JP4779606B2 - Electronic substrate, manufacturing method thereof, and electronic apparatus - Google Patents

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Description

本発明は、電子基板、その製造方法および電子機器に関するものである。   The present invention relates to an electronic substrate, a manufacturing method thereof, and an electronic apparatus.

携帯電話やパーソナルコンピュータ等の電子機器には、電子回路が形成された電子基板(半導体チップ)が搭載されている。この電子基板は、抵抗やインダクタ素子、キャパシタ等の受動素子とともに利用される場合がある。特許文献1および特許文献2には、電子基板上にスパイラルインダクタ素子を形成する技術が提案されている。スパイラルインダクタ素子は、コアとなる台座の表面に渦巻き状の巻き線が形成されたものである。また非特許文献1には、電子基板上にトロイダルインダクタ素子を形成する技術が提案されている。トロイダルインダクタ素子は、リング状のコアの周りに、らせん状の巻き線が形成されたものである。
特開2002−164468号公報 特開2003−347410号公報 Ermolov et al,「Microreplicated RF Toroidal Inductor」,IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques,Vol.52,No.1,January 2004,p29-36
An electronic substrate (semiconductor chip) on which an electronic circuit is formed is mounted on an electronic device such as a mobile phone or a personal computer. This electronic substrate may be used together with passive elements such as resistors, inductor elements, and capacitors. Patent Documents 1 and 2 propose a technique for forming a spiral inductor element on an electronic substrate. The spiral inductor element has a spiral winding formed on the surface of a base serving as a core. Non-Patent Document 1 proposes a technique for forming a toroidal inductor element on an electronic substrate. In the toroidal inductor element, a spiral winding is formed around a ring-shaped core.
JP 2002-164468 A JP 2003-347410 A Ermolov et al, `` Microreplicated RF Toroidal Inductor '', IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol.52, No.1, January 2004, p29-36

しかしながら、インダクタ素子で発生する磁束と電子基板を構成するシリコンとの干渉により漏れ電流が発生するので、インダクタ素子のQ値(インダクタンスと抵抗値との比)の向上に限界があるという問題がある。
近時では、電子基板や半導体チップ上に形成されたインダクタ素子をチョークコイルや変圧器等電源回路の一部として機能させることが検討されている。この場合には、インダクタ素子のインダクタンス値の向上が不可欠である。しかしながら、インダクタ素子のインダクタンス値の向上には、コイルの多巻き化が伴い、多くの電流を流すために発熱も伴うことになる。そのため、電子基板の大型化の抑制および温度上昇の抑制が望まれている。
However, since leakage current is generated due to interference between the magnetic flux generated in the inductor element and silicon constituting the electronic substrate, there is a problem that there is a limit in improving the Q value (ratio between the inductance and the resistance value) of the inductor element. .
Recently, it has been studied to cause an inductor element formed on an electronic substrate or a semiconductor chip to function as a part of a power supply circuit such as a choke coil or a transformer. In this case, it is essential to improve the inductance value of the inductor element. However, the improvement of the inductance value of the inductor element is accompanied by an increase in the number of windings of the coil, and heat is also generated because a large amount of current flows. Therefore, suppression of the enlargement of an electronic substrate and suppression of a temperature rise are desired.

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、電気的特性を向上させることが可能であり、また放熱特性を向上させることが可能な電子基板、その製造方法および電子機器の提供を目的とする。   The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and it is possible to improve an electrical characteristic and an electronic substrate capable of improving a heat dissipation characteristic, a manufacturing method thereof, and an electronic device. For the purpose of provision.

上記目的を達成するため、本発明に係る電子基板は、基体上にインダクタ素子を備えた電子基板であって、前記基体上に形成された複数の第1配線と、前記複数の第1配線の中央部を覆うように連続形成された絶縁部材と、前記絶縁部材の表面を横断するように形成された複数の第2配線とを備え、前記第2配線は、一の前記第1配線の端部と、前記一の第1配線に隣接しない他の前記第1配線の端部とを、順に連結するように配置され、前記インダクタ素子は、前記第1配線および前記第2配線からなる複数本の巻き線を備えていることを特徴とする。
この構成によれば、複数本の巻き線を交互に配置することが可能になり、また巻き密度を向上させることが可能になる。これにより、磁束密度を増加させることが可能になり、インダクタ素子のインダクタンス値およびQ値を向上させることができる。したがって、電子基板の電気的特性を向上させることができる。
In order to achieve the above object, an electronic substrate according to the present invention is an electronic substrate including an inductor element on a base, and includes a plurality of first wirings formed on the base, and the plurality of first wirings. An insulating member continuously formed so as to cover a central portion; and a plurality of second wirings formed so as to cross a surface of the insulating member, wherein the second wiring is an end of the first wiring. And the end of the other first wiring not adjacent to the first first wiring are sequentially connected, and the inductor element includes a plurality of the first wiring and the second wiring. It is characterized by having a winding.
According to this configuration, a plurality of windings can be alternately arranged, and the winding density can be improved. As a result, the magnetic flux density can be increased, and the inductance value and Q value of the inductor element can be improved. Therefore, the electrical characteristics of the electronic substrate can be improved.

また前記インダクタ素子を外部に接続する電極を備え、前記複数本の巻き線が、それぞれ異なる前記電極に連結されていてもよい。
この構成によれば、複数本の巻き線を備えたインダクタ素子により変圧器を構成することが可能になる。
Further, an electrode for connecting the inductor element to the outside may be provided, and the plurality of windings may be coupled to different electrodes.
According to this structure, it becomes possible to comprise a transformer by the inductor element provided with the several winding.

また前記インダクタ素子を外部に接続する電極を備え、前記複数本の巻き線が、共通の前記電極に連結されていてもよい。
この構成によれば、高効率のインダクタ素子を備え、電気的特性に優れた電子基板を提供することができる。
Further, an electrode for connecting the inductor element to the outside may be provided, and the plurality of windings may be coupled to the common electrode.
According to this configuration, it is possible to provide an electronic substrate that includes a highly efficient inductor element and has excellent electrical characteristics.

また前記絶縁部材は、磁性体材料で構成されていることが望ましい。
この構成によれば、磁束密度を増加させることが可能になり、電子基板の電気的特性を向上させることができる。
The insulating member is preferably made of a magnetic material.
According to this configuration, the magnetic flux density can be increased, and the electrical characteristics of the electronic substrate can be improved.

また前記基体の周囲の全部または一部が、前記基体より熱伝導率の高い材料からなる放熱部材で覆われていることが望ましい。
この構成によれば、電子基板で発生した熱を迅速に外部に放出することが可能になる。したがって、電子基板の温度上昇を抑制することができる。
It is desirable that all or part of the periphery of the base is covered with a heat radiating member made of a material having a higher thermal conductivity than the base.
According to this configuration, it is possible to quickly release the heat generated in the electronic substrate to the outside. Therefore, the temperature rise of the electronic substrate can be suppressed.

また前記放熱部材は、金属微粒子を分散させた接着剤を介して、前記基体に固着されていることが望ましい。
金属微粒子を分散させることにより、接着剤の熱伝導率が高くなるので、電子基板で発生した熱を迅速に外部に放出することが可能になる。したがって、電子基板の温度上昇を抑制することができる。
Moreover, it is desirable that the heat dissipating member is fixed to the base via an adhesive in which metal fine particles are dispersed.
Dispersing the metal fine particles increases the thermal conductivity of the adhesive, so that the heat generated in the electronic substrate can be quickly released to the outside. Therefore, the temperature rise of the electronic substrate can be suppressed.

一方、本発明に係る電子基板の製造方法は、基体上にインダクタ素子を備えた電子基板の製造方法であって、前記基体上に複数の第1配線を形成する工程と、前記複数の第1配線の中央部を覆うように絶縁部材を連続形成する工程と、前記絶縁部材の表面を横断するように複数の第2配線を形成する工程とを備え、前記第2配線を形成する工程では、一の前記第1配線の端部と、前記一の第1配線に隣接しない他の前記第1配線の端部とを、順に連結するように第2配線を配置することにより、前記第1配線および前記第2配線からなる複数本の巻き線を備えた前記インダクタ素子を形成することを特徴とする。
この構成によれば、複数本の巻き線を備えたインダクタ素子を簡単に形成することができる。
On the other hand, an electronic substrate manufacturing method according to the present invention is an electronic substrate manufacturing method including an inductor element on a base, the step of forming a plurality of first wires on the base, and the plurality of first A step of continuously forming an insulating member so as to cover a central portion of the wiring, and a step of forming a plurality of second wirings so as to cross the surface of the insulating member, and in the step of forming the second wiring, By arranging the second wiring so as to sequentially connect the end portion of the one first wiring and the end portion of the other first wiring not adjacent to the one first wiring, the first wiring The inductor element having a plurality of windings made of the second wiring is formed.
According to this configuration, it is possible to easily form an inductor element having a plurality of windings.

