KR101544967B1 - Method for testing device under test - Google Patents
Method for testing device under test Download PDFInfo
- Publication number
- KR101544967B1 KR101544967B1 KR1020140037638A KR20140037638A KR101544967B1 KR 101544967 B1 KR101544967 B1 KR 101544967B1 KR 1020140037638 A KR1020140037638 A KR 1020140037638A KR 20140037638 A KR20140037638 A KR 20140037638A KR 101544967 B1 KR101544967 B1 KR 101544967B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- test
- signal
- dut
- cable
- data
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/3025—Wireless interface with the DUT
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 DUT(device under test)를 테스트하는 방법에 관한 것으로, 특히 테스트 장치와 DUT에 유선으로 접속된 PC(personal computer)를 이용하여 자동으로 상기 DUT를 테스트할 수 있는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of testing a device under test (DUT), and more particularly, to a method of automatically testing the DUT using a test apparatus and a PC (personal computer) wiredly connected to the DUT.
공장에서 제조되는 제품들은 제조가 완료된 후에 품질을 테스트하는 절차를 거치게 된다. 특히, 대량 생산되는 제품들의 경우, 상기 제품들 간의 품질이 동일하지 않고, 제조 과정에서 발생하는 각종 문제에 따라 상기 제품들 중에서 불량품이 발생할 수 있다.Products manufactured at factories are subjected to quality testing procedures after they are completed. Particularly, in the case of mass-produced products, the quality of the products is not the same, and defective products may occur among the products depending on various problems occurring in the manufacturing process.
이러한 과정과 현상은 단말기를 제조함에 있어서도 마찬가지이다. 특히, 무선 통신가능한 통신 단말기의 경우, 상기 통신 단말기의 통신 기능을 전문적인 장비들을 이용하여 테스트해야 한다. 제품 외부에 특징이 있어 육안 또는 간단한 장비로 테스트할 수 있는 일부 제품들과 달리, 통신 단말기는 내부에서 작동하는 통신 기능이 정상 작동하는지가 중요하기 때문이다.This process and phenomenon are the same in manufacturing a terminal. In particular, in the case of a communication terminal capable of wireless communication, the communication function of the communication terminal must be tested using specialized equipment. Unlike some products that are external to the product and can be tested with the naked eye or simple equipment, it is important that the communication terminal is functioning normally within the communication function that operates internally.
이러한 통신 단말기를 테스트함에 있어서 테스트 항목들은 매우 다양하고, 이에 따라 테스트에 사용되는 장비 또한 다양하다. 그러므로 통신 단말기, 즉 DUT (device under test)를 테스트함에 있어서 해당 장비들을 제어하는데 능숙한 기술자가 필요하고, 상기 기술자는 각 항목에 대한 테스트 규격들에 대한 정확한 숙지가 필요하다.In testing these communication terminals, the test items are very diverse, and accordingly, the equipment used for testing is also various. Therefore, in testing a communication terminal, i.e., a device under test (DUT), a technician skilled in controlling the devices is required, and the technician needs to know the test standards for each item accurately.
현재, 통신 단말기에 대한 테스트는 숙련된 기술자에 의해 수동으로 수행되고, 테스트 결과는 상기 기술자에 의해 수기로 작성되므로, 상기 통신 단말기에 대한 테스트에 많은 시간이 소요되고, 상기 테스트 결과를 관리하는 데에도 불편함이 따르게 된다.At present, the test for the communication terminal is performed manually by a skilled engineer, and the test result is handwritten by the engineer, so that it takes a lot of time to test the communication terminal, But also the inconvenience.
이러한 문제를 해결하기 의한 여러 방안들이 제시되고 있으나, 여전히 해당 테스트는 숙련된 기술자에 의해 수행되고 있고, 상기 숙련자가 해당 테스트 결과를 수기로 작성하고 있는 것이 현실이다.Although various methods for solving such problems have been proposed, the test is still being performed by a skilled engineer, and it is a reality that the expert is preparing the test result by hand.
본 발명이 이루고자 하는 기술적인 과제는 통신 단말기를 테스트함에 있어 테스트 장비와 테스트 규격에 능통한 숙련자가 아니더라도 PC를 이용하여 상기 통신 단말기를 자동으로 테스트를 수행할 수 있도록 하며, 테스트 시간 감축 및 테스트 결과 관리를 편리하게 할 수 있는 DUT 테스트 방법을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide a communication terminal capable of automatically testing a communication terminal using a PC, And to provide a DUT test method that can be conveniently managed.
본 발명의 일 실시 예에 따른, GPIB(general purpose interface bus) 케이블을 통해 PC에 접속된 테스트 장치와, UART 케이블 또는 USB 케이블을 통해 상기 PC에 접속되고 UTP 케이블을 통해 상기 테스트 장치에 접속된 지그를 이용하여 상기 지그에 마운트된 DUT(device under test)를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 테스트 장치의 테스트 모드를 송신 테스트 모드로 설정하기 위해 상기 테스트 장치의 스펙트럼 분석기와 신호 분배기를 접속시키는 단계와, 상기 PC가 송신 테스트 명령을 상기 DUT로 전송하는 단계와, 상기 DUT가 상기 송신 테스트 명령에 응답하여 송신 테스트 신호를 생성하고 생성된 송신 테스트 신호를 상기 테스트 장치로 전송하는 단계와, 상기 테스트 장치의 상기 스펙트럼 분석기가 상기 신호 분배기를 통해 수신된 상기 송신 테스트 신호를 분석하고 분석의 결과에 따라 송신 테스트 데이터를 생성하는 단계와, 상기 테스트 장치가 상기 송신 테스트 데이터를 상기 PC로 전송하는 단계를 포함한다.A test apparatus connected to a PC via a general purpose interface bus (GPIB) cable, a test apparatus connected to the PC through a UART cable or a USB cable, and connected to the test apparatus via a UTP cable, according to an embodiment of the present invention; A method of testing a device under test (DUT) mounted on the jig using a test instrument includes connecting the spectrum analyzer and the signal distributor of the test apparatus to set the test mode of the test apparatus to a transmit test mode , The PC sending a transmission test command to the DUT, the DUT generating a transmission test signal in response to the transmission test command and transmitting the generated transmission test signal to the test apparatus, Wherein the spectrum analyzer analyzes the transmission test signal received via the signal distributor and outputs Generating a transmit test data according to the result of, and a step in which the test device transmits the test data transmitted by the PC.
