以下、本発明を具体化したガスセンサの製造方法の一実施の形態について、図面を参照して説明する。まず、本発明に係るガスセンサの製造方法により製造されるガスセンサの一例として、ガスセンサ1の構造について、図1を参照して説明する。図1は、ガスセンサ1の縦断面図である。なお、ガスセンサ1は自動車の排気管(図示外)に取り付けられて使用されるが、その際に排気管内に露出される側(図1の下側)を軸線O方向における先端側とし、反対側(図1の上側)を後端側として説明するものとする。
図1に示すガスセンサ1は、自動車の排気管(図示外)に取り付けられ、内部に保持する検出素子10の先端側に設けられた検出部11が排気管内を流通する排気ガス中に晒されて、その排気ガス中の酸素濃度から排気ガスの空燃比を検出する、いわゆる全領域空燃比センサである。検出素子10からは、排気ガスの空燃比がリーンの場合には、理論空燃比に対し余剰となる酸素の量に応じた検出値(電流値)が得られ、リッチの場合には未燃焼ガスを完全燃焼させるのに必要な酸素の量に応じた検出値(電流値)が得られる。これら検出値をもとに、図示しないセンサ制御回路にて排気ガスの空燃比が求められてECU(電子制御ユニット)に対し出力され、空燃比フィードバック制御などに利用される。
まず、検出素子10について説明する。検出素子10は、公知にあるような軸線O方向に延びる細幅で板状の素子で、酸素濃度の検出を行うガス検出体と、そのガス検出体を早期活性化させるために加熱を行うヒータ体とを厚み方向に貼り合わせた積層体として一体化されたものである(図1では、紙面左右方向を厚み方向(板厚方向)、紙面表裏方向を幅方向として示している。)。ガス検出体は、ジルコニアを主体とする固体電解質体と白金を主体とする検出電極と(共に図示しない)から構成され、その検出電極は、検出素子10の検出部11内に配置されている。そして検出電極を排気ガスによる被毒から保護するため、検出素子10の検出部11には、その外周面を包むように保護層15が形成されている。また、検出素子10の後端部12には、ガス検出体やヒータ体から電極を取り出すための5つの電極パッド16が形成されている。なお、本実施の形態では、検出素子10を本発明における「検出素子」として説明を行うが、厳密には、検出素子10の構成としてヒータ体は必ずしも必要ではなく、ガス検出体が本発明の「検出素子」に相当する場合もある。
次に、フランジ部24について説明する。検出素子10の中央部13のやや先端側には、自身の内部に検出素子10を挿通させた有底筒状をなす金属製の金属カップ20が配置されている。金属カップ20は主体金具50内に検出素子10を保持するための保持部材であり、筒底の開口25から検出素子10の検出部11が突出されている。また、筒底の縁部分の先端周縁部23は外周面にかけてテーパ状に形成されている。金属カップ20内には、アルミナ製のセラミックホルダ21と滑石粉末からなるシール材22とが、それぞれ、自身に検出素子10を挿通させた状態で収容されている。シール材22は金属カップ20内で押し潰されて細部に充填されており、これにより、金属カップ20とセラミックホルダ21とシール材22とが一体となり、フランジ部24として、検出素子10の径方向周囲を取り囲む形態で一体に組み付けられている。
次に、主体金具50について説明する。主体金具50はガスセンサ1を自動車の排気管(図示外)に取り付け固定するためのものであり、内部に貫通孔58が形成された筒状をなしている。検出素子10はその中央部13が、フランジ部24ごと主体金具50の貫通孔58内にて保持されている。主体金具50は、例えばSUS430等の低炭素鋼からなり、外周先端側に排気管への取り付け用の雄ねじ部51が形成されている。この雄ねじ部51よりも先端側には、後述するプロテクタ8が係合される先端係合部56が形成されている。また、主体金具50の外周中央には取り付け用の工具が係合する工具係合部52が形成されており、その工具係合部52の先端面と雄ねじ部51の後端との間には、排気管に取り付けた際のガス抜けを防止するためのガスケット55が嵌挿されている。さらに、工具係合部52の後端側には、後述する外筒65が係合される後端係合部57と、その後端側に、主体金具50内に検出素子10を加締め保持するための加締部53とが形成されている。
また、主体金具50の貫通孔58の内周で雄ねじ部51付近には、段状をなす段部54が形成されている。この段部54には、検出素子10と一体となったフランジ部24を構成する金属カップ20の先端周縁部23が係止されている。さらに、主体金具50の内周には滑石粉末からなるシール材26が、自身に検出素子10を挿通させた状態で、フランジ部24の後端側から装填されている。そして、シール材26を後端側から押さえるように、筒状のスリーブ27が主体金具50内に嵌め込まれている。スリーブ27の後端側外周には段状をなす肩部28が形成されており、その肩部28には、円環状の加締めパッキン29が配置されている。この状態で主体金具50の加締部53が、加締めパッキン29を介してスリーブ27の肩部28を先端側に向けて押圧するように加締められている。シール材26は主体金具50内で押し潰されて細部にわたって充填されており、このシール材26と、金属カップ20内にあらかじめ装填されたシール材22とによって、フランジ部24および検出素子10が主体金具50内で位置決め保持されている。なお、シール材22,26が、本発明における「粉末材」に相当する。
次に、プロテクタ8について説明する。上記したように、主体金具50の先端(先端係合部56)からは、内部に保持する検出素子10の検出部11が突出されている。この先端係合部56には、検出素子10の検出部11を、排気ガス中のデポジット(燃料灰分やオイル成分など被毒性の付着物質)による汚損や被水などによる折損等から保護するためのプロテクタ8が嵌められ、スポット溶接やレーザ溶接によって固定されている。プロテクタ8は、有底筒状の内側プロテクタ90と、内側プロテクタ90の外周面との間に空隙を有した状態でその径方向周囲を取り囲む筒状の外側プロテクタ80とから構成される2重構造を有する。
内側プロテクタ90には、周壁92の後端側に複数の内側導入孔95と、周壁92の先端側に複数の水抜き孔96と、底壁93(先端側の壁部)に排出口97とが開口されている。そして開口端側(後端側)の基端部91が主体金具50の先端係合部56の外周に係合され、後述する外側プロテクタ80と同時に外周を一周してレーザ溶接が施されており、内側プロテクタ90が主体金具50に固定されている。
また、外側プロテクタ80には、周壁82の先端側に複数の外側導入孔85が開口されている。そして、開口端側の基端部81が内側プロテクタ90の基端部91の外周に係合され、内側プロテクタ90と同時にレーザ溶接が施されており、外側プロテクタ80もまた内側プロテクタ90を介して主体金具50に固定されている。さらに、外側プロテクタ80と内側プロテクタ90との間の空隙を閉じるように、外側プロテクタ80の先端部83が内側プロテクタ90の周壁92に向けて内側に折り曲げられている。
外側プロテクタ80と内側プロテクタ90との間の空隙は、外側導入孔85を介して外部から導入される排気ガスに、内側プロテクタ90の周壁92の外周を取り囲む状態で旋回流を生じさせ、ガス成分と水分とに分離するために設けられている。ガス成分は内側導入孔95から内側プロテクタ90内に導入され、検出素子10に接触し、排出口97から外部に排出される一方で、水分は、水抜き孔96から内側プロテクタ90内に進入し、排出口97から外部に排出されるように構成されている。この構成により、検出素子10の検出部11は、排気ガス中のデポジットによる汚損や、被水に起因する熱衝撃による折損等から保護されている。
次に、ガスセンサ1の主体金具50より後端側の構造について説明する。主体金具50後端(加締部53)からは、内部に保持する検出素子10の後端部12が突出されている。この後端部12には、絶縁性セラミックスからなる筒状のセパレータ60が被せられている。セパレータ60は、検出素子10の後端部12に形成された複数の電極パッド16のそれぞれに接触(電気的に接続)させる複数の接続端子61を内部に保持している。また、各接続端子61と、各接続端子61に接続されてガスセンサ1の外部に引き出される複数のリード線64と各接続部分も収容されて保護されている。
外筒65はステンレス(例えばSUS304)製で筒状をなし、主体金具50の後端側に取り付けられ、主体金具50の後端から露出される検出素子10の後端部12やセパレータ60の周囲を覆って保護するものである。外筒65は、自身の先端側の開口端66が主体金具50の後端係合部57の外周に係合され、外周側から加締められると共に、外周を一周して後端係合部57にレーザ溶接され、主体金具50に固定されている。
また、外筒65とセパレータ60との間の間隙には、金属製で筒状の保持金具70が配設されている。保持金具70は自身の後端を内側に折り曲げて構成した支持部71を有し、自身の内部に挿通されるセパレータ60の後端側外周に鍔状に設けられた鍔部62を支持部71に係止させて、セパレータ60を支持している。この状態で、保持金具70が配置された部分の外筒65の外周面が加締められ、セパレータ60を支持した保持金具70が外筒65に固定されている。
そして外筒65の後端側の開口には、フッ素系ゴム製のグロメット75が嵌合されている。グロメット75は5つの挿通孔76(図1ではそのうちの1つを図示している。)を有し、各挿通孔76に、セパレータ60から引き出された5本のリード線64が気密に挿通されている。この状態でグロメット75は、セパレータ60を先端側に押圧しつつ、外筒65の外周から加締められて、外筒65の後端に固定されている。
次に、図2〜図16を参照し、ガスセンサ1の製造過程について説明する。図2は、コンピュータ230およびその周辺装置の構成を示す図である。図3は、ガスセンサ1の製造過程を示す図である。図4は、ガスセンサ1の製造過程を示す図である。図5は、ガスセンサ1の製造過程を示す図である。図6は、規格適合判断プログラムのメインルーチンのフローチャートである。図7は、規格適合判断プログラムの画像解析処理のフローチャートである。図8は、第1,第2撮影工程について説明するための図である。
図9は、焦点の位置Aにおけるサンプルの撮影画像を2値化したイメージデータによって仮想的に形成される画像を示す図である。図10は、焦点の位置Bにおけるサンプルの撮影画像を2値化したイメージデータによって仮想的に形成される画像を示す図である。図11は、焦点の位置Cにおけるサンプルの撮影画像を2値化したイメージデータによって仮想的に形成される画像を示す図である。図12は、焦点の位置Dにおけるサンプルの撮影画像を2値化したイメージデータによって仮想的に形成される画像を示す図である。図13は、2値化したイメージデータによって仮想的に形成されるサンプルのシルエット画像を示す図である。図14は、焦点の位置Bにおけるサンプルの欠けの部分の形状を2値化したイメージデータによって仮想的に形成した画像を示す図である。図15は、焦点の位置Cにおけるサンプルの欠けの部分の形状を2値化したイメージデータによって仮想的に形成した画像を示す図である。図16は、焦点の位置Dにおけるサンプルの欠けの部分の形状を2値化したイメージデータによって仮想的に形成した画像を示す図である。
ガスセンサ1の製造過程において、シール材22,26は、リング状をなす円筒状に押し固められた固形シール材260(図3参照)として供給される。固形シール材260はガスセンサ1の製造ライン(図示外)への供給に際して欠け等を生ずる場合があり、本実施の形態では、固形シール材260が規格に適合するか否か検査を行っている。この検査は、公知のコンピュータ230(図2参照)に搭載されたCPU231によって実行される規格適合判断プログラム(図6参照)の処理に従って行われる。規格適合判断プログラムによる検査の詳細については後述するが、それに先立ち、規格適合判断プログラムを実行するCPU231が搭載されたコンピュータ230と、その周辺装置の構成について説明する。なお、固形シール材260が、本発明における「固形粉末材」に相当する。
図2に示すように、コンピュータ230は、各種制御を司る公知のCPU231に、CPU231が実行するBIOS等のプログラムが記憶されたROM232、CPU231のデータ処理時に一時的なデータの記憶を行うRAM233、およびデータの受け渡しの仲介を行うI/Oバス248が接続され、各種のプログラム等を実施できるように構成された公知のコンピュータである。I/Oバス248には、操作の入力を行うためのキーボード246およびマウス/ポインティングデバイス247や、データの記憶装置であるハードディスクドライブ(以下、「HDD」と言う。)235が接続されている。
また、I/Oバス248には、画面表示を行うモニタの駆動装置や、DVD−ROM等のデータの記憶媒体の読み書きを行うドライブ装置等、その他のデバイス等も接続されている。さらに、I/Oバス248には入出力ポート249も接続されており、この入出力ポート249を介して外部装置との間で信号の送受信が行われ、固形シール材260の検査を行う際に駆動する各種装置の動作の制御が行われる。具体的には、カメラ駆動装置221、検査台配置装置222、反転配置装置223および不適合品分別装置224が接続され、各装置の作動タイミングの制御が行われている。カメラ駆動装置221は、固形シール材260の撮影を行うCCDカメラ220をZ軸方向に上下動させるための装置であり、検査台配置装置222は、撮影時に固形シール材260を図示外の検査台上に配置するための装置である。また、反転配置装置223は、固形シール材260の天面265側(図3参照)の撮影後、底面266側の撮影を行うため固形シール材260を反転させて再配置する装置であり、不適合品分別装置224は、後述する規格適合判断プログラムにおいて規格に適合しないと判断された固形シール材260を製造ラインから外すための装置である。さらに、CCDカメラ220の撮影した画像データもこの入出力ポート249を介してコンピュータ230に取り込まれ、HDD235の撮影画像データ記憶エリア236に記憶される。
ここで、上記したHDD235のプログラムおよび初期設定値記憶エリア242には規格適合判断プログラムが記憶されており、規格適合判断プログラムの実行の際に、規格適合判断プログラムで使用される各種記憶エリアが確保される。具体的には、撮影画像データ記憶エリア236、2値化イメージデータ記憶エリア237、輪郭イメージデータ記憶エリア238、欠失部イメージデータ記憶エリア239、第1体積値記憶エリア240および第2面体積値記憶エリア241が確保される。なお、HDD235には、図示外の各種記憶エリアも設けられている。
撮影画像データ記憶エリア236には、CCDカメラ220で撮影される固形シール材260の天面265側あるいは底面266側(図4参照)の撮影画像のビットマップデータが記憶される。後述するが、この撮影画像はピントの合う位置を少しずつずらしながら撮影されるものであり、本実施の形態では焦点の位置をA,B,C,D(図8参照)とする4つの撮影画像の記憶エリアが設けられている。2値化イメージデータ記憶エリア237には、撮影画像データ記憶エリア236に記憶された画像データを、各画素についてピントの合っているものと合っていないものとで2値化したイメージデータが記憶される。上記4つの焦点の位置A〜Dで撮影された画像にそれぞれ対応する4つのイメージデータの記憶エリアが設けられている。
輪郭イメージデータ記憶エリア238には、2値化イメージデータ記憶エリア237に記憶されたイメージデータを重ね合わせ、ピントの合っている画素の合成によって形成される固形シール材260のシルエットのイメージデータ(2値化イメージデータ)が記憶される。欠失部イメージデータ記憶エリア239には、撮影画像データ記憶エリア236に記憶された各イメージデータと、輪郭イメージデータ記憶エリア238に記憶された固形シール材260のシルエットのイメージデータとに基づいて求められる固形シール材260に生じ得る欠け(欠失部)の形状を示すイメージデータ(2値化イメージデータ)が記憶される。上記同様、4つの焦点の位置A〜Dで撮影された画像にそれぞれ対応する4つの欠失部のイメージデータの記憶エリアが設けられている。第1体積値記憶エリア240および第2面体積値記憶エリア241には、欠失部イメージデータ記憶エリア239に記憶された各イメージデータに基づき算出される固形シール材260の天面265側に生じ得る欠けの体積および底面266側に生じ得る欠けの体積がそれぞれ記憶される。
また、上記したプログラムおよび初期設定値記憶エリア242には、後述する規格適合判断プログラムにおいて使用され、固形シール材260に生じ得る欠けの体積を求めるのに使用される単位体積値(後述)や、算出される欠けの部分の体積と比較される基準値としての体積基準値等が記憶されている。そして、RAM233の所定の記憶エリアには、撮影時にサンプルの天面265側と底面266側とのいずれの面側を撮影しているのか確認に用いられる反転フラグが記憶される。
ガスセンサ1の製造過程では、このように構成されたコンピュータ230およびその周辺装置によって固形シール材260が分別され、規格適合品のみがガスセンサ1の組み立てに用いられる。以下、ガスセンサ1の製造過程の詳細について説明する。なお、以下では、ガスセンサ1を構成するシール材22およびシール材26がガスセンサ1の組み立て時に供給される過程について詳細に説明し、ガスセンサ1のその他の部位の製造過程については公知であるため、省略あるいは簡略化して説明するものとする。
