JP5020476B2 - 圧電/電歪素子の製造方法 - Google Patents
圧電/電歪素子の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5020476B2 JP5020476B2 JP2005116151A JP2005116151A JP5020476B2 JP 5020476 B2 JP5020476 B2 JP 5020476B2 JP 2005116151 A JP2005116151 A JP 2005116151A JP 2005116151 A JP2005116151 A JP 2005116151A JP 5020476 B2 JP5020476 B2 JP 5020476B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- connection terminal
- connection
- group
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01019—Potassium [K]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01046—Palladium [Pd]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01067—Holmium [Ho]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01077—Iridium [Ir]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01078—Platinum [Pt]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/095—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
- H01L2924/097—Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
- H01L2924/09701—Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
Landscapes
- Adhesive Tapes (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Combinations Of Printed Boards (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
Description
(1)加熱により遊離ラジカルを発生する硬化剤
(2)分子量10000以上のフェノキシ樹脂をカルボキシル基含有エラストマー又はエポキシ基含有エラストマーで変性したエラストマー変性フェノキシ樹脂
(3)ラジカル重合性物質としてトリグリセリンジアクリレート及びリン酸エステル型アクリレート
ジアシルパーオキサイドとしては、イソブチルパーオキサイド、2,4−ジクロロベンゾイルパーオキサイド、3,5,5−トリメチルヘキサノイルパーオキサイド、オクタノイルパーオキサイド、ラウロイルパーオキサイド、ステアロイルパーオキサイド、スクシニックパーオキサイド、ベンゾイルパーオキシトルエン、ベンゾイルパーオキサイド等が使用できる。
アクリレート(メタクリレート)の具体例としては、メチルアクリレート、エチルアクリレート、イソプロピルアクリレート、イソブチルアクリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、テトラメチロールメタンテトラアクリレート、2−ヒドロキシ−1,3−ジアクリロキシプロパン、2,2−ビス〔4−(アクリロキシメトキシ)フェニル〕プロパン、2,2−ビス〔4−(アクリロキシポリエトキシ)フェニル〕プロパン、ジシクロペンテニルアクリレート、トリシクロデカニルアクリレート、トリス(アクリロイロキシエチル)イソシアヌレート等がある。これらは単独又は併用して用いることができ、必要によっては、ハイドロキノン、メチルエーテルハイドロキノン類などの重合禁止剤を適宜用いてもよい。また、ジシクロペンテニル基及び/又はトリシクロデカニル基及び/又はトリアジン環を有する場合は、耐熱性が向上するので好ましい。
(ただしnは1〜3の整数である)
フェノキシ樹脂(ユニオンカーバイド株式会社製、商品名PKHC、平均分子量45,000)50gを、重量比でトルエン(沸点110.6℃、SP値8.90)/酢酸エチル(沸点77.1℃、SP値9.10)=50/50の混合溶剤に溶解して、固形分40%の溶液とした。
ラジカル重合性物質としてトリグリセリンジアクリレート、リン酸エステル型アクリレート(共栄社油脂株式会社製、商品名P2m)を用いて、フェノキシ樹脂/トリグリセリンジアクリレート、リン酸エステル型アクリレートの固形重量比を50g/49g/1g(参考例2)、30g/69g/1g(参考例3)、70g/29g/1g(参考例4)としたほかは、参考例1と同様にして回路接続材料を得た。この回路接続材料を用いて、参考例1と同様にして回路を接続した。
硬化剤の配合量を2gとしたほかは、参考例2と同様にして回路接続材料を得た。
硬化剤をt−ブチルパーオキシ2−エチルヘキサノネート(日本油脂株式会社製、商品名パーブチルO)としたほかは、参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