また前記第2配線の形成工程では、前記インダクタ素子を外部に接続する電極と、前記第1配線または前記第2配線との連結配線を形成することが望ましい。
この構成によれば、連結配線を連結すべき第1配線または第2配線を変更することにより、巻き線の巻き数の変更を行うことが可能になり、インダクタ素子の特性変更を低コストで行うことができる。これにより、変圧器の変圧率の変更等を簡単に行うことができる。
In the step of forming the second wiring, it is desirable to form a connection wiring between the electrode for connecting the inductor element to the outside and the first wiring or the second wiring.
According to this configuration, the number of turns of the winding can be changed by changing the first wiring or the second wiring to which the connection wiring is to be connected, and the characteristics of the inductor element can be changed at low cost. be able to. Thereby, change of the transformation rate of a transformer, etc. can be performed easily.

一方、本発明に係る電子機器は、上述した電子基板を備えたことを特徴とする。
この構成によれば、電気的特性に優れた低コストの電子基板を備えているので、電気的特性に優れた低コストの電子機器を提供することができる。
On the other hand, an electronic apparatus according to the present invention includes the above-described electronic substrate.
According to this configuration, since the low-cost electronic substrate having excellent electrical characteristics is provided, a low-cost electronic device having excellent electrical characteristics can be provided.

以下、本発明の実施形態につき、図面を参照して説明する。なお、以下の説明に用いる各図面では、各部材を認識可能な大きさとするため、各部材の縮尺を適宜変更している。
(第1実施形態)
図1は電子基板の説明図であり、図1(a)は平面図であり、図1(b)は図1(a)のB−B線における側面断面図である。なお図1(a)では、後述するソルダーレジストおよび放熱部材の記載を省略している。図1(a)に示すように、本実施形態に係る電子基板1は、例えばICやLSI等の集積回路のベアチップであり、基体10の表面上にインダクタ素子40を備えている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In each drawing used for the following description, the scale of each member is appropriately changed to make each member a recognizable size.
(First embodiment)
FIG. 1 is an explanatory view of an electronic substrate, FIG. 1 (a) is a plan view, and FIG. 1 (b) is a side sectional view taken along line BB of FIG. 1 (a). In FIG. 1A, description of a solder resist and a heat radiating member, which will be described later, is omitted. As shown in FIG. 1A, the electronic substrate 1 according to this embodiment is a bare chip of an integrated circuit such as an IC or LSI, and includes an inductor element 40 on the surface of the base 10.

図1(b)に示すように、電子基板1は、シリコンやガラス、石英、水晶等からなる基体10を備えている。その基体10の表面には、電子回路(不図示)が形成されている。その電子回路は、少なくとも配線パターンが形成されており、複数のパッシブコンポーネント(部品)や複数のトランジスタ、複数の薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;TFT)等の半導体素子や、それらを相互に接続する配線等によって構成されている。その電子回路を保護するため、基体10の表面には、SiN等の電気絶縁性材料からなるパッシベーション膜8が形成されている。一方、基体10の表面周縁部や中央部には、電子回路を外部に電気的接続するための電極62が形成されている。その電極62の表面には、パッシベーション膜8の開口部が形成されている。   As shown in FIG. 1B, the electronic substrate 1 includes a base 10 made of silicon, glass, quartz, quartz, or the like. An electronic circuit (not shown) is formed on the surface of the base 10. In the electronic circuit, at least a wiring pattern is formed, semiconductor elements such as a plurality of passive components (components), a plurality of transistors, a plurality of thin film transistors (TFTs), and wirings connecting them to each other. It is constituted by. In order to protect the electronic circuit, a passivation film 8 made of an electrically insulating material such as SiN is formed on the surface of the base 10. On the other hand, an electrode 62 for electrically connecting the electronic circuit to the outside is formed on the peripheral edge portion and the center portion of the base 10. An opening of the passivation film 8 is formed on the surface of the electrode 62.

(インダクタ素子)
図2はインダクタ素子の説明図であり、図2(a)は平面図であり、図2(b)は図2(a)のC−C線における側面断面図である。なお図2(a)では、後述するソルダーレジストおよび放熱部材の記載を省略している。また図2(a)では、紙面上側を+Y方向とし、紙面右側を+X方向としている。図2(a)に示すように、インダクタ素子40は、ライン状の磁性層(絶縁部材)31と、磁性層31の裏面を横断するように配置された複数の第1配線12と、磁性層31の表面を横断するように配置された複数の第2配線22とを備え、第1配線12および第2配線22によりらせん状の巻き線41が形成されている。そして、一次側の巻き線141および二次側の巻き線241を、磁性層31からなるコア42の周囲に配置して、一次、二次を有するインダクタが形成されている。これは、高周波入力段、I/F段(中間周波数段)のコイルや変圧器(トランス)として機能させることができる。高周波用として用いるインダクタの場合は、必ずしも磁性層は必要でなく、磁性層の代わりに樹脂層を用いても良い。それらは、後述する応力緩和層用の樹脂でも良い。このことは、後述するすべての実施形態で同様である。
(Inductor element)
FIG. 2 is an explanatory diagram of the inductor element, FIG. 2 (a) is a plan view, and FIG. 2 (b) is a side cross-sectional view taken along line CC in FIG. 2 (a). In FIG. 2A, descriptions of a solder resist and a heat radiating member, which will be described later, are omitted. In FIG. 2A, the upper side of the paper surface is the + Y direction, and the right side of the paper surface is the + X direction. As shown in FIG. 2A, the inductor element 40 includes a line-shaped magnetic layer (insulating member) 31, a plurality of first wirings 12 arranged so as to cross the back surface of the magnetic layer 31, and a magnetic layer. A plurality of second wirings 22 arranged so as to cross the surface of 31, and a spiral winding 41 is formed by the first wiring 12 and the second wiring 22. The primary side winding 141 and the secondary side winding 241 are arranged around the core 42 made of the magnetic layer 31 to form an inductor having a primary and a secondary. This can function as a high frequency input stage, an I / F stage (intermediate frequency stage) coil or a transformer. In the case of an inductor used for high frequency, a magnetic layer is not necessarily required, and a resin layer may be used instead of the magnetic layer. They may be a resin for a stress relaxation layer described later. This is the same in all embodiments described later.

図2(b)に示すように、パッシベーション膜8の表面に第1配線12が形成されている。この第1配線12は、銅(Cu)、金(Au)、銀(Ag)、チタン(Ti)、タングステン(W)、チタンタングステン(TiW)、窒化チタン(TiN)、ニッケル(Ni)、ニッケルバナジウム(NiV)、クロム(Cr)、アルミニウム(Al)、パラジウム(Pd)等の導電性材料で形成されている。なおインダクタ素子40の巻き線として必要な抵抗レンジや耐許容電流値等の特性に応じて、第1配線12の構成材料を適宜選択することができる。なお電解メッキ法により第1配線12を形成する場合には、第1配線12は下地層の表面に形成されるが、図2(b)では下地層の記載を省略している。   As shown in FIG. 2B, the first wiring 12 is formed on the surface of the passivation film 8. The first wiring 12 includes copper (Cu), gold (Au), silver (Ag), titanium (Ti), tungsten (W), titanium tungsten (TiW), titanium nitride (TiN), nickel (Ni), nickel It is made of a conductive material such as vanadium (NiV), chromium (Cr), aluminum (Al), or palladium (Pd). It should be noted that the constituent material of the first wiring 12 can be appropriately selected according to characteristics such as a resistance range necessary for the winding of the inductor element 40 and an allowable current value. In the case where the first wiring 12 is formed by electrolytic plating, the first wiring 12 is formed on the surface of the underlayer, but the description of the underlayer is omitted in FIG.

図2(a)に示すように、第1配線12は略平行四辺形状にパターニングされ、複数の第1配線12が略平行に配置されている。なお隣接する第1配線12間のスペースは、フォトリソグラフィの解像限界付近の一定幅に形成することが望ましい。これにより、第1配線12のL/S(Line and Space)の比率が大きくなり、配線抵抗を低減することができる。そして複数の第1配線12のうち、+Y側の端部に配置された第1配線118が、連結配線111aを介して一次側電極111に連結され、その隣に配置された第1配線218が、連結配線211aを介して二次側電極211に連結されている。   As shown in FIG. 2A, the first wiring 12 is patterned into a substantially parallelogram shape, and a plurality of first wirings 12 are arranged substantially in parallel. The space between the adjacent first wirings 12 is desirably formed with a constant width near the resolution limit of photolithography. Thereby, the ratio of L / S (Line and Space) of the first wiring 12 is increased, and the wiring resistance can be reduced. Of the plurality of first wirings 12, the first wiring 118 arranged at the end on the + Y side is connected to the primary electrode 111 via the connection wiring 111a, and the first wiring 218 arranged next to the first wiring 118 is connected. The secondary electrode 211 is connected to the secondary electrode 211 via the connection wiring 211a.

複数の第1配線12の中央部を覆うように、ライン状の磁性層31が形成されている。
図2(b)に示すように、磁性層31の延在方向に垂直な断面は、略半円形状とされている。この磁性層31を構成する磁性体材料としてフェライトを採用することにより、磁性体材料を低コストで導入することができる。フェライトは、Fe2O3を主成分とし、2価の金属酸化物との複合酸化物の総称であり、電気絶縁性を有する。後述するようにフェライトは、第1金属であるFeと、第2金属であるMnやCo、Ni等とを、酸化することによって得ることができる。なおスピネル型フェライト(MFe2O4)は軟質磁性材料として、マグネトプランバイト型フェライト(MFe12O19)は永久磁石として、ガーネット型フェライト(MFe5O12;M=Y,Sm、Gd,Dy,Ho,Er,Yb)はマイクロ波用材料としてサーキュレータ、アイソレータ等に用いられる。フェライトは、酸化物であるため表面が絶縁状態であるから、後述するコイルパターンをその直上に形成することができる。鉄などの磁性金属層で磁性層31を形成する場合は、その表面を酸化したり、絶縁性の樹脂を被着させる等の絶縁処理を施すことが好ましい。また、磁性層はFe系などに代表される透磁率の高いアモルファス金属層でも良い。
A line-shaped magnetic layer 31 is formed so as to cover the central portion of the plurality of first wirings 12.
As shown in FIG. 2B, the cross section perpendicular to the extending direction of the magnetic layer 31 has a substantially semicircular shape. By adopting ferrite as the magnetic material constituting the magnetic layer 31, the magnetic material can be introduced at low cost. Ferrite is a general term for complex oxides composed mainly of Fe2O3 and divalent metal oxides, and has electrical insulation. As will be described later, ferrite can be obtained by oxidizing Fe, which is a first metal, and Mn, Co, Ni, etc., which are second metals. Spinel type ferrite (MFe2O4) is a soft magnetic material, magnetoplumbite type ferrite (MFe12O19) is a permanent magnet, and garnet type ferrite (MFe5O12; M = Y, Sm, Gd, Dy, Ho, Er, Yb) is a micro material. Used as a wave material for circulators, isolators and the like. Since ferrite is an oxide and has an insulating surface, a coil pattern to be described later can be formed immediately above. When the magnetic layer 31 is formed of a magnetic metal layer such as iron, it is preferable to perform an insulating process such as oxidizing the surface or depositing an insulating resin. Further, the magnetic layer may be an amorphous metal layer having a high magnetic permeability represented by an Fe-based material.

図2(a)に示すように、磁性層31の表面を横断するように第2配線22が形成されている。この第2配線22も、第1配線12と同様の導電性材料で形成されている。また第2配線22も略平行四辺形状にパターニングされ、複数の第2配線22が略平行に配置されている。なお隣接する第2配線22間のスペースも、フォトリソグラフィの解像限界付近の一定幅に形成することが望ましい。そして複数の第2配線22のうち、−Y側の端部に配置された第2配線128が、連結配線121aを介して一次側電極121に連結され、その隣に配置された第2配線228が、連結配線221aを介して二次側電極221に連結されている。   As shown in FIG. 2A, the second wiring 22 is formed so as to cross the surface of the magnetic layer 31. The second wiring 22 is also formed of the same conductive material as the first wiring 12. The second wiring 22 is also patterned into a substantially parallelogram shape, and a plurality of second wirings 22 are arranged substantially in parallel. It is desirable that the space between the adjacent second wirings 22 is also formed with a constant width near the resolution limit of photolithography. Of the plurality of second wirings 22, the second wiring 128 disposed at the end portion on the −Y side is coupled to the primary electrode 121 via the coupling wiring 121 a, and the second wiring 228 disposed adjacent thereto. Is connected to the secondary electrode 221 through the connecting wiring 221a.

複数の第2配線22は、一次側の第2配線122と、二次側の第2配線222とで構成されている。
一次側の第2配線122は、一の第1配線113の+X側の端部と、その一の第1配線113に隣接しない他の第1配線114の−X側の端部とを、順に連結するように配置されている。これらの第2配線122および第1配線113,114により、一次側の巻き線141が形成されている。この一次側の巻き線141は、一次側の電極111,121に接続されている。
The plurality of second wirings 22 includes a primary side second wiring 122 and a secondary side second wiring 222.
The second wiring 122 on the primary side includes, in order, an end on the + X side of one first wiring 113 and an end on the −X side of another first wiring 114 that is not adjacent to the first wiring 113. It is arranged to be connected. A primary winding 141 is formed by the second wiring 122 and the first wirings 113 and 114. The primary winding 141 is connected to the primary electrodes 111 and 121.

また二次側の第2配線222は、前記一の第1配線113に隣接する一の第1配線213の+X側の端部と、その一の第1配線213に隣接しない他の第1配線214の−X側の端部とを、順に連結するように配置されている。これらの第2配線222および第1配線213,214により、二次側の巻き線241が形成されている。この二次側の巻き線241は、二次側の電極211,221に接続されている。
このように、一次側の巻き線141および二次側の巻き線241を、磁性層31のコアの周囲に配置して、変圧器(トランス)が形成されている。これにより、本実施形態の電子基板は、電源回路用のICチップとして利用しうるようになっている。本実施例では、電極間にインダクタ素子40が挿入されている例について述べたが、挿入される場所は、電極と外部端子間や、外部端子と外部端子間、その他電子基板上に内蔵されたパッシブコンポーネント同士間等、接続先に関しては様々な変形が可能である。このことは、後述されるすべての実施形態で同様である。
The second wiring 222 on the secondary side includes the + X side end portion of the first wiring 213 adjacent to the first wiring 113 and the other first wiring not adjacent to the first wiring 213. It arrange | positions so that the -X side edge part of 214 may be connected in order. A secondary winding 241 is formed by the second wiring 222 and the first wirings 213 and 214. The secondary winding 241 is connected to the secondary electrodes 211 and 221.
In this manner, the primary winding 141 and the secondary winding 241 are arranged around the core of the magnetic layer 31 to form a transformer. Thereby, the electronic substrate of this embodiment can be utilized as an IC chip for a power supply circuit. In the present embodiment, the example in which the inductor element 40 is inserted between the electrodes has been described. However, the place where the inductor element 40 is inserted is between the electrode and the external terminal, between the external terminal and the external terminal, or in other electronic substrates. Various modifications can be made to the connection destination such as between passive components. This is the same in all embodiments described later.

上述したように、本実施形態では、一の第1配線の端部と、その一の第1配線に隣接しない他の第1配線の端部とを順に連結するように第2配線が配置され、第1配線および第2配線からなる複数本の巻き線を備えたインダクタ素子が形成されている構成とした。この構成によれば、複数本の巻き線を交互に配置することが可能になり、また巻き密度を向上させることが可能になる。これにより、磁束密度を増加させることが可能になり、電子基板の電気的特性を向上させることができる。
そしてインダクタ素子40のコア42を磁性体材料で構成することにより、磁束密度を増加させることが可能になり、インダクタ素子40のL値(インダクタ素子ンス)およびQ値を著しく向上させることができる。
As described above, in the present embodiment, the second wiring is arranged so as to sequentially connect the end of one first wiring and the end of another first wiring not adjacent to the first first wiring. The inductor element including a plurality of windings composed of the first wiring and the second wiring is formed. According to this configuration, a plurality of windings can be alternately arranged, and the winding density can be improved. As a result, the magnetic flux density can be increased, and the electrical characteristics of the electronic substrate can be improved.
By configuring the core 42 of the inductor element 40 with a magnetic material, the magnetic flux density can be increased, and the L value (inductor elementance) and Q value of the inductor element 40 can be significantly improved.

図3は、電子基板の変形例の説明図であり、図2(a)のC−C線に相当する部分における側面断面図である。図3に示す変形例では、パッシベーション膜8の裏側の略全面に導電層(電気的シールド層)7が形成されている。この導電層7は、電子回路の形成プロセスを利用して、AlやCu等の導電性材料により形成することが可能である。この導電層7を接地または一定電位に保持すれば、電磁シールド効果により、インダクタ素子40の磁界が基体10の能動素子を含む電子回路に及ぼす影響(カップリング)を低減することができる。なお導電層7は、インダクタ素子40と電子回路との間であれば、いかなる位置に形成してもよい。また導電層7は、電子基板の略全面に形成されていなくても、少なくともインダクタ素子40の形成領域に形成されていればよい。また、導電層のかわりに前述した磁性材料(フェライトやアモルファス金属層等)で磁気シールド層を形成してもよく、この方が磁気シールド特性は高く、インダクタ特性が向上する。また、図示しないが、インダクタの側面や上面にも、以下に説明するプロセスと同様のプロセスで電気もしくは磁気シールド層を形成しても良い。こうすることで、電気、磁気シールド特性は更に向上する。   FIG. 3 is an explanatory view of a modification of the electronic substrate, and is a side sectional view of a portion corresponding to the line CC in FIG. 2 (a). In the modification shown in FIG. 3, a conductive layer (electrical shield layer) 7 is formed on substantially the entire back surface of the passivation film 8. The conductive layer 7 can be formed of a conductive material such as Al or Cu using an electronic circuit formation process. If the conductive layer 7 is held at ground or at a constant potential, the influence (coupling) of the magnetic field of the inductor element 40 on the electronic circuit including the active element of the substrate 10 can be reduced by the electromagnetic shielding effect. The conductive layer 7 may be formed at any position between the inductor element 40 and the electronic circuit. In addition, the conductive layer 7 may be formed at least in the region where the inductor element 40 is formed, even though it is not formed on the substantially entire surface of the electronic substrate. Further, the magnetic shield layer may be formed of the above-described magnetic material (ferrite, amorphous metal layer, or the like) instead of the conductive layer, which has higher magnetic shield characteristics and improved inductor characteristics. Although not shown, an electric or magnetic shield layer may be formed on the side surface and upper surface of the inductor by the same process as described below. By doing so, the electrical and magnetic shield characteristics are further improved.

(再配置配線等)
図1(b)に示すように、本実施形態に係る電子基板1は、相手側部材との接続に使用される接続端子63と、基体10と相手側部材との応力差を緩和する応力緩和層30とを備えている。また、基体10の周囲が高熱伝導率の放熱部材72で覆われている。
(Relocation wiring, etc.)
As shown in FIG. 1B, the electronic substrate 1 according to the present embodiment has a connection terminal 63 used for connection with the mating member, and stress relaxation that relaxes the stress difference between the base 10 and the mating member. Layer 30. Further, the periphery of the substrate 10 is covered with a heat radiating member 72 having a high thermal conductivity.

図1(a)に示すように、電子基板1の周縁部に沿って、複数の電極62が整列配置されている。近年の電子基板1の小型化により、隣接する電極62間のピッチは非常に狭くなっている。この電子基板1を相手側部材に実装すると、隣接する電極62間に短絡が発生するおそれがある。そこで電極62間のピッチを広げるため、電極62の再配置配線64が形成されている。   As shown in FIG. 1A, a plurality of electrodes 62 are aligned along the peripheral edge of the electronic substrate 1. Due to the recent miniaturization of the electronic substrate 1, the pitch between the adjacent electrodes 62 has become very narrow. When the electronic substrate 1 is mounted on the mating member, there is a possibility that a short circuit occurs between the adjacent electrodes 62. Therefore, in order to widen the pitch between the electrodes 62, a rearrangement wiring 64 for the electrodes 62 is formed.

具体的には、電子基板1の表面中央部に、接続端子63を構成する複数のパッドが形成されている。その接続端子63に対して、電極62から引き出された再配置配線64が連結されている。これにより、狭ピッチの電極62が中央部に引き出されて広ピッチ化されている。このような電子基板1の形成には、ウエハの状態において一括して再配置配線や樹脂封止等を行なってから個々の電子基板1に分離する、W−CSP(Wafer level Chip Scale Package)技術が利用されている。   Specifically, a plurality of pads constituting the connection terminal 63 are formed at the center of the surface of the electronic substrate 1. A rearrangement wiring 64 drawn from the electrode 62 is connected to the connection terminal 63. As a result, the narrow-pitch electrodes 62 are drawn out to the central portion to widen the pitch. For the formation of such an electronic substrate 1, W-CSP (Wafer Level Chip Scale Package) technology in which rearrangement wiring, resin sealing, and the like are performed in a wafer state and then separated into individual electronic substrates 1. Is being used.

図1(b)に示すように、接続端子63の表面には、バンプ78が形成されている。このバンプ78は、例えばハンダバンプであり、印刷法等によって形成されている。このバンプ78が、相手側部材の接続端子に対して実装されるようになっている。   As shown in FIG. 1B, bumps 78 are formed on the surface of the connection terminal 63. The bumps 78 are, for example, solder bumps, and are formed by a printing method or the like. The bump 78 is mounted on the connection terminal of the counterpart member.

そのバンプ78の周囲には、ソルダーレジスト66が形成されている。このソルダーレジスト66は、バンプ78を相手側部材に実装する際にバンプ78の隔壁となるものであり、樹脂等の電気絶縁性材料によって構成されている。このソルダーレジスト66により、インダクタ素子を含む基体10の表面全体が覆われている。   A solder resist 66 is formed around the bump 78. The solder resist 66 serves as a partition wall of the bump 78 when the bump 78 is mounted on the counterpart member, and is made of an electrically insulating material such as a resin. The solder resist 66 covers the entire surface of the substrate 10 including the inductor element.

ところで、電子基板1を相手側部材に実装すると、電子基板1の基体10と相手側部材との熱膨張係数の差により、両者間に熱応力が発生する。この熱応力を緩和するため、接続端子63と基体10との間に応力緩和層30が形成されている。この応力緩和層30は、感光性ポリイミドやBCB(ベンゾシクロブテン)、フェノールノボラック樹脂等の樹脂材料により、所定の厚さに形成されている。   By the way, when the electronic substrate 1 is mounted on the counterpart member, a thermal stress is generated between the two due to the difference in thermal expansion coefficient between the base 10 of the electronic substrate 1 and the counterpart member. In order to relieve this thermal stress, the stress relaxation layer 30 is formed between the connection terminal 63 and the base body 10. The stress relaxation layer 30 is formed to a predetermined thickness from a resin material such as photosensitive polyimide, BCB (benzocyclobutene), or phenol novolac resin.

図1(a)に示すように、本実施形態の電子基板1では、インダクタ素子40の形成領域以外の領域に応力緩和層30が形成されている。なお応力緩和層30の表面にインダクタ素子を形成すれば、インダクタ素子40とシリコン等からなる基体10との距離を確保することが可能になり、シリコンとの磁束の干渉によって発生する漏れ電流を抑制することができる。これにより、インダクタ素子のQ値を向上させることが可能になり、インダクタ素子40の電気的特性を向上させることができる。   As shown in FIG. 1A, in the electronic substrate 1 of the present embodiment, the stress relaxation layer 30 is formed in a region other than the region where the inductor element 40 is formed. If an inductor element is formed on the surface of the stress relaxation layer 30, it is possible to secure a distance between the inductor element 40 and the substrate 10 made of silicon or the like, and suppress leakage current generated due to magnetic flux interference with silicon. can do. As a result, the Q value of the inductor element can be improved, and the electrical characteristics of the inductor element 40 can be improved.

図1(b)に戻り、基体10の裏面および側面を覆うように、放熱部材72が配置されている。この放熱部材72は、基体10の構成材料より熱伝導率の高い材料によって構成されている。例えば、基体10を構成するシリコンより熱伝導率が高いCuの薄板をプレス成型することにより、放熱部材72を形成することが可能である。   Returning to FIG. 1B, the heat radiating member 72 is disposed so as to cover the back surface and the side surface of the base 10. The heat radiating member 72 is made of a material having a higher thermal conductivity than the constituent material of the base body 10. For example, the heat radiating member 72 can be formed by press-molding a Cu thin plate having a higher thermal conductivity than that of silicon constituting the substrate 10.

この放熱部材72は、基体10の裏面に配置された接着剤71を介して基体10に固定されている。その接着剤71として、主成分となる樹脂ペーストに、熱伝導率の高い金属微粒子を分散させたものを採用することが望ましい。具体的には、Agの微粒子を分散させたAgペーストを採用することが可能である。接着剤71の塗布は、ディスペンサ等から吐出して行うことが可能である。   The heat radiating member 72 is fixed to the base 10 via an adhesive 71 disposed on the back surface of the base 10. As the adhesive 71, it is desirable to employ a resin paste that is a main component in which metal fine particles having high thermal conductivity are dispersed. Specifically, it is possible to employ an Ag paste in which Ag fine particles are dispersed. The adhesive 71 can be applied by discharging it from a dispenser or the like.

上述したように、本実施形態の電子基板1を電源回路に使用すると、インダクタ素子に大きな電流が流れて電子基板1が発熱する。本実施形態では、電子基板1の周囲を放熱部材72で覆うとともに、その放熱部材72を高熱伝導率の接着剤で基体10に固定したので、電子基板1で発生した熱を迅速に外部に放出することが可能になる。これにより、電子基板1の温度上昇を抑制することが可能になり、電子基板の信頼性を向上させることができる。その結果、本実施形態の電子基板を電源回路に使用することが可能になる。   As described above, when the electronic substrate 1 of the present embodiment is used in a power supply circuit, a large current flows through the inductor element and the electronic substrate 1 generates heat. In this embodiment, the periphery of the electronic substrate 1 is covered with the heat radiating member 72 and the heat radiating member 72 is fixed to the base body 10 with an adhesive having a high thermal conductivity. It becomes possible to do. Thereby, the temperature rise of the electronic substrate 1 can be suppressed, and the reliability of the electronic substrate can be improved. As a result, the electronic substrate of this embodiment can be used for the power supply circuit.

(実装構造)
図4は、第1実施形態に係る電子基板の実装構造の説明図であり、図1のB−B線に相当する部分における断面図である。図4に示すように、本実施形態に係る電子基板1は、相手側部材90に実装して使用する。この相手側部材90の表面には、配線パターン(不図示)およびランド92,94が形成されている。そのランド92,94の表面には、ハンダボール93,95が形成されている。本実施例では、はんだ接合方法についての説明を述べたが、ハンダボール93,95の代わりに、例えば銀ペーストなどの接着接合工法など、他の公知の実装方法を用いても良い。
(Mounting structure)
FIG. 4 is an explanatory diagram of the mounting structure of the electronic substrate according to the first embodiment, and is a cross-sectional view of a portion corresponding to the line BB in FIG. As shown in FIG. 4, the electronic substrate 1 according to this embodiment is used by being mounted on a counterpart member 90. A wiring pattern (not shown) and lands 92 and 94 are formed on the surface of the mating member 90. Solder balls 93 and 95 are formed on the surfaces of the lands 92 and 94. In this embodiment, the solder bonding method has been described. However, instead of the solder balls 93 and 95, other known mounting methods such as an adhesive bonding method such as silver paste may be used.

そして、電子基板1のハンダバンプ78と相手側部材90のハンダボール93とを結合させることにより、電子基板1の接続端子63と相手側部材90のランド92とが電気的接続されている。また電子基板1の放熱部材72が、ハンダボール95を介して、相手側部材90のランド94に接続されている。これらの接続は、リフローやFCB(Flip Chip Bonding)等を用いて一括して行うことが可能である。   Then, by connecting the solder bump 78 of the electronic substrate 1 and the solder ball 93 of the counterpart member 90, the connection terminal 63 of the electronic substrate 1 and the land 92 of the counterpart member 90 are electrically connected. Further, the heat radiating member 72 of the electronic substrate 1 is connected to the land 94 of the mating member 90 via the solder ball 95. These connections can be performed collectively using reflow, FCB (Flip Chip Bonding), or the like.

このように、放熱部材72を相手側部材90に接続することにより、電子基板1の放熱効率を向上させることができる。また、相手側部材90を介して放熱部材72を接地することが可能になり、電子基板1を外部から電気的に隔離することができる。これらにより、電子基板の信頼性を向上させることができる。   Thus, by connecting the heat dissipation member 72 to the counterpart member 90, the heat dissipation efficiency of the electronic substrate 1 can be improved. Further, the heat radiating member 72 can be grounded via the mating member 90, and the electronic substrate 1 can be electrically isolated from the outside. As a result, the reliability of the electronic substrate can be improved.

(電子基板の製造方法)
次に、第1実施形態に係る電子基板の製造方法について説明する。
図5は、第1実施形態に係る電子基板の製造方法の工程図であり、インダクタ素子の形成領域における平面図である。なお電子基板の製造には、W−CSP技術を利用する。すなわち、ウエハに対し一括して以下の各工程を行い、最後にダイシング等を用いて個々の電子基板に分離する。
(Electronic substrate manufacturing method)
Next, a method for manufacturing the electronic substrate according to the first embodiment will be described.
FIG. 5 is a process diagram of the method of manufacturing the electronic substrate according to the first embodiment, and is a plan view in the inductor element formation region. Note that W-CSP technology is used for manufacturing the electronic substrate. That is, the following steps are collectively performed on the wafer, and finally, the wafer is separated into individual electronic substrates using dicing or the like.

まず図5(a)に示すように、複数の第1配線12および連結配線111a,211a(以下「第1配線12等」という。)を形成する。なお第1配線12は、下地膜(不図示)の表面に形成する。この下地膜は、下層のバリア層と上層のシード層とで構成される。初めに、バリア層は、Al等からなる電極へのCuの拡散を防止するものであり、TiWやTiN等により厚さ100nm程度に形成する。シード層は、第1配線12等を電解メッキ法で形成する際の電極として機能するものであり、Cu等により厚さ数100nm程度に続けて形成する。それらはスパッタ法、CVD法、無電解メッキ法などで形成されることが多い。次に、第1配線12等の形成領域に開口部を有するマスクを形成する。次に、下地膜のシード層を電極として電解Cuメッキを行い、マスクの開口部にCuを埋め込んで第1配線12等を形成する。これは、無電解メッキ法などで形成しても良い。マスクを除去した後に、第1配線12等をマスクとして下地膜をエッチングする。   First, as shown in FIG. 5A, a plurality of first wires 12 and connecting wires 111a and 211a (hereinafter referred to as “first wires 12 etc.”) are formed. The first wiring 12 is formed on the surface of a base film (not shown). This base film is composed of a lower barrier layer and an upper seed layer. First, the barrier layer prevents diffusion of Cu into an electrode made of Al or the like, and is formed with a thickness of about 100 nm using TiW, TiN, or the like. The seed layer functions as an electrode when the first wiring 12 and the like are formed by an electrolytic plating method, and is continuously formed with a thickness of about several hundreds of nanometers using Cu or the like. They are often formed by sputtering, CVD, electroless plating, or the like. Next, a mask having an opening in the formation region of the first wiring 12 and the like is formed. Next, electrolytic Cu plating is performed using the seed layer of the base film as an electrode, and Cu is embedded in the opening of the mask to form the first wiring 12 and the like. This may be formed by an electroless plating method or the like. After removing the mask, the base film is etched using the first wiring 12 and the like as a mask.

次に図5(b)に示すように、複数の第1配線12の中央部を覆うように、ライン状の磁性層31を形成する。ここでは、フェライトからなる磁性層31の形成方法を例にして説明する。
まず、ウエハの表面全体に金属膜を形成する。この金属膜は、第1金属であるFeと、第2金属であるMnやCo、Ni等で構成する。金属膜の形成は、電解めっき法または無電解めっき法等を用いて行うことが可能である。第1金属および第2金属を同時に析出させれば、両者が混合された金属膜を形成することが可能であり、第1金属および第2金属を交互に析出させれば、第1金属および第2金属が交互に積層された金属膜を形成することが可能である。第1金属と第2金属との割合は、例えば1:1とすればよい。なお第2金属として、MnやCo、Ni等のうち1種類の金属のみを採用するのではなく、2種類以上の金属を採用してもよい。
Next, as shown in FIG. 5B, a line-shaped magnetic layer 31 is formed so as to cover the central part of the plurality of first wirings 12. Here, a method of forming the magnetic layer 31 made of ferrite will be described as an example.
First, a metal film is formed on the entire surface of the wafer. This metal film is composed of Fe as the first metal and Mn, Co, Ni, or the like as the second metal. The metal film can be formed using an electrolytic plating method or an electroless plating method. If the first metal and the second metal are deposited at the same time, it is possible to form a mixed metal film. If the first metal and the second metal are alternately deposited, the first metal and the second metal are deposited. It is possible to form a metal film in which two metals are alternately stacked. The ratio between the first metal and the second metal may be 1: 1, for example. In addition, as a 2nd metal, you may employ | adopt not only one type of metals among Mn, Co, Ni etc. but 2 or more types of metals.

次に、金属膜を酸化する。金属膜の酸化は、酸素ガス等の雰囲気にウエハを保持しつつ加熱することによって行うことが可能であり、また重クロム酸カリ等の酸化剤の液体に基体を浸漬することによって行うことも可能である。これらの処理により、金属膜を構成する第1金属および第2金属がともに酸化されて、フェライトが形成される。これらのプロセスを繰り返せば、任意の厚さのフェライトが形成される。   Next, the metal film is oxidized. The oxidation of the metal film can be performed by heating while holding the wafer in an atmosphere of oxygen gas or the like, and can also be performed by immersing the substrate in an oxidant liquid such as potassium dichromate. It is. By these treatments, the first metal and the second metal constituting the metal film are both oxidized to form ferrite. If these processes are repeated, an arbitrary thickness of ferrite is formed.

