JP7411590B2 - Inductor parts and their manufacturing method - Google Patents

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本発明は、インダクタ部品およびその製造方法に関する。 The present invention relates to an inductor component and a method for manufacturing the same.

従来、インダクタ部品としては、特開2013-225718号公報(特許文献1)に記載されたものがある。このインダクタ部品は、絶縁基板と、絶縁基板の主面に形成されたスパイラル導体と、スパイラル導体を覆う絶縁樹脂層と、絶縁基板の上面側および裏面側を覆う上部コアおよび下部コアと、一対の端子電極とを備える。絶縁基板は、ガラスクロスにエポキシ樹脂を含浸させた一般的なプリント基板材料であり、絶縁基板の大きさは、2.5mm×2.0mm×0.3mmである。上部コアおよび下部コアは、金属磁性粉含有樹脂である。 Conventionally, as an inductor component, there is one described in Japanese Unexamined Patent Publication No. 2013-225718 (Patent Document 1). This inductor component includes an insulating substrate, a spiral conductor formed on the main surface of the insulating substrate, an insulating resin layer covering the spiral conductor, an upper core and a lower core covering the top and back sides of the insulating substrate, and a pair of and a terminal electrode. The insulating substrate is a general printed circuit board material made of glass cloth impregnated with epoxy resin, and the size of the insulating substrate is 2.5 mm x 2.0 mm x 0.3 mm. The upper core and lower core are resin containing metal magnetic powder.

また、特開2007-305824号公報(特許文献2)には、シート状の素体と、素体内に形成されたコイルを構成する平面コイルと、コイルの最外周部に形成された端子とを備えるインダクタ部品が記載されている。素体は、フォトレジストによる絶縁層の積層体である。端子の一部は、磁性体からなる。素体におけるコイルの内周方向には、磁性体からなる磁性中脚部が形成されている。なお、このインダクタ部品は、シリコン等の基板上に素体等を積層した後、フッ酸処理等により基板を除去して形成している。 Furthermore, Japanese Patent Laid-Open No. 2007-305824 (Patent Document 2) describes a sheet-like element body, a planar coil constituting a coil formed inside the element body, and a terminal formed on the outermost periphery of the coil. The inductor components provided are described. The element body is a stack of insulating layers made of photoresist. A portion of the terminal is made of magnetic material. A magnetic middle leg made of a magnetic material is formed in the inner circumferential direction of the coil in the element body. Note that this inductor component is formed by laminating an element body and the like on a substrate made of silicon or the like, and then removing the substrate by treatment with hydrofluoric acid or the like.

特開2013-225718号公報JP2013-225718A 特開2007-305824号公報Japanese Patent Application Publication No. 2007-305824

ところで、特許文献1では、数百μmオーダのプリント基板材料の絶縁基板上にスパイラル導体を形成しており、インダクタ部品の全体を低背化することに限界が生じる。また、例えば、特許文献1の構造において低背化を達成するために、特許文献2のように、絶縁基板をエッチングや研磨で除去することを考えた場合、特許文献1ではスパイラル導体が絶縁基板の直上に形成されているため、絶縁基板の除去時にスパイラル導体の底面も一部除去されてしまう可能性が高い。このように、スパイラル導体まで除去されてしまうと、直流抵抗(Rdc)が増加(悪化)してしまう上に、このスパイラル導体の除去量は、量産時には、除去工程ごとにばらつくことが避けられず、Rdcのばらつきの原因ともなる。 By the way, in Patent Document 1, a spiral conductor is formed on an insulating substrate made of a printed circuit board material on the order of several hundred μm, and there is a limit to reducing the height of the entire inductor component. Further, for example, when considering removing the insulating substrate by etching or polishing as in Patent Document 2 in order to achieve a lower height in the structure of Patent Document 1, in Patent Document 1 the spiral conductor is removed from the insulating substrate. Since the spiral conductor is formed directly above the spiral conductor, there is a high possibility that a portion of the bottom surface of the spiral conductor will also be removed when the insulating substrate is removed. In this way, if even the spiral conductor is removed, the direct current resistance (Rdc) will increase (deteriorate), and the amount of spiral conductor removed will inevitably vary depending on the removal process during mass production. , and may cause variations in Rdc.

また、特許文献1では、スパイラル導体は、絶縁樹脂層で覆われており、特許文献2では、素体が、フォトレジスト(非磁性体)であることから、絶縁樹脂層やフォトレジストが部品全体に占める割合が大きい。したがって、部品の小型低背化が進み、磁性体(特許文献1のコアや、特許文献2の磁性体端子および磁性中脚部)や配線(特許文献1のスパイラル導体や、特許文献2の平面コイル)の形成領域が十分に確保できず、インダクタンス(L)、Rdcの両方を十分に確保できなくなる可能性がある。すなわち、小型低背化によってLとRdcとのいずれかまたはその両方が犠牲になる可能性がある。 Further, in Patent Document 1, the spiral conductor is covered with an insulating resin layer, and in Patent Document 2, the element body is a photoresist (non-magnetic material), so the insulating resin layer and photoresist cover the entire part. It accounts for a large proportion of the total. Therefore, components have become smaller and lower in profile, including magnetic materials (the core of Patent Document 1, magnetic terminals and magnetic middle legs of Patent Document 2) and wiring (spiral conductors of Patent Document 1, flat surfaces of Patent Document 2). There is a possibility that a sufficient area for forming the coil (coil) cannot be secured, and that both inductance (L) and Rdc cannot be secured sufficiently. That is, there is a possibility that one or both of L and Rdc will be sacrificed due to the reduction in size and height.

以上のように、従来のインダクタ部品は、小型低背化に適した構成とは言えない。 As described above, conventional inductor components cannot be said to have a configuration suitable for miniaturization and low profile.

そこで、本開示の課題は、小型低背化に適したインダクタ部品およびその製造方法を提供することにある。 Therefore, an object of the present disclosure is to provide an inductor component suitable for reduction in size and height, and a method for manufacturing the same.

前記課題を解決するため、本開示の一態様であるインダクタ部品は、
磁性体を含有しない絶縁層と、
前記絶縁層の第1主面上に形成され、前記第1主面上に巻回されるスパイラル配線と、
前記スパイラル配線の少なくとも一部に接触する磁性層と
を備える。
In order to solve the above problems, an inductor component that is one aspect of the present disclosure includes:
an insulating layer that does not contain magnetic material;
a spiral wiring formed on a first main surface of the insulating layer and wound on the first main surface;
and a magnetic layer in contact with at least a portion of the spiral wiring.

ここで、スパイラル配線とは、平面に形成された曲線(2次元曲線)であって、ターン数が1周を超える曲線であってもよく、ターン数が1周未満の曲線であってもよく、一部に直線を有していてもよい。 Here, the spiral wiring is a curve (two-dimensional curve) formed on a plane, and may be a curve with more than one turn, or a curve with less than one turn. , may have a straight line in part.

本開示のインダクタ部品によれば、スパイラル配線が絶縁層の第1主面上に形成されていることで、絶縁層の第2主面側(下方)からの基板の除去(エッチング、研磨など)の加工プロセスに対して、スパイラル配線が保護される。これにより、直流抵抗(Rdc)の増加や量産時のRdcのばらつきを抑制できる。 According to the inductor component of the present disclosure, since the spiral wiring is formed on the first main surface of the insulating layer, the substrate can be removed (etching, polishing, etc.) from the second main surface side (lower side) of the insulating layer. The spiral wiring is protected against the following processing processes. This makes it possible to suppress an increase in direct current resistance (Rdc) and variations in Rdc during mass production.

また、スパイラル配線に磁性層が接触していることで、インダクタ部品全体に占める絶縁層の割合が減少し、スパイラル配線と磁性層の形成領域を確保できる。これにより、インダクタンス(L)とRdcのトレードオフの関係を改善することができる。 Furthermore, since the magnetic layer is in contact with the spiral wiring, the proportion of the insulating layer in the entire inductor component is reduced, and an area for forming the spiral wiring and the magnetic layer can be secured. Thereby, the trade-off relationship between inductance (L) and Rdc can be improved.

したがって、小型低背化に適したインダクタ部品を実現できる。 Therefore, an inductor component suitable for reduction in size and height can be realized.

また、インダクタ部品の一実施形態では、前記磁性層は、前記スパイラル配線との接触部分において、前記スパイラル配線の側面に接触している。 Further, in one embodiment of the inductor component, the magnetic layer is in contact with a side surface of the spiral wiring at a contact portion with the spiral wiring.

前記実施形態によれば、絶縁層の割合が減少する。 According to the embodiment, the proportion of the insulating layer is reduced.

また、インダクタ部品の一実施形態では、前記磁性層は、前記スパイラル配線との接触部分において、前記スパイラル配線の上面に接触している。 Further, in one embodiment of the inductor component, the magnetic layer is in contact with the upper surface of the spiral wiring at a contact portion with the spiral wiring.

前記実施形態によれば、絶縁層の割合が減少する。 According to the embodiment, the proportion of the insulating layer is reduced.

また、インダクタ部品の一実施形態では、前記磁性層は、前記スパイラル配線との接触部分において、前記スパイラル配線の側面から上面にかけて接触している。 Further, in one embodiment of the inductor component, the magnetic layer is in contact with the spiral wiring from a side surface to an upper surface at a contact portion with the spiral wiring.

前記実施形態によれば、絶縁層の割合がより減少する。 According to the embodiment, the proportion of the insulating layer is further reduced.

また、インダクタ部品の一実施形態では、前記絶縁層の厚みは、前記スパイラル配線の厚みより薄い。 Further, in one embodiment of the inductor component, the thickness of the insulating layer is thinner than the thickness of the spiral wiring.

前記実施形態によれば、絶縁層の割合がより減少する。 According to the embodiment, the proportion of the insulating layer is further reduced.

また、インダクタ部品の一実施形態では、前記絶縁層の厚みは、10μm以下である。 Further, in one embodiment of the inductor component, the thickness of the insulating layer is 10 μm or less.

前記実施形態によれば、絶縁層の割合がより減少する。 According to the embodiment, the proportion of the insulating layer is further reduced.

また、インダクタ部品の一実施形態では、前記絶縁層は、前記スパイラル配線に沿った形状である。 Moreover, in one embodiment of the inductor component, the insulating layer has a shape along the spiral wiring.

前記実施形態によれば、スパイラル配線が形成されない領域において絶縁層を設けないため、絶縁層の割合がより減少する。 According to the embodiment, since no insulating layer is provided in the region where the spiral wiring is not formed, the ratio of the insulating layer is further reduced.

また、インダクタ部品の一実施形態では、
前記磁性層の内部を前記第1主面の法線方向に貫通する柱状配線と、前記磁性層の外側に形成された外部端子とをさらに備え、
前記スパイラル配線と前記柱状配線が直接に接触し、前記柱状配線と前記外部端子が直接に接触している。
Additionally, in one embodiment of the inductor component,
further comprising: a columnar wiring penetrating the inside of the magnetic layer in a direction normal to the first main surface; and an external terminal formed outside the magnetic layer;
The spiral wiring and the columnar wiring are in direct contact with each other, and the columnar wiring and the external terminal are in direct contact with each other.

前記実施形態によれば、ビア導体が無いため、インダクタ部品の低背化と、Rdcの低下と、接続信頼性の向上を実現できる。 According to the embodiment, since there is no via conductor, it is possible to reduce the height of the inductor component, reduce Rdc, and improve connection reliability.

また、インダクタ部品の一実施形態では、前記スパイラル配線は、1層のみである。 Further, in one embodiment of the inductor component, the spiral wiring has only one layer.

前記実施形態によれば、インダクタ部品の低背化を実現できる。 According to the embodiment, the height of the inductor component can be reduced.

また、インダクタ部品の一実施形態では、前記スパイラル配線の側面は、全て、前記磁性層に接触している。 Further, in one embodiment of the inductor component, all side surfaces of the spiral wiring are in contact with the magnetic layer.

前記実施形態によれば、絶縁層の割合がより減少する。 According to the embodiment, the proportion of the insulating layer is further reduced.

また、インダクタ部品の一実施形態では、前記スパイラル配線の上面は、前記柱状配線と接触する部分以外の全て、前記磁性層に接触している。 Further, in one embodiment of the inductor component, the entire upper surface of the spiral wiring is in contact with the magnetic layer except for a portion that contacts the columnar wiring.

前記実施形態によれば、絶縁層の割合がより減少する。 According to the embodiment, the proportion of the insulating layer is further reduced.

また、インダクタ部品の一実施形態では、
前記スパイラル配線は、1周を超えるスパイラル形状であり、
前記スパイラル配線の1周を超えて並走する領域において、前記スパイラル配線の側面は、前記絶縁層に覆われている。
Additionally, in one embodiment of the inductor component,
The spiral wiring has a spiral shape having more than one turn,
In a region running parallel to the spiral wiring over one circumference, side surfaces of the spiral wiring are covered with the insulating layer.

前記実施形態によれば、スパイラル配線の絶縁性および耐電圧性を向上できる。 According to the embodiment, the insulation and voltage resistance of the spiral wiring can be improved.

また、インダクタ部品の製造方法の一実施形態では、
基板を準備する工程と、
前記基板上に磁性体を含有しない絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層の第1主面上に巻回されるように、前記第1主面上にスパイラル配線を形成する工程と、
前記スパイラル配線の少なくとも一部に接触するように、前記絶縁層上に磁性層を形成する工程と、
前記基板を除去する工程と
を備える。
Further, in one embodiment of the method for manufacturing an inductor component,
a step of preparing a substrate;
forming an insulating layer containing no magnetic material on the substrate;
forming a spiral wiring on the first main surface so as to be wound on the first main surface of the insulating layer;
forming a magnetic layer on the insulating layer so as to contact at least a portion of the spiral wiring;
and removing the substrate.

前記実施形態によれば、基板を除去する際に、スパイラル配線が絶縁層によって保護され、Rdcの増加や量産時のRdcのばらつきを抑制できる。また、スパイラル配線に磁性層が接触していることで、インダクタ部品全体に占める絶縁層の割合が減少し、LとRdcのトレードオフの関係を改善することができる。したがって、小型低背化に適したインダクタ部品を製造できる。 According to the embodiment, the spiral wiring is protected by the insulating layer when the substrate is removed, and an increase in Rdc and variation in Rdc during mass production can be suppressed. Further, since the magnetic layer is in contact with the spiral wiring, the ratio of the insulating layer to the entire inductor component is reduced, and the trade-off relationship between L and Rdc can be improved. Therefore, it is possible to manufacture an inductor component suitable for reduction in size and height.

また、インダクタ部品の製造方法の一実施形態では、前記絶縁層は、前記スパイラル配線に沿った部分を残して除去される。 Further, in one embodiment of the method for manufacturing an inductor component, the insulating layer is removed leaving a portion along the spiral wiring.

前記実施形態によれば、絶縁層の割合がより減少する。 According to the embodiment, the proportion of the insulating layer is further reduced.

また、インダクタ部品の製造方法の一実施形態では、
前記スパイラル配線の形成後、前記磁性層の形成前に、前記スパイラル配線から前記第1主面の法線方向に延びる柱状配線を形成し、前記柱状配線の上端が露出するように前記磁性層を形成する。
Further, in one embodiment of the method for manufacturing an inductor component,
After the spiral wiring is formed and before the magnetic layer is formed, a columnar wiring is formed extending from the spiral wiring in the normal direction of the first main surface, and the magnetic layer is formed so that the upper end of the columnar wiring is exposed. Form.

前記実施形態によれば、ビア導体が無いため、インダクタ部品の低背化と、Rdcの低下と、接続信頼性の向上を実現できる。 According to the embodiment, since there is no via conductor, it is possible to reduce the height of the inductor component, reduce Rdc, and improve connection reliability.

本開示の一態様であるインダクタ部品およびその製造方法によれば、小型低背化に適したインダクタ部品を実現できる。 According to an inductor component and a method for manufacturing the same that are one aspect of the present disclosure, an inductor component suitable for reduction in size and height can be realized.

第1実施形態に係るインダクタ部品を示す透視平面図である。FIG. 2 is a perspective plan view showing an inductor component according to the first embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品を示す断面図である。FIG. 2 is a sectional view showing an inductor component according to the first embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係るインダクタ部品の製法を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining the manufacturing method of the inductor component concerning a 1st embodiment. 第2実施形態に係るインダクタ部品を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing an inductor component according to a second embodiment. 第3実施形態に係るインダクタ部品を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing an inductor component according to a third embodiment. 第4実施形態に係るインダクタ部品を示す透視斜視図である。FIG. 7 is a transparent perspective view showing an inductor component according to a fourth embodiment. 第4実施形態に係るインダクタ部品を示す断面図である。It is a sectional view showing an inductor component concerning a 4th embodiment.

以下、本開示の一態様を図示の実施の形態により詳細に説明する。 Hereinafter, one aspect of the present disclosure will be described in detail with reference to illustrated embodiments.

(第1実施形態)
(構成)
図1は、インダクタ部品の第1実施形態を示す透視平面図である。図2は、図1のX-X断面図である。
(First embodiment)
(composition)
FIG. 1 is a perspective plan view showing a first embodiment of an inductor component. FIG. 2 is a sectional view taken along line XX in FIG.

インダクタ部品1は、例えば、パソコン、DVDプレーヤー、デジカメ、TV、携帯電話、カーエレクトロニクスなどの電子機器に搭載され、例えば全体として直方体形状の部品である。ただし、インダクタ部品1の形状は、特に限定されず、円柱状や多角形柱状、円錐台形状、多角形錐台形状であってもよい。 The inductor component 1 is mounted in electronic equipment such as a personal computer, a DVD player, a digital camera, a TV, a mobile phone, and a car electronics, and is, for example, a rectangular parallelepiped-shaped component as a whole. However, the shape of the inductor component 1 is not particularly limited, and may be a cylinder, a polygonal column, a truncated cone, or a truncated polygon.

図1と図2に示すように、インダクタ部品1は、磁性層10と、絶縁層15と、スパイラル配線21と、柱状配線31,32と、外部端子41,42と、被覆膜50とを有する。 As shown in FIGS. 1 and 2, the inductor component 1 includes a magnetic layer 10, an insulating layer 15, a spiral wiring 21, columnar wiring 31, 32, external terminals 41, 42, and a coating film 50. have

絶縁層15は、上面である第1主面15aと下面である第2主面15bとを有する。絶縁層15の第1主面15aに対する法線方向を、図中、Z方向とし、順Z方向を上側、逆Z方向を下側とする。 The insulating layer 15 has a first main surface 15a that is an upper surface and a second main surface 15b that is a lower surface. The normal direction of the insulating layer 15 to the first main surface 15a is defined as the Z direction in the figure, with the forward Z direction being the upper side and the reverse Z direction being the lower side.

絶縁層15は、上方からみてスパイラル配線21に沿った形状の層である。このように、スパイラル配線21が形成されない領域において絶縁層15を設けないため、インダクタ部品1の全体における絶縁層15の割合がより減少する。なお、図面では、スパイラル配線21の配線間の領域では絶縁層15が結合されているが、スパイラル配線21の配線間の領域で分割されていてもよい。また、絶縁層15はスパイラル配線21に沿った形状ではなく、平板状の層であってもよい。 The insulating layer 15 is a layer shaped along the spiral wiring 21 when viewed from above. In this way, since the insulating layer 15 is not provided in the region where the spiral wiring 21 is not formed, the proportion of the insulating layer 15 in the entire inductor component 1 is further reduced. Note that in the drawing, the insulating layer 15 is combined in the region between the spiral wires 21, but may be divided in the region between the spiral wires 21. Further, the insulating layer 15 may not be shaped along the spiral wiring 21 but may be a flat layer.

絶縁層15の厚みは、スパイラル配線21よりも薄いことが好ましく、絶縁層15の割合がより減少する。また、絶縁層15の厚みは、10μm以下であることが好ましく、絶縁層15の割合がより減少する。 The thickness of the insulating layer 15 is preferably thinner than the spiral wiring 21, so that the ratio of the insulating layer 15 is further reduced. Further, the thickness of the insulating layer 15 is preferably 10 μm or less, and the ratio of the insulating layer 15 is further reduced.

絶縁層15は、磁性体を含有しない絶縁性材料からなり、例えばエポキシ系樹脂、フェノール系樹脂、ポリイミド系樹脂などの樹脂材料や、ケイ素やアルミニウムの酸化膜、窒化膜などの無機材料からなる。絶縁層15は、磁性体を含有しないため、絶縁層15の第1主面15aの平坦性を確保して第1主面15a上にスパイラル配線21を良好に形成でき、また、スパイラル配線21の配線間の導通を防止できる。なお、絶縁層15は、フィラーを含まない構成が好ましく、この場合、絶縁層15の薄膜化や平坦性向上が可能である。一方、絶縁層15がシリカなどの非磁性体のフィラーを含む場合は、絶縁層15の強度や加工性、電気的特性の向上が可能である。 The insulating layer 15 is made of an insulating material that does not contain a magnetic substance, and is made of a resin material such as an epoxy resin, a phenol resin, or a polyimide resin, or an inorganic material such as a silicon or aluminum oxide film or a nitride film. Since the insulating layer 15 does not contain a magnetic substance, the flatness of the first main surface 15a of the insulating layer 15 is ensured, and the spiral wiring 21 can be formed satisfactorily on the first main surface 15a. Can prevent conduction between wires. Note that the insulating layer 15 preferably has a structure that does not contain filler, and in this case, the insulating layer 15 can be made thinner and its flatness can be improved. On the other hand, when the insulating layer 15 contains a non-magnetic filler such as silica, the strength, workability, and electrical characteristics of the insulating layer 15 can be improved.

スパイラル配線21は、絶縁層15の第1主面15a上に形成され、第1主面15a上に巻回される。スパイラル配線21は、ターン数が1周を超えるスパイラル形状である。スパイラル配線21は、上側からみて、外周端21bから内周端21aに向かって時計回り方向に渦巻状に巻回されている。 The spiral wiring 21 is formed on the first main surface 15a of the insulating layer 15, and is wound on the first main surface 15a. The spiral wiring 21 has a spiral shape in which the number of turns exceeds one turn. The spiral wiring 21 is spirally wound clockwise from the outer peripheral end 21b toward the inner peripheral end 21a when viewed from above.

スパイラル配線21の厚みは、絶縁層15の厚みよりも大きいことが好ましく、例えば、40μm以上120μm以下であることが好ましい。スパイラル配線21の実施例として、厚みが45μm、配線幅が40μm、配線間スペースが10μmである。配線間スペースは3μm以上20μm以下が好ましい。 The thickness of the spiral wiring 21 is preferably larger than the thickness of the insulating layer 15, for example, preferably 40 μm or more and 120 μm or less. As an example of the spiral wiring 21, the thickness is 45 μm, the wiring width is 40 μm, and the space between wires is 10 μm. The space between wirings is preferably 3 μm or more and 20 μm or less.

スパイラル配線21は、導電性材料からなり、例えばCu、Ag,Auなどの低電気抵抗な金属材料からなる。本実施形態では、インダクタ部品1は、スパイラル配線21を1層のみ備えており、インダクタ部品1の低背化を実現できる。つまり、スパイラル配線21は、その両端(内周端21aおよび外周端21b)にスパイラル形状部分よりもやや線幅の大きいパッド部を有し、パッド部において、柱状配線31,32と直接接続されている。 The spiral wiring 21 is made of a conductive material, for example, a low electrical resistance metal material such as Cu, Ag, or Au. In this embodiment, the inductor component 1 includes only one layer of spiral wiring 21, and the height of the inductor component 1 can be reduced. In other words, the spiral wiring 21 has pad portions at both ends (inner peripheral end 21a and outer peripheral end 21b) whose line width is slightly larger than that of the spiral shaped portion, and is directly connected to the columnar wirings 31 and 32 at the pad portions. There is.

磁性層10は、スパイラル配線21が形成された絶縁層15の第1主面15aおよび第2主面15bを覆うように形成されている。磁性層10は、スパイラル配線21の少なくとも一部に接触しており、具体的には、スパイラル配線21との接触部分において、スパイラル配線21の側面から上面にかけて接触している。特に、本実施形態では、スパイラル配線21が絶縁層15と接するのはその底面のみであり、スパイラル配線21の側面は全て磁性層10に接触しており、スパイラル配線21の上面は、柱状配線31,32と接触する部分以外の全て、磁性層10に接触している。このため、絶縁層15の割合をより減少できる。 The magnetic layer 10 is formed to cover the first main surface 15a and the second main surface 15b of the insulating layer 15 on which the spiral wiring 21 is formed. The magnetic layer 10 is in contact with at least a portion of the spiral wiring 21, and specifically, in the contact portion with the spiral wiring 21, the magnetic layer 10 is in contact with the spiral wiring 21 from the side surface to the top surface. In particular, in this embodiment, only the bottom surface of the spiral wire 21 is in contact with the insulating layer 15, all the side surfaces of the spiral wire 21 are in contact with the magnetic layer 10, and the top surface of the spiral wire 21 is in contact with the columnar wire 31. , 32 are in contact with the magnetic layer 10. Therefore, the proportion of the insulating layer 15 can be further reduced.

磁性層10は、第1磁性層11と、第2磁性層12と、内磁路部13と、外磁路部14とによって構成される。なお、図1では、磁性層10の一部を透明にした図で示している。第1磁性層11および第2磁性層12は、Z方向の両側からスパイラル配線21を挟む位置にある。具体的には、第1磁性層11は、スパイラル配線21の上側、第2磁性層12は、スパイラル配線21の下側に位置している。内磁路部13、外磁路部14は、図1に示すように、それぞれスパイラル配線21の内側、外側に配置され、かつ、図2に示すように第1磁性層11および第2磁性層12に接続されている。このように、磁性層10は、スパイラル配線21に対して閉磁路を構成している。 The magnetic layer 10 includes a first magnetic layer 11 , a second magnetic layer 12 , an inner magnetic path section 13 , and an outer magnetic path section 14 . Note that in FIG. 1, a part of the magnetic layer 10 is shown as transparent. The first magnetic layer 11 and the second magnetic layer 12 are located at positions sandwiching the spiral wiring 21 from both sides in the Z direction. Specifically, the first magnetic layer 11 is located above the spiral wiring 21 , and the second magnetic layer 12 is located below the spiral wiring 21 . As shown in FIG. 1, the inner magnetic path section 13 and the outer magnetic path section 14 are arranged inside and outside the spiral wiring 21, respectively, and as shown in FIG. 12. In this way, the magnetic layer 10 forms a closed magnetic path with respect to the spiral wiring 21.

磁性層10は、磁性体材料からなり、例えば、磁性材料の粉末を含有する樹脂からなる。磁性層10を構成する樹脂としては、例えば、エポキシ系樹脂、フェノール系樹脂、ポリイミド系樹脂などであり、磁性材料の粉末としては、例えば、FeSiCrなどのFeSi系合金、FeCo系合金、NiFeなどのFe系合金、または、それらのアモルファス合金などの金属磁性体材料の粉末あるいはフェライトなどの粉末である。磁性材料の含有率は、好ましくは、磁性層10全体に対して50vol%以上85vol%以下である。なお、磁性材料の粉末は、粒子が略球形状であることが好ましく、平均粒径が5μm以下であることが好ましい。また、磁性層10は、フェライト基板などであってもよい。なお、磁性材料を樹脂で構成する場合は、絶縁層15と同種材料を用いることが好ましく、この場合、絶縁層15と磁性層10との密着性を向上できる。 The magnetic layer 10 is made of a magnetic material, for example, a resin containing powder of a magnetic material. Examples of the resin constituting the magnetic layer 10 include epoxy resin, phenol resin, and polyimide resin. Examples of the magnetic material powder include FeSi alloy such as FeSiCr, FeCo alloy, and NiFe. It is a powder of a metal magnetic material such as an Fe-based alloy or an amorphous alloy thereof, or a powder of ferrite. The content of the magnetic material is preferably 50 vol% or more and 85 vol% or less with respect to the entire magnetic layer 10. The particles of the magnetic material powder preferably have a substantially spherical shape, and preferably have an average particle size of 5 μm or less. Furthermore, the magnetic layer 10 may be a ferrite substrate or the like. Note that when the magnetic material is made of resin, it is preferable to use the same material as the insulating layer 15, and in this case, the adhesion between the insulating layer 15 and the magnetic layer 10 can be improved.

柱状配線31,32は、磁性層10の内部を絶縁層15の第1主面15aの法線方向に貫通する配線である。本実施形態では、第1柱状配線31は、スパイラル配線21の内周端21aの上面から上側に延在し、第1磁性層11の内部を貫通する。第2柱状配線32は、スパイラル配線21の外周端21bの上面から上側に延在し、第1磁性層11の内部を貫通する。柱状配線31,32は、スパイラル配線21と同様の材料からなる。 The columnar wires 31 and 32 are wires that penetrate inside the magnetic layer 10 in the direction normal to the first main surface 15a of the insulating layer 15. In this embodiment, the first columnar wiring 31 extends upward from the upper surface of the inner peripheral end 21 a of the spiral wiring 21 and penetrates inside the first magnetic layer 11 . The second columnar wiring 32 extends upward from the upper surface of the outer peripheral end 21 b of the spiral wiring 21 and penetrates inside the first magnetic layer 11 . The columnar wirings 31 and 32 are made of the same material as the spiral wiring 21.

外部端子41,42は、磁性層10の外側に形成された端子である。本実施形態では、スパイラル配線21と第1、第2柱状配線31,32が直接に接触し、第1柱状配線31と第1外部端子41が直接に接触し、第2柱状配線32と第2外部端子42が直接に接触している。したがって、第1、第2柱状配線31,32よりも断面積の小さいビア導体が無いため、インダクタ部品1の低背化と、Rdcの低下と、接続信頼性の向上を実現できる。ただし、スパイラル配線21は、第1、第2柱状配線31,32に対して、第1、第2柱状配線31,32よりも断面積の小さいビア導体を介して接続されていてもよい。 The external terminals 41 and 42 are terminals formed outside the magnetic layer 10. In this embodiment, the spiral wiring 21 and the first and second columnar wirings 31 and 32 are in direct contact, the first columnar wiring 31 and the first external terminal 41 are in direct contact, and the second columnar wiring 32 and the second columnar wiring 32 are in direct contact with each other. External terminal 42 is in direct contact. Therefore, since there is no via conductor having a smaller cross-sectional area than the first and second columnar wirings 31 and 32, it is possible to reduce the height of the inductor component 1, reduce Rdc, and improve connection reliability. However, the spiral wiring 21 may be connected to the first and second columnar wirings 31 and 32 via via conductors having a smaller cross-sectional area than the first and second columnar wirings 31 and 32.

外部端子41,42は、導電性材料からなり、例えば、低電気抵抗かつ耐応力性に優れたCu、耐食性に優れたNi、はんだ濡れ性と信頼性に優れたAuが内側から外側に向かってこの順に並ぶ3層構成である。 The external terminals 41 and 42 are made of a conductive material, such as Cu, which has low electrical resistance and excellent stress resistance, Ni, which has excellent corrosion resistance, and Au, which has excellent solder wettability and reliability, from the inside to the outside. It has a three-layer configuration arranged in this order.

第1外部端子41は、第1磁性層11の上面に設けられ、該上面から露出する第1柱状配線31の端面を覆っている。第2外部端子42は、第1磁性層11の上面に設けられ、該上面から露出する第2柱状配線32の端面を覆っている。 The first external terminal 41 is provided on the upper surface of the first magnetic layer 11 and covers the end surface of the first columnar wiring 31 exposed from the upper surface. The second external terminal 42 is provided on the upper surface of the first magnetic layer 11 and covers the end surface of the second columnar wiring 32 exposed from the upper surface.

外部端子41,42には、好ましくは、防錆処理が施されている。ここで、防錆処理とは、NiおよびAu、または、NiおよびSnなどで被膜することである。これにより、はんだによる銅喰われや、錆びを抑制することができ、実装信頼性の高いインダクタ部品1を提供できる。 Preferably, the external terminals 41 and 42 are subjected to anti-rust treatment. Here, the rust prevention treatment means coating with Ni and Au, or Ni and Sn, or the like. Thereby, copper eating by solder and rust can be suppressed, and an inductor component 1 with high mounting reliability can be provided.

被覆膜50は、絶縁性材料からなり、第1磁性層11の上面および第2磁性層12の下面を覆い、柱状配線31,32および外部端子41,42の端面を露出させている。被覆膜50によって、インダクタ部品1の表面の絶縁性を確保することができる。なお、被覆膜50が第2磁性層12の下面側に形成されていなくてもよい。 The coating film 50 is made of an insulating material, covers the upper surface of the first magnetic layer 11 and the lower surface of the second magnetic layer 12, and exposes the end surfaces of the columnar wirings 31, 32 and the external terminals 41, 42. The coating film 50 can ensure insulation on the surface of the inductor component 1. Note that the coating film 50 does not need to be formed on the lower surface side of the second magnetic layer 12.

前記インダクタ部品1によれば、スパイラル配線21が絶縁層15の第1主面15a上に形成されていることで、絶縁層15の第2主面15b側(下方)からの基板の除去(エッチング、研磨など)の加工プロセスに対して、スパイラル配線21が保護される。これにより、直流抵抗(Rdc)の増加や量産時のRdcのばらつきを抑制できる。 According to the inductor component 1, the spiral wiring 21 is formed on the first main surface 15a of the insulating layer 15, so that the substrate can be removed (etched) from the second main surface 15b side (lower side) of the insulating layer 15. The spiral wiring 21 is protected against processing processes (such as polishing, polishing, etc.). This makes it possible to suppress an increase in direct current resistance (Rdc) and variations in Rdc during mass production.

また、スパイラル配線21に磁性層10が接触していることで、インダクタ部品1の全体に占める絶縁層15の割合が減少し、スパイラル配線21と磁性層10の形成領域を確保できる。これにより、インダクタンス(L)とRdcのトレードオフの関係を改善することができる。 Further, since the magnetic layer 10 is in contact with the spiral wiring 21, the proportion of the insulating layer 15 in the entire inductor component 1 is reduced, and a region for forming the spiral wiring 21 and the magnetic layer 10 can be secured. Thereby, the trade-off relationship between inductance (L) and Rdc can be improved.

したがって、小型低背化に適したインダクタ部品1を実現できる。 Therefore, it is possible to realize an inductor component 1 suitable for reduction in size and height.

また、絶縁層15は、磁性体、特に磁性体の粉末を含有しないことで、絶縁層15の主面15a,15bの平坦性および絶縁性を向上できる。したがって、スパイラル配線21の形成精度や絶縁性、耐電圧の低下を抑制できる。 Further, since the insulating layer 15 does not contain a magnetic material, particularly a magnetic powder, the flatness and insulation properties of the main surfaces 15a and 15b of the insulating layer 15 can be improved. Therefore, it is possible to suppress a decrease in the formation accuracy, insulation properties, and withstand voltage of the spiral wiring 21.

また、磁性層10の内部を貫通する柱状配線31,32を含むので、スパイラル配線21から直接Z方向に配線が引き出される。これは、スパイラル配線21が、インダクタ部品の上面側に最短距離で引き出されていることを意味し、基板配線がインダクタ部品1の上面側から接続される3次元実装において、不要な配線引き回しを低減できることを意味する。したがって、インダクタ部品1は、3次元実装に十分に対応できる構成を有しており、回路設計の自由度を向上できる。 Furthermore, since the columnar wirings 31 and 32 penetrating the inside of the magnetic layer 10 are included, the wirings are drawn out directly from the spiral wiring 21 in the Z direction. This means that the spiral wiring 21 is drawn out to the top surface of the inductor component over the shortest distance, reducing unnecessary wiring routing in three-dimensional mounting where the board wiring is connected from the top surface of the inductor component 1. It means that you can. Therefore, the inductor component 1 has a configuration that can sufficiently accommodate three-dimensional mounting, and the degree of freedom in circuit design can be improved.

また、インダクタ部品1では、スパイラル配線21から側面方向に配線が引き出されないため、Z方向から見たインダクタ部品1の面積、すなわち実装面積の低減を実現することができる。したがって、インダクタ部品1は、表面実装および3次元実装のいずれにおいても求められる実装面積の低減も実現でき、回路設計の自由度を向上できる。 Further, in the inductor component 1, since no wiring is drawn out from the spiral wiring 21 in the side direction, the area of the inductor component 1 viewed from the Z direction, that is, the mounting area can be reduced. Therefore, the inductor component 1 can achieve a reduction in the mounting area required for both surface mounting and three-dimensional mounting, and can improve the degree of freedom in circuit design.

また、インダクタ部品1では、柱状配線31,32は、磁性層10の内部を貫通し、スパイラル配線21が巻回された平面に対して法線方向に延在する。この場合、柱状配線31,32においては、電流はスパイラル配線21が巻回された平面に沿った方向に流れず、Z方向に流れる。 Furthermore, in the inductor component 1, the columnar wires 31 and 32 penetrate inside the magnetic layer 10 and extend in the normal direction to the plane around which the spiral wire 21 is wound. In this case, in the columnar wirings 31 and 32, the current does not flow in the direction along the plane around which the spiral wiring 21 is wound, but in the Z direction.

ここで、インダクタ部品1のサイズが小さくなると、相対的に磁性層10も小さくなるが、特に内磁路部13では磁束密度が高くなり、磁気飽和しやすくなる。しかし、柱状配線31,32に流れるZ方向の電流による磁束は、内磁路部13を通らないので、磁気飽和特性、すなわち直流重畳特性への影響を低減できる。一方で、従来技術のように、スパイラル配線から引出部によって側面側(スパイラル配線が巻回された平面に沿った方向側)に配線を引き出した場合は、引出部に流れる電流により発生する磁束の一部は内磁路部や外磁路部を通過してしまうため、磁気飽和特性、直流重畳特性への影響を避けることができない。 Here, as the size of the inductor component 1 becomes smaller, the magnetic layer 10 also becomes relatively smaller, but the magnetic flux density becomes higher, especially in the inner magnetic path section 13, and magnetic saturation becomes more likely. However, since the magnetic flux caused by the current in the Z direction flowing through the columnar wirings 31 and 32 does not pass through the inner magnetic path section 13, the influence on the magnetic saturation characteristics, that is, the DC superimposition characteristics can be reduced. On the other hand, when the wire is pulled out from the spiral wiring to the side (direction along the plane on which the spiral wiring is wound) by the lead-out part as in the conventional technology, the magnetic flux generated by the current flowing in the lead-out part is Since a part of it passes through the inner magnetic path section and the outer magnetic path section, it is impossible to avoid the influence on the magnetic saturation characteristics and DC superposition characteristics.

なお、柱状配線31,32が第1磁性層11の内部を貫通するため、スパイラル配線21から配線を引き出す際に磁性層10の開口箇所を小さくすることができ、容易に閉磁路構造を取ることができる。これにより、基板側へのノイズ伝播を抑制することができる。 Note that since the columnar wirings 31 and 32 penetrate inside the first magnetic layer 11, the opening in the magnetic layer 10 can be made smaller when the wiring is drawn out from the spiral wiring 21, and a closed magnetic circuit structure can be easily obtained. Can be done. Thereby, noise propagation to the substrate side can be suppressed.

さらに、スパイラル配線21は絶縁層15に沿った平面上に巻回されているため、薄型化に対しても内磁路部13を大きく取ることができ、磁気飽和特性の高い薄型のインダクタ部品1を提供できる。これに対して、例えば、スパイラル配線が絶縁層15に沿った平面に対して垂直に巻回されたインダクタ部品を用いると、インダクタ部品の更なる薄型化、すなわち基板の厚み方向の薄型化に対し、コイル径(磁性層)の面積が縮小する。これにより、磁気飽和特性が悪化して、インダクタへの十分な通電ができない。 Furthermore, since the spiral wiring 21 is wound on a plane along the insulating layer 15, the inner magnetic path portion 13 can be made large even when the thickness is reduced, and the thin inductor component 1 has high magnetic saturation characteristics. can be provided. On the other hand, for example, if an inductor component in which the spiral wiring is wound perpendicularly to the plane along the insulating layer 15 is used, the inductor component can be further thinned, that is, the thickness of the board can be thinned. , the area of the coil diameter (magnetic layer) is reduced. As a result, magnetic saturation characteristics deteriorate, and sufficient current cannot be applied to the inductor.