상기 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 송신 테스트 데이터를 기준 데이터를 이용하여 분석하고, 분석 결과에 따른 송신 테스트 결과 데이터를 출력하는 단계를 더 포함한다.The method of testing the DUT may further include analyzing the transmission test data using the reference data and outputting transmission test result data according to the analysis result.
상기 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 송신 테스트 결과 데이터를 네트워크를 통해 서버로 전송하는 단계를 더 포함한다.The method for testing the DUT further includes the step of the PC transmitting the transmission test result data to the server via the network.
상기 DUT를 테스트하는 방법은, 상기 PC가 기준 시간 이내에 상기 송신 테스트 데이터를 수신하지 못한 경우, 상기 DUT의 테스트 불합격에 상응하는 데이터를 출력하는 단계를 더 포함한다.The method of testing the DUT further includes outputting data corresponding to the test failure of the DUT if the PC fails to receive the transmission test data within the reference time.
상기 스펙트럼 분석기와 신호 분배기를 접속시키는 단계는 상기 PC가 상기 스펙트럼 분석기의 레지스터 정보를 읽어와서 상기 스펙트럼 분석기의 설정 완료 여부와, 상기 스펙트럼 분석기와 상기 신호 분배기와의 접속 여부를 확인하는 단계를 포함한다.The step of connecting the spectrum analyzer and the signal distributor includes reading the register information of the spectrum analyzer and confirming whether the spectrum analyzer is completely set up and whether the spectrum analyzer is connected to the signal distributor .
상기 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 테스트 장치의 테스트 모드를 수신 테스트 모드로 설정하기 위해 상기 테스트 장치의 신호 발생기와 상기 신호 분배기를 접속시키는 단계와, 상기 PC가 수신 테스트 명령을 상기 테스트 장치로 전송하는 단계와, 상기 신호 발생기가 상기 수신 테스트 명령에 응답하여 수신 테스트 신호를 생성하고 생성된 수신 테스트 신호를 상기 DUT로 전송하는 단계와, 상기 DUT가 상기 PC로부터 전송되는 수신 테스트 시작 신호에 응답하여 상기 수신 테스트 신호를 수신하고 상기 수신 테스트 신호에 상응하는 수신 테스트 데이터를 생성하는 단계와, 상기 DUT가 상기 수신 테스트 데이터를 상기 PC로 전송하는 단계를 더 포함한다.The method of testing the DUT includes connecting the signal generator and the signal distributor of the test apparatus to the test apparatus in order for the PC to set the test mode of the test apparatus to the receive test mode, Generating a reception test signal in response to the reception test command and transmitting the generated reception test signal to the DUT; and transmitting the reception test signal to the reception test start signal transmitted from the PC Receiving the test signal in response to the receive test signal and generating receive test data corresponding to the receive test signal; and transmitting the receive test data to the PC by the DUT.
본 발명의 다른 실시 예에 따른, GPIB 케이블을 통해 PC에 접속된 테스트 장치와, UART 케이블 또는 USB 케이블을 통해 상기 PC에 접속되고 UTP 케이블을 통해 상기 테스트 장치에 접속된 지그를 이용하여 상기 지그에 마운트된 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 테스트 장치의 테스트 모드를 수신 테스트 모드로 설정하기 위해 상기 테스트 장치의 신호 발생기와 신호 분배기를 접속시키는 단계와, 상기 PC가 수신 테스트 명령을 상기 테스트 장치로 전송하는 단계와, 상기 신호 발생기가 상기 수신 테스트 명령에 응답하여 수신 테스트 신호를 생성하고 생성된 수신 테스트 신호를 상기 DUT로 전송하는 단계와, 상기 DUT가 상기 PC로부터 전송되는 수신 테스트 시작 신호에 응답하여 상기 수신 테스트 신호를 수신하고, 수신된 수신 테스트 신호에 상응하는 수신 테스트 데이터를 생성하는 단계와, 상기 DUT가 상기 수신 테스트 데이터를 상기 PC로 전송하는 단계를 포함한다.A test apparatus connected to a PC via a GPIB cable and a test apparatus connected to the PC through a UART cable or a USB cable and connected to the test apparatus via a UTP cable according to another embodiment of the present invention, A method of testing a mounted DUT includes connecting the signal generator and a signal distributor of the test apparatus to the test apparatus in order to set the test mode of the test apparatus to a receive test mode, Generating a reception test signal in response to the reception test command and transmitting the generated reception test signal to the DUT; and transmitting the reception test signal to the reception test start signal transmitted from the PC Receives the reception test signal in response to the reception test signal, A method for generating test data, and a step in which the DUT transmits the received test data to the PC.
상기 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 DUT로부터 전송된 상기 수신 테스트 데이터를 기준 데이터를 이용하여 분석하고, 분석의 결과에 따른 수신 테스트 결과 데이터를 출력하는 단계를 더 포함한다.The method of testing the DUT further includes analyzing the received test data transmitted from the DUT using the reference data, and outputting reception test result data according to a result of the analysis.
상기 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 수신 테스트 결과 데이터를 서버로 전송하는 단계를 더 포함한다.The method for testing the DUT further includes the step of the PC transmitting the reception test result data to the server.
상기 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 기준 시간 이내에 상기 DUT로부터 상기 수신 테스트 데이터를 수신하지 못한 경우, 상기 DUT의 테스트 불합격에 상응하는 데이터를 출력하는 단계를 더 포함한다.The method of testing the DUT further includes outputting data corresponding to the test failure of the DUT if the PC fails to receive the received test data from the DUT within a reference time.
상기 신호 발생기와 신호 분배기를 접속시키는 단계는 상기 PC가 상기 신호 발생기의 레지스터 정보를 읽어와서 상기 신호 발생기와 상기 신호 분배기와의 접속 여부를 확인하는 단계를 포함한다.The step of connecting the signal generator and the signal distributor includes the step of the PC reading the register information of the signal generator to confirm whether or not the signal generator and the signal distributor are connected.
상기 DUT를 테스트하는 방법은 무선 보안 단말기를 테스트하는 방법이다.The method of testing the DUT is a method of testing a wireless security terminal.
