との位置制御により位置を検出しつつ、架台(5)に接近する方向に、駆動操作してその吸着部(15)をピックアップ対象物(4)に接触させ、その接触圧を前記圧力検出手段(12)で検出し、その検出に基づき、圧力制御(もしくはトルク制御)に切り換えて、その検出圧力が予め設定された値になるように本体(14)の駆動力を調整し、次いで吸着部(15)でピックアップ対象物(4)を吸着してから、本体(14)を架台(5)から離反する方向に駆動操作することを特徴とするピックアップ方法(請求項5)。
The pick-up method of the present invention that solves the above problems includes a pick-up device that includes a push-up unit (2) and a pick-up unit (3) that are arranged to face each other across a gantry (5) on which a pick-up object (4) is arranged. In the method of picking up the pickup object (4) using,
The pickup unit (3) includes a main body (14) reciprocally driven in the direction of the gantry (5) by the position detection means (18) and the driving means (17), and an adsorption portion (15) provided on the main body (14). ,
The push-up unit (2) has a pressure detection means (12), a position detection means (13), and a drive means (11), and includes a push-up pin (9) that can be driven back and forth in the direction of the gantry (5),
The push pin (9) approaches the gantry (5) while detecting the position by the drive means (11) by the linear motor and the position detection means (13) by the encoder (13a) and the encoder glass scale (13b). The tip of the push-up pin (9) is picked up by detecting the contact pressure by the pressure detection means (12) by bringing the tip into contact with the pickup object (4) placed on the gantry (5). Detecting contact with the object (4), and stopping the driving operation of the push-up pin (9) based on the detection result, or further stopping the driving operation after additional movement by a predetermined distance,
Next, in this state, the pickup unit (3) detects the position by position control of the position detection means (18) by the encoder (18a) and the encoder glass scale (18b) and the drive means (17) by the linear motor. The adhering portion (15) is brought into contact with the pickup object (4) in the direction approaching the gantry (5), and the contact pressure is detected by the pressure detecting means (12). Based on this, the control is switched to pressure control (or torque control), the driving force of the main body (14) is adjusted so that the detected pressure becomes a preset value, and then the pickup object (4) is picked up by the suction part (15). A pick-up method characterized by driving the main body (14) in a direction away from the gantry (5) after adsorbing the water (Claim 5).

請求項5のピックアップ方法において、ピックアップ対象物が粘着シート上に配列された半導体チップである場合に、前記架台を二次元駆動手段で駆動することにより、ピックアップすべき半導体チップをピックアップ位置に移動してから突き上げピンの駆動操作を行い、圧力検出手段で検出した突き上げピンの先端と半導体チップとの各接触圧を移動した架台位置に関連付けて記憶手段に記憶し、記憶された各接触圧を表示手段で二次元的に表示することを特徴とする(請求項6)。 6. The pick-up method according to claim 5, wherein, when the pick-up target is a semiconductor chip arranged on an adhesive sheet, the semiconductor chip to be picked up is moved to the pick-up position by driving the mount with a two-dimensional driving means. After that, the driving operation of the push-up pin is performed, and the contact pressure between the tip of the push-up pin detected by the pressure detection means and the semiconductor chip is stored in the storage means in association with the moved gantry position, and each stored contact pressure is displayed. The display is two-dimensionally by means (claim 6).

本発明のピックアップ装置は、請求項1に記載のように、ピックアップユニットは、位置検出手段と駆動手段により架台方向に往復移動される本体に吸着部を設け、突き上げユニットは圧力検出手段と、位置検出手段と、駆動手段により架台方向に往復移動される突き上げピンとを備え、その位置を検出しつつ、突き上げピンの先端とピックアップ対象物との接触圧を圧力検出手段で検出するように構成されている。 In the pickup device of the present invention, as described in claim 1, the pickup unit is provided with a suction portion in the main body that is reciprocated in the direction of the gantry by the position detection means and the drive means, and the push-up unit includes the pressure detection means , A detection means and a push-up pin that is reciprocated in the direction of the gantry by the drive means, and the pressure detection means detects the contact pressure between the tip of the push-up pin and the pickup object while detecting its position. Yes.

上記のように構成すると、突き上げピンの先端とピックアップ対象物との接触の有無(接触圧の有無)を圧力検出手段で検出できるので、その検出信号を利用して突き上げピンの駆動停止、ピックアップユニットの移動制御などを行うことができる。また吸着部とピックアップ対象物との接触圧も同じ圧力検出手段で検出できるので、その検出信号を利用してピックアップユニットを位置制御から圧力制御(もしくはトルク制御)に切り換えることができ、装置構成も簡単化する。
さらに、突き上げユニット、ピックアップユニットの移動を迅速に行いつつ、その最終位置に正確に移動して、ピックアップ対象物の損傷を防ぐことができる。即ち、両ユニットは、リニアモータによる駆動手段11、17およびエンコーダ13a、18aおよびエンコーダガラススケール13b,18bによる前記位置検出手段13,18で、位置を検出しつつ、その突き上げピン9、ピックアップユニット3を架台5に接近する方向に駆動操作して、その目標値近傍に迅速に移動できる。次いで圧力検出手段12により、その検出信号を利用してピックアップユニットを位置制御から圧力制御(もしくはトルク制御)に切り換え正確に目標位置に移動することができる。
When configured as described above, the presence or absence of contact between the tip of the push-up pin and the pickup object (the presence or absence of contact pressure) can be detected by the pressure detection means, so that the drive of the push-up pin is stopped using the detection signal, and the pickup unit Can be controlled. Further, since the contact pressure between the suction portion and the pickup object can be detected by the same pressure detecting means, the pickup unit can be switched from position control to pressure control (or torque control) using the detection signal, and the device configuration is also improved. Simplify.
Further, the push-up unit and the pickup unit can be moved quickly and accurately moved to the final position, thereby preventing the pickup object from being damaged. That is, both units are driven by the linear motor driving means 11 and 17 and the position detecting means 13 and 18 by the encoders 13a and 18a and the encoder glass scales 13b and 18b. Is driven in the direction of approaching the gantry 5 and can be quickly moved to the vicinity of the target value. Next, the pressure detection means 12 can switch the pickup unit from position control to pressure control (or torque control) using the detection signal and accurately move to the target position.

さらに、このようなピックアップユニットの圧力制御方式を採用すると、従来採用されていたバフィングバネを使用しなくても、吸着部からピックアップ対象物への押圧力を細かく且つ高精度で設定することができる。そのためピックアップ対象物の強度に適合した最適な押圧力が容易に設定できる。   Furthermore, when such a pressure control method for the pickup unit is adopted, the pressing force from the suction portion to the pickup object can be set finely and with high accuracy without using a buffing spring that has been conventionally employed. . Therefore, the optimal pressing force suitable for the strength of the pickup object can be easily set.

