JP4715586B2 - Reactor - Google Patents

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Description

本発明は、反応装置に関する。 The present invention relates to a reaction apparatus .

近年では、マイクロリアクタと呼ばれる小型反応器が開発・実用化されている。マイクロリアクタは、複数種類の原料や試薬、燃料などの反応物を互いに混合させながら反応させる小型反応器であって、マイクロ領域での化学反応実験、薬品の開発、人工臓器の開発、ゲノム・DNA解析ツール、マイクロ流体工学の基礎解析ツールなどに利用されている。マイクロリアクタを用いる化学反応には、ビーカ、フラスコなどを用いた通常の化学反応にはない特徴がある。例えば、反応器全体が小さいため、熱交換率が極めて高く温度制御が効率良く行えるという利点がある。そのため、精密な温度制御を必要とする反応や急激な加熱又は冷却を必要とする反応でも容易に行うことができる。   In recent years, small reactors called microreactors have been developed and put into practical use. A microreactor is a small reactor that reacts multiple types of raw materials, reagents, fuels, and other reactants while mixing them together. Chemical reaction experiments, drug development, artificial organ development, genome / DNA analysis in the micro domain It is used for tools and basic analysis tools for microfluidics. A chemical reaction using a microreactor has characteristics that are not found in a normal chemical reaction using a beaker, a flask, or the like. For example, since the entire reactor is small, there is an advantage that the heat exchange rate is extremely high and temperature control can be performed efficiently. Therefore, a reaction that requires precise temperature control or a reaction that requires rapid heating or cooling can be easily performed.

具体的にマイクロリアクタには、例えば所定パターンの溝を形成した基板同士を貼り合わせて気体や液体の反応物を流動させる流路を形成し、例えば流路内に触媒を設けて反応物を流し、反応物を適当な反応温度に加熱することで反応物の反応を起こさせるリアクタ(反応槽)などの反応容器が形成されたものがある。   Specifically, in the microreactor, for example, a substrate in which grooves having a predetermined pattern are bonded together to form a flow path for flowing a gaseous or liquid reactant, for example, a catalyst is provided in the flow path to flow the reactant, There are some in which a reaction vessel such as a reactor (reaction tank) for causing a reaction of the reactant by heating the reactant to an appropriate reaction temperature is formed.

ところで、マイクロリアクタにおける反応物を所定温度に加熱するために、マイクロリアクタを形成する基板に薄膜ヒーターを設けることがある(例えば、特許文献1参照)。
特表2001−505819号公報(図6参照)
By the way, in order to heat the reactant in the microreactor to a predetermined temperature, a thin film heater may be provided on the substrate on which the microreactor is formed (see, for example, Patent Document 1).
JP-T-2001-505819 (see FIG. 6)

しかしながら、上記のような反応装置においては、反応容器内の反応物を加熱するための薄膜ヒーターは、基板に形成された溝の内部に薄膜ヒーターをパターニングして形成することは困難であるため、流路を形成する基板の外側に設けられていた。このため、薄膜ヒーターは基板を介した熱伝導によって反応物を加熱することになるため、流路内を流れる反応物の温度を速やかに上昇させることが難しく、反応装置の起動時間等の応答時間を短縮することが難しかった。   However, in the reaction apparatus as described above, the thin film heater for heating the reaction product in the reaction vessel is difficult to form by patterning the thin film heater in the groove formed in the substrate. It was provided outside the substrate forming the flow path. For this reason, since the thin film heater heats the reactant by heat conduction through the substrate, it is difficult to quickly raise the temperature of the reactant flowing in the flow path, and the response time such as the startup time of the reactor It was difficult to shorten.

本発明の課題は、反応容器内に薄膜ヒーターを設けることができる反応装置を提供することである。 The subject of this invention is providing the reaction apparatus which can provide a thin film heater in reaction container.

以上の課題を解決するため、請求項1に記載の発明は、反応物の反応を起こす反応容器を備える反応装置において、前記反応容器は、一方の面に薄膜ヒーターによる電熱線パターンが形成されたヒーター板と、前記ヒーター板の前記電熱線パターンが形成された側に、前記ヒーター板と平行に配置される蓋板と、前記ヒーター板と前記蓋板との間に設けられ、少なくとも前記電熱線パターンに沿った開口部を有して、前記ヒーター板と前記蓋板との間の空間を仕切るように配置される仕切板と、前記開口部内に対応する前記ヒーター板の前記一方の面上に、前記電熱線パターンを被覆するように形成された絶縁膜と、を具備し、前記開口部は前記仕切板の両外面に連通して開口し、密閉空間を形成する凹部を有する一対の上基板および下基板を有し、少なくとも前記蓋板、前記仕切板、及び前記ヒーター板を含む複数の基板が前記上基板および下基板の間に接合層を介して積層して設けられ、前記複数の基板の各々は前記密閉空間に連通するスリット部を有し、前記密閉空間及び前記スリット部を介して、前記反応容器と該反応容器を内部に収容する包囲部が一体に形成され、該包囲部及び前記上基板および前記下基板で内部が減圧された断熱容器をなし、前記複数の基板を積層して、前記反応容器の前記反応物が供給される供給口及び前記反応容器の生成物が排出される排出口が形成され、前記反応容器を前記断熱容器内で保持する接続部を前記反応容器の端部一箇所に有し、前記接続部は前記供給口及び前記排出口を有することを特徴とする。 In order to solve the above problems, the invention according to claim 1 is a reaction apparatus including a reaction vessel that causes reaction of a reactant, and the reaction vessel has a heating wire pattern formed by a thin film heater on one surface. A heater plate, a lid plate disposed in parallel with the heater plate on a side of the heater plate on which the heating wire pattern is formed, and provided between the heater plate and the lid plate, and at least the heating wire On the one surface of the heater plate corresponding to the inside of the opening, the partition plate having an opening along the pattern and arranged to partition the space between the heater plate and the lid plate A pair of upper substrates having a recess that opens to communicate with both outer surfaces of the partition plate and forms a sealed space. And lower board A plurality of substrates including at least the lid plate, the partition plate, and the heater plate are provided between the upper substrate and the lower substrate via a bonding layer, and each of the plurality of substrates is A slit portion that communicates with the sealed space, and the reaction vessel and a surrounding portion that accommodates the reaction vessel are formed integrally through the sealed space and the slit portion, and the surrounding portion and the upper substrate; The lower substrate constitutes a heat-insulated container whose inside is depressurized, a plurality of the substrates are stacked, and a supply port to which the reaction product in the reaction container is supplied and a discharge port from which the product in the reaction container is discharged A connection part formed and holding the reaction container in the heat insulation container is provided at one end of the reaction container, and the connection part has the supply port and the discharge port .

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の反応装置において、前記開口部内に対応する前記ヒーター板の少なくとも前記絶縁膜上に、前記反応物の反応を促進する反応触媒が設けられていることを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, there is provided the reaction apparatus according to the first aspect, wherein a reaction catalyst for promoting a reaction of the reactant is provided on at least the insulating film of the heater plate corresponding to the opening. It is characterized by being.

請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の反応装置において、前記反応容器は前記反応物を改質する改質器であり、前記触媒は改質反応を促進する改質触媒であることを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the reaction apparatus according to the second aspect, the reaction vessel is a reformer that reforms the reactant, and the catalyst is a reforming catalyst that promotes a reforming reaction. It is characterized by that.

請求項4に記載の発明は、請求項2に記載の反応装置において、前記反応容器は前記反応物に含まれる一酸化炭素を除去する一酸化炭素除去器であり、前記触媒は一酸化炭素の酸化を促進する一酸化炭素除去触媒であることを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, in the reactor according to the second aspect, the reaction vessel is a carbon monoxide remover that removes carbon monoxide contained in the reactant, and the catalyst is made of carbon monoxide. It is a carbon monoxide removal catalyst that promotes oxidation.

請求項5に記載の発明は、請求項1〜4のいずれか一項に記載の反応装置において、前記ヒーター板の前記電熱線パターンが形成された面と反対側の他方の面には凹部が形成されるとともに、前記凹部を塞ぐ底板が設けられ、前記凹部内の、少なくとも前記電熱線パターンと対向する面に、外部から供給される燃料を燃焼させる燃焼触媒が設けられることを特徴とする。   Invention of Claim 5 is a reaction apparatus as described in any one of Claims 1-4. WHEREIN: A recessed part is provided in the other surface on the opposite side to the surface in which the said heating wire pattern of the said heater plate was formed. A bottom plate for closing the recess is provided, and a combustion catalyst for burning fuel supplied from the outside is provided on at least a surface of the recess facing the heating wire pattern.

請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の反応装置において、前記凹部は前記開口部に対応して形成されていることを特徴とする。   A sixth aspect of the present invention is the reaction apparatus according to the fifth aspect, wherein the concave portion is formed corresponding to the opening.

請求項に記載の発明は、請求項1〜のいずれか一項に記載の反応装置において、前記反応装置は、第1の温度に設定され、前記反応物の反応を起こす第1の反応部と、前記第1の温度より低い第2の温度に設定され、前記反応物の反応を起こす第2の反応部とを備え、前記第1の反応部及び第2の反応部の少なくとも一方は、前記反応容器を備えることを特徴とする。 The invention according to claim 7 is the reaction apparatus according to any one of claims 1 to 6 , wherein the reaction apparatus is set to a first temperature and causes a reaction of the reactant. And a second reaction part set to a second temperature lower than the first temperature and causing the reaction of the reactant, at least one of the first reaction part and the second reaction part is The reaction vessel is provided.

請求項に記載の発明は、請求項に記載の反応装置において、前記第1の反応部に供給された第1の反応物から第1の生成物が生成され、前記第2の反応部に前記第1の生成物が供給され、該第1の生成物から第2の生成物が生成され、前記第1の反応物は水と炭化水素系の液体燃料が気化された混合気であって、前記第1の反応部は、前記第1の反応物の改質反応を起こす改質器であり、前記第1の生成物には水素及び一酸化炭素が含まれ、前記第2の反応部は、前記第1の生成物に含まれる一酸化炭素を除去する一酸化炭素除去器であることを特徴とする。 The invention according to claim 8 is the reaction apparatus according to claim 7 , wherein the first product is generated from the first reactant supplied to the first reaction section, and the second reaction section is formed. The first product is supplied to the first product, and a second product is produced from the first product. The first reaction product is a gas mixture obtained by vaporizing water and a hydrocarbon-based liquid fuel. The first reaction unit is a reformer that causes a reforming reaction of the first reactant, and the first product contains hydrogen and carbon monoxide, and the second reaction The section is a carbon monoxide remover that removes carbon monoxide contained in the first product.

本発明によれば、一方の面に薄膜ヒーターによる電熱線パターンが形成され、該電熱線パターンを覆う絶縁膜が形成された基板上に、電熱線パターンに沿った開口部を有する基板を積層し、次いで該開口部を塞ぐ基板を積層して反応容器を形成するので、反応容器内に薄膜ヒーターを設けることができて、反応装置の応答時間を短縮することができる。   According to the present invention, the substrate having the opening along the heating wire pattern is laminated on the substrate on which the heating wire pattern by the thin film heater is formed on one surface and the insulating film covering the heating wire pattern is formed. Then, since the reaction container is formed by laminating the substrates that close the opening, a thin film heater can be provided in the reaction container, and the response time of the reaction apparatus can be shortened.

