JP4843360B2 - Automatic analyzer and calibration curve creation method thereof - Google Patents
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Description
本発明は、被検試料の成分を分析する自動分析装置及びその検量線作成方法に係り、特に、ヒトの血液や尿などの体液中に含まれる成分を分析する自動分析装置及びその検量線作成方法に関する。 The present invention relates to an automatic analyzer that analyzes components of a test sample and a calibration curve creation method thereof, and more particularly, to an automatic analyzer that analyzes components contained in body fluids such as human blood and urine, and to create a calibration curve thereof. Regarding the method.
自動分析装置には、被検体から採取された被検試料と試薬との混合液の反応によって生ずる色調の変化を、光の透過量を測定して吸光度を求めることにより、被検試料中の様々な成分の濃度や活性値などを定量的に分析する装置が知られている。 The automatic analyzer can measure various changes in the color of the test sample by measuring the amount of transmitted light and determining the absorbance by the reaction of the mixture of the test sample collected from the sample and the reagent. Devices that quantitatively analyze the concentrations and activity values of various components are known.
この自動分析装置では、被検試料中の成分の各項目を分析するために、予め項目毎に測定に使用する標準試料や被検試料などのサンプル及び試薬の量、混合液の反応時間、検量線の種別、検量線を作成するための標準試料、光の波長などの分析条件を設定しておく必要がある。そして、項目毎に予め設定した標準試料を測定してその吸光度を求めることにより検量線が作成される。その後、検量線の作成により分析可能になった多数の項目の中から選択された被検試料毎の項目の測定が行われ、濃度や活性値などの分析データが生成され、その分析データが医療診断に利用される。 In this automatic analyzer, in order to analyze each item of the components in the test sample, the amount of samples and reagents such as standard samples and test samples used for the measurement in advance for each item, the reaction time of the mixture, the calibration It is necessary to set analysis conditions such as the type of line, the standard sample for creating a calibration curve, and the wavelength of light. A calibration curve is created by measuring a standard sample set in advance for each item and obtaining the absorbance. After that, items for each test sample selected from the many items that can be analyzed by creating a calibration curve are measured, and analytical data such as concentration and activity values are generated. Used for diagnosis.
検量線は、標準試料に予め値付けされた校正値とこの標準試料の吸光度の各座標間を補間する関数により形成され、その関数は各項目のサンプルと試薬との反応の特性に基づいて設定される。そして、標準試料が2個であれば2点の座標間は直線で表される。また、標準試料がn個(n≧3)であれば、隣り合う各座標間が直線や曲線で表され、曲線で表される関数には指数関数やスプライン関数などがあることが知られている(例えば、特許文献1参照。)。 The calibration curve is formed by a function that interpolates between the calibration value pre-valued for the standard sample and the coordinates of the absorbance of this standard sample. The function is set based on the characteristics of the reaction between the sample and the reagent of each item. Is done. If there are two standard samples, the coordinates between the two points are represented by a straight line. In addition, if there are n standard samples (n ≧ 3), adjacent coordinates are represented by straight lines or curves, and it is known that functions represented by curves include exponential functions and spline functions. (For example, refer to Patent Document 1).
図8の検量線は、6個の標準試料の各校正値C0乃至C5と、この標準試料の測定により求められた各吸光度A0乃至A5の各座標P0乃至P5の隣り合う各座標間(各校正値で区分される各区間)を曲線で補間する各関数y=f1(x)乃至y=f5(x)により形成されている。そして、区間内の各関数y=f1(x)乃至y=f5(x)は、隣り合う座標間を隣り合う座標以外の座標を考慮に入れた連立方程式から各関数の係数を求めることにより得ることができる。 The calibration curve in FIG. 8 shows the calibration values C0 to C5 of the six standard samples and the adjacent coordinates P0 to P5 of the absorbances A0 to A5 obtained by the measurement of the standard samples (each calibration Each section divided by values) is formed by functions y = f1 (x) to y = f5 (x) for interpolating with curves. Then, each function y = f1 (x) to y = f5 (x) in the section is obtained by obtaining the coefficient of each function from simultaneous equations in which coordinates other than adjacent coordinates are taken into consideration between adjacent coordinates. be able to.
分析データは、検量線を用いて生成される。被検試料を測定して求めた吸光度Aiが区間内の例えば吸光度A2よりも大きく吸光度A3よりも小さい場合、関数y=f3(x)のy座標の吸光度Aiと交わるx座標の値Ciを求めることにより生成される。また、被検試料の吸光度が吸光度A5を越える区間外にある場合、座標P4と座標P5の間を補間する関数y=f5(x)を区間外に外挿し、外挿した関数y=f5(x)のy座標の被検試料の吸光度と交わるx座標の値を求めることにより生成される。
しかしながら、関数y=f5(x)は、隣り合う座標間を隣り合う座標以外の座標を考慮に入れて求められるため、図9に示すように、検量線の区間外で関数の傾きが一旦負になった後に正になることがある。この場合、被検試料のy座標の吸光度Asと交わるx座標の値Cs1は、期待される単調増加関数のx座標の値Cs2よりも異常に大きい値となるため、この分析データを診断に用いたとき誤診する恐れがある。 However, since the function y = f5 (x) is obtained by taking into consideration the coordinates other than the adjacent coordinates between the adjacent coordinates, as shown in FIG. 9, the slope of the function is once negative outside the interval of the calibration curve. May become positive after becoming. In this case, the x-coordinate value Cs1 that intersects the absorbance As of the y-coordinate of the test sample is an abnormally larger value than the expected monotonically increasing function x-coordinate value Cs2, so this analysis data is used for diagnosis. There is a risk of misdiagnosis.
また、図10に示すように、関数が単調減少関数になってしまうこともある。この場合、被検試料のy座標の吸光度Asと交わるx座標が存在しないため、分析データを生成できず、分析データを生成できない項目に対しては、分析データエラーが出力される。従って、測定の終了後に、分析データエラーを含む項目の被検試料が希釈され再測定することになり、測定に時間と手間が掛かってしまう問題がある。 Further, as shown in FIG. 10, the function may become a monotonously decreasing function. In this case, since there is no x coordinate that intersects the absorbance As of the y coordinate of the test sample, analysis data cannot be generated, and an analysis data error is output for an item that cannot generate analysis data. Therefore, after completion of the measurement, the test sample of the item including the analysis data error is diluted and remeasured, and there is a problem that the measurement takes time and labor.