また他の周辺部材に比べて比較的重量の大きな圧力検出手段は、ピックアップ対象物を吸着して架台や圧着装置への往復移動などを行うピックアップユニット側に設けるのではなく、移動距離が少なく且つピックアップ対象物の運搬を行わなくて良い突き上げユニット側に設けているので、ピックアップの高速化のネックとなるピックアップユニットの重量を低減でき、結果としてピックアップの高速化を達成することができる。 In addition, the pressure detecting means that is relatively heavy compared to other peripheral members is not provided on the pickup unit side that adsorbs the pickup object and performs reciprocating movement to the gantry or the crimping device, but has a small moving distance and since provided with good push-up unit side without the transport of the pickup object can reduce the weight of the pick-up unit comprising a bottleneck in high-speed pickup, it is possible to achieve high speed of the pickup as a result.

さらに、本体の駆動手段と突き上げピンの駆動手段をリニアモータで構成したので、装置のコンパクト化と軽量化をより容易に達成でき、特にピックアップユニットの軽量化はピックアップの高速化に大きく寄与できる。 Further, since the drive means for the main body and the drive means for the push-up pins are constituted by linear motors , the apparatus can be made more compact and lighter. In particular, the weight reduction of the pickup unit can greatly contribute to the speedup of the pickup.

上記いずれかのピックアップ装置において、請求項2に記載のように、ピックアップユニットは回転駆動手段で回転する本体と、その本体に設けた2つの吸着部とを備え、本体が180度回転するごとに2つの吸着部が交互に架台に対向するように構成することができる。このように構成すると、ピックアップを更に高速化できる。本発明では前記のように圧力検出手段を突き上げユニット側に設けているので、ピックアップユニットの高速回転が可能になり、その面からもピックアップの高速化が図られる。 In any one of the above-described pickup devices, as described in claim 2 , the pickup unit includes a main body that is rotated by a rotation driving unit and two suction portions provided on the main body, and each time the main body rotates 180 degrees. Two adsorption | suction parts can be comprised so that it may oppose a mount frame alternately. With this configuration, the pickup can be further speeded up. In the present invention, since the pressure detection means is provided on the push-up unit side as described above, the pickup unit can be rotated at a high speed, and the pickup speed can also be increased from that surface.

さらに上記いずれかのピックアップ装置において、請求項3に記載のように、圧力検出手段は突き上げユニットの移動方向におけるZ方向接触圧と、前記移動方向に直交する2つのX方向接触圧とY方向接触圧とからなる3成分の接触圧を検出できるように構成することができる。例えば架台に対するピックアップ対象物の位置あわせ調整が不具合であると突き上げピンがピックアップ対象物の中心部に一致しなくなり、突き上げられたピックアップ対象物が傾斜してしまうことがある。しかし圧力検出手段が3成分の接触圧を検出できると、そのような傾斜を3成分の接触圧から検出できるので、その検出結果を基に前記位置あわせ調整の不具合を容易に修正することができる。 Furthermore, in any one of the above-described pickup devices, as described in claim 3 , the pressure detection means includes a Z direction contact pressure in the moving direction of the push-up unit, two X direction contact pressures orthogonal to the moving direction, and a Y direction contact. The three-component contact pressure consisting of the pressure can be detected. For example, if the adjustment of the alignment of the pickup object with respect to the gantry is defective, the push-up pin may not coincide with the center of the pickup object, and the picked-up pickup object may be inclined. However, if the pressure detecting means can detect the contact pressure of the three components, such an inclination can be detected from the contact pressure of the three components, so that the problem of the alignment adjustment can be easily corrected based on the detection result. .

さらに上記いずれかのピックアップ装置において、請求項4に記載のように、ピックアップ対象物が粘着シート上に配列された半導体チップである場合に、前記架台はピックアップすべき半導体チップをピックアップ位置に移動するための二次元駆動手段を備え、移動した架台位置を検出する位置検出手段と、その位置検出手段により検出される架台位置に関連付けて圧力検出手段で検出した突き上げピンの先端と半導体チップとの接触圧をピックアップごとに記憶する記憶手段を設けることができる。 In addition any of the above pickup device as claimed in claim 4, the pickup object when a semiconductor chip arranged on the adhesive sheet, the gantry moves the semiconductor chip to be picked up in the pickup position A position detecting means for detecting a position of the moved gantry, and a contact between the tip of the push-up pin detected by the pressure detecting means in association with the gantry position detected by the position detecting means and the semiconductor chip Storage means for storing the pressure for each pickup can be provided.

円板状の半導体ウエハから切り出された多数の半導体チップは、切り出されたままの状態で粘着シート上に配列されて架台に装着されるが、例えば架台の水平度調整が僅かでもずれてくると、半導体チップの配列位置により突き上げピンと半導体チップとの接触圧が変化する。しかし上記のように架台位置に関連付けて圧力検出手段で検出した突き上げピンの先端と半導体チップとの接触圧をピックアップごとに記憶する記憶手段を設けると、記憶された接触圧分布から前記調整ずれを確認してそれを修正することができる。   A large number of semiconductor chips cut out from the disk-shaped semiconductor wafer are arranged on the adhesive sheet in the state of being cut out and mounted on the pedestal. For example, if the leveling adjustment of the pedestal is slightly shifted The contact pressure between the push-up pin and the semiconductor chip varies depending on the arrangement position of the semiconductor chips. However, if the storage means for storing the contact pressure between the tip of the push-up pin and the semiconductor chip detected by the pressure detection means in association with the gantry position as described above is stored for each pickup, the adjustment deviation is stored from the stored contact pressure distribution. You can check and fix it.

本発明のピックアップ方法は、請求項5に記載のように、位置検出手段13および駆動手段11により、突き上げピンを架台に接近する方向に駆動操作してその先端を架台に配置したピックアップ対象物に接触させ、圧力検出手段によるその接触圧検出により、突き上げピンの先端がピックアップ対象物に接触したことを検出し、その検出結果に基づいて突き上げピンの駆動操作を停止し若しくは更に所定距離だけ追加移動してから駆動操作を停止し、
その状態でピックアップユニットを、リニアモータによる駆動手段17およびエンコーダ18aおよびエンコーダガラススケール18bによる位置検出手段18により、位置を検出しつつ、架台に接近する方向に駆動操作してその吸着部をピックアップ対象物に接触させ、その接触圧を前記圧力検出手段で検出し、その検出圧力が予め設定された値になるように本体の駆動力を調整し、次いで吸着部でピックアップ対象物を吸着してから本体を架台から離反する方向に駆動操作することを特徴としている。
According to the pickup method of the present invention, as described in claim 5, the position detection means 13 and the drive means 11 are used to drive the push-up pin in a direction approaching the gantry and the pickup object is arranged on the gantry. By detecting the contact pressure by the pressure detection means, it is detected that the tip of the push-up pin has contacted the pickup object, and the drive operation of the push-up pin is stopped or further moved by a predetermined distance based on the detection result. Then stop the driving operation,
In this state, the pickup unit is driven in the direction approaching the gantry while the position is detected by the drive means 17 by the linear motor and the position detection means 18 by the encoder 18a and the encoder glass scale 18b. After the contact pressure is detected by the pressure detection means, the driving force of the main body is adjusted so that the detected pressure becomes a preset value, and then the pickup object is sucked by the suction portion It is characterized by driving the main body in a direction away from the gantry.

