JP5071601B1 - Positioning device, mounting device, and manufacturing method of substrate device - Google Patents

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Abstract

【課題】台上の予め定められた位置決め位置に位置決めされる部品が該台上で倒れるのを抑制する。
【解決手段】部品を直立姿勢で載せる第1領域及び前記部品を載せない第2領域を有する台と、前記第1領域に形成された複数の第1吸引孔と、前記第2領域に、前記第1領域における前記複数の第1吸引孔よりも低密度に形成された複数の第2吸引孔と、突当部を有し、前記第1領域上の仮置き位置に仮置きされた前記部品の側面に対して該突当部を突き当てた状態で前記部品を前記第1領域上の予め定められた位置決め位置に移動させて位置決めする位置決め部材と、前記突当部に開口する開口部を有し、該開口部と前記第2吸引孔とを通じさせる吸引路と、前記第1領域上に載せられている前記部品の底面を前記第1吸引孔を通じて吸引すると共に、該部品の側面を前記第2吸引孔及び前記吸引路を通じて吸引する吸引装置と、を備える位置決め装置。
【選択図】図3
A component positioned at a predetermined positioning position on a table is prevented from falling on the table.
A platform having a first region on which a component is placed in an upright position and a second region on which the component is not placed, a plurality of first suction holes formed in the first region, and the second region, The component having a plurality of second suction holes formed at a lower density than the plurality of first suction holes in the first region, and an abutting portion, and temporarily placed at a temporary placement position on the first region A positioning member that moves and positions the component to a predetermined positioning position on the first region in a state in which the abutting portion is abutted against the side surface of the first side, and an opening that opens to the abutting portion. A suction path that passes through the opening and the second suction hole, and sucks the bottom surface of the component placed on the first region through the first suction hole, and the side surface of the component is A suction device for sucking through the second suction hole and the suction path; Positioning device.
[Selection] Figure 3

Description

本発明は、位置決め装置、搭載装置及び基板装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a positioning device, a mounting device, and a method for manufacturing a substrate device.

特許文献1には、供給部から縦長形状のチップを取り出して基板へ実装する電子部品実装方法において、プリセンタステージに載置されたチップを位置決め爪によって位置決めするセンタリング動作に際し、ピックアップノズルに吸着保持されたチップの下面とプリセンタステージの上面との隙間が所定寸法となる高さ位置で停止させ、位置決め爪の当接部とチップの側面との隙間が所定寸法となる位置で停止させた状態で、当接部の吸着孔から真空吸引してチップを当接部に吸着保持する電子部品実装方法が開示されている。   In Patent Document 1, in an electronic component mounting method in which a vertically long chip is taken out from a supply unit and mounted on a substrate, the chip mounted on the pre-center stage is attracted and held by a pickup nozzle during a centering operation for positioning by a positioning claw. Stopped at a height position where the gap between the lower surface of the chip and the upper surface of the pre-center stage has a predetermined dimension, and stopped at a position where the gap between the contact portion of the positioning claw and the side surface of the chip has a predetermined dimension Thus, an electronic component mounting method is disclosed in which a chip is sucked and held on the contact portion by vacuum suction from the suction hole of the contact portion.

特許第4140190号公報Japanese Patent No. 4140190

本発明は、台上の予め定められた位置決め位置に位置決めされる部品が該台上で倒れるのを抑制することを課題とする。   This invention makes it a subject to suppress that the components positioned in the predetermined positioning position on a stand fall down on this stand.

請求項1の発明は、部品を直立姿勢で載せる第1領域及び前記部品を載せない第2領域を有する台と、前記第1領域に形成された複数の第1吸引孔と、前記第2領域に、前記第1領域における前記複数の第1吸引孔よりも低密度に形成された複数の第2吸引孔と、突当部を有し、前記第1領域上の仮置き位置に仮置きされた前記部品の側面に対して該突当部を突き当てた状態で前記部品を前記第1領域上の予め定められた位置決め位置に移動させて位置決めする位置決め部材と、前記突当部に開口する開口部を有し、該開口部と前記第2吸引孔とを通じさせる吸引路と、前記第1領域上に載せられている前記部品の底面を前記第1吸引孔を通じて吸引すると共に、該部品の側面を前記第2吸引孔及び前記吸引路を通じて吸引する吸引装置と、を備える位置決め装置である。   The invention according to claim 1 is a platform having a first region on which a component is placed in an upright posture and a second region on which the component is not placed, a plurality of first suction holes formed in the first region, and the second region. And a plurality of second suction holes formed at a lower density than the plurality of first suction holes in the first region, and abutment portions, and are temporarily placed at a temporary placement position on the first region. A positioning member that moves the component to a predetermined positioning position on the first region in a state where the abutting portion abuts against a side surface of the component, and an opening in the abutting portion. A suction passage that has an opening, the suction path passing through the opening and the second suction hole, and the bottom surface of the component placed on the first region is sucked through the first suction hole; A suction device for sucking a side surface through the second suction hole and the suction path; A positioning device comprising.

請求項2の発明は、前記位置決め部材は、前記突当部が前記第2領域に退避した状態から移動して前記部品の側面に突き当たる請求項1に記載の位置決め装置である。   The invention of claim 2 is the positioning device according to claim 1, wherein the positioning member moves from a state in which the abutting portion is retracted to the second region and abuts against a side surface of the component.

請求項3の発明は、前記部品は、長さを有し、前記位置決め部材は、前記複数の第1吸引孔のうちの2つ以上が前記部品の底面における長手方向の各部分で塞がれる位置に設定された前記位置決め位置に、前記部品を移動させて位置決めし、さらに、前記複数の第1吸引孔の2つ以上が前記部品の底面における長手方向の各部分で塞がれる位置に設定された前記仮置き位置に、前記部品を仮置きする仮置き部を備える請求項1又は2に記載の位置決め装置である。   According to a third aspect of the present invention, the component has a length, and the positioning member is closed by two or more of the plurality of first suction holes at respective longitudinal portions of the bottom surface of the component. The component is moved and positioned at the positioning position set to a position, and further, two or more of the plurality of first suction holes are set at positions where the longitudinal portions of the bottom surface of the component are blocked. The positioning device according to claim 1, further comprising a temporary placement unit that temporarily places the component at the temporary placement position.

請求項4の発明は、部品を位置決めする請求項1〜3のいずれか1項に記載の位置決め装置と、基板を位置決めする基板位置決め部と、前記位置決め装置で位置決めされた前記部品を保持する保持具と、前記保持具を移動して前記基板位置決め部に位置決めされた基板に前記部品を搭載する移動機構と、を備えた搭載装置である。   A fourth aspect of the present invention is the positioning device according to any one of the first to third aspects for positioning a component, a substrate positioning portion for positioning a substrate, and a holding for holding the component positioned by the positioning device. And a moving mechanism for moving the holding tool and mounting the component on the board positioned by the board positioning unit.

請求項5の発明は、請求項4に記載の搭載装置の前記位置決め装置によって前記部品を位置決めする部品位置決め工程と、前記基板位置決め部に前記基板を位置決めする基板位置決め工程と、前記部品位置決め工程で位置決めされた前記部品を前記保持具で保持し、前記基板位置決め工程で位置決めされた前記基板に該部品を搭載する搭載工程と、を有する基板装置の製造方法である。   According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a component positioning step of positioning the component by the positioning device of the mounting device according to claim 4, a substrate positioning step of positioning the substrate on the substrate positioning portion, and the component positioning step. And a mounting step of mounting the component on the substrate positioned in the substrate positioning step by holding the component positioned by the holder.

本発明の請求項1の構成によれば、同密度の吸引孔を通じて部品の底面と側面とを吸引する場合に比べ、台上の予め定められた位置決め位置に位置決めされる部品が該台上で倒れるのを抑制できる。   According to the configuration of the first aspect of the present invention, compared with the case where the bottom surface and the side surface of the component are sucked through the suction holes of the same density, the component positioned at the predetermined positioning position on the table is on the table. It can suppress falling down.

本発明の請求項2の構成によれば、部品が載せられる第1領域内で突当部が退避している場合に比べ、台上の予め定められた位置決め位置に位置決めされる部品が該台上で倒れるのを抑制できる。   According to the configuration of the second aspect of the present invention, compared with the case where the abutting portion is retracted in the first region where the component is placed, the component positioned at the predetermined positioning position on the table is the table. It can be suppressed from falling down.

本発明の請求項3の構成によれば、本構成を有しない場合に比べ、台上の予め定められた位置決め位置に位置決めされる部品が該台上で倒れるのを抑制できる。   According to the structure of Claim 3 of this invention, compared with the case where it does not have this structure, it can suppress that the components positioned in the predetermined positioning position on a stand fall on this stand.

本発明の請求項4の構成によれば、本構成における位置決め装置を備えない場合に比べ、基板に搭載される部品が台上で倒れるのを抑制できる。   According to the configuration of the fourth aspect of the present invention, it is possible to suppress the components mounted on the board from falling on the table as compared with the case where the positioning device in the present configuration is not provided.

