JP5016651B2 - Error rate measurement system - Google Patents

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Description

本発明は、所望の試験条件に応じて被試験デバイスの誤り率を測定するため試験用コマンドを設定・送信する外部処理装置と、外部処理装置から送信された試験用コマンドに基づき被試験デバイスのビット誤り率を測定する誤り率測定装置とで構成される誤り率測定システムに係り、特に低エラーレート評価時における誤り率測定の時間短縮を図る誤り率測定システムに関するものである。   The present invention relates to an external processing apparatus that sets and transmits a test command for measuring an error rate of a device under test according to a desired test condition, and a device under test based on the test command transmitted from the external processing apparatus. The present invention relates to an error rate measurement system including an error rate measurement device that measures a bit error rate, and more particularly to an error rate measurement system that shortens the error rate measurement time when evaluating a low error rate.

近年、各種のディジタル無線通信装置が普及している。これらのディジタル無線通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標の一つとして、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率（Bit Error Rate）が周知である。   In recent years, various digital wireless communication apparatuses have become widespread. One of the indicators of digital signal quality evaluation in these digital wireless communication devices is the bit error rate defined as a comparison between the number of received code errors and the total number of received data. It is well known.

そして、試験対象となる光電変換部品などの被試験デバイス（Device Under Test ）の誤り率を測定するための装置として、被試験デバイスに対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を検出する誤り率測定装置が知られている。   Then, as a device for measuring the error rate of the device under test, such as the photoelectric conversion component to be tested, a test signal containing fixed data is sent to the device under test, and the device under test is 2. Description of the Related Art An error rate measuring apparatus is known that detects an error rate of a signal under measurement by comparing the signal under measurement input via a reference signal as a reference in bit units.

また、誤り率測定装置として、例えば下記特許文献１に開示されるように、ＰＣ（Personal Computer ）などの外部処理装置から送信される所望の試験条件に応じた試験用コマンド（設定コマンド、測定コマンド、測定結果取得コマンドなど）を入力することで、装置を駆動させる構成のものも知られている。このような構成では、外部処理装置から誤り率測定装置に対して試験用コマンドを送信し、誤り率測定装置は入力したコマンドを順次解析しながらコマンド設定を行って被試験デバイスの誤り率を測定している。   As an error rate measurement device, for example, as disclosed in Patent Document 1 below, a test command (setting command, measurement command) according to a desired test condition transmitted from an external processing device such as a PC (Personal Computer) Also, a configuration in which the apparatus is driven by inputting a measurement result acquisition command or the like is also known. In such a configuration, a test command is sent from the external processing device to the error rate measuring device, and the error rate measuring device performs command setting while sequentially analyzing the input commands to measure the error rate of the device under test. is doing.

特開平８−１４９５６号公報Japanese Patent Laid-Open No. 8-14956

ところで、上述したように外部処理装置から送信される試験用コマンドに基づき誤り率測定装置を駆動して被試験デバイスの誤り率を測定する場合、例えば下記処理１〜処理４に示すような測定シーケンスに従って誤り率の測定処理を行っている。   By the way, when measuring the error rate of the device under test by driving the error rate measuring device based on the test command transmitted from the external processing device as described above, for example, a measurement sequence as shown in the following processing 1 to processing 4 The error rate measurement process is performed according to the above.