このようなピックアップユニットの圧力制御方式を採用すると、従来使用されていたバフィングバネを用いなくても、吸着部からピックアップ対象物への押圧力を高精度で設定することができる。そのためピックアップ対象物の強度に適合した最適な押圧力を容易に設定できると共に、ピックアップも高速化される。   By adopting such a pressure control method for the pickup unit, it is possible to set the pressing force from the suction portion to the pickup object with high accuracy without using a buffing spring that has been conventionally used. Therefore, it is possible to easily set an optimum pressing force suitable for the strength of the pickup object, and to speed up the pickup.

上記ピックアップ方法において、請求項6に記載のように、ピックアップ対象物が粘着シート上に配列された半導体チップである場合に、前記架台を二次元駆動手段で駆動することにより、ピックアップすべき半導体チップをピックアップ位置に移動して突き上げピンの駆動操作を行い、圧力検出手段で検出した突き上げピンの先端と半導体チップとの各接触圧を移動した架台位置に関連付けて記憶手段に記憶し、記憶された各接触圧を表示手段で二次元的に表示することができる。このようにすると、記憶された接触圧分布から架台の水平度の調整ずれなどを確認してそれを修正することができる。 In the pickup method, as claimed in claim 6, when the pickup object is a semiconductor chip that is arranged on the adhesive sheet, by driving the frame in a two-dimensional drive unit, a semiconductor chip to be picked up Is moved to the pickup position to drive the push-up pin, and the contact pressure between the tip of the push-up pin and the semiconductor chip detected by the pressure detecting means is associated with the moved gantry position and stored in the storage means. Each contact pressure can be displayed two-dimensionally on the display means. If it does in this way, the adjustment shift | offset | difference etc. of the horizontal degree of a mount frame etc. can be confirmed from the memorize | stored contact pressure distribution, and it can correct.

次に図面に基づいて本発明の最良の実施形態を説明する。図1は本発明に係るピックアップ装置の主要部を模式的に示す全体図であり、図2は図1におけるピックアップ部分の側面図である。ピックアップ装置1は突き上げユニット2とピックアップユニット3を備えており、これら突き上げユニット2とピックアップユニット3はそれぞれ図示しない装置基盤もしくはフレームに取り付けられた状態で架台5を挟むようにして対向配置される。架台5はピックアップ対象物4を着脱自在に装着できるようになっており、図1ではピックアップ対象物4の1例として粘着シート6に配列された半導体チップ4aを着脱自在に装着した状態が示されている。   Next, the best mode for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is an overall view schematically showing main parts of a pickup device according to the present invention, and FIG. 2 is a side view of a pickup portion in FIG. The pickup device 1 includes a push-up unit 2 and a pickup unit 3. The push-up unit 2 and the pickup unit 3 are arranged so as to face each other with the gantry 5 sandwiched between them when attached to a device base or a frame (not shown). The gantry 5 can detachably mount the pickup object 4, and FIG. 1 shows a state in which the semiconductor chips 4 a arranged on the adhesive sheet 6 are detachably mounted as an example of the pickup object 4. ing.

架台5は二次元駆動手段7によりX−Y軸方向に二次元的な移動が可能になっており、架台5を二次元的に移動することによりそれに装着されたピックアップ対象物4のいずれかがピックアップ位置に移動される。なお架台5の移動位置は光学式エンコーダ等の位置検出手段8により検出され、その検出信号は後述する制御装置に伝送される。   The gantry 5 can be moved two-dimensionally in the XY directions by the two-dimensional driving means 7, and any of the pickup objects 4 attached to the gantry 5 by moving the gantry 5 two-dimensionally. Moved to the pickup position. The moving position of the gantry 5 is detected by position detecting means 8 such as an optical encoder, and the detection signal is transmitted to a control device described later.

突き上げユニット2は先端に突き上げピン9を設けた軸体10と、軸体10を架台方向に往復移動する駆動手段11を有し、駆動手段11はリニアモータ(もしくはボイスコイルモータ(VCM))で構成されている。軸体10の途中には突き上げユニット2に加わる圧力を検出する圧力検出手段12と軸体10の移動位置を検出する位置検出手段13が配置されている。位置検出手段13は光学式のエンコーダ13aとエンコーダガラススケール13bを有し、エンコーダ13aによりエンコーダガラススケール13bの目盛りを検出することにより軸体10の移動位置を検出するようになっており、その検出信号は後述する制御装置に伝送される。   The push-up unit 2 has a shaft body 10 provided with a push-up pin 9 at the tip, and drive means 11 that reciprocates the shaft body 10 in the direction of the gantry. The drive means 11 is a linear motor (or voice coil motor (VCM)). It is configured. In the middle of the shaft body 10, a pressure detection means 12 for detecting the pressure applied to the push-up unit 2 and a position detection means 13 for detecting the moving position of the shaft body 10 are arranged. The position detecting means 13 has an optical encoder 13a and an encoder glass scale 13b, and detects the moving position of the shaft body 10 by detecting the scale of the encoder glass scale 13b with the encoder 13a. The signal is transmitted to a control device described later.

本実施形態では圧力検出手段12として突き上げユニット2の移動方向におけるZ方向接触圧と、その移動方向に直交する2つのX方向接触圧とY方向接触圧とからなる3成分の圧力を検出できる水晶圧電式の圧力センサが用いられる。このような水晶圧電式の圧力センサは市販品(例えば日本キスラー株式会社から販売されている形式9251A、9252A等)を利用できる。なお圧力検出手段12の検出信号も後述する制御装置に伝送される。   In this embodiment, the pressure detecting means 12 is a quartz crystal capable of detecting a three-component pressure comprising a Z-direction contact pressure in the moving direction of the push-up unit 2 and two X-direction contact pressures and Y-direction contact pressures orthogonal to the moving direction. A piezoelectric pressure sensor is used. Commercially available products (for example, types 9251A and 9252A sold by Nippon Kistler Co., Ltd.) can be used as such a piezoelectric piezoelectric pressure sensor. The detection signal of the pressure detection means 12 is also transmitted to the control device described later.

突き上げピン9は円錐台形の基部9aとその基部9aから軸方向に延長するピン部9bを有している。突き上げピン9のA部分の断面形状を図3に示す。突き上げピン9はその中心にピン部9bが配置され、その周囲に等間隔で複数個(本実施形態では6個)の吸着孔9cが配置される。これら吸着孔9cは図1に示すように吸着制御弁9eを設けた配管9dを介して図示しない真空装置に連通している。後述するように、ピックアップ対象物4として粘着シート6上に支持された半導体チップ4aを突き上げピン9で下方から突き上げたときに、ピン部9bが粘着シート6を貫通してその上側の半導体チップ4aを突き上げるが、その際、吸着孔9cによる真空吸着作用で粘着シート6を下方から吸着してそれを把持するようになっている。   The push-up pin 9 has a truncated cone-shaped base portion 9a and a pin portion 9b extending from the base portion 9a in the axial direction. The cross-sectional shape of the A portion of the push-up pin 9 is shown in FIG. The push-up pin 9 is provided with a pin portion 9b at the center thereof, and a plurality of (six in this embodiment) suction holes 9c are arranged around the pin portion 9b. As shown in FIG. 1, these suction holes 9c communicate with a vacuum device (not shown) through a pipe 9d provided with a suction control valve 9e. As will be described later, when the semiconductor chip 4a supported on the adhesive sheet 6 as the pickup object 4 is pushed up from below by the push-up pin 9, the pin portion 9b penetrates the adhesive sheet 6 and the upper semiconductor chip 4a. At this time, the pressure-sensitive adhesive sheet 6 is sucked from below by the vacuum suction action of the suction holes 9c and is gripped.