平均分子量45,000のフェノキシ樹脂(PKHC)100gに末端カルボキシル基含有ブタジエン−アクリロニトリル共重合体(Hycar CTBNX1009−SP、宇部興産(株)製)25gを一般的方法で反応させて、カルボキシル基含有ブタジエン−アクリロニトリル共重合体で変性したフェノキシ樹脂を作製した。このフェノキシ樹脂を用い、フェノキシ樹脂/トリグリセリンジアクリレート、リン酸エステル型アクリレートの固形重量比を60g/39g/1gとしたほかは参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
平均分子量45,000のフェノキシ樹脂(PKHC)100gにエポキシ基含有アクリル共重合体25gで変性したフェノキシ樹脂を作製した。このフェノキシ樹脂を用い、フェノキシ樹脂/トリグリセリンジアクリレート、リン酸エステル型アクリレートの固形重量比を60g/39g/1gとしたほかは参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
エポキシ基含有アクリル共重合体(アクリルゴム)を用いフェノキシ樹脂/アクリルゴム/トリグリセリンジアクリレート、リン酸エステル型アクリレートの固形重量比を40g/20g/39g/1gとしたほかは参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
平均分子量45,000のフェノキシ樹脂(PKHC)100gに末端にアクリル基を持つモノイソシアネート5gを一般的方法で反応させて、アクリル基で変性したフェノキシ樹脂を作製した。このフェノキシ樹脂を用い、フェノキシ樹脂/トリグリセリンジアクリレート、リン酸エステル型アクリレートの固形重量比を60g/39g/1gとしたほかは参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
導電性粒子を平均粒径2μmのNi粒子の表面をAuで被覆(被覆厚み0.08μm)したものを用いて、0.5体積部としたほかは、参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
導電性粒子の粒径を5μmとしたほかは、参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
ラジカル重合性物質として2,2−ビス{4−(アクリロキシ・ジエトキシ)フェニル}プロパン(新中村化学(株)製、商品名 A−BPE−4)を用い、フェノキシ樹脂/2,2−ビス{4−(アクリロキシ・ジエトキシ)フェニル}プロパン、リン酸エステル型アクリレートの固形重量比を60g/39g/1g他は参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
ラジカル重合性物質としてジシクロペンテニルアクリレート(共栄社油脂株式会社製、商品名DCP−A)を用い、フェノキシ樹脂/ジシクロペンテニルアクリレート、リン酸エステル型アクリレートの固形重量比を60g/39g/1gとしたほかは、参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
ラジカル重合性物質としてトリス(アクリロイロキシエチル)イソシアヌレートを用い、フェノキシ樹脂/トリス(アクリロイロキシエチル)イソシアヌレート、リン酸エステル型アクリレートの固形重量比を60g/39g/1gとしたほかは、参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
ラジカル重合性物質として4,4’−ビスマレイミドジフェニルメタン30gとジアリルビスフェノールA35gを120℃で20分間加熱混合したものとリン酸エステル型アクリレート(共栄社油脂株式会社製、商品名P−2m)を用いた。
ラジカル重合性物質として4,4’−ビスマレイミドジフェニルメタン30gとジアリルビスフェノールA20gを120℃で20分間加熱混合したものを用いたほかは、参考例13と同様にして回路接続材料を得た。
導電性粒子を平均粒径2μmのNi粒子の表面をPdで被覆(被覆厚み0.04μm)したものを用いて、0.5体積%としたほかは、参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
フェノキシ樹脂(PKHC)、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(YL980、油化シェル株式会社製品名)、イミダゾール系マイクロカプセル型硬化剤(3941HP 株式会社旭化成製商品名)を用いて、フェノキシ樹脂/ビスフェノールA型エポキシ樹脂/イミダゾール系マイクロカプセル型硬化剤の固形重量比を40/20/40とした他は、参考例1と同様にして回路接続材料を得た。
回路の接続後、上記接続部を含むFPCの隣接回路間の抵抗値を、初期と、85℃、85%RHの高温高湿槽中に500時間保持した後にマルチメータで測定した。抵抗値は隣接回路間の抵抗150点の平均(x+3σ)で示した。参考例1で得られた回路接続材料は良好な接続信頼性を示した。また、初期の接続抵抗も低く、高温高湿試験後の抵抗の上昇もわずかであり、高い耐久性を示した。また、実施例1、2及び参考例2〜16も参考例1と同様に良好な信頼性が得られた。これらに対して、比較例は、硬化反応が不十分であるため接着状態が悪く、初期の接続抵抗が高くなった。
回路の接続後、90度剥離、剥離速度50mm/分で接着力測定を行った。比較例は硬化反応が不十分で、接着強度に200gf/cm程度と接着力が低かったが、実施例1、2及び参考例2〜16では1000gf/cm程度と良好な接着力が得られた。
