JP4977541B2 - Digital camera and operation control method thereof - Google Patents

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Description

この発明は,ディジタル・カメラおよびその動作制御方法に関する。   The present invention relates to a digital camera and an operation control method thereof.

CCDなどの固体電子撮像素子においては,欠陥画素が発生することがあるために,欠陥画素補正が行われることがある。欠陥画素は,露光時間が長いときに目立つので露光時間にもとづいて欠陥画素補正を行うかどうかを決定するものがある(特許文献1,2)。
特許第376188号公報 特開2001-211388号公報
In a solid-state electronic image pickup device such as a CCD, defective pixels may be generated, so that defective pixel correction may be performed. Since defective pixels are conspicuous when the exposure time is long, there is one that determines whether or not to perform defective pixel correction based on the exposure time (Patent Documents 1 and 2).
Japanese Patent No. 376188 Japanese Patent Laid-Open No. 2001-211388

しかしながら,固体電子撮像素子に設けられている多数の光電変換素子はすべて一律に同じ感度のものではなく,異なる感度のものが混在することが多い。露光時間が長い場合に,すべての欠陥画素を補正すると,補正する必要の無い欠陥画素にまで補正することとなり,得られる画像の画質が低下することがある。   However, many photoelectric conversion elements provided in a solid-state electronic image pickup device are not all of the same sensitivity, but often have different sensitivities. If all the defective pixels are corrected when the exposure time is long, the defective pixels that do not need to be corrected are corrected, and the image quality of the obtained image may deteriorate.

この発明は,補正が必要な欠陥画素について補正をすることを目的とする。   An object of the present invention is to correct a defective pixel that needs to be corrected.

この発明によるディジタル・カメラは,受光面上に感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており,被写体を撮像することにより,被写体像を表す画像データを出力する固体電子撮像素子,感度の異なる上記光電変換素子ごとに,欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する判定手段,上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち,上記判定手段によって欠陥画素の補正を行なうと判定された上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データであって,あらかじめ定められている欠陥画素に対応する画像データを補正する補正手段,ならびに上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち,上記補正手段によって補正された画像データおよび上記補正手段によって補正されなかった画像データを,感度の異なる上記光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅する増幅回路を備え,上記判定手段が,上記異なる増幅率のうち,欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて,露光時間についての値を補正した値がしきい値を超えた場合に欠陥画素の補正を行うと判定するものである。   In the digital camera according to the present invention, a large number of photoelectric conversion elements having different sensitivities are arranged on a light receiving surface, and a solid-state electronic image sensor that outputs image data representing a subject image by imaging the subject differs in sensitivity. Determining means for determining whether or not to correct a defective pixel for each photoelectric conversion element, Of the image data output from the solid-state electronic image sensor, the determination means determined to correct a defective pixel Image data obtained on the basis of signal charges accumulated in the photoelectric conversion element, and correction means for correcting image data corresponding to a predetermined defective pixel, and an image output from the solid-state electronic image sensor Among the data, the image data corrected by the correcting means and the image data not corrected by the correcting means are The photoelectric conversion elements having different amplification factors for each of the photoelectric conversion elements having different sensitivities are provided, and the determination means includes the photoelectric conversion elements to be determined as to whether or not to correct defective pixels among the different amplification factors. Using the value for the amplification factor of the image data obtained based on the accumulated signal charge, it is determined that the defective pixel is corrected when the value obtained by correcting the value for the exposure time exceeds the threshold value. Is.

この発明は,上記ディジタル・カメラの動作制御方法も提供している。すなわち,この方法は,固体電子撮像素子が,受光面上に感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており,被写体を撮像することにより,被写体像を表す画像データを出力し,判定手段が,感度の異なる上記光電変換素子ごとに,欠陥画素の補正を行うかどうかを判定し,補正手段が,上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち,上記判定手段によって欠陥画素の補正を行なうと判定された上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データであって,あらかじめ定められている欠陥画素に対応する画像データを補正し,増幅回路が,上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち,上記補正手段によって補正された画像データおよび上記補正手段によって補正されなかった画像データを,感度の異なる上記光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅し,上記判定手段が,上記異なる増幅率のうち,欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて,露光時間についての値を補正した値がしきい値を超えた場合に欠陥画素の補正を行うと判定するものである。   The present invention also provides an operation control method for the digital camera. That is, in this method, a solid-state electronic image sensor is provided with a large number of photoelectric conversion elements having different sensitivities on the light receiving surface, and by imaging the subject, image data representing the subject image is output. Determining whether or not to correct the defective pixel for each of the photoelectric conversion elements having different sensitivities, and correcting means corrects the defective pixel by the determining means out of the image data output from the solid-state electronic image sensor. Image data obtained based on the signal charges accumulated in the photoelectric conversion element determined to be performed, the image data corresponding to a predetermined defective pixel is corrected, and an amplifier circuit Of the image data output from the image sensor, the image data corrected by the correcting means and the image data not corrected by the correcting means are processed. Signal charges accumulated in the photoelectric conversion elements to be subjected to the determination by the determination means to determine whether or not to correct a defective pixel out of the different amplification factors. Using the value for the amplification factor of the image data obtained based on the above, it is determined that the defective pixel is corrected when the value obtained by correcting the value for the exposure time exceeds the threshold value.

