JP2008103398A - Electronic substrate, its manufacturing method, and electronic apparatus - Google Patents

Electronic substrate, its manufacturing method, and electronic apparatus Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic substrate which can enhance electric characteristics and heat dissipation characteristics, to provide its manufacturing method, and to provide an electronic apparatus. <P>SOLUTION: In the electronic substrate 1 having an inductor element 40 formed on a substrate 10, the core 42 of the inductor element 40 is formed of a second magnetic layer 31, periphery of the inductor element 40 is covered with magnetic layers 35 and 36, and resin layers 37 and 38 are formed in the clearance of adjoining windings 41 of the inductor element 40. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、電子基板、その製造方法および電子機器に関するものである。   The present invention relates to an electronic substrate, a manufacturing method thereof, and an electronic apparatus.

携帯電話やパーソナルコンピュータ等の電子機器には、電子回路が形成された電子基板(半導体チップ)が搭載されている。この電子基板は、抵抗やインダクタ素子、キャパシタ等の受動素子とともに利用される場合がある。特許文献1および特許文献2には、電子基板上にスパイラルインダクタ素子を形成する技術が提案されている。スパイラルインダクタ素子は、コアとなる台座の表面に渦巻き状の巻き線が形成されたものである。また非特許文献1には、電子基板上にトロイダルインダクタ素子を形成する技術が提案されている。トロイダルインダクタ素子は、リング状のコアの周りに、らせん状の巻き線が形成されたものである。
特開2002−164468号公報 特開2003−347410号公報 Ermolov et al,「Microreplicated RF Toroidal Inductor」,IEEETransactions on Microwave Theory and Techniques,Vol.52,No.1,January 2004,p29−36
An electronic substrate (semiconductor chip) on which an electronic circuit is formed is mounted on an electronic device such as a mobile phone or a personal computer. This electronic substrate may be used together with passive elements such as resistors, inductor elements, and capacitors. Patent Documents 1 and 2 propose a technique for forming a spiral inductor element on an electronic substrate. The spiral inductor element has a spiral winding formed on the surface of a base serving as a core. Non-Patent Document 1 proposes a technique for forming a toroidal inductor element on an electronic substrate. In the toroidal inductor element, a spiral winding is formed around a ring-shaped core.
JP 2002-164468 A JP 2003-347410 A Ermolov et al, “Microreplicated RF Toroidal Inductor”, IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 52, no. 1, January 2004, p29-36

しかしながら、インダクタ素子で発生する磁束と電子基板を構成するシリコンとの干渉により漏れ電流が発生するので、インダクタ素子のQ値(インダクタンスと抵抗値との比)の向上に限界があるという問題がある。
近時では、電子基板や半導体チップ上に形成されたインダクタ素子をチョークコイルや変圧器等電源回路の一部として機能させることが検討されている。この場合には、インダクタ素子のインダクタンス値の向上が不可欠である。しかしながら、インダクタ素子のインダクタンス値の向上には、コイルの多巻き化が伴い、多くの電流を流すために発熱も伴うことになる。そのため、電子基板の大型化の抑制および温度上昇の抑制が望まれている。
However, since leakage current is generated due to interference between the magnetic flux generated in the inductor element and silicon constituting the electronic substrate, there is a problem that there is a limit in improving the Q value (ratio between the inductance and the resistance value) of the inductor element. .
Recently, it has been studied to cause an inductor element formed on an electronic substrate or a semiconductor chip to function as a part of a power supply circuit such as a choke coil or a transformer. In this case, it is essential to improve the inductance value of the inductor element. However, the improvement of the inductance value of the inductor element is accompanied by an increase in the number of windings of the coil, and heat is also generated because a large amount of current flows. Therefore, suppression of the enlargement of an electronic substrate and suppression of a temperature rise are desired.

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、電気的特性を向上させることが可能であり、また放熱特性を向上させることが可能な電子基板、その製造方法および電子機器の提供を目的とする。   The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and it is possible to improve an electrical characteristic and an electronic substrate capable of improving a heat dissipation characteristic, a manufacturing method thereof, and an electronic device. For the purpose of provision.

上記目的を達成するため、本発明に係る電子基板は基体上にインダクタ素子を備えた電子基板であって、前記インダクタ素子のコアは磁性体材料で形成されるとともに、前記インダクタ素子の周囲は磁性体材料で覆われ、さらに、前記インダクタ素子の隣接する巻き線の隙間には非磁性材料が充填されていることを特徴とする。
この構成によれば、インダクタ素子のコアを磁性体材料で形成したので、磁束密度を増加させることが可能になり、インダクタ素子のインダクタンス値およびQ値を向上させることができる。また、インダクタ素子の周囲も磁性体材料で覆われて閉磁路が形成されているため、磁束密度をさらに増加させ、インダクタ素子のインダクタンス値およびQ値を向上させることができる。したがって、電子基板の電気的特性を向上させることができる。
さらに、インダクタ素子の隣接する巻き線の隙間に非磁性材料が充填されたため、巻き線の隙間で磁力線が相殺されることを抑制し、磁性体材料の内部に磁力線を集中させることができる。
In order to achieve the above object, an electronic board according to the present invention is an electronic board having an inductor element on a base, the core of the inductor element is formed of a magnetic material, and the periphery of the inductor element is magnetic. It is covered with a body material, and a gap between adjacent windings of the inductor element is filled with a nonmagnetic material.
According to this configuration, since the core of the inductor element is formed of a magnetic material, the magnetic flux density can be increased, and the inductance value and Q value of the inductor element can be improved. Further, since the periphery of the inductor element is also covered with a magnetic material to form a closed magnetic circuit, the magnetic flux density can be further increased and the inductance value and Q value of the inductor element can be improved. Therefore, the electrical characteristics of the electronic substrate can be improved.
Furthermore, since the nonmagnetic material is filled in the gap between the adjacent windings of the inductor element, it is possible to suppress the lines of magnetic force from being canceled by the gap between the windings, and to concentrate the lines of magnetic force inside the magnetic material.

また前記磁性体材料は、フェライトであることが望ましい。
この構成によれば、磁性体材料を低コストで導入することができる。
The magnetic material is preferably ferrite.
According to this configuration, the magnetic material can be introduced at a low cost.

また前記非磁性材料は、樹脂であることが望ましい。
この構成によれば、非磁性材料を低コストで導入することができる。
The nonmagnetic material is preferably a resin.
According to this configuration, the nonmagnetic material can be introduced at a low cost.

また前記インダクタ素子は、リング状のコアとらせん状の巻き線とを備えたトロイダルインダクタ素子であることが望ましい。
この構成によれば、磁束が閉ループを構成するため、高効率のインダクタ素子を形成することができる。
The inductor element is preferably a toroidal inductor element having a ring-shaped core and a helical winding.
According to this configuration, since the magnetic flux forms a closed loop, a highly efficient inductor element can be formed.

前記インダクタ素子は、渦巻き状の巻き線が平面内に形成されたスパイラルインダクタ素子であることが望ましい。
この構成によれば、薄型で高効率のインダクタ素子を形成することができる。
The inductor element is preferably a spiral inductor element in which spiral windings are formed in a plane.
According to this configuration, a thin and highly efficient inductor element can be formed.

前記渦巻き状の巻き線が、非磁性材料を間に挟んで複数層にわたって積層形成されていることが望ましい。
この構成によれば、多くの磁束を発生させることができるので、インダクタンス値およびQ値の高いインダクタ素子を形成することができる。
It is desirable that the spiral winding is formed in a plurality of layers with a nonmagnetic material interposed therebetween.
According to this configuration, since a large amount of magnetic flux can be generated, an inductor element having a high inductance value and a high Q value can be formed.

また前記基体の周囲の全部または一部が、前記基体より熱伝導率の高い材料からなる放熱部材で覆われていることが望ましい。
この構成によれば、電子基板で発生した熱を迅速に外部に放出することが可能になる。
したがって、電子基板の放熱特性を向上させることができる。
It is desirable that all or part of the periphery of the base is covered with a heat radiating member made of a material having a higher thermal conductivity than the base.
According to this configuration, it is possible to quickly release the heat generated in the electronic substrate to the outside.
Therefore, the heat dissipation characteristics of the electronic substrate can be improved.

また前記放熱部材は、金属微粒子を分散させた接着剤を介して、前記基体に固着されていることが望ましい。
金属微粒子を分散させることにより、接着剤の熱伝導率が高くなるので、電子基板で発生した熱を迅速に外部に放出することが可能になる。したがって、電子基板の放熱特性を向上させることができる。
Moreover, it is desirable that the heat dissipating member is fixed to the base via an adhesive in which metal fine particles are dispersed.
Dispersing the metal fine particles increases the thermal conductivity of the adhesive, so that the heat generated in the electronic substrate can be quickly released to the outside. Therefore, the heat dissipation characteristics of the electronic substrate can be improved.

一方、本発明に係る電子基板の製造方法は、基体上にインダクタ素子を備えた電子基板の製造方法であって、前記基体上に第1磁性層を形成する工程と、前記第1磁性層上に複数の第1配線を形成する工程と、隣接する前記第1配線の隙間に第1非磁性層を形成する工程と、前記複数の第1配線の中央部を覆うように第2磁性層を形成する工程と、前記第2磁性層の表面を横断するように複数の第2配線を形成する工程と、隣接する前記第2配線の隙間に第2非磁性層を形成する工程と、前記複数の第2配線を覆うように第3磁性層を形成する工程と、を備え、前記第2配線を形成する工程では、一の前記第1配線の端部と他の前記第1配線の端部とを順に連結するように前記第2配線を配置することにより、前記第1配線および前記第2配線からなる巻き線を備えた前記インダクタ素子を形成することを特徴とする。
この構成によれば、磁性層をコアとするとともに、周囲が磁性層で覆われたインダクタ素子を簡単に形成することができる。
On the other hand, an electronic substrate manufacturing method according to the present invention is a method for manufacturing an electronic substrate having an inductor element on a substrate, the step of forming a first magnetic layer on the substrate, and the first magnetic layer on the substrate. Forming a plurality of first wirings, forming a first nonmagnetic layer in a gap between the adjacent first wirings, and forming a second magnetic layer so as to cover a central portion of the plurality of first wirings. Forming, a step of forming a plurality of second wirings so as to cross the surface of the second magnetic layer, a step of forming a second nonmagnetic layer in a gap between the adjacent second wirings, and the plurality of Forming a third magnetic layer so as to cover the second wiring, and in the step of forming the second wiring, an end of one of the first wiring and an end of the other first wiring Are arranged in order so that the first wiring and the second wiring are connected. And forming the inductor element having a winding made of.
According to this configuration, it is possible to easily form an inductor element having the magnetic layer as a core and the periphery covered with the magnetic layer.

また、基体上にインダクタ素子を備えた電子基板の製造方法であって、前記基体上に第1磁性層を形成する工程と、前記第1磁性層上に、前記インダクタ素子を構成する渦巻き状の巻き線を形成する工程と、前記巻き線の隙間に非磁性層を形成する工程と、前記巻き線を覆うように第2磁性層を形成する工程と、を備えることを特徴とする。
この構成によれば、磁性層をコアとするとともに、周囲が磁性層で覆われたインダクタ素子を簡単に形成することができる。
A method of manufacturing an electronic substrate having an inductor element on a substrate, the step of forming a first magnetic layer on the substrate, and a spiral shape forming the inductor element on the first magnetic layer The method includes a step of forming a winding, a step of forming a nonmagnetic layer in a gap between the windings, and a step of forming a second magnetic layer so as to cover the winding.
According to this configuration, it is possible to easily form an inductor element having the magnetic layer as a core and the periphery covered with the magnetic layer.

また前記巻き線の形成工程および前記非磁性層の形成工程を繰り返すことにより、複数の前記巻き線を、非磁性層を間に挟んで積層形成することが望ましい。
この構成によれば、多くの磁束を発生させることができるので、インダクタンス値およびQ値の高いインダクタ素子を形成することができる。
Further, it is desirable that the plurality of windings be stacked with the nonmagnetic layer interposed between them by repeating the winding forming step and the nonmagnetic layer forming step.
According to this configuration, since a large amount of magnetic flux can be generated, an inductor element having a high inductance value and a high Q value can be formed.