図1および図2において、ピックアップユニット3は本体14と、その本体14に設けた2つの吸着部15を備えている。本体14は回転駆動手段16で回転されると共に、その回転駆動手段16に取り付けられた本体14はリニアモータ(もしくはボイスコイルモータ)で構成される駆動手段17により架台5方向に往復移動される。2つの吸着部15は互いに本体14の反対側から突出され、本体14が180度回転するごとに交互に架台5に対向するようになっている。   1 and 2, the pickup unit 3 includes a main body 14 and two suction portions 15 provided on the main body 14. The main body 14 is rotated by the rotation driving means 16, and the main body 14 attached to the rotation driving means 16 is reciprocated in the direction of the gantry 5 by the driving means 17 constituted by a linear motor (or voice coil motor). The two adsorbing portions 15 protrude from the opposite sides of the main body 14 and alternately face the gantry 5 every time the main body 14 rotates 180 degrees.

2つの吸着部15はそれぞれ吸着制御弁15bを設けた配管15aを介して図示しない真空装置に連通され、真空による吸着作用でピックアップ対象物4を吸着するようになっている。なお回転駆動手段16には他の駆動手段19が設けられ、回転駆動手段16を駆動手段19で駆動して吸着部15に吸着したピックアップ対象物を図示しない圧着装置に受け渡すようになっている。なお図2は図1の上側の吸着部15を省略した状態で示されている。   The two adsorbing units 15 communicate with a vacuum device (not shown) via a pipe 15a provided with an adsorbing control valve 15b, respectively, and adsorb the pickup object 4 by an adsorbing action by vacuum. The rotation driving means 16 is provided with other driving means 19, and the rotation driving means 16 is driven by the driving means 19 so that the pickup object adsorbed on the adsorption portion 15 is delivered to a crimping device (not shown). . Note that FIG. 2 is shown with the upper suction portion 15 of FIG. 1 omitted.

図2に示すように、本体14には光学式のエンコーダ18aとエンコーダガラススケール18bで構成される位置検出手段18が設けられ、エンコーダ18aによりエンコーダガラススケール18bの目盛りを検出することにより本体14の架台5方向の移動位置を検出するようになっており、その検出信号は後述する制御装置に伝送される。なお図2には示されていないが、本体14の回転角度を検出する角度検出手段を設けることもでき、その検出信号を後述する制御装置に伝送し、その検出値に基づいて本体14の回転制御を行うこともできる。   As shown in FIG. 2, the main body 14 is provided with position detecting means 18 including an optical encoder 18a and an encoder glass scale 18b, and the encoder 18a detects the scale of the encoder glass scale 18b to detect the scale of the main body 14. The movement position in the direction of the gantry 5 is detected, and the detection signal is transmitted to a control device described later. Although not shown in FIG. 2, angle detection means for detecting the rotation angle of the main body 14 can also be provided, and the detection signal is transmitted to a control device described later, and the rotation of the main body 14 is performed based on the detected value. Control can also be performed.

図4はピックアップ装置1の主要部の制御を行う制御装置とそれに接続される各検出手段と駆動手段のブロック図である。制御装置20はパソコン等のコンピュータ装置で構成され、制御部21、記憶部22、表示部23、入力部24、インターフェイス25,26を備えている。   FIG. 4 is a block diagram of a control device that controls the main part of the pickup device 1, and each detection means and drive means connected thereto. The control device 20 includes a computer device such as a personal computer, and includes a control unit 21, a storage unit 22, a display unit 23, an input unit 24, and interfaces 25 and 26.

制御部21は制御プログラムと各検出手段の検出信号に基づいて各駆動手段を制御する。記憶部22は制御プログラムを記憶すると共に、各検出手段による検出値や各駆動手段の制御状況などを記憶する。表示部23は液晶ディスプレーで構成され、記憶部22に記憶された各検出手段の検出値や入力部24からの入力情報等を表示する。入力部24はキーボードやマウスで構成され、ピックアップ装置1の起動−停止指令、制御の初期条件や必要な制御パラメータ等の入力を行う。   The control unit 21 controls each drive unit based on the control program and the detection signal from each detection unit. The storage unit 22 stores a control program and also stores a detection value by each detection unit, a control status of each drive unit, and the like. The display unit 23 is composed of a liquid crystal display, and displays detection values of each detection means stored in the storage unit 22, input information from the input unit 24, and the like. The input unit 24 includes a keyboard and a mouse, and inputs a start-stop command for the pickup device 1, initial conditions for control, necessary control parameters, and the like.

インターフェイス25は、突き上げユニット2の圧力検出手段12、突き上げユニット2の位置検出手段13、ピックアップユニット3の位置検出手段18および架台5の位置検出手段8等の各検出手段と制御部21間の信号変換を行うために設けられる。またインターフェイス26は、架台5の二次元駆動手段7、突き上げユニット2の駆動手段11、ピックアップユニット3における駆動手段17、回転駆動手段16および駆動手段19、突き上げピン9の吸着制御弁9e、ピックアップユニット3における吸着部15の吸着制御弁15b等の各駆動手段や制御弁と制御部21間の信号変換を行うために設けられる。   The interface 25 is a signal between the control unit 21 and each detection means such as the pressure detection means 12 of the push-up unit 2, the position detection means 13 of the push-up unit 2, the position detection means 18 of the pickup unit 3, and the position detection means 8 of the mount 5. Provided to perform the conversion. The interface 26 includes a two-dimensional drive means 7 for the gantry 5, a drive means 11 for the push-up unit 2, a drive means 17 for the pickup unit 3, a rotation drive means 16 and a drive means 19, an adsorption control valve 9e for the push-up pin 9, and a pickup unit. 3 is provided to perform signal conversion between each drive means such as the adsorption control valve 15b of the adsorption unit 15 and the control valve 21 and the control unit 21.

次に上記ピックアップ装置1を用いてピックアップ対象物である半導体チップ4aをピックアップする方法を説明する。先ず粘着シート6上に多数の半導体チップ4aが配列されているもの(半導体ウエハ)を図1に示す架台5に位置合わせして装着する。次にピックアップすべき半導体チップ4aをピックアップ位置に移動させるための架台5の二次元的移動制御、突き上げユニット2の移動制御、ピックアップユニット3の移動および吸着制御等を順次行う。これらの制御は制御装置20に組み込まれた制御プログラムに従って自動的に行われ、且つ半導体チップ4aの全てのピックアップが終了するまで繰り返し行われる。 Next, a method for picking up the semiconductor chip 4a, which is an object to be picked up, using the pickup device 1 will be described. First, a structure in which a large number of semiconductor chips 4a are arranged on a pressure-sensitive adhesive sheet 6 (semiconductor wafer) is aligned and mounted on the gantry 5 shown in FIG. Next, two-dimensional movement control of the gantry 5 for moving the semiconductor chip 4a to be picked up to the pickup position, movement control of the push-up unit 2, movement and suction control of the pickup unit 3 , etc. are sequentially performed. These controls are automatically performed according to a control program incorporated in the control device 20, and are repeatedly performed until all the pickups of the semiconductor chip 4a are completed.

