JP4836039B2 - Inspection device, method for inspecting conductor pattern of printed wiring board used therefor, and program therefor - Google Patents

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本発明はプリント配線板の導体パターンの検査方法に関し、特にプリント配線板に配置された導体パターンの検査方法に関する。   The present invention relates to a method for inspecting a conductor pattern of a printed wiring board, and more particularly to a method for inspecting a conductor pattern disposed on a printed wiring board.

プリント配線板においては、部品、パターンを実装していない空スペース、捨て基板部に、基板のそり対策及び装置の動作安定と、特性向上とを目的とした多角形の導体パターンを配置することが多くなっている。合わせて、プリント配線板においては、安全規格であるUL(Underwriters Laboratories Inc.)規格の厳守の要求も多くなっている。そのため、多角形の導体パターンを配置する場合は、特定の間隔で、ビア、中抜きを配置しなくてはならない。   In printed wiring boards, polygonal conductor patterns may be placed in the empty space where no components or patterns are mounted, in the discarded board, for the purpose of preventing board warpage, stabilizing the operation of the device, and improving the characteristics. It is increasing. In addition, in printed wiring boards, there is an increasing demand for strict compliance with UL (Underwriters Laboratories Inc.) standards, which are safety standards. Therefore, when arranging a polygonal conductor pattern, vias and hollows must be arranged at specific intervals.

そして、最近のLSI(Large Scale Integrated circuit)やFPGA(Field Programmable Gate Array)等の小型化と高密度化とに伴い、駆動電圧の低電圧化になっている。このため、電流容量が増加になり、導体パターン幅の確保が必要になっている。単層では導体パターン幅の確保ができない場合は、複数層に分けてパターン幅を確保している。複数層に分けて配線を行った場合は、特定の間隔でビアを実装することにより、動作の安定を図っている。   With the recent miniaturization and high density of LSI (Large Scale Integrated Circuit), FPGA (Field Programmable Gate Array), etc., the drive voltage has been lowered. For this reason, the current capacity is increased, and it is necessary to ensure the conductor pattern width. When the conductor pattern width cannot be secured with a single layer, the pattern width is secured in a plurality of layers. When wiring is divided into a plurality of layers, the operation is stabilized by mounting vias at specific intervals.

上記の導体パターンの検査方法としては、プリント配線板の設計データを加工して作成した導体パターン情報のなかに、UL規格項目に示される最大導体径の規格値を直径とした円を微細ピッチで配置した円の集合体を当てはめ、円の外周と導体パターンの重なり部または接触部の有無を検査する方法がある(例えば、特許文献1参照)。この方法では、その結果として重なり部または接触部がないと判定された時に、検査不合格としている。
特開2005−321846号公報
As a method for inspecting the above-mentioned conductor pattern, a circle whose diameter is the standard value of the maximum conductor diameter shown in the UL standard item is fine pitch in the conductor pattern information created by processing the design data of the printed wiring board. There is a method in which an assembly of arranged circles is applied to inspect for the presence or absence of an overlapping portion or contact portion between the outer periphery of the circle and the conductor pattern (see, for example, Patent Document 1). In this method, when it is determined that there is no overlapping portion or contact portion as a result, the inspection is rejected.
JP-A-2005-321846

上述した本発明に関連する導体パターンの検査方法では、上記の対策をプリント配線板の設計者が目視チェックしなければならず、そのために起こるチェック漏れや、チェックのための時間が必要以上にかかるといった問題がある。   In the above-described conductor pattern inspection method related to the present invention, the above countermeasure must be visually checked by the designer of the printed wiring board, which results in check omissions and more time than necessary for the check. There is a problem.

導体パターン内の導体面積及びビア間隔のチェックを行う場合は、プリント配線板のパターンを層単位で図面としてプリントアウトして、人の目によるチェックで行わなければならない。   When checking the conductor area and via spacing in the conductor pattern, the printed wiring board pattern must be printed out as a drawing in units of layers and checked by human eyes.

また、上記の特許文献1に記載の方法では、円の外周と導体パターンの重なり部で判断を行っているが、円での重なりをプログラムで処理するには、複雑な処理が必要になる。   Further, in the method described in Patent Document 1, the determination is made based on the outer periphery of the circle and the overlapping portion of the conductor pattern. However, in order to process the overlapping in the circle with a program, complicated processing is required.

そこで、本発明の目的は上記の問題点を解消し、複雑な処理を必要とすることなく、導体パターン内の導体面積及びビア間隔のチェックを効率的かつ確実に行うことができる検査装置及びそれに用いるプリント配線板の導体パターンの検査方法並びにそのプログラムを提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and an inspection apparatus capable of efficiently and reliably checking a conductor area and a via interval in a conductor pattern without requiring complicated processing, and to the same An object of the present invention is to provide a method for inspecting a conductive pattern of a printed wiring board to be used and a program therefor.

本発明による検査装置は、実装設計CAD(Computer−Aided Design)上のプリント配線板データ内の導体パターン、ビア、挿入部品の端子の情報を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されている情報を基に前記導体パターンのメッシュ化を行い、そのメッシュ化された導体パターンを基に導体面積及びビア間隔の確認を行う処理手段と、
前記処理手段の確認結果を表示する表示手段とを備え
前記処理手段は、プリント配線板の多角形の導体パターンに最大導体径の存在を確認し、
前記処理手段は、前記導体パターンに前記最大導体径が存在した場合に対策の
最善位置を検出し、その最善位置を前記表示手段に表示している。
The inspection apparatus according to the present invention includes storage means for storing information on conductor patterns, vias, and terminals of inserted parts in printed wiring board data on mounting design CAD (Computer-Aided Design),
Processing means for meshing the conductor pattern based on information stored in the storage means, and confirming a conductor area and via spacing based on the meshed conductor pattern;
Display means for displaying the confirmation result of the processing means ,
The processing means confirms the presence of the maximum conductor diameter in the polygonal conductor pattern of the printed wiring board,
The processing means takes measures when the maximum conductor diameter exists in the conductor pattern.
The best position is detected, and the best position is displayed on the display means .

本発明によるプリント配線板の導体パターンの検査方法は、検査装置にて実装設計CAD(Computer−Aided Design)上のプリント配線板の導体パターンを検査する検査方法であって、
前記検査装置が、
プリント配線板データ内の導体パターン、ビア、挿入部品の端子の情報を記憶手段に記憶する第1の処理と、
前記記憶手段に記憶されている情報を基に前記導体パターンのメッシュ化を行い、そのメッシュ化された導体パターンを基に導体面積及びビア間隔の確認を行う第2の処理と、
前記第2の処理の確認結果を表示手段に表示する第3の処理とを実行し、
前記検査装置は、前記第2の処理において、プリント配線板の多角形の導体パターンに最大導体径の存在を確認し、
前記検査装置は、前記第2の処理において、前記導体パターンに前記最大導体径が存在した場合に対策の最善位置を検出し、その最善位置を前記表示手段に表示している。
A printed wiring board conductor pattern inspection method according to the present invention is an inspection method for inspecting a printed wiring board conductor pattern on a mounting design CAD (Computer-Aided Design) by an inspection apparatus,
The inspection device is
A first process for storing information on conductor patterns, vias, and terminals of inserted parts in the printed wiring board data in the storage means;
A second process of meshing the conductor pattern based on the information stored in the storage means, and confirming a conductor area and via spacing based on the meshed conductor pattern;
Performing a third process of displaying a confirmation result of the second process on a display means ;
In the second process, the inspection device confirms the existence of the maximum conductor diameter in the polygonal conductor pattern of the printed wiring board,
In the second process, the inspection apparatus detects the best position for countermeasures when the maximum conductor diameter exists in the conductor pattern, and displays the best position on the display means .