また前記巻き線の一部をトリミングして、前記インダクタ素子の特性調整を行う工程を有することが望ましい。
この構成によれば、所望の特性を備えたインダクタ素子を形成することができる。
Further, it is desirable to include a step of trimming a part of the winding to adjust the characteristics of the inductor element.
According to this configuration, an inductor element having desired characteristics can be formed.

一方、本発明に係る電子機器は、上述した電子基板を備えたことを特徴とする。
この構成によれば、電気的特性に優れた低コストの電子基板を備えているので、電気的特性に優れた低コストの電子機器を提供することができる。
On the other hand, an electronic apparatus according to the present invention includes the above-described electronic substrate.
According to this configuration, since the low-cost electronic substrate having excellent electrical characteristics is provided, a low-cost electronic device having excellent electrical characteristics can be provided.

以下、本発明の実施形態につき、図面を参照して説明する。なお、以下の説明に用いる各図面では、各部材を認識可能な大きさとするため、各部材の縮尺を適宜変更している。
(第1実施形態)
図1は電子基板の説明図であり、図1(a)は平面図であり、図1(b)は図1(a)のB−B線における側面断面図である。なお図1(a)では、後述するソルダーレジスト及び放熱部材、第1磁性層、第3磁性層、第1樹脂層、第2樹脂層の記載を省略している。図1(a)に示すように、本実施形態に係る電子基板1は、例えばICやLSI等の集積回路のベアチップであり、基体10の表面上にインダクタ素子40を備えている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In each drawing used for the following description, the scale of each member is appropriately changed to make each member a recognizable size.
(First embodiment)
FIG. 1 is an explanatory view of an electronic substrate, FIG. 1 (a) is a plan view, and FIG. 1 (b) is a side sectional view taken along line BB of FIG. 1 (a). In FIG. 1A, descriptions of a solder resist and a heat radiating member, a first magnetic layer, a third magnetic layer, a first resin layer, and a second resin layer, which will be described later, are omitted. As shown in FIG. 1A, the electronic substrate 1 according to this embodiment is a bare chip of an integrated circuit such as an IC or LSI, and includes an inductor element 40 on the surface of the base 10.

図1(b)に示すように、電子基板1は、シリコンやガラス、石英、水晶等からなる基体10を備えている。その基体10の表面には、電子回路(不図示)が形成されている。
その電子回路は、少なくとも配線パターンが形成されており、複数のパッシブコンポーネント(部品)や複数のトランジスタ、複数の薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;TFT)等の半導体素子や、それらを相互に接続する配線等によって構成されている。その電子回路を保護するため、基体10の表面には、SiN等の電気絶縁性材料からなるパッシベーション膜8が形成されている。一方、基体10の表面周縁部や中央部には、電子回路を外部に電気的接続するための電極62が形成されている。
As shown in FIG. 1B, the electronic substrate 1 includes a base 10 made of silicon, glass, quartz, quartz, or the like. An electronic circuit (not shown) is formed on the surface of the base 10.
In the electronic circuit, at least a wiring pattern is formed, semiconductor elements such as a plurality of passive components (components), a plurality of transistors, and a plurality of thin film transistors (TFTs), wirings interconnecting them, and the like It is constituted by. In order to protect the electronic circuit, a passivation film 8 made of an electrically insulating material such as SiN is formed on the surface of the base 10. On the other hand, an electrode 62 for electrically connecting the electronic circuit to the outside is formed on the peripheral edge portion and the center portion of the base 10.

(インダクタ素子)
図1(a)に示す電子基板1は、基体10上にインダクタ素子40を備えている。
図2はインダクタ素子の説明図であり、図2(a)は平面図であり、図2(b)は図2(a)のC−C線における側面断面図である。なお図2(a)では、後述するソルダーレジストおよび放熱部材の記載を省略している。図2(a)に示すように、このインダクタ素子40は、第2磁性層31により形成されたリング状のコア42と、そのコア42の周りに形成されたらせん状の巻き線41とを備えている。その巻き線41は、第2磁性層31の裏面に配置された第1配線12および第2磁性層31の表面に配置された第2配線22によって構成されている。
(Inductor element)
An electronic substrate 1 shown in FIG. 1A includes an inductor element 40 on a base 10.
FIG. 2 is an explanatory diagram of the inductor element, FIG. 2 (a) is a plan view, and FIG. 2 (b) is a side cross-sectional view taken along line CC in FIG. 2 (a). In FIG. 2A, descriptions of a solder resist and a heat radiating member, which will be described later, are omitted. As shown in FIG. 2A, the inductor element 40 includes a ring-shaped core 42 formed by the second magnetic layer 31, and a spiral winding 41 formed around the core 42. ing. The winding 41 is constituted by the first wiring 12 disposed on the back surface of the second magnetic layer 31 and the second wiring 22 disposed on the surface of the second magnetic layer 31.

図2(b)に示すように、パッシベーション膜8の表面には、磁性体材料からなる第1磁性層35が形成されている。この第1磁性層35は、インダクタ素子40の形成領域より一回り大きな平面視略円形状で形成されている。
その磁性体材料としてフェライトを採用することにより、磁性体材料を低コストで導入することができる。フェライトは、Fe2O3を主成分とし、2価の金属酸化物との複合酸化物の総称である。後述するようにフェライトは、第1金属であるFeと、第2金属であるMnやCo、Ni等とを、酸化することによって得ることができる。なおスピネル型フェライト(MFe2O4)は軟質磁性材料として、マグネトプランバイト型フェライト(MFe12O19)は永久磁石として、ガーネット型フェライト(MFe5O12;M=Y,Sm、Gd,Dy,Ho,Er,Yb)はマイクロ波用材料としてサーキュレータ、アイソレータ等に用いられる。フェライトは、酸化物であるため表面が絶縁状態であるから、後述するコイルパターンをその直上に形成することができる。鉄などの磁性金属層で第1磁性層35を形成する場合は、その表面を酸化したり、絶縁性の樹脂を被着させる等の絶縁処理を施すことが好ましい。また、磁性層はFe系などに代表される透磁率の高いアモルファス金属層でも良い。
As shown in FIG. 2B, a first magnetic layer 35 made of a magnetic material is formed on the surface of the passivation film 8. The first magnetic layer 35 is formed in a substantially circular shape in plan view that is slightly larger than the region where the inductor element 40 is formed.
By adopting ferrite as the magnetic material, the magnetic material can be introduced at low cost. Ferrite is a general term for complex oxides composed mainly of Fe2O3 and divalent metal oxides. As will be described later, ferrite can be obtained by oxidizing Fe, which is a first metal, and Mn, Co, Ni, etc., which are second metals. Spinel type ferrite (MFe2O4) is a soft magnetic material, magnetoplumbite type ferrite (MFe12O19) is a permanent magnet, and garnet type ferrite (MFe5O12; M = Y, Sm, Gd, Dy, Ho, Er, Yb) is a micro material. Used as a wave material for circulators, isolators and the like. Since ferrite is an oxide and has an insulating surface, a coil pattern to be described later can be formed immediately above. When the first magnetic layer 35 is formed of a magnetic metal layer such as iron, it is preferable to perform an insulating process such as oxidizing the surface or depositing an insulating resin. Further, the magnetic layer may be an amorphous metal layer having a high magnetic permeability represented by an Fe-based material.

パッシベーション膜8及び第1磁性層35上には第1配線12が形成されている。
この第1配線12は、銅(Cu)、金(Au)、銀(Ag)、チタン(Ti)、タングステン(W)、チタンタングステン(TiW)、窒化チタン(TiN)、ニッケル(Ni)、ニッケルバナジウム(NiV)、クロム(Cr)、アルミニウム(Al)、パラジウム(Pd)等の導電性材料で形成されている。なおインダクタ素子の巻き線として必要な抵抗レンジや耐許容電流値等の特性に応じて、第1配線12の構成材料を適宜選択することができる。なお電解メッキ法により第1配線12を形成する場合には、第1配線12は下地層の表面に形成されるが、図2(b)では下地層の記載を省略している。
A first wiring 12 is formed on the passivation film 8 and the first magnetic layer 35.
The first wiring 12 includes copper (Cu), gold (Au), silver (Ag), titanium (Ti), tungsten (W), titanium tungsten (TiW), titanium nitride (TiN), nickel (Ni), nickel It is made of a conductive material such as vanadium (NiV), chromium (Cr), aluminum (Al), or palladium (Pd). It should be noted that the constituent material of the first wiring 12 can be appropriately selected according to characteristics such as a resistance range necessary for the winding of the inductor element and an allowable current value. In the case where the first wiring 12 is formed by electrolytic plating, the first wiring 12 is formed on the surface of the underlayer, but the description of the underlayer is omitted in FIG.

図2(a)に示すように、第1配線12は略台形状にパターニングされ、複数の第1配線12が同一円周上に放射状に配置されている。なお隣接する第1配線12間のスペースは、フォトリソグラフィの解像限界付近の一定幅に形成することが望ましい。これにより、第1配線12のL/S(Line and Space)の比率が大きくなり、配線抵抗を低減することができる。そして複数の第1配線12のうちの一つが、連結配線12aを介して、電極11に連結されている。   As shown in FIG. 2A, the first wiring 12 is patterned in a substantially trapezoidal shape, and a plurality of first wirings 12 are arranged radially on the same circumference. The space between the adjacent first wirings 12 is desirably formed with a constant width near the resolution limit of photolithography. Thereby, the ratio of L / S (Line and Space) of the first wiring 12 is increased, and the wiring resistance can be reduced. One of the plurality of first wirings 12 is connected to the electrode 11 via the connection wiring 12a.

ここで、隣接する各第1配線12間のスペースには、非磁性材料層が形成されている。非磁性材料層として、アクリル樹脂や感光性ポリイミド、BCB(ベンゾシクロブテン)、フェノールノボラック樹脂等の感光性樹脂からなる第1樹脂層37が形成されている。この第1樹脂層37は、フォトリソグラフィによりパターニングされ、第1磁性層35の表面の隣接する第1配線12間のスペースに第1配線12と同層厚で形成されている。   Here, a nonmagnetic material layer is formed in the space between the adjacent first wirings 12. As the nonmagnetic material layer, a first resin layer 37 made of a photosensitive resin such as acrylic resin, photosensitive polyimide, BCB (benzocyclobutene), or phenol novolac resin is formed. The first resin layer 37 is patterned by photolithography, and is formed in the same thickness as the first wiring 12 in the space between the adjacent first wirings 12 on the surface of the first magnetic layer 35.

第1配線12を覆うように、磁性体材料からなる第2磁性層31が形成されている。
第2磁性層31には、内側貫通孔(ビア)33および外側貫通孔34が形成されている。内側貫通孔33は第1配線12の内側端部が露出するように穿設され、複数の内側貫通孔33が同一円周上に配置されている。
なお内側貫通孔33および外側貫通孔34の開口形状は、扇型や長方形、長円形、楕円形等に形成すればよい。また複数の内側貫通孔33および/または複数の外側貫通孔34をそれぞれ連結して、リング状の貫通孔を形成してもよい。
A second magnetic layer 31 made of a magnetic material is formed so as to cover the first wiring 12.
An inner through hole (via) 33 and an outer through hole 34 are formed in the second magnetic layer 31. The inner through hole 33 is formed so that the inner end portion of the first wiring 12 is exposed, and a plurality of inner through holes 33 are arranged on the same circumference.
In addition, what is necessary is just to form the opening shape of the inner side through-hole 33 and the outer side through-hole 34 in a fan shape, a rectangle, an ellipse, an ellipse etc. Alternatively, a plurality of inner through holes 33 and / or a plurality of outer through holes 34 may be connected to form a ring-shaped through hole.

図2(b)に示すように、第2磁性層31の表面に第2配線22が形成されている。この第2配線22も、第1配線12と同様の導電性材料で形成されている。なお第2配線22は、内側貫通孔33および外側貫通孔34の内部にも充填され、第1配線12に連結されている。   As shown in FIG. 2B, the second wiring 22 is formed on the surface of the second magnetic layer 31. The second wiring 22 is also formed of the same conductive material as the first wiring 12. The second wiring 22 is also filled inside the inner through hole 33 and the outer through hole 34 and is connected to the first wiring 12.

図2(a)に示すように、第2配線22は、隣接する第1配線12のうち、一方の第1配線上に形成された内側貫通孔33と、他方の第1配線上に形成された外側貫通孔34とを結ぶようにパターニングされている。すなわち、第2磁性層31を横断するように第2配線22が形成されている。なお第1配線12と同様に、隣接する第2配線22間のスペースも、フォトリソグラフィの解像限界付近の一定幅に形成することが望ましい。   As shown in FIG. 2A, the second wiring 22 is formed on the inner through hole 33 formed on one of the adjacent first wirings 12 and on the other first wiring. The outer through-hole 34 is patterned. That is, the second wiring 22 is formed so as to cross the second magnetic layer 31. As in the case of the first wiring 12, it is desirable that the space between the adjacent second wirings 22 is formed to have a constant width near the resolution limit of photolithography.

ここで、隣接する各第2配線22間のスペースにも、非磁性材料層が形成されている。非磁性材料層として、アクリル樹脂や感光性ポリイミド、BCB(ベンゾシクロブテン)、フェノールノボラック樹脂等の感光性樹脂からなる第2樹脂層38が形成されている。 図2(b)に示すように、この第2樹脂層38は、フォトリソグラフィ法等によりパターニングされ、第2磁性層31の表面の隣接する第2配線22間のスペースに第2配線22と同膜厚で形成されている。この第2樹脂層38は、隣接する第1樹脂層37のうち、一方の第1樹脂層37の内側端部と、他方の第1樹脂層37の外側端部とを連結するように形成されている。これにより、隣接する巻き線41の隙間の全てに第1樹脂層37及び第2樹脂層38が形成されることになる。   Here, a nonmagnetic material layer is also formed in a space between the adjacent second wirings 22. As the nonmagnetic material layer, a second resin layer 38 made of a photosensitive resin such as acrylic resin, photosensitive polyimide, BCB (benzocyclobutene), or phenol novolac resin is formed. As shown in FIG. 2B, the second resin layer 38 is patterned by a photolithography method or the like, and the same as the second wiring 22 in the space between the adjacent second wirings 22 on the surface of the second magnetic layer 31. It is formed with a film thickness. The second resin layer 38 is formed so as to connect the inner end of one first resin layer 37 and the outer end of the other first resin layer 37 among the adjacent first resin layers 37. ing. As a result, the first resin layer 37 and the second resin layer 38 are formed in all the gaps between the adjacent windings 41.

また、第2配線22及び第2樹脂層38が形成された第2磁性層31の表面には、さらに第3磁性層36が形成されている。この第3磁性層36は、平面視略円形状で、前述した第2磁性層31と略同形状で形成されている。   A third magnetic layer 36 is further formed on the surface of the second magnetic layer 31 on which the second wiring 22 and the second resin layer 38 are formed. The third magnetic layer 36 has a substantially circular shape in plan view, and is formed in substantially the same shape as the second magnetic layer 31 described above.

図3は、図2(a)のF−F線に相当する部分における側面断面図である。
図3に示すように、基体10上のインダクタ素子40は、各磁性層35,31,36によって取り囲まれ、外部から遮蔽された閉磁路が形成されている。そのため、インダクタ素子40に流れる電流(図3中二点鎖線の矢印)により、図3の紙面に対して垂直方向に生じる磁界100が、透磁率の高い磁性層35,31,36の内部を主に通る。したがって、閉磁路タイプでは磁束の漏れが少なくなる。
FIG. 3 is a side sectional view of a portion corresponding to the line FF in FIG.
As shown in FIG. 3, the inductor element 40 on the substrate 10 is surrounded by the magnetic layers 35, 31, and 36 to form a closed magnetic path shielded from the outside. For this reason, a magnetic field 100 generated in a direction perpendicular to the paper surface of FIG. 3 due to a current flowing through the inductor element 40 (a two-dot chain line arrow in FIG. 3) mainly passes through the magnetic layers 35, 31, and 36 having a high magnetic permeability. Pass through. Therefore, leakage of magnetic flux is reduced in the closed magnetic circuit type.

図2(a)に戻り、複数の第2配線22のうちの一つが、連結配線22aを介して、他の電極21に連結されている。本実施例では、電極11,21間にインダクタ素子40が挿入されている例について述べたが、挿入される場所は、電極と外部端子間や、外部端子と外部端子間、その他電子基板上に内蔵されたパッシブコンポーネント同士間等、接続先に関しては様々な変形が可能である。このことは、後述されるすべての実施形態で同様である。   Returning to FIG. 2A, one of the plurality of second wirings 22 is connected to the other electrode 21 through the connection wiring 22 a. In the present embodiment, the example in which the inductor element 40 is inserted between the electrodes 11 and 21 has been described. However, the insertion place is between the electrode and the external terminal, between the external terminal and the external terminal, or on other electronic substrates. Various modifications can be made to the connection destination such as between built-in passive components. This is the same in all embodiments described later.

このように、第1配線12および第2配線22が順次連結されて、らせん状の巻き線41が形成されている。なおフェライトは高抵抗率の電気絶縁性材料であるため、フェライトに隣接して第1配線12および第2配線22を形成することができる。また巻き線41の内側の第2磁性層31により、リング状のコア42が構成されている。そして、巻き線41およびコア42により、インダクタ素子40が構成されている。このようにリング状のコアを備えたトロイダルインダクタ素子40は、磁束が閉ループを構成するため、直線状のコアを備えたインダクタ素子に比べて効率がよい。   In this way, the first wiring 12 and the second wiring 22 are sequentially connected to form a spiral winding 41. Since ferrite is an electrically insulating material having a high resistivity, the first wiring 12 and the second wiring 22 can be formed adjacent to the ferrite. A ring-shaped core 42 is constituted by the second magnetic layer 31 inside the winding 41. The inductor 41 is configured by the winding wire 41 and the core 42. Thus, the toroidal inductor element 40 having the ring-shaped core is more efficient than the inductor element having the linear core because the magnetic flux forms a closed loop.

そしてインダクタ素子40のコア42を磁性体材料で構成することにより、磁束密度を増加させることが可能になり、インダクタ素子40のL値(インダクタンス)およびQ値を著しく向上させることができる。その結果、本実施形態のインダクタ素子40を電源回路のチョークコイル等として機能させることが可能になる。なお第2磁性層31は、必ずしも電子基板の略全面に形成されている必要はなく、インダクタ素子40の形成領域の近傍に形成されていればよい。   By configuring the core 42 of the inductor element 40 with a magnetic material, the magnetic flux density can be increased, and the L value (inductance) and Q value of the inductor element 40 can be significantly improved. As a result, the inductor element 40 of the present embodiment can function as a choke coil or the like of the power supply circuit. The second magnetic layer 31 is not necessarily formed on substantially the entire surface of the electronic substrate, and may be formed in the vicinity of the region where the inductor element 40 is formed.

さらに、磁性体材料からなる磁性層35,31,36がインダクタ素子40の周囲を取り囲んで閉磁路が形成されている。このような、閉磁路タイプにおいては、インダクタ素子40で発生する磁束が透磁率の高いコア42の中を主に通るため、インダクタ素子40の周囲を遮蔽していない開磁路タイプと比して、外部への磁束の漏れが少ない。そのため、インダクタ素子40と接触する基体10等の周辺部材との干渉により発生する漏れ電流を防ぐことができる。また、磁束密度をさらに増加させ、より高いL値(インダクタンス)およびQ値を得ることができる。
また、各第1配線11及び第2配線22の隣接する配線間のスペースに樹脂層37,38が形成されたため、第1配線11及び第2配線22の配線間のスペースで磁力線が相殺されることを抑制し、磁性層35,31,36の内部に磁力線を集中させることができる。
Further, the magnetic layers 35, 31, and 36 made of a magnetic material surround the periphery of the inductor element 40 to form a closed magnetic circuit. In such a closed magnetic circuit type, since the magnetic flux generated in the inductor element 40 mainly passes through the core 42 having a high magnetic permeability, it is compared with the open magnetic circuit type in which the periphery of the inductor element 40 is not shielded. There is little leakage of magnetic flux to the outside. Therefore, it is possible to prevent a leakage current that is generated due to interference with a peripheral member such as the base 10 that is in contact with the inductor element 40. Further, the magnetic flux density can be further increased, and higher L value (inductance) and Q value can be obtained.
In addition, since the resin layers 37 and 38 are formed in the space between the adjacent wirings of the first wiring 11 and the second wiring 22, the lines of magnetic force are offset by the space between the wirings of the first wiring 11 and the second wiring 22. This can be suppressed and the lines of magnetic force can be concentrated inside the magnetic layers 35, 31 and 36.

図4は、電子基板の変形例の説明図であり、図2(a)のC−C線に相当する部分における側面断面図である。図4に示す変形例では、パッシベーション膜8の裏側の略全面に導電層(電気的シールド層)7が形成されている。この導電層7は、電子回路の形成プロセスを利用して、AlやCu等の導電性材料により形成することが可能である。この導電層7を接地または一定電位に保持すれば、電磁シールド効果により、インダクタ素子40の磁界が基体10の能動素子を含む電子回路に及ぼす影響(カップリング)を低減することができる。なお導電層7は、インダクタ素子40と電子回路との間であれば、いかなる位置に形成してもよい。また導電層7は、電子基板の略全面に形成されていなくても、少なくともインダクタ素子40の形成領域に形成されていればよい。また、導電層のかわりに前述した磁性材料(フェライトやアモルファス金属層等)で磁気シールド層を形成してもよく、この方が磁気シールド特性は高く、インダクタ特性が向上する。また、図示しないが、インダクタの側面や上面にも、以下に説明するプロセスと同様のプロセスで電気もしくは磁気シールド層を形成しても良い。こうすることで、電気、磁気シールド特性は更に向上する。   FIG. 4 is an explanatory diagram of a modified example of the electronic substrate, and is a side cross-sectional view of a portion corresponding to the line CC in FIG. In the modification shown in FIG. 4, a conductive layer (electrical shield layer) 7 is formed on substantially the entire back surface of the passivation film 8. The conductive layer 7 can be formed of a conductive material such as Al or Cu using an electronic circuit formation process. If the conductive layer 7 is held at ground or at a constant potential, the influence (coupling) of the magnetic field of the inductor element 40 on the electronic circuit including the active element of the substrate 10 can be reduced by the electromagnetic shielding effect. The conductive layer 7 may be formed at any position between the inductor element 40 and the electronic circuit. In addition, the conductive layer 7 may be formed at least in the region where the inductor element 40 is formed, even though it is not formed on the substantially entire surface of the electronic substrate. Further, the magnetic shield layer may be formed of the above-described magnetic material (ferrite, amorphous metal layer, or the like) instead of the conductive layer, which has higher magnetic shield characteristics and improved inductor characteristics. Although not shown, an electric or magnetic shield layer may be formed on the side surface and upper surface of the inductor by the same process as described below. By doing so, the electrical and magnetic shield characteristics are further improved.

(再配置配線等)
図1(b)に示すように、本実施形態に係る電子基板1は、相手側部材との接続に使用される接続端子63を備えている。また、基体10の周囲が高熱伝導率の放熱部材72で覆われている。
(Relocation wiring, etc.)
As shown in FIG. 1B, the electronic substrate 1 according to the present embodiment includes a connection terminal 63 used for connection with the counterpart member. Further, the periphery of the substrate 10 is covered with a heat radiating member 72 having a high thermal conductivity.

図1(a)に示すように、電子基板1の周縁部に沿って、複数の電極62が整列配置されている。近年の電子基板1の小型化により、隣接する電極62間のピッチは非常に狭くなっている。この電子基板1を相手側部材に実装すると、隣接する電極62間に短絡が発生するおそれがある。そこで電極62間のピッチを広げるため、電極62の再配置配線64が形成されている。   As shown in FIG. 1A, a plurality of electrodes 62 are aligned along the peripheral edge of the electronic substrate 1. Due to the recent miniaturization of the electronic substrate 1, the pitch between the adjacent electrodes 62 has become very narrow. When the electronic substrate 1 is mounted on the mating member, there is a possibility that a short circuit occurs between the adjacent electrodes 62. Therefore, in order to widen the pitch between the electrodes 62, a rearrangement wiring 64 for the electrodes 62 is formed.

具体的には、電子基板1の表面中央部に、接続端子63を構成する複数のパッドが形成されている。その接続端子63に対して、電極62から引き出された再配置配線64が連結されている。これにより、狭ピッチの電極62が中央部に引き出されて広ピッチ化されている。このような電子基板1の形成には、ウエハの状態において一括して再配置配線や樹脂封止等を行なってから個々の電子基板1に分離する、W−CSP(Wafer level Chip Scale Package)技術が利用されている。   Specifically, a plurality of pads constituting the connection terminal 63 are formed at the center of the surface of the electronic substrate 1. A rearrangement wiring 64 drawn from the electrode 62 is connected to the connection terminal 63. As a result, the narrow-pitch electrodes 62 are drawn out to the central portion to widen the pitch. For the formation of such an electronic substrate 1, W-CSP (Wafer Level Chip Scale Package) technology in which rearrangement wiring, resin sealing, and the like are collectively performed in a wafer state and then separated into individual electronic substrates 1. Is being used.

図5は、第1実施形態に係る電子基板の説明図であり、図1のA−A線における断面図である。接続端子63の表面にはバンプ78が形成されている。このバンプ78は、例えばハンダバンプであり、印刷法等によって形成されている。このバンプ78が、相手側部材の接続端子に対して実装されるようになっている。   FIG. 5 is an explanatory diagram of the electronic substrate according to the first embodiment, and is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. Bumps 78 are formed on the surface of the connection terminal 63. The bumps 78 are, for example, solder bumps, and are formed by a printing method or the like. The bump 78 is mounted on the connection terminal of the counterpart member.

そのバンプ78の周囲には、ソルダーレジスト66が形成されている。このソルダーレジスト66は、電子基板1を相手側部材に実装する際にバンプ78の隔壁となるものであり、樹脂等の電気絶縁性材料によって構成されている。このソルダーレジスト66により、磁性層35,31,36を含む基体10の表面全体が覆われている。   A solder resist 66 is formed around the bump 78. The solder resist 66 serves as a partition wall for the bump 78 when the electronic substrate 1 is mounted on the counterpart member, and is made of an electrically insulating material such as a resin. The solder resist 66 covers the entire surface of the substrate 10 including the magnetic layers 35, 31 and 36.

一方、基体10の裏面および側面を覆うように、放熱部材72が配置されている。この放熱部材72は、基体10の構成材料より熱伝導率の高い材料によって構成されている。
例えば、基体10を構成するシリコンより熱伝導率が高いCuにより、放熱部材72を構成することが可能である。この放熱部材72は、基体10の裏面に配置された接着剤71を介して基体10に固定されている。その接着剤71として、主成分となる樹脂ペーストに、熱伝導率の高い金属微粒子を分散させたものを採用することが望ましい。具体的には、Agの微粒子を分散させたAgペーストを採用することが可能である。
On the other hand, the heat radiating member 72 is disposed so as to cover the back surface and the side surface of the base 10. The heat radiating member 72 is made of a material having a higher thermal conductivity than the constituent material of the base body 10.
For example, the heat radiating member 72 can be made of Cu having a higher thermal conductivity than silicon constituting the base body 10. The heat radiating member 72 is fixed to the base 10 via an adhesive 71 disposed on the back surface of the base 10. As the adhesive 71, it is desirable to employ a resin paste that is a main component in which metal fine particles having high thermal conductivity are dispersed. Specifically, it is possible to employ an Ag paste in which Ag fine particles are dispersed.

上述したように、本実施形態の電子基板1を電源回路に使用すると、インダクタ素子40に大きな電流が流れて電子基板1が発熱する。本実施形態では、電子基板1の周囲を放熱部材72で覆うとともに、その放熱部材72を高熱伝導率の接着剤で基体10に固定したので、電子基板1で発生した熱を迅速に外部に放出することが可能になる。これにより、電子基板1の温度上昇を抑制することが可能になり、電子基板1の信頼性を向上させることができる。その結果、本実施形態の電子基板を電源回路に使用することが可能になる。   As described above, when the electronic substrate 1 of this embodiment is used in a power supply circuit, a large current flows through the inductor element 40 and the electronic substrate 1 generates heat. In this embodiment, the periphery of the electronic substrate 1 is covered with the heat radiating member 72 and the heat radiating member 72 is fixed to the base body 10 with an adhesive having high thermal conductivity, so that the heat generated in the electronic substrate 1 is quickly released to the outside. It becomes possible to do. Thereby, it becomes possible to suppress the temperature rise of the electronic substrate 1, and the reliability of the electronic substrate 1 can be improved. As a result, the electronic substrate of this embodiment can be used for the power supply circuit.

(実装構造)
図6は、第1実施形態に係る電子基板の実装構造の説明図であり、図1のA−A線に相当する部分における断面図である。図6に示すように、本実施形態に係る電子基板1は、相手側部材90に実装して使用する。この相手側部材90の表面には、配線パターン(不図示)およびランド92,94が形成されている。そのランド92,94の表面には、ハンダボール93,95が形成されている。本実施例では、はんだ接合方法についての説明を述べたが、ハンダボール93,95の代わりに、例えば銀ペーストなどの接着接合工法など、他の公知の実装方法を用いても良い。
(Mounting structure)
FIG. 6 is an explanatory diagram of the mounting structure of the electronic substrate according to the first embodiment, and is a cross-sectional view of a portion corresponding to the line AA in FIG. As shown in FIG. 6, the electronic substrate 1 according to this embodiment is used by being mounted on a counterpart member 90. A wiring pattern (not shown) and lands 92 and 94 are formed on the surface of the mating member 90. Solder balls 93 and 95 are formed on the surfaces of the lands 92 and 94. In this embodiment, the solder bonding method has been described. However, instead of the solder balls 93 and 95, other known mounting methods such as an adhesive bonding method such as silver paste may be used.

そして、電子基板1のハンダバンプ78と相手側部材90のハンダボール93とを結合させて、電子基板1の接続端子63と相手側部材90のランド92とが電気的接続されている。また電子基板1の放熱部材72が、ハンダボール95を介して、相手側部材90のランド94に接続されている。これらの接続は、リフローやFCB(Flip Chip Bonding)等を用いて一括して行うことが可能である。   Then, the solder bumps 78 of the electronic substrate 1 and the solder balls 93 of the counterpart member 90 are coupled, and the connection terminals 63 of the electronic substrate 1 and the lands 92 of the counterpart member 90 are electrically connected. Further, the heat radiating member 72 of the electronic substrate 1 is connected to the land 94 of the mating member 90 via the solder ball 95. These connections can be performed collectively using reflow, FCB (Flip Chip Bonding), or the like.

このように、放熱部材72を相手側部材90に接続することにより、電子基板1の放熱効率を向上させることができる。また、相手側部材90を介して放熱部材72を接地することが可能になり、電子基板1を外部から電気的に隔離することができる。これらにより、電子基板の信頼性を向上させることができる。   Thus, by connecting the heat dissipation member 72 to the counterpart member 90, the heat dissipation efficiency of the electronic substrate 1 can be improved. Further, the heat radiating member 72 can be grounded via the mating member 90, and the electronic substrate 1 can be electrically isolated from the outside. As a result, the reliability of the electronic substrate can be improved.

(電子基板の製造方法)
次に、第1実施形態に係る電子基板の製造方法について説明する。
図7および図8は、第1実施形態に係る電子基板の製造方法の工程図であり、図1のA−A線に相当する部分における断面図である。なお電子基板の製造には、W−CSP技術を利用する。すなわち、ウエハに対し一括して以下の各工程を行い、最後に個々の電子基板に分離する。
(Electronic substrate manufacturing method)
Next, a method for manufacturing the electronic substrate according to the first embodiment will be described.
7 and 8 are process diagrams of the method for manufacturing the electronic substrate according to the first embodiment, and are cross-sectional views taken along a line AA in FIG. Note that W-CSP technology is used for manufacturing the electronic substrate. That is, the following steps are collectively performed on the wafer and finally separated into individual electronic substrates.

まず図7(a)に示すように、ウエハ10aのパッシベーション膜8の表面に、第1磁性層35を形成する。
ここでは、フェライトからなる第1磁性層35の形成方法を例にして説明する。
まず、ウエハ10aの表面全体に金属膜を形成する。この金属膜は、第1金属であるFeと、第2金属であるMnやCo、Ni等で構成する。金属膜の形成は、電解めっき法または無電解めっき法等を用いて行うことが可能である。第1金属および第2金属を同時に析出させれば、両者が混合された金属膜を形成することが可能であり、第1金属および第2金属を交互に析出させれば、第1金属および第2金属が交互に積層された金属膜を形成することが可能である。第1金属と第2金属との割合は、例えば1:1とすればよい。なお第2金属として、MnやCo、Ni等のうち1種類の金属のみを採用するのではなく、2種類以上の金属を採用してもよい。
First, as shown in FIG. 7A, the first magnetic layer 35 is formed on the surface of the passivation film 8 of the wafer 10a.
Here, a method for forming the first magnetic layer 35 made of ferrite will be described as an example.
First, a metal film is formed on the entire surface of the wafer 10a. This metal film is composed of Fe as the first metal and Mn, Co, Ni, or the like as the second metal. The metal film can be formed using an electrolytic plating method or an electroless plating method. If the first metal and the second metal are deposited at the same time, it is possible to form a mixed metal film. If the first metal and the second metal are alternately deposited, the first metal and the second metal are deposited. It is possible to form a metal film in which two metals are alternately stacked. The ratio between the first metal and the second metal may be 1: 1, for example. In addition, as a 2nd metal, you may employ | adopt not only one type of metals among Mn, Co, Ni etc. but 2 or more types of metals.

次に、金属膜を酸化する。金属膜の酸化は、酸素ガス等の雰囲気にウエハ10aを保持しつつ加熱することによって行うことが可能であり、また重クロム酸カリ等の酸化剤の液体に基体を浸漬することによって行うことも可能である。これらの処理により、金属膜を構成する第1金属および第2金属がともに酸化されて、フェライトが形成される。これらのプロセスを繰り返せば、任意の厚さのフェライトが形成される。   Next, the metal film is oxidized. The oxidation of the metal film can be performed by heating while holding the wafer 10a in an atmosphere of oxygen gas or the like, or by immersing the substrate in a liquid of an oxidizing agent such as potassium dichromate. Is possible. By these treatments, the first metal and the second metal constituting the metal film are both oxidized to form ferrite. If these processes are repeated, an arbitrary thickness of ferrite is formed.

なお、フェライトの形成方法として、近時開発されたフェライトめっき法を採用することも可能である。フェライトめっき法は、室温〜90℃程度の水溶液中で、強磁性フェライト膜を直接形成する方法である。具体的には、まず基体の表面に、金属イオンの吸着席となるOH基を形成する。次にその基体を、Fe2+やその他の金属イオン(Co2+やNi2+、Mn2+、Zn2+等)を含む溶液(FeCl2水溶液等)に浸漬する。すると、基体表面のOH基に金属イオンが吸着する。次に、亜硝酸イオン(NO2−)や空気などの酸化剤を導入することにより、2価のFe2+の一部を3価のFe3+に酸化する。さらに、そのFe3+に金属イオンを吸着させることにより、スピネル型フェライトを生成することができる。   It is also possible to adopt a recently developed ferrite plating method as a method for forming ferrite. The ferrite plating method is a method of directly forming a ferromagnetic ferrite film in an aqueous solution at room temperature to about 90 ° C. Specifically, first, OH groups serving as adsorption sites for metal ions are formed on the surface of the substrate. Next, the substrate is immersed in a solution (FeCl2 aqueous solution or the like) containing Fe2 + or other metal ions (Co2 +, Ni2 +, Mn2 +, Zn2 +, etc.). Then, metal ions are adsorbed on the OH groups on the substrate surface. Next, a part of divalent Fe2 + is oxidized to trivalent Fe3 + by introducing an oxidant such as nitrite ion (NO2-) or air. Further, spinel ferrite can be generated by adsorbing metal ions to the Fe3 +.

次に、第1磁性層35の平面形状をパターニングする。その際、上述したインダクタ素子の形成領域の近傍のみに第1磁性層35を残して、それ以外の領域の第1磁性層35は除去してもよい。   Next, the planar shape of the first magnetic layer 35 is patterned. At this time, the first magnetic layer 35 may be left only in the vicinity of the above-described inductor element formation region, and the first magnetic layer 35 in other regions may be removed.

第1磁性層35のパターニングは、ウエットエッチングを用いて行うことが可能である。具体的には、まず第1磁性層35の表面全体にレジスト膜を形成し、露光および現像することにより、第1磁性層35を形成すべき領域にマスクを形成する。次に、塩化第二鉄やチオ硫酸ナトリウムなどのエッチャント水溶液に、ウエハ10aを浸漬する。なおエッチャント水溶液の濃度は、Fe層をエッチングする場合の濃度と同程度であればよく、磁性層の厚さに鑑みて適宜調整する。またウエハ10aの浸漬時間も、エッチャント水溶液の濃度および磁性層の厚さに鑑みて適宜調整する。なお第1磁性層35のパターニングは、ドライエッチングを用いて行うことも可能である。
以上により、所定パターンの第1磁性層35が形成される。もちろん、第1磁性層35は前述したフェライト以外の物質で形成しても良い。
The patterning of the first magnetic layer 35 can be performed using wet etching. Specifically, first, a resist film is formed on the entire surface of the first magnetic layer 35, and a mask is formed in a region where the first magnetic layer 35 is to be formed by exposure and development. Next, the wafer 10a is immersed in an etchant aqueous solution such as ferric chloride or sodium thiosulfate. Note that the concentration of the etchant aqueous solution may be approximately the same as that in the case of etching the Fe layer, and is appropriately adjusted in view of the thickness of the magnetic layer. The immersion time of the wafer 10a is also adjusted as appropriate in view of the concentration of the etchant aqueous solution and the thickness of the magnetic layer. The patterning of the first magnetic layer 35 can also be performed using dry etching.
Thus, the first magnetic layer 35 having a predetermined pattern is formed. Of course, the first magnetic layer 35 may be formed of a material other than the ferrite described above.

次に、第1磁性層35の表面に第1配線12および連結配線(以下「第1配線12等」という。)を形成する。その前提として、第1磁性層35の表面に下地膜を形成する。この下地膜は、下層のバリア層と上層のシード層とで構成される。初めに、バリア層は、Al等からなる電極へのCuの拡散を防止するものであり、TiWやTiN等により厚さ100nm程度に形成する。シード層は、第1配線12等を電解メッキ法で形成する際の電極として機能するものであり、Cu等により厚さ数100nm程度に続けて形成する。それらはスパッタ法、CVD法、無電解メッキ法などで形成されることが多い。次に、第1配線12等の形成領域に開口部を有するマスクを形成する。次に、下地膜のシード層を電極として電解Cuメッキを行い、マスクの開口部にCuを埋め込んで第1配線12等を形成する。これは、無電解メッキ法などで形成しても良い。マスクを除去した後に、第1配線12等をマスクとして下地膜をエッチングする。   Next, the first wiring 12 and the connection wiring (hereinafter referred to as “first wiring 12 etc.”) are formed on the surface of the first magnetic layer 35. As a premise thereof, a base film is formed on the surface of the first magnetic layer 35. This base film is composed of a lower barrier layer and an upper seed layer. First, the barrier layer prevents diffusion of Cu into an electrode made of Al or the like, and is formed with a thickness of about 100 nm using TiW, TiN, or the like. The seed layer functions as an electrode when the first wiring 12 and the like are formed by an electrolytic plating method, and is continuously formed with a thickness of about several hundreds of nanometers using Cu or the like. They are often formed by sputtering, CVD, electroless plating, or the like. Next, a mask having an opening in the formation region of the first wiring 12 and the like is formed. Next, electrolytic Cu plating is performed using the seed layer of the base film as an electrode, and Cu is embedded in the opening of the mask to form the first wiring 12 and the like. This may be formed by an electroless plating method or the like. After removing the mask, the base film is etched using the first wiring 12 and the like as a mask.

次に、隣接する第1配線12間のスペースに第1樹脂層37(図2(a)参照)を形成する。
具体的には、まず第1磁性層35および第1配線12の表面全体に第1樹脂層37となる感光性樹脂を液滴吐出法やスピンコート法等により塗布する。次に、露光および現像することにより、第1樹脂層37を形成すべき領域、つまり隣接する第1配線12間のスペースに感光性樹脂を残して、他の領域の感光性樹脂を除去する。さらに、エッチングを行い、パターニングされた第1樹脂層37を第1配線12と同膜厚に平坦化してもよい。
Next, the first resin layer 37 (see FIG. 2A) is formed in the space between the adjacent first wirings 12.
Specifically, first, a photosensitive resin that becomes the first resin layer 37 is applied to the entire surfaces of the first magnetic layer 35 and the first wiring 12 by a droplet discharge method, a spin coating method, or the like. Next, by exposing and developing, the photosensitive resin is left in the region where the first resin layer 37 is to be formed, that is, the space between the adjacent first wirings 12, and the photosensitive resin in other regions is removed. Further, etching may be performed to planarize the patterned first resin layer 37 to the same thickness as the first wiring 12.

次に図7(b)に示すように、第1配線12等を覆うように第2磁性層31を形成する。
具体的には、前述した第1配線12および第1磁性層35(図7(a)参照)の表面に、第1磁性層35の形成方法と同様に第2磁性層31を形成する。次に、上述した内側貫通孔および外側貫通孔を形成することにより、第1配線12の端部を露出させつつ第1配線12の中央部を覆うように第2磁性層31を形成する。これと同時に、第2磁性層31の平面形状をパターニングする。
その際、インダクタ素子の形成領域の近傍のみに第2磁性層31を残して、それ以外の領域の第2磁性層31を除去してもよい。
Next, as shown in FIG. 7B, a second magnetic layer 31 is formed so as to cover the first wiring 12 and the like.
Specifically, the second magnetic layer 31 is formed on the surfaces of the first wiring 12 and the first magnetic layer 35 (see FIG. 7A) described above in the same manner as the method for forming the first magnetic layer 35. Next, the second magnetic layer 31 is formed so as to cover the central portion of the first wiring 12 while exposing the end portion of the first wiring 12 by forming the inner through hole and the outer through hole described above. At the same time, the planar shape of the second magnetic layer 31 is patterned.
In this case, the second magnetic layer 31 may be left only in the vicinity of the inductor element formation region, and the second magnetic layer 31 in other regions may be removed.

第2磁性層31のパターニングは、前述した第1磁性層35の形成方法と同様に、ウエットエッチング、またはドライエッチングを用いて行うことが可能である。
以上により、所定パターンの第2磁性層31が形成される。もちろん、第2磁性層31は前述したフェライト以外の物質で形成しても良い。
The patterning of the second magnetic layer 31 can be performed using wet etching or dry etching in the same manner as the method for forming the first magnetic layer 35 described above.
Thus, the second magnetic layer 31 having a predetermined pattern is formed. Of course, the second magnetic layer 31 may be formed of a material other than the ferrite described above.

次に、図7(c)に示すように、第2磁性層31の表面に、再配置配線64および接続端子63(以下「再配置配線64等」という。)を形成する。この再配置配線64等の形成工程において、再配置配線64等と同時に、第2配線22および連結配線(以下「第2配線22等」という。)を形成する。その具体的な方法は、上述した第1配線12等の形成方法と同様である。この時、一の第1配線12の端部と他の第1配線12の端部とを順に連結するように第2配線22を配置することにより、第1配線12および第2配線22からなる巻き線が形成される。このように、再配置配線64等と同時に第2配線22等を形成することにより、製造工程を簡略化して製造コストを低減することができる。また、メッキやフォトリソグラフィ等を利用して正確に第2配線22等を形成することが可能になり、所望の特性を備えたインダクタ素子を形成することができる。なお第2磁性層31の表面に形成された第2配線22をレーザ等でトリミングすることにより、インダクタ素子特性のチューニングを行うことも可能である。   Next, as shown in FIG. 7C, the rearrangement wiring 64 and the connection terminal 63 (hereinafter referred to as “relocation wiring 64 etc.”) are formed on the surface of the second magnetic layer 31. In the step of forming the rearrangement wiring 64 and the like, the second wiring 22 and the connection wiring (hereinafter referred to as “second wiring 22 and the like”) are formed simultaneously with the rearrangement wiring 64 and the like. The specific method is the same as the method of forming the first wiring 12 and the like described above. At this time, the second wiring 22 is arranged so as to sequentially connect the end of one first wiring 12 and the end of the other first wiring 12, thereby forming the first wiring 12 and the second wiring 22. A winding is formed. In this way, by forming the second wiring 22 and the like simultaneously with the rearrangement wiring 64 and the like, the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced. In addition, the second wiring 22 and the like can be accurately formed using plating, photolithography, or the like, and an inductor element having desired characteristics can be formed. It is also possible to tune the inductor element characteristics by trimming the second wiring 22 formed on the surface of the second magnetic layer 31 with a laser or the like.

次に、隣接する第2配線22間のスペースに第2樹脂層38(図2(a)参照)を形成する。
具体的には、まず第2磁性層31および第2配線22の表面全体に第2樹脂層38となる感光性樹脂を液滴吐出法、スピンコート法等により塗布する。次に、露光および現像することにより、第2樹脂層38を形成すべき領域、つまり隣接する第2配線22間のスペースに感光性樹脂を残して、他の領域の感光性樹脂を除去する。さらに、エッチングを行い、パターニングされた第2樹脂層38を第2配線22と同膜厚に平坦化してもよい。
Next, a second resin layer 38 (see FIG. 2A) is formed in the space between the adjacent second wirings 22.
Specifically, first, a photosensitive resin that becomes the second resin layer 38 is applied to the entire surface of the second magnetic layer 31 and the second wiring 22 by a droplet discharge method, a spin coating method, or the like. Next, by exposing and developing, the photosensitive resin is left in the region where the second resin layer 38 is to be formed, that is, in the space between the adjacent second wirings 22, and the photosensitive resin in other regions is removed. Further, etching may be performed to planarize the patterned second resin layer 38 to the same thickness as the second wiring 22.

次に、インダクタ素子上に第3磁性層36を形成する。
具体的には、第2磁性層31の表面に、上述した第1磁性層35及び第2磁性層31の形成方法と同様に第3磁性層36を形成する。その際、インダクタ素子の形成領域の近傍のみに第3磁性層36を残して、それ以外の領域の第3磁性層36は除去するようにパターニングする。
第3磁性層36のパターニングは、上述した第1磁性層35及び第2磁性層31の形成方法と同様に、ウエットエッチング、またはドライエッチングを用いて行うことが可能である。
以上により、所定パターンの第3磁性層36が形成される。もちろん、第2磁性層31は前述したフェライト以外の物質で形成してもよい。
Next, the third magnetic layer 36 is formed on the inductor element.
Specifically, the third magnetic layer 36 is formed on the surface of the second magnetic layer 31 in the same manner as the method for forming the first magnetic layer 35 and the second magnetic layer 31 described above. At this time, patterning is performed so that the third magnetic layer 36 is left only in the vicinity of the inductor element formation region, and the third magnetic layer 36 in other regions is removed.
The patterning of the third magnetic layer 36 can be performed using wet etching or dry etching, similarly to the method of forming the first magnetic layer 35 and the second magnetic layer 31 described above.
Thus, the third magnetic layer 36 having a predetermined pattern is formed. Of course, the second magnetic layer 31 may be formed of a material other than the ferrite described above.

次に図8(a)に示すように、ウエハ10aの表面全体にソルダーレジスト66を形成する。なお接続端子63の上方に、ソルダーレジスト66の開口部67を形成する。
次に図8(b)に示すように、その開口部の内側における接続端子63の表面に、バンプ78を形成する。
ここで、ウエハ10aから個々の電子基板1を分離する。電子基板1の分離は、ダイシング等によって行うことができる。
Next, as shown in FIG. 8A, a solder resist 66 is formed on the entire surface of the wafer 10a. Note that an opening 67 of the solder resist 66 is formed above the connection terminal 63.
Next, as shown in FIG. 8B, a bump 78 is formed on the surface of the connection terminal 63 inside the opening.
Here, the individual electronic substrates 1 are separated from the wafer 10a. The electronic substrate 1 can be separated by dicing or the like.

次に図8(c)に示すように、基体10の裏面に接着剤71を塗布する。接着剤71の塗布は、ディスペンサ等から吐出して行うことが可能である。
次に図8(d)に示すように、放熱部材72を装着する。まず、銅板を箱状にプレス成型して放熱部材72を形成する。次に、その放熱部材72の内側に基体10を挿入し、放熱部材72の底面と基体10の裏面とを接着剤71により固着する。
以上により、本実施形態に係る電子基板1が完成する。
Next, as shown in FIG. 8C, an adhesive 71 is applied to the back surface of the substrate 10. The adhesive 71 can be applied by discharging it from a dispenser or the like.
Next, as shown in FIG.8 (d), the heat radiating member 72 is mounted | worn. First, the heat radiating member 72 is formed by press-molding a copper plate into a box shape. Next, the base body 10 is inserted inside the heat radiating member 72, and the bottom surface of the heat radiating member 72 and the back surface of the base body 10 are fixed by the adhesive 71.
Thus, the electronic substrate 1 according to this embodiment is completed.

以上に詳述したように、図5に示す本実施形態に係る電子基板の製造方法によれば、第2磁性層31をコア42とするインダクタ素子40(図2参照)を、簡単に形成することができる。そして、インダクタ素子40のコアを第2磁性層31で形成することにより、磁束密度を増加させることが可能になり、インダクタ素子40の電気的特性を向上させることができる。   As described in detail above, according to the method of manufacturing the electronic substrate according to the present embodiment shown in FIG. 5, the inductor element 40 (see FIG. 2) having the second magnetic layer 31 as the core 42 is easily formed. be able to. Then, by forming the core of the inductor element 40 with the second magnetic layer 31, the magnetic flux density can be increased, and the electrical characteristics of the inductor element 40 can be improved.

さらに、磁性体材料からなる各磁性層35,31,36がインダクタ素子40の周囲を取り囲んで閉磁路が形成される。そして、閉磁路タイプにおいては、インダクタ素子40で発生する磁束が透磁率の高いコア42の中を主に通るため、インダクタ素子40の周囲を遮蔽していない開磁路タイプと比して、外部への磁束の漏れが少ない。そのため、インダクタ素子40と接触する基体10等の周辺部材との干渉により発生する漏れ電流を防ぐことができる。また、磁束密度をさらに増加させ、より高いL値(インダクタンス)およびQ値を得ることができる。
また、各第1配線11及び第2配線22の隣接する配線間のスペースに樹脂層37,38が形成されたため、第1配線11及び第2配線22の配線間のスペースで磁力線が相殺されることを抑制し、磁性層35,31,36の内部に磁力線を集中させることができる。
Further, the magnetic layers 35, 31, and 36 made of a magnetic material surround the periphery of the inductor element 40 to form a closed magnetic circuit. In the closed magnetic circuit type, since the magnetic flux generated in the inductor element 40 mainly passes through the core 42 having a high magnetic permeability, the external magnetic circuit type is not compared with the open magnetic circuit type that does not shield the periphery of the inductor element 40. There is little leakage of magnetic flux. Therefore, it is possible to prevent a leakage current that is generated due to interference with a peripheral member such as the base 10 that is in contact with the inductor element 40. Further, the magnetic flux density can be further increased, and higher L value (inductance) and Q value can be obtained.
In addition, since the resin layers 37 and 38 are formed in the space between the adjacent wirings of the first wiring 11 and the second wiring 22, the lines of magnetic force are offset by the space between the wirings of the first wiring 11 and the second wiring 22. This can be suppressed and the lines of magnetic force can be concentrated inside the magnetic layers 35, 31 and 36.

(第1変形例)
図9はインダクタ素子の変形例の説明図であり、図9(a)は平面図であり、図9(b)は図9(a)のD−D線における断面図である。第1実施形態ではリング状のコアを有する立体型インダクタ素子(トロイダルインダクタ素子)を採用したが、これに代えて、図9(a)に示す直線状のコアを有する立体型インダクタ素子140を採用することも可能である。
(First modification)
FIG. 9 is an explanatory view of a modified example of the inductor element, FIG. 9A is a plan view, and FIG. 9B is a cross-sectional view taken along the line DD in FIG. 9A. In the first embodiment, a three-dimensional inductor element (toroidal inductor element) having a ring-shaped core is employed. Instead, a three-dimensional inductor element 140 having a linear core shown in FIG. 9A is employed. It is also possible to do.

図9(b)に示すように、第1変形例では、基体10の表面に、フェライトからなる第1磁性層35がインダクタ素子140の形成領域、つまり略直線状に形成されている。この第1磁性層35は、第1実施形態と同等の材料により、第1実施形態と同様の方法で形成することも可能であるが、液滴吐出法や印刷法等により直接描画形成することも可能である。   As shown in FIG. 9B, in the first modification, the first magnetic layer 35 made of ferrite is formed on the surface of the base 10 in a region where the inductor element 140 is formed, that is, in a substantially linear shape. The first magnetic layer 35 can be formed by the same material as that of the first embodiment and by the same method as that of the first embodiment. Is also possible.

図9(a)に示すように、基体10および第1磁性層35の表面に、複数の第1配線12が形成されている。この第1配線12は、第1実施形態と同等の材料により、第1実施形態と同様の方法で形成されている。また、複数の第1配線12が平行に配置されている。そして、複数の第1配線12のうちの一つが、連結配線12aを介して、電極11に連結されている。
さらに、隣接する各第1配線12間のスペースには、非磁性材料層が形成されている。非磁性材料層として、感光性樹脂からなる第1樹脂層37が形成されている。この第1樹脂層37は、第1実施形態と同等の材料により、第1実施形態と同様の方法で形成されている。
As shown in FIG. 9A, a plurality of first wirings 12 are formed on the surfaces of the base 10 and the first magnetic layer 35. The first wiring 12 is formed of the same material as that of the first embodiment by the same method as that of the first embodiment. A plurality of first wirings 12 are arranged in parallel. One of the plurality of first wirings 12 is connected to the electrode 11 via the connection wiring 12a.
Further, a nonmagnetic material layer is formed in the space between the adjacent first wirings 12. As the nonmagnetic material layer, a first resin layer 37 made of a photosensitive resin is formed. The first resin layer 37 is formed of the same material as that of the first embodiment by the same method as that of the first embodiment.

その第1配線12および第1樹脂層37の端部を露出させつつ、中央部を覆うように、第2磁性層31が形成されている。この第2磁性層31は、第1実施形態と同等の材料により、略直線状に形成されている。図9(b)に示すように、第2磁性層31の延在方向に垂直な断面は、略半円形状とされている。この第2磁性層31は、第1実施形態と同様の方法で形成することも可能であるが、液滴吐出法や印刷法等により直接描画形成することも可能である。   The second magnetic layer 31 is formed so as to cover the central portion while exposing the end portions of the first wiring 12 and the first resin layer 37. The second magnetic layer 31 is formed in a substantially linear shape using the same material as that of the first embodiment. As shown in FIG. 9B, the cross section perpendicular to the extending direction of the second magnetic layer 31 has a substantially semicircular shape. The second magnetic layer 31 can be formed by the same method as in the first embodiment, but can also be directly drawn and formed by a droplet discharge method, a printing method, or the like.

図9(a)に示すように、その第2磁性層31の表面を横断するように、複数の第2配線22が形成されている。この第2配線22も、第1実施形態と同等の材料により、第1実施形態と同様の方法で形成されている。また、複数の第2配線22が平行に配置されている。そして、複数の第2配線22のうちの一つが、連結配線22aを介して、電極21に連結されている。   As shown in FIG. 9A, a plurality of second wirings 22 are formed so as to cross the surface of the second magnetic layer 31. This second wiring 22 is also formed by the same method as in the first embodiment, using the same material as that in the first embodiment. A plurality of second wirings 22 are arranged in parallel. One of the plurality of second wirings 22 is connected to the electrode 21 through the connection wiring 22a.

この第2配線22は、隣接する第1配線12のうち、一方の第1配線の内側端部と、他方の第1配線の外側端部とを連結するように形成されている。このように、第1配線12および第2配線22が順に連結されて、らせん状の巻き線41が形成されている。また巻き線41の内側の第2磁性層31により、直線状のコア42が構成されている。そして巻き線41およびコア42により、立体型インダクタ素子140が構成されている。
さらに、隣接する各第2配線22間のスペースには、非磁性材料層が形成されている。非磁性材料層として、感光性樹脂からなる第2樹脂層38が形成されている。この第2樹脂層38は、第1実施形態と同等の材料により、第1実施形態と同様の方法で形成されている。この第2樹脂層38は、隣接する第1樹脂層37のうち、一方の第1樹脂層37の内側端部と、他方の第1樹脂層37の外側端部とを連結するように形成されている。これにより、隣接する巻き線41の隙間の全てに第1樹脂層37及び第2樹脂層38が形成されることになる。
The second wiring 22 is formed so as to connect the inner end of one first wiring and the outer end of the other first wiring among the adjacent first wirings 12. Thus, the 1st wiring 12 and the 2nd wiring 22 are connected in order, and the helical winding 41 is formed. A linear core 42 is constituted by the second magnetic layer 31 inside the winding 41. The winding 41 and the core 42 constitute a three-dimensional inductor element 140.
Further, a nonmagnetic material layer is formed in the space between the adjacent second wirings 22. As the nonmagnetic material layer, a second resin layer 38 made of a photosensitive resin is formed. The second resin layer 38 is formed by the same method as in the first embodiment, using the same material as that in the first embodiment. The second resin layer 38 is formed so as to connect the inner end of one first resin layer 37 and the outer end of the other first resin layer 37 among the adjacent first resin layers 37. ing. As a result, the first resin layer 37 and the second resin layer 38 are formed in all the gaps between the adjacent windings 41.

また図11(b)に示すように、インダクタ素子140の表面には、インダクタ素子140を覆うとともに、第1磁性層35の端部に重なるように、フェライトからなる第3磁性層36が形成されている。この第3磁性層36は、第1実施形態と同等の材料により、第1実施形態と同様の方法で形成することも可能であるが、液滴吐出法や印刷法等により直接描画形成することも可能である。   Further, as shown in FIG. 11B, a third magnetic layer 36 made of ferrite is formed on the surface of the inductor element 140 so as to cover the inductor element 140 and overlap the end portion of the first magnetic layer 35. ing. The third magnetic layer 36 can be formed of the same material as that of the first embodiment by the same method as that of the first embodiment, but can be directly drawn and formed by a droplet discharge method, a printing method, or the like. Is also possible.

このように、直線状の立体型インダクタ素子140を備えた電子基板においても、第1実施形態と同様の効果を奏することができる。   As described above, the same effect as that of the first embodiment can be obtained even in the electronic substrate including the linear three-dimensional inductor element 140.

(第2実施形態)
図10はインダクタ素子の変形例の平面図であり、図10(a)は平面図であり、図10(b)は図10(a)のE−E線における断面図である。第1実施形態および上記第1変形例では立体型インダクタ素子を採用したが、これに代えて、図10(a)に示す平面型インダクタ素子(スパイラルインダクタ素子)240を採用することも可能である。
(Second Embodiment)
FIG. 10 is a plan view of a modified example of the inductor element, FIG. 10 (a) is a plan view, and FIG. 10 (b) is a cross-sectional view taken along line EE in FIG. 10 (a). In the first embodiment and the first modified example, the three-dimensional inductor element is employed. However, instead of this, a planar inductor element (spiral inductor element) 240 shown in FIG. 10A may be employed. .