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、検量線の区間外で被検試料の測定が可能な自動分析装置及びその検量線作成方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an automatic analyzer capable of measuring a test sample outside a section of a calibration curve and a calibration curve creation method thereof.
上記目的を達成するために、請求項1に係る本発明の自動分析装置は、被検試料及び複数の標準試料を測定して、被検試料データ及び標準試料データを生成する分析手段と、前記標準試料の校正値及び前記分析手段により生成された前記標準試料データに基づいて、前記校正値とこの校正値の標準試料データの座標の内の隣り合う各座標間を補間する第1の関数と、この第1の関数と同符号の傾きを有し、前記第1の関数を外挿する第2の関数とにより形成される検量線を作成するキャリブレーション手段と、前記標準試料の最大の校正値と、この校正値よりも大きい延長領域値との区間を設定する区間設定手段と、前記分析手段により生成された前記被検試料データのうち、前記標準試料データの範囲外の前記被検試料データに対して、前記第1の関数が前記区間設定手段により設定された区間で単調増加又は単調減少関数である時に前記第1の関数を用い、単調増加及び単調減少関数でない時に前記第2の関数を用いて前記被検試料データから分析データを生成する分析データ生成手段と、前記分析データ生成手段により生成された前記分析データを出力する出力手段とを備えたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, an automatic analyzer of the present invention according to
また、請求項8に係る本発明の自動分析装置の検量線作成方法は、被検試料及び複数の標準試料を測定して被検試料データ及び標準試料データを分析手段により生成し、前記標準試料の校正値及び前記分析手段により生成された前記標準試料データに基づいて、前記校正値とこの校正値の標準試料データの座標の内の隣り合う各座標間を補間する第1の関数と、この第1の関数と同符号の傾きを有し、前記第1の関数を外挿する第2の関数とにより形成される検量線をキャリブレーション手段により作成し、前記標準試料の最大の校正値と、この校正値よりも大きい延長領域値との区間を区間設定手段により設定し、前記分析手段により生成された前記被検試料データのうち、前記標準試料データの範囲外の前記被検試料データに対して、前記第1の関数が前記区間設定手段により設定された区間で単調増加又は単調減少関数である時に前記第1の関数を用い、単調増加及び単調減少関数でない時に前記第2の関数を用いて前記被検試料データから分析データを分析データ生成手段により生成し、前記分析データ生成手段により生成された前記分析データを出力手段により出力することを特徴とする。 The calibration curve generating method of the automatic analyzer according to the present invention according to claim 8 is a method for measuring a test sample and a plurality of standard samples, generating test sample data and standard sample data by an analysis means, and A first function that interpolates between the calibration value and each coordinate adjacent to the standard sample data of the calibration value based on the calibration value and the standard sample data generated by the analyzing means, A calibration curve having a slope of the same sign as the first function and formed by a second function extrapolating the first function is created by the calibration means, and the maximum calibration value of the standard sample is , a section of greater extension region value than the calibration value set by the section setting unit, of the test sample data generated by said analyzing means, said test sample data outside the range of the standard sample data On the other hand Using the first function when the first function is a monotonically increasing or decreasing function with the set interval by the interval setting means, the object with the second function when not monotonic increase and monotonic decreasing function Analysis data is generated from the sample data by analysis data generation means, and the analysis data generated by the analysis data generation means is output by output means.
本発明によれば、標準試料の校正値により区分される各区間を曲線で補間する第1の関数と、この第1の関数と同符号の傾きを有し第1の関数を外挿する第2の関数とにより形成される検量線を作成することにより、区間外の被検試料データから分析データを精度よく生成できるので、効率よく測定することができる。 According to the present invention, the first function that interpolates each section divided by the calibration value of the standard sample with a curve, and the first function that has the same sign as the first function and extrapolates the first function. By creating a calibration curve formed by the function of 2, the analysis data can be generated with high accuracy from the sample data outside the section, so that it can be measured efficiently.
以下に、本発明による自動分析装置の実施例を、図1乃至図7を参照して説明する。 Hereinafter, an embodiment of an automatic analyzer according to the present invention will be described with reference to FIGS.
図1は、実施例に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析装置100は、標準試料や被検試料の測定を行う分析部18と、分析部18の制御を行う分析制御部20と、標準試料や被検試料の測定により分析部18から出力された標準試料データや被検試料データを処理して検量線の作成や分析データの生成を行うデータ処理部30と、データ処理部30からの検量線や分析データを出力する出力部40と、各項目の標準試料や検量線などの分析条件の入力や、各種コマンド信号を入力する操作部50と、分析制御部20、データ処理部30、及び出力部40を統括して制御するシステム制御部60とを備えている。
FIG. 1 is a block diagram illustrating the configuration of the automatic analyzer according to the embodiment. The automatic analyzer 100 is output from the
図2は、分析部18の斜視図である。この分析部18は、標準試料や被検試料に含まれる各項目の成分に対して選択的に反応する第1試薬や第1試薬と対の第2試薬などの試薬が入った試薬ボトル7と、この試薬ボトル7を収納する試薬ラック1と、第1試薬の入った試薬ボトル7を収納した試薬ラック1を収納する試薬庫2と、第2試薬の入った試薬ボトル7を収納した試薬ラック1を収納する試薬庫3と、円周上に複数の反応容器4を配置した反応ディスク5と、標準試料や被検試料などのサンプルを収容する試料容器17をセットするディスクサンプラ6とを備えている。
FIG. 2 is a perspective view of the
そして、1サイクル毎に、試薬庫2、試薬庫3、及びディスクサンプラ6は夫々回動し、反応ディスク5は回転して分析制御部20により制御された位置に停止する。
In each cycle, the
また、分析部18は、1サイクル毎に、試薬庫2,3の図示しない第1及び第2試薬吸引位置の試薬ボトル7から第1及び第2試薬を吸引した後、図示しない第1及び第2試薬吐出位置に停止した反応容器4に分注する第1及び第2試薬分注プローブ14,15と、ディスクサンプラ6の分析制御部20に制御された位置の試料容器17からサンプルを吸引した後、図示しないサンプル吐出位置に停止した反応容器4に分注する分注プローブ16とを備えている。
Further, the
そして第1試薬分注プローブ14、第2試薬分注プローブ15、及び分注プローブ16を回動及び上下動可能に保持する第1試薬分注アーム8、第2試薬分注アーム9、及び分注アーム10を備えている。
A first reagent dispensing arm 8, a second reagent dispensing arm 9, and a dispensing reagent that hold the first reagent dispensing probe 14, the second
更に、1サイクル毎に、図示しない撹拌位置に停止した反応容器4内におけるサンプル+第1試薬、サンプル+第1試薬+第2試薬などの混合液を撹拌する撹拌ユニット11と、この混合液を含む反応容器4を図示しない測光位置から測定する測光ユニット13と、洗浄・乾燥位置に停止した反応容器4内の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器4内を洗浄・乾燥する洗浄ユニット12とを備えている。
Further, for each cycle, the stirring
測光ユニット13は、回転移動する反応容器4に測光位置から光を照射して、標準試料を含む混合液を透過した光を吸光度に変換して標準試料データを生成した後、データ処理部30に出力する。また、被検試料を含む混合液を透過した光を吸光度に変換して被検試料データを生成した後、データ処理部30に出力する。その後、混合液の測定を終了して洗浄・乾燥された反応容器4は、再び測定に使用される。
The
分析制御部20は、試薬庫2、試薬庫3、及びディスクサンプラ6の夫々回動、反応ディスク5の回転、分注アーム10、第1試薬分注アーム8、第2試薬分注アーム9、及び撹拌ユニット11の夫々回動及び上下移動、洗浄ユニット12の上下移動などを行う機構及び各機構の制御部を備えている。
The
また、サンプル分注プローブ16からサンプルを吸引及び吐出させるための分注ポンプ、第1試薬分注プローブ14から第1試薬を吸引及び吐出させるための第1試薬ポンプ、第2試薬分注プローブ14から第2試薬を吸引及び吐出させるための第2試薬ポンプ、洗浄ユニット12から反応容器4内洗浄用の洗浄液を供給及び吸引させるための洗浄ポンプ及び反応容器4内を乾燥させるための乾燥ポンプなどの各種ポンプ及び各種ポンプの制御部を備えている。更に、撹拌ユニット11を撹拌駆動する機構及び制御部を備えている。
In addition, a dispensing pump for aspirating and discharging a sample from the sample dispensing probe 16, a first reagent pump for aspirating and discharging a first reagent from the first reagent dispensing probe 14, and a second reagent dispensing probe 14 A second reagent pump for sucking and discharging the second reagent from the cleaning pump, a cleaning pump for supplying and sucking the cleaning liquid for cleaning the
図1のデータ処理部30は、分析部18から出力された標準試料データや被検試料データから検量線の作成や分析データを生成する演算部31と、演算部31で生成された検量線や分析データなどを保存する記憶部32とを備えている。
The
演算部31は、分析部18の測光ユニット13から出力された標準試料データから検量線を作成するキャリブレーション部33と、測光ユニット13から出力された被検試料データから分析データを生成する分析データ生成部34とを備えている。
The calculation unit 31 includes a
キャリブレーション部33は、分析部18から出力された各項目の標準試料データと、この標準試料データに対応する標準試料の校正値に基づき検量線を作成して出力部40に出力すると共に記憶部32に保存する。
The
分析データ生成部34は、分析部18から出力された各項目の被検試料データに対して、その項目の検量線を記憶部32から読み出した後、読み出した検量線を用いて濃度や活性値などの分析データを生成して出力部40に出力すると共に記憶部32に保存する。
The analysis
記憶部32は、ハードディスクなどを備え、キャリブレーション部33から出力された検量線を項目毎に保存し、分析データ生成部34から出力された分析データを被検試料毎に保存する。
The
出力部40は、データ処理部30から出力された検量線、分析データなどを印刷出力する印刷部41及び表示出力する表示部42を備えている。そして、印刷部41は、プリンタなどを備え、データ処理部30から出力された検量線、分析データなどを予め設定されたフォーマットに基づいて、プリンタ用紙に印刷出力する。表示部42は、CRTや液晶パネルなどのモニタを備え、各項目の標準試料や検量線などの分析条件を設定するための標準試料設定画面や検量線設定画面などの表示や、データ処理部30から出力された検量線、分析データなどの表示を行う。
The output unit 40 includes a
操作部50は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、各項目の標準試料や検量線などの分析条件の設定、被検体の被検体IDや被検体名などの被検体情報の入力、被検体の被検試料毎の測定する項目の選択、各項目のキャリブレーション操作、被検試料測定操作などの様々な操作が行われる。
The
システム制御部60は、図示しないCPUと記憶回路を備え、操作部50から供給される操作者のコマンド信号、各項目の標準試料や検量線などの分析条件、被検体情報、被検試料毎の測定項目などの情報を記憶した後、これらの情報に基づいて、分析部18を構成する各ユニットを一定サイクルの所定のシーケンスで測定動作させる制御、或いは検量線の作成、分析データの生成と出力に関する制御などシステム全体の制御を行なう。
The system control unit 60 includes a CPU and a storage circuit (not shown). An operator command signal supplied from the
次に、図1乃至図5を参照して、分析条件の標準試料及び検量線を設定する例を説明する。 Next, an example of setting a standard sample and a calibration curve for analysis conditions will be described with reference to FIGS.
図3は、分析条件の一部である標準試料を設定する画面を示した図である。この標準試料設定画面70は、予め設定した項目名が表示される「項目」のエリアと、「標準試料」の欄、「標準試料」の欄に対応した「値」の欄、及び「標準試料」の欄に対応した「位置」の欄により構成される。そして、操作部50からの各項目の標準試料設定画面表示操作により出力部40の表示部42に表示され、標準試料設定画面70に設定された各項目の情報はシステム制御部60の内部記憶回路に保存される。
FIG. 3 is a diagram showing a screen for setting a standard sample which is a part of the analysis conditions. The standard sample setting screen 70 includes an “item” area where preset item names are displayed, a “standard sample” column, a “value” column corresponding to a “standard sample” column, and a “standard sample”. "Position" column corresponding to "column". Then, the standard sample setting screen display operation of each item from the
「標準試料」の欄には上から順に「0」乃至「n」が表示され、項目毎に最大(n+1)個の標準試料の設定が可能になっている。 In the “standard sample” column, “0” to “n” are displayed in order from the top, and a maximum of (n + 1) standard samples can be set for each item.
「値」の欄には、「標準試料」の欄の各「0」乃至「n」に対応する四角枠70a0乃至70anが配置されている。そして、各項目のキャリブレーションで使用する各標準試料に値付けされている校正値を、上から順に各四角枠内に入力する。
In the “value” column,
「位置」の欄には、「標準試料」の欄の各「0」乃至「n」に対応する四角枠70b0乃至70bnが配置されている。そして、項目毎に使用する各標準試料を収容した試料容器17をセットするディスクサンプラ6の位置の番号を各四角枠内に入力する。
In the “position” column, square frames 70b0 to 70bn corresponding to “0” to “n” in the “standard sample” column are arranged. And the number of the position of the
ここでは、項目Aのキャリブレーションで使用する各標準試料ST0乃至STmを標準試料設定画面70に設定する。各標準試料ST0乃至STmの各校正値C0乃至Cm(C0<C1<・・・<C(m−1)<Cm)の小さい校正値から、各四角枠70a0乃至70am内に入力する。また、各標準試料ST0乃至STmを収容する(m+1)個の試料容器17をセットするディスクサンプラ6の各位置D0乃至Dmを各四角枠70b0乃至70bm内に入力する。
Here, the standard samples ST0 to STm used in the calibration of the item A are set on the standard sample setting screen 70. The calibration values C0 to Cm (C0 <C1 <... <C (m−1) <Cm) of the respective standard samples ST0 to STm are inputted into the respective square frames 70a0 to 70am. Further, the respective positions D0 to Dm of the
図4は、分析条件の一部である検量線を設定する画面を示した図である。この検量線設定画面80は、予め設定した項目名が表示される「項目」のエリアと、「標準の検量線種別」の欄、「直線による外挿を行う」の欄、及び「区間」の欄により構成される。そして、操作部50からの各項目の検量線設定画面表示操作により出力部40の表示部42に表示され、検量線設定画面80に設定された検量線の情報はシステム制御部60の内部記憶回路に保存される。
FIG. 4 is a diagram showing a screen for setting a calibration curve that is a part of the analysis conditions. The calibration curve setting screen 80 includes an “item” area in which a preset item name is displayed, a “standard calibration curve type” field, a “straight line extrapolation” field, and a “section” field. It consists of columns. The calibration curve information displayed on the
「標準の検量線種別」の欄の右側には、項目毎に使用する検量線を作成するためのサンプルと試薬の反応特性に合う関数を選択して入力する四角枠80aが配置されている。検量線の関数には、標準試料設定画面70で設定された各標準試料の校正値とこの校正値に該当する標準試料の測定により生成された標準試料データの各座標P(校正値,標準試料データ)の隣り合う各座標P(校正値,標準試料データ)間を直線で補間する「直線」と、隣り合う各座標P(校正値,標準試料データ)間をこの隣り合う座標以外の座標も考慮に入れてスプライン関数、指数関数などの曲線で補間する「スプライン」、「指数」などがあり、これらの中から選択入力した関数が四角枠80a内に表示される。 On the right side of the “standard calibration curve type” column, a square frame 80a for selecting and inputting a function suitable for the reaction characteristics of the sample and the reagent for creating a calibration curve to be used for each item is arranged. The calibration curve function includes a calibration value of each standard sample set on the standard sample setting screen 70 and each coordinate P (calibration value, standard sample) of the standard sample data generated by measuring the standard sample corresponding to the calibration value. Data) is a straight line that interpolates between adjacent coordinates P (calibration value, standard sample data), and there is also a coordinate other than the adjacent coordinates between adjacent coordinates P (calibration value, standard sample data). There are “spline”, “exponential” and the like which are interpolated with curves such as spline function and exponential function taking into consideration, and a function selected and input from these is displayed in the square frame 80a.
「直線による外挿を行う」の欄の右側には、「標準の検量線種別」の欄の四角枠80a内に設定された曲線で補間する関数を対象とし、その関数に対して直線による外挿を行うか否かを設定する四角枠80bが配置されている。 On the right side of the column “Extrapolate with a straight line” is a function that interpolates with a curve set in the square frame 80a of the “Standard calibration curve type” column. A square frame 80b for setting whether or not to perform insertion is arranged.
そして、「直線による外挿を行う」を設定する場合、四角枠80b内に「レ」を入力する。この設定により、各項目の標準試料設定画面70で設定した標準試料の最大の校正値以上の区間に直線の関数が外挿される。 Then, when “perform extrapolation using a straight line” is set, “R” is input in the rectangular frame 80b. With this setting, a linear function is extrapolated to a section that is equal to or greater than the maximum calibration value of the standard sample set on the standard sample setting screen 70 of each item.
ここでは、項目Aの「標準の検量線種別」としては「スプライン」を選択設定し、「直線による外挿を行う」を設定する。 Here, as the “standard calibration curve type” of item A, “spline” is selected and set, and “extrapolation by straight line” is set.
「区間」の欄の右側には、「標準の検量線種別」の欄の四角枠80a内に選択入力された検量線に対して、区間外における延長区間を入力するための四角枠80c及び80dが配置されている。「直線による外挿を行う」が選択されていなければ、四角枠80c及び80dに区間が入力されていても無効となる。
On the right side of the “section” column,
図5は、項目Aの検量線の一例を示した図である。このx,y軸に表された検量線Aは、項目Aの検量線設定画面80で設定された関数に基づいて生成された第1の関数と、第1の関数から導き出された第2の関数とにより形成される。 FIG. 5 is a diagram showing an example of a calibration curve for item A. FIG. The calibration curve A represented on the x and y axes includes a first function generated based on the function set on the calibration curve setting screen 80 of the item A, and a second function derived from the first function. Formed by functions.
検量線Aの第1の関数は、各標準試料ST0乃至STmの各校正値C0乃至Cmを小さい順に並べた時に隣り合う校正値で区分される各区間[{C0,C1}乃至{C(m−1),Cm}](区間内)を補間する各補間関数y=S1(x)乃至y=Sm(x)により構成される。 The first function of the calibration curve A is that each section [{C0, C1} to {C (m) divided by adjacent calibration values when the calibration values C0 to Cm of the standard samples ST0 to STm are arranged in ascending order. -1), Cm}] (within the section), each interpolation function is composed of y = S1 (x) to y = Sm (x).
各補間関数y=S1(x)乃至y=Sm(x)は、項目Aの検量線設定画面80で設定された例えば三次スプライン関数などの二次以上の多項式で表される設定関数の係数を、項目Aの標準試料設定画面70で設定された各校正値C0乃至Cmをx座標とし、分析部18による標準試料ST0乃至STmの測定によって生成される標準試料データA(吸光度A0乃至Am)(A0<A1<・・・<A(m−1)<Am)をy座標とする各座標P0(C0,A0)乃至Pm(Cm,Am)を用いて求めることにより得られる。 Each interpolation function y = S1 (x) to y = Sm (x) is a coefficient of a setting function represented by a quadratic or higher order polynomial such as a cubic spline function set on the calibration curve setting screen 80 of item A. , Each calibration value C0 to Cm set on the standard sample setting screen 70 of item A is set as the x coordinate, and standard sample data A (absorbance A0 to Am) generated by measurement of the standard samples ST0 to STm by the analysis unit 18 ( A0 <A1 <... <A (m−1) <Am) is obtained by using the coordinates P0 (C0, A0) to Pm (Cm, Am) having y coordinates.
例えば、区間{C(i−1),Ci}の隣り合う座標P(i―1)と座標Piを補間する補間関数Si(x)は、隣り合う座標以外の座標をも用いて前記設定関数の係数を求めることにより得られる。このようにして得られた各補間関数y=S1(x)乃至y=Sm(x)は、単調増加関数として表される。 For example, the interpolating function Si (x) that interpolates the coordinates P (i-1) and the coordinates Pi adjacent to each other in the section {C (i-1), Ci} uses the coordinates other than the coordinates adjacent to the setting function. Is obtained by calculating the coefficient of. Each interpolation function y = S1 (x) to y = Sm (x) obtained in this way is represented as a monotone increasing function.
なお、第1の関数が単調増加関数である場合、吸光度A0乃至Amは、C0<C1<・・・<C(m−1)<Cmに対応してA0<A1<・・・<A(m−1)<Amとなる関係が成り立つ。この関係が成り立たない場合、キャリブレーション時に何らかの異常があったものと見なし、標準試料データにエラーコードを付加して出力部40に出力されることになる。また、第1の関数は、吸光度A0乃至Amは、C0<C1<・・・<C(m−1)<Cmに対応してA0>A1>・・・>A(m−1)>Amとなる関係が成り立つ単調減少関数であってもよい。 When the first function is a monotonically increasing function, the absorbances A0 to Am correspond to A0 <A1 <... <A (corresponding to C0 <C1 <... <C (m-1) <Cm. m-1) <Am. If this relationship does not hold, it is assumed that there was some abnormality during calibration, and an error code is added to the standard sample data and output to the output unit 40. The first function is that the absorbances A0 to Am correspond to C0 <C1 <... <C (m-1) <Cm, A0> A1>...> A (m-1)> Am It may be a monotone decreasing function that satisfies the following relationship.
第2の関数は、校正値Cmよりも大きい区間{Cm以上}(区間外)で、区間内端部の区間{C(m−1),Cm}の補間関数y=Sm(x)を外挿する関数である。区間{C(m−1),Cm}の端部の座標Pm(Cm,Am)における補間関数y=Sm(x)の一次微分係数Sm’(Cm)を傾きとし、座標Pm(Cm,Am)を通る直線の外挿関数y=Sm’(Cm)(x−Cm)+Amとして表される。このため外挿関数の傾きは、第1の関数と同符号であり、単調増加関数となる。なお、第1の関数が単調減少関数である場合には、外挿関数も単調減少関数となる。 The second function is a section {Cm or more} (outside the section) larger than the calibration value Cm, and the interpolation function y = Sm (x) of the section {C (m−1), Cm} at the inner end of the section is excluded. This is the function to insert. The linear differential coefficient Sm ′ (Cm) of the interpolation function y = Sm (x) at the coordinates Pm (Cm, Am) at the end of the section {C (m−1), Cm} is set as the slope, and the coordinates Pm (Cm, Am ) Is represented as a linear extrapolation function y = Sm ′ (Cm) (x−Cm) + Am. For this reason, the slope of the extrapolation function has the same sign as the first function and is a monotonically increasing function. When the first function is a monotone decreasing function, the extrapolation function is also a monotone decreasing function.
このように、区間内の各区間を曲線で補間する補間関数により構成される第1の関数に対して、標準試料の最大の校正値とこの標準試料から生成される標準試料データの座標を通り、傾きがその座標における補間関数の一次微分係数で表される一次関数を求めることにより、第1の関数と同符号の傾きを有し、第1の関数を外挿する近似的な第2の関数を区間外に設けることができる。そして、第1及び第2の関数による単調増加又は単調減少する検量線を作成することができる。 As described above, the first function constituted by the interpolation function for interpolating each section in the section with the curve passes through the maximum calibration value of the standard sample and the coordinates of the standard sample data generated from the standard sample. By obtaining a linear function whose slope is expressed by the first derivative of the interpolation function at the coordinates, an approximate second that has the same sign as the first function and extrapolates the first function Functions can be provided outside the interval. Then, it is possible to create a calibration curve that monotonously increases or monotonously decreases by the first and second functions.
図4に戻り、以下では項目Aの検量線Aを例に説明する。「直線による外挿を行う」を選択しない場合、区間外には、区間内端部の区間{C(m−1),Cm}の補間関数y=Sm(x)が使用される。 Returning to FIG. 4, the calibration curve A of item A will be described below as an example. When “perform extrapolation using straight lines” is not selected, the interpolation function y = Sm (x) of the section {C (m−1), Cm} at the inner end of the section is used outside the section.
四角枠80c内には最大の校正値Cmを入力し、四角枠80d内には最大の校正値Cmよりも大きくその項目の測定限界域などの延長領域値C(m+1)を入力する。
The maximum calibration value Cm is input in the
そして、「直線による外挿を行う」を選択し四角枠80c及び80dに延長区間を設定した場合、設定した延長区間{Cm,C(m+1)}で{C(m−1),Cm}の補間関数y=Smax(x)が単調増加又は単調減少する時には、区間{Cm,C(m+1)}においても補間関数y=Sm(x)が使用される。また、補間関数Sm(x)が単調増加及び単調減少しない時には、外挿関数y=Sm’(Cm)(x−Cm)+Amが使用される。
When “Extrapolate by straight line” is selected and an extension section is set in the
次に、図1乃至図7を参照して、自動分析装置100による標準試料及び被検試料を測定する動作を説明する。 Next, the operation of measuring the standard sample and the test sample by the automatic analyzer 100 will be described with reference to FIGS.
図6は、標準試料を測定する動作を示したフローチャートである。操作部50から例えば項目Aの標準試料及び検量線などの分析条件を設定する分析条件設定操作が行われると、システム制御部60は、項目Aの標準試料及び検量線などの分析条件の情報を内部の記憶回路に保存する。その後、項目Aの各標準試料ST0乃至STmを収容した試料容器17がディスクサンプラ6の位置「D0」乃至「Dm」にセットされる。
FIG. 6 is a flowchart showing an operation for measuring a standard sample. When an analysis condition setting operation for setting the analysis conditions such as the standard sample and calibration curve of item A is performed from the
そして、操作部50から項目Aのキャリブレーション操作が行われると、自動分析装置100は各標準試料ST0乃至STmを測定する動作を開始する(ステップS1)。
When the calibration operation of item A is performed from the
システム制御部60は、分析制御部20、データ処理部30、及び出力部40に、項目Aのキャリブレーションを行うための標準試料測定動作を指示すると共に、項目Aの分析条件の情報を出力する。
The system control unit 60 instructs the
分析制御部20は、システム制御部60の指示及び分析条件の情報に基づいて、分析部18の各ユニットを制御して項目Aの標準試料測定動作をする。分析部18の測光ユニット13は、項目Aの各標準試料ST0乃至STmを測定して標準試料データA(吸光度A0乃至Am)を生成する(ステップS2)。その後、生成した標準試料データAをデータ処理部30の演算部31のキャリブレーション部33に出力する。
The
キャリブレーション部33は、システム制御部60から出力された項目Aの分析条件の情報及び測光ユニット13から出力された標準試料データに基づいて、各区間{C0,C1}乃至{Cm,Am}(区間内)を補間する各補間関数y=S1(x)乃至y=Sm(x)の係数を求める(ステップS3)。
Based on the analysis condition information of the item A output from the system control unit 60 and the standard sample data output from the
そして、検量線設定画面80の「直線による外挿を行う」が設定されている場合(ステップS4のはい)、ステップS5に移行する。また、「直線による外挿を行う」が設定されていない場合(ステップS4のいいえ)、区間内の区間毎の各係数を求めた各補間関数y=S1(x)乃至y=Sm(x)により構成される検量線Bを作成して出力部40に出力すると共に記憶部32に保存する(ステップS6)。その後、ステップS13に移行する。 If “perform extrapolation by straight line” is set on the calibration curve setting screen 80 (Yes in step S4), the process proceeds to step S5. Also, when “perform extrapolation using straight lines” is not set (No in step S4), each interpolation function y = S1 (x) to y = Sm (x) for obtaining each coefficient in each section in the section. Is generated and output to the output unit 40 and stored in the storage unit 32 (step S6). Thereafter, the process proceeds to step S13.
ステップS5において、検量線設定画面80の「区間」の四角枠80c及び80d内に区間が設定されている場合(ステップS5のはい)、四角枠80c及び80d内に例えばCm及びC(m+1)が設定されていると、ステップS7に移行する。また、四角枠80c及び80d内に区間が設定されていない場合(ステップS5のいいえ)、ステップS8に移行する。
In step S5, when sections are set in the
次に、区間{Cm,C(m+1)}で補間関数y=Sm(x)が単調増加する場合(ステップS7のはい)、区間内の各補間関数y=S1(x)乃至y=Sm(x)と区間{Cm,C(m+1)}の補間関数y=Sm(x)とにより構成される検量線Cを作成して出力部40に出力すると共に記憶部32に保存する(ステップS9)。その後、ステップS13に移行する。 Next, when the interpolation function y = Sm (x) monotonously increases in the section {Cm, C (m + 1)} (Yes in step S7), each interpolation function y = S1 (x) to y = Sm (in the section) x) and a calibration curve C composed of the interpolation function y = Sm (x) of the section {Cm, C (m + 1)} are generated and output to the output unit 40 and stored in the storage unit 32 (step S9). . Thereafter, the process proceeds to step S13.
また、区間{Cm,C(m+1)}で補間関数y=Sm(x)が単調増加しない場合(ステップS7のいいえ)、ステップS8に移行する。 If the interpolation function y = Sm (x) does not monotonously increase in the section {Cm, C (m + 1)} (No in step S7), the process proceeds to step S8.
次に、座標Pm(Cm,Am)におけるy=Sm(x)の一次微分係数Sm’(Cm)を求める。そして、求めた一次微分係数Sm’(Cm)が正である場合(ステップS8のはい)、区間{Cm以上}において使用される外挿関数y=Sm’(Cm)(x−Cm)+Amを求める(ステップS10)。 Next, a first-order differential coefficient Sm ′ (Cm) at y = Sm (x) at the coordinates Pm (Cm, Am) is obtained. If the obtained first derivative Sm ′ (Cm) is positive (Yes in step S8), the extrapolation function y = Sm ′ (Cm) (x−Cm) + Am used in the section {over Cm} is Obtained (step S10).
また、一次微分係数Sm’(Cm)が0又は負である場合(ステップS8のいいえ)、区間内の各補間関数y=S1(x)乃至y=Sm(x)を無効とし、「検量線の作成に失敗しました」などのキャリブレーションエラー情報を出力部40に出力すると共に記憶部32に保存する(ステップS11)。 If the primary differential coefficient Sm ′ (Cm) is 0 or negative (No in step S8), the interpolation functions y = S1 (x) to y = Sm (x) in the section are invalidated, and the “calibration curve” Calibration error information such as “Failed to create” is output to the output unit 40 and stored in the storage unit 32 (step S11).
このように、検量線を無効としキャリブレーションエラー情報を出力することにより、異常データの生成を防ぐことができる。 Thus, generation of abnormal data can be prevented by invalidating the calibration curve and outputting calibration error information.
