JP4922396B2 - Measuring apparatus and measuring method for inspection of substrate surface - Google Patents

Measuring apparatus and measuring method for inspection of substrate surface Download PDF

Info

Publication number
JP4922396B2
JP4922396B2 JP2009508395A JP2009508395A JP4922396B2 JP 4922396 B2 JP4922396 B2 JP 4922396B2 JP 2009508395 A JP2009508395 A JP 2009508395A JP 2009508395 A JP2009508395 A JP 2009508395A JP 4922396 B2 JP4922396 B2 JP 4922396B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
air
substrate
sensor
mounted element
measuring device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009508395A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2009535632A (en
Inventor
クラウスマン ハーゲン
クラーグラー カール
ノイサー マルティン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of JP2009535632A publication Critical patent/JP2009535632A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4922396B2 publication Critical patent/JP4922396B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302Contactless testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302Contactless testing
    • G01R31/304Contactless testing of printed or hybrid circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/07Non contact-making probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2812Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Description

本発明は基板の表面を検査する測定装置および測定方法に関する。この測定装置はセンサを有しており、このセンサは、所定の間隔で、測定すべき表面を位置決め可能である。   The present invention relates to a measuring apparatus and a measuring method for inspecting the surface of a substrate. The measuring device has a sensor, which can position the surface to be measured at a predetermined interval.

平坦面の表面検査の分野では、ふつうセンサは、測定しようとする基板表面の上にあらかじめ定めた間隔で位置決めされる。この位置決めは、ふつう位置決めシステムによって行われ、この位置決めシステムにより、測定しようとする表面に対して平行な面内で上記のセンサを位置決めすることができる。このため、この位置決めシステムを相応に駆動制御することによって、例えば、メアンダ状の運動によって、測定しようとする表面全体を走査することができる。高い測定速度を得るため、多数の個別センサを有するセンサも使用され、ここでは複数の測定点を同時に測定することにより、所定の面積に対する測定時間が個別センサの個数に応じて低減されるのである。   In the field of surface inspection of flat surfaces, sensors are usually positioned at predetermined intervals on the substrate surface to be measured. This positioning is usually performed by a positioning system, which can position the sensor in a plane parallel to the surface to be measured. For this reason, the entire surface to be measured can be scanned, for example by means of a meandering movement, by correspondingly driving and controlling the positioning system. In order to obtain a high measurement speed, a sensor having a large number of individual sensors is also used. Here, by measuring a plurality of measurement points simultaneously, the measurement time for a predetermined area is reduced according to the number of individual sensors. .

処理すべき測定課題の性質に依存して種々異なるセンサが使用される。光学式検査ではふつう、例えばラインまたはエリアセンサを有するカメラが使用される。容量式の測定課題では、所定の交流または直流電圧が加えられた多数の測定ピンが使用される。測定信号としては、各測定ピンを流れる小さな電流が使用され、これは測定ピン間の容量に依存するか、または測定しようとする表面の各測定点に依存する。   Different sensors are used depending on the nature of the measurement task to be processed. Optical inspection typically uses a camera with, for example, a line or area sensor. In a capacitive measurement task, a large number of measurement pins to which a predetermined AC or DC voltage is applied are used. As the measurement signal, a small current flowing through each measurement pin is used, which depends on the capacitance between the measurement pins or on each measurement point on the surface to be measured.

例えば、液晶ディスプレイ(LCD liquid Crystal Display)に使用される基板のプリント基板構造の存在し得る欠陥に関してLCDの製造前に検査することのできる方法が公知である。ここでは測定ピンと、複数の測定ピンのうちの1つに向き合うプリント基板構造との間で相応に容量式の測定を行うことにより、プリント基板構造の望ましくない短絡、断線およびくびれを識別することができる。これらの欠陥は、LCD基板の後続の処理の前に修復するか、またはこのLCD基板を製造プロセスから抜き出すことができる。これによっていずれにせよ液晶ディスプレイの製造コストを格段に低減することができるのである。   For example, methods are known that can be inspected before manufacturing the LCD for possible defects in the printed circuit board structure of the substrate used in a liquid crystal display (LCD liquid crystal display). Here, by performing a corresponding capacitive measurement between the measurement pin and the printed circuit board structure facing one of the plurality of measurement pins, it is possible to identify unwanted shorts, breaks and constrictions in the printed circuit board structure. it can. These defects can be repaired prior to subsequent processing of the LCD substrate, or the LCD substrate can be extracted from the manufacturing process. In any case, the manufacturing cost of the liquid crystal display can be greatly reduced.

精度の高い検査のためにはふつう、センサと、測定しようとする基板表面との間の間隔を高精度に設定および維持することが必要である。しかしながら測定しようとする基板が平らでない表面ないしはわずかに波打った表面を有する場合には、精確に間隔を維持することは格段に困難になる。したがって平らでない表面を測定するために、測定しようとする表面に対して平行な面内におけるセンサの位置決めだけでなく、この面に対して垂直な方向における位置決めも行うことのできる位置決めシステムを使用しなければならない。しかしながら、測定しようとする表面に対して、このように垂直方向に位置決めすることは、ふつう測定過程の速度を遅くし、また測定精度を低減させることになるのである。   For highly accurate inspection, it is usually necessary to set and maintain the distance between the sensor and the substrate surface to be measured with high accuracy. However, if the substrate to be measured has a non-planar surface or a slightly corrugated surface, it is much more difficult to maintain a precise spacing. Therefore, in order to measure a non-planar surface, a positioning system is used which can not only position the sensor in a plane parallel to the surface to be measured, but also in a direction perpendicular to this plane. There must be. However, this vertical positioning relative to the surface to be measured usually slows down the measurement process and reduces the measurement accuracy.

本発明の課題は、平らでない基板表面であっても精確な測定を可能にする測定装置及び測定方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a measuring apparatus and a measuring method that enable accurate measurement even on a non-flat substrate surface.

この課題は、独立請求項記載の各要件によって解決され、本発明の有利な実施例は、従属請求項に記載されている。   This problem is solved by the requirements stated in the independent claims, and advantageous embodiments of the invention are described in the dependent claims.

独立請求項1により、基板の表面の検査用の測定装置が記載されている。測定装置は、(a)保持部材(110)と、(b)エアマウントされたエレメントとを有しており、エアマウントされたエレメントは、保持部材に取り付けられており、保持部材は、基板の検査すべき表面と共に、空気支持体を形成可能であり、保持部材は、エアマウントされたエレメントを、表面の起伏に適合可能である。前述の測定装置は、更に(c)少なくとも1つのセンサを有しており、センサは、エアマウントされたエレメントに取り付けられており、エアマウントされたエレメントは、基板の表面を検査するように構成されている。   Independent claim 1 describes a measuring device for inspecting the surface of a substrate. The measuring device includes (a) a holding member (110) and (b) an air-mounted element. The air-mounted element is attached to the holding member, and the holding member With the surface to be inspected, an air support can be formed, and the holding member can adapt the air-mounted element to surface undulations. The measuring device further comprises (c) at least one sensor, the sensor being attached to an air-mounted element, the air-mounted element configured to inspect the surface of the substrate Has been.