本発明の請求項5の製造方法によれば、本製造方法における部品位置決め工程を有しない場合に比べ、製造される基板装置の歩留まりが向上する。   According to the manufacturing method of the fifth aspect of the present invention, the yield of the manufactured board device is improved as compared with the case where the component positioning step in the manufacturing method is not provided.

本実施形態に係る製造装置の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the manufacturing apparatus which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る位置決め台のプレート及び位置決め部材の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the plate of the positioning base and positioning member which concern on this embodiment. 図2に示す構成において、仮置き位置に仮置きされた半導体素子に対して突当部を突き当てた状態を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a state in which an abutting portion is abutted against a semiconductor element temporarily placed at a temporary placement position in the configuration shown in FIG. 2. 図2に示す構成において、半導体素子が位置決め部材によって位置決め位置に位置決めされた状態を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a state where the semiconductor element is positioned at a positioning position by a positioning member in the configuration shown in FIG. 2. 本実施形態に係る吸引孔の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the suction hole which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る位置決め部材の構成を一部拡大して示す斜視図である。It is a perspective view which expands and partially shows the structure of the positioning member which concerns on this embodiment. 本実施形態に係るコレットの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the collet which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る仮置工程を示す動作図である。It is an operation | movement figure which shows the temporary placement process which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る素子位置決め工程を示す動作図である。It is an operation figure showing an element positioning process concerning this embodiment. 本実施形態に係る保持工程を示す動作図である。It is an operation | movement figure which shows the holding process which concerns on this embodiment.

以下に、本発明に係る実施形態の一例を図面に基づき説明する。   Below, an example of an embodiment concerning the present invention is described based on a drawing.

(製造装置10)
まず、本実施形態に係る製造装置10の構成を説明する。図1は、製造装置10の構成を示す斜視図である。なお、下記のX(−X)方向、Y(−Y)方向、Z(−Z)方向は、互いに直交する座標系を示しており、X方向、−X方向、Y方向、−Y方向、Z方向(上方)及び−Z方向(下方)は、図中に示す矢印方向である。また、特記する場合を除き、「X方向」は「X方向または−X方向」、「Y方向」は「Y方向または−Y方向」、「Z方向」は「Z方向または−Z方向」の意である。また、図中の「○」の中に「×」が記載されたものは、紙面の手前から奥へ向かう矢印を意味し、図中の「○」の中に「・」が記載されたものは、紙面の奥から手前へ向かう矢印を意味する。
(Manufacturing apparatus 10)
First, the configuration of the manufacturing apparatus 10 according to the present embodiment will be described. FIG. 1 is a perspective view showing the configuration of the manufacturing apparatus 10. The following X (−X) direction, Y (−Y) direction, and Z (−Z) direction indicate coordinate systems orthogonal to each other, and the X direction, −X direction, Y direction, −Y direction, The Z direction (upward) and the -Z direction (downward) are arrow directions shown in the figure. Unless otherwise specified, “X direction” is “X direction or −X direction”, “Y direction” is “Y direction or −Y direction”, and “Z direction” is “Z direction or −Z direction”. I mean. In addition, “x” in “○” in the figure means an arrow from the front to the back of the page, and “•” in “○” in the figure. Means an arrow heading from the back of the page to the front.

製造装置10は、基板装置の一例としてのプリント配線基板装置を製造する製造装置であり、図1に示されるように、部品の一例としての半導体素子12を供給する供給部13と、半導体素子12を位置決めする位置決め装置の一例としての素子位置決め装置20と、基板の一例としてのプリント配線基板44を位置決めする基板位置決め部40と、供給部13から素子位置決め装置20へ半導体素子12を移送する移送装置50と、素子位置決め装置20で位置決めされた半導体素子12を基板位置決め部40で位置決めされたプリント配線基板44へ移送する移送装置60と、を備えている。   The manufacturing apparatus 10 is a manufacturing apparatus that manufactures a printed wiring board device as an example of a substrate device. As shown in FIG. 1, a supply unit 13 that supplies a semiconductor element 12 as an example of a component, and a semiconductor element 12 An element positioning device 20 as an example of a positioning device for positioning the substrate, a substrate positioning unit 40 for positioning a printed wiring board 44 as an example of a substrate, and a transfer device for transferring the semiconductor element 12 from the supply unit 13 to the element positioning device 20 50 and a transfer device 60 that transfers the semiconductor element 12 positioned by the element positioning device 20 to the printed wiring board 44 positioned by the substrate positioning unit 40.

さらに、製造装置10は、製造装置10の各構成部分(供給部13、素子位置決め装置20、基板位置決め部40、移送装置50、移送装置60)の動作(駆動)を制御する制御手段の一例としての制御部90を備えている。   Furthermore, the manufacturing apparatus 10 is an example of a control unit that controls the operation (drive) of each component of the manufacturing apparatus 10 (the supply unit 13, the element positioning device 20, the substrate positioning unit 40, the transfer device 50, and the transfer device 60). The control unit 90 is provided.

製造装置10では、半導体素子12をプリント配線基板44に搭載する搭載装置100が、素子位置決め装置20と、基板位置決め部40と、移送装置60と、を有して構成されている。   In the manufacturing apparatus 10, the mounting apparatus 100 that mounts the semiconductor element 12 on the printed wiring board 44 includes the element positioning apparatus 20, the board positioning section 40, and the transfer apparatus 60.

(半導体素子12)
プリント配線基板44に搭載(実装)される半導体素子12としては、例えば、長尺に形成された断面四角形状の半導体素子(例えば、LEDチップ)が用いられる(図7参照)。具体的には、半導体素子12は、例えば、幅(Y方向長さ)125μm、長さ(X方向長さ)6mm、高さ(Z方向長さ)300μmとされている。また、半導体素子12の表面(上面)には、回路パターンや発光素子等の機能部が設けられている。さらに、半導体素子12は、断面形状が平行四辺形をしている(図8参照)。
(Semiconductor element 12)
As the semiconductor element 12 mounted (mounted) on the printed wiring board 44, for example, an elongated semiconductor element (for example, an LED chip) having a rectangular cross section is used (see FIG. 7). Specifically, the semiconductor element 12 has, for example, a width (Y direction length) of 125 μm, a length (X direction length) of 6 mm, and a height (Z direction length) of 300 μm. In addition, a functional portion such as a circuit pattern or a light emitting element is provided on the surface (upper surface) of the semiconductor element 12. Further, the semiconductor element 12 has a parallelogram shape in cross section (see FIG. 8).

(供給部13)
図1に示されるように、供給部13は、ウエハ14を保持する保持部15と、保持部15をX方向及びY方向へ移動させる移動機構17と、を備えている。供給部13では、保持部15が保持するウエハ14が切断されることにより、ウエハ14から複数の半導体素子12が切り出されるようになっている。また、供給部13では、移動機構17が保持部15をX方向及びY方向へ移動させることで、搭載対象の半導体素子12を移送装置50による予め定められたピックアップ位置に位置させるようになっている。
(Supply unit 13)
As shown in FIG. 1, the supply unit 13 includes a holding unit 15 that holds the wafer 14 and a moving mechanism 17 that moves the holding unit 15 in the X direction and the Y direction. In the supply unit 13, a plurality of semiconductor elements 12 are cut out from the wafer 14 by cutting the wafer 14 held by the holding unit 15. Further, in the supply unit 13, the moving mechanism 17 moves the holding unit 15 in the X direction and the Y direction, so that the semiconductor element 12 to be mounted is positioned at a predetermined pickup position by the transfer device 50. Yes.

なお、供給部13は、さらに、半導体素子12が載せられる台としてのトレイと、該トレイをX方向及びY方向へ移動させる移動機構と、該トレイへウエハ14から半導体素子12を移送する移送機構と、を有する構成であってもよい。この構成では、移送機構がウエハ14からトレイに半導体素子12を移送し、移動機構がトレイをX方向及びY方向へ移動させることで、トレイに載せられた半導体素子12を移送装置50による予め定められたピックアップ位置に位置させるようになっている。   The supply unit 13 further includes a tray on which the semiconductor element 12 is placed, a moving mechanism that moves the tray in the X direction and the Y direction, and a transfer mechanism that transfers the semiconductor element 12 from the wafer 14 to the tray. The structure which has these. In this configuration, the transfer mechanism transfers the semiconductor element 12 from the wafer 14 to the tray, and the moving mechanism moves the tray in the X direction and the Y direction, so that the semiconductor element 12 placed on the tray is predetermined by the transfer device 50. It is designed to be located at the picked-up position.