図5は半導体チップ4aのピックアップ工程を具体的に示す図である。先ず(a)工程において、制御装置20は駆動手段11を制御して突き上げユニット2の突き上げピン9を架台5方向に移動させる。突き上げユニット2が移動して突き上げピン9の先端(具体的にはピン部9bの先端)が粘着シート6を貫通して半導体チップ4aの下側に接触すると、圧力検出手段12によるその接触圧の検出信号が制御装置20に伝送される。検出信号を受けた制御装置20は予め設定された微小距離だけ駆動手段11をさらに駆動してから停止する制御を行う。   FIG. 5 is a diagram specifically showing the pick-up process of the semiconductor chip 4a. First, in step (a), the control device 20 controls the driving means 11 to move the push-up pin 9 of the push-up unit 2 in the direction of the gantry 5. When the push-up unit 2 moves and the tip of the push-up pin 9 (specifically, the tip of the pin portion 9b) penetrates the adhesive sheet 6 and comes into contact with the lower side of the semiconductor chip 4a, the contact pressure of the pressure detecting means 12 is increased. A detection signal is transmitted to the control device 20. Upon receiving the detection signal, the control device 20 performs a control to stop after further driving the driving means 11 for a preset minute distance.

この微小移動により突き上げピン9の先端(ピン部9bの先端)が半導体チップ4aの下側に予め設定された接触圧で接触する。その際に、制御装置20は吸着制御弁9eを開けて吸着孔9cを真空吸着状態にする制御を行い、その真空吸着作用により突き上げピン9で粘着シート6を把持し、半導体チップ4aの粘着シート6からの剥離を助ける。   By this minute movement, the tip of the push-up pin 9 (tip of the pin portion 9b) comes into contact with the lower side of the semiconductor chip 4a with a preset contact pressure. At that time, the control device 20 opens the suction control valve 9e to control the suction hole 9c to be in a vacuum suction state, and grips the adhesive sheet 6 with the push-up pin 9 by the vacuum suction action, and the adhesive sheet of the semiconductor chip 4a. Helps peel from 6.

次に(b)工程において、制御装置20は駆動手段19を制御してピックアップユニット3を架台5方向に移動し、その吸着部15の先端を半導体チップ4aの上側に接触させる。この接触による接触圧は突き上げピン9側にも伝達されるので、その接触圧は間接的に圧力検出手段12で検出され、その検出信号が制御装置20に伝送される。検出信号を受けた制御装置20は吸着制御弁15bを開けて吸着部15を真空吸着状態にする制御を行い、その真空吸着作用により半導体チップ4aを確実に吸着部15に吸着させる。   Next, in step (b), the control device 20 controls the driving means 19 to move the pickup unit 3 in the direction of the gantry 5 and bring the tip of the suction portion 15 into contact with the upper side of the semiconductor chip 4a. Since the contact pressure due to this contact is also transmitted to the push pin 9 side, the contact pressure is indirectly detected by the pressure detecting means 12 and the detection signal is transmitted to the control device 20. Upon receiving the detection signal, the control device 20 opens the suction control valve 15b and controls the suction unit 15 to be in a vacuum suction state, and the semiconductor chip 4a is securely sucked to the suction unit 15 by the vacuum suction action.

次に(c)工程において、制御装置20は駆動手段19を位置制御から圧力制御(もしくはトルク制御)への切換制御を行い、予め設定された接触圧になるまで駆動手段19をさらに駆動してから停止する。   Next, in step (c), the control device 20 performs switching control of the drive means 19 from position control to pressure control (or torque control), and further drives the drive means 19 until a preset contact pressure is reached. Stop from.

次に(d)工程において、制御装置20は上記圧力制御を維持した状態で、すなわち吸着部15と半導体チップ4aの接触圧を予め設定された値に維持した状態で、駆動手段19を駆動制御してピックアップユニット3を架台5から離れる方向に移動(上昇)させ、それに追従するように駆動手段11を駆動制御して突き上げピン9を架台方向に移動(上昇)させる。   Next, in step (d), the control device 20 drives and controls the drive means 19 while maintaining the pressure control, that is, maintaining the contact pressure between the suction portion 15 and the semiconductor chip 4a at a preset value. Then, the pickup unit 3 is moved (raised) in a direction away from the gantry 5, and the driving means 11 is driven and controlled so as to follow the pickup unit 3 to move (raise) the push-up pin 9 in the gantry direction.

次に(e)工程において、ピックアップユニット3の移動により半導体チップ4aが粘着シート6から離反した時点で、制御装置20はピックアップユニット3の駆動制御を圧力制御から位置制御に戻し、所定位置まで上昇させてから駆動手段19を制御してピックアップユニット3を圧着装置側に移動させる。一方制御装置20は駆動手段11を駆動制御して突き上げピン9を架台5から離反する方向に移動(下降)させて次のピックアップ操作に備える。 Next, in step (e), when the semiconductor chip 4a is separated from the adhesive sheet 6 due to the movement of the pickup unit 3, the control device 20 returns the drive control of the pickup unit 3 from pressure control to position control, and rises to a predetermined position. Then, the drive unit 19 is controlled to move the pickup unit 3 to the crimping device side. On the other hand, the control device 20 controls the driving means 11 to move (lower) the push-up pin 9 in the direction away from the gantry 5 to prepare for the next pickup operation.

図6は図5の各工程における各部の移動と接触圧の変化を示す図であり、縦軸は移動位置または接触圧、横軸は工程(サイクル)の経過時間である。図6のaは突き上げピン9の移動、bはピックアップユニット3の移動、cは圧力検出手段12で検出された接触圧を示し、接触圧のうちd部分は(a)工程における突き上げピン9と半導体チップ4aが接触したときの接触圧、e部分は(c)(d)工程における吸着部15と半導体チップ4aが接触したときの接触圧である。   FIG. 6 is a diagram showing the movement of each part and the change in contact pressure in each step of FIG. 5, where the vertical axis represents the movement position or contact pressure, and the horizontal axis represents the elapsed time of the step (cycle). 6a shows the movement of the push-up pin 9, b shows the movement of the pickup unit 3, c shows the contact pressure detected by the pressure detecting means 12, and d part of the contact pressure corresponds to the push-up pin 9 in the step (a). The contact pressure when the semiconductor chip 4a comes into contact and the e part are the contact pressure when the suction part 15 and the semiconductor chip 4a come into contact in the steps (c) and (d).