본 발명의 실시 예에 따른 DUT를 테스트하는 방법은 PC가 테스트를 자동으로 제어함으로써 테스트 장비를 능숙하게 다루거나 테스트 규격에 정통한 숙련자가 아닌 비숙련자도 테스트 진행이 가능하고, 테스트 시간 또한 단축할 수 있다.The method of testing DUT according to the embodiment of the present invention allows the PC to automatically control the test so that it is possible to test the test equipment well or to perform the test even for a novice who is not familiar with the test specification, have.
또한, 본 발명의 실시 예에 따른 DUT를 테스트하는 방법은 테스트 결과를 PC가 저장매체나 서버에 접속가능한 데이터베이스에 저장할 수 있으므로, 기존에 수기로 테스트 결과를 작성함에 따른 불편함을 해결할 수 있다.In addition, the method of testing a DUT according to an embodiment of the present invention can solve the inconvenience of preparing a test result by hand because the test result can be stored in a database that the PC can connect to a storage medium or a server.
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 상세한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 DUT(device under test)를 테스트하는 방법을 수행하는 시스템의 개략적인 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 테스트 장치의 개략적인 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 DUT를 테스트하는 방법의 개략적인 단계를 순서도로 표현한 것이다.
도 4는 DUT의 송신 테스트에 대한 데이터 흐름도(data flow)이다.
도 5는 DUT의 수신 테스트에 대한 데이터 흐름도이다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In order to more fully understand the drawings recited in the detailed description of the present invention, a detailed description of each drawing is provided.
1 is a schematic block diagram of a system for performing a method of testing a device under test (DUT) in accordance with an embodiment of the present invention.
2 is a schematic block diagram of the test apparatus shown in Fig.
FIG. 3 is a flowchart showing a schematic step of a method of testing a DUT according to an embodiment of the present invention.
4 is a data flow diagram for the transmission test of the DUT.
5 is a data flow chart for a DUT reception test.
본 명세서에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들에 대해서 특정한 구조적 또는 기능적 설명들은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로서, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태들로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시 예들에 한정되지 않는다.It is to be understood that the specific structural or functional descriptions of embodiments of the present invention disclosed herein are only for the purpose of illustrating embodiments of the inventive concept, But may be embodied in many different forms and is not limited to the embodiments set forth herein.
본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 변경들을 가할 수 있고 여러 가지 형태들을 가질 수 있으므로 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 특정한 개시 형태들에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함한다.Embodiments in accordance with the concepts of the present invention are capable of various modifications and may take various forms, so that the embodiments are illustrated in the drawings and described in detail herein. It should be understood, however, that it is not intended to limit the embodiments according to the concepts of the present invention to the particular forms disclosed, but includes all modifications, equivalents, or alternatives falling within the spirit and scope of the invention.
제1 또는 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만, 예컨대 본 발명의 개념에 따른 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채, 제1구성요소는 제2구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2구성요소는 제1구성요소로도 명명될 수 있다.The terms first, second, etc. may be used to describe various elements, but the elements should not be limited by the terms. The terms are intended to distinguish one element from another, for example, without departing from the scope of the invention in accordance with the concepts of the present invention, the first element may be termed the second element, The second component may also be referred to as a first component.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.It is to be understood that when an element is referred to as being "connected" or "connected" to another element, it may be directly connected or connected to the other element, . On the other hand, when an element is referred to as being "directly connected" or "directly connected" to another element, it should be understood that there are no other elements in between. Other expressions that describe the relationship between components, such as "between" and "between" or "neighboring to" and "directly adjacent to" should be interpreted as well.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 작동, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 작동, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this specification, the terms "comprises ", or" having ", and the like, specify that the presence of stated features, integers, , Steps, operations, components, parts, or combinations thereof, as a matter of principle.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 나타낸다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the meaning of the context in the relevant art and, unless explicitly defined herein, are to be interpreted as ideal or overly formal Do not.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다.BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the preferred embodiments of the present invention with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 DUT(device under test)를 테스트하는 방법을 수행하는 시스템의 개략적인 블록도이다.1 is a schematic block diagram of a system for performing a method of testing a device under test (DUT) in accordance with an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, DUT를 테스트하는 방법을 수행할 수 있는 시스템(10)은 PC(personal computer; 20), 지그(jig; 30), DUT(40), 및 테스트 장치(100)를 포함한다.Referring to Figure 1, a
PC(20)는 DUT(40)와 테스트 장치(100)의 작동을 제어하여 전체적인 테스트 절차를 수행할 수 있다. 도 1에서는 설명의 편의를 위해, PC(20)가 도시되어 있으나, PC(20) 대신에 스마트폰, 태블릿(tablet) PC, 랩탑 컴퓨터, 또는 모바일 인터넷 장치(mobile internet device(MID))가 사용될 수도 있다.The PC 20 may control the operation of the
PC(20)는 DUT(40)에 대한 송수신 테스트 절차를 수행하기 위해 필요한 프로그램(예컨대, 소프트웨어)을 메모리에 저장하고, 상기 메모리에 저장된 프로그램을 실행하여 상기 송수신 테스트 절차를 수행할 수 있다.The PC 20 may store a program (e.g., software) necessary for performing a transmission / reception test procedure for the
상기 메모리는 PC(20)의 내장 메모리 또는 PC(20)에 접속될 수 있는 외장 메모리를 의미할 수 있다. 상기 외장 메모리는 USB 플래시 드라이브 또는 SSD(solid state drive)를 의미할 수 있다.The memory may be an internal memory of the
실시 예에 따라, PC(20)는 테스트 결과 데이터를 메모리에 저장할 수 있다. 상기 메모리는 HDD(hard disk drive), SSD(solid state drive), 외장 HDD, 외장 SSD, UFS(universal flash storage), 또는 USB 플래시 드라이브를 의미할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.According to an embodiment, the PC 20 may store test result data in a memory. The memory may be a hard disk drive (HDD), a solid state drive (SSD), an external HDD, an external SSD, a universal flash storage (UFS), or a USB flash drive, but is not limited thereto.
지그(30)는 제2케이블(60)을 통해 PC(20)와 접속될 수 있다. 예컨대, 제2케이블(60)은 UART(universal asynchronous receiver transmitter) 케이블 또는 USB (universal serial bus) 케이블(60)로 구현될 수 있으나, 지그(30)와 PC(20)를 접속하는 제2케이블(60)이 UART 케이블 또는 USB 케이블에 한정되는 것은 아니고 다른 종류의 유선 케이블일 수 있다.The
지그(30)와 DUT(40)는 전기적으로 서로 접속되고, 송수신 테스트 시에는 DUT (40)의 안테나를 통한 무선 송수신 기능이 차단되므로, PC(20) 및/또는 테스트 장치(100)로부터 출력된 테스트 신호는 대응되는 케이블(60 및/또는 70)을 통해 송신되거나 수신될 수 있다.Since the
DUT(40)는 시스템(10)에 의해 테스트되는 단말기(또는 무선 통신 장치)로서, 실시 예에 따라 DUT(40)는 양방향 통신 기능을 갖는 무선 보안 단말기일 수 있다. DUT(40)는 지그(30)를 이용하여 PC(20) 및/또는 테스트 장치(100)와 통신할 수 있다. 예컨대, 상기 무선 보안 단말기는 무인 경비 시스템에서 사용될 수 있는 무선 통신 단말기를 의미할 수 있다.The
테스트 장치(100)는 제1케이블(50)을 통해 PC(20)와 접속될 수 있다. 예컨대, 제1케이블(50)은 GPIB(general purpose interface bus) 케이블(50)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The
테스트 장치(100)는 제3케이블(70)을 통해 지그(30)와 접속될 수 있다. 예컨대, 제3케이블(70)은 UTP(unshielded twisted pair) 케이블(70)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 테스트 장치(100)의 작동은 PC(20)에 의해 제어될 수 있고, 테스트 장치(100)에 의해 측정된 테스트 데이터는 제1케이블(50)을 통해 PC(20)로 전송된 후 PC(20)에 의해 처리(예컨대, 분석)될 수 있다.The
실시 예에 따라, 시스템(10)은 서버(80)와 통신할 수 있다.In accordance with an embodiment, the
서버(80)는 PC(20)로부터 출력된 테스트 결과 데이터를 수신하고, 서버(80)에 의해 액세스될 수 있는 데이터베이스(90)에 상기 테스트 결과 데이터를 저장할 수 있다. 예컨대, 서버(80)와 PC(20)는 유선 네트워크 또는 무선 네트워크를 통해 데이터를 주고받을 수 있다.The
도 2는 도 1에 도시된 테스트 장치의 개략적인 블록도이다.2 is a schematic block diagram of the test apparatus shown in Fig.
도 1과 도 2를 참조하면, 테스트 장치(100)는 스펙트럼 분석기(110), 신호 발생기(120), 신호 분배기(130), 전류계(140), 전압계(150), 및 복수의 인터페이스들을 포함할 수 있다.1 and 2, a
스펙트럼 분석기(110)는, DUT(40)에 대한 테스트 모드가 송신 테스트 모드일 때, 사용(또는 작동)될 수 있다. 예컨대, 스펙트럼 분석기(110)는 DUT(40)로부터 전송된 송신 테스트 신호의 스펙트럼을 분석하고, 분석의 결과(예컨대, 테스트 데이터)를 신호 분배기(130), 제1인터페이스(예컨대, GPIB 인터페이스), 및 제1케이블(예컨대, GPIB 케이블)(50)을 통해 PC(20)로 전송할 수 있다.The
신호 발생기(120)는, DUT(40)에 대한 테스트 모드가 수신 테스트 모드일 때, 사용(또는 작동) 될 수 있다. 예컨대, 신호 발생기(120)는 PC(20)로부터 출력된 수신 테스트 명령에 응답하여 수신 테스트 신호를 생성하고, 생성된 수신 테스트 신호를 신호 분배기(130), 제2인터페이스(예컨대, UTP 인터페이스), 및 제2케이블(예컨대, UTP 케이블)(70)을 통해 지그(30)에 장착된 DUT(40)로 전송할 수 있다.The
실시 예에 따라, 신호 분배기(130)는 제2인터페이스(예컨대, UTP 인터페이스)와 제3케이블(예컨대, UTP 케이블)(70)을 통해 지그(30)에 장착된 DUT(40)와 접속될 수 있다. 다른 실시 예에 따라, 신호 분배기(130)는 UTP 케이블이 아닌 다른 케이블을 통해 지그(30)에 장착된 DUT(40)와 접속될 수 있다. 이때, UTP 인터페이스는 상기 다른 케이블에 상응하는 인터페이스로 대체될 수 있다.According to an embodiment, the
신호 분배기(130)는, DUT(40)에 대한 테스트 모드가 송신 테스트 모드일 때, PC(20)의 제어에 따라 스펙트럼 분석기(110)와 접속된다. 또한, 신호 분배기(130)는, DUT(40)에 대한 테스트 모드가 수신 테스트 모드일 때, PC(20)의 제어에 따라 신호 발생기(120)와 접속된다. 예컨대, 신호 분배기(130)는 릴레이(relay)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The
즉, 스펙트럼 분석기(110)와 신호 분배기(130)와의 접속과, 신호 발생기 (120)와 신호 분배기(130)와의 접속은 PC(20)에 의해 제어될 수 있다.That is, the connection between the
전류계(140)는 DUT(40)에 대한 테스트 작동 시 소모 전류를 측정하고, 측정의 결과를 신호 분배기(130) 및/또는 제1인터페이스를 통해 PC(20) 및/또는 DUT (40)로 전송할 수 있다.The
실시 예에 따라, 테스트 장치(100)는 전압계(150)를 더 포함할 수 있다. 전압계(150)는 DUT(40)로 작동 전압을 공급하기 위해 사용될 수 있다.According to an embodiment, the
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 DUT를 테스트하는 방법의 개략적인 단계를 순서도로 표현한 것이고, 도 4와 도 5는 송신 테스트 모드와 수신 테스트 모드 각각에 대해 상세히 나타낸 데이터 흐름도이다.FIG. 3 is a flow chart showing a schematic step of a method of testing a DUT according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 4 and 5 are data flow charts detailing a transmission test mode and a reception test mode, respectively.
도 1부터 도 3을 참조하면, PC(20)는 테스트 장치(100)의 테스트 모드를 송신 테스트 모드 또는 수신 테스트 모드로 설정할 수 있다(S110).Referring to FIGS. 1 to 3, the
예컨대, PC(20)는, 송신 테스트를 위해, 제1케이블(50)을 통해 스펙트럼 분석기(110)와 신호 분배기(130)를 접속시키기 위한 송신 테스트 모드 설정 신호를 테스트 장치(100)로 전송할 수 있다.For example, the
신호 분배기(130)는 제1인터페이스를 통해 입력된 송신 테스트 모드 설정 신호에 응답하여 스펙트럼 분석기(110)와 접속되고, 상기 송신 테스트 모드 설정 신호를 스펙트럼 분석기(110)로 전송한다.The
스펙트럼 분석기(110)는, 상기 송신 테스트 모드 설정 신호에 응답하여, 송신 테스트를 수행할 수 있도록 설정된다. 예컨대, 스펙트럼 분석기(110)는 신호 분배기(130)와의 접속 여부를 나타내는 정보와 상기 설정의 완료 여부를 나타내는 정보를 포함하는 정보를 내부 레지스터에 저장한다. 따라서, 테스트 장치(100)는 송신 테스트 모드로 설정된다.The
PC(20)는 송신 테스트 모드 설정 신호를 테스트 장치(100)로 전송한 후, 스펙트럼 분석기(110)의 내부 레지스터에 저장된 정보(이하, '내부 레지스터 정보'라 한다)를 읽어와서 읽어온 정보에 기초하여 스펙트럼 분석기(110)에 대한 설정의 완료 여부와, 스펙트럼 분석기(110)와 신호 분배기(130)의 접속 여부를 판단(또는 확인)할 수 있다.The
PC(20)는, 상기 레지스터 정보에 기초하여, 테스트 장치(100)의 테스트 모드가 송신 테스트 모드로 설정됨을 판단한 후, PC(20)는 송신 테스트를 위한 송신 테스트 명령을 제1케이블(60)을 통해 지그(30)에 장착된 DUT(40)로 전송한다(S120).The
DUT(40)는 송신 테스트 명령에 응답하여 송신 테스트 신호를 생성하고, 생성된 송신 테스트 신호를 제3케이블(70)을 통해 테스트 장치(100)로 전송한다.The
송신 테스트 모드로 설정된 테스트 장치(100)의 스펙트럼 분석기(110)는 제2인터페이스와 신호 분배기(130)를 통해 입력된 송신 테스트 신호를 분석(측정)하고, 분석(또는 측정)의 결과에 따라 테스트 데이터를 생성하고, 생성된 테스트 데이터를 제1케이블(50)을 통해 PC(20)로 전송한다(S130).The
예컨대, 스펙트럼 분석기(110)는 하나 또는 그 이상의 송신 테스트 항목들에 대한 테스트 데이터를 생성할 수 있다.For example, the
송신 테스트 항목들은 송신 테스트 신호의 주파수에 대한 분석(또는 측정), 송신 테스트 신호에 대한 송신 출력의 분석(또는 측정), 송신 테스트 신호에 대한 ACPR(Adjacent Channel Power Ratio)의 분석(또는 측정), 송신 테스트 신호에 대한 복사 전력의 분석(또는 측정), 송신 테스트 신호의 점유 주파수 대역폭의 분석(또는 측정), 및 송신 테스트 신호의 변조 지수(또는 변조도)의 분석(또는 측정)일 수 있다.The transmission test items include analysis (or measurement) of the frequency of the transmission test signal, analysis (or measurement) of the transmission power to the transmission test signal, analysis (or measurement) of the Adjacent Channel Power Ratio (ACPR) (Or measuring) the radiated power of the transmitted test signal, analysis (or measurement) of the occupied bandwidth of the transmitted test signal, and analysis (or measurement) of the modulation index (or modulation) of the transmitted test signal.
주파수에 대한 분석, 송신 출력의 분석, ACPR의 분석, 복사 전력의 분석, 점유 주파수 대역폭의 분석, 및 변조 지수(또는 변조도)의 분석을 위해 일정 전압이 스펙트럼 분석기(110)로 공급될 수 있다. 이 경우 전압계(150)에 의해 상기 일정 전압의 공급이 측정될 수 있다.A constant voltage may be supplied to the
예컨대, 송신 출력에 대한 테스트 데이터는 스펙트럼 분석기(110)에 의해 측정된 송신 출력과 전류계(140)에 의해 측정된 소모 전류를 포함할 수 있다.For example, the test data for the transmit power may include the transmit power measured by the
따라서, 테스트 장치(100)에 의해 생성된 테스트 데이터는 스펙트럼 분석기 (110)에 의해 측정된 테스트 데이터만을 포함하거나, 스펙트럼 분석기(110)에 의해 측정된 테스트 데이터와 다른 장치(예컨대, 전류계(140), 및/또는 전압계(150))에 의해 측정된 테스트 데이터를 포함할 수 있다.The test data generated by the
스펙트럼 분석기(110)에 의해 분석 또는 측정될 수 있는 테스트 항목들의 개수와 순서를 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다.The number and order of test items that can be analyzed or measured by the
PC(20)는 테스트 장치(100)로부터 전송된 테스트 데이터를 기준 데이터를 이용하여 분석하고(S140), 분석의 결과에 상응하는 테스트 결과 데이터를 생성하고, 생성된 테스트 결과 데이터를 출력할 수 있다(S150). 여기서, 기준 데이터는 테스트 항목들에 대한 기준 값 또는 표준으로 정의된 값을 의미할 수 있다.The
따라서, PC(20)는 테스트 데이터에 해당하는 테스트 항목들 각각에 대한 측정 값과 기준 데이터에 포함된 표준 값들 각각을 비교하고 비교의 결과에 따라 상기 테스트 항목들 각각에 대한 테스트 결과 데이터를 생성할 수 있다.Accordingly, the
그러나, PC(20)가 기준 시간 이내에 테스트 장치(100)로부터 테스트 데이터를 수신하지 못할 때, PC(20)는 DUT(40)에 대한 테스트 불합격에 상응하는 데이터를 출력할 수 있다.However, when the
PC(20)는 생성된 테스트 결과 데이터를 유선 네트워크 또는 무선 네트워크를 통해 서버(80)로 전송하고, 서버(80)는 수신된 테스트 결과 데이터를 데이터베이스(90)에 저장할 수 있다(S150).The
또한, PC(20)는, 수신 테스트를 위해, 제1케이블(50)을 통해 신호 발생기 (120)와 신호 분배기(130)를 접속시키기 위한 수신 테스트 모드 설정 신호를 테스트 장치(100)로 전송할 수 있다(S110).The
신호 분배기(130)는 제1인터페이스를 통해 입력된 수신 테스트 모드 설정 신호에 응답하여 신호 발생기(120)와 접속하고, 신호 발생기(120)는 상기 수신 테스트 모드 설정 신호에 응답하여 수신 테스트를 수행할 수 있도록 설정된다. 신호 발생기(120)는 상기 설정의 완료 여부와, 신호 분배기(130)와의 접속 여부를 나타내는 정보를 내부 레지스터에 저장한다. 따라서, 테스트 장치(100)는 수신 테스트 모드로 설정된다.The
PC(20)는 수신 테스트 모드 설정 신호를 테스트 장치(100)로 전송한 후, 신호 발생기(120)의 내부 레지스터에 저장된 레지스터 정보를 읽어와서 읽어온 정보에 기초하여 신호 발생기(120)에 대한 설정의 완료 여부와, 신호 발생기(120)와 신호 분배기(130)의 접속 여부를 판단(또는 확인)할 수 있다.The
PC(20)는, 상기 레지스터 정보에 기초하여, 테스트 장치(100)의 테스트 모드가 수신 테스트 모드로 설정됨을 판단한 후, PC(20)는 수신 테스트 명령을 제1케이블(50)을 통해 테스트 장치(100)로 전송한다(S120).The
신호 발생기(120)는 수신 테스트 명령에 응답하여 수신 테스트 신호를 생성하고, 생성된 수신 테스트 신호를 제2인터페이스, 제3케이블(70), 및 지그(30)를 통해 DUT(40)로 전송한다.The
그 후, DUT(40)는, PC(20)로부터 전송된 수신 테스트 시작 신호에 응답하여, 테스트 장치(100)로부터 전송된 수신 테스트 신호를 수신한다(S130).Thereafter, in response to the reception test start signal transmitted from the
DUT(40)는 수신 테스트 신호를 수신한 후, 수신 테스트 신호에 상응하는 수신 테스트 데이터를 지그(30)와 제2케이블(60)을 통해 PC(20)로 전송한다.After receiving the reception test signal, the
그러나, PC(20)가 수신 테스트 시작 신호를 DUT(40)로 전송한 후, PC(20)가 기준 시간 이내에 DUT(40)로부터 수신 테스트 데이터를 수신하지 못할 때, PC(20)는 DUT(40)에 대한 테스트 불합격에 상응하는 데이터를 출력할 수 있다. 상기 기준 시간(예컨대, 3초)은 PC(20)가 수신 테스트 시작 신호를 DUT(40)로 전송한 시점부터 계산될 수 있다.However, when the
PC(20)는 수신 테스트 데이터를 기준 데이터를 이용하여 분석하고(S140), 분석의 결과에 상응하는 테스트 결과 데이터를 생성하고 생성된 테스트 결과 데이터를 출력할 수 있다(S150).The
PC(20)는 생성된 테스트 결과 데이터를 유선 네트워크 또는 무선 네트워크를 통해 서버(80)로 전송하고, 서버(80)는 수신된 테스트 결과 데이터를 데이터베이스(90)에 저장할 수 있다(S150).The
도 3과 도 4를 참조하면, PC(20)는 테스트 모드에 따라 테스트 장치(100)를 송신 테스트 모드로 설정하기 위한 송신 테스트 모드 설정 신호(TTMSS)를 제1케이블(50)을 통해 테스트 장치(100)로 전송한다(S210).3 and 4, the
테스트 장치(100)는, 송신 테스트 모드 설정 신호(TTMSS)에 응답하여, 테스트 장치(100)의 테스트 모드를 송신 테스트 모드로 설정한다(S220). 이때, 스펙트럼 분석기(110)와 신호 분배기(130)가 접속된다.The
실시 예에 따라, PC(20)는 다음 단계의 수행을 위해 송신 테스트 모드 설정 신호(TTMSS)를 테스트 장치(100)로 전송한 후 일정 시간 동안 기다릴 수 있다 (S230의 CASE1).According to the embodiment, the
다른 실시 예에 따라, PC(20)는 스펙트럼 분석기(110)의 레지스터 정보 (R_READ)를 읽어들여 테스트 장치(100)가 송신 테스트 모드로 설정이 완료되었는지를 확인할 수 있다(S230의 CASE2).According to another embodiment, the
일정 시간이 지나거나 송신 테스트 모드로의 설정이 완료된 후, PC(20)는 제2케이블(60)을 통해 지그(30)에 마운트된 DUT(140)로 송신 테스트 명령(TCMD)을 전송한다(S240).After the predetermined time has elapsed or the setting to the transmission test mode is completed, the
DUT(40)는 송신 테스트 명령(TCMD)에 응답하여 송신 테스트 신호(TTS)를 생성하고, 생성된 송신 테스트 신호(TTS)를 테스트 장치(100)로 전송한다(S250).The
송신 테스트 명령(TCMD)은 상술한 송신 테스트 항목들의 개수와 순서를 포함할 수 있다.The transmission test command (TCMD) may include the number and order of the above-described transmission test items.