本発明の基本的な認識は、エアマウントされたエレメントは、フレキシブルなセンサ坦体を用いて構成されるという点にある。その際、フレキシブルなセンサ坦体は、完全に固定の部材乃至固定の材料を用いずに構成することができる。従って、エアマウントされたエレメントは、場合によって凸凹がある場合に、検査すべき表面に適合することができる、容易に曲げることができる定規に似ている。エアマウントされたエレメントのフレキシブルな構成により、殊に、検査すべき基板表面の長い距離のコルゲーション(凸凹)乃至波形に適合させることができるようになる。   The basic recognition of the present invention is that the air-mounted element is constructed using a flexible sensor carrier. In this case, the flexible sensor carrier can be configured without using a completely fixed member or a fixed material. Thus, an air-mounted element resembles an easily bendable ruler that can conform to the surface to be inspected, possibly in the presence of irregularities. The flexible construction of the air-mounted element makes it possible in particular to adapt to long distance corrugations or corrugations of the substrate surface to be inspected.

エアマウントされたエレメントは、例えば、所要のフレキシビリティを有する薄ガラスを用いて構成することができる。フレキシブルにエアマウントされたエレメントは、少なくとも部分的に、例えば、塩化ポリビニール(PVC)のようなプラスチック製、又は、例えば、カーボンファイバ複合材料のようなファイバ強化材料製にするとよい。   The air-mounted element can be constructed using, for example, thin glass having a required flexibility. The flexibly air-mounted element may be at least partially made of a plastic such as polyvinyl chloride (PVC), or a fiber reinforced material such as a carbon fiber composite.

保持部材は、例えば、ホルダーアームであり、このホルダーアーム内に、フレキシブルにエアマウントされたエレメントが少なくとも2つの側から保持されている。その際、エアマウントされたエレメントは、フレキシブルな固体フランジを用いてホルダーアームに取り付けることができる。   The holding member is, for example, a holder arm, and an element that is flexibly air-mounted is held in the holder arm from at least two sides. The air-mounted element can then be attached to the holder arm using a flexible solid flange.

これに関連して、固体フランジの概念は、低減された曲げ剛性(verminderten Biegesteifigkeit)を有する構成部品の個所と理解され、固体フランジに比較して、明らかに高い曲げ剛性を有している構成部品の隣の領域から限定された個所のことである。このようにして、保持部材とエアマウントされたエレメントは、運動する対(kinematisches Paar)として一体的に例えばマイクロメカニカルな構造化方式によって製造することができる。低減された曲げ剛性は、一般的に局所的に横断面を低減することによって形成される。その際、横断面は、1つの空間方向又は複数の空間方向に沿って低減してもよい。横断面を変える際、種々異なる幾何形状にしてよい。フランジに沿って急激に比較的小さな、しかも所定の区間に亘って一定の値に横断面が低減すると、板ばねフランジが得られる。しかし、横断面は、連続的に変えてもよく、その結果、テーパが、例えば、円弧の形状を有している。   In this context, the concept of a solid flange is understood as the location of a component with reduced bending stiffness (verminderten Biegesteifigkeit), and a component with a clearly higher bending stiffness compared to a solid flange. It is a limited place from the area next to. In this way, the holding member and the air-mounted element can be produced integrally as a moving pair (kinematisches Paar), for example by a micromechanical structuring system. Reduced bending stiffness is generally formed by locally reducing the cross section. At that time, the cross section may be reduced along one spatial direction or a plurality of spatial directions. When changing the cross-section, different geometric shapes may be used. A leaf spring flange is obtained when the cross-section is reduced to a constant value that is relatively small along the flange and over a predetermined section. However, the cross-section may vary continuously so that the taper has, for example, an arc shape.

空気支持体は、フレキシブルにエアマウントされたエレメントで構成されたブローノズルによって構成するとよい。センサと、検査すべき基板表面との間の所定の測定間隔は、ニューマチックな力と、例えば、重量の力(Gewichtskraft)によって生じる力との間の力の平衡状態によって定義することができる。その際、ニューマチックな力は、測定すべき基板表面とフレキシブルにエアマウントされたエレメントとの間の空気流によって形成される。重量の力は、エアマウントされたエレメントとセンサ並びに場合によっては保持部材を有する測定ヘッドの質量に依存している。その際、重量の力とニューマチックな力とは相互に対向しており、その際、ニューマチックな力は、例えば、測定距離を大きくするために空気流を高めることによって高められる。付加的に、対向する力によって、空気支持体の動的な安定性を向上することができる。   The air support may be constituted by a blow nozzle composed of elements that are flexibly air-mounted. The predetermined measurement interval between the sensor and the substrate surface to be inspected can be defined by a force equilibrium between a pneumatic force and a force caused by, for example, a weight force (Gewichtskraft). In this case, the pneumatic force is generated by the air flow between the substrate surface to be measured and the flexibly air-mounted element. The force of weight depends on the mass of the measuring head with air-mounted elements and sensors and possibly holding members. In doing so, the force of weight and the force of the pneumatic are opposed to each other, where the force of the pneumatic is increased, for example, by increasing the air flow in order to increase the measuring distance. In addition, the dynamic stability of the air support can be improved by the opposing forces.

力の平衡状態は、ニューマチックな力と別の力との間でも生じることができ、その結果、重力に関して上の方に配向されていない表面も測定することができる。更に、重量の力として別の力によると、重力に関して下の方に配向されていない基板表面を検査することができる。例えば、真空吸気装置を用いて測定ヘッドを下の方から押圧することによって、そのような基板表面を検査することができ、その際、この場合、測定間隔は、一方では、(a)ニューマチックな力と、測定ヘッドの重力との間の力の平衡状態によって、及び、他方では、(b)ニューマチックな力と、真空吸引部の、上の方に配向された押圧力との間の力の平衡状態によって決められる。当然、測定ヘッドが相応の角度で基板の表面に押圧される限りで、垂直方向の表面であっても、又は、斜めの表面であっても、表面を検査することができる。当然、真空吸気装置として力を形成する別の手段を用いてもよい。   A force equilibrium can also occur between a pneumatic force and another force, so that surfaces that are not oriented upwards with respect to gravity can also be measured. Further, another force as a force of weight can inspect a substrate surface that is not oriented downward with respect to gravity. For example, such a substrate surface can be inspected by pressing the measuring head from below using a vacuum suction device, in which case the measurement interval is, on the other hand, (a) a pneumatic Depending on the balance of force between the normal force and the gravity of the measuring head, and on the other hand, between (b) the pneumatic force and the upwardly oriented pressing force of the vacuum suction part Determined by force balance. Naturally, as long as the measuring head is pressed against the surface of the substrate at a suitable angle, the surface can be inspected, whether it is a vertical surface or an oblique surface. Of course, another means for generating a force may be used as the vacuum suction device.

請求項2記載の本発明の実施例によると、付加的に、保持部材及び/又は検査すべき基板と結合された位置決めシステムを有しており、位置決めシステムにより、センサは、表面に対して相対的に位置決め可能である。   According to an embodiment of the invention as claimed in claim 2, it additionally comprises a positioning system coupled to the holding member and / or the substrate to be inspected so that the sensor is relative to the surface. Positioning is possible.

位置決めシステムは、基板表面に対して相対的にセンサが2次元運動することができる所謂面位置決めシステムにするとよい。その際、基板を2次元に位置決めしてもよく、エアマウントされたエレメント及びセンサを有する保持部材である測定ヘッドを2次元に位置決めしてもよい。   The positioning system may be a so-called surface positioning system in which the sensor can move two-dimensionally relative to the substrate surface. At that time, the substrate may be positioned two-dimensionally, or a measurement head that is a holding member having air-mounted elements and sensors may be positioned two-dimensionally.

位置決めシステムは、基板が第1の方向に沿って可動であり、且つ、測定ヘッドが第2の方向に沿って可動であって、第2の方向を第1の方向に対して角度をもって、有利には垂直方向に配向しているように構成してもよい。このようにして、2つの直線運動を組み合わせて、基板表面を正確に2次元に走査することができるようになる。   The positioning system is advantageous in that the substrate is movable along a first direction and the measuring head is movable along a second direction, the second direction being angled with respect to the first direction. May be configured to be oriented in the vertical direction. In this way, the two linear motions can be combined to accurately scan the substrate surface in two dimensions.

当然、測定ヘッドを、基板に対して相対的に単に1次元で位置決めしてもよい。この場合でも、測定装置乃至測定ヘッドに複数のセンサを用いて、このセンサを例えば一列に配列して、センサを直線状の運動方向に対して角度を成すように、又は、有利には、垂直方向に配向すれば、基板の表面を面状に走査することができる。   Of course, the measuring head may be simply positioned in one dimension relative to the substrate. Even in this case, a plurality of sensors are used in the measuring device or measuring head, and the sensors are arranged, for example, in a line so that the sensors are angled with respect to the linear movement direction, or preferably in the vertical direction. When oriented in the direction, the surface of the substrate can be scanned in a planar shape.

請求項3の本発明の別の実施例によると、測定装置は、付加的に、エアマウントされたエレメントに構成されたフェイルセーフコーティング(Notlaufbeschichtung)を有する。これは、例えば、ブローエア形成装置が故障して、それにより空気支持体が破損することによって、エアマウントされたエレメントと、基板表面とが不所望にも機械的に接触した場合に、検査すべき基板表面は、損なわれないという利点を有している。フェイルセーフコーティングとして、例えば、テフロン膜が適している。   According to another embodiment of the invention as claimed in claim 3, the measuring device additionally has a fail-safe coating (Notlaufbeschichtung) which is configured on the air-mounted element. This should be inspected, for example, if an air-mounted element and the substrate surface are inadvertently in mechanical contact due to failure of the blow-air forming device and thereby damage of the air support. The substrate surface has the advantage that it is not impaired. For example, a Teflon film is suitable as the fail-safe coating.

フェイルセーフコーティングにより、更に、エアマウントされたエレメントに取り付けられたセンサを、基板によって損傷されないように保護することができるという利点が達成される。   The fail-safe coating further achieves the advantage that the sensor attached to the air-mounted element can be protected from being damaged by the substrate.

請求項4によると、測定装置は、付加的に、機械的なバイアス力の下でエアマウントされたエレメントを表面に接近可能であるように構成されたバイアス力形成装置を有する。   According to claim 4, the measuring device additionally comprises a bias force generator configured to allow the air-mounted element to be accessible to the surface under a mechanical bias force.

そのようなバイアス力形成装置を用いると、エアマウントされたエレメントが基板の3次元に成形された表面に特に良好に適合することができるという利点が得られる。このようにして、時間的にも空間的にも、エアマウントされたエレメント乃至測定ヘッドと、検査すべき基板表面との間隔を常に一定にすることができるようになる。従って、多数のセンサを備えた測定ヘッドを用いると、このセンサを、比較的簡単に一定の測定間隔で基板表面上に案内することができる。   With such a bias force forming device, the advantage is obtained that the air-mounted element can be particularly well adapted to the three-dimensionally shaped surface of the substrate. In this way, the distance between the air-mounted element or measuring head and the substrate surface to be inspected can be made constant both in time and space. Therefore, if a measuring head having a large number of sensors is used, this sensor can be guided on the substrate surface at a fixed measurement interval relatively easily.

空気支持体に対して反対方向に作用するバイアス力形成装置は、例えば、磁界形成ユニットを有することができ、その結果、エアマウントされたエレメントは、磁力によって検査すべき基板表面の方向に押圧される。磁界形成ユニットは、例えば、基板の裏側の測定ヘッドの層から設けられた、1つ又は複数の電磁石を有することができる。単数又は複数の電磁石の相応の電流給電時に、フレキシブルにエアマウントされたエレメントに取り付けられている磁気部材によって磁気的な引力が生じる。このようにして、エアマウントされたエレメントは、基板表面に対して、ほぼ平坦に作用する引力を生じることができ、その際、平坦に作用する引力は、上述のニューマチック力と共に力の平衡状態を形成する。測定間隔は、ニューマチック力と磁気引力との間の関係を相応に適合することによって正確に調整することができる。   A bias force forming device acting in the opposite direction relative to the air support can have, for example, a magnetic field forming unit so that the air-mounted element is pressed in the direction of the substrate surface to be inspected by magnetic force. The The magnetic field forming unit can have, for example, one or more electromagnets provided from the layer of the measuring head on the back side of the substrate. A magnetic attractive force is generated by the magnetic member attached to the flexibly air-mounted element during the corresponding current feeding of the electromagnet or magnets. In this way, the air-mounted element can generate an attractive force acting almost flat on the substrate surface, where the flat acting force is in force equilibrium with the aforementioned pneumatic force. Form. The measurement interval can be precisely adjusted by correspondingly fitting the relationship between the pneumatic force and the magnetic attractive force.

請求項5によると、バイアス力形成装置は、真空吸気装置である。真空吸気装置は、ニューマチックなエアマウント力とニューマチックな真空吸気装置とを、簡単に安定した平衡状態に調整して、真空吸引に有利にすることができるという利点を有している。それにより、測定ヘッドを、検査すべき基板表面に、正確に決められた測定間隔で、例えば、10μmで付着することができるようになる。従って、エアマウントされたエレメントの固有のフレキシビリティの結果、測定ヘッド全体を、ほぼ正確に、検査すべき基板表面のコルゲーション(凸凹)に適合させることができる。   According to the fifth aspect, the bias force generation device is a vacuum suction device. The vacuum suction device has an advantage that the pneumatic air mounting force and the pneumatic vacuum suction device can be easily adjusted to a stable equilibrium state to be advantageous for vacuum suction. As a result, the measuring head can be attached to the substrate surface to be inspected at an accurately determined measuring interval, for example, 10 μm. Thus, as a result of the inherent flexibility of air-mounted elements, the entire measuring head can be adapted almost exactly to the corrugation of the substrate surface to be inspected.