ガスセンサ1の製造過程では、図1に示すように、金属カップ20に検出素子10、セラミックホルダ21,シール材22を挿入し、フランジ部24を作製する。その後、フランジ部24が組み付いた検出素子10の後端側からシール材26、スリーブ27を挿入し、その状態で主体金具50の貫通孔58内に配置される。そして検出素子10に後端部12側から主体金具50との間にパッキン29が配置され、加締部53が加締められることにより、検出素子10が主体金具50内に保持される。前述したようにシール材26は滑石粉末からなるが、ガスセンサ1の製造過程においてはその取り扱いを容易なものとするため、リング状をなす円筒状に押し固められた固形シール材260(図3参照)として供給される。
図3に示すように、滑石粉末を金型200に流して圧縮することにより、円柱形状の天面265と底面266との間に検出素子10が挿通される挿通孔261が貫通して形成された円筒状の固形シール材260が成形される(固形粉末材成形工程)。形成された固形シール材260は、同様に形成されるその他の固形シール材260と共に、図示しない製造ラインへの供給装置(以下、「フィーダ」210という。)の収容部内に投入される。フィーダ210では、収容部内に収容された複数の固形シール材260から任意の一つが取り出され、製造ラインへの供給が行われる(固形粉末材供給工程)。
固形シール材260はこのフィーダ210の収容部内に複数個投入されるため、収容部内にて固形シール材260同士が互いにぶつかり合って、摩耗を生ずることがある。特に角部分(外周面と天面や底面とがなす稜角部分)が削られやすく、この角部分を中心に一部に欠損を生ずる場合もある。そこで、ガスセンサ1の製造過程において、フィーダ210から取り出された固形シール材260に対する良品検査が行われる。図4に示すように、フィーダ210から取り出された固形シール材260は図示外の検査台(図示しないが供給ライン上の特定部位として設ければ足りる。)上に搬送され、検査台配置装置222(図2参照)によって、挿通孔261の一方の開口端側の面である天面265を上向き(図4においてZ軸方向上向き)に、検査台上の所定位置に位置決められて配置される。なお、固形シール材260の天面265および底面266は、後述する第1撮影工程および第2撮影工程において撮影する側の面を特定するため便宜上区別するものであり、製造過程において円柱形状の両端面のうちどちらが天面265となってもよいものである。
ところで、検査台のZ軸方向上方には検査台上に配置される固形シール材260を撮影するためのCCDカメラ220が、Z軸方向に移動可能に設けられている。このCCDカメラ220は焦点距離F(図8参照)が予め固定されており、撮影可能な範囲(Z軸方向と直交するXY平面の大きさ)が一定となっている。CCDカメラ220によって撮影される画像は等間隔配置された数十〜数百万個の画素によって再現されるものであり、1つの画素によって表される撮影面の面積は、焦点距離Fにて撮影される範囲の大きさと、その撮影範囲の実寸値との関係から予め求められている。
このようなCCDカメラ220を用い、検査台上に配置された固形シール材260の天面265側の撮影が行われる(第1撮影工程)。撮影は後述する規格適合判断プログラムの処理に従って行われるが、CCDカメラ220は初期位置から下方(検査台に近づく方向)に向けて一定距離ずつ移動され(以下、その移動距離を「1単位」と呼ぶこととする。)、1単位移動する毎に検査台上の固形シール材260の天面265側の撮影が行われる。撮影された固形シール材260の画像はコンピュータ230に送信される。
そして、固形シール材260の天面265側の撮影が終わると、規格適合判断プログラムの処理に従って固形シール材260の底面266が(Z軸方向の)上向きとなるように反転配置装置223(図2参照)によって固形シール材260の天地が反転されると共に、検査台上の上記所定位置に位置決められて配置される(反転工程)。
そして第1撮影工程と同様に、CCDカメラ220による固形シール材260の底面266側の撮影が行われる(第2撮影工程)。すなわち後述する規格適合判断プログラムの処理に従って、CCDカメラ220が初期位置から下方(検査台に近づく方向)に向けて1単位ずつ移動され、その度に固形シール材260の底面266側の撮影が行われる。撮影された固形シール材260の画像はコンピュータ230に送信される。
規格適合判断プログラムでは、撮影された固形シール材260の天面265側の画像および底面266側の画像に対し画像解析処理が施され、固形シール材260に生じ得る欠けの大きさを検出し、この大きさを基に、固形シール材260に生じ得る欠け(欠失部)の体積の算出が行われる。この処理については後述するが、規格適合判断プログラムでは更に算出した欠けの体積に基づいて、固形シール材260が規格に適合するか否かの判断が行われる。そして図5に示すように、規格に不適合となった固形シール材260は、ガスセンサ1の製造ラインから外される(規格適合判断工程)。一方、規格に適合する固形シール材260は製造ラインを搬送され、次の工程において、セラミックホルダ21が挿入された金属カップ20内にシール材22として嵌め込まれたり、その後のフランジ部24が組み付けられた検出素子10の後端部12側からシール材26として嵌め込まれる(組立工程)。その後、これにスリーブ27が嵌め込まれた中間組立体2を、図1に示すように、プロテクタ8が接合された主体金具50内に配置し、パッキン29を組み付け、加締部53を加締めることにより、固形シール材260が押し潰されて粉体のシール材22,26として細部にわたって充填され、検出素子10が主体金具50に保持される。
その後のガスセンサ1の製造過程では、内部にセパレータ60およびグロメット75を加締め保持した外筒65が組み付けられ、外筒65の開口端66がその外周を一周して主体金具50の後端係合部57にレーザ溶接されることにより、ガスセンサ1が完成する。
前述したように、上記したガスセンサ1の製造過程における第1撮影工程から規格適合判断工程までの工程では、規格適合判断プログラムの実行に従って各処理が行われる。以下、図6,図7の規格適合判断プログラムの各処理の詳細について、図2〜図5および図9〜図15を適宜参照しながら説明する。
図6に示す規格適合判断プログラムは、図2に示したコンピュータ230のHDD235のプログラムおよび初期設定値記憶エリア242に記憶されており、CPU231によりRAM233に読み込まれて実行される。ガスセンサ1の製造が開始される際に実行され、まず初期化処理が行われる(S10)。この初期化処理では、RAM233の所定の記憶エリアに、規格適合判断プログラムで使用される各種フラグや変数等の記憶エリアが確保されると共に、HDD235に、上記した各記憶エリア(撮影画像データ記憶エリア236、2値化イメージデータ記憶エリア237、輪郭イメージデータ記憶エリア238、欠失部イメージデータ記憶エリア239、第1体積値記憶エリア240および第2面体積値記憶エリア241)が確保される。また、各装置(カメラ駆動装置221、検査台配置装置222、反転配置装置223および不適合品分別装置224)へリセット信号が送られ、各装置の制御が開始される。
次に、フィーダ210から図示外の製造ラインに固形シール材260が供給されたことが、例えば製造ライン上に配設されたマイクロスイッチ等により感知されないうちは待機する(S11:NO)。そして供給が感知されると(S11:YES)、HDD235に確保された第1体積値記憶エリア240および第2面体積値記憶エリア241の初期化と反転フラグのリセットが行われる(S12)。次いで、供給された固形シール材260を検査対象のサンプルとして検査台(図示外)の所定位置に配置されるように、検査台配置装置222に制御信号が送信される(S13)。さらに、画像データやイメージデータの初期化(具体的にはHDD235に確保された撮影画像データ記憶エリア236、2値化イメージデータ記憶エリア237、輪郭イメージデータ記憶エリア238、および欠失部イメージデータ記憶エリア239の初期化)が行われる(S15)。なお、以下では、図8に示す固形シール材260のような欠けの形状を有するサンプルを例に説明するものとする。
次にカメラ駆動装置221(図2参照)に制御信号が送信され、CCDカメラ220が初期位置に移動される(S16)。前述したように、図8に示すCCDカメラ220は焦点距離がFとなるように調整されており、CCDカメラ220の初期位置は、その焦点の位置Aが、少なくともZ軸方向におけるサンプル(固形シール材260)の表面(天面265)の位置、あるいはそれよりもZ軸方向に上方(検査台から遠ざかる方向)の位置となるように定められている。この位置でCCDカメラ220によりサンプルの天面265側の撮影が行われ、撮影された画像(デジタル画像)の画像データが撮影画像データ記憶エリア236(図2参照)の「位置Aを焦点とする画像データ」を保存するために確保された記憶エリアに記憶される(S17)。
前述したように、サンプルの撮影はCCDカメラ220をZ軸方向下方(検査台に近づく方向)へ1単位ずつ移動させながら行われるが、撮影終了として定められた位置に移動するまで撮影は継続される(S19:NO)。このため、カメラ駆動装置221に制御信号が送信され、CCDカメラ220がZ軸方向下方に1単位移動される(S20)。CCDカメラ220の焦点の位置はBとなる。そしてS17に戻ってサンプルの天面265側の撮影が行われ、撮影された画像データが撮影画像データ記憶エリア236(図2参照)の「位置Bを焦点とする画像データ」の記憶エリアに記憶される(S17)。
以下同様に繰り返され、CCDカメラ220の焦点の位置がCに移動されて撮影された画像データが撮影画像データ記憶エリア236の「位置Cを焦点とする画像データ」の記憶エリアに記憶される(S19:NO,S20,S17)。そして、焦点の位置がDに移動されて撮影された画像データが撮影画像データ記憶エリア236の「位置Dを焦点とする画像データ」の記憶エリアに記憶される(S19:NO,S20,S17)。本実施の形態では焦点の位置をA〜Dの4箇所として撮影が行われる場合を例としており、CCDカメラ220が移動され、その焦点の位置がDとなったときのCCDカメラ220の位置が、撮影終了位置として定められている。従って焦点の位置Dにおけるサンプルの撮影が終わると撮影終了と判断されて(S19:YES)、画像解析処理のサブルーチンがコールされる(S21)。
図7に示すように、画像解析処理のサブルーチンでは、まず、サンプルのピントの合う位置を特定する処理が行われる(S41)。Z軸方向に1単位ずつずらしながら撮影したサンプル(固形シール材260)の天面265側の撮影画像は、焦点の位置をA,B,C,Dとする層状にサンプルを撮影した階層構造をなすイメージといえる。そこで複数の画素により構成される各階層の画像データより、XY座標の一致する画素をそれぞれ抽出する。次に抽出した各画素のコントラスト値を比較し、ピーク値を示す画素を特定する。更に、特定した画素のコントラスト値を所定のしきい値と比較し、それ以上の値であれば、そのXY座標においては、特定した画素の含まれる階層において撮影画像のピントが合っていると判断するのである。2値化イメージデータ記憶エリア237には各階層の各画素に相当するピントフラグが設けてあり、ピント位置の特定を行ったXY座標において、特定された画素に相当するピントフラグが1にセットされる。
この処理をXY座標をずらしながらすべての画素に対して行うと、撮影画像の画像データから、図9〜図12に仮想的な画像として示すような、ピントフラグの値(1または0)により2値化された層状をなすサンプルの2値化イメージデータが得られる。図8に示すように、焦点の位置AはZ軸方向においてサンプルの表面(天面265)よりも上方の位置にあり、これを撮影した画像にはピントの合う画素がない。従って、2値化イメージデータ記憶エリア237の「位置Aを焦点とする2値化イメージデータ」の記憶エリアに記憶されるピントフラグの値によって構成される2値化イメージデータは、図9の仮想画像に示されるように、すべてのピントフラグが0となった画像として示されることとなる。また、焦点の位置BはZ軸方向においてサンプルの表面の位置にあり、欠けの生じ得た部分に相当する画素を除きピントが合う。従って、2値化イメージデータ記憶エリア237の「位置Bを焦点とする2値化イメージデータ」の記憶エリアに記憶されるピントフラグの値によって構成される2値化イメージデータは、図10の仮想画像に示されるように、欠けの生じ得た部分を除く表面(天面265)に相当する画素のピントフラグのみが1となった画像として示されることとなる。
次に、焦点の位置CはZ軸方向においてサンプルの天面265側に生じ得る欠けの部分の略中央にあたる位置にあり、欠けの生じ得た部分に相当する画素の一部においてピントが合う。従って、2値化イメージデータ記憶エリア237の「位置Cを焦点とする2値化イメージデータ」の記憶エリアに記憶されるピントフラグの値によって構成される2値化イメージデータは、図11の仮想画像に示されるように、欠けの生じ得た部分に相当する画素の一部にピントフラグが1となった画素を有した画像として示されることとなる。そして、焦点の位置DはZ軸方向においてサンプルの天面265側に生じ得る欠けの部分で天面265から遠い側にあたる位置にあり、欠けの生じ得た部分に相当する画素の他部(焦点の位置Cにおいてピントの合わなかった部分)においてピントが合う。従って、2値化イメージデータ記憶エリア237の「位置Dを焦点とする2値化イメージデータ」の記憶エリアに記憶されるピントフラグの値によって構成される2値化イメージデータは、図12の仮想画像に示されるように、欠けの生じ得た部分に相当する画素の他部にピントフラグが1となった画素を有した画像として示されることとなる。
なお、特定した画素のコントラスト値を所定のしきい値と比較するのは、サンプルを撮影した画像に含まれる背景の画素(Z軸方向におけるいずれの階層においてもピントの合わない画素)に、ピントフラグが1となるものが含まれないようにするためである。
次に、図7に示すように、各階層の2値化イメージデータを重ね合わせることで、サンプル(固形シール材260)のシルエット形状を形成する処理が行われる(S42)。上記のようにサンプルの2値化イメージデータを得る際に所定のしきい値未満のコントラスト値を有する画素、すなわち背景に相当しどの階層においてもピントの合わない画素を除外したことにより、各階層の2値化イメージデータの仮想画像を重ね合わせた仮想画像は、図13に示すような、Z軸方向から見たサンプルのシルエットを示す画像となる。この処理では、2値化イメージデータ記憶エリア237に記憶された各階層の2値化イメージデータについて、XY座標の一致する画素のピントフラグの論理和(OR)がそれぞれ求められ、得られた輪郭イメージデータが輪郭イメージデータ記憶エリア238に記憶される。
次いで図7に示すように、サンプル(固形シール材260)の表面(天面265)の位置を特定する処理が行われる(S43)。この処理では、2値化イメージデータ記憶エリア237に記憶された各階層の2値化イメージデータについて、撮影順(位置A,B,C,D順)に、ピントフラグが1である画素の有無が確認される。まず、「位置Aを焦点とする2値化イメージデータ」が確認され、ピントフラグが1の画素がなければ、焦点の位置AはZ軸方向におけるサンプルの表面の位置よりも上方にあったと判断される。そして、2値化イメージデータ記憶エリア237の「位置Bを焦点とする2値化イメージデータ」が同様に確認される。本実施の形態ではサンプルの天面265の位置が焦点の位置Bにある場合を例としているのでピントフラグが1の画素があり、S43の処理において、位置Bがサンプルの表面の位置であると特定される。
次のS44では、サンプルの欠けが生じ得た部分の形状を各階層毎に特定する処理が行われる(S44)。この処理では、2値化イメージデータ記憶エリア237に記憶された各階層の2値化イメージデータと、輪郭イメージデータ記憶エリア238に記憶された輪郭イメージデータとについて、XY座標の一致する画素のピントフラグの排他的論理和(XOR)が求められる。まず、S43で特定されたサンプルの表面の位置(位置B)を焦点とする2値化イメージデータと、S42で得られた輪郭イメージデータとが比較される。そしてXY座標の一致する画素のピントフラグの排他的論理和が求められ、欠失部イメージデータ記憶エリア239の対応する記憶エリア(ここでは「位置Bを焦点とする欠失部イメージデータ」)に記憶される。この「位置Bを焦点とする欠失部イメージデータ」は、図14の仮想画像に示されるように、サンプルの欠けの生じ得た部分を位置BにおけるXY平面に投影してみた場合に、その欠けの生じ得た部分に相当する画素によって構成された画像となる。
さらに、この「位置Bを焦点とする欠失部イメージデータ」と、撮影順に次の「位置Cを焦点とする2値化イメージデータ」と、が比較され、上記同様、XY座標の一致する画素のピントフラグの排他的論理和が求められ、欠失部イメージデータ記憶エリア239の対応する記憶エリア(ここでは「位置Cを焦点とする欠失部イメージデータ」)に記憶される。この「位置Cを焦点とする欠失部イメージデータ」は、図15の仮想画像に示されるように、サンプルの欠けの生じ得た部分を位置CにおけるXY平面に投影してみた場合に、その欠けの生じ得た部分に相当する画素によって構成された画像となる。
同様に、「位置Cを焦点とする欠失部イメージデータ」と、撮影順に次の「位置Dを焦点とする2値化イメージデータ」との排他的論理和を求めて得られた「位置Dを焦点とする欠失部イメージデータ」も、欠失部イメージデータ記憶エリア239に記憶される。本実施の形態では、「位置Cを焦点とする欠失部イメージデータ」により構成される仮想画像(図15参照)と、「位置Dを焦点とする2値化イメージデータ」により構成される仮想画像(図12参照)とが一致するため、両者の排他的論理和を求めることによって得られる「位置Dを焦点とする欠失部イメージデータ」により構成される仮想画像は、図16に示すような、ピントフラグが0の画素で構成された画像となる。S44ではこのように、各階層において欠けている部分をXY平面に投影してみた場合に、その欠けの生じ得た部分に相当する画素によって構成されうる欠失部イメージデータが作成される。その後、メインルーチンに戻る。なお、CPU231によってS44の処理が実行されることで、サンプルの欠けの部分に相当する欠失部イメージデータを作成する工程が、本発明における「第1画像解析工程」および「第2画像解析工程」に相当する。
