JP4866589B2 - Plating material, polyamic acid solution, polyimide resin solution used for the plating material, and printed wiring board using the same - Google Patents

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Description

本発明は、無電解めっきを施す際に好適に使用することができるめっき用材料、該めっき用材料に用いるポリアミド酸溶液、ポリイミド樹脂溶液であり、特にはプリント配線板用の製造等に好適に用いることができる溶液及びめっき用材料とそれを用いてなるプリント配線板に関するものである。   The present invention is a plating material that can be suitably used for electroless plating, a polyamic acid solution and a polyimide resin solution used for the plating material, and particularly suitable for production of printed wiring boards. The present invention relates to a solution that can be used, a plating material, and a printed wiring board using the same.

電気エネルギーを用いずに、金属塩の水溶液中に還元剤を入れておき、その分解による還元作用で金属を基材上に析出せしめる無電解めっきは、各種プラスチック、ガラス、セラミック、木材などの絶縁性材料表面の機能化のために広く適用されている技術である。例えば、ABS樹脂やポリプロピレン樹脂に無電解めっきを施し、自動車のグリルやマーク類、家電製品のツマミ類などの部品とする装飾めっきや、プリント配線板のスルーホールめっきのような機能めっきを挙げることができる。   Electroless plating, in which a reducing agent is placed in an aqueous solution of a metal salt without using electrical energy, and the metal is deposited on the substrate by the reducing action of its decomposition, is the insulation of various plastics, glass, ceramics, wood, etc. This technique is widely applied to functionalize the surface of the conductive material. For example, apply electroless plating to ABS resin or polypropylene resin, and use functional plating such as decorative plating for parts such as grills and marks for automobiles, knobs for household appliances, and through-hole plating for printed wiring boards. Can do.

しかし、無電解めっきは上記各種材料表面との接着性が低い場合が多い。特に、上述したプリント配線板の製造に適用した場合、無電解めっき皮膜と絶縁材料との接着性は低いことが課題であった。特に、絶縁材料に直接金属層を形成する方法として、無電解めっき皮膜を形成する方法を用いた場合、表面粗度が小さい平滑な表面を有する絶縁材料に対して、無電解めっきを強固に接着するのは非常に困難であった。   However, electroless plating often has low adhesion to the surfaces of the various materials. In particular, when applied to the production of the above-described printed wiring board, the problem is that the adhesion between the electroless plating film and the insulating material is low. In particular, when a method of forming an electroless plating film is used as a method for directly forming a metal layer on an insulating material, the electroless plating is firmly adhered to an insulating material having a smooth surface with a small surface roughness. It was very difficult to do.

これは、無電解めっきが、主にパラジウム等の触媒を介して堆積するように形成されるためであると考えられるからである。したがって、表面粗度が小さい樹脂表面に形成した回路配線との接着性を改善するには、ポリイミドフィルム表面に何らかの下地金属層を、蒸着、スパッタリング等の物理的方法で形成し、その上に良導電材である銅を形成する必要があった(特許文献2を参照)。   This is because it is considered that the electroless plating is formed so as to be deposited mainly via a catalyst such as palladium. Therefore, in order to improve the adhesion to the circuit wiring formed on the resin surface having a small surface roughness, a certain underlying metal layer is formed on the polyimide film surface by a physical method such as vapor deposition or sputtering, and the good condition is obtained. It was necessary to form copper as a conductive material (see Patent Document 2).

一方、例えば、表面に配線を形成したプリント配線板などを製造する際、絶縁材料上に無電解めっき皮膜を形成する場合、できるだけ平滑な表面に、強固に無電解めっき皮膜が形成されていることが非常に望ましい。   On the other hand, for example, when producing an electroless plating film on an insulating material when manufacturing a printed wiring board having a wiring formed on the surface, the electroless plating film is firmly formed on the smoothest surface as possible. Is highly desirable.

上記課題を解決するため、プリント配線板に用いられる絶縁性の樹脂材料は、様々な手法で表面を粗化させ、いわゆるアンカー効果によって無電解めっき皮膜との接着性を得ていた(例えば特許文献1参照)。しかし、接着性を良好なものとするためには、材料表面の粗度を大きくする必要があり、表面粗度が小さい場合には無電解めっき皮膜と樹脂材料との接着性は低いため、微細配線形成には限界があった。
特開2000−198907号公報(平成12(2000)年7月18日公開) 特開平8−330728号公報(平成8(1996)年12月13日公開)
In order to solve the above problems, insulating resin materials used for printed wiring boards have roughened the surface by various methods, and have obtained adhesion to the electroless plating film by a so-called anchor effect (for example, Patent Documents) 1). However, in order to improve the adhesion, it is necessary to increase the roughness of the material surface. When the surface roughness is small, the adhesion between the electroless plating film and the resin material is low. There was a limit to wiring formation.
Japanese Unexamined Patent Publication No. 2000-198907 (published July 18, 2000) JP-A-8-330728 (published on December 13, 1996)

背景技術で説明したように、表面粗度が小さい場合でも絶縁性の樹脂材料と無電解めっき皮膜との接着性が高く、且つめっきを施す表面全体に良好に無電解めっきを形成できるめっき用材料は未だ見出されていない。   As explained in the background art, even when the surface roughness is small, the plating material has high adhesion between the insulating resin material and the electroless plating film and can form the electroless plating well on the entire surface to be plated. Has not yet been found.

従って、本発明は、上記従来の問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、無電解めっきを施すための層を有するめっき用材料であって、該無電解めっきを施すための層として、特定のポリイミド樹脂を用いるとともに、層Aの粘着力を規定することによって、層Aの表面粗度が小さいにもかかわらず、この材料を用いて無電解めっきを施した際の、無電解めっきと各種材料間との接着性を向上させ、且つ良好に無電解めっきせしめるためのめっき用材料を提供することにあり、特に各種プリント配線板の製造等に好適に用いることができ、さらには微細配線形成が要求されるフレキシブルプリント配線板、リジッドプリント配線板、多層フレキシブルプリント配線板、多層リジッド配線板やビルドアップ配線板等のプリント配線板用の製造等に好適に用いることができる溶液、めっき用材料とそれを用いてなるプリント配線板を提供することにある。   Accordingly, the present invention has been made to solve the above-described conventional problems, and an object of the present invention is a plating material having a layer for applying electroless plating, and applying the electroless plating. When a specific polyimide resin is used as a layer for this purpose and the adhesive strength of the layer A is defined, the surface roughness of the layer A is small, but electroless plating is performed using this material. In order to improve the adhesion between electroless plating and various materials and to provide a plating material for good electroless plating, it can be suitably used particularly for the production of various printed wiring boards. Furthermore, flexible printed wiring boards, rigid printed wiring boards, multilayer flexible printed wiring boards, multilayer rigid wiring boards, build-up wiring boards, etc. that require fine wiring formation are required. The solution can be suitably used for manufacturing such a wiring board, it is to provide a plating material and the printed wiring board using the same.

本発明者等は、上記課題に鑑み鋭意検討を行った結果、下記のめっき用材料により、上記課題が解決しうることを見出した。すなわち、本発明は、産業上有用な以下の発明(1)〜(6)を包含する。   As a result of intensive studies in view of the above problems, the present inventors have found that the above problems can be solved by the following plating materials. That is, the present invention includes the following industrially useful inventions (1) to (6).

(1)無電解めっきを施すための層Aを少なくとも有するめっき用材料であって、層Aは下記一般式(1)〜(6)   (1) A plating material having at least a layer A for performing electroless plating, wherein the layer A has the following general formulas (1) to (6)

Figure 0004866589
Figure 0004866589

(式中、RおよびRは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価の芳香族基を表す。また、Rは、アルキル基、フェニル基、アルコキシ基、またはフェノキシ基を表し、Rは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価のフェニレン基を表す。さらに、n=3〜100であり、mは1以上の整数である。)
のいずれかで表される構造のうち、1つ以上の構造を有するポリイミド樹脂を含有するとともに、該層Aの表面粗さは、カットオフ値0.002mmで測定した算術平均粗さRaで0.5μm未満となっており、且つ該層Aの表面の引き剥がし粘着力が1.0N/25mm以下であることを特徴とするめっき用材料。
(Wherein R 1 and R 3 represent a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent aromatic group. R 4 represents an alkyl group, a phenyl group, an alkoxy group, Or a phenoxy group, wherein R 2 represents a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent phenylene group, n = 3 to 100, and m is an integer of 1 or more. is there.)
In addition to containing a polyimide resin having one or more structures among the structures represented by any of the above, the surface roughness of the layer A is 0 as the arithmetic average roughness Ra measured at a cutoff value of 0.002 mm. A plating material having a thickness of less than 5 μm and a peel adhesion of the surface of the layer A of 1.0 N / 25 mm or less.

(2)無電解めっきが、無電解銅めっきであることを特徴とする(1)に記載のめっき用材料。   (2) The plating material according to (1), wherein the electroless plating is electroless copper plating.

(3)(1)に記載の層A上に、無電解めっきが施されてなることを特徴とする積層体。   (3) A layered product obtained by electroless plating on layer A according to (1).

(4)(1)または(2)に記載のめっき用材料を用いてなるプリント配線板。   (4) A printed wiring board using the plating material according to (1) or (2).

(5)下記一般式(1)〜(6)   (5) The following general formulas (1) to (6)

Figure 0004866589
Figure 0004866589

(式中、RおよびRは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価の芳香族基を表す。また、Rは、アルキル基、フェニル基、アルコキシ基、またはフェノキシ基を表し、Rは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価のフェニレン基を表す。さらに、n=3〜100であり、mは1以上の整数である。)
のいずれかで表される構造のうち、1つ以上の構造を有するポリイミド樹脂を含有する溶液であって、(1)に記載の層Aを形成するために用いることを特徴とするポリイミド樹脂溶液。
(Wherein R 1 and R 3 represent a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent aromatic group. R 4 represents an alkyl group, a phenyl group, an alkoxy group, Or a phenoxy group, wherein R 2 represents a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent phenylene group, n = 3 to 100, and m is an integer of 1 or more. is there.)
Among the structures represented by any of the above, a polyimide resin solution containing a polyimide resin having one or more structures, which is used for forming the layer A according to (1) .

(6)下記一般式(1)〜(6)   (6) The following general formulas (1) to (6)

Figure 0004866589
Figure 0004866589

(式中、RおよびRは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価の芳香族基を表す。また、Rは、アルキル基、フェニル基、アルコキシ基、またはフェノキシ基を表し、Rは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価のフェニレン基を表す。さらに、n=3〜100であり、mは1以上の整数である。)
のいずれかで表される構造のうち、1つ以上の構造を有するポリアミド酸を含有する溶液であって、(1)に記載の層Aを形成するために用いることを特徴とするポリアミド酸溶液。
(Wherein R 1 and R 3 represent a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent aromatic group. R 4 represents an alkyl group, a phenyl group, an alkoxy group, Or a phenoxy group, wherein R 2 represents a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent phenylene group, n = 3 to 100, and m is an integer of 1 or more. is there.)
A solution containing a polyamic acid having one or more structures among the structures represented by any of the above, wherein the polyamic acid solution is used to form the layer A according to (1) .

本発明では、無電解めっきを施すための層Aを有し、且つ該層Aに特定の構造を有するポリイミド樹脂を用い、且つ層Aの粘着力を規定することによって、特に表面粗度が小さいにもかかわらず無電解めっき層との接着強度が高く、他の各種材料との接着性にも優れ、回路形成性に優れた材料とすることができる。よって、無電解めっきを施したい材料表面に、まず本発明のめっき用材料を形成し、その後無電解めっきを施せば、本発明のめっき用材料が層間接着剤の役割を果たすことにより、無電解めっきと材料間とが強固に接着するという利点を有する。また、本発明のめっき用材料はポリイミド樹脂を含有することにより耐熱性に優れたものとなるため、各種プリント配線板の製造に好適に用いることができ、さらには、特に表面粗化を実施せずとも無電解めっき層との接着強度が高いという利点を生かして、微細配線形成が要求されるフレキシブルプリント配線板、リジッドプリント配線板、多層フレキシブルプリント配線板、多層リジッド配線板やビルドアップ配線板等のプリント配線板用の製造等に好適に用いることができるという効果も奏する。   In the present invention, the surface roughness is particularly small by having a layer A for performing electroless plating, using a polyimide resin having a specific structure for the layer A, and defining the adhesive strength of the layer A. Nevertheless, the adhesive strength with the electroless plating layer is high, the adhesiveness with other various materials is excellent, and the material with excellent circuit formability can be obtained. Therefore, if the plating material of the present invention is first formed on the surface of the material to be electrolessly plated and then electroless plating is performed, the plating material of the present invention plays the role of an interlayer adhesive. There is an advantage that the plating and the material are firmly bonded. In addition, since the plating material of the present invention has excellent heat resistance by containing a polyimide resin, it can be suitably used for the production of various printed wiring boards, and in particular, surface roughening should be performed. Flexible printed wiring boards, rigid printed wiring boards, multilayer flexible printed wiring boards, multilayer rigid wiring boards, and build-up wiring boards that require fine wiring formation, taking advantage of the high adhesive strength with the electroless plating layer The effect that it can use suitably for manufacture for printed wiring boards, etc. is also produced.

本発明の実施の一形態について以下に詳細に説明するが、本発明は以下の記載に限定されるものではない。   One embodiment of the present invention will be described in detail below, but the present invention is not limited to the following description.

(本発明のめっき用材料、溶液の特徴と材料構成)
本発明のめっき用材料は、無電解めっきを施すための層Aを有し、且つ該層Aが上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂を含有するとともに、該層Aの表面粗さが、カットオフ値0.002mmで測定した算術平均粗さRaで0.5μm未満であり、該層Aの90度引き剥がし粘着力が1.0N/25mm以下であることを特徴とする。
(Plating material of the present invention, characteristics and composition of the solution)
The plating material of the present invention has a layer A for performing electroless plating, and the layer A contains a polyimide resin having a structure represented by the general formulas (1) to (6). The surface roughness of the layer A is an arithmetic average roughness Ra measured at a cutoff value of 0.002 mm, which is less than 0.5 μm, and the 90-degree peeling adhesive strength of the layer A is 1.0 N / 25 mm or less. It is characterized by that.

上記層Aに上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂を用い、且つ該層Aの粘着力を規定することで、該層Aの表面粗さがRaで0.5μm未満と非常に小さいにもかかわらず無電解めっき皮膜との接着強度を良好なものにすることができ、しかも回路形成性を良好なものとすることができる。   By using the polyimide resin having the structure represented by the general formulas (1) to (6) for the layer A and defining the adhesive strength of the layer A, the surface roughness of the layer A is 0 in Ra. Although it is very small, less than 5 μm, the adhesive strength with the electroless plating film can be improved, and the circuit formability can be improved.