(移送装置50)
図1に示されるように、移送装置50は、吸引ノズル54で半導体素子12を吸引する吸引器52と、吸引器52を移動させる移動機構53と、を備えている。移送装置50では、吸引器52が、供給部13におけるピックアップ位置に位置する半導体素子12を吸引ノズル54で吸引することで半導体素子12を吸引ノズル54に保持する。そして、移送装置50では、半導体素子12を吸引ノズル54に保持した状態で、移動機構53によって吸引器52が矢印A方向に移動することで、後述の位置決め台30のプレート34上に半導体素子12を移送して、該プレート34における搭載領域34A上の仮置き位置に半導体素子12を直立姿勢で仮置きするようになっている。すなわち、移送装置50は、仮置き位置に半導体素子12を仮置きする仮置き部の一例として機能するようになっている。
(Transfer device 50)
As shown in FIG. 1, the transfer device 50 includes a suction device 52 that sucks the semiconductor element 12 with the suction nozzle 54, and a moving mechanism 53 that moves the suction device 52. In the transfer device 50, the suction device 52 holds the semiconductor element 12 in the suction nozzle 54 by sucking the semiconductor element 12 located at the pickup position in the supply unit 13 with the suction nozzle 54. In the transfer device 50, the semiconductor element 12 is held on the plate 34 of the positioning table 30 to be described later by moving the suction device 52 in the arrow A direction by the moving mechanism 53 while the semiconductor element 12 is held by the suction nozzle 54. The semiconductor element 12 is temporarily placed in an upright posture at a temporary placement position on the mounting area 34A of the plate 34. That is, the transfer device 50 functions as an example of a temporary placement unit that temporarily places the semiconductor element 12 at the temporary placement position.

なお、半導体素子12の直立姿勢とは、半導体素子12が倒れうる姿勢であり、本実施形態では、半導体素子12のプレート34に接地するY方向長さよりも、半導体素子12の高さ(Z方向長さ)が高くなる姿勢となっている。   The upright posture of the semiconductor element 12 is a posture in which the semiconductor element 12 can fall down. In this embodiment, the height of the semiconductor element 12 (Z direction) is longer than the length in the Y direction of grounding the plate 34 of the semiconductor element 12. (Length) will be higher.

仮置き位置は、後述の複数の第1吸引孔38Aの2つ以上が、半導体素子12の底面12Dにおける長手方向の各部分で塞がれる位置に、設定されている。具体的には、仮置き位置は、半導体素子12の底面12Dにおける長手方向の一端部から他端部に亘る各部分で、X方向に沿って1列に配置された少なくとも2つの第1吸引孔38Aの各々の孔全体が塞がれる位置に設定されている。また、仮置き位置は、後述の搭載領域34AにおけるY方向側(非搭載領域34B側)の端部に設定されている。   The temporary placement position is set to a position where two or more of a plurality of first suction holes 38A described later are blocked by each longitudinal portion of the bottom surface 12D of the semiconductor element 12. Specifically, the temporary placement positions are at least two first suction holes arranged in a line along the X direction at each portion from one end portion to the other end portion in the longitudinal direction of the bottom surface 12D of the semiconductor element 12. It is set at a position where the entire hole of each of 38A is closed. Further, the temporary placement position is set at an end portion on the Y direction side (non-mounting area 34B side) in a mounting area 34A described later.

なお、移送装置50の移動機構53としては、例えば、X方向、Y方向及びZ方向に移動可能な三軸ロボットが用いられる。   As the moving mechanism 53 of the transfer device 50, for example, a three-axis robot that can move in the X direction, the Y direction, and the Z direction is used.

(素子位置決め装置20)
図1に示されるように、素子位置決め装置20は、半導体素子12が直立姿勢で載せられる台の一例としての位置決め台30と、位置決め台30に載せられた半導体素子12を予め定められた位置決め位置に位置決めする位置決め部材22と、位置決め部材22をX方向及びY方向へ移動させる移動機構29と、を備えている。
(Element positioning device 20)
As shown in FIG. 1, the element positioning device 20 includes a positioning table 30 as an example of a table on which the semiconductor element 12 is placed in an upright posture, and a predetermined positioning position of the semiconductor element 12 mounted on the positioning table 30. And a moving mechanism 29 for moving the positioning member 22 in the X direction and the Y direction.

位置決め台30は、上部に開口部33を有する円筒部32と、円筒部32の開口部33に設けられたプレート34と、円筒部32の内部空間の空気を吸引して該内部空間を負圧にする吸引装置36と、を備えている。プレート34には、複数の吸引孔38が形成されている。この複数の吸引孔38は、プレート34を貫通しており、円筒部32の内部空間と通じている。   The positioning table 30 sucks the air in the internal space of the cylindrical portion 32 by sucking the internal space of the cylindrical portion 32 having the opening portion 33 in the upper portion, the plate 34 provided in the opening portion 33 of the cylindrical portion 32, and negative pressure in the internal space. A suction device 36. A plurality of suction holes 38 are formed in the plate 34. The plurality of suction holes 38 pass through the plate 34 and communicate with the internal space of the cylindrical portion 32.

複数の吸引孔38は、具体的には、図2に示されるように、位置決め台30における半導体素子12が載せられる領域(第1領域)の一例としての搭載領域34Aに形成された複数の第1吸引孔38Aと、位置決め台30における半導体素子12が載せられない領域(第2領域)の一例としての非搭載領域34Bに形成された複数の第2吸引孔38Bと、を有している。   Specifically, as shown in FIG. 2, the plurality of suction holes 38 are a plurality of first holes formed in a mounting region 34 </ b> A as an example of a region (first region) on which the semiconductor element 12 is placed on the positioning table 30. One suction hole 38 </ b> A and a plurality of second suction holes 38 </ b> B formed in a non-mounting region 34 </ b> B as an example of a region (second region) on the positioning table 30 where the semiconductor element 12 is not placed.

第2吸引孔38Bは、非搭載領域34Bにおいて、搭載領域34Aにおける複数の第1吸引孔38Aよりも低密度に形成されている。すなわち、搭載領域34Aは、吸引孔が高密度に形成された高密度領域であり、非搭載領域34Bは、吸引孔が低密度に形成された低密度領域となっている。なお、ここでいう密度とは、単位面積当たりの吸引孔全体の開口面積をいう。従って、低密度領域とは、高密度領域に比べて、単位面積当たりの吸引孔全体の開口面積が小さい場合をいう。例えば、高密度領域に比べて、単位面積当たりの吸引孔の数が同じ又は多い場合でも、1つの吸引孔の開口面積(孔径)が小さく、単位面積当たりの吸引孔全体の開口面積が小さければ、低密度領域となる。   The second suction holes 38B are formed in the non-mounting area 34B at a lower density than the plurality of first suction holes 38A in the mounting area 34A. That is, the mounting area 34A is a high-density area where the suction holes are formed with high density, and the non-mounting area 34B is a low-density area where the suction holes are formed with low density. In addition, the density here means the opening area of the whole suction hole per unit area. Therefore, the low density region refers to a case where the opening area of the entire suction hole per unit area is smaller than that of the high density region. For example, even when the number of suction holes per unit area is the same or larger than that of a high-density region, if the opening area (hole diameter) of one suction hole is small and the entire suction hole per unit area is small It becomes a low density region.

また、非搭載領域34Bは、搭載領域34Aの領域外に配置されている。具体的には、非搭載領域34Bは、搭載領域34Aを間に挟むように、搭載領域34AのY方向及び−Y方向側に配置されている。さらに、非搭載領域34Bは、半導体素子12が載せられない領域であって、位置決め部材22が移動する領域となっている。なお、位置決め部材22は、プレート34に吸着されて移動抵抗を受けないように、プレート34に対して非接触な状態を保って移動するようになっている。一方、搭載領域34Aでは、搭載領域34Aに載せられた半導体素子12の底面12D(図8参照)は、複数の第1吸引孔38Aを通じて吸引されるようになっている。   Further, the non-mounting area 34B is disposed outside the mounting area 34A. Specifically, the non-mounting area 34B is arranged on the Y direction and −Y direction sides of the mounting area 34A so as to sandwich the mounting area 34A therebetween. Furthermore, the non-mounting region 34B is a region where the semiconductor element 12 is not placed and is a region where the positioning member 22 moves. The positioning member 22 is moved while maintaining a non-contact state with respect to the plate 34 so that the positioning member 22 is not attracted to the plate 34 and receives movement resistance. On the other hand, in the mounting region 34A, the bottom surface 12D (see FIG. 8) of the semiconductor element 12 placed on the mounting region 34A is sucked through the plurality of first suction holes 38A.

