JP4915522B2 - 図形処理装置 - Google Patents
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Description
段に表示させるものである。
図1はこの発明を実施するための第1の実施形態における図形処理装置のシステムの全体構成を示すブロック図、図2は不具合形状記憶手段に格納された不具合形状の検出方法を説明するための説明図であり、(a)は3次元モデルの一例を示す図、(b)は(a)に示す3次元モデルを要素単位で示す図、図3は図2に示す不具合形状に対応する処理を説明するための説明図であり、(a)は不具合形状の頂点近傍をハイライト表示した一例を示す概念図、(b)は処置候補の一例を示す図、図4は不具合形状記憶手段に格納された他の不具合形状の検出方法を説明するための説明図であり、(a)は3次元モデルの一例を示す図、(b)は(a)に示す3次元モデルをメッシュで示す図、図5は図4に示す不具合形状に対応する処理を説明するための説明図であり、(a)は不具合形状の頂点近傍をハイライト表示した一例を示す概念図、(b)は処置候補の一例を示す図、図6は不具合形状記憶手段に格納されたさらに他の不具合形状の検出方法を説明するための説明図であり、(a)は3次元モデルの一例を示す図、(b)は(a)に示す3次元モデルのうち同一の半径値のエッジをグルーピングした図、図7は図6に示す不具合形状に対応する処理を説明するための説明図であり、(a)は不具合形状の頂点近傍をハイライト表示した一例を示す概念図、(b)は処置候補の一例を示す図、図8は表示手段に表示される表示画面の一例を示す説明図であり、(a)は3次元モデルにフィレット形状を作成する前段階の図、(b)は(a)に示す3次元モデルの不具合形状の頂点近傍をハイライト表示した概念図、図9はこの発明を実施するための第1の実施形態における図形処理装置の動作を示すフローチャート図である。
まず、3次元モデル10の全てのフェース1を検索する(図2(a))。
そして、各フェース1のエッジ2及び頂点3の座標を取得する(図2(b))。この場合に、隣接するフェース間で共有するエッジ2は、各フェース1の仮想エッジ2aを1対として構成し、頂点3は、各フェースの仮想頂点3aが複数集合し構成している。
また、他の不具合形状としては、フェース1が縮退部4を持つ曲面であり、この縮退部4の一端である頂点3と他端である頂点3との距離が、許容値(例えば、0.01mm)より小さい形状である。この不具合形状を検出する方法を、図4を用いて説明する。
そして、縮退部4を持つ曲面であるフェース1は、U方向を示すUワイヤとV方向を示すVワイヤとからなるメッシュとする(図4(b))。
そして、U=0におけるV=0及びV=1の頂点3の座標から、U=0におけるV=0及びV=1の頂点3間の距離を算出すると共に、U=1におけるV=0及びV=1の頂点3の座標から、U=1におけるV=0及びV=1の頂点3間の距離を算出する。この算出した距離が許容値より小さいのであれば、縮退部4の一端である頂点3と他端である頂点3との距離が、許容値より小さい不具合形状として検出する。
そして、同一の半径値R(図6(b)では、半径値R20)のエッジ2をグルーピングする。
そして、グループ化されたエッジ2に頂点3を介して接続している他のエッジ2の半径値R(図6(b)では、半径値R10)を取得し、グループ化されたエッジ2の半径値Rに対して、半径値Rが小さいのであれば、頂点3を介して同一の半径値Rで隣接するエッジ2の半径値Rに対して、この頂点3を一端とする他のエッジ2の半径値Rが小さい不具合形状として検出する。
不具合対策記憶手段50は、後述する判定手段70によって前述した不具合形状に該当すると判定した頂点3における不具合形状に対する処置候補を格納する。
まず、判定手段70は、3次元CADデータ記憶手段30に予め格納されている、3次元CADで作成した3次元モデル10の3次元CADデータを取得する(ステップS1)。
そして、3次元モデル10上の全てのフェース1を検索し(ステップS2)、各フェース1のエッジ2及び頂点3の座標をそれぞれ取得する(ステップS3)。
そして、取得した各フェース1のエッジ2及び頂点3の座標並びにエッジ2及びそのエッジ2の半径値Rから、不具合形状を検索し、不具合形状記憶手段40に格納された不具合形状テーブルと照合する(ステップS5)。
ステップS6で、不具合形状を検出したと判断した場合には、不具合形状に該当する頂点3近傍を表示手段80の表示画面にハイライト表示する。なお、不具合形状に対応する処置候補があれば、不具合対策記憶手段50に格納している処置候補を、表示手段80の表示画面に表示する。
そして、不具合形状に該当する頂点3を一端とするエッジ2の半径値を変更するか否かを判断する(ステップS8)。
そして、フィレット形状を作成することにより、不具合形状テーブルに登録されていない新規の不具合形状が発生したか否かを判断する(ステップS11)。
また、ステップ11で、新規の不具合形状が発生しなかったと判断した場合には、フィレット形状の作成処理を終了する。
[付記] 上記実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
2 エッジ
2a 仮想エッジ
3 頂点
3a 仮想頂点
4 縮退部
10 3次元モデル
20 入力手段
30 3次元CADデータ記憶手段
40 不具合形状記憶手段
50 不具合対策記憶手段
60 フィレット形状作成手段
70 判定手段
80 表示手段
Claims (7)
- 3次元モデルの隣接する2つのフェースが交わる部分であるエッジに対してフィレット形状を作成する図形処理装置において、
前記エッジを指定し半径値を入力するための入力手段と、
3次元CADで作成した3次元CADデータを格納する3次元CADデータ記憶手段と、
前記フィレット形状を作成することにより、前記エッジが2本以上で交わる部分である頂点における不具合を発生させる形状を不具合形状テーブルとして格納する不具合形状記憶手段と、
前記3次元CADデータ記憶手段又は入力手段から前記エッジ若しくは頂点の座標又は半径値を取得し、前記不具合形状記憶手段に格納する不具合形状テーブルと比較して、前記頂点における形状が不具合形状に該当するか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段による判定結果を表示する表示手段と、
を備えていることを特徴とする図形処理装置。 - 前記請求項1に記載の図形処理装置において、
前記表示手段が、前記不具合形状に該当すると判定した頂点近傍を変色又は点滅させてハイライト表示することを特徴とする図形処理装置。 - 前記請求項1又は2に記載の図形処理装置において、
前記不具合形状テーブルに登録された不具合形状が、同一の頂点を一端とするエッジが4本以上存在する形状であることを特徴とする図形処理装置。 - 前記請求項1又は2に記載の図形処理装置において、
前記不具合形状テーブルに登録された不具合形状が、前記フェースが縮退部を持つ曲面であり、当該縮退部の一端である頂点と他端である頂点との距離が0.01mmより小さい形状であることを特徴とする図形処理装置。 - 前記請求項1又は2に記載の図形処理装置において、
前記不具合形状テーブルに登録された不具合形状が、前記頂点を介して同一の半径値で隣接するエッジの当該半径値に対して、当該頂点を一端とする他のエッジの半径値が小さい形状であることを特徴とする図形処理装置。 - 前記請求項1又は2に記載の図形処理装置において、
前記不具合形状テーブルに登録された不具合形状が、前記3次元モデルの表面に対して凸部となるエッジと前記3次元モデルの表面に対して凹部となるエッジとが同一の頂点を一端とし、当該凸部となるエッジの半径値が、当該凹部となるエッジの半径値と比較して、大きい形状であることを特徴とする図形処理装置。 - 前記請求項1乃至6のいずれかに記載の図形処理装置において、
前記頂点における不具合形状に対する処置候補を格納する不具合対策記憶手段を備え、
前記判定手段が、前記判定結果に対応する処置候補を不具合対策記憶手段から抽出し、当該処置候補を前記表示手段に表示させることを特徴とする図形処理装置。
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