なお、フェライトの形成方法として、近時開発されたフェライトめっき法を採用することも可能である。フェライトめっき法は、室温〜90℃程度の水溶液中で、強磁性フェライト膜を直接形成する方法である。具体的には、まず基体の表面に、金属イオンの吸着席となるOH基を形成する。次にその基体を、Fe2+やその他の金属イオン(Co2+やNi2+、Mn2+、Zn2+等)を含む溶液(FeCl2水溶液等)に浸漬する。すると、基体表面のOH基に金属イオンが吸着する。次に、亜硝酸イオン(NO2−)や空気などの酸化剤を導入することにより、2価のFe2+の一部を3価のFe3+に酸化する。さらに、そのFe3+に金属イオンを吸着させることにより、スピネル型フェライトを生成することができる。   It is also possible to employ a recently developed ferrite plating method as a method for forming ferrite. The ferrite plating method is a method of directly forming a ferromagnetic ferrite film in an aqueous solution at room temperature to about 90 ° C. Specifically, first, OH groups serving as adsorption sites for metal ions are formed on the surface of the substrate. Next, the substrate is immersed in a solution (FeCl2 aqueous solution or the like) containing Fe2 + or other metal ions (Co2 +, Ni2 +, Mn2 +, Zn2 +, etc.). Then, metal ions are adsorbed on the OH groups on the substrate surface. Next, a part of divalent Fe2 + is oxidized to trivalent Fe3 + by introducing an oxidant such as nitrite ion (NO2-) or air. Furthermore, spinel ferrite can be generated by adsorbing metal ions to the Fe3 +.

次に、磁性層31をライン状にパターニングする。磁性層31のパターニングは、ウエットエッチングを用いて行うことが可能である。具体的には、まず磁性層31の表面全体にレジスト膜を形成し、露光および現像することにより、磁性層31を残すべき領域にマスクを形成する。次に、塩化第二鉄やチオ硫酸ナトリウムなどのエッチャント水溶液に、ウエハを浸漬する。なおエッチャント水溶液の濃度は、Fe層をエッチングする場合の濃度と同程度であればよく、磁性層の厚さに鑑みて適宜調整する。またウエハの浸漬時間も、エッチャント水溶液の濃度および磁性層の厚さに鑑みて適宜調整する。なお磁性層31のパターニングは、ドライエッチングを用いて行うことも可能である。
なお磁性層31は、液滴吐出法や印刷法等により直接描画形成することも可能である。以上により、所定パターンの磁性層31が形成される。もちろん、磁性層31は前述したフェライト以外の物質で形成しても良い。
Next, the magnetic layer 31 is patterned in a line shape. Patterning of the magnetic layer 31 can be performed using wet etching. Specifically, first, a resist film is formed on the entire surface of the magnetic layer 31, and a mask is formed in a region where the magnetic layer 31 should be left by performing exposure and development. Next, the wafer is immersed in an aqueous etchant solution such as ferric chloride or sodium thiosulfate. Note that the concentration of the etchant aqueous solution may be approximately the same as that in the case of etching the Fe layer, and is appropriately adjusted in view of the thickness of the magnetic layer. Also, the immersion time of the wafer is appropriately adjusted in view of the concentration of the etchant aqueous solution and the thickness of the magnetic layer. The patterning of the magnetic layer 31 can also be performed using dry etching.
The magnetic layer 31 can be directly drawn and formed by a droplet discharge method, a printing method, or the like. Thus, the magnetic layer 31 having a predetermined pattern is formed. Of course, the magnetic layer 31 may be formed of a material other than the ferrite described above.

次に図5(c)に示すように、磁性層31の表面を横断するように、複数の第2配線22および連結配線121a,221a(以下「第2配線22等」という。)を形成する。その具体的な方法は、上述した第1配線12等の形成方法と同様である。第2配線22等は、上述した再配置配線および接続端子(以下「再配置配線等」という。)の形成工程において、再配置配線等と同時に形成することが望ましい。このように、再配置配線等と同時に第2配線22等を形成することにより、製造工程を簡略化して製造コストを低減することができる。また、メッキやフォトリソグラフィ等を利用して正確に第2配線22等を形成することが可能になり、所望の特性を備えたインダクタ素子を形成することができる。   Next, as shown in FIG. 5C, a plurality of second wirings 22 and connection wirings 121 a and 221 a (hereinafter referred to as “second wiring 22 etc.”) are formed so as to cross the surface of the magnetic layer 31. . The specific method is the same as the method for forming the first wiring 12 and the like described above. The second wiring 22 and the like are desirably formed at the same time as the rearrangement wiring and the like in the process of forming the rearrangement wiring and the connection terminal (hereinafter referred to as “relocation wiring and the like”). Thus, by forming the second wiring 22 and the like simultaneously with the rearrangement wiring and the like, the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced. In addition, the second wiring 22 and the like can be accurately formed using plating, photolithography, and the like, and an inductor element having desired characteristics can be formed.

この第2配線等の形成工程では、一の第1配線113と、その一の第1配線113に隣接しない他の第1配線114とを、第2配線122により順に連結して、一次側の巻き線141を形成する。また一の第1配線213と、その一の第1配線213に隣接しない他の第1配線214とを、第2配線222により順に連結して、二次側の巻き線241を形成する。この構成によれば、1本の巻き線を有するインダクタ素子を形成する場合と同じ工程数により、複数本の巻き線を有するインダクタ素子を簡単に形成することができる。なお磁性層31の表面に形成された第2配線22をレーザ等でトリミングすることにより、インダクタ素子特性のチューニングを行うことも可能である。   In the formation process of the second wiring and the like, one first wiring 113 and another first wiring 114 that is not adjacent to the first first wiring 113 are sequentially connected by the second wiring 122 so that the primary side Winding 141 is formed. In addition, one first wiring 213 and another first wiring 214 not adjacent to the first first wiring 213 are sequentially connected by a second wiring 222 to form a secondary winding 241. According to this configuration, an inductor element having a plurality of windings can be easily formed by the same number of steps as that for forming an inductor element having one winding. It is also possible to tune the inductor element characteristics by trimming the second wiring 22 formed on the surface of the magnetic layer 31 with a laser or the like.

ところで、第2配線等の形成工程では、第2配線22を形成するとともに、第2配線22と電極121,221とを連結する連結配線121a,221aを形成する。具体的には、複数の第2配線22のうち、最も外側の第2配線128を一次側電極121に連結する連結配線121aと、その内側に隣接する第2配線228を二次側電極221に連結する連結配線221aとを形成する。   By the way, in the formation process of the second wiring and the like, the second wiring 22 is formed, and the connection wirings 121a and 221a for connecting the second wiring 22 and the electrodes 121 and 221 are formed. Specifically, among the plurality of second wirings 22, the connection wiring 121 a that connects the outermost second wiring 128 to the primary side electrode 121, and the second wiring 228 that is adjacent to the inner side are connected to the secondary side electrode 221. A connection wiring 221a to be connected is formed.

これに対して、他の第2配線を二次側電極221に連結する連結配線を形成することも可能である。
図6は、電子基板の製造方法の変形例の説明図である。この変形例では、上述した第2配線228とは異なる他の第2配線227を二次側電極221に連結する連結配線227aを形成する。このような連結配線の変更は、電解めっき用のマスクを変更することによって簡単に行うことが可能である。
On the other hand, it is also possible to form a connection wiring that connects another second wiring to the secondary electrode 221.
FIG. 6 is an explanatory diagram of a modification of the method for manufacturing an electronic substrate. In this modification, a connection wiring 227 a that connects another second wiring 227 different from the above-described second wiring 228 to the secondary electrode 221 is formed. Such connection wiring can be easily changed by changing a mask for electrolytic plating.

このように、連結配線を連結すべき第2配線を変更することにより、二次側巻き線の巻き数を簡単に変更することができる。これにより、一次側巻き線141の巻き数と、二次側巻き線241の巻き数との比率を変更することが可能になり、変圧器の変圧率を変更することができる。なお変圧率を変更する場合として、ユーザ仕様に応じて行う場合や、電子基板における他素子の特性との関係で行う場合等が考えられる。   Thus, the number of turns of the secondary winding can be easily changed by changing the second wiring to which the connection wiring is to be connected. Thereby, it becomes possible to change the ratio of the number of turns of the primary side winding 141 and the number of turns of the secondary side winding 241, and the transformation rate of the transformer can be changed. In addition, as a case where a transformation rate is changed, the case where it carries out according to a user specification, the case where it carries out in relation to the characteristic of the other element in an electronic substrate, etc. are considered.

以上に詳述したように、本実施形態に係る電子基板の製造方法では、第2配線の形成工程において、第2配線と電極との連結配線を形成する構成とした。この構成によれば、第1配線および磁性層を共用化しつつ、第2配線の形成工程において連結配線の形状のみを変更することにより、インダクタ素子の巻き線の巻き数を変更することが可能になる。これにより、インダクタ素子の特性変更を低コストで行うことができる。   As described above in detail, in the method for manufacturing the electronic substrate according to the present embodiment, the connection wiring between the second wiring and the electrode is formed in the step of forming the second wiring. According to this configuration, it is possible to change the number of windings of the inductor element by changing only the shape of the connection wiring in the formation process of the second wiring while sharing the first wiring and the magnetic layer. Become. Thereby, the characteristic change of an inductor element can be performed at low cost.

(第2実施形態)
図7は、第2実施形態に係る電子基板の平面図である。なお図7では、紙面上側を+Y方向とし、紙面右側を+X方向としている。第2実施形態に係る電子基板は、磁性層31の周囲に複数の巻き線141,241,341が形成され、各巻き線が共通の電極11,21に連結されているものである。なお、第1実施形態と同様の構成となる部分については、その詳細な説明を省略する。
(Second Embodiment)
FIG. 7 is a plan view of the electronic substrate according to the second embodiment. In FIG. 7, the upper side of the drawing is the + Y direction, and the right side of the drawing is the + X direction. In the electronic substrate according to the second embodiment, a plurality of windings 141, 241, and 341 are formed around the magnetic layer 31, and each winding is connected to a common electrode 11, 21. Note that detailed description of portions having the same configuration as in the first embodiment is omitted.

第2実施形態では、基体10の表面上に、複数の第1配線12が略平行に形成されている。また、複数の第1配線12の中央部を覆うように、直線状の磁性層31が形成されている。さらに、その磁性層31の表面を横断するように、複数の第2配線22が略並行に形成されている。   In the second embodiment, a plurality of first wirings 12 are formed substantially in parallel on the surface of the base 10. Further, a linear magnetic layer 31 is formed so as to cover the central portion of the plurality of first wirings 12. Further, a plurality of second wirings 22 are formed substantially in parallel so as to cross the surface of the magnetic layer 31.

ここで、一の第1配線113の+X側の端部と、その一の第1配線113に隣接しない他の第1配線114の−X側の端部とが、第2配線122により順に連結されて、第1の巻き線141が形成されている。また、一の第1配線113に隣接する一の第1配線213の+X側の端部と、その一の第1配線213に隣接しない他の第1配線214の−X側の端部とが、第2配線222により順に連結されて、第2の巻き線241が形成されている。また、一の第1配線213に隣接する一の第1配線313の+X側の端部と、その一の第1配線313に隣接しない他の第1配線314の−X側の端部とが、第2配線322により順に連結されて、第3の巻き線341が形成されている。これにより、磁性層31の周囲に3本の巻き線141,241,341が形成されている。   Here, the + X side end of one first wiring 113 and the −X side end of another first wiring 114 not adjacent to the first wiring 113 are sequentially connected by the second wiring 122. Thus, the first winding 141 is formed. In addition, an end on the + X side of one first wiring 213 adjacent to one first wiring 113 and an end on the −X side of another first wiring 214 not adjacent to the first first wiring 213 are provided. The second windings 241 are sequentially connected by the second wiring 222. Further, an end on the + X side of one first wiring 313 adjacent to one first wiring 213 and an end on the −X side of another first wiring 314 not adjacent to the first first wiring 313 are provided. The third winding 341 is formed by being sequentially connected by the second wiring 322. As a result, three windings 141, 241, and 341 are formed around the magnetic layer 31.

そして、複数の第1配線12のうち、+Y側の端部に配置された3本の第1配線118,218,318が、連結配線11aを介して共通の電極11に連結されている。また、複数の第2配線22のうち、−Y側の端部に配置された3本の第2配線128,228,328が、連結配線21aを介して共通の電極21に連結されている。これにより、3本の巻き線141,241,341が、共通の電極11,21に連結されている。   Of the plurality of first wirings 12, three first wirings 118, 218, and 318 arranged at the end on the + Y side are connected to the common electrode 11 via the connection wiring 11a. In addition, among the plurality of second wirings 22, three second wirings 128, 228, and 328 arranged at the end portion on the −Y side are coupled to the common electrode 21 through the coupling wiring 21 a. As a result, the three windings 141, 241, and 341 are connected to the common electrodes 11 and 21.

このように、第2実施形態に係る電子基板では、磁性層31の周囲に複数の巻き線141,241,341が形成され、各巻き線が共通の電極11,21に連結されている構成とした。このように、インダクタ素子の巻き線を三つ編み構造とすることにより、巻き線の巻き密度を増加させることが可能になり、磁束密度を向上させることができる。これにより、インダクタ素子40のL値(インダクタ素子ンス)およびQ値を著しく向上させることが可能になり、電子基板の電気的特性を向上させることができる。   Thus, in the electronic substrate according to the second embodiment, a plurality of windings 141, 241, and 341 are formed around the magnetic layer 31, and each winding is connected to the common electrodes 11 and 21. did. Thus, by making the winding of the inductor element into a braided structure, it is possible to increase the winding density of the winding and improve the magnetic flux density. As a result, the L value (inductance elementance) and Q value of the inductor element 40 can be remarkably improved, and the electrical characteristics of the electronic substrate can be improved.

なお第2実施形態では、直線状のコア42の周囲にらせん状の巻き線を配置して、直線状のインダクタ素子40を形成したが、これ以外の形状のインダクタ素子を形成することも可能である。
図8は、インダクタ素子の変形例の平面図である。なお図8では、巻き線等の記載を省略して、インダクタ素子の概略形状のみを示している。図8(a)に示すように、略円形状のトロイダルインダクタ素子を形成すれば、磁束が閉ループを構成するため、高効率のインダクタ素子を提供することができる。また図8(b)に示す略矩形状や、図8(c)に示す多角形状とすれば、設計が容易であり、所望の特性を有するインダクタ素子を形成することができる。
In the second embodiment, the spiral winding is arranged around the linear core 42 to form the linear inductor element 40. However, it is possible to form inductor elements having other shapes. is there.
FIG. 8 is a plan view of a modification of the inductor element. In FIG. 8, description of windings and the like is omitted, and only a schematic shape of the inductor element is shown. As shown in FIG. 8A, if a substantially circular toroidal inductor element is formed, the magnetic flux forms a closed loop, and thus a highly efficient inductor element can be provided. Further, if the substantially rectangular shape shown in FIG. 8B or the polygonal shape shown in FIG. 8C is used, the design is easy and an inductor element having desired characteristics can be formed.

また図8(e)に示す渦巻き状のインダクタ素子を形成してもよい。この構成によれば、狭い領域内に多くの巻き線を配置することが可能になり、磁束密度を向上させることができる。なお渦巻きの中央部に空間を設けることにより、磁束密度をさらに向上させることが可能になる。また図8(e)に示すように、内側から外側に向かって徐々に太くなる渦巻き状のインダクタ素子を形成してもよい。その際、内側から外側に向かって第1配線および第2配線の断面積を増加させることが望ましい。この構成によれば、インダクタ素子の配線抵抗の減少と、形成領域の縮小とを両立させることが可能になり、高効率のインダクタ素子を形成することができる。   Further, a spiral inductor element shown in FIG. 8 (e) may be formed. According to this structure, it becomes possible to arrange many windings in a narrow region, and the magnetic flux density can be improved. It should be noted that the magnetic flux density can be further improved by providing a space in the center of the spiral. Further, as shown in FIG. 8E, a spiral inductor element that gradually increases from the inside toward the outside may be formed. At this time, it is desirable to increase the cross-sectional areas of the first wiring and the second wiring from the inside toward the outside. According to this configuration, it is possible to achieve both the reduction of the wiring resistance of the inductor element and the reduction of the formation region, and a highly efficient inductor element can be formed.

(電子機器)
次に、上述した電子基板(電子基板)を備えた電子機器の例について説明する。
図9は、携帯電話の斜視図である。上述した電子基板は、携帯電話300の筐体内部に配置されている。この構成によれば、電気的特性に優れた低コストの電子基板を備えているので、電気的特性に優れた低コストの携帯電話を提供することができる。
(Electronics)
Next, an example of an electronic device including the above-described electronic substrate (electronic substrate) will be described.
FIG. 9 is a perspective view of the mobile phone. The electronic board described above is arranged inside the casing of the mobile phone 300. According to this configuration, since the low-cost electronic substrate with excellent electrical characteristics is provided, a low-cost mobile phone with excellent electrical characteristics can be provided.

なお、上述した半導体装置は、携帯電話以外にも種々の電子機器に適用することができる。例えば、液晶プロジェクタ、マルチメディア対応のパーソナルコンピュータ(PC)およびエンジニアリング・ワークステーション(EWS)、ページャ、ワードプロセッサ、テレビ、ビューファインダ型またはモニタ直視型のビデオテープレコーダ、電子手帳、電子卓上計算機、カーナビゲーション装置、POS端末、タッチパネルを備えた装置などの電子機器に適用することが可能である。いずれの場合でも、電気的特性に優れた低コストの電子機器を提供することができる。   Note that the semiconductor device described above can be applied to various electronic devices other than mobile phones. For example, LCD projectors, multimedia-compatible personal computers (PCs) and engineering workstations (EWS), pagers, word processors, TVs, viewfinder type or monitor direct view type video tape recorders, electronic notebooks, electronic desk calculators, car navigation systems The present invention can be applied to electronic devices such as a device, a POS terminal, and a device provided with a touch panel. In either case, a low-cost electronic device having excellent electrical characteristics can be provided.

なお、本発明の技術範囲は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、上述した実施形態に種々の変更を加えたものを含む。すなわち、実施形態で挙げた具体的な材料や層構成などはほんの一例に過ぎず、適宜変更が可能である。   It should be noted that the technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiments, and includes those in which various modifications are made to the above-described embodiments without departing from the spirit of the present invention. In other words, the specific materials and layer configurations described in the embodiments are merely examples, and can be changed as appropriate.

例えば、上記実施形態では電子基板の表面にインダクタ素子を形成したが、電子基板の裏面にインダクタ素子を形成して、貫通電極により表面との導通を確保してもよい。また上記実施形態では、電子回路が形成された電子基板にインダクタ素子を形成したが、電気絶縁性材料からなる電子基板にインダクタ素子を形成してもよい。また上記実施形態では、電解メッキ法により第1配線および第2配線を形成したが、スパッタ法や蒸着法等の他の成膜方法を採用してもよい。   For example, in the above-described embodiment, the inductor element is formed on the surface of the electronic substrate. However, the inductor element may be formed on the back surface of the electronic substrate, and conduction with the surface may be ensured by the through electrode. Moreover, in the said embodiment, although the inductor element was formed in the electronic substrate in which the electronic circuit was formed, you may form an inductor element in the electronic substrate which consists of an electrically insulating material. Moreover, in the said embodiment, although the 1st wiring and the 2nd wiring were formed by the electroplating method, you may employ | adopt other film-forming methods, such as a sputtering method and a vapor deposition method.

以上説明してきた例では、再配置配線型のウエハレベルパッケージ構造とインダクタ構造の混在構造について述べてきたが、ウエハレベルパッケージ構造はこれに限ることはなく、外部端子部にCuポスト構造を有するウエハレベルパッケージ構造など、その他の公知のウエハレベルパッケージ構造とインダクタ構造の混在構造にしても構わない。どちらでも、信頼性やインダクタ特性の双方に優れた構造を提供することができる。 In the example described above, the mixed structure of the relocation wiring type wafer level package structure and the inductor structure has been described. However, the wafer level package structure is not limited to this, and a wafer having a Cu post structure in the external terminal portion. Other known wafer level package structures such as a level package structure and an inductor structure may be mixed. In either case, a structure excellent in both reliability and inductor characteristics can be provided.

第1実施形態に係る電子基板の説明図である。It is explanatory drawing of the electronic substrate which concerns on 1st Embodiment. インダクタ素子の説明図である。It is explanatory drawing of an inductor element. 電子基板の変形例の説明図である。It is explanatory drawing of the modification of an electronic substrate. 第1実施形態に係る電子基板の実装構造の説明図である。It is explanatory drawing of the mounting structure of the electronic substrate which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る電子基板の製造方法の工程図である。It is process drawing of the manufacturing method of the electronic substrate which concerns on 1st Embodiment. 電子基板の製造方法の変形例の説明図である。It is explanatory drawing of the modification of the manufacturing method of an electronic substrate. 第2実施形態に係る電子基板の平面図である。It is a top view of the electronic substrate which concerns on 2nd Embodiment. インダクタ素子の変形例の説明図である。It is explanatory drawing of the modification of an inductor element. 携帯電話の斜視図である。It is a perspective view of a mobile phone.

符号の説明Explanation of symbols

1…電子基板 10…基体 11,21…電極 12…第1配線 22…第2配線 31…磁性層(絶縁部材) 40…インダクタ素子 41…巻き線 71…接着剤 72…放熱部材 113,114…第1配線 122…第2配線 121a,221a…連結配線 141,241…巻き線   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electronic substrate 10 ... Base | substrate 11,21 ... Electrode 12 ... 1st wiring 22 ... 2nd wiring 31 ... Magnetic layer (insulating member) 40 ... Inductor element 41 ... Winding 71 ... Adhesive 72 ... Heat radiation member 113,114 ... 1st wiring 122 ... 2nd wiring 121a, 221a ... Connection wiring 141, 241 ... Winding

Claims (3)

基体上に形成された複数の第1配線と、
前記複数の前記第1配線の中央部を覆って連続形成された絶縁部材と、
前記絶縁部材の表面を横断して形成された複数の第2配線と、
前記第1配線および前記第2配線のそれぞれを外部に接続する電極と、
前記基体の周囲の全部または一部を、金属微粒子を分散させた接着剤を介して、覆った放熱部材と、
を含み、
前記第2配線は、一の前記第1配線の端部と、前記一の前記第1配線に隣接しない他の前記第1配線の端部とを、順に連結してインダクタ素子を形成し、
前記インダクタ素子は、前記第1配線および前記第2配線からなる複数本の巻き線を備え、
複数本の前記巻き線が、それぞれ異なる前記電極に連結、もしくは、共通の前記電極に連結され、前記絶縁部材は、磁性体材料で構成された、前記基体上に前記インダクタ素子を備えた電子基板であって、
前記インダクタ素子を外部に接続する前記電極と、前記第1配線または前記第2配線とが連結配線されている、
ことを特徴とする電子基板。
A plurality of first wirings formed on the substrate;
An insulating member continuously formed covering a central portion of the plurality of first wires;
A plurality of second wiring formed across the surface of said insulating member,
An electrode for connecting each of the first wiring and the second wiring to the outside;
A heat dissipating member covering the whole or a part of the periphery of the substrate with an adhesive in which metal fine particles are dispersed;
Including
The second wiring sequentially connects an end portion of one first wiring and an end portion of another first wiring not adjacent to the first wiring to form an inductor element,
The inductor element includes a plurality of windings composed of the first wiring and the second wiring,
A plurality of said windings, connected to different said electrode or is connected to the common of said electrode, said insulating member is formed of a magnetic material, an electronic board having the inductor element on the substrate Because
The electrode for connecting the inductor element to the outside and the first wiring or the second wiring are connected to each other,
An electronic substrate characterized by that.
前記基体上に複数の前記第1配線を形成する工程と、
複数の前記第1配線の前記中央部を覆って前記絶縁部材を連続形成する工程と、
前記絶縁部材の表面を横断するように複数の前記第2配線を形成する工程と、
前記第1配線および前記第2配線のそれぞれを外部に接続する前記電極を形成する工程と、
前記基体の周囲の全部または一部に、前記金属微粒子を分散させた前記接着剤を介して、前記放熱部材を接続する工程と、
を含み、
前記絶縁部材は、前記磁性体材料で構成され、
前記第2配線を形成する工程では、一の前記第1配線の端部と、前記一の前記第1配線に隣接しない他の前記第1配線の端部とを、順に連結して前記第2配線を配置して、
前記第1配線および前記第2配線からなる複数本の前記巻き線を形成し、
前記基体上にインダクタ素子を形成する電子基板の製造方法であって、
前記第2配線の形成工程では、前記インダクタ素子を外部に接続する前記電極と、前記第1配線または前記第2配線との前記連結配線を形成して、
前記インダクタ素子を形成することを特徴とする電子基板の製造方法。
Forming a plurality of the first wiring on the substrate,
A step of continuously forming the insulating member covers the central portion of the plurality of the first wiring,
Forming a plurality of the second wiring so as to traverse the surface of said insulating member,
Forming the electrode for connecting the first wiring and the second wiring to the outside;
Connecting the heat dissipating member to the whole or a part of the periphery of the substrate via the adhesive in which the metal fine particles are dispersed;
Including
The insulating member is made of the magnetic material,
In the step of forming the second wiring, the end of one first wiring and the end of the other first wiring not adjacent to the first wiring are connected in order, and the second wiring Place the wiring ,
Forming a plurality of windings composed of the first wiring and the second wiring ;
An electronic substrate manufacturing method for forming an inductor element on the substrate,
In the step of forming the second wiring, the connection wiring between the electrode for connecting the inductor element to the outside and the first wiring or the second wiring is formed,
A method of manufacturing an electronic substrate, comprising forming the inductor element.
請求項1に記載の電子基板を備えたことを特徴とする電子機器。 An electronic device comprising the electronic substrate according to claim 1 .
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