本発明のめっき用材料は、層Aを有しさえすれば用いる用途に応じていかなる構成からなる材料、形態であっても構わない。例えば、本発明のめっき用材料をプリント配線板に用いる場合には、層Aのみから構成される材料であっても良いし、層Aと、形成された回路と対向させるための層Bとから構成される材料であっても良いし、層A/高分子フィルムC/層Bとから構成される材料であっても良い。また、層Aと高分子Cとから構成される材料であっても良いし、層A/高分子フィルムC/層Aとから構成される材料であっても良い。   The plating material of the present invention may be any material and form having any structure depending on the use as long as it has the layer A. For example, when the plating material of the present invention is used for a printed wiring board, it may be a material composed only of the layer A, or from the layer A and the layer B for facing the formed circuit. The material comprised may be sufficient, and the material comprised from layer A / polymer film C / layer B may be sufficient. Moreover, the material comprised from the layer A and the polymer C may be sufficient, and the material comprised from the layer A / polymer film C / layer A may be sufficient.

本発明のめっき用材料を得るために、ポリイミド樹脂を含有する溶液が好ましく用いられる。また、本発明のめっき用材料を得るために、ポリアミド酸を含有する溶液が好ましく用いられる。   In order to obtain the plating material of the present invention, a solution containing a polyimide resin is preferably used. In order to obtain the plating material of the present invention, a solution containing polyamic acid is preferably used.

本発明のめっき用材料は、少なくとも無電解めっきを施すための層Aを有していればよいが、無電解めっきを施したい材料表面に、まず本発明のめっき用材料を形成し、その後無電解めっきを施す方法が好ましく用いられる。これにより、本発明のめっき用材料が層間接着剤の役割を果たすことにより、無電解めっきと材料間とが強固に接着するという利点を生かし、各種装飾めっき用途や、機能めっき用途に適用することが可能である。その中でも、耐熱性をも併せ持ち、表面粗度が小さい場合でも無電解めっき層を強固に形成できるという利点を生かし、プリント配線板用のめっき用材料として好適に用いることができる。   The plating material of the present invention only needs to have at least the layer A for performing electroless plating. However, the plating material of the present invention is first formed on the surface of the material to be electrolessly plated, and then the non-electrolytic plating is performed. A method of applying electrolytic plating is preferably used. As a result, the plating material of the present invention plays the role of an interlayer adhesive, making use of the advantage that the electroless plating and the material are firmly bonded, and can be applied to various decorative plating applications and functional plating applications. Is possible. Among them, it has heat resistance and can be suitably used as a plating material for a printed wiring board by taking advantage of the ability to firmly form an electroless plating layer even when the surface roughness is small.

以下に本発明のめっき用材料について、特にプリント配線板に適用した場合について説明する。   The case of applying the plating material of the present invention to a printed wiring board will be described below.

(層A)
層Aは、その表面に無電解めっきが施される層であり、且つ該層Aが上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂を含有することが重要である。本発明者らは、無電解めっきを施される表面の材料として上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂を含有していれば、無電解めっきとの接着性が良好なものになることを見出した。ここで本発明の層Aとは、厚さが10Å以上を有する表面のことをいう(本明細書において、無電解めっきを施す表面を有する層Aのことを単に表面Aと言うこともある)。また、例えば、表面Aを有する本発明のめっき材料がシート状である場合、該シートの両面とも表面Aという。
(Layer A)
The layer A is a layer whose surface is subjected to electroless plating, and it is important that the layer A contains a polyimide resin having a structure represented by the general formulas (1) to (6). . If the present inventors contain a polyimide resin having a structure represented by the above general formulas (1) to (6) as a material for the surface to be subjected to electroless plating, the adhesion to the electroless plating will be described. Has been found to be good. Here, the layer A of the present invention refers to a surface having a thickness of 10 mm or more (in this specification, the layer A having a surface to which electroless plating is applied may be simply referred to as a surface A). . For example, when the plating material of the present invention having the surface A is in the form of a sheet, both surfaces of the sheet are referred to as the surface A.

また、無電解めっきを均一に施すために、層Aの引き剥がし粘着力が、1.0N/25mm以下となるように、構成する樹脂および配合を設計することが重要である。   In addition, in order to uniformly perform electroless plating, it is important to design the resin and the composition that constitute the layer A so that the peel adhesive strength of the layer A is 1.0 N / 25 mm or less.

すなわち、本発明の層Aの表面粗度は、カットオフ値0.002mmで測定した算術平均粗さRaで0.5μm未満と小さいものとなっている。この条件を満たす場合、本発明のめっき用材料をプリント配線板用途で使用する際には、良好な微細配線形成性を有するので、本発明の材料はプリント配線板に用いた場合に特に顕著な効果を発現する。微細配線形成性を考慮すると、好ましくは0.3μm未満であり、さらに好ましくは0.1μm未満である。Raが0.5μm以上の場合、特に本発明のめっき用材料をプリント配線板に適用した際に、表面凹凸が大きくなり微細配線形成が困難となるので注意を要する。   That is, the surface roughness of the layer A of the present invention is as small as less than 0.5 μm in arithmetic average roughness Ra measured at a cutoff value of 0.002 mm. When this condition is satisfied, when the plating material of the present invention is used for a printed wiring board, the material of the present invention is particularly prominent when used for a printed wiring board because it has good fine wiring formability. The effect is expressed. In consideration of fine wiring formability, it is preferably less than 0.3 μm, and more preferably less than 0.1 μm. When Ra is 0.5 μm or more, particularly when the plating material of the present invention is applied to a printed wiring board, surface irregularities become large and it is difficult to form fine wiring, so care must be taken.

算術平均粗さRaとは、JIS B 0601(平成6年2月1日改正版)に定義されている。特に本発明の算術平均粗さRaの数値は、光干渉式の表面構造解析装置で表面を観察により求められた数値を示す。本発明のカットオフ値とは、上記JIS B 0601に記載されているが、断面曲線(実測データ)から粗さ曲線を得る際に設定する波長を示す。即ち、カットオフ値が0.002mmで測定した値Raとは、実測データから0.002mmよりも長い波長を有する凹凸を除去した粗さ曲線から算出された算術平均粗さである。   Arithmetic mean roughness Ra is defined in JIS B 0601 (revised on February 1, 1994). In particular, the numerical value of the arithmetic average roughness Ra of the present invention is a numerical value obtained by observing the surface with an optical interference type surface structure analyzer. The cutoff value of the present invention is described in the above JIS B 0601, and indicates a wavelength set when a roughness curve is obtained from a cross-sectional curve (measured data). That is, the value Ra measured with a cut-off value of 0.002 mm is an arithmetic average roughness calculated from a roughness curve obtained by removing irregularities having a wavelength longer than 0.002 mm from measured data.

さらに、本発明において層Aの表面の粘着力は、JIS Z 0237に定める90度引き剥がし粘着力である。引き剥がし粘着力の測定法について詳しく説明する。試験板としてJIS G 4305に規定するSUS302鋼板を用いる。すなわち、層Aの表面と上記試験板とを、ゴムローラーにて、2000gの荷重、300mm/minの速度で一往復させて試験片と試験板とを圧着する。上記試験サンプルを用いて、300mm/minの速度にて90度剥離試験を実施し、90度引き剥がし粘着力を測定する。   Further, in the present invention, the adhesive strength of the surface of the layer A is 90 ° peel adhesive strength defined in JIS Z 0237. A method for measuring the peel adhesive strength will be described in detail. As a test plate, a SUS302 steel plate specified in JIS G 4305 is used. That is, the test piece and the test plate are pressure-bonded by reciprocating the surface of the layer A and the test plate with a rubber roller at a load of 2000 g and a speed of 300 mm / min. Using the test sample, a 90 ° peel test is performed at a speed of 300 mm / min, and the 90 ° peel strength is measured.

90℃引き剥がし粘着力は、1.0N/25mm以下であり、より好ましくは0.7N/25mm以下であり、さらに好ましくは0.5N/25mm以下である。90℃引き剥がし粘着力が1.0N/25mmより大きい場合は、層Aへの無電解めっき形成が悪くなる。すなわち、無電解めっきを施す面に均一に無電解めっき皮膜を形成することが困難となる場合がある。また、プリント配線板に用いた場合には、微細な回路の形成性に悪影響を及ぼす場合がある。   The 90 ° C. peel adhesive strength is 1.0 N / 25 mm or less, more preferably 0.7 N / 25 mm or less, and still more preferably 0.5 N / 25 mm or less. When the 90 ° C. peeling adhesive strength is greater than 1.0 N / 25 mm, the formation of electroless plating on the layer A becomes worse. That is, it may be difficult to form an electroless plating film uniformly on the surface to be electroless plated. In addition, when used in a printed wiring board, the fine circuit formation may be adversely affected.

次に、本発明のポリイミド樹脂について説明する。   Next, the polyimide resin of the present invention will be described.

本発明のポリイミド樹脂は、下記一般式(1)〜(6)   The polyimide resin of the present invention has the following general formulas (1) to (6).

Figure 0004866589
Figure 0004866589

(式中、RおよびRは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価の芳香族基を表す。また、Rは、アルキル基、フェニル基、アルコキシ基、またはフェノキシ基を表し、Rは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価のフェニレン基を表す。さらに、n=3〜100であり、mは1以上の整数である。)
のいずれかで表される構造のうち、少なくとも1種以上の構造を有するポリイミド樹脂であればよい。上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂を製造する方法としては、例えば、(1)上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有する酸二無水物成分あるいは上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミン成分を用いて、ポリイミド樹脂の前駆体であるポリアミド酸を製造し、これをイミド化してポリイミド樹脂を製造する方法、(2)官能基を有する酸二無水物成分あるいは官能基を有するジアミン成分を用いて官能基を有するポリアミド酸を製造し、この官能基と反応しうる官能基、及び上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有する化合物を反応させて、上記構造が導入されたポリアミド酸を製造し、これをイミド化してポリイミド樹脂を製造する方法、(3)官能基を有する酸二無水物成分あるいは官能基を有するジアミン成分を用いて官能基を有するポリアミド酸を製造し、これをイミド化して官能基を有するポリイミドを製造し、この官能基と反応しうる官能基、及び上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有する化合物を反応させて、上記構造が導入されたポリイミド樹脂を製造する方法などが挙げられる。
(Wherein R 1 and R 3 represent a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent aromatic group. R 4 represents an alkyl group, a phenyl group, an alkoxy group, Or a phenoxy group, wherein R 2 represents a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent phenylene group, n = 3 to 100, and m is an integer of 1 or more. is there.)
Of the structures represented by any of the above, any polyimide resin having at least one kind of structure may be used. As a method for producing a polyimide resin having a structure represented by the general formulas (1) to (6), for example, (1) an acid 2 having a structure represented by the general formulas (1) to (6) may be used. Using the anhydride component or the diamine component having the structure represented by the above general formulas (1) to (6), a polyamic acid which is a precursor of the polyimide resin is produced, and this is imidized to produce a polyimide resin. (2) A polyamic acid having a functional group is produced using an acid dianhydride component having a functional group or a diamine component having a functional group, the functional group capable of reacting with the functional group, and the above general formula (1) ) To (6) are reacted with a compound having a structure represented to produce a polyamic acid introduced with the structure, and imidized to produce a polyimide resin, (3) an acid having a functional group Dianhydride formation Or the polyamic acid which has a functional group is manufactured using the diamine component which has a functional group, this is imidized, the polyimide which has a functional group is manufactured, the functional group which can react with this functional group, and said general formula (1) ) To (6), a method of producing a polyimide resin having the structure introduced therein by reacting a compound having the structure represented by (6).

ここで、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンは比較的容易に入手することが可能であるため、上記の中でも、酸二無水物成分と、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンを反応させて目的とするポリイミド樹脂を製造することが好ましい。   Here, since the diamine having the structure represented by the general formulas (1) to (6) can be obtained relatively easily, among them, the acid dianhydride component and the general formula ( It is preferable to produce the target polyimide resin by reacting the diamine having the structure represented by 1) to (6).

次に、本発明のポリイミド樹脂として、酸二無水物成分と、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンとを用いた場合の製造例を説明する。   Next, a production example in the case where an acid dianhydride component and a diamine having a structure represented by the above general formulas (1) to (6) are used as the polyimide resin of the present invention will be described.

酸二無水物成分としては特に限定はなく、ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、4,4’−オキシジフタル酸無水物、3,3’,4,4’−ジメチルジフェニルシランテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−フランテトラカルボン酸二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルプロパン酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、p−フェニレンジフタル酸無水物などの芳香族テトラカルボン酸二無水物、4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフタル酸無水物、4,4’−オキシジフタル酸無水物、3,4’−オキシジフタル酸無水物、3,3’−オキシジフタル酸無水物、4,4’−(4,4’−イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)、4,4’−ハイドロキノンビス(無水フタル酸)、2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパンジベンゾエート−3,3’,4,4’−テトラカルボン酸二無水物、1,2−エチレンビス(トリメリット酸モノエステル無水物)、p−フェニレンビス(トリメリット酸モノエステル無水物)等を挙げることができる。これらは1種のみで用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いることも可能である。   The acid dianhydride component is not particularly limited, and pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-diphenylsulfonetetra Carboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalene tetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalene tetracarboxylic dianhydride, 4,4′-oxydiphthalic anhydride, 3, 3 ′, 4,4′-dimethyldiphenylsilanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-furantetracarboxylic dianhydride, 4,4′-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) diphenyl Propanic acid dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,3,3 ′, 4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, p-phenylenediphthalic anhydride Such Aromatic tetracarboxylic dianhydride, 4,4′-hexafluoroisopropylidenediphthalic anhydride, 4,4′-oxydiphthalic anhydride, 3,4′-oxydiphthalic anhydride, 3,3′-oxydiphthalate Acid anhydride, 4,4 ′-(4,4′-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride), 4,4′-hydroquinonebis (phthalic anhydride), 2,2-bis (4-hydroxyphenyl) ) Propanedibenzoate-3,3 ′, 4,4′-tetracarboxylic dianhydride, 1,2-ethylenebis (trimellitic acid monoester anhydride), p-phenylenebis (trimellitic acid monoester anhydride) And the like. These may be used alone or in combination of two or more.

ここで、ピロメリット酸二無水物のような、屈曲性の連結基を有さない酸二無水物を用いると、粘着力が低下する傾向にあり、4,4’−(4,4’−イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)のような、屈曲性の連結基を有する酸二無水物を用いると粘着力が向上する傾向にある。一方、ピロメリット酸二無水物のような、屈曲性の連結基を有さない酸二無水物を用いると、得られるポリイミド樹脂の溶解性が低下する傾向にあり、4,4’−(4,4’−イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)のような、屈曲性の連結基を有する酸二無水物を用いると溶解性が向上する傾向にある。上記の粘着性と溶解性の視点から、酸二無水物を選択することが重要である。   Here, when an acid dianhydride having no flexible linking group such as pyromellitic dianhydride is used, the adhesive strength tends to decrease, and 4,4 ′-(4,4′- If an acid dianhydride having a flexible linking group such as isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) is used, the adhesive strength tends to be improved. On the other hand, when an acid dianhydride having no flexible linking group such as pyromellitic dianhydride is used, the solubility of the resulting polyimide resin tends to decrease, and 4,4 ′-(4 , 4′-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) tends to improve solubility when an acid dianhydride having a flexible linking group is used. It is important to select an acid dianhydride from the above viewpoints of tackiness and solubility.

続いて、ジアミン成分について説明する。本発明においては、ジアミン成分として、下記一般式(1)〜(6)   Subsequently, the diamine component will be described. In the present invention, as the diamine component, the following general formulas (1) to (6)

Figure 0004866589
Figure 0004866589

(式中、RおよびRは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価の芳香族基を表す。また、Rは、アルキル基、フェニル基、アルコキシ基、またはフェノキシ基を表し、Rは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価のフェニレン基を表す。さらに、n=3〜100であり、mは1以上の整数である。)
のいずれかで表される構造を有するジアミンを含むことが好ましい。
(Wherein R 1 and R 3 represent a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent aromatic group. R 4 represents an alkyl group, a phenyl group, an alkoxy group, Or a phenoxy group, wherein R 2 represents a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent phenylene group, n = 3 to 100, and m is an integer of 1 or more. is there.)
It is preferable to contain the diamine which has a structure represented by either.

上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンを含むジアミン成分を用いることにより、得られるポリイミド樹脂は、無電解めっき層と強固に接着するという特徴を有するようになる。   By using a diamine component containing a diamine having a structure represented by the general formulas (1) to (6), the resulting polyimide resin has a characteristic of being firmly bonded to the electroless plating layer.

上記一般式(1)で表される構造を有するジアミンとしては、ヘキサメチレンジアミンや、オクタメチレンジアミンなどを例示することができる。上記一般式(2)で表される構造を有するジアミンとしては、例えば、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)プロパン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ブタン、1,5−ビス(4−アミノフェノキシ)ペンタンなどが挙げられる。上記一般式(3)で表されるジアミンとしては、例えば、エラスマー1000Pや、エラスマー650P、エラスマー250P(イハラケミカル工業(株)製)が挙げられる。なお、エラスマーの場合、上記一般式(3)のRは、Cである。また、上記一般式(4)で表されるジアミンとしては、ポリエーテルポリアミン類、ポリオキシアルキレンポリアミン類を挙げることができ、ジェファーミンD−2000、ジェファーミンD−4000(ハンツマン・コーポレーション社製)などを例示することができる。 Examples of the diamine having the structure represented by the general formula (1) include hexamethylene diamine and octamethylene diamine. Examples of the diamine having the structure represented by the general formula (2) include 1,3-bis (4-aminophenoxy) propane, 1,4-bis (4-aminophenoxy) butane, and 1,5-bis. (4-aminophenoxy) pentane and the like can be mentioned. Examples of the diamine represented by the general formula (3) include Elastomer 1000P, Elastomer 650P, and Elastomer 250P (manufactured by Ihara Chemical Industry Co., Ltd.). In the case of an elastomer, R 2 in the general formula (3) is C 4 H 8 . Examples of the diamine represented by the general formula (4) include polyether polyamines and polyoxyalkylene polyamines. Jeffamine D-2000 and Jeffamine D-4000 (manufactured by Huntsman Corporation) Etc. can be illustrated.

さらに、上記一般式(6)で表されるジアミンとしては、例えば、1,1,3,3,−テトラメチル−1,3−ビス(4−アミノフェニル)ジシロキサン、1,1,3,3,−テトラフェノキシ−1,3−ビス(4−アミノエチル)ジシロキサン、1,1,3,3,5,5−ヘキサメチル−1,5−ビス(4−アミノフェニル)トリシロキサン、1,1,3,3,−テトラフェニル−1,3−ビス(2−アミノフェニル)ジシロキサン、1,1,3,3,−テトラフェニル−1,3−ビス(3−アミノプロピル)ジシロキサン、1,1,5,5,−テトラフェニル−3,3−ジメチル−1,5−ビス(3−アミノプロピル)トリシロキサン、1,1,5,5,−テトラフェニル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(3−アミノブチル)トリシロキサン、1,1,5,5,−テトラフェニル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(3−アミノペンチル)トリシロキサン、1,1,3,3,−テトラメチル−1,3−ビス(2−アミノエチル)ジシロキサン、1,1,3,3,−テトラメチル−1,3−ビス(3−アミノプロピル)ジシロキサン、1,1,3,3,−テトラメチル−1,3−ビス(4−アミノブチル)ジシロキサン、1,3−ジメチル−1,3−ジメトキシ−1,3−ビス(4−アミノブチル)ジシロキサン、1,1,5,5,−テトラメチル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(2−アミノエチル)トリシロキサン、1,1,5,5,−テトラメチル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(4−アミノブチル)トリシロキサン、1,1,5,5,−テトラメチル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(5−アミノペンチル)トリシロキサン、1,1,3,3,5,5−ヘキサメチル−1,5−ビス(3−アミノプロピル)トリシロキサン、1,1,3,3,5,5−ヘキサエチル−1,5−ビス(3−アミノプロピル)トリシロキサン、1,1,3,3,5,5−ヘキサプロピル−1,5−ビス(3−アミノプロピル)トリシロキサン、等が挙げられる。また、比較的入手しやすい上記一般式(6)で表される構造を有するジアミンとして、信越化学工業株式会社製のKF−8010、X−22−161A、X−22−161B、X−22−1660B―3、KF−8008、KF−8012、Xー22−9362、等を挙げることができる。上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンは単独で用いてもよく、2種以上を混合してもよい。   Furthermore, examples of the diamine represented by the general formula (6) include 1,1,3,3, -tetramethyl-1,3-bis (4-aminophenyl) disiloxane, 1,1,3, 3, -tetraphenoxy-1,3-bis (4-aminoethyl) disiloxane, 1,1,3,3,5,5-hexamethyl-1,5-bis (4-aminophenyl) trisiloxane, 1,3,3, -tetraphenyl-1,3-bis (2-aminophenyl) disiloxane, 1,1,3,3, -tetraphenyl-1,3-bis (3-aminopropyl) disiloxane, 1,1,5,5, -tetraphenyl-3,3-dimethyl-1,5-bis (3-aminopropyl) trisiloxane, 1,1,5,5, -tetraphenyl-3,3-dimethoxy- 1,5-bis (3-aminobutyl) trisiloxane 1,1,5,5, -tetraphenyl-3,3-dimethoxy-1,5-bis (3-aminopentyl) trisiloxane, 1,1,3,3, -tetramethyl-1,3-bis (2-Aminoethyl) disiloxane, 1,1,3,3-tetramethyl-1,3-bis (3-aminopropyl) disiloxane, 1,1,3,3, -tetramethyl-1,3 -Bis (4-aminobutyl) disiloxane, 1,3-dimethyl-1,3-dimethoxy-1,3-bis (4-aminobutyl) disiloxane, 1,1,5,5, -tetramethyl-3 , 3-Dimethoxy-1,5-bis (2-aminoethyl) trisiloxane, 1,1,5,5-tetramethyl-3,3-dimethoxy-1,5-bis (4-aminobutyl) trisiloxane 1,1,5,5-tetramethyl-3,3-dimethoxy -1,5-bis (5-aminopentyl) trisiloxane, 1,1,3,3,5,5-hexamethyl-1,5-bis (3-aminopropyl) trisiloxane, 1,1,3,3 , 5,5-hexaethyl-1,5-bis (3-aminopropyl) trisiloxane, 1,1,3,3,5,5-hexapropyl-1,5-bis (3-aminopropyl) trisiloxane, Etc. Moreover, as a diamine which has a structure represented by the said General formula (6) which is comparatively easy to obtain, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. KF-8010, X-22-161A, X-22-161B, X-22- 1660B-3, KF-8008, KF-8012, X-22-9362, and the like. The diamine having the structure represented by the general formulas (1) to (6) may be used alone or in combination of two or more.

ここで、粘着力を本発明の範囲にせしめるために、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンと他のジアミンとを組み合わせて使用することが好ましい。他のジアミン成分としては、あらゆるジアミンを使用することが可能であり、m−フェニレンジアミン、o−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン、m−アミノベンジルアミン、p−アミノベンジルアミン、ビス(3−アミノフェニル)スルフィド、(3−アミノフェニル)(4−アミノフェニル)スルフィド、ビス(4−アミノフェニル)スルフィド、ビス(3−アミノフェニル)スルホキシド、(3−アミノフェニル)(4−アミノフェニル)スルホキシド、ビス(3−アミノフェニル)スルホン、(3−アミノフェニル)(4−アミノフェニル)スルホン、ビス(4−アミノフェニル)スルホン、3,4’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、3,4’−ジアミノジフェニルエーテル、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルホキシド、ビス[4−(アミノフェノキシ)フェニル]スルホキシド、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルチオエーテル、3,4’−ジアミノジフェニルチオエーテル、3,3’−ジアミノジフェニルチオエーテル、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフォン、3,4’−ジアミノジフェニルスルフォン、3,3’−ジアミノジフェニルスルフォン、4,4’−ジアミノベンズアニリド、3,4’−ジアミノベンズアニリド、3,3’−ジアミノベンズアニリド、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、3,4’−ジアミノベンゾフェノン、3,3’−ジアミノベンゾフェノン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[4−(4−アミノフェニキシ)フェニル]メタン、1,1−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,1−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エタン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、2,2−ビス[3−(3−アミノフェノキシ)フェニル]−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]ケトン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]ケトン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルフィド、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルフィド、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]エーテル、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エーテル、1,4−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)ベンゾイル]ベンゼン、1,3−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)ベンゾイル]ベンゼン、4,4’−ビス[3−(4−アミノフェノキシ)ベンゾイル]ジフェニルエーテル、4,4’−ビス[3−(3−アミノフェノキシ)ベンゾイル]ジフェニルエーテル、4,4’−ビス[4−(4−アミノ−α,α−ジメチルベンジル)フェノキシ]ベンゾフェノン、4,4’−ビス[4−(4−アミノ−α,α−ジメチルベンジル)フェノキシ]ジフェニルスルホン、ビス[4−{4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ}フェニル]スルホン、1,4−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、3,3’−ジヒドロキシ−4,4’−ジアミノビフェニルなどを挙げることができる。   Here, it is preferable to use a diamine having a structure represented by the general formulas (1) to (6) in combination with another diamine in order to make the adhesive strength within the scope of the present invention. As the other diamine component, any diamine can be used, and m-phenylenediamine, o-phenylenediamine, p-phenylenediamine, m-aminobenzylamine, p-aminobenzylamine, bis (3-amino). Phenyl) sulfide, (3-aminophenyl) (4-aminophenyl) sulfide, bis (4-aminophenyl) sulfide, bis (3-aminophenyl) sulfoxide, (3-aminophenyl) (4-aminophenyl) sulfoxide, Bis (3-aminophenyl) sulfone, (3-aminophenyl) (4-aminophenyl) sulfone, bis (4-aminophenyl) sulfone, 3,4'-diaminobenzophenone, 4,4'-diaminobenzophenone, 3, 3'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-di Minodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 3,3′-diaminodiphenyl ether, 3,4′-diaminodiphenyl ether, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfoxide, bis [4- (Aminophenoxy) phenyl] sulfoxide, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 3,4′-diaminodiphenyl ether, 3,3′-diaminodiphenyl ether, 4,4′-diaminodiphenylthioether, 3,4′-diamino Diphenylthioether, 3,3′-diaminodiphenylthioether, 3,3′-diaminodiphenylmethane, 3,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenylsulfur 3,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'-diaminodiphenylsulfone, 4,4'-diaminobenzanilide, 3,4'-diaminobenzanilide, 3,3'-diaminobenzanilide, 4, 4'-diaminobenzophenone, 3,4'-diaminobenzophenone, 3,3'-diaminobenzophenone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] methane, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] methane 1,1-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] ethane, 1,1-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ethane, 1,2-bis [4- (3-aminophenoxy) ) Phenyl] ethane, 1,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ethane, 2,2-bis [4- (3-aminophenyl) Enoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] butane, 2,2-bis [3- (3-Aminophenoxy) phenyl] -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] -1,1,1,3 3,3-hexafluoropropane, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,4′-bis (4-aminophenoxy) benzene, 4, 4′-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] ketone, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ketone, bis [4- (3- Minophenoxy) phenyl] sulfide, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfide, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] ether, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ether, 1,4-bis [4- (3-aminophenoxy) benzoyl] benzene, 1,3-bis [4- (3-Aminophenoxy) benzoyl] benzene, 4,4′-bis [3- (4-aminophenoxy) benzoyl] diphenyl ether, 4,4′-bis [3- (3-aminophenoxy) benzoyl] diphenyl ether 4,4′-bis [4- (4-amino-α, α-dimethylbenzyl) phenoxy] ben Phenone, 4,4′-bis [4- (4-amino-α, α-dimethylbenzyl) phenoxy] diphenylsulfone, bis [4- {4- (4-aminophenoxy) phenoxy} phenyl] sulfone, 1,4 -Bis [4- (4-aminophenoxy) -α, α-dimethylbenzyl] benzene, 1,3-bis [4- (4-aminophenoxy) -α, α-dimethylbenzyl] benzene, 3,3′- Examples thereof include dihydroxy-4,4′-diaminobiphenyl.

ここで、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンと、上述したその他のジアミンとを組み合わせてジアミン成分とすることで、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンのみをジアミン成分とする場合よりも粘着力が低下する。   Here, by combining the diamine having the structure represented by the above general formulas (1) to (6) and the other diamines described above as a diamine component, the above general formulas (1) to (6) The adhesive force is lower than when only the diamine having the structure represented is used as the diamine component.

また、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンの量によって粘着力を制御することもでき、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンの量が少なくなると粘着力は低下し、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンの量が多くなると粘着力は高くなる傾向にある。以上のように、酸無水物成分、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンおよび併用可能なその他のジアミンを組み合わせてジアミン成分とすることによって粘着力を制御することが可能である。   Moreover, adhesive force can also be controlled with the quantity of the diamine which has a structure represented by the said general formula (1)-(6), and the diamine which has a structure represented by the said general formula (1)-(6). When the amount of is decreased, the adhesive strength is lowered, and when the amount of the diamine having the structure represented by the general formulas (1) to (6) is increased, the adhesive strength tends to be increased. As described above, the adhesive strength is controlled by combining the acid anhydride component, the diamine having the structure represented by the above general formulas (1) to (6), and other diamines that can be used in combination to form a diamine component. Is possible.