ここで、図４を参照しながら、測定シーケンスに基づく処理例について説明する。
（処理１）
まず、設定コマンド（設定コマンドＡ〜Ｄ）を設定する順に外部処理装置１０１から一つずつ送信する。誤り率測定装置１０２は、１つの設定コマンドを受信すると、受信したコマンドを主制御部１０３（アプリケーションソフトウェア）で解析した後、副制御部１０４（ファームウェア）に出力する。そして、副制御部１０４がコマンド内容に基づき、設定対象となる誤り率測定部１０５（パルスパターン発生器１０５ａ（Pulse Pattern Generator ：ＰＰＧ）や誤り率検出器１０５ｂ（Error Detector：ＥＤ）など）に対してコマンド設定を行う。また、副制御部１０４は、誤り率測定部１０５に対するコマンド設定が完了する度に、処理終了を示す応答を主制御部１０３に出力する。
なお、処理１におけるシーケンスは、外部処理装置１０１から受信するコマンド毎に実行している。
（処理２）
次に、外部処理装置１０１から測定コマンドを送信する。誤り率測定装置１０２は、測定コマンドを受信すると、主制御部１０３にてコマンドを解析して副制御部１０４に出力し、副制御部１０４の制御に基づき、誤り率測定部１０５による被試験デバイス１０６の誤り率測定処理を開始する。また、副制御部１０４は、誤り率測定部１０５による誤り率測定処理が開始すると、処理開始を示す応答を主制御部１０３に出力する。
（処理３）
次に、外部処理装置１０１から測定結果取得コマンドを送信する。誤り率測定装置１０２は、測定結果取得コマンドを受信すると、主制御部１０３にてコマンドを解析して副制御部１０４に出力し、副制御部１０４の制御により誤り率測定部１０５からの測定結果を問い合せる。
（処理４）
誤り率測定装置１０２は、測定結果取得コマンドによって誤り率測定部１０５から問い合わせた測定結果を、外部処理装置１０１に送信する。
なお、目的の測定結果を全て取得するまで、処理１〜４は繰り返し行う。 Here, a processing example based on the measurement sequence will be described with reference to FIG.
(Process 1)
First, the setting commands (setting commands A to D) are transmitted one by one from the external processing apparatus 101 in the order of setting. When receiving one setting command, the error rate measuring apparatus 102 analyzes the received command by the main control unit 103 (application software) and then outputs it to the sub control unit 104 (firmware). Then, the sub-control unit 104 performs an error rate measurement unit 105 (such as a pulse pattern generator 105a (PPG) or an error rate detector 105b (Error Detector: ED)) to be set based on the command content. Command setting. Further, every time the command setting for the error rate measuring unit 105 is completed, the sub control unit 104 outputs a response indicating the end of processing to the main control unit 103.
The sequence in process 1 is executed for each command received from the external processing apparatus 101.
(Process 2)
Next, a measurement command is transmitted from the external processing apparatus 101. When the error rate measuring apparatus 102 receives the measurement command, the main control unit 103 analyzes the command and outputs the command to the sub control unit 104, and the device under test by the error rate measuring unit 105 based on the control of the sub control unit 104. The error rate measurement process 106 is started. In addition, when the error rate measurement process by the error rate measurement unit 105 is started, the sub control unit 104 outputs a response indicating the start of the process to the main control unit 103.
(Process 3)
Next, a measurement result acquisition command is transmitted from the external processing apparatus 101. When the error rate measuring apparatus 102 receives the measurement result acquisition command, the main control unit 103 analyzes the command and outputs the command to the sub control unit 104, and the measurement result from the error rate measuring unit 105 is controlled by the sub control unit 104. Inquire.
(Process 4)
The error rate measuring apparatus 102 transmits the measurement result inquired from the error rate measuring unit 105 by the measurement result acquisition command to the external processing apparatus 101.
The processes 1 to 4 are repeated until all the target measurement results are acquired.

このように、誤り率測定装置１０２の構成として、外部処理装置１０１から誤り率測定に関する試験用コマンドを送信して誤り率測定処理を行う場合、外部処理装置１０１から誤り率測定装置１０２に対して試験用コマンドを一つずつ送信し、コマンド毎の応答を確認している。従って、送信するコマンド数が多い場合に、各コマンドの送受信時間や設定時間などのオーバヘッドが多すぎてしまい、測定開始から測定結果を取得するまでに多大な時間が掛かってしまうという問題があった。   As described above, when error rate measurement processing is performed by transmitting a test command related to error rate measurement from the external processing device 101 as the configuration of the error rate measuring device 102, the external processing device 101 sends an error rate measurement device 102 to the error rate measuring device 102. Test commands are sent one by one and the response for each command is confirmed. Therefore, when there are a large number of commands to be transmitted, there is too much overhead such as transmission / reception time and setting time of each command, and it takes a long time to obtain measurement results from the start of measurement. .

特に、低エラーレート評価の試験（装置構成として、１秒間に１０Ｇｂｉｔのパターン出力が可能な装置において、１０5 〜１０6 個のｂｉｔを被試験デバイスに出力して誤り率を測定）を行う場合は、実際のデータ取り込み時間が数μｓ程度であるにも係わらず、外部処理装置１０１からのコマンド送受信やコマンド設定によるオーバヘッドや装置の測定仕様などの総合的な処理時間が数百ｍｓ程度を要し、試験効率が悪かった。 In particular, when performing a test for low error rate evaluation (as an apparatus configuration, an apparatus capable of outputting a pattern of 10 Gbit per second and outputting 10 5 to 10 6 bits to the device under test to measure the error rate) Although the actual data acquisition time is about several μs, the total processing time such as the overhead of the command transmission / reception and command setting from the external processing apparatus 101 and the measurement specification of the apparatus is about several hundred ms. The test efficiency was poor.

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、外部処理装置からのコマンド入力時におけるオーバヘッドを低減して測定開始から測定結果取得までの時間短縮を図ることのできる誤り率測定システムを提供することを目的とするものである。   Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems, and an error rate measurement system capable of reducing the overhead at the time of command input from an external processing device and shortening the time from measurement start to measurement result acquisition. Is intended to provide.

上記した目的を達成するために、請求項１記載の誤り率測定システムは、所望の試験条件で被試験デバイス３０の誤り率を測定するのに必要な試験用コマンドを送信する外部処理装置１０と、
該外部処理装置から送信された試験用コマンドのコマンド内容に基づき、前記被試験デバイスに対してテスト信号を送信し、当該被試験デバイスを介して入力される被測定信号にから前記被試験デバイスの誤り率を測定する誤り率測定装置２０と、
で構成される前記誤り率測定システム１において、
前記外部処理装置は、前記誤り率測定装置に対して送信する試験用のコマンドを一つにパッケージ化したパッケージコマンドを一電文で送信し、
前記誤り率測定装置は、
前記外部処理装置から送信されたパッケージコマンドを受信した状態のまま出力するとともに、前記被試験デバイスの測定結果データを前記外部処理装置に対して一電文で送信する主制御部２１と、
該主制御部からの前記パッケージコマンドを解析し、予め設定された設定手順に従って前記試験用コマンドのコマンド内容に基づくコマンド設定を行う副制御部２２と、
該副制御部によって設定されたコマンド内容に従って前記被試験デバイスの誤り率を測定する誤り率測定部２３と、
を備えたすることを特徴とする。 In order to achieve the above object, the error rate measurement system according to claim 1 includes an external processing apparatus 10 that transmits a test command necessary for measuring the error rate of the device under test 30 under a desired test condition. ,
Based on the command content of the test command transmitted from the external processing device, a test signal is transmitted to the device under test, and the signal under measurement input via the device under test is used to determine the device under test. An error rate measuring device 20 for measuring an error rate;
In the error rate measurement system 1 configured by:
The external processing device transmits a package command in which test commands to be transmitted to the error rate measuring device are packaged in one telegram,
The error rate measuring device includes:
A main control unit 21 that outputs the package command transmitted from the external processing device in a received state, and transmits the measurement result data of the device under test to the external processing device in a single message,
A sub-control unit 22 that analyzes the package command from the main control unit and performs command setting based on a command content of the test command according to a preset setting procedure;
An error rate measuring unit 23 for measuring the error rate of the device under test according to the command content set by the sub-control unit;
It is characterized by comprising.

本発明の誤り率測定システムによれば、外部処理装置と誤り率測定装置との間におけるコマンド送受信時間や誤り率測定装置におけるコマンド設定時のオーバーヘッドを最小限まで削減することができるため、測定開始から測定結果取得までに要する処理時間の大幅な短縮化を図ることができる。   According to the error rate measurement system of the present invention, the command transmission / reception time between the external processing device and the error rate measurement device and the overhead at the time of command setting in the error rate measurement device can be reduced to the minimum. Can significantly reduce the processing time required from measurement to acquisition of measurement results.

本発明に係る誤り率測定システムの構成を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the structure of the error rate measurement system which concerns on this invention. 同システムにおける制御シーケンス例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the example of a control sequence in the system. 同システムにおける他の制御シーケンス例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the other example of a control sequence in the system. 従来の誤り率測定システムの構成を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the structure of the conventional error rate measurement system.

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではなく、この形態に基づいて当業者等によりなされる実施可能な他の形態、実施例及び運用技術等は全て本発明の範疇に含まれる。   Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It should be noted that the present invention is not limited by this embodiment, and all other forms, examples, operation techniques, etc. that can be implemented by those skilled in the art based on this form are included in the scope of the present invention. .

［システム構成］
まず、本発明に係る誤り率測定システムの構成について、図１を参照しながら説明する。図示のように、本例の誤り率測定システム１は、外部処理装置１０、誤り率測定装置２０とで構成され、外部処理装置１０からのコマンド入力に基づき、試験対象となる例えば高速通信に利用する光電変換部品などの誤り率測定が必要な部品である被試験デバイス３０（Device Under Test ）の誤り率を測定している。 [System configuration]
First, the configuration of the error rate measurement system according to the present invention will be described with reference to FIG. As shown in the figure, the error rate measurement system 1 of this example is composed of an external processing device 10 and an error rate measurement device 20, and is used for, for example, high-speed communication to be tested based on a command input from the external processing device 10. The error rate of a device under test 30 that is a component that requires error rate measurement such as a photoelectric conversion component is measured.

外部処理装置１０は、例えば入力手段（キーボードやマウスなど）や表示手段（液晶ディスプレイなど）を備えたＰＣ（Personal Computer ）などのデータ通信可能な処理端末で構成され、誤り率測定装置２０と通信可能に接続されている。外部処理装置１０は、ユーザの所定操作に基づき、被試験デバイス３０の誤り率を測定する上で誤り率測定装置２０の駆動に必要な試験用コマンド（設定コマンド、測定コマンド、測定結果取得コマンドなど）を一つにパッケージ化したパッケージコマンドを作成し、これを一電文で誤り率測定装置２０に送信している。また、外部処理装置１０は、誤り率測定装置２０から送信された被試験デバイス３０の誤り率測定結果である測定結果データを受信している。   The external processing device 10 is composed of a processing terminal capable of data communication such as a PC (Personal Computer) equipped with input means (keyboard, mouse, etc.) and display means (liquid crystal display, etc.), and communicates with the error rate measuring device 20. Connected as possible. The external processing apparatus 10 uses test commands (setting command, measurement command, measurement result acquisition command, etc.) necessary for driving the error rate measuring apparatus 20 to measure the error rate of the device under test 30 based on a predetermined operation by the user. ) Are packaged into one, and this is transmitted to the error rate measuring apparatus 20 in one message. Further, the external processing apparatus 10 receives measurement result data that is an error rate measurement result of the device under test 30 transmitted from the error rate measurement apparatus 20.

ここで、本例の誤り率測定システム１で用いられるパッケージコマンドについて説明する。外部処理装置１０で作成されるパッケージコマンドは、誤り率測定装置２０に接続される後述する誤り率測定部２３（パルスパターン発生器２３ａ、誤り率検出器２３ｂ）に係る各種制御を行うためのコマンドや測定開始から測定結果取得に関するコマンドなどの試験用コマンドを一つにパッケージ化したものである。   Here, the package command used in the error rate measurement system 1 of this example will be described. The package command created by the external processing device 10 is a command for performing various controls related to an error rate measuring unit 23 (pulse pattern generator 23a, error rate detector 23b), which will be described later, connected to the error rate measuring device 20. And test commands such as commands related to measurement result acquisition from the start of measurement.

コマンドの一例としては、下記のようなものがある。
＜パルスパターン発生器２３ａに関するコマンド例＞
・ＢｉｔＲａｔｅ：パルスパターン発生器２３ａから被試験デバイス３０に送信する信号のｂｉｔ量
・ＢｉｔＲａｔｅＯｆｆｓｅｔ：上記ＢｉｔＲａｔｅのオフセット値
・Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ：パルスパターン発生器２３ａから被試験デバイス３０に送信する信号のレベル
・ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ：パルスパターン発生器２３ａから被試験デバイス３０に送信する信号の信号パターン
＜誤り率検出器２３ｂに関するコマンド例＞
・ＢｉｔＲａｔｅ：被試験デバイス３０から受信する信号のｂｉｔ量
・ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ：被試験デバイス３０から受信する信号の信号パターン
その他、誤り率測定を開始するための測定コマンド、誤り率測定部２３による測定結果を取得するための測定結果取得コマンドなどを有する。 An example of the command is as follows.
<Example of command related to pulse pattern generator 23a>
BitRate: the bit amount of the signal transmitted from the pulse pattern generator 23a to the device under test 30. BitRateOffset: the offset value of the above BitRate. Amplitude: the level of the signal transmitted from the pulse pattern generator 23a to the device under test 30. PatternDate: Signal pattern of signal transmitted from pulse pattern generator 23a to device under test 30 <command example relating to error rate detector 23b>
BitRate: bit amount of signal received from device under test 30 PatternDate: signal pattern of signal received from device under test 30 In addition, measurement command for starting error rate measurement, measurement result by error rate measurement unit 23 It has a measurement result acquisition command and the like for acquisition.

誤り率測定装置２０は、主制御部２１、副制御部２２、誤り率測定部２３とを備えて構成される。また、誤り率測定装置２０は、例えば装置の駆動や測定した誤り率の測定結果などの各種表示内容の表示設定を行うための操作部２４（テンキーや設定ボタンなどの操作機器で構成）、所望の表示内容を表示するための表示部２５（液晶ディスプレイなどの表示機器で構成）を備えている。   The error rate measuring apparatus 20 includes a main control unit 21, a sub control unit 22, and an error rate measurement unit 23. In addition, the error rate measuring device 20 includes, for example, an operation unit 24 (configured with operation devices such as a numeric keypad and setting buttons) for setting display of various display contents such as driving of the device and measurement results of the measured error rate. Is provided with a display unit 25 (configured by a display device such as a liquid crystal display).

主制御部２１は、例えば外部処理装置１０で作成されたパッケージコマンドを受信した際に、このコマンドを受信した状態のまま副制御部２２へ出力する処理、誤り率測定部２３で測定した被試験デバイス３０の測定結果データ（測定結果情報、測定エラー情報）を外部処理装置１０に出力する処理、操作部２４からの入力指示に基づく駆動制御処理、表示部２５に対する測定結果の表示制御処理など、誤り率測定装置２０を構成する各部の駆動制御を行うためのアプリケーションソフトウェアとして機能実現している。   For example, when the main control unit 21 receives a package command created by the external processing device 10, the main control unit 21 outputs the command to the sub-control unit 22 while receiving the command, and the DUT measured by the error rate measurement unit 23. The process of outputting the measurement result data (measurement result information, measurement error information) of the device 30 to the external processing device 10, the drive control process based on the input instruction from the operation unit 24, the display control process of the measurement result for the display unit 25, etc. The function is realized as application software for performing drive control of each unit constituting the error rate measuring apparatus 20.

副制御部２２は、コマンド解析手段２２ａ、コマンド設定手段２２ｂ、測定結果処理手段２２ｃとを備え、誤り率測定部２３を駆動制御するためのファームウェアとして機能実現している。副制御部２２は、主制御部２１を介して入力したパッケージコマンドの解析処理、解析した各コマンドを設定手順に従って誤り率測定部２３に設定する処理、誤り率測定部２３で測定した測定結果データの取得・出力処理をしている。   The sub-control unit 22 includes a command analysis unit 22a, a command setting unit 22b, and a measurement result processing unit 22c, and functions as firmware for driving and controlling the error rate measurement unit 23. The sub-control unit 22 analyzes the package command input via the main control unit 21, sets the analyzed commands in the error rate measurement unit 23 according to the setting procedure, and the measurement result data measured by the error rate measurement unit 23 The acquisition / output process is performed.

コマンド解析手段２２ａは、主制御部２１から出力されたパッケージコマンドを解析し、解析した各コマンドをパッケージ化されたときに予め設定された設定手順に従ってコマンド設定手段２２ｂに出力している。   The command analysis unit 22a analyzes the package command output from the main control unit 21, and outputs each analyzed command to the command setting unit 22b according to a preset setting procedure when the command is packaged.

コマンド設定手段２２ｂは、コマンド解析手段２２ａから出力されたコマンド内容に基づき、誤り率測定部２３を構成する各機器に対するコマンド設定を行っている。   The command setting unit 22b performs command setting for each device constituting the error rate measurement unit 23 based on the command content output from the command analysis unit 22a.

測定結果処理手段２２ｃは、コマンド設定手段２２ｂによって測定結果の取得を行うための測定結果取得コマンドが設定されると、このコマンド内容に基づき誤り率測定部２３で測定した被試験デバイス３０の誤り率に関する測定結果情報と測定エラー情報を取得（例えば所定周期でポーリングしながら取得）する。また、測定結果処理手段２２ｃは、誤り率測定部２３で測定した測定結果情報や測定時のエラー情報である測定エラー情報等の測定結果に関する全情報を取得すると、これらの情報を測定結果データとして主制御部２１に出力している。   When the measurement result acquisition command for acquiring the measurement result is set by the command setting unit 22b, the measurement result processing unit 22c sets the error rate of the device under test 30 measured by the error rate measuring unit 23 based on the command content. Measurement result information and measurement error information are acquired (for example, while polling at a predetermined period). Further, when the measurement result processing unit 22c acquires all information related to the measurement result such as the measurement result information measured by the error rate measurement unit 23 and the measurement error information that is error information at the time of measurement, the information is used as measurement result data. It is output to the main control unit 21.

誤り率測定部２３は、設定されたコマンド内容に基づくパルスパターンのテスト信号を被試験デバイス３０に対して送信するパルスパターン発生器２３ａ（Pulse Pattern Generator ：ＰＰＧ）や、パルスパターン発生器２３ａから送信したテスト信号を被試験デバイス３０を介して受信して誤り率を測定する誤り率検出器２３ｂ（Error Detector：ＥＤ）などで構成される。誤り率測定部２３は、副制御部２２によって設定されたコマンド内容に基づき、誤り率測定に関する処理（各機器の駆動処理、テスト信号の送信処理、測定条件に応じた測定処理、測定開始／終了の処理、測定結果の比較・演算処理や測定結果出力処理など）を行っている。   The error rate measuring unit 23 transmits a pulse pattern test signal based on the set command content to the device under test 30 (Pulse Pattern Generator: PPG) or the pulse pattern generator 23a. An error rate detector 23b (Error Detector: ED) that measures the error rate by receiving the received test signal via the device under test 30 is configured. Based on the command content set by the sub-control unit 22, the error rate measurement unit 23 performs processing related to error rate measurement (device drive processing, test signal transmission processing, measurement processing according to measurement conditions, measurement start / end) , Measurement result comparison / calculation processing, measurement result output processing, etc.).

［システムの処理動作］
次に、上述した誤り率測定システム１における一連の処理シーケンスについて、図２を参照しながら説明する。
なお、以下の説明では、外部処理装置１０から送信されるパッケージコマンドとして、パルスパターン発生器２３ａの設定コマンド（ＢｉｔＲａｔｅ、ＢｉｔＲａｔｅＯｆｆｓｅｔ、Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ、ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ）、誤り率検出器２３ｂの設定コマンド（ＢｉｔＲａｔｅ、ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ）、測定コマンド、測定結果取得コマンドを用いて誤り率測定部２３のコマンド設定を行う場合の処理動作例とする。 [System operation]
Next, a series of processing sequences in the error rate measurement system 1 described above will be described with reference to FIG.
In the following description, as a package command transmitted from the external processing device 10, a setting command (BitRate, BitRateOffset, Amplitude, PatternDate) of the pulse pattern generator 23a, and a setting command (BitRate, PatternDate) of the error rate detector 23b are used. A processing operation example in the case where command setting of the error rate measurement unit 23 is performed using a measurement command and a measurement result acquisition command.

ユーザは、まず外部処理装置１０を所定操作し、上述した誤り率測定部２３を構成する各機器に対する試験用コマンドを所望の試験条件に基づき作成し、各コマンドを一つにパッケージ化したパッケージコマンドを誤り率測定装置２０に一電文で送信する。   A user first operates the external processing apparatus 10 in a predetermined manner, creates a test command for each device constituting the error rate measuring unit 23 based on a desired test condition, and packages each command into one package command. Is transmitted to the error rate measuring apparatus 20 by one message.

誤り率測定装置２０は、送信されたパッケージコマンドを受信すると、受信した状態で主制御部２１を介して副制御部２２に出力する。副制御部２２は、パッケージコマンドを解析し、設定手順に従って解析した各コマンドを誤り率測定部２３を構成する各機器（パルスパターン発生器２３ａ及び誤り率検出器２３ｂ）に対してコマンド設定を行う。   When receiving the transmitted package command, the error rate measuring apparatus 20 outputs the received package command to the sub-control unit 22 via the main control unit 21 in the received state. The sub-control unit 22 analyzes the package command, and sets the commands analyzed according to the setting procedure for each device (pulse pattern generator 23a and error rate detector 23b) constituting the error rate measurement unit 23. .

誤り率測定部２３の各機器に対するコマンド設定が終了すると、次に測定コマンドと測定結果取得コマンドを設定する。パルスパターン発生器２３ａは、設定されたコマンドに従って、被試験デバイス３０に対してテスト信号を出力する。そして、誤り率検出器２３ｂは、パルスパターン発生器２３ａから出力されたテスト信号を、被試験デバイス３０を介して被測定信号として入力し、基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を測定結果情報として取得するとともに、測定エラー情報を取得する。   When command setting for each device of the error rate measurement unit 23 is completed, next, a measurement command and a measurement result acquisition command are set. The pulse pattern generator 23a outputs a test signal to the device under test 30 in accordance with the set command. Then, the error rate detector 23b inputs the test signal output from the pulse pattern generator 23a as a signal under measurement via the device under test 30 and compares it with a reference signal serving as a reference in bit units. The error rate of the signal under measurement is acquired as measurement result information, and measurement error information is acquired.

なお、誤り率検出器２３ｂで測定された誤り率の測定結果情報として、ＥｒｒｏｒＣｏｕｎｔ（ＥＣ：エラー発生回数）、ＣｌｏｃｋＣｏｕｎｔ（ＣＣ：受信したクロック数）、ＥｒｒｏｒＲａｔｅ（ＥＲ：エラー発生率→ＥＣ／ＣＣ×１００）を取得し、測定エラー情報として、ＣＲＵｎｌｏｃｋ（クロックエラー：クロックエラーが発生して、測定できない状態を示すエラー）、Ｓｙｎｃｌｏｓｓ（同期エラー：クロックは正常だが、Ｐａｔｔｅｒｎ同期ができていない状態を示すエラー）を取得する。   As error rate measurement result information measured by the error rate detector 23b, ErrorCount (EC: error occurrence count), ClockCount (CC: received clock count), ErrorRate (ER: error occurrence rate → EC / CC × 100), and as measurement error information, CRUnlock (clock error: an error indicating that a clock error has occurred and an error indicating that measurement cannot be performed), Syncloss (synchronization error: the clock is normal but Pattern synchronization is not possible) Error).

そして、誤り率検出器２３ｂによる誤り率の測定が完了すると、測定結果処理手段２２ｃによって測定結果情報と測定エラー情報を誤り率測定部２３から取得し、これらの情報を測定結果データとして主制御部２１を介して一電文で外部処理装置１０に送信する。   When the measurement of the error rate by the error rate detector 23b is completed, the measurement result processing means 22c acquires the measurement result information and the measurement error information from the error rate measurement unit 23, and these information is used as measurement result data as the main control unit. The message is transmitted to the external processing apparatus 10 in one message via 21.

以上説明したように、上述した誤り率測定システム１は、外部処理装置１０にて誤り率測定装置２０の駆動するのに必要な試験用コマンドをパッケージ化したパッケージコマンドを作成し、誤り率測定装置２０に一電文で送信する。誤り率測定装置２０は、外部処理装置１０からのパッケージコマンドを主制御部２１を介してファームウェアとして機能実現する副制御部２２に出力し、副制御部２２にてパッケージコマンドの解析や誤り率測定部２３を構成する各機器に対するコマンド設定を行う。そして、誤り率測定部２３で測定した被試験デバイス３０の測定結果情報と測定エラー情報を測定結果データとして取得すると、この測定結果データを外部処理装置１０に一電文で送信する。   As described above, the error rate measurement system 1 described above creates a package command in which a test command necessary for driving the error rate measurement device 20 is packaged by the external processing device 10, and the error rate measurement device 20 is transmitted in one message. The error rate measuring device 20 outputs the package command from the external processing device 10 to the sub-control unit 22 that realizes the function as firmware via the main control unit 21, and the sub-control unit 22 analyzes the package command and measures the error rate. Command setting is performed for each device constituting the unit 23. Then, when the measurement result information and measurement error information of the device under test 30 measured by the error rate measurement unit 23 are acquired as measurement result data, the measurement result data is transmitted to the external processing apparatus 10 by one message.

これにより、従来のように外部処理装置１０から入力したコマンドをコマンド毎に一つ一つ主制御部２１で解析した後、副制御部２２から誤り測定部に対してコマンド設定を行うという、コマンド毎の応答に係る時間や主制御部２１と副制御部２２との間のオーバヘッド（通信時間や処理時間）を最小限まで削減することができるため、測定開始から測定結果取得までに要する処理時間の大幅な短縮化を図ることができる。そのため、この時間短縮の効果は、特に低エラーレートにおける被試験デバイス３０の誤り率評価試験を行う際の処理時間に顕著に現れる。   As a result, the command that the command input from the external processing apparatus 10 is analyzed for each command by the main control unit 21 for each command as in the prior art, and then the command setting is performed from the sub control unit 22 to the error measurement unit. The time required for each response and the overhead (communication time and processing time) between the main control unit 21 and the sub-control unit 22 can be reduced to the minimum. Can be greatly shortened. For this reason, the effect of shortening the time appears remarkably in the processing time when performing the error rate evaluation test of the device under test 30 at a low error rate.

ところで、上述した処理シーケンスでは、試験用コマンドである設定コマンド、測定コマンド、測定結果取得コマンドを一つにパッケージ化したパッケージコマンドを作成し、これを一電文で誤り率測定装置２０に送信した処理で説明したが、処理シーケンスの他の例として、例えば図３に示すように、被試験デバイス３０の応答時間を考慮し、誤り率測定部２３に係る各設定コマンドと、測定開始／測定結果取得処理に係る設定コマンドとをそれぞれ別のパッケージコマンドとして送信することもできる。   By the way, in the processing sequence described above, a package command in which a setting command, a measurement command, and a measurement result acquisition command, which are test commands, are packaged together is created, and this is transmitted to the error rate measuring apparatus 20 in one message. However, as another example of the processing sequence, for example, as shown in FIG. 3, taking into account the response time of the device under test 30, each setting command related to the error rate measurement unit 23 and measurement start / measurement result acquisition It is also possible to transmit the setting commands related to the processing as separate package commands.

