JP4802864B2 - 焦点検出装置および撮像装置 - Google Patents
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Description
また、撮影光学系の予定焦点面にマイクロレンズアレイを配置するとともに、各マイクロレンズごとに4つの受光部(順に、左外、左中、右中、右外)を設け、撮影光学系の明るさに応じて、一対の信号列を作るのに選択する受光部の組を変えるように構成された焦点検出装置が知られている。(例えば、特許文献2参照)。
なお、一般に対象とする結像光学系の径はcmのオーダーであるのに対して、マイクロレンズの径は100ミクロン程度あるいはそれ以下のオーダーなので、そのままの比例関係で図示することは困難であり、マイクロレンズと受光部アレイの部分は、説明の為に大きく拡大された概念図である。
図3に示す構成において、上述のような第1信号列および第2信号列を作成することにより、マイクロレンズの配列ピッチより細かいピッチでサンプリングした信号を作ることが出来る。
Ck=Σ|x[i]−y[i+k]|
上式において、kはシフト量(整数値)であり、Σはiに関する所定範囲の総和である。
DL=0.5×(Cー1−C1),
E=MAX{C1−C0,Cー1−C0},
La=L+DL/E
のように求める。これに必要に応じて焦点検出面の位置に依存した補正量(定数const)を加えて2像{x[i]}と{y[i]}のサンプルピッチ単位のずれ量Δnを算出する。
Δn=La+const
Df=Kf×Δn
で算出できる。単に像のずれの量を求めるためには、シフト量Lの1単位に相当する長さをPfとして、
Zure=Pf×Δn
で算出できる。
図5は、一実施の具体的形態である一対の出力信号列、即ち第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法を説明する図である。この例では、各マイクロレンズmiに対応する受光部アレイpiの受光部ai〜fiの出力ai’〜fi’の中から、bi’とci’の2個の出力を抽出して一方の信号 x[i] を2個生成するとともに、上記で抽出した出力と異なるdi’とei’の2個の出力を抽出して他方の信号 y[i] を2個生成し、第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }とする。
x[0]はマイクロレンズm1からb1'の信号を抽出し、x[0]=b1',
x[1]はマイクロレンズm1からc1'の信号を抽出し、x[1]=c1',
x[2]はマイクロレンズm2からb2'の信号を抽出し、x[2]=b2',
x[3]はマイクロレンズm2からc2'の信号を抽出し、x[3]=c2',
x[4]はマイクロレンズm3からb3'の信号を抽出し、x[2]=b3',
x[5]はマイクロレンズm3からc3'の信号を抽出し、x[3]=c3'
以下、同様にする。
y[0]はマイクロレンズm0からd0'の信号を抽出し、y[0]=d0',
y[1]はマイクロレンズm0からe0'の信号を抽出し、y[1]=e0',
y[2]はマイクロレンズm1からd1'の信号を抽出し、y[2]=d1',
y[3]はマイクロレンズm1からe1'の信号を抽出し、y[3]=e1',
y[4]はマイクロレンズm2からd2'の信号を抽出し、y[2]=d2',
y[5]はマイクロレンズm2からe2'の信号を抽出し、y[3]=e2'
以下、同様にする。
Kf=Pf/θ12,
Df=Kf×Δn=Δn×Pf/θ12
で与えられる。この式から明らかな様に検出開角θ12が大きいほど一定のずれ量Δnに対するデフォーカス量Dfが小さく、検出精度が良いことになる。
x[0]はマイクロレンズm2からa2'の信号を抽出し、x[0]=a2',
x[1]はマイクロレンズm2からb2'の信号を抽出し、x[1]=b2',
x[2]はマイクロレンズm3からa3'の信号を抽出し、x[2]=a3',
x[3]はマイクロレンズm3からb3'の信号を抽出し、x[3]=b3',
x[4]はマイクロレンズm4からa4'の信号を抽出し、x[2]=a4',
x[5]はマイクロレンズm4からb4'の信号を抽出し、x[3]=b4'
以下、同様にする。
y[0]はマイクロレンズm0からe0'の信号を抽出し、y[0]=e0',
y[1]はマイクロレンズm0からf0'の信号を抽出し、y[1]=f0',
y[2]はマイクロレンズm1からe1'の信号を抽出し、y[2]=e1',