この発明によると,固体電子撮像素子の受光面上には感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており,被写体を撮像することにより被写体像を表す画像データが得られる。欠陥画素補正を行うかどうかが,感度の異なる光電変換素子ごとに判定される。欠陥画素判定を行うと判定された光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた被写体像を表す画像データであって,あらかじめ定められた欠陥画素に対応する画像データが補正される。補正された画像データおよび補正されていない画像データが,感度の異なる光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅される。欠陥画素の補正が行われるかどうかの判定は,異なる増幅率のうち,欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた増幅率についての値を用いて,露光時間についての値を補正して得られた値がしきい値を超えた場合に行われるものと判定される。   According to the present invention, a large number of photoelectric conversion elements having different sensitivities are arranged on the light receiving surface of the solid-state electronic image sensor, and image data representing the subject image can be obtained by imaging the subject. Whether or not to perform defective pixel correction is determined for each photoelectric conversion element having a different sensitivity. Image data representing a subject image obtained based on the signal charge accumulated in the photoelectric conversion element determined to perform the defective pixel determination, and corresponding to the predetermined defective pixel is corrected. The corrected image data and the uncorrected image data are amplified with different amplification factors for the photoelectric conversion elements having different sensitivities. The determination of whether or not the defective pixel is corrected is based on the amplification factor obtained based on the signal charge accumulated in the photoelectric conversion element to be determined whether or not to correct the defective pixel among the different amplification factors. Using this value, it is determined that the value obtained by correcting the value for the exposure time exceeds the threshold value.

この発明によると感度の異なる光電変換素子ごとに,欠陥画素補正が行われるかどうかが判定され,行われると判定された場合に欠陥画素補正が行われる。欠陥画素補正を行うかどうかを感度の異なる光電変換素子ごとに決定できるようになる。   According to the present invention, it is determined whether or not defective pixel correction is performed for each photoelectric conversion element having different sensitivities, and when it is determined to be performed, defective pixel correction is performed. Whether or not to perform defective pixel correction can be determined for each photoelectric conversion element having a different sensitivity.

感度が異なる光電変換素子から得られる画像データについては,感度に応じて増幅率を変えて画像データが増幅されることがある。増幅率を変えて画像データが増幅されると,欠陥画素補正を行う必要があると考えられる露光時間のしきい値も感度の異なる光電変換素子ごとに変わる。この発明によると,異なる増幅率のうち欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて,露光時間についての値を補正して欠陥画素の補正を行うかどうかを判定しているので,感度の異なる光電変換素子に応じて増幅率を変えて画像データを増幅しても欠陥画素を行うかどうかの判定が比較的正確に行うことができる。   For image data obtained from photoelectric conversion elements having different sensitivities, the image data may be amplified by changing the amplification factor according to the sensitivity. When the image data is amplified by changing the amplification factor, the threshold value of the exposure time considered to be necessary to correct the defective pixel also changes for each photoelectric conversion element having a different sensitivity. According to the present invention, using the value of the amplification factor of the image data obtained based on the signal charge accumulated in the photoelectric conversion element to be determined whether or not to correct the defective pixel among the different amplification factors, Since it is determined whether or not the defective pixel is corrected by correcting the value for the exposure time, whether or not the defective pixel is performed even if the image data is amplified by changing the amplification factor according to the photoelectric conversion element having different sensitivity The determination of whether or not can be performed relatively accurately.

感度の異なる上記光電変換素子ごとの増幅率を記憶するメモリをさらに備えてもよい。この場合,上記増幅回路は,上記メモリに記憶されている増幅率を用いて上記補正手段によって補正された画像データを補正するものとなろう。   You may further provide the memory which memorize | stores the amplification factor for every said photoelectric conversion element from which a sensitivity differs. In this case, the amplification circuit will correct the image data corrected by the correction means using the amplification factor stored in the memory.

ディジタル・カメラ周辺の温度を検出する温度検出手段,および上記温度検出手段によって検出された温度にもとづいて上記しきい値を変更する変更手段をさらに備えてもよい。   Temperature detecting means for detecting the temperature around the digital camera and changing means for changing the threshold based on the temperature detected by the temperature detecting means may be further provided.

上記固体電子撮像素子は,たとえば,異なる色のカラー・フィルタが受光領域に付されている多数の光電変換素子,異なる色のカラー・フィルタもしくは透明のフィルタが受光領域に付されている多数の光電変換素子,または異なる受光領域の大きさをもつ多数の光電変換素子を備えているものである。   The solid-state electronic image sensor includes, for example, a large number of photoelectric conversion elements in which color filters of different colors are attached to the light receiving area, and a large number of photoelectric conversion elements in which color filters of different colors or transparent filters are attached to the light receiving area. A conversion element or a large number of photoelectric conversion elements having different light receiving area sizes is provided.

図1は,この発明の実施例を示すもので,ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。   FIG. 1 shows an embodiment of the present invention and is a block diagram showing an electrical configuration of a digital camera.

ディジタル・カメラの全体の動作は,CPU8によって統括される。   The entire operation of the digital camera is controlled by the CPU 8.

ディジタル・カメラには,電源ボタン,シャッタ・レリーズ・ボタン,モード・スイッチなどのスイッチ類を含む操作スイッチ9が設けられている。この操作スイッチ9から出力された信号は,CPU8に入力する。また,ディジタル・カメラには露光時間その他の時間を計時するためのタイマ11およびディジタル・カメラの周辺温度を計測する温度センサ12も設けられている。   The digital camera is provided with an operation switch 9 including switches such as a power button, a shutter release button, and a mode switch. A signal output from the operation switch 9 is input to the CPU 8. The digital camera is also provided with a timer 11 for measuring the exposure time and other times and a temperature sensor 12 for measuring the ambient temperature of the digital camera.

駆動回路7によって,レンズ/バリア/シャッタ/絞り1および撮像素子2が駆動させられる。レンズ/バリア/シャッタ/絞り1を通過した光線束は,撮像素子2の受光面に入射する。   The driving circuit 7 drives the lens / barrier / shutter / aperture 1 and the image sensor 2. The light beam that has passed through the lens / barrier / shutter / aperture 1 enters the light receiving surface of the image sensor 2.

図2は,撮像素子2の受光面の一部を示している。   FIG. 2 shows a part of the light receiving surface of the image sensor 2.