さらに、インダクタ部品1は、図2に示すように、第1磁性層11または第2磁性層12の表面を覆い、柱状配線31,32の端面を露出させる被覆膜50を備えている。ここで、上記「露出」には、インダクタ部品1の外方への露出だけでなく、他の部材への露出も含めている。 Furthermore, as shown in FIG. 2, the inductor component 1 includes a coating film 50 that covers the surface of the first magnetic layer 11 or the second magnetic layer 12 and exposes the end faces of the columnar wirings 31 and 32. Here, the above-mentioned "exposure" includes not only the outward exposure of the inductor component 1 but also the exposure to other members.

具体的に述べると、第1磁性層11の上面において、被覆膜50は、外部端子41,42を除く領域を覆っている。このように、外部端子41,42と接続する柱状配線31,32の端面は、被覆膜50から露出している。したがって、隣り合う外部端子41,42(柱状配線31,32)の間の絶縁を確実にとることができる。これにより、インダクタ部品1の耐電圧性や耐環境性を確保することができる。また、被覆膜50の形状によって、磁性層10の表面に形成される外部端子41,42の形成領域を任意に設定できるようになることから、実装時の自由度を上げることができるとともに、外部端子41,42を容易に形成できる。 Specifically, the coating film 50 covers the upper surface of the first magnetic layer 11 except for the external terminals 41 and 42. In this way, the end surfaces of the columnar wirings 31 and 32 connected to the external terminals 41 and 42 are exposed from the coating film 50. Therefore, insulation between adjacent external terminals 41 and 42 (column wirings 31 and 32) can be ensured. Thereby, voltage resistance and environmental resistance of the inductor component 1 can be ensured. Further, depending on the shape of the coating film 50, the formation area of the external terminals 41 and 42 formed on the surface of the magnetic layer 10 can be set arbitrarily, so that the degree of freedom in mounting can be increased, and External terminals 41 and 42 can be easily formed.

なお、インダクタ部品1では、図2に示すように、外部端子41,42の表面は、第1磁性層11の表面よりも、Z方向の外側に位置する。具体的には、外部端子41,42は、被覆膜50に埋め込まれており、外部端子41,42の表面は、第1磁性層11の表面と同一平面となっていない。このとき、磁性層10の表面と外部端子41,42の表面との位置関係を独立に設定することができ、外部端子41,42の厚みの自由度を上げることができる。この構成によれば、インダクタ部品1における外部端子41,42の表面の高さ位置を調整することができ、例えば、インダクタ部品1が基板に埋め込まれた際に、他の埋め込み部品の外部端子の高さ位置と合わせ込むことが可能となる。よって、インダクタ部品1を用いることにより、基板のビア形成時のレーザーの焦点合わせ工程を合理化することができ、基板の製造効率を向上できる。 Note that in the inductor component 1, as shown in FIG. 2, the surfaces of the external terminals 41 and 42 are located outside the surface of the first magnetic layer 11 in the Z direction. Specifically, the external terminals 41 and 42 are embedded in the coating film 50, and the surfaces of the external terminals 41 and 42 are not flush with the surface of the first magnetic layer 11. At this time, the positional relationship between the surface of the magnetic layer 10 and the surfaces of the external terminals 41 and 42 can be set independently, and the degree of freedom in the thickness of the external terminals 41 and 42 can be increased. According to this configuration, the height position of the surface of the external terminals 41 and 42 in the inductor component 1 can be adjusted. For example, when the inductor component 1 is embedded in a board, the height position of the surface of the external terminals of other embedded components It is possible to match the height position. Therefore, by using the inductor component 1, it is possible to streamline the laser focusing process when forming vias on the substrate, and it is possible to improve the manufacturing efficiency of the substrate.

さらに、インダクタ部品1では、図1に示すように、Z方向からみて、柱状配線31,32の端面を覆う外部端子41,42の面積は、柱状配線31,32の面積よりも大きい。したがって、実装時の接合面積が大きくなり、インダクタ部品1の実装信頼性が向上する。また、基板に実装する時に基板配線とインダクタ部品1との接合位置について、アライメントマージンを確保することができ、実装信頼性を高めることができる。なお、このとき、柱状配線31,32の体積に関わらず、実装信頼性を向上できるため、柱状配線31,32のZ方向から見た断面積を小さくすることにより、第1磁性層11の体積の減少を抑制し、インダクタ部品1の特性低下を抑制することができる。 Furthermore, in the inductor component 1, as shown in FIG. 1, the area of the external terminals 41, 42 that cover the end faces of the columnar wirings 31, 32 is larger than the area of the columnar wirings 31, 32, as seen from the Z direction. Therefore, the bonding area during mounting is increased, and the mounting reliability of the inductor component 1 is improved. Further, when mounting on a board, an alignment margin can be secured for the bonding position between the board wiring and the inductor component 1, and mounting reliability can be improved. At this time, since mounting reliability can be improved regardless of the volume of the columnar wirings 31 and 32, the volume of the first magnetic layer 11 is reduced by reducing the cross-sectional area of the columnar wirings 31 and 32 when viewed from the Z direction. It is possible to suppress a decrease in the characteristics of the inductor component 1, thereby suppressing a decrease in characteristics of the inductor component 1.

スパイラル配線21、柱状配線31,32、外部端子41,42は、好ましくは、銅または銅化合物からなる導体である。これにより、安価で直流抵抗を低減できるインダクタ部品1を提供できる。また、銅を主体とすることで、スパイラル配線21、柱状配線31,32、外部端子41,42間の接合力や導電性の向上を図ることもできる。 The spiral wiring 21, the columnar wiring 31, 32, and the external terminals 41, 42 are preferably conductors made of copper or a copper compound. Thereby, it is possible to provide an inductor component 1 that is inexpensive and can reduce direct current resistance. Furthermore, by using copper as the main material, it is possible to improve the bonding force and conductivity between the spiral wiring 21, the columnar wirings 31 and 32, and the external terminals 41 and 42.

なお、スパイラル配線からインダクタ部品の下面に引き出すように柱状配線を設けてもよい。このとき、インダクタ部品の下面に柱状配線に接続される外部端子を設けてもよい。 Note that columnar wiring may be provided so as to extend from the spiral wiring to the lower surface of the inductor component. At this time, an external terminal connected to the columnar wiring may be provided on the lower surface of the inductor component.

インダクタ部品1は、1つのスパイラル配線を有するが、この構成に限られず、同一平面上に巻回された2つ以上のスパイラル配線を備えていてもよい。インダクタ部品1では外部端子41,42の形成自由度が高いため、外部端子の数が多いインダクタ部品において、その効果はより一層顕著となる。 Although the inductor component 1 has one spiral wire, it is not limited to this configuration, and may include two or more spiral wires wound on the same plane. Since the inductor component 1 has a high degree of freedom in forming the external terminals 41 and 42, this effect is even more pronounced in inductor components with a large number of external terminals.

スパイラル配線は、平面に形成された曲線(2次元曲線)であって、ターン数が1周を超える曲線であるが、ターン数が1周未満の曲線であってもよく、または、一部に直線を有していてもよい。 Spiral wiring is a curve (two-dimensional curve) formed on a plane and has more than one turn, but it may also have less than one turn, or a part of the spiral wiring may have less than one turn. It may have a straight line.

(製造方法)
次に、インダクタ部品1の製造方法について説明する。
(Production method)
Next, a method for manufacturing the inductor component 1 will be explained.

図3Aに示すように、基板61を準備する。基板61は、例えば、ガラスやフェライトなどのセラミック材料や、ガラスクロスを含む樹脂などのプリント配線基板材料などからなる平板状の基板である。基板61の厚みは、インダクタ部品の厚みに影響を与えないため、加工上のそりなどの理由から適宜取り扱いやすい厚さのものを用いればよい。 As shown in FIG. 3A, a substrate 61 is prepared. The substrate 61 is a flat substrate made of, for example, a ceramic material such as glass or ferrite, or a printed wiring board material such as resin containing glass cloth. Since the thickness of the substrate 61 does not affect the thickness of the inductor component, it is sufficient to use a thickness that is easy to handle for reasons such as warping during processing.

図3Bに示すように、基板61上に磁性体を含有しない絶縁層62を形成する。絶縁層62は、例えば、磁性体を含有しないポリイミド系樹脂などからなり、基板61の上面(第1主面)上に上記ポリイミド系樹脂を印刷、塗布などによってコーティングして形成される。なお、絶縁層62は、例えば、基板61の上面上に、蒸着、スパッタリング、CVDなどのドライプロセスによってシリコン酸化膜などの無機材料の薄膜として形成してもよい。 As shown in FIG. 3B, an insulating layer 62 containing no magnetic material is formed on a substrate 61. The insulating layer 62 is made of, for example, a polyimide resin that does not contain a magnetic material, and is formed by coating the polyimide resin on the upper surface (first main surface) of the substrate 61 by printing, coating, or the like. Note that the insulating layer 62 may be formed as a thin film of an inorganic material such as a silicon oxide film on the upper surface of the substrate 61 by a dry process such as vapor deposition, sputtering, or CVD.

図3Cに示すように、絶縁層62をフォトリソグラフィによってパターニングして、スパイラル配線を形成する領域を残す。つまり、絶縁層62をスパイラル配線に沿った部分を残して除去する。絶縁層62には、基板61が露出する開口部62aが設けられる。図3Dに示すように、絶縁層62上を含め、基板61上にCuのシード層63をスパッタリングや無電解めっきなどで形成する。 As shown in FIG. 3C, the insulating layer 62 is patterned by photolithography to leave a region where the spiral wiring will be formed. That is, the insulating layer 62 is removed leaving only the portion along the spiral wiring. The insulating layer 62 is provided with an opening 62a through which the substrate 61 is exposed. As shown in FIG. 3D, a Cu seed layer 63 is formed on the substrate 61, including on the insulating layer 62, by sputtering, electroless plating, or the like.

図3Eに示すように、シード層63上にドライフィルムレジスト(DFR)64を貼り付ける。図3Fに示すように、DFR64をフォトリソグラフィによりパターニングして、スパイラル配線を形成する領域に貫通孔64aを形成し、貫通孔64aからシード層63を露出させる。 As shown in FIG. 3E, a dry film resist (DFR) 64 is pasted on the seed layer 63. As shown in FIG. 3F, the DFR 64 is patterned by photolithography to form a through hole 64a in a region where a spiral wiring is to be formed, and the seed layer 63 is exposed from the through hole 64a.

図3Gに示すように、電解めっきにより、貫通孔64a内のシード層63上に金属膜65を形成する。図3Hに示すように、金属膜65の形成後、さらにDFR64を貼り付ける。 As shown in FIG. 3G, a metal film 65 is formed on the seed layer 63 in the through hole 64a by electrolytic plating. As shown in FIG. 3H, after forming the metal film 65, a DFR 64 is further attached.

図3Iに示すように、DFR64をフォトリソグラフィによりパターニングし、柱状配線を形成する領域に貫通孔64aを形成し、貫通孔64aから金属膜65を露出させる。図3Jに示すように、電解めっきにより、貫通孔64a内の金属膜65上にさらに金属膜66を形成する。 As shown in FIG. 3I, the DFR 64 is patterned by photolithography to form a through hole 64a in a region where a columnar wiring is to be formed, and the metal film 65 is exposed from the through hole 64a. As shown in FIG. 3J, a metal film 66 is further formed on the metal film 65 in the through hole 64a by electrolytic plating.

図3Kに示すように、DFR64を除去し、図3Lに示すように、シード層63のうち、金属膜65が形成されていない露出部分をエッチングにより除去する。これにより、絶縁層62の上面(第1主面)上に巻回されるように第1主面上にスパイラル配線21を形成し、また、スパイラル配線21から第1主面の法線方向に延びる柱状配線31,32を形成する。つまり、柱状配線31,32は、スパイラル配線21の形成後、磁性層の形成前に、形成される。 As shown in FIG. 3K, the DFR 64 is removed, and as shown in FIG. 3L, the exposed portion of the seed layer 63 where the metal film 65 is not formed is removed by etching. Thereby, the spiral wiring 21 is formed on the first main surface so as to be wound on the upper surface (first main surface) of the insulating layer 62, and the spiral wiring 21 is formed in the normal direction of the first main surface from the spiral wiring 21. Extending columnar wirings 31 and 32 are formed. That is, the columnar wirings 31 and 32 are formed after the spiral wiring 21 is formed and before the magnetic layer is formed.

図3Mに示すように、磁性体材料からなる磁性シート67を基板61の上面側(スパイラル配線形成側)に圧着する。これにより、スパイラル配線21の少なくとも一部(スパイラル配線21の側面、および、スパイラル配線21の上面の柱状配線31,32と接触する部分以外)に接触するように絶縁層15上に磁性層10を形成する。 As shown in FIG. 3M, a magnetic sheet 67 made of a magnetic material is pressure-bonded to the upper surface side of the substrate 61 (spiral wiring formation side). As a result, the magnetic layer 10 is placed on the insulating layer 15 so as to be in contact with at least a portion of the spiral wiring 21 (other than the side surface of the spiral wiring 21 and the portion that contacts the columnar wirings 31 and 32 on the top surface of the spiral wiring 21). Form.

図3Nに示すように、磁性シート67を研磨し、柱状配線31,32(金属膜66)の上端を露出させる。図3Oに示すように、磁性シート67の上面(第1主面)上に、被覆膜50としてのソルダーレジスト(SR)68を形成する。 As shown in FIG. 3N, the magnetic sheet 67 is polished to expose the upper ends of the columnar wirings 31 and 32 (metal film 66). As shown in FIG. 3O, a solder resist (SR) 68 as a coating film 50 is formed on the upper surface (first main surface) of the magnetic sheet 67.

図3Pに示すように、SR68をフォトリソグラフィによりパターニングし、外部端子を形成する領域に、柱状配線31,32(金属膜66)および磁性層10(磁性シート67)が露出する貫通孔68aを形成する。 As shown in FIG. 3P, the SR 68 is patterned by photolithography to form a through hole 68a in which the columnar wirings 31 and 32 (metal film 66) and the magnetic layer 10 (magnetic sheet 67) are exposed in the region where the external terminal is to be formed. do.

図3Qに示すように、基板61を研磨により除去する。図3Rに示すように、磁性体材料からなる磁性シート67を基板61の除去側に圧着し適切な厚みに研磨する。 As shown in FIG. 3Q, the substrate 61 is removed by polishing. As shown in FIG. 3R, a magnetic sheet 67 made of a magnetic material is pressed onto the removal side of the substrate 61 and polished to an appropriate thickness.

図3Sに示すように、無電解めっきにより、柱状配線31,32(金属膜66)からSR68の貫通孔68a内に成長するCu/Ni/Auの金属膜69を形成する。金属膜69により、第1柱状配線31に接続される第1外部端子41と、第2柱状配線32に接続される第2外部端子42を形成する。また、外部端子41,42と反対側の下面に、被覆膜50としてのSR68を形成する。図3Tに示すように、個片化し、必要に応じてバレル研磨を行い、バリを除去して、インダクタ部品1を製造する。 As shown in FIG. 3S, a Cu/Ni/Au metal film 69 is formed by electroless plating to grow from the columnar wirings 31 and 32 (metal film 66) into the through hole 68a of the SR 68. The metal film 69 forms a first external terminal 41 connected to the first columnar wiring 31 and a second external terminal 42 connected to the second columnar wiring 32. Further, an SR 68 as a coating film 50 is formed on the lower surface on the opposite side from the external terminals 41 and 42. As shown in FIG. 3T, the inductor component 1 is manufactured by cutting into pieces, performing barrel polishing if necessary, and removing burrs.

前記インダクタ部品1の製造方法によれば、基板61を除去する際に、スパイラル配線21が絶縁層15によって保護され、Rdcの増加や量産時のRdcのばらつきを抑制できる。また、スパイラル配線21に磁性層10が接触していることで、インダクタ部品1の全体に占める絶縁層15の割合が減少し、LとRdcのトレードオフの関係を改善することができる。したがって、小型低背化に適したインダクタ部品1を製造できる。 According to the method for manufacturing the inductor component 1, the spiral wiring 21 is protected by the insulating layer 15 when the substrate 61 is removed, and an increase in Rdc and variation in Rdc during mass production can be suppressed. Further, since the magnetic layer 10 is in contact with the spiral wiring 21, the ratio of the insulating layer 15 to the entire inductor component 1 is reduced, and the trade-off relationship between L and Rdc can be improved. Therefore, it is possible to manufacture an inductor component 1 suitable for reduction in size and height.

また、絶縁層15は、スパイラル配線21に沿った部分を残して除去されるので、絶縁層の割合がより減少する。 Furthermore, since the insulating layer 15 is removed leaving only the portion along the spiral wiring 21, the proportion of the insulating layer is further reduced.

また、スパイラル配線21から延びる柱状配線31,32を形成し、柱状配線31,32の上端が露出するように磁性層10を形成するので、ビア導体が無いため、インダクタ部品1の低背化と、Rdcの低下と、接続信頼性の向上を実現できる。
なお、上記のインダクタ部品1の製造方法はあくまで一例であって、各工程において用いる工法や材料は、適宜他の公知のものと置き換えても良い。例えば、上記では、絶縁層62やDFR64、SR68はコーティング後にパターニングしたが、塗布、印刷、マスク蒸着、リフトオフなどによって、直接必要な部分に絶縁層62を形成してもよい。また、基板61の除去や磁性シート67の薄層化には研磨を用いたが、ブラスト、レーザーなどの他の物理プロセスや、フッ酸処理などの化学プロセスを用いてもよい。
Further, since the columnar wirings 31 and 32 extending from the spiral wiring 21 are formed and the magnetic layer 10 is formed so that the upper ends of the columnar wirings 31 and 32 are exposed, there is no via conductor, so the height of the inductor component 1 can be reduced. , it is possible to reduce Rdc and improve connection reliability.
Note that the method for manufacturing the inductor component 1 described above is just an example, and the construction methods and materials used in each step may be replaced with other known methods as appropriate. For example, in the above description, the insulating layer 62, DFR 64, and SR 68 are patterned after coating, but the insulating layer 62 may be directly formed in necessary portions by coating, printing, mask vapor deposition, lift-off, or the like. Further, although polishing was used to remove the substrate 61 and thin the magnetic sheet 67, other physical processes such as blasting and laser, or chemical processes such as hydrofluoric acid treatment may be used.

(実施例)
次に、インダクタ部品1の実施例について説明する。
(Example)
Next, an example of the inductor component 1 will be described.

スパイラル配線21、柱状配線31,32、外部端子41,42は、例えばCu、Ag、Auなどの低抵抗な金属によって構成される。好ましくは、SAP(Semi Additive Process;セミアディティブ工法)によって形成される銅めっきを用いることで、低抵抗でかつ狭ピッチなスパイラル配線21を安価に形成できる。なお、スパイラル配線21、柱状配線31,32、外部端子41,42は、SAP以外のめっき工法、スパッタリング法や蒸着法、塗布法などで形成してもよい。 The spiral wiring 21, the columnar wirings 31, 32, and the external terminals 41, 42 are made of a low-resistance metal such as Cu, Ag, or Au. Preferably, by using copper plating formed by SAP (Semi Additive Process), the spiral wiring 21 with low resistance and narrow pitch can be formed at low cost. Note that the spiral wiring 21, the columnar wiring 31, 32, and the external terminals 41, 42 may be formed by a plating method other than SAP, such as a sputtering method, a vapor deposition method, or a coating method.

本実施例においては、スパイラル配線21、柱状配線31,32は、SAPによる銅めっきで形成され、外部端子41,42は、無電解Cuめっきで形成される。なお、スパイラル配線21、柱状配線31,32、外部端子41,42を全て同じ工法で形成してもよい。 In this embodiment, the spiral wiring 21 and the columnar wirings 31 and 32 are formed by SAP copper plating, and the external terminals 41 and 42 are formed by electroless Cu plating. Note that the spiral wiring 21, the columnar wirings 31 and 32, and the external terminals 41 and 42 may all be formed by the same method.

磁性層10(第1磁性層11、第2磁性層12、内磁路部13および外磁路部14)は、例えば、磁性材料の粉末を含有する樹脂からなり、好ましくは、略球形の金属磁性材料を含む。したがって、磁性材料の磁路の充填性を良くできる。これにより、磁路を小さくでき、小型なインダクタ部品1を提供することができる。ただし、磁性層は、フェライトなどの磁性材料の粉末を含有する樹脂であってもよいし、フェライト基板や磁性材料のグリーンシートを焼結したものであってもよい。 The magnetic layer 10 (the first magnetic layer 11, the second magnetic layer 12, the inner magnetic path section 13, and the outer magnetic path section 14) is made of, for example, a resin containing powder of a magnetic material, and is preferably made of approximately spherical metal. Contains magnetic materials. Therefore, the filling property of the magnetic path of the magnetic material can be improved. Thereby, the magnetic path can be made small, and a compact inductor component 1 can be provided. However, the magnetic layer may be a resin containing powder of a magnetic material such as ferrite, or may be a sintered ferrite substrate or a green sheet of a magnetic material.

本実施例においては、磁性層10を構成する樹脂は、例えば、エポキシ系樹脂、ビスマレイミド、液晶ポリマ、ポリイミドからなる有機絶縁材料である。また、磁性層10の磁性材料の粉末は、平均粒径5μm以下の金属磁性体である。金属磁性体は、例えば、FeSiCrなどのFeSi系合金、FeCo系合金、NiFeなどのFe系合金、または、それらのアモルファス合金である。磁性材料の含有率は、好ましくは、磁性層10全体に対して50vol%以上85vol%以下である。 In this embodiment, the resin constituting the magnetic layer 10 is an organic insulating material made of, for example, epoxy resin, bismaleimide, liquid crystal polymer, or polyimide. Further, the magnetic material powder of the magnetic layer 10 is a metallic magnetic substance with an average particle size of 5 μm or less. The metal magnetic material is, for example, a FeSi-based alloy such as FeSiCr, a FeCo-based alloy, a Fe-based alloy such as NiFe, or an amorphous alloy thereof. The content of the magnetic material is preferably 50 vol% or more and 85 vol% or less based on the entire magnetic layer 10.

上記のように、平均粒径が5μm以下と粒径の小さい磁性材料を使うことで、金属磁性体に発生する渦電流を抑制することができ、数十MHzといった高周波でも損失の小さいインダクタ部品1を得ることができる。 As mentioned above, by using a magnetic material with a small average particle size of 5 μm or less, it is possible to suppress the eddy current generated in the metal magnetic material, and the inductor component 1 has low loss even at high frequencies of several tens of MHz. can be obtained.

また、Fe系の磁性材料を使うことで、フェライトなどよりも大きな磁気飽和特性を得ることができる。 Furthermore, by using an Fe-based magnetic material, it is possible to obtain greater magnetic saturation characteristics than ferrite or the like.

また、磁性材料の充填量を50vol%以上にすることで透磁率を高くすることができ、所望のインダクタンス値の取得に必要なスパイラル配線のターン数を低減できるため、直流抵抗と近接効果による高周波での損失を低減できる。さらに、充填量が85vol%以下の場合、磁性材料に対して有機絶縁樹脂のボリュームが十分大きく、磁性材料の流動性を確保できるため、充填性が向上し、実効透磁率や、磁性材料自体の強度を向上できる。 In addition, by increasing the filling amount of magnetic material to 50 vol% or more, magnetic permeability can be increased, and the number of turns of spiral wiring required to obtain the desired inductance value can be reduced. loss can be reduced. Furthermore, when the filling amount is 85 vol% or less, the volume of the organic insulating resin is sufficiently large compared to the magnetic material, and the fluidity of the magnetic material can be ensured, so the filling property is improved and the effective magnetic permeability and the magnetic material itself are improved. Strength can be improved.

一方、低周波で使う場合、渦電流損を高周波程気にする必要がなくなるため、金属磁性体の平均粒径を大きくし、より高透磁率にしてもよい。例えば、平均粒径が100~30μmの大粒と、大粒間の隙間を充填するようにいくつかの小粒(10μm以下)とが混在するような磁性材料が好ましい。こうすることで充填量を高くし、1~10MHzといった周波数で高透磁率の磁性材料を実現できる。ただし、1MHz以上の周波数では、渦電流損の影響を抑制するため、比透磁率は70以下であることが好ましい。 On the other hand, when used at low frequencies, there is no need to be concerned about eddy current loss as it is at high frequencies, so the average particle size of the metal magnetic material may be increased to provide higher magnetic permeability. For example, it is preferable to use a magnetic material in which large particles with an average particle size of 100 to 30 μm and some small particles (10 μm or less) coexist so as to fill the gaps between the large particles. By doing so, the filling amount can be increased and a magnetic material with high magnetic permeability at frequencies such as 1 to 10 MHz can be realized. However, at frequencies of 1 MHz or higher, the relative magnetic permeability is preferably 70 or lower in order to suppress the influence of eddy current loss.

本実施例においては、被覆膜50は、ポリイミド、フェノール、エポキシ樹脂などの有機絶縁樹脂からなる感光性レジストやソルダーレジストで形成されている。 In this embodiment, the coating film 50 is formed of a photosensitive resist or solder resist made of an organic insulating resin such as polyimide, phenol, or epoxy resin.

また、外部端子41,42の表面に施される防錆処理は、Ni、Au、Snなどのめっきである。 Furthermore, the antirust treatment applied to the surfaces of the external terminals 41 and 42 is plating with Ni, Au, Sn, or the like.

絶縁層15は、磁性体、特に磁性体の粉末を含有しない絶縁性樹脂からなる。したがって、例えば5μmの粒径を有する磁性体を含有しないので、絶縁層15の主面15a,15bの平坦性および絶縁性を向上できる。したがって、スパイラル配線21の形成精度や絶縁性、耐電圧の低下を抑制できる。また、絶縁層15でスパイラル配線21を覆っていないので、同じチップサイズで考えると磁性材料のボリュームが増えることでインダクタンス値を高くすることができる。絶縁層15の厚みは、スパイラル配線21よりも薄いことが好ましく、絶縁層15の厚みは、10μm以下であることが好ましい。 The insulating layer 15 is made of an insulating resin that does not contain a magnetic material, particularly a magnetic powder. Therefore, since it does not contain a magnetic material having a grain size of, for example, 5 μm, the flatness and insulation properties of the main surfaces 15a and 15b of the insulating layer 15 can be improved. Therefore, it is possible to suppress a decrease in the formation accuracy, insulation properties, and withstand voltage of the spiral wiring 21. Further, since the spiral wiring 21 is not covered with the insulating layer 15, the inductance value can be increased by increasing the volume of the magnetic material considering the same chip size. The thickness of the insulating layer 15 is preferably thinner than the spiral wiring 21, and the thickness of the insulating layer 15 is preferably 10 μm or less.

本実施例において、スパイラル配線21の厚みは45μm、配線幅が40μm、配線間スペースが10μmである。 In this example, the thickness of the spiral wiring 21 is 45 μm, the wiring width is 40 μm, and the space between the wires is 10 μm.

なお、配線間スペースは3μm以上20μm以下が好ましい。配線間スペースを20μm以下にすることで配線幅を大きくとることができるので、直流抵抗を下げることができる。配線間スペースを3μm以上にすることで配線間の絶縁性が十分に保てる。 Note that the space between wirings is preferably 3 μm or more and 20 μm or less. By setting the inter-wiring space to 20 μm or less, the wiring width can be increased, and the direct current resistance can be lowered. By setting the space between the wires to 3 μm or more, sufficient insulation between the wires can be maintained.

また、配線厚みは40μm以上120μm以下が好ましい。配線厚みを40μm以上にすることで直流抵抗を十分に下げることができる。配線厚みを120μm以下にすることで配線アスペクトを極端に大きくすることがなくなり、プロセスばらつきを抑制することができる。 Moreover, the wiring thickness is preferably 40 μm or more and 120 μm or less. By setting the wiring thickness to 40 μm or more, the direct current resistance can be sufficiently lowered. By setting the wiring thickness to 120 μm or less, the wiring aspect does not become extremely large, and process variations can be suppressed.

スパイラル配線21のターン数は本実施形態では、2.5ターンである。ターン数は5ターン以下が好ましい。ターン数が5ターン以下であれば50MHzから150MHzといった高周波スイッチング動作に対して近接効果の損失を小さくすることできる。一方、1MHzといった低周波スイッチング動作で使用する場合は2.5ターン以上が好ましい。ターン数を多くすることで、インダクタンスを高くし、インダクタリップル電流を小さくできる。 In this embodiment, the number of turns of the spiral wiring 21 is 2.5 turns. The number of turns is preferably 5 turns or less. If the number of turns is 5 or less, the loss due to the proximity effect can be reduced for high frequency switching operations from 50 MHz to 150 MHz. On the other hand, when used in low frequency switching operation such as 1 MHz, 2.5 turns or more is preferable. By increasing the number of turns, the inductance can be increased and the inductor ripple current can be reduced.

本実施形態では、第1磁性層11の厚みを117.5μmとし、第2磁性層12の厚みを67.5μmとしている。第1磁性層11、第2磁性層12の厚みは、それぞれ、10μm以上200μm以下が好ましい。第1、第2磁性層11,12の厚みが薄すぎると第1、第2磁性層11,12の研削時にプロセスばらつきによりスパイラル配線21が露出してしまう恐れがある。また、第1、第2磁性層11,12に含まれる磁性材料の平均粒径に対して、第1、第2磁性層11,12の厚みが薄いと脱粒による実効透磁率の低下が大きい。第1、第2磁性層11,12の厚みを200μm以下にするとインダクタ部品の薄膜化が実現できる。 In this embodiment, the thickness of the first magnetic layer 11 is 117.5 μm, and the thickness of the second magnetic layer 12 is 67.5 μm. The thickness of the first magnetic layer 11 and the second magnetic layer 12 is preferably 10 μm or more and 200 μm or less, respectively. If the thickness of the first and second magnetic layers 11 and 12 is too thin, the spiral wiring 21 may be exposed due to process variations during grinding of the first and second magnetic layers 11 and 12. Further, when the thickness of the first and second magnetic layers 11 and 12 is thinner than the average grain size of the magnetic material contained in the first and second magnetic layers 11 and 12, the effective magnetic permeability decreases significantly due to grain shedding. By setting the thickness of the first and second magnetic layers 11 and 12 to 200 μm or less, the inductor component can be made thinner.

また、第1磁性層11の厚みが、第2磁性層12の厚みより厚いことが好ましい。インダクタ部品1では、法線方向(Z方向)からみた外部端子41,42の面積に関して、第1磁性層11は、第2磁性層12よりも大きい。すなわち、インダクタ部品1では、第1磁性層11中の磁束の方が、第2磁性層12中の磁束よりも、外部端子41,42によって遮られやすい。そこで、第1磁性層11側の厚みを厚くして外部端子41,42との距離を空け、外部端子41,42の影響を低減することで、インダクタンスの磁性層厚(チップ厚)のばらつきに対する感度を落とすことができ、狭偏差なインダクタンスを有するインダクタ部品を提供することができる。また、一般に外部端子41,42の面積が大きい第1磁性層11側の方が、インダクタ部品1を実装・内蔵する基板側のランドパターンの面積も大きく、また周囲の電子部品の数も多くなりやすい。したがって、第1磁性層11の厚みを厚くして、磁束漏れを低減することで、ランドパターンによる渦電流損や周囲の電子部品へのノイズ入射など、磁束漏れによる悪影響を効果的に低減することができる。 Further, the thickness of the first magnetic layer 11 is preferably thicker than the thickness of the second magnetic layer 12. In the inductor component 1, the first magnetic layer 11 is larger than the second magnetic layer 12 in terms of the area of the external terminals 41 and 42 when viewed from the normal direction (Z direction). That is, in the inductor component 1, the magnetic flux in the first magnetic layer 11 is more easily blocked by the external terminals 41 and 42 than the magnetic flux in the second magnetic layer 12. Therefore, by increasing the thickness on the first magnetic layer 11 side and increasing the distance from the external terminals 41 and 42 to reduce the influence of the external terminals 41 and 42, it is possible to reduce the variation in the magnetic layer thickness (chip thickness) of the inductance. It is possible to reduce sensitivity and provide an inductor component having inductance with narrow deviation. Additionally, in general, the area of the land pattern on the side of the substrate where the inductor component 1 is mounted and built in is larger on the first magnetic layer 11 side where the external terminals 41 and 42 have a larger area, and the number of surrounding electronic components is also larger. Cheap. Therefore, by increasing the thickness of the first magnetic layer 11 to reduce magnetic flux leakage, it is possible to effectively reduce the negative effects of magnetic flux leakage, such as eddy current loss due to the land pattern and noise input to surrounding electronic components. Can be done.

防錆処理を含めた外部端子41,42の厚みは、無電解銅めっき厚5μm、Niめっき厚5μm、Auめっき厚0.1μmである。また、被覆膜50の厚みは5μmである。これらの厚みも適便チップ厚みと実装信頼性の観点から厚み、大きさが選択されてよい。 The thickness of the external terminals 41 and 42 including anti-rust treatment is 5 μm thick for electroless copper plating, 5 μm thick for Ni plating, and 0.1 μm thick for Au plating. Further, the thickness of the coating film 50 is 5 μm. These thicknesses and sizes may be selected from the viewpoint of convenient chip thickness and mounting reliability.

以上より、本実施例によると、チップサイズ1210(1.2mm x 1.0mm)、厚み0.300mmである薄型インダクタを提供することができる。 As described above, according to this embodiment, a thin inductor having a chip size of 1210 (1.2 mm x 1.0 mm) and a thickness of 0.300 mm can be provided.

(第2実施形態)
図4は、インダクタ部品の第2実施形態を示す断面図である。第2実施形態は、第1実施形態とは、絶縁層の配置が相違する。この相違する構成を以下に説明する。その他の構成は、第1実施形態と同じ構成であり、第1実施形態と同一の符号を付してその説明を省略する。
(Second embodiment)
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a second embodiment of the inductor component. The second embodiment differs from the first embodiment in the arrangement of insulating layers. This different configuration will be explained below. The other configurations are the same as those in the first embodiment, are given the same reference numerals as in the first embodiment, and the description thereof will be omitted.

図4に示すように、第2実施形態のインダクタ部品1Aでは、スパイラル配線21は、1周を超えるスパイラル形状である。スパイラル配線21の1周を超えて配線同士が並走する領域において、スパイラル配線21の側面は、絶縁層15に覆われている。つまり、絶縁層15は、第1実施形態と同様にスパイラル配線21の下面を覆い、さらに、1周を超える領域においてスパイラル配線21の配線間に存在する。なお、スパイラル配線21の配線間に存在する絶縁層15の厚みは、スパイラル配線21の配線厚みと同じであってもよいし、スパイラル配線21の配線厚みよりも大きくても、小さくてもよい。 As shown in FIG. 4, in the inductor component 1A of the second embodiment, the spiral wiring 21 has a spiral shape having more than one turn. In a region where the wires run parallel to each other over one circumference of the spiral wire 21, the side surfaces of the spiral wire 21 are covered with an insulating layer 15. That is, the insulating layer 15 covers the lower surface of the spiral wiring 21 as in the first embodiment, and further exists between the wirings of the spiral wiring 21 in a region exceeding one circumference. Note that the thickness of the insulating layer 15 existing between the wires of the spiral wire 21 may be the same as the wire thickness of the spiral wire 21, or may be larger or smaller than the wire thickness of the spiral wire 21.

これにより、スパイラル配線21の配線間のスペースが狭い場合、スパイラル配線21の配線間において金属磁性体などの磁性材料を介した電気的な短絡経路ができる可能性を除くことができる。したがって、スパイラル配線21の絶縁性および耐電圧性を向上でき、信頼性の高いインダクタ部品1Aを提供することができる。 Thereby, when the space between the spiral wiring lines 21 is narrow, it is possible to eliminate the possibility that an electrical short circuit path is created between the spiral wiring lines 21 via a magnetic material such as a magnetic metal. Therefore, the insulation and voltage resistance of the spiral wiring 21 can be improved, and a highly reliable inductor component 1A can be provided.

なお、スパイラル配線21の配線同士が並走しない領域において、例えば、スパイラル配線21の両端部、スパイラル配線21の最外周の外側側面、および、スパイラル配線21の最内周の内側側面において、スパイラル配線21の側面が絶縁層15に覆われていてもよいし、磁性層10に直接接触していてもよい。 Note that in areas where the wires of the spiral wire 21 do not run parallel to each other, for example, at both ends of the spiral wire 21, on the outer side surface of the outermost periphery of the spiral wire 21, and on the inner side surface of the innermost periphery of the spiral wire 21, the spiral wire The side surface of 21 may be covered with the insulating layer 15 or may be in direct contact with the magnetic layer 10 .

前記インダクタ部品1Aを製造する方法について説明すると、例えば、第1実施形態の図3Lの工程の後に、スパイラル配線21の配線間に絶縁層15を設けるようにしてもよい。 To explain the method for manufacturing the inductor component 1A, for example, after the step shown in FIG. 3L of the first embodiment, an insulating layer 15 may be provided between the spiral wires 21.

(第3実施形態)
図5は、インダクタ部品の第3実施形態を示す断面図である。第3実施形態は、第1実施形態とは、スパイラル配線の層数が相違する。この相違する構成を以下に説明する。その他の構成は、第1実施形態と同じ構成であり、第1実施形態と同一の符号を付してその説明を省略する。
(Third embodiment)
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a third embodiment of the inductor component. The third embodiment differs from the first embodiment in the number of layers of spiral wiring. This different configuration will be explained below. The other configurations are the same as those in the first embodiment, are given the same reference numerals as in the first embodiment, and the description thereof will be omitted.

図5に示すように、第2実施形態のインダクタ部品1Bは、第1実施形態のインダクタ部品1と同様に、絶縁層15A,15Bと、絶縁層15A,15Bの第1主面15a上に形成されるスパイラル配線21,22と、スパイラル配線21,22の少なくとも一部に接触する磁性層10とを備える。 As shown in FIG. 5, the inductor component 1B of the second embodiment is formed on the insulating layers 15A, 15B and the first main surface 15a of the insulating layers 15A, 15B, similarly to the inductor component 1 of the first embodiment. spiral wirings 21 and 22, and a magnetic layer 10 that contacts at least a portion of the spiral wirings 21 and 22.

一方、インダクタ部品1Bでは、スパイラル配線は、第1スパイラル配線21と第2スパイラル配線22の複数あり、第1スパイラル配線21と第2スパイラル配線22との間を直列に接続するビア導体をさらに備える。2層のスパイラル配線21,22が、第1、第2外部端子41,42間で電気的に直列に接続されている。 On the other hand, in the inductor component 1B, the spiral wiring includes a plurality of first spiral wirings 21 and second spiral wirings 22, and further includes a via conductor that connects the first spiral wiring 21 and the second spiral wiring 22 in series. . Two layers of spiral wiring 21 and 22 are electrically connected in series between first and second external terminals 41 and 42.

具体的に述べると、第2スパイラル配線22は、第1スパイラル配線21のZ方向(上方)に積層されている。第1スパイラル配線21は、上側からみて、外周端21bから内周端21aに向かって反時計回り方向に渦巻状に巻回されている。第2スパイラル配線22は、上側からみて、内周端22aから外周端22bに向かって反時計回り方向に渦巻状に巻回されている。 Specifically, the second spiral wiring 22 is stacked in the Z direction (above) the first spiral wiring 21. The first spiral wiring 21 is spirally wound in a counterclockwise direction from an outer peripheral end 21b toward an inner peripheral end 21a when viewed from above. The second spiral wiring 22 is spirally wound in a counterclockwise direction from an inner peripheral end 22a toward an outer peripheral end 22b when viewed from above.

第1スパイラル配線21は、第1絶縁層15Aの第1主面15a上に形成される。第2スパイラル配線22は、第2絶縁層15Bの第1主面15a上に形成される。第2絶縁層15Bは、第1絶縁層15AのZ方向(上方)に積層される。 The first spiral wiring 21 is formed on the first main surface 15a of the first insulating layer 15A. The second spiral wiring 22 is formed on the first main surface 15a of the second insulating layer 15B. The second insulating layer 15B is stacked in the Z direction (above) the first insulating layer 15A.

第2スパイラル配線22の外周端22bは、その外周端22bの上側の第2柱状配線32を介して、第2外部端子42に接続される。第2スパイラル配線22の内周端は、その内周端の下側のビア導体を介して、第1スパイラル配線21の内周端に接続される。ビア導体は、第2絶縁層15Bの内部を第1主面15aの法線方向に貫通する。 The outer peripheral end 22b of the second spiral wiring 22 is connected to the second external terminal 42 via the second columnar wiring 32 above the outer peripheral end 22b. The inner peripheral end of the second spiral wiring 22 is connected to the inner peripheral end of the first spiral wiring 21 via a via conductor below the inner peripheral end. The via conductor penetrates the inside of the second insulating layer 15B in the normal direction of the first main surface 15a.

第1スパイラル配線21の外周端21bは、その外周端21bの上側のビア導体25、端部配線26および第1柱状配線31を介して、第1外部端子41に接続される。ビア導体25は、第2絶縁層15Bの内部を第1主面15aの法線方向に貫通する。端部配線26は、第2スパイラル配線22と同一平面である第2絶縁層15B上に形成される。 The outer peripheral end 21b of the first spiral wiring 21 is connected to the first external terminal 41 via the via conductor 25, the end wiring 26, and the first columnar wiring 31 above the outer peripheral end 21b. The via conductor 25 penetrates the inside of the second insulating layer 15B in the normal direction of the first main surface 15a. The end wiring 26 is formed on the second insulating layer 15B on the same plane as the second spiral wiring 22.

前記インダクタ部品1Bでは、第1スパイラル配線21と第2スパイラル配線22とが直列に接続されているので、ターン数を増やすことでインダクタンス値を向上できる。また、第1、第2柱状配線31,32を第1、第2スパイラル配線21,22の外周端から引き出すことができるので、第1、第2スパイラル配線21,22の内径を大きくとることができ、インダクタンス値を向上できる。 In the inductor component 1B, since the first spiral wiring 21 and the second spiral wiring 22 are connected in series, the inductance value can be improved by increasing the number of turns. Furthermore, since the first and second columnar wirings 31 and 32 can be drawn out from the outer peripheral ends of the first and second spiral wirings 21 and 22, it is possible to increase the inner diameter of the first and second spiral wirings 21 and 22. It is possible to improve the inductance value.

また、第1スパイラル配線21と第2スパイラル配線22は、それぞれ法線方向に積層されているので、ターン数に対してZ方向からみたインダクタ部品1Bの面積、すなわち実装面積を低減でき、インダクタ部品1Bの小型化が実現できる。 Furthermore, since the first spiral wiring 21 and the second spiral wiring 22 are laminated in the normal direction, the area of the inductor component 1B seen from the Z direction, that is, the mounting area, can be reduced relative to the number of turns, and the inductor component Miniaturization of 1B can be achieved.

なお、スパイラル配線は2層に限られず、複数層あってもよい。また、上層側のスパイラル配線については、下方からの基板除去(エッチング、研磨)などの加工プロセスの影響を受けないため、絶縁層上ではなく、磁性層上に形成されていてもよい。具体的には、図5の構成において、絶縁層15Bが存在せず、磁性層10が代わりに配置されていてもよい。また、第2実施形態のように第1スパイラル配線21の配線同士が並走する領域において、第1スパイラル配線21の側面が、絶縁層15(絶縁層15B)に覆われている構成であってもよい。この場合、第1スパイラル配線21は、内周側の側面で磁性層10に接触する。 Note that the spiral wiring is not limited to two layers, and may have multiple layers. Further, the spiral wiring on the upper layer side may be formed on the magnetic layer instead of on the insulating layer because it is not affected by processing processes such as substrate removal from below (etching, polishing). Specifically, in the configuration of FIG. 5, the insulating layer 15B may not exist, and the magnetic layer 10 may be arranged instead. Further, in the region where the wires of the first spiral wire 21 run parallel to each other as in the second embodiment, the side surface of the first spiral wire 21 is covered with the insulating layer 15 (insulating layer 15B). Good too. In this case, the first spiral wiring 21 contacts the magnetic layer 10 on the inner side surface.

前記インダクタ部品1Bを製造する方法について説明すると、基板を準備し、基板上に第1絶縁層15Aを形成し、第1絶縁層15Aの第1主面15a上に第1スパイラル配線21を形成し、第1スパイラル配線21の少なくとも一部、具体的には第1スパイラル配線21の側面に接触するように磁性層10を形成する。さらに、磁性層10を研磨するなどして、第1スパイラル配線21の上面を露出させた上で、第1スパイラル配線21上及び磁性層10上に第2絶縁層15Bを形成し、第2絶縁層15Bの第1主面15a上に第2スパイラル配線22を形成し、第2スパイラル配線22の少なくとも一部に接触するように磁性層10を形成する。その後、基板を除去する。 To explain the method for manufacturing the inductor component 1B, a substrate is prepared, a first insulating layer 15A is formed on the substrate, and a first spiral wiring 21 is formed on the first main surface 15a of the first insulating layer 15A. , the magnetic layer 10 is formed so as to contact at least a portion of the first spiral wiring 21, specifically, the side surface of the first spiral wiring 21. Furthermore, after polishing the magnetic layer 10 to expose the upper surface of the first spiral wiring 21, a second insulating layer 15B is formed on the first spiral wiring 21 and the magnetic layer 10, and a second insulating layer 15B is formed on the first spiral wiring 21 and on the magnetic layer 10. A second spiral wiring 22 is formed on the first main surface 15a of the layer 15B, and the magnetic layer 10 is formed in contact with at least a portion of the second spiral wiring 22. After that, the substrate is removed.

(第4実施形態)
図6は、インダクタ部品の第4実施形態を示す透視斜視図である。図7は、図6のX-X断面図である。第4実施形態は、第1実施形態とは、スパイラル配線の構成が相違する。この相違する構成を以下に説明する。なお、第4実施形態において、第1実施形態と同一の符号は、第1実施形態と同じ構成であるため、その説明を省略する。
(Fourth embodiment)
FIG. 6 is a transparent perspective view showing a fourth embodiment of the inductor component. FIG. 7 is a sectional view taken along line XX in FIG. The fourth embodiment differs from the first embodiment in the configuration of the spiral wiring. This different configuration will be explained below. Note that in the fourth embodiment, the same reference numerals as those in the first embodiment have the same configurations as in the first embodiment, so the explanation thereof will be omitted.

図6と図7に示すように、インダクタ部品1Cは、第1実施形態のインダクタ部品1と同様に、絶縁層15と、絶縁層15の第1主面15a上に形成されるスパイラル配線21B~24Bと、スパイラル配線21B~24Bのそれぞれの少なくとも一部に接触する磁性層10とを備える。 As shown in FIGS. 6 and 7, the inductor component 1C includes an insulating layer 15 and spiral wirings 21B to 21B formed on the first main surface 15a of the insulating layer 15, similarly to the inductor component 1 of the first embodiment. 24B, and a magnetic layer 10 that contacts at least a portion of each of the spiral wirings 21B to 24B.

一方、インダクタ部品1Cにおいて、第1スパイラル配線21B、第2スパイラル配線22B、第3スパイラル配線23Bおよび第4スパイラル配線24Bは、Z方向から見たときに、半楕円形の弧状である。すなわち、第1~第4スパイラル配線21B~24Bは、約半周分巻回された曲線状の配線である。また、スパイラル配線21B~24Bは、中間部分で直線部を含んでいる。このように、本開示において、「平面状に巻回されたスパイラル配線」とは、平面状に形成された曲線(2次元曲線)であって、ターン数が1周未満の曲線であってもよく、一部直線部を有していてもよい。 On the other hand, in the inductor component 1C, the first spiral wiring 21B, the second spiral wiring 22B, the third spiral wiring 23B, and the fourth spiral wiring 24B have a semi-elliptical arc shape when viewed from the Z direction. That is, the first to fourth spiral wires 21B to 24B are curved wires wound approximately half a turn. Further, the spiral wirings 21B to 24B include a straight portion in the middle portion. As described above, in the present disclosure, "spiral wiring wound in a planar shape" refers to a curve formed in a planar shape (two-dimensional curve), even if the number of turns is less than one round. In some cases, it may have a straight portion.

第1、第4スパイラル配線21B,24Bは、その両端が外側に位置する第1柱状配線31および第2柱状配線32に接続され、第1柱状配線31および第2柱状配線32からインダクタ部品1Cの中心側に向かって孤を描く曲線状である。 The first and fourth spiral wirings 21B and 24B are connected at both ends to a first columnar wiring 31 and a second columnar wiring 32 located outside, and are connected to the inductor component 1C from the first columnar wiring 31 and the second columnar wiring 32. It has a curved shape that draws an arc toward the center.

第2、第3スパイラル配線22B,23Bは、その両端が内側に位置する第1柱状配線31および第2柱状配線32に接続され、第1柱状配線31および第2柱状配線32からインダクタ部品1Cの縁側に向かって孤を描く曲線状である。 The second and third spiral wirings 22B and 23B are connected at both ends to the first columnar wiring 31 and the second columnar wiring 32 located inside, and are connected to the inductor component 1C from the first columnar wiring 31 and the second columnar wiring 32. It has a curved shape that draws an arc toward the veranda.

ここで、第1~第4スパイラル配線21B~24Bのそれぞれにおいて、スパイラル配線21B~24Bが描く曲線と、スパイラル配線21B~24Bの両端を結んだ直線とに囲まれる範囲を内径部分とする。このとき、Z方向からみて、いずれのスパイラル配線21B~24Bについても、その内径部分同士は重ならない。 Here, in each of the first to fourth spiral wirings 21B to 24B, the range surrounded by the curve drawn by the spiral wirings 21B to 24B and the straight line connecting both ends of the spiral wirings 21B to 24B is defined as an inner diameter portion. At this time, when viewed from the Z direction, the inner diameter portions of any of the spiral wires 21B to 24B do not overlap.

一方、第1、第2スパイラル配線21B,22Bはお互いに近接している。すなわち、第1スパイラル配線21Bで発生した磁束は、近接する第2スパイラル配線22Bの周囲を回り込み、第2スパイラル配線22Bで発生した磁束は、近接する第1スパイラル配線21Bの周囲を回り込む。これは、互いに近接している第3、第4スパイラル配線23B,24Bでも同様である。したがって、第1スパイラル配線21Bと第2スパイラル配線22Bとの磁気結合、第3スパイラル配線23Bと第4スパイラル配線24Bとの磁気結合は強くなる。 On the other hand, the first and second spiral wirings 21B and 22B are close to each other. That is, the magnetic flux generated in the first spiral wiring 21B goes around the adjacent second spiral wiring 22B, and the magnetic flux generated in the second spiral wiring 22B goes around the adjacent first spiral wiring 21B. This also applies to the third and fourth spiral wirings 23B and 24B, which are close to each other. Therefore, the magnetic coupling between the first spiral wiring 21B and the second spiral wiring 22B and the magnetic coupling between the third spiral wiring 23B and the fourth spiral wiring 24B become stronger.

なお、第1、第2スパイラル配線21B,22Bにおいて、同じ側にある一端からその反対側にある他端に向かって同時に電流が流れた場合、互いの磁束は強めあう。これは、第1スパイラル配線21Bと第2スパイラル配線22Bの同じ側にある各一端を共にパルス信号の入力側、その反対側にある各他端を共にパルス信号の出力側とした場合に、第1スパイラル配線21Bと第2スパイラル配線22Bとは正結合されていることを意味する。一方、例えば、第1スパイラル配線21Bと第2スパイラル配線22Bの一方のスパイラル配線では一端側を入力、他端側を出力とし、他方のスパイラル配線では一端側を出力、他端側を入力とすれば、第1スパイラル配線21Bと第2スパイラル配線22Bとは負結合されている状態とできる。これは第3、第4スパイラル配線23B,24Bについても同様である。 Note that in the first and second spiral wirings 21B and 22B, when current flows simultaneously from one end on the same side to the other end on the opposite side, the mutual magnetic fluxes are strengthened. This means that if one end of the first spiral wiring 21B and the second spiral wiring 22B on the same side are both input sides for a pulse signal, and each other end on the opposite side is set as an output side of a pulse signal, This means that the first spiral wiring 21B and the second spiral wiring 22B are positively coupled. On the other hand, for example, in one of the first spiral wiring 21B and the second spiral wiring 22B, one end is an input and the other end is an output, and the other spiral wiring has one end as an output and the other end as an input. For example, the first spiral wiring 21B and the second spiral wiring 22B can be negatively coupled. This also applies to the third and fourth spiral wirings 23B and 24B.