得られた回路接続材料を30℃の恒温槽で30日間処理し、上記と同様にして回路の接続を行い保存性を評価した。
得られた回路接続材料を用いて、ライン幅50μm、ピッチ100μm、厚み18μmの銅回路を交互に250本配置した櫛形回路を有するプリント基板とライン幅50μm、ピッチ100μm、厚み18μmの銅回路を500本有するフレキシブル回路板(FPC)を160℃、3MPaで10秒間加熱加圧して幅2mmにわたり接続した。この接続体の櫛形回路に100Vの電圧を印加し、85℃85%RH高温高湿試験500時間後の絶縁抵抗値を測定した。
厚み35μm、5mm×5mmの回路用接続材料を用い、これを厚み0.7mm、15mm×15mmのガラスにはさみ、150℃、2MPa、10秒の条件で加熱加圧を行った。初期の面積(A)と加熱加圧後の面積(B)を用いて流動性(B)/(A)の値を求めたところ、参考例1は1.9であり、実施例1、2及び参考例2〜8についても1.3〜3.0の範囲
内であった。
参考例1の回路用接続材料の、硬化後の40℃での弾性率を測定したところ1500MPaであった。
得られた回路接続材料を用いて、示差走査熱量計(DSC TAインスツルメント社製 商品名910型)を用いて10℃/分の測定において、発熱反応の立ち上がり温度(Ta)、ピーク温度(Tp)、終了温度(Te)を求めた。
Claims (10)
- 相対峙する回路電極間に介在され、相対向する回路電極を加圧し加圧方向の電極間を電気的に接続するフィルム状異方導電性回路接続材料であって、下記(1)〜(3)の成分を個別に必須とするフィルム状異方導電性回路接続材料。
(1)加熱により遊離ラジカルを発生する硬化剤
(2)分子量10000以上のフェノキシ樹脂をカルボキシル基含有エラストマー又はエポキシ基含有エラストマーで変性したエラストマー変性フェノキシ樹脂
(3)ラジカル重合性物質としてトリグリセリンジアクリレート及びリン酸エステル型アクリレート - 前記カルボキシル基含有エラストマーが、分子末端又は分子鎖中にカルボキシル基を有し、ブタジエン系重合体、アクリル重合体、ポリエーテルウレタンゴム、ポリエステルウレタンゴム、ポリアミドウレタンゴム及びシリコーンゴムから選ばれるものである請求項1記載の回路接続材料。
- 前記カルボキシル基含有エラストマーが分子末端又は分子鎖中にカルボキシル基を有するブタジエン−アクリロニトリル共重合体である請求項1又は2に記載の回路接続材料。
- 前記カルボキシル基含有エラストマーの重量平均分子量が500〜1000000である請求項1〜3のいずれかに記載の回路接続材料。
- 硬化後の40℃での弾性率が100〜2000MPaである請求項1〜4のいずれかに記載の回路接続材料。
- 導電性粒子を含有する請求項1〜5のいずれかに記載の回路接続材料。
- 第一の接続端子を有する第一の回路部材と、第二の接続端子を有する第二の回路部材とが、第一の接続端子と第二の接続端子を対向して配置されており、前記対向配置した第一の接続端子と第二の接続端子の間に請求項1〜6いずれかに記載の回路接続材料が介在されており、前記対向配置した第一の接続端子と第二の接続端子が電気的に接続されている回路端子の接続構造。
- 第一の接続端子を有する第一の回路部材と、第二の接続端子を有する第二の回路部材とを、第一の接続端子と第二の接続端子を対向して配置し、前記対向配置した第一の接続端子と第二の接続端子の間に請求項1〜6のいずれかに記載の回路接続材料を介在させ、加熱加圧して前記対向配置した第一の接続端子と第二の接続端子を電気的に接続させる回路端子の接続方法。
- 第一の接続端子を有する第一の回路部材と、第二の接続端子を有する第二の回路部材とが、第一の接続端子と第二の接続端子を対向して配置されており、前記対向配置した第一の接続端子と第二の接続端子の間にラジカル重合による硬化性を有する回路接続材料が介在されており、前記接続端子の少なくとも一方の表面が金、銀、錫及び白金族から選ばれる金属であり、前記対向配置した第一の接続端子と第二の接続端子が電気的に接続されており、
ラジカル重合による硬化性を有する回路接続材料が請求項1〜6のいずれかに記載の回路接続材料である回路端子の接続構造。 - 第一の接続端子を有する第一の回路部材と、第二の接続端子を有する第二の回路部材とを、第一の接続端子と第二の接続端子を対向して配置し、前記対向配置した第一の接続端子と第二の接続端子の間にラジカル重合による硬化性を有する回路接続材料を介在させ、加熱加圧して前記対向配置した第一の接続端子と第二の接続端子を電気的に接続させる回路端子の接続方法であって、前記接続端子の少なくとも一方の表面が金、銀、錫及び白金族から選ばれる金属であり、ラジカル重合による硬化性を有する回路接続材料を表面が金、銀、錫及び白金族から選ばれる金属である一方の接続端子に形成した後、もう一方の回路電極を位置合わせし加熱、加圧して接続し、
ラジカル重合による硬化性を有する回路接続材料が請求項1〜6のいずれに記載の回路接続材料である回路端子の接続方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005116151A JP5020476B6 (ja) | 1997-03-31 | 2005-04-13 | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 |
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7942497 | 1997-03-31 | ||
JP1997079422 | 1997-03-31 | ||