なお、第1吸引孔38Aは、図5に示されるように、搭載領域34Aにおいて千鳥状に配置され、第2吸引孔38Bは、非搭載領域34Bにおいて格子状に配置されている。また、第1吸引孔38Aの直径D1、第1吸引孔38AのY方向の間隔L1A、半導体素子12の幅W、及び、第1吸引孔38Aの直径D1+第1吸引孔38AのY方向の間隔L1Aの関係は、第1吸引孔38Aの直径D1(例えば、0.07mm)<第1吸引孔38AのY方向の間隔L1A(例えば、0.10mm)<半導体素子12の幅W(例えば、0.125mm)<第1吸引孔38Aの直径D1+第1吸引孔38AのY方向の間隔L1A(例えば、0.17mm)となっている。また、第1吸引孔38AのY方向の間隔L1Aと、第1吸引孔38AのX方向の間隔L1Bとは、同一とされている。第1吸引孔38AのY方向の間隔L1Aとは、Y方向に列状に配置された複数の第1吸引孔38Aのうち隣り合う第1吸引孔38Aの中心同士の距離である。また、第1吸引孔38AのX方向の間隔L1Bとは、複数の第1吸引孔38AのうちX方向に隣り合う第1吸引孔38AのX方向に投影したときの中心同士の距離である。   As shown in FIG. 5, the first suction holes 38A are arranged in a staggered manner in the mounting region 34A, and the second suction holes 38B are arranged in a lattice shape in the non-mounting region 34B. Further, the diameter D1 of the first suction hole 38A, the distance L1A in the Y direction of the first suction hole 38A, the width W of the semiconductor element 12, and the diameter D1 of the first suction hole 38A + the distance in the Y direction of the first suction hole 38A. The relationship of L1A is that the diameter D1 of the first suction hole 38A (for example, 0.07 mm) <the interval L1A in the Y direction of the first suction hole 38A (for example, 0.10 mm) <the width W of the semiconductor element 12 (for example, 0 125 mm) <diameter D1 of the first suction hole 38A + interval L1A in the Y direction of the first suction hole 38A (for example, 0.17 mm). Further, the interval L1A in the Y direction of the first suction holes 38A and the interval L1B in the X direction of the first suction holes 38A are the same. The interval L1A in the Y direction of the first suction holes 38A is the distance between the centers of the adjacent first suction holes 38A among the plurality of first suction holes 38A arranged in a row in the Y direction. Further, the interval L1B in the X direction of the first suction holes 38A is a distance between the centers when projected in the X direction of the first suction holes 38A adjacent in the X direction among the plurality of first suction holes 38A.

第2吸引孔38Bの直径D2は、第1吸引孔38Aの直径D1と同一とされている。さらに、第2吸引孔38BのX方向に沿った間隔L2B(例えば、0.4mm)は、第2吸引孔38BのY方向に沿った間隔L2A(例えば、0.3mm)よりも大きくされている。なお、第2吸引孔38Bの間隔とは、隣り合う第2吸引孔38Bの中心同士の距離である。   The diameter D2 of the second suction hole 38B is the same as the diameter D1 of the first suction hole 38A. Further, the interval L2B (for example, 0.4 mm) along the X direction of the second suction hole 38B is set larger than the interval L2A (for example, 0.3 mm) along the Y direction of the second suction hole 38B. . The interval between the second suction holes 38B is the distance between the centers of the adjacent second suction holes 38B.

位置決め部材22は、図1に示されるように、板状をしており、本体部22Aと、本体部22AからX方向(−X方向の反対側)に延び出た一対の爪部22Bと、を備えて構成されている。一対の爪部22Bは、その間に半導体素子12を配置可能にY方向に離れて設けられている。この一対の爪部22Bと本体部22Aとによって、位置決め部材22は、平面視(−Z方向視)にてコの字状(Uの字状)に構成されている。   As shown in FIG. 1, the positioning member 22 has a plate shape, a main body portion 22A, a pair of claw portions 22B extending from the main body portion 22A in the X direction (opposite to the −X direction), It is configured with. The pair of claw portions 22B are provided apart in the Y direction so that the semiconductor element 12 can be disposed therebetween. By the pair of claw portions 22B and the main body portion 22A, the positioning member 22 is configured in a U shape (U shape) in plan view (viewed in the −Z direction).

図3に示されるように、位置決め部材22の本体部22Aには、半導体素子12の−X方向側の端面に突き当たる突当面22Dが形成されている。突当面22Dが、半導体素子12の−X方向側の端面に突き当たることで、半導体素子12が位置決め部材22に対してX方向に位置決めされるようになっている。   As shown in FIG. 3, the main body portion 22 </ b> A of the positioning member 22 is formed with an abutting surface 22 </ b> D that abuts against the end surface of the semiconductor element 12 on the −X direction side. The abutting surface 22 </ b> D abuts against the end surface on the −X direction side of the semiconductor element 12, so that the semiconductor element 12 is positioned in the X direction with respect to the positioning member 22.

また、各爪部22Bにおける他方の爪部22Bに対向する対向側には、他方の爪部22Bに向けて凸状とされ半導体素子12の側面12Aに突き当てる突当部22Cが形成されている。突当部22Cは、各爪部22BにおいてX方向に離れて配置された一対で構成されている。一対の突当部22Cが、半導体素子12の側面12Aに突き当たることで、半導体素子12が位置決め部材22に対してY方向に位置決めされるようになっている。   Further, on the opposite side of each claw portion 22B that faces the other claw portion 22B, an abutting portion 22C that is convex toward the other claw portion 22B and abuts against the side surface 12A of the semiconductor element 12 is formed. . The abutting portion 22C is composed of a pair arranged separately in the X direction in each claw portion 22B. The pair of abutting portions 22 </ b> C abut against the side surface 12 </ b> A of the semiconductor element 12, whereby the semiconductor element 12 is positioned in the Y direction with respect to the positioning member 22.

なお、本実施形態では、図8(A)に示されるように、半導体素子12の断面形状が平行四辺形とされているため、半導体素子12がプレート34に載せられた状態において、半導体素子12の側面(突当部22Cが突き当たる面)12Aはプレート34に対して、プレート34側を向くように傾斜するようになっている。この傾斜する側面12Aに対応して、突当部22Cの先端も傾斜面とされている。   In the present embodiment, as shown in FIG. 8A, since the cross-sectional shape of the semiconductor element 12 is a parallelogram, the semiconductor element 12 is placed in a state where the semiconductor element 12 is placed on the plate 34. The side surface (surface against which the abutting portion 22C abuts) 12A is inclined with respect to the plate 34 so as to face the plate 34 side. Corresponding to the inclined side surface 12A, the tip of the abutting portion 22C is also an inclined surface.

各爪部22Bには、図3に示されるように、平面視(−Z方向視)にてコの字状(Uの字状)に構成された吸引路23が形成されている。各吸引路23は、一対の突当部22Cの先端部のそれぞれで開口する開口部の一例としての吸引口23Aを有しており、この吸引口23Aと第2吸引孔38Bとを通じさせるようになっている。   As shown in FIG. 3, each claw portion 22 </ b> B is formed with a suction path 23 configured in a U shape (U shape) in a plan view (−Z direction view). Each suction path 23 has a suction port 23A as an example of an opening that is opened at each of the tip portions of the pair of abutting portions 22C, and the suction port 23A and the second suction hole 38B are passed through. It has become.

図6に示されるように、各吸引路23は、具体的には、一対の突当部22C及び爪部22Bにおけるプレート34の非搭載領域34Bに対向する対向面(−Z方向側の面)に形成された溝で構成されており、各吸引路23は、プレート34側(−Z方向側)に開放されている。   As shown in FIG. 6, each suction path 23 specifically has a pair of abutting portions 22 </ b> C and claw portions 22 </ b> B facing surfaces (surfaces on the −Z direction side) facing the non-mounting region 34 </ b> B of the plate 34. Each suction path 23 is open to the plate 34 side (−Z direction side).

これにより、位置決め部材22では、非搭載領域34Bにおける第2吸引孔38Bを通じた吸引力が吸引路23を介して、搭載領域34Aの上方(Z方向)に作用し、一対の突当部22Cの先端部に突き当てられた半導体素子12の側面12Aが、一対の突当部22Cの先端部へ吸引されるようになっている。   Thereby, in the positioning member 22, the suction force through the second suction hole 38B in the non-mounting area 34B acts on the upper side (Z direction) of the mounting area 34A via the suction path 23, and the pair of abutting portions 22C. The side surface 12A of the semiconductor element 12 abutted against the front end is sucked to the front end of the pair of abutting portions 22C.

素子位置決め装置20では、移送装置50によって搭載領域34A上の仮置き位置に仮置きされた半導体素子12の側面12Aに対して、位置決め部材22の突当部22Cが離間した離間状態(図2に示す状態)から、図3に示すように、位置決め部材22が矢印C方向へ移動して、突当部22Cが半導体素子12の側面12Aに突き当たると共に、突当面22Dが、半導体素子12の−X方向側の端面に突き当たるようになっている。なお、半導体素子12の側面12Aに対して突当部22Cが離間した離間状態(図2に示す状態)において、突当部22Cが非搭載領域34Bの外側(図2における右側)に退避するようになっている。   In the element positioning device 20, the abutting portion 22C of the positioning member 22 is separated from the side surface 12A of the semiconductor element 12 temporarily placed at the temporary placement position on the mounting region 34A by the transfer device 50 (see FIG. 2). 3), the positioning member 22 moves in the direction of the arrow C so that the abutting portion 22C abuts against the side surface 12A of the semiconductor element 12 and the abutting surface 22D is −X of the semiconductor element 12. It hits the end face on the direction side. Note that, in the separated state (the state shown in FIG. 2) in which the abutting portion 22C is separated from the side surface 12A of the semiconductor element 12, the abutting portion 22C is retracted to the outside of the non-mounting region 34B (the right side in FIG. 2). It has become.

そして、素子位置決め装置20では、突当部22Cの側面12Aへの突き当て状態において、吸引装置36が、搭載領域34A上に載せられている半導体素子12の底面12Dを複数の第1吸引孔38Aを通じて吸引すると共に、半導体素子12の側面12Aを第2吸引孔38B及び吸引路23を通じて、底面12Dに対する吸引力よりも弱い吸引力によって、吸引するようになっている。   In the element positioning device 20, when the abutting portion 22C is in contact with the side surface 12A, the suction device 36 causes the bottom surface 12D of the semiconductor element 12 placed on the mounting region 34A to pass through the first suction holes 38A. The side surface 12A of the semiconductor element 12 is sucked through the second suction hole 38B and the suction path 23 with a suction force weaker than the suction force with respect to the bottom surface 12D.