上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンは、全ジアミン成分に対して2〜98モル%が好ましく、より好ましくは5〜95モル%である。上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンが、全ジアミン成分に対して2モル%より低い場合、接着強度が低くなる傾向にある。また、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンが、全ジアミン成分に対して98モル%より高い場合、無電解めっきの形成性が悪くなる傾向にある。   The diamine having the structure represented by the general formulas (1) to (6) is preferably 2 to 98 mol%, more preferably 5 to 95 mol% with respect to the total diamine component. When the diamine having the structure represented by the general formulas (1) to (6) is lower than 2 mol% with respect to the total diamine component, the adhesive strength tends to be low. Moreover, when the diamine which has a structure represented by the said General formula (1)-(6) is higher than 98 mol% with respect to all the diamine components, it exists in the tendency for the electroless-plating formability to worsen.

前記ポリイミドは、対応する前駆体ポリアミド酸重合体を脱水閉環して得られる。ポリアミド酸重合体は、酸二無水物成分とジアミン成分とを実質的に等モル反応させて得られる。   The polyimide is obtained by dehydrating and ring-closing the corresponding precursor polyamic acid polymer. The polyamic acid polymer is obtained by reacting an acid dianhydride component and a diamine component in substantially equimolar amounts.

反応の代表的な手順として、1種以上のジアミン成分を有機極性溶剤に溶解または分散させ、そののち1種以上の酸二無水物成分を添加し、ポリアミド酸溶液を得る方法があげられる。各モノマーの添加順序はとくに限定されず、酸二無水物成分を有機極性溶媒に先に加えておき、ジアミン成分を添加し、ポリアミド酸重合体の溶液としてもよいし、ジアミン成分を有機極性溶媒中に先に適量加えて、つぎに過剰の酸二無水物成分を加え、過剰量に相当するジアミン成分を加えて、ポリアミド酸重合体の溶液としてもよい。このほかにも、当業者に公知のさまざまな添加方法がある。具体的には下記の方法が挙げられる。   A typical procedure for the reaction is a method in which one or more diamine components are dissolved or dispersed in an organic polar solvent, and then one or more acid dianhydride components are added to obtain a polyamic acid solution. The order of addition of each monomer is not particularly limited, and the acid dianhydride component may be added to the organic polar solvent in advance, and the diamine component may be added to form a polyamic acid polymer solution, or the diamine component may be added to the organic polar solvent. A suitable amount of the acid dianhydride component may be added first, and then an excess amount of the dianhydride component may be added, and a diamine component corresponding to the excess amount may be added to form a polyamic acid polymer solution. There are various other addition methods known to those skilled in the art. Specifically, the following method is mentioned.

なお、ここでいう「溶解」とは、溶媒が溶質を完全に溶解する場合のほかに、溶質が溶媒中に均一に分散または分散されて実質的に溶解しているのと同様の状態になる場合を含む。反応時間、反応温度は、とくに限定されない。
1)ジアミン成分を有機極性溶媒中に溶解し、これと実質的に等モルの酸二無水物成分を反応させて重合する方法。
2)酸二無水物成分とこれに対し過小モル量のジアミン成分とを有機極性溶媒中で反応させ、両末端に酸無水物基を有するプレポリマーを得る。続いて、全工程において酸二無水物成分とジアミン成分が実質的に等モルとなるようにジアミン成分を用いて重合させる方法。
3)酸二無水物成分とこれに対し過剰モル量のジアミン成分とを有機極性溶媒中で反応させ、両末端にアミノ基を有するプレポリマーを得る。続いてここにジアミン成分を追加添加後、全工程において酸二無水物成分とジアミン成分が実質的に等モルとなるように酸二無水物成分を用いて重合する方法。
4)酸二無水物成分を有機極性溶媒中に溶解及び/または分散させた後、実質的に等モルとなるようにジアミン成分を用いて重合させる方法。
5)実質的に等モルの酸二無水物成分とジアミン成分の混合物を有機極性溶媒中で反応させて重合する方法。
The term “dissolved” as used herein refers to a state in which the solute is uniformly dissolved or dispersed in the solvent in addition to the case where the solvent completely dissolves the solute. Including cases. The reaction time and reaction temperature are not particularly limited.
1) A method in which a diamine component is dissolved in an organic polar solvent, and this is reacted with a substantially equimolar acid dianhydride component for polymerization.
2) An acid dianhydride component and a small molar amount of the diamine component are reacted with each other in an organic polar solvent to obtain a prepolymer having acid anhydride groups at both ends. Then, the method of superposing | polymerizing using a diamine component so that an acid dianhydride component and a diamine component may become substantially equimolar in all the processes.
3) The acid dianhydride component is reacted with an excess molar amount of the diamine component in an organic polar solvent to obtain a prepolymer having amino groups at both ends. Subsequently, after the diamine component is additionally added, polymerization is performed using the acid dianhydride component so that the acid dianhydride component and the diamine component are substantially equimolar in all steps.
4) A method in which an acid dianhydride component is dissolved and / or dispersed in an organic polar solvent and then polymerized using a diamine component so as to be substantially equimolar.
5) A method of polymerizing by reacting a substantially equimolar mixture of an acid dianhydride component and a diamine component in an organic polar solvent.

ポリアミド酸の重合反応に用いられる有機極性溶媒としては、たとえば、ジメチルスルホキシド、ジエチルスルホキシドなどのスルホキシド系溶媒、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミドなどのホルムアミド系溶媒、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミドなどのアセトアミド系溶媒、N−メチル−2−ピロリドン、N−ビニル−2−ピロリドンなどのピロリドン系溶媒、フェノール、o−、m−またはp−クレゾール、キシレノール、ハロゲン化フェノール、カテコールなどのフェノール系溶媒、あるいはヘキサメチルホスホルアミド、γ−ブチロラクトンなどをあげることができる。さらに必要に応じて、これらの有機極性溶媒とキシレンあるいはトルエンなどの芳香族炭化水素とを組み合わせて用いることもできる。   Examples of the organic polar solvent used for the polyamic acid polymerization reaction include sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide and diethyl sulfoxide, formamide solvents such as N, N-dimethylformamide and N, N-diethylformamide, N, N- Acetamide solvents such as dimethylacetamide and N, N-diethylacetamide, pyrrolidone solvents such as N-methyl-2-pyrrolidone and N-vinyl-2-pyrrolidone, phenol, o-, m- or p-cresol, xylenol, Examples thereof include phenol solvents such as halogenated phenols and catechols, hexamethylphosphoramide, and γ-butyrolactone. Further, if necessary, these organic polar solvents can be used in combination with an aromatic hydrocarbon such as xylene or toluene.

前記方法により得られたポリアミド酸溶液を、熱的または化学的方法により脱水閉環し、ポリイミドを得るが、ポリアミド酸溶液を熱処理して脱水する熱的方法、脱水剤を用いて脱水する化学的方法のいずれも用いることができる。また、減圧下で加熱してイミド化する方法も用いることができる。以下に各方法について説明する。   The polyamic acid solution obtained by the above method is dehydrated and cyclized by a thermal or chemical method to obtain a polyimide, and a thermal method in which the polyamic acid solution is subjected to heat treatment for dehydration, a chemical method for dehydration using a dehydrating agent. Any of these can be used. Moreover, the method of imidating by heating under reduced pressure can also be used. Each method will be described below.

熱的に脱水閉環する方法として、前記ポリアミド酸溶液を加熱処理によりイミド化反応を進行させると同時に、溶媒を蒸発させる方法を例示することができる。この方法により、固形のポリイミド樹脂を得ることができる。加熱の条件はとくに限定されないが、200℃以下の温度で1秒〜200分の時間の範囲で行なうことが好ましい。   As a method of thermally dehydrating and cyclizing, a method of evaporating the solvent at the same time that the polyamic acid solution is subjected to an imidation reaction by heat treatment can be exemplified. By this method, a solid polyimide resin can be obtained. The heating conditions are not particularly limited, but it is preferably performed at a temperature of 200 ° C. or lower for a time range of 1 second to 200 minutes.

また、化学的に脱水閉環する方法として、前記ポリアミド酸溶液に化学量論以上の脱水剤と触媒を加えることにより、脱水反応を起こし、有機溶媒を蒸発させる方法を例示することができる。これにより、固形のポリイミド樹脂を得ることができる。脱水剤としては、たとえば、無水酢酸などの脂肪族酸無水物、無水安息香酸などの芳香族酸無水物などがあげられる。また、触媒としては、たとえば、トリエチルアミンなどの脂肪族第3級アミン類、ジメチルアニリンなどの芳香族第3級アミン類、ピリジン、α−ピコリン、β−ピコリン、γ−ピコリン、イソキノリンなどの複素環式第3級アミン類などがあげられる。化学的に脱水閉環する際の条件は、100℃以下の温度が好ましく、有機溶媒の蒸発は、200℃以下の温度で約5分〜120分の時間の範囲で行なうことが好ましい。   Further, as a method of chemically dehydrating and cyclizing, a method of causing a dehydration reaction by adding a dehydrating agent and a catalyst having a stoichiometric amount or more to the polyamic acid solution and evaporating the organic solvent can be exemplified. Thereby, a solid polyimide resin can be obtained. Examples of the dehydrating agent include aliphatic acid anhydrides such as acetic anhydride and aromatic acid anhydrides such as benzoic anhydride. Examples of the catalyst include aliphatic tertiary amines such as triethylamine, aromatic tertiary amines such as dimethylaniline, and heterocyclic rings such as pyridine, α-picoline, β-picoline, γ-picoline, and isoquinoline. And tertiary amines of the formula. The conditions for chemically dehydrating and cyclizing are preferably 100 ° C. or less, and the organic solvent is preferably evaporated at a temperature of 200 ° C. or less for a period of about 5 minutes to 120 minutes.

また、ポリイミド樹脂を得るための別の方法として、前記の熱的または化学的に脱水閉環する方法において、溶媒の蒸発を行なわない方法もある。具体的には、熱的イミド化処理または脱水剤による化学的イミド化処理を行なって得られるポリイミド溶液を貧溶媒中に投入して、ポリイミド樹脂を析出させ、未反応モノマーを取り除いて精製、乾燥させ、固形のポリイミド樹脂を得る方法である。貧溶媒としては、溶媒とは良好に混合するがポリイミドは溶解しにくい性質のものを選択する。例示すると、アセトン、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ベンゼン、メチルセロソルブ、メチルエチルケトンなどがあげられるが、これらに限定されない。   Further, as another method for obtaining a polyimide resin, there is a method in which the solvent is not evaporated in the thermal or chemical dehydration ring closure method. Specifically, a polyimide solution obtained by performing a thermal imidization treatment or a chemical imidization treatment with a dehydrating agent is put into a poor solvent, a polyimide resin is precipitated, and unreacted monomers are removed and purified and dried. And obtaining a solid polyimide resin. As the poor solvent, a solvent that is well mixed with the solvent but is difficult to dissolve polyimide is selected. Illustrative examples include, but are not limited to, acetone, methanol, ethanol, isopropanol, benzene, methyl cellosolve, methyl ethyl ketone, and the like.

つぎに、減圧下で加熱してイミド化する方法であるが、このイミド化の方法によれば、イミド化によって生成する水を積極的に系外に除去できるので、ポリアミド酸の加水分解を抑えることが可能であり、高分子量のポリイミドが得られる。また、この方法によれば、原料の酸二無水物中に不純物として存在する片側または両側開環物が再閉環するので、より一層の分子量の向上効果が期待できる。   Next, although it is the method of imidating by heating under reduced pressure, according to this imidization method, water generated by imidization can be actively removed out of the system, so that hydrolysis of polyamic acid is suppressed. And a high molecular weight polyimide is obtained. In addition, according to this method, one-sided or both-side ring-opened products existing as impurities in the raw acid dianhydride are closed again, so that further improvement in molecular weight can be expected.

減圧下で加熱イミド化する方法の加熱条件は、80〜400℃が好ましいが、イミド化が効率よく行なわれ、しかも水が効率よく除かれる100℃以上がより好ましく、さらに好ましくは120℃以上である。最高温度は目的とするポリイミドの熱分解温度以下が好ましく、通常のイミド化の完結温度、すなわち250〜350℃程度が通常適用される。   The heating condition of the method of heating imidization under reduced pressure is preferably 80 to 400 ° C., more preferably 100 ° C. or more, more preferably 120 ° C. or more, in which imidization is efficiently performed and water is efficiently removed. is there. The maximum temperature is preferably equal to or lower than the thermal decomposition temperature of the target polyimide, and a normal imidation completion temperature, that is, about 250 to 350 ° C. is usually applied.

減圧する圧力の条件は、小さいほうが好ましいが、具体的には、9×10〜1×10Pa、好ましくは8×10〜1×10Pa、より好ましくは7×10〜1×10Paである。 The conditions for pressure reduction are preferably smaller, but specifically, 9 × 10 4 to 1 × 10 2 Pa, preferably 8 × 10 4 to 1 × 10 2 Pa, more preferably 7 × 10 4 to 1. × 10 2 Pa.

以上、ポリイミド樹脂について説明したが、市販のポリイミド樹脂も用いてもよい。本発明のめっき用材料に用いることができる、比較的入手しやすい上記一般式(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂の例として、信越化学工業株式会社製のX−22−8917、X−22−8904、X−22−8951、X−22−8956、X−22−8984、X−22−8985、等を挙げることができる。尚、これらはポリイミド溶液である。
層Aには、粘着力を調整する目的で、上述のポリイミド樹脂の他に、他の成分を含有させることが可能である。他の成分としては、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂などの樹脂を適宜使用することができる。
Although the polyimide resin has been described above, a commercially available polyimide resin may also be used. As an example of a polyimide resin having a structure represented by the above general formula (6) that can be used for the plating material of the present invention, X-22-8917 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., X -22-8904, X-22-8951, X-22-8756, X-22-8984, X-22-8985, and the like. These are polyimide solutions.
The layer A can contain other components in addition to the above-described polyimide resin for the purpose of adjusting the adhesive strength. As other components, resins such as thermoplastic resins and thermosetting resins can be used as appropriate.

熱可塑性樹脂としては、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、フェノキシ樹脂、また、酸二無水物成分と、熱可塑性ポリイミド樹脂等を挙げることができ、これらを単独または適宜組み合わせて用いることができる。   Examples of the thermoplastic resin include a polysulfone resin, a polyethersulfone resin, a polyphenylene ether resin, a phenoxy resin, an acid dianhydride component, and a thermoplastic polyimide resin. These may be used alone or in appropriate combination. Can do.

また、熱硬化性樹脂としては、ビスマレイミド樹脂、ビスアリルナジイミド樹脂、フェノール樹脂、シアナート樹脂、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、トリアジン樹脂、ヒドロシリル硬化樹脂、アリル硬化樹脂、不飽和ポリエステル樹脂などをあげることができ、これらを単独または適宜組み合わせて用いることができる。また、前記熱硬化性樹脂以外に、高分子鎖の側鎖または末端に、エポキシ基、アリル基、ビニル基、アルコキシシリル基、ヒドロシリル基などの反応性基を有する側鎖反応性基型熱硬化性高分子を使用することも可能である。尚、熱硬化性樹脂を含有させた場合、得られる層Aの粘着力が低下する傾向にある。   Thermosetting resins include bismaleimide resin, bisallyl nadiimide resin, phenol resin, cyanate resin, epoxy resin, acrylic resin, methacrylic resin, triazine resin, hydrosilyl cured resin, allyl cured resin, unsaturated polyester resin, etc. These can be used alone or in appropriate combination. In addition to the thermosetting resin, a side chain reactive group type thermosetting having a reactive group such as an epoxy group, an allyl group, a vinyl group, an alkoxysilyl group or a hydrosilyl group at the side chain or terminal of the polymer chain. It is also possible to use a functional polymer. In addition, when a thermosetting resin is contained, the adhesive strength of the layer A obtained tends to decrease.

また、層Aには、粘着力を調整する目的で、各種有機フィラー、無機フィラーを添加することもできる。尚、フィラーを含有させた場合、得られる層Aの粘着力を低下させる傾向にある。   In addition, various organic fillers and inorganic fillers can be added to the layer A for the purpose of adjusting the adhesive strength. In addition, when it contains a filler, it exists in the tendency to reduce the adhesive force of the layer A obtained.

上述の他の成分は、微細配線形成に悪影響を及ぼす程に層Aの表面粗度を大きくしない、また、層Aと無電解めっき層との接着性を低下させない範囲で組み合わせることが重要であり、この点には注意を要する。   It is important to combine the above-mentioned other components within a range that does not increase the surface roughness of the layer A to such an extent that the fine wiring formation is adversely affected, and does not decrease the adhesion between the layer A and the electroless plating layer. This point needs attention.

また、粘着力を低減される他の手法として、研磨剤による研磨やサンドブラスト等の機械的な粗化、アルカリ溶液への浸漬等による化学的粗化、また電子線や紫外線、プラズマ等の照射による表面改質等の手法を挙げることができる。この場合も、微細配線形成に悪影響を及ぼす程に層Aの表面粗度を大きくしない、また、層Aと無電解めっき層との接着性を低下させない範囲で組み合わせることが重要であり、この点には注意を要する。   Other methods for reducing adhesive strength include mechanical roughening such as polishing with abrasives and sandblasting, chemical roughening by immersion in an alkaline solution, etc., and irradiation with electron beams, ultraviolet rays, plasma, etc. Examples of the method include surface modification. Also in this case, it is important not to increase the surface roughness of the layer A so as to adversely affect the formation of fine wiring, and to combine within a range that does not reduce the adhesion between the layer A and the electroless plating layer. Be careful.

上述のように、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するジアミンの全ジアミン成分に対するモル濃度を特定の範囲内にすることや、上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂と他の成分とを含有させること、表面粗化や表面改質などの方法により、本発明の層A表面の粘着力を1.0N/25mm以下にせしめることが可能である。このように、粘着力を特定の範囲に調整することで、高接着強度と良好な無電解めっきの形成が可能となり、特にプリント配線板に用いた場合の微細な回路形成性が優れたものとなる。   As described above, the molar concentration of the diamine having the structure represented by the general formulas (1) to (6) with respect to all diamine components is set within a specific range, or the general formulas (1) to (6). The adhesive force of the surface of the layer A of the present invention is reduced to 1.0 N / 25 mm or less by a method such as surface roughening or surface modification by containing a polyimide resin having a structure represented by formula (II) and other components. Is possible. In this way, by adjusting the adhesive strength to a specific range, it becomes possible to form high adhesive strength and good electroless plating, and especially excellent in fine circuit formability when used for printed wiring boards. Become.

本発明の層Aの表面粗度は、カットオフ値0.002mmの測定した算術平均粗さRaで0.5μm未満であることが好ましい。したがって、本発明における層Aは、微少な範囲の表面の粗さを観察した場合、非常に平滑な表面を有しているといえる。よって、例えば、ライン アンド スペースが10μm/10μm以下であるような微細配線を形成する場合でも、悪影響を及ぼすことはない。   The surface roughness of the layer A of the present invention is preferably less than 0.5 μm in terms of arithmetic average roughness Ra measured with a cutoff value of 0.002 mm. Therefore, it can be said that the layer A in the present invention has a very smooth surface when the surface roughness in a minute range is observed. Therefore, for example, even when a fine wiring having a line and space of 10 μm / 10 μm or less is formed, there is no adverse effect.

この条件を満たす場合、特に本発明のめっき用材料をプリント配線板用途で使用する際には、良好な微細配線形成性を有する。このような表面を有する層Aを形成するには、例えば、以下の(1)〜(4)等の方法を、適宜組み合わせればよい。
(1)本発明のめっき用材料を構成するポリイミド樹脂などからなる樹脂溶液を、所望の材料上にスプレーによるコーティング、スピンコートなど公知の方法により形成してなる本発明のめっき用材料や、上記溶液を支持体上に流延塗布、乾燥して製造するシート状めっき用材料などにおいて、表面処理を行わない。
(2)支持体、あるいは合紙などの材料の、無電解めっきを施すための層Aと接する面の表面粗度を適切に選択する。
(3)少なくとも無電解めっきを施すための表面Aを有する層Aを含む2層以上の層から構成されたシートの場合は、層Aに接する層の表面粗度を適切に選択する。
(4)層Aに含まれるポリイミド樹脂の組成や、層Aを形成する際の乾燥条件を適切に選択する。
When this condition is satisfied, particularly when the plating material of the present invention is used for printed wiring board applications, it has good fine wiring formability. In order to form the layer A having such a surface, for example, the following methods (1) to (4) may be appropriately combined.
(1) The plating material of the present invention formed by forming a resin solution comprising a polyimide resin constituting the plating material of the present invention on a desired material by a known method such as spray coating or spin coating, Surface treatment is not performed on a sheet-like plating material produced by casting and drying a solution on a support.
(2) The surface roughness of the surface in contact with the layer A for electroless plating of a material such as a support or slip paper is appropriately selected.
(3) In the case of a sheet composed of at least two layers including the layer A having the surface A for performing electroless plating, the surface roughness of the layer in contact with the layer A is appropriately selected.
(4) The composition of the polyimide resin contained in the layer A and the drying conditions when forming the layer A are appropriately selected.

具体的には、サンドブラスト等の物理的な表面粗化や、アルカリ可溶性成分を配合し、アルカリ溶液で処理する等の化学的な表面粗化を実施しないことが好ましい。   Specifically, it is preferable not to perform physical surface roughening such as sandblasting or chemical surface roughening such as blending an alkali-soluble component and treating with an alkali solution.

また、本発明のめっき用材料が、支持体上に形成されたシートである場合は、支持体の表面粗度は十分に小さくすることが好ましい。さらに、該シートを用いて内層配線板と積層する場合は、積層の際に該シート上に対向させる合紙の表面粗度も十分に小さくすることが好ましい。したがって、支持体あるいは合紙の表面粗度は、カットオフ値0.002mmで測定した算術平均粗さRaで0.5μm以下であることが好ましい。   Further, when the plating material of the present invention is a sheet formed on a support, it is preferable that the surface roughness of the support is sufficiently small. Further, when the sheet is laminated with the inner wiring board, it is preferable that the surface roughness of the interleaving paper opposed to the sheet at the time of lamination is sufficiently reduced. Accordingly, the surface roughness of the support or slip sheet is preferably 0.5 μm or less in terms of arithmetic average roughness Ra measured at a cutoff value of 0.002 mm.

また、少なくとも無電解めっきを施すための層Aを含む2層以上から構成されたシートの場合は、層Aに接する層の表面粗度が、層Aの表面に影響する場合があるので、層Aに接する層の表面粗度も十分に小さくすることが好ましい。したがって、層Aに接する層の表面粗度は、カットオフ値0.002mmで測定した算術平均粗さで0.5μm以下であることが好ましい。   In the case of a sheet composed of at least two layers including the layer A for performing electroless plating, the surface roughness of the layer in contact with the layer A may affect the surface of the layer A. It is preferable that the surface roughness of the layer in contact with A is sufficiently small. Therefore, the surface roughness of the layer in contact with the layer A is preferably 0.5 μm or less in terms of arithmetic average roughness measured at a cutoff value of 0.002 mm.

また、無電解めっきを施すための層Aの表面粗度は、層Aに含まれるポリイミド樹脂に用いられる、酸二無水物成分やジアミン成分の種類や、配合比により変動する。例えば、上記一般式(6)で表される構造を有するジアミンを用いた場合には、組み合わせる酸二無水物成分あるいはその他のジアミン成分の種類によっては、相分離を起こしてRaが大きくなる場合がある。   Further, the surface roughness of the layer A for performing electroless plating varies depending on the type of acid dianhydride component and diamine component used in the polyimide resin contained in the layer A and the blending ratio. For example, when a diamine having a structure represented by the general formula (6) is used, Ra may increase due to phase separation depending on the type of acid dianhydride component or other diamine component to be combined. is there.

また、上記一般式(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂と熱可塑性ポリイミド樹脂とを混合する場合、相分離を起こしてRaが大きくなる傾向がある。また、乾燥条件なども考慮する。   Moreover, when mixing the polyimide resin which has a structure represented with the said General formula (6), and a thermoplastic polyimide resin, there exists a tendency which raise | generates a phase separation and Ra becomes large. Also consider the drying conditions.

本発明の無電解めっきを施すための層Aの表面粗度は、微少な範囲の表面の粗さが小さいものであるので、層Aに含まれるポリイミド樹脂の組成や、層Aの乾燥条件の組み合わせによって、その表面粗度は変動する。したがって、ポリイミド樹脂の組成や、層Aの乾燥条件を種々変更して、目的とする表面粗度が得られていることを確認すればよい。   The surface roughness of the layer A for performing electroless plating of the present invention is such that the surface roughness in a minute range is small, so the composition of the polyimide resin contained in the layer A and the drying conditions of the layer A The surface roughness varies depending on the combination. Therefore, what is necessary is just to confirm that the target surface roughness is obtained by variously changing the composition of the polyimide resin and the drying conditions of the layer A.

また、その他の成分を含有させた場合にも、配合量や樹脂の組み合わせによっては、相分離を起こしてRaが大きくなる場合があるので、含有される他の成分の配合量や樹脂を種々変更して、目的とする表面粗度が得られていることを確認すればよい。   Also, when other components are included, depending on the blending amount and the combination of resins, phase separation may occur and Ra may increase, so various blending amounts and resins of other contained components may be changed. Then, it is sufficient to confirm that the target surface roughness is obtained.

また、層Aには、無電解めっき層との接着性をより向上させる目的で、各種添加剤をめっき材料に添加、めっき材料表面に塗布等の方法で存在させることも可能である。具体的には有機チオール化合物などを挙げることができるが、これに限定されない。   In addition, for the purpose of further improving the adhesion to the electroless plating layer, various additives can be added to the plating material, and the layer A can be present on the surface of the plating material by a method such as coating. Specific examples include organic thiol compounds, but are not limited thereto.

(その他の層)
本発明のめっき用材料は、層Aを有しさえすればいかなる構成からなる材料であっても構わない。例えば、本発明のめっき用材料をプリント配線板、特にビルドアップ配線板等のリジッドプリント配線板に適用する場合、層Aのみから構成される材料であっても良いし、層Aと、形成された回路と対向させるための層Bとから構成される材料であっても良いし、層A/高分子フィルムC/層Bとから構成される材料であっても良い。また、本発明のめっき用材料をプリント配線板、特にフレキシブルプリント配線板に適用する場合、層A/高分子Cとから構成される材料であっても良いし、層A/高分子フィルムC/層Aとから構成される材料であっても良い。
(Other layers)
The plating material of the present invention may be any material as long as it has the layer A. For example, when the plating material of the present invention is applied to a printed wiring board, particularly a rigid printed wiring board such as a build-up wiring board, the material may be composed of only the layer A, or the layer A may be formed. It may be a material composed of a layer B for facing the circuit, or a material composed of layer A / polymer film C / layer B. Further, when the plating material of the present invention is applied to a printed wiring board, particularly a flexible printed wiring board, it may be a material composed of layer A / polymer C, or layer A / polymer film C / A material composed of the layer A may be used.

層Bは、形成された回路を有する表面に対して積層する際、回路間に層Bが流動して、回路を埋め込むことができる、優れた加工性が必要である。一般に、熱硬化性樹脂は上記加工性に優れており、層Bには熱硬化性樹脂を含むことが好ましい。この熱硬化性樹脂組成物としてはエポキシ樹脂、フェノール樹脂、熱硬化型ポリイミド樹脂、シアナートエステル樹脂、ヒドロシリル硬化樹脂、ビスマレイミド樹脂、ビスアリルナジイミド樹脂、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、アリル樹脂、不飽和ポリエステル樹脂等の熱硬化性樹脂;高分子鎖の側鎖または末端にアリル基、ビニル基、アルコキシシリル基、ヒドロシリル基等の反応性基を有する側鎖反応性基型熱硬化性高分子を適切な熱硬化剤、硬化触媒と組み合わせた熱硬化性樹脂組成物として適用可能である。これらの熱硬化性樹脂組成物に更に熱可塑性高分子を添加することも好ましく実施可能であり、例えばエポキシ樹脂とフェノキシ樹脂を含む熱硬化性樹脂組成物やエポキシ樹脂と熱可塑性ポリイミド樹脂を含む熱硬化性樹脂組成物、シアナート樹脂と熱可塑性ポリイミド樹脂を含む熱硬化性樹脂組成物等は好ましく実施可能である。この中でも、めっき用材料として要求される諸特性バランスに優れるエポキシ樹脂と熱可塑性ポリイミド樹脂を含む熱硬化性樹脂組成物が最も好ましい。また、低熱膨張性発現のため、各種フィラーを組み合わせることも可能である。   When the layer B is laminated on the surface having the formed circuit, the layer B needs to have excellent workability so that the layer B flows between the circuits and the circuit can be embedded. In general, the thermosetting resin is excellent in the processability, and the layer B preferably contains a thermosetting resin. This thermosetting resin composition includes epoxy resin, phenol resin, thermosetting polyimide resin, cyanate ester resin, hydrosilyl cured resin, bismaleimide resin, bisallyl nadiimide resin, acrylic resin, methacrylic resin, allyl resin, Thermosetting resin such as saturated polyester resin; side chain reactive group type thermosetting polymer having reactive groups such as allyl group, vinyl group, alkoxysilyl group, hydrosilyl group at the side chain or terminal of polymer chain It can be applied as a thermosetting resin composition in combination with an appropriate thermosetting agent and a curing catalyst. It is also possible to preferably add a thermoplastic polymer to these thermosetting resin compositions. For example, a thermosetting resin composition containing an epoxy resin and a phenoxy resin, or a heat containing an epoxy resin and a thermoplastic polyimide resin. A curable resin composition, a thermosetting resin composition containing a cyanate resin and a thermoplastic polyimide resin, and the like can be preferably implemented. Among these, a thermosetting resin composition including an epoxy resin and a thermoplastic polyimide resin that are excellent in a balance of various properties required as a plating material is most preferable. In addition, various fillers can be combined for low thermal expansion.

高分子フィルムCとしては、特に限定はなく、あらゆる高分子フィルムを使用することが可能であるが、耐熱性、低熱膨張性の観点から非熱可塑性ポリイミドフィルムが好ましい。   The polymer film C is not particularly limited, and any polymer film can be used, but a non-thermoplastic polyimide film is preferable from the viewpoint of heat resistance and low thermal expansion.

なお、本発明の無電解めっきを施すための層Aを少なくとも有するめっき用材料は、表面処理を特別施さなくても、無電解めっきとの接着性に優れるものであるが、表面処理を施して用いてもかまわない。ただし、プリント配線板に用いる場合には、配線形成に悪影響を及ぼさない程度の表面粗度を有する必要がある。   The plating material having at least the layer A for performing electroless plating of the present invention is excellent in adhesiveness with electroless plating without special surface treatment. You can use it. However, when used for a printed wiring board, it is necessary to have a surface roughness that does not adversely affect wiring formation.

本発明のめっき用材料あるいは絶縁シートには、無電解めっき皮膜の形成を行う前に、デスミアなどのアルカリ処理を施す場合がある。従来公知の材料である、エポキシ樹脂材料などは、デスミアなどのアルカリ処理によって表面が粗化されてしまう。これに対して、本発明の無電解めっきを施すための層Aとして、特に上記式(1)、(2)、(4)、または(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂を用いることが、デスミアなどのアルカリ処理をしても、表面が粗化されずに平滑に保つことができ、かつ、強固に無電解めっき皮膜が形成されるという点から好ましい。   The plating material or insulating sheet of the present invention may be subjected to an alkali treatment such as desmear before forming an electroless plating film. The surface of a conventionally known material, such as an epoxy resin material, is roughened by an alkali treatment such as desmear. On the other hand, a polyimide resin having a structure represented by the above formula (1), (2), (4), or (6) is used as the layer A for performing the electroless plating of the present invention. However, even if an alkali treatment such as desmear is performed, the surface can be kept smooth without being roughened and an electroless plating film can be formed firmly.

(無電解めっき)
本発明のめっき用材料の層Aに形成される無電解めっきの種類としては、無電解銅めっき、無電解ニッケルめっき、無電解金めっき、無電解銀めっき、無電解錫めっき、等を挙げる事ができ本発明に使用可能であるが、工業的観点、耐マイグレーション性等の電気特性の観点より、無電解銅めっき、無電解ニッケルめっきが好ましく、特に好ましくは無電解銅めっきである。
(Electroless plating)
Examples of the electroless plating formed on the layer A of the plating material of the present invention include electroless copper plating, electroless nickel plating, electroless gold plating, electroless silver plating, and electroless tin plating. However, from the viewpoint of electrical characteristics such as industrial viewpoint and migration resistance, electroless copper plating and electroless nickel plating are preferable, and electroless copper plating is particularly preferable.

(本発明の溶液)
本発明の溶液は、層Aを形成するために用いられることを特徴とする上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するポリイミド樹脂を含有する溶液である。該溶液は、上述したように、ポリイミド樹脂以外にも他の成分を含んでいても良く、またこれら樹脂成分を溶解するいかなる溶媒をも使用することができる。ここで溶解するとは、溶媒に対して樹脂成分が1重量%以上溶解することをいう。該溶液は、所望の材料上に浸漬、スプレーによるコーティング、スピンコート等公知の方法により塗布、乾燥することにより層Aを形成することができる。
(Solution of the present invention)
The solution of the present invention is a solution containing a polyimide resin having a structure represented by the above general formulas (1) to (6), which is used for forming the layer A. As described above, the solution may contain other components in addition to the polyimide resin, and any solvent that dissolves these resin components can be used. Here, dissolving means that the resin component is dissolved by 1% by weight or more with respect to the solvent. The solution A can be formed on the desired material by coating and drying by a known method such as dipping, spray coating, spin coating and the like.

また、本発明の溶液は、層Aを形成するために用いられることを特徴とする上記一般式(1)〜(6)で表される構造を有するポリアミド酸を含有する溶液である。該溶液は、上述したように、ポリアミド酸溶液以外にも他の成分を含んでいても良く、またこれら樹脂成分を溶解するいかなる溶媒をも使用することができる。ここで溶解するとは、溶媒に対して樹脂成分が1重量%以上溶解することをいう。該溶液は、所望の材料上に公知の方法により浸漬、スプレーによるコーティング、スピンコート等公知の方法により塗布、イミド化することにより層Aを形成することができる。イミド化は、上述のように、ポリアミド酸溶液を熱処理して脱水する熱的方法、脱水剤を用いて脱水する化学的方法のいずれも用いることができる。また、減圧下で加熱してイミド化する方法も用いることができる。この中でも、処理が簡便で製造効率が良い点から、熱処理して脱水する熱的方法によりイミド化する方法を好ましく用いることができる。   The solution of the present invention is a solution containing a polyamic acid having a structure represented by the above general formulas (1) to (6), which is used for forming the layer A. As described above, the solution may contain other components in addition to the polyamic acid solution, and any solvent that dissolves these resin components can be used. Here, dissolving means that the resin component is dissolved by 1% by weight or more with respect to the solvent. The solution can be applied to the desired material by a known method such as dipping, spray coating, spin coating and imidization to form the layer A by a known method. As described above, imidation can be carried out using either a thermal method in which a polyamic acid solution is heat-treated for dehydration or a chemical method for dehydration using a dehydrating agent. Moreover, the method of imidating by heating under reduced pressure can also be used. Among these, from the viewpoint of simple treatment and good production efficiency, a method of imidization by a thermal method of heat treatment and dehydration can be preferably used.

(本発明のめっき用材料の形態と製造方法)
次に本発明のめっき用材料の製造方法について説明する。
(Form and manufacturing method of plating material of the present invention)
Next, the manufacturing method of the plating material of this invention is demonstrated.

本発明のめっき用材料の形態の1つは、ポリイミド樹脂を含有する溶液である。例えば、無電解めっきを施すための層Aを形成する上記溶液を製造し、該溶液を浸漬、スプレーによるコーティング、スピンコート等の公知の方法により、内層配線板や高分子フィルム等の所望の材料上に塗布、乾燥せしめて層Aを形成することができる。ここで、粘着力を本発明の範囲内に調整するために、充分に揮発分を除去可能な乾燥条件で乾燥せしめることが好ましい。(具体的には、TGA(TGA−50、島津製作所製)測定装置を用いて、条件20℃/分、温度−Tg曲線の20〜200℃間の減量%を測定することにより定量した揮発分が、1%以下とであることが好ましい。)
本発明のめっき用材料の別の形態の1つは、ポリアミド酸溶液である。例えば、無電解めっきを施すための層Aを形成する上記溶液を製造し、該溶液を浸漬、スプレーによるコーティング、スピンコート等の公知の方法により、内層配線板や高分子フィルム等の所望の材料上に塗布、イミド化せしめて層Aを形成することができる。ここで、粘着力を本発明の範囲内に調整するために、充分に揮発分を除去可能な乾燥条件で乾燥せしめることが好ましい。(具体的には、TGA(TGA−50、島津製作所製)測定装置を用いて、条件20℃/分、温度−Tg曲線の20〜200℃間の減量%を測定することにより定量した揮発分が、1%以下とであることが好ましい。)
本発明のめっき用材料の、別の形態は、シートである。例えば、無電解めっきを施す層Aを形成する溶液を支持体上に流延塗布し、その後乾燥せしめることにより層Aを有するシートを製造する。このシートを内層配線板や高分子フィルム等の所望の材料上に積層することにより層Aを形成することができる。尚、上述したように、本発明の層Aとは、厚さが10Å以上を有する層のことをいう。
One of the forms of the plating material of the present invention is a solution containing a polyimide resin. For example, the above solution for forming the layer A for electroless plating is manufactured, and the desired material such as an inner wiring board or a polymer film is produced by a known method such as immersion, spray coating, spin coating, etc. The layer A can be formed by applying and drying the coating. Here, in order to adjust the adhesive strength within the range of the present invention, it is preferable to dry it under drying conditions that can sufficiently remove volatile matter. (Specifically, using a TGA (TGA-50, manufactured by Shimadzu Corporation) measuring device, the volatile content quantified by measuring the weight loss% between 20 ° C. and 200 ° C. of the condition 20 ° C./min and the temperature-Tg curve. Is preferably 1% or less.)
One of the other forms of the plating material of the present invention is a polyamic acid solution. For example, the above solution for forming the layer A for electroless plating is manufactured, and the desired material such as an inner wiring board or a polymer film is produced by a known method such as immersion, spray coating, spin coating, etc. The layer A can be formed by coating and imidizing it. Here, in order to adjust the adhesive strength within the range of the present invention, it is preferable to dry it under drying conditions that can sufficiently remove volatile matter. (Specifically, using a TGA (TGA-50, manufactured by Shimadzu Corporation) measuring device, the volatile content quantified by measuring the weight loss% between 20 ° C. and 200 ° C. of the condition 20 ° C./min and the temperature-Tg curve. Is preferably 1% or less.)
Another form of the plating material of the present invention is a sheet. For example, the sheet | seat which has the layer A is manufactured by carrying out casting application | coating of the solution which forms the layer A which performs electroless plating on a support body, and making it dry after that. By laminating this sheet on a desired material such as an inner wiring board or a polymer film, the layer A can be formed. As described above, the layer A of the present invention refers to a layer having a thickness of 10 mm or more.

以上、本発明のめっき用材料の形態と使用方法について例示したが、これに限定されるものではない。   As mentioned above, although it illustrated about the form and usage method of the material for plating of this invention, it is not limited to this.

<プリント配線板>
本発明のめっき用材料は、プリント配線板用途に好ましく用いる事ができる。ここで、本発明のシート状のめっき用材料を用いたプリント配線板を製造する方法として、順に、樹脂フィルム基材の付いたシート状のめっき用材料、回路パターンが形成された内層基板を積層し、樹脂フィルム基材を剥離することにより露出する層A表面に対し無電解めっきを行い、回路パターン用の金属層を得る事が可能である。
<Printed wiring board>
The plating material of the present invention can be preferably used for printed wiring board applications. Here, as a method of manufacturing a printed wiring board using the sheet-like plating material of the present invention, a sheet-like plating material with a resin film base material and an inner layer substrate on which a circuit pattern is formed are sequentially laminated. Then, it is possible to obtain a metal layer for a circuit pattern by performing electroless plating on the surface of the layer A exposed by peeling the resin film substrate.

上記において内層基板にフレキシブルプリント配線板を用いた場合、多層フレキシブル配線板を製造する事になり、また、ガラス−エポキシ基材等を用いたプリント配線板を用いた場合、多層リジッド配線板やビルドアップ配線板を製造する事になる。また、多層プリント配線板には垂直方向の電気的接続の為にヴィアの形成が必要であるが、本発明のプリント配線板においては、レーザー、メカニカルドリル、パンチング等の公知の方法でヴィアを形成し、無電解めっき等の公知の方法で導電化することが可能であり、好ましく実施される。   In the above, when a flexible printed wiring board is used for the inner layer board, a multilayer flexible wiring board is manufactured, and when a printed wiring board using a glass-epoxy base material is used, a multilayer rigid wiring board or build An up-wiring board will be manufactured. In addition, vias must be formed on the multilayer printed wiring board for vertical electrical connection. In the printed wiring board of the present invention, vias are formed by a known method such as laser, mechanical drilling or punching. However, it can be made conductive by a known method such as electroless plating and is preferably carried out.

積層に際しては、熱プレス処理、真空プレス処理、ラミネート処理(熱ラミネート処理)、真空ラミネート処理、熱ロールラミネート処理、真空熱ロールラミネート処理等の熱圧着処理を行うことができる。中でも真空下での処理、すなわち真空プレス処理、真空ラミネート処理、真空熱ロールラミネート処理がより良好に回路間をボイド無く埋め込むことが可能であり、好ましく実施可能である。   At the time of lamination, thermocompression treatment such as heat press treatment, vacuum press treatment, laminating treatment (heat laminating treatment), vacuum laminating treatment, hot roll laminating treatment, vacuum hot roll laminating treatment can be performed. Among these, processing under vacuum, that is, vacuum press processing, vacuum laminating processing, and vacuum hot roll laminating processing can be preferably performed without voids between the circuits, and can be preferably performed.

また、層Aと無電解めっき層との接着性を向上させる目的で、無電解めっき層を形成後に加熱処理を施すことも可能である。   Moreover, it is also possible to heat-process after forming an electroless-plating layer in order to improve the adhesiveness of the layer A and an electroless-plating layer.

なお本発明は、以上説示した各構成に限定されるものではなく、特許請求の範囲に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。   The present invention is not limited to the configurations described above, and various modifications can be made within the scope of the claims, and the technical means disclosed in different embodiments are appropriately combined. The obtained embodiment is also included in the technical scope of the present invention.

本発明について、実施例に基づいてより具体的に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。当業者は本発明の範囲を逸脱することなく、種々の変更、修正、および改変を行うことができる。なお、本発明にかかるめっき用材料の特性として、無電解めっき銅との接着性、表面粗さRa、粘着性、配線形成性は以下のように評価または算出した。   The present invention will be described more specifically based on examples, but the present invention is not limited to this. Those skilled in the art can make various changes, modifications, and alterations without departing from the scope of the present invention. In addition, as the characteristics of the plating material according to the present invention, the adhesion to the electroless plated copper, the surface roughness Ra, the adhesiveness, and the wiring formability were evaluated or calculated as follows.

〔接着性評価〕
層Aを有するめっき用材料/支持体からなる材料を作製し、めっき用材料とガラスエポキシ基板FR−4(商品番号:MCL−E−67、日立化成工業(株)社製;銅箔の厚さ50μm、全体の厚さ1.2mm)とを対向させ、温度170℃、圧力1MPa、真空下の条件で6分の加熱加圧を行った後、ポリエチレンテレフタレートフィルムを引き剥がして、130℃で10分、150℃で10分、180℃で30分加熱して、層Aを有するめっき用材料/FR―4からなる積層体を得た。その後、露出する層Aに銅層の形成を行った。銅層の形成は、デスミアおよび無電解銅めっきを行なった後、無電解めっき銅上に厚さ18μmの電解めっき銅層を形成して行った。その後、180℃、30分の乾燥処理を行った後、JPCA−BU01−1998(社団法人日本プリント回路工業会発行)に従い、常態、及びプレッシャークッカー試験(PCT)後の接着強度を測定した。尚、デスミアおよび無電解銅めっきは以下の表1〜2に記載のプロセスで実施した。
常態接着強度:25℃、50%の雰囲気下、24時間放置した後に測定した接着強度。
PCT後接着強度:121℃、100%の雰囲気下、96時間放置した後に測定した接着強度。
[Adhesion evaluation]
A material composed of a plating material / support having layer A is prepared, and the plating material and glass epoxy substrate FR-4 (product number: MCL-E-67, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .; copper foil thickness) 50 μm, overall thickness 1.2 mm), and after heating and pressurizing for 6 minutes under the conditions of temperature 170 ° C., pressure 1 MPa, and vacuum, the polyethylene terephthalate film was peeled off at 130 ° C. The laminate was heated for 10 minutes at 150 ° C. for 10 minutes and at 180 ° C. for 30 minutes to obtain a laminate made of the plating material / FR-4 having the layer A. Thereafter, a copper layer was formed on the exposed layer A. The copper layer was formed by performing desmearing and electroless copper plating, and then forming an electroplated copper layer having a thickness of 18 μm on the electroless plated copper. Thereafter, after drying at 180 ° C. for 30 minutes, the adhesive strength after normal and pressure cooker tests (PCT) was measured according to JPCA-BU01-1998 (published by Japan Printed Circuit Industry Association). In addition, desmear and electroless copper plating were implemented by the process of the following Tables 1-2.
Normal-state adhesive strength: Adhesive strength measured after standing for 24 hours in an atmosphere of 25 ° C. and 50%.
Adhesive strength after PCT: Adhesive strength measured after standing for 96 hours in an atmosphere of 121 ° C. and 100%.

Figure 0004866589
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Figure 0004866589
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〔表面粗度Ra測定〕
上記接着性測定項目のサンプル作製手順において、デスミアまで行った状態のサンプルを用い、層Aの表面粗度Raの測定を行った。測定は、光波干渉式表面粗さ計(ZYGO社製NewView5030システム)を用いて下記の条件で層Aの算術平均粗さを測定した。
[Surface roughness Ra measurement]
In the sample preparation procedure of the adhesiveness measurement item, the surface roughness Ra of the layer A was measured using a sample in a state where desmearing was performed. In the measurement, the arithmetic average roughness of the layer A was measured under the following conditions using a light wave interference type surface roughness meter (New View 5030 system manufactured by ZYGO).

(測定条件)
対物レンズ:50倍ミラウ
イメージズーム:2
FDA Res:Normal
解析条件:
Remove:Cylinder
Filter:High Pass
Filter Low Waven:0.002mm
〔粘着性〕
層Aを有する表面とSUS302鋼板とを、ゴムローラーにて、2000gの荷重、約300mm/minの速度で一往復させて試験片と試験板とを圧着した。上記試験サンプルを用いて、300mm/minの速度にて90度剥離試験を実施し、90度引き剥がし粘着力を測定した。
(Measurement condition)
Objective lens: 50x Mirau
Image zoom: 2
FDA Res: Normal
Analysis conditions:
Remove: Cylinder
Filter: High Pass
Filter Low Wave: 0.002mm
[Adhesiveness]
The surface having the layer A and the SUS302 steel plate were reciprocated once with a rubber roller at a load of 2000 g and a speed of about 300 mm / min to press-bond the test piece and the test plate. Using the test sample, a 90 ° peel test was performed at a speed of 300 mm / min, and the 90 ° peel adhesive strength was measured.

〔配線形成性〕
層Aを有するめっき用材料/支持体からなる材料を作製し、めっき用材料と、ガラスエポキシ基板FR−4(商品番号:MCL−E−67、日立化成工業(株)社製;銅箔の厚さ50μm、全体の厚さ1.2mm)を加工し、配線形成したFR−4(配線厚さ12μm)の配線側とを対向させ、温度170℃、圧力1MPa、真空下の条件で6分の加熱加圧を行った後、ポリエチレンテレフタレートフィルムを引き剥がして、130℃で10分、150℃で10分、180℃で30分加熱して、層Aを有するめっき用材料/FR―4からなる積層体を得た。その後、UV−YAGレーザーにより内層のFR−4の電極直上に該電極に至る内径30μmのビアホールを開け、続いて基板全面に無電解銅めっきを施した後180℃、30分の加熱処理を施した。その後、形成した銅めっき層上にレジストパターンを形成し、厚み10μmの電解銅めっきを施した後、レジストパターンを剥離し、さらに露出しためっき銅を塩酸/塩化第二鉄系エッチャントで除去して、ライン アンド スペース(L/S)=100μm/100μm、及びL/S=10μm/10μmの配線を有するプリント配線板を作製した。該プリント配線板の配線が、断線や形状不良なく良好に作製できている場合を○、断線や形状不良を生じている場合を×として配線形成性を評価した。
[Wiring formability]
A material composed of a plating material / support having the layer A is prepared, and the plating material and a glass epoxy substrate FR-4 (product number: MCL-E-67, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .; copper foil) 50μm thick, 1.2mm overall thickness), and the wiring side of the wiring formed FR-4 (wiring thickness 12μm) is made to face, temperature is 170 ° C, pressure is 1MPa, 6 minutes under vacuum After heating and pressurizing, the polyethylene terephthalate film is peeled off, and heated at 130 ° C. for 10 minutes, 150 ° C. for 10 minutes, and 180 ° C. for 30 minutes, from the plating material having layer A / FR-4 The resulting laminate was obtained. After that, a via hole with an inner diameter of 30 μm reaching the electrode is opened immediately above the FR-4 electrode of the inner layer by a UV-YAG laser, followed by electroless copper plating on the entire surface of the substrate, followed by heat treatment at 180 ° C. for 30 minutes. did. Thereafter, a resist pattern is formed on the formed copper plating layer, and after applying electrolytic copper plating with a thickness of 10 μm, the resist pattern is peeled off, and the exposed plated copper is removed with a hydrochloric acid / ferric chloride-based etchant. A printed wiring board having wirings of line and space (L / S) = 100 μm / 100 μm and L / S = 10 μm / 10 μm was produced. The wiring formability was evaluated by assuming that the case where the wiring of the printed wiring board was satisfactorily produced without disconnection or shape defect and that the case where disconnection or shape defect occurred was x.

〔合成例1:ポリイミド樹脂〕
容量2000mlのガラス製フラスコに、信越化学工業株式会社製KF8010を62g(0.075mol)と、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル15g(0.075mol)と、N,N−ジメチルホルムアミド(以下、DMFと呼ぶ)を投入し、撹拌しながら溶解させ、4,4´―(4,4´―イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)78g(0.15mol)を添加、約1時間撹拌し、固形分濃度30%ポリアミド酸のDMF溶液を得た。上記ポリアミド酸溶液をテフロン(登録商標)コートしたバットにとり、真空オーブンで、200℃、120分、665Paで減圧加熱し、ポリイミド樹脂1を得た。
[Synthesis Example 1: Polyimide resin]
In a glass flask having a capacity of 2000 ml, 62 g (0.075 mol) of KF8010 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., 15 g (0.075 mol) of 4,4′-diaminodiphenyl ether, N, N-dimethylformamide (hereinafter referred to as DMF) Is added, dissolved while stirring, 78 g (0.15 mol) of 4,4 ′-(4,4′-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) is added, stirred for about 1 hour, and solid A DMF solution of polyamic acid with a partial concentration of 30% was obtained. The polyamic acid solution was placed in a Teflon (registered trademark) -coated vat and heated in a vacuum oven at 200 ° C. for 120 minutes under reduced pressure at 665 Pa to obtain polyimide resin 1.

〔合成例2:ポリイミド樹脂〕
容量2000mlのガラス製フラスコに、信越化学工業株式会社製KF8010を37g(0.05mol)と、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル21g(0.10mol)と、DMFを投入し、撹拌しながら溶解させ、4,4´―(4,4´―イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)78g(0.15mol)を添加、約1時間撹拌し、固形分濃度30%ポリアミド酸のDMF溶液を得た。上記ポリアミド酸溶液をテフロン(登録商標)コートしたバットにとり、真空オーブンで、200℃、120分、665Paで減圧加熱し、ポリイミド樹脂2を得た。
[Synthesis Example 2: Polyimide resin]
In a glass flask with a volume of 2000 ml, 37 g (0.05 mol) of KF8010 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., 21 g (0.10 mol) of 4,4′-diaminodiphenyl ether, and DMF were added and dissolved while stirring. 78 g (0.15 mol) of 4,4 ′-(4,4′-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) was added and stirred for about 1 hour to obtain a DMF solution of polyamic acid with a solid content concentration of 30%. . The polyamic acid solution was placed in a Teflon (registered trademark) -coated vat and heated in a vacuum oven at 200 ° C. for 120 minutes under reduced pressure at 665 Pa to obtain polyimide resin 2.

〔合成例3:ポリイミド樹脂〕
容量2000mlのガラス製フラスコに、信越化学工業株式会社製KF8010を123g(0.15mol)と、DMFを投入し、撹拌しながら溶解させ、4,4´―(4,4´―イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)78g(0.15mol)を添加、約1時間撹拌し、固形分濃度30%ポリアミド酸のDMF溶液を得た。上記ポリアミド酸溶液をテフロン(登録商標)コートしたバットにとり、真空オーブンで、200℃、120分、665Paで減圧加熱し、熱可塑性ポリイミド樹脂3を得た。
[Synthesis Example 3: Polyimide resin]
123 g (0.15 mol) of KF8010 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. and DMF were introduced into a glass flask with a volume of 2000 ml and dissolved while stirring to obtain 4,4 ′-(4,4′-isopropylidenediphenoxy. ) 78 g (0.15 mol) of bis (phthalic anhydride) was added and stirred for about 1 hour to obtain a DMF solution of polyamic acid having a solid content of 30%. The polyamic acid solution was placed in a vat coated with Teflon (registered trademark) and heated under reduced pressure at 200 ° C. for 120 minutes at 665 Pa in a vacuum oven to obtain a thermoplastic polyimide resin 3.

〔合成例4:ポリイミド樹脂〕
容量2000mlのガラス製フラスコに、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン41g(0.143mol)と、3,3’−ジヒドロキシ−4,4’−ジアミノビフェニル1.6g(0.007mol)と、DMFを投入し、撹拌しながら溶解させ、4,4´―(4,4´―イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)78g(0.15mol)を添加、約1時間撹拌し、固形分濃度30%ポリアミド酸のDMF溶液を得た。上記ポリアミド酸溶液をテフロン(登録商標)コートしたバットにとり、真空オーブンで、200℃、180分、665Paで減圧加熱し、ポリイミド樹脂4を得た。
[Synthesis Example 4: Polyimide resin]
In a glass flask having a capacity of 2000 ml, 41 g (0.143 mol) of 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene and 1.6 g (0.007 mol) of 3,3′-dihydroxy-4,4′-diaminobiphenyl were added. DMF was added and dissolved while stirring, and 78 g (0.15 mol) of 4,4 ′-(4,4′-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) was added and stirred for about 1 hour. A DMF solution of polyamic acid with a solid content concentration of 30% was obtained. The polyamic acid solution was placed in a Teflon (registered trademark) -coated vat and heated under reduced pressure at 200 ° C. for 180 minutes at 665 Pa in a vacuum oven to obtain polyimide resin 4.

〔合成例5:ポリイミド樹脂〕
容量2000mlのガラス製フラスコに、エラスマー1000P(イハラケミカル工業(株)製)55g(0.045mol)と、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル21g(0.105mol)と、DMFとを投入し、撹拌しながら溶解させ、4,4’−(4,4’−イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)78g(0.15mol)を添加、1時間撹拌し、固形分濃度30%ポリアミド酸のDMF溶液を得た。上記ポリアミド酸溶液をテフロン(登録商標)コートしたバットにとり、真空オーブンで、200℃、180分、665Paで減圧加熱し、ポリイミド樹脂5を得た。
[Synthesis Example 5: Polyimide resin]
Into a glass flask having a capacity of 2000 ml, 55 g (0.045 mol) of Elastomer 1000P (manufactured by Ihara Chemical Industry Co., Ltd.), 21 g (0.105 mol) of 4,4′-diaminodiphenyl ether, and DMF are added and stirred. Then, 78 g (0.15 mol) of 4,4 ′-(4,4′-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) was added and stirred for 1 hour, and a DMF solution of polyamic acid with a solid content concentration of 30% was added. Got. The polyamic acid solution was placed in a vat coated with Teflon (registered trademark) and heated under reduced pressure in a vacuum oven at 200 ° C. for 180 minutes at 665 Pa to obtain polyimide resin 5.

〔合成例6:ポリイミド樹脂〕
容量2000mlのガラス製フラスコに、エラスマー1000P(イハラケミカル工業(株)製)92g(0.075mol)と、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル15g(0.075mol)と、DMFとを投入し、撹拌しながら溶解させ、4,4’−(4,4’−イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)78g(0.15mol)を添加、1時間撹拌し、固形分濃度30%ポリアミド酸のDMF溶液を得た。上記ポリアミド酸溶液をテフロン(登録商標)コートしたバットにとり、真空オーブンで、200℃、180分、665Paで減圧加熱し、ポリイミド樹脂6を得た。
[Synthesis Example 6: Polyimide resin]
Into a glass flask having a capacity of 2000 ml, 92 g (0.075 mol) of Elastomer 1000P (manufactured by Ihara Chemical Industry Co., Ltd.), 15 g (0.075 mol) of 4,4′-diaminodiphenyl ether, and DMF were added and stirred. Then, 78 g (0.15 mol) of 4,4 ′-(4,4′-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) was added and stirred for 1 hour, and a DMF solution of polyamic acid with a solid content concentration of 30% was added. Got. The polyamic acid solution was placed in a vat coated with Teflon (registered trademark) and heated under reduced pressure at 200 ° C. for 180 minutes at 665 Pa in a vacuum oven to obtain polyimide resin 6.

〔調合例1:層Aを形成する溶液〕
ポリイミド樹脂1をジオキソランに溶解させ、層Aを形成する溶液(a)を得た。固形分濃度は15重量%となるようにした。
[Formulation Example 1: Solution for forming layer A]
The polyimide resin 1 was dissolved in dioxolane to obtain a solution (a) for forming the layer A. The solid content concentration was 15% by weight.

〔調合例2:層Aを形成する溶液〕
ポリイミド樹脂2をジオキソランに溶解させ、層Aを形成する溶液(b)を得た。固形分濃度は15重量%となるようにした。
[Formulation Example 2: Solution for forming layer A]
The polyimide resin 2 was dissolved in dioxolane to obtain a solution (b) for forming the layer A. The solid content concentration was 15% by weight.

〔調合例3:層Aを形成する溶液〕
ポリイミド樹脂3をジオキソランに溶解させ、層Aを形成する溶液(c)を得た。固形分濃度は15重量%となるようにした。
[Formulation Example 3: Solution for forming layer A]
The polyimide resin 3 was dissolved in dioxolane to obtain a solution (c) for forming the layer A. The solid content concentration was 15% by weight.

〔調合例4:層Aを形成する溶液〕
ポリイミド樹脂4をジオキソランに溶解させ、溶液(d)を得た。固形分濃度は15重量%となるようにした。また、信越化学工業株式会社製のポリイミドシリコーン溶液、Xー22−8917(固形分濃度20重量%、シクロヘキサノン溶液)を用い、層Aを形成する溶液(e)とした。溶液(d)30gと溶液(e)70gを混合して層Aを形成する溶液(f)を得た。
[Formulation Example 4: Solution for forming layer A]
The polyimide resin 4 was dissolved in dioxolane to obtain a solution (d). The solid content concentration was 15% by weight. Moreover, the polyimide silicone solution made from Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., X-22-8917 (solid content concentration 20 weight%, cyclohexanone solution) was used, and it was set as the solution (e) which forms the layer A. 30 g of the solution (d) and 70 g of the solution (e) were mixed to obtain a solution (f) that forms the layer A.

〔調合例5:層Aを形成する溶液〕
ジャパンエポキシレジン(株)社製ビフェニル型エポキシ樹脂のYX4000H32.1g、和歌山精化工業(株)社製ジアミンのビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン17.9g、四国化成工業(株)社製のエポキシ硬化剤、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]ーエチル−s―トリアジン0.2gをジオキソランに溶解させ、固形分濃度50%の溶液(g)を得た。溶液(c)60gと溶液(g)40gを混合して層Aを形成する溶液(h)を得た。
[Formulation Example 5: Solution for forming layer A]
Japan Epoxy Resin Co., Ltd. YX4000H 32.1g of biphenyl type epoxy resin, Wakayama Seika Kogyo Co., Ltd. bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone 17.9g, Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. ) Epoxy curing agent, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 0.2 g, dissolved in dioxolane, and having a solid content concentration of 50% (G) was obtained. 60 g of the solution (c) and 40 g of the solution (g) were mixed to obtain a solution (h) that forms the layer A.

〔調合例6:層Aを形成する溶液〕
ポリイミド樹脂5をジオキソランに溶解させ、層Aを形成する溶液(i)を得た。固形分濃度は15重量%となるようにした。
[Formulation Example 6: Solution for forming layer A]
The polyimide resin 5 was dissolved in dioxolane to obtain a solution (i) for forming the layer A. The solid content concentration was 15% by weight.

〔調合例7:層Aを形成する溶液〕
ポリイミド樹脂6をジオキソランに溶解させ、層Aを形成する溶液(j)を得た。固形分濃度は15重量%となるようにした。
[Formulation Example 7: Solution for forming layer A]
The polyimide resin 6 was dissolved in dioxolane to obtain a solution (j) for forming the layer A. The solid content concentration was 15% by weight.

〔調合例8:層B溶液〕
溶液(d)50gと溶液(g)15gと(株)龍森社製のシリカ(アドマファインS0−C5、平均粒径=1.5μm)50gとを混合し、層B溶液(k)を得た。
[Formulation Example 8: Layer B solution]
50 g of the solution (d), 15 g of the solution (g), and 50 g of silica (Admafine S0-C5, average particle size = 1.5 μm) manufactured by Tatsumori Co., Ltd. are mixed to obtain a layer B solution (k). It was.

〔実施例1〕
表3に示す層Aを形成する溶液を、支持体となるポリエチレンテレフタレートフィルム(商品名セラピールHP、東洋メタライジング社製)の表面上に流延塗布した。その後、熱風オーブンにて60℃、100℃、150℃の温度で加熱乾燥させ、厚み25μmの層Aを有するめっき用材料/支持体からなる材料を得た。得られた材料を用いて、各種評価項目の評価手順に従い評価した。粘着力の測定は、支持体を引き剥がした表面について測定した。評価結果を表3に示す。
[Example 1]
The solution for forming the layer A shown in Table 3 was cast-coated on the surface of a polyethylene terephthalate film (trade name Therapy HP, manufactured by Toyo Metallizing Co., Ltd.) serving as a support. Then, it was heat-dried at a temperature of 60 ° C., 100 ° C., and 150 ° C. in a hot air oven to obtain a material composed of a plating material / support having a layer A having a thickness of 25 μm. Using the obtained material, it evaluated according to the evaluation procedure of various evaluation items. The adhesive strength was measured on the surface from which the support was peeled off. The evaluation results are shown in Table 3.

〔実施例2〜4〕
表3に示す層Aを形成する溶液に従い、実施例1と同様の手順で層Aを有するめっき用材料を得た。得られたシートを各種評価項目の評価手順に従い評価した。評価結果を表3に示す。
[Examples 2 to 4]
According to the solution for forming the layer A shown in Table 3, a plating material having the layer A was obtained in the same procedure as in Example 1. The obtained sheet | seat was evaluated in accordance with the evaluation procedure of various evaluation items. The evaluation results are shown in Table 3.

〔実施例5〕
表3に示す層Aを形成する溶液を、支持体となるポリエチレンテレフタレートフィルム(商品名セラピールHP、東洋メタライジング社製)の表面上に流延塗布した。その後、熱風オーブンにて60℃の温度で加熱乾燥させ、厚み5μmの層Aを有するめっき用材料を得た。
Example 5
The solution for forming the layer A shown in Table 3 was cast-coated on the surface of a polyethylene terephthalate film (trade name Therapy HP, manufactured by Toyo Metallizing Co., Ltd.) serving as a support. Then, it was heat-dried at a temperature of 60 ° C. in a hot air oven to obtain a plating material having a layer A having a thickness of 5 μm.

続いて層Aに表3に示す層B溶液を流延塗布し、熱風オーブンにて80℃、100℃、120℃、150℃、170℃の温度で、各1分ずつ加熱乾燥させ、層Aと層B両者を併せた厚みが40μmのめっき用材料を得た。得られためっき用材料を各種評価項目の評価手順に従い評価した。支持体を引き剥がした表面について測定した。評価結果を表3に示す。   Subsequently, the layer B solution shown in Table 3 was cast and applied to layer A, and heated and dried at 80 ° C., 100 ° C., 120 ° C., 150 ° C., and 170 ° C. for 1 minute each in a hot air oven. A plating material having a thickness of 40 μm was obtained by combining both of the layer B and the layer B. The obtained plating material was evaluated according to evaluation procedures for various evaluation items. The measurement was performed on the surface from which the support was peeled off. The evaluation results are shown in Table 3.

〔実施例6〕
表3に示す層Aを形成する溶液を、25μmのポリイミドフィルム(商品名アピカルNPI、鐘淵化学工業(株)製)の表面上に流延塗布した。その後、熱風オーブンにて60℃の温度で加熱乾燥させ、厚み5μmの層Aを有するポリイミドフィルムを得た。
Example 6
The solution for forming the layer A shown in Table 3 was cast on the surface of a 25 μm polyimide film (trade name Apical NPI, Kaneka Chemical Co., Ltd.). Then, it was heat-dried at a temperature of 60 ° C. in a hot air oven to obtain a polyimide film having a layer A having a thickness of 5 μm.

続いて形成した層Aと反対のポリイミドフィルム面に表3に示す層B溶液を流延塗布し、熱風オーブンにて80℃、100℃、120℃、150℃、170℃の温度で、各1分ずつ加熱乾燥させ、5μmの層A/25μmのポリイミドフィルム/35μmの層Bからなる構成のめっき用材料を得た。得られためっき用材料を各種評価項目の評価手順に従い評価した。評価結果を表3に示す。   Subsequently, the layer B solution shown in Table 3 was cast on the surface of the polyimide film opposite to the formed layer A, and each of them was heated at 80 ° C., 100 ° C., 120 ° C., 150 ° C., and 170 ° C. in a hot air oven. Heating and drying were performed for each minute to obtain a plating material composed of 5 μm layer A / 25 μm polyimide film / 35 μm layer B. The obtained plating material was evaluated according to evaluation procedures for various evaluation items. The evaluation results are shown in Table 3.

参考
表3に示す層Aを形成する溶液に従い、実施例1と同様の手順で層Aを有するめっき用材料を得た。得られたシートを各種評価項目の評価手順に従い評価した。評価結果を表3に示す。
[ Reference Example 1 ]
According to the solution for forming the layer A shown in Table 3, a plating material having the layer A was obtained in the same procedure as in Example 1. The obtained sheet | seat was evaluated in accordance with the evaluation procedure of various evaluation items. The evaluation results are shown in Table 3.

参考
表3に示す層Aを形成する溶液および層B溶液に従い、実施例5と同様の手順で層Aおよび層Bを有するめっき用材料を得た。得られたシートを各種評価項目の評価手順に従い評価した。評価結果を表3に示す。
[ Reference Example 2 ]
According to the solution for forming layer A and the solution for layer B shown in Table 3, a plating material having layers A and B was obtained in the same procedure as in Example 5. The obtained sheet | seat was evaluated in accordance with the evaluation procedure of various evaluation items. The evaluation results are shown in Table 3.

〔比較例1〕
溶液(c)を用いた以外は実施例1と同様の手順で各種評価項目の評価手順に従い評価した。評価結果を表4に示す。表4から分かるように、表面粗度が小さくとも接着強度は高いが、表面に粘着性を有するために異物が付着し、微細配線形成ができないことが分かる。
[Comparative Example 1]
Evaluation was performed according to the evaluation procedure of various evaluation items in the same procedure as in Example 1 except that the solution (c) was used. The evaluation results are shown in Table 4. As can be seen from Table 4, even if the surface roughness is small, the adhesive strength is high, but because the surface has adhesiveness, foreign matter adheres and fine wiring cannot be formed.

Figure 0004866589
Figure 0004866589

Figure 0004866589
Figure 0004866589

なお本発明は、以上説示した各構成に限定されるものではなく、特許請求の範囲に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態や実施例にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。   Note that the present invention is not limited to the configurations described above, and various modifications are possible within the scope of the claims, and technical means disclosed in different embodiments and examples respectively. Embodiments obtained by appropriate combinations are also included in the technical scope of the present invention.

本発明にかかるめっき用材料は、各種材料との接着性のみならず、無電解めっき皮膜との接着性が高い。また、本発明の表面粗度が小さい場合でも無電解めっき皮膜との接着性が高い。さらには、表面の粘着性が低いため、めっき用材料の表面に良好に無電解めっきを形成することが可能であるため、特にプリント配線板の製造等に好適に用いることができる。それゆえ、本発明は、樹脂組成物や接着剤等の素材加工産業や各種化学産業だけでなく、各種電子部品の産業分野に好適に用いることができる。
The plating material according to the present invention has high adhesion not only with various materials but also with an electroless plating film. Moreover, even when the surface roughness of the present invention is small, the adhesiveness with the electroless plating film is high. Furthermore, since the adhesiveness of the surface is low, electroless plating can be satisfactorily formed on the surface of the plating material, so that it can be suitably used particularly for the production of printed wiring boards. Therefore, the present invention can be suitably used not only in the material processing industry such as resin compositions and adhesives and various chemical industries, but also in the industrial field of various electronic components.

Claims (6)

無電解めっきを施すための層Aを少なくとも有するめっき用材料であって、層Aは下記一般式(6)
Figure 0004866589
(式中、RおよびRは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価の芳香族基を表す。また、Rは、アルキル基、フェニル基、アルコキシ基、またはフェノキ
シ基を表し、さらに、n=3〜100であり、mは1以上の整数である。
表される構造を有するポリイミド樹脂を含有するとともに、該層Aの表面粗さは、カットオフ値0.002mmで測定した算術平均粗さRaで0.5μm未満となっており、且つ該層Aの表面の引き剥がし粘着力が1.0N/25mm以下であることを特徴とするめっき用材料。
A plating material having at least a layer A for electroless plating, wherein the layer A is represented by the following general formula ( 6)
Figure 0004866589
(Wherein R 1 and R 3 represent a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent aromatic group. R 4 represents an alkyl group, a phenyl group, an alkoxy group, or it represents a phenoxy group, a is et a n = 3 to 100, m is an integer of 1 or more.)
With containing polyimide resin having a structure represented in the surface roughness of the layer A is a less than 0.5μm in the arithmetic mean roughness Ra measured with a cut-off value 0.002 mm, and the A plating material, wherein the surface of the layer A has a peeling adhesive strength of 1.0 N / 25 mm or less.
無電解めっきが、無電解銅めっきであることを特徴とする請求項1に記載のめっき用材
料。
The plating material according to claim 1, wherein the electroless plating is electroless copper plating.
請求項1に記載の層A上に、無電解めっきが施されてなることを特徴とする積層体。   A laminate comprising electroless plating on the layer A according to claim 1. 請求項1または2に記載のめっき用材料を用いてなるプリント配線板。   A printed wiring board using the plating material according to claim 1. 下記一般式(6)
Figure 0004866589
(式中、RおよびRは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価の芳香族基を表す。また、Rは、アルキル基、フェニル基、アルコキシ基、またはフェノキシ基を表し、さらに、n=3〜100であり、mは1以上の整数である。
表される構造を有するポリイミド樹脂を含有する溶液であって、請求項1に記載の層Aを形成するために用いることを特徴とするポリイミド樹脂溶液。
The following general formula ( 6)
Figure 0004866589
(Wherein R 1 and R 3 represent a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent aromatic group. R 4 represents an alkyl group, a phenyl group, an alkoxy group, or it represents a phenoxy group, a is et a n = 3 to 100, m is an integer of 1 or more.)
A solution containing a polyimide resin having a structure represented in a polyimide resin solution, characterized in that used to form the layer A according to claim 1.
下記一般式(6)
Figure 0004866589
(式中、RおよびRは、C2xで表される2価のアルキレン基、または2価の芳香族基を表す。また、Rは、アルキル基、フェニル基、アルコキシ基、またはフェノキシ基を表し、さらに、n=3〜100であり、mは1以上の整数である。
表される構造を有するポリアミド酸を含有する溶液であって、請求項1に記載の層Aを形成するために用いることを特徴とするポリアミド酸溶液。
The following general formula ( 6)
Figure 0004866589
(Wherein R 1 and R 3 represent a divalent alkylene group represented by C x H 2x or a divalent aromatic group. R 4 represents an alkyl group, a phenyl group, an alkoxy group, or it represents a phenoxy group, a is et a n = 3 to 100, m is an integer of 1 or more.)
A solution containing a polyamic acid having a structure represented in a polyamide acid solution, characterized in that used to form the layer A according to claim 1.
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