JP5051954B2 - Sputtering method and cover for spattering target used in the method - Google Patents

Sputtering method and cover for spattering target used in the method Download PDF

Info

Publication number
JP5051954B2
JP5051954B2 JP2001281815A JP2001281815A JP5051954B2 JP 5051954 B2 JP5051954 B2 JP 5051954B2 JP 2001281815 A JP2001281815 A JP 2001281815A JP 2001281815 A JP2001281815 A JP 2001281815A JP 5051954 B2 JP5051954 B2 JP 5051954B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sputtering
cover
sputtering target
target
ring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001281815A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2003089870A (en
Inventor
康之 宮崎
和行 高橋
政春 平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LSI Corp
Original Assignee
LSI Logic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LSI Logic Corp filed Critical LSI Logic Corp
Priority to JP2001281815A priority Critical patent/JP5051954B2/en
Publication of JP2003089870A publication Critical patent/JP2003089870A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5051954B2 publication Critical patent/JP5051954B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スパッタリングターゲットをスパッタリング装置に装着する際、該スパッタリングターゲットの汚染や破損等を防止する、スパツタリング方法、及び該方法に使用するスパツタリングターゲット用カバーに関する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】
スパツタリングターゲットは、通常、搬送時や保管時にターゲット材表面への塵の付着や、ターゲット材表面の破損等を防止するために、包装材内に収容されている。しかし、包装材を開封し、スパッタリングターゲットを、スパツタリング装置のカソードにボルトにより固定する際、不注意によって工具でターゲット材表面に引っ掻き傷を付けてしまうそれがあった。また、この固定に際し、気密性保持のためのスパッタリングターゲットの基台にOリングを装着するが、該Oリングのグリースがターゲット材を汚染し、これがスパッタリングの際のパーティクルを引き起こす原因となっていた。
【0003】
スパッタリングターゲットをスパッタリング装置に固定する際に生ずる汚染等は作業者の不注意と見なされて、特に対策が取られていたわけではない。ターゲット材表面の汚染に対する対策は、もっぱら搬送時、保管時に対して行われていたのが現状である。
【0004】
しかし、気付かずにターゲット材表面がOリングのグリース等によって汚染されて、これが原因となりスパッタリング中にパーティクルが発生し、最終製品であるマイクロデバイスの歩留まりを下げることもあり、根本的な対策が要望されていた。
【0005】
また、スパッタリングターゲットをスパッタリング装置に固定する際、ターゲット材の表面を傷つけたり、汚染したりしないように注意しなければならず、これがスパツタリング作業能率を低下させる一因となり、作業能率の観点からも根本的な対策が要望されていた。
【0006】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、スパツタリングターゲットをスパツタリング装置に装着する際、スパツタリングターゲットが傷つけられたり、汚染されたり、ダートマーク(dirt marks)が付いたり等しないようにする、スパツタリング方法及び該方法に使用するカバーを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明のスパツタリング方法は、スパッタリングターゲットをスパッタリング装置内に装着してスパッタリングを行うスパッタリング方法にして、次の▲1▼乃至▲3▼の工程を具備することを特徴とする。
【0008】
▲1▼スパツタリングターゲットにカバーを被せ、該スパッタリングターゲットを保護する工程;
▲2▼保護工程でカバーが被せられたスパッタリングターゲットを、スパッタリング装置内に固定し、またOリングを、スパッタリングターゲットの基台に設けた溝に装着する工程;
▲3▼装着工程完了後、カバーを取り外す工程。
【0009】
前記カバーは、前記スパッタリングターゲットを覆うカバー部分と、該カバー部分を前記スパッタリングターゲットの基台に着脱可能に取り付ける留めピン部分からなる。この留めピン部分は、前記スパッタリングターゲットの基台に設けられた、Oリングを外すためのOリング外し溝に係脱可能に係合する係合ピンであることが好ましい。
【0010】
また、前記スパッタリング装置が、直流グロー放電によりスパッタリングを行う直流スパッタリング装置である場合、前記カバーを非磁性材料から構成することが好ましい。この場合、前記カバー部分と前記留めピン部分を別体に構成し、前記カバー部分をアクリル樹脂製で、前記留めピン部分をPEEK(ポリエーテルエーテルケトン)樹脂製とすることが好ましい。
【0011】
また、上記目的を達成する本発明のスパツタリングターゲット用カバーは、スパッタリングターゲットを保護するスパツタリングターゲット用カバーにして、スパッタリングターゲットをスパッタリング装置に装着する際、該スパッタリングターゲットを覆い、ターゲット表面(上面、周面)を保護するための、一端が開口し、他端が閉じたカバー部分と、該カバー部分の一端縁部に設けられて、カバー部分を前記スパッタリングターゲットの基台に着脱可能に取り付ける留めピン部分からなることを特徴とする。
【0012】
前記留めピン部分は、前記スパッタリングターゲットの基台に設けられた、Oリングを外すためのOリング外し溝に係脱可能に係合する係合ピンであることが好ましい。
【0013】
また、前記カバー部分と前記留めピン部分を別体に構成し、前記カバー部分をアクリル樹脂製で、前記留めピン部分をPEEK(ポリエーテルエーテルケトン)樹脂製とすることが好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下本発明の一実施例について添付図面を参照して説明する。
図1は本発明のカバーを装着した、スパツタリングターゲットの断面図、図2は同スパッタリングターゲットの平面図、図3はカバーの底面図、図4は同カバーの部分断面図、図5は留めピン部分のための取付孔を示す、図3のA部分の部分拡大図、図6は取付孔内に留めピン部分が差し込まれた状態を示す、図4のB部分の部分拡大図、図7は本発明のスパッタリング方法に使用するスパッタリング装置の概略断面図、図8は本発明の方法を説明するフローチャートである。
【0015】
まず、本発明のスパツタリングターゲット用カバーの一実施例を図1乃至図6を参照して説明する。
スパッタリングターゲット20は、例えば、円盤状の基台21上にアルミニウム(Al)やチタン(Ti)等のターゲット材22を肉盛りして構成される。基台21の表面周縁部には、ターゲット材22を囲むようにOリング23を装着するためのOリング用溝24が設けられ、また該Oリング用溝24の内側に位置して、Oリング用溝24に連通し、Oリング用溝24からOリング23を取り外す際に工具が差し込まれる、Oリング外し溝25がほぼ等間隔に4個設けられている。また、Oリング用溝24の外側に位置する、基台21の周縁部には、図2に示すように、スパッタリングターゲット20をスパッタリング装置30(図7参照)に固定する際に使用する有頭ボルト(図示せず)の挿通孔26が等間隔に20個設けられる。
【0016】
このようなスパッタリングターゲット20をスパッタリング装置30(図7参照)に装着する際にターゲット材22を傷、汚れ、ダートマーク(dirt marks)等から保護する、本発明のカバーの一実施例を説明する。
【0017】
本実施例によれば、カバー10は、ターゲット材22の上面及び周面を覆う、一端が開口して、他端が閉じた、円筒形状のカバー部分11と、該カバー部分11の開口端に取り付けられた複数個の留めピン部分12とを具備する。
【0018】
カバー部分11は、例えば、アクリル樹脂から形成されていて、6インチのスパッタリングターゲット20上のターゲット材22を囲繞する大きさに設定されている。また、カバー部分11の一端に設けられた開口端面には、留めピン部分12を差し込んで取り付けるための取付孔13がカバー部分11の円周方向に沿ってほぼ等間隔に複数個、例えば12個設けられている(図3及び図5参照)。
【0019】