JP1997079424 | 1997-03-31 | ||
JP7942297 | 1997-03-31 | ||
JP25293397 | 1997-09-18 | ||
JP1997252933 | 1997-09-18 | ||
JP2005116151A JP5020476B6 (ja) | 1997-03-31 | 2005-04-13 | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003186397A Division JP4717334B2 (ja) | 1997-03-31 | 2003-06-30 | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 |
Related Child Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010044251A Division JP4858623B2 (ja) | 1997-03-31 | 2010-03-01 | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 |
JP2012078290A Division JP5120515B2 (ja) | 1997-03-31 | 2012-03-29 | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 |
JP2012078289A Division JP5120514B2 (ja) | 1997-03-31 | 2012-03-29 | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005307210A JP2005307210A (ja) | 2005-11-04 |
JP5020476B2 true JP5020476B2 (ja) | 2012-09-05 |
JP5020476B6 JP5020476B6 (ja) | 2012-12-12 |
Family
ID=
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005307210A (ja) | 2005-11-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5120515B2 (ja) | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 | |
US7879956B2 (en) | Circuit-connecting material and circuit terminal connected structure and connecting method | |
JP4289319B2 (ja) | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 | |
JP4916677B2 (ja) | 配線接続材料及びそれを用いた配線板製造方法 | |
JP4016995B2 (ja) | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 | |
JP4717334B2 (ja) | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 | |
JP4265565B2 (ja) | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 | |
JP2007291396A (ja) | 配線接続材料及びそれを用いた配線板製造方法 | |
JP5020476B2 (ja) | 圧電/電歪素子の製造方法 | |
JP5020476B6 (ja) | 回路接続材料並びに回路端子の接続構造及び接続方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090324 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090520 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091201 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100331 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110912 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120329 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120510 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120613 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622 Year of fee payment: 3 |
|
R154 | Certificate of patent or utility model (reissue) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R154 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |