JP4946786B2 - 光モジュール回路の閾値測定方法およびその装置 - Google Patents
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2 光源
3 光減衰器
8 マルチメータ
9 制御装置
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- 光源からの出力に基づく光信号を受光素子が受光してなる入力光信号強度が、大きい値から小さい値へ変化している途中に、前記受光素子の出力電気信号が高レベルから低レベルに変化する下限閾値と、小さい値から大きい値へ変化している途中に、前記受光素子の出力電気信号が低レベルから高レベルに変化する上限閾値とを有してなる、前記入力光信号強度と前記受光素子の出力電気信号との間にヒステリシス特性を有する光モジュール回路の閾値測定方法であって、
前記光源から出力される一定強度の光信号を可変に減衰させる光減衰器を介して前記入力光信号強度を前記光モジュール回路に入力させる構成にすると共に、
前記下限閾値以下の入力光信号強度を下限初期値として、また、前記上限閾値以上の入力光信号強度を上限初期値として設定し、
前記下限閾値を測定する場合は、
前記下限初期値から前記上限初期値までの半分の大きさの初期の変化分を演算し、該変化分だけ前記上限初期値から減算した中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定する第一の工程と、
前記受光素子の出力電気信号が高レベルならば、前記変化分の半分の大きさの更新された変化分だけ前記中間値から減算した更新された中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定するステップと、前記受光素子の出力電気信号が低レベルならば、前記変化分の半分の大きさの更新された変化分だけ前記中間値に加算した更新された中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定するステップとからなる第二の工程と、
該第二の工程を少なくとも1回繰り返した後、最後に更新された変化分が前記光減衰器の減衰量の分解能より小さい場合に、最後に更新された中間値を前記下限閾値とする第三の工程とを有し、
前記上限閾値を測定する場合は、
前記下限初期値から前記上限初期値までの半分の大きさの初期の変化分を演算し、該変化分だけ前記下限初期値に加算した中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定する第四の工程と、
前記受光素子の出力電気信号が低レベルならば、前記変化分の半分の大きさの更新された変化分だけ前記中間値に加算した更新された中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定するステップと、前記受光素子の出力電気信号が高レベルならば、前記変化分の半分の大きさの更新された変化分だけ前記中間値から減算した更新された中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定するステップとからなる第五の工程と、
該第五の工程を少なくとも1回繰り返した後、最後に更新された変化分が前記光減衰器の減衰量の分解能より小さい場合に、最後に更新された中間値を前記上限閾値とする第六の工程とを有し、
前記各工程において、変化分を加算あるいは減算して中間値を更新する場合は、前記初期の変化分を前記光減衰器の減衰量の分解能で除算してなる変化量係数を、係数が1より大きい整数のべき級数で表現し、該べき級数の最も高次の項の値から始まって、順次低次の項の値を累積してなる値を加算あるいは減算をし、
加算あるいは減算を行う項の係数が2以上の場合は、該項の値を該項の係数で除算した値から始まって、該項の値になるまで累積して加算あるいは減算を繰り返すことを特徴とする光モジュール回路の閾値測定方法。 - 光源からの出力に基づく光信号を受光素子が受光してなる入力光信号強度が、大きい値から小さい値へ変化している途中に、前記受光素子の出力電気信号が高レベルから低レベルに変化する下限閾値と、小さい値から大きい値へ変化している途中に、前記受光素子の出力電気信号が低レベルから高レベルに変化する上限閾値とを有してなる、前記入力光信号強度と前記受光素子の出力電気信号との間にヒステリシス特性を有する光モジュール回路の閾値測定装置であって、
前記光源から出力される一定強度の光信号を可変に減衰させる光減衰器を介して前記入力光信号強度を前記光モジュール回路に入力させる構成にすると共に、
前記下限閾値以下の入力光信号強度を下限初期値として、また、前記上限閾値以上の入力光信号強度を上限初期値として設定し、
前記下限閾値を測定する場合は、
前記下限初期値から前記上限初期値までの半分の大きさの初期の変化分を演算し、該変化分だけ前記上限初期値から減算した中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定する第一の手段と、
前記受光素子の出力電気信号が高レベルならば、前記変化分の半分の大きさの更新された変化分だけ前記中間値から減算した更新された中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定するステップと、前記受光素子の出力電気信号が低レベルならば、前記変化分の半分の大きさの更新された変化分だけ前記中間値に加算した更新された中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定するステップとを実行する第二の手段と、
該第二の手段を少なくとも1回繰り返した後、最後に更新された変化分が前記光減衰器の減衰量の分解能より小さい場合に、最後に更新された中間値を前記下限閾値とする第三の手段とを有し、
前記上限閾値を測定する場合は、
前記下限初期値から前記上限初期値までの半分の大きさの初期の変化分を演算し、該変化分だけ前記下限初期値に加算した中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定する第四の手段と、
前記受光素子の出力電気信号が低レベルならば、前記変化分の半分の大きさの更新された変化分だけ前記中間値に加算した更新された中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定するステップと、前記受光素子の出力電気信号が高レベルならば、前記変化分の半分の大きさの更新された変化分だけ前記中間値から減算した更新された中間値である前記入力光信号強度に応じた前記受光素子の出力電気信号が高レベルか低レベルかを判定するステップとを実行する第五の手段と、
該第五の手段を少なくとも1回繰り返した後、最後に更新された変化分が前記光減衰器の減衰量の分解能より小さい場合に、最後に更新された中間値を前記上限閾値とする第六の手段とを有し、
前記各手段において、変化分を加算あるいは減算して中間値を更新する場合は、前記初期の変化分を前記光減衰器の減衰量の分解能で除算してなる変化量係数を、係数が1より大きい整数のべき級数で表現し、該べき級数の最も高次の項の値から始まって、順次低次の項の値を累積してなる値を加算あるいは減算をし、
加算あるいは減算を行う項の係数が2以上の場合は、該項の値を該項の係数で除算した値から始まって、該項の値になるまで累積して加算あるいは減算を繰り返すことを特徴とする光モジュール回路の閾値測定装置。
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