DUT(40)로부터 출력된 송신 테스트 신호(TTS)는 신호 분배기(130)를 통해 스펙트럼 분석기(110)로 전송되고, 스펙트럼 분석기(110)는 송신 테스트 신호(TTS)를 분석하거나 측정한다(S260). 송신 테스트 신호(TTS)는 송신 테스트 항목에 관련된 신호를 포함한다.The transmission test signal TTS output from the
그 후, 스펙트럼 분석기(110)는 분석된 또는 측정된 송신 테스트 데이터(TD)를 제1케이블(50)을 통해 PC로 전송한다(S270). 실시 예에 따라, 전류계(140)는 제2인터페이스, 제2케이블(70), 및 지그(30)를 통해 DUT(40)에서 소모되는 전류를 측정하고 측정된 전류를 제1인터페이스와 제1케이블(50)을 통해 PC(20)로 전송할 수 있다.Thereafter, the
PC(20)는 수신된 테스트 데이터(TD)를 기준 데이터를 이용하여 분석하고 (S280), 분석의 결과에 상응하는 테스트 결과 데이터를 출력한다(S290).The
실시 예에 따라, PC(20)는 테스트 결과 데이터를 메모리(내장 메모리 또는 외장 메모리)에 저장하거나 서버(80)로 전송할 수 있다(S290). 서버(80)는 수신된 테스트 결과 데이터를 데이터베이스에 저장할 수 있다(S290).According to the embodiment, the
도 3과 도 5를 참조하면, PC(20)는 테스트 장치(100)의 테스트 모드를 수신 테스트 모드로 설정하기 위해 설정 신호(RTMSS)를 전송한다(S310). Referring to FIGS. 3 and 5, the
테스트 장치(100)는 수신 테스트 모드 설정 신호(RTMSS)에 응답하여 테스트 장치(100)의 테스트 모드를 수신 테스트 모드로 설정한다(S320). 테스트 장치(100)는 수신 테스트 모드 설정 신호(RTMSS)에 응답하여 신호 발생기(120)와 신호 분배기(130)를 접속한다.The
실시 예에 따라 PC(20)는 다음 단계의 수행을 위해 수신 테스트 모드 설정 신호(RTMSS)를 테스트 장치(100)로 전송한 후 일정 시간 동안 기다릴 수 있다(S330의 CASE1).According to the embodiment, the
다른 실시 예에 따라, PC(20)는 신호 발생기(130)의 레지스터 정보(R_READ)를 읽어들여 테스트 장치(100)가 수신 테스트 모드로 설정이 완료되었는지를 확인할 수 있다(S330의 CASE2).According to another embodiment, the
일정 시간이 지나거나 송신 테스트 모드로의 설정이 완료된 후, PC(20)는 제1케이블(50)을 통해 신호 발생기(120)로 수신 테스트 명령(RCMD)을 전송한다 (S340).After the predetermined time has elapsed or the setting to the transmission test mode is completed, the
신호 발생기(120)는 수신 테스트 명령(RCMD)에 응답하여 수신 테스트 신호 (RTS)를 생성하고, 생성된 수신 테스트 신호(RTS)를 DUT(40)로 전송한다(S350).The
설정된 시간이 지난 후, PC(20)는 DUT(40)로 수신 테스트 시작 신호(RTSS)를 전송하고, DUT(40)는 수신 테스트 시작 신호(RTSS)에 응답하여 수신 테스트 신호 (RTSS)를 수신하고 수신 테스트를 시작한다(S360).The
신호 발생기(120)에 의해 생성된 수신 테스트 신호(RTS)는 신호 분배기 (130), 제2인터페이스, 제3케이블(70), 및 지그(30)를 통해 DUT(40)로 전송되고, DUT(40)는 수신 테스트 신호(RTS)에 상응하는 수신 테스트 데이터(RS)를 생성하고 생성된 수신 테스트 데이터(RS)를 제2케이블(60)을 통해 PC(20)로 전송한다(S370).The receive test signal RTS generated by the
신호 발생기(120)에 의해 생성된 수신 테스트 신호(RTS)는 전송로(예컨대, 제2인터페이스, 제3케이블(70), 및 지그(30)에 의해 형성된 전송로)의 물리적인 특성에 따라 DUT(40)에 의해 수신된 수신 테스트 신호(RTS)와 다를 수 있다.The receive test signal RTS generated by the
따라서, 수신 테스트 데이터(RS)는 신호 발생기(120)에 의해 생성된 수신 테스트 신호(RTS)를 의미하는 것이 아니고 DUT(40)에 의해 수신된 수신 테스트 신호를 의미한다. 따라서, DUT(40)의 관점에서 볼 때, 수신 테스트 신호(RTS)와 수신 테스트 데이터(RS)는 서로 동일할 수 있다. Therefore, the reception test data RS does not mean the reception test signal RTS generated by the
PC(20)는 DUT(40)로부터 전송된 수신 테스트 데이터(RS)를 기준 데이터를 이용하여 분석한다(S380). 실시 예에 따라, PC(20)는 신호 발생기(120)에 의해 생성된 수신 테스트 데이터(RS)의 BER(bit error rate)를 측정할 수 있다. The
다른 실시 예에 따라, PC(20)는 수신 테스트 데이터(RS)의 RSSI(received signal strength indication)을 측정할 수 있다.According to another embodiment, the
예컨대, PC(20)는 수신 테스트 데이터(RS)의 BER과 기준 BER을 비교하여 테스트 결과 데이터를 생성할 수 있다. 또한, PC(20)는 수신 테스트 데이터(RS)의 RSSI와 기준 RSSI를 비교하여 테스트 결과 데이터를 생성할 수 있다.For example, the
PC(20)는 테스트 결과 데이터를 출력한다(S390). 실시 예에 따라, PC(20)는 테스트 결과 데이터를 메모리(내장 메모리 또는 외장 메모리)에 저장하거나 서버(80)로 전송할 수 있다(S390). 서버(80)는 수신된 테스트 결과 데이터를 데이터베이스에 저장할 수 있다(S390).The
실시 예에 따라, 송신 테스트와 수신 테스트 중에서 어느 하나의 테스트가 먼저 수행된 후 PC(20)에 의해 자동으로 나머지 하나의 테스트가 수행될 수 있다.According to the embodiment, one of the transmission test and the reception test may be performed first, and then the remaining one test may be automatically performed by the
본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.
10: DUT 테스트 시스템 90: 데이터베이스
20: PC 100: 테스트 장치
30: 지그(jig) 110: 스펙트럼 분석기
40: DUT(device under test) 120: 신호 발생기
50: GPIB 케이블 130: 신호 분배기
60: UART 또는 USB 케이블 140: 전류계
70: UTP 케이블 150: 전압계
80: 서버10: DUT test system 90: database
20: PC 100: Test device
30: jig 110: spectrum analyzer
40: device under test (DUT) 120: signal generator
50: GPIB cable 130: signal distributor
60: UART or USB cable 140: Ammeter
70: UTP cable 150: voltmeter
80: Server
Claims (14)
상기 PC가 상기 테스트 장치의 테스트 모드를 수신 테스트 모드로 설정하기 위해 상기 테스트 장치의 신호 발생기와 신호 분배기를 접속시키는 단계;
상기 PC가 수신 테스트 명령을 상기 테스트 장치로 전송하는 단계;
상기 신호 발생기가 상기 수신 테스트 명령에 응답하여 수신 테스트 신호를 생성하고 생성된 수신 테스트 신호를 상기 DUT로 전송하는 단계;
상기 DUT가 상기 PC로부터 전송되는 수신 테스트 시작 신호에 응답하여 상기 수신 테스트 신호를 수신하고, 수신된 수신 테스트 신호에 상응하는 수신 테스트 데이터를 생성하는 단계; 및
상기 DUT가 상기 수신 테스트 데이터를 상기 PC로 전송하는 단계를 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.A test apparatus connected to a PC via a GPIB (general purpose interface bus) cable, a test apparatus connected to the PC through a UART cable or a USB cable, and connected to the jig using a jig connected to the test apparatus via a UTP cable A method of testing a mounted device under test (DUT)
Connecting the signal generator and the signal distributor of the test apparatus so that the PC sets the test mode of the test apparatus to the receive test mode;
The PC sending a receive test command to the test apparatus;
The signal generator generating a receive test signal in response to the receive test command and transmitting the generated receive test signal to the DUT;
The DUT receiving the receive test signal in response to a receive test start signal transmitted from the PC and generating receive test data corresponding to the receive test signal; And
And the DUT transmitting the received test data to the PC.
상기 PC가 상기 DUT로부터 전송된 상기 수신 테스트 데이터를 기준 데이터를 이용하여 분석하고, 분석의 결과에 따른 수신 테스트 결과 데이터를 출력하는 단계를 더 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.10. The method of claim 9,
Analyzing the received test data transmitted from the DUT using the reference data, and outputting reception test result data according to a result of the analysis.
상기 PC가 상기 수신 테스트 결과 데이터를 서버로 전송하는 단계를 더 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.11. The method of claim 10,
And the PC transmitting the reception test result data to a server.
상기 PC가 기준 시간 이내에 상기 DUT로부터 상기 수신 테스트 데이터를 수신하지 못한 경우, 상기 DUT의 테스트 불합격에 상응하는 데이터를 출력하는 단계를 더 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.10. The method of claim 9,
And outputting data corresponding to a test failure of the DUT if the PC fails to receive the received test data from the DUT within a reference time.
상기 PC가 상기 신호 발생기의 레지스터 정보를 읽어와서 상기 신호 발생기와 상기 신호 분배기와의 접속 여부를 확인하는 단계를 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.10. The method of claim 9, wherein connecting the signal generator and the signal distributor comprises:
And the PC reading the register information of the signal generator to check whether the signal generator and the signal distributor are connected to each other.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140037638A KR101544967B1 (en) | 2014-03-31 | 2014-03-31 | Method for testing device under test |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140037638A KR101544967B1 (en) | 2014-03-31 | 2014-03-31 | Method for testing device under test |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020150047456A Division KR101563123B1 (en) | 2015-04-03 | 2015-04-03 | Method for testing device under test |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101544967B1 true KR101544967B1 (en) | 2015-08-18 |
Family
ID=54061215
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140037638A KR101544967B1 (en) | 2014-03-31 | 2014-03-31 | Method for testing device under test |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101544967B1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112165363A (en) * | 2020-09-21 | 2021-01-01 | 杭州涂鸦信息技术有限公司 | WIFI module production test system |
KR102706081B1 (en) | 2024-05-08 | 2024-09-12 | 엑시노드 주식회사 | Apparatus and method for supporting test item measurement |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000188617A (en) | 1998-10-21 | 2000-07-04 | Schlumberger Technol Inc | Measurement of jitters for high speed data channel |
-
2014
- 2014-03-31 KR KR1020140037638A patent/KR101544967B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000188617A (en) | 1998-10-21 | 2000-07-04 | Schlumberger Technol Inc | Measurement of jitters for high speed data channel |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112165363A (en) * | 2020-09-21 | 2021-01-01 | 杭州涂鸦信息技术有限公司 | WIFI module production test system |
CN112165363B (en) * | 2020-09-21 | 2022-06-24 | 杭州涂鸦信息技术有限公司 | WIFI module production test system |
KR102706081B1 (en) | 2024-05-08 | 2024-09-12 | 엑시노드 주식회사 | Apparatus and method for supporting test item measurement |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2019513330A (en) | Wireless performance test method for MIMO wireless terminal | |
CN106888060B (en) | Anti-interference test method and system for wireless communication module | |
JP2015520976A (en) | Efficient parallel test method for time division duplex (TDD) communication systems | |
CN104811524B (en) | A kind of terminal radio frequency performance test methods and its device | |
US9008588B2 (en) | System and method for the calibration and verification of wireless networks with control network | |
CN202794491U (en) | Test equipment automatic calibration instrument and calibration system | |
CN111257672B (en) | Line loss point inspection method and device, computer equipment and storage medium | |
KR20060082054A (en) | Communications apparatus and method therefor | |
CN109245832A (en) | Test method, system and the test equipment of bluetooth mould group | |
US7890830B1 (en) | Test signal generating apparatus | |
CN113395122B (en) | Production test circuit board, radio frequency parameter calibration system, method and computer equipment | |
EP4191905A1 (en) | Test method and device | |
CN111090556A (en) | System on chip and USB physical layer test method | |
CN105515893A (en) | Method for determining location of sample point | |
CN109729546A (en) | Waveform model | |
TWI635717B (en) | System and method for data packet transceiver testing after signal calibration and power settling to minimize test time | |
US20130259100A1 (en) | Information processing apparatus, testing method, and computer-readable recording medium having stored therein testing program | |
EP3503438B1 (en) | Test arrangement and test method | |
KR20160148921A (en) | Portable Test Apparatus for Semiconductor Apparatus and Test Method Using the Same | |
CN110646723B (en) | Bus interface test circuit and method | |
KR101563123B1 (en) | Method for testing device under test | |
KR101544967B1 (en) | Method for testing device under test | |
CN103037239A (en) | System and method for testing receiving performance of digital video receiving terminal | |
US10721003B2 (en) | Mobile communication device, testing system and method for testing a device under test | |
KR101552714B1 (en) | method and system for analyzing automatically physical layer in car communication |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180725 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190809 Year of fee payment: 5 |