留めピン部分12は、Oリング外し溝25内に係脱自在に係合するように構成されていて(留めピン部分12の外径がOリング外し溝25に合わせて設定されていて)、繰り返して使用している間に折損したり、破損したりするおそれがある。このため、留めピン部分12は、アクリル樹脂よりも硬く、折れにくい、例えばPEEK(ポリエーテルエーテルケトン)樹脂によりカバー部分11と別体に形成されていて、折損したり、破損した場合、新たな留めピン部分12をカバー部分11の別の取付孔13に差し込んで取り付けることができるようにしてある。
【0020】
本実施例では、留めピン部分12は、例えば4個あり、互いに等しい間隔をあけて(留めピン部分12間の開き角度が90゜となるようにして)、カバー部分11に設けられた12個の取付孔13のうち、所定の4個の取付孔13内に差し込むことにより、カバー部分11に簡単に取り付けられるようにしてある。
【0021】
留めピン部分12をカバー部分11と一体にした場合、留めピン部分12が折損、破損した場合、カバー部分11に破損部分がなくてもカバー10全体を廃棄しなければならず、不経済となるが、このような事態を回避することが出来る。
【0022】
上記実施例のカバー10によれば、カバー10をスパッタリングターゲット20に装着する際、スパッタリングターゲット20の基台21に設けられたOリング外し溝25を利用できるように、留めピン部分12を形成して、この留めピン部分12を介してスパッタリングターゲット20に着脱自在に装着できるように構成してあるので、スパッタリングターゲット20にカバー10を取り付けるための特別の加工を施さずに済み、またターゲット材22を消費して新たなスパッタリングターゲット20と交換する場合にも、引き続き使用が可能で、経済的である。
【0023】
また、カバー10は、カバー部分11がアクリル樹脂製で、また留めピン部分12がPEEK樹脂製であり、共に非磁性体から構成されているので、スパッタリング装置30が、直流グロー放電によりスパッタリングを行うタイプの直流スパッタリング装置である場合に都合がよい。すなわち、直流スパッタリング装置内に装備したマグネット31(図7参照)の磁力の影響によって工具類(スパッタリングターゲット20をスパッタリング装置30に固定するための工具類)がカバー10に衝突して、カバー10を破損するようなおそれがない。
【0024】
次ぎに、図7及び図8を参照して、本発明のスパッタリング方法の一実施例について説明する。
本実施例のスパッタリング方法では、図1乃至図6のカバー10を使用して行う。また、スパッタリング装置30は、例えば、図7に示す直流スパッタリング装置を使用する。この直流スパッタリング装置は、チャンバ32内で直流グロー放電を行い、生成されたイオンを負電位のカソード33上に固定したスパッタリングターゲット20のターゲット材22に衝突させ、放出された原子をスパッタリングターゲット20と対向する位置に配置されたウェハ34上に付着させるように構成される。なお、カソード33付近に配置されたマグネット31は、グロー放電を促進させる。図7中、35は直流電源、36はチャンバ32に設けられたアルゴンガス導入口、37は真空ポンプ(図示せず)に接続される、チャンバ32に設けられた吸引口である。
【0025】
まず、スパッタリングターゲット20の包装材(図示せず)を開封する(ステップ40)。この際、包装材によりターゲット材22の表面を傷つけたり、汚染したりしないように注意する。次いで、カバー10を、カバー部分11でターゲット材22の上面及び周面が空間をあけて覆われるように、スパッタリングターゲット20上に載置し、留めピン部分12の先端部をスパッタリングターゲット20の基台21に設けたOリング外し溝25に係合させる(ステップ41)。このようにしてカバー10を装着し、ターゲット材22を保護したら、スパッタリングターゲット20をチャンバ32のカソード33に有頭ボルト(図示せず)を介して固定し、またカバー10の外側からOリング23を被せてOリング用溝24内に装着する(ステップ42)。図7はこの状態を示している。スパッタリングターゲット20の装着完了後、留めピン部分12の先端部とOリング外し溝25との係合を解除し、カバー10をスパッタリングターゲット20から外し、ターゲット材22を露呈させる(ステップ43)。次いで、チャンバ32内を所定の圧力まで減圧し、直流電源35により所定の電圧を印加し、チャンバ32内で直流グロー放電させ、スパッタリングを行う(ステップ44)。ウェハ34上にターゲット材22が付着して膜形成が行われたら、チャンバ32から取り出し、新たなウェハ34を装着して、ターゲット材22が無くなるまで、スパッタリングを繰り返す。ターゲット材22が無くなり、さらにスパッタリングを繰り返す場合には、ターゲット材22が無くなったスパッタリングターゲット20をカソード33から外し、新たなスパッタリングターゲット20を準備し、同様のステップを繰り返す。
【0026】
上記実施例のスパッタリング方法によれば、予めスパッタリングターゲット20にカバー10を装着して、ターゲット材22を保護した状態で、スパッタリングターゲット20をカソード33に固定し、スパッタリングターゲット20の基台にOリング23を装着するので、ターゲット材22の表面が工具類によって引っ掻き傷が付けられたり、Oリング23のグリースによって汚染されたりするおそれがなく(付着したグリースがスパッタリング中にパーティクルとなることがなく)、このようなスパッタリング方法を繰り返して製造されるマイクロデバイス等の歩留まりを向上させることが可能となる。また、スパッタリングターゲット20をカソード33に固定する固定作業において、ターゲット材22の表面が傷付けられたり、汚染されたりしないように留意する必要がなくなり、スパッタリング作業の能率を向上させることが可能となる。
【0027】
また、図1乃至図6に示すカバー10を使用することにより、経済的にターゲット材22の表面を保護することが出来る。また、カバー10は上述した如く繰り返し使用可能である。
【0028】
なお、スパッタリング装置30にマグネット31が装備されていない場合、カバー10を、基台21に接触する部分を除いて、金属で構成することも可能である。カバー10の基台21と接触する部分は、カバー10と基台21との擦過によってパーティクルが発生するのを防止するために、アクリル樹脂等の合成樹脂により構成する。また、マグネット31を装備したスパッタリング装置30であっても、カバー10を、基台21に接触する部分を除いて、アルミニウムや銅等の非磁性金属により構成することも可能である。
【0029】
また、留めピン部分12をカバー部分11の取付孔13に差し込むようにした場合を示したが、取付孔13に雌ネジを形成し、留めピン部分12に雄ネジを形成して、留めピン部分12を取付孔13に螺合するようにしてもよい。また、差し込んだり、螺合したりする代わりに、接着剤を使用して留めピン部分12をカバー部分11に固定するようにしてもよい。
【0030】
【発明の効果】
以上説明したように本発明のスパッタリング方法によれば、カバーによって予めターゲット材を保護してからスパッタリングターゲットをスパッタリング装置に固定し、固定作業完了後にカバーを取り外すようにしているので、スパッタリングターゲットをスパッタリング装置に固定する際に生じるターゲット材の傷、汚れ等を確実に防止することが出来る。また、スパツタリングターゲットの固定作業に際し、ターゲット材の傷、汚れ等に留意しなくても済み、固定作業の能率が向上する。
【0031】
また、本発明のスパッタリングターゲット用カバーによれば、スパッタリングターゲットを覆い、ターゲット材表面(上面、周面)を保護するための、一端が開口し、他端が閉じたカバー部分と、該カバー部分の一端縁部に設けられて、カバー部分を前記スパッタリングターゲットの基台に着脱可能に取り付ける留めピン部分からなるので、スパッタリングターゲットへの装着が容易であり、ターゲット材表面の傷、汚れを確実に防止することが出来る。
【0032】
また、留めピン部分を、スパッタリングターゲットの基台に設けられているOリング外し溝に係脱自在に係合できるように構成した場合には、スパッタリングターゲットにカバーを取り付けるための加工を何ら施さなくても済み、既存のスパッタリングターゲットにそのままカバーを取り付けることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のカバーを装着した、スパツタリングターゲットの断面図である。
【図2】同スパッタリングターゲットの平面図である。
【図3】カバーの底面図である。
【図4】同カバーの部分断面図である。
【図5】留めピン部分のための取付孔を示す、図3のA部分の部分拡大図である。
【図6】取付孔内に留めピン部分が差し込まれた状態を示す、図4のB部分の部分拡大図である。
【図7】本発明のスパッタリング方法に使用するスパッタリング装置の概略断面図である。
【図8】本発明のスパッタリング方法を説明するフローチャートである。同底面図である。
【符号の説明】
10 カバー 11 カバー部分
12 留めピン部分 13 取付孔
20 スパッタリングターゲット 21 基台
22 ターゲット材 23 Oリング
24 Oリング用溝24 25 Oリング外し溝25
30 スパッタリング装置 32 チャンバ
33 カソード
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a sputtering method and a sputtering target cover used in the method for preventing contamination and breakage of the sputtering target when the sputtering target is mounted on a sputtering apparatus.