図7は突き上げユニット2の移動方向におけるZ方向接触圧と、その移動方向に直交する2つのX方向接触圧とY方向接触圧とからなる3成分の圧力を検出する圧力検出手段12により、突き上げピン9の突き上げ状態の正常・異常を検出する例を説明した図である。図7の(a)は突き上げピン9が半導体チップ4aを正常に突き上げた状態であり、この場合は3成分のうちZ方向接触圧だけが検出され、X方向接触圧とY方向接触圧は検出されない。   FIG. 7 shows the thrusting by the pressure detection means 12 for detecting the three-component pressure composed of the Z-direction contact pressure in the moving direction of the push-up unit 2 and the two X-direction contact pressure and Y-direction contact pressure orthogonal to the moving direction. It is a figure explaining the example which detects the normality / abnormality of the pushing-up state of the pin. FIG. 7A shows a state in which the push-up pin 9 has pushed up the semiconductor chip 4a normally. In this case, only the Z-direction contact pressure is detected among the three components, and the X-direction contact pressure and the Y-direction contact pressure are detected. Not.

図7の(b)は突き上げピン9のピン部9bが曲がった状態で半導体チップ4aに接触した場合であり、Z方向接触圧が小さくなり、X方向接触圧とY方向接触圧が検出される。図7の(c)はピックアップすべき半導体チップ4aがピックアップ位置から僅かにずれている場合であり、Z方向接触圧が小さくなり、X方向接触圧とY方向接触圧が検出される。図7の(d)は架台5の高さ調整がずれて規定レベルより高くなった場合であり、Z方向接触圧が極めて小さいかゼロになり、X方向接触圧とY方向接触圧は検出されない。   FIG. 7B shows a case where the pin portion 9b of the push-up pin 9 is bent and comes into contact with the semiconductor chip 4a. The Z-direction contact pressure is reduced, and the X-direction contact pressure and the Y-direction contact pressure are detected. . FIG. 7C shows a case where the semiconductor chip 4a to be picked up is slightly deviated from the pick-up position. The Z-direction contact pressure is reduced, and the X-direction contact pressure and the Y-direction contact pressure are detected. FIG. 7D shows a case where the height adjustment of the gantry 5 is deviated and becomes higher than the specified level. The Z-direction contact pressure is extremely small or zero, and the X-direction contact pressure and the Y-direction contact pressure are not detected. .

上記各検出信号は制御装置20に伝送され、そこで記憶部22に予め記憶された正常圧力と比較され、該当する部分の圧力偏差(設定圧力と検出圧力のずれ)が表示部23に表示される。従ってその表示内容から装置調整をして正常な突き上げ状態に修正することができる。   Each of the detection signals is transmitted to the control device 20, where it is compared with the normal pressure stored in advance in the storage unit 22, and the pressure deviation of the corresponding part (the difference between the set pressure and the detected pressure) is displayed on the display unit 23. . Therefore, the device can be adjusted from the display content and corrected to a normal push-up state.

図8は3成分の圧力を検出する圧力検出手段12により、粘着シート6に多数の半導体チップ4aを二次元的に配列した半導体ウエハにおける各部の突き上げ傾向を検出する例を説明した図であり、図8の(a)は半導体チップ4aごとに突き上げ時における3成分の接触圧を順次検出していく状態の図である。   FIG. 8 is a diagram for explaining an example in which the pressure detection means 12 for detecting the pressure of three components detects the upward tendency of each part in a semiconductor wafer in which a large number of semiconductor chips 4a are two-dimensionally arranged on the adhesive sheet 6. FIG. 8A shows a state in which the contact pressures of the three components at the time of pushing up are sequentially detected for each semiconductor chip 4a.

図8の(b)は円形の半導体ウエハの周辺領域の接触圧(突き上げ力)が規定値より低く、それ以外の中央寄りの領域の接触圧が正常である場合である。図8の(c)は円形の半導体ウエハの上半分の領域の接触圧(突き上げ力)が規定値より大きく、下半部の領域の接触圧が規定値より低い場合である。これらの各検出信号は制御装置20に伝送され、制御装置20はそれら検出値を記憶部22に検出位置に関連付けて記憶する。   FIG. 8B shows a case where the contact pressure (push-up force) in the peripheral region of the circular semiconductor wafer is lower than the specified value, and the contact pressure in the other region near the center is normal. FIG. 8C shows the case where the contact pressure (push-up force) in the upper half area of the circular semiconductor wafer is larger than the specified value and the contact pressure in the lower half area is lower than the specified value. Each of these detection signals is transmitted to the control device 20, and the control device 20 stores these detection values in the storage unit 22 in association with the detection position.

上記のように記憶部22に半導体ウエハの各部の接触圧をその検出位置に関連付けて記憶するため、ピックアップごとに半導体ウエハの位置を架台5の位置検出手段8で検出し、その検出信号が制御装置20に伝送される。記憶部22に記憶された半導体ウエハの各部の接触圧は表示部23に表示することができ、その表示された接触圧分布等により架台5の位置調整や突き上げピン9の調整を行うことができる。   Since the contact pressure of each part of the semiconductor wafer is stored in the storage unit 22 in association with the detection position as described above, the position of the semiconductor wafer is detected by the position detection means 8 of the gantry 5 for each pickup, and the detection signal is controlled. Is transmitted to the device 20. The contact pressure of each part of the semiconductor wafer stored in the storage unit 22 can be displayed on the display unit 23, and the position adjustment of the gantry 5 and the adjustment of the push-up pin 9 can be performed by the displayed contact pressure distribution or the like. .

図9(A)〜(D)はピックアップユニット3を回転駆動して2つの吸着部15を切り換える操作を複数のステップに分けて説明した図である。その(A)は架台5に対向する側を下側の吸着部15から上側の吸着部15に切り替える最初の状態であり、(B)、(C)はピックアップユニット3が回転駆動される途中の状態であり、(D)は上側の吸着部15と下側の吸着部15が完全に切り替わった状態である。このように2つの吸着部を切り換えて使用する切り換え方式を採用すると、1つの吸着部15だけを有するピックアップユニット3に対し、ピックアップ速度を2倍にすることができる。   FIGS. 9A to 9D are diagrams illustrating an operation in which the pickup unit 3 is rotationally driven to switch between the two suction portions 15 in a plurality of steps. (A) is the first state in which the side facing the gantry 5 is switched from the lower suction part 15 to the upper suction part 15, and (B) and (C) are in the middle of the pickup unit 3 being driven to rotate. (D) is a state in which the upper suction part 15 and the lower suction part 15 are completely switched. If a switching method in which two suction units are switched and used in this way, the pickup speed can be doubled with respect to the pickup unit 3 having only one suction unit 15.

本発明のピックアップ装置およびピックアップ方法は、半導体チップ等のピックアップ対象物をピックアップして圧着装置などに受け渡すために利用できる。   The pickup device and the pickup method of the present invention can be used for picking up an object to be picked up such as a semiconductor chip and delivering it to a crimping device or the like.

本発明に係るピックアップ装置の主要部を模式的に示す全体図。1 is an overall view schematically showing a main part of a pickup device according to the present invention. 図1におけるピックアップ部分の側面図。The side view of the pick-up part in FIG. 図1における突き上げピン9のA部分の断面図。Sectional drawing of A part of the push-up pin 9 in FIG. ピックアップ装置1の主要部の制御を行う制御装置とそれに接続される各検出手段と駆動手段のブロック図。FIG. 3 is a block diagram of a control device that controls the main part of the pickup device 1 and each detection means and drive means connected thereto. 半導体チップ4aのピックアップ工程を示す図。The figure which shows the pick-up process of the semiconductor chip 4a.

図5の各工程における各部の移動と接触圧の変化を示す図。The figure which shows the movement of each part in each process of FIG. 5, and the change of a contact pressure. 3成分の圧力を検出する圧力検出手段12により、突き上げピン9の突き上げ状態の正常・異常を検出する例を説明した図。The figure explaining the example which detects the normality / abnormality of the pushing-up state of the pushing-up pin 9 by the pressure detection means 12 which detects the pressure of 3 components. 3成分の圧力を検出する圧力検出手段12により、粘着テープ6に多数の半導体チップ4aを二次元的に配列した半導体ウエハにおける各部の突き上げ傾向を検出する例を説明した図。The figure explaining the example which detects the pushing-up tendency of each part in the semiconductor wafer which arranged the many semiconductor chips 4a on the adhesive tape 6 by the pressure detection means 12 which detects the pressure of 3 components. ピックアップユニット3を回転駆動して2つの吸着部15を切り換える操作を説明した図。The figure explaining operation which drives the pick-up unit 3 and switches two adsorption | suction parts 15. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 ピックアップ装置
2 突き上げユニット
3 ピックアップユニット
4 ピックアップ対象物
4a 半導体チップ
5 架台
6 粘着シート
7 二次元駆動手段
8 位置検出手段
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Pickup apparatus 2 Push-up unit 3 Pickup unit 4 Pickup target object 4a Semiconductor chip 5 Base 6 Adhesive sheet 7 Two-dimensional drive means 8 Position detection means

9 突き上げピン
9a 基部
9b ピン部
9c 吸着孔
9d 配管
9e 吸着制御弁
10 軸体
11 駆動手段
12 圧力検出手段
DESCRIPTION OF SYMBOLS 9 Push-up pin 9a Base 9b Pin part 9c Adsorption hole 9d Piping 9e Adsorption control valve 10 Shaft body 11 Drive means 12 Pressure detection means

13 位置検出手段
13a エンコーダ
13b エンコーダガラススケール
14 本体
15 吸着部
15a 配管
15b 吸着制御弁
16 回転駆動手段
13 Position detection means 13a Encoder 13b Encoder glass scale 14 Main body 15 Adsorption part 15a Piping 15b Adsorption control valve 16 Rotation drive means

17 駆動手段
18 位置検出手段
18a エンコーダ
18b エンコーダガラススケール
19 駆動手段
20 制御装置
21 制御部
22 記憶部
23 表示部
24 入力部
25,26 インターフェイス
DESCRIPTION OF SYMBOLS 17 Drive means 18 Position detection means 18a Encoder 18b Encoder glass scale 19 Drive means 20 Control apparatus 21 Control part 22 Memory | storage part 23 Display part 24 Input part 25,26 Interface

Claims (6)

ピックアップ対象物(4)が配置される架台(5)を挟んで対向配置される突き上げユニット(2)とピックアップユニット(3)を備えたピックアップ装置において、
ピックアップユニット(3)は位置検出手段(18)と駆動手段(17)により架台(5)方向に往復駆動される本体(14)と、その本体(14)に設けた吸着部(15)を備え、
突き上げユニット(2)は圧力検出手段(12)と位置検出手段(13)と駆動手段(11)により架台(5)方向に往復駆動可能な突き上げピン(9)を備え、突き上げピン(9)の先端とピックアップ対象物(4)との接触圧を圧力検出手段(12)で検出するように構成され、
その突き上げユニット(2)は、リニアモータによる駆動手段(11)により、その突き上げピン(9)を架台(5)に接近する方向に駆動操作して、エンコーダ(13a)およびエンコーダガラススケール(13b)による前記位置検出手段(13)で位置を検出しつつ、その先端を架台(5)に配置したピックアップ対象物(4)に接触させ、圧力検出手段(12)によるその接触圧検出により、突き上げピン(9)の先端がピックアップ対象物(4)に接触したことを検出し、その検出結果に基づいて突き上げピン(9)の駆動操作を停止し、若しくは更に所定距離だけ追加移動してから駆動操作を停止し、
次いでその状態で、前記ピックアップユニット(3)は、エンコーダ(18a)およびエンコーダガラススケール(18b)による前記位置検出手段(18)とリニアモータによる駆動手段(17)との位置制御により、それを架台(5)に接近する方向に、駆動操作してその吸着部(15)をピックアップ対象物(4)に接触させ、その接触圧を前記圧力検出手段(12)で検出し、その検出に基づき、圧力制御(もしくはトルク制御)に切り換えて、その検出圧力が予め設定された値になるように本体(14)の駆動力を調整し、次いで吸着部(15)でピックアップ対象物(4)を吸着してから本体(14)を架台(5)から離反する方向に駆動操作することを特徴とするピックアップ装置。
In a pickup apparatus comprising a push-up unit (2) and a pickup unit (3) arranged opposite to each other with a mount (5) on which a pickup object (4) is arranged,
The pickup unit (3) includes a main body (14) reciprocally driven in the direction of the gantry (5) by the position detection means (18) and the driving means (17), and an adsorption portion (15) provided on the main body (14). ,
The push-up unit (2) includes a push-up pin (9) that can be driven back and forth in the direction of the gantry (5) by the pressure detection means (12), the position detection means (13), and the drive means (11). The pressure detection means (12) is configured to detect the contact pressure between the tip and the pickup object (4),
The push-up unit (2) is driven by a drive means (11) by a linear motor so that the push-up pin (9) is driven in a direction approaching the gantry (5), and the encoder (13a) and the encoder glass scale (13b) While detecting the position by the position detection means (13), the tip is brought into contact with the pickup object (4) arranged on the gantry (5), and the contact pressure detection by the pressure detection means (12) detects the push-up pin. It is detected that the tip of (9) has contacted the pickup object (4), and the drive operation of the push-up pin (9) is stopped based on the detection result, or the drive operation is further performed after an additional movement by a predetermined distance. Stop
Next, in that state, the pickup unit (3) mounts it on the frame by position control of the position detection means (18) by the encoder (18a) and the encoder glass scale (18b) and the drive means (17) by the linear motor. In the direction approaching (5), the suction part (15) is brought into contact with the pickup object (4) by driving, the contact pressure is detected by the pressure detection means (12), and based on the detection, Switch to pressure control (or torque control), adjust the driving force of the main body (14) so that the detected pressure becomes a preset value, and then pick up the pickup object (4) with the suction part (15) Then, the main body (14) is driven and operated in a direction away from the gantry (5).
請求項1において、
ピックアップユニット(3)は回転駆動手段(16)で回転する本体(14)と、その本体(14)に設けた2つの吸着部(15)とを備え、本体(14)が180度回転するごとに2つの吸着部(15)が交互に架台(5)に対向するように構成されていることを特徴とするピックアップ装置。
In claim 1,
The pickup unit (3) includes a main body (14) that is rotated by a rotation driving means (16), and two adsorption portions (15) provided on the main body (14), and each time the main body (14) rotates 180 degrees. The pickup device is characterized in that the two suction portions (15) are alternately opposed to the gantry (5).
請求項1または請求項2において、
圧力検出手段(12)は突き上げユニット(2)の移動方向におけるZ方向接触圧と、前記移動方向に直交する2つのX方向接触圧とY方向接触圧とからなる3成分の接触圧を検出して、そのX方向接触圧、Y方向接触圧の存在または、Z方向接触圧の基準値以下の値により、突き上げピン(9)の突き上げ状態の異常を検知できるように構成されていることを特徴とするピックアップ装置。
In claim 1 or claim 2 ,
Detecting the Z-direction contact pressure in the moving direction of the pressure detection means (12) is push-up unit (2), the contact pressure of three components consisting of two X-direction contact pressure and the Y-direction contact pressure perpendicular to the moving direction The presence of the X-direction contact pressure, the Y-direction contact pressure, or the value below the reference value of the Z-direction contact pressure is configured to detect an abnormality in the push-up state of the push-up pin (9). Pickup device.
請求項1ないし請求項3のいずれかにおいて、ピックアップ対象物(4)が粘着シート(6) 上に配列された半導体チップ(4a)であり、前記架台(5)はピックアップすべき半導体チップ(4a)をピックアップ位置に移動するための二次元駆動手段(7) を備え、移動した架台位置を検出する位置検出手段(8)と、その位置検出手段(8)により検出される架台位置に関連付けて圧力検出手段(12)で検出した突き上げピン(9)の先端と半導体チップ(4a)との接触圧をピックアップごとに記憶する記憶手段(22)が設けられていることを特徴とするピックアップ装置。 4. The pick-up object (4) according to any one of claims 1 to 3 , wherein the pickup object (4) is a semiconductor chip (4a) arranged on an adhesive sheet (6), and the mount (5) is a semiconductor chip (4a) to be picked up. ) Is moved to the pickup position, the position detection means (8) for detecting the position of the moved gantry, and the gantry position detected by the position detection means (8). A pickup device comprising a storage means (22) for storing the contact pressure between the tip of the push-up pin (9) and the semiconductor chip (4a) detected by the pressure detection means (12) for each pickup. ピックアップ対象物(4)が配置される架台(5)を挟んで対向配置される突き上げユニット(2)とピックアップユニット(3)を備えたピックアップ装置を用いて前記ピックアップ対象物(4)をピックアップする方法において、
ピックアップユニット(3)は位置検出手段(18)と駆動手段(17)により架台(5)方向に往復駆動される本体(14)と、その本体(14)に設けた吸着部(15)を備え、
突き上げユニット(2)は、圧力検出手段(12)と、位置検出手段(13)および駆動手段(11)とを有し、架台(5)方向に往復駆動可能な突き上げピン(9)を備え、
リニアモータによる前記駆動手段(11)およびエンコーダ(13a)およびエンコーダガラススケール(13b)よる位置検出手段(13)により、位置を検出しつつ、前記突き上げピン(9)を架台(5)に接近する方向に駆動操作して、その先端を架台(5)に配置したピックアップ対象物(4)に接触させ、圧力検出手段(12)によるその接触圧検出により、突き上げピン(9)の先端がピックアップ対象物(4)に接触したことを検出し、その検出結果に基づいて突き上げピン(9)の駆動操作を停止し、若しくは更に所定距離だけ追加移動してから駆動操作を停止し、
次いでその状態で、前記ピックアップユニット(3)を、エンコーダ(18a)およびエンコーダガラススケール(18b)による位置検出手段(18)とリニアモータによる駆動手段(17)との位置制御により位置を検出しつつ、架台(5)に接近する方向に駆動操作してその吸着部(15)をピックアップ対象物(4)に接触させ、その接触圧を前記圧力検出手段(12)で検出し、その検出に基づき、圧力制御(もしくはトルク制御)に切り換えて、その検出圧力が予め設定された値になるように本体(14)の駆動力を調整し、次いで吸着部(15)でピックアップ対象物(4)を吸着してから、本体(14)を架台(5)から離反する方向に駆動操作することを特徴とするピックアップ方法。
The pickup object (4) is picked up using a pickup device having a push-up unit (2) and a pickup unit (3) arranged opposite to each other with a mount (5) on which the pickup object (4) is arranged. In the method
The pickup unit (3) includes a main body (14) reciprocally driven in the direction of the gantry (5) by the position detection means (18) and the driving means (17), and an adsorption portion (15) provided on the main body (14). ,
The push-up unit (2) has a pressure detection means (12), a position detection means (13), and a drive means (11), and includes a push-up pin (9) that can be driven back and forth in the direction of the gantry (5),
By the drive means by the linear motor (11) and encoder position detector according to (13a) and the encoder glass scale (13b) (13), while detecting a position, approaching the push-up pin (9) to the frame (5) The tip of the push-up pin (9) is picked up by the contact pressure detected by the pressure detection means (12) by bringing the tip into contact with the pickup object (4) placed on the gantry (5). Detecting contact with the object (4), and stopping the driving operation of the push-up pin (9) based on the detection result, or further stopping the driving operation after additional movement by a predetermined distance,
Next, in this state, the pickup unit (3) detects the position by position control of the position detection means (18) by the encoder (18a) and the encoder glass scale (18b) and the drive means (17) by the linear motor. The adhering portion (15) is brought into contact with the pickup object (4) by driving in the direction approaching the gantry (5), and the contact pressure is detected by the pressure detecting means (12). , Switch to pressure control (or torque control), adjust the driving force of the main body (14) so that the detected pressure becomes a preset value, and then pick up the pickup object (4) with the suction part (15) A pick-up method comprising: driving the main body (14) in a direction away from the gantry (5) after the suction.
請求項5において、ピックアップ対象物が粘着シート(6)上に配列された半導体チップ(4a)である場合に、前記架台(5)を二次元駆動手段(7)で駆動することにより、ピックアップすべき半導体チップ(4a)をピックアップ位置に移動してから突き上げピン(9)の駆動操作を行い、圧力検出手段(12)で検出した突き上げピン(9)の先端と半導体チップ(4a)との各接触圧を移動した架台位置に関連付けて記憶手段(22)に記憶し、記憶された各接触圧を表示手段(23)で二次元的に表示することを特徴とするピックアップ方法。 6. The pickup according to claim 5, wherein when the pickup object is a semiconductor chip (4a) arranged on the adhesive sheet (6) , the platform (5) is driven by a two-dimensional drive means (7). After the semiconductor chip (4a) to be moved is moved to the pickup position, the drive operation of the push-up pin (9) is performed, and each of the tip of the push-up pin (9) detected by the pressure detection means (12) and the semiconductor chip (4a) A pick-up method characterized in that the contact pressure is stored in the storage means (22) in association with the moved gantry position, and each stored contact pressure is two-dimensionally displayed on the display means (23).
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