さらに、素子位置決め装置20では、図4に示されるように、突当部22C及び突当面22Dの半導体素子12に対する突き当て状態で半導体素子12を搭載領域34A上の予め定められた位置決め位置に移動させて位置決め(位置出し)するようになっている。位置決め位置は、複数の第1吸引孔38Aのうちの2つ以上が、半導体素子12の底面12Dにおける長手方向の各部分で塞がれる位置に、設定されている。具体的には、位置決め位置は、半導体素子12の底面12Dにおける長手方向の一端部から他端部に亘る各部分で、X方向に沿って1列に配置された少なくとも2つの第1吸引孔38Aの各々の孔全体が塞がれる位置に設定されている。本実施形態では、位置決め位置は、仮置き位置に対して、−Y方向側に設定されている。なお、位置決め位置は、仮置き位置に対して、−Y方向側であって、かつ、X方向側(−X方向の反対側)に設定されていてもよい。   Furthermore, in the element positioning device 20, as shown in FIG. 4, the semiconductor element 12 is moved to a predetermined positioning position on the mounting region 34A in a state where the abutting portion 22C and the abutting surface 22D are abutted against the semiconductor element 12. And positioning (positioning). The positioning position is set to a position where two or more of the plurality of first suction holes 38 </ b> A are blocked by the longitudinal portions of the bottom surface 12 </ b> D of the semiconductor element 12. Specifically, the positioning positions are at least two first suction holes 38A arranged in a line along the X direction in each part from one end portion to the other end portion of the bottom surface 12D of the semiconductor element 12 in the longitudinal direction. Each of the holes is set at a position where the entire hole is closed. In the present embodiment, the positioning position is set on the −Y direction side with respect to the temporary placement position. The positioning position may be set on the −Y direction side and the X direction side (the opposite side to the −X direction) with respect to the temporary placement position.

なお、本実施形態では、半導体素子12を位置決め位置に移動させることで、突当部22C(吸引路23の一部)が搭載領域34A内に入り、半導体素子12の側面12Aが第1吸引孔38Aを通じて吸引されることになるが、吸引路23の大部分が、非搭載領域34Bに位置するため、半導体素子12の側面12Aに対する吸引力が、底面12Dに対する吸引力よりも弱い状態が維持されるようになっている。   In the present embodiment, by moving the semiconductor element 12 to the positioning position, the abutting portion 22C (a part of the suction path 23) enters the mounting region 34A, and the side surface 12A of the semiconductor element 12 is the first suction hole. The suction path 23 is located in the non-mounting region 34B, so that the suction force for the side surface 12A of the semiconductor element 12 is kept weaker than the suction force for the bottom surface 12D. It has become so.

また、本実施形態では、一対の爪部22Bのいずれか一方を選択して半導体素子12の位置決めを行うようになっている。従って、位置決め部材22としては、一対の爪部22Bの一方を有さない構成であってもよい。   In the present embodiment, the semiconductor element 12 is positioned by selecting one of the pair of claw portions 22B. Therefore, the positioning member 22 may have a configuration without one of the pair of claw portions 22B.

(基板位置決め部40)
図1に示されるように、基板位置決め部40は、プリント配線基板44をX方向に搬送する一対の搬送部材(例えば、コンベア)42を備えている。一対の搬送部材42は、その間にプリント配線基板44が導入可能にY方向に離れて配置されている。
(Substrate positioning part 40)
As shown in FIG. 1, the board positioning unit 40 includes a pair of transport members (for example, conveyors) 42 that transport the printed wiring board 44 in the X direction. The pair of transport members 42 are arranged apart in the Y direction so that the printed wiring board 44 can be introduced therebetween.

基板位置決め部40では、一対の搬送部材42の間に導入されたプリント配線基板44が、一対の搬送部材42に対してX方向、Y方向、Z方向に位置決めされるようになっている。そして、一対の搬送部材42がプリント配線基板44をX方向に搬送することで、プリント配線基板44は、後述のコレット70に対して、Y方向に位置決めされた状態でX方向へ相対移動するようになっている。   In the board positioning unit 40, the printed wiring board 44 introduced between the pair of transport members 42 is positioned in the X direction, the Y direction, and the Z direction with respect to the pair of transport members 42. The pair of transport members 42 transport the printed wiring board 44 in the X direction, so that the printed wiring board 44 moves relative to the collet 70 (described later) in the X direction while being positioned in the Y direction. It has become.

なお、基板位置決め部40は、プリント配線基板44上において半導体素子12を搭載する搭載位置に接着剤を塗布するためのディスペンサー等の塗布装置(図示省略)を有している。   The substrate positioning unit 40 has a coating device (not shown) such as a dispenser for applying an adhesive to a mounting position where the semiconductor element 12 is mounted on the printed wiring board 44.

(移送装置60)
図1に示されるように、移送装置60は、半導体素子12を保持する保持具の一例としてのコレット70と、コレット70が装着されコレット70が半導体素子12を保持するための吸引力を発生させる吸引器62と、吸引器62(コレット70)をプリント配線基板44に対して相対移動させる移動機構63と、を備えている。
(Transfer device 60)
As shown in FIG. 1, the transfer device 60 generates a collet 70 as an example of a holding tool for holding the semiconductor element 12 and a suction force for mounting the collet 70 to hold the semiconductor element 12. A suction device 62 and a moving mechanism 63 for moving the suction device 62 (collet 70) relative to the printed wiring board 44 are provided.

吸引器62は、具体的には、コレット70が装着される吸引ノズル64を有している。コレット70は、図7に示されるように、コレット本体72と、コレット本体72に設けられ半導体素子12の側面12A及び稜線12Bの少なくとも一方に突き当たる突当部材86と、を有している。   Specifically, the suction device 62 has a suction nozzle 64 to which the collet 70 is attached. As shown in FIG. 7, the collet 70 includes a collet main body 72 and an abutting member 86 that is provided on the collet main body 72 and abuts against at least one of the side surface 12A and the ridgeline 12B of the semiconductor element 12.

コレット本体72は、吸引ノズル64と接続される接続部74と、突当部材86が取り付けられ半導体素子12の稜線12Eに突き当たる突当部76と、略直方体状に形成される接続部74と突当部76とを連結する連結部78と、を有している。コレット本体72は、一部品で構成されており、接続部74、突当部76及び連結部78は、一体に形成されている。   The collet main body 72 has a connection portion 74 connected to the suction nozzle 64, a contact portion 76 to which the contact member 86 is attached and contacts the ridge line 12E of the semiconductor element 12, and a connection portion 74 formed in a substantially rectangular parallelepiped shape. A connecting portion 78 that connects the portion 76. The collet main body 72 is composed of one part, and the connecting portion 74, the abutting portion 76, and the connecting portion 78 are integrally formed.

コレット本体72の接続部74は、円筒状に形成されており、円筒状の吸引ノズル64に挿し込まれることで接続されるようになっている。コレット本体72の接続部74には、吸引ノズル64と通じる接続口74Aが形成されている。突当部材86の先端部(下端部)と突当部76の先端部(下端部)との間には、接続口74Aと通じる吸引口(図示省略)が形成されている。   The connection part 74 of the collet body 72 is formed in a cylindrical shape, and is connected by being inserted into a cylindrical suction nozzle 64. A connection port 74 </ b> A communicating with the suction nozzle 64 is formed in the connection portion 74 of the collet body 72. A suction port (not shown) that communicates with the connection port 74 </ b> A is formed between the distal end portion (lower end portion) of the abutting member 86 and the distal end portion (lower end portion) of the abutting portion 76.

コレット本体72の連結部78の下部には、半導体素子12のX方向側の端面12F及び稜線12Gの少なくとも一方に突き当たる突当爪80が設けられている。   An abutting claw 80 that abuts against at least one of the end surface 12F on the X direction side of the semiconductor element 12 and the ridgeline 12G is provided below the connecting portion 78 of the collet body 72.

コレット70では、半導体素子12の側面12A及び稜線12Bの少なくとも一方が、突当部材86に突き当たり、且つ、半導体素子12の稜線12Eが、コレット本体72の突当部76に突き当たることにより、半導体素子12がY方向及びZ方向で位置決めされるようになっている。   In the collet 70, at least one of the side surface 12 </ b> A and the ridge line 12 </ b> B of the semiconductor element 12 abuts against the abutting member 86, and the ridge line 12 </ b> E of the semiconductor element 12 abuts against the abutting part 76 of the collet body 72. 12 is positioned in the Y direction and the Z direction.

また、コレット70では、半導体素子12のX方向側の一端面12F及び稜線12Gの少なくとも一方が突当爪80に突き当たることにより、半導体素子12がX方向で位置決めされるようになっている。   Further, in the collet 70, the semiconductor element 12 is positioned in the X direction when at least one of the one end surface 12F and the ridge line 12G on the X direction side of the semiconductor element 12 abuts against the abutment claw 80.

さらに、コレット70では、吸引器62により、吸引口(図示省略)を通じて半導体素子12が吸引されて、Y方向、Z方向及びX方向で位置決めされた状態の半導体素子12が保持されるようになっている。また、コレット70では、吸引器62による吸引を停止することにより、コレット70による半導体素子12の保持状態が解除されるようになっている。   Further, in the collet 70, the semiconductor element 12 is sucked by the suction device 62 through a suction port (not shown), and the semiconductor element 12 positioned in the Y direction, the Z direction, and the X direction is held. ing. Further, in the collet 70, the holding state of the semiconductor element 12 by the collet 70 is released by stopping the suction by the suction device 62.

移動機構63は、吸引器62をY方向に移動させることにより、コレット70をプリント配線基板44に対してY方向へ相対移動させるようになっている。すなわち、本実施形態では、移動機構63によって吸引器62がY方向に移動し、基板位置決め部40の搬送部材42によってプリント配線基板44がX方向に移動することで、コレット70をプリント配線基板44に対してX方向、Y方向に相対移動させるようになっている。   The moving mechanism 63 moves the collet 70 relative to the printed wiring board 44 in the Y direction by moving the suction device 62 in the Y direction. In other words, in the present embodiment, the suction device 62 is moved in the Y direction by the moving mechanism 63, and the printed wiring board 44 is moved in the X direction by the transport member 42 of the board positioning unit 40, whereby the collet 70 is moved to the printed wiring board 44. Is moved relative to the X and Y directions.

また、移動機構63は、吸引器62を上下方向(Z方向)に移動させることにより、コレット70をプリント配線基板44に対して上下方向(Z方向)へ相対移動させるようになっている。本実施形態では、コレット70をプリント配線基板44に対して、X方向、Y方向に相対移動させた後、コレット70を下方(−Z方向)に降下させることで、半導体素子12をプリント配線基板44に置く(搭載する)ようになっている。   Further, the moving mechanism 63 moves the collet 70 in the vertical direction (Z direction) relative to the printed wiring board 44 by moving the suction device 62 in the vertical direction (Z direction). In the present embodiment, the collet 70 is moved relative to the printed wiring board 44 in the X direction and the Y direction, and then the collet 70 is lowered downward (−Z direction), whereby the semiconductor element 12 is moved to the printed wiring board. 44 is placed (mounted).

なお、移動機構63としては、例えば、Y方向及びZ方向に移動可能な二軸ロボットが用いられる。   As the moving mechanism 63, for example, a biaxial robot that can move in the Y direction and the Z direction is used.

(プリント配線基板装置の製造方法)
本実施形態に係るプリント配線基板装置の製造方法では、図1に示されるように、まず、供給部13において、移動機構17が保持部15をX方向及びY方向へ移動させることで、搭載対象の半導体素子12を予め定められたピックアップ位置に位置させる(位置調整工程)。
(Method for manufacturing printed wiring board device)
In the method for manufacturing a printed wiring board device according to the present embodiment, as shown in FIG. 1, first, in the supply unit 13, the moving mechanism 17 moves the holding unit 15 in the X direction and the Y direction, thereby mounting objects. The semiconductor element 12 is positioned at a predetermined pickup position (position adjustment step).

次に、供給部13のピックアップ位置に位置する半導体素子12を、移送装置50が位置決め台30のプレート34上に移送して、プレート34における搭載領域34A上の仮置き位置に半導体素子12を直立姿勢で仮置きする(仮置工程)。   Next, the semiconductor device 12 positioned at the pickup position of the supply unit 13 is transferred to the plate 34 of the positioning table 30 by the transfer device 50, and the semiconductor device 12 is erected at the temporary placement position on the mounting region 34 </ b> A in the plate 34. Temporary placement in a posture (temporary placement step).

仮置工程は、具体的には、以下のように行われる。すなわち、まず、供給部13のピックアップ位置に位置する半導体素子12を、吸引器52の吸引により、吸引ノズル54に保持し、該保持状態で吸引ノズル54(吸引器52)が、プレート34における搭載領域34A上の仮置き位置に移動する。このとき、吸引ノズル54で保持された半導体素子12は、プレート34の上方に位置する。   Specifically, the temporary placement step is performed as follows. That is, first, the semiconductor element 12 positioned at the pickup position of the supply unit 13 is held by the suction nozzle 54 by the suction of the suction device 52, and the suction nozzle 54 (suction device 52) is mounted on the plate 34 in the held state. It moves to the temporary placement position on the area 34A. At this time, the semiconductor element 12 held by the suction nozzle 54 is positioned above the plate 34.

次に、図8(A)に示されるように、吸引ノズル54(吸引器52)を搭載領域34Aに対して降下させる。このとき、半導体素子12の底面12Dと、プレート34における搭載領域34Aの上面との間に、予め定められた隙間が形成されるように、吸引ノズル54の降下が停止する。   Next, as shown in FIG. 8A, the suction nozzle 54 (suction unit 52) is lowered with respect to the mounting region 34A. At this time, the lowering of the suction nozzle 54 stops so that a predetermined gap is formed between the bottom surface 12D of the semiconductor element 12 and the upper surface of the mounting region 34A in the plate 34.

そして、吸引装置36が複数の吸引孔38(第1吸引孔38A及び第2吸引孔38B)を通じた吸引を開始すると共に、吸引器52による吸引を停止する。これにより、半導体素子12に対して、第1吸引孔38Aによる下方への吸引力が作用して、図8(B)に示されるように、半導体素子12が吸引ノズル54から離脱すると共に直立姿勢のまま、搭載領域34A上の仮置き位置に仮置きされる。本実施形態では、仮置き位置は、搭載領域34AにおけるY方向側(非搭載領域34B側)の端部に設定されているため、半導体素子12は、非搭載領域34Bに隣接するように、搭載領域34Aに仮置きされる(図2参照)。   Then, the suction device 36 starts suction through the plurality of suction holes 38 (first suction hole 38A and second suction hole 38B) and stops suction by the suction device 52. As a result, a downward suction force by the first suction hole 38A acts on the semiconductor element 12, so that the semiconductor element 12 is detached from the suction nozzle 54 and is in an upright posture as shown in FIG. 8B. It is temporarily placed at the temporary placement position on the mounting area 34A. In the present embodiment, since the temporary placement position is set at the end of the mounting area 34A on the Y direction side (non-mounting area 34B side), the semiconductor element 12 is mounted so as to be adjacent to the non-mounting area 34B. It is temporarily placed in the area 34A (see FIG. 2).

仮置き位置に仮置きされた半導体素子12は、その底面12Dにおける長手方向の一端部から他端部に亘る各部分で、X方向に沿って1列に配置された少なくとも2つの第1吸引孔38Aの各々の孔全体を塞ぐ。なお、このとき、位置決め部材22の突当部22Cは、図2及び図8(B)に示されるように、非搭載領域34Bの外側(図2及び図8(B)における右側)に退避している。   The semiconductor element 12 temporarily placed in the temporary placement position has at least two first suction holes arranged in a line along the X direction at each portion from one end to the other end in the longitudinal direction on the bottom surface 12D. Close the entire hole of each of 38A. At this time, the abutting portion 22C of the positioning member 22 is retracted to the outside of the non-mounting area 34B (the right side in FIGS. 2 and 8B) as shown in FIGS. 2 and 8B. ing.

次に、搭載領域34A上の仮置き位置に仮置きされた半導体素子12の側面12Aに対して、非搭載領域34Bの外側(図2及び図8(B)における右側)に退避した退避状態(図2及び図8(B)に示す状態)から、図3及び図9(A)に示されるように、位置決め部材22が矢印C方向へ移動して、突当部22Cを半導体素子12の側面12Aに突き当てると共に、突当面22Dを半導体素子12の−X方向側の端面に突き当てる。   Next, with respect to the side surface 12A of the semiconductor element 12 temporarily placed at the temporary placement position on the mounting region 34A, the retracted state is retracted to the outside of the non-mounting region 34B (the right side in FIGS. 2 and 8B). 2 and FIG. 8B), the positioning member 22 moves in the direction of arrow C as shown in FIG. 3 and FIG. 9A, and the abutting portion 22C is moved to the side surface of the semiconductor element 12. The abutting surface 22D is abutted against the end surface of the semiconductor element 12 on the −X direction side.

突当部22Cの当該突き当て状態において、吸引装置36が、搭載領域34A上に載せられている半導体素子12の底面12Dを複数の第1吸引孔38Aを通じて吸引すると共に、半導体素子12の側面12Aを低密度の第2吸引孔38B及び吸引路23を通じて、底面12Dに対する吸引力よりも弱い吸引力によって、吸引する。   In the abutting state of the abutting portion 22C, the suction device 36 sucks the bottom surface 12D of the semiconductor element 12 placed on the mounting region 34A through the plurality of first suction holes 38A, and the side surface 12A of the semiconductor element 12 Is sucked through the low-density second suction holes 38B and the suction path 23 with a suction force weaker than the suction force with respect to the bottom surface 12D.

そして、図4及び図9(B)に示されるように、突当部22C及び突当面22Dの当該突き当て状態で半導体素子12を搭載領域34A上の予め定められた位置決め位置に移動させて位置決め(位置出し)する(素子位置決め工程(部品位置決め工程の一例))。   Then, as shown in FIGS. 4 and 9B, the semiconductor element 12 is moved to a predetermined positioning position on the mounting region 34A in the abutting state of the abutting portion 22C and the abutting surface 22D. (Positioning) (element positioning step (an example of a component positioning step)).

位置決め位置に位置決めされた半導体素子12は、その底面12Dにおける長手方向の一端部から他端部に亘る各部分で、X方向に沿って1列に配置された少なくとも2つの第1吸引孔38Aの各々の孔全体を塞ぐ。なお、素子位置決め工程では、位置決め部材22によって移動される半導体素子12は、プレート34の複数の吸引孔38を通じて吸引されるため、適度な移動抵抗が付与される。   The semiconductor element 12 positioned at the positioning position has at least two first suction holes 38A arranged in a line along the X direction at each portion from one end portion to the other end portion in the longitudinal direction on the bottom surface 12D. Close the whole of each hole. In the element positioning step, since the semiconductor element 12 moved by the positioning member 22 is sucked through the plurality of suction holes 38 of the plate 34, an appropriate movement resistance is given.

次に、基板位置決め部40において、一対の搬送部材42がプリント配線基板44を位置決めする(基板位置決め工程)。なお、この基板位置決め工程は、素子位置決め工程の後に行う必要は無く、素子位置決め工程の前又は同時に行っても良い。   Next, in the board positioning unit 40, the pair of transport members 42 positions the printed wiring board 44 (board positioning process). This substrate positioning step does not have to be performed after the element positioning step, and may be performed before or simultaneously with the element positioning step.

次に、移送装置60のコレット70によって、素子位置決め工程で位置決めされた半導体素子12を保持する(保持工程)。保持工程は、具体的には、以下のように行われる。すなわち、まず、図10(A)に示されるように、位置決め位置に位置する半導体素子12に対して、コレット70が降下して、コレット70における突当部材86、突当部76及び突当爪80を半導体素子12に突き当て、コレット70に対して半導体素子12をY方向、Z方向及びX方向で位置決めする。このとき、半導体素子12の側面12Aに対して、位置決め部材22の突当部22Cが突き当たると共に、半導体素子12の側面12Aが、第2吸引孔38B及び吸引路23を通じて吸引され、半導体素子12の底面12Dが、複数の第1吸引孔38Aを通じて吸引された状態となっている。   Next, the semiconductor element 12 positioned in the element positioning process is held by the collet 70 of the transfer device 60 (holding process). Specifically, the holding step is performed as follows. That is, first, as shown in FIG. 10A, the collet 70 is lowered with respect to the semiconductor element 12 located at the positioning position, and the abutting member 86, the abutting portion 76, and the abutting claw in the collet 70. 80 is abutted against the semiconductor element 12, and the semiconductor element 12 is positioned with respect to the collet 70 in the Y direction, the Z direction, and the X direction. At this time, the abutting portion 22C of the positioning member 22 abuts against the side surface 12A of the semiconductor element 12, and the side surface 12A of the semiconductor element 12 is sucked through the second suction hole 38B and the suction path 23, The bottom surface 12D is in a state of being sucked through the plurality of first suction holes 38A.

そして、移送装置60の吸引器62による吸引を開始すると共に、複数の吸引孔38(第1吸引孔38A及び第2吸引孔38B)を通じた位置決め台30での吸引を停止する。これにより、図10(B)に示されるように、突当部材86、突当部76及び突当爪80によりY方向、Z方向及びX方向で位置決めされた状態の半導体素子12が、コレット70に保持される。   Then, suction by the suction device 62 of the transfer device 60 is started, and suction at the positioning table 30 through the plurality of suction holes 38 (first suction hole 38A and second suction hole 38B) is stopped. As a result, as shown in FIG. 10B, the semiconductor element 12 positioned in the Y direction, the Z direction, and the X direction by the abutting member 86, the abutting portion 76, and the abutting claw 80 is moved to the collet 70. Retained.

次に、コレット70で保持された半導体素子12を、基板位置決め工程で位置決めされたプリント配線基板44に搭載する(搭載工程)。これにより、プリント配線基板装置が製造される。   Next, the semiconductor element 12 held by the collet 70 is mounted on the printed wiring board 44 positioned in the substrate positioning process (mounting process). Thereby, a printed wiring board device is manufactured.

以上のように、本実施形態では、仮置き位置に仮置きされた半導体素子12は、その底面12Dにおける長手方向の一端部から他端部に亘る各部分で、X方向に沿って1列に配置された少なくとも2つの第1吸引孔38Aの各々の孔全体を塞ぐ。これにより、X方向に沿って1列に配置された少なくとも2つの第1吸引孔38Aの各々の孔全体が塞がれない場合に比べ、半導体素子12に対する吸引力が増し、半導体素子12がプレート34上で倒れるのが抑制される。   As described above, in the present embodiment, the semiconductor elements 12 temporarily placed in the temporary placement position are arranged in a line along the X direction at each portion from one end portion to the other end portion in the longitudinal direction on the bottom surface 12D. The whole of each of the arranged at least two first suction holes 38A is closed. As a result, the suction force with respect to the semiconductor element 12 is increased as compared with the case where the whole of each of the at least two first suction holes 38A arranged in a line along the X direction is not blocked, and the semiconductor element 12 becomes a plate. It is suppressed that it falls on 34.

また、本実施形態では、仮置き位置に仮置きされた半導体素子12に対して、位置決め部材22の突当部22Cが、図2及び図8(B)に示されるように、非搭載領域34Bの外側(図2及び図8(B)における右側)に退避している。このため、突当部22Cが搭載領域34A内で退避する場合に比べ、半導体素子12の側面12Aが、突当部22Cの吸引口23Aで、倒れ方向側(Y方向)側に吸引されにくく、半導体素子12がプレート34上で倒れるのが抑制される。   In the present embodiment, the abutting portion 22C of the positioning member 22 with respect to the semiconductor element 12 temporarily placed in the temporary placement position is not mounted as shown in FIGS. 2 and 8B. Is retracted to the outside (the right side in FIGS. 2 and 8B). For this reason, compared with the case where the abutting portion 22C is retracted in the mounting region 34A, the side surface 12A of the semiconductor element 12 is less likely to be attracted to the collapse direction side (Y direction) side by the suction port 23A of the abutting portion 22C. The semiconductor element 12 is prevented from falling on the plate 34.

また、本実施形態では、仮置き位置に仮置きされた半導体素子12に対して、非搭載領域34Bの外側(図2及び図8(B)における右側)に退避した状態から、図3及び図9(A)に示されるように、位置決め部材22が矢印C方向へ移動して、該突当部22Cを該側面12Aに突き当てる。このため、突当部22Cが搭載領域34A内で退避する場合に比べ、位置決め部材22の移動距離(助走距離)が確保され、位置決め部材22を移動させる際に、加速させられる。これにより、位置決め部材22が吸引の影響を受けにくく、位置決め部材22がスムーズに移動するので、突当部22Cの半導体素子12の側面12Aへの突き当て、及び、突当面22Dの半導体素子12の−X方向側の端面への突き当てが良好に行われる。   Further, in the present embodiment, the semiconductor element 12 temporarily placed in the temporary placement position is retracted from the outside of the non-mounting region 34B (on the right side in FIGS. 2 and 8B), as shown in FIGS. As shown in FIG. 9 (A), the positioning member 22 moves in the direction of arrow C, and the abutting portion 22C abuts against the side surface 12A. For this reason, compared with the case where the abutting portion 22C is retracted in the mounting region 34A, the moving distance (running distance) of the positioning member 22 is ensured, and the positioning member 22 is accelerated when moved. As a result, the positioning member 22 is not easily affected by suction, and the positioning member 22 moves smoothly, so that the abutting portion 22C abuts against the side surface 12A of the semiconductor element 12 and the abutting surface 22D of the semiconductor element 12 The abutment to the end surface on the −X direction side is performed satisfactorily.

また、本実施形態では、半導体素子12の側面12Aを第2吸引孔38B及び吸引路23を通じて、底面12Dに対する吸引力よりも弱い吸引力によって吸引するので、同密度の吸引孔38を通じて半導体素子12の底面12Dと側面12Aとを吸引する場合に比べ、半導体素子12がプレート34上で倒れるのが抑制される。特に、半導体素子12が吸引ノズル54から位置決め部材22へ受け渡される際、及び、半導体素子12が位置決め部材22からコレット70へ受け渡される際に、生じやすい半導体素子12の倒れが抑制される。すなわち、仮置き位置に位置する半導体素子12に対して、位置決め部材22が近づいた際に、当該半導体素子12が、突当部22Cの吸引口23Aにおける吸気(気流)の影響を受けにくく、プレート34上で倒れるのが抑制される。また、位置決め位置に位置する半導体素子12から位置決め部材22が遠ざかる際に、当該半導体素子12が、突当部22Cの吸引口23Aにおける吸気(気流)の影響を受けにくく、プレート34上で倒れるのが抑制される。   In this embodiment, the side surface 12A of the semiconductor element 12 is sucked through the second suction hole 38B and the suction path 23 with a suction force weaker than the suction force with respect to the bottom surface 12D. The semiconductor element 12 is prevented from falling on the plate 34 as compared with the case where the bottom surface 12D and the side surface 12A are sucked. In particular, when the semiconductor element 12 is transferred from the suction nozzle 54 to the positioning member 22 and when the semiconductor element 12 is transferred from the positioning member 22 to the collet 70, the semiconductor element 12 that is likely to fall is suppressed. That is, when the positioning member 22 approaches the semiconductor element 12 positioned at the temporary placement position, the semiconductor element 12 is not easily affected by the intake air (airflow) at the suction port 23A of the abutting portion 22C, and the plate It is suppressed that it falls on 34. Further, when the positioning member 22 moves away from the semiconductor element 12 located at the positioning position, the semiconductor element 12 is not easily affected by the intake air (airflow) at the suction port 23A of the abutting portion 22C and falls on the plate 34. Is suppressed.

また、本実施形態では、該位置決め位置に位置決めされた半導体素子12は、その底面12Dにおける長手方向の一端部から他端部に亘る各部分で、X方向に沿って1列に配置された少なくとも2つの第1吸引孔38Aの各々の孔全体を塞ぐ。これにより、X方向に沿って1列に配置された少なくとも2つの第1吸引孔38Aの各々の孔全体が塞がれない場合に比べ、半導体素子12に対する吸引力が増し、半導体素子12がプレート34上で倒れるのが抑制される。   Further, in the present embodiment, the semiconductor elements 12 positioned at the positioning positions are at least arranged in one row along the X direction at each portion from one end portion to the other end portion in the longitudinal direction on the bottom surface 12D. The whole of each of the two first suction holes 38A is closed. As a result, the suction force with respect to the semiconductor element 12 is increased as compared with the case where the whole of each of the at least two first suction holes 38A arranged in a line along the X direction is not blocked, and the semiconductor element 12 becomes a plate. It is suppressed that it falls on 34.

また、本実施形態では、半導体素子12がプレート34上で倒れるのが抑制されるので、製造される基板装置の歩留まりが向上する。   Moreover, in this embodiment, since the semiconductor element 12 is suppressed from falling on the plate 34, the yield of the manufactured substrate device is improved.

(変形例)
本実施形態では、仮置き位置に仮置きされた半導体素子12の側面12Aに対して、突当部22Cが非搭載領域34Bの外側(図2における右側)に退避していたが、突当部22Cが非搭載領域34Bに退避する構成であってもよい。また、突当部22Cが搭載領域34Aに退避する構成であってもよい。
(Modification)
In the present embodiment, the abutting portion 22C is retracted to the outside (right side in FIG. 2) of the non-mounting region 34B with respect to the side surface 12A of the semiconductor element 12 temporarily placed in the temporarily placing position. The configuration may be such that 22C is retracted to the non-mounting area 34B. Further, the abutting portion 22C may be retracted to the mounting area 34A.

また、本実施形態では、仮置き位置及び位置決め位置において、複数の第1吸引孔38Aの2つ以上の孔全体が、半導体素子12の底面12Dにおける長手方向の各部分で塞がれる構成となっていたが、仮置き位置及び位置決め位置の少なくとも一方の位置において、各第1吸引孔38Aの一部が露出するように各第1吸引孔38Aを覆う構成であってもよい。   Further, in the present embodiment, at the temporary placement position and the positioning position, two or more whole holes of the plurality of first suction holes 38 </ b> A are blocked by the longitudinal portions of the bottom surface 12 </ b> D of the semiconductor element 12. However, it may be configured to cover each first suction hole 38A so that a part of each first suction hole 38A is exposed at at least one of the temporary placement position and the positioning position.

本発明は、上記の実施形態に限るものではなく、種々の変形、変更、改良が可能である。例えば、上記に示した変形例は、適宜、複数を組み合わせて構成しても良い。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications, changes, and improvements can be made. For example, the modification examples described above may be appropriately combined.

10 製造装置
12 半導体素子(部品の一例)
12A 側面
12D 底面
20 位置決め装置
22 位置決め部材
22C 突当部
23 吸引路
23A 吸引口(開口部の一例)
30 位置決め台(台の一例)
34A 搭載領域(領域の一例)
36 吸引装置
38A 第1吸引孔
38B 第2吸引孔
40 基板位置決め部
63 移動機構
70 コレット(保持具の一例)
100 搭載装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Manufacturing apparatus 12 Semiconductor element (an example of components)
12A Side surface 12D Bottom surface 20 Positioning device 22 Positioning member 22C Abutting portion 23 Suction path 23A Suction port (an example of an opening)
30 Positioning stand (an example of a stand)
34A Mounting area (an example of area)
36 Suction Device 38A First Suction Hole 38B Second Suction Hole 40 Substrate Positioning Unit 63 Moving Mechanism 70 Collet (Example of Holder)
100 On-board equipment

Claims (5)

部品を直立姿勢で載せる第1領域及び前記部品を載せない第2領域を有する台と、
前記第1領域に形成された複数の第1吸引孔と、
前記第2領域に、前記第1領域における前記複数の第1吸引孔よりも低密度に形成された複数の第2吸引孔と、
突当部を有し、前記第1領域上の仮置き位置に仮置きされた前記部品の側面に対して該突当部を突き当てた状態で前記部品を前記第1領域上の予め定められた位置決め位置に移動させて位置決めする位置決め部材と、
前記突当部に開口する開口部を有し、該開口部と前記第2吸引孔とを通じさせる吸引路と、
前記第1領域上に載せられている前記部品の底面を前記第1吸引孔を通じて吸引すると共に、該部品の側面を前記第2吸引孔及び前記吸引路を通じて吸引する吸引装置と、
を備える位置決め装置。
A platform having a first region for placing the component in an upright position and a second region for not placing the component;
A plurality of first suction holes formed in the first region;
A plurality of second suction holes formed in the second region at a lower density than the plurality of first suction holes in the first region;
The part is predetermined on the first area in a state of having an abutting part and abutting the abutting part against a side surface of the part temporarily placed at the temporary placement position on the first area. A positioning member that moves and positions the selected positioning position;
A suction path having an opening opening in the abutting portion, and passing through the opening and the second suction hole;
A suction device that sucks the bottom surface of the component placed on the first region through the first suction hole and sucks the side surface of the component through the second suction hole and the suction path;
A positioning device comprising:
前記位置決め部材は、前記突当部が前記第2領域に退避した状態から移動して前記部品の側面に突き当たる請求項1に記載の位置決め装置。   The positioning device according to claim 1, wherein the positioning member moves from a state in which the abutting portion is retracted to the second region and abuts against a side surface of the component. 前記部品は、長さを有し、
前記位置決め部材は、前記複数の第1吸引孔のうちの2つ以上が前記部品の底面における長手方向の各部分で塞がれる位置に設定された前記位置決め位置に、前記部品を移動させて位置決めし、
さらに、前記複数の第1吸引孔の2つ以上が前記部品の底面における長手方向の各部分で塞がれる位置に設定された前記仮置き位置に、前記部品を仮置きする仮置き部を備える請求項1又は2に記載の位置決め装置。
The part has a length;
The positioning member is positioned by moving the component to the positioning position set at a position where two or more of the plurality of first suction holes are blocked by the longitudinal portions of the bottom surface of the component. And
Furthermore, a temporary placement portion for temporarily placing the component is provided at the temporary placement position set at a position where two or more of the plurality of first suction holes are blocked by each longitudinal portion of the bottom surface of the component. The positioning device according to claim 1 or 2.
部品を位置決めする請求項1〜3のいずれか1項に記載の位置決め装置と、
基板を位置決めする基板位置決め部と、
前記位置決め装置で位置決めされた前記部品を保持する保持具と、
前記保持具を移動して前記基板位置決め部に位置決めされた基板に前記部品を搭載する移動機構と、
を備えた搭載装置。
The positioning device according to any one of claims 1 to 3, wherein the component is positioned;
A substrate positioning unit for positioning the substrate;
A holder for holding the component positioned by the positioning device;
A moving mechanism for moving the holder and mounting the component on the substrate positioned by the substrate positioning unit;
Mounting device equipped with.
請求項4に記載の搭載装置の前記位置決め装置によって前記部品を位置決めする部品位置決め工程と、
前記基板位置決め部に前記基板を位置決めする基板位置決め工程と、
前記部品位置決め工程で位置決めされた前記部品を前記保持具で保持し、前記基板位置決め工程で位置決めされた前記基板に該部品を搭載する搭載工程と、
を有する基板装置の製造方法。
A component positioning step of positioning the component by the positioning device of the mounting device according to claim 4;
A substrate positioning step of positioning the substrate on the substrate positioning portion;
A mounting step of holding the component positioned in the component positioning step with the holder and mounting the component on the substrate positioned in the substrate positioning step;
Manufacturing method of substrate device having
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