図10(b)に示すように、基体10の表面に第1磁性層32が形成され、その第1磁性層32の表面に巻き線41が形成されている。この巻き線41は、図10(b)に示す側面視において同一平面状に、図10(a)に示す平面視において渦巻き状に形成されている。なお巻き線41は、図10(a)に示す略矩形の渦巻き状に限られず、略円形や略多角形の渦巻き状に形成することも可能である。その巻き線41の外側端部は、連結配線22aを介して電極21に連結されている。また巻き線41の内側端部は、連結配線12aを介して電極11に連結されている。この連結配線12aは、第1磁性層32に形成された孔32aから第1磁性層32の裏面に引き回されて、第1磁性層32の表面に形成された巻き線41と短絡しないように配置されている。   As shown in FIG. 10B, the first magnetic layer 32 is formed on the surface of the substrate 10, and the winding 41 is formed on the surface of the first magnetic layer 32. The winding 41 is formed in the same plane in a side view shown in FIG. 10B and in a spiral shape in a plan view shown in FIG. The winding 41 is not limited to the substantially rectangular spiral shape shown in FIG. 10A, and can be formed into a substantially circular or substantially polygonal spiral shape. The outer end portion of the winding 41 is connected to the electrode 21 through the connection wiring 22a. Further, the inner end portion of the winding 41 is connected to the electrode 11 through the connection wiring 12a. The connection wiring 12 a is routed from the hole 32 a formed in the first magnetic layer 32 to the back surface of the first magnetic layer 32 so as not to be short-circuited with the winding 41 formed on the surface of the first magnetic layer 32. Has been placed.

そして、図10(b)に示すように、巻き線41の下層の第1磁性層32がコア42として機能することにより、インダクタ素子240が構成されている。さらに、インダクタ素子240の巻き線41の配線間に非磁性材料層が形成されている。非磁性材料層として、アクリル樹脂や感光性ポリイミド、BCB(ベンゾシクロブテン)、フェノールノボラック樹脂等の感光性樹脂からなる樹脂層39が形成されている。そして、渦巻き状に形成されたインダクタ素子240の表面を覆うように第2磁性層53が形成され、これらの磁性層32,53により、インダクタ素子240が外部から遮蔽された閉磁路が形成されている。   As shown in FIG. 10B, the first magnetic layer 32 below the winding 41 functions as the core 42, thereby forming the inductor element 240. Further, a nonmagnetic material layer is formed between the wires 41 of the inductor element 240. As the nonmagnetic material layer, a resin layer 39 made of a photosensitive resin such as acrylic resin, photosensitive polyimide, BCB (benzocyclobutene), or phenol novolac resin is formed. Then, the second magnetic layer 53 is formed so as to cover the surface of the inductor element 240 formed in a spiral shape, and the magnetic layers 32 and 53 form a closed magnetic path in which the inductor element 240 is shielded from the outside. Yes.

(インダクタ素子の製造方法)
次に、第2実施形態に係るインダクタ素子の製造方法について説明する。なお、第1実施形態と同様となる部分については、その詳細な説明を省略する。
図11および図12は、第2実施形態に係る電子基板の製造方法の工程図であり、図10のE−E線に相当する部分における断面図である。なお電子基板の製造には、W−CSP技術を利用する。すなわち、ウエハに対し一括して以下の各工程を行い、最後に個々の電子基板に分離する。
(Manufacturing method of inductor element)
Next, a method for manufacturing the inductor element according to the second embodiment will be described. Detailed description of the same parts as those in the first embodiment will be omitted.
11 and 12 are process diagrams of the method for manufacturing the electronic substrate according to the second embodiment, and are cross-sectional views taken along a line EE in FIG. Note that W-CSP technology is used for manufacturing the electronic substrate. That is, the following steps are collectively performed on the wafer and finally separated into individual electronic substrates.

まず、図11(a)に示すように、ウエハ10aのパッシベーション膜8の表面に、連結配線12aを形成する。   First, as shown in FIG. 11A, the connecting wiring 12a is formed on the surface of the passivation film 8 of the wafer 10a.

次に、図11(b)に示すように、ウエハ10aおよび連結配線12aの表面に第1磁性層32を形成する。また連結配線12aの一方端部が露出するように、第1磁性層32の孔32aを形成する。   Next, as shown in FIG. 11B, the first magnetic layer 32 is formed on the surfaces of the wafer 10a and the connection wiring 12a. Further, the hole 32a of the first magnetic layer 32 is formed so that one end of the connection wiring 12a is exposed.

次に、図11(c)に示すように、第1磁性層32の表面に、巻き線41を形成する。この巻き線41の形成工程において、巻き線41と同時に、第1磁性層32の表面に再配置配線および接続端子を形成する。さらに、巻き線41の内側端部は、連結配線12aを介して電極11と連結し、外側端部には、電極21とを連結する連結配線22aを形成する(図10参照)。   Next, as illustrated in FIG. 11C, the winding 41 is formed on the surface of the first magnetic layer 32. In the step of forming the winding 41, simultaneously with the winding 41, rearrangement wiring and connection terminals are formed on the surface of the first magnetic layer 32. Further, the inner end portion of the winding 41 is connected to the electrode 11 through the connecting wire 12a, and the connecting wire 22a that connects the electrode 21 is formed at the outer end portion (see FIG. 10).

次に、図12(a)に示すように、巻き線41の配線間に樹脂層39を形成する。具体的には、ウエハ10aの全面に感光性樹脂を塗布し、巻き線41の配線間のスペースに感光性樹脂を残して、他の領域の感光性樹脂を除去する。
続いて、図12(b)に示すように、巻き線41を覆うように、第2磁性層53を形成する。
以上により、本実施形態に係るインダクタ素子240をウエハ10a上に形成できる。
Next, as shown in FIG. 12A, a resin layer 39 is formed between the wires 41. Specifically, the photosensitive resin is applied to the entire surface of the wafer 10a, and the photosensitive resin is left in the space between the wirings 41, and the photosensitive resin in other regions is removed.
Subsequently, as shown in FIG. 12B, the second magnetic layer 53 is formed so as to cover the winding 41.
As described above, the inductor element 240 according to the present embodiment can be formed on the wafer 10a.

上述の第2実施形態によれば、図10(b)に二点鎖線で示す磁力線が透磁率の高い第1磁性層32及び第2磁性層36の内部を主に通る。これにより、磁束の漏れが減少し磁束密度が増加して、インダクタ素子のインダクタンス値およびQ値を向上させることができる。そのため、平面型インダクタ素子240を備えた電子基板においても、第1実施形態と同様の効果を奏することができる。
なお、巻き線41の中央に形成された第1磁性層32の孔32aに、第2磁性層53を充填しない構成としてもよい。
According to the second embodiment described above, the magnetic field lines indicated by the two-dot chain line in FIG. 10B mainly pass through the first magnetic layer 32 and the second magnetic layer 36 having high magnetic permeability. Thereby, the leakage of magnetic flux decreases and the magnetic flux density increases, and the inductance value and Q value of the inductor element can be improved. Therefore, the same effect as that of the first embodiment can be obtained even in the electronic substrate including the planar inductor element 240.
Note that the second magnetic layer 53 may not be filled in the hole 32 a of the first magnetic layer 32 formed in the center of the winding 41.

(第1変形例)
図13は図10に示した平面型インダクタ素子240の変形例の断面図である。上記第2実施形態では基体10上に単層の平面型インダクタ素子240を設け電子基板を構成したが、第1変形例では、基体10上に2層のインダクタ素子(スパイラルインダクタ素子)240A,240Bを積層形成する。
(First modification)
FIG. 13 is a cross-sectional view of a modification of the planar inductor element 240 shown in FIG. In the second embodiment, the single-layer planar inductor element 240 is provided on the base 10 to constitute the electronic substrate. However, in the first modification, two layers of inductor elements (spiral inductor elements) 240A and 240B are provided on the base 10. Are stacked.

図13に示すように、本変形例のインダクタ素子240A,240Bは、第1磁性層32の表面に形成された巻き線41Aと、この巻き線41Aの配線間および配線上に形成された第1樹脂層39Aと、第1樹脂層39A上に積層された巻き線41Bとを備えている。さらに、巻き線41Bの配線間にも第2樹脂層39Bが巻き線41Bと同膜厚で形成されている。そして巻き線41B及び第2樹脂層39Bを覆うように、第2磁性層36が形成されている。
巻き線41A、41Bは、平面視で重なるように形成されている。また、巻き線41Bは、図示しない電極により、基体10の電子回路に接続されている。
As shown in FIG. 13, the inductor elements 240A and 240B of the present modification include a winding 41A formed on the surface of the first magnetic layer 32, and a first portion formed between and on the wiring of the winding 41A. A resin layer 39A and a winding 41B laminated on the first resin layer 39A are provided. Further, the second resin layer 39B is formed in the same thickness as the winding 41B between the windings 41B. And the 2nd magnetic layer 36 is formed so that the winding 41B and the 2nd resin layer 39B may be covered.
The windings 41A and 41B are formed so as to overlap in plan view. Further, the winding 41B is connected to the electronic circuit of the base 10 by an electrode (not shown).

(インダクタ素子の製造方法)
次に、第1変形例に係るインダクタ素子の製造方法について、図14を用いるとともに、図11を援用して説明する。なお、第1実施形態または第2実施形態と同様となる部分については、その詳細な説明を省略する。
図14は、第1変形例に係る電子基板の製造方法の工程図であり、図13に相当する部分における断面図である。なお電子基板の製造には、W−CSP技術を利用する。すなわち、ウエハに対し一括して以下の各工程を行い、最後に個々の電子基板に分離する。
(Manufacturing method of inductor element)
Next, a method for manufacturing an inductor element according to the first modification will be described with reference to FIG. In addition, the detailed description is abbreviate | omitted about the part which becomes the same as 1st Embodiment or 2nd Embodiment.
FIG. 14 is a process diagram of the electronic substrate manufacturing method according to the first modification, and is a cross-sectional view of a portion corresponding to FIG. Note that W-CSP technology is used for manufacturing the electronic substrate. That is, the following steps are collectively performed on the wafer and finally separated into individual electronic substrates.

まず、第1磁性層32の表面に巻き線41Aを形成する工程までは、図11(c)に示す第2実施形態における巻き線41を形成する工程と同様の方法で形成する。   First, up to the step of forming the winding 41A on the surface of the first magnetic layer 32, it is formed by the same method as the step of forming the winding 41 in the second embodiment shown in FIG.

次に、巻き線41Aの表面および配線間に第1樹脂層39Aを形成する。
この時、巻き線41Aの表面および配線間のスペースに感光性樹脂を残して、他の領域の感光性樹脂を除去する。そして、パターニングされた第1樹脂層39Aの表面をエッチングにより平坦化する。
Next, the first resin layer 39A is formed between the surface of the winding 41A and the wiring.
At this time, the photosensitive resin is left in the space between the surface of the winding 41A and the wiring, and the photosensitive resin in other regions is removed. Then, the surface of the patterned first resin layer 39A is planarized by etching.

次に、図14(b)に示すように、平坦化された第1樹脂層39Aの表面に、さらに巻き線41Bを形成する。
次に、図14(c)に示すように、巻き線41Bの配線間にも第2樹脂層39Bを巻き線41Bと同膜厚に形成する。さらに、図14(d)に示すように、インダクタ素子240A,240Bを覆うように第2磁性層53を形成する。
以上により、本変形例に係るインダクタ素子240A,240Bをウエハ10a上に形成できる。
Next, as shown in FIG. 14B, a winding 41B is further formed on the surface of the flattened first resin layer 39A.
Next, as shown in FIG. 14C, the second resin layer 39B is formed to have the same thickness as the winding 41B also between the wirings of the winding 41B. Further, as shown in FIG. 14D, the second magnetic layer 53 is formed so as to cover the inductor elements 240A and 240B.
As described above, the inductor elements 240A and 240B according to this modification can be formed on the wafer 10a.

したがって、本変形例では、上記第2実施形態と同様の効果を奏することに加えて、基体10上に2層のインダクタ素子240A,240Bを積層形成するため、多くの磁束を発生させることができるので、インダクタ素子のインダクタンス値およびQ値を向上させることができる。
なお、巻き線の中央に形成された第1磁性層32の孔32aに、第2磁性層53を充填しない構成としてもよい。
Therefore, in this modification, in addition to the same effects as those of the second embodiment, the two layers of inductor elements 240A and 240B are formed on the substrate 10 in a stacked manner, so that a large amount of magnetic flux can be generated. Therefore, the inductance value and Q value of the inductor element can be improved.
Note that the second magnetic layer 53 may not be filled in the hole 32a of the first magnetic layer 32 formed at the center of the winding.

(電子機器)
次に、上述した電子基板(電子基板)を備えた電子機器の例について説明する。
図15は、携帯電話の斜視図である。上述した電子基板は、携帯電話300の筐体内部に配置されている。この構成によれば、電気的特性に優れた低コストの電子基板を備えているので、電気的特性に優れた低コストの携帯電話を提供することができる。
(Electronics)
Next, an example of an electronic device including the above-described electronic substrate (electronic substrate) will be described.
FIG. 15 is a perspective view of a mobile phone. The electronic board described above is arranged inside the casing of the mobile phone 300. According to this configuration, since the low-cost electronic substrate with excellent electrical characteristics is provided, a low-cost mobile phone with excellent electrical characteristics can be provided.

なお、上述した半導体装置は、携帯電話以外にも種々の電子機器に適用することができる。例えば、液晶プロジェクタ、マルチメディア対応のパーソナルコンピュータ(PC)およびエンジニアリング・ワークステーション(EWS)、ページャ、ワードプロセッサ、テレビ、ビューファインダ型またはモニタ直視型のビデオテープレコーダ、電子手帳、電子卓上計算機、カーナビゲーション装置、POS端末、タッチパネルを備えた装置などの電子機器に適用することが可能である。いずれの場合でも、電気的特性に優れた低コストの電子機器を提供することができる。   Note that the semiconductor device described above can be applied to various electronic devices other than mobile phones. For example, LCD projectors, multimedia personal computers (PCs) and engineering workstations (EWS), pagers, word processors, TVs, viewfinder type or monitor direct view type video tape recorders, electronic notebooks, electronic desk calculators, car navigation systems The present invention can be applied to electronic devices such as a device, a POS terminal, and a device provided with a touch panel. In either case, a low-cost electronic device having excellent electrical characteristics can be provided.

なお、本発明の技術範囲は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、上述した実施形態に種々の変更を加えたものを含む。すなわち、実施形態で挙げた具体的な材料や層構成などはほんの一例に過ぎず、適宜変更が可能である。   It should be noted that the technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiments, and includes those in which various modifications are made to the above-described embodiments without departing from the spirit of the present invention. In other words, the specific materials and layer configurations described in the embodiments are merely examples, and can be changed as appropriate.

例えば、上記実施形態では電子基板の表面にインダクタ素子を形成したが、電子基板の裏面にインダクタ素子を形成して、貫通電極により表面との導通を確保してもよい。また上記実施形態では、電子回路が形成された電子基板にインダクタ素子を形成したが、電気絶縁性材料からなる電子基板にインダクタ素子を形成してもよい。また上記実施形態では、電解メッキ法により第1配線および第2配線を形成したが、スパッタ法や蒸着法等の他の成膜方法を採用してもよい。
さらに、平面型インダクタ素子は、2層以上の多層に積層してもよい。
For example, in the above-described embodiment, the inductor element is formed on the surface of the electronic substrate. However, the inductor element may be formed on the back surface of the electronic substrate, and conduction with the surface may be ensured by the through electrode. Moreover, in the said embodiment, although the inductor element was formed in the electronic substrate in which the electronic circuit was formed, you may form an inductor element in the electronic substrate which consists of an electrically insulating material. Moreover, in the said embodiment, although the 1st wiring and the 2nd wiring were formed by the electroplating method, you may employ | adopt other film-forming methods, such as a sputtering method and a vapor deposition method.
Furthermore, the planar inductor element may be laminated in two or more layers.

以上説明してきた例では、再配置配線型のウエハレベルパッケージ構造とインダクタ構造の混在構造について述べてきたが、ウエハレベルパッケージ構造はこれに限ることはなく、外部端子部にCuポスト構造を有するウエハレベルパッケージ構造など、その他の公知のウエハレベルパッケージ構造とインダクタ構造の混在構造にしても構わない。どちらでも、信頼性やインダクタ特性の双方に優れた構造を提供することができる。   In the example described above, the mixed structure of the relocation wiring type wafer level package structure and the inductor structure has been described. However, the wafer level package structure is not limited to this, and a wafer having a Cu post structure in the external terminal portion. Other known wafer level package structures such as a level package structure and an inductor structure may be mixed. In either case, a structure excellent in both reliability and inductor characteristics can be provided.

電子基板の説明図である。It is explanatory drawing of an electronic substrate. インダクタ素子の説明図である。It is explanatory drawing of an inductor element. インダクタ素子の説明図である。It is explanatory drawing of an inductor element. 電子基板の変形例の説明図である。It is explanatory drawing of the modification of an electronic substrate. 第1実施形態に係る電子基板の説明図である。It is explanatory drawing of the electronic substrate which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る電子基板の実装構造の説明図である。It is explanatory drawing of the mounting structure of the electronic substrate which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る電子基板の製造方法の工程図である。It is process drawing of the manufacturing method of the electronic substrate which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る電子基板の製造方法の工程図である。It is process drawing of the manufacturing method of the electronic substrate which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態の第1変形例に係る電子基板の説明図である。It is explanatory drawing of the electronic substrate which concerns on the 1st modification of 1st Embodiment. 第2実施形態に係る電子基板の説明図である。It is explanatory drawing of the electronic substrate which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る電子基板の製造方法の工程図である。It is process drawing of the manufacturing method of the electronic substrate which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る電子基板の製造方法の工程図である。It is process drawing of the manufacturing method of the electronic substrate which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態の第1変形例に係る電子基板の説明図である。It is explanatory drawing of the electronic substrate which concerns on the 1st modification of 2nd Embodiment. 第2実施形態の第1変形例に係る電子基板の製造方法の工程図である。It is process drawing of the manufacturing method of the electronic substrate which concerns on the 1st modification of 2nd Embodiment. 携帯電話の斜視図である。It is a perspective view of a mobile phone.

符号の説明Explanation of symbols

1…電子基板 10…基体 31…第2磁性層 32…第1磁性層 35…第1磁性層36…第3磁性層 37…第1樹脂層 38…第2樹脂層 39…樹脂層 39A…第1樹脂層 39B…第2樹脂層 40,140,240,240A,240B…インダクタ素子 41,41A,41B…巻き線 42…コア 63…接続端子 71…接着剤 72…放熱部材 90…相手側部材 300…電子機器   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electronic substrate 10 ... Base | substrate 31 ... 2nd magnetic layer 32 ... 1st magnetic layer 35 ... 1st magnetic layer 36 ... 3rd magnetic layer 37 ... 1st resin layer 38 ... 2nd resin layer 39 ... Resin layer 39A ... 1st DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Resin layer 39B ... 2nd resin layer 40,140,240,240A, 240B ... Inductor element 41,41A, 41B ... Winding 42 ... Core 63 ... Connecting terminal 71 ... Adhesive 72 ... Heat-dissipation member 90 ... Pairing member 300 …Electronics

Claims (13)

基体上にインダクタ素子を備えた電子基板であって、
前記インダクタ素子のコアは磁性体材料で形成されるとともに、前記インダクタ素子の周囲は磁性体材料で覆われ、
さらに、前記インダクタ素子の隣接する巻き線の隙間には非磁性材料が充填されていることを特徴とする電子基板。
An electronic substrate having an inductor element on a substrate,
The core of the inductor element is formed of a magnetic material, and the periphery of the inductor element is covered with a magnetic material.
Further, the non-magnetic material is filled in the gap between the adjacent windings of the inductor element.
前記磁性体材料は、フェライトであることを特徴とする請求項1に記載の電子基板。   The electronic substrate according to claim 1, wherein the magnetic material is ferrite. 前記非磁性材料は、樹脂であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電子基板。   The electronic substrate according to claim 1, wherein the nonmagnetic material is a resin. 前記インダクタ素子は、リング状のコアとらせん状の巻き線とを備えたトロイダルインダクタ素子であることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の電子基板。   4. The electronic substrate according to claim 1, wherein the inductor element is a toroidal inductor element having a ring-shaped core and a spiral winding. 5. 前記インダクタ素子は、渦巻き状の巻き線が平面内に形成されたスパイラルインダクタ素子であることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の電子基板。   4. The electronic substrate according to claim 1, wherein the inductor element is a spiral inductor element in which spiral windings are formed in a plane. 5. 前記渦巻き状の巻き線が、非磁性材料を間に挟んで複数層にわたって積層形成されていることを特徴とする請求項5記載の電子基板。   6. The electronic substrate according to claim 5, wherein the spiral winding is formed to be laminated over a plurality of layers with a nonmagnetic material interposed therebetween. 前記基体の周囲の全部または一部が、前記基体より熱伝導率の高い材料からなる放熱部材で覆われていることを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の電子基板。   7. The electron according to claim 1, wherein the whole or a part of the periphery of the base is covered with a heat radiating member made of a material having a higher thermal conductivity than that of the base. substrate. 前記放熱部材は、金属微粒子を分散させた接着剤を介して、前記基体に固着されていることを特徴とする請求項7に記載の電子基板。   The electronic substrate according to claim 7, wherein the heat radiating member is fixed to the base via an adhesive in which metal fine particles are dispersed. 基体上にインダクタ素子を備えた電子基板の製造方法であって、
前記基体上に第1磁性層を形成する工程と、
前記第1磁性層上に複数の第1配線を形成する工程と、
隣接する前記第1配線の隙間に第1非磁性層を形成する工程と、
前記複数の第1配線の中央部を覆うように第2磁性層を形成する工程と、
前記第2磁性層の表面を横断するように複数の第2配線を形成する工程と、
隣接する前記第2配線の隙間に第2非磁性層を形成する工程と、
前記複数の第2配線を覆うように第3磁性層を形成する工程と、を備え、
前記第2配線を形成する工程では、一の前記第1配線の端部と他の前記第1配線の端部とを順に連結するように前記第2配線を配置することにより、前記第1配線および前記第2配線からなる巻き線を備えた前記インダクタ素子を形成することを特徴とする電子基板の製造方法。
A method of manufacturing an electronic substrate having an inductor element on a substrate,
Forming a first magnetic layer on the substrate;
Forming a plurality of first wirings on the first magnetic layer;
Forming a first nonmagnetic layer in a gap between the adjacent first wirings;
Forming a second magnetic layer so as to cover a central portion of the plurality of first wirings;
Forming a plurality of second wirings so as to cross the surface of the second magnetic layer;
Forming a second nonmagnetic layer in a gap between adjacent second wirings;
Forming a third magnetic layer so as to cover the plurality of second wirings,
In the step of forming the second wiring, the first wiring is arranged by sequentially connecting the end of one of the first wiring and the end of the other first wiring. And forming the inductor element having a winding made of the second wiring.
基体上にインダクタ素子を備えた電子基板の製造方法であって、
前記基体上に第1磁性層を形成する工程と、
前記第1磁性層上に、前記インダクタ素子を構成する渦巻き状の巻き線を形成する工程と、
前記巻き線の隙間に非磁性層を形成する工程と、
前記巻き線を覆うように第2磁性層を形成する工程と、を備えることを特徴とする電子基板の製造方法。
A method of manufacturing an electronic substrate having an inductor element on a substrate,
Forming a first magnetic layer on the substrate;
Forming a spiral winding constituting the inductor element on the first magnetic layer;
Forming a nonmagnetic layer in the gap between the windings;
And a step of forming a second magnetic layer so as to cover the winding.
前記巻き線の形成工程および前記非磁性層の形成工程を繰り返すことにより、
複数の前記巻き線を、非磁性層を間に挟んで積層形成することを特徴とする請求項10に記載の電子基板の製造方法。
By repeating the step of forming the winding and the step of forming the nonmagnetic layer,
The method of manufacturing an electronic substrate according to claim 10, wherein a plurality of the windings are stacked with a nonmagnetic layer interposed therebetween.
前記配線の一部をトリミングして、前記インダクタ素子の特性調整を行う工程を有することを特徴とする請求項9ないし請求項11のいずれか1項に記載の電子基板の製造方法。   The method of manufacturing an electronic substrate according to claim 9, further comprising a step of trimming a part of the wiring to adjust the characteristics of the inductor element. 請求項1ないし請求項8のいずれか1項に記載の電子基板を備えたことを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electronic substrate according to claim 1.
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