第1、第3スパイラル配線21B,23Bの一端側に接続された第1柱状配線31、および、第2、第4スパイラル配線22B,24Bの他端側に接続された第2柱状配線32は、それぞれ、第1磁性層11の内部を貫通し、上面において露出する。第1、第3スパイラル配線21B,23Bの他端側にビア導体25を介して接続された第2柱状配線32、および、第2、第4スパイラル配線22B,24Bの一端側にビア導体25を介して接続された第1柱状配線31は、それぞれ、第2磁性層12の内部を貫通し、下面において露出する。ビア導体25は、絶縁層15の内部を貫通する。第1柱状配線31は、第1外部端子41に接続される。第2柱状配線32は、第2外部端子42に接続される。 The first columnar wiring 31 connected to one end side of the first and third spiral wirings 21B and 23B, and the second columnar wiring 32 connected to the other end side of the second and fourth spiral wirings 22B and 24B, Each of them penetrates the inside of the first magnetic layer 11 and is exposed on the upper surface. A second columnar wiring 32 is connected to the other end of the first and third spiral wirings 21B and 23B via a via conductor 25, and a via conductor 25 is connected to one end of the second and fourth spiral wirings 22B and 24B. The first columnar wirings 31 connected thereto penetrate through the inside of the second magnetic layer 12 and are exposed at the bottom surface. Via conductor 25 penetrates inside insulating layer 15 . The first columnar wiring 31 is connected to the first external terminal 41. The second columnar wiring 32 is connected to the second external terminal 42 .

この構成によれば、例えば、インダクタ部品1Cを基板に埋め込むとともに、第1磁性層11の上面側にパルス信号の入力ラインを配置し、第2磁性層12の下面側にパルス信号の出力ラインを配置することにより、第1、第2スパイラル配線21B,22Bの組、第3、第4スパイラル配線23B,24Bの組のそれぞれをより容易に負結合させることができる。 According to this configuration, for example, the inductor component 1C is embedded in the substrate, the pulse signal input line is arranged on the upper surface side of the first magnetic layer 11, and the pulse signal output line is arranged on the lower surface side of the second magnetic layer 12. By arranging them, each of the set of first and second spiral wirings 21B and 22B and the set of third and fourth spiral wirings 23B and 24B can be more easily negatively coupled.

なお、インダクタ部品1Cでは、スパイラル配線21B~24Bの柱状配線31,32との接続位置からチップの外側に向かってさらに配線が伸びているが、これはSAPにて銅配線を形成後、追加銅電解めっきを行う際の給電配線と接続される配線である。この給電配線によりSAPの給電膜を除去した後で合っても、追加銅電解めっきを容易に行うことができ、配線間距離を狭くすることができる。また、SAP形成後に追加銅電極めっきを行うことで、第1、第2スパイラル配線21B,22Bの配線間距離および第3、第4スパイラル配線23B,24Bの配線間距離を狭くでき、高い磁気結合を得ることができる。 In addition, in the inductor component 1C, the wiring further extends toward the outside of the chip from the connection position with the columnar wirings 31 and 32 of the spiral wirings 21B to 24B, but this is because additional copper is added after forming the copper wiring in SAP. This is the wiring that is connected to the power supply wiring when performing electrolytic plating. With this power supply wiring, even if the SAP power supply film is removed, additional copper electrolytic plating can be easily performed, and the distance between the wirings can be narrowed. In addition, by performing additional copper electrode plating after SAP formation, the distance between the first and second spiral wirings 21B and 22B and the distance between the third and fourth spiral wirings 23B and 24B can be reduced, resulting in high magnetic coupling. can be obtained.

なお、スパイラル配線は4つに限られず、1~3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。また、スパイラル配線の両端部は、磁性層の同じ側に磁性層を貫通する柱状配線に接続されてもよいし、一つの端部において、第1主面側に磁性層を貫通する柱状配線、第2主面側に磁性層を貫通する柱状配線の両方に接続されていてもよい。 Note that the number of spiral wires is not limited to four, and may be one to three, or five or more. Further, both ends of the spiral wiring may be connected to columnar wiring that penetrates the magnetic layer on the same side of the magnetic layer, or at one end, a columnar wiring that penetrates the magnetic layer on the first main surface side, It may be connected to both columnar wirings penetrating the magnetic layer on the second main surface side.

前記インダクタ部品1Cを製造する方法について説明すると、基板を準備し、基板上に絶縁層15を形成し、第1絶縁層15の第1主面15a上にスパイラル配線21B~24B及びスパイラル配線21B~24Bの一端上に第1柱状配線31を形成し、スパイラル配線21B~24Bのそれぞれの少なくとも一部に接触するように磁性層10を形成する。その後、基板を除去する。さらに、スパイラル配線21B~24Bの他端の下方となる第1絶縁層15を第2主面15b側からレーザードリルなどで開口し、ビア導体25、第2柱状配線32を形成する。そして、第1絶縁層15の第2主面15b側に磁性層10を形成し、磁性層10を上側、下側から研磨することで第1柱状配線31、第2柱状配線32を露出させ、被覆膜50を形成、開口後、第1外部端子41、第2外部端子42を形成すればよい。 To explain the method for manufacturing the inductor component 1C, a substrate is prepared, an insulating layer 15 is formed on the substrate, and spiral wirings 21B to 24B and spiral wirings 21B to 24B are formed on the first main surface 15a of the first insulating layer 15. A first columnar wiring 31 is formed on one end of the spiral wiring 24B, and a magnetic layer 10 is formed so as to contact at least a portion of each of the spiral wirings 21B to 24B. After that, the substrate is removed. Further, an opening is made in the first insulating layer 15 below the other end of the spiral wirings 21B to 24B from the second main surface 15b side using a laser drill or the like, and a via conductor 25 and a second columnar wiring 32 are formed. Then, the magnetic layer 10 is formed on the second main surface 15b side of the first insulating layer 15, and the first columnar wiring 31 and the second columnar wiring 32 are exposed by polishing the magnetic layer 10 from the upper side and the lower side, After the coating film 50 is formed and opened, the first external terminal 41 and the second external terminal 42 may be formed.

なお、本開示は上述の実施形態に限定されず、本開示の要旨を逸脱しない範囲で設計変更可能である。例えば、第1から第4実施形態のそれぞれの特徴点を様々に組み合わせてもよい。 Note that the present disclosure is not limited to the above-described embodiments, and design changes can be made without departing from the gist of the present disclosure. For example, the features of the first to fourth embodiments may be combined in various ways.

磁性層は、スパイラル配線との接触部分において、スパイラル配線の側面にのみ接触していてもよく、または、磁性層は、スパイラル配線との接触部分において、スパイラル配線の上面にのみ接触していてもよい。これらの場合であっても、スパイラル配線の側面及び上面が絶縁層で覆われている構成に対して、絶縁層の割合を減少できる。 The magnetic layer may contact only the side surface of the spiral wiring at the contact portion with the spiral wiring, or the magnetic layer may contact only the top surface of the spiral wiring at the contact portion with the spiral wiring. good. Even in these cases, the proportion of the insulating layer can be reduced compared to a structure in which the side and top surfaces of the spiral wiring are covered with an insulating layer.

1,1A,1B,1C インダクタ部品
10 磁性層
11 第1磁性層
12 第2磁性層
13 内磁路部
14 外磁路部
15 絶縁層
15A 第1絶縁層
15B 第2絶縁層
15a 第1主面
15b 第2主面
21 第1スパイラル配線
22 第2スパイラル配線
21B 第1スパイラル配線
22B 第2スパイラル配線
23B 第3スパイラル配線
24B 第4スパイラル配線
25 ビア導体
26 端部配線
31 第1柱状配線
32 第2柱状配線
41 第1外部端子
42 第2外部端子
50 被覆膜
61 基板
1, 1A, 1B, 1C Inductor parts 10 Magnetic layer 11 First magnetic layer 12 Second magnetic layer 13 Inner magnetic path section 14 Outer magnetic path section 15 Insulating layer 15A First insulating layer 15B Second insulating layer 15a First main surface 15b Second main surface 21 First spiral wiring 22 Second spiral wiring 21B First spiral wiring 22B Second spiral wiring 23B Third spiral wiring 24B Fourth spiral wiring 25 Via conductor 26 End wiring 31 First columnar wiring 32 Second Columnar wiring 41 First external terminal 42 Second external terminal 50 Covering film 61 Substrate

Claims (9)

磁性体を含有しない絶縁層と、
前記絶縁層の第1主面上に形成され、前記第1主面上に巻回されるスパイラル配線と、
前記スパイラル配線の一部に接触する磁性層と
を備え、
前記スパイラル配線は、1層のみであり、
前記スパイラル配線のターン数は、1周未満であり、前記スパイラル配線は、中間部分で直線部を含み、
前記絶縁層は、前記スパイラル配線に沿った形状であり、かつ、前記スパイラル配線の下面に対応した形状であり、
前記磁性層は、前記スパイラル配線との接触部分において、前記スパイラル配線の側面から上面にかけて接触している、インダクタ部品。
an insulating layer that does not contain magnetic material;
a spiral wiring formed on a first main surface of the insulating layer and wound on the first main surface;
a magnetic layer in contact with a part of the spiral wiring,
The spiral wiring has only one layer,
The number of turns of the spiral wiring is less than one turn, and the spiral wiring includes a straight portion in the middle portion,
The insulating layer has a shape that follows the spiral wiring and a shape that corresponds to the lower surface of the spiral wiring ,
The magnetic layer is in contact with the spiral wiring from a side surface to an upper surface at a contact portion with the spiral wiring .
前記絶縁層の厚みは、前記スパイラル配線の厚みより薄い、請求項1に記載のインダクタ部品。 The inductor component according to claim 1 , wherein the thickness of the insulating layer is thinner than the thickness of the spiral wiring. 前記絶縁層の厚みは、10μm以下である、請求項に記載のインダクタ部品。 The inductor component according to claim 2 , wherein the insulating layer has a thickness of 10 μm or less. 前記磁性層の内部を前記第1主面の法線方向に貫通する柱状配線と、前記磁性層の外側に形成された外部端子とをさらに備え、
前記スパイラル配線と前記柱状配線が直接に接触し、前記柱状配線と前記外部端子が直接に接触している、請求項1に記載のインダクタ部品。
further comprising: a columnar wiring penetrating the inside of the magnetic layer in a direction normal to the first main surface; and an external terminal formed outside the magnetic layer;
The inductor component according to claim 1, wherein the spiral wiring and the columnar wiring are in direct contact with each other, and the columnar wiring and the external terminal are in direct contact with each other.
前記スパイラル配線の側面は、全て、前記磁性層に接触している、請求項1からの何れか一つに記載のインダクタ部品。 5. The inductor component according to claim 1, wherein all side surfaces of the spiral wiring are in contact with the magnetic layer. 前記スパイラル配線の上面は、前記柱状配線と接触する部分以外の全て、前記磁性層に接触している、請求項に記載のインダクタ部品。 5. The inductor component according to claim 4 , wherein the entire upper surface of the spiral wiring contacts the magnetic layer except for the portion that contacts the columnar wiring. 基板を準備する工程と、
前記基板上に磁性体を含有しない絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層の第1主面上に巻回されるように、前記第1主面上に、1層のみのスパイラル配線であり、かつ、ターン数が1周未満であって直線部を含むスパイラル配線を形成する工程と、
前記スパイラル配線の一部に接触するように、前記絶縁層上に磁性層を形成する工程と、
前記基板を除去する工程と
を備え、
前記絶縁層は、前記スパイラル配線に沿った形状であり、かつ、前記スパイラル配線の下面に対応した形状であり、
前記磁性層は、前記スパイラル配線との接触部分において、前記スパイラル配線の側面から上面にかけて接触している、インダクタ部品の製造方法。
a step of preparing a substrate;
forming an insulating layer containing no magnetic material on the substrate;
A spiral wiring having only one layer on the first main surface and having a number of turns less than one turn and including a straight portion on the first main surface so as to be wound on the first main surface of the insulating layer. A process of forming wiring,
forming a magnetic layer on the insulating layer so as to contact a part of the spiral wiring;
and a step of removing the substrate,
The insulating layer has a shape that follows the spiral wiring and a shape that corresponds to the lower surface of the spiral wiring ,
The method for manufacturing an inductor component, wherein the magnetic layer is in contact with the spiral wiring from a side surface to an upper surface at a contact portion with the spiral wiring.
前記絶縁層は、前記スパイラル配線に沿った部分を残して除去される、請求項に記載のインダクタ部品の製造方法。 8. The method for manufacturing an inductor component according to claim 7 , wherein the insulating layer is removed leaving a portion along the spiral wiring. 前記スパイラル配線の形成後、前記磁性層の形成前に、前記スパイラル配線から前記第1主面の法線方向に延びる柱状配線を形成し、前記柱状配線の上端が露出するように前記磁性層を形成する、請求項またはに記載のインダクタ部品の製造方法。 After the spiral wiring is formed and before the magnetic layer is formed, a columnar wiring is formed extending from the spiral wiring in the normal direction of the first main surface, and the magnetic layer is formed so that the upper end of the columnar wiring is exposed. The method for manufacturing an inductor component according to claim 7 or 8 .
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