ニューマチックバイアス力形成装置を用いると、同様に考え得る、ほぼ均一なバイアス力を形成する別の手段に較べて、バイアス力形成装置を、エアマウントされたエレメントの空気支持用のブローエア形成装置とニューマチックに結合することができるという利点を有している。これは、例えば、ヴェンチュリ管又は他のニューマチック部材を用いることによって行うことができ、その結果、唯一の圧縮空気又は真空形成装置を用いて、エアマウントに必要なブローエアも、ニューマチックなバイアス力に必要な負圧も形成することができる。   Using a pneumatic bias force forming device, the bias force forming device can be considered to be a blow air forming device for air support of an air-mounted element, as compared to another means of creating a substantially uniform bias force, which can also be considered. It has the advantage of being able to bind pneumatically. This can be done, for example, by using a Venturi tube or other pneumatic member, so that using only one compressed air or vacuum forming device, the blow air required for the air mount can also be a pneumatic bias force. It is also possible to form a negative pressure necessary for the above.

請求項6によると、付加的に、エアマウントされたエレメントに構成された少なくとも1つの距離センサを有する。これは、測定装置の作動中、測定間隔を、少なくとも、測定ヘッドの予め決められた個所にコントロールすることができるという利点を有している。従って、例えば、センサによって検出される測定信号の評価の際に間隔情報を考慮することができる。   According to claim 6, it additionally has at least one distance sensor arranged on the air-mounted element. This has the advantage that the measuring interval can be controlled at least to a predetermined location of the measuring head during operation of the measuring device. Thus, for example, the interval information can be taken into account when evaluating the measurement signal detected by the sensor.

有利には、多数の距離センサを用いるとよく、その結果、測定ヘッドの決められた多数の個所で、各々の測定距離を検出することができる。   Advantageously, a large number of distance sensors may be used, so that the respective measuring distances can be detected at a defined number of locations on the measuring head.

請求項7によると、距離センサは、光学的な距離センサ及び/又は容量性の距離センサである。   According to claim 7, the distance sensor is an optical distance sensor and / or a capacitive distance sensor.

光学的な距離センサとして、殊に、共焦点の距離センサが適しており、この共焦点の距離センサは、三角測量の測定原理に基づく距離センサとは異なり、照射及び測定ビームを共軸に案内し、その結果、ラテラル方向に非常に僅かしか拡がっていない容積領域内で距離測定を実施することができる。しかも、共焦点の距離センサの利点は、非常に僅かな測定距離を、高い精度で、即ち、μmの大きさの非常に高い深さ解像度で測定することができる点にある。共焦点の距離センサは、例えば、WO 2005/078383 A1、EP 1398597 A1、又は、DE 19608468 A1に記載されている。この共焦点センサの他に、例えば、高い解像度により、適切な精度を提供する干渉センサを用いてもよい。   A confocal distance sensor is particularly suitable as an optical distance sensor, which, unlike a distance sensor based on the triangulation measurement principle, guides the illumination and measurement beams coaxially. As a result, distance measurements can be performed in a volume region that extends very little in the lateral direction. Moreover, the advantage of the confocal distance sensor is that a very small measuring distance can be measured with high accuracy, ie with a very high depth resolution of the order of μm. Confocal distance sensors are described, for example, in WO 2005/078383 A1, EP 1398597 A1, or DE 19608468 A1. In addition to this confocal sensor, for example, an interference sensor that provides appropriate accuracy with high resolution may be used.

請求項8によると、測定装置は、付加的に、距離センサ及びバイアス力形成装置及び/又は距離センサ及びブローエア発生装置と接続された調整ユニットを有する。これは、閉ループ、つまり、帰還結合を有する調整回路を高さ調整のために形成することができ、その結果、エアマウントされたエレメント乃至測定ヘッドと、検査すべき基板表面との間を常に一定の決められた測定間隔にすることができるようになるという利点を有する。   According to claim 8, the measuring device additionally comprises an adjustment unit connected to the distance sensor and the bias force generator and / or the distance sensor and the blow air generator. This makes it possible to form a closed loop, ie an adjustment circuit with feedback coupling, for height adjustment, so that there is always a constant distance between the air-mounted element or measuring head and the substrate surface to be inspected. It is possible to achieve a predetermined measurement interval.

独立請求項9には、基板の表面の検査用の測定方法が記載されている。この測定方法は、以下のステップを有している:上述の測定装置を基板の表面に対して相対的に移動するステップを有しており、該ステップで、エアマウントされたエレメントの弾性の結果、少なくとも1つのセンサが、表面から所定の測定距離で移動する。   Independent claim 9 describes a measuring method for inspecting the surface of a substrate. This measuring method comprises the following steps: a step of moving the measuring device described above relative to the surface of the substrate, wherein the step results in the elasticity of the air-mounted element. , At least one sensor moves at a predetermined measuring distance from the surface.

本発明の認識は、エアマウントされたエレメントのフレキシビリティの結果、測定装置の測定ヘッドを自動的に基板表面の3次元表面構造に適合させることができる。このようにして、検査すべき表面からの少なくとも1つのセンサの距離を、時間的にも空間的にも一定にすることができるようになる。   The recognition of the invention is that as a result of the flexibility of the air-mounted element, the measuring head of the measuring device can be automatically adapted to the three-dimensional surface structure of the substrate surface. In this way, the distance of the at least one sensor from the surface to be inspected can be made constant both temporally and spatially.

以下、本発明について、図示の有利な実施例を用いて詳細に説明する。 略示した図面において、
図1は、フレキシブル且つニューマチックにバイアス力をかけられたセンサ坦体を、基板の波状に起伏した表面に適合することを横断面で示した図であり、
図2は、図1に示したセンサ坦体の平面図を示す。
In the following, the invention will be described in detail with the aid of the preferred embodiments shown in the drawings. In the schematic drawing,
FIG. 1 is a cross-sectional view showing that a flexible and pneumatic biased sensor carrier conforms to a wavy surface of a substrate,
FIG. 2 shows a plan view of the sensor carrier shown in FIG.

ここで注意したいのは、図面において互いに相応するコンポーネントの参照符号は、最初の数字だけが異なることである。   It should be noted here that the reference numerals of corresponding components in the drawings differ only in the first number.

図1は、本発明の1実施例による測定装置100を示し、この測定装置100は、フレキシブルなセンサ坦体120を有しており、このセンサ坦体120は、面位置決めシステム115を用いて、基板140の検査すべき表面141上を動くことができる。その際、x軸及びy軸によって形成された位置決め平面内で位置決めを行うことができる。   FIG. 1 shows a measuring device 100 according to an embodiment of the invention, which has a flexible sensor carrier 120, which uses a surface positioning system 115, It is possible to move on the surface 141 to be inspected of the substrate 140. At that time, positioning can be performed within a positioning plane formed by the x-axis and the y-axis.