図6の規格適合判断プログラムのメインルーチンに戻りS22に進み、このようにして得られた欠失部イメージデータを用い、各階層の欠けの部分の面積を求め、層方向(Z軸方向)に足し合わせることで欠けの体積を求める処理が行われる(S22)。前述したように、CCDカメラ220によって撮影される画像を構成する1つ1つの画素によって表される撮影面の面積は予め求められている。また、撮影時に移動させたCCDカメラ220の1単位あたりの移動距離も予め求めておけば、両者(面積と移動距離)を掛け合わせることで、ピントフラグの1つによって表現される欠けの部分の三次元的な大きさ、すなわち体積(あるいは大きさに対応する体積値)を求められることとなる。このピントフラグ1つにより表現可能な欠けの部分の体積を単位体積値として予め求めておき、欠失部イメージデータ記憶エリア239に記憶された各階層における欠失部イメージデータのピントフラグの値をすべて足し合わせたものと掛け合わせることで、S22では、サンプルの天面265側に生じ得る欠けの部分の体積(第1体積値)を算出する処理が行われる。なお、CPU231によって実行されるS22の処理によってサンプルに生じ得る欠けの部分の体積(体積値)を求める工程が、本発明における「第1体積値算出工程」および「第2体積値算出工程」に相当する。
次にS23に進み、RAM233の所定の記憶エリアに記憶された反転フラグの値が1か否か確認される(S23)。S12で反転フラグには0が記憶されているので(S23:NO)、S24に進んで反転フラグに1が記憶されると共に(S24)、反転配置装置223に制御信号が送信され、サンプルの反転と再配置が行われる(S25)。固形シール材260は反転配置装置223によって天面265と底面266とがZ軸方向において反転され、検査台(図示外)の所定位置に再度配置される。
そしてS16に戻り、今度は固形シール材260の底面266側の撮影と(S15〜S20)、画像解析処理による底面266側に生じ得た欠けの部分の体積(第2体積値)の算出とが行われる(S21)。このときの反転フラグは1となっているため(S23:YES)、S27に進む。
まず、画像解析処理を経て算出され第1体積値記憶エリア240に記憶されたサンプル(固形シール材260)の天面265側に生じ得た欠けの部分の体積を示す第1体積値と、プログラムおよび初期設定値記憶エリア242に予め記憶されている体積基準値とが比較される(S27)。体積基準値は、ガスセンサ1が組み立てられた際に、固形シール材260に生じ得る欠けによって主体金具50の軸と検出素子10の軸とにずれが生じ、組み立て不良となることを防止するため、欠けの大きさ(体積)の許容範囲を定めるものである。第1体積値が体積基準値以上であった場合(S27:NO)、サンプルは規格不適合品であると判断され、不適合品分別装置224に制御信号を送信してこのサンプルを製造ラインから外す処理が行われる(S31)。第1体積値が体積基準値未満であっても(S27:YES)、S28において、第2体積値記憶エリア240に記憶されたサンプルの底面266側に生じ得た欠けの部分の体積を示す第2体積値が体積基準値以上であれば(S28:NO)、同様に、このサンプルを製造ライン(図示外)から外す処理が行われる(S31)。第1体積値および第2体積値が共に体積基準値未満であれば(S27:YES,S28:YES)、そのサンプルは規格適合品であると判断され、不適合品分別装置224に制御信号を送信してこのサンプルを製造ラインに戻す処理が行われる(S29)。S29またはS31の処理後はS11に戻り、次のサンプルとしての固形シール材260がフィーダ210から供給さるのを待機し(S11:NO)、供給されれば(S11:YES)、上記各工程を繰り返し実施して、固形シール材260の検査が行われる。
なお、本発明は上記各実施の形態に限られず、各種の変形が可能である。本実施の形態では画像解析処理によるサンプルの欠けの検出の一例として、コンピュータ230のCPU231によって実行される規格適合判断プログラムに従いCCDカメラ220で階層的に撮影した固形シール材260の画像データからコントラスト法によりピントの合う画素を割り出して欠けの検出を行ったが、この方法に限定するものではない。例えば、アナログカメラを用いて固形シール材260を階層的に撮影し、撮影画像をメッシュフィルタで区画分けした上でハイパスフィルターに通し、ピントのあう区画を割り出す公知のレンズ焦点法を用い、欠けの検出を行ってもよい。あるいは、マイクロレンズが設けられたピンホールを複数並べたピンホールアレイをアナログカメラに取り付け、固形シール材260に照射した光の反射光がピンホールアレイを通過した際の光強度から焦点の位置を求める共焦点法を用いてピントの合う位置を求め、欠けの検出を行ってもよい。または、固形シール材260の表面上にレーザ光を走査させ、その反射光の位相差から欠けの部分の表面形状の割り出して欠けの検出を行ってもよい。その他公知の画像解析方法を用いて欠けの検出を行ってもよい。
また、本実施の形態ではサンプルの撮影を4階層で行ったが、更に多くの階層に分解して撮影を行ってもよい。この場合、サンプルの表面上の凹凸の状態によってピントのあう位置がZ方向に前後する場合がある。そこで、画像解析処理のS43の処理に先だって、2値化イメージデータ記憶エリア237に記憶された各階層の2値化イメージデータをピントフラグが1である画素の数を撮影順に確認する。そして予め定められた画素数より多くの画素のピントフラグが1であった階層を、サンプルの表面の位置に相当する階層(例えば位置B)として特定し、その階層の2値化イメージデータをそれ以前に確認された階層(例えば位置A)の2値化イメージデータとの論理和によって上書きする。さらに、サンプルの表面の位置として特定された階層以前の階層(上方の階層)の2値化イメージデータを初期化した上でS43の処理を行えば、サンプルの表面上の凹凸を欠けと誤認識することがなく、より正確な欠けの判定を行うことができる。
また、本実施の形態では、第1体積値算出工程としてCCDカメラ220による撮影面の実寸値と撮影画像を構成する画素数とから求められる1画素あたりの面積と、撮影時におけるCCDカメラ220の移動距離とから、1画素あたりによって表現されるサンプルの欠けの部分の体積が求めた。そして、その体積と体積基準値とを比較することで、サンプルの規格適合判断を行った。このようにサンプルの欠けの部分の体積そのものを求めてもよいが、サンプルの欠けの部分を表現する画素の数、すなわち欠失部イメージデータ記憶エリア239に記憶された各階層の欠失部イメージデータを構成するピントフラグの値を足し合わせ、体積に対応する体積値とし、これを体積基準値(しきい値となる欠けの体積を画素数に換算したもの)と比較してもよい。
また、固形シール材260の挿通孔261(図8参照)の開口形状を基準に、短手方向にサンプルの画像データや2値化イメージデータを二分し、それぞれの半割面ごとに算出した体積値を体積基準値と比較することで、固形シール材260が規格内にあるか否かの判断を行ってもよい。具体的には、画像解析処理のS42においてサンプルのシルエットを示す2値化イメージデータを作成した際に、公知の画像認識法を用いて固形シール材260の挿通孔261に相当する画素部分の認識を行う。そして挿通孔261に相当する画素で構成される形状から長手方向と短手方向とを検出し、その短手方向において、サンプルのシルエット形状が二分されるように、2値化イメージデータを分割する。例えば、図10に示した、「位置Bを焦点とする2値化イメージデータ」を構成する画素から形成される画像を上記のように二分割した仮想画像を図17に示す。挿通孔261の形状の短手方向(Y方向)に分割した一方側の仮想画像Sと、他方側の仮想画像Tとにおいて、サンプルに生じた欠けは仮想画像S側に偏って生じている。本変形例は、仮想画像S側の欠けの体積値と、仮想画像T側の欠けの体積値とをそれぞれ本実施の形態と同様の画像解析処理により求め、予め試験等により定められた半割体積基準値と比較し、一方でも規格を満たさなければ、そのサンプルを規格不適合品と判断するものである。
このように、サンプルの画像データや2値化イメージデータを二分割した半割面毎にそれぞれ規格に適合するか否かを判断するのは、ガスセンサ1の検出素子10が板状をなし、軸線O方向の断面形状が長方形をなすため、軸線Oと直交する方向に外部応力を受けた際の剛性が、外部応力の方向よって異なるためである。例えば、図17と同様の仮想画像Sおよび仮想画像Tにおいて、図18に示すように、サンプルの挿通孔261(図8参照)の形状の長手方向(図中X方向)の一端側付近を中心に欠けが生じた場合、このサンプルを用いて作製されるガスセンサにおいて、欠けの生じた部位付近ではシール材(図1参照)の充填密度が低くなる。このガスセンサの検出素子は、自身の軸線Oと直交する断面において長手方向に外部応力が加えられることとなる。一方、図17の仮想画像で示した位置に欠けを有するサンプルを用いて作製されるガスセンサでは、検出素子に、自身の軸線Oと直交する断面において短手方向に外部応力が加えられることとなる。
ところで、両者とも欠けの体積が同じであった場合、検出素子に加えられる外部応力は両者とも同じとなるが、検出素子の構造から鑑みて明らかに、検出素子の軸線Oと直交する断面において短手方向に外部応力が加えられた場合の剛性は、長手方向に外部応力が加えられた場合の剛性よりも低い。このため、検出素子の断面形状の長手側に欠けを有する形態のサンプルを用いたガスセンサよりも、短手側に欠けを有する形態のサンプルを用いたガスセンサの方が、欠けに対する許容される体積値を大きくすることができる。そこで本変形例のように、仮想画像Sおよび仮想画像Tを用いてそれぞれの欠けの体積基準値と半割体積基準値とを比較し、その際に、検出素子の断面の形状の長手側に欠けを有する形態のサンプルのみが規格不適合品となるように半割体積基準値を設定するとよい。このようにすれば、主体金具と検出素子との軸ずれに影響しない欠けの生じたサンプルを規格適合品とすることができ、歩留まりを向上させることができる。
また、本実施の形態では反転工程において固形シール材260の天地を反転させることで、固形シール材260の天面265側と底面266側の撮影をそれぞれ行ったが、この反転工程を省き、例えば2台のCCDカメラを用い、固形シール材260の天面265側の撮影を行いつつ底面266側の撮影を行い、各面側に生じ得る欠けの検出を行ってもよい。この場合、検査台の上方側および下方側(あるいは左方側および右方側であってもよい。)それぞれにCCDカメラを本実施の形態のように配置し、固形シール材260をその天面265および底面266のそれぞれをCCDカメラで撮影可能な状態で検査台上に保持する。例えば外周面を押さえて台上に浮かせるように保持して両面の撮影を行ったり、検査台を透明な板で作製し、その透明な板を介してCCDカメラで撮影したりすればよい。そして2つのCCDカメラで固形シール材260の天面265および底面266を同時にあるいは個別に撮影し、本実施の形態と同様に画像解析処理を行えば、本実施の形態よりも早く、効率よく、固形シール材260に生じ得る欠けの検出を行うことが可能である。また、上記のような検査台を用い、固形シール材260の天面265側の撮影が終わったら、検査台を挟んで反対側にCCDカメラ220の位置を移動させて、底面266側の撮影を行ってもよい。