JP4842176B2 - 温度測定装置及び温度測定方法 - Google Patents
温度測定装置及び温度測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4842176B2 JP4842176B2 JP2007057146A JP2007057146A JP4842176B2 JP 4842176 B2 JP4842176 B2 JP 4842176B2 JP 2007057146 A JP2007057146 A JP 2007057146A JP 2007057146 A JP2007057146 A JP 2007057146A JP 4842176 B2 JP4842176 B2 JP 4842176B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- temperature
- reference light
- light
- measurement points
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K11/00—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
- G01K11/12—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in colour, translucency or reflectance
- G01K11/125—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in colour, translucency or reflectance using changes in reflectance
Description
ピーク検出最大距離−ピーク検出最小距離+ステージ加減速距離=波形計測距離
となる。上記結果をチャンネル毎に記憶し、波形を表示する(711)。
上記数式(1)に示すように、温度変化によって測定ポイントPを透過する測定光の光路長が変化する。光路長は一般に、厚さdと屈折率nとの積で表される。従って、温度変化前の測定ポイントPを透過する測定光の光路長をLとし、測定ポイントにおける温度が夫々ΔTだけ変化した後の光路長をL′とすると、L、L′は夫々下記の数式(2)に示すようになる。
従って、測定ポイントにおける測定光の光路長の温度変化前後の差(L′−L)は、上記数式(1)、(2)により計算して整理すると、下記数式(3)に示すようになる。なお、下記数式(3)では、α・β≪α、α・β≪βを考慮して微小項を省略している。
=L・(α+β)・ΔT1 …(3)
Claims (7)
- 光源と、
前記光源からの光を測定用の光と参照光とに分けるための第1スプリッタと、
前記第1スプリッタからの測定用の光を、さらにn個の第1〜第n測定光に分けるための第2スプリッタと、
前記第1スプリッタからの参照光を反射するための参照光反射手段と、
前記参照光反射手段から反射する参照光の光路長を変化させるための光路長変化手段と、
前記第1スプリッタからの参照光を、前記参照光反射手段へ照射する参照光照射位置まで伝送する参照光伝送手段と、
前記第2スプリッタからの第1〜第n測定光を夫々、温度測定対象物の第1〜第n測定ポイントへ照射する測定光照射位置まで伝送する第1〜第n測定光伝送手段と、
前記温度測定対象物の第1〜第n測定ポイントから反射する前記第1〜第n測定光と、前記参照光反射手段から反射する参照光との干渉を測定するための光検出器とを備え、
前記第1〜第n測定光における前記第2スプリッタから前記温度測定対象物の第1〜第n測定ポイントまでの各光路長を夫々互いに異なるようにした温度測定装置において、
前記温度測定対象物の前記第1〜第n測定ポイントに前記第1〜第n測定光を照射した際の干渉ピークの位置を、前記第1〜第n測定ポイント毎に予め個別に測定した結果をイニシャルピーク位置データとして記憶し、温度測定時に得られた干渉ピークの位置と、前記イニシャルピーク位置データとを比較して、前記第1〜第n測定ポイント毎に温度を算出するコントローラを有することを特徴とする温度測定装置。 - 請求項1記載の温度測定装置であって、
前記コントローラは、前記温度測定対象物の前記第1〜第n測定ポイントに前記第1〜第n測定光を照射した際の干渉ピークの位置を、前記第1〜第n測定ポイント毎に予め個別に測定する際に、前記光路長変化手段により、参照光の光路長を、光路長の変化が可能な全範囲について連続的に変化させ、イニシャルピーク位置データを取得することを特徴とする温度測定装置。 - 請求項1又は2記載の温度測定装置であって、
前記コントローラは、前記温度測定対象物の前記第1〜第n測定ポイントに前記第1〜第n測定光を照射した際の干渉ピークの位置を、前記第1〜第n測定ポイント毎に予め個別に測定する際に、前記光検出器によって得られた波形を2乗して得られた2乗折り返し波形の重心を求めて干渉ピークの中心位置とすることを特徴とする温度測定装置。 - 請求項1〜3のいずれか1項記載の温度測定装置であって、
前記温度測定対象物は、基板処理装置によって処理される被処理基板であり、前記第1〜第n測定光伝送手段は、前記被処理基板の面内における前記第1〜第n測定ポイントへ夫々前記第1〜第n測定光が照射されるように前記基板処理装置に配設されることを特徴とする温度測定装置。 - 光源と、
前記光源からの光を測定用の光と参照光とに分けるための第1スプリッタと、
前記第1スプリッタからの測定用の光を、さらにn個の第1〜第n測定光に分けるための第2スプリッタと、
前記第1スプリッタからの参照光を反射するための参照光反射手段と、
前記参照光反射手段から反射する参照光の光路長を変化させるための光路長変化手段と、
前記第1スプリッタからの参照光を、前記参照光反射手段へ照射する参照光照射位置まで伝送する参照光伝送手段と、
前記第2スプリッタからの第1〜第n測定光を夫々、温度測定対象物の第1〜第n測定ポイントへ照射する測定光照射位置まで伝送する第1〜第n測定光伝送手段と、
前記温度測定対象物の第1〜第n測定ポイントから反射する前記第1〜第n測定光と、前記参照光反射手段から反射する参照光との干渉を測定するための光検出器とを備え、
前記第1〜第n測定光における前記第2スプリッタから前記温度測定対象物の第1〜第n測定ポイントまでの各光路長を夫々互いに異なるようにした温度測定装置を用いた温度測定方法において、
前記温度測定対象物の前記第1〜第n測定ポイントに前記第1〜第n測定光を照射した際の干渉ピークの位置を、前記第1〜第n測定ポイント毎に予め個別に測定した結果をイニシャルピーク位置データとして取得する工程と、
温度測定時に、前記温度測定対象物の前記第1〜第n測定ポイントに前記第1〜第n測定光を照射して得られた干渉ピークの位置と、前記イニシャルピーク位置データとを比較して、前記第1〜第n測定ポイント毎に温度を算出する工程と
を有することを特徴とする温度測定方法。 - 請求項5記載の温度測定方法であって、
前記温度測定対象物の前記第1〜第n測定ポイントに前記第1〜第n測定光を照射した際の干渉ピークの位置を、前記第1〜第n測定ポイント毎に予め個別に測定する際に、前記光路長変化手段により、参照光の光路長を、光路長の変化が可能な全範囲について連続的に変化させ、イニシャルピーク位置データを取得することを特徴とする温度測定方法。 - 請求項5又は6記載の温度測定方法であって、
前記温度測定対象物の前記第1〜第n測定ポイントに前記第1〜第n測定光を照射した際の干渉ピークの位置を、前記第1〜第n測定ポイント毎に予め個別に測定する際に、前記光検出器によって得られた波形を2乗して得られた2乗折り返し波形の重心を求めて干渉ピークの中心位置とすることを特徴とする温度測定方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007057146A JP4842176B2 (ja) | 2007-03-07 | 2007-03-07 | 温度測定装置及び温度測定方法 |
US12/043,406 US7952717B2 (en) | 2007-03-07 | 2008-03-06 | Temperature measuring apparatus and temperature measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007057146A JP4842176B2 (ja) | 2007-03-07 | 2007-03-07 | 温度測定装置及び温度測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008216183A JP2008216183A (ja) | 2008-09-18 |
JP4842176B2 true JP4842176B2 (ja) | 2011-12-21 |
Family
ID=39741291
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007057146A Expired - Fee Related JP4842176B2 (ja) | 2007-03-07 | 2007-03-07 | 温度測定装置及び温度測定方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7952717B2 (ja) |
JP (1) | JP4842176B2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4842175B2 (ja) * | 2007-03-07 | 2011-12-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 温度測定装置及び温度測定方法 |
KR101514098B1 (ko) | 2009-02-02 | 2015-04-21 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 플라즈마 처리 장치와 온도 측정 방법 및 장치 |
JP2012063150A (ja) * | 2010-09-14 | 2012-03-29 | Tokyo Electron Ltd | 物理状態測定装置及び物理状態測定方法 |
JP5575600B2 (ja) * | 2010-09-30 | 2014-08-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 温度測定方法、記憶媒体、プログラム |
JP5657444B2 (ja) * | 2011-03-23 | 2015-01-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 温度測定装置及び温度測定方法 |
JP2013160699A (ja) * | 2012-02-08 | 2013-08-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 光断層画像測定装置 |
JP5911012B2 (ja) * | 2012-03-30 | 2016-04-27 | 国立大学法人名古屋大学 | 温度計測装置、および温度計則方法 |
CN113390444A (zh) * | 2020-03-12 | 2021-09-14 | 欧姆龙株式会社 | 光干涉测量装置 |
US10793772B1 (en) * | 2020-03-13 | 2020-10-06 | Accelovant Technologies Corporation | Monolithic phosphor composite for sensing systems |
US11359976B2 (en) | 2020-10-23 | 2022-06-14 | Accelovant Technologies Corporation | Multipoint surface temperature measurement system and method thereof |
US11353369B2 (en) | 2020-11-05 | 2022-06-07 | Accelovant Technologies Corporation | Optoelectronic transducer module for thermographic temperature measurements |
JP2023042844A (ja) * | 2021-09-15 | 2023-03-28 | オムロン株式会社 | 光干渉測距センサ |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10267830A (ja) * | 1997-03-26 | 1998-10-09 | Kowa Co | 光学測定装置 |
JP3423229B2 (ja) * | 1998-11-17 | 2003-07-07 | 株式会社ミツトヨ | 光波干渉計及び光波干渉計を用いた測長方法 |
JP2002333460A (ja) * | 2001-05-08 | 2002-11-22 | Fuji Xerox Co Ltd | 信号弁別装置 |
JP2003021914A (ja) * | 2001-07-09 | 2003-01-24 | Nikon Corp | 光学特性測定方法、光学特性測定装置、及び露光装置 |
JP2003307458A (ja) * | 2002-04-15 | 2003-10-31 | Akifumi Ito | 基材の温度測定方法および温度測定装置 |
US7206076B2 (en) * | 2003-11-04 | 2007-04-17 | Lumetrics, Inc. | Thickness measurement of moving webs and seal integrity system using dual interferometer |
US7327472B2 (en) * | 2004-07-23 | 2008-02-05 | Nusensors, Inc. | High temperature, minimally invasive optical sensing modules |
JP4756845B2 (ja) * | 2004-10-12 | 2011-08-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 温度測定装置,温度測定方法,温度測定システム,制御システム,制御方法 |
US7355715B2 (en) * | 2004-10-12 | 2008-04-08 | Tokyo Electron Limited | Temperature measuring apparatus, temperature measurement method, temperature measurement system, control system and control method |
US7417740B2 (en) * | 2004-11-12 | 2008-08-26 | Medeikon Corporation | Single trace multi-channel low coherence interferometric sensor |
US7446881B2 (en) * | 2005-01-12 | 2008-11-04 | Tokyo Electron Limited | System, apparatus, and method for determining temperature/thickness of an object using light interference measurements |
-
2007
- 2007-03-07 JP JP2007057146A patent/JP4842176B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-03-06 US US12/043,406 patent/US7952717B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008216183A (ja) | 2008-09-18 |
US7952717B2 (en) | 2011-05-31 |
US20080218744A1 (en) | 2008-09-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4842176B2 (ja) | 温度測定装置及び温度測定方法 | |
JP4842175B2 (ja) | 温度測定装置及び温度測定方法 | |
JP5657444B2 (ja) | 温度測定装置及び温度測定方法 | |
JP5274862B2 (ja) | 温度測定装置及び温度測定方法 | |
JP5629818B2 (ja) | 光学モニタリングシステムを有する表面粗さ測定装置 | |
KR101815325B1 (ko) | 웨이퍼 상에서 고 종횡비의 에칭된 피처의 깊이를 직접 측정하기 위한 시스템 | |
US8199332B2 (en) | Apparatus for measuring thickness | |
WO2012170275A1 (en) | Coupled multi-wavelength confocal systems for distance measurements | |
KR20170066375A (ko) | 전자공학, 광학 또는 광전자 공학을 위한 투명한 웨이퍼들을 검사하기 위한 방법 및 시스템 | |
JP5752454B2 (ja) | プラズマ処理装置及び温度測定方法 | |
US20120316830A1 (en) | Coupled multi-wavelength confocal systems for distance measurements | |
KR102008253B1 (ko) | 간섭계 기반의 다채널 광 계측기 | |
US20120314200A1 (en) | Coupled multi-wavelength confocal systems for distance measurements | |
JP2005106706A (ja) | 屈折率及び厚さの測定装置ならびに測定方法 | |
JP2015040700A (ja) | Atr測定装置及びatr測定方法 | |
JPH05264447A (ja) | 屈折率の測定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091127 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110704 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110712 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110909 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111004 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111005 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141014 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |