JP4759172B2 - Substrate manufacturing method - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザービーム等のエネルギービームを用いて基板上の導電性材料を除去して回路パターンを形成する基板製造方法に係り、特に、絶縁性透明基板上に透明導電膜が形成されたタッチパネル基板に回路パターンを形成するのに好適な基板製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、基板の製造方法としては、エッチング処理を伴うフォトリソグラフィー法を用いた製造方法が広く知られている。このフォトリソグラフィー法では、フォトマスクを作成してこれを光硬化性の感光材料が塗布された基板に合わせ、紫外線ランプ等を使って紫外線を含む光(以下、UV光という)を照射してフォトマスクに形成されている回路パターンを基板に露光焼付する。そして、露光処理した基板をエッチング処理して未露光部分の導電性金属材料を除去する。その後、化学処理により光硬化した感光材料を除去する。
【0003】
上記フォトリソグラフィー法では、1枚もしくは少数の基板の作成においても必ずフォトマスクを作成する必要があり、そのあとこれを基板に貼り付け露光する工程をとるため、時間と費用を要することになる。さらに、フォトレジストの現像液やエッチング液の廃液の処理に費用を要することになる。
【0004】
このため、例えば、特開平10−235486号公報では、感光材料として光硬化性のフィルムを用い、フォトマスクを使用しないでダイレクトに基板上に回路パターンを形成するプリント基板ダイレクト描画装置が開示されている。このプリント基板ダイレクト描画装置では、導電性金属材料の上に紫外線硬化フィルムを付着させた基板に、プリント基板CADにより作成された配線パターンデータに基づき描画ヘッドを移動させて紫外光を含む光を照射し、基板上に上記配線パターンデータ通りの回路パターンを形成する。このプリント基板ダイレクト描画装置では、フォトマスクを使用せずに基板上に回路パターンを形成することができるが、エッチング工程と化学処理による光硬化したフィルムの除去工程とが必要であるため、製造時間の短縮化と工程の削減とが十分ではなかった。
【0005】
そこで、本出願人は、例えば特願2000−77153号において、導電性材料として透明導電膜が形成された絶縁性透明基板にレーザ光等のエネルギービームを照射して導電性材料を除去し、回路パターンを形成するタッチパネル基板の製造方法を提案している。このタッチパネル基板の製造方法により絶縁性透明基板に回路パターンを形成する場合は、例えば次のように行なわれる。
【0006】
▲1▼絶縁性透明基板上に蒸着等により透明導電膜を形成する。▲2▼搬送などによる表面の損傷を防ぐため、透明導電膜が形成された面およびこの面と反対側の面にラミネートフィルムを貼り付ける。▲3▼ラミネートフィルムを剥がし、透明導電膜が形成された面を上側にしてレーザ加工装置のXYテーブルにセットする。▲4▼レーザ光の照射とXYテーブルとを同期させて基板にレーザ光を照射し、透明導電膜を除去して回路パターンを形成する。▲5▼基板を洗浄してレーザ加工による表面の付着物(例えばデブリ)を洗い流す。
【0007】
このタッチパネル基板の製造方法では、フォトマスクを使用せずに基板上に回路パターンを形成することができ、しかもエッチング工程と化学処理工程とが必要ないため、大幅な製造時間の短縮と工程の削減とを図ることができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
上記タッチパネル基板の製造方法では、一般的に、ラミネートフィルムが剥がされた基板を複数枚重ね合わせてストッカに収容し、真空吸引搬送装置等により基板をレーザ加工装置のXYテーブルにセットする。このため、ストッカでの重ね合わせや真空吸引搬送により、透明導電膜や透明導電膜が形成された面と反対側の面(タッチパネルとなったときにはこの面が表面となる)に傷が付いて損傷する場合があった。タッチパネル基板が損傷すると、タッチパネル用の基板として使用できないため、歩留まりが悪くなってしてしまう。
【0009】
そこで、本発明者らが鋭意検討したところ、ラミネートフィルムを貼り付けたままのタッチパネル基板にエネルギービームを照射すれば、エネルギービームがラミネートフィルムを透過して透明導電膜を加工でき、しかも収容や搬送による損傷を防止できるのではないかとの結論に至った。
【0010】
なお、上記タッチパネル基板の損傷による歩留まりの悪化は、タッチパネル基板に限らず、通常のプリント基板においても問題となる。
【0011】
本発明は以上の背景の下でなされたものであり、その目的とするところは、エネルギービームを用いて基板上の導電性材料を除去する場合に、基板の収容や搬送による傷付き等の損傷を防止できる基板製造方法を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1の発明は、基板の上面に形成された導電性材料からなる導電膜にビーム加工装置から出射されたエネルギービームを照射して該基板上に回路パターンを形成する基板製造方法において、上記基板の上面に形成された導電上面に、該導電よりも上記エネルギービームで加工されにくく且つ該エネルギービームが透過可能な、PET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PAR(ポリアリレート)、PES(ポリエーテルスルフォン)又はPI(ポリイミド)からなるラミネートフィルムを貼り付け、上記ラミネートフィルムを貼り付けた基板を上記ビーム加工装置にセットし、上記ラミネートフィルムを介して上記基板の上面に形成された導電に上記エネルギービームを照射して、該ラミネートフィルムを該導電膜の上面に残したまま該導電を除去することにより該基板上に回路パターンを形成することを特徴とするものである。
【0013】
この基板製造方法においては、基板をビーム加工装置にセットするときに、オペレータの指先や該ビーム加工装置を構成する部材等が基板に接触したとしても、その基板の上面に形成された導電性材料からなる導電膜の表面に貼り付けたPET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PAR(ポリアリレート)、PES(ポリエーテルスルフォン)又はPI(ポリイミド)からなるラミネートフィルムにより、基板の上面に形成された導電の損傷を防止する。そして、上記基板に上記エネルギービームを照射すると、該エネルギービームは上記ラミネートフィルムを透過して上記導電に到達し、該導電膜を蒸発させて除去する。このとき、上記ラミネートフィルムと上記導電との間の境界面に上記エネルギビームのエネルギが集中し該導電を効率良く除去する。しかも、上記ラミネートフィルムは上記導電よりも加工されにくいため、ラミネートフィルムは加工されず該ラミネートフィルムを残したまま該導電のみを加工することができる。そして、上記ビーム加工装置から上記基板を取り出すときに、上記導電を除去して回路パターンが形成された加工面にオペレータの指先等が接触したとしても、上記ラミネートフィルムが該加工面を保護し損傷を防止する。
また、請求項2の発明は、基板の上面に形成された導電性材料からなる導電膜にビーム加工装置から出射されたエネルギービームを照射して該基板上に回路パターンを形成する基板製造方法において、上記基板の上記導電膜が形成された上面とは反対側の面に、該導電よりも上記エネルギービームで加工されにくく且つ該エネルギービームが透過可能な、PET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PAR(ポリアリレート)、PES(ポリエーテルスルフォン)又はPI(ポリイミド)からなるラミネートフィルムを貼り付け、上記ラミネートフィルムを貼り付けた基板を上記ビーム加工装置にセットし、上記ラミネートフィルムを貼り付けた基板の上面に形成された導電に上記エネルギービームを照射して、該ラミネートフィルムを該基板の下面に残したまま該導電を除去することにより該基板上に回路パターンを形成することを特徴とするものである。
この基板製造方法においては、基板をビーム加工装置にセットするときに、オペレータの指先や該ビーム加工装置を構成する部材等が基板に接触しても、その基板の上面に形成された導電性材料からなる導電膜が形成された面と反対側の基板面に貼り付けたPET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PAR(ポリアリレート)、PES(ポリエーテルスルフォン)又はPI(ポリイミド)からなるラミネートフィルムにより、該基板面の損傷を防止する
【0014】
請求項の発明は、請求項1又は2の基板製造方法において、上記ビーム加工装置の基板供給部に上記基板を収容しておき、該基板の上記導電形成された上面を真空吸引部材で真空吸引しながら該基板供給部から該基板を搬送して該ビーム加工装置の加工位置にセットし、該基板に上記エネルギービームを照射して回路パターンを形成した後、該基板の該導電形成された上面を該真空吸引部材で真空吸引しながら該加工位置から該基板を搬送して基板排出部に収容することを特徴とするものである。
【0015】
この基板製造方法においては、真空吸引部材(例えばゴムの吸盤)用いて基板の導電が形成された面を真空吸引して該基板を搬送するときに、該真空吸引部材はラミネートフィルムに接触し該導電や基板面には直接接触しない。これにより、真空吸引による基板の搬送にあたって、上記真空吸引部材の接触による上記導電や基板面の損傷や汚れの発生を防止することができる。
【0016】
請求項の発明は、請求項1、2又は3の基板製造方法において、上記基板が絶縁性透明基板であり、且つ、上記導電が透明導電膜であり、上記エネルギービームで該絶縁性透明基板上の該透明導電膜の一部をスリット状に除去することにより、該絶縁性透明基板上に透明電極を形成することを特徴とするものである。
【0017】
この基板製造方法においては、透明導電や基板面の傷付きや汚れがなく、しかも、絶縁透明基板上に形成される透明電極間のスリットの形状が均一となった基板を製造することができる。
【0018】
請求項の発明は、請求項1、2、3又は4の基板製造方法において、上記エネルギービームが、Qスイッチを有するYAGレーザ光源から出射されたYAGレーザ光であることを特徴とするものである。
【0019】
この基板製造方法においては、Qスイッチを介して、エネルギービームの出射タイミングを制御するための繰り返し周波数を比較的広い範囲で変化させた場合でも安定したエネルギービームを得ることができるため、該エネルギービームの照射タイミングの制御が容易となる。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態の一例について詳細に説明する。
図1は、本発明の基板製造方法に用いられるビーム加工装置の概略構成図である。本ビーム加工装置は、パルス状のエネルギービームとしてのパルスレーザ光を繰り返し出射するビーム源としてのYAGレーザ装置1と、YAGレーザ装置1から出射されたパルスレーザ光を加工対象物に案内して照射するビーム照射手段2と、加工対象物と加工対象物に対する該エネルギービームの照射ポイントとを相対移動させる相対移動手段としてのXYテーブル5と、加工制御データに基づいてYAGレーザ装置1及びXYテーブル5を制御する制御手段しての制御システム6とを備えている。
【0023】
上記YAGレーザ装置1は、YAGロッド101a及びQスイッチ101bを内蔵したレーザヘッド101と、Qスイッチ101bを駆動するQスイッチ駆動部102と、レーザヘッド101内のYAGロッド101aにレーザ発振用の駆動電流を供給するレーザ電源103とを有している。上記Qスイッチ駆動部102は、制御システム6から送られてきたレーザ制御信号に基づいて、レーザヘッド101内のQスイッチ101bを駆動する。Qスイッチ101bをオンすると、レーザヘッド101から近赤外光(波長λ=1064nm)からなるパルスレーザ光が出射される。上記Qスイッチ駆動部102に入力するパルス状のレーザ制御信号の繰り返し周波数は20Hz〜20kHz(周期=50msec〜0.05msec)の範囲で変化させることができ、また、上記レーザ制御信号のパルス幅は80〜500nsecの範囲で変化させることができる。このQスイッチ駆動部102でレーザヘッド101内のQスイッチ101bを駆動することにより、上記繰り返し周波数が500Hz〜5kHzの範囲内で、レーザヘッド101からパルスレーザ光を出射することができる。
【0024】
上記レーザヘッド101内のYAGロッド101aは、希土類元素のNd(ネオジウム)をドープしたYAG(イットリウム、アルミニウム、ガーネット)結晶であり、フラッシュランプや半導体レーザ等の図示しない励起源で励起される。そして、これらの励起源は、レーザ電源103から駆動電流Idが供給されることにより駆動される。このレーザ電源103からYAGロッド101aの励起源に供給される駆動電流Idは、制御システム6からレーザ電源103に送られてくる制御指令に基づいて変更することができ、これにより、YAGレーザ装置1から出射されるパルスレーザ光の出力を変更することができる。
【0025】
加工対象物としての透明導電膜4が表面に形成された絶縁性透明基板3は、XYテーブル5のリニアモータ502(例えば、サーボモータやステッピングモータ)で駆動される載置台501上に、図示しない吸引及び機械的なクランプ機構等によって固定される。この絶縁性透明基板3が固定された載置台501を駆動するリニアモータ502を制御システム6で制御することにより、上記透明導電膜4が形成された絶縁性透明基板3を、上記パルスレーザ光の照射方向に垂直な仮想面内で互いに直交するX方向及びY方向(図中の紙面に垂直な方向)に2次元的に移動させることができる。
【0026】
また、加工速度、XYテーブルの加速度、加工精度をより向上させるために、XYテーブル5については、発泡チタン、マグネジウム、酸化アルミナ系、アルミ合金系の超軽量素材で形成することが好ましい。
【0027】
また、載置台501の内部に貫通孔を形成して軽量化を図ってもよい。この貫通孔は、絶縁性透明基板3と透明導電膜4との一体物がシート状のものである場合の真空チャック用の気流経路を兼ねることもできる。
載置台501については、絶縁性透明基板3の少なくともパルスレーザ光が照射される部分の下側に凹部を形成し、絶縁性透明基板3の下面と載置台501の上面との間の距離をできるだけ長くするように構成することが好ましい。かかる構成により、絶縁性透明基板3を通過して載置台501の表面で反射した反射レーザーが透明導電膜4にあたることによってその加工に悪影響を及ぼすことを抑制することができる。
【0028】
また、本実施形態では、上記XYテーブル5に、移動距離検出パルス信号生成手段としてのリニアスケール503が取り付けられている。このリニアスケール503は、X方向及びY方向の2方向のそれぞれについて設けられ、上記絶縁性透明基板3が載置された載置台501のX方向及びY方向の一定距離の移動ごとに移動距離検出パルス信号を生成する。この移動距離検出パルス信号をカウントすることにより、上記絶縁性透明基板3が載置された載置台501の移動距離がわかる。本実施形態では、この移動距離検出パルス信号に基づいて、上記絶縁性透明基板3が載置された載置台501の移動距離に同期させて各パルスレーザ光の照射タイミングを制御している。
【0029】
上記制御システム6は、ビーム加工装置全体を監視するとともに加工制御データとしてのCAM(Computer Aided Manufacturing)データに基づいて各部に制御指令を出すパーソナルコンピュータ等からなる上位コンピュータ装置601と、テーブル駆動制御装置(シーケンサ)602と、同期連動型運転用の制御回路基板603とを用いて構成されている。
【0030】
上記CAMデータは、CAD(Computer Aided Design)のデータに基づいてビーム加工装置の装置パラメータを考慮して生成され、例えば線分形状の各加工要素について▲1▼照射ポイントのピッチと▲2▼加工開始点の座標と▲3▼加工終了点の座標とが1組となったデータ構造となっている。
【0031】
上位コンピュータ装置601は、ユーザが加工速度Voのデータを入力するための加工速度入力手段、及びユーザが入力した加工速度Voのデータに基づいてXYテーブル5の載置台501の駆動条件とパルスレーザ光の照射条件とを設定する加工条件設定手段としても用いられる。
上位コンピュータ装置601に上記CAMデータが保存されたFDなどの記録媒体がセットされCAMデータが読み込まれる。このCAMデータの読み込みとともに、ユーザが希望する加工速度のデータが上位コンピュータ装置601に入力される。
【0032】
上記上位コンピュータ装置601では、上記CAMデータとユーザが入力した加工速度Voとに基づき、各加工要素ごとに、▲1▼XYテーブル5の載置台501の移動開始点及び移動終了点の座標、▲2▼載置台501の加速領域における正の加速度及び減速領域における負の加速度、▲3▼載置台501の最大移動速度(=加工速度)、▲4▼上記パルスレーザ光の照射条件としてのレーザ電源103から供給される駆動電流Id、などのデータが算出され、所定の記憶領域に記憶される。これらのデータの算出には、予め実験などで求められた最適範囲を含むデータテーブルが用いられる。
【0033】
上記テーブル駆動制御装置602は、上位コンピュータ装置601から送られてきた制御指令に基づいて、リニアモータ502の駆動を制御するものである。このテーブル駆動制御部602は、例えばリニアモータ502がサーボモータのときはサーボコントローラを用いて構成され、またリニアモータ502がパルスモータのときはパルスコントローラを用いて構成される。
【0034】
図2は、上記制御回路基板603の一構成例を示すブロック図である。この制御回路基板603は、CPU603aと、I/Oインタフェース603b、パルスカウンタ603cと、比較回路603dと、パルス幅整形回路603eと、スイッチ回路603fと、図示しないメモリ(RAM、ROM等)を用いて構成されている。
【0035】
上記I/Oインタフェース603bは、CPU603aと外部の上位パーソナルコンピュータ装置601との間でデータ通信を行うための信号処理を行う。
【0036】
上記パルスカウンタ603cは、リニアスケール503で生成された移動距離検出パルス信号Smのパルス数をカウントする。このパルスカウンタ603cによるカウント値Nmは、比較回路603dにおいてCPU603aから送られてきた基準値Nrefと比較され、両方の値が一致したとき比較回路603dからパルス信号が出力される。上記基準値Nrefは、加工条件に応じて任意に設定することができる。また、上記パルスカウンタ603cに入力される移動距離検出パルス信号Smは、上記XYテーブル5の載置台501の移動方向に応じて切り替えられる。例えば、載置台501をX方向に移動させるときは、X方向用のリニアスケール503から出力される
【0037】
上記パルス幅整形回路603dは、上記比較回路603cから出力された移動距離検出パルス信号Spのパルス幅を上記Qスイッチが動作可能なパルス幅まで広げる回路である。このパルス幅整形回路603dを調整することにより、YAGレーザ装置1から出射されるパルスレーザ光のパルス幅を変更することができる。
【0038】
上記スイッチ回路603eは、CPU603aからの制御指令に基づいて、連続加工と断続加工とを適宜切り替えて実行できるように、パルス幅整形回路603dから上記Qスイッチ駆動部102に出力されるレーザ制御信号をオン/オフ制御する回路である。
【0039】
次に、上記ビーム加工装置を用いて、ハイブリッド型のタッチパネルの絶縁性透明基板上に形成された透明導電膜の一部を、スリット状に除去して透明電極を形成するタッチパネル基板の製造方法について説明する。
【0040】
図3は、加工前のタッチパネル基板の斜視図である。
タッチパネル基板は、図に示すように、絶縁性透明基板3上に予め透明導電膜4が形成されており、透明導電膜4の上面と絶縁性透明基板3の下面とに、表面保護用のラミネートフィルム10を均一に貼り付けている。
【0041】
上記絶縁性透明基板3は透明ガラスや透明プラスチック材(例えばPET、ポリカーボネート)からなる。
また、上記透明導電膜4は、真空蒸着、イオンプレーティング、スパッタリング等によって絶縁性透明基板3の表面に、ITO(インジウム酸化スズ)等が約500オングストロームの厚さに形成されている。
また、上記ラミネートフィルムは、レーザ光が良好に透過するとともに、透明導電膜4よりもレーザ光で加工されにくい材質が好ましい。例えば、PET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PAR(ポリアリレート)、PES(ポリエーテルスルフォン)、PI(ポリイミド)等が挙げられる。
【0042】
そして、上記絶縁性透明基板3上の透明導電膜4をビーム加工する場合には、まずオペレータが図4に示すように、ラミネートフィルム10が貼り付けられたままの絶縁性透明基板3を複数枚、供給ストッカ11に収容する。従来、基板からラミネートフィルムを剥がして供給ストッカ11に収容していたが、収容や搬送により基板の表面が傷付いて損傷する場合があった。そこで、本実施形態では、ラミネートフィルム10が貼り付けられたままの絶縁性透明基板3を供給ストッカ11に収容するようにした。
そして、供給ストッカ11に収容された絶縁性透明基板3は、1枚ずつ、ビーム加工装置の加工動作と同期して動く真空吸引搬送装置12により自動的にXYテーブル5の載置台501の上に設置され、図示しない吸引及び機械的なクランプ機構等によって固定される。
【0043】
そして、図1において、リニアモータ502を駆動して、絶縁性透明基板3を載置した載置台501を初期位置に移動させ、レーザヘッド101からパルスレーザ光を射出する。パルスレーザ光は光ファイバ201の中を通って、レーザ照射ヘッド202に達し、絶縁性透明基板3上に真上から照射される。制御システム6は、前述したようにCADデータに基づいて作成されたCAMデータに従って、リニアモータ502をX,Y方向に移動させ、CADデータの回路パターン通りにパルスレーザ光をラミネートフィルム10を介して絶縁性透明基板3上の透明導電膜4に照射する。照射されたパルスレーザ光はラミネートフィルム10を透過し、透明導電膜4に到達する。この移動の過程で、幅500〜1000[μm]程度のパルスレーザ光の照射部分が蒸発して透明導電膜4から除去され、各電極領域を絶縁するスリットが形成される。
【0044】
このとき、ラミネートフィルム10と透明導電膜4との間の境界面にパルスレーザ光のエネルギが集中し、透明導電膜4を効率良く除去するので、ラミネートフィルム10を貼り付けない場合に比べ、パルスレーザ光のパワーを低減させることができる。また、ラミネートフィルム10は透明導電膜4よりもレーザ加工されにくいので、加工後も加工前と略同一の状態を保って透明導電膜4の上に付着しており、加工後における搬送や収容での損傷の発生を防止することができる。
【0045】
そして、ビーム加工された絶縁性透明基板3は、図4に示すように、真空吸引搬送装置12により載置台501から搬送されて、排出ストッカ13に収容される。その後、絶縁性透明基板3からラミネートフィルム10を剥がし、基板洗浄工程、印刷工程を経て、加工が終了する。
【0046】
上記製造工程を経て製造された絶縁性透明基板3を2枚対向させて組み立てることにより、PDA等に用いられるタッチパネルを作成することができる。
図5は、上記ビーム加工装置での透明導電膜4の加工によって電極パターンが形成されるタッチパネル基板を用いて構成されたタッチパネルの断面図である。また、図6(a)及び(b)はそれぞれ、同タッチパネルの分解斜視図及び平面図である。
図5に示すように、タッチパネルは、各透明導電膜4からなる透明電極が通常状態で接触しないように1組の上下タッチパネル基板7、8を所定の高さ(例えば9〜12μm)のスペーサ9を介して対向させた構造になっている。そして、このタッチパネルを図5中の上方から押圧すると、上タッチパネル基板7が2点鎖線で示すように変形し、上下のタッチパネル基板7、8の透明電極同士が接触する。この接触による上下透明電極間の抵抗の変化から、押圧されたか否か及び押圧された位置を知ることができる。また、このタッチパネルは、図6(a)及び(b)に示すように上下のタッチパネル基板7、8のそれぞれに、互いに直交するスリット7a、8aが各透明導電膜4に形成されている。
【0047】
以上、本実施形態によれば、絶縁性透明基板3をラミネートフィルム10が貼り付けられたままの状態でビーム加工するので、供給ストッカ11における収容や、供給ストッカ11からビーム加工装置への搬送、及びビーム加工装置から排出ストッカ13への搬送などにおいて、ラミネートフィルム10が絶縁性透明基板3と透明導電膜4とを保護し、傷付き等の損傷を防止することができる。これにより、製造工程におけるコストアップを伴うことなく、損傷等による歩留まりの悪化を防ぐことができる。
また、パルスレーザ光の照射により透明導電膜4が蒸発するときに発生するデブリ等を、ラミネートフィルム10が上記スリット内に閉じ込めて、外部に飛散するのを防止する。これにより、飛散したデブリ等を集塵するためのブロアーを別途設ける必要がなく、製造装置のコストダウンを図ることができる。また、クリーンルーム内でも絶縁性透明基板3のビーム加工を容易に行うことが可能となる。
【0048】
さらに、本実施形態の基板製造方法では、エッチング処理を伴うフォトリソグラフィー法を用いることなく、透明導電膜4を加工して絶縁性透明基板3上に複数の透明電極を形成することができる。このため、フォトレジストの現像液やエッチング液の廃液によって環境を汚すことなく、上下のタッチパネル基板7、8を製造することができる。また、透明電極のパターン形状を変える場合でも、フォトリソグラフィー用の遮光マスクを用いることなくCAMデータで透明導電膜4を加工してパターンに応じた複数の透明電極を形成することができる。このため、異なった電極パターンのタッチパネル基板7、8についてそれぞれ専用の遮光パターンの遮光マスクを用意しなければならず他品種少量生産が困難になったり、残留レジスト液によってワークを汚したりなどフォトリソグラフィー法による不具合が起こらず、リードタイムを短縮化してオンデマンドの要求に対しても十分に対応することができる。
【0049】
なお、上記実施形態では、透明導電膜4の上面と絶縁性透明基板3の下面との両面にラミネートフィルム10を貼り付けてビーム加工する方法について説明したが、少なくともいずれか一方の面にラミネートフィルム10を貼り付けておけば、収容や搬送における損傷を防止することができる。
【0050】
また、上記実施形態では、タッチパネル基板を製造する場合について説明したが、タッチパネル基板に限らず、プリント基板に適用して、プリント基板の損傷を防止することもできる。
【0051】
さらに、上記実施形態では、Qスイッチを有するNd:YAGレーザから出射されたパルス状の近赤外レーザビーム(波長λ=1064nm)を用いた場合について説明したが、本発明は、このレーザビームに限定されることなく適用できるものである。例えば、Qスイッチを有する、Nd:YLFレーザ(波長λ=1047nm)、Nd:YVOレーザ(波長λ=1064nm)、COレーザ、銅蒸気レーザ等のパルスレーザを用いる場合にも適用することができる。
また、本発明は、非線形光学結晶を用いて上記各種レーザの出力を波長変換したレーザビームを用いる場合にも適用することができる。例えば、Nd:YAGレーザと、LiB(LBO)、KTiOPO、β−BaB(BBO)、CsLiB10(CLBO)等の非線形光学結晶とを組み合わせると、波長が355nm、266nmの紫外領域のレーザビームを得ることができる。また、上記透明導電膜を主にアブレーションで除去する紫外領域のレーザビームとしては、KrFエキシマレーザー等から出射されるパルス状の紫外光レーザビームを用いることもできる。
さらに、本発明は、レーザ光以外のパルス状の光ビーム、荷電粒子ビーム等の他のパルス状のエネルギービームを用いた場合にも適用が可能である。
【0052】
またさらに、上記実施形態では、パルスレーザ光の照射経路をレーザ照射ヘッド202で固定し、加工対象物を互いに直交するX方向及びY方向に移動させる場合について説明したが、本発明は、加工対象物を固定してセットし、レーザ等のエネルギービームをX方向及びY方向に移動させる場合や、エネルギービーム及び加工対象物の両方を移動させる場合にも適用できるものである。
【0053】
【発明の効果】
請求項1、3乃至の発明によれば、基板の収容や搬送のときに、オペレータの指先やビーム加工装置を構成する部材等が基板に接触したとしても、その基板の上面に形成された導電性材料からなる導電膜の上に貼り付けたPET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PAR(ポリアリレート)、PES(ポリエーテルスルフォン)又はPI(ポリイミド)からなるラミネートフィルムにより、該導電の損傷を防止することができるという効果がある。また、上記ラミネートフィルムと上記導電との間の境界面に上記エネルギビームのエネルギが集中し該導電膜を効率良く除去するので、該ラミネートフィルムを貼り付けない場合に比べエネルギビームのパワーを低減させることができるという効果もある。
また、請求項2乃至5の発明によれば、基板をビーム加工装置にセットするときに、オペレータの指先や該ビーム加工装置を構成する部材等が基板に接触したとしても、その基板の上面に形成された導電性材料からなる導電膜が形成された面と反対側の面に貼り付けたPET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PAR(ポリアリレート)、PES(ポリエーテルスルフォン)又はPI(ポリイミド)からなるラミネートフィルムにより、該基板の下面の損傷を防止するという効果がある。
【0054】
特に、請求項の発明によれば、真空吸引による基板の搬送にあたって、真空吸引部材の接触による導電や基板面の損傷や汚れの発生を防止することができるという効果がある。
【0055】
特に、請求項の発明によれば、透明導電や基板面の傷付きや汚れがなく、しかも、絶縁透明基板上に形成される透明電極間のスリットの形状が均一となった基板を製造することができるという効果がある。なお、この基板はタッチパネル用の基板として用いることができる。
【0056】
特に、請求項の発明によれば、上記エネルギービームの照射タイミングを制御するための繰り返し周波数を比較的広い範囲で変化させた場合でもビーム出力が安定したQスイッチを有するYAGレーザを用いているので、上記エネルギービームの照射タイミングの制御が容易となるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係るビーム加工装置の概略構成図。
【図2】同ビーム加工装置に用いる制御回路基板のブロック図。
【図3】タッチパネル基板の斜視図。
【図4】タッチパネル基板の収容及び搬送の説明図。
【図5】タッチパネルの拡大断面図。
【図6】(a)はタッチパネルの分解斜視図。
(b)は同タッチパネルの平面図。
【符号の説明】
1 YAGレーザ装置
2 ビーム照射手段
3 絶縁性透明基板
4 透明導電膜
5 XYテーブル
6 制御システム
10 ラミネートフィルム
11 供給ストッカ
12 真空吸引搬送装置
13 排出ストッカ
101 レーザヘッド
101a YAGロッド
101b Qスイッチ
102 Qスイッチ駆動部102
103 レーザ電源
201 光ファイバ
202 レーザ照射ヘッド
501 載置台
502 リニアモータ
503 リニアスケール
601 上位コンピュータ装置
602 テーブル駆動制御装置
603 制御回路基板
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate manufacturing method for forming a circuit pattern by removing a conductive material on a substrate using an energy beam such as a laser beam, and more particularly, a touch panel in which a transparent conductive film is formed on an insulating transparent substrate. The present invention relates to a substrate manufacturing method suitable for forming a circuit pattern on a substrate.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, as a method for manufacturing a substrate, a manufacturing method using a photolithography method with an etching process is widely known. In this photolithography method, a photomask is created and aligned with a substrate coated with a photo-curable photosensitive material, and light containing ultraviolet rays (hereinafter referred to as UV light) is irradiated using an ultraviolet lamp or the like. The circuit pattern formed on the mask is exposed and printed on the substrate. Then, the exposed substrate is etched to remove the unexposed conductive metal material. Thereafter, the photosensitive material photocured by chemical treatment is removed.
[0003]
In the photolithography method described above, it is necessary to always create a photomask even in the production of one or a small number of substrates, and after that, a process of attaching and exposing the photomask to the substrate takes time and cost. Furthermore, the processing of the photoresist developer and the waste solution of the etching solution is expensive.
[0004]
For this reason, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-235486 discloses a printed circuit board direct drawing apparatus that uses a photocurable film as a photosensitive material and directly forms a circuit pattern on a substrate without using a photomask. Yes. In this printed circuit board direct drawing apparatus, light including ultraviolet light is irradiated by moving a drawing head on a substrate having an ultraviolet curable film attached on a conductive metal material based on wiring pattern data created by the printed circuit board CAD. Then, a circuit pattern according to the wiring pattern data is formed on the substrate. In this printed circuit board direct drawing apparatus, a circuit pattern can be formed on a substrate without using a photomask. However, since an etching process and a photocured film removal process by chemical treatment are necessary, the manufacturing time The shortening of the process and the reduction of the process were not sufficient.
[0005]
Therefore, for example, in Japanese Patent Application No. 2000-77153, the present applicant removes the conductive material by irradiating an insulating transparent substrate on which a transparent conductive film is formed as a conductive material with an energy beam such as laser light. A method of manufacturing a touch panel substrate for forming a pattern is proposed. When a circuit pattern is formed on an insulating transparent substrate by this touch panel substrate manufacturing method, for example, it is performed as follows.
[0006]
(1) A transparent conductive film is formed on an insulating transparent substrate by vapor deposition or the like. {Circle around (2)} In order to prevent damage to the surface due to conveyance or the like, a laminate film is attached to the surface on which the transparent conductive film is formed and the surface opposite to this surface. (3) The laminate film is peeled off and set on the XY table of the laser processing apparatus with the surface on which the transparent conductive film is formed facing upward. (4) The substrate is irradiated with laser light in synchronization with the laser light irradiation and the XY table, and the transparent conductive film is removed to form a circuit pattern. {Circle around (5)} The substrate is washed to wash away surface deposits (for example, debris) by laser processing.
[0007]
In this touch panel substrate manufacturing method, a circuit pattern can be formed on a substrate without using a photomask, and an etching process and a chemical treatment process are not required, so that the manufacturing time is significantly reduced and the number of processes is reduced. Can be planned.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
In the manufacturing method of the touch panel substrate, generally, a plurality of substrates from which the laminate film has been peeled are stacked and accommodated in a stocker, and the substrate is set on an XY table of a laser processing apparatus by a vacuum suction transfer device or the like. For this reason, the surface opposite to the surface on which the transparent conductive film or transparent conductive film is formed (the surface becomes the surface when it becomes a touch panel) is damaged by the stacking or vacuum suction conveyance in the stocker. There was a case. If the touch panel substrate is damaged, it cannot be used as a substrate for a touch panel, resulting in a poor yield.
[0009]
Therefore, the present inventors diligently studied, and by irradiating an energy beam onto the touch panel substrate with the laminate film adhered, the energy beam can penetrate the laminate film to process the transparent conductive film, and can be accommodated and transported. It came to the conclusion that the damage by the could be prevented.
[0010]
The deterioration of the yield due to the damage of the touch panel substrate becomes a problem not only in the touch panel substrate but also in a normal printed circuit board.
[0011]
The present invention has been made under the above background. The purpose of the present invention is to remove damage such as scratches due to accommodation or transportation of the substrate when the conductive material on the substrate is removed using an energy beam. It is providing the board | substrate manufacturing method which can prevent.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
  In order to achieve the above object, the invention of claim 1 provides a substrate.Formed on the top surface ofConductive materialConductive film comprisingIn the substrate manufacturing method of forming a circuit pattern on the substrate by irradiating the substrate with an energy beam emitted from the beam processing apparatus,Formed on the top surfaceConductivefilmofOn top, The conductivefilmIt is harder to be processed with the above energy beam, and the energy beam can be transmitted., PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate), PEN (polyethylene naphthalate), PAR (polyarylate), PES (polyethersulfone) or PI (polyimide)A laminate film made of is attached, the substrate to which the laminate film is attached is set in the beam processing apparatus,,Above boardFormed on the top surface ofConductivefilmThe above-mentioned laminated film is irradiated with the above energy beam.On the upper surface of the conductive filmLeave the conductivefilmA circuit pattern is formed on the substrate by removing the substrate.
[0013]
  In this substrate manufacturing method, even when an operator's fingertip or a member constituting the beam processing device comes into contact with the substrate when the substrate is set in the beam processing device, the substrateFormed on the top surface ofConductive materialConductive film comprisingPasted on the surface ofMade of PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate), PEN (polyethylene naphthalate), PAR (polyarylate), PES (polyether sulfone) or PI (polyimide)Laminate film, substrateFormed on the top surface ofConductivefilmPrevent damage. When the substrate is irradiated with the energy beam, the energy beam passes through the laminate film and passes through the conductive film.filmThe conductiveMembraneRemove by evaporation. At this time, the laminate film and the conductive filmfilmThe above energy at the interface between-The energy of the beam is concentrated and the conductionfilmIs efficiently removed. Moreover, the laminate film is made of the conductive material.filmSince the laminate film is not processed and the laminate film remains, the conductive film is not processed.filmCan only be processed. When the substrate is removed from the beam processing apparatus, the conductivefilmEven if an operator's fingertip or the like comes into contact with the processed surface on which the circuit pattern is formed by removing the film, the laminated film protects the processed surface and prevents damage.
  The invention of claim 2 is a substrate.Formed on the top surface ofConductive materialConductive film comprisingIn the substrate manufacturing method of forming a circuit pattern on the substrate by irradiating the substrate with an energy beam emitted from the beam processing apparatus, the substrateAboveConductiveTop surface with filmOn the opposite sideunderOn the surface, the conductivefilmIt is harder to be processed with the above energy beam, and the energy beam can be transmitted., PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate), PEN (polyethylene naphthalate), PAR (polyarylate), PES (polyethersulfone) or PI (polyimide)A laminate film comprising: a substrate on which the laminate film is attached is set on the beam processing apparatus, and the substrate on which the laminate film is attached.Formed on the top surfaceConductivefilmThe above-mentioned laminated film is irradiated with the above energy beam.On the bottom surface of the substrateLeave the conductivefilmA circuit pattern is formed on the substrate by removing the substrate.
  In this substrate manufacturing method, when the substrate is set on the beam processing apparatus, even if an operator's fingertip or a member constituting the beam processing apparatus contacts the substrate, the substrateFormed on the top surfaceConductive materialConductive film comprisingAffixed to the opposite side of the substrateMade of PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate), PEN (polyethylene naphthalate), PAR (polyarylate), PES (polyether sulfone) or PI (polyimide)Laminate film prevents damage to the substrate surface.
[0014]
  Claim3The invention of claim 1Or 2In the substrate manufacturing method, the substrate is accommodated in a substrate supply unit of the beam processing apparatus, and the conductive material of the substrate is stored.filmButBeen formedThe substrate is transported from the substrate supply unit while being vacuum-sucked by a vacuum suction member, set at a processing position of the beam processing apparatus, and the substrate is irradiated with the energy beam to form a circuit pattern. The conductivity of the substratefilmButFormed onThe substrate is transported from the processing position while being vacuum-sucked by the vacuum suction member, and is accommodated in the substrate discharge portion.
[0015]
  In this substrate manufacturing method, the substrate is electrically conductive using a vacuum suction member (for example, a rubber sucker).filmWhen the substrate on which the substrate is formed is vacuum-sucked to convey the substrate, the vacuum-suction member contacts the laminate film andfilmDo not touch the board surface directly. As a result, when the substrate is transported by vacuum suction, the conduction due to the contact of the vacuum suction member.filmIn addition, damage to the substrate surface and occurrence of contamination can be prevented.
[0016]
  Claim4The invention of claim 1 and 2Or 3In the substrate manufacturing method, the substrate is an insulating transparent substrate, and the conductivefilmIs a transparent conductive film, and a part of the transparent conductive film on the insulating transparent substrate is removed in a slit shape by the energy beam, thereby forming a transparent electrode on the insulating transparent substrate. To do.
[0017]
  In this substrate manufacturing method, transparent conductivefilmIn addition, it is possible to manufacture a substrate that is free from scratches or contamination on the substrate surface and that has a uniform slit shape between the transparent electrodes formed on the insulating transparent substrate.
[0018]
  Claim5The invention of claim 1, 2, 3Or 4In this substrate manufacturing method, the energy beam is YAG laser light emitted from a YAG laser light source having a Q switch.
[0019]
In this substrate manufacturing method, a stable energy beam can be obtained even when the repetition frequency for controlling the emission timing of the energy beam is changed in a relatively wide range via the Q switch. The irradiation timing can be easily controlled.
[0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an example of an embodiment of the present invention will be described in detail.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a beam processing apparatus used in the substrate manufacturing method of the present invention. This beam processing apparatus guides and irradiates a workpiece with a YAG laser apparatus 1 as a beam source that repeatedly emits a pulsed laser beam as a pulsed energy beam and a pulsed laser light emitted from the YAG laser apparatus 1. Beam irradiation means 2, an XY table 5 as a relative movement means for relatively moving an object to be processed and an irradiation point of the energy beam with respect to the object to be processed, and a YAG laser device 1 and an XY table 5 based on the processing control data And a control system 6 as a control means for controlling.
[0023]
The YAG laser apparatus 1 includes a laser head 101 including a YAG rod 101a and a Q switch 101b, a Q switch driving unit 102 for driving the Q switch 101b, and a drive current for laser oscillation in the YAG rod 101a in the laser head 101. And a laser power source 103 for supplying the power. The Q switch driving unit 102 drives the Q switch 101 b in the laser head 101 based on the laser control signal sent from the control system 6. When the Q switch 101b is turned on, a pulse laser beam composed of near infrared light (wavelength λ = 1064 nm) is emitted from the laser head 101. The repetition frequency of the pulsed laser control signal input to the Q switch driving unit 102 can be changed in the range of 20 Hz to 20 kHz (cycle = 50 msec to 0.05 msec), and the pulse width of the laser control signal is It can be changed in the range of 80 to 500 nsec. By driving the Q switch 101b in the laser head 101 by the Q switch driving unit 102, the pulse laser beam can be emitted from the laser head 101 within the range of the repetition frequency of 500 Hz to 5 kHz.
[0024]
The YAG rod 101a in the laser head 101 is a YAG (yttrium, aluminum, garnet) crystal doped with rare earth element Nd (neodymium) and is excited by an excitation source (not shown) such as a flash lamp or a semiconductor laser. These excitation sources are driven by supplying a drive current Id from the laser power source 103. The drive current Id supplied from the laser power supply 103 to the excitation source of the YAG rod 101a can be changed based on a control command sent from the control system 6 to the laser power supply 103, whereby the YAG laser device 1 It is possible to change the output of the pulsed laser beam emitted from.
[0025]
An insulating transparent substrate 3 having a transparent conductive film 4 as a processing object formed on the surface thereof is not shown on a mounting table 501 driven by a linear motor 502 (for example, a servo motor or a stepping motor) of the XY table 5. It is fixed by suction and a mechanical clamping mechanism. The control system 6 controls the linear motor 502 that drives the mounting table 501 on which the insulating transparent substrate 3 is fixed, so that the insulating transparent substrate 3 on which the transparent conductive film 4 is formed can It can be moved two-dimensionally in an X direction and a Y direction (direction perpendicular to the paper surface in the drawing) orthogonal to each other in a virtual plane perpendicular to the irradiation direction.
[0026]
In order to further improve the processing speed, the acceleration of the XY table, and the processing accuracy, the XY table 5 is preferably formed of an ultralight material of foamed titanium, magnesium, alumina oxide, or aluminum alloy.
[0027]
Further, a weight reduction may be achieved by forming a through hole inside the mounting table 501. This through-hole can also serve as an air flow path for a vacuum chuck when the integral body of the insulating transparent substrate 3 and the transparent conductive film 4 is a sheet.
With respect to the mounting table 501, a recess is formed at least below the portion of the insulating transparent substrate 3 that is irradiated with the pulsed laser beam, and the distance between the lower surface of the insulating transparent substrate 3 and the upper surface of the mounting table 501 is as much as possible. It is preferable to make it long. With such a configuration, it is possible to suppress the adverse effect on the processing due to the reflected laser beam that has passed through the insulating transparent substrate 3 and reflected on the surface of the mounting table 501 hitting the transparent conductive film 4.
[0028]
In the present embodiment, a linear scale 503 is attached to the XY table 5 as a moving distance detection pulse signal generation unit. The linear scale 503 is provided for each of the two directions of the X direction and the Y direction, and the movement distance is detected for each movement of the mounting table 501 on which the insulating transparent substrate 3 is mounted by a certain distance in the X direction and the Y direction. Generate a pulse signal. By counting the movement distance detection pulse signal, the movement distance of the mounting table 501 on which the insulating transparent substrate 3 is mounted can be known. In the present embodiment, the irradiation timing of each pulsed laser beam is controlled in synchronization with the moving distance of the mounting table 501 on which the insulating transparent substrate 3 is mounted based on the moving distance detection pulse signal.
[0029]
The control system 6 includes a host computer device 601 including a personal computer that monitors the entire beam processing device and issues a control command to each unit based on CAM (Computer Aided Manufacturing) data as processing control data, and a table drive control device. (Sequencer) 602 and a control circuit board 603 for synchronous interlock operation are configured.
[0030]
The CAM data is generated based on CAD (Computer Aided Design) data in consideration of the apparatus parameters of the beam processing apparatus. For example, (1) irradiation point pitch and (2) processing for each line-shaped processing element. It has a data structure in which the coordinates of the start point and (3) the coordinates of the processing end point are a set.
[0031]
The host computer 601 includes a processing speed input means for the user to input processing speed Vo data, and the driving conditions of the mounting table 501 of the XY table 5 and the pulse laser beam based on the processing speed Vo data input by the user. It is also used as processing condition setting means for setting the irradiation conditions.
A recording medium such as an FD in which the CAM data is stored is set in the host computer device 601 and the CAM data is read. Along with the reading of the CAM data, data on the processing speed desired by the user is input to the host computer device 601.
[0032]
In the host computer 601, based on the CAM data and the machining speed Vo input by the user, for each machining element, (1) the coordinates of the movement start point and movement end point of the mounting table 501 in the XY table 5, 2) Positive acceleration in the acceleration region of the mounting table 501 and negative acceleration in the deceleration region, (3) Maximum moving speed (= processing speed) of the mounting table 501, and (4) Laser power source as the irradiation condition of the pulse laser beam Data such as the drive current Id supplied from 103 is calculated and stored in a predetermined storage area. For the calculation of these data, a data table including an optimum range obtained in advance through experiments or the like is used.
[0033]
The table drive control device 602 controls the drive of the linear motor 502 based on a control command sent from the host computer device 601. The table drive control unit 602 is configured using a servo controller when the linear motor 502 is a servo motor, for example, and is configured using a pulse controller when the linear motor 502 is a pulse motor.
[0034]
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the control circuit board 603. The control circuit board 603 uses a CPU 603a, an I / O interface 603b, a pulse counter 603c, a comparison circuit 603d, a pulse width shaping circuit 603e, a switch circuit 603f, and a memory (RAM, ROM, etc.) not shown. It is configured.
[0035]
The I / O interface 603b performs signal processing for data communication between the CPU 603a and the external host personal computer device 601.
[0036]
The pulse counter 603c counts the number of pulses of the movement distance detection pulse signal Sm generated by the linear scale 503. The count value Nm by the pulse counter 603c is compared with the reference value Nref sent from the CPU 603a in the comparison circuit 603d, and when both values match, a pulse signal is output from the comparison circuit 603d. The reference value Nref can be arbitrarily set according to the processing conditions. The movement distance detection pulse signal Sm input to the pulse counter 603c is switched according to the movement direction of the mounting table 501 of the XY table 5. For example, when the mounting table 501 is moved in the X direction, it is output from the linear scale 503 for the X direction.
[0037]
The pulse width shaping circuit 603d is a circuit that widens the pulse width of the movement distance detection pulse signal Sp output from the comparison circuit 603c to a pulse width at which the Q switch can operate. By adjusting the pulse width shaping circuit 603d, the pulse width of the pulse laser beam emitted from the YAG laser apparatus 1 can be changed.
[0038]
The switch circuit 603e outputs a laser control signal output from the pulse width shaping circuit 603d to the Q switch driving unit 102 so that continuous processing and intermittent processing can be appropriately switched based on a control command from the CPU 603a. This is a circuit for on / off control.
[0039]
Next, a manufacturing method of a touch panel substrate in which a transparent electrode is formed by removing a part of a transparent conductive film formed on an insulating transparent substrate of a hybrid touch panel into a slit shape using the beam processing apparatus. explain.
[0040]
FIG. 3 is a perspective view of the touch panel substrate before processing.
As shown in the figure, a transparent conductive film 4 is formed on an insulating transparent substrate 3 in advance, and the touch panel substrate is laminated on the upper surface of the transparent conductive film 4 and the lower surface of the insulating transparent substrate 3 for surface protection. The film 10 is affixed uniformly.
[0041]
The insulating transparent substrate 3 is made of transparent glass or a transparent plastic material (for example, PET or polycarbonate).
The transparent conductive film 4 is made of ITO (indium tin oxide) or the like with a thickness of about 500 angstroms on the surface of the insulating transparent substrate 3 by vacuum deposition, ion plating, sputtering or the like.
The laminated film is preferably made of a material that transmits laser light well and is harder to be processed by laser light than the transparent conductive film 4. For example, PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate), PEN (polyethylene naphthalate), PAR (polyarylate), PES (polyether sulfone), PI (polyimide) and the like can be mentioned.
[0042]
When the transparent conductive film 4 on the insulating transparent substrate 3 is subjected to beam processing, first, as shown in FIG. 4, the operator creates a plurality of insulating transparent substrates 3 with the laminate film 10 attached thereto. And accommodated in the supply stocker 11. Conventionally, the laminate film is peeled off from the substrate and accommodated in the supply stocker 11. However, the surface of the substrate may be damaged due to accommodation or conveyance. Therefore, in the present embodiment, the insulating transparent substrate 3 with the laminate film 10 attached is accommodated in the supply stocker 11.
The insulating transparent substrates 3 housed in the supply stocker 11 are automatically placed on the mounting table 501 of the XY table 5 by the vacuum suction transfer device 12 that moves in synchronization with the processing operation of the beam processing device one by one. It is installed and fixed by a suction and mechanical clamping mechanism (not shown).
[0043]
In FIG. 1, the linear motor 502 is driven to move the mounting table 501 on which the insulating transparent substrate 3 is mounted to the initial position, and pulse laser light is emitted from the laser head 101. The pulsed laser light passes through the optical fiber 201, reaches the laser irradiation head 202, and is irradiated onto the insulating transparent substrate 3 from directly above. The control system 6 moves the linear motor 502 in the X and Y directions according to the CAM data created based on the CAD data as described above, and the pulse laser beam is transmitted through the laminate film 10 according to the CAD data circuit pattern. The transparent conductive film 4 on the insulating transparent substrate 3 is irradiated. The irradiated pulse laser beam passes through the laminate film 10 and reaches the transparent conductive film 4. In the course of this movement, the irradiated portion of the pulse laser beam having a width of about 500 to 1000 [μm] is evaporated and removed from the transparent conductive film 4 to form a slit that insulates each electrode region.
[0044]
At this time, the energy of the pulse laser beam is concentrated on the boundary surface between the laminate film 10 and the transparent conductive film 4, and the transparent conductive film 4 is efficiently removed. The power of the laser beam can be reduced. Further, since the laminate film 10 is harder to be laser-processed than the transparent conductive film 4, it remains adhered to the transparent conductive film 4 in the same state as before processing, and can be transported and accommodated after processing. The occurrence of damage can be prevented.
[0045]
As shown in FIG. 4, the beam-processed insulating transparent substrate 3 is transported from the mounting table 501 by the vacuum suction transport device 12 and accommodated in the discharge stocker 13. Thereafter, the laminate film 10 is peeled off from the insulating transparent substrate 3, and the processing is completed through a substrate cleaning step and a printing step.
[0046]
A touch panel used for a PDA or the like can be created by assembling two insulating transparent substrates 3 manufactured through the above manufacturing process so as to face each other.
FIG. 5 is a cross-sectional view of a touch panel configured using a touch panel substrate on which an electrode pattern is formed by processing the transparent conductive film 4 in the beam processing apparatus. FIGS. 6A and 6B are an exploded perspective view and a plan view of the touch panel, respectively.
As shown in FIG. 5, the touch panel has a pair of upper and lower touch panel substrates 7 and 8 having a predetermined height (for example, 9 to 12 μm) spacers 9 so that the transparent electrodes made of the respective transparent conductive films 4 are not in contact with each other in a normal state. It is the structure which was made to oppose through. When the touch panel is pressed from above in FIG. 5, the upper touch panel substrate 7 is deformed as indicated by a two-dot chain line, and the transparent electrodes of the upper and lower touch panel substrates 7 and 8 are brought into contact with each other. From the change in resistance between the upper and lower transparent electrodes due to this contact, it is possible to know whether or not the pressure has been pressed and the pressed position. In addition, as shown in FIGS. 6A and 6B, this touch panel has slits 7a and 8a perpendicular to each other formed in the upper and lower touch panel substrates 7 and 8, respectively.
[0047]
As described above, according to the present embodiment, since the insulating transparent substrate 3 is subjected to beam processing while the laminate film 10 is adhered, accommodation in the supply stocker 11 or conveyance from the supply stocker 11 to the beam processing apparatus, In addition, the laminate film 10 protects the insulating transparent substrate 3 and the transparent conductive film 4 during transport from the beam processing apparatus to the discharge stocker 13, and damage such as scratches can be prevented. Thereby, the deterioration of the yield due to damage or the like can be prevented without increasing the cost in the manufacturing process.
Further, the debris and the like generated when the transparent conductive film 4 evaporates due to the irradiation of the pulsed laser light is confined in the slit and prevented from scattering to the outside. Thereby, it is not necessary to separately provide a blower for collecting scattered debris and the like, and the cost of the manufacturing apparatus can be reduced. In addition, the beam processing of the insulating transparent substrate 3 can be easily performed even in a clean room.
[0048]
Furthermore, in the substrate manufacturing method of the present embodiment, the transparent conductive film 4 can be processed to form a plurality of transparent electrodes on the insulating transparent substrate 3 without using a photolithography method involving an etching process. For this reason, the upper and lower touch panel substrates 7 and 8 can be manufactured without polluting the environment with a photoresist developer or an etchant waste solution. Even when the pattern shape of the transparent electrode is changed, a plurality of transparent electrodes corresponding to the pattern can be formed by processing the transparent conductive film 4 with the CAM data without using a light-shielding mask for photolithography. For this reason, it is necessary to prepare a light-shielding mask with a dedicated light-shielding pattern for each of the touch panel substrates 7 and 8 having different electrode patterns, making it difficult to produce a small quantity of other varieties, and soiling a workpiece with a residual resist solution. There is no problem due to the law, and the lead time can be shortened to sufficiently respond to on-demand requests.
[0049]
In the above embodiment, the method of applying the beam by laminating the laminate film 10 on both the upper surface of the transparent conductive film 4 and the lower surface of the insulating transparent substrate 3 has been described. However, the laminate film is formed on at least one of the surfaces. If 10 is affixed, the damage in accommodation or conveyance can be prevented.
[0050]
Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where a touchscreen board | substrate was manufactured, it can apply to not only a touchscreen board | substrate but a printed circuit board, and can also prevent damage to a printed circuit board.
[0051]
Furthermore, in the above embodiment, the case where a pulsed near-infrared laser beam (wavelength λ = 1064 nm) emitted from an Nd: YAG laser having a Q switch has been described, but the present invention is applied to this laser beam. It is applicable without limitation. For example, Nd: YLF laser (wavelength λ = 1047 nm), Qd switch, Nd: YVO4Laser (wavelength λ = 1064 nm), CO2The present invention can also be applied when a pulse laser such as a laser or a copper vapor laser is used.
The present invention can also be applied to the case of using a laser beam obtained by wavelength-converting the output of various lasers using a nonlinear optical crystal. For example, Nd: YAG laser and LiB3O5(LBO), KTiOPO4, Β-BaB2O4(BBO), CsLiB6O10When combined with a nonlinear optical crystal such as (CLBO), a laser beam in the ultraviolet region with wavelengths of 355 nm and 266 nm can be obtained. As the laser beam in the ultraviolet region for removing the transparent conductive film mainly by ablation, a pulsed ultraviolet laser beam emitted from a KrF excimer laser or the like can also be used.
Furthermore, the present invention can also be applied to the case of using other pulsed energy beams such as a pulsed light beam other than laser light and a charged particle beam.
[0052]
Furthermore, in the above embodiment, the case where the irradiation path of the pulse laser beam is fixed by the laser irradiation head 202 and the workpiece is moved in the X direction and the Y direction orthogonal to each other has been described. The present invention can also be applied to a case where an object is fixed and set, and an energy beam such as a laser is moved in the X direction and the Y direction, or both the energy beam and the workpiece are moved.
[0053]
【The invention's effect】
  Claims 1, 3 to5According to the invention, even when a member constituting the operator's fingertip or the beam processing apparatus comes into contact with the substrate when the substrate is accommodated or transported, the substrateFormed on the top surfaceConductive materialConductive film comprisingPasted onMade of PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate), PEN (polyethylene naphthalate), PAR (polyarylate), PES (polyether sulfone) or PI (polyimide)Laminate film makes this conductivefilmThere is an effect that it is possible to prevent damage. The laminate film and the conductive filmfilmThe above energy at the interface between-The energy of the beam is concentrated and the conductionMembraneSince it is removed efficiently, the energy is higher than when the laminate film is not attached.-There is also an effect that the power of the beam can be reduced.
  Claims2 to 5According to the invention, when the substrate is set on the beam processing apparatus, even if an operator's fingertip or a member constituting the beam processing apparatus contacts the substrate, the substrateFormed on the top surfaceConductive materialConductive film comprisingOn the opposite side of the surfaceunderPasted on the surfaceMade of PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate), PEN (polyethylene naphthalate), PAR (polyarylate), PES (polyether sulfone) or PI (polyimide)Laminate film makes the substrateUnderThis has the effect of preventing surface damage.
[0054]
  In particular, the claims3According to the present invention, when the substrate is transported by vacuum suction, the conductivity by contact of the vacuum suction member isfilmIn addition, there is an effect that it is possible to prevent damage to the substrate surface and generation of dirt.
[0055]
  In particular, the claims4According to the invention of transparent conductivefilmIn addition, there is an effect that it is possible to manufacture a substrate in which the substrate surface is not damaged or dirty, and the slits between the transparent electrodes formed on the insulating transparent substrate have a uniform shape. This substrate can be used as a substrate for a touch panel.
[0056]
  In particular, the claims5According to the invention, since the YAG laser having a Q switch with a stable beam output is used even when the repetition frequency for controlling the irradiation timing of the energy beam is changed in a relatively wide range, the energy beam is used. There is an effect that the irradiation timing can be easily controlled.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a beam processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram of a control circuit board used in the beam processing apparatus.
FIG. 3 is a perspective view of a touch panel substrate.
FIG. 4 is an explanatory view of accommodation and conveyance of a touch panel substrate.
FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view of a touch panel.
FIG. 6A is an exploded perspective view of a touch panel.
(B) is a plan view of the touch panel.
[Explanation of symbols]
1 YAG laser equipment
2 Beam irradiation means
3 Insulating transparent substrate
4 Transparent conductive film
5 XY table
6 Control system
10 Laminate film
11 Supply stocker
12 Vacuum suction transfer device
13 Discharge stocker
101 Laser head
101a YAG rod
101b Q switch
102 Q switch drive unit 102
103 Laser power supply
201 optical fiber
202 Laser irradiation head
501 mounting table
502 linear motor
503 linear scale
601 Host computer device
602 Table drive control device
603 Control circuit board

Claims (5)

基板の上面に形成された導電性材料からなる導電膜にビーム加工装置から出射されたエネルギービームを照射して該基板上に回路パターンを形成する基板製造方法において、
上記基板の上面に形成された導電上面に、該導電よりも上記エネルギービームで加工されにくく且つ該エネルギービームが透過可能な、PET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PAR(ポリアリレート)、PES(ポリエーテルスルフォン)又はPI(ポリイミド)からなるラミネートフィルムを貼り付け、
上記ラミネートフィルムを貼り付けた基板を上記ビーム加工装置にセットし、
上記ラミネートフィルムを介して上記基板の上面に形成された導電に上記エネルギービームを照射して、該ラミネートフィルムを該導電膜の上面に残したまま該導電を除去することにより該基板上に回路パターンを形成することを特徴とする基板製造方法。
In a substrate manufacturing method for forming a circuit pattern on a substrate by irradiating a conductive film made of a conductive material formed on an upper surface of the substrate with an energy beam emitted from a beam processing apparatus,
The upper surface of the conductive film formed on the upper surface of the substrate, the conductive film and the energy beam hardly processed by the energy beam is permeable than, PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate), PEN (polyethylene Na A laminated film made of phthalate), PAR (polyarylate), PES (polyethersulfone) or PI (polyimide) ,
Set the substrate with the laminated film attached to the beam processing device,
Through the laminate film, the conductive film formed on the upper surface of the substrate by irradiating the energy beam, the substrate on by removing the remains conductive film leaving the laminate film on the upper surface of the conductive film A circuit board is formed on the substrate.
基板の上面に形成された導電性材料からなる導電膜にビーム加工装置から出射されたエネルギービームを照射して該基板上に回路パターンを形成する基板製造方法において、
上記基板の上記導電膜が形成された上面とは反対側の面に、該導電よりも上記エネルギービームで加工されにくく且つ該エネルギービームが透過可能な、PET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PAR(ポリアリレート)、PES(ポリエーテルスルフォン)又はPI(ポリイミド)からなるラミネートフィルムを貼り付け、
上記ラミネートフィルムを貼り付けた基板を上記ビーム加工装置にセットし、
上記ラミネートフィルムを貼り付けた基板の上面に形成された導電に上記エネルギービームを照射して、該ラミネートフィルムを該基板の下面に残したまま該導電を除去することにより該基板上に回路パターンを形成することを特徴とする基板製造方法
In a substrate manufacturing method for forming a circuit pattern on a substrate by irradiating a conductive film made of a conductive material formed on an upper surface of the substrate with an energy beam emitted from a beam processing apparatus,
Under surface opposite to the upper surface of the conductive film of the substrate is formed, than the conductive film and hard to be processed by the energy beam the energy beam is capable of transmitting, PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate ), PEN (polyethylene naphthalate), PAR (polyarylate), PES (polyethersulfone) or PI (polyimide) laminate film is applied,
Set the substrate with the laminated film attached to the beam processing device,
The conductive film formed on the upper surface of the substrate to which the laminate film is attached is irradiated with the energy beam, and the conductive film is removed while leaving the laminate film on the lower surface of the substrate. A substrate manufacturing method comprising forming a pattern .
求項1又は2の基板製造方法において、
上記ビーム加工装置の基板供給部に上記基板を収容しておき、
該基板の上記導電形成された上面を真空吸引部材で真空吸引しながら該基板供給部から該基板を搬送して該ビーム加工装置の加工位置にセットし、
該基板に上記エネルギービームを照射して回路パターンを形成した後、該基板の該導電形成された上面を該真空吸引部材で真空吸引しながら該加工位置から該基板を搬送して基板排出部に収容することを特徴とする基板製造方法。
In Motomeko 1 or 2 of the substrate manufacturing process,
The substrate is accommodated in the substrate supply unit of the beam processing apparatus,
The upper surface of the conductive film of the substrate was formed by transporting the substrate from the substrate supply unit with vacuum suction by the vacuum suction member was set in the processing position of the beam processing apparatus,
After then irradiating the energy beam to form a circuit pattern on the substrate, the upper surface of the conductive film of the substrate is formed from the machining position while vacuum suction by the vacuum suction member to convey the substrate board A substrate manufacturing method, wherein the substrate is accommodated in a discharge portion.
請求項1、2又は3の基板製造方法において、
上記基板が絶縁性透明基板であり、且つ、上記導電が透明導電膜であり、
上記エネルギービームで該絶縁性透明基板上の該透明導電膜の一部をスリット状に除去することにより、該絶縁性透明基板上に透明電極を形成することを特徴とする基板製造方法。
In the board | substrate manufacturing method of Claim 1, 2, or 3 ,
The substrate is an insulating transparent substrate, and the conductive film is a transparent conductive film,
A substrate manufacturing method comprising forming a transparent electrode on the insulating transparent substrate by removing a part of the transparent conductive film on the insulating transparent substrate in a slit shape with the energy beam.
請求項1、2、3又は4の基板製造方法において、
上記エネルギービームが、Qスイッチを有するYAGレーザ光源から出射されたYAGレーザ光であることを特徴とする基板製造方法。
In the board | substrate manufacturing method of Claim 1, 2, 3 or 4 ,
A substrate manufacturing method, wherein the energy beam is YAG laser light emitted from a YAG laser light source having a Q switch.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101448036B1 (en) * 2013-07-26 2014-10-08 주식회사 팜인더스트리 Touch screen processing method for process and yield improvement

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004096483A1 (en) 2003-04-25 2004-11-11 Nitto Denko Corporation Method of producing laser-processed product and adhesive sheet, for laser processing used therefor
KR100555613B1 (en) * 2003-12-15 2006-03-03 주식회사 파이컴 Apparatus for patterning transparency conduction film and method thereby
KR101102728B1 (en) 2003-12-25 2012-01-05 닛토덴코 가부시키가이샤 Laser processing protection sheet and production method for laser processed article
JP4873863B2 (en) 2005-01-14 2012-02-08 日東電工株式会社 Manufacturing method of laser processed product and pressure-sensitive adhesive sheet for laser processing
JP4854061B2 (en) 2005-01-14 2012-01-11 日東電工株式会社 Manufacturing method of laser processed product and protective sheet for laser processing
JP4752033B2 (en) * 2006-09-29 2011-08-17 グンゼ株式会社 Touch panel and method for manufacturing touch panel
JP4914309B2 (en) * 2007-08-24 2012-04-11 グンゼ株式会社 Substrate manufacturing method and capacitive touch panel using substrate
JP5307447B2 (en) * 2008-05-19 2013-10-02 富士通コンポーネント株式会社 Method for manufacturing coordinate detection apparatus
JP5066495B2 (en) * 2008-08-26 2012-11-07 パナソニック株式会社 Circuit board manufacturing apparatus and manufacturing method thereof

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05291730A (en) * 1991-02-08 1993-11-05 Lpkf Cad Cam Syst Gmbh Manufacture of printed circuit board
JPH06216495A (en) * 1991-12-06 1994-08-05 Fukui Pref Gov Processing of electronic circuit board by use of laser
JPH0831774A (en) * 1994-07-12 1996-02-02 Sanyo Electric Co Ltd Metal film removing and processing method and manufacture of photoelectromotive element
JPH08264511A (en) * 1995-03-17 1996-10-11 Ebara Corp Method and device for fine machining

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09326548A (en) * 1996-06-05 1997-12-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Printed wiring board

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05291730A (en) * 1991-02-08 1993-11-05 Lpkf Cad Cam Syst Gmbh Manufacture of printed circuit board
JPH06216495A (en) * 1991-12-06 1994-08-05 Fukui Pref Gov Processing of electronic circuit board by use of laser
JPH0831774A (en) * 1994-07-12 1996-02-02 Sanyo Electric Co Ltd Metal film removing and processing method and manufacture of photoelectromotive element
JPH08264511A (en) * 1995-03-17 1996-10-11 Ebara Corp Method and device for fine machining

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101448036B1 (en) * 2013-07-26 2014-10-08 주식회사 팜인더스트리 Touch screen processing method for process and yield improvement

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