撮像素子2の受光面20には,多数の光電変換素子21が水平方向および垂直方向に配置されている。これらの光電変換素子21が画素に対応する。光電変換素子21の受光面(受光領域)上には赤色成分の光を透過するフィルタ(Rで示す),緑色成分の光を透過するフィルタ(Gで示す)または青色成分の光を透過するフィルタ(Bで示す)が形成されている。露光量に応じた信号電荷が光電変換素子21に蓄積される。蓄積された信号電荷は垂直転送路および水平転送路(いずれも図示略)を介して,画像データとして撮像素子2から出力される。赤色成分の光を透過するフィルタR,緑色成分の光を透過するフィルタGまたは青色成分の光を透過するフィルタBの透過率が異なることから,赤色成分の光を透過するフィルタR,緑色成分の光を透過するフィルタGまたは青色成分の光を透過するフィルタBが形成されている光電変換素子21の感度が異なることとなる。   A large number of photoelectric conversion elements 21 are arranged in the horizontal direction and the vertical direction on the light receiving surface 20 of the imaging element 2. These photoelectric conversion elements 21 correspond to pixels. On the light receiving surface (light receiving region) of the photoelectric conversion element 21, a filter that transmits red component light (indicated by R), a filter that transmits green component light (indicated by G), or a filter that transmits blue component light (Indicated by B) is formed. A signal charge corresponding to the exposure amount is accumulated in the photoelectric conversion element 21. The accumulated signal charge is output from the image sensor 2 as image data via a vertical transfer path and a horizontal transfer path (both not shown). Since the transmittance of the filter R that transmits the red component light, the filter G that transmits the green component light, or the filter B that transmits the blue component light is different, the filter R that transmits the red component light, The sensitivity of the photoelectric conversion element 21 in which the filter G that transmits light or the filter B that transmits blue component light is formed is different.

図1に戻って,撮像素子2から赤色成分の画像データ,緑色成分の画像データまたは青色成分の画像データが順に出力される。撮像素子2から出力された画像データはオフセット補正回路3を介して欠陥補正回路4に入力する。   Returning to FIG. 1, the image data of the red component, the image data of the green component, or the image data of the blue component are sequentially output from the image sensor 2. Image data output from the image sensor 2 is input to the defect correction circuit 4 via the offset correction circuit 3.

欠陥補正回路4は,撮像素子2の欠陥画素(いわゆる撮像素子2の傷などのことであり,光電変換素子21に信号電荷が蓄積されているにもかかわらず,その蓄積量に応じた画像データが得られない画素)を補正する回路である。欠陥画素の位置についてはあらかじめ検出されており,その位置を示すデータがメモリ10に格納されている。この実施例によるディジタル・カメラは,あらかじめ検出されている欠陥画素のすべてについて欠陥画素補正が行われるものではなく,所定の判定式が成立する欠陥画素について欠陥画素補正が行われる。   The defect correction circuit 4 is a defective pixel of the image sensor 2 (a so-called flaw of the image sensor 2 or the like, and image data corresponding to the accumulated amount although signal charges are accumulated in the photoelectric conversion element 21). This is a circuit that corrects a pixel from which no image can be obtained. The position of the defective pixel is detected in advance, and data indicating the position is stored in the memory 10. The digital camera according to this embodiment does not perform defective pixel correction for all defective pixels detected in advance, but performs defective pixel correction for defective pixels that satisfy a predetermined determination formula.

とくに,この実施例においては,所定の判定式に用いられるパラメータが撮像素子の感度に応じて異なる。上述したように撮像素子2の光電変換素子21は,受光面に形成されているフィルタが赤色の光成分を透過するものか,緑色の光成分を透過するものか,青色の光成分を透過するものかに応じて感度が異なることから,白バランス調整が行われる。この白バランス調整におけるゲインが赤色成分の画像データか,緑色成分の画像データか,青色成分の画像データかによって異なる。これらの赤色成分の画像データ,緑色成分の画像データまたは青色成分の画像データごとに異なるゲインを用いて,上述した判定式の計算が行なわれる。   In particular, in this embodiment, the parameters used for the predetermined determination formula differ depending on the sensitivity of the image sensor. As described above, the photoelectric conversion element 21 of the image pickup device 2 has a filter formed on the light receiving surface that transmits a red light component, a green light component, or a blue light component. Since the sensitivity varies depending on the object, white balance adjustment is performed. The gain in this white balance adjustment differs depending on whether it is red component image data, green component image data, or blue component image data. The above-described determination formulas are calculated using different gains for each of the red component image data, the green component image data, and the blue component image data.

欠陥画素補正回路4から出力された画像データはゲイン補正回路5に入力し,白バランス調整が行われる。白バランス調整後に,欠陥画素の補正をしてもよい。ゲイン補正回路5から出力された画像データは信号処理回路6において,色補間,データ圧縮などの所定の信号処理が行われて画像表示装置14に入力する。画像表示装置14に,撮像により得られた被写体像が表示される。   The image data output from the defective pixel correction circuit 4 is input to the gain correction circuit 5 and white balance adjustment is performed. After the white balance adjustment, the defective pixel may be corrected. The image data output from the gain correction circuit 5 is subjected to predetermined signal processing such as color interpolation and data compression in the signal processing circuit 6 and input to the image display device 14. A subject image obtained by imaging is displayed on the image display device 14.

シャッタ・レリーズ・ボタンが押されると,上述のようにして信号処理回路6から出力された画像データがメモリ・カード・インターフェイス13に接続されているメモリ・カード(図示略)に記録される。   When the shutter release button is pressed, the image data output from the signal processing circuit 6 as described above is recorded on a memory card (not shown) connected to the memory card interface 13.

図3は,ディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。   FIG. 3 is a flowchart showing the processing procedure of the digital camera.

撮像素子2によって被写体が撮像される(ステップ31)。ISO感度のAPEX値(たとえば,ISO100であれば5)Sv,露光時間のAPEX値(たとえば,1秒であれば0)Tv,ゲインGaなどが取得される(ステップ32)。ISO感度は固定であればメモリ10に記憶されており,ユーザによる設定ができる場合には設定された値が読み取られよう。また,露光時間はタイマ11によって計時される。ゲインGaは,白バランス・ゲインであり,例えば,赤色成分の画像データについては1.2,緑色成分の画像データについては1,青色成分の画像データについては1.8である。   The subject is imaged by the image sensor 2 (step 31). An APEX value of ISO sensitivity (for example, 5 for ISO 100) Sv, an APEX value of exposure time (for example, 0 for 1 second) Tv, gain Ga, and the like are acquired (step 32). If the ISO sensitivity is fixed, it is stored in the memory 10, and if the user can set it, the set value will be read. The exposure time is counted by the timer 11. The gain Ga is a white balance gain, and is, for example, 1.2 for red component image data, 1 for green component image data, and 1.8 for blue component image data.

つづいて,赤色成分(R画素)の画像データ,緑色成分(G画素)の画像データ,青色成分(B画素)の画像データごとに式1の判定式の計算が行われる(ステップ33)。欠陥画素の画像データについて式1が成立する場合に欠陥画素補正が行われる。しきい値Thは例えば,固定値であり,5である。この式1が,画像データの増幅率についての値を用いて,露光時間を補正するものである。   Subsequently, the determination formula of Expression 1 is calculated for each of the red component (R pixel) image data, the green component (G pixel) image data, and the blue component (B pixel) image data (step 33). When Equation 1 is satisfied for the image data of the defective pixel, the defective pixel correction is performed. The threshold value Th is, for example, a fixed value and is 5. Equation 1 corrects the exposure time using a value for the amplification factor of the image data.

Sv+log2(Ga)−Tv>Th・・・式1   Sv + log2 (Ga) -Tv> Th ... Formula 1

欠陥画素補正回路4に入力した画像データであって,欠陥画素に相当する光電変換素子21から得られた画像データがR画素,G画素またはB画素のどのものかが判別される(ステップ34)。   It is determined whether the image data inputted from the defective pixel correction circuit 4 and obtained from the photoelectric conversion element 21 corresponding to the defective pixel is an R pixel, a G pixel or a B pixel (step 34). .

R画素の画像データであれば,R画素のゲインGaを用いて式1を算出した場合に,式1(判定式)が成立するかどうかが判定される。式1が成立すれば(ステップ35でYES),欠陥画素補正が必要な時間以上露光されていたと考えられるので,そのR画素の欠陥画素について欠陥補正回路4において欠陥画素補正が行われる(ステップ36)。式1が成立しなければ(ステップ35でNO),ステップ36の処理はスキップされ,そのR画素の欠陥画素について欠陥画素補正は行われない。   In the case of R pixel image data, it is determined whether Formula 1 (determination formula) is satisfied when Formula 1 is calculated using the gain Ga of the R pixel. If Equation 1 is satisfied (YES in step 35), it is considered that the defective pixel has been exposed for a time necessary for correction, and therefore, the defective pixel correction is performed in the defect correction circuit 4 for the defective pixel of the R pixel (step 36). ). If Equation 1 does not hold (NO in step 35), the process of step 36 is skipped, and defective pixel correction is not performed for the defective pixel of the R pixel.

同様に,G画素の画像データであれば,G画素のゲインGaを用いて式1を算出した場合に式1が成立するかどうかが判定される。式1が成立すれば(ステップ37でYES),そのG画素の欠陥画素について欠陥画素補正が行われる(ステップ38)。式1が成立しなければ(ステップ37でNO),ステップ38の処理はスキップされ,そのG画素の欠陥画素について欠陥画素補正は行われない。   Similarly, in the case of G pixel image data, it is determined whether Equation 1 is satisfied when Equation 1 is calculated using the gain Ga of the G pixel. If Expression 1 is satisfied (YES in step 37), defective pixel correction is performed for the defective pixel of the G pixel (step 38). If Equation 1 does not hold (NO in step 37), the process of step 38 is skipped, and defective pixel correction is not performed for the defective pixel of the G pixel.

さらに,B画素の画像データであれば,B画素のゲインGaを用いて式1を算出した場合に式1が成立するかどうかが判定される。式1が成立すれば(ステップ39でYES),そのB画素の欠陥画素について欠陥画素補正が行われる(ステップ40)。式1が成立しなければ(ステップ39でNO),ステップ40の処理はスキップされ,そのB画素の欠陥画素について欠陥画素補正は行われない。   Further, in the case of image data of B pixels, it is determined whether Equation 1 is satisfied when Equation 1 is calculated using the gain Ga of B pixels. If Equation 1 is satisfied (YES in step 39), defective pixel correction is performed for the defective pixel of the B pixel (step 40). If Equation 1 does not hold (NO in step 39), the process of step 40 is skipped, and defective pixel correction is not performed for the defective pixel of the B pixel.

一駒分の画像のすべての画素の画像データについてステップ34から40までの処理が繰り返される(ステップ41)。一駒分の画像の画像データについてのステップ34から40までの処理が終了すると(ステップ41でYES),その画像データについて上述した画素補間,データ圧縮などの所定の画像信号処理が行われる(ステップ42)。   The processing from step 34 to step 40 is repeated for the image data of all the pixels of the image for one frame (step 41). When the processing from step 34 to step 40 for the image data of one frame is completed (YES in step 41), predetermined image signal processing such as pixel interpolation and data compression described above is performed on the image data (step). 42).

撮像素子に感度の異なる光電変換素子が含まれている場合には,露光時間にもとづいて欠陥画素補正をするかしないかを決定するときに,感度をごとに露光時間を調整する必要があるが,上述した式1の判定式は,画素ごとに異なるゲインを考慮しているので(すなわち,光電変換素子の感度の相違を考慮しているので),その露光時間を調整して欠陥画素補正をするかしないかを決定できる。   When the image sensor includes photoelectric conversion elements with different sensitivities, it is necessary to adjust the exposure time for each sensitivity when deciding whether or not to perform defective pixel correction based on the exposure time. Since the above-described determination formula 1 considers a different gain for each pixel (that is, considers a difference in sensitivity of photoelectric conversion elements), the exposure time is adjusted to correct a defective pixel. You can decide whether or not to do it.

図4は,温度としきい値Thとの関係を示している。   FIG. 4 shows the relationship between temperature and threshold value Th.

上述した式1の判定式は,しきい値Thは固定であったが,ディジタル・カメラの周辺温度に応じてしきい値Thを変えるようにしてもよい。周辺温度は上述したように,温度センサ12を用いて計測できる。   Although the threshold value Th is fixed in the determination formula of the above-described formula 1, the threshold value Th may be changed according to the ambient temperature of the digital camera. The ambient temperature can be measured using the temperature sensor 12 as described above.

温度(℃)が0度,10度,20度,30度,40度,50度と上がるにつれて,しきい値Thが8,7,6,5,4,3と下がる。温度変化に応じて光電変換素子の感度も変わるので,温度変化を考慮して,欠陥画素補正を行うかどうかを判定できるようになる。   As the temperature (° C.) increases to 0 °, 10 °, 20 °, 30 °, 40 °, and 50 °, the threshold Th decreases to 8, 7, 6, 5, 4, and 3. Since the sensitivity of the photoelectric conversion element also changes in accordance with the temperature change, it is possible to determine whether or not to perform defective pixel correction in consideration of the temperature change.

図5は,撮像素子の受光面22に形成されている光電変換素子21の一例である。   FIG. 5 is an example of the photoelectric conversion element 21 formed on the light receiving surface 22 of the imaging element.

上述したのと同様に,撮像素子の受光面22の水平方向および垂直方向に多数の光電変換素子21が配置されている。この図においても図2に示すものと同様に,光電変換素子21の受光面に形成されているフィルタのうち赤色の光成分を透過するものについてはRの符号が付され,緑色の光成分を透過するものについてはGの符号が付され,青色の光成分を透過するものについてはBの符号が付されている。上述のように,Rの符号が付されたフィルタが形成されている光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいてR画素の画像データが得られ,Gの符号が付されたフィルタが形成されている光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいてG画素の画像データが得られ,Bの符号が付されたフィルタが形成されている光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいてB画素の画像データが得られる。   As described above, a large number of photoelectric conversion elements 21 are arranged in the horizontal direction and the vertical direction of the light receiving surface 22 of the imaging element. In this figure as well, the filter formed on the light receiving surface of the photoelectric conversion element 21 is denoted by the symbol R for the filter that transmits the red light component, and the green light component is designated as shown in FIG. Those that pass through are labeled G, and those that pass the blue light component are labeled B. As described above, R pixel image data is obtained based on the signal charges accumulated in the photoelectric conversion elements in which the filter with the R symbol is formed, and the filter with the G symbol is formed. G pixel image data is obtained based on the signal charge accumulated in the photoelectric conversion element, and the B pixel is obtained based on the signal charge accumulated in the photoelectric conversion element in which a filter having a symbol B is formed. Image data is obtained.

この実施例における撮像素子の受光面にはカラー・フィルタが形成されていない光電変換素子21Aが設けられている。カラー・フィルタが形成されていない光電変換素子21Aには符号Yが付されている。カラー・フィルタが形成されていない光電変換素子21Aの感度はカラー・フィルタが形成されている光電変換素子21の感度よりも高い。これらの光電変換素子21Aに蓄積された信号電荷にもとづいて,輝度データが得られる。   In this embodiment, a photoelectric conversion element 21A in which no color filter is formed is provided on the light receiving surface of the image pickup element. The photoelectric conversion element 21A in which no color filter is formed is denoted by the reference symbol Y. The sensitivity of the photoelectric conversion element 21A in which no color filter is formed is higher than the sensitivity of the photoelectric conversion element 21 in which a color filter is formed. Luminance data is obtained based on the signal charges accumulated in these photoelectric conversion elements 21A.

図6は,図5に示す光電変換素子の配列をもつ撮像素子を用いて被写体を撮像する場合のディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。この図において図3に示す処理と同一の処理については同一符号を付して説明を省略する。   FIG. 6 is a flowchart showing a processing procedure of the digital camera when the subject is imaged using the image sensor having the photoelectric conversion element array shown in FIG. In this figure, the same processes as those shown in FIG.

上述したように,カラー・フィルタが形成されていない光電変換素子21Aに相当する画素をY画素と呼ぶことにする。R画素,G画素,B画素,Y画素ごとに式1の判定式が計算される(ステップ33A)。撮像素子に,カラー・フィルタが形成されていない光電変換素子が配置されている場合には,たとえば,R画素のゲインGaは2.4,G画素のゲインGaは2,B画素のゲインGaは3.6,Y画素のゲインGaは1となる。それぞれのゲインGaを用いて上述した式1の判定式が計算される。R画素,G画素,B画素,Y画素のそれぞれの画像データが入力した場合に,式1の判定式が成立すると(ステップ35,37,39,43のそれぞれにおいてYES),欠陥画素補正が行われる(ステップ36,38,40,44)。   As described above, a pixel corresponding to the photoelectric conversion element 21A in which no color filter is formed is referred to as a Y pixel. The determination formula of Formula 1 is calculated for each of the R pixel, G pixel, B pixel, and Y pixel (step 33A). In the case where a photoelectric conversion element in which no color filter is formed is arranged in the imaging device, for example, the gain Ga of the R pixel is 2.4, the gain Ga of the G pixel is 2, and the gain Ga of the B pixel is 3.6, The gain Ga of the Y pixel is 1. Using the respective gains Ga, the above-described determination formula of Formula 1 is calculated. When the image data of R pixel, G pixel, B pixel, and Y pixel is input, if the judgment formula of Formula 1 is satisfied (YES in each of Steps 35, 37, 39, and 43), defective pixel correction is performed. (Steps 36, 38, 40, 44).

図7は,他の撮像素子の受光面の一例である。   FIG. 7 is an example of a light receiving surface of another image sensor.

撮像素子の受光面上には水平方向および垂直方向に多数の光電変換素子24および25が配置されている。一方の光電変換素子(主光電変換素子)24の受光面の面積は,他方の光電変換素子(副光電変換素子)25の受光面の面積より大きい。このために,副光電変換素子25の感度は主光電変換素子24の感度の20倍となっている。奇数行奇数列に主光電変換素子24が配置され,偶数行偶数列に副光電変換素子25が配置されているが,偶数行偶数列に主光電変換素子24が配置され,奇数行奇数列に副光電変換素子25が配置されてもよい。   A large number of photoelectric conversion elements 24 and 25 are arranged in the horizontal direction and the vertical direction on the light receiving surface of the imaging element. The area of the light receiving surface of one photoelectric conversion element (main photoelectric conversion element) 24 is larger than the area of the light receiving surface of the other photoelectric conversion element (sub photoelectric conversion element) 25. For this reason, the sensitivity of the sub photoelectric conversion element 25 is 20 times that of the main photoelectric conversion element 24. The main photoelectric conversion elements 24 are arranged in the odd rows and the odd columns, and the sub photoelectric conversion elements 25 are arranged in the even rows and the even columns, but the main photoelectric conversion elements 24 are arranged in the even rows and the even columns, and the odd rows and the odd columns. The sub photoelectric conversion element 25 may be disposed.

図8は,主光電変換素子24の感度と副光電変換素子25の感度とを示している。   FIG. 8 shows the sensitivity of the main photoelectric conversion element 24 and the sensitivity of the sub photoelectric conversion element 25.

上述のように,主光電変換素子24の面積は副光電変換素子25の面積よりも大きいから,同じ明るさであれば副光電変換素子25よりも主光電変換素子24の方が蓄積される信号電荷の量が多い。主光電変換素子24に蓄積される信号電荷の量は,明るさL0で飽和する。副光電変換素子25の方が主光電変換素子24よりも感度が高いことがわかる。   As described above, since the area of the main photoelectric conversion element 24 is larger than the area of the sub photoelectric conversion element 25, the signal stored in the main photoelectric conversion element 24 is more accumulated than the sub photoelectric conversion element 25 if the brightness is the same. Large amount of charge. The amount of signal charge accumulated in the main photoelectric conversion element 24 is saturated at the brightness L0. It can be seen that the sub photoelectric conversion element 25 has higher sensitivity than the main photoelectric conversion element 24.

図9は,さらに他の撮像素子の受光面の一例である。   FIG. 9 is an example of a light receiving surface of still another image sensor.

水平方向および垂直方向に多数の光電変換素子27が配置されている。これらの光電変換素子27は,主受光領域28と副受光領域29とに分けられている。主受光領域28の面積は副受光領域29の面積よりも大きい。このように,一つの光電変換素子27の受光領域が主受光領域28と副受光領域29とに分けられている場合においても,図7に示す撮像素子と同様に,副受光領域29の感度の方が主受光領域28の感度よりも高い。   A large number of photoelectric conversion elements 27 are arranged in the horizontal direction and the vertical direction. These photoelectric conversion elements 27 are divided into a main light receiving region 28 and a sub light receiving region 29. The area of the main light receiving region 28 is larger than the area of the sub light receiving region 29. As described above, even when the light receiving area of one photoelectric conversion element 27 is divided into the main light receiving area 28 and the sub light receiving area 29, the sensitivity of the sub light receiving area 29 is similar to that of the image sensor shown in FIG. This is higher than the sensitivity of the main light receiving region 28.

光電変換素子27の主受光領域28にはRの符号,Gの符号またはBの符号が付され,光電変換素子27の副受光領域29にはrの符号,gの符号またはbの符号が付されている。Rの符号またはrの符号が付されている光電変換素子27には赤色の光成分をもつ信号電荷が蓄積される。Gの符号またはgの符号が付されている光電変換素子27には緑色の光成分をもつ信号電荷が蓄積される。Bの符号またはbの符号が付されている光電変換素子27には青色の光成分をもつ信号電荷が蓄積される。   The main light receiving area 28 of the photoelectric conversion element 27 is given an R code, a G code or a B code, and the sub light receiving area 29 of the photoelectric conversion element 27 is given an r code, a g code or a b code. Has been. Signal charges having a red light component are accumulated in the photoelectric conversion elements 27 to which the symbol R or the symbol r is attached. A signal charge having a green light component is accumulated in the photoelectric conversion element 27 to which the symbol G or the symbol g is attached. A signal charge having a blue light component is accumulated in the photoelectric conversion element 27 to which the symbol B or the symbol b is attached.

図10は,図7に示すように主光電変換素子24と副光電変換素子25とを有する撮像素子または図9に示すように主受光領域28と副受光領域29とが形成されている撮像素子が設けられているディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。この図において,図3に示す処理と同一の処理については同一符号を付して説明を省略する。   10 shows an image sensor having a main photoelectric conversion element 24 and a sub photoelectric conversion element 25 as shown in FIG. 7, or an image sensor in which a main light receiving region 28 and a sub light receiving region 29 are formed as shown in FIG. 6 is a flowchart showing a processing procedure of a digital camera provided with a digital camera. In this figure, the same processes as those shown in FIG.

主光電変換素子24または主受光領域28に蓄積された信号電荷にもとづいて得られる画像データによって表される画素を主画素,副光電変換素子25または主受光領域29に蓄積された信号電荷にもとづいて得られる画像データによって表される画素を副画素とする。   The pixel represented by the image data obtained based on the signal charge accumulated in the main photoelectric conversion element 24 or the main light receiving area 28 is determined based on the signal charge accumulated in the main pixel, the sub photoelectric conversion element 25 or the main light receiving area 29. A pixel represented by image data obtained in this way is defined as a subpixel.

主画素のゲインGaは,たとえば1であり,副画素のゲインGaは,たとえば20である。これらのゲインGaを用いて,主画素,副画素ごとに上述した式1の判定式が計算される(ステップ51)。   The gain Ga of the main pixel is 1, for example, and the gain Ga of the sub-pixel is 20, for example. Using these gains Ga, the above-described determination formula 1 is calculated for each main pixel and sub-pixel (step 51).

主画素について式1の判定式が成立すれば(ステップ52でYES),主画素の欠陥画素補正が行われる(ステップ53)。副画素について式1の判定式が成立すれば(ステップ54でYES),副画素の欠陥画素補正が行われる(ステップ55)。   If the determination formula 1 is satisfied for the main pixel (YES in step 52), defective pixel correction of the main pixel is performed (step 53). If the determination formula 1 is satisfied for the subpixel (YES in step 54), defective pixel correction of the subpixel is performed (step 55).

一駒分の画像データについてステップ52から55の処理が繰り返される(ステップ56)。一駒分の画像データについてステップ52から55の処理が終了すると(ステップ56でYES),画像信号処理が行われる(ステップ57)。   Steps 52 to 55 are repeated for one frame of image data (step 56). When the processing of steps 52 to 55 is completed for one frame of image data (YES in step 56), image signal processing is performed (step 57).

上述の実施例においては,主画素と副画素とのゲインを考慮して式1の判定式を計算しているが,図9に示すように光電変換素子27の受光面にカラー・フィルタが形成されている場合にはそのカラー・フィルタのゲインおよび主画素と副画素のゲインも考慮して式1の判定式を計算するようにしてもよい。   In the above-described embodiment, the judgment formula of Formula 1 is calculated in consideration of the gains of the main pixel and the sub-pixel, but a color filter is formed on the light receiving surface of the photoelectric conversion element 27 as shown in FIG. In such a case, the determination formula of Formula 1 may be calculated in consideration of the gain of the color filter and the gains of the main pixel and subpixel.

図11から図13は,変形例を示すもので,ディジタル・カメラのブロック図を示している。これらの図において,図1に示すものと同じものについては同じ符号を付して説明を省略する。   FIG. 11 to FIG. 13 show a modification, and show a block diagram of a digital camera. In these drawings, the same components as those shown in FIG.

図11に示すブロック図のディジタル・カメラには,ゲイン補正テーブル・メモリ15が設けられている。このゲイン補正テーブル・メモリ15には,画素ごとのゲインを示すデータが格納されているゲイン補正テーブルが記憶されている。ゲイン補正テーブル・メモリ15に記憶されているゲイン補正テーブルを示すデータは欠陥補正回路4およびゲイン補正回路5に与えられる。ゲイン補正テーブルを示すデータを用いて上述した欠陥補正を行うかどうかを判定する式1の判定式が計算される。また,ゲイン補正テーブルを示すデータを用いてゲイン補正回路5における白バランス調整が行われる。   A gain correction table memory 15 is provided in the digital camera of the block diagram shown in FIG. The gain correction table memory 15 stores a gain correction table in which data indicating the gain for each pixel is stored. Data indicating the gain correction table stored in the gain correction table memory 15 is given to the defect correction circuit 4 and the gain correction circuit 5. A determination formula of Formula 1 for determining whether or not to perform the above-described defect correction is calculated using data indicating the gain correction table. Further, white balance adjustment is performed in the gain correction circuit 5 using data indicating the gain correction table.

図12に示すブロック図のディジタル・カメラには,オフセット/ゲイン補正テーブル・メモリ16が設けられている。このオフセット/ゲイン補正テーブル・メモリ16には,上述したゲイン補正テーブルのほかにオフセット補正テーブルが記憶されている。オフセット補正テーブルを用いてオフセット補正回路3におけるオフセット補正を実施できる。   The digital camera of the block diagram shown in FIG. 12 is provided with an offset / gain correction table memory 16. The offset / gain correction table memory 16 stores an offset correction table in addition to the gain correction table described above. The offset correction in the offset correction circuit 3 can be performed using the offset correction table.

図13に示すブロック図におけるディジタル・カメラは,上述したように欠陥補正を欠陥補正回路4において行うものではなく,ソフトウエアにより実施するものである。また,ディジタル・カメラにはストロボ65も設けられている。   The digital camera in the block diagram shown in FIG. 13 does not perform defect correction in the defect correction circuit 4 as described above, but performs it by software. The digital camera is also provided with a strobe 65.

ディジタル・カメラの全体の動作は,CPU66によって統括される。   The overall operation of the digital camera is controlled by the CPU 66.

上述したように,撮像素子2から出力された画像データはディジタル信号処理回路61に入力し,オフセット補正などの所定のディジタル信号処理が行われる。ディジタル信号処理化回路61から出力された画像データはメモリ62に与えられ,一時的に記憶される。画像データは,メモリ62から読み出されて上述したように欠陥画素補正の判定処理がCPU66の制御のもとに行われる。欠陥画素補正をすると判定された欠陥画素についてはCPU66の制御により,その補正が実行される。   As described above, the image data output from the image sensor 2 is input to the digital signal processing circuit 61, and predetermined digital signal processing such as offset correction is performed. The image data output from the digital signal processing circuit 61 is applied to the memory 62 and temporarily stored. The image data is read from the memory 62, and the defective pixel correction determination process is performed under the control of the CPU 66 as described above. For defective pixels determined to be defective pixel correction, the correction is executed under the control of the CPU 66.

ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electric constitution of a digital camera. 撮像素子の受光面の一例である。It is an example of the light-receiving surface of an image pick-up element. ディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of a digital camera. 温度としきい値との関係を示している。The relationship between temperature and threshold is shown. 撮像素子の受光面の一例である。It is an example of the light-receiving surface of an image pick-up element. ディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of a digital camera. 撮像素子の受光面の一例である。It is an example of the light-receiving surface of an image pick-up element. 明るさと蓄積された信号電荷の量とを示している。It shows the brightness and the amount of accumulated signal charge. 撮像素子の受光面の一例である。It is an example of the light-receiving surface of an image pick-up element. ディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of a digital camera. ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electric constitution of a digital camera. ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electric constitution of a digital camera. ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electric constitution of a digital camera.

符号の説明Explanation of symbols

2 撮像素子
4 欠陥補正回路
5 ゲイン補正回路
8 CPU
21,21A,24,25,27 光電変換素子
2 Image sensor 4 Defect correction circuit 5 Gain correction circuit 8 CPU
21, 21A, 24, 25, 27 Photoelectric conversion element

Claims (5)

受光面上に感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており,被写体を撮像することにより,被写体像を表す画像データを出力する固体電子撮像素子,
感度の異なる上記光電変換素子ごとに,欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する判定手段,
上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち,上記判定手段によって欠陥画素の補正を行なうと判定された上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データであって,あらかじめ定められている欠陥画素に対応する画像データを補正する補正手段,ならびに
上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち,上記補正手段によって補正された画像データおよび上記補正手段によって補正されなかった画像データを,感度の異なる上記光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅する増幅回路を備え,
上記判定手段が,
上記異なる増幅率のうち,欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて露光時間についての値を補正した値がしきい値を超えた場合に欠陥画素の補正を行うと判定するものである,
ディジタル・カメラ。
A solid-state electronic image sensor that outputs a plurality of photoelectric conversion elements with different sensitivities on the light-receiving surface and outputs image data representing a subject image by imaging the subject,
Determining means for determining whether or not to correct a defective pixel for each of the photoelectric conversion elements having different sensitivities;
Of the image data output from the solid-state electronic image sensor, the image data obtained based on the signal charge accumulated in the photoelectric conversion element determined to correct the defective pixel by the determination means, Correction means for correcting image data corresponding to a predetermined defective pixel, and among image data output from the solid-state electronic image sensor, image data corrected by the correction means and not corrected by the correction means Amplifying circuit for amplifying the obtained image data at a different amplification factor for each photoelectric conversion element having a different sensitivity,
The determination means is
Said different among the amplification factor, the value exposure time using for amplification ratio of the image data obtained based on correction whether the signal charge accumulated in the subject of the photoelectric conversion element is determined performs the defective pixel When the value corrected for the value exceeds the threshold value , it is determined that the defective pixel is corrected.
Digital camera.
感度の異なる上記光電変換素子ごとの増幅率を記憶するメモリをさらに備え,
上記増幅回路は,上記メモリに記憶されている増幅率を用いて上記補正手段によって補正された画像データを補正するものである,
請求項1に記載のディジタル・カメラ。
A memory for storing an amplification factor for each of the photoelectric conversion elements having different sensitivities;
The amplifying circuit corrects the image data corrected by the correcting means using the amplification factor stored in the memory.
The digital camera according to claim 1.
ディジタル・カメラ周辺の温度を検出する温度検出手段,および
上記温度検出手段によって検出された温度にもとづいて上記しきい値を変更する変更手段,
をさらに備えた請求項1または2に記載のディジタル・カメラ。
Temperature detecting means for detecting the temperature around the digital camera, and changing means for changing the threshold based on the temperature detected by the temperature detecting means;
The digital camera according to claim 1, further comprising:
上記固体電子撮像素子は,異なる色のカラー・フィルタが受光領域に付されている多数の光電変換素子,異なる色のカラー・フィルタもしくは透明のフィルタが受光領域に付されている多数の光電変換素子,または異なる受光領域の大きさをもつ多数の光電変換素子を備えているものである,
請求項1から3のうち,いずれか一項に記載のディジタル・カメラ。
The solid-state electronic imaging device includes a large number of photoelectric conversion elements having color filters of different colors attached to the light receiving region, and a large number of photoelectric conversion elements having color filters of different colors or transparent filters attached to the light receiving region. Or a large number of photoelectric conversion elements having different light receiving area sizes,
The digital camera according to any one of claims 1 to 3.
固体電子撮像素子が,受光面上に感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており,被写体を撮像することにより,被写体像を表す画像データを出力し,
判定手段が,感度の異なる上記光電変換素子ごとに,欠陥画素の補正を行うかどうかを判定し,
補正手段が,上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち,上記判定手段によって欠陥画素の補正を行なうと判定された上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データであって,あらかじめ定められている欠陥画素に対応する画像データを補正し,
増幅回路が,上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち,上記補正手段によって補正された画像データおよび上記補正手段によって補正されなかった画像データを,感度の異なる上記光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅し,
上記判定手段が,上記異なる増幅率のうち,欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて露光時間についての値を補正した値がしきい値を超えた場合に欠陥画素の補正を行うと判定する,
ディジタル・カメラの動作制御方法。
The solid-state electronic image sensor has a large number of photoelectric conversion elements with different sensitivities on the light-receiving surface. By imaging the subject, image data representing the subject image is output.
The determination means determines whether to correct the defective pixel for each of the photoelectric conversion elements having different sensitivities,
Image data obtained based on the signal charge accumulated in the photoelectric conversion element determined to be corrected by the determination means among the image data output from the solid-state electronic image sensor by the correction means And correcting the image data corresponding to the predetermined defective pixel,
The amplification circuit differs among the photoelectric conversion elements having different sensitivities, among the image data output from the solid-state electronic image sensor, the image data corrected by the correction unit and the image data not corrected by the correction unit. Amplify with gain,
Among the different amplification factors, the determination means determines a value for the amplification factor of the image data obtained based on the signal charge accumulated in the photoelectric conversion element to be determined whether or not to correct a defective pixel. value obtained by correcting the value of the exposure time used is determined that the correction of the defective pixel when the threshold is exceeded,
Digital camera operation control method.
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