[0002]
[Problems to be solved by the invention]
The spattering target is usually accommodated in a packaging material in order to prevent adhesion of dust to the target material surface, damage to the target material surface, or the like during transportation or storage. However, when the packaging material is opened and the sputtering target is fixed to the cathode of the sputtering device with a bolt, the surface of the target material may be inadvertently scratched with a tool. In addition, an O-ring is attached to the base of the sputtering target for maintaining airtightness during this fixing, but the grease of the O-ring contaminates the target material, which causes particles during sputtering. .
[0003]
Contamination or the like that occurs when the sputtering target is fixed to the sputtering apparatus is regarded as carelessness of the operator, and no special measures have been taken. At present, countermeasures against contamination of the surface of the target material have been taken exclusively during transportation and storage.
[0004]
However, the surface of the target material is contaminated by O-ring grease without being noticed, and this may cause particles to be generated during sputtering, which may reduce the yield of the final microdevice. It had been.
[0005]
In addition, when fixing the sputtering target to the sputtering apparatus, care must be taken not to damage or contaminate the surface of the target material, which contributes to a reduction in sputtering work efficiency and also from the viewpoint of work efficiency. Fundamental measures were required.
[0006]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and when the sputtering target is mounted on the sputtering device, the sputtering target is not damaged, contaminated, or has dirt marks. An object of the present invention is to provide a sputtering method and a cover used in the method.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
The sputtering method of the present invention that achieves the above object is characterized by comprising the following steps (1) to (3) as a sputtering method in which sputtering is carried out by mounting a sputtering target in a sputtering apparatus.
[0008]
(1) A step of covering the sputtering target and protecting the sputtering target;
(2) A process of fixing the sputtering target covered in the protection process in the sputtering apparatus and mounting an O-ring in a groove provided on the base of the sputtering target;
(3) The process of removing the cover after completion of the mounting process.
[0009]
The cover includes a cover portion that covers the sputtering target and a fastening pin portion that detachably attaches the cover portion to a base of the sputtering target. The retaining pin portion is preferably an engagement pin that is provided on the base of the sputtering target and is detachably engaged with an O-ring removal groove for removing an O-ring.
[0010]
Moreover, when the said sputtering apparatus is a direct current | flow sputtering apparatus which performs sputtering by direct current glow discharge, it is preferable to comprise the said cover from a nonmagnetic material. In this case, it is preferable that the cover part and the fastening pin part are formed separately, the cover part is made of acrylic resin, and the fastening pin part is made of PEEK (polyether ether ketone) resin.
[0011]
Moreover, the cover for a sputtering target of the present invention that achieves the above object is a cover for a sputtering target that protects the sputtering target, and covers the sputtering target when the sputtering target is mounted on a sputtering apparatus. A cover part that is open at one end and closed at the other end to protect the (upper surface, peripheral surface) and one end edge of the cover part can be attached to and detached from the base of the sputtering target. It is characterized by comprising a retaining pin portion to be attached to.
[0012]
It is preferable that the retaining pin portion is an engagement pin that is provided on a base of the sputtering target and is detachably engaged with an O-ring removal groove for removing an O-ring.
[0013]
Moreover, it is preferable that the cover part and the fastening pin part are formed separately, the cover part is made of acrylic resin, and the fastening pin part is made of PEEK (polyether ether ketone) resin.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
1 is a cross-sectional view of a sputtering target equipped with the cover of the present invention, FIG. 2 is a plan view of the sputtering target, FIG. 3 is a bottom view of the cover, FIG. 4 is a partial cross-sectional view of the cover, and FIG. FIG. 6 is a partially enlarged view of a portion A in FIG. 3 showing a mounting hole for a retaining pin portion. FIG. 6 is a partially enlarged view of a portion B in FIG. 4 showing a state where the retaining pin portion is inserted into the mounting hole. 7 is a schematic sectional view of a sputtering apparatus used in the sputtering method of the present invention, and FIG. 8 is a flowchart for explaining the method of the present invention.
[0015]
First, an embodiment of the cover for a sputtering target according to the present invention will be described with reference to FIGS.
The sputtering target 20 is configured, for example, by depositing a target material 22 such as aluminum (Al) or titanium (Ti) on a disk-shaped base 21. An O-ring groove 24 for mounting an O-ring 23 is provided at the peripheral edge of the surface of the base 21 so as to surround the target material 22, and the O-ring is positioned inside the O-ring groove 24. Four O-ring removal grooves 25 that are communicated with the groove 24 and into which a tool is inserted when removing the O-ring 23 from the O-ring groove 24 are provided at substantially equal intervals. Further, at the periphery of the base 21 located outside the O-ring groove 24, as shown in FIG. 2, the head used for fixing the sputtering target 20 to the sputtering apparatus 30 (see FIG. 7). Twenty insertion holes 26 for bolts (not shown) are provided at equal intervals.
[0016]
An embodiment of the cover of the present invention for protecting the target material 22 from scratches, dirt, dirt marks and the like when the sputtering target 20 is mounted on the sputtering apparatus 30 (see FIG. 7) will be described. .
[0017]
According to the present embodiment, the cover 10 covers the upper surface and the peripheral surface of the target material 22, and has a cylindrical cover portion 11 that is open at one end and closed at the other end, and an open end of the cover portion 11. And a plurality of retaining pin portions 12 attached thereto.
[0018]
The cover portion 11 is formed of, for example, an acrylic resin and is set to a size that surrounds the target material 22 on the 6-inch sputtering target 20. In addition, a plurality of, for example, twelve mounting holes 13 for inserting and attaching the retaining pin portion 12 to the opening end surface provided at one end of the cover portion 11 are arranged at substantially equal intervals along the circumferential direction of the cover portion 11. (See FIGS. 3 and 5).
[0019]
The retaining pin portion 12 is configured to detachably engage with the O-ring removing groove 25 (the outer diameter of the retaining pin portion 12 is set in accordance with the O-ring removing groove 25). There is a risk of breakage or damage during use. For this reason, the fastening pin portion 12 is harder than the acrylic resin and is not easily broken. For example, the fastening pin portion 12 is formed separately from the cover portion 11 with PEEK (polyether ether ketone) resin. The fastening pin portion 12 can be attached by being inserted into another attachment hole 13 of the cover portion 11.
[0020]
In this embodiment, there are, for example, four fastening pin portions 12, and 12 pieces are provided on the cover portion 11 at equal intervals (so that the opening angle between the fastening pin portions 12 is 90 °). Of these mounting holes 13, they are easily attached to the cover portion 11 by being inserted into predetermined four mounting holes 13.
[0021]
When the fastening pin portion 12 is integrated with the cover portion 11, if the fastening pin portion 12 is broken or damaged, the entire cover 10 must be discarded even if the cover portion 11 has no broken portion, which is uneconomical. However, this situation can be avoided.
[0022]
According to the cover 10 of the above embodiment, when the cover 10 is mounted on the sputtering target 20, the retaining pin portion 12 is formed so that the O-ring removal groove 25 provided on the base 21 of the sputtering target 20 can be used. In addition, since it is configured to be detachably attached to the sputtering target 20 via the retaining pin portion 12, it is not necessary to perform special processing for attaching the cover 10 to the sputtering target 20, and the target material 22 In the case where a new sputtering target 20 is exchanged for consumption, it can be used continuously and is economical.
[0023]
Moreover, since the cover part 11 is made of acrylic resin and the retaining pin part 12 is made of PEEK resin, both of the cover 10 are made of a nonmagnetic material, the sputtering apparatus 30 performs sputtering by direct current glow discharge. This is convenient when the type is a direct current sputtering apparatus. That is, tools (tools for fixing the sputtering target 20 to the sputtering apparatus 30) collide with the cover 10 due to the influence of the magnetic force of the magnet 31 (see FIG. 7) provided in the DC sputtering apparatus, and the cover 10 is There is no risk of damage.
[0024]
Next, an example of the sputtering method of the present invention will be described with reference to FIGS.
In the sputtering method of this embodiment, the cover 10 shown in FIGS. 1 to 6 is used. Moreover, the sputtering apparatus 30 uses the DC sputtering apparatus shown in FIG. 7, for example. This direct current sputtering apparatus performs direct current glow discharge in the chamber 32, collides the generated ions with the target material 22 of the sputtering target 20 fixed on the negative potential cathode 33, and discharges the atoms with the sputtering target 20. It is comprised so that it may adhere on the wafer 34 arrange | positioned in the opposing position. The magnet 31 disposed in the vicinity of the cathode 33 promotes glow discharge. In FIG. 7, 35 is a DC power source, 36 is an argon gas inlet provided in the chamber 32, and 37 is a suction port provided in the chamber 32 connected to a vacuum pump (not shown).
[0025]
First, a packaging material (not shown) for the sputtering target 20 is opened (step 40). At this time, care should be taken not to damage or contaminate the surface of the target material 22 with the packaging material. Next, the cover 10 is placed on the sputtering target 20 so that the upper surface and the peripheral surface of the target material 22 are covered with a space by the cover portion 11, and the distal end portion of the retaining pin portion 12 is the base of the sputtering target 20. Engage with the O-ring removal groove 25 provided on the base 21 (step 41). When the cover 10 is thus mounted and the target material 22 is protected, the sputtering target 20 is fixed to the cathode 33 of the chamber 32 via a headed bolt (not shown), and the O-ring 23 is formed from the outside of the cover 10. And is mounted in the O-ring groove 24 (step 42). FIG. 7 shows this state. After the mounting of the sputtering target 20 is completed, the engagement between the tip of the retaining pin portion 12 and the O-ring removal groove 25 is released, the cover 10 is removed from the sputtering target 20, and the target material 22 is exposed (step 43). Next, the inside of the chamber 32 is depressurized to a predetermined pressure, a predetermined voltage is applied by the DC power source 35, and DC glow discharge is performed in the chamber 32 to perform sputtering (step 44). When the target material 22 is deposited on the wafer 34 and film formation is performed, the target material 22 is taken out from the chamber 32, a new wafer 34 is mounted, and sputtering is repeated until the target material 22 runs out. When the target material 22 is lost and the sputtering is repeated, the sputtering target 20 with the target material 22 lost is removed from the cathode 33, a new sputtering target 20 is prepared, and the same steps are repeated.
[0026]
According to the sputtering method of the above embodiment, the sputtering target 20 is attached to the sputtering target 20 in advance and the target material 22 is protected, the sputtering target 20 is fixed to the cathode 33, and the O-ring is attached to the base of the sputtering target 20. 23 is attached, there is no possibility that the surface of the target material 22 is scratched by tools or contaminated by the grease of the O-ring 23 (the adhered grease does not become particles during sputtering). It is possible to improve the yield of microdevices and the like manufactured by repeating such a sputtering method. Further, in the fixing operation for fixing the sputtering target 20 to the cathode 33, it is not necessary to pay attention so that the surface of the target material 22 is not damaged or contaminated, and the efficiency of the sputtering operation can be improved.
[0027]
Moreover, the surface of the target material 22 can be protected economically by using the cover 10 shown in FIGS. The cover 10 can be used repeatedly as described above.
[0028]
In addition, when the magnet 31 is not equipped in the sputtering apparatus 30, it is also possible to comprise the cover 10 with a metal except the part which contacts the base 21. FIG. The portion of the cover 10 that comes into contact with the base 21 is made of a synthetic resin such as an acrylic resin in order to prevent generation of particles due to rubbing between the cover 10 and the base 21. Even in the sputtering apparatus 30 equipped with the magnet 31, the cover 10 can be made of a nonmagnetic metal such as aluminum or copper except for a portion that contacts the base 21.
[0029]
Moreover, although the case where the fastening pin part 12 was inserted in the attachment hole 13 of the cover part 11 was shown, the internal thread is formed in the attachment hole 13, the external thread is formed in the fastening pin part 12, and the fastening pin part 12 may be screwed into the mounting hole 13. Further, instead of being inserted or screwed, the fastening pin portion 12 may be fixed to the cover portion 11 using an adhesive.
[0030]
【Effect of the invention】
As described above, according to the sputtering method of the present invention, the target material is protected in advance by the cover, the sputtering target is fixed to the sputtering apparatus, and the cover is removed after the fixing operation is completed. It is possible to reliably prevent the target material from being scratched or soiled when it is fixed to the apparatus. Further, when fixing the sputtering target, it is not necessary to pay attention to scratches and dirt on the target material, and the efficiency of the fixing operation is improved.
[0031]
Moreover, according to the cover for sputtering targets of this invention, the cover part which covers a sputtering target and protects the target material surface (upper surface, peripheral surface) with one end opened and the other end closed, and the cover part Since it is provided with a retaining pin portion that is provided at one end edge of the base plate and detachably attaches the cover portion to the base of the sputtering target, it is easy to attach to the sputtering target, and ensures that the surface of the target material is scratched and soiled. Can be prevented.
[0032]
In addition, when the retaining pin portion is configured to be detachably engageable with an O-ring removal groove provided on the base of the sputtering target, no processing for attaching the cover to the sputtering target is performed. The cover can be attached to an existing sputtering target as it is.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a sputtering target equipped with a cover of the present invention.
FIG. 2 is a plan view of the sputtering target.
FIG. 3 is a bottom view of the cover.
FIG. 4 is a partial sectional view of the cover.
5 is a partially enlarged view of a portion A in FIG. 3 showing a mounting hole for a fastening pin portion. FIG.
6 is a partially enlarged view of a portion B in FIG. 4 showing a state in which a fastening pin portion is inserted into the mounting hole.
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of a sputtering apparatus used in the sputtering method of the present invention.
FIG. 8 is a flowchart illustrating a sputtering method of the present invention. It is the bottom view.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Cover 11 Cover part 12 Fastening pin part 13 Mounting hole 20 Sputtering target 21 Base 22 Target material 23 O-ring 24 O-ring groove 24 25 O-ring removal groove 25
30 Sputtering device 32 Chamber 33 Cathode