測定装置100は、保持部材110を有しており、この保持部材110は、ここに図示した実施例によると、保持アーム110である。保持アームには、2つの取付部材111が構成されている。各々1つの固体ジョイント(Festkoerpergelenk)112を介して、フレキシブルなセンサ坦体120は、取付部材111と結合されている。固体ジョイント112を用いて、フレキシブルなセンサ坦体120を取り付ける利点は、センサ坦体120及び両取付部材111を一体的に、例えば、マイクロメカニカルな構造化方法によって製造することができる点にある。固体ジョイント112の代わりに、当然、任意の別の懸架乃至機械的な結合部材を用いてもよい。   The measuring device 100 has a holding member 110, which is the holding arm 110 according to the embodiment shown here. Two attachment members 111 are formed on the holding arm. The flexible sensor carrier 120 is coupled to the mounting member 111 via one solid joint (Festkoerpergelenk) 112. The advantage of attaching the flexible sensor carrier 120 using the solid joint 112 is that the sensor carrier 120 and both attachment members 111 can be manufactured integrally, for example, by a micromechanical structuring method. Of course, any other suspended or mechanical coupling member may be used in place of the solid joint 112.

フレキシブルなセンサ坦体120には、複数のセンサ130が装着されており、複数のセンサ130は、x軸に沿って一列に設けられている。各センサ130は、任意のセンサ、例えば、光学、容量性及び/又は誘導性センサである。センサ130を平坦に設けてもよく、その結果、表面141を特に効果的に多数のセンサ130を同時に作動することによって走査することができる。   A plurality of sensors 130 are mounted on the flexible sensor carrier 120, and the plurality of sensors 130 are provided in a line along the x-axis. Each sensor 130 is any sensor, such as an optical, capacitive and / or inductive sensor. The sensors 130 may be provided flat, so that the surface 141 can be scanned particularly effectively by operating a number of sensors 130 simultaneously.

フレキシブルなセンサ坦体120は、更に、図示していないやり方で、ブローエア発生装置132を用いてニューマチックに結合される幾つかのブローエアチャネル131を有している。ブローエアチャネル131に圧縮空気を相応に印加することによって、空気流が形成され、この空気流は、ブローエアチャネル131の下側の開口から、基板表面141の方向に流出する。このようにして、フレキシブルなセンサ坦体120の下側の面と表面141との間に、エアクッションが形成され、このエアクッションは、検査すべき表面141上に、センサ坦体120の空気層を生じる。フレキシブルなセンサ坦体120は、前述の説明と関連して、エアマウンテッドエレメント(luftgelagertes Element)120とも呼ばれる。   The flexible sensor carrier 120 further has several blow air channels 131 that are pneumatically coupled using a blow air generator 132 in a manner not shown. By correspondingly applying compressed air to the blow air channel 131, an air flow is formed, and this air flow flows out from the lower opening of the blow air channel 131 in the direction of the substrate surface 141. In this way, an air cushion is formed between the lower surface of the flexible sensor carrier 120 and the surface 141, and this air cushion is formed on the surface 141 to be inspected on the air layer of the sensor carrier 120. Produce. The flexible sensor carrier 120 is also referred to as an air mounted element 120 in connection with the above description.

検査すべき表面141側の、エアマウントされたエレメント120の側面は、所謂フェイルセーフコーティング(Notlaufbeschichtung)121を有している。ここで説明している実施例によると、フェイルセーフコーティングは、テフロン層121であり、このテフロン層は、ブローエア発生装置132が過誤により故障した場合、センサ130及び/又は基板の表面141が損傷するのを阻止する。   The side surface of the air-mounted element 120 on the side of the surface 141 to be inspected has a so-called fail-safe coating 121. According to the embodiment described here, the fail-safe coating is a Teflon layer 121 that damages the sensor 130 and / or the surface 141 of the substrate if the blow-air generator 132 fails due to an error. To prevent it.

図1から分かるように、分かり易くするために、図1には、基板の表面141の波形は強く誇張して図示している。ここで、エアマウントされたエレメント120は、当該エレメント固有のフレキシビリティ乃至弾性に基づいて、表面141のコルゲーション(凸凹)に適合することができる。このようにして、基板表面141の図示のような波形にも拘わらず、全てのセンサ130は、表面141の上にほぼ同じ測定間隔で位置しているようにすることができる。これは、エアマウントされたエレメント120が、表面141の3次元構造に動的に適合することができる、フレキシブルなセンサ坦体120の運動の場合にも該当する。   As can be seen from FIG. 1, for the sake of easy understanding, the waveform of the surface 141 of the substrate is strongly exaggerated in FIG. Here, the air-mounted element 120 can be adapted to corrugation (irregularity) on the surface 141 based on the inherent flexibility or elasticity of the element. In this way, all sensors 130 can be positioned on the surface 141 at approximately the same measurement interval, regardless of the waveform of the substrate surface 141 as shown. This is also the case for the movement of the flexible sensor carrier 120, in which the air-mounted element 120 can dynamically adapt to the three-dimensional structure of the surface 141.

従って、エアマウントされたエレメント120のために相応の弾性材料を使うと、実際に何ら問題なく、z軸方向に沿って波の山と波の谷との間に50μm〜150μmの最も大きな高さの差がある表面の波形を、フレキシブルにエアマウントされたエレメント120の相応の適合によって補償することができる。その際、エアマウントされたエレメント120の高いフレキシビリティにより、x軸及びz軸に対して平行な面内で、比較的短い距離のコルゲーション(凸凹)に適合させることができる。   Therefore, when using a corresponding elastic material for the air-mounted element 120, there is actually no problem and the largest height of 50 μm to 150 μm between the wave crest and wave trough along the z-axis direction. The corrugated surface can be compensated for by a corresponding adaptation of the flexibly air-mounted element 120. In so doing, the high flexibility of the air-mounted element 120 makes it possible to adapt to corrugations of relatively short distances in a plane parallel to the x-axis and the z-axis.

フレキシブルにエアマウントされたエレメント120が、殊に短い距離のコルゲーション(凸凹)に適合する能力を向上するために、フレキシブルにエアマウントされたエレメント120内に付加的に吸気口133が形成されており、当該吸気口が、図示していないやり方で、ニューマチックに真空形成装置134と結合されている。このようにして、基板140の方向に作用する、フレキシブルなセンサ坦体120の重量の力を別にして、センサ坦体120を基板140の方向に引っ張る吸引力が付加的に形成される。その際、所定の測定距離で、一方では、引張りの重量の力と真空の吸引力との間で、他方では、引張りの重量の力と、ブローエアチャネル231から発生されたブローエアによって形成される、反発作用するエアマウント力との間で、力が平衡する。これら各力の比を相応に選択することによって、個別センサ130と基板表面141との間の測定距離を調整することができる。この理由から、ブローエア発生装置132も真空形成装置134も、調整ユニット137と結合されている。   In order to improve the ability of the flexibly air-mounted element 120 to fit, in particular, short distance corrugations, an inlet 133 is additionally formed in the flexibly air-mounted element 120. The inlet is pneumatically coupled to the vacuum forming device 134 in a manner not shown. In this way, apart from the force of the weight of the flexible sensor carrier 120 acting in the direction of the substrate 140, a suction force for pulling the sensor carrier 120 in the direction of the substrate 140 is additionally formed. In this case, at a predetermined measuring distance, it is formed on the one hand between the tensile weight force and the vacuum suction force, and on the other hand, the tensile weight force and the blow air generated from the blow air channel 231. The force balances with the repelling air mount force. By appropriately selecting the ratio of these forces, the measurement distance between the individual sensor 130 and the substrate surface 141 can be adjusted. For this reason, both the blow air generator 132 and the vacuum forming device 134 are coupled to the adjustment unit 137.

エアマウントされたエレメント120は、例えば、所要のフレキシビリティを有する薄ガラスを用いて構成することができる。フレキシブルにエアマウントされたエレメントは、少なくとも部分的に、例えば、塩化ポリビニール(PVC)のようなプラスチック製、又は、例えば、カーボンファイバ複合材料のようなファイバ強化材料製にするとよい。エアマウントされたエレメント120の製造のために、セラミック、ガラス又はカーボンファイバ複合材料を用いる利点は、これらの各材料を正確に加工することができる点にあり、その結果、ブローエアチャネル131及び/又は吸気口233を、高い精度でフレキシブルなセンサ坦体120内に形成することができる点にある。
殊に、ブローエアチャネル131を、レーザ加工を用いて形成することができる。このようにして、例えば、ブローエアチャネル131を、単に4μmの直径を有するように形成してもよく、その結果、ニューマチックな無駄容積を相応に低減することができる。
The air-mounted element 120 can be configured using, for example, thin glass having a required flexibility. The flexibly air-mounted element may be at least partially made of a plastic such as polyvinyl chloride (PVC), or a fiber reinforced material such as a carbon fiber composite. The advantage of using ceramic, glass or carbon fiber composites for the manufacture of air-mounted elements 120 is that each of these materials can be accurately processed, so that the blow air channel 131 and / or Alternatively, the air inlet 233 can be formed in the flexible sensor carrier 120 with high accuracy.
In particular, the blow air channel 131 can be formed using laser processing. In this way, for example, the blow air channel 131 may be formed to have a diameter of only 4 μm, so that the pneumatic waste volume can be reduced accordingly.

前述の測定装置100は、例えば、半完成品の液晶ディスプレイを検査する際に使用することができる。その際、基板表面上に取り付けられた導体路の構造が検査され、その際、相応の基板が、基板表面141に沿って、300mm〜400mmの大きさのラテラル方向の拡がりを有している。当然、固有のフレキシブルなセンサ坦体120の既述のエアマウントを用いて、別の寸法の基板も検査することができ、その際、フレキシブルなセンサ坦体120の適合能力の結果、常に、全てのセンサ130の場合に、検査すべき表面に対して、ほぼ一定の測定距離にすることができる。   The aforementioned measuring apparatus 100 can be used, for example, when inspecting a semi-finished liquid crystal display. In doing so, the structure of the conductor tracks mounted on the substrate surface is inspected, with the corresponding substrate having a lateral extent of 300 mm to 400 mm along the substrate surface 141. Naturally, it is also possible to inspect substrates of different dimensions using the air mount described above for the unique flexible sensor carrier 120, in which case all of the results of the adaptability of the flexible sensor carrier 120 are always In the case of the sensor 130, a substantially constant measurement distance can be obtained with respect to the surface to be inspected.

既述の測定装置100の利点は、その都度用途に依存して、センサ坦体120を、その都度検査すべき表面141の大きさにスケーリングすることができる点にある。従って、種々異なる検査課題に応じて、使用されているセンサ坦体120のフレキシビリティの結果、検査すべき表面の波形に動的に適合することができる、適切な測定装置100を製造することができる。   The advantage of the measuring device 100 described above is that the sensor carrier 120 can be scaled to the size of the surface 141 to be examined each time, depending on the application. Therefore, according to different inspection tasks, it is possible to produce an appropriate measuring device 100 that can dynamically adapt to the waveform of the surface to be inspected as a result of the flexibility of the sensor carrier 120 being used. it can.

図2は、参照番号220が付けられた図1に図示したセンサ坦体120の平面図を示す。図示の実施例によると、3つのセンサ230は、センサ坦体220内に統合されている。当然、もっと多くのセンサ230を用いてもよく、その結果、並列化した走査によって、基板の表面を特に効率的に、つまり、特に高速で検査することができる。   FIG. 2 shows a plan view of the sensor carrier 120 shown in FIG. According to the illustrated embodiment, three sensors 230 are integrated in the sensor carrier 220. Of course, more sensors 230 may be used, so that parallel scanning allows the surface of the substrate to be inspected particularly efficiently, i.e. at a particularly high speed.

図2から分かるように、各センサ230に、2つの吸気口233及び各センサ230の左側及び右側に設けられた、多数の微細なブローエアチャネル231が対応して設けられている。ここで説明している実施例によると、センサ230の直ぐ横に2つの吸気口233が形成されている。例えば、ブローエアチャネル231は、もっと外側に設けられている。所定の測定間隔で、一方では引張の重力と、真空の吸引力との間、他方では引張の重量の力と、反発作用するエアマウント力との間で、力を平衡させるのに、任意の別の幾何的な配置構成にしてもよいことは当然である。このようにして、比較的短い距離の表面のコルゲーション(凸凹)でも、センサ坦体220を安定した高さで配置することができるようになる。   As can be seen from FIG. 2, each sensor 230 is provided with a large number of fine blow air channels 231 provided on the two intake ports 233 and on the left and right sides of each sensor 230. According to the embodiment described here, two air inlets 233 are formed immediately beside the sensor 230. For example, the blow air channel 231 is provided on the outer side. At a given measurement interval, any force can be used to balance the force between tensile gravity and vacuum suction force on the one hand and tensile weight force on the other hand and the repulsive air mount force. Of course, other geometric arrangements may be used. In this way, the sensor carrier 220 can be arranged at a stable height even with corrugation (irregularities) on the surface of a relatively short distance.

更に図2から分かるように、センサ坦体220内には更に距離センサ235が設けられている。距離センサは、図2に図示していない調整ユニット(図1の参照番号137参照)と接続されており、その結果、各センサと、検査すべき表面との測定距離を、正確に調整し、且つ、測定作動中維持することもできるようになる。各距離センサとして、光学的又は容量性のセンサの距離センサを用いてもよい。光学的な距離センサとして、殊に、共焦点の距離センサが適しており、この共焦点の距離センサは、三角測量の測定原理に基づく距離センサとは異なり、照射及び測定ビームを共軸に案内し、その結果、ラテラル方向に非常に僅かしか拡がっていない容積領域内で距離測定を実施することができる。     Further, as can be seen from FIG. 2, a distance sensor 235 is further provided in the sensor carrier 220. The distance sensor is connected to an adjustment unit (not shown in FIG. 2) (see reference numeral 137 in FIG. 1). As a result, the measurement distance between each sensor and the surface to be inspected is accurately adjusted, It can also be maintained during the measurement operation. As each distance sensor, an optical or capacitive sensor distance sensor may be used. A confocal distance sensor is particularly suitable as an optical distance sensor, which, unlike a distance sensor based on the triangulation measurement principle, guides the illumination and measurement beams coaxially. As a result, distance measurements can be performed in a volume region that extends very little in the lateral direction.

ここで説明している実施例は、本発明の可能な各変形実施例の単に1つしか選択して説明していない。個別の各実施例の各要件を適切なやり方で、相互に組み合わせることもでき、その結果、当業者には、ここに開示した各変形実施例により、種々異なる多数の実施例が開示されているものと見なすことができる。   The embodiment described here is merely an explanation of each possible variant embodiment of the present invention. The requirements of each individual embodiment can also be combined with each other in an appropriate manner, so that a person skilled in the art discloses a number of different embodiments according to each variant disclosed herein. Can be considered.

フレキシブル且つニューマチックにバイアス力をかけられたセンサ坦体を、基板の波状に起伏した表面に適合することを横断面で示した図A cross-sectional view of a flexible and pneumatic biased sensor carrier that fits the wavy surface of the substrate 図1に示したセンサ坦体の平面図Plan view of the sensor carrier shown in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

参照符号一覧
100 測定装置
110 保持部材、保持アーム
111 取付部材
112 固体ジョイント
115 面位置決めシステム
120 エアマウントエレメント、フレキシブルセンサ坦体
121 フェイルセーフコーティング、テフロン層
130 センサ
131 ブローエアチャネル
132 ブローエア発生装置
133 吸気口
134 真空発生装置
137 調整ユニット
140 基板
141 表面
220 エアマウントエレメント、フレキシブルセンサ坦体
230 センサ
231 ブローエアチャネル
233 吸気口
235 距離センサ
Reference Sign List 100 Measuring Device 110 Holding Member, Holding Arm 111 Mounting Member 112 Solid Joint 115 Surface Positioning System 120 Air Mount Element, Flexible Sensor Carrier 121 Fail Safe Coating, Teflon Layer 130 Sensor 131 Blow Air Channel 132 Blow Air Generator 133 Intake Port 134 Vacuum generator 137 Adjustment unit 140 Substrate 141 Surface 220 Air mount element, flexible sensor carrier 230 Sensor 231 Blow air channel 233 Air intake port 235 Distance sensor

Claims (9)

基板(140)の表面(141)の検査用の測定装置において、
測定装置は、
保持部材(110)と、
エアマウントされたエレメント(120,220)を有しており、
前記保持部材(110)と前記エアマウントされたエレメントはフレキシブルに結合されており、前記エアマウントされたエレメントは前記基板(140)の表面(141)から所定の距離をもって可動であり、
前記エアマウントされたエレメント(120,220)は、前記基板(140)の検査すべき表面(141)と共に、空気支持体を形成可能であり
記エアマウントされたエレメント(120,220)は弾性を有しており、前記表面(141)の起伏に適合可能であり、
少なくとも1つのセンサ(130,230)を有しており、
前記センサ(130,230)は、前記エアマウントされたエレメント(120,220)に取り付けられており、前記基板(140)の前記表面(141)を検査するように構成されていることを特徴とする測定装置。
In the measuring device for inspecting the surface (141) of the substrate (140),
Measuring equipment
A holding member (110);
Air-mounted elements (120, 220),
The holding member (110) and the air-mounted element are flexibly coupled, and the air-mounted element is movable at a predetermined distance from the surface (141) of the substrate (140),
The air mounted element (120, 220), the inspection with a surface (141) to be pre-Symbol substrate (140) is capable of forming an air support,
Before SL air mounted element (120, 220) has a resilient, is adaptable to undulations of the surface (141),
Having at least one sensor (130, 230);
Characterized in that said sensor (130, 230) is configured such that the attached to the air-mounted element (120, 220), inspects the surface (141) of the previous SL substrate (140) A measuring device.
付加的に、
保持部材(110)及び/又は検査すべき基板(140)と結合された位置決めシステム(115)を有しており、
前記位置決めシステム(115)により、センサ(130,230)は、表面(141)に対して相対的に位置決め可能である請求項1記載の測定装置。
In addition,
A positioning system (115) coupled to the holding member (110) and / or the substrate (140) to be inspected;
The measuring device according to claim 1, wherein the positioning system (115) allows the sensors (130, 230) to be positioned relative to the surface (141).
付加的に、
エアマウントされたエレメント(120)に構成された、フェイルセーフコーティング(Notlaufbeschichtung)(121)を有する請求項1又は2記載の測定装置。
In addition,
3. The measuring device according to claim 1 or 2, further comprising a fail-safe coating (121) configured on the air-mounted element (120).
付加的に、
エアマウントされたエレメント(120,220)を、機械的なバイアス力の下で表面(141)に接近可能であるように構成されたバイアス力形成装置(133,134,233)を有する請求項1から3迄の何れか1記載の測定装置。
In addition,
The air-mounted element (120, 220) has a bias force forming device (133, 134, 233) configured to be accessible to the surface (141) under a mechanical bias force. The measuring device according to any one of 1 to 3.
バイアス力形成装置は、真空吸気装置(133,134,233)である請求項4記載の測定装置。  The measuring device according to claim 4, wherein the bias force generating device is a vacuum suction device (133, 134, 233). 付加的に、
エアマウントされたエレメント(220)に構成された少なくとも1つの距離センサ(235)を有する請求項4又は5記載の測定装置。
In addition,
6. Measuring device according to claim 4 or 5, comprising at least one distance sensor (235) arranged on an air-mounted element (220).
距離センサは、光学的な距離センサ(235)及び/又は容量性の距離センサである請求項6記載の測定装置。  7. The measuring device according to claim 6, wherein the distance sensor is an optical distance sensor (235) and / or a capacitive distance sensor. 付加的に、
距離センサ(235)及びバイアス力形成装置(133,134,233)及び/又は前記距離センサ(235)及びブローエア発生装置(131,132,231)と接続された調整ユニット(137)を有する請求項6又は7記載の測定装置。
In addition,
A distance sensor (235) and a bias force generator (133, 134, 233) and / or an adjustment unit (137) connected to the distance sensor (235) and blow air generator (131, 132, 231). 6. The measuring device according to 6 or 7.
基板(140)の表面(141)の検査用の測定方法において、測定方法は、
請求項1から迄の何れか1記載の測定装置(100)を基板(140)の表面(141)に対して相対的に移動するステップを有しており、該ステップで、前記少なくとも1つのセンサ(130,230)は、前記エアマウントされたエレメント(120,220)弾性を有しているおかげで、前記表面(141)との間に所定の測定距離をもって移動されることを特徴とする測定方法。
In the measuring method for inspecting the surface (141) of the substrate (140), the measuring method is:
A step of moving the measuring device (100) according to any one of claims 1 to 8 relative to the surface (141) of the substrate (140), wherein said at least one sensor (130, 230), said thanks to air mounted element (120, 220) has a resilient, and characterized in that it is moved at a predetermined measurement distance between said surface (141) Measuring method to do.
JP2009508395A 2006-11-16 2007-11-06 Measuring apparatus and measuring method for inspection of substrate surface Expired - Fee Related JP4922396B2 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006054088A DE102006054088A1 (en) 2006-11-16 2006-11-16 Measuring device and measuring method for inspecting a surface of a substrate
DE102006054088.3 2006-11-16
PCT/EP2007/061936 WO2008058869A2 (en) 2006-11-16 2007-11-06 Measuring device and measuring method for inspecting the surface of a substrate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009535632A JP2009535632A (en) 2009-10-01
JP4922396B2 true JP4922396B2 (en) 2012-04-25

Family

ID=39311198

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009508395A Expired - Fee Related JP4922396B2 (en) 2006-11-16 2007-11-06 Measuring apparatus and measuring method for inspection of substrate surface

Country Status (6)

Country Link
EP (1) EP2092350A2 (en)
JP (1) JP4922396B2 (en)
KR (1) KR101014121B1 (en)
CN (1) CN101432628B (en)
DE (1) DE102006054088A1 (en)
WO (1) WO2008058869A2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010020011A1 (en) 2010-05-10 2011-11-10 Siemens Aktiengesellschaft Constant-voltage sensor
CN102221354B (en) * 2011-04-02 2013-01-09 中南大学 Method for measuring surface harshness of multi-measuring-point floating positioning
KR101729454B1 (en) * 2013-07-22 2017-04-21 제트에스-핸들링 게엠베하 Device for inspecting workpiece surfaces and strip materials
CN108398114B (en) * 2018-02-12 2020-09-18 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 Device, system and method for measuring curvature of edge of curved cover plate
CN108375608A (en) * 2018-03-12 2018-08-07 昆山国显光电有限公司 Substrate detection apparatus

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6219752A (en) * 1985-07-05 1987-01-28 チセンインダストリ− ア−ゲ− Surface inspection device
JPH08233560A (en) * 1995-02-23 1996-09-13 Hitachi Maxell Ltd Method and apparatus for inspecting surface of magnetic recording medium
JP2001296278A (en) * 2000-04-13 2001-10-26 Nkk Corp Metal body inspection device
JP2004191220A (en) * 2002-12-12 2004-07-08 Nippon Steel Corp Internal defect detector for steel sheet
JP2005043172A (en) * 2003-07-28 2005-02-17 Jfe Steel Kk Flaw detection device and sensor retraction method
JP2006242860A (en) * 2005-03-04 2006-09-14 Oht Inc Inspection device and inspection method

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4824248A (en) * 1987-12-21 1989-04-25 Environmental Research Institute Of Michigan Stabilized sensor device
US5085517A (en) * 1989-10-31 1992-02-04 Chadwick Curt H Automatic high speed optical inspection system
US6046596A (en) * 1996-11-13 2000-04-04 Seagate Technology, Inc. Capacitance probe for magnetic recording head transducer to disc surface spacing measurement
SG142160A1 (en) * 2001-03-19 2008-05-28 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing a semiconductor device
TWI222423B (en) * 2001-12-27 2004-10-21 Orbotech Ltd System and methods for conveying and transporting levitated articles
AU2003300262A1 (en) * 2002-12-19 2004-07-14 Ciba Specialty Chemicals Holding Inc. Phthalimidylazo dyes, processes for the preparation thereof and the use thereof
US7215133B2 (en) * 2004-01-30 2007-05-08 International Business Machines Corporation Contactless circuit testing for adaptive wafer processing
DE102005046154B4 (en) * 2005-09-27 2008-07-03 Siemens Ag Measuring device and measuring system for inspecting a surface of a substrate

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6219752A (en) * 1985-07-05 1987-01-28 チセンインダストリ− ア−ゲ− Surface inspection device
JPH08233560A (en) * 1995-02-23 1996-09-13 Hitachi Maxell Ltd Method and apparatus for inspecting surface of magnetic recording medium
JP2001296278A (en) * 2000-04-13 2001-10-26 Nkk Corp Metal body inspection device
JP2004191220A (en) * 2002-12-12 2004-07-08 Nippon Steel Corp Internal defect detector for steel sheet
JP2005043172A (en) * 2003-07-28 2005-02-17 Jfe Steel Kk Flaw detection device and sensor retraction method
JP2006242860A (en) * 2005-03-04 2006-09-14 Oht Inc Inspection device and inspection method

Also Published As

Publication number Publication date
EP2092350A2 (en) 2009-08-26
WO2008058869A3 (en) 2008-07-24
JP2009535632A (en) 2009-10-01
KR20090016449A (en) 2009-02-13
CN101432628B (en) 2012-10-03
KR101014121B1 (en) 2011-02-14
WO2008058869A2 (en) 2008-05-22
CN101432628A (en) 2009-05-13
DE102006054088A1 (en) 2008-05-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI442067B (en) Methods for improved stabilization in a probing system and the probing system
JP4922396B2 (en) Measuring apparatus and measuring method for inspection of substrate surface
KR101344869B1 (en) High precision gas bearing split-axis stage for transport and constraint of large flat flexible media during processing
JP4573794B2 (en) Probe card and microstructure inspection device
WO2007135857A1 (en) Probe for shape measuring apparatus, and shape measuring apparatus
JP2009051654A (en) Substrate carrying device and substrate inspection device
JP2009192492A (en) Method for measuring front and back surfaces of target object
KR20150111280A (en) Positioning device in gantry type of construction
KR102112995B1 (en) High throughput scanning probe microscopy device
TW201140727A (en) Inspection apparatus
KR100663939B1 (en) Long range stage with full stroke nano resolution for high vacuum
KR102059320B1 (en) High throughput microscopy device
JP4402078B2 (en) Stage equipment
KR100679131B1 (en) Substrate processing apparatus
CN116295105B (en) Optical interference type micro-machined wafer surface morphology measuring device and measuring method
JP4449299B2 (en) Substrate holder, substrate tray, stage device, exposure device
JP2005300177A (en) Scanning probe microscope and lithographic apparatus
JP4940242B2 (en) Measuring system for inspecting the surface of a substrate
JP2019015612A (en) Gate-shaped movement device and three-dimensional measurement machine
JP5500653B2 (en) Position measuring device
JP2010066242A (en) Substrate inspection device and substrate inspection method
JP4705875B2 (en) Cable support guide device in working device
KR20100002489A (en) Testing apparatus of load and testing method using the same
JP2015081993A (en) Stage device, exposure apparatus and device production method
CN218824367U (en) Z-direction coarse positioning assembly and atomic force microscope adopting same

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101228

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101227

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110203

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110316

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110616

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120106

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150210

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees