JP4802864B2 - 焦点検出装置および撮像装置 - Google Patents

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Description

本発明は、結像光学系(検出対象光学系)の光学特性を検出する光電検出装置、光学特性検出装置および撮像装置に関する。
撮影光学系の予定焦点面にマイクロレンズアレイを配置するとともに、各マイクロレンズに対して2つの受光部を設け、各マイクロレンズ下の左側の受光部出力を並べて第1信号列を作成し、各マイクロレンズ下の右側の受光部出力を並べて第2信号列を作成し、第1信号列のパターンと第2信号列パターンとのずれを検出して、結像光学系の焦点調節状態を検出する焦点検出装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、撮影光学系の予定焦点面にマイクロレンズアレイを配置するとともに、各マイクロレンズごとに4つの受光部(順に、左外、左中、右中、右外)を設け、撮影光学系の明るさに応じて、一対の信号列を作るのに選択する受光部の組を変えるように構成された焦点検出装置が知られている。(例えば、特許文献2参照)。
この出願の発明に関連する先行技術文献としては次のものがある。
特開昭54−159259号公報 特開昭56−032126号公報
しかしながら、従来の焦点検出装置では、焦点検出のための画像のサンプリングピッチがマイクロレンズの配列ピッチとなっているため、焦点検出精度を上げるにはマイクロレンズの径を小さくする必要があり、そうすると光量が少なくなって像が暗くなり、十分な焦点検出精度の向上が図れないという問題がある。また、マイクロレンズとマイクロレンズの間には焦点検出不能な隙間領域があり、焦点検出精度の向上を阻害する要因になっている。
請求項1の発明による焦点検出装置は、結像光学系の予定焦点面から所定距離離間した位置に複数のマイクロレンズを所定の配列ピッチで配列したマイクロレンズアレイと、前記結像光学系と前記マイクロレンズアレイとを介した光束を検出するように、前記各マイクロレンズに対して配置された複数の受光部を有する受光部アレイと、前記マイクロレンズごとに、前記複数の受光部で得られる受光信号からそれぞれ少なくともつの受光信号を選択して第1信号列を作成するとともに、前記マイクロレンズごとに、前記受光信号のうち前記第1信号列とは異なる少なくともつの受光信号を選択して第2信号列を作成する信号列抽出手段と、前記第1信号列で示される波形の位相と前記第2信号列で示される波形の位相とのずれを求める位相差検出手段と、前記ずれに基づいて、前記予定焦点面における前記結像光学系の結像状態を検出する結像状態検出手段と、を備え、前記予定焦点面と前記複数のマイクロレンズアレイとの間の前記所定距離は、前記各マイクロレンズによって前記予定焦点面に投影された前記複数の受光部の投影像が前記マイクロレンズの配列ピッチの間隔内に複数位置するように、定められていることを特徴とする。
本発明によれば、結像光学系の一対の部分瞳を通る光束による一対の像のずれを精度良く検出することが出来る。またこの結果を用いた焦点検出方式の焦点検出精度を向上させることができる。
本願発明の実施形態による焦点検出装置を一眼レフレックス・デジタルスチルカメラに適用した一実施の形態を説明する。なお、本実施の形態は一眼レフカメラやデジタルカメラに限定されず、コンパクトカメラや銀塩フィルムカメラなどのすべての種類のカメラに適用することができる。
図1は、一実施の形態の焦点検出装置を備えた一眼レフレックス・デジタルスチルカメラの横断面図を示す。なお、本実施の形態による焦点検出装置に関わる機器および装置以外のカメラの一般的な機器および装置については図示と説明を省略する。一実施の形態のカメラではカメラボディ1にレンズ鏡筒2が装着される。レンズ鏡筒2は各種の撮影レンズに交換可能である。
カメラボディ1はメインミラー11、サブミラー12、シャッター13、撮像素子14、焦点検出装置15、制御装置16、ペンタプリズム17、接眼レンズ18、接点19などを備えている。撮像素子14はCCDやCMOSなどから構成され、撮影レンズにより結像された被写体像を電気信号に変換して出力する。焦点検出装置15は撮影レンズの焦点調節状態を検出する。この焦点検出装置15については詳細を後述する。制御装置16は不図示のマイクロコンピューター、ROM、RAM、A/Dコンバーターなどから構成され、カメラの各種演算やシーケンス制御などを行う。
一方、レンズ鏡筒2は撮影レンズ21(21a〜21e)、絞り22、レンズ駆動制御装置23などを備えている。レンズ駆動制御装置23は不図示のマイクロコンピューター、メモリ、レンズ駆動用モーター、絞り駆動用モーターなどから構成され、撮影レンズ21の焦点調節や絞り22の開口調節などを行う。なお、カメラボディ1の制御装置16とレンズ鏡筒2のレンズ駆動制御装置23は交換レンズマウント部(不図示)に設けられた接点19を介して各種情報の授受を行う。
非撮影時には図に示すようにメインミラー11とサブミラー12が撮影光路中に置かれ、撮影レンズ21を透過した被写体光の一部はメインミラー11、ペンタプリズム17、接眼レンズ18を介して撮影者の目に導かれ、撮影者に被写体像が視認される。また、被写体光の残りの一部はメインミラー11、サブミラー12を介して焦点検出装置15へ導かれ、焦点検出装置15により撮影レンズ21の焦点調節状態、すなわちデフォーカス量が検出される。
図2は焦点検出装置15の詳細な構成を示す図であり、図3は結像光学系(撮影レンズなど)の撮像面と、焦点を検出する焦点検出装置15の焦点検出面(結像光学系の予定焦点面)との共役関係を模式的に表したものである。すなわち、図3において、焦点検出装置15の焦点検出面15aは、ミラー12の反射面12aに対して撮像素子14の撮像面14aと光学的に等価な位置関係にある。この焦点検出面15aを基準面として、結像光学系(撮影レンズ)21の焦点調節状態を検出する。なお、21aは結像光学系(撮影レンズ)21の射出瞳である。
なお、一般に対象とする結像光学系の径はcmのオーダーであるのに対して、マイクロレンズの径は100ミクロン程度あるいはそれ以下のオーダーなので、そのままの比例関係で図示することは困難であり、マイクロレンズと受光部アレイの部分は、説明の為に大きく拡大された概念図である。
焦点検出装置15は、図2に示すようにマイクロレンズアレイ15b、受光部a0〜f0、・・、a7〜f7が並んだ受光部アレイP0〜P7を備えたイメージセンサー15c、A/Dコンバーター15d、CPU15e、メモリ15iを備えている。マイクロレンズアレイ15bは、図2に示すように複数のマイクロレンズmi(i=0、1、2、・・)が所定のピッチPmで一列に配列されており、図3に示すように焦点検出面15aから所定距離Lだけ離れた面に配置される。
このマイクロレンズアレイ15bの後方には、各マイクロレンズmiに対して複数の受光部ai〜fiからなる受光部アレイpiが配列されたイメージセンサー15cが配置され、撮影レンズ21により結像された予定焦点面(焦点検出面)15a上の被写体像が各マイクロレンズmiにより受光部アレイpi上に結像される。各受光部アレイpiはそれぞれ6個の受光部ai〜fi(i=0、1、2、・・)が直線上に等間隔に配列されている。なお、図2では一部の受光部の符号を省略している。ここで、受光部アレイpiの並び方向および画素ai〜fiの並び方向はともにマイクロレンズmiの並び方向と同一である。
A/Dコンバーター15dは、イメージセンサー15cから出力される各受光部アレイpiの受光部ai〜fiごとの信号をデジタル信号に変換してCPU15eへ出力する。メモリ15iは受光部ai〜fiの出力信号を一時的に記憶するバッファーメモリである。
CPU15eはマイクロコンピューターのソフトウエア形態により構成される複数像列作成部15f、像ズレ量演算部15g、デフォーカス量演算部15hを備え、焦点検出センサー15cの出力信号に基づいて撮影レンズ21の焦点調節状態を検出し、デフォーカス量を制御装置16へ出力する。
ここで、一実施の形態の撮影光学系と焦点検出光学系の関係を上述した従来の焦点検出装置と対比して説明する。上述したように、従来の焦点検出装置(上記特許文献1)では撮影光学系の予定焦点面にマイクロレンズアレイを配置し、マイクロレンズアレイの背後に、各マイクロレンズに対して一対(2個)の受光部を備えた焦点検出センサーを配置していた。また、従来の焦点検出装置(上記特許文献2)では撮影光学系の予定焦点面にマイクロレンズアレイを配置し、マイクロレンズアレイの背後に、各マイクロレンズに対して2対(4個)の受光部を備えた焦点検出センサーを配置していた。
さらに、上述した従来の焦点検出装置(上記特許文献1、2)では、受光部面と撮影光学系の射出瞳面とがマイクロレンズに関して略共役関係となるように設定され、受光部開口がマイクロレンズにより撮影光学系の射出瞳面に逆投影された瞳部分を通過した光を該受光部で受光する構成を持つ。そして、各マイクロレンズ下の受光部出力に関して、1マイクロレンズ毎にある瞳部分に対応して1受光部出力を選んで第1信号列となし、1マイクロレンズ毎に別の瞳部分に対応して別の1受光部出力を選んで第2信号列となし、第1信号列と第2信号列とが表す像パターンのずれを検出していた。
このため、被写体像からマイクロレンズの配列ピッチでサンプリングされた2像を用いて像のずれを検出していたことになる。焦点検出精度を上げる一つの方法としては、検出のサンプリングピッチを細かくする必要があり、そのためにはマイクロレンズの径を小さくする必要だが、そうすると光量が少なくなって像が暗くなってしまい、暗い場合の焦点検出ができなくなるという問題があった。
これに対し 本実施の形態においては、マイクロレンズの径を小さくすることなく、焦点検出面での受光部投影像の並びのピッチがマイクロレンズの並びのピッチより細かくなる(例えば1/2)ように、マイクロレンズ面から所定量離した面を焦点検出面とすることにより、検出のサンプリングピッチを細かくするものである。処理としては、第1信号列を作るのに1マイクロレンズ毎に1受光部出力を選んでつくるのではなく、少なくともいくつかのマイクロレンズに関しては1マイクロレンズ毎に複数受光部出力を選んで第1信号列を作るようにしている。第2信号列も同様であり、これによってマイクロレンズの並びのピッチより細かい画像のサンプリングが可能となる。
一実施の形態の撮影光学系と焦点検出光学系は、撮像素子14の撮像面14aと光学的に等価な撮影レンズ21の予定焦点面15aを焦点検出面とし、この焦点検出面15aから所定距離Lだけ離間した位置に、複数のマイクロレンズmi(i=0、1、2、・・)を所定のピッチPmで一列に配列したマイクロレンズアレイ15bを配置する。さらに、マイクロレンズアレイ15bの背後(焦点検出面15aと反対側)に各マイクロレンズmiに対応して複数の画素受光部(この一実施の形態では6個)ai〜fiを有する受光部アレイpiを配置する。
各マイクロレンズmiに関して受光部アレイpiと焦点検出面15aとが結像関係(共役関係)となるように各マイクロレンズmiの曲率を決めるのが考え方の基本であるが、実際的には検出面上での受光部像が適度にぼけている方が、像ずれ検出に対する感度が良くなるため、受光部アレイ面と焦点検出面の厳密な共役性を求めるものではない。
図4はマイクロレンズの並びのピッチより細かい画像のサンプリングが可能とする構成を説明する図である。図2および図3に示す隣接する2個のマイクロレンズm3、m4による受光部アレイp3、p4と焦点検出面15aとの対応関係を拡大して示した図である。この一実施の形態では、各マイクロレンズmiによって焦点検出面15a上に逆投影される受光部アレイpiの受光部ai〜fiの像を符号ai”〜fi”で表す。なお、図2〜図4において各受光部アレイpiの画素ai〜fiと焦点検出面15a上の画素像ai”〜fi”とは並び順が反転する。
この一実施の形態では、図4に拡大して示すように、マイクロレンズmiの受光部アレイpiの焦点検出面15aにおける受光部像ai”〜fi”が、マイクロレンズmiの配列ピッチPm(図2参照)の中に2受光部像ずつ入るように、換言すれば、隣接するマイクロレンズmiとmi+1に関する受光部像ai”〜fi”とai+1”〜fi+1”が、2受光部像ずつずれる距離だけマイクロレンズから離れた位置に焦点検出面を設定する。
図4に示す例で具体的に説明すると、マイクロレンズm3の受光部アレイp3の焦点検出面15aにおける受光部像a3”〜f3”が、マイクロレンズの配列ピッチPmの中に2受光部像(例えばa3”、b3”)ずつ入るような位置を焦点検出面とする。
ここにおいて、第1マイクロレンズm3に関してa3”、b3”を選び、第2マイクロレンズm4に関してa4”、b4”を選び、...の様に1マイクロレンズ毎に2受光部出力を選んで第1信号列を作り、第1マイクロレンズm3に関してe3”、f3”を選び、第2マイクロレンズm4に関してe4”、f4”を選び、...という風にして第2信号列を作れば、マイクロレンズ並びのピッチの1/2倍のピッチで細かくサンプリングされている事になる。したがって、得られた第1信号列で示される波形の位相と第2信号列で示される波形の位相とのずれを求めることにより、焦点検出精度を向上させることができる。この例では、各マイクロレンズに関して2受光部ずつ選んだが、焦点検出面の位置によっては、各マイクロレンズに関して3受光部ずつ選ぶのが適当な場合や、マイクロレンズの並び順に1受光部、2受光部と交互に選ぶようにする。
図3において、イメージセンサ15cの受光部ai〜fiは、撮影レンズ21の射出瞳21a内の瞳部分A〜Fを通過した被写体からの光を、マイクロレンズを介して受光し、受光量に応じた信号を出力する。したがって、前記第1信号列は瞳部分A,Bを透過した光線による像であり、前記第2信号列は瞳部分E,Fを透過した光線による像である。
図3に示す構成において、上述のような第1信号列および第2信号列を作成することにより、マイクロレンズの配列ピッチより細かいピッチでサンプリングした信号を作ることが出来る。
前記第1信号列で示される波形(第1信号列パターン)と第2信号列で示される波形(第2信号列パターン)とを用いたずれ量の計算方法を説明する。ずれ量の計算方法自体はいろんな方法が知られており、どの方法を用いても良い。例えば本出願人による特開昭61−243416に記載の方法を用いることが出来る。
簡単にその方法を説明すると、前記第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }(i=1,2,・・・)とから、一対の像(信号列)の相関量Ckを次式より求める。
Ck=Σ|x[i]−y[i+k]|
上式において、kはシフト量(整数値)であり、Σはiに関する所定範囲の総和である。
このようにして得られた離散的に展開される相関量Ckから、特開昭61−243416号公報に記載の方法で次のようにしてシフト量を求める。Ckの中でシフトLの時に極小値C0を取るものとし、その両側のシフト量L−1とL+1での相関量をCー1、C1とする。この3つの値の並び、Cー1、C0、C1から精密なシフト量Laを、
DL=0.5×(Cー1−C1),
E=MAX{C1−C0,Cー1−C0},
La=L+DL/E
のように求める。これに必要に応じて焦点検出面の位置に依存した補正量(定数const)を加えて2像{x[i]}と{y[i]}のサンプルピッチ単位のずれ量Δnを算出する。
Δn=La+const
こうして求められたΔnの利用法はいろいろ考えられる。例えば、焦点検出のデフォーカス量Dfを求めるためには、定数Kfを用いて、
Df=Kf×Δn
で算出できる。単に像のずれの量を求めるためには、シフト量Lの1単位に相当する長さをPfとして、
Zure=Pf×Δn
で算出できる。
この明細書では、焦点検出センサー15cの各受光部ai〜fiの出力をai’〜fi’と呼ぶ。なお、上述したように各マイクロレンズmiにより焦点検出面15a上に逆投影される各受光部ai〜fiの像をai”〜fi”とする。
本実施の形態によって、第1信号列と第2信号列が出来た後の処理(ずれ量算出やデフォーカス量算出など)は公知の方法を使えるほか、色々な応用が出来る。
以下に、第1信号列と第2信号列の作り方の具体例を説明する。
図5は、一実施の具体的形態である一対の出力信号列、即ち第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図である。この例では、各マイクロレンズmiに対応する受光部アレイpiの受光部ai〜fiの出力ai’〜fi’の中から、bi’とci’の2個の出力を抽出して一方の信号 x[i] を2個生成するとともに、上記で抽出した出力と異なるdi’とei’の2個の出力を抽出して他方の信号 y[i] を2個生成し、第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }とする。
図5(b)に示す様に、第1信号列{x[i] }の信号は、1つのマイクロレンズmiの受光部の2つを使って、
x[0]はマイクロレンズm1からb1'の信号を抽出し、x[0]=b1',
x[1]はマイクロレンズm1からc1'の信号を抽出し、x[1]=c1',
x[2]はマイクロレンズm2からb2'の信号を抽出し、x[2]=b2',
x[3]はマイクロレンズm2からc2'の信号を抽出し、x[3]=c2',
x[4]はマイクロレンズm3からb3'の信号を抽出し、x[2]=b3',
x[5]はマイクロレンズm3からc3'の信号を抽出し、x[3]=c3'
以下、同様にする。
一方、第2信号列{y[i] }の信号は、1つのマイクロレンズmiの受光部の2つを使って、
y[0]はマイクロレンズm0からd0'の信号を抽出し、y[0]=d0',
y[1]はマイクロレンズm0からe0'の信号を抽出し、y[1]=e0',
y[2]はマイクロレンズm1からd1'の信号を抽出し、y[2]=d1',
y[3]はマイクロレンズm1からe1'の信号を抽出し、y[3]=e1',
y[4]はマイクロレンズm2からd2'の信号を抽出し、y[2]=d2',
y[5]はマイクロレンズm2からe2'の信号を抽出し、y[3]=e2'
以下、同様にする。
この場合、bi’は瞳部分Bからの光量に対応し、ci’は瞳部分Cからの光量に対応し、また、di’は瞳部分Dからの光量に対応し、ei’は瞳部分Eからの光量に対応しているので、第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }に寄与している瞳部分のからの結像光束の開き角は、瞳部分Bと瞳部分Dがθ1で、瞳部分Cと瞳部分Eがθ2で、平均するとθ12=(θ1+θ2)/2となる。
上記式Df=Kf×ΔnのKfは、θ12(ラジアン単位)を用いて、
Kf=Pf/θ12,
Df=Kf×Δn=Δn×Pf/θ12
で与えられる。この式から明らかな様に検出開角θ12が大きいほど一定のずれ量Δnに対するデフォーカス量Dfが小さく、検出精度が良いことになる。
F値の大きい暗い撮影レンズでは検出開角θ12を大きく取ることが出来ないが、F値の小さい明るい撮影レンズでは検出開角θ12を大きく取ることで、デフォーカス量Dfの検出精度を上げることが出来る。そのような場合の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の作り方を図6(a)、(b)で説明する。この場合も第1信号列を作るのに1つのマイクロレンズmiの受光部の2つを使って、信号列を作成するが、抽出する受光部の組み合わせが前の例とは同じでない。
具体的には、図6(b)に示すように、第1信号列{x[i] }の信号は、1つのマイクロレンズmiの受光部の2つを使って、
x[0]はマイクロレンズm2からa2'の信号を抽出し、x[0]=a2',
x[1]はマイクロレンズm2からb2'の信号を抽出し、x[1]=b2',
x[2]はマイクロレンズm3からa3'の信号を抽出し、x[2]=a3',
x[3]はマイクロレンズm3からb3'の信号を抽出し、x[3]=b3',
x[4]はマイクロレンズm4からa4'の信号を抽出し、x[2]=a4',
x[5]はマイクロレンズm4からb4'の信号を抽出し、x[3]=b4'
以下、同様にする。
一方、第2信号列{y[i] }の信号は、1つのマイクロレンズmiの受光部の2つを使って、
y[0]はマイクロレンズm0からe0'の信号を抽出し、y[0]=e0',
y[1]はマイクロレンズm0からf0'の信号を抽出し、y[1]=f0',
y[2]はマイクロレンズm1からe1'の信号を抽出し、y[2]=e1',
y[3]はマイクロレンズm1からf1'の信号を抽出し、y[3]=f1',
y[4]はマイクロレンズm2からe2'の信号を抽出し、y[2]=e2',
y[5]はマイクロレンズm2からf2'の信号を抽出し、y[3]=f2'
以下、同様にする。
この場合、ai’は瞳部分Aからの光量に対応し、bi’は瞳部分Bからの光量に対応し、また、ei’は瞳部分Eからの光量に対応し、fi’は瞳部分Fからの光量に対応しているので、第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }に寄与している瞳部分のからの結像光束の開き角は、瞳部分Aと瞳部分Eがθ3で、瞳部分Bと瞳部分Fがθ4で、平均するとθ34=(θ3+θ4)/2となる。
上記式Df=Kf×ΔnのKfは、θ34(ラジアン単位)を用いて、
Kf=Pf/θ34,
Df=Kf×Δn=Δn×Pf/θ34
で与えられる。検出開角θ12<θ34なので一定のずれ量Δnに対するデフォーカス量Dfが小さく、検出開角θ34の場合の方が検出精度が良いことになる。
ところで、図6に示す信号列の抽出方法では、撮影レンズ21の射出瞳21a上の最も周辺部の瞳部分AとFに対応する受光部aiとfiの出力信号を用いている。撮影レンズ21の開放F値が大きい暗いレンズを用いた場合には、射出瞳21a上の最も周辺部の瞳部分AとFがけられてしまうことがあり、そのような暗い撮影レンズを用いる場合は図5に示すような焦点検出の開角が小さくなる抽出方法によって信号列{x[i] }と{y[i] }を生成する必要がある。したがって、検出対象光学系のF値に依存させて、第1信号列と第2信号列の作り方(受光信号を選択する受光部の選び方)を変更するようにすることが好ましい。
《一実施の形態の第1の変形例》
図5および図6に示す一実施の形態の画素出力の抽出方法では、第1信号列を構成する受光部に対応する瞳部分A〜Fが受光部に依存して移動するという不安定要素がある。例えば、図5に示す例では一方の信号x[i]に画素biとciの出力を用いるので射出瞳21a上の瞳部分はBとCの間を移動し、また他方の信号y[i]に画素diとeiの出力を用いるので射出瞳21a上の瞳部分はDとEの間を移動する。
この第1の変形例では、撮影レンズ21の射出瞳21上の瞳部分の移動による不安定さを解消するために、図2〜図4に示す構成を用い、各マイクロレンズmiに対応する受光部ai〜fiの出力ai’〜fi’の中から、“3個”ずつ出力を抽出して一方の信号を“2個” x[i]とx[i+1]として生成するとともに、これとすべて同一ではないように出力を“3個”ずつ抽出して他方の信号 y(i)を“2個” y[i]とy[i+1]として生成し、第1信号列{x[i]}と第2信号列{y[i]}を作成する。
図7(a)、(b)は、第1の変形例の一対の出力信号列{x[i]}と{y[i]}の抽出方法を説明する図である。図7(b)に示す様に、第1信号列{x[i] }の信号は、1つのマイクロレンズmiの受光部の3つを使って、
x[0]はマイクロレンズm1からc1'の信号を抽出し、x[0]=c1',
x[1]はマイクロレンズm1からd1'の信号を抽出し、マイクロレンズm2からb2'の信号を抽出して、x[1]=(d1'+b2')/2,
x[2]はマイクロレンズm2からb2'の信号を抽出し、x[2]=c2',
x[3]はマイクロレンズm2からd2'の信号を抽出し、マイクロレンズm3からb3'の信号を抽出して、x[3]=(d2'+b3')/2,
x[4]はマイクロレンズm3からc3'の信号を抽出し、x[4]=c3',
x[5]はマイクロレンズm3からd3'の信号を抽出し、マイクロレンズm4からb4'の信号を抽出して、x[5]=(d3'+b4')/2
以下、同様にする。一般式としては、
x[2n]=cn+1',
x[2n+1]=(dn+1’+bn+2’)/2
となる。
一方、第2信号列{y[i] }の信号は、1つのマイクロレンズmiの受光部の2つを使って、
y[0]はマイクロレンズm0からe0'の信号を抽出し、マイクロレンズm1からc1'の信号を抽出して、y[0]=(e0'+c1')/2,
y[1]はマイクロレンズm1からd1'の信号を抽出し、y[1]=d1',
y[2]はマイクロレンズm1からe1'の信号を抽出し、マイクロレンズm2からc2'の信号を抽出して、y[2]=(e1'+c2')/2,
y[3]はマイクロレンズm2からd2'の信号を抽出し、y[3]=d2',
y[4]はマイクロレンズm2からe2'の信号を抽出し、マイクロレンズm3からc3'の信号を抽出して、y[4]=(e2'+c3')/2,
y[5]はマイクロレンズm3からd3'の信号を抽出し、y[5]=d3'
以下、同様にする。一般式としては
y[2n]=(en’+cn+1’)/2,
y[2n+1]=dn+1'
となる。
この場合、x[0]=c1'については部分瞳Cを使っており、x[1]=(d1'+b2')/2についてはd1'が部分瞳Dを使いb2'が部分瞳Bを使うので、重心を考えると近似的には部分瞳Cを使うことに相当する。したがって、第1信号列{x[i] }は重心として考えると部分瞳Cに関連する信号と考えられる。
同様に、y[0]=(e0'+c1')/2についてはc1'が部分瞳Cを使いe0'が部分瞳Eを使うので、重心を考えると近似的には部分瞳Dを使うことに相当し、y[1]=d1'については部分瞳Dを使っているので、第2信号列{y[i] }は重心として考えると部分瞳Dに関連する信号と考えられる。したがって、第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }に寄与している瞳部分のからの結像光束の開き角は、瞳部分Cと瞳部分Dがなす角θ5(ラジアン)である。上記式Df=Kf×ΔnのKfは、θ5を用いて、
Kf=Pf/θ5,
Df=Kf×Δn=Δn×Pf/θ5
で与えられる。
図8(a)、(b)は、図7の場合に対して検出の開き角を大きくしてθ6とした場合の例である。この場合の{x[i]}と{y[i]}の抽出方法は、図8(b)に示す様なものである。すなわち、第1信号列{x[i] }の信号は、1つのマイクロレンズmiの受光部の3つを使って、
x[0]はマイクロレンズm1からc1'の信号を抽出し、マイクロレンズm2からa2'の信号を抽出して、x[0]=(c1'+a2')/2,
x[1]はマイクロレンズm2からb2'の信号を抽出し、x[1]=b2',
x[2]はマイクロレンズm2からc2'の信号を抽出し、マイクロレンズm3からa3'の信号を抽出して、x[2]=(c2'+a3')/2,
x[3]はマイクロレンズm3からb3'の信号を抽出し、x[3]=b3',
x[4]はマイクロレンズm3からc3'の信号を抽出し、マイクロレンズm4からa4'の信号を抽出して、x[4]=(c3'+a4')/2,
x[5]はマイクロレンズm4からb4'の信号を抽出し、x[5]=b4'
以下、同様にする。一般式としては、
x[2n]= (cn+1’+an+2’)/2,
x[2n+1]=bn+2’
となる。
一方、第2信号列{y[i] }の信号は、1つのマイクロレンズmiの受光部の2つを使って、
y[0]はマイクロレンズm1からd1'の信号を抽出し、y[0]=e0',
y[1]はマイクロレンズm0からe0'の信号を抽出し、マイクロレンズm1からc1'の信号を抽出して、y[1]=(f0'+d1')/2,
y[2]はマイクロレンズm2からd2'の信号を抽出し、y[2]=e1',
y[3]はマイクロレンズm1からe1'の信号を抽出し、マイクロレンズm2からc2'の信号を抽出して、y[3]=(f1'+d2')/2,
y[4]はマイクロレンズm3からd3'の信号を抽出し、y[4]=e2',
y[5]はマイクロレンズm2からe2'の信号を抽出し、マイクロレンズm3からc3'の信号を抽出して、y[5]=(f2'+d3')/2
以下、同様にする。一般式としては、
y[2n]=en’,
y[2n+1]=(fn'+dn+1')/2
となる。
この場合、重心を考えると近似的には第1信号列{x[i] }は部分瞳Bを使い、第2信号列{y[i] }は部分瞳Eを使うことになり、結像光束の開き角は瞳部分Bと瞳部分Eがなす角θ6(ラジアン)である。上記式Df=Kf×ΔnのKfは、θ6を用いて、
