JP4803795B2 - 分析装置 - Google Patents
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Description
以上、好ましい実施形態を挙げて本発明を説明したが、本発明はその実施形態に限定されるものでなく、請求の範囲に記載した発明の範囲内で種々に改変できる。
例えば、以上に説明した実施形態では、図1において測定データファイル26内に記憶して2次元画像表示及び3次元画像表示するデータとして(T,m/z,I)の3つのデータを考えたが、本発明はこれ以外の任意の3種類以上のデータを処理する場合にも適用できる。例えば、温度変化する試料にX線を照射して回折線を検出するX線回折測定によって得られる測定データである(T(温度)、2θ(回折角度)、I(回折線強度))のデータを図1の測定データファイル26内に記憶し、さらにそのデータを2次元画像及び3次元画像することができる。
10.TG測定装置、 11.DTA測定装置、 17a,17b.天秤ビーム、
18.ケーシング、 19.ヒータ、 20.ガス管、
26.測定データファイル、 30.温度軸用移動子、 31.質量数軸用移動子、
32.画面、 33.入力値記憶ファイル、 36.スチルデータファイル、
37.解析データファイル、 39.ライブラリデータファイル、
42.スチルウインドウ、 D.スチルデータ、 Ga.3次元立体画像、
Gb.3次元平面画像、 Gc2次元画像(マスクロマトグラム),
Gd.2次元画像(マススペクトル)、 Ge.入力用画像、 M.識別マーク、
Q1.ライブラリデータ、 Q2.比較表示、 Q3.実測データ、 S0.標準物質、
S1.試料
Claims (4)
- 測定データを取得する手段と、
画面を備えた表示手段と、
測定データを座標と共に前記画面上に画像として表示させる測定データ表示手段と、
前記測定データを取得する手段によって取得した測定データに基づいて解析を行う解析手段と、
前記解析手段による解析において前記画面に表示した測定データと当該画面表示された測定データに基づいて作成したビットマップイメージに対応したビットマップデータとを関連して記憶させる手段と、
前記記憶させたビットマップデータを前記画面上に表示する手段と
を有することを特徴とする分析装置。 - 請求項1において、前記ビットマップイメージは、前記測定データが前記座標と共に表示された状態の画像を示すことを特徴とする分析装置。
- 請求項1又は請求項2において、
前記測定データは、試料温度、発生ガスの質量数、及び発生ガスのイオン強度であり、前記座標は、横軸に試料温度をとり、縦軸に発生ガスのイオン強度をとったマスクロマトグラムの座標であることを特徴とする分析装置。 - 請求項1又は請求項2において、
前記測定データは、試料温度、発生ガスの質量数、及び発生ガスのイオン強度であり、前記座標は、横軸に発生ガスの質量数をとり、縦軸に発生ガスのイオン強度をとったマススペクトルの座標であることを特徴とする分析装置。
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