図示のように、外部処理装置１０でパルスパターン発生器２３ａの設定コマンド（ＢｉｔＲａｔｅ、ＢｉｔＲａｔｅＯｆｆｓｅｔ、Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ、ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ）、誤り率検出器２３ｂの設定コマンド（ＢｉｔＲａｔｅ、ＰａｔｔｅｒｎＤａｔｅ）を一つにパッケージ化した誤り率測定部用パッケージコマンドと、測定コマンド、測定結果取得コマンドを一つにパッケージ化した測定開始／結果取得パッケージコマンドを別に作成し、誤り率測定部用パッケージコマンドを誤り率測定装置２０に一電文で送信し、誤り率測定部２３のコマンド設定が終了して測定開始状態になった後に、測定開始／結果取得パッケージコマンドを誤り率測定装置２０に一電文で送信する処理シーケンスとすることで、被試験デバイス３０の応答時間を考慮した誤り率測定を行うことができる。   As shown in the figure, the error rate in which the setting command (BitRate, BitRateOffset, Amplitude, PatternDate) of the pulse pattern generator 23a and the setting command (BitRate, PatternDate) of the error rate detector 23b are packaged into one in the external processing device 10. The measurement unit package command, the measurement command, and the measurement result acquisition command are packaged into one measurement start / result acquisition package command, and the error rate measurement unit package command is sent to the error rate measurement device 20 in one message. After the command setting of the error rate measurement unit 23 is completed and the measurement start state is entered, the measurement start / result acquisition package command is set as a processing sequence that is transmitted to the error rate measurement device 20 in one message. Response of test device 30 It is possible to perform an error rate measurement in consideration of the time.

１…誤り率測定システム
１０…外部処理装置
２０…誤り率測定装置
２１…主制御部
２２…副制御部（２２ａ…コマンド解析手段、２２ｂ…コマンド設定手段、２２ｃ…測定結果処理手段）
２３…誤り率測定部（２３ａ…パルスパターン発生器、２３ｂ…誤り率検出器）
２４…操作部
２５…表示部
３０…被試験デバイス DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Error rate measuring system 10 ... External processing apparatus 20 ... Error rate measuring apparatus 21 ... Main control part 22 ... Sub control part (22a ... Command analysis means, 22b ... Command setting means, 22c ... Measurement result processing means)
23: Error rate measuring unit (23a: pulse pattern generator, 23b: error rate detector)
24 ... Operation unit 25 ... Display unit 30 ... Device under test

Claims (1)

所望の試験条件で被試験デバイス（３０）の誤り率を測定するのに必要な試験用コマンドを送信する外部処理装置（１０）と、
該外部処理装置から送信された試験用コマンドのコマンド内容に基づき、前記被試験デバイスに対してテスト信号を送信し、当該被試験デバイスを介して入力される被測定信号から前記被試験デバイスの誤り率を測定する誤り率測定装置（２０）と、
で構成される前記誤り率測定システム（１）において、
前記外部処理装置は、前記誤り率測定装置に対して送信する試験用のコマンドを一つにパッケージ化したパッケージコマンドを一電文で送信し、
前記誤り率測定装置は、
前記外部処理装置から送信されたパッケージコマンドを受信した状態のまま出力するとともに、前記被試験デバイスの測定結果データを前記外部処理装置に対して一電文で送信する主制御部（２１）と、
該主制御部からの前記パッケージコマンドを解析し、予め設定された設定手順に従って前記試験用コマンドのコマンド内容に基づくコマンド設定を行う副制御部（２２）と、
該副制御部によって設定されたコマンド内容に従って前記被試験デバイスの誤り率を測定する誤り率測定部（２３）と、
を備えたすることを特徴とする誤り率測定システム。 An external processing device (10) for transmitting a test command necessary for measuring an error rate of the device under test (30) under a desired test condition;
Based on the command content of the test command transmitted from the external processing apparatus, a test signal is transmitted to the device under test, and an error of the device under test is detected from the signal under measurement input via the device under test. An error rate measuring device (20) for measuring a rate;
In the error rate measurement system (1) configured by:
The external processing device transmits a package command in which test commands to be transmitted to the error rate measuring device are packaged in one telegram,
The error rate measuring device includes:
A main control unit (21) that outputs the package command transmitted from the external processing device in a received state, and transmits the measurement result data of the device under test to the external processing device in a single message,
A sub-control unit (22) that analyzes the package command from the main control unit and performs command setting based on the command content of the test command according to a preset setting procedure;
An error rate measuring unit (23) for measuring the error rate of the device under test according to the command content set by the sub-control unit;
An error rate measurement system comprising:
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