以下に、本発明を実施するための最良の形態について図面を用いて説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい種々の限定が付されているが、発明の範囲を以下の実施形態及び図示例に限定するものではない。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings. However, although various technically preferable limitations for implementing the present invention are given to the embodiments described below, the scope of the invention is not limited to the following embodiments and illustrated examples.

<第1実施形態>
図1は、本発明が適用される反応装置10が用いられる発電装置1のブロック図である。この発電装置1は、例えばノート型パーソナルコンピュータ、携帯電話機、PDA(Personal Digital Assistant)、電子手帳、腕時計、デジタルスチルカメラ、デジタルビデオカメラ、ゲーム機器、遊技機、その他の電子機器に備え付けられるものであり、これらの電子機器本体を動作させるための電源として用いられる。
<First Embodiment>
FIG. 1 is a block diagram of a power generator 1 in which a reactor 10 to which the present invention is applied is used. The power generation device 1 is provided in, for example, a notebook personal computer, a mobile phone, a PDA (Personal Digital Assistant), an electronic notebook, a wristwatch, a digital still camera, a digital video camera, a game device, a game machine, and other electronic devices. Yes, it is used as a power source for operating these electronic device bodies.

発電装置1は、燃料容器2と、改質燃料気化器3と、反応装置10と、発電セル5と、を備える。燃料容器2は、燃料(例えば、メタノール、エタノール、ジメチルエーテル、ブタン、ガソリン)と水を別々に又は混合した状態で貯留し、図示しないマイクロポンプにより燃料及び水の混合液を改質燃料気化器3経由で、反応装置10に供給する。   The power generation device 1 includes a fuel container 2, a reformed fuel vaporizer 3, a reaction device 10, and a power generation cell 5. The fuel container 2 stores fuel (for example, methanol, ethanol, dimethyl ether, butane, gasoline) and water separately or in a mixed state, and the fuel and water mixture is reformed fuel vaporizer 3 by a micro pump (not shown). Via, it is supplied to the reactor 10.

反応装置10は、高温反応部11と、低温反応部12とを有し、図1に図示しない断熱容器18に収納される。高温反応部11は改質器13、燃焼器15及び高温ヒーター17を有し、低温反応部12はCO除去器14、及び低温ヒーター16を有する。   The reaction apparatus 10 has a high temperature reaction section 11 and a low temperature reaction section 12 and is accommodated in a heat insulating container 18 (not shown in FIG. 1). The high temperature reaction unit 11 has a reformer 13, a combustor 15 and a high temperature heater 17, and the low temperature reaction unit 12 has a CO remover 14 and a low temperature heater 16.

燃料容器2から改質燃料気化器3に供給された燃料と水は、改質燃料気化器3により気化され、改質器13に供給される。改質器13では、水蒸気と気化された液体燃料から水素ガス等が触媒反応により生成され、更に微量ながら一酸化炭素ガスが生成される。燃料がメタノールの場合には、次式(1)、(2)のような化学反応が起こる。なお、水素が生成される反応は吸熱反応であって、燃焼器15の燃焼熱が用いられる。   The fuel and water supplied from the fuel container 2 to the reformed fuel vaporizer 3 are vaporized by the reformed fuel vaporizer 3 and supplied to the reformer 13. In the reformer 13, hydrogen gas or the like is generated from the steam and vaporized liquid fuel by a catalytic reaction, and a carbon monoxide gas is further generated in a small amount. When the fuel is methanol, chemical reactions such as the following formulas (1) and (2) occur. The reaction for generating hydrogen is an endothermic reaction, and the combustion heat of the combustor 15 is used.

CH3OH+H2O→3H2+CO2 …(1)
2+CO2→H2O+CO …(2)
CH 3 OH + H 2 O → 3H 2 + CO 2 (1)
H 2 + CO 2 → H 2 O + CO (2)

CO除去器14は、化学反応式(1)についで逐次的に起こる化学反応式(2)のような式によって微量に副生される一酸化炭素を酸化させることで混合気体から除去する。以下、この一酸化炭素を除去した混合気体を改質ガスという。改質ガスは発電セル5の燃料極側に供給される。   The CO remover 14 removes carbon monoxide, which is by-produced in a trace amount by a formula such as the chemical reaction formula (2), which sequentially occurs after the chemical reaction formula (1), and removes it from the mixed gas. Hereinafter, the mixed gas from which the carbon monoxide is removed is referred to as a reformed gas. The reformed gas is supplied to the fuel electrode side of the power generation cell 5.

発電セル5の燃料極側にはCO除去器14から改質ガスが供給される。改質ガスのうちの水素ガスは電気化学反応式(3)に示すように、燃料極に設けられた触媒により水素イオンと電子とに分離される。水素イオンは電解質膜を通過して酸素極側へ移動し、電子は外部回路を経て酸素極に移動する。酸素極側では、電気化学反応式(4)に示すように、電解質膜を通過した水素イオンと、外部回路を経て酸素極から供給される電子と、外気から供給される酸素ガスとの化学反応により水を生成する。この燃料極と酸素極の電極電位の差から電気エネルギーを取り出すことができる。   The reformed gas is supplied from the CO remover 14 to the fuel electrode side of the power generation cell 5. Hydrogen gas in the reformed gas is separated into hydrogen ions and electrons by a catalyst provided in the fuel electrode as shown in the electrochemical reaction formula (3). Hydrogen ions pass through the electrolyte membrane and move to the oxygen electrode side, and electrons move to the oxygen electrode through an external circuit. On the oxygen electrode side, as shown in the electrochemical reaction formula (4), a chemical reaction between hydrogen ions that have passed through the electrolyte membrane, electrons supplied from the oxygen electrode through an external circuit, and oxygen gas supplied from the outside air To produce water. Electrical energy can be extracted from the difference in electrode potential between the fuel electrode and the oxygen electrode.

2→2H++2e- …(3)
2H++2e-+1/2O2→H2O …(4)
H 2 → 2H + + 2e (3)
2H + + 2e + 1 / 2O 2 → H 2 O (4)

燃焼器15は、発電セル5において上記電気化学反応をせずに残った水素ガス(オフガス)と酸素を混合させて触媒反応により燃焼し、燃焼熱によって高温反応部11を所定の温度に加熱する。
低温ヒーター16は、起動時に低温反応部12を200℃未満、例えば約110〜190℃に加熱する。
The combustor 15 mixes the hydrogen gas (off-gas) remaining without the electrochemical reaction in the power generation cell 5 and oxygen, burns by a catalytic reaction, and heats the high-temperature reaction unit 11 to a predetermined temperature by combustion heat. .
The low-temperature heater 16 heats the low-temperature reaction part 12 to less than 200 ° C., for example, about 110 to 190 ° C. at startup.

〔反応装置の具体的構成〕
次に、反応装置10の具体的構成について説明する。図2は、本実施形態の反応装置10の斜視図であり、図3は、本実施形態の反応装置10の分解斜視図である。反応装置10は、図2、図3に示すように、6枚の基板30,40,50,60,70,80を貼り合わせて形成される。各基板30,40,50,60,70,80の加工はフォトリソグラフィー、サンドブラスト法等により行うことができ、各基板30,40,50,60,70,80の貼り合わせは、陽極接合により行うことができる。具体的には、後述するように、一方の基板に陽極接合膜を設け、他方のガラス基板に陰極97を、陽極接合膜に陽極98を接触させて200〜500℃程度の温度に加熱した状態で、100〜1000V程度の高電圧を印加し、ガラス基板に含まれる可動イオン(陽イオン)を陰極97側に移動させることで、ガラス基板側のSiO2の酸素原子に負電荷を帯びさせ、陽極接合膜側の正電荷を帯びた金属とを界面で共有結合させることで接合を行う。
なお、以下の説明では、便宜上、基板30側を上側、基板80側を下側として説明する。
[Specific structure of the reactor]
Next, a specific configuration of the reaction apparatus 10 will be described. FIG. 2 is a perspective view of the reaction apparatus 10 of the present embodiment, and FIG. 3 is an exploded perspective view of the reaction apparatus 10 of the present embodiment. As shown in FIGS. 2 and 3, the reaction apparatus 10 is formed by bonding six substrates 30, 40, 50, 60, 70, 80 together. Each substrate 30, 40, 50, 60, 70, 80 can be processed by photolithography, sandblasting, or the like, and each substrate 30, 40, 50, 60, 70, 80 is bonded by anodic bonding. be able to. Specifically, as will be described later, an anodic bonding film is provided on one substrate, a cathode 97 is brought into contact with the other glass substrate, and an anode 98 is brought into contact with the anodic bonding film and heated to a temperature of about 200 to 500 ° C. Then, by applying a high voltage of about 100 to 1000 V and moving the movable ions (positive ions) contained in the glass substrate to the cathode 97 side, the SiO 2 oxygen atoms on the glass substrate side are negatively charged, and the anode Bonding is performed by covalently bonding a positively charged metal on the bonding film side at the interface.
In the following description, for convenience, the substrate 30 side is described as the upper side, and the substrate 80 side is described as the lower side.

基板30,40,50,60,70,80は、本実施の形態ではガラス製の基板であり、より詳細には、可動イオンとなるNaやLiを含有したガラス基板である。このようなガラス基板としては、耐熱性ガラス、例えばパイレックス(登録商標)基板を使用することができる。   The substrates 30, 40, 50, 60, 70, 80 are glass substrates in the present embodiment, and more specifically, glass substrates containing Na and Li that become mobile ions. As such a glass substrate, a heat-resistant glass such as a Pyrex (registered trademark) substrate can be used.

図4は、図2に示す本実施形態の反応装置10のI−I線に沿った矢視断面図である。図3、図4に示すように、反応装置10は、高温反応部11及び低温反応部12(反応容器)と、断熱容器18とを有する。なお、高温反応部11と低温反応部12、及び低温反応部12と断熱容器18とは、基板40,50,60,70により一部が接続されている。   FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line II of the reactor 10 of the present embodiment shown in FIG. As shown in FIGS. 3 and 4, the reaction apparatus 10 includes a high temperature reaction unit 11, a low temperature reaction unit 12 (reaction vessel), and a heat insulation vessel 18. In addition, the high temperature reaction part 11 and the low temperature reaction part 12, and the low temperature reaction part 12 and the heat insulation container 18 are partially connected by the board | substrate 40,50,60,70.

高温反応部11と低温反応部12との接続部は高温反応部11へ反応物を供給する流路や生成物を搬出する流路となる。また、低温反応部12と断熱容器18との接続部は高温反応部11や低温反応部12の断熱容器18外からの反応物供給流路や断熱容器18外への生成物搬出流路となる。なお、図2〜図4において、低温反応部12と断熱容器18との接続部は反応装置10の長手方向の端部に設けられている。
なお、以下の説明では、便宜上、低温反応部12と断熱容器18との接続部側を前側として説明する。
A connecting portion between the high temperature reaction section 11 and the low temperature reaction section 12 serves as a flow path for supplying the reactant to the high temperature reaction section 11 and a flow path for carrying out the product. The connecting portion between the low temperature reaction section 12 and the heat insulation container 18 serves as a reactant supply flow path from the outside of the heat insulation container 18 of the high temperature reaction section 11 and the low temperature reaction section 12 and a product delivery flow path to the outside of the heat insulation container 18. . 2 to 4, the connecting portion between the low temperature reaction section 12 and the heat insulating container 18 is provided at the end of the reaction apparatus 10 in the longitudinal direction.
In addition, in the following description, the connection part side of the low temperature reaction part 12 and the heat insulation container 18 is demonstrated as a front side for convenience.