次に、区間内の各補間関数y=S1(x)乃至y=Sm(x)と区間外の外挿関数y=Sm’(Cm)(x−Cm)+Amとにより構成される検量線Aを作成して出力部40に出力すると共に記憶部32に保存する(ステップS12)。 Next, a calibration curve A composed of each interpolation function y = S1 (x) to y = Sm (x) in the section and extrapolation function y = Sm ′ (Cm) (x−Cm) + Am outside the section. Is generated and output to the output unit 40 and stored in the storage unit 32 (step S12).
そして、ステップS6で生成された検量線B、又はステップS9で作成された検量線C、又はステップ11で作成されたキャリブレーションエラー情報、又はステップS12で作成された検量線Aが出力部40に出力された時点で、システム制御部60が分析制御部20、データ処理部30、及び出力部40に動作停止の指示をすることにより、項目Aの標準試料測定動作が終了する(ステップS13)。
Then, the calibration curve B generated in step S6, the calibration curve C created in step S9, the calibration error information created in
図7は、被検試料を測定する動作を示したフローチャートである。自動分析装置100のデータ処理部30の記憶部32には、図6で説明した標準試料の測定により項目Aの検量線Aが保存されているとする。
FIG. 7 is a flowchart showing an operation for measuring a test sample. It is assumed that the calibration curve A of item A is stored in the
操作部50から被検体の被検体ID、被検体名などの被検体情報を入力し、被検体の被検試料の項目Aを選択入力した後に、被検試料測定操作が行われると、自動分析装置100は被検試料測定動作を開始する(ステップS21)。
When the subject information such as the subject ID and subject name of the subject is input from the
システム制御部60は、分析制御部20、データ処理部30、及び出力部40に、被検試料の項目Aを測定する動作を指示する。この指示に基づいて分析制御部20は、分析部18の各ユニットに被検試料の項目Aの測定動作をさせる。この測定動作により分析部18の測光ユニット13は、被検試料の項目Aを測定して分析データA(吸光度Ac)を生成する(ステップS22)。その後、生成した吸光度Acをデータ処理部30の演算部31の分析データ生成部34に出力する。
The system control unit 60 instructs the
分析データ生成部34は、測光ユニット13から出力された項目Aの吸光度Acに対して、記憶部32から項目Aの検量線Aを読み出した後、読み出した検量線Aを用いて吸光度Acから分析データを生成するための動作を行う。
The analysis
そして、吸光度Acが、項目Aの標準試料STmの吸光度Amよりも大きい場合(ステップS23のはい)、検量線Aの外挿関数y=Sm’(Cm)(x−Cm)+Amを用いて分析データAを生成する(ステップS24)。 When the absorbance Ac is greater than the absorbance Am of the standard sample STm of item A (Yes in step S23), analysis is performed using the extrapolation function y = Sm ′ (Cm) (x−Cm) + Am of the calibration curve A. Data A is generated (step S24).
ここでは、外挿関数y=Sm’(Cm)(x−Cm)+Amのyに吸光度Acを代入して、xの値を求めることにより、被検試料の項目Aの分析データAである図5に示したCsを生成する。 Here, the figure is the analysis data A of the item A of the test sample by substituting the absorbance Ac into y of the extrapolation function y = Sm ′ (Cm) (x−Cm) + Am and obtaining the value of x. Cs shown in FIG. 5 is generated.
このように、区間外に対応する被検試料データが生成されたときに、第1の関数と同じ傾きを有する外挿関数を用いて近似的な分析データを生成することができる。 In this way, when test sample data corresponding to outside the section is generated, approximate analysis data can be generated using an extrapolation function having the same slope as the first function.
また、吸光度Acが、吸光度Amと同じである又は吸光度Amよりも小さい場合(ステップS23のいいえ)、検量線Aの区間内の各補間関数y=S1(x)乃至y=Sm(x)を用いて分析データA’を生成する(ステップS25)。 When the absorbance Ac is equal to or smaller than the absorbance Am (No in step S23), the interpolation functions y = S1 (x) to y = Sm (x) in the interval of the calibration curve A are expressed. Using this, the analysis data A ′ is generated (step S25).
ここでは、吸光度Acが区間{C(i−1),Ci}に対応しているとすると、その区間の補間式y=Si(x)のyにAcを代入して、xの値を求めることにより、項目Aの分析データA’である図5に示したCiを生成する。 Here, assuming that the absorbance Ac corresponds to the interval {C (i−1), Ci}, the value of x is obtained by substituting Ac for y in the interpolation equation y = Si (x) in that interval. Thus, Ci shown in FIG. 5 which is analysis data A ′ of item A is generated.
分析データ生成部34は、ステップS24で生成した分析データA又はステップS25で生成した分析データA’を出力部40に出力すると共に記憶部32に保存する(ステップS26)。
The analysis
そして、出力部40にデータ処理部30からの分析データが出力された時点で、システム制御部60が分析制御部20、データ処理部30、及び出力部40に動作停止の指示をすることにより、被検試料測定動作が終了する(ステップS27)。
Then, when the analysis data from the
なお、図6及び図7は上記実施例に限定されるものではなく、例えば検量線の第1の関数が単調減少関数である場合に実施するようにしてもよい。この場合、ステップS7では単調減少の場合に検量線Cを作成するようにし、ステップS8ではSm’(Cm)<0の場合に外挿関数を求めるようにし、ステップS23ではAs<Amの場合に外挿関数を用いて分析データAを生成するように実施する。 6 and 7 are not limited to the above-described embodiment, and may be performed when the first function of the calibration curve is a monotonously decreasing function, for example. In this case, a calibration curve C is created in the case of monotonic decrease in step S7, an extrapolation function is obtained in step S8 when Sm ′ (Cm) <0, and in the case of As <Am in step S23. The analysis data A is generated using an extrapolation function.
以上述べた本発明の実施例によれば、標準試料の校正値により区分される区間内の各区間を曲線で補間する補間関数により構成される第1の関数に対して、標準試料の最大の校正値とこの標準試料から生成される標準試料データの座標を通り、傾きがその座標における補間関数の一次微分係数で表される一次関数を求めることにより、第1の関数と同符号の傾きを有し、第1の関数を外挿する第2の関数を区間外に設けることができる。 According to the embodiment of the present invention described above, the maximum of the standard sample is compared with the first function constituted by the interpolation function that interpolates each section in the section divided by the calibration value of the standard sample with a curve. By obtaining a linear function that passes through the calibration value and the coordinates of the standard sample data generated from this standard sample and whose slope is represented by the first derivative of the interpolation function at that coordinate, the slope having the same sign as the first function is obtained. And a second function for extrapolating the first function can be provided outside the section.
