JP4956636B2 - アンチモンの価数別分析方法 - Google Patents
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Description
後に示すS2で溶解するように細かくするために、ガラスを乳鉢にて粉砕しガラス粉末を得る。ガラスは一般的に器具や装置に使用されているガラスを対象とする。なお、ガラス粉末は粒径が106μm以下となるようふるいにかける。
S1にて得られたガラス粉末を秤量し、フッ酸および塩酸を用いてガラス溶解溶液を作成する。ガラス粉末をテフロン(登録商標)ビーカー等の容器に入れ、フッ酸および塩酸で溶解し、容器を加熱することでガラス粉末を溶解する。
S2で得られたガラス溶解溶液におけるフッ化物イオンをアルミニウムイオンでマスキング処理する。ここでいうマスキングとはフッ化物イオンをアルミニウムイオンと錯形成させる処理を指す。フッ化物イオンをアルミニウムでマスキングすることによって、後に示すS4の工程においてフッ化物イオンの影響を受けずにアンチモンの水素化物を発生させることができる。
S3で得られた溶液におけるアンチモン(III)から水素化物(スチビン)を得る工程である。溶液中のアンチモン(III)はいわゆる水素化物発生法で測定する。図2に水素化物発生装置の一例を示す。
Sb(III)+8H →SbH3+5/2H2
スチビンは常温で気化するため、気液分離管にでスチビンを分離する。なお、スチビンの発生条件としては1%水素化ホウ素ナトリウム、0.5%水酸化ナトリウム混合溶液に1mol/Lの塩酸を混合させることが好ましい。
S4で得られた水素化物(スチビン)からアンチモン(III)の濃度を定量する工程である。水素化物を定量する手法としては、公知のICP発光分析装置、ICP質量分析装置、原子吸光装置が用いられるが、ガラス中のアンチモンはごく微量であるため、ICP質量分析装置を用いることが好ましい。いずれの装置を使用する場合においても、予めアンチモンの濃度とシグナルの強度を対比させた検量線を作成した後に分析対象の試料の定量を行い、アンチモン(III)濃度を算出する。
S3で得られたガラス溶解溶液中の総アンチモンを定量する工程である。手法としては、S5と同様に公知のICP発光分析装置、ICP質量分析装置、原子吸光装置が用いられ、検量線法を用いて強度から濃度を算出する。
S6で得られた総アンチモン量からS5で得られたアンチモン(III)の差分をとることによって求める。
三塩化アンチモンを塩酸3Mに溶解させ、アンチモン(III)の標準溶液とした。ヘキサヒドロキソアンチモン(V)酸カリウムを純水で溶解し、アンチモン(V)の標準溶液とした。
上記ガラス溶解溶液に、1wt%塩化アルミニウム溶液を3mL添加し、純水で50mLに定容しマスキング処理溶液を得た。
実施例1の操作において、マスキング処理を行わずに、水素化物発生装置―ICP質量分析装置にてアンチモン(III)の量を測定した結果、0.24μg/Lであった。これより回収率は2.4%となった。
実施例1の操作において、塩化アルミニウムに替えてホウ酸をマスキング剤として使用した。その結果、バックグラウンドが上昇してしまい正確に測定できなかった。
Claims (4)
- アンチモンを成分として含むガラスを粉砕し、ガラス粉末とする工程と、
前記ガラス粉末を秤量し、フッ酸および塩酸で溶解しガラス溶解溶液を得る工程と、
前記ガラス溶解溶液にアルミニウムイオンを添加し、フッ酸をマスキングする工程と、
フッ酸をマスキングした前記ガラス溶解溶液中に水酸化ホウ素ナトリウムと塩酸を加えることによってアンチモン(III)の水素化物を発生させる工程と、
前記水素化物から、前記ガラス溶解溶液中のアンチモン(III)の濃度を定量する工程と、
前記ガラス溶解溶液中の総アンチモンの濃度を定量する工程と、
前記総アンチモンの濃度と前記アンチモン(III)の濃度との差分をとり、アンチモン(V)の濃度を求める工程と、
を具備することを特徴とするアンチモンの価数別分析方法。 - 前記フッ酸をマスキングする工程において、
塩化アルミニウム溶液を添加することを特徴とする請求項1に記載のアンチモンの価数別分析方法。 - 前記アンチモン(III)の濃度を定量する工程において、
ICP質量分析装置によって、前記ガラス溶解溶液中のアンチモン(III)の濃度を定量することを特徴とする請求項1または2に記載のアンチモンの価数別分析方法。 - 前記総アンチモンの濃度を定量する工程において、
ICP質量分析装置によって、前記ガラス溶解溶液中の総アンチモンの濃度を定量することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のアンチモンの価数別分析方法。
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