本発明によるプログラムは、実装設計CAD(Computer−Aided Design)上のプリント配線板の導体パターンを検査する検査装置内の中央処理装置に実行させるプログラムであって、
プリント配線板データ内の導体パターン、ビア、挿入部品の端子の情報を記憶手段に記憶する第1の処理と、
前記記憶手段に記憶されている情報を基に前記導体パターンのメッシュ化を行い、そのメッシュ化された導体パターンを基に導体面積及びビア間隔の確認を行う第2の処理と、
前記第2の処理の確認結果を表示手段に表示する第3の処理とを含み、
前記第2の処理において、プリント配線板の多角形の導体パターンに最大導体径の存在を確認させ、
前記第2の処理において、前記導体パターンに前記最大導体径が存在した場合に対策の最善位置を検出し、その最善位置を前記表示手段に表示させている。
A program according to the present invention is a program to be executed by a central processing unit in an inspection apparatus that inspects a conductor pattern of a printed wiring board on a mounting design CAD (Computer-Aided Design),
A first process for storing information on conductor patterns, vias, and terminals of inserted parts in the printed wiring board data in the storage means;
A second process of meshing the conductor pattern based on the information stored in the storage means, and confirming a conductor area and via spacing based on the meshed conductor pattern;
Look including a third process of displaying on the display means a confirmation result of said second processing,
In the second process, the polygonal conductor pattern of the printed wiring board is confirmed to have a maximum conductor diameter,
In the second process, when the maximum conductor diameter exists in the conductor pattern, the best position of the countermeasure is detected, and the best position is displayed on the display means .

本発明は、上記のような構成及び動作とすることで、複雑な処理を必要とすることなく、導体パターン内の導体面積及びビア間隔のチェックを効率的かつ確実に行うことができるという効果が得られる。   The present invention is configured and operated as described above, so that it is possible to efficiently and reliably check the conductor area and via spacing in the conductor pattern without requiring complicated processing. can get.

次に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。まず、本発明によるプリント配線板の導体パターンの検査装置について説明する。図1は本発明による検査装置の構成例を示すブロック図である。図1において、検査装置1は、記憶部1aと、処理部1bと、表示部1cとから構成されている。   Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, a conductor pattern inspection apparatus for a printed wiring board according to the present invention will be described. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of an inspection apparatus according to the present invention. In FIG. 1, the inspection apparatus 1 is comprised from the memory | storage part 1a, the process part 1b, and the display part 1c.

記憶部1aは、実装設計CAD(Computer−Aided Design)上のプリント配線板データ2から導体パターン、ビア、挿入部品の端子を記憶する。   The memory | storage part 1a memorize | stores the terminal of a conductor pattern, a via | veer, and an insertion component from the printed wiring board data 2 on mounting design CAD (Computer-Aided Design).

処理部1bは、記憶部1aに記憶されている情報を基に導体パターンのメッシュ化を行い(導体パターンメッシュ化処理1b1)、導体面積の確認(導体パターン最大導体径確認処理1b2)、ビア間隔の確認(ビア間隔実装確認処理1b3)をそれぞれ行う。表示部1cは、処理部1bの結果を表示する。   The processing unit 1b meshes the conductor pattern based on the information stored in the storage unit 1a (conductor pattern meshing process 1b1), confirms the conductor area (conductor pattern maximum conductor diameter confirmation process 1b2), and the via interval. (Via interval mounting confirmation processing 1b3) is performed. The display unit 1c displays the result of the processing unit 1b.

すなわち、処理部1bは、そのメッシュ化した導体パターンを基にプリント配線板の多角形の導体パターンに最大導体径が存在するかを確認し、多角形の導体パターンにビア及び挿入部品端子が指定間隔に実装されているかを確認する。   That is, the processing unit 1b confirms whether the maximum conductor diameter exists in the polygonal conductor pattern of the printed wiring board based on the meshed conductor pattern, and designates the via and the insertion component terminal in the polygonal conductor pattern. Check if it is implemented in the interval.

処理部1bは、多角形の導体パターンに最大導体径が存在した場合に、対策の最善位置(メッシュ位置)を検出し、そのメッシュ位置を対策位置として表示部1cに表示する。また、処理部1bは、ビア、挿入部品端子の穴径をライン化して検出し、指定間隔に実装されてない場合、対策の最善位置(メッシュ位置)を検出し、そのメッシュ位置を対策位置として表示部1cに表示する。   When the maximum conductor diameter exists in the polygonal conductor pattern, the processing unit 1b detects the best countermeasure position (mesh position) and displays the mesh position on the display unit 1c as the countermeasure position. Further, the processing unit 1b detects the hole diameters of vias and insertion component terminals in a line, detects the best countermeasure position (mesh position) when not mounted at a specified interval, and uses the mesh position as the countermeasure position. It displays on the display part 1c.

プリント配線板においては、部品、パターンを実装していない空スペース、捨て基板部に多角形の導体パターンを配置することが多くなっている。この場合は、安全規格であるUL(Underwriters Laboratories Inc.)規格の導体パターンで貫通孔のない最大直径導体面積に関する項目に対応した配線を行っている。   In a printed wiring board, polygonal conductor patterns are often arranged in empty spaces in which components and patterns are not mounted and discarded board portions. In this case, the wiring corresponding to the item regarding the maximum diameter conductor area without a through-hole is performed with the conductor pattern of UL (Underwriters Laboratories Inc.) standard which is a safety standard.

合わせて、導体パターンを電源、グランドに接続して、パターンを複数の層に配置する場合は、動作の安定化を目的に、特定の間隔でビア(層間の接続用)を配置した配線を行っている。   In addition, when the conductor pattern is connected to the power supply and ground, and the pattern is arranged in multiple layers, wiring with vias (for connection between layers) arranged at specific intervals is performed for the purpose of stabilizing the operation. ing.

本発明では、これらの項目に対して、導体パターン単位でプログラムによってチェックを行い、導体パターンに違反している箇所がある場合に、アラームと対策位置とを表示している。   In the present invention, these items are checked by a program for each conductor pattern, and when there is a portion that violates the conductor pattern, an alarm and a countermeasure position are displayed.

このような構成及び動作とすることによって、本発明では、複雑な処理を必要とすることなく、導体パターン内の導体面積及びビア間隔のチェックを効率的かつ確実に行うことができる。また、本発明では、多角形パターンのメッシュ化(正方形の矩形)を行ってから、プログラムで処理を行うため、円より簡単な処理で、プリント配線板の導体パターンの検査を行うことが可能となる。   By adopting such a configuration and operation, the present invention can efficiently and reliably check the conductor area and via spacing in the conductor pattern without requiring complicated processing. Further, in the present invention, since the polygon pattern is meshed (square rectangle) and then processed by the program, it is possible to inspect the conductor pattern of the printed wiring board with a process simpler than a circle. Become.

図2は本発明の第1の実施の形態による検査装置の構成例を示すブロック図である。図2において、本発明の第1の実施の形態による検査装置1は、上記の図1に示す本発明による検査装置1と同様に、記憶部1aと、処理部1bと、表示部1cとから構成されている。   FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 2, the inspection apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention includes a storage unit 1a, a processing unit 1b, and a display unit 1c in the same manner as the inspection apparatus 1 according to the present invention shown in FIG. It is configured.

記憶部1aは、処理部1bにて実行されるプログラム1a1を格納し、実装設計CAD(Computer−Aided Design)上のプリント配線板データ2から導体パターン、ビア、挿入部品の端子(1a2)を記憶する。   The storage unit 1a stores a program 1a1 executed by the processing unit 1b, and stores a conductor pattern, a via, and a terminal (1a2) of an inserted component from the printed wiring board data 2 on a mounting design CAD (Computer-Aided Design). To do.

処理部1bは、例えばCPU(中央処理装置)等からなり、記憶部1aに格納されているプログラム1a1を実行することで、以下のような処理を行う。つまり、処理部1bは、記憶部1aに記憶されている情報(1a2)を基に導体パターンのメッシュ化を行い(導体パターンメッシュ化処理1b1)、導体面積の確認(導体パターン最大導体径確認処理1b2)、ビア間隔の確認(ビア間隔実装確認処理1b3)をそれぞれ行う。表示部1cは、処理部1bの結果を表示する。   The processing unit 1b includes, for example, a CPU (Central Processing Unit) and the like, and performs the following processing by executing the program 1a1 stored in the storage unit 1a. In other words, the processing unit 1b meshes the conductor pattern based on the information (1a2) stored in the storage unit 1a (conductor pattern meshing process 1b1), and confirms the conductor area (conductor pattern maximum conductor diameter confirmation process). 1b2) and via interval confirmation (via interval mounting confirmation processing 1b3) are performed. The display unit 1c displays the result of the processing unit 1b.

すなわち、処理部1bは、そのメッシュ化した導体パターンを基にプリント配線板の多角形の導体パターンに最大導体径が存在するかを確認し、多角形の導体パターンにビア及び挿入部品端子が指定間隔に実装されているかを確認する。   That is, the processing unit 1b confirms whether the maximum conductor diameter exists in the polygonal conductor pattern of the printed wiring board based on the meshed conductor pattern, and designates the via and the insertion component terminal in the polygonal conductor pattern. Check if it is implemented in the interval.

処理部1bは、多角形の導体パターンに最大導体径が存在した場合に、対策の最善位置(メッシュ位置)を検出し、そのメッシュ位置を対策位置として表示部1cに表示する。また、処理部1bは、ビア、挿入部品端子の穴径をライン化して検出し、指定間隔に実装されてない場合、対策の最善位置(メッシュ位置)を検出し、そのメッシュ位置を対策位置として表示部1cに表示する。   When the maximum conductor diameter exists in the polygonal conductor pattern, the processing unit 1b detects the best countermeasure position (mesh position) and displays the mesh position on the display unit 1c as the countermeasure position. Further, the processing unit 1b detects the hole diameters of vias and insertion component terminals in a line, detects the best countermeasure position (mesh position) when not mounted at a specified interval, and uses the mesh position as the countermeasure position. It displays on the display part 1c.

図3は本発明の第1の実施の形態で用いる実装設計CAD上のプリント配線板データを示す図である。図3において、実装設計CAD上のプリント配線板では、基板外形データ3に多角形パターン4が実装され、中抜きデータ6が含まれている。アウトライン5は多角形パターン4のアウトライン、アウトライン7は中抜きデータ6のアウトラインとする。   FIG. 3 is a diagram showing printed wiring board data on the mounting design CAD used in the first embodiment of the present invention. In FIG. 3, in the printed wiring board on the mounting design CAD, the polygonal pattern 4 is mounted on the board outline data 3 and the hollow data 6 is included. The outline 5 is the outline of the polygon pattern 4, and the outline 7 is the outline of the hollow data 6.

多角形パターン4上には、ビア11,13が実装されている。アウトライン12はビア11の穴径のアウトライン、アウトライン14はビア13の穴径のアウトラインとする。中抜きデータ6には、部品端子31〜34と、線幅を所有した配線41〜44と、ビア15,17,19が実装されている。アウトライン16,18,20はビア15,17,19の穴径のアウトラインとする。   Vias 11 and 13 are mounted on the polygonal pattern 4. The outline 12 is an outline of the hole diameter of the via 11, and the outline 14 is an outline of the hole diameter of the via 13. In the hollow data 6, component terminals 31 to 34, wirings 41 to 44 having line widths, and vias 15, 17, and 19 are mounted. Outlines 16, 18, and 20 are outlines of hole diameters of vias 15, 17, and 19.

図4〜図8は本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示す図であり、図9〜図14は本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示すフローチャートである。これら図2〜図14を参照して本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理について説明する。尚、図9〜図14に示す処理は、処理部1bが記憶部1aのプログラム1a1を実行することで実現される。   4 to 8 are diagrams showing the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board according to the first embodiment of the present invention, and FIGS. 9 to 14 are the printed wiring boards according to the first embodiment of the present invention. It is a flowchart which shows the test | inspection process of this conductor pattern. With reference to FIGS. 2 to 14, the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board according to the first embodiment of the present invention will be described. The processing illustrated in FIGS. 9 to 14 is realized by the processing unit 1b executing the program 1a1 of the storage unit 1a.

以下、本実施の形態による動作について、図3に示すプリント配線板で最大直径導体面積をチェックする動作について説明する。   Hereinafter, the operation according to the present embodiment will be described for checking the maximum diameter conductor area with the printed wiring board shown in FIG.

まず、処理部1bに対しては、メッシュ値と導体部の最大円の直径とが入力されて設定される(図9ステップS1)。本実施の形態では、メッシュ値を変更することにより、精度の変更を行うことができる。   First, the mesh value and the diameter of the maximum circle of the conductor portion are input and set for the processing portion 1b (step S1 in FIG. 9). In the present embodiment, the accuracy can be changed by changing the mesh value.

処理部1bは、メッシュ値と直径とからメッシュ間の距離を算出して、指定距離としてメモリ(記憶部1a)に記憶させる(図9ステップS2)。さらに、処理部1bは、実装設計CAD上のプリント配線板の情報をメモリ(記憶部1a)に記憶させる(図9ステップS3)。但し、多角形パターン同士の一部が重なっている場合は、事前に合成処理を行うこととする。   The processing unit 1b calculates the distance between the meshes from the mesh value and the diameter, and stores them in the memory (storage unit 1a) as the designated distance (step S2 in FIG. 9). Further, the processing unit 1b stores information on the printed wiring board on the mounting design CAD in the memory (storage unit 1a) (step S3 in FIG. 9). However, if part of the polygon patterns overlaps, the synthesis process is performed in advance.

処理部1bは、メモリ(記憶部1a)から、多角形パターンを順番に読込み、多角形パターンの単体で処理を行う(図9ステップS4)。処理部1bは、読込みを行った多角形パターンの座標データからX,Y軸の最小座標、最大座標を抽出してメモリ(記憶部1a)に記憶させる(図9ステップS5)。   The processing unit 1b reads the polygon pattern in order from the memory (storage unit 1a), and performs processing with the polygon pattern alone (step S4 in FIG. 9). The processing unit 1b extracts the minimum and maximum coordinates of the X and Y axes from the coordinate data of the read polygon pattern, and stores them in the memory (storage unit 1a) (step S5 in FIG. 9).

処理部1bは、抽出したX,Y軸の最小座標を原点としてメモリ(記憶部1a)に記憶させる(図9ステップS6)。処理部1bは、原点からX,Y軸の最大座標を含む位置までメッシュ値でメッシュ化する(図9ステップS7)。このことにより、本実施の形態では、多角形パターンをメッシュ単位で管理できるようにする。   The processing unit 1b stores the extracted minimum coordinates of the X and Y axes in the memory (storage unit 1a) as the origin (step S6 in FIG. 9). The processing unit 1b meshes with a mesh value from the origin to a position including the maximum coordinates of the X and Y axes (step S7 in FIG. 9). Thus, in the present embodiment, the polygon pattern can be managed in units of meshes.

メッシュ化した状態を図4に示す。図4において、原点を51とし、個別のメッシュを52、メッシュ値を53とする。   A meshed state is shown in FIG. In FIG. 4, the origin is 51, the individual mesh is 52, and the mesh value is 53.

処理部1bは、メッシュ単位を2次元配列化してメモリ(記憶部1a)に記憶させ(図9ステップS8)、図10に示す処理へジャンプする。   The processing unit 1b converts the mesh units into a two-dimensional array and stores them in the memory (storage unit 1a) (step S8 in FIG. 9), and jumps to the processing shown in FIG.

処理部1bは、メッシュ単位でのループ処理を行う(図10ステップS11〜S21)。処理部1bは、メッシュ内に多角形パターンが存在するか算出処理を行う(図10ステップS12)。処理部1bは、多角形パターンが存在しない場合(ステップS12のNO)、パターンフラグをOFFとして、次のメッシュに移る(図10ステップS20)。   The processing unit 1b performs a loop process in units of meshes (steps S11 to S21 in FIG. 10). The processing unit 1b performs a calculation process to determine whether a polygon pattern exists in the mesh (step S12 in FIG. 10). When the polygon pattern does not exist (NO in step S12), the processing unit 1b sets the pattern flag to OFF and moves to the next mesh (step S20 in FIG. 10).

処理部1bは、多角形パターンが存在する場合(ステップS12のYES)、メッシュにフラグを付ける(図10ステップS13)。この場合、メッシュに付けるフラグは、メッシュ内にパターンの存在を示すパターンフラグをON、メッシュ内に外形線の存在を示す外形線フラグをOFF、メッシュ内に穴の存在を示す穴フラグをOFF、メッシュ内に外形線か穴の存在するメッシュから指定距離内にある事を示す範囲フラグをOFFとする。   When there is a polygon pattern (YES in step S12), the processing unit 1b adds a flag to the mesh (step S13 in FIG. 10). In this case, the flag attached to the mesh is ON, the pattern flag indicating the presence of the pattern in the mesh, OFF the outline flag indicating the presence of the outline in the mesh, OFF the hole flag indicating the presence of the hole in the mesh, The range flag indicating that it is within a specified distance from a mesh having an outline or a hole in the mesh is turned OFF.

処理部1bは、メッシュ内に外形線が存在するか算出処理を行う(図10ステップS14)。処理部1bは、外形線が存在する場合(ステップS14のYES)、外形線フラグをONにして、次のメッシュに移る(図10ステップS15)。処理部1bは、外形線が存在しない場合(ステップS14のNO)、メッシュ内に中抜きが存在するか算出処理を行う(図10ステップS16)。   The processing unit 1b performs a calculation process to determine whether an outline exists in the mesh (step S14 in FIG. 10). When there is an outline (YES in step S14), the processing unit 1b turns on the outline flag and moves to the next mesh (step S15 in FIG. 10). When the outline does not exist (NO in step S14), the processing unit 1b performs a calculation process to determine whether a hollow is present in the mesh (step S16 in FIG. 10).

処理部1bは、中抜きが存在しない場合(ステップS16のNO)、次のメッシュに移る。処理部1bは、中抜きが存在する場合(ステップS16のYES)、メッシュ内に中抜きの外形線が存在するか算出処理を行う(図10ステップS17)。   If there is no hollow (NO in step S16), the processing unit 1b moves to the next mesh. When there is a hollow (YES in step S16), the processing unit 1b performs a calculation process to determine whether a hollow outline exists in the mesh (step S17 in FIG. 10).

処理部1bは、中抜きの外形線が存在する場合(ステップS17のYES)、外形線フラグをONにして、次のメッシュに移る(図10ステップS18)。処理部1bは、中抜きの外形線が存在しない場合(ステップS17のNO)、パターンフラグをOFFにして、次のメッシュに移る(図10ステップS19)。処理部1bは、全てのメッシュの処理が完了したら、図11に示す処理へジャンプする。   When there is a hollow outline (YES in step S17), the processing unit 1b turns on the outline flag and moves to the next mesh (step S18 in FIG. 10). If there is no hollow outline (NO in step S17), the processing unit 1b turns off the pattern flag and moves to the next mesh (step S19 in FIG. 10). When the processing of all meshes is completed, the processing unit 1b jumps to the processing illustrated in FIG.

処理部1bは、ビアとピン(挿入部品の端子)から穴の外形線の算出処理を行い(図11ステップS31)、メッシュ単位でのループ処理を行う(図11ステップS32〜S36)。   The processing unit 1b performs calculation processing of outlines of holes from vias and pins (terminals of insertion parts) (step S31 in FIG. 11), and performs loop processing in units of meshes (steps S32 to S36 in FIG. 11).

処理部1bは、パターンフラグがONで、外形線フラグがOFFの場合(図11ステップS33のYES)、メッシュ内に穴の外形線が存在するか算出処理を行う(図11ステップS34)。処理部1bは、それ以外の場合(ステップS33のNO)、次のメッシュに移る。   When the pattern flag is ON and the outline flag is OFF (YES in step S33 in FIG. 11), the processing unit 1b performs a calculation process to determine whether a hole outline exists in the mesh (step S34 in FIG. 11). In other cases (NO in step S33), the processing unit 1b moves to the next mesh.

処理部1bは、外形線が存在する場合(ステップS34のYES)、穴フラグをONにし(図11ステップS35)、次のメッシュに移る。処理部1bは、外形線が存在しない場合(ステップS34のNO)、次のメッシュに移る。処理部1bは、全てのメッシュの処理が完了したら、図12に示す処理へジャンプする。   When there is an outline (YES in step S34), the processing unit 1b turns on the hole flag (step S35 in FIG. 11), and moves to the next mesh. If there is no outline (NO in step S34), the processing unit 1b moves to the next mesh. When the processing of all the meshes is completed, the processing unit 1b jumps to the processing illustrated in FIG.

以上の処理までの状態を図5に示す。図5において、メッシュにXがマークされた箇所は、パターンフラグがONで、外形線フラグがONかパターンフラグがONで、穴フラグがONのメッシュである。メッシュにXがマークされているかどうか違いは、62のメッシュがXがマークされている箇所、61のメッシュがXがマークされていない箇所をそれぞれ示している。   The state up to the above processing is shown in FIG. In FIG. 5, a portion where X is marked on the mesh is a mesh whose pattern flag is ON and the outline flag is ON or the pattern flag is ON and the hole flag is ON. The difference between whether or not X is marked on the mesh indicates where 62 meshes are marked with X and where 61 meshes are where X is not marked.

続いて、図12に示す処理において、処理部1bは、メッシュ単位でのループ処理を行う(図12ステップS41〜S48)。処理部1bは、パターンフラグがONの場合(図12ステップS42のYES)、ステップS43の処理に移り、それ以外の場合(図12ステップS42のNO)、次のメッシュに移る。   Subsequently, in the process illustrated in FIG. 12, the processing unit 1b performs a loop process in units of meshes (steps S41 to S48 in FIG. 12). If the pattern flag is ON (YES in step S42 in FIG. 12), the processing unit 1b moves to the process in step S43, and otherwise (NO in step S42 in FIG. 12) moves to the next mesh.

処理部1bは、外形線フラグがONもしくは穴フラグがONの場合(図12ステップS43のYES)、ステップS44の処理に移り、それ以外の場合(図12ステップS43のNO)、次のメッシュに移る。   If the outline flag is ON or the hole flag is ON (YES in step S43 in FIG. 12), the processing unit 1b proceeds to the process in step S44, and otherwise (NO in step S43 in FIG. 12) Move.

処理部1bは、メッシュ情報をメモリ(記憶部1a)にマスタメッシュとして記憶する(図12ステップS44)。続いて、処理部1bは、再度、メッシュ単位でのループ処理を行う(図12ステップS45〜S47)。この場合のメッシュをスリーブメッシュと称する。   The processing unit 1b stores the mesh information as a master mesh in the memory (storage unit 1a) (step S44 in FIG. 12). Subsequently, the processing unit 1b performs a loop process in units of meshes again (steps S45 to S47 in FIG. 12). The mesh in this case is referred to as a sleeve mesh.

処理部1bは、スリーブメッシュのパターンフラグがONの場合(図12ステップS46のYES)、図13の処理へジャンプして、ステップS51の処理に移る。処理部1bは、それ以外の場合(図12ステップS46のNO)、次のスリーブメッシュに移る。   When the sleeve mesh pattern flag is ON (YES in step S46 in FIG. 12), the processing unit 1b jumps to the process in FIG. 13 and proceeds to the process in step S51. In other cases (NO in step S46 in FIG. 12), the processing unit 1b moves to the next sleeve mesh.

処理部1bは、スリーブメッシュの穴フラグがOFFで、外形線フラグがOFFで、範囲フラグがOFFの場合(図13ステップS51のYES)、マスターメッシュとスリーブメッシュの中心位置の距離を算出して、メッシュ間距離としてメモリ(記憶部1a)に記憶する(図13ステップS52)。処理部1bは、それ以外の場合(図13ステップS51のNO)、図12の処理へジャンプして次のスリーブメッシュに移る。   When the sleeve mesh hole flag is OFF, the outline flag is OFF, and the range flag is OFF (YES in step S51 in FIG. 13), the processing unit 1b calculates the distance between the center position of the master mesh and the sleeve mesh. Then, the distance between meshes is stored in the memory (storage unit 1a) (step S52 in FIG. 13). In other cases (NO in step S51 in FIG. 13), the processing unit 1b jumps to the processing in FIG. 12 and moves to the next sleeve mesh.

処理部1bは、設定距離とメッシュ間距離とを比較し、メッシュ間距離が短い場合(図13ステップS53のYES)、範囲フラグをONにし(図13ステップS54)、図12の処理へジャンプして次のスリーブメッシュに移る。処理部1bは、それ以外の場合(図13ステップS53のNO)、図12の処理へジャンプして次のスリーブメッシュに移る。   The processing unit 1b compares the set distance with the distance between meshes, and when the distance between meshes is short (YES in step S53 in FIG. 13), sets the range flag to ON (step S54 in FIG. 13), and jumps to the process in FIG. To the next sleeve mesh. In other cases (NO in step S53 in FIG. 13), the processing unit 1b jumps to the processing in FIG. 12 and moves to the next sleeve mesh.

設定距離とメッシュ間距離とを比較した状態を図6に示す。図6において、マスタメッシュを65、設定距離を68とした場合、スリーブメッシュ66は、距離67で設定距離より短いため、範囲フラグがONになり、X箇所として示されることとなる。   FIG. 6 shows a state in which the set distance and the mesh distance are compared. In FIG. 6, when the master mesh is 65 and the set distance is 68, the sleeve mesh 66 is shorter than the set distance by the distance 67, so the range flag is turned ON and indicated as X locations.

スリーブメッシュ69は、距離70で設定距離より長いため、範囲フラグがONにならない。図6に置いては、マスタメッシュ65に対して範囲フラグがONになるメッシュと、外形線フラグがONになる箇所とをXをマークした箇所として示す。   Since the sleeve mesh 69 is longer than the set distance at the distance 70, the range flag is not turned ON. In FIG. 6, the mesh whose range flag is ON with respect to the master mesh 65 and the location where the outline flag is ON are shown as X marked locations.

処理部1bは、全てのスリーブメッシュの処理が完了したら、次のメッシュに移る。また、処理部1bは、全てのメッシュの処理が完了したら、図14の処理へジャンプする。   When the processing of all the sleeve meshes is completed, the processing unit 1b moves to the next mesh. Further, the processing unit 1b jumps to the processing of FIG. 14 when processing of all meshes is completed.

以上の処理までの状態を図7に示す。図7において、メッシュにXをマークした箇所は、パターンフラグがONで外形線フラグがONか、パターンフラグがONで穴フラグがONか、パターンフラグがONで範囲フラグがONのメッシュである。パターンフラグがONで、メッシュにXがマークされない箇所は、71である。   The state up to the above processing is shown in FIG. In FIG. 7, the portion marked with X in the mesh is a mesh whose pattern flag is ON and the outline flag is ON, or whose pattern flag is ON and the hole flag is ON, or whose pattern flag is ON and the range flag is ON. A portion where the pattern flag is ON and X is not marked on the mesh is 71.

処理部1bは、メッシュ単位でのループ処理を行う(図14ステップS61〜S65)。処理部1bは、パターンフラグがONの場合(図14ステップS62のYES)、ステップS63の処理に移り、それ以外の場合(図14ステップS62のNO)、次のメッシュに移る。   The processing unit 1b performs a loop process in units of meshes (steps S61 to S65 in FIG. 14). If the pattern flag is ON (YES in step S62 in FIG. 14), the processing unit 1b proceeds to the process in step S63, and otherwise (NO in step S62 in FIG. 14) moves to the next mesh.

処理部1bは、穴フラグがOFFで外形線フラグがOFFで範囲フラグがOFFの場合(図14ステップS63のYES)、ステップS64の処理に移り、それ以外の場合(図14ステップS63のNO)、次のメッシュに移る。   When the hole flag is OFF, the outline flag is OFF, and the range flag is OFF (YES in step S63 in FIG. 14), the processing unit 1b proceeds to the process in step S64, and otherwise (NO in step S63 in FIG. 14). Move to the next mesh.

処理部1bは、メッシュの情報をNG情報としてメモリ(記憶部1a)に記憶し(図14ステップS64)、次のメッシュに移る。処理部1bは、全てのメッシュの処理が完了したら、NG情報が存在するか処理を行う(図14ステップS65)。   The processing unit 1b stores the mesh information as NG information in the memory (storage unit 1a) (step S64 in FIG. 14), and moves to the next mesh. When the processing of all the meshes is completed, the processing unit 1b performs processing to determine whether NG information exists (step S65 in FIG. 14).

処理部1bは、NG情報が存在する場合(ステップS66のNO)、NG表示(アラーム表示)を行い、メッシュの位置情報を対策位置として表示し(図14ステップS67)、上記の処理を完了する。処理部1bは、NG情報が存在しない場合(ステップS66のYES)、上記の処理を完了する。   When there is NG information (NO in step S66), the processing unit 1b performs NG display (alarm display), displays mesh position information as a countermeasure position (step S67 in FIG. 14), and completes the above processing. . When the NG information does not exist (YES in step S66), the processing unit 1b completes the above process.

最大直径導体面積を検索した状態を図8に示す。図8においては、アラーム箇所のメッシュ71を中心に最大直径導体面積を示す円を重ねたものを示している。よって、図8では、円72の箇所が最大直径導体面積で、対策の位置がメッシュ71となる。   FIG. 8 shows a state where the maximum diameter conductor area is searched. In FIG. 8, a circle indicating the maximum diameter conductor area is overlapped around the mesh 71 of the alarm location. Therefore, in FIG. 8, the location of the circle 72 is the maximum diameter conductor area, and the position of the countermeasure is the mesh 71.

このように、本実施の形態では、プリント配線板に実装されている多角形パターンに貫通孔のない最大直径導体面積の箇所が存在していることが分かり、メッシュ情報(層、座標)により対策位置を特定することができる。   Thus, in this embodiment, it can be seen that there is a portion with the maximum diameter conductor area without through holes in the polygonal pattern mounted on the printed wiring board, and the countermeasure is based on the mesh information (layer, coordinates). The position can be specified.

本実施の形態では、対策時に、最も有効的に対策することができる位置が特定でき、この処理をプログラム化することによって、導体パターン内の導体面積及びビア間隔のチェックを効率的かつ確実に行うことができる。したがって、本実施の形態では、複雑な処理を必要とすることなく、導体パターン内の導体面積及びビア間隔のチェックを効率的かつ確実に行うことができる。   In this embodiment, it is possible to identify the position where the most effective countermeasure can be taken at the time of countermeasures, and by programming this process, the conductor area in the conductor pattern and the via interval are checked efficiently and reliably. be able to. Therefore, in this embodiment, it is possible to efficiently and reliably check the conductor area and via spacing in the conductor pattern without requiring complicated processing.

本発明は、上記の実施の形態において、プリント配線板の表面層について説明したが、内層についても同様の処理を実施することができる。   Although the present invention has been described with respect to the surface layer of the printed wiring board in the above embodiment, the same processing can be performed on the inner layer.

また、本発明は、図9〜図14に示す判断処理を変えることによって、ビア及びピンの間隔が指定値以内で、配置状況のチェックを行うことができる。例えば、(1)グランドの多角形パターンの表面層のチェック、(2)ランドの多角形パターンの内層のチェック、(3)電源の多角形パターンの表面層のチェック、(4)電源の多角形パターンの内層のチェック等を行うことができる。   Further, according to the present invention, by changing the determination processing shown in FIGS. 9 to 14, it is possible to check the arrangement state when the interval between the via and the pin is within a specified value. For example, (1) Check the surface layer of the polygonal pattern of the ground, (2) Check the inner layer of the polygonal pattern of the land, (3) Check the surface layer of the polygonal pattern of the power supply, (4) Polygon of the power supply The inner layer of the pattern can be checked.

この場合は、図9〜図14に示す処理において、判断処理から外形線フラグの項目を削除することによって、多角形パターン内の2つ以上のビア及びピンの間隔が指定値以内で配置されているかどうかのチェックを行うことができる。外形線フラグの項目を削除する箇所は、図11のステップS33の処理をパターンプラグがONのみの判断とし、図12のステップS43の処理を穴フラグがONのみの判断とし、図13のステップS51の処理を穴フラグがOFF&範囲フラグOFFの判断に変更することで、実現することができる。   In this case, in the processes shown in FIGS. 9 to 14, by removing the outline flag item from the determination process, the interval between two or more vias and pins in the polygon pattern is arranged within the specified value. You can check whether or not. In the part where the outline flag item is deleted, the process at step S33 in FIG. 11 is determined only when the pattern plug is ON, the process at step S43 in FIG. 12 is determined only when the hole flag is ON, and the process at step S51 in FIG. This process can be realized by changing the processing to the determination that the hole flag is OFF & the range flag is OFF.

図15は本発明の第2の実施の形態による実装設計CAD上のプリント配線板の部品面データを示す図である。図15において、本実施の形態による部品面データは、基板外形データ3に多角形パターン4が実装され、中抜きデータ6が含まれていることを示している。この場合、アウトライン5は多角形パターン4のアウトラインを、アウトライン7は中抜きデータ4のアウトラインを示すものとする。   FIG. 15 is a diagram showing component surface data of the printed wiring board on the mounting design CAD according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 15, the component surface data according to the present embodiment indicates that the polygonal pattern 4 is mounted on the board outline data 3 and the hollow data 6 is included. In this case, the outline 5 represents the outline of the polygon pattern 4, and the outline 7 represents the outline of the hollow data 4.

また、多角形パターン4の信号名はGNDとする。多角形パターン4上には、ビア11,101〜117が実装されている。ビア11,101〜117の信号名もGNDとする。よって、ビア11,101〜117は、多角形パターン4と接続している。   The signal name of the polygon pattern 4 is GND. Vias 11, 101 to 117 are mounted on the polygonal pattern 4. The signal names of the vias 11 and 101 to 117 are also set to GND. Therefore, the vias 11 and 101 to 117 are connected to the polygon pattern 4.

中抜きデータ6には、部品端子31〜34と、線幅を所有した配線41〜44と、ビア15,17,19が実装されている。ビア17と配線44と部品端子34との信号名はGNDとする。   In the hollow data 6, component terminals 31 to 34, wirings 41 to 44 having line widths, and vias 15, 17, and 19 are mounted. Signal names of the via 17, the wiring 44, and the component terminal 34 are GND.

図16は図15に示すプリント配線板の内層面データを示す図である。図16において、基板外形データ1には多角形パターン201が実装されている。多角形パターン201のアウトライン202の信号名はGNDとする。ビア11,17,101〜117は、多角形パターン201と接続している。   FIG. 16 is a diagram showing inner layer surface data of the printed wiring board shown in FIG. In FIG. 16, a polygonal pattern 201 is mounted on the board outline data 1. The signal name of the outline 202 of the polygon pattern 201 is GND. The vias 11, 17, and 101 to 117 are connected to the polygon pattern 201.

ビア15は、多角形パターン201と信号名が相違しているため、203で中抜きしてある。同様に、ビア19も信号名が相違しているため、204で中抜きしてある。よって、ビア15,19以外は、多角形パターン201と接続している。   Since the signal name of the via 15 is different from that of the polygon pattern 201, the via 15 is omitted in 203. Similarly, the via 19 is also omitted because it has a different signal name. Therefore, the portions other than the vias 15 and 19 are connected to the polygon pattern 201.

図17及び図18は本発明の第2の実施の形態による処理結果を示す図である。図17及び図18においては、図9〜図14の処理において上記のように変更した処理の結果を示している。   17 and 18 are diagrams showing processing results according to the second embodiment of the present invention. FIGS. 17 and 18 show the results of the processing changed as described above in the processing of FIGS. 9 to 14.

メッシュにXがマークされた箇所は、パターンフラグがONで穴フラグがONか、パターンフラグがONで範囲フラグがONのメッシュを示している。図17においては、部品面データで、多角形パターン201で囲まれたメッシュがNG箇所である。202は、NG箇所を中心に指定範囲の円を示している。   A portion where X is marked on the mesh indicates a mesh in which the pattern flag is ON and the hole flag is ON, or the pattern flag is ON and the range flag is ON. In FIG. 17, in the component surface data, the mesh surrounded by the polygon pattern 201 is an NG location. Reference numeral 202 denotes a circle in a specified range centering on an NG location.

この場合は、指定範囲の円内にビアがないため、この範囲は指定間隔以内にビアが実装されてないことを判断することができる。つまり、多角形パターン201で囲まれた範囲に対策ビアを実装することが、最善の対策であることを示している。   In this case, since there is no via in the circle of the specified range, it can be determined that the via is not mounted within the specified interval in this range. That is, it is shown that mounting the countermeasure via in the range surrounded by the polygon pattern 201 is the best countermeasure.

図18では、内層面データで、203で囲まれたメッシュがNG箇所である。204は、NG箇所を中心に指定範囲の円を示している。この場合は、指定範囲の円内にビアがないため、この範囲は指定間隔以内にビアが実装されてないことを判断することができる。   In FIG. 18, the mesh surrounded by 203 in the inner layer surface data is an NG location. Reference numeral 204 denotes a circle in a specified range centering on the NG location. In this case, since there is no via in the circle of the specified range, it can be determined that the via is not mounted within the specified interval in this range.

本発明による検査装置の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the test | inspection apparatus by this invention. 本発明の第1の実施の形態による検査装置の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the test | inspection apparatus by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態で用いる実装設計CAD上のプリント配線板データを示す図である。It is a figure which shows the printed wiring board data on the mounting design CAD used in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示す図である。It is a figure which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示す図である。It is a figure which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示す図である。It is a figure which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示す図である。It is a figure which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示す図である。It is a figure which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態によるプリント配線板の導体パターンの検査処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the inspection process of the conductor pattern of the printed wiring board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態による実装設計CAD上のプリント配線板の部品面データを示す図である。It is a figure which shows the component surface data of the printed wiring board on the mounting design CAD by the 2nd Embodiment of this invention. 図15に示すプリント配線板の内層面データを示す図である。It is a figure which shows the inner layer surface data of the printed wiring board shown in FIG. 本発明の第2の実施の形態による処理結果を示す図である。It is a figure which shows the processing result by the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態による処理結果を示す図である。It is a figure which shows the processing result by the 2nd Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 検査装置
1a 記憶部
1a1 プログラム
1a2 導体パターン、ビア、挿入部品の端子
1b 処理部
1b1 導体パターンメッシュ化
1b2 導体面積の算出
1b3 ビア間隔の算出
1c 表示部
2 プリント配線板データ
3 基板外形データ
4 多角形パターン
5,7,12,14,
16,18,20 アウトライン
6 中抜きデータ
11,13,15,17,
19,101〜118 ビア
31〜34 部品端子
41〜44 配線
51 原点
52 メッシュ
53 メッシュ値
65 マスタメッシュ
66,69 スリーブメッシュ
67,70 距離
68 設定距離
71 メッシュ
72 円
201 多角形パターン
202 アウトライン
1 Inspection device
1a storage unit
1a1 program
1a2 Conductor pattern, via, and terminal for inserted parts
1b Processing unit
1b1 Conductor pattern meshing
1b2 Calculation of conductor area
1b3 Calculation of via spacing
1c Display section
2 Printed wiring board data
3 Board outline data
4 Polygon patterns 5, 7, 12, 14,
16, 18, 20 outline
6 hollow data 11, 13, 15, 17,
19,101-118 via
31-34 Component terminal
41-44 wiring
51 Origin
52 mesh
53 mesh value
65 master mesh
66,69 Sleeve mesh
67,70 distance
68 Set distance
71 mesh
72 yen
201 Polygon pattern
202 Outline

Claims (11)

実装設計CAD(Computer−Aided Design)上のプリント配線板データ内の導体パターン、ビア、挿入部品の端子の情報を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されている情報を基に前記導体パターンのメッシュ化を行い、そのメッシュ化された導体パターンを基に導体面積及びビア間隔の確認を行う処理手段と、
前記処理手段の確認結果を表示する表示手段とを有し、
前記処理手段は、プリント配線板の多角形の導体パターンに最大導体径の存在を確認し、
前記処理手段は、前記導体パターンに前記最大導体径が存在した場合に対策の
最善位置を検出し、その最善位置を前記表示手段に表示することを特徴とする検査装置。
Storage means for storing information on conductor patterns, vias, and terminals of inserted parts in printed wiring board data on mounting design CAD (Computer-Aided Design);
Processing means for meshing the conductor pattern based on information stored in the storage means, and confirming a conductor area and via spacing based on the meshed conductor pattern;
Have a display means for displaying a confirmation result of said processing means,
The processing means confirms the presence of the maximum conductor diameter in the polygonal conductor pattern of the printed wiring board,
The processing means takes measures when the maximum conductor diameter exists in the conductor pattern.
An inspection apparatus for detecting a best position and displaying the best position on the display means .
前記処理手段は、前記ビア、前記挿入部品端子の穴径をライン化して確認することを特徴とする請求項1記載の検査装置。 2. The inspection apparatus according to claim 1 , wherein the processing means checks the via diameter and the hole diameter of the insertion component terminal in a line . 前記処理手段は、前記ライン化された穴径を基に多角形の導体パターンに前記
ビア及び前記挿入部品端子が指定間隔に実装されているかを確認することを特徴とする請求項2記載の検査装置。
The processing means adds the polygonal conductor pattern to the polygonal conductor pattern based on the lined hole diameter.
3. The inspection apparatus according to claim 2, wherein it is confirmed whether the via and the insertion component terminal are mounted at a specified interval .
前記処理手段は、前記ビア及び前記挿入部品端子が前記指定間隔に実装されて
ない場合、対策の最善位置を検出し、その最善位置を前記表示手段に表示することを特徴とする請求項3記載の検査装置。
In the processing means, the via and the insertion component terminal are mounted at the specified interval.
4. The inspection apparatus according to claim 3 , wherein if there is not, the best position for countermeasure is detected and the best position is displayed on the display means .
前記処理手段の処理を内外層の多角形の導体パターンに対応可能としたことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか記載の検査装置。 The inspection apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the processing of the processing means can be applied to a polygonal conductor pattern of inner and outer layers . 検査装置にて実装設計CAD(Computer−Aided Design)上のプリント配線板の導体パターンを検査する検査方法であって、An inspection method for inspecting a conductor pattern of a printed wiring board on a mounting design CAD (Computer-Aided Design) with an inspection device,
前記検査装置が、The inspection device is
プリント配線板データ内の導体パターン、ビア、挿入部品の端子の情報を記憶手段に記憶する第1の処理と、A first process for storing information on conductor patterns, vias, and terminals of inserted parts in the printed wiring board data in the storage means;
前記記憶手段に記憶されている情報を基に前記導体パターンのメッシュ化を行い、そのメッシュ化された導体パターンを基に導体面積及びビア間隔の確認を行う第2の処理と、A second process of meshing the conductor pattern based on the information stored in the storage means, and confirming a conductor area and via spacing based on the meshed conductor pattern;
前記第2の処理の確認結果を表示手段に表示する第3の処理とを実行し、Performing a third process of displaying a confirmation result of the second process on a display means;
前記検査装置は、前記第2の処理において、プリント配線板の多角形の導体パターンに最大導体径の存在を確認し、In the second process, the inspection device confirms the existence of the maximum conductor diameter in the polygonal conductor pattern of the printed wiring board,
前記検査装置は、前記第2の処理において、前記導体パターンに前記最大導体径が存在した場合に対策の最善位置を検出し、その最善位置を前記表示手段に表示することを特徴とする検査方法。In the second process, the inspection apparatus detects a best position for countermeasures when the maximum conductor diameter is present in the conductor pattern, and displays the best position on the display means. .
前記検査装置は、前記第2の処理において、前記ビア、前記挿入部品端子の穴径をライン化して確認することを特徴とする請求項6記載の検査方法。The inspection method according to claim 6, wherein, in the second process, the inspection apparatus forms a hole diameter of the via and the insertion component terminal in a line. 前記検査装置は、前記第2の処理において、前記ライン化された穴径を基に多角形の導体パターンに前記ビア及び前記挿入部品端子が指定間隔に実装されているかを確認することを特徴とする請求項7記載の検査方法。In the second process, the inspection device confirms whether the via and the insertion component terminal are mounted at a specified interval on a polygonal conductor pattern based on the lined hole diameter. The inspection method according to claim 7. 前記検査装置は、前記第2の処理において、前記ビア及び前記挿入部品端子が前記指定間隔に実装されてない場合、対策の最善位置を検出し、その最善位置を前記表示手段に表示することを特徴とする請求項8記載の検査方法。In the second process, when the via and the insertion component terminal are not mounted at the specified interval, the inspection apparatus detects the best position for countermeasures and displays the best position on the display means. The inspection method according to claim 8, characterized in that: 前記検査装置による処理を内外層の多角形の導体パターンに対応可能としたことを特徴とする請求項6から請求項9のいずれか記載の検査方法。The inspection method according to any one of claims 6 to 9, wherein the processing by the inspection apparatus can be applied to a polygonal conductor pattern of inner and outer layers. 実装設計CAD(Computer−Aided Design)上のプリント配線板の導体パターンを検査する検査装置内の中央処理装置に実行させるプログラムであって、A program to be executed by a central processing unit in an inspection apparatus for inspecting a conductor pattern of a printed wiring board on a mounting design CAD (Computer-Aided Design),
プリント配線板データ内の導体パターン、ビア、挿入部品の端子の情報を記憶手段に記憶する第1の処理と、A first process for storing information on conductor patterns, vias, and terminals of inserted parts in the printed wiring board data in the storage means;
前記記憶手段に記憶されている情報を基に前記導体パターンのメッシュ化を行い、そのメッシュ化された導体パターンを基に導体面積及びビア間隔の確認を行う第2の処理と、A second process of meshing the conductor pattern based on the information stored in the storage means, and confirming a conductor area and via spacing based on the meshed conductor pattern;
前記第2の処理の確認結果を表示手段に表示する第3の処理とを含み、And a third process for displaying the confirmation result of the second process on the display means,
前記第2の処理において、プリント配線板の多角形の導体パターンに最大導体径の存在を確認させ、In the second process, the polygonal conductor pattern of the printed wiring board is confirmed to have a maximum conductor diameter,
前記第2の処理において、前記導体パターンに前記最大導体径が存在した場合に対策の最善位置を検出し、その最善位置を前記表示手段に表示させることを特徴とするプログラム。In the second process, when the maximum conductor diameter exists in the conductor pattern, the best position for countermeasure is detected, and the best position is displayed on the display means.
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