JP4925904B2 - リーク検査方法およびリーク検査装置 - Google Patents
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Description
従来のリーク検査方法は、3つの方法が知られている。1つ目の方法(以下、「方法1」)は、被検査部品を試験用液体に浸漬し、被検査部品外部の圧力をほぼ0気圧にまで減圧した容器の中で試験する方法である。2つ目の方法(以下、「方法2」)は、高い温度の液体に浸す方法である。3つ目の方法(以下、「方法3」)は、沸点が試験用液体より低い含浸液を被検査部品に含浸した後に、その被検査部品を高い温度の試験用液体に浸漬する方法である。本実施の形態に係るリーク検査方法およびリーク検査装置について説明する前に、「方法1」〜「方法3」において、リーク検出の感度が下がる要因を考察する。
実施の形態1のリーク検査方法は、従来と同様、リーク気泡12の有無によってリークの有無を判定していた。つまり、イチゼロ判定により、被検査部品4の気密性を評価した。本実施の形態では、実施の形態1と異なる方法で、被検査部品4の気密性を評価する。以下、新たに説明する構成、および、工程以外は、実施の形態1と同様である。
以上の実施の形態では、コントローラー7は、予め指定されたシーケンスに基づいて、上述した加圧機構が印加する圧力を変化させる制御を行っていた。本実施の形態では、以上の実施の形態と異なり、シーケンスを用いずに、簡便さを「方法2」と同程度に維持しつつ、リーク検出の感度を上げる。以下、新たに説明する構成、および、工程以外は、実施の形態1と同様である。
Claims (9)
- (a)加熱された試験用液体に被検査部品を浸漬する工程と、
(b)前記試験用液体にかかる圧力を変化させる工程とを備え、
前記工程(b)において、
前記圧力は、所定の基準圧力がかかった基準圧力状態と、前記所定の基準圧力から減圧した圧力がかかった減圧状態とを繰り返し、
前記減圧状態の時間は、前記基準圧力状態の時間よりも短い、
リーク検査方法。 - 前記工程(b)において、
繰り返しの各前記減圧状態における減圧度を時間とともに大きくする、
請求項1に記載のリーク検査方法。 - 前記工程(b)において、
同じ減圧度で前記減圧状態を複数回繰り返す、
請求項1または請求項2に記載のリーク検査方法。 - (a)加熱された試験用液体に被検査部品を浸漬する工程と、
(b)前記試験用液体にかかる圧力を変化させる工程とを備え、
前記工程(b)において、
前記圧力は、時間に対して正弦波形的または余弦波形的に変化し、前記圧力の最小値は大気圧よりも小さく、前記圧力の時間平均は、大気圧以上である、
リーク検査方法。 - 前記工程(b)において、前記試験用液体が収容された容器内の上部空き空間の空気に前記圧力を印加して、前記試験用液体に前記圧力を印加する、
請求項1乃至請求項4のいずれかに記載のリーク検査方法。 - 内部に空間を有し、加熱された試験用液体と、前記試験用液体に浸漬された被検査部品とを前記空間内に密閉可能な容器と、
前記容器内の上部空き空間の空気に圧力を印加して、前記試験用液体に前記圧力を印加する加圧機構と、
前記加圧機構が印加する前記圧力を変化させる制御を行うコントローラーとを備え、
前記コントローラーは、
前記加圧機構が印加する前記圧力が、所定の基準圧力がかかった基準圧力状態と、前記所定の基準圧力から減圧した圧力がかかった減圧状態とを繰り返し、前記減圧状態の時間が、前記基準圧力状態の時間よりも短くなる制御を行う、
リーク検査装置。 - 前記コントローラーは、
繰り返しの各前記減圧状態における減圧度を時間とともに大きくする、
請求項6に記載のリーク検査装置。 - 前記コントローラーは、
同じ減圧度で前記減圧状態を複数回繰り返す、
請求項6または請求項7に記載のリーク検査装置。 - 内部に空間を有し、加熱された試験用液体と、前記試験用液体に浸漬された被検査部品とを前記空間内に密閉可能な容器と、
前記容器内の上部空き空間の空気に圧力を印加して、前記試験用液体に前記圧力を印加する加圧機構とを備え、
前記加圧機構が印加する前記圧力は、時間に対して正弦波形的または余弦波形的に変化し、前記圧力の最小値は、大気圧よりも小さく、前記圧力の時間平均は、大気圧以上である、
リーク検査装置。
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