y[3]はマイクロレンズm1からf1'の信号を抽出し、y[3]=f1',
y[4]はマイクロレンズm2からe2'の信号を抽出し、y[2]=e2',
y[5]はマイクロレンズm2からf2'の信号を抽出し、y[3]=f2'
以下、同様にする。
Kf=Pf/θ34,
Df=Kf×Δn=Δn×Pf/θ34
で与えられる。検出開角θ12<θ34なので一定のずれ量Δnに対するデフォーカス量Dfが小さく、検出開角θ34の場合の方が検出精度が良いことになる。
図5および図6に示す一実施の形態の画素出力の抽出方法では、第1信号列を構成する受光部に対応する瞳部分A〜Fが受光部に依存して移動するという不安定要素がある。例えば、図5に示す例では一方の信号x[i]に画素biとciの出力を用いるので射出瞳21a上の瞳部分はBとCの間を移動し、また他方の信号y[i]に画素diとeiの出力を用いるので射出瞳21a上の瞳部分はDとEの間を移動する。
x[0]はマイクロレンズm1からc1'の信号を抽出し、x[0]=c1',
x[1]はマイクロレンズm1からd1'の信号を抽出し、マイクロレンズm2からb2'の信号を抽出して、x[1]=(d1'+b2')/2,
x[2]はマイクロレンズm2からb2'の信号を抽出し、x[2]=c2',
x[3]はマイクロレンズm2からd2'の信号を抽出し、マイクロレンズm3からb3'の信号を抽出して、x[3]=(d2'+b3')/2,
x[4]はマイクロレンズm3からc3'の信号を抽出し、x[4]=c3',
x[5]はマイクロレンズm3からd3'の信号を抽出し、マイクロレンズm4からb4'の信号を抽出して、x[5]=(d3'+b4')/2
以下、同様にする。一般式としては、
x[2n]=cn+1',
x[2n+1]=(dn+1’+bn+2’)/2
となる。
y[0]はマイクロレンズm0からe0'の信号を抽出し、マイクロレンズm1からc1'の信号を抽出して、y[0]=(e0'+c1')/2,
y[1]はマイクロレンズm1からd1'の信号を抽出し、y[1]=d1',
y[2]はマイクロレンズm1からe1'の信号を抽出し、マイクロレンズm2からc2'の信号を抽出して、y[2]=(e1'+c2')/2,
y[3]はマイクロレンズm2からd2'の信号を抽出し、y[3]=d2',
y[4]はマイクロレンズm2からe2'の信号を抽出し、マイクロレンズm3からc3'の信号を抽出して、y[4]=(e2'+c3')/2,
y[5]はマイクロレンズm3からd3'の信号を抽出し、y[5]=d3'
以下、同様にする。一般式としては
y[2n]=(en’+cn+1’)/2,
y[2n+1]=dn+1'
となる。
Kf=Pf/θ5,
Df=Kf×Δn=Δn×Pf/θ5
で与えられる。
x[0]はマイクロレンズm1からc1'の信号を抽出し、マイクロレンズm2からa2'の信号を抽出して、x[0]=(c1'+a2')/2,
x[1]はマイクロレンズm2からb2'の信号を抽出し、x[1]=b2',
x[2]はマイクロレンズm2からc2'の信号を抽出し、マイクロレンズm3からa3'の信号を抽出して、x[2]=(c2'+a3')/2,
x[3]はマイクロレンズm3からb3'の信号を抽出し、x[3]=b3',
x[4]はマイクロレンズm3からc3'の信号を抽出し、マイクロレンズm4からa4'の信号を抽出して、x[4]=(c3'+a4')/2,
x[5]はマイクロレンズm4からb4'の信号を抽出し、x[5]=b4'
以下、同様にする。一般式としては、
x[2n]= (cn+1’+an+2’)/2,
x[2n+1]=bn+2’
となる。
y[0]はマイクロレンズm1からd1'の信号を抽出し、y[0]=e0',
y[1]はマイクロレンズm0からe0'の信号を抽出し、マイクロレンズm1からc1'の信号を抽出して、y[1]=(f0'+d1')/2,
y[2]はマイクロレンズm2からd2'の信号を抽出し、y[2]=e1',
y[3]はマイクロレンズm1からe1'の信号を抽出し、マイクロレンズm2からc2'の信号を抽出して、y[3]=(f1'+d2')/2,
y[4]はマイクロレンズm3からd3'の信号を抽出し、y[4]=e2',
y[5]はマイクロレンズm2からe2'の信号を抽出し、マイクロレンズm3からc3'の信号を抽出して、y[5]=(f2'+d3')/2
以下、同様にする。一般式としては、
y[2n]=en’,
y[2n+1]=(fn'+dn+1')/2
となる。