この第2の関数により区間外の被検試料データから近似的な分析データを生成することができる。また、第1及び第2の関数による単調増加又は単調減少する検量線を作成することができるので、広範囲の測定に対応することができる。 By this second function, approximate analysis data can be generated from test sample data outside the interval. In addition, since a calibration curve that monotonously increases or monotonously decreases by the first and second functions can be created, a wide range of measurements can be handled.
また、標準試料の最大の校正値とこの校正値よりも大きい延長領域値との延長区間を設定し、設定した延長区間の被検試料データに対して、区間内の端部の区間の補間関数が延長区間でも第1の関数と同じ単調増加又は単調減少関数である場合にはその補間関数を用いて分析データを生成し、第1の関数と同じ単調増加又は単調減少関数でない場合には第2の関数を用いることにより、広範囲の測定に対応することができる。 Also, an extension section between the maximum calibration value of the standard sample and an extension area value larger than this calibration value is set, and the interpolation function of the end section in the section is set for the test sample data of the set extension section. If the extension function is the same monotonically increasing or decreasing function as the first function even in the extension interval, the interpolation data is used to generate analysis data, and if it is not the same monotonic increasing or decreasing function as the first function, By using the function of 2, it is possible to cope with a wide range of measurements.
これにより、誤診を防ぎ再測定する時間と手間が掛けることなく効率よく測定することができる。 As a result, it is possible to prevent misdiagnosis and efficiently perform measurement without taking time and labor for re-measurement.
18 分析部
20 分析制御部
30 データ処理部
31 演算部
32 記憶部
33 キャリブレーション部
34 分析データ生成部
40 出力部
41 印刷部
42 表示部
50 操作部
60 システム制御部
70 標準試料設定画面
80 検量線設定画面
100 自動分析装置
18
Claims (8)
前記標準試料の校正値及び前記分析手段により生成された前記標準試料データに基づいて、前記校正値とこの校正値の標準試料データの座標の内の隣り合う各座標間を補間する第1の関数と、この第1の関数と同符号の傾きを有し、前記第1の関数を外挿する第2の関数とにより形成される検量線を作成するキャリブレーション手段と、
前記標準試料の最大の校正値と、この校正値よりも大きい延長領域値との区間を設定する区間設定手段と、
前記分析手段により生成された前記被検試料データのうち、前記標準試料データの範囲外の前記被検試料データに対して、前記第1の関数が前記区間設定手段により設定された区間で単調増加又は単調減少関数である時に前記第1の関数を用い、単調増加及び単調減少関数でない時に前記第2の関数を用いて前記被検試料データから分析データを生成する分析データ生成手段と、
前記分析データ生成手段により生成された前記分析データを出力する出力手段とを
備えたことを特徴とする自動分析装置。 Analysis means for measuring a test sample and a plurality of standard samples to generate test sample data and standard sample data;
Based on the calibration value of the standard sample and the standard sample data generated by the analysis means, a first function for interpolating between the calibration value and each coordinate adjacent to the standard sample data of the calibration value. And a calibration means for creating a calibration curve formed by a second function having the same sign as the first function and extrapolating the first function,
Section setting means for setting a section between the maximum calibration value of the standard sample and an extended area value larger than the calibration value;
Of the test sample data generated by the analysis means , the first function increases monotonously in the section set by the section setting means with respect to the test sample data outside the range of the standard sample data. Or an analysis data generating means for generating analysis data from the test sample data using the first function when the function is a monotonically decreasing function and using the second function when the function is not a monotonically increasing function or a monotonic decreasing function ;
An automatic analyzer comprising output means for outputting the analysis data generated by the analysis data generation means.
前記座標の区間のうち、前記標準試料の最大の校正値の座標からなる区間を補間する第1の関数を求め、求めた第1の関数の傾きに基づいて前記第1の関数を外挿する第2の関数の使用の有無を判定するキャリブレーション手段をA first function that interpolates a section composed of coordinates of the maximum calibration value of the standard sample among the coordinate sections is obtained, and the first function is extrapolated based on the slope of the obtained first function. A calibration means for determining whether or not the second function is used
備えたことを特徴とする自動分析装置。An automatic analyzer characterized by comprising.
前記標準試料の校正値及び前記分析手段により生成された前記標準試料データに基づいて、前記校正値とこの校正値の標準試料データの座標の内の隣り合う各座標間を補間する第1の関数と、この第1の関数と同符号の傾きを有し、前記第1の関数を外挿する第2の関数とにより形成される検量線をキャリブレーション手段により作成し、Based on the calibration value of the standard sample and the standard sample data generated by the analysis means, a first function for interpolating between the calibration value and each coordinate adjacent to the standard sample data of the calibration value. And a calibration curve formed by a calibration means having a slope of the same sign as the first function and formed by a second function extrapolating the first function,
前記標準試料の最大の校正値と、この校正値よりも大きい延長領域値との区間を区間設定手段により設定し、Set the interval between the maximum calibration value of the standard sample and the extended region value larger than this calibration value by the interval setting means,
前記分析手段により生成された前記被検試料データのうち、前記標準試料データの範囲外の前記被検試料データに対して、前記第1の関数が前記区間設定手段により設定された区間で単調増加又は単調減少関数である時に前記第1の関数を用い、単調増加及び単調減少関数でない時に前記第2の関数を用いて前記被検試料データから分析データを分析データ生成手段により生成し、Of the test sample data generated by the analysis means, the first function increases monotonously in the section set by the section setting means with respect to the test sample data outside the range of the standard sample data. Or using the first function when the function is a monotonically decreasing function, and generating analytical data from the test sample data using the second function when the function is not monotonically increasing and not monotonically decreasing, by the analytical data generating means,
前記分析データ生成手段により生成された前記分析データを出力手段により出力することを特徴とする自動分析装置の検量線作成方法。A calibration curve creation method for an automatic analyzer, wherein the analysis data generated by the analysis data generation means is output by output means.
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