高温反応部11及び低温反応部12と断熱容器18との間には、断熱室19が設けられている。また、高温反応部11と低温反応部12との間には、断熱室19と一体となったスリット19aが設けられている。断熱室19及びスリット19aの内部は減圧されており、断熱室19により高温反応部11及び低温反応部12から断熱容器18への熱伝導が低減され、スリット19aにより高温反応部11から低温反応部12への熱伝導が低減される。   A heat insulating chamber 19 is provided between the high temperature reaction unit 11 and the low temperature reaction unit 12 and the heat insulating container 18. A slit 19 a integrated with the heat insulation chamber 19 is provided between the high temperature reaction portion 11 and the low temperature reaction portion 12. The inside of the heat insulation chamber 19 and the slit 19a is depressurized, the heat conduction chamber 19 reduces the heat conduction from the high temperature reaction section 11 and the low temperature reaction section 12 to the heat insulation container 18, and the slit 19a reduces the heat conduction from the high temperature reaction section 11 to the low temperature reaction section. The heat conduction to 12 is reduced.

また、断熱室19及びスリット19aの壁面には、高温反応部11及び低温反応部12から放射される熱線を反射する赤外線反射膜(図示せず)を設けてもよい。この赤外線反射膜は、例えば金、アルミニウム、銀または銅などをスパッタ法や真空蒸着法などの気相法によって成膜することにより形成され、高温反応部11及び低温反応部12の動作温度である数百℃の温度領域で発生する赤外線(波長5〜30μm)の反射率がほぼ100%となる。なお、赤外線反射膜を金で形成する場合に、密着性を高めるために、密着層としてタングステンやクロムやチタン、タンタル、モリブデン等の層を下地として設けるようにしてもよい。   Moreover, you may provide the infrared reflective film (not shown) which reflects the heat ray radiated | emitted from the high temperature reaction part 11 and the low temperature reaction part 12 in the wall surface of the heat insulation chamber 19 and the slit 19a. This infrared reflection film is formed by depositing, for example, gold, aluminum, silver or copper by a vapor phase method such as a sputtering method or a vacuum deposition method, and is an operating temperature of the high temperature reaction unit 11 and the low temperature reaction unit 12. The reflectance of infrared rays (wavelength: 5 to 30 μm) generated in the temperature range of several hundred degrees Celsius is almost 100%. In the case where the infrared reflecting film is formed of gold, a layer of tungsten, chromium, titanium, tantalum, molybdenum, or the like may be provided as a base in order to improve adhesion.

また、断熱室19またはスリット19aの壁面の一部に、例えば膜状のゲッター材21を設けるようにしてもよい。ゲッター材21は、加熱により活性化して周囲のガスや微粒子を吸着するものであり、断熱室19またはスリット19aの内部に存在するガスを吸着して、断熱室19内の真空度を高める、あるいは維持することができる。このようなゲッター材21の材料としては、例えばジルコニウム、バリウム、チタニウム又はバナジウムを主成分とした合金が挙げられる。ゲッター材21はその活性化温度を超えないように、低温反応部12側に設けることが好ましい。なお、ゲッター材21を加熱して活性化するための電熱材等の電気ヒーターを設け、この電気ヒーターの電線を断熱容器18の外部に引き出してもよい。
以下、各基板30,40,50,60,70,80について説明する。
Further, for example, a film-like getter material 21 may be provided on a part of the wall surface of the heat insulating chamber 19 or the slit 19a. The getter material 21 is activated by heating and adsorbs surrounding gas and fine particles, and adsorbs gas existing in the heat insulating chamber 19 or the slit 19a to increase the degree of vacuum in the heat insulating chamber 19, or Can be maintained. Examples of such a getter material 21 include an alloy mainly composed of zirconium, barium, titanium, or vanadium. The getter material 21 is preferably provided on the low temperature reaction part 12 side so as not to exceed its activation temperature. In addition, an electric heater such as an electric heating material for heating and activating the getter material 21 may be provided, and an electric wire of the electric heater may be drawn out of the heat insulating container 18.
Hereinafter, each substrate 30, 40, 50, 60, 70, 80 will be described.

〔第一基板〕
図5は、本実施形態における第一基板30の上面図である。第一基板30は矩形板状であり、図5に示すように、下面の外周部に突起状の枠部31が設けられており、枠部31の内側が凹部32となっている。凹部32は断熱室19の一部を形成する。この凹部32の内面に上記の赤外線反射膜(図示せず)を設けるようにしてもよい。また、凹部32の内面のうち、例えば低温反応部12に対応する領域の上記の赤外線反射膜上に、上記のゲッター材21を設けるようにしてもよい。また、第一基板30の4隅には、三角形状の角落部30a,30b,30c,30dが形成されている。
[First substrate]
FIG. 5 is a top view of the first substrate 30 in the present embodiment. The first substrate 30 has a rectangular plate shape, and as shown in FIG. 5, a protruding frame portion 31 is provided on the outer peripheral portion of the lower surface, and a concave portion 32 is formed inside the frame portion 31. The recess 32 forms a part of the heat insulation chamber 19. The infrared reflection film (not shown) may be provided on the inner surface of the recess 32. Moreover, you may make it provide said getter material 21 on said infrared reflective film of the area | region corresponding to the low temperature reaction part 12 among the inner surfaces of the recessed part 32, for example. In addition, triangular corners 30a, 30b, 30c, and 30d are formed at the four corners of the first substrate 30.

〔第二基板〕
図6は、本実施形態における第二基板40の上面図である。第二基板40は、図6に示すように、蓋板42と、蓋板42の外側に設けられた矩形状の枠体43とからなる。蓋板42と枠体43とは、前側で一体に形成されている。蓋板42の中央部には、スリット19aを形成する開口42aが設けられている。蓋板42には、右後角部に三角形状の角落部40eが形成されている。蓋板42と枠体43との隙間43aは断熱室19を形成する。枠体には、左前角部、左後角部、右後角部に三角形状の角落部40a,40b,40cが形成されている。
[Second board]
FIG. 6 is a top view of the second substrate 40 in the present embodiment. As shown in FIG. 6, the second substrate 40 includes a lid plate 42 and a rectangular frame 43 provided outside the lid plate 42. The cover plate 42 and the frame body 43 are integrally formed on the front side. An opening 42 a that forms a slit 19 a is provided in the central portion of the lid plate 42. The lid plate 42 is formed with a triangular chamfered portion 40e at the right rear corner. A gap 43 a between the lid plate 42 and the frame body 43 forms the heat insulation chamber 19. In the frame, triangular corners 40a, 40b, and 40c are formed at the left front corner, the left rear corner, and the right rear corner.

枠体43の上面には、緩衝膜(図示せず)が形成され、緩衝膜の上に陽極接合膜44(図4参照)が形成される。緩衝膜は陽極接合時の可動イオンの移動により陽極接合用の金属に与えるダメージを防ぐものであり、例えばTaとSiとOとを成分元素とする化合物、La,Sr,Mn,Oの組成比を、La:Sr:Mn:O=0.7:0.3:1:(3−x)とする化合物を用いることができる。ここで、0≦x≦0.3である。
陽極接合膜44として用いられる金属薄膜としては、ガラス基板を構成する酸素と結合する金属、例えばTa、Ti、Al等を含む金属薄膜を用いることができる。緩衝膜及び陽極接合膜44は例えばスパッタ法により成膜する。また、第二基板4の上面の、例えば一酸化炭素除去器21に対応する領域に、上記のゲッター材21を設けるようにしてもよい。なお、ゲッター材21を設ける位置は、反応装置10の運転中に、ゲッター材21の温度がその活性化温度を超えない位置とすることが好ましい。
A buffer film (not shown) is formed on the upper surface of the frame 43, and an anodic bonding film 44 (see FIG. 4) is formed on the buffer film. The buffer film prevents damage to the metal for anodic bonding due to the movement of mobile ions during anodic bonding. For example, the composition ratio of La, Sr, Mn, and O is a compound containing Ta, Si, and O as component elements. May be La: Sr: Mn: O = 0.7: 0.3: 1: (3-x). Here, 0 ≦ x ≦ 0.3.
As the metal thin film used as the anodic bonding film 44, a metal thin film containing a metal that combines with oxygen constituting the glass substrate, for example, Ta, Ti, Al or the like can be used. The buffer film and anodic bonding film 44 are formed by sputtering, for example. Further, the getter material 21 may be provided on the upper surface of the second substrate 4 in a region corresponding to, for example, the carbon monoxide remover 21. The position where the getter material 21 is provided is preferably a position where the temperature of the getter material 21 does not exceed the activation temperature during operation of the reaction apparatus 10.

〔第三基板〕
図7は、本実施形態における第三基板50の上面図、図8は第三基板50の下面図であり、図9は第三基板50を左斜め下後方から見た斜視図である。第三基板50は、図7〜図9に示すように、仕切板52と、仕切板52の外側に設けられた矩形状の枠体53とからなる。
仕切板52と枠体53とは、前側で一体に形成されている。仕切板52と枠体53との接合部には、前端より6個の切欠部(左から51a,51b,51c,51d,51e,51f)が設けられている。切欠部51a,51b,51c,51d,51e,51fは後述するように、第四基板に設けられた切欠部61a,61b,61c,61d,61e,61fと合わさり、上部を第二基板40、下部を第五基板70に塞がれて、左から順に燃焼用燃料供給口21a、燃焼用空気供給口21b、一酸化炭素除去用空気供給口21c、改質用燃料供給口21d、排ガス排出口21e、改質ガス排出口21fを形成する(図2参照)。仕切板52の中央部には、スリット19aを形成する開口52aが設けられている。開口52aよりも前側には、葛折り状の貫通穴52bが設けられている。貫通穴52bは上部を第二基板40に、下部を第四基板60に塞がれて一酸化炭素除去流路27(CO除去器14)となる。
また、開口52aよりも後側には、改質器13となる葛折り状の貫通穴52cが設けられている。貫通穴52cは上部を第二基板40に、下部を第四基板60に塞がれて改質流路24(改質器13)となる。仕切板52と枠体53との隙間53aは断熱室19を形成する。枠体53には、左前角部、左後角部、右後角部に三角形状の角落部50a,50b,50cが形成されている。第三基板50の上面には、全面に第二基板40と同様に、緩衝膜及び陽極接合膜54(図4参照)が形成される。
[Third board]
FIG. 7 is a top view of the third substrate 50 in the present embodiment, FIG. 8 is a bottom view of the third substrate 50, and FIG. 9 is a perspective view of the third substrate 50 as viewed obliquely from the lower left rear. As shown in FIGS. 7 to 9, the third substrate 50 includes a partition plate 52 and a rectangular frame 53 provided outside the partition plate 52.
The partition plate 52 and the frame 53 are integrally formed on the front side. At the joint between the partition plate 52 and the frame 53, six notches (51a, 51b, 51c, 51d, 51e, 51f from the left) are provided from the front end. As will be described later, the notches 51a, 51b, 51c, 51d, 51e, and 51f are combined with the notches 61a, 61b, 61c, 61d, 61e, and 61f provided on the fourth substrate, and the upper portion is the second substrate 40 and the lower portion. Are closed by the fifth substrate 70 in order from the left, the combustion fuel supply port 21a, the combustion air supply port 21b, the carbon monoxide removal air supply port 21c, the reforming fuel supply port 21d, and the exhaust gas discharge port 21e. Then, the reformed gas discharge port 21f is formed (see FIG. 2). In the central part of the partition plate 52, an opening 52a for forming the slit 19a is provided. A twisted through hole 52b is provided in front of the opening 52a. The through hole 52b is closed at the upper part by the second substrate 40 and at the lower part by the fourth substrate 60 to form the carbon monoxide removal channel 27 (CO remover 14).
Further, a twisted through hole 52c serving as the reformer 13 is provided behind the opening 52a. The through hole 52c is closed by the second substrate 40 at the top and the fourth substrate 60 at the bottom to form the reforming channel 24 (the reformer 13). A gap 53 a between the partition plate 52 and the frame body 53 forms the heat insulating chamber 19. The frame 53 is formed with triangular corners 50a, 50b, 50c at the left front corner, the left rear corner, and the right rear corner. A buffer film and an anodic bonding film 54 (see FIG. 4) are formed on the entire top surface of the third substrate 50 in the same manner as the second substrate 40.

図8、図9に示すように、仕切板52の下面には、右端の切欠部51fと貫通穴52bの一端とを連続させる溝52f、貫通穴52bの他端から開口52aの左側を通り貫通穴52cの一端まで延設された溝52g、貫通穴52cの他端から開口52aの右側を通り低温反応部12まで延設された溝52hが設けられている。溝52fは下部を第四基板60に塞がれて排出流路28となり、溝52gは下部を第四基板60に塞がれて空気混合流路26となり、溝52hは下部を第四基板60に塞がれて導入流路23bとなる。
空気混合流路26は改質流路24と一酸化炭素除去流路27とを接続するとともに、後述するように、第四基板60に設けられた貫通孔62bにより空気供給流路25と接続される。また、導入流路23bは後述するように、第四基板60に設けられた貫通孔62cにより改質燃料供給流路23aと接続される。
As shown in FIGS. 8 and 9, the lower surface of the partition plate 52 has a groove 52f that allows the right end cutout 51f and one end of the through hole 52b to continue, and passes through the left side of the opening 52a from the other end of the through hole 52b. A groove 52g extending to one end of the hole 52c and a groove 52h extending from the other end of the through hole 52c to the right side of the opening 52a to the low temperature reaction part 12 are provided. The lower part of the groove 52f is closed by the fourth substrate 60 to become the discharge flow path 28, the lower part of the groove 52g is closed by the fourth substrate 60 to become the air mixing flow path 26, and the lower part of the groove 52h is the fourth substrate 60. The inlet channel 23b is blocked.
The air mixing channel 26 connects the reforming channel 24 and the carbon monoxide removal channel 27 and is connected to the air supply channel 25 by a through hole 62b provided in the fourth substrate 60, as will be described later. The Further, the introduction flow path 23b is connected to the reformed fuel supply flow path 23a through a through hole 62c provided in the fourth substrate 60, as will be described later.

また、仕切板52の下面には、右前角部と、後端部に、凹部54,55が形成されている。凹部54,55は後述するように、第四基板60に設けられる電熱線パターン91,92の端子91a,91b,92a,92bが配置される端子収納室となる。凹部54と貫通穴52bとの間、凹部55と貫通穴52cとの間には、溝54a,55aがそれぞれ設けられている。溝54a,55aには、後述する電熱線パターン91,92の端子91a,91b,92a,92bまでの延長部分が配置される。
さらに、仕切板52の下面には、凹部54,55から外方向にそれぞれ平行な溝54b,54b、及び溝55b,55bが形成され、枠体53の下面には、溝54b,54b,55b,55bの延長上にそれぞれ平行な溝54c,54c、及び溝55c,55cが形成されている。これらの溝54b,54c,55b,55cには、後述するように、それぞれリード線95a,95b,96a,96bが配置される。リード線95a,95b,96a,96bはそれぞれ端子収納室に配置された電熱線パターン91,92の端子91a,91b,92a,92bと接続される。
Further, on the lower surface of the partition plate 52, concave portions 54 and 55 are formed at the right front corner portion and the rear end portion. As will be described later, the recesses 54 and 55 serve as terminal storage chambers in which the terminals 91a, 91b, 92a, and 92b of the heating wire patterns 91 and 92 provided on the fourth substrate 60 are disposed. Grooves 54a and 55a are provided between the recess 54 and the through hole 52b and between the recess 55 and the through hole 52c, respectively. In the grooves 54a and 55a, extended portions to terminals 91a, 91b, 92a and 92b of heating wire patterns 91 and 92 which will be described later are arranged.
Further, grooves 54b and 54b and grooves 55b and 55b that are parallel to the outer sides of the recesses 54 and 55, respectively, are formed on the lower surface of the partition plate 52, and grooves 54b, 54b, 55b, On the extension of 55b, parallel grooves 54c and 54c and grooves 55c and 55c are formed, respectively. In these grooves 54b, 54c, 55b, and 55c, lead wires 95a, 95b, 96a, and 96b are disposed, respectively, as will be described later. The lead wires 95a, 95b, 96a, 96b are connected to the terminals 91a, 91b, 92a, 92b of the heating wire patterns 91, 92 disposed in the terminal storage chamber, respectively.

〔第四基板〕
図10は、本実施形態における第四基板60の上面図、図11は第四基板60の下面図である。
第四基板60は、図10〜図11に示すように、ヒーター板62と、ヒーター板62の外側に設けられた矩形状の枠体63とからなる。ヒーター板62と枠体63とは、前側で一体に形成されている。ヒーター板62と枠体63との接続部には、前端より6個の切欠部(左から61a,61b,61c,61d,61e,61f)が設けられている。
[Fourth substrate]
FIG. 10 is a top view of the fourth substrate 60 in the present embodiment, and FIG. 11 is a bottom view of the fourth substrate 60.
As shown in FIGS. 10 to 11, the fourth substrate 60 includes a heater plate 62 and a rectangular frame 63 provided outside the heater plate 62. The heater plate 62 and the frame 63 are integrally formed on the front side. The connecting portion between the heater plate 62 and the frame 63 is provided with six notches (61a, 61b, 61c, 61d, 61e, 61f from the left) from the front end.

ヒーター板62の中央部には、スリット19aを形成する開口62aが設けられている。また、開口62aよりも前側には、第四基板60の上に第三基板50を重ねたときに溝52gと重なる位置に貫通孔62bが、溝52hの貫通穴52cと反対側の端部と重なる位置に貫通孔62cが設けられている。ヒーター板62と枠体63との隙間63aは断熱室19を形成する。枠体63には、左後角部、右後角部に三角形状の角落部60b,60cが形成されている。   At the center of the heater plate 62, an opening 62a for forming the slit 19a is provided. Further, on the front side of the opening 62a, a through hole 62b is formed at a position overlapping the groove 52g when the third substrate 50 is overlaid on the fourth substrate 60, and an end of the groove 52h opposite to the through hole 52c. A through hole 62c is provided at the overlapping position. A gap 63 a between the heater plate 62 and the frame 63 forms the heat insulation chamber 19. The frame 63 is formed with triangular corners 60b and 60c at the left rear corner and the right rear corner.

第四基板60の上面には、第三基板50の貫通穴52b,52c及び溝54a,55aと対応する位置に、低温ヒーター16となる電熱線パターン91、高温ヒーター17となる電熱線パターン92が設けられ、凹部54,55と対応する位置に電熱線パターン91,92の端子91a,91b,92a,92bが設けられている。電熱線パターン91,92は例えばスパッタ法により形成した金属薄膜をフォトリソグラフィー、エッチング等によりパターニングすることで形成される。   On the upper surface of the fourth substrate 60, a heating wire pattern 91 that becomes the low temperature heater 16 and a heating wire pattern 92 that becomes the high temperature heater 17 are located at positions corresponding to the through holes 52b, 52c and the grooves 54a, 55a of the third substrate 50. The terminals 91a, 91b, 92a, 92b of the heating wire patterns 91, 92 are provided at positions corresponding to the recesses 54, 55. The heating wire patterns 91 and 92 are formed, for example, by patterning a metal thin film formed by sputtering using photolithography, etching, or the like.

また、第四基板60の上面には、第三基板50の貫通穴52b,52c、溝54a,55a、及び凹部54,55と対応する位置を除き、全面に第二基板40,第三基板50と同様に、緩衝膜(図示せず)及び陽極接合膜64が形成される(図12参照)。なお、電熱線パターン91,92の一部に緩衝膜や陽極接合膜64と同じ金属薄膜を用いてもよいが、陽極接合膜64と電熱線パターン91,92とが導通しないようにする。   Further, on the upper surface of the fourth substrate 60, the second substrate 40 and the third substrate 50 are formed on the entire surface except positions corresponding to the through holes 52 b and 52 c, the grooves 54 a and 55 a, and the recesses 54 and 55 of the third substrate 50. Similarly to the above, a buffer film (not shown) and an anodic bonding film 64 are formed (see FIG. 12). Note that the same metal thin film as the buffer film or the anodic bonding film 64 may be used for part of the heating wire patterns 91 and 92, but the anodic bonding film 64 and the heating wire patterns 91 and 92 are not electrically connected.

さらに、第四基板60の上面には、第三基板50の貫通穴52b,52c、溝54a,55a、溝52g,52h、溝54b〜54e,55b〜55e、凹部54,55と対応する位置に、電熱線パターン91,92及び陽極接合膜64を被覆するように、かつ端子91a,91b,92a,92bを露出させるように、絶縁膜94が形成される(図13参照)。端子91a,91b,92a,92bの露出部、及び溝54b〜54e,55b〜55eと対応する位置の絶縁膜94の上部には、リード線95a,95b,96a,96bが配置され、端子91a,91b,92a,92bとリード線95a,95b,96a,96bとが接続される。リード線95a,95b,96a,96bとしては、例えば熱膨張係数が低融点ガラス封着剤に近いコバール線を用いることができる。また、鉄ニッケル合金線、または鉄ニッケル合金の心材を銅層で被覆したジュメット線を用いることもできる。なお、リード線95a,95b,96a,96bは絶縁膜94により陽極接合膜64と絶縁される。   Further, on the upper surface of the fourth substrate 60, the through holes 52 b and 52 c, the grooves 54 a and 55 a, the grooves 52 g and 52 h, the grooves 54 b to 54 e, 55 b to 55 e, and the recesses 54 and 55 are formed in the third substrate 50. Then, an insulating film 94 is formed so as to cover the heating wire patterns 91 and 92 and the anode bonding film 64 and to expose the terminals 91a, 91b, 92a and 92b (see FIG. 13). Lead wires 95a, 95b, 96a, and 96b are disposed on the exposed portions of the terminals 91a, 91b, 92a, and 92b and on the insulating film 94 at positions corresponding to the grooves 54b to 54e and 55b to 55e. 91b, 92a, 92b and lead wires 95a, 95b, 96a, 96b are connected. As the lead wires 95a, 95b, 96a, 96b, for example, Kovar wires having a thermal expansion coefficient close to that of the low-melting glass sealing agent can be used. Further, an iron-nickel alloy wire or a dumet wire in which a core material of iron-nickel alloy is covered with a copper layer can also be used. The lead wires 95a, 95b, 96a, and 96b are insulated from the anodic bonding film 64 by the insulating film 94.

ここで、第四基板60の上面に、陽極接合膜64、電熱線パターン91,92、絶縁膜94を形成し、リード線95a,95b,96a,96bを接続する手順について図12〜図14を用いて説明する。なお、図12〜図14は、本実施形態における第四基板60を右斜め上前方から見た斜視図である。   Here, the anodic bonding film 64, the heating wire patterns 91 and 92 and the insulating film 94 are formed on the upper surface of the fourth substrate 60, and the procedure for connecting the lead wires 95a, 95b, 96a and 96b is shown in FIGS. It explains using. FIGS. 12 to 14 are perspective views of the fourth substrate 60 in the present embodiment as seen from the upper right front side.

まず、図12に示すように、第四基板60の上面に緩衝膜(図示せず)、陽極接合膜64及び電熱線パターン91,92を形成する。次に、図13に示すように、端子91a,91b,92a,92bを除き電熱線パターン91,92を被覆するように、またリード線95a,95b,96a,96bが配置される位置の陽極接合膜64を被覆するように絶縁膜94を形成する。その後、リード線95a,95b,96a,96bを配置し、端子91a,91b,92a,92bと接続する。   First, as shown in FIG. 12, a buffer film (not shown), an anode bonding film 64, and heating wire patterns 91 and 92 are formed on the upper surface of the fourth substrate 60. Next, as shown in FIG. 13, anodic bonding at positions where lead wires 95a, 95b, 96a, and 96b are disposed so as to cover heating wire patterns 91 and 92 except for terminals 91a, 91b, 92a, and 92b. An insulating film 94 is formed so as to cover the film 64. Thereafter, lead wires 95a, 95b, 96a, 96b are arranged and connected to the terminals 91a, 91b, 92a, 92b.

第四基板60の下面には、図11に示すように、開口62aよりも後側に溝62dが形成されている。溝62dは下部を第五基板70に塞がれて燃焼流路22b(燃焼器15)となる。
また、第四基板60の下面には、切欠部61a及び切欠き部61bとを接続するとともに、隙間63aに沿って貫通穴62b及び開口62aの左側を通り溝62dの左側端部まで溝62eが延設され、切欠部61eから隙間62aに沿って貫通穴62c及び開口62aの右側を通り溝62dの右側端部まで溝62fが延設されている。溝62eは下部を第五基板70に塞がれて燃焼燃料混合流路22aとなり、溝62fは下部を第五基板70に塞がれて排ガス流路22cとなる。
さらに、切欠部61cから溝62eの右側に沿って貫通孔62bまで溝62gが延設され、切欠部61dから溝62fの左側に沿って貫通孔62cまで溝62hが延設されている。溝62gは下部を第五基板70に塞がれて空気供給流路25となり、溝62hは下部を第五基板70に塞がれて改質燃料供給流路23aとなる。空気供給流路25は貫通孔62bにより空気混合流路26と接続される。また、改質燃料供給流路23aは貫通孔62cにより導入流路23bと接続される。
As shown in FIG. 11, a groove 62d is formed on the lower surface of the fourth substrate 60 behind the opening 62a. The lower part of the groove 62d is closed by the fifth substrate 70 to form the combustion flow path 22b (combustor 15).
Further, the lower surface of the fourth substrate 60 is connected to the notch 61a and the notch 61b, and a groove 62e is formed along the gap 63a through the left side of the through hole 62b and the opening 62a to the left end of the groove 62d. A groove 62f extends from the notch 61e along the gap 62a to the right end of the groove 62d through the right side of the through hole 62c and the opening 62a. The lower part of the groove 62e is closed by the fifth substrate 70 and becomes the combustion fuel mixing flow path 22a, and the lower part of the groove 62f is closed by the fifth board 70 and becomes the exhaust gas flow path 22c.
Further, a groove 62g extends from the notch 61c to the through hole 62b along the right side of the groove 62e, and a groove 62h extends from the notch 61d to the through hole 62c along the left side of the groove 62f. The lower part of the groove 62g is closed by the fifth substrate 70 and becomes the air supply flow path 25, and the lower part of the groove 62h is closed by the fifth substrate 70 and becomes the reformed fuel supply flow path 23a. The air supply channel 25 is connected to the air mixing channel 26 through the through hole 62b. The reformed fuel supply channel 23a is connected to the introduction channel 23b through the through hole 62c.

〔第五基板〕
図15は、本実施形態における第五基板70の上面図である。第五基板70は、図15に示すように、底板72と、底板72の外側に設けられた矩形状の枠体73とからなる。底板72と枠体73とは、前側で一体に形成されている。底板72の中央部には、スリット19aを形成する開口72aが設けられている。また、底板72と枠体73との隙間73aは断熱室19を形成する。枠体73には、左後角部に三角形状の角落部70bが形成されている。第五基板70の上面には、第二基板40,第三基板50,第四基板60と同様に、第四基板60の貫通穴62b,62c、溝62d,62e,62f,62g,62hと対応する位置を除き、全面に緩衝膜(図示せず)及び陽極接合膜74(図4参照)が形成される。
[Fifth substrate]
FIG. 15 is a top view of the fifth substrate 70 in the present embodiment. As shown in FIG. 15, the fifth substrate 70 includes a bottom plate 72 and a rectangular frame 73 provided outside the bottom plate 72. The bottom plate 72 and the frame body 73 are integrally formed on the front side. At the center of the bottom plate 72, an opening 72a for forming the slit 19a is provided. Further, the gap 73 a between the bottom plate 72 and the frame body 73 forms the heat insulation chamber 19. The frame body 73 is formed with a triangular chamfer 70b at the left rear corner. Similar to the second substrate 40, the third substrate 50, and the fourth substrate 60, the upper surface of the fifth substrate 70 corresponds to the through holes 62b and 62c and the grooves 62d, 62e, 62f, 62g, and 62h of the fourth substrate 60. A buffer film (not shown) and an anodic bonding film 74 (see FIG. 4) are formed on the entire surface except for the positions where they are formed.

〔第六基板〕
図16は、本実施形態における第六基板80の上面図である。第六基板80は矩形板状であり、図16に示すように、上面の外周部に突起状の枠部81が設けられており、枠部81の内側が凹部82となっている。凹部82は断熱室19の一部を形成する。枠部81の上面には、緩衝膜(図示せず)及び陽極接合膜84(図4参照)が第二基板40,第三基板50,第四基板60,第五基板70と同様に形成される。また、この凹部82の内面に上記の赤外線反射膜(図示せず)を設けるようにしてもよい。
[Sixth substrate]
FIG. 16 is a top view of the sixth substrate 80 in the present embodiment. The sixth substrate 80 has a rectangular plate shape, and as shown in FIG. 16, a protruding frame portion 81 is provided on the outer peripheral portion of the upper surface, and a concave portion 82 is formed inside the frame portion 81. The recess 82 forms a part of the heat insulation chamber 19. A buffer film (not shown) and an anodic bonding film 84 (see FIG. 4) are formed on the upper surface of the frame portion 81 in the same manner as the second substrate 40, the third substrate 50, the fourth substrate 60, and the fifth substrate 70. The In addition, the infrared reflection film (not shown) may be provided on the inner surface of the recess 82.

〔基板の接合手順〕
次に、基板30〜80の接合手順について説明する。図17は、本実施形態における第三基板50と第四基板60との接合手順を示す斜視図であり、図18は、第二基板40と第三基板50との接合手順を示す斜視図であり、図19は、第四基板60と第五基板70との接合手順を示す斜視図であり、図20は、第五基板70と第六基板80との接合手順を示す斜視図であり、図21は、第一基板30と第二基板40との接合手順を示す斜視図である。
(1)第三基板と第四基板との接合
まず、図17に示すように、リード線95a,95b,96a,96bが接続された第四基板60の上に、リード線95a,95b,96a,96bがそれぞれ溝54b,54b、55b,55bの位置に配置されるように第三基板50を重ね合わせる。そして、第三基板50の上面に陰極97を接触させるとともに、第三基板50と接触しないように角落部50aに陽極98を配置し、第四基板60の左前角部の上面に陽極98を接触させる。次いで、所定の温度まで加熱した状態で、両電極間に高電圧を印加し、両基板50,60を陽極接合する。接合雰囲気としては、接合中に第三基板50に形成された金属膜面が酸化されるのを防止するために、不活性ガス雰囲気または真空中で接合することが好ましい。
その後、低融点ガラス封着剤によりリード線95a,95b,96a,96bと溝54b,54b、55b,55bとの隙間を封止する。
[Board bonding procedure]
Next, a procedure for joining the substrates 30 to 80 will be described. FIG. 17 is a perspective view showing a joining procedure between the third substrate 50 and the fourth substrate 60 in the present embodiment, and FIG. 18 is a perspective view showing a joining procedure between the second substrate 40 and the third substrate 50. FIG. 19 is a perspective view showing a procedure for joining the fourth substrate 60 and the fifth substrate 70, and FIG. 20 is a perspective view showing a procedure for joining the fifth substrate 70 and the sixth substrate 80. FIG. 21 is a perspective view showing a joining procedure between the first substrate 30 and the second substrate 40.
(1) Bonding of Third Substrate and Fourth Substrate First, as shown in FIG. 17, the lead wires 95a, 95b, 96a are formed on the fourth substrate 60 to which the lead wires 95a, 95b, 96a, 96b are connected. , 96b are overlaid on the third substrate 50 so that they are arranged at the positions of the grooves 54b, 54b, 55b, 55b, respectively. Then, the cathode 97 is brought into contact with the upper surface of the third substrate 50, the anode 98 is disposed on the corner drop portion 50 a so as not to contact the third substrate 50, and the anode 98 is brought into contact with the upper surface of the left front corner portion of the fourth substrate 60. Let Next, in the state heated to a predetermined temperature, a high voltage is applied between both electrodes, and both substrates 50 and 60 are anodic bonded. The bonding atmosphere is preferably bonded in an inert gas atmosphere or in vacuum in order to prevent the metal film surface formed on the third substrate 50 from being oxidized during bonding.
Thereafter, the gaps between the lead wires 95a, 95b, 96a, 96b and the grooves 54b, 54b, 55b, 55b are sealed with a low melting point glass sealant.

次いで、両基板50,60の燃焼流路22b、改質流路24、一酸化炭素除去流路27となる部分の内壁面に、触媒の密着層としてのアルミナゾルを塗布した上に、それぞれ、燃焼触媒65、改質触媒56、一酸化炭素選択酸化触媒57を、ウォッシュコート法等により形成する(図4参照)。   Next, alumina sol as an adhesion layer of the catalyst is applied to the inner wall surfaces of the portions to be the combustion flow path 22b, the reforming flow path 24, and the carbon monoxide removal flow path 27 of both the substrates 50 and 60, and then the combustion is performed. A catalyst 65, a reforming catalyst 56, and a carbon monoxide selective oxidation catalyst 57 are formed by a wash coat method or the like (see FIG. 4).

(2)第二基板と第三基板との接合
次に、図18に示すように、第三基板50と第四基板60の接合体の上に第二基板40を配置し、第二基板40の上面に陰極97を接触させるとともに、第二基板40と接触しないように角落部40fに陽極98を配置し、第三基板50の左前角部の上面に陽極98を接触させる。そして、両電極間に高電圧を印加し、第二基板40と第三基板50とを陽極接合する。接合雰囲気としては、接合中に第二基板40に形成された金属膜面が酸化されるのを防止するために、不活性ガス雰囲気または真空中で接合することが好ましい。
(2) Bonding of Second Substrate and Third Substrate Next, as shown in FIG. 18, the second substrate 40 is disposed on the joined body of the third substrate 50 and the fourth substrate 60, and the second substrate 40. The anode 97 is brought into contact with the upper surface of the first substrate, the anode 98 is disposed on the corner drop portion 40f so as not to contact the second substrate 40, and the anode 98 is brought into contact with the upper surface of the left front corner portion of the third substrate 50. Then, a high voltage is applied between both electrodes, and the second substrate 40 and the third substrate 50 are anodically bonded. The bonding atmosphere is preferably bonded in an inert gas atmosphere or in vacuum in order to prevent the metal film surface formed on the second substrate 40 from being oxidized during bonding.

(3)第四基板と第五基板との接合
次に、図19に示すように、第五基板70の上に第二基板40、第三基板50、第四基板60の接合体を配置し、第二基板40、第三基板50と接触しないように角落部40a,50aに陰極97を配置し、第三基板50の左前角部の上面に接触させるとともに、第二基板40、第三基板50、第四基板60と接触しないように角落部40c,50c,60cに陽極98を配置し、第五基板70の右後角部の上面に陽極98を接触させる。そして、所定の温度まで加熱した状態で、両電極間に高電圧を印加し、第四基板60と第五基板70とを陽極接合する。接合雰囲気としては、接合中に第二基板40に形成された金属膜面が酸化されるのを防止するために、不活性ガス雰囲気または真空中で接合することが好ましい。
(3) Joining of Fourth Substrate and Fifth Substrate Next, as shown in FIG. 19, a joined body of the second substrate 40, the third substrate 50, and the fourth substrate 60 is disposed on the fifth substrate 70. The cathode 97 is disposed at the corners 40a and 50a so as not to contact the second substrate 40 and the third substrate 50, and is brought into contact with the upper surface of the left front corner of the third substrate 50. 50. An anode 98 is disposed on the corners 40c, 50c, 60c so as not to contact the fourth substrate 60, and the anode 98 is brought into contact with the upper surface of the right rear corner of the fifth substrate 70. And in the state heated to predetermined temperature, a high voltage is applied between both electrodes, and the 4th board | substrate 60 and the 5th board | substrate 70 are anodically bonded. The bonding atmosphere is preferably bonded in an inert gas atmosphere or in vacuum in order to prevent the metal film surface formed on the second substrate 40 from being oxidized during bonding.

(4)第五基板と第六基板との接合
次に、図20に示すように、第六基板80の上に第二基板40、第三基板50、第四基板60,第五基板70の接合体を配置し、第二基板40、第三基板50、第四基板60と接触しないように角落部40c,50c,60cに陰極97を配置し、第三基板50の左前角部の上面に接触させるとともに、第二基板40、第三基板50、第四基板60と接触しないように角落部40b,50b,60b,70bに陽極98を配置し、第六基板80の左後角部の上面に陽極98を接触させる。そして、所定の温度まで加熱した状態で、両電極間に高電圧を印加し、第五基板70と第六基板80とを陽極接合する。接合雰囲気としては、接合中に第二基板40に形成された金属膜面が酸化されるのを防止するために、不活性ガス雰囲気または真空中で接合することが好ましい。
(4) Joining of the fifth substrate and the sixth substrate Next, as shown in FIG. 20, the second substrate 40, the third substrate 50, the fourth substrate 60, and the fifth substrate 70 are placed on the sixth substrate 80. The joined body is disposed, and the cathode 97 is disposed on the corner drop portions 40c, 50c, 60c so as not to contact the second substrate 40, the third substrate 50, and the fourth substrate 60, and on the upper surface of the left front corner portion of the third substrate 50. An anode 98 is disposed on the corners 40b, 50b, 60b, 70b so as not to contact the second substrate 40, the third substrate 50, and the fourth substrate 60, and the upper surface of the left rear corner of the sixth substrate 80. Anode 98 is brought into contact with And in the state heated to predetermined temperature, a high voltage is applied between both electrodes, and the 5th board | substrate 70 and the 6th board | substrate 80 are anodically bonded. The bonding atmosphere is preferably bonded in an inert gas atmosphere or in vacuum in order to prevent the metal film surface formed on the second substrate 40 from being oxidized during bonding.

(5)第一基板と第二基板との接合
次に、図21に示すように、第二基板40、第三基板50、第四基板60,第五基板70,第六基板80の接合体の上に第一基板30を配置し、第一基板30の上面に陰極97を接触させるとともに、第一基板30と接触しないように角落部30dに陽極98を配置し、第二基板40の右前角部の上面に陽極98を接触させる。そして、所定の温度まで加熱した状態で、両電極間に高電圧を印加し、第一基板30と第二基板40とを陽極接合する。接合雰囲気としては、不活性ガス雰囲気または真空中で接合することが好ましい。
以上により、第一基板30、第二基板40、第三基板50、第四基板60,第五基板70,第六基板80を接合した反応装置10を形成することができる。ここで、第一基板30〜第六基板80を真空中で陽極接合して接合するようにした場合、第一基板30〜第六基板80の接合と同時に断熱室19及びスリット19a内を真空圧とすることができる。従って、第一基板30〜第六基板80の接合と断熱室19及びスリット19a内の排気とを別々に行う手間を省くことができて、反応装置10の製造工程を削減するとともに、製造を容易化することができる。
(5) Bonding of First Substrate and Second Substrate Next, as shown in FIG. 21, a joined body of a second substrate 40, a third substrate 50, a fourth substrate 60, a fifth substrate 70, and a sixth substrate 80. The first substrate 30 is disposed on the upper surface, the cathode 97 is brought into contact with the upper surface of the first substrate 30, and the anode 98 is disposed at the corner drop portion 30 d so as not to contact the first substrate 30. The anode 98 is brought into contact with the upper surface of the corner. And in the state heated to predetermined temperature, a high voltage is applied between both electrodes, and the 1st board | substrate 30 and the 2nd board | substrate 40 are anodically bonded. The bonding atmosphere is preferably bonded in an inert gas atmosphere or in a vacuum.
By the above, the reaction apparatus 10 which joined the 1st board | substrate 30, the 2nd board | substrate 40, the 3rd board | substrate 50, the 4th board | substrate 60, the 5th board | substrate 70, and the 6th board | substrate 80 can be formed. Here, when the first substrate 30 to the sixth substrate 80 are bonded by anodic bonding in a vacuum, the inside of the heat insulating chamber 19 and the slit 19a is vacuum-pressured simultaneously with the bonding of the first substrate 30 to the sixth substrate 80. It can be. Therefore, it is possible to save the labor of separately joining the first substrate 30 to the sixth substrate 80 and exhausting the heat insulation chamber 19 and the slit 19a, thereby reducing the manufacturing process of the reaction apparatus 10 and facilitating the manufacturing. Can be

<変形例1>
図22,図23は、第1実施形態の変形例として、流路構造を変えたものであり、図22は第三基板50の下面図、図23は第四基板60の下面図である。なお、以下の変形例では、第1実施形態と同様のものについては同じ符号を付して説明を割愛する。
変形例1では、図22に示すように、第三基板50に、第1実施形態の葛折り状の貫通穴52bが途中、52d,52eの箇所で分断されている。
<Modification 1>
FIGS. 22 and 23 show a modified flow channel structure as a modification of the first embodiment. FIG. 22 is a bottom view of the third substrate 50, and FIG. 23 is a bottom view of the fourth substrate 60. In the following modification, the same reference numerals are assigned to the same components as those in the first embodiment, and the description thereof is omitted.
In the first modification, as shown in FIG. 22, the fold-like through-hole 52 b of the first embodiment is divided in the third substrate 50 at 52 d and 52 e in the middle.

そして、図23に示すように、第四基板60の下面の、第三基板50の上記分断箇所52d,52eと対応する位置に、貫通孔62i,62jがそれぞれ設けられるとともに、貫通穴62i,62j間を接続する葛折り状の溝62kが設けられている。溝62kは下部を第五基板70により塞がれて、貫通穴62i,62jを介して一酸化炭素除去流路27に連通する一酸化炭素除去流路27b(CO除去器14の一部)となり、空気混合流路26からの混合気体は一酸化炭素除去流路27a,27b,27cをこの順に通過し、排出流路28を経て改質ガスを改質ガス排出口21fより排出する。これにより、反応装置10の外形寸法を変えることなく、CO除去器14における流路の長さを長くすることができる。   Then, as shown in FIG. 23, through holes 62i and 62j are respectively provided at positions corresponding to the above-mentioned dividing locations 52d and 52e of the third substrate 50 on the lower surface of the fourth substrate 60, and the through holes 62i and 62j are provided. A kink-shaped groove 62k that connects the two is provided. The lower part of the groove 62k is closed by the fifth substrate 70, and becomes a carbon monoxide removal channel 27b (a part of the CO remover 14) communicating with the carbon monoxide removal channel 27 through the through holes 62i and 62j. The mixed gas from the air mixing passage 26 passes through the carbon monoxide removal passages 27a, 27b, and 27c in this order, and the reformed gas is discharged from the reformed gas discharge port 21f through the discharge passage 28. Thereby, the length of the flow path in the CO remover 14 can be increased without changing the external dimensions of the reaction apparatus 10.

<変形例2>
第1実施形態では、スリット19aの形状を直方体状としていたが、高温反応部11と、低温反応部12との接続部の長さが充分に保てればこの形状に限らない。例えば、図24に示すように、低温反応部12の後部が凸状になったスリット19b(図24(a))、高温反応部11の前部が凸状になったスリット19c(図24(b))、低温反応部12の後部及び高温反応部11の前部が凸状になったスリット19d(図24(c))としてもよい。このようにすることで、改質流路24や一酸化炭素除去流路27を延長することができ、スペースを有効に活用できるため、反応装置10を小型化することが可能となる。
<Modification 2>
In the first embodiment, the shape of the slit 19a is a rectangular parallelepiped shape, but the shape is not limited to this shape as long as the length of the connecting portion between the high temperature reaction portion 11 and the low temperature reaction portion 12 can be maintained sufficiently. For example, as shown in FIG. 24, the slit 19b (FIG. 24 (a)) in which the rear part of the low-temperature reaction part 12 is convex, and the slit 19c (FIG. b)), the rear part of the low temperature reaction part 12 and the front part of the high temperature reaction part 11 may be formed as a slit 19d (FIG. 24C). By doing so, the reforming flow path 24 and the carbon monoxide removal flow path 27 can be extended, and the space can be used effectively, so the reactor 10 can be downsized.

<第2実施形態>
次に、本発明の第2実施形態について説明する。図25は、第2実施形態の反応装置100を左前斜め下方からみた分解斜視図である。反応装置100は第1実施形態と異なり、前述の断熱容器18とは別に形成され、蓋板142と、仕切板152と、ヒーター板162と、底板172とを順に積層して形成される。なお、流路を形成する溝等については、第1実施形態の蓋板42、仕切板52、ヒーター板62、底板72と同様であるので、同じ符号を付して説明を割愛する。
<Second Embodiment>
Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 25 is an exploded perspective view of the reactor 100 according to the second embodiment as viewed from the lower left front obliquely. Unlike the first embodiment, the reactor 100 is formed separately from the above-described heat insulating container 18, and is formed by sequentially stacking a lid plate 142, a partition plate 152, a heater plate 162, and a bottom plate 172. In addition, about the groove | channel etc. which form a flow path, since it is the same as that of the cover plate 42, the partition plate 52, the heater plate 62, and the bottom plate 72 of 1st Embodiment, the same code | symbol is attached | subjected and description is omitted.

〔蓋板〕
図26は、本実施形態における蓋板142の上面図である。蓋板142の後端部には、左右角部に三角形状の角落部40e、40fが形成されているとともに、中央に切欠部40gが形成されている。
[Cover plate]
FIG. 26 is a top view of the lid plate 142 in the present embodiment. At the rear end of the lid plate 142, triangular corners 40e and 40f are formed at the left and right corners, and a notch 40g is formed at the center.

〔仕切板〕
図27は、本実施形態における仕切板152の上面図、図28は仕切板152の下面図である。仕切板152の後端部には、左右角部に三角形状の角落部50e、50fが形成されている。
仕切板152の上面には、第1実施形態の仕切板52と同様に、緩衝膜及び陽極接合膜(図示せず)が形成される。
(Partition plate)
FIG. 27 is a top view of the partition plate 152 in this embodiment, and FIG. 28 is a bottom view of the partition plate 152. At the rear end of the partition plate 152, triangular corners 50e and 50f are formed at the left and right corners.
A buffer film and an anodic bonding film (not shown) are formed on the upper surface of the partition plate 152 in the same manner as the partition plate 52 of the first embodiment.

〔ヒーター板〕
図29は、本実施形態におけるヒーター板162の上面図、図30はヒーター板162の下面図である。ヒーター板162の後端部には、右角部に三角形状の角落部60fが形成されている。
ヒーター板162の上面には、第1実施形態のヒーター板62と同様に、緩衝膜(図示せず)、陽極接合膜64及び電熱線パターン91,92が形成される。
[Heater plate]
FIG. 29 is a top view of the heater plate 162 in the present embodiment, and FIG. 30 is a bottom view of the heater plate 162. At the rear end portion of the heater plate 162, a triangular drop portion 60f is formed at the right corner.
A buffer film (not shown), an anodic bonding film 64, and heating wire patterns 91 and 92 are formed on the upper surface of the heater plate 162 in the same manner as the heater plate 62 of the first embodiment.

〔底板〕
図31は、本実施形態における底板172の上面図である。底板172の上面には、第1実施形態の底板72と同様に、緩衝膜及び陽極接合膜(図示せず)が形成される。
〔Bottom plate〕
FIG. 31 is a top view of the bottom plate 172 in the present embodiment. A buffer film and an anodic bonding film (not shown) are formed on the upper surface of the bottom plate 172 in the same manner as the bottom plate 72 of the first embodiment.

〔基板の接合手順〕
次に、蓋板142、仕切板152、ヒーター板162、底板172の接合手順について説明する。なお、陽極接合の接合雰囲気としては、不活性ガス雰囲気または真空中で接合することが好ましい。
[Board bonding procedure]
Next, the joining procedure of the cover plate 142, the partition plate 152, the heater plate 162, and the bottom plate 172 will be described. Note that the bonding atmosphere for anodic bonding is preferably bonding in an inert gas atmosphere or in a vacuum.

(1)仕切板とヒーター板との接合
まず、リード線95a,95b,96a,96bが接続されたヒーター板162の上に、リード線95a,95b,96a,96bがそれぞれ溝54b,54b、55b,55bの位置に配置されるように仕切板152を重ね合わせる。そして、仕切板152の上面に陰極97を接触させるとともに、仕切板152と接触しないように角落部50eに陽極98を配置し、ヒーター板162の左後角部の上面に陽極98を接触させる。次いで、所定の温度まで加熱した状態で、両電極間に高電圧を印加し、仕切板152とヒーター板162とを陽極接合する。その後、低融点ガラス封着剤によりリード線95a,95b,96a,96bと溝54b,54b、55b,55bとの隙間を封止する。
(1) Joining of partition plate and heater plate First, on the heater plate 162 to which the lead wires 95a, 95b, 96a, 96b are connected, the lead wires 95a, 95b, 96a, 96b are grooves 54b, 54b, 55b, respectively. , 55b are overlapped so that they are arranged at positions 55b. Then, the cathode 97 is brought into contact with the upper surface of the partition plate 152, the anode 98 is disposed in the corner drop portion 50 e so as not to contact the partition plate 152, and the anode 98 is brought into contact with the upper surface of the left rear corner portion of the heater plate 162. Next, in the state heated to a predetermined temperature, a high voltage is applied between both electrodes, and the partition plate 152 and the heater plate 162 are anodically bonded. Thereafter, the gaps between the lead wires 95a, 95b, 96a, 96b and the grooves 54b, 54b, 55b, 55b are sealed with a low melting point glass sealant.

次いで、両基板50,60の燃焼流路22b、改質流路24、一酸化炭素除去流路27となる部分の内壁面に、触媒の密着層としてのアルミナゾルを塗布した上に、それぞれ、燃焼触媒、改質触媒、一酸化炭素選択酸化触媒を、ウォッシュコート法等により形成する。   Next, alumina sol as an adhesion layer of the catalyst is applied to the inner wall surfaces of the portions to be the combustion flow path 22b, the reforming flow path 24, and the carbon monoxide removal flow path 27 of both the substrates 50 and 60, and then the combustion is performed. A catalyst, a reforming catalyst, and a carbon monoxide selective oxidation catalyst are formed by a wash coat method or the like.

(2)蓋板と仕切板との接合
次に、仕切板152とヒーター板162の接合体の上に蓋板142を配置し、蓋板142の上面に陰極97を接触させるとともに、蓋板142と接触しないように切欠部40gに陽極98を配置し、仕切板152の後端部中央の上面に陽極98を接触させる。そして、所定の温度まで加熱した状態で、両電極間に高電圧を印加し、蓋板142と仕切板152とを陽極接合する。
(2) Joining of lid plate and partition plate Next, the lid plate 142 is disposed on the joined body of the partition plate 152 and the heater plate 162, the cathode 97 is brought into contact with the upper surface of the lid plate 142, and the lid plate 142. The anode 98 is disposed in the notch 40g so as not to contact with the upper surface, and the anode 98 is brought into contact with the upper surface at the center of the rear end of the partition plate 152. And in the state heated to predetermined temperature, a high voltage is applied between both electrodes, and the lid plate 142 and the partition plate 152 are anodically bonded.

(3)ヒーター板と底板との接合
次に、底板172の上に蓋板142、仕切板152、ヒーター板162の接合体を配置し、蓋板142、仕切板152と接触しないように角落部40e,50eに陰極97を配置し、仕切板152の左前角部の上面に接触させるとともに、蓋板142、仕切板152、ヒーター板162と接触しないように角落部40f,50f,60fに陽極98を配置し、底板172の左後角部の上面に陽極98を接触させる。そして、所定の温度まで加熱した状態で、両電極間に高電圧を印加し、ヒーター板162と底板172とを陽極接合する。
(3) Joining of heater plate and bottom plate Next, a joined body of a lid plate 142, a partition plate 152, and a heater plate 162 is disposed on the bottom plate 172, and a corner portion is formed so as not to contact the lid plate 142 and the partition plate 152. The cathode 97 is disposed at 40e and 50e and is brought into contact with the upper surface of the left front corner portion of the partition plate 152, and the anode 98 is disposed on the corner drop portions 40f, 50f and 60f so as not to contact the lid plate 142, the partition plate 152 and the heater plate 162. And the anode 98 is brought into contact with the upper surface of the left rear corner of the bottom plate 172. And in the state heated to predetermined temperature, a high voltage is applied between both electrodes, and the heater plate 162 and the baseplate 172 are anodically bonded.

<変形例3>
図32は、第2実施形態の変形例における反応装置200を左前斜め下方からみた分解斜視図である。反応装置200は蓋板242と、仕切板252と、ヒーター板262と、底板272とを順に積層して形成される。
<Modification 3>
FIG. 32 is an exploded perspective view of the reaction device 200 according to the modification of the second embodiment as viewed from the lower left front obliquely. The reactor 200 is formed by laminating a lid plate 242, a partition plate 252, a heater plate 262, and a bottom plate 272 in order.

図33は、本変形例における断熱容器18に収納された状態の反応装置200を示す斜視図である。変形例3では、反応容器200の前端部に、断熱容器18と接続される入出部210が形成されている。入出部210の前端の外周部は、低融点ガラス封着剤等により断熱容器18と封着される。反応容器200と断熱容器18との隙間が断熱室19となる。   FIG. 33 is a perspective view showing the reaction device 200 in a state of being housed in the heat insulating container 18 according to this modification. In Modification 3, an input / output part 210 connected to the heat insulating container 18 is formed at the front end of the reaction container 200. The outer peripheral portion at the front end of the inlet / outlet portion 210 is sealed to the heat insulating container 18 with a low melting point glass sealing agent or the like. A gap between the reaction container 200 and the heat insulating container 18 becomes a heat insulating chamber 19.

図34は、本変形例における蓋板242の上面図、図35は仕切板252の上面図、図36は仕切板252の下面図、図37はヒーター板262の上面図、図38はヒーター板262の下面図、図39は底板272の上面図である。蓋板242、仕切板252、ヒーター板262、底板272には、それぞれ前端部に接続部244,254,264,274が延設されている。接続部244,254,264,274は積層されて入出部210となる。
なお、それ以外は、第2実施形態の反応容器100と同様であるので、第2実施形態と同様のものについては同じ符号を付して説明を割愛する。
このように、反応容器200の前端部に入出部210を設けることで、断熱容器18と低融点ガラス封着剤等により一体化することができるようにしてもよい。
34 is a top view of the cover plate 242 in this modification, FIG. 35 is a top view of the partition plate 252, FIG. 36 is a bottom view of the partition plate 252, FIG. 37 is a top view of the heater plate 262, and FIG. FIG. 39 is a top view of the bottom plate 272. FIG. Connection portions 244, 254, 264, and 274 are provided at the front end portions of the lid plate 242, the partition plate 252, the heater plate 262, and the bottom plate 272, respectively. The connecting portions 244, 254, 264, and 274 are stacked to form the input / output portion 210.
In addition, since it is the same as that of the reaction container 100 of 2nd Embodiment other than that, the same code | symbol is attached | subjected about the thing similar to 2nd Embodiment, and description is omitted.
Thus, by providing the inlet / outlet part 210 at the front end of the reaction container 200, the heat insulating container 18 may be integrated with the low melting point glass sealing agent or the like.

本発明における反応装置が用いられる発電装置のブロック図である。It is a block diagram of the electric power generating apparatus with which the reaction apparatus in this invention is used. 第1実施形態の反応装置の斜視図である。It is a perspective view of the reaction device of a 1st embodiment. 第1実施形態の反応装置の分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the reaction apparatus of 1st Embodiment. 第1実施形態の反応装置のI−I線に沿った矢視断面図である。It is arrow sectional drawing along the II line of the reactor of 1st Embodiment. 第1実施形態における第一基板の上面図である。It is a top view of the 1st substrate in a 1st embodiment. 第1実施形態における第二基板の上面図である。It is a top view of the 2nd board | substrate in 1st Embodiment. 第1実施形態における第三基板の上面図である。It is a top view of the 3rd board in a 1st embodiment. 第1実施形態における第三基板の下面図である。It is a bottom view of the 3rd board in a 1st embodiment. 第1実施形態における第三基板を左斜め下後方から見た斜視図である。It is the perspective view which looked at the 3rd board | substrate in 1st Embodiment from diagonally left lower back. 第1実施形態における第四基板の上面図である。It is a top view of the 4th substrate in a 1st embodiment. 第1実施形態における第四基板の下面図である。It is a bottom view of the 4th substrate in a 1st embodiment. 第1実施形態における第四基板を右斜め上前方から見た斜視図である。It is the perspective view which looked at the 4th board | substrate in 1st Embodiment from diagonally upper right front. 第1実施形態における第四基板を右斜め上前方から見た斜視図である。It is the perspective view which looked at the 4th board | substrate in 1st Embodiment from diagonally upper right front. 第1実施形態における第四基板を右斜め上前方から見た斜視図である。It is the perspective view which looked at the 4th board | substrate in 1st Embodiment from diagonally upper right front. 第1実施形態における第五基板の上面図である。It is a top view of the 5th board in a 1st embodiment. 第1実施形態における第六基板の上面図である。It is a top view of the 6th substrate in a 1st embodiment. 第1実施形態における第三基板と第四基板との接合手順を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the joining procedure of the 3rd board | substrate and 4th board | substrate in 1st Embodiment. 第1実施形態における第二基板と第三基板との接合手順を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the joining procedure of the 2nd board | substrate and 3rd board | substrate in 1st Embodiment. 第1実施形態における第四基板と第五基板との接合手順を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the joining procedure of the 4th board | substrate and 5th board | substrate in 1st Embodiment. 第1実施形態における第五基板と第六基板との接合手順を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the joining procedure of the 5th board | substrate and 6th board | substrate in 1st Embodiment. 第1実施形態における第一基板と第二基板との接合手順を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the joining procedure of the 1st board | substrate and 2nd board | substrate in 1st Embodiment. 第1実施形態の変形例における第三基板の下面図である。It is a bottom view of the 3rd substrate in the modification of a 1st embodiment. 第1実施形態の変形例における第四基板の下面図である。It is a bottom view of the 4th substrate in the modification of a 1st embodiment. 第1実施形態におけるスリットの他の形状を示す平面図である。It is a top view which shows the other shape of the slit in 1st Embodiment. 第2実施形態の反応装置を左前斜め下方からみた分解斜視図である。It is the disassembled perspective view which looked at the reactor of 2nd Embodiment from the left front diagonally downward. 第2実施形態における蓋板の上面図である。It is a top view of the cover board in 2nd Embodiment. 第2実施形態における仕切板の上面図である。It is a top view of the partition plate in 2nd Embodiment. 第2実施形態における仕切板の下面図である。It is a bottom view of the partition plate in 2nd Embodiment. 第2実施形態におけるヒーター板の上面図である。It is a top view of the heater plate in 2nd Embodiment. 第2実施形態におけるヒーター板の下面図である。It is a bottom view of the heater plate in 2nd Embodiment. 第2実施形態における底板の上面図である。It is a top view of the baseplate in 2nd Embodiment. 第2実施形態の変形例における反応装置を左前斜め下方からみた分解斜視図である。It is the disassembled perspective view which looked at the reaction apparatus in the modification of 2nd Embodiment from the left front diagonally downward. 第2実施形態の変形例における反応装置の断熱容器に収納された状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the state accommodated in the heat insulation container of the reaction apparatus in the modification of 2nd Embodiment. 第2実施形態の変形例における蓋板の上面図である。It is a top view of the cover board in the modification of 2nd Embodiment. 第2実施形態の変形例における仕切板の上面図である。It is a top view of the partition plate in the modification of 2nd Embodiment. 第2実施形態の変形例における仕切板の下面図である。It is a bottom view of the partition plate in the modification of 2nd Embodiment. 第2実施形態の変形例におけるヒーター板の上面図である。It is a top view of the heater plate in the modification of 2nd Embodiment. 第2実施形態の変形例におけるヒーター板の下面図である。It is a bottom view of a heater plate in a modification of the second embodiment. 第2実施形態の変形例における底板の上面図である。It is a top view of the baseplate in the modification of 2nd Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

11 高温反応部(反応容器)
12 低温反応部(反応容器)
100,200 反応容器
42,142,242 蓋板
52,152,252 仕切板
56 改質触媒(反応触媒)
57 一酸化炭素選択酸化触媒(反応触媒)
62,162,262 ヒーター板
72,172,272 底板
91,92 電熱線パターン
94 絶縁膜
11 High temperature reaction part (reaction vessel)
12 Low temperature reaction part (reaction vessel)
100, 200 Reaction vessel 42, 142, 242 Lid plate 52, 152, 252 Partition plate 56 Reforming catalyst (reaction catalyst)
57 Carbon monoxide selective oxidation catalyst (reaction catalyst)
62, 162, 262 Heater plate 72, 172, 272 Bottom plate 91, 92 Heating wire pattern 94 Insulating film

Claims (8)

反応物の反応を起こす反応容器を備える反応装置において、
前記反応容器は、
一方の面に薄膜ヒーターによる電熱線パターンが形成されたヒーター板と、
前記ヒーター板の前記電熱線パターンが形成された側に、前記ヒーター板と平行に配置される蓋板と、
前記ヒーター板と前記蓋板との間に設けられ、少なくとも前記電熱線パターンに沿った開口部を有して、前記ヒーター板と前記蓋板との間の空間を仕切るように配置される仕切板と、
前記開口部内に対応する前記ヒーター板の前記一方の面上に、前記電熱線パターンを被覆するように形成された絶縁膜と、
を具備し、
前記開口部は前記仕切板の両外面に連通して開口し、
密閉空間を形成する凹部を有する一対の上基板および下基板を有し、少なくとも前記蓋板、前記仕切板、及び前記ヒーター板を含む複数の基板が前記上基板および下基板の間に接合層を介して積層して設けられ、前記複数の基板の各々は前記密閉空間に連通するスリット部を有し、前記密閉空間及び前記スリット部を介して、前記反応容器と該反応容器を内部に収容する包囲部が一体に形成され、該包囲部及び前記上基板および前記下基板で内部が減圧された断熱容器をなし、
前記複数の基板を積層して、前記反応容器の前記反応物が供給される供給口及び前記反応容器の生成物が排出される排出口が形成され、
前記反応容器を前記断熱容器内で保持する接続部を前記反応容器の端部一箇所に有し、
前記接続部は前記供給口及び前記排出口を有することを特徴とする反応装置。
In a reactor equipped with a reaction vessel that causes reaction of reactants,
The reaction vessel is
A heater plate having a heating wire pattern formed by a thin film heater on one surface;
On the side of the heater plate where the heating wire pattern is formed, a lid plate arranged in parallel with the heater plate,
A partition plate provided between the heater plate and the lid plate, having at least an opening along the heating wire pattern, and arranged to partition the space between the heater plate and the lid plate When,
On the one surface of the heater plate corresponding to the opening, an insulating film formed so as to cover the heating wire pattern;
Equipped with,
The opening is open to communicate with both outer surfaces of the partition plate;
A plurality of substrates including at least the lid plate, the partition plate, and the heater plate having a bonding layer between the upper substrate and the lower substrate. Each of the plurality of substrates has a slit portion that communicates with the sealed space, and accommodates the reaction vessel and the reaction vessel inside the sealed space and the slit portion. The surrounding portion is integrally formed, and the surrounding portion and the upper substrate and the lower substrate form a heat insulating container whose inside is decompressed,
Laminating the plurality of substrates, a supply port for supplying the reactant in the reaction vessel and a discharge port for discharging the product in the reaction vessel are formed,
Having a connection part for holding the reaction container in the heat insulating container at one end of the reaction container,
The said connection part has the said supply port and the said discharge port, The reaction apparatus characterized by the above-mentioned .
前記開口部内に対応する前記ヒーター板の少なくとも前記絶縁膜上に、前記反応物の反応を促進する反応触媒が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の反応装置。   The reaction apparatus according to claim 1, wherein a reaction catalyst that promotes the reaction of the reactant is provided on at least the insulating film of the heater plate corresponding to the opening. 前記反応容器は前記反応物を改質する改質器であり、前記触媒は改質反応を促進する改質触媒であることを特徴とする請求項2に記載の反応装置。   The reaction apparatus according to claim 2, wherein the reaction vessel is a reformer that reforms the reactant, and the catalyst is a reforming catalyst that promotes a reforming reaction. 前記反応容器は前記反応物に含まれる一酸化炭素を除去する一酸化炭素除去器であり、前記触媒は一酸化炭素の酸化を促進する一酸化炭素除去触媒であることを特徴とする請求
項2に記載の反応装置。
3. The reaction vessel is a carbon monoxide remover that removes carbon monoxide contained in the reactant, and the catalyst is a carbon monoxide removal catalyst that promotes the oxidation of carbon monoxide. A reactor according to 1.
前記ヒーター板の前記電熱線パターンが形成された面と反対側の他方の面には凹部が形成されるとともに、前記凹部を塞ぐ底板が設けられ、前記凹部内の、少なくとも前記電熱線パターンと対向する面に、外部から供給される燃料を燃焼させる燃焼触媒が設けられることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の反応装置。   A recess is formed on the other surface of the heater plate opposite to the surface on which the heating wire pattern is formed, and a bottom plate for closing the recess is provided, and at least the heating wire pattern in the recess is opposed to the heating plate. The reaction apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein a combustion catalyst for combusting fuel supplied from the outside is provided on the surface to be operated. 前記凹部は前記開口部に対応して形成されていることを特徴とする請求項5に記載の反応装置。   The reaction apparatus according to claim 5, wherein the recess is formed corresponding to the opening. 前記反応装置は、
第1の温度に設定され、前記反応物の反応を起こす第1の反応部と、
前記第1の温度より低い第2の温度に設定され、前記反応物の反応を起こす第2の反応部とを備え、
前記第1の反応部及び第2の反応部の少なくとも一方は、前記反応容器を備えることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の反応装置。
The reactor is
A first reaction section set at a first temperature and causing the reaction of the reactants;
A second reaction part set to a second temperature lower than the first temperature and causing the reaction of the reactant,
The reaction apparatus according to any one of claims 1 to 6 , wherein at least one of the first reaction unit and the second reaction unit includes the reaction vessel.
前記第1の反応部に供給された第1の反応物から第1の生成物が生成され、
前記第2の反応部に前記第1の生成物が供給され、該第1の生成物から第2の生成物が生成され、
前記第1の反応物は水と炭化水素系の液体燃料が気化された混合気であって、前記第1の反応部は、前記第1の反応物の改質反応を起こす改質器であり、前記第1の生成物には水素及び一酸化炭素が含まれ、
前記第2の反応部は、前記第1の生成物に含まれる一酸化炭素を除去する一酸化炭素除去器であることを特徴とする請求項に記載の反応装置。
A first product is generated from the first reactant supplied to the first reaction section,
The first product is supplied to the second reaction section, and a second product is produced from the first product;
The first reactant is an air-fuel mixture in which water and hydrocarbon liquid fuel are vaporized, and the first reaction section is a reformer that causes a reforming reaction of the first reactant. The first product includes hydrogen and carbon monoxide;
The reaction apparatus according to claim 7 , wherein the second reaction section is a carbon monoxide remover that removes carbon monoxide contained in the first product.
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