Kf=Pf/θ6,
Df=Kf×Δn=Δn×Pf/θ6
で与えられる。
図5、図6に示す一実施の形態の信号列抽出方法と、図7、図8に示す第1の変形例の信号列抽出方法とを比較すると、一実施の形態の抽出方法では撮影レンズ射出瞳21a上の焦点検出用領域が移動するのに対し、第1の変形例の抽出方法では焦点検出用領域の移動はない。したがって、第1の変形例の抽出方法によれば焦点検出の安定性を向上させることができる。この場合も前述の例と同様に、検出対象光学系のF値に依存させて、第1信号列と第2信号列の作り方を変更するようにすることが好ましい。
《一実施の形態の第2の変形例》
第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の作り方として、別のアプローチを説明する。マイクロレンズの並びのピッチより細かいピッチでサンプリングする方法として、マイクロレンズの整数倍のサンプリングピッチを作り出すためにマイクロレンズの間に仮想的なマイクロレンズを想定するとともに、想定されたマイクロレンズ下の受光部アレイを想定する。そして、想定された受光部アレイの仮想出力は、隣接する実マイクロレンズ下の受光部アレイの出力から作り出す。こうして想定されたマイクロレンズ下の受光部アレイの仮想出力と実マイクロレンズ下の受光部アレイの出力を用いて、マイクロレンズ下から1受光部ずつの出力を選んで第1信号列{x[i] }を作り、これとは別の選び方をして第2信号列{y[i] }を作る。
図2および図3に示す構成を用い、隣接するマイクロレンズmiとmi+1の間に仮想のマイクロレンズmi+0.5を設定するとともに、その仮想マイクロレンズmi+0.5の背後、すなわち隣接する受光部piとpi+1の間に仮想の受光部 pi+o.5を設定し、仮想受光部 pi+o.5に含まれる仮想画素ai+o.5、bi+0.5、ci+0.5、di+0.5、ei+0.5、fi+0.5を含むすべての受光部piの画素出力から第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出する第2の変形例を説明する。
図9は、第2の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図である。図9において、隣接するマイクロレンズmi、mi+0.5、mi+1、隣接する受光部画素ai〜fi、ai+0.5〜fi+0.5、ai+1〜fi+1、隣接する焦点検出面15a上の画素像ai”〜fi”、ai+0.5”〜fi+0.5”、ai+1”〜fi+1”は、それぞれ実際には重なっているが、説明を理解しやすくするために撮影レンズ21の光軸21bの方向にずらして記載している。
この第2の変形例では、隣接する画素ai〜fiとai+1〜fi+1の間に設定した仮想画素ai+0.5〜fi+0.5の出力を、隣接画素ai〜fiとai+1〜fi+1の出力を用いて推定する。仮想画素出力ai+0.5’〜fi+0.5’を隣接画素出力ai’〜fi’とai+1’〜fi+1’の平均値とし、仮想画素ai+0.5〜fi+0.5を含む一連の画素出力から図10および図11に示すように第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出すれば、結果的に上述した第1の変形例の出力信号列と同等になる。図10は第1の変形例の図7に示す焦点検出の開角が狭い場合の抽出方法と同等な結果が得られ、図11は第1の変形例の図8に示す焦点検出の開角が広い場合の抽出方法と同等な結果が得られる。
なお、仮想画素出力を隣接画素出力の平均値とせず、重みを変えた加重平均値としてもよい。また、仮想画素出力を、仮想画素を中心とする3個以上の隣接画素の出力の平均値、あるいは重みを変えた加重平均値としてもよい。
《一実施の形態の第3の変形例》
次にマイクロレンズピッチの3倍のピッチでサンプリングする場合について第3の変形例を説明する。
隣接するマイクロレンズmiの受光部piの焦点検出面15aにおける画素像ai”〜fi”が、マイクロレンズmiの配列ピッチPm(図2参照)の中に3画素像ずつ入るように、換言すれば、隣接するマイクロレンズmiとmi+1の受光部piとpi+1の焦点検出面15aにおける画素像ai”〜fi”とai+1”〜fi+1”が、3画素像ずつずれるように、各マイクロレンズmiの曲率および/または各マイクロレンズmiから対応する受光部piまでの距離を設定する。
図12は、隣接する2個のマイクロレンズmi、mi+1により受光部アレイpi、pi+1が焦点検出面15a上に投影された様子を示した図である。図12において、隣接するマイクロレンズmiの受光部アレイpiの焦点検出面15aにおける受光部像ai”〜fi”が、マイクロレンズの配列ピッチの長さPmの中に3受光部像(例えばai”、bi”、ci”)ずつ入るように、換言すれば、隣接するマイクロレンズmiとmi+1の焦点検出面15aにおける受光部像ai”〜fi”とai+1”〜fi+1”が、3受光部像(例えばai”、bi”、ci”)ずつずれて並ぶ様になる位置に焦点検出面15aを設定する。
この例では図12に示すように、各マイクロレンズmiに対応する受光部アレイpiの受光部数を10個ai〜jiとし、直線上に等間隔に配列する。そして、各マイクロレンズmiにより焦点検出面15a上に投影された受光部ai〜jiの像をai”〜ji”とする。また、受光部ai〜jiをマイクロレンズmiにより撮影レンズ21の射出瞳21a上に投影したものが瞳部分A〜J(不図示)に略対応する。そして、受光部ai〜jiの出力をai ’〜ji’とする。
図13は、第3の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の他の抽出方法を説明する図である。この例では、(b)に示すように、各マイクロレンズmiに対応する受光部ai〜eiの5個の出力ai ’〜 ei ’を用いてサンプルピッチの長さがマイクロレンズピッチの1/3に相当する第1信号列{x[i] }を図13(b)式のごとくして作成する。同様に、5個の出力fi’〜ji’を用いてサンプルピッチの長さがマイクロレンズピッチの1/3に相当する第2信号列{y[i] }を図13(b)式のごとくして作成する。なお、合成式は図13(b)式に限るものではなく、図14(a)、(b)のようにしてもよい。
なお、上述した第2の変形例と同様に、隣接するマイクロレンズmiとmi+1との間に仮想のマイクロレンズm(i+1/3)とm(i+2/3)を設定し、仮想受光部アレイp(i+1/3)とp(i+2/3)の受光部出力から第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出する方法でもよい。
なお、上述した一実施の形態とその変形例では各マイクロレンズmiに対応する各受光部アレイpiに6個または10個の受光部を備えた例を示したが、受光部の個数はこの一実施の形態とその変形例の個数に限定されるものではない。また、すべての受光部に対応して1本のイメージセンサーを用い、各受光部ごとに対応する範囲を決めてもよい。
《一実施の形態の第4の変形例》
上述した一実施の形態とその変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法では、単一画素の出力あるいは複数の画素出力の平均値または加重平均値を用いて第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を生成する例を示したが、この第4の変形例では2個の画素の出力加算値を用いて第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を生成する例を示す。
図15は第4の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図であり、一実施の形態の図5および変形例の図7、図10に示す狭い焦点検出開角に対応する。また、図16は第4の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の他の抽出方法を説明する図であり、一実施の形態の図6および変形例の図8、図11に示す広い焦点検出開角に対応する。
図15において、各マイクロレンズmiに対応する受光部piごとに、画素出力bi’とci’を加算して第1信号列{x[i] }を生成するとともに、画素出力di’とei’を加算して第2信号列{y[i] }を生成する。この場合、撮影レンズ射出瞳21a上の焦点検出用領域BとCを含む領域および焦点検出用領域DとEを含む領域に焦点検出用領域が固定されるので、焦点検出領域の移動による焦点検出の不安定性はない。
図16において、各マイクロレンズmiに対応する受光部piごとに、画素出力ai’とbi’を加算して第1信号列{x[i] }を生成するとともに、画素出力ei’とfi’を加算して第2信号列{y[i] }を生成する。この場合、撮影レンズ射出瞳21a上の焦点検出用領域AとBを含む領域および焦点検出用領域EとFを含む領域に焦点検出用領域が固定されるので、焦点検出用領域の移動による焦点検出の不安定性はない。
この第4の変形例の抽出方法によれば、2個の画素の出力加算値を用いて第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を生成するので、微細パターンの検出能力は劣るが像信号のS/N比が向上し、被写体が暗い場合やデフォーカス量が大きい場合には有利である。したがって、被写体が暗い場合やデフォーカス量が大きい場合には、この第4の変形例の抽出方法によって第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を生成し、合焦近傍に達したら一実施の形態と第1および第2の変形例の画素抽出方法によって第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を生成するのが望ましく、このように抽出方法を切り換えることによって焦点検出における応答性、安定性および精度を向上させることができる。
なお、上述した第4の変形例では、受光部piごとに、2個の画素出力を加算して一方の信号とするとともに、抽出した画素出力と異なる2個の画素出力を加算して他方の信号とし、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出する信号列抽出方法を説明したが、受光部piごとに、3個またはそれ以上の画素出力を加算して一方の信号とするとともに、抽出した画素出力と異なる3個またはそれ以上の画素出力を加算して他方の信号とし、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出してもよい。
また、受光部piごとに、当該受光部piと隣接受光部pi+1の複数の画素出力の中から、複数の画素出力を加算して一方の信号とするとともに、抽出した画素出力と異なる複数の画素出力を加算して他方の信号とし、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出する信号列抽出方法としてもよい。
《一実施の形態の第5の変形例》
マイクロレンズアレイ15b上の周辺部のマイクロレンズでは、図3に示すように撮影レンズ21の中心を通過した光束がマイクロレンズに対して斜入射となり、焦点検出に悪影響を与える場合がある。このような不具合を避けるために、図17に示すように、マイクロレンズアレイ15bの前(撮影レンズ21側)にフィールドレンズ31を設置してもよい。
なお、フィールドレンズ31を用いずに、マイクロレンズアレイ15b上のマイクロレンズ位置に応じて画素配置をずらして配置してもよい。あるいは図18に示すように、マイクロレンズmiの像高hに応じて射出瞳21aに対応する画素をΔ(h)だけ変更するようにしてもよい。
以上説明したように、一実施の形態と変形例によれば、撮影レンズ21の予定焦点面15aから所定距離Lだけ離れた位置に、複数のマイクロレンズmiを所定ピッチPmで配列したマイクロレンズアレイ15bと、マイクロレンズアレイ15bの各マイクロレンズmi(i=0,1,2,・・)ごとに複数の光電変換素子(画素)ai〜jiを有する受光部piを配列し、各マイクロレンズmiを介して予定焦点面15a上の像を受光する焦点検出センサー15cと、焦点検出センサー15cの複数の受光部piの複数の画素の出力信号から、撮影レンズ21の射出瞳面21aの互いに異なる一対の焦点検出用領域を通過した一対の光束によって結像される一対の像に対応する第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }(i=0,1,2,・・)を抽出する複数像列作成部15fと、複数像列作成部15fにより抽出された第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }に基づいて、位相差検出方式により撮影レンズ21の焦点調節状態を演算する像ズレ量演算部15gおよびデフォーカス量演算部15hとを備えたので、マイクロレンズ方式の焦点検出において焦点検出精度を向上させることができる。
また、一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、受光部piごとに、複数の画素出力を抽出して一方の信号を生成するとともに、抽出した画素出力と異なる複数の画素出力を抽出して他方の信号を生成し、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出するようにしたので、マイクロレンズ方式の焦点検出において焦点検出精度を向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、受光部piごとに、当該受光部piと隣接受光部pi+1の複数の画素出力の中から、複数の画素出力を抽出して一方の信号を生成するとともに、抽出した画素出力と異なる複数の画素出力を抽出して他方の信号を生成し、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出するようにしたので、マイクロレンズ方式の焦点検出において焦点検出精度を向上させるとともに、焦点検出の安定性を向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、受光部piごとに、複数の画素出力を抽出して一方の信号を複数生成するとともに、抽出した画素出力と異なる複数の画素出力を抽出して他方の信号を複数生成し、複数の受光部piから一対の信号列{xi,yi}を抽出するようにしたので、マイクロレンズ方式の焦点検出において焦点検出精度をさらに向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、受光部piごとに、当該受光部piと隣接受光部pi+1の複数の画素出力の中から、複数の画素出力を抽出して一方の信号を複数生成するとともに、抽出した画素出力と異なる複数の画素出力を抽出して他方の信号を複数生成し、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出するようにしたので、マイクロレンズ方式の焦点検出における焦点検出精度と焦点検出の安定性をさらに向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、受光部piごとに、複数の画素出力を加算して一方の信号とするとともに、抽出した画素出力と異なる複数の画素出力を加算して他方の信号とし、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出するようにしたので、画素出力のS/N比が向上し、被写体が暗い場合やデフォーカス量が大きい場合でも焦点検出が可能となり、焦点検出における信頼性を向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、受光部piごとに、当該受光部piと隣接受光部pi+1の複数の画素出力の中から、複数の画素出力を加算して一方の信号とするとともに、抽出した画素出力と異なる複数の画素出力を加算して他方の信号とし、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出するようにしたので、画素出力のS/N比が向上し、被写体が暗い場合やデフォーカス量が大きい場合でも焦点検出が可能となり、焦点検出における信頼性をさらに向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、予定焦点面15aには各マイクロレンズmiによって各マイクロレンズmiに対応する受光部piの複数の画素の像が逆投影され、予定焦点面15aにおいてマイクロレンズmiの配列ピッチPmの中に画素の像が2個以上入るように、マイクロレンズmiの曲率および/またはマイクロレンズmiと受光部piとの距離を設定するようにしたので、マイクロレンズ方式の焦点検出において焦点検出精度をさらに向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、マイクロレンズmiとマイクロレンズmi+1との間に仮想のマイクロレンズmi+0.5を想定するとともに、受光部piと受光部pi+1との間に複数の画素を有する仮想の受光部pi+0.5を想定し、仮想の受光部pi+0.5の複数の画素の出力を隣接する受光部pi、pi+1の画素の出力に基づいて推定し、仮想の受光部pi+0.5を含むすべての受光部piごとに、複数の画素出力を抽出して一方の信号を生成するとともに、抽出した画素出力と異なる複数の画素出力を抽出して他方の信号を生成し、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出するようにしたので、マイクロレンズ方式の焦点検出において焦点検出精度を向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、マイクロレンズmiとマイクロレンズmi+1との間に仮想のマイクロレンズmi+0.5を想定するとともに、受光部piと受光部pi+1との間に複数の画素を有する仮想の受光部pi+0.5を想定し、仮想の受光部pi+0.5の複数の画素の出力を隣接する受光部pi、pi+1の画素の出力に基づいて推定し、仮想の受光部pi+0.5を含むすべての受光部piごとに、当該受光部piと隣接受光部pi+0.5、pi+1、・・の複数の画素出力の中から、複数の画素出力を抽出して一方の信号を生成するとともに、抽出した画素出力と異なる複数の画素出力を抽出して他方の信号を生成し、複数の受光部piから第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を抽出するようにしたので、マイクロレンズ方式の焦点検出において焦点検出精度をさらに向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、撮影レンズ21の射出瞳面21aの互いに異なる一対の焦点検出用領域を通過した一対の光束によって結像される一対の像のズレ量が大きいほど、受光部pi側から一対の焦点検出用領域を睨む開角が小さくなるように、第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を変更するようにしたので、一対の像ズレ量が大きいときは大きい開角の信号列抽出方法によって検出不能になることなく確実に焦点検出を実行し、一対の像ズレ量が小さくなったら小さい開角の信号列抽出方法によって正確な焦点検出結果が得られ、マイクロレンズ方式の焦点検出における信頼性と検出精度を向上させることができる。
一実施の形態とその変形例によれば、複数像列作成部15fによって、撮影レンズ21の開放F値が大きいほど、受光部pi側から一対の焦点検出用領域を睨む開角が小さくなるように、第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を変更するようにしたので、開放F値が大きな暗いレンズを用いる場合でも確実に精度よく焦点検出を行うことができる。
さらに、上述した一実施の形態とその変形例の焦点検出装置をカメラに装備することによって、撮影レンズの焦点調節における精度、安定性、信頼性を向上させることができる。
一実施の形態の焦点検出装置を備えたカメラの横断面図 一実施の形態の焦点検出装置の詳細な構成を示す図 結像光学系(撮影レンズなど)の撮像面と、焦点を検出する焦点検出装置の焦点検出面(結像光学系の予定焦点面)との共役関係を模式的に表した図 マイクロレンズの並びのピッチより細かい画像のサンプリングが可能とする構成を説明する図 一実施の具体的形態である一対の出力信号列、すなわち第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図 一実施の形態の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の他の抽出方法を説明する図 第1の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図 第1の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の他の抽出方法を説明する図 第2の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図 第2の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図 第2の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の他の抽出方法を説明する図 第3の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図 第3の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の他の抽出方法を説明する図 第3の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の他の抽出方法を説明する図 第4の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図 第4の変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の他の抽出方法を説明する図 第5の変形例の焦点検出光学系を示す図 第5の変形例の他の焦点検出光学系を示す図
符号の説明
15 焦点検出装置
15a 焦点検出面(撮影レンズ21の予定焦点面)
15b マイクロレンズアレイ
15c 焦点検出センサー
15e CPU
15f 複数像列作成部
15g 像ズレ量演算部
15h デフォーカス量演算部
21 撮影レンズ
mi(i=0,1,2,・・) マイクロレンズ
pi(i=0,1,2,・・) 受光部
ai〜ji(i=0,1,2,・・) 光電変換素子(画素)

Claims (9)

  1. 結像光学系の予定焦点面から所定距離離間した位置に複数のマイクロレンズを所定の配列ピッチで配列したマイクロレンズアレイと、
    前記結像光学系と前記マイクロレンズアレイとを介した光束を検出するように、前記各マイクロレンズに対して配置された複数の受光部を有する受光部アレイと、
    前記マイクロレンズごとに、前記複数の受光部で得られる受光信号からそれぞれ少なくともつの受光信号を選択して第1信号列を作成するとともに、前記マイクロレンズごとに、前記受光信号のうち前記第1信号列とは異なる少なくともつの受光信号を選択して第2信号列を作成する信号列抽出手段と、
    前記第1信号列で示される波形の位相と前記第2信号列で示される波形の位相とのずれを求める位相差検出手段と、
    前記ずれに基づいて、前記予定焦点面における前記結像光学系の結像状態を検出する結像状態検出手段と、を備え、
    前記予定焦点面と前記複数のマイクロレンズアレイとの間の前記所定距離は、前記各マイクロレンズによって前記予定焦点面に投影された前記複数の受光部の投影像が前記マイクロレンズの配列ピッチの間隔内に複数位置するように、定められていることを特徴とする焦点検出装置。
  2. 請求項1に記載の焦点検出装置であって、
    前記各マイクロレンズの前記複数の受光部は、前記結像光学系の互いに異なった瞳部分をそれぞれ通過した光束を受光し、
    前記第1信号列の作成のために選択された前記2つの受光信号を出力する受光部は、互いに隣接した第1及び第2の瞳部分を通過した光束をそれぞれ受光し、
    前記第2信号列の作成のために選択された前記2つの受光信号を出力する受光部は、互いに隣接した第3及び第4の瞳部分を通過した光束をそれぞれ受光することを特徴とする焦点検出装置。
  3. 請求項2に記載の焦点検出装置であって、
    前記第1及び第2の瞳部分と前記第3及び第4の瞳部分とは、前記結像光学系の光軸に関して、ほぼ対称な位置に位置していることを特徴とする焦点検出装置。
  4. 請求項に記載の焦点検出装置であって、
    前記各マイクロレンズの前記複数の受光部は、前記結像光学系の互いに異なった瞳部分をそれぞれ通過した光束を受光し、
    前記信号列抽出手段は、前記第1信号列及び前記第2信号列をそれぞれ作成するために
    少なくとも3つの受光信号をそれぞれ選択し、
    前記第1信号列の作成のために選択された前記3つの受光信号を出力する受光部は、互いに隣接した第1、第2、及び第3の瞳部分を通過した光束をそれぞれ受光し、
    前記第2信号列の作成のために選択された前記3つの受光信号を出力する受光部は、互いに隣接した第4、第5、及び第6の瞳部分を通過した光束をそれぞれ受光することを特徴とする焦点検出装置。
  5. 請求項に記載の焦点検出装置であって、
    前記第1及び第2の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで一方側に位置し、前記第3の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで他方側に位置し、
    前記第4及び第5の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで前記他方側に位置し、前記第6の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで前記一方側に位置し、
    前記第1及び第2の瞳部分と前記第4及び第5の瞳部分とは、前記結像光学系の光軸に関して、ほぼ対称な位置に位置し、
    前記第3の瞳部分と前記第6の瞳部分とは、前記結像光学系の光軸に関して、ほぼ対称な位置に位置することを特徴とする焦点検出装置。
  6. 請求項に記載の焦点検出装置であって、
    前記第1、第2及び第3の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで一方側に位置し、
    前記第4、第5及び第6の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで他方側に位置し、
    前記第1、第2及び第3の瞳部分と前記第4、第5及び第6の瞳部分とは、前記結像光学系の光軸に関して、ほぼ対称な位置に位置することを特徴とする焦点検出装置。
  7. 請求項4に記載の焦点検出装置であって、
    前記各マイクロレンズの前記複数の受光部は、前記結像光学系の互いに異なった瞳部分をそれぞれ通過した光束を受光し、
    前記信号列抽出手段は、前記第1信号列及び前記第2信号列をそれぞれ作成するために少なくとも3つの受光信号をそれぞれ選択し、選択された複数の受光信号の一部について平均値を算出して、前記平均値を前記第1及び第2信号列の一部とすることを特徴とする焦点検出装置。
  8. 請求項1に記載の焦点検出装置であって、
    前記各マイクロレンズの前記複数の受光部は、前記結像光学系の互いに異なった瞳部分をそれぞれ通過した光束を受光し、
    前記信号列抽出手段は、前記結像光学系のF値が所定値以下である場合に、前記結像光学系の光軸から相対的に離れた瞳部分を通過した光束を受光する受光部の受光信号を選択し、前記結像光学系のF値が所定値より大きい場合に、前記結像光学系の光軸に相対的に近い瞳部分を通過した光束を受光する受光部の受光信号を選択することを特徴とする焦点検出装置。
  9. 請求項1〜8のいずれか一項に記載の焦点検出装置と、
    結像光学系と、
    撮像素子と、を備えたことを特徴とする撮像装置。
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