JP4882393B2 - ビット誤り率測定器 - Google Patents
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Description
Margin Measurement In Optical Amplifier(IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS,VOL.5,NO3,MARCH 1993) 横河技報、Vol49、No.2(2005)、p67−70
2 ディレイコントローラ
3 Dタイプフリップフロップ(D−FF)
4 基準データパターン発生器
5 XORゲート
6 ビットエラーカウンタ
10 周波数モニタ
11 位相演算部
Claims (3)
- データを入力端子に受けてクロックによりそのデータを再生するデータ再生回路と、
クロックを遅延させて前記データ再生回路のクロック入力端子に与えるディレイ回路と、
該ディレイ回路の遅延量を制御するディレイコントローラと、
入力データに対応する基準データパターンを発生する基準データパターン発生器と、
前記データ再生回路の出力をその一方の入力端子に、前記基準データパターン発生器からの基準データパターンを他方の入力端子に受けてその排他的論理和をとる論理回路と、
該論理回路の出力をカウントするビットエラーカウンタと、
該ビットエラーカウンタの出力を受けてビットエラーレートからQファクタへの変換を行なうQファクタ変換器と、
該Qファクタ変換器のQ出力を受けて、得られたQ値の線形近似直線を求め、クロック位相の最適値を求めて前記ディレイコントローラにクロック位相の最適値を与える位相演算部と、
前記クロックを入力して求めた周波数から周期を算出し、その周期を前記ディレイコントローラ及び前記位相演算部に与える周波数モニタと、
を有することを特徴とするビット誤り率測定器。 - 前記位相演算部は、ビットエラーレートの近似直線が所定の閾値を上から下へ、及び下から上へ横切る点を基にクロック位相の最適値を算出することを特徴とする請求項1記載のビット誤り率測定器。
- 前記位相演算部は、Q値に基づき互いに交わる2つの近似直線を求め、これら得られた2つのQ値の近似直線が互いに交わる点のクロック位相を基にクロック位相の最適値を算出することを特徴とする請求項1記載のビット誤り率測定器。
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