Kf=Pf/θ6,
Df=Kf×Δn=Δn×Pf/θ6
で与えられる。
第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の作り方として、別のアプローチを説明する。マイクロレンズの並びのピッチより細かいピッチでサンプリングする方法として、マイクロレンズの整数倍のサンプリングピッチを作り出すためにマイクロレンズの間に仮想的なマイクロレンズを想定するとともに、想定されたマイクロレンズ下の受光部アレイを想定する。そして、想定された受光部アレイの仮想出力は、隣接する実マイクロレンズ下の受光部アレイの出力から作り出す。こうして想定されたマイクロレンズ下の受光部アレイの仮想出力と実マイクロレンズ下の受光部アレイの出力を用いて、マイクロレンズ下から1受光部ずつの出力を選んで第1信号列{x[i] }を作り、これとは別の選び方をして第2信号列{y[i] }を作る。
次にマイクロレンズピッチの3倍のピッチでサンプリングする場合について第3の変形例を説明する。
隣接するマイクロレンズmiの受光部piの焦点検出面15aにおける画素像ai”〜fi”が、マイクロレンズmiの配列ピッチPm(図2参照)の中に3画素像ずつ入るように、換言すれば、隣接するマイクロレンズmiとmi+1の受光部piとpi+1の焦点検出面15aにおける画素像ai”〜fi”とai+1”〜fi+1”が、3画素像ずつずれるように、各マイクロレンズmiの曲率および/または各マイクロレンズmiから対応する受光部piまでの距離を設定する。
上述した一実施の形態とその変形例の第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }の抽出方法では、単一画素の出力あるいは複数の画素出力の平均値または加重平均値を用いて第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を生成する例を示したが、この第4の変形例では2個の画素の出力加算値を用いて第1信号列{x[i] }と第2信号列{y[i] }を生成する例を示す。
マイクロレンズアレイ15b上の周辺部のマイクロレンズでは、図3に示すように撮影レンズ21の中心を通過した光束がマイクロレンズに対して斜入射となり、焦点検出に悪影響を与える場合がある。このような不具合を避けるために、図17に示すように、マイクロレンズアレイ15bの前(撮影レンズ21側)にフィールドレンズ31を設置してもよい。
15a 焦点検出面(撮影レンズ21の予定焦点面)
15b マイクロレンズアレイ
15c 焦点検出センサー
15e CPU
15f 複数像列作成部
15g 像ズレ量演算部
15h デフォーカス量演算部
21 撮影レンズ
mi(i=0,1,2,・・) マイクロレンズ
pi(i=0,1,2,・・) 受光部
ai〜ji(i=0,1,2,・・) 光電変換素子(画素)
Claims (9)
- 結像光学系の予定焦点面から所定距離離間した位置に複数のマイクロレンズを所定の配列ピッチで配列したマイクロレンズアレイと、
前記結像光学系と前記マイクロレンズアレイとを介した光束を検出するように、前記各マイクロレンズに対して配置された複数の受光部を有する受光部アレイと、
前記マイクロレンズごとに、前記複数の受光部で得られる受光信号からそれぞれ少なくとも2つの受光信号を選択して第1信号列を作成するとともに、前記マイクロレンズごとに、前記受光信号のうち前記第1信号列とは異なる少なくとも2つの受光信号を選択して第2信号列を作成する信号列抽出手段と、
前記第1信号列で示される波形の位相と前記第2信号列で示される波形の位相とのずれを求める位相差検出手段と、
前記ずれに基づいて、前記予定焦点面における前記結像光学系の結像状態を検出する結像状態検出手段と、を備え、
前記予定焦点面と前記複数のマイクロレンズアレイとの間の前記所定距離は、前記各マイクロレンズによって前記予定焦点面に投影された前記複数の受光部の投影像が前記マイクロレンズの配列ピッチの間隔内に複数位置するように、定められていることを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項1に記載の焦点検出装置であって、
前記各マイクロレンズの前記複数の受光部は、前記結像光学系の互いに異なった瞳部分をそれぞれ通過した光束を受光し、
前記第1信号列の作成のために選択された前記2つの受光信号を出力する受光部は、互いに隣接した第1及び第2の瞳部分を通過した光束をそれぞれ受光し、
前記第2信号列の作成のために選択された前記2つの受光信号を出力する受光部は、互いに隣接した第3及び第4の瞳部分を通過した光束をそれぞれ受光することを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項2に記載の焦点検出装置であって、
前記第1及び第2の瞳部分と前記第3及び第4の瞳部分とは、前記結像光学系の光軸に関して、ほぼ対称な位置に位置していることを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項2に記載の焦点検出装置であって、
前記各マイクロレンズの前記複数の受光部は、前記結像光学系の互いに異なった瞳部分をそれぞれ通過した光束を受光し、
前記信号列抽出手段は、前記第1信号列及び前記第2信号列をそれぞれ作成するために
少なくとも3つの受光信号をそれぞれ選択し、
前記第1信号列の作成のために選択された前記3つの受光信号を出力する受光部は、互いに隣接した第1、第2、及び第3の瞳部分を通過した光束をそれぞれ受光し、
前記第2信号列の作成のために選択された前記3つの受光信号を出力する受光部は、互いに隣接した第4、第5、及び第6の瞳部分を通過した光束をそれぞれ受光することを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項4に記載の焦点検出装置であって、
前記第1及び第2の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで一方側に位置し、前記第3の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで他方側に位置し、
前記第4及び第5の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで前記他方側に位置し、前記第6の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで前記一方側に位置し、
前記第1及び第2の瞳部分と前記第4及び第5の瞳部分とは、前記結像光学系の光軸に関して、ほぼ対称な位置に位置し、
前記第3の瞳部分と前記第6の瞳部分とは、前記結像光学系の光軸に関して、ほぼ対称な位置に位置することを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項4に記載の焦点検出装置であって、
前記第1、第2及び第3の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで一方側に位置し、
前記第4、第5及び第6の瞳部分は、前記結像光学系の光軸を挟んで他方側に位置し、
前記第1、第2及び第3の瞳部分と前記第4、第5及び第6の瞳部分とは、前記結像光学系の光軸に関して、ほぼ対称な位置に位置することを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項4に記載の焦点検出装置であって、
前記各マイクロレンズの前記複数の受光部は、前記結像光学系の互いに異なった瞳部分をそれぞれ通過した光束を受光し、
前記信号列抽出手段は、前記第1信号列及び前記第2信号列をそれぞれ作成するために少なくとも3つの受光信号をそれぞれ選択し、選択された複数の受光信号の一部について平均値を算出して、前記平均値を前記第1及び第2信号列の一部とすることを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項1に記載の焦点検出装置であって、
前記各マイクロレンズの前記複数の受光部は、前記結像光学系の互いに異なった瞳部分をそれぞれ通過した光束を受光し、
前記信号列抽出手段は、前記結像光学系のF値が所定値以下である場合に、前記結像光学系の光軸から相対的に離れた瞳部分を通過した光束を受光する受光部の受光信号を選択し、前記結像光学系のF値が所定値より大きい場合に、前記結像光学系の光軸に相対的に近い瞳部分を通過した光束を受光する受光部の受光信号を選択することを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項1〜8のいずれか一項に記載の焦点検出装置と、
結像光学系と、
撮像素子と、を備えたことを特徴とする撮像装置。
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