Claims (7)

スパッタリングターゲットをスパッタリング装置のチャンバ内に装着してスパッタリングを行うスパッタリング方法にして、
前記スパッタリングターゲットにカバーを被せて、該スパッタリングターゲットを保護する工程と、
前記保護工程でカバーが被せられた前記スパッタリングターゲットを、前記チャンバ内に固定し、またOリングを、前記スパッタリングターゲットの基台に設けた溝に装着する工程と、
前記装着工程完了後、前記カバーを取り外す工程とを具備してなることを特徴とするスパッタリング方法。
A sputtering method in which sputtering is performed by mounting a sputtering target in a chamber of a sputtering apparatus,
Covering the sputtering target and protecting the sputtering target;
Fixing the sputtering target covered in the protection step in the chamber, and attaching an O-ring to a groove provided on a base of the sputtering target;
And a step of removing the cover after completion of the mounting step.
請求項1に記載のスパッタリング方法にして、
前記カバーは、前記スパッタリングターゲットを覆うカバー部分と、該カバー部分を前記スパッタリングターゲットの基台に着脱可能に取り付ける留めピン部分からなることを特徴とするスパッタリング方法。
In the sputtering method according to claim 1,
The said cover consists of a cover part which covers the said sputtering target, and a fastening pin part which attaches this cover part to the base of the said sputtering target so that attachment or detachment is possible.
請求項2に記載のスパッタリング方法にして、
前記留めピン部分は、前記スパッタリングターゲットの基台に設けられた、前記Oリングを外すためのOリング外し溝に係脱可能に係合する係合ピンであることを特徴とするスパッタリング方法。
In the sputtering method according to claim 2,
The sputtering method according to claim 1, wherein the retaining pin portion is an engagement pin that is provided on a base of the sputtering target and is detachably engaged with an O-ring removal groove for removing the O-ring.
請求項1乃至3の何れか一項に記載のスパッタリング方法にして、
前記スパッタリング装置は、直流グロー放電によりスパッタリングを行う直流スパッタリング装置で、前記カバーは、非磁性材料から構成されることを特徴とするスパッタリング方法。
In the sputtering method according to any one of claims 1 to 3,
The sputtering method is a direct current sputtering device that performs sputtering by direct current glow discharge, and the cover is made of a nonmagnetic material.
請求項に記載のスパッタリング方法にして、
前記カバー部分と前記留めピン部分は別体に構成され、前記カバー部分はアクリル樹脂製で、前記留めピン部分はPEEK(ポリエーテルエーテルケトン)樹脂製であることを特徴とするスパッタリング方法。
In the sputtering method according to claim 2 ,
The said cover part and the said fastening pin part are comprised separately, the said cover part is a product made from an acrylic resin, and the said fastening pin part is a product made from PEEK (polyether ether ketone) resin, The sputtering method characterized by the above-mentioned.
スパッタリングターゲットを保護するスパッタリングターゲット用カバーにして、
前記スパッタリングターゲットをスパッタリング装置に装着する際、該スパッタリングターゲットを覆い、ターゲット材の表面を保護するための、一端が開口し、他端が閉じたカバー部分と、該カバー部分の一端縁部に設けられて、カバー部分を前記スパッタリングターゲットの基台に着脱可能に取り付ける留めピン部分からなっており、
前記留めピン部分は、前記スパッタリングターゲットの基台に設けられた、Oリングを外すためのOリング外し溝に係脱可能に係合する係合ピンであることを特徴とするスパッタリングターゲット用カバー。
Sputtering target cover to protect the sputtering target,
When the sputtering target is mounted on a sputtering apparatus, a cover part that covers the sputtering target and protects the surface of the target material is opened at one end and closed at the other end, and provided at one end edge of the cover part. A cover pin portion is detachably attached to the base of the sputtering target,
The cover for a sputtering target, wherein the retaining pin portion is an engagement pin that is provided on a base of the sputtering target and is detachably engaged with an O-ring removal groove for removing an O-ring.
請求項6に記載のスパッタリングターゲット用カバーにして、
前記カバー部分と前記留めピン部分は別体に構成され、前記カバー部分はアクリル樹脂製で、前記留めピン部分はPEEK(ポリエーテルエーテルケトン)樹脂製であることを特徴とするスパッタリングターゲット用カバー。
A cover for a sputtering target according to claim 6,
The cover for a sputtering target, wherein the cover part and the fastening pin part are configured separately, the cover part is made of acrylic resin, and the fastening pin part is made of PEEK (polyether ether ketone) resin.
JP2001281815A 2001-09-17 2001-09-17 Sputtering method and cover for spattering target used in the method Expired - Fee Related JP5051954B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001281815A JP5051954B2 (en) 2001-09-17 2001-09-17 Sputtering method and cover for spattering target used in the method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001281815A JP5051954B2 (en) 2001-09-17 2001-09-17 Sputtering method and cover for spattering target used in the method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003089870A JP2003089870A (en) 2003-03-28
JP5051954B2 true JP5051954B2 (en) 2012-10-17

Family

ID=19105566

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001281815A Expired - Fee Related JP5051954B2 (en) 2001-09-17 2001-09-17 Sputtering method and cover for spattering target used in the method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5051954B2 (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011102432A (en) * 2009-10-14 2011-05-26 Canon Anelva Corp Apparatus and method for replacing magnetic target
KR101975741B1 (en) * 2009-11-13 2019-05-09 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 Method for packaging target material and method for mounting target
US20120152727A1 (en) * 2010-11-24 2012-06-21 Applied Materials, Inc. Alkali Metal Deposition System
JP5616252B2 (en) * 2011-02-23 2014-10-29 太平洋セメント株式会社 Sputtering target and manufacturing method thereof
CN208167089U (en) * 2015-05-08 2018-11-30 应用材料公司 System for the protection component of target and for protecting target during target is handled
CN110176524B (en) * 2019-06-11 2021-03-16 厦门乾照光电股份有限公司 Thin film growth assembly and method and LED preparation method

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02159372A (en) * 1988-12-12 1990-06-19 Nec Corp Protective vessel for sputtering target
JPH0499272A (en) * 1990-08-09 1992-03-31 Nec Corp Ferromagnetic target exchanging jig for magnetron sputtering device
JPH04231461A (en) * 1990-12-27 1992-08-20 Tosoh Corp Protector for sputtering target and packaging method
JPH0853757A (en) * 1994-08-10 1996-02-27 Fujitsu Ltd Production of sputtering target, sputtering method and sputtering system
US6045670A (en) * 1997-01-08 2000-04-04 Applied Materials, Inc. Back sputtering shield
US6030514A (en) * 1997-05-02 2000-02-29 Sony Corporation Method of reducing sputtering burn-in time, minimizing sputtered particulate, and target assembly therefor
JP3844630B2 (en) * 1999-11-19 2006-11-15 株式会社フジクラ Target holder

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003089870A (en) 2003-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0977905B1 (en) Method of reducing sputtering burn-in time, minimizing sputtered particulate, and target assembly therefor
JP4615659B2 (en) Combination clamp ring
JPH1150229A (en) Chamber design having isolation valve preserving vacuum state during service
CN101859729B (en) Wafer processing method
JP5051954B2 (en) Sputtering method and cover for spattering target used in the method
KR20020002315A (en) Method of extending process kit consumable recycling life
CN1145715C (en) Mechanically joined sputtering target and adapter therefor
US6045670A (en) Back sputtering shield
TWI724247B (en) Flange mechanism
KR20040108790A (en) Sputtering cathode adapter assembly and method
US20040245098A1 (en) Method of fabricating a shield
JPH0855841A (en) Immediate disconnection type process kit
US5846389A (en) Sputtering target protection device
US6230895B1 (en) Container for transporting refurbished semiconductor processing equipment
US20040245089A1 (en) Method of surface treating a processing element in a processing system
US7306707B2 (en) Adaptable processing element for a processing system and a method of making the same
KR101719801B1 (en) Removable isolation valve shield insert assembly
CN215496622U (en) Plasma cleaning device
KR20040007543A (en) Coating agent, plasma-resistant component having coating film formed by the coating agent, plasma processing device provided with the plasma-resistant component
JP2003247058A (en) Deposition-preventive plate, and thin film deposition apparatus
KR200299426Y1 (en) Apparatus for protecting susceptor
JPH09129616A (en) Etching device
CN115210857A (en) Apparatus for processing wafer
KR20060039862A (en) Adaptable processing element for a processing system and a method of making the same
TW200525684A (en) Wafer carrier door

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080917

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081001

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110610

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20110909

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20110914

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111007

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111013

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111110

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20111227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120229

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120521

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120628

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120724

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150803

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D02

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees