JP4710732B2 - Substrate and method for dividing the same, electro-optical device and method for manufacturing the same, and electronic device - Google Patents

Substrate and method for dividing the same, electro-optical device and method for manufacturing the same, and electronic device Download PDF

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Description

本発明は、基板及びその分断方法、電気光学装置及びその製造方法、ならびに電子機器に関するものである。   The present invention relates to a substrate, a method for dividing the substrate, an electro-optical device, a method for manufacturing the substrate, and an electronic apparatus.

光透過性のある基板を品質良く切断するために、レーザ光を基板に照射して基板内部に改質領域(以下、改質部と称す。)を形成するレーザスクライブ方法が特許文献1に開示されている。それによると、パルス幅が1μs以下のレーザ光を出射し、集光レンズで基板内部に集光し、集光点におけるピークパワー密度を1×108(W/cm2)以上にする。これにより、加工対象物の内部に多光子吸収による改質部を形成するものである。 Patent Document 1 discloses a laser scribing method for irradiating a substrate with laser light to form a modified region (hereinafter referred to as a modified portion) inside the substrate in order to cut a light-transmitting substrate with high quality. Has been. According to this, a laser beam having a pulse width of 1 μs or less is emitted and condensed inside the substrate by a condenser lens, and the peak power density at the focal point is set to 1 × 10 8 (W / cm 2 ) or more. Thereby, the modified part by multiphoton absorption is formed inside the workpiece.

また、このレーザスクライブ方法において、加工対象物の内部に形成される改質部あるいはこれを起点として形成される改質部の大きさは、集光レンズの特性と、レーザ光のピークパワー密度に依存する。例えば、上記特許文献1に示されたガラス(厚さ700μm)に対してYAGレーザを用いて切断する実施例では、集光レンズの開口数が0.55の場合、ピークパワー密度がおよそ1×1011(W/cm2)では、改質部の大きさは、およそ100μmである。また、ピークパワー密度がおよそ5×1011(W/cm2)では、およそ250μmである。基板の内部に改質部を配列して形成し、改質部を押圧することで、基板を改質部に沿って品質良く分断することができる。 In this laser scribing method, the size of the modified portion formed inside the object to be processed or the modified portion formed from this depends on the characteristics of the condenser lens and the peak power density of the laser beam. Dependent. For example, in an embodiment in which the glass (thickness: 700 μm) disclosed in Patent Document 1 is cut using a YAG laser, the peak power density is approximately 1 × when the condensing lens has a numerical aperture of 0.55. At 10 11 (W / cm 2 ), the size of the modified portion is approximately 100 μm. Further, when the peak power density is about 5 × 10 11 (W / cm 2 ), it is about 250 μm. By forming the reforming portions in the substrate and pressing the reforming portions, the substrate can be divided along the reforming portions with good quality.

液晶表示装置などの表示装置は、外形が矩形の1対の基板を用いて、1対の基板の間に液晶や発光素子を配置して形成されることが多い。その製造方法において、トランジスタなどのスイッチング素子の表示装置に対応するパターンを複数配列した素子マザー基板と、共通電極等の表示装置に対応するパターンを複数配列した対向マザー基板とを貼り合せて、分断する方法が広く採用されている。   A display device such as a liquid crystal display device is often formed by using a pair of substrates having a rectangular outer shape and disposing a liquid crystal or a light emitting element between the pair of substrates. In the manufacturing method, an element mother substrate in which a plurality of patterns corresponding to a display device of a switching element such as a transistor are arranged and an opposing mother substrate in which a plurality of patterns corresponding to a display device such as a common electrode are arranged are bonded together and divided. This method is widely adopted.

特開2002−192371号公報JP 2002-192371 A

素子マザー基板と対向マザー基板とを貼り合せて、対向マザー基板にレーザ光を照射して改質部を形成するとき、レーザ光の一部が対向マザー基板を通過して、素子マザー基板を照射する。素子マザー基板には、配線、端子等が配置されており、レーザ光により損傷を受ける可能性があった。   When the element mother substrate and the counter mother substrate are bonded together and the modified mother part is formed by irradiating the counter mother substrate with laser light, a part of the laser light passes through the counter mother substrate and irradiates the element mother substrate. To do. The element mother board is provided with wiring, terminals, and the like, and may be damaged by the laser beam.

本発明は、このような従来の問題点に着目してなされたもので、その目的は、レーザスクライブするとき、レーザ光による損傷が防止できる基板及びその分断方法、電気光学装置及びその製造方法、電子機器を提供することにある。   The present invention has been made paying attention to such conventional problems, and its purpose is to prevent damage caused by laser light when laser scribing, a method for dividing the substrate, an electro-optical device, and a method for manufacturing the same, To provide electronic equipment.

上記課題を解決するために、本発明の基板の分断方法は、基板を分断する基板の分断方法であって、基板にレーザ光を透過する導電膜を形成する導電膜形成工程と、基板にレーザ光を照射して、基板の内部に改質部を形成するスクライブ工程と、改質部を押圧して基板を分断する分断工程とを有し、導電膜の少なくとも一部は、スクライブ工程においてレーザ光が照射される場所に、形成されることを特徴とする。   In order to solve the above-described problems, a substrate dividing method according to the present invention is a substrate dividing method for dividing a substrate, wherein a conductive film forming step for forming a conductive film that transmits laser light on the substrate, and a laser on the substrate are provided. A scribing step of irradiating light to form a modified portion in the substrate; and a cutting step of pressing the modified portion to divide the substrate. At least a part of the conductive film is a laser in the scribe step. It is formed where light is irradiated.

この基板の分断方法によれば、基板に、レーザ光を透過する導電膜を形成する。基板は光透過性を有し、基板の内部にレーザ光を照射して改質部を配列して形成する。分断工程では、改質部を押圧して、基板を分断する。   According to this method for dividing a substrate, a conductive film that transmits laser light is formed on the substrate. The substrate has optical transparency, and is formed by arranging the modified portions by irradiating the inside of the substrate with laser light. In the dividing step, the modified portion is pressed to divide the substrate.

基板には、導電膜が形成されている。基板にレーザ光を照射するとき、レーザ光の一部は、導電膜を照射する可能性がある。レーザ光が導電膜を照射するとき、レーザ光は導電膜を通過することから、導電膜は、レーザ光により損傷を受けにくくなっている。従って、基板に形成される導電膜は、レーザ光により損傷を殆ど受けることなく、基板はスクライブされ、分断される。
尚、スクライブは、レーザ光を基板内部に集光して照射し、改質部を配列して形成することを示す。
A conductive film is formed on the substrate. When the substrate is irradiated with laser light, part of the laser light may irradiate the conductive film. When the laser light irradiates the conductive film, the laser light passes through the conductive film, so that the conductive film is not easily damaged by the laser light. Therefore, the conductive film formed on the substrate is hardly damaged by the laser beam, and the substrate is scribed and divided.
Scribe indicates that the laser beam is condensed and irradiated inside the substrate and the modified portions are arranged.

上記課題を解決するために、本発明の基板の分断方法は、第1の基板と、第2の基板とを接合して、第1の基板を分断する基板の分断方法であって、第2の基板にレーザ光を透過する導電膜を形成する導電膜形成工程と、第1の基板と第2の基板とを接合する接合工程と、第1の基板にレーザ光を照射して、第1の基板の内部に改質部を形成するスクライブ工程と、改質部を押圧して第1の基板を分断する分断工程とを有し、導電膜の少なくとも一部は、スクライブ工程においてレーザ光が照射される場所に、形成されることを特徴とする。   In order to solve the above-described problem, a substrate dividing method according to the present invention is a substrate dividing method in which a first substrate and a second substrate are bonded to each other, and the first substrate is divided. A conductive film forming step of forming a conductive film that transmits laser light on the substrate, a bonding step of bonding the first substrate and the second substrate, and irradiating the first substrate with laser light, A scribing step for forming a modified portion inside the substrate and a dividing step for pressing the modified portion to divide the first substrate. At least a part of the conductive film is irradiated with laser light in the scribe step. It is formed in the place irradiated.

この基板の分断方法によれば、第2の基板に、レーザ光を透過する導電膜を形成する。第1の基板と、第2の基板とを接合して、第1の基板をスクライブする。第1の基板は光透過性を有し、第1の基板の内部にレーザ光を照射して改質部を配列して形成する。分断工程では、改質部を押圧して、第1の基板を分断する。   According to this method for dividing a substrate, a conductive film that transmits laser light is formed on the second substrate. The first substrate and the second substrate are joined, and the first substrate is scribed. The first substrate has light transparency, and is formed by irradiating the inside of the first substrate with laser light and arranging the modified portions. In the dividing step, the modified portion is pressed to divide the first substrate.

第1の基板にレーザ光を照射するとき、第1の基板は光透過性であることから、レーザ光の一部は、第1の基板を通過する可能性がある。レーザ光が第1の基板を通過する場合、通過するレーザ光は、第2の基板を照射する。第2の基板には、レーザ光を透過する導電膜が形成されており、第2の基板を照射するレーザ光が導電膜を照射するとき、レーザ光は導電膜を通過することから、導電膜は、レーザ光により損傷を受けにくくなっている。従って、第2の基板に形成される導電膜は、レーザ光により損傷を殆ど受けることなく、第1の基板はスクライブされ、分断される。   When the first substrate is irradiated with laser light, the first substrate is light-transmitting, so that part of the laser light may pass through the first substrate. When the laser light passes through the first substrate, the passing laser light irradiates the second substrate. A conductive film that transmits laser light is formed over the second substrate. When the laser light that irradiates the second substrate irradiates the conductive film, the laser light passes through the conductive film. Is less susceptible to damage by laser light. Therefore, the conductive film formed on the second substrate is hardly damaged by the laser light, and the first substrate is scribed and divided.

本発明の基板の分断方法では、導電膜はITO膜であることを特徴とする。   In the substrate cutting method of the present invention, the conductive film is an ITO film.

この基板の分断方法によれば、導電膜はITO(Indium Tin Oxide)膜である。ITO膜は、酸化亜鉛系、酸化インジウム系、酸化スズ系など、他の透明導電膜に比べて、単位面積当りの抵抗が低いことから、電流を流し易く、電磁波のノイズの影響を受けにくくなる。従って、ノイズに強い導電膜とすることができる。   According to the method for dividing the substrate, the conductive film is an ITO (Indium Tin Oxide) film. The ITO film has low resistance per unit area compared to other transparent conductive films such as zinc oxide, indium oxide, and tin oxide, so that current can easily flow and it is less susceptible to electromagnetic noise. . Therefore, a conductive film resistant to noise can be obtained.

本発明の基板の分断方法は、第2の基板に金属膜を形成する金属膜形成工程を有し、金属膜の少なくとも一部は、スクライブ工程においてレーザ光が照射されない場所に、形成されることを特徴とする。   The substrate cutting method according to the present invention includes a metal film forming step of forming a metal film on the second substrate, and at least a part of the metal film is formed in a place where the laser beam is not irradiated in the scribing step. It is characterized by.

この基板の分断方法によれば、第2の基板の導電膜が形成される場所において、レーザ光が照射されない場所の少なくとも一部には、金属膜が形成されている。金属膜が形成される場所において、レーザ光が照射されない場所では、金属膜がレーザ光により損傷を受けることがない。   According to this method for dividing a substrate, a metal film is formed in at least a part of the place where the conductive film of the second substrate is formed and where the laser beam is not irradiated. Where the metal film is formed, the metal film is not damaged by the laser light in a place where the laser light is not irradiated.

金属膜は、ITO膜に比べて、電気抵抗が低いことから、膜に電流を流すときに電圧降下を少なくすることができる。従って、電流を流す場所をITO膜で形成する場合に比べて、電力損失を少なくすることができる。   Since the metal film has a lower electrical resistance than the ITO film, the voltage drop can be reduced when a current is passed through the film. Therefore, the power loss can be reduced as compared with the case where the current flowing place is formed of the ITO film.

本発明の基板の分断方法では、スクライブ工程において、改質部は、基板の少なくとも一つの面の近傍に形成することを特徴とする。   The substrate cutting method according to the present invention is characterized in that, in the scribing step, the modified portion is formed in the vicinity of at least one surface of the substrate.

ここで、「一つの面の近傍」について説明する。基板の厚さ方向にレーザ光を照射して改質部を形成するとき、形成される改質部において基板の厚さ方向の長さを改質部長さとする。「一つの面の近傍」とは、基板の一つの面との距離が改質部長さの2倍以内の領域を示す。照射するレーザ光の強さによって、改質部長さが変わることから、「一つの面の近傍」についても、照射するレーザ光の強さによって変わることとなる。   Here, “the vicinity of one surface” will be described. When the modified portion is formed by irradiating the laser beam in the thickness direction of the substrate, the length in the thickness direction of the substrate in the formed modified portion is defined as the modified portion length. “Near one surface” means a region where the distance from one surface of the substrate is within twice the length of the modified portion. Since the length of the modified portion varies depending on the intensity of the irradiated laser beam, “near one surface” also varies depending on the intensity of the irradiated laser beam.

また、「改質部は、基板の少なくとも一つの面の近傍に形成する。」とは、改質部の一部が、「一つの面の近傍」の領域に形成することを示す。   Further, “the modified portion is formed in the vicinity of at least one surface of the substrate” means that a part of the modified portion is formed in a region “in the vicinity of one surface”.

この基板の分断方法によれば、改質部は基板における一つの面の近傍に形成される。基板の面の近傍に改質部を形成するとき、レーザ光は、面の近傍に集光する為、レーザ光が照射される場所に形成されている導電膜は、損傷を受け易い状態にある。しかし、導電膜は光透過性を有することから、損傷を殆ど受けない。   According to this substrate dividing method, the modified portion is formed in the vicinity of one surface of the substrate. When the modified portion is formed in the vicinity of the surface of the substrate, the laser light is condensed in the vicinity of the surface, so that the conductive film formed in the place irradiated with the laser light is easily damaged. . However, since the conductive film has optical transparency, it is hardly damaged.

本発明の基板の分断方法では、スクライブ工程において、改質部は、第1の基板の少なくとも一つの面の近傍に形成することを特徴とする。   In the substrate cutting method according to the present invention, the modified portion is formed in the vicinity of at least one surface of the first substrate in the scribing step.

この基板の分断方法によれば、改質部は第1の基板における一つの面の近傍に形成される。第1の基板において、第2の基板側の面の近傍に改質部を形成するとき、レーザ光は、面の近傍に集光する為、レーザ光は、第1の基板を通過し易くなる。レーザ光が第1の基板を通過して、第2の基板を照射するとき、第2の基板において、レーザ光が照射される場所に形成されている導電膜は、光透過性を有することから、損傷を殆ど受けない。   According to this substrate dividing method, the modified portion is formed in the vicinity of one surface of the first substrate. In the first substrate, when the modified portion is formed in the vicinity of the surface on the second substrate side, the laser light is condensed near the surface, so that the laser light easily passes through the first substrate. . When the laser light passes through the first substrate and irradiates the second substrate, the conductive film formed on the second substrate where the laser light is irradiated has light transparency. , Almost no damage.

改質部が第1の基板における少なくとも一つの面の近傍に形成される。基板を分断するとき、配列して形成される改質部に沿って分断される。基板の面の近傍に、改質部が形成されているとき、改質部に沿って分断される。改質部は配列して形成され、改質部に沿って分断されることから、分断される断面は、改質部が形成されている面の近傍まで、凹凸が少なく分断される。   The modified portion is formed in the vicinity of at least one surface of the first substrate. When the substrate is divided, the substrate is divided along the modified portions formed in an array. When the modified part is formed in the vicinity of the surface of the substrate, the modified part is divided along the modified part. Since the modified portions are formed in an array and divided along the modified portion, the section to be divided is divided with less unevenness to the vicinity of the surface where the modified portion is formed.

本発明の基板の分断方法は、スクライブ工程では、レーザ光は、第1の基板を透過して第2の基板を照射し、第2の基板の内部に改質部を形成することを特徴とする。   The substrate cutting method according to the present invention is characterized in that, in the scribing step, the laser beam is transmitted through the first substrate to irradiate the second substrate, and a modified portion is formed inside the second substrate. To do.

この基板の分断方法によれば、第2の基板の内部に改質部を形成するとき、レーザ光が第1の基板を透過して、第2の基板を照射する。第2の基板において、レーザ光が照射される場所には、光透過性の導電膜が形成されているが、レーザ光を透過することから損傷を殆ど受けずに、第2の基板の内部を照射する。第1の基板と第2の基板とに、同じ第1の基板側からレーザ光を照射し、第1の基板と第2の基板との内部に改質部を形成することから、第1の基板及び第2の基板を反転する必要がない。従って、反転する工程を必要とする場合に比べて、生産性良くスクライブすることができる。   According to the method for dividing the substrate, when the modified portion is formed inside the second substrate, the laser light is transmitted through the first substrate and irradiated on the second substrate. In the second substrate, a light-transmitting conductive film is formed at a place where the laser beam is irradiated. However, since the laser beam is transmitted, the second substrate is hardly damaged and the inside of the second substrate is not damaged. Irradiate. The first substrate and the second substrate are irradiated with laser light from the same first substrate side, and the modified portion is formed inside the first substrate and the second substrate. There is no need to invert the substrate and the second substrate. Therefore, it is possible to scribe with high productivity as compared with a case where a reversing process is required.

上記課題を解決するために、本発明の電気光学装置の製造方法は、光透過性の第1の基板と、第2の基板とを接合して第1の基板を分断する電気光学装置の製造方法であって、上記に記載の基板の分断方法を用いて形成することを特徴とする。   In order to solve the above problems, a method for manufacturing an electro-optical device according to the present invention is a method for manufacturing an electro-optical device that joins a light-transmitting first substrate and a second substrate to divide the first substrate. A method is characterized in that the substrate is formed by using the substrate cutting method described above.

この電気光学装置によれば、電気光学装置は、上記に記載の基板の分断方法を用いて形成される。電気光学装置を構成する第2の基板には光透過性の導電膜が生成される。第1の基板を分断するとき、改質部を形成する為に用いるレーザ光により、第2の基板に形成されている導電膜は、損傷を受けにくくなっている。従って、第1の基板を分断するときに、第2の基板の導電膜は損傷が防止できる電気光学装置の製造方法とすることができる。   According to this electro-optical device, the electro-optical device is formed by using the substrate cutting method described above. A light-transmitting conductive film is generated on the second substrate constituting the electro-optical device. When the first substrate is divided, the conductive film formed on the second substrate is less likely to be damaged by the laser light used to form the modified portion. Accordingly, when the first substrate is divided, the conductive film of the second substrate can be a method for manufacturing an electro-optical device that can prevent damage.

本発明の電気光学装置の製造方法では、導電膜は、配線であることを特徴とする。   In the electro-optical device manufacturing method of the present invention, the conductive film is a wiring.

この電気光学装置によれば、第2の基板に形成されている導電膜は配線であることから、この配線は、光透過性の導電膜となっている。従って、第1の基板を分断するときに、第1の基板に照射するレーザ光により、第2の基板の配線は損傷が防止できる電気光学装置の製造方法とすることができる。   According to this electro-optical device, since the conductive film formed on the second substrate is a wiring, the wiring is a light-transmitting conductive film. Therefore, when the first substrate is divided, the method of manufacturing the electro-optical device can prevent the wiring of the second substrate from being damaged by the laser light applied to the first substrate.

本発明の電気光学装置の製造方法では、導電膜は、電極端子であることを特徴とする。   In the electro-optical device manufacturing method of the present invention, the conductive film is an electrode terminal.

この電気光学装置によれば、第2の基板に形成されている導電膜は電極端子であることから、この電極端子は、光透過性の導電膜となっている。従って、第1の基板を分断するときに、第2の基板の電極端子は損傷が防止できる電気光学装置の製造方法とすることができる。   According to this electro-optical device, since the conductive film formed on the second substrate is an electrode terminal, the electrode terminal is a light-transmitting conductive film. Therefore, when the first substrate is divided, the electrode terminal of the second substrate can be a method for manufacturing an electro-optical device that can prevent damage.

本発明の電気光学装置の製造方法では、電気光学装置はスイッチング素子を有し、導電膜は、スイッチング素子と電気的に接続されていることを特徴とする。   In the electro-optical device manufacturing method of the present invention, the electro-optical device has a switching element, and the conductive film is electrically connected to the switching element.

この電気光学装置によれば、電気光学装置はスイッチング素子を有している。スイッチング素子は、電気信号を元に電流の流れを切り替えて、表示素子に流す電流を制御している。個々の表示素子に電流を供給する配線を形成する方法に比べて、配線の数を減らすことができることから、配線の設計をしやすい電気光学装置とすることができる。   According to this electro-optical device, the electro-optical device has the switching element. The switching element controls the current flowing through the display element by switching the current flow based on the electrical signal. Since the number of wirings can be reduced as compared with a method of forming wirings for supplying current to individual display elements, an electro-optical device that facilitates wiring design can be obtained.

スイッチング素子に電気信号を供給する配線のうち少なくとも一部は光透過性の導電膜により形成される。第1の基板を分断するとき、光透過性の導電膜により形成されている配線は、レーザ光により損傷を受けにくくなっていることから、スイッチング素子に品質良く電気信号を供給できる電気光学装置とすることができる。   At least a part of the wiring for supplying an electrical signal to the switching element is formed of a light transmissive conductive film. Since the wiring formed of the light-transmitting conductive film is less likely to be damaged by the laser light when the first substrate is divided, an electro-optical device that can supply an electrical signal to the switching element with high quality can do.

本発明の基板は、上記に記載の基板の分断方法で分断されていることを特徴とする。   The substrate of the present invention is characterized by being divided by the substrate dividing method described above.

この基板によれば、基板は上記の基板の分断方法で分断されている。基板は、第1の基板と第2の基板とを有し、第2の基板には導電膜が形成されている。この導電膜は、第1の基板を分断するときに用いられるレーザ光により損傷を受けにくい。従って、この基板において、第2の基板に形成される導電膜の損傷が防止できる基板とすることができる。   According to this substrate, the substrate is divided by the above-described substrate dividing method. The substrate includes a first substrate and a second substrate, and a conductive film is formed on the second substrate. This conductive film is not easily damaged by the laser beam used when dividing the first substrate. Therefore, this substrate can be a substrate that can prevent the conductive film formed on the second substrate from being damaged.

本発明の電気光学装置は、上記に記載の電気光学装置の製造方法を用いて製造されていることを特徴とする。   The electro-optical device of the present invention is manufactured using the above-described method for manufacturing an electro-optical device.

この電気光学装置によれば、電気光学装置は上記の電気光学装置の製造方法を用いて製造されている。電気光学装置は、光透過性の導電膜を有し、基板を分断するときに、レーザ光による損傷を受けにくい導電膜となっている。従って、基板を分断するときに、基板に形成されている導電膜の損傷が防止できる基板を備えている電気光学装置とすることができる。   According to this electro-optical device, the electro-optical device is manufactured using the above-described method for manufacturing an electro-optical device. The electro-optical device has a light-transmitting conductive film, and is a conductive film that is not easily damaged by laser light when the substrate is divided. Therefore, when the substrate is divided, the electro-optical device including the substrate that can prevent the conductive film formed on the substrate from being damaged can be obtained.

本発明の電子機器は、上記に記載の電気光学装置を表示部に備えることを特徴とする。   According to another aspect of the invention, there is provided an electronic apparatus including the above-described electro-optical device in a display unit.

この電子機器によれば、電子機器は上記の電気光学装置を備えている。この電気光学装置は、レーザ光を用いて基板をスクライブして分断するとき、基板に形成されている導電膜は、レーザ光による損傷を受けにくい導電膜となっている。従って、基板に形成されている導電膜は、レーザ光により損傷を受けることが少ない。従って、スクライブ工程で、レーザ光による損傷が防止できる導電膜を備えた電気光学装置を有する電子機器とすることができる。   According to this electronic apparatus, the electronic apparatus includes the electro-optical device described above. In this electro-optical device, when the substrate is scribed and divided using laser light, the conductive film formed on the substrate is a conductive film that is not easily damaged by the laser light. Therefore, the conductive film formed over the substrate is hardly damaged by the laser light. Therefore, an electronic apparatus including an electro-optical device including a conductive film that can be prevented from being damaged by laser light in a scribe process can be provided.

以下、本発明を具体化した実施例について図面に従って説明する。
尚、各図面における各部材は、各図面上で認識可能な程度の大きさとするため、部材毎に縮尺を異ならせて図示している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
In addition, each member in each drawing is illustrated with a different scale for each member in order to make the size recognizable on each drawing.

(第1の実施形態)
本実施形態では、光透過性の導電膜を形成し、レーザスクライブ法によってスクライブして分断する場合の例を説明する。ここでは、本発明の特徴的な製造方法について説明する前にレーザ照射装置について説明する。
(First embodiment)
In the present embodiment, an example in which a light-transmitting conductive film is formed and scribed and divided by a laser scribe method will be described. Here, the laser irradiation apparatus will be described before describing the characteristic manufacturing method of the present invention.

(レーザ照射装置)
図1は、レーザ照射装置の構成を示す概略図である。
図1に示すように、レーザ照射装置1は、レーザ光を出射するレーザ光源2と、出射されたレーザ光をワークに照射する光学経路部3と、光学経路部3に対してワークを相対的に移動させるテーブル部4と、動作を制御する制御装置5を主として構成されている。
(Laser irradiation device)
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a laser irradiation apparatus.
As shown in FIG. 1, the laser irradiation apparatus 1 includes a laser light source 2 that emits laser light, an optical path unit 3 that irradiates the work with the emitted laser light, and a work relative to the optical path unit 3. The table unit 4 is moved mainly and the control device 5 for controlling the operation is mainly configured.

レーザ光源2は、出射するレーザ光を加工対象物の内部に集光して多光子吸収による改質部を形成できる光源であれば良い。例えば、レーザ光源2は、本実施形態において、LD励起Nd:YAG(Nd:Y3Al512)のレーザ媒質からなり、第3高調波(波長:355nm)のQスイッチパルス発振のレーザ光を出射する発光条件を採用している。パルス幅はおよそ14ns(ナノ秒)、パルス周期は10kHz、出力はおよそ60μJ/パルスのレーザ光を出射する発光条件を採用している。 The laser light source 2 may be any light source that can collect the emitted laser light inside the object to be processed and form a modified portion by multiphoton absorption. For example, in the present embodiment, the laser light source 2 is composed of a laser medium of LD excitation Nd: YAG (Nd: Y 3 Al 5 O 12 ), and is a third harmonic (wavelength: 355 nm) Q-switch pulse oscillation laser light. The light emission conditions for emitting light are employed. The light emission conditions for emitting a laser beam with a pulse width of about 14 ns (nanoseconds), a pulse period of 10 kHz, and an output of about 60 μJ / pulse are employed.

光学経路部3はダイクロイックミラー6を備えている。ダイクロイックミラー6は、レーザ光源2から照射されるレーザ光の光軸7上に配置されている。ダイクロイックミラー6はレーザ光源2から照射されるレーザ光を反射して、光軸7の進行方向を変更する。ダイクロイックミラー6に反射したレーザ光が通過する光軸7上に集光レンズ8が配置されている。テーブル部4にはワーク9が配置され、集光レンズ8を通過したレーザ光がワーク9に照射されるようになっている。   The optical path unit 3 includes a dichroic mirror 6. The dichroic mirror 6 is disposed on the optical axis 7 of the laser light emitted from the laser light source 2. The dichroic mirror 6 reflects the laser light emitted from the laser light source 2 and changes the traveling direction of the optical axis 7. A condenser lens 8 is disposed on the optical axis 7 through which the laser light reflected by the dichroic mirror 6 passes. A work 9 is arranged on the table 4, and the work 9 is irradiated with laser light that has passed through the condenser lens 8.

集光レンズ8はレンズ支持部10により、レンズ移動機構11に支持されている。レンズ移動機構11は、図示しない直動機構を有し、集光レンズ8を光軸7方向に移動させて、集光レンズ8を通過したレーザ光が集光する位置を移動可能としている。   The condenser lens 8 is supported by the lens moving mechanism 11 by the lens support portion 10. The lens moving mechanism 11 has a linear motion mechanism (not shown), and moves the condenser lens 8 in the direction of the optical axis 7 so that the position where the laser light that has passed through the condenser lens 8 is condensed can be moved.

直動機構は、例えばZ方向に延びるネジ軸(駆動軸)と、同ネジ軸と螺合するボールナットを供えたネジ式直動機構であって、その駆動軸が所定のパルス信号を受けて所定のステップ単位で正逆転する図示しないZ軸モータに連結されている。そして、所定のステップ数に相当する駆動信号がZ軸モータに入力されると、Z軸モータが正転又は反転して、レンズ移動機構11が同ステップ数に相当する分だけ、光軸7方向に沿って往動又は復動するようになっている。   The linear motion mechanism is, for example, a screw type linear motion mechanism provided with a screw shaft (drive shaft) extending in the Z direction and a ball nut screwed to the screw shaft, and the drive shaft receives a predetermined pulse signal. It is connected to a Z-axis motor (not shown) that rotates forward and backward in predetermined step units. When a drive signal corresponding to a predetermined number of steps is input to the Z-axis motor, the Z-axis motor rotates normally or reversely, and the lens moving mechanism 11 corresponds to the number of steps corresponding to the optical axis 7 direction. It moves forward or backward along.

集光レンズ8とダイクロイックミラー6とを通過する光軸7の延長線上にあって、ダイクロイックミラー6に対して集光レンズ8と反対側には、撮像装置12を備えている。撮像装置12は、例えば、図示しない同軸落射型光源とCCD(Charge Coupled Device)が組み込まれたものである。同軸落射型光源から出射した可視光は、集光レンズ8を透過してワーク9を照射する。撮像装置12は、集光レンズ8とダイクロイックミラー6とを通してワーク9を撮像することが可能となっている。   An imaging device 12 is provided on the extension line of the optical axis 7 passing through the condenser lens 8 and the dichroic mirror 6 and on the opposite side of the condenser lens 8 with respect to the dichroic mirror 6. The imaging device 12 includes, for example, a coaxial incident light source and a CCD (Charge Coupled Device) (not shown). The visible light emitted from the coaxial incident light source passes through the condenser lens 8 and irradiates the work 9. The imaging device 12 can image the workpiece 9 through the condenser lens 8 and the dichroic mirror 6.

テーブル部4は、基台15を備えている。基台15の光学経路部3側には、レール16が凸設して配置されており、レール16上にはX軸スライド17が配置されている。X軸スライド17は、図示しない直動機構を備え、レール16上のX方向に移動可能となっている。直動機構は、レンズ移動機構11が備える直動機構と同様な機構であり、所定のステップ数に相当する駆動信号に対応してX軸スライド17が同ステップ数に相当する分だけ、X方向に沿って往動又は復動するようになっている。   The table unit 4 includes a base 15. On the side of the optical path portion 3 of the base 15, a rail 16 is provided so as to protrude, and an X-axis slide 17 is provided on the rail 16. The X-axis slide 17 includes a linear motion mechanism (not shown) and can move in the X direction on the rail 16. The linear motion mechanism is a mechanism similar to the linear motion mechanism included in the lens moving mechanism 11, and the X-axis slide 17 corresponds to the number of steps corresponding to the drive signal corresponding to the predetermined number of steps in the X direction. It moves forward or backward along.

X軸スライド17の光学経路部3側にはレール18が凸設して配置されており、レール18上にはY軸スライド19が配置されている。Y軸スライド19は、X軸スライド17と同様な直動機構を備え、レール18上をY方向に移動可能となっている。   A rail 18 is provided so as to protrude from the X-axis slide 17 on the optical path section 3 side, and a Y-axis slide 19 is provided on the rail 18. The Y-axis slide 19 includes a linear motion mechanism similar to that of the X-axis slide 17 and can move on the rail 18 in the Y direction.

Y軸スライド19の光学経路部3側には、ステージ20が配置され、ステージ20の上面には図示しない吸引式のチャック機構が設けられている。そして、ワーク9を載置すると、チャック機構によって、ワーク9がステージ20の上面の所定の位置に位置決めされ固定されるようになっている。   A stage 20 is disposed on the optical path section 3 side of the Y-axis slide 19, and a suction chuck mechanism (not shown) is provided on the upper surface of the stage 20. When the workpiece 9 is placed, the workpiece 9 is positioned and fixed at a predetermined position on the upper surface of the stage 20 by the chuck mechanism.

制御装置5は、メインコンピュータ24を備えている。メインコンピュータ24は内部に図示しないCPU(Central Processing Unit)やメモリーを備えている。CPUはメモリー内に記憶されたプログラムソフトに従って、レーザ照射装置1の動作を制御するものである。
メインコンピュータ24は、図示しない入出力インターフェースを備え、入力装置25、表示装置26、レーザ制御装置27、レンズ制御装置28、画像処理装置29、ステージ制御装置30と接続されている。
The control device 5 includes a main computer 24. The main computer 24 includes a CPU (Central Processing Unit) and a memory (not shown). The CPU controls the operation of the laser irradiation apparatus 1 in accordance with program software stored in the memory.
The main computer 24 includes an input / output interface (not shown), and is connected to an input device 25, a display device 26, a laser control device 27, a lens control device 28, an image processing device 29, and a stage control device 30.

入力装置25は、レーザ加工の際に用いられる各種加工条件のデータを入力する装置であり、表示装置26はレーザ加工時の各種情報を表示する装置である。CPUは、入力される各種加工条件とプログラムソフトとに従って、レーザ加工を行い。加工状況を表示装置26に表示する。操作者が表示装置26に表示される各種情報を見て、レーザ加工状況を確認して操作するようになっている。   The input device 25 is a device for inputting data of various processing conditions used in laser processing, and the display device 26 is a device for displaying various information at the time of laser processing. The CPU performs laser processing according to various processing conditions and program software that are input. The processing status is displayed on the display device 26. The operator looks at various information displayed on the display device 26 and confirms the laser processing status for operation.

レーザ制御装置27は、レーザ光源2を駆動するパルス信号のパルス幅、パルス周期、出力の開始と停止、等を制御する装置であり、メインコンピュータ24の制御信号により制御される。
レンズ制御装置28は、レンズ移動機構11の移動、停止を制御する装置である。レンズ移動機構11には、移動距離を検出可能な図示しない位置センサが内蔵されており、レンズ制御装置28は、この位置センサの出力を検出することにより、集光レンズ8の光軸7方向の位置を認識する。レンズ制御装置28は、レンズ移動機構11にパルス信号を送信し、レンズ移動機構11を所望の位置に移動することができるようになっている。
The laser control device 27 is a device that controls the pulse width of the pulse signal that drives the laser light source 2, the pulse cycle, the start and stop of output, and the like, and is controlled by the control signal of the main computer 24.
The lens control device 28 is a device that controls the movement and stop of the lens moving mechanism 11. The lens moving mechanism 11 has a built-in position sensor (not shown) that can detect the moving distance, and the lens control device 28 detects the output of the position sensor to detect the position of the condenser lens 8 in the direction of the optical axis 7. Recognize position. The lens control device 28 can transmit a pulse signal to the lens moving mechanism 11 to move the lens moving mechanism 11 to a desired position.

画像処理装置29は、撮像装置12から出力される画像データを演算する機能を備えている。ステージ20にワーク9を配置し、撮像装置12で撮像した画像を観察するとき、レンズ移動機構11を操作して、集光レンズ8とワーク9との距離を変えることにより画像が鮮明になるときとぼやけるときが存在する。集光レンズ8を移動して、ワーク9のステージ20側の面に焦点が合うときと、ワーク9の光学経路部3側の面に焦点が合うときに、撮像される画像が鮮明になる。一方、焦点が合っていないとき、撮像される画像は、ぼやけた画像となる。   The image processing device 29 has a function of calculating image data output from the imaging device 12. When the work 9 is placed on the stage 20 and an image taken by the imaging device 12 is observed, the lens moving mechanism 11 is operated to change the distance between the condenser lens 8 and the work 9 to make the image clearer. There are times when it is blurred. When the condenser lens 8 is moved to focus on the surface of the work 9 on the stage 20 side and when the work 9 is focused on the surface of the work 9 on the optical path unit 3 side, the image to be captured becomes clear. On the other hand, when the image is out of focus, the captured image is a blurred image.

集光レンズ8を光軸7の方向に移動して、撮像装置12が撮像する画像が鮮明になる集光レンズ8の位置を、内蔵する位置センサで検出することにより、ワーク9の厚みを測定することが可能となる。   The thickness of the work 9 is measured by moving the condensing lens 8 in the direction of the optical axis 7 and detecting the position of the condensing lens 8 at which the image captured by the imaging device 12 becomes clear by a built-in position sensor. It becomes possible to do.

撮像装置12で撮像するときに焦点が合う合焦点位置と、レーザ光を照射したときに、集光レンズ8により集光される集光位置との差の距離を計測することで、合焦点位置と集光位置の差の距離であるオフセット距離を知ることができる。例えば、透明な2枚の基板を重ねた物をワーク9としてステージ20に設置し、2枚の基板の接触部に撮像装置12の焦点が合うように集光レンズ8を移動する。次に、レーザ光を照射して改質部を形成する。2枚の基板の接触部と改質部の距離を計測することでオフセット距離を設定することができる。   The in-focus position is obtained by measuring the distance between the in-focus position that is in focus when imaged by the imaging device 12 and the condensing position that is condensed by the condensing lens 8 when the laser beam is irradiated. And the offset distance, which is the difference between the condensing positions. For example, an object obtained by stacking two transparent substrates is set on the stage 20 as a workpiece 9 and the condenser lens 8 is moved so that the imaging device 12 is focused on a contact portion between the two substrates. Next, the modified portion is formed by irradiating laser light. The offset distance can be set by measuring the distance between the contact portion and the reforming portion of the two substrates.

集光レンズ8を光軸7方向に移動して、ワーク9の光学経路部3側の面に撮像装置12の焦点を合わせる。レーザ光を照射したい位置とオフセット距離とで集光レンズ8の移動距離を演算し、演算した移動距離に対応する距離分、集光レンズ8を移動させる。この方法でワーク9における所定の深さにレーザ光を集光することが可能となる。   The condenser lens 8 is moved in the direction of the optical axis 7 so that the imaging device 12 is focused on the surface of the work 9 on the optical path portion 3 side. The moving distance of the condensing lens 8 is calculated from the position where the laser beam is to be irradiated and the offset distance, and the condensing lens 8 is moved by the distance corresponding to the calculated moving distance. With this method, the laser beam can be condensed to a predetermined depth in the workpiece 9.

ステージ制御装置30は、X軸スライド17とY軸スライド19との位置情報の取得と移動制御を行う。X軸スライド17とY軸スライド19とには図示しない位置センサが内蔵されており、ステージ制御装置30は位置センサの出力を検出することにより、X軸スライド17とY軸スライド19との位置を検出する。ステージ制御装置30は、X軸スライド17とY軸スライド19との位置情報を取得し、メインコンピュータ24から指示される位置情報とを比較し、差に相当する距離に対応して、X軸スライド17とY軸スライド19とを駆動して移動する。ステージ制御装置30はX軸スライド17とY軸スライド19とを駆動して、所望の位置にワーク9を移動することが可能となっている。   The stage control device 30 performs acquisition of position information and movement control of the X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19. The X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19 have built-in position sensors (not shown), and the stage control device 30 detects the positions of the X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19 by detecting the output of the position sensor. To detect. The stage control device 30 acquires the position information of the X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19, compares the position information instructed from the main computer 24, and corresponds to the distance corresponding to the difference to the X-axis slide. 17 and the Y-axis slide 19 are driven to move. The stage control device 30 can drive the X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19 to move the workpiece 9 to a desired position.

レーザ制御装置27がレーザ光源2を制御しレーザ光を発光させる。画像処理装置29がワーク9の面の光軸方向の位置を検出する。レンズ制御装置28がレーザ光を集光する光軸方向の位置を制御する。ステージ制御装置30がワーク9をXY方向に移動して、ワーク9にレーザ光が照射される位置を制御する。上述した制御を行い所望の位置にレーザ光を集光して照射することが可能となっている。   The laser control device 27 controls the laser light source 2 to emit laser light. The image processing device 29 detects the position of the surface of the work 9 in the optical axis direction. The lens controller 28 controls the position in the optical axis direction where the laser light is condensed. The stage control device 30 moves the workpiece 9 in the XY directions, and controls the position where the workpiece 9 is irradiated with laser light. It is possible to collect and irradiate laser light at a desired position by performing the above-described control.

ここで、多光子吸収による改質部の形成について説明する。集光レンズ8によって集光されたレーザ光は、ワーク9に入射する。そして、ワーク9がレーザ光を透過する材料であっても、材料の吸収バンドギャップよりも光子のエネルギーが非常に大きいとき、ワーク9は光子エネルギーを吸収する。これを多光子吸収と言い、レーザ光のパルス幅を極めて短くすることでエネルギーを高めて、多光子吸収をワーク9の内部に起こさせると、多光子吸収のエネルギーが熱エネルギーに転化せずに、永続的な構造変化が誘起された領域が形成される。   Here, formation of the modified portion by multiphoton absorption will be described. The laser beam condensed by the condenser lens 8 enters the workpiece 9. Even if the workpiece 9 is a material that transmits laser light, the workpiece 9 absorbs photon energy when the energy of the photon is much larger than the absorption band gap of the material. This is called multiphoton absorption. When the energy is increased by making the pulse width of the laser light extremely short and the multiphoton absorption is caused inside the work 9, the energy of the multiphoton absorption is not converted into thermal energy. A region in which a permanent structural change is induced is formed.

本実施形態では、この構造変化領域を改質部と呼ぶ。改質部のうち、大きく構造変化した結果複数のクラックが形成された領域をクラック部と呼ぶ。尚、材料の種類によっては、例えば石英などの場合には、クラック部は複数のクラックにならず、空洞が形成される場合もある。   In the present embodiment, this structure change region is called a modified portion. Of the modified portion, a region where a plurality of cracks are formed as a result of a large structural change is referred to as a crack portion. Depending on the type of material, for example, in the case of quartz or the like, the crack portion may not be a plurality of cracks, and a cavity may be formed.

このような改質部を形成するためのレーザ光の照射条件は、加工対象物ごとにレーザ光の出力やパルス幅、パルス周期、レーザスキャン速度等の設定が必要になる。特に、レーザ光源2が照射するレーザ光の出力は、ダイクロイックミラー6や集光レンズ8のような光軸7上に配置される透過性物質による吸収で減衰することを考慮する必要がある。従って、実際の加工対象物を用いた予備試験を実施して、最適な照射条件を導くことが望ましい。   As for the irradiation condition of the laser beam for forming such a modified portion, it is necessary to set the output of the laser beam, the pulse width, the pulse period, the laser scan speed, etc. for each workpiece. In particular, it is necessary to consider that the output of the laser light emitted from the laser light source 2 is attenuated by absorption by a transmissive substance disposed on the optical axis 7 such as the dichroic mirror 6 and the condenser lens 8. Therefore, it is desirable to carry out a preliminary test using an actual workpiece to derive optimum irradiation conditions.

(基板の分断方法)
次に本発明の基板の分断方法について図2〜図4にて説明する。図2は、基板の分断方法のフローチャートであり、図3〜図4は基板の分断方法を説明する図である。
(Substrate dividing method)
Next, the substrate cutting method of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a flowchart of the substrate dividing method, and FIGS. 3 to 4 are diagrams for explaining the substrate dividing method.

図2のフローチャートにおいて、ステップS1は導電膜形成工程に相当し、第2の基板にレーザ光に対して透過性のある導電膜を配線、電極として形成する工程である。次にステップS2に移行する。ステップS2は、接合工程に相当し、第1の基板と第2の基板とを接合する工程である。次にステップS3に移行する。ステップS3はスクライブ工程に相当し、第1の基板にレーザ光を用いて、第1の基板の内部にレーザ光を照射して改質部を配列して形成し、スクライブする工程である。次にステップS4に移行する。ステップS4は分断工程に相当し、配列して形成されている改質部に応力を加えて分断する工程である。   In the flowchart of FIG. 2, step S <b> 1 corresponds to a conductive film forming step, and is a step of forming a conductive film that is transparent to laser light as a wiring and an electrode on the second substrate. Next, the process proceeds to step S2. Step S2 corresponds to a bonding step, and is a step of bonding the first substrate and the second substrate. Next, the process proceeds to step S3. Step S3 corresponds to a scribing process, and is a process of scribing by forming laser beam on the first substrate and irradiating the inside of the first substrate with the laser beam to form the modified portions. Next, the process proceeds to step S4. Step S4 corresponds to a dividing step, and is a step in which stress is applied to the reformed portions formed in an array and divided.

次に、図3〜図4を用いて、図2に示したステップと対応させて、製造方法を詳細に説明する。図3(a)は、本実施形態で形成された接合基板の模式平面図である。図3(b)は接合基板のA−A’線から見た模式側面図である。図3(a)及び図3(b)に示す様に、接合基板34は、第1の基板35と第2の基板36とが接着剤37を介して接合されている。第1の基板35は基板38を備え、第2の基板36は基板39を備えている。基板38と基板39とは、レーザ光に透過性のある材質からなり本実施形態では、例えば、石英ガラスを採用している。   Next, the manufacturing method will be described in detail with reference to FIGS. 3 to 4 in association with the steps shown in FIG. FIG. 3A is a schematic plan view of the bonded substrate formed in the present embodiment. FIG. 3B is a schematic side view of the bonded substrate viewed from the line A-A ′. As shown in FIGS. 3A and 3B, the bonding substrate 34 is formed by bonding a first substrate 35 and a second substrate 36 with an adhesive 37. The first substrate 35 includes a substrate 38, and the second substrate 36 includes a substrate 39. The substrate 38 and the substrate 39 are made of a material that is transmissive to laser light. In this embodiment, for example, quartz glass is employed.

第2の基板36において、基板39の表面には、基板39の長手方向と直交する方向に一対の電極端子40a,40bが形成され、導電膜としての配線41により電気的に接続されている。同様に、電極端子40a,40bの隣には、一対の導電膜としての電極端子42a,42bが形成され、配線43により電気的に接続されている。電極端子40a,40b,42a,42b及び、配線41,43はレーザ光に対して光透過性の導電膜により形成されている。光透過性の導電膜は、酸化亜鉛系、酸化インジウム系、酸化スズ系などの膜で光が透過する厚みであれば良く、本実施形態では、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)膜を採用している。   In the second substrate 36, a pair of electrode terminals 40 a and 40 b are formed on the surface of the substrate 39 in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the substrate 39 and are electrically connected by a wiring 41 as a conductive film. Similarly, electrode terminals 42 a and 42 b as a pair of conductive films are formed next to the electrode terminals 40 a and 40 b and are electrically connected by the wiring 43. The electrode terminals 40a, 40b, 42a, 42b and the wirings 41, 43 are formed of a conductive film that is transparent to laser light. The light-transmitting conductive film may be a zinc oxide-based, indium oxide-based, tin oxide-based film or the like having a thickness that allows light to be transmitted. In this embodiment, for example, an ITO (Indium Tin Oxide) film is used. ing.

基板39の表面には、3端子のトランジスタ44とトランジスタ45とが形成されている。トランジスタ44とトランジスタ45とは、配線46aにより電気的に接続されている。基板39の端面39a側には、電極端子47及び電極端子48が配置されている。電極端子47とトランジスタ44とは、配線46b及び配線49を介して電気的に接続されている。同様に、電極端子48とトランジスタ45とは、配線46e及び配線50を介して電気的に接続されている。   A three-terminal transistor 44 and a transistor 45 are formed on the surface of the substrate 39. The transistor 44 and the transistor 45 are electrically connected by a wiring 46a. An electrode terminal 47 and an electrode terminal 48 are disposed on the end surface 39 a side of the substrate 39. The electrode terminal 47 and the transistor 44 are electrically connected via a wiring 46 b and a wiring 49. Similarly, the electrode terminal 48 and the transistor 45 are electrically connected via a wiring 46e and a wiring 50.

基板39の端面39a側には、電極端子51及び電極端子52が配置されている。電極端子51は、トランジスタ44と配線46cを介して電気的に接続され、電極端子52は、トランジスタ45と配線46dを介して電気的に接続されている。   An electrode terminal 51 and an electrode terminal 52 are disposed on the end surface 39 a side of the substrate 39. The electrode terminal 51 is electrically connected to the transistor 44 via the wiring 46c, and the electrode terminal 52 is electrically connected to the transistor 45 via the wiring 46d.

基板39の端面39b側には、電極端子53が配置され、電極端子53とトランジスタ44及びトランジスタ45とは、配線46a及び配線54を介して電気的に接続されている。   An electrode terminal 53 is disposed on the end face 39 b side of the substrate 39, and the electrode terminal 53 and the transistor 44 and the transistor 45 are electrically connected via a wiring 46 a and a wiring 54.

金属膜としての配線46a〜配線46eと、電極端子47と、電極端子48と、電極端子53とは金属からなる膜により形成されている。本実施形態においては、例えば、アルミニウムを採用している。また、導電膜としての配線49と、配線50と、配線54と、電極端子51及び電極端子52とは、レーザ光に対して光透過性の導電膜により形成されている。光透過性の導電膜は、本実施形態では、例えば、ITO膜を採用している。   The wirings 46a to 46e as the metal films, the electrode terminals 47, the electrode terminals 48, and the electrode terminals 53 are formed of a film made of metal. In this embodiment, for example, aluminum is employed. Further, the wiring 49, the wiring 50, the wiring 54, the electrode terminal 51, and the electrode terminal 52 as a conductive film are formed of a conductive film that is transparent to laser light. In this embodiment, for example, an ITO film is used as the light transmissive conductive film.

図3(c)及び図3(d)は、ステップS1に対応する図である。図3(c)は基板39の平面図であり、図3(d)は基板39の側面図である。図3(c)及び図3(d)に示す様に、基板39に、トランジスタ44,45及び、電極端子40a,40b,42a,42b,47,48,51,52,53及び、配線41,43,46a〜46e,49,50,54を形成する。トランジスタ44,45及び、電極端子40a,40b,42a,42b,47,48,51,52,53及び、配線41,43,46a〜46e,49,50,54の形成方法は、フォトリソグラフィ法等の公知の方法を用いて形成可能であり、説明を省略する。   FIG. 3C and FIG. 3D are diagrams corresponding to step S1. FIG. 3C is a plan view of the substrate 39, and FIG. 3D is a side view of the substrate 39. As shown in FIGS. 3C and 3D, transistors 44 and 45, electrode terminals 40a, 40b, 42a, 42b, 47, 48, 51, 52, and 53, and wiring 41, 43, 46a to 46e, 49, 50, 54 are formed. A method for forming the transistors 44, 45, the electrode terminals 40a, 40b, 42a, 42b, 47, 48, 51, 52, 53 and the wirings 41, 43, 46a to 46e, 49, 50, 54 is a photolithography method or the like. The known method can be used, and the description is omitted.

図3(a)に示す基板38にて分断されている線に相当する線を分断予定線とし、基板38を分断する分断予定線を図3(c)に示す分断予定線55a及び分断予定線55bとする。分断予定線55a及び分断予定線55bは、基板39の長手方向に延在する仮想線であり、一点鎖線で示す線である。   A line corresponding to the line divided by the substrate 38 shown in FIG. 3A is set as a division planned line, and the division planned line dividing the substrate 38 is shown as a division planned line 55a and a division planned line shown in FIG. 55b. The planned dividing line 55a and the planned dividing line 55b are virtual lines extending in the longitudinal direction of the substrate 39, and are lines indicated by alternate long and short dash lines.

図3(e)及び図4(a)はステップS2に対応する図である。図3(e)に示す様に、基板39に接着剤37を塗布する。接着剤37は、図3(c)に示す分断予定線55aと分断予定線55bとに挟まれた領域に塗布する。塗布方法は、塗布厚みと塗布位置が精度良く塗布できれば良く、本実施形態では、例えば、スクリーン印刷法を採用している。接着剤37は、基板と基板とを接着できるものであれば良く、基板の材質に合わせて選択する。本実施形態では、例えば、接着剤37にエポキシ系接着剤を採用している。   FIG. 3E and FIG. 4A are diagrams corresponding to step S2. As shown in FIG. 3E, an adhesive 37 is applied to the substrate 39. The adhesive 37 is applied to a region sandwiched between the planned split line 55a and the planned split line 55b shown in FIG. The application method is only required to apply the application thickness and the application position with high accuracy. In this embodiment, for example, a screen printing method is adopted. The adhesive 37 may be any adhesive that can bond the substrates to each other, and is selected according to the material of the substrate. In the present embodiment, for example, an epoxy adhesive is employed for the adhesive 37.

図4(a)に示すように、基板39に塗布した接着剤37に重ねて基板38を配置し押圧する。続いて、押圧されて形成された接合基板34を乾燥して、接着剤37を固化する。   As shown in FIG. 4A, the substrate 38 is placed and pressed on the adhesive 37 applied to the substrate 39. Subsequently, the bonding substrate 34 formed by pressing is dried to solidify the adhesive 37.

図4(b)及び図4(c)はステップS3に対応する図である。図4(b)に示す様に、集光レンズ8で集光したレーザ光56を基板38の内部に照射する。基板38の内部において、レーザ光56が照射された場所には、改質部57が形成される。改質部57の中央部には、空洞となったクラック部58が形成される。   4B and 4C are diagrams corresponding to step S3. As shown in FIG. 4B, the substrate 38 is irradiated with the laser beam 56 condensed by the condenser lens 8. Inside the substrate 38, a modified portion 57 is formed at a place where the laser beam 56 is irradiated. A cracked portion 58 that is a cavity is formed in the central portion of the modified portion 57.

集光レンズ8と基板38とを相対的に移動して、レーザ光56を基板38の内部に照射して改質部57を配列して形成する。基板38において、第2の基板36側の面38aに近い場所には1段目の改質部57aが形成される。1段目の改質部57aは、クラック部58が面38aと交差しない範囲で近くに形成するのが、望ましい。少なくとも、クラック部58と面38aとの距離は、クラック部58の長手方向の長さの10倍以内に形成するのが望ましい。クラック部58と面38aとの距離は、クラック部58の長手方向の長さの2倍以内(面の近傍)に形成するのがさらに望ましい。   The condensing lens 8 and the substrate 38 are moved relative to each other to irradiate the inside of the substrate 38 with the laser light 56 and form the modified portions 57 in an array. In the substrate 38, a first-stage modified portion 57a is formed at a location near the surface 38a on the second substrate 36 side. It is desirable that the first-stage modified portion 57a is formed in the vicinity so that the crack portion 58 does not intersect the surface 38a. It is desirable that at least the distance between the crack part 58 and the surface 38a be within 10 times the length of the crack part 58 in the longitudinal direction. It is further desirable that the distance between the crack portion 58 and the surface 38a is within twice the length of the crack portion 58 in the longitudinal direction (near the surface).

形成されている1段目の改質部57aに対して、基板38の厚み方向に隣接する場所に、2段目の改質部57bを形成する。2段目の改質部57bについても、集光レンズ8からレーザ光56を基板38の内部に集光して照射し、2段目の改質部57b形成する。同様に、3段目、4段目と配列の段数を重ねて配列する。   A second-stage modified portion 57b is formed at a location adjacent to the formed first-stage modified portion 57a in the thickness direction of the substrate 38. The second-stage modified portion 57b is also condensed and irradiated with the laser beam 56 from the condensing lens 8 inside the substrate 38 to form the second-stage modified portion 57b. Similarly, the third row and the fourth row are arranged so as to overlap the number of rows.

図4(c)に示すように、その結果、改質部57が配列した面が形成される。レーザ光56は、図3(c)に示す分断予定線55a及び分断予定線55bに沿って照射される。その結果、分断予定線55aに沿って形成されるスクライブ面59aと分断予定線55bに沿って形成されるスクライブ面59bが形成される。   As a result, as shown in FIG. 4C, a surface on which the reforming portions 57 are arranged is formed. The laser beam 56 is irradiated along the planned split line 55a and the planned split line 55b shown in FIG. As a result, a scribe surface 59a formed along the planned dividing line 55a and a scribe surface 59b formed along the planned divided line 55b are formed.

図4(d)はステップS4に対応する図である。図4(d)に示す様に、第1の基板35を弾性材からなる台60の上に配置する。分断予定線55aに形成されたスクライブ面59aに対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。基板38は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。基板38は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。   FIG. 4D is a diagram corresponding to step S4. As shown in FIG. 4D, the first substrate 35 is disposed on a base 60 made of an elastic material. A place facing the scribe surface 59 a formed on the planned dividing line 55 a is pressed using the pressing member 61. The substrate 38 sinks into the table 60 and tension acts on the crack portion 58. The substrate 38 breaks and breaks starting from the crack portion 58 close to the surface in contact with the table 60.

同様に、分断予定線55bに形成されたスクライブ面59bに対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。基板38は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。基板38は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。   Similarly, a place facing the scribe surface 59 b formed on the planned dividing line 55 b is pressed using the pressing member 61. The substrate 38 sinks into the table 60 and tension acts on the crack portion 58. The substrate 38 breaks and breaks starting from the crack portion 58 close to the surface in contact with the table 60.

図3(b)に示す様に、その結果、第1の基板35は図4(c)に示すスクライブ面59a及びスクライブ面59bで分断され接合基板34が形成される。   As shown in FIG. 3B, as a result, the first substrate 35 is divided by the scribe surface 59a and the scribe surface 59b shown in FIG.

上述したように、本実施形態によれば、以下の効果を有する。
(1)本実施形態によれば、第2の基板36において、電極端子42a,42b,51,52及び、配線41,49,50,54はレーザ光を透過する導電膜から形成されている。第1の基板35にレーザ光56を照射するとき、第1の基板35は光透過性であることから、レーザ光56の一部は、第1の基板35を通過する可能性がある。レーザ光56が第1の基板35を通過する場合、通過するレーザ光56は、第2の基板36を照射する。第2の基板36において、分断予定線55a及び分断予定線55bと対向する場所には、レーザ光56を透過する導電膜により形成されている電極端子42a,42b,51,52及び配線41,49,50,54が配置されている。第2の基板36を照射するレーザ光56が電極端子42a,42b,51,52及び、配線41,49,50,54を照射するとき、レーザ光56は電極端子42a,42b,51,52及び、配線41,49,50,54を通過することから、電極端子42a,42b,51,52及び、配線41,49,50,54は、レーザ光56により損傷を受けにくくなっている。従って、第2の基板36に形成される電極端子42a,42b,51,52及び、配線41,49,50,54は、レーザ光56により損傷を殆ど受けることなく、第1の基板35はスクライブされ、分断される。
As described above, this embodiment has the following effects.
(1) According to this embodiment, in the second substrate 36, the electrode terminals 42a, 42b, 51, 52 and the wirings 41, 49, 50, 54 are formed of a conductive film that transmits laser light. When irradiating the first substrate 35 with the laser beam 56, the first substrate 35 is light transmissive, so that part of the laser beam 56 may pass through the first substrate 35. When the laser beam 56 passes through the first substrate 35, the passing laser beam 56 irradiates the second substrate 36. In the second substrate 36, electrode terminals 42 a, 42 b, 51, 52 and wirings 41, 49 formed of a conductive film that transmits the laser light 56 are disposed at locations facing the planned dividing lines 55 a and 55 b. , 50, 54 are arranged. When the laser beam 56 irradiating the second substrate 36 irradiates the electrode terminals 42a, 42b, 51, 52 and the wirings 41, 49, 50, 54, the laser beam 56 is applied to the electrode terminals 42a, 42b, 51, 52, and Since the wires 41, 49, 50, 54 pass through, the electrode terminals 42 a, 42 b, 51, 52 and the wires 41, 49, 50, 54 are not easily damaged by the laser beam 56. Therefore, the electrode terminals 42a, 42b, 51, 52 and the wirings 41, 49, 50, 54 formed on the second substrate 36 are hardly damaged by the laser beam 56, and the first substrate 35 is scribed. And divided.

(2)本実施形態によれば、電極端子40a,40b,42a,42b,51,52及び、配線41,43,49,50,54は導電膜により形成されている。本実施形態においては、導電膜は、ITO膜を採用している。ITO膜は、酸化亜鉛系、酸化インジウム系、酸化スズ系など、他の透明導電膜に比べて、単位面積当りの抵抗が低いことから、電流を流し易く、電磁波のノイズの影響を受けにくくなる。従って、ノイズに強い導電膜とすることができる。   (2) According to this embodiment, the electrode terminals 40a, 40b, 42a, 42b, 51, 52 and the wirings 41, 43, 49, 50, 54 are formed of a conductive film. In the present embodiment, the conductive film employs an ITO film. The ITO film has low resistance per unit area compared to other transparent conductive films such as zinc oxide, indium oxide, and tin oxide, so that current can easily flow and it is less susceptible to electromagnetic noise. . Therefore, a conductive film resistant to noise can be obtained.

(3)本実施形態によれば、第2の基板36のレーザ光が照射されない場所には、金属膜からなる電極端子47,48,53及び配線46a〜配線46eが形成されている。電極端子47,48,53及び配線46a〜配線46eが形成されている場所には、レーザ光56が照射されないことから、電極端子47,48,53及び配線46a〜配線46eがレーザ光56により損傷を受けることがない。   (3) According to the present embodiment, the electrode terminals 47, 48, 53 and the wirings 46a to 46e made of a metal film are formed on the second substrate 36 where the laser beam is not irradiated. Since the laser beam 56 is not irradiated to the locations where the electrode terminals 47, 48, 53 and the wirings 46 a to 46 e are formed, the electrode terminals 47, 48, 53 and the wirings 46 a to 46 e are damaged by the laser beam 56. Not receive.

金属膜は、ITO膜に比べて、電気抵抗が低いことから、膜に電流を流すときに電圧降下を少なくすることができる。従って、電流を流す場所をITO膜で形成する場合に比べて、電力損失を少なくすることができる。   Since the metal film has a lower electrical resistance than the ITO film, the voltage drop can be reduced when a current is passed through the film. Therefore, the power loss can be reduced as compared with the case where the current flowing place is formed of the ITO film.

(4)本実施形態によれば、改質部57は第1の基板35における面38aに近い場所に形成される。第1の基板35において、第2の基板36側の面38aに近い場所に1段目の改質部57aを形成するとき、レーザ光56は、面38aに近い場所に集光する為、レーザ光56は、第1の基板35を通過し易くなる。レーザ光56が第1の基板35を通過して、第2の基板36を照射するとき、第2の基板36において、レーザ光56が照射される場所に形成されている導電膜は、光透過性を有することから、損傷を受けにくくなっている。   (4) According to the present embodiment, the modified portion 57 is formed at a location near the surface 38 a of the first substrate 35. In the first substrate 35, when the first modified portion 57a is formed at a location close to the surface 38a on the second substrate 36 side, the laser beam 56 is condensed at a location close to the surface 38a. The light 56 easily passes through the first substrate 35. When the laser beam 56 passes through the first substrate 35 and irradiates the second substrate 36, the conductive film formed on the second substrate 36 where the laser beam 56 is irradiated is light transmissive. Because of its properties, it is less susceptible to damage.

改質部57が第1の基板35における少なくとも一つの面38aに近い場所に形成される。第1の基板35が改質部57に沿って分断されるとき、改質部57が面38aに近い場所まで形成されている為、分断される断面は凹凸が少なく分断される。   The modified portion 57 is formed at a location close to at least one surface 38 a of the first substrate 35. When the first substrate 35 is divided along the modified portion 57, the modified section 57 is formed up to a place close to the surface 38a.

(第2の実施形態)
次に、本発明を具体化した基板の分断方法の一実施形態について、図2及び図5〜図7にて説明する。図2は、基板の分断方法のフローチャートであり、図5〜図7は基板の分断方法を説明する図である。第2の実施形態が、第1の実施形態と異なる点は、第1の基板に加えて、第2の基板についても、レーザ光を用いてスクライブし、分断する点である。
(Second Embodiment)
Next, an embodiment of a substrate cutting method embodying the present invention will be described with reference to FIGS. 2 and 5 to 7. FIG. 2 is a flowchart of the substrate dividing method, and FIGS. 5 to 7 are diagrams for explaining the substrate dividing method. The second embodiment is different from the first embodiment in that, in addition to the first substrate, the second substrate is scribed and divided using laser light.

図2のフローチャートにおいて、各ステップの内容は第1の実施形態と同じであり、説明を省略する。   In the flowchart of FIG. 2, the contents of each step are the same as those in the first embodiment, and a description thereof will be omitted.

図5(a)は、ステップS1に対応する図であり、第1の実施形態における、図3(c)に対応する図である。図5(a)に示す様に、第2の基板65には、同じパターンが2つ並べて形成されている。又、第1の実施形態の図3(c)においては、金属膜からなる電極端子47,48,53が、基板39に形成されている。一方、第2の実施形態の図5(a)においては、第2の基板65は、光透過性の導電膜であるITO膜からなる導電膜としての電極端子66,67,68が基板69に形成されている。   FIG. 5A is a diagram corresponding to step S1 and corresponding to FIG. 3C in the first embodiment. As shown in FIG. 5A, two identical patterns are formed side by side on the second substrate 65. Further, in FIG. 3C of the first embodiment, electrode terminals 47, 48 and 53 made of a metal film are formed on the substrate 39. On the other hand, in FIG. 5A of the second embodiment, the second substrate 65 has electrode terminals 66, 67, 68 as conductive films made of an ITO film which is a light-transmitting conductive film on the substrate 69. Is formed.

ステップS2にて接合する第1の基板72を分断する予定線を設定し、分断予定線70a,70b,70c,70dとする。同様に、第2の基板65を分断する予定線を設定し、分断予定線71とする。分断予定線70a〜分断予定線70d及び分断予定線71は、基板69の長手方向に延在する仮想線であり、一点鎖線で示す線である。   In step S2, a planned line for dividing the first substrate 72 to be bonded is set, and set as the planned divided lines 70a, 70b, 70c, and 70d. Similarly, a planned line for dividing the second substrate 65 is set as a planned divided line 71. The planned split line 70a to the planned split line 70d and the planned split line 71 are imaginary lines extending in the longitudinal direction of the substrate 69, and are lines indicated by alternate long and short dash lines.

図5(b)はステップS2に相当する図である。基板69に接着剤37を塗布する。接着剤37は、分断予定線70aと分断予定線70bとに挟まれた領域及び、分断予定線70cと分断予定線70dとに挟まれた領域に塗布する。続いて、第1の基板72と第2の基板65とを接着し、乾燥する。第1の基板72は、光透過性の性質を有し、外形寸法が基板69と同じ寸法となっている。   FIG. 5B is a diagram corresponding to step S2. An adhesive 37 is applied to the substrate 69. The adhesive 37 is applied to a region sandwiched between the planned split line 70a and the planned split line 70b and a region sandwiched between the planned split line 70c and the planned split line 70d. Subsequently, the first substrate 72 and the second substrate 65 are bonded and dried. The first substrate 72 has a light-transmitting property and has the same outer dimensions as the substrate 69.

図5(c)及び図6(a)〜図6(c)はステップS3に相当する図である。図5(c)に示す様に、集光レンズ8を用いてレーザ光56を集光し、基板69の内部に照射する。レーザ光56が集光して照射される場所には、改質部57が形成され、改質部57の中心にはクラック部58が形成される。集光レンズ8と基板69とを相対移動し、改質部57を配列して形成する。レーザ光56は、図5(a)に示す分断予定線71に沿って照射され、改質部57は、分断予定線71に沿って基板69の厚さ方向に多段に形成される。   FIG. 5C and FIG. 6A to FIG. 6C are diagrams corresponding to step S3. As shown in FIG. 5C, the laser beam 56 is condensed using the condensing lens 8 and irradiated to the inside of the substrate 69. A modified portion 57 is formed at a place where the laser beam 56 is condensed and irradiated, and a crack portion 58 is formed at the center of the modified portion 57. The condenser lens 8 and the substrate 69 are moved relative to each other, and the modified portions 57 are arranged and formed. The laser beam 56 is irradiated along the planned dividing line 71 shown in FIG. 5A, and the modified portions 57 are formed in multiple stages in the thickness direction of the substrate 69 along the planned dividing line 71.

図6(a)に示す様に、その結果、分断予定線71に沿って、改質部57が多段に配置されているスクライブ面73が形成される。   As a result, as shown in FIG. 6A, a scribe surface 73 in which the reforming portions 57 are arranged in multiple stages is formed along the planned dividing line 71.

図6(b)に示す様に、続いて、集光レンズ8を用いてレーザ光56を集光し、第1の基板72の内部に照射する。レーザ光56は、図5(a)に示す分断予定線70a〜分断予定線70dに沿って照射され、改質部57は、分断予定線70a〜分断予定線70dに沿って第1の基板72の厚さ方向に多段に形成される。   Next, as shown in FIG. 6B, the laser beam 56 is condensed using the condensing lens 8 and irradiated to the inside of the first substrate 72. The laser beam 56 is irradiated along the planned dividing line 70a to the planned dividing line 70d shown in FIG. 5 (a), and the reforming unit 57 performs the first substrate 72 along the planned divided line 70a to the planned dividing line 70d. Are formed in multiple stages in the thickness direction.

図6(c)に示す様に、その結果、分断予定線70a〜分断予定線70dに沿って、改質部57が多段に形成され、分断予定線70a〜分断予定線70dに対応して、スクライブ面74a〜スクライブ面74dが形成される。   As shown in FIG. 6 (c), as a result, the reforming portion 57 is formed in multiple stages along the planned dividing line 70a to 70d, and corresponding to the planned dividing line 70a to 70d. Scribe surfaces 74a to 74d are formed.

図7(a)及び図7(b)は、ステップS4に対応する図である。図7(a)に示す様に、基板69を弾性材からなる台60の上に配置する。分断予定線71に沿って形成されたスクライブ面73に対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。基板69は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。基板69は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。   FIG. 7A and FIG. 7B are diagrams corresponding to step S4. As shown in FIG. 7A, the substrate 69 is placed on a base 60 made of an elastic material. A place facing the scribe surface 73 formed along the planned dividing line 71 is pressed using the pressing member 61. The substrate 69 sinks into the table 60, and tension acts on the crack portion 58. The substrate 69 breaks and breaks starting from the crack portion 58 close to the surface in contact with the table 60.

図7(b)に示す様に、続いて、第1の基板72を弾性材からなる台60の上に配置する。分断予定線70a〜分断予定線70dに沿って形成されたスクライブ面74a〜スクライブ面74dに対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。第1の基板72は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。第1の基板72は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。以上の工程により、第1の基板72と第2の基板65とが接合され、分断されて、分離される。   Next, as shown in FIG. 7B, the first substrate 72 is placed on the base 60 made of an elastic material. A place facing the scribe surface 74 a to the scribe surface 74 d formed along the planned dividing line 70 a to 70 d is pressed using the pressing member 61. The first substrate 72 sinks into the table 60 and tension acts on the crack portion 58. The first substrate 72 breaks and breaks starting from the crack portion 58 close to the surface in contact with the table 60. Through the above steps, the first substrate 72 and the second substrate 65 are bonded, divided, and separated.

上述したように、本実施形態によれば、第1の実施形態における効果(1)〜効果(4)に加え、以下の効果を有する。
(1)本実施形態によれば、第2の基板65の内部に改質部57を形成するとき、レーザ光56が第1の基板72を透過して、第2の基板65を照射する。第2の基板65において、レーザ光56が照射される場所には、光透過性の導電膜からなる電極端子40a,40b,42a,42b,51,52,66,67,68が形成されている。電極端子40a,40b,42a,42b,51,52,66,67,68は、レーザ光56を透過することから損傷を殆ど受けずに、レーザ光56は、第2の基板65の内部を照射する。第1の基板72と第2の基板65とを同じ第1の基板72側からレーザ光56を照射して、第1の基板72と第2の基板65との内部に改質部57を形成することから、第1の基板72及び第2の基板65を反転する必要がない。従って、反転する工程を必要としないことから生産性良くスクライブすることができる。
As described above, according to the present embodiment, in addition to the effects (1) to (4) in the first embodiment, the following effects are obtained.
(1) According to the present embodiment, when the modified portion 57 is formed inside the second substrate 65, the laser beam 56 passes through the first substrate 72 and irradiates the second substrate 65. In the second substrate 65, electrode terminals 40a, 40b, 42a, 42b, 51, 52, 66, 67, and 68 made of a light-transmitting conductive film are formed at locations where the laser beam 56 is irradiated. . The electrode terminals 40 a, 40 b, 42 a, 42 b, 51, 52, 66, 67, 68 are hardly damaged because they transmit the laser light 56, and the laser light 56 irradiates the inside of the second substrate 65. To do. The first substrate 72 and the second substrate 65 are irradiated with laser light 56 from the same first substrate 72 side, and a modified portion 57 is formed inside the first substrate 72 and the second substrate 65. Therefore, it is not necessary to invert the first substrate 72 and the second substrate 65. Therefore, since the inversion process is not required, scribing can be performed with high productivity.

(第3の実施形態)
次に、本発明を具体化した液晶表示装置の製造方法の一実施形態について図8〜図16を用いて説明する。
本実施形態では、本発明の基板の分断方法を用いて液晶表示装置を製造する場合の例を説明する。ここで、本発明の特徴的な製造方法について説明する前に、液晶表示装置について順次説明する。
(Third embodiment)
Next, an embodiment of a method for manufacturing a liquid crystal display device embodying the present invention will be described with reference to FIGS.
In this embodiment, an example in the case of manufacturing a liquid crystal display device using the substrate cutting method of the present invention will be described. Here, before describing the characteristic manufacturing method of the present invention, the liquid crystal display device will be sequentially described.

(液晶表示装置)
まず、液晶表示装置について説明する。図8は、液晶表示装置の模式平面図であり、図9は、図8の液晶表示装置のB−B’線に沿う模式断面図である。
(Liquid crystal display device)
First, a liquid crystal display device will be described. FIG. 8 is a schematic plan view of the liquid crystal display device, and FIG. 9 is a schematic cross-sectional view taken along the line BB ′ of the liquid crystal display device of FIG.

図8及び図9において、本実施形態の電気光学装置としての液晶表示装置81は、対をなすTFTアレイ基板82と対向基板83とが熱硬化性の封止材であるシール84によって貼り合わされ、このシール84によって区画される領域内に封入された液晶85からなる液晶層を備えている。シール84は、基板面内の領域において閉ざされた枠形状に形成されている。   8 and 9, a liquid crystal display device 81 as an electro-optical device according to this embodiment has a TFT array substrate 82 and a counter substrate 83 that form a pair, which are bonded together by a seal 84 that is a thermosetting sealing material. A liquid crystal layer made of liquid crystal 85 is provided in a region defined by the seal 84. The seal 84 is formed in a frame shape closed in a region within the substrate surface.

シール84の内側で対向基板83の液晶85側の面には、遮光性材料で配線を隠すための周辺見切り86が形成されている。シール84の外側の場所には、データ線駆動回路87及び電極端子88がTFTアレイ基板82の辺82a(図8中下側の辺)に沿って形成されており、この辺82aに隣接する辺82b及び辺82c(図8中左右の辺)に沿って走査線駆動回路89が形成されている。データ線駆動回路87、電極端子88及び走査線駆動回路89は光透過性の導電膜である配線90aにより電気的に接続されている。TFTアレイ基板82の残る辺82d(図8中上側の辺)には、2つの走査線駆動回路89の間を接続するための光透過性の導電膜である配線90bが設けられている。電極端子88及び配線90a,90bは、レーザ光に対して光透過性のある導電膜であれば良く、本実施形態では、例えば、ITO膜を採用している。また、対向基板83のコーナー部の4箇所においては、TFTアレイ基板82と対向基板83との間で電気的導通をとるための基板間導通材91が配設されている。   A peripheral parting 86 for concealing the wiring with a light-shielding material is formed on the surface of the counter substrate 83 on the liquid crystal 85 side inside the seal 84. A data line driving circuit 87 and an electrode terminal 88 are formed along a side 82a (lower side in FIG. 8) of the TFT array substrate 82 at a location outside the seal 84, and a side 82b adjacent to the side 82a. The scanning line driving circuit 89 is formed along the side 82c (the left and right sides in FIG. 8). The data line driving circuit 87, the electrode terminal 88, and the scanning line driving circuit 89 are electrically connected by a wiring 90a that is a light transmissive conductive film. On the remaining side 82 d (upper side in FIG. 8) of the TFT array substrate 82, a wiring 90 b that is a light-transmitting conductive film for connecting the two scanning line driving circuits 89 is provided. The electrode terminal 88 and the wirings 90a and 90b may be any conductive film that is transparent to laser light. In this embodiment, for example, an ITO film is employed. In addition, inter-substrate conductive members 91 for providing electrical continuity between the TFT array substrate 82 and the counter substrate 83 are disposed at the four corners of the counter substrate 83.

また、液晶表示装置81はカラー表示用として構成しており、対向基板83において、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタ92R,92G,92Bが保護膜とともに形成されている。カラーフィルタ92R,92G,92Bの各フィルタ素子の間には、遮光膜93が形成されており、カラーフィルタ92R,92G,92Bを通過しない光は遮光膜93が遮断するようになっている。さらに、カラーフィルタ92R,92G,92Bの保護膜のTFTアレイ基板82側には対向電極94と配向膜95とが配置されている。   The liquid crystal display device 81 is configured for color display. On the counter substrate 83, red (R), green (G), and blue (B) color filters 92R, 92G, and 92B are formed together with a protective film. Yes. A light shielding film 93 is formed between the filter elements of the color filters 92R, 92G, and 92B. The light shielding film 93 blocks light that does not pass through the color filters 92R, 92G, and 92B. Further, a counter electrode 94 and an alignment film 95 are disposed on the TFT array substrate 82 side of the protective film of the color filters 92R, 92G, and 92B.

液晶は、該液晶を挟持する電極に電圧を印加すると液晶分子の液晶の傾き角度が変化する性質を持っており、TFTのスイッチング動作により、液晶にかける電圧をコントロールして液晶の傾き角度を制御し、画素毎に光を透過させたり遮ったりする動作を行う。それにより、透過した光は、画素毎に相対して設置される赤(R)、緑(G)、青(B)の3色の色フィルタを有するカラーフィルタを透過することで、画素毎に対応する各色フィルタの色を色光として透過する。なお、光が液晶により遮られた画素に対応する色フィルタには当然光は入射しないため、黒色となる。このようにTFTのスイッチング動作により、液晶をシャッタとして動作させることにより、画素毎に光の透過をコントロールし、画素を明滅させることにより、カラー映像を表示させることができる。   The liquid crystal has the property that the tilt angle of the liquid crystal molecules changes when a voltage is applied to the electrodes sandwiching the liquid crystal, and the tilt angle of the liquid crystal is controlled by controlling the voltage applied to the liquid crystal by the switching operation of the TFT. Then, an operation of transmitting or blocking light is performed for each pixel. Thereby, the transmitted light passes through a color filter having three color filters of red (R), green (G), and blue (B) that are installed relative to each pixel. The color of each corresponding color filter is transmitted as colored light. In addition, since light does not naturally enter the color filter corresponding to the pixel where the light is blocked by the liquid crystal, the color filter is black. In this way, by operating the liquid crystal as a shutter by the switching operation of the TFT, the transmission of light is controlled for each pixel, and the color image can be displayed by blinking the pixel.

このような構造を有する液晶表示装置81の画像を表示する領域には、複数の画素がm行n列のマトリクス状に構成されているとともに、これらの画素の各々には、画素信号をスイッチングするスイッチング素子であるTFT(Thin Film Transistor)が形成されている。画素信号を供給するデータ線(ソース配線)がTFTのソース電極に電気的に接続され、走査信号を供給する走査線(ゲート配線)がTFTのゲート電極に電気的に接続され、TFTのドレイン電極に画素電極96が電気的に接続されている。画素電極96はカラーフィルタ92R,92G,92Bの各フィルタ素子と対向する場所に形成されている。走査線が接続されるTFTのゲート電極には、所定のタイミングで、走査線からパルス信号の走査信号が供給される。   In the region for displaying an image of the liquid crystal display device 81 having such a structure, a plurality of pixels are configured in a matrix of m rows and n columns, and a pixel signal is switched to each of these pixels. A TFT (Thin Film Transistor) which is a switching element is formed. A data line (source wiring) for supplying a pixel signal is electrically connected to the source electrode of the TFT, a scanning line (gate wiring) for supplying a scanning signal is electrically connected to the gate electrode of the TFT, and a drain electrode of the TFT A pixel electrode 96 is electrically connected to the pixel electrode 96. The pixel electrode 96 is formed at a location facing the filter elements of the color filters 92R, 92G, and 92B. A scanning signal of a pulse signal is supplied from the scanning line to the gate electrode of the TFT to which the scanning line is connected at a predetermined timing.

画素電極96は、TFTのドレイン電極に電気的に接続されており、TFTを一定期間だけオン状態とすることにより、データ線から供給される画素信号が各画素の画素電極96に所定のタイミングで供給される。このようにして画素電極96に供給された所定レベルの画素信号の電圧レベルは、図9に示す対向基板83の対向電極94との間で保持され、画素信号の電圧レベルに応じて、液晶85の光透過量が変化する。液晶表示装置81はカラーフィルタを備えており、カラーフィルタ92R,92G,92Bを透過する光を液晶85からなる液晶層を挟持する電極に印加する画像信号により制御することで、液晶表示装置81はカラー画像を表示することができる。   The pixel electrode 96 is electrically connected to the drain electrode of the TFT. By turning on the TFT for a certain period, the pixel signal supplied from the data line is applied to the pixel electrode 96 of each pixel at a predetermined timing. Supplied. The voltage level of the pixel signal of the predetermined level supplied to the pixel electrode 96 in this way is held between the counter electrode 94 of the counter substrate 83 shown in FIG. 9, and the liquid crystal 85 is set according to the voltage level of the pixel signal. The amount of transmitted light changes. The liquid crystal display device 81 includes a color filter, and the liquid crystal display device 81 is controlled by an image signal applied to an electrode that sandwiches a liquid crystal layer made of the liquid crystal 85 by transmitting light transmitted through the color filters 92R, 92G, and 92B. A color image can be displayed.

画素電極96の対向基板83側には配向膜97が配置されている。配向膜95と配向膜97とにはその表面に溝状の凹凸が形成されており、配向膜95と配向膜97との間に充填された液晶85は、溝状の凹凸に沿って配列して形成される。   An alignment film 97 is disposed on the counter substrate 83 side of the pixel electrode 96. The alignment film 95 and the alignment film 97 have groove-like irregularities formed on the surfaces thereof, and the liquid crystal 85 filled between the alignment film 95 and the alignment film 97 is arranged along the groove-like irregularities. Formed.

TFTアレイ基板82及び対向基板83において、液晶85と反対側の面には、偏光シート98,99が配置され、偏光シート98,99及び液晶85の作用により、液晶表示装置81を透過する光透過量が変化するようになっている。   In the TFT array substrate 82 and the counter substrate 83, polarizing sheets 98 and 99 are disposed on the surface opposite to the liquid crystal 85, and light transmission that passes through the liquid crystal display device 81 by the action of the polarizing sheets 98 and 99 and the liquid crystal 85. The amount is changing.

(液晶表示装置の製造方法)
次に、上述した液晶表示装置81における基板の分断方法について図10〜図17にて説明する。図10は、液晶表示装置の製造方法のフローチャートであり、図11〜17は液晶表示装置の製造方法を説明する図である。
(Manufacturing method of liquid crystal display device)
Next, a method for dividing the substrate in the above-described liquid crystal display device 81 will be described with reference to FIGS. FIG. 10 is a flowchart of a manufacturing method of a liquid crystal display device, and FIGS. 11 to 17 are diagrams illustrating a manufacturing method of the liquid crystal display device.

図10のフローチャートにおいて、ステップS11はTFTアレイマザー基板の素子、配線、電極形成工程に相当し、TFTアレイマザー基板に素子、配線、電極等を形成する工程である。次にステップS12に移行する。ステップS12は接合工程に相当し、TFTアレイマザー基板と対向マザー基板とを接合する工程である。次にステップS13に移行する。ステップS13は対向マザー基板の第1スクライブ工程に相当し、対向マザー基板の一方向にスクライブする工程である。次にステップS14に移行する。ステップS14は対向マザー基板の第2スクライブ工程に相当し、対向マザー基板において、ステップS13でスクライブした方向と直交する方向にスクライブする工程である。次にステップS15に移行する。   In the flowchart of FIG. 10, step S11 corresponds to a process for forming elements, wirings, and electrodes on the TFT array mother substrate, and is a process for forming elements, wirings, electrodes, and the like on the TFT array mother substrate. Next, the process proceeds to step S12. Step S12 corresponds to a bonding process, and is a process for bonding the TFT array mother substrate and the counter mother substrate. Next, the process proceeds to step S13. Step S13 corresponds to the first scribing process of the counter mother substrate, and is a process of scribing in one direction of the counter mother substrate. Next, the process proceeds to step S14. Step S14 corresponds to the second scribing process of the counter mother substrate, and is a process of scribing in the direction orthogonal to the direction scribed in step S13 on the counter mother substrate. Next, the process proceeds to step S15.

ステップS15はTFTアレイマザー基板の第1スクライブ工程に相当し、TFTアレイマザー基板の一方向にスクライブする工程である。次にステップS16に移行する。ステップS16はTFTアレイマザー基板の第2スクライブ工程に相当し、TFTアレイマザー基板において、ステップS15でスクライブした方向と直交する方向にスクライブする工程である。次にステップS17に移行する。ステップS17は対向マザー基板の分断工程に相当し、対向マザー基板を分断する工程である。次にステップS18に移行する。ステップS18はTFTアレイマザー基板の分断工程に相当し、TFTアレイマザー基板を分断する工程である。以上の工程により、液晶表示装置81が形成される。   Step S15 corresponds to the first scribing process of the TFT array mother substrate, and is a process of scribing in one direction of the TFT array mother substrate. Next, the process proceeds to step S16. Step S16 corresponds to a second scribing step for the TFT array mother substrate, and is a step for scribing the TFT array mother substrate in a direction orthogonal to the direction scribed in step S15. Next, the process proceeds to step S17. Step S <b> 17 corresponds to a process of dividing the counter mother substrate, and is a process of dividing the counter mother substrate. Next, the process proceeds to step S18. Step S18 corresponds to a TFT array mother substrate dividing step, and is a step of dividing the TFT array mother substrate. The liquid crystal display device 81 is formed by the above process.

次に、図11〜図17を用いて、図10に示したステップと対応させて、製造方法を詳細に説明する。図11(a)は、TFTアレイ基板が区画形成されたマザー基板であるTFTアレイマザー基板を示す模式図である。図11(b)は、図11(a)のC−C’線に沿った模式断面図である。   Next, the manufacturing method will be described in detail with reference to FIGS. 11 to 17 in association with the steps shown in FIG. FIG. 11A is a schematic diagram showing a TFT array mother substrate which is a mother substrate in which the TFT array substrate is partitioned. FIG. 11B is a schematic cross-sectional view taken along line C-C ′ of FIG.

図11(a)及び図11(b)はステップS11に対応する図である。図11(a)及び図11(b)に示すように、基板及び第2の基板としてのTFTアレイマザー基板102は円板状に形成されている基板103の一つの面103aには、画素電極96が配列して形成され、画素電極96を覆う様に、配向膜97が形成され、表面に凹凸を形成する配向処理が施されている。基板103は、光透過性のある材質であれば良く、例えば、本実施形態では石英ガラスを採用している。   FIG. 11A and FIG. 11B are diagrams corresponding to step S11. As shown in FIGS. 11A and 11B, a TFT array mother substrate 102 as a substrate and a second substrate is formed in a disk shape on one surface 103a of a substrate 103. An alignment film 97 is formed so as to cover the pixel electrode 96, and an alignment process for forming irregularities on the surface is performed. The substrate 103 only needs to be a light-transmitting material. For example, quartz glass is used in this embodiment.

TFTアレイマザー基板102には、各画素電極96に対応して図示しないTFTが配列して形成され、画素電極96とTFTとが電気的に接続されている。TFTに信号を送信するデータ線駆動回路87及び走査線駆動回路89とが形成され、TFTと、データ線駆動回路87及び走査線駆動回路89とを電気的に接続する配線104が形成されている。配線104は、アルミニウムを素材として採用されている。データ線駆動回路87と走査線駆動回路89とに対して外部から信号を入力する為の電極端子88が形成され、データ線駆動回路87及び走査線駆動回路89と電極端子88とを電気的に接続する配線90aが形成されている。配線90a,90b及び電極端子88は光透過性の導電膜により形成され、本実施形態では、導電膜にITO膜が採用されている。   On the TFT array mother substrate 102, TFTs (not shown) are formed in correspondence with the pixel electrodes 96, and the pixel electrodes 96 and the TFTs are electrically connected. A data line driving circuit 87 and a scanning line driving circuit 89 that transmit signals to the TFT are formed, and a wiring 104 that electrically connects the TFT to the data line driving circuit 87 and the scanning line driving circuit 89 is formed. . The wiring 104 is made of aluminum as a material. An electrode terminal 88 for inputting a signal from the outside to the data line driving circuit 87 and the scanning line driving circuit 89 is formed, and the data line driving circuit 87, the scanning line driving circuit 89, and the electrode terminal 88 are electrically connected. A wiring 90a to be connected is formed. The wirings 90a and 90b and the electrode terminal 88 are formed of a light-transmitting conductive film. In this embodiment, an ITO film is used as the conductive film.

TFTアレイマザー基板102に形成されている以上の回路、素子、配線等は公知の方法により製造されており、説明を省略する。   The above circuits, elements, wirings and the like formed on the TFT array mother substrate 102 are manufactured by a known method, and a description thereof will be omitted.

図12〜図13はステップS12に対応する図である。図12(a)に示す様に、基板103にシール材105を塗布する。シール材105は固化時に基板を接着可能であり、液晶に対して、影響を及ぼさない材料であれば良く、本実施形態では熱硬化性のエポキシ樹脂を採用している。シール材105は図8に示すシール84の様に、枠形状に塗布する。   12 to 13 are diagrams corresponding to step S12. As shown in FIG. 12A, a sealing material 105 is applied to the substrate 103. The sealing material 105 may be any material that can adhere to the substrate when solidified and does not affect the liquid crystal. In this embodiment, a thermosetting epoxy resin is used. The sealing material 105 is applied in a frame shape like a seal 84 shown in FIG.

図12(b)に示す様に、基板103において、枠形状に塗布されているシール材105の内側にディスペンサを用いて液晶85を塗布する。図示しない真空チャンバに、液晶85が塗布されている基板103を配置して、真空チャンバ内を脱気して真空にする。   As shown in FIG. 12B, on the substrate 103, the liquid crystal 85 is applied using a dispenser inside the sealing material 105 applied in a frame shape. The substrate 103 coated with the liquid crystal 85 is placed in a vacuum chamber (not shown), and the inside of the vacuum chamber is evacuated to make a vacuum.

図13(a)は、マザー基板を示す模式図であり、図13(b)は、図13(a)のD−D’線に沿った模式断面図である。図13(a)及び図13(b)に示すように、真空にした真空チャンバ中で、第1の基板としての対向マザー基板106とTFTアレイマザー基板102との相対位置を合わせて押圧する。対向マザー基板106には、図9に示すカラーフィルタ92R,92G,92B、遮光膜93、対向電極94が基板107に形成されている。TFTアレイマザー基板102に対向マザー基板106を押圧した後、真空チャンバ内に空気を流入する。大気圧によりTFTアレイマザー基板102と対向マザー基板106とが加圧される。   FIG. 13A is a schematic diagram illustrating a mother substrate, and FIG. 13B is a schematic cross-sectional view taken along the line D-D ′ of FIG. As shown in FIG. 13A and FIG. 13B, in the vacuum chamber that is evacuated, the opposing mother substrate 106 as the first substrate and the TFT array mother substrate 102 are pressed in alignment. On the counter mother substrate 106, color filters 92R, 92G, and 92B, a light shielding film 93, and a counter electrode 94 shown in FIG. After the opposing mother substrate 106 is pressed against the TFT array mother substrate 102, air flows into the vacuum chamber. The TFT array mother substrate 102 and the opposing mother substrate 106 are pressurized by the atmospheric pressure.

対向マザー基板106とTFTアレイマザー基板102との相対位置を保持した状態で加熱して乾燥し、シール材105を固化してシール84を形成する。対向マザー基板106とTFTアレイマザー基板102とがシール84を介して接合されたマザー基板108が完成し、ステップS12が終了する。   The sealing material 105 is solidified to form a seal 84 by heating and drying in a state where the relative position between the counter mother substrate 106 and the TFT array mother substrate 102 is maintained. The mother substrate 108 in which the counter mother substrate 106 and the TFT array mother substrate 102 are bonded via the seal 84 is completed, and Step S12 is completed.

図8に示す液晶表示装置81を形成する為に、対向マザー基板106を分断する予定の面をH対向切断面109、V対向切断面110とし、TFTアレイマザー基板102を分断する予定の面をH素子切断面111、V素子切断面112と表記する。
H対向切断面109は、一点鎖線で示した対向マザー基板106の切断面であり、図13(a)のX軸方向に延在する切断面である。図13(a)に示した、109a,109b,109c,109d,109eは、それぞれH対向切断面109である。
In order to form the liquid crystal display device 81 shown in FIG. 8, the surfaces on which the opposed mother substrate 106 is to be divided are referred to as an H opposed cutting surface 109 and a V opposed cutting surface 110, and the surfaces on which the TFT array mother substrate 102 is to be divided are formed. They are denoted as H element cut surface 111 and V element cut surface 112.
The H facing cut surface 109 is a cutting surface of the facing mother substrate 106 indicated by a one-dot chain line, and is a cutting surface extending in the X-axis direction of FIG. 109a, 109b, 109c, 109d, and 109e shown in FIG. 13A are H-opposing cut surfaces 109, respectively.

V対向切断面110は、一点鎖線で示した対向マザー基板106の切断面であり、図13(a)のY軸方向に延在する切断面である。図13(a)に示した、110a,110b,110cは、それぞれV対向切断面110である。   The V opposing cutting surface 110 is a cutting surface of the opposing mother substrate 106 indicated by a one-dot chain line, and is a cutting surface extending in the Y-axis direction of FIG. Reference numerals 110a, 110b, and 110c shown in FIG.

H素子切断面111は、一点鎖線で示したTFTアレイマザー基板102の切断面であり、図13(a)のX軸方向に延在する切断面である。図13(a)に示した、111a,111b,111cは、それぞれH素子切断面111である。   The H element cut surface 111 is a cut surface of the TFT array mother substrate 102 indicated by a one-dot chain line, and is a cut surface extending in the X-axis direction of FIG. 111a, 111b, and 111c shown in FIG. 13A are H element cut surfaces 111, respectively.

V素子切断面112は、一点鎖線で示したTFTアレイマザー基板102の切断面であり、図13(a)のY軸方向に延在する切断面である。V素子切断面112は、V対向切断面110と対向する場所に位置し、図13(a)に示した、112a,112b,112cは、それぞれV素子切断面112である。   The V element cut surface 112 is a cut surface of the TFT array mother substrate 102 indicated by a one-dot chain line, and is a cut surface extending in the Y-axis direction of FIG. The V element cutting surface 112 is located at a position facing the V facing cutting surface 110, and 112a, 112b, and 112c shown in FIG. 13A are V element cutting surfaces 112, respectively.

図14(a)〜図14(b)はステップS13に対応する図である。図14(a)に示す様に、対向マザー基板106の基板107の内部に、集光レンズ8でレーザ光56を集光して照射する。レーザ光56が集光して照射される場所には、改質部57が形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。集光レンズ8と基板107とを相対的に移動してレーザ光56を照射し、改質部57を配列して形成する。まず、基板107において、TFTアレイマザー基板102側の面107bの近くに改質部57を配列して1段目の改質部57aを、基板107のV対向切断面110に沿って形成する。続いて、1段目と隣接する場所に改質部57を配列して2段目の改質部57bを形成する。3段目以降についても、同様の方法で、改質部57を配列して形成する。   FIG. 14A to FIG. 14B are diagrams corresponding to step S13. As shown in FIG. 14A, the laser light 56 is condensed and irradiated by the condenser lens 8 inside the substrate 107 of the counter mother substrate 106. A modified portion 57 is formed at a place where the laser beam 56 is condensed and irradiated, and a crack portion 58 is formed at the center of the modified portion 57. The condensing lens 8 and the substrate 107 are relatively moved to irradiate the laser beam 56, and the modified portions 57 are arranged and formed. First, in the substrate 107, the modified portion 57 is arranged near the surface 107 b on the TFT array mother substrate 102 side, and the first modified portion 57 a is formed along the V facing cut surface 110 of the substrate 107. Subsequently, the reformer 57 is arranged at a location adjacent to the first stage to form the second-stage reformer 57b. In the third and subsequent stages, the reforming portions 57 are arranged and formed in the same manner.

図13(a)に示す様に、TFTアレイマザー基板102において、V対向切断面110と対向する場所の近くには配線90aと配線90bとが形成されている。レーザ光56をV対向切断面110に沿って照射するとき、対向マザー基板106を通過するレーザ光56が、配線90aと配線90bとを照射する可能性がある。配線90aと配線90bとは、光透過性の導電膜により形成されていることから、レーザ光56は、配線90aと配線90bとを通過する。従って、配線90aと配線90bとが、レーザ光56により損傷を受けにくくなっている。   As shown in FIG. 13A, in the TFT array mother substrate 102, the wiring 90a and the wiring 90b are formed in the vicinity of the place facing the V facing cut surface 110. When the laser beam 56 is irradiated along the V-opposing cut surface 110, the laser beam 56 that passes through the counter mother substrate 106 may irradiate the wiring 90a and the wiring 90b. Since the wiring 90a and the wiring 90b are formed of a light-transmitting conductive film, the laser light 56 passes through the wiring 90a and the wiring 90b. Therefore, the wiring 90 a and the wiring 90 b are not easily damaged by the laser beam 56.

図14(b)に示す様に、その結果、基板102のV対向切断面110総てに改質部57が配列して形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。   As a result, as shown in FIG. 14B, the modified portion 57 is formed in an array on all the V facing cut surfaces 110 of the substrate 102, and a crack portion 58 is formed in the center of the modified portion 57. .

図14(c)〜14(d)はステップS14に対応する図である。図14(c)に示す様に、対向マザー基板106の基板107の内部に、集光レンズ8でレーザ光56を集光して照射する。レーザ光56が集光して照射される場所には、改質部57が形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。ステップS13と同様に、集光レンズ8と基板107とを相対移動して、レーザ光56を照射し、改質部57が、基板107のH対向切断面109に沿って配列して形成される。   14 (c) to 14 (d) are diagrams corresponding to step S14. As shown in FIG. 14C, the laser light 56 is condensed and irradiated by the condenser lens 8 inside the substrate 107 of the counter mother substrate 106. A modified portion 57 is formed at a place where the laser beam 56 is condensed and irradiated, and a crack portion 58 is formed at the center of the modified portion 57. Similarly to step S13, the condenser lens 8 and the substrate 107 are moved relative to each other and irradiated with the laser light 56, and the modified portions 57 are formed along the H-opposing cut surface 109 of the substrate 107. .

図13(a)に示す様に、TFTアレイマザー基板102において、H対向切断面109と対向する場所の近くには電極端子88と配線90bとが形成されている。レーザ光56をH対向切断面109に沿って照射するとき、対向マザー基板106を通過するレーザ光56が、電極端子88と配線90bとを照射する可能性がある。電極端子88と配線90bとは、光透過性の導電膜により形成されていることから、レーザ光56は、電極端子88と配線90bとを通過する。従って、電極端子88と配線90bとが、レーザ光56により損傷を受けにくくなっている。   As shown in FIG. 13A, in the TFT array mother substrate 102, an electrode terminal 88 and a wiring 90b are formed near a place facing the H-opposing cut surface 109. When irradiating the laser beam 56 along the H-opposing cut surface 109, the laser beam 56 passing through the opposing mother substrate 106 may irradiate the electrode terminal 88 and the wiring 90b. Since the electrode terminal 88 and the wiring 90b are formed of a light-transmitting conductive film, the laser light 56 passes through the electrode terminal 88 and the wiring 90b. Therefore, the electrode terminal 88 and the wiring 90 b are not easily damaged by the laser beam 56.

図14(d)に示す様に、その結果、基板106のH対向切断面109総てに改質部57が配列して形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。   As a result, as shown in FIG. 14 (d), the modified portion 57 is formed in an array on all the H facing cut surfaces 109 of the substrate 106, and a crack portion 58 is formed in the center of the modified portion 57. .

図15(a)〜15(b)はステップS15に対応する図である。図15(a)に示す様に、TFTアレイマザー基板102の基板103の内部に、集光レンズ8でレーザ光56を集光して照射する。レーザ光56が集光して照射される場所には、改質部57が形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。ステップS13と同様に、集光レンズ8と基板103とを相対移動して、レーザ光56を照射し、改質部57が、基板103のV素子切断面112に沿って配列して形成される。   15A to 15B are diagrams corresponding to step S15. As shown in FIG. 15A, the laser beam 56 is condensed and irradiated by the condenser lens 8 inside the substrate 103 of the TFT array mother substrate 102. A modified portion 57 is formed at a place where the laser beam 56 is condensed and irradiated, and a crack portion 58 is formed at the center of the modified portion 57. Similarly to step S13, the condenser lens 8 and the substrate 103 are moved relative to each other and irradiated with the laser beam 56, and the modified portions 57 are formed along the V element cut surface 112 of the substrate 103. .

図13(a)に示す様に、TFTアレイマザー基板102において、V素子切断面112の近くには配線90aと配線90bとが形成されている。レーザ光56をV素子切断面112に沿って照射するとき、TFTアレイマザー基板102を通過するレーザ光56が、配線90aと配線90bとを照射する可能性がある。配線90aと配線90bとは、光透過性の導電膜により形成されていることから、レーザ光56は、配線90aと配線90bとを通過する。従って、配線90aと配線90bとが、レーザ光56により損傷を受けにくくなっている。   As shown in FIG. 13A, in the TFT array mother substrate 102, wiring 90 a and wiring 90 b are formed near the V element cut surface 112. When irradiating the laser beam 56 along the V element cut surface 112, the laser beam 56 passing through the TFT array mother substrate 102 may irradiate the wiring 90a and the wiring 90b. Since the wiring 90a and the wiring 90b are formed of a light-transmitting conductive film, the laser light 56 passes through the wiring 90a and the wiring 90b. Therefore, the wiring 90 a and the wiring 90 b are not easily damaged by the laser beam 56.

図15(b)に示す様に、その結果、基板103のV素子切断面112総てに改質部57が配列して形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。   As a result, as shown in FIG. 15B, the modified portion 57 is formed and arranged on the entire V element cutting surface 112 of the substrate 103, and the crack portion 58 is formed at the center of the modified portion 57. .

図15(c)〜15(d)はステップS16に対応する図である。図15(c)に示す様に、TFTアレイマザー基板102の基板103の内部に、集光レンズ8でレーザ光56を集光して照射する。レーザ光56が集光して照射される場所には、改質部57が形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。ステップS13と同様に、集光レンズ8と基板103とを相対移動して、レーザ光56を照射し、改質部57が、基板103のH素子切断面111に沿って配列して形成される。   FIGS. 15C to 15D are diagrams corresponding to step S16. As shown in FIG. 15C, the laser beam 56 is condensed and irradiated by the condenser lens 8 inside the substrate 103 of the TFT array mother substrate 102. A modified portion 57 is formed at a place where the laser beam 56 is condensed and irradiated, and a crack portion 58 is formed at the center of the modified portion 57. Similarly to step S <b> 13, the condenser lens 8 and the substrate 103 are moved relative to each other and irradiated with the laser beam 56, and the modified portions 57 are formed along the H element cut surface 111 of the substrate 103. .

図13(a)に示す様に、TFTアレイマザー基板102において、H素子切断面111の近くには電極端子88と配線90bとが形成されている。レーザ光56をH素子切断面111に沿って照射するとき、TFTアレイマザー基板102を通過するレーザ光56が、電極端子88と配線90bとを照射する可能性がある。電極端子88と配線90bとは、光透過性の導電膜により形成されていることから、レーザ光56は、電極端子88と配線90bとを通過する。従って、電極端子88と配線90bとが、レーザ光56により損傷を受けにくくなっている。   As shown in FIG. 13A, in the TFT array mother substrate 102, an electrode terminal 88 and a wiring 90b are formed near the H element cut surface 111. As shown in FIG. When the laser beam 56 is irradiated along the H element cut surface 111, the laser beam 56 passing through the TFT array mother substrate 102 may irradiate the electrode terminal 88 and the wiring 90b. Since the electrode terminal 88 and the wiring 90b are formed of a light-transmitting conductive film, the laser light 56 passes through the electrode terminal 88 and the wiring 90b. Therefore, the electrode terminal 88 and the wiring 90 b are not easily damaged by the laser beam 56.

図15(d)に示す様に、その結果、基板103のH素子切断面111総てに改質部57が配列して形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。ステップS13〜ステップS16の工程により、H対向切断面109、V対向切断面110、H素子切断面111、V素子切断面112の総ての面に沿って改質部57が配列して形成される。   As a result, as shown in FIG. 15D, the modified portion 57 is formed in an array on all the H element cut surfaces 111 of the substrate 103, and a crack portion 58 is formed in the center of the modified portion 57. . Through the steps S13 to S16, the reforming portions 57 are arranged and formed along all the surfaces of the H facing cutting surface 109, the V facing cutting surface 110, the H element cutting surface 111, and the V element cutting surface 112. The

図16(a)〜16(d)はステップS17に対応する図である。図16(a)に示す様に、続いて、マザー基板108を弾性材からなる台60の上に配置する。マザー基板108の対向マザー基板106が台60と接する様に配置し、TFTアレイマザー基板102において、V対向切断面110に配列して形成されているクラック部58と対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。対向マザー基板106は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。対向マザー基板106は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。
図16(b)に示す様に、その結果、対向マザー基板106は、V対向切断面110で分断される。
16A to 16D are diagrams corresponding to step S17. As shown in FIG. 16A, subsequently, the mother substrate 108 is placed on a base 60 made of an elastic material. The opposing mother substrate 106 of the mother substrate 108 is disposed so as to be in contact with the base 60, and the place facing the crack portion 58 formed on the V opposing cutting surface 110 in the TFT array mother substrate 102 is a pressing member. Press using 61. The counter mother substrate 106 sinks into the table 60, and tension acts on the crack portion 58. The counter mother substrate 106 breaks and splits starting from a crack portion 58 close to the surface in contact with the base 60.
As shown in FIG. 16B, as a result, the counter mother substrate 106 is divided at the V counter cut surface 110.

図16(c)に示す様に、続いて、TFTアレイマザー基板102において、H対向切断面109に配列して形成されているクラック部58と対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。対向マザー基板106は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。対向マザー基板106は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。   Next, as shown in FIG. 16C, a place where the TFT array mother substrate 102 faces the crack portion 58 formed in an array on the H-opposing cut surface 109 is pressed using the pressing member 61. To do. The counter mother substrate 106 sinks into the table 60, and tension acts on the crack portion 58. The opposing mother substrate 106 breaks and breaks starting from a crack portion 58 close to the surface in contact with the table 60.

図16(d)に示す様に、その結果、対向マザー基板106は、H対向切断面109で分断され、いくつかの対向基板片107aに分割される。   As shown in FIG. 16D, as a result, the counter mother substrate 106 is divided by the H counter cut surface 109 and divided into several counter substrate pieces 107a.

図17(a)に示す様に、続いて、マザー基板108のTFTアレイマザー基板102が台60と接する様に配置する。対向マザー基板106において、V素子切断面112に配列して形成されているクラック部58と対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。TFTアレイマザー基板102は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。TFTアレイマザー基板102は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。
図17(b)に示す様に、その結果、TFTアレイマザー基板102は、V素子切断面112で分断される。
Next, as shown in FIG. 17A, the TFT array mother substrate 102 of the mother substrate 108 is disposed so as to be in contact with the base 60. In the counter mother substrate 106, a location facing the crack portion 58 formed in an array on the V element cutting surface 112 is pressed using the pressing member 61. The TFT array mother substrate 102 sinks into the base 60, and tension acts on the crack portion 58. The TFT array mother substrate 102 breaks and breaks starting from a crack portion 58 close to the surface in contact with the base 60.
As a result, as shown in FIG. 17B, the TFT array mother substrate 102 is divided at the V element cut surface 112.

図17(c)に示す様に、続いて、対向マザー基板106において、H素子切断面111に配列して形成されているクラック部58と対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。TFTアレイマザー基板102は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。TFTアレイマザー基板102は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。   Next, as shown in FIG. 17C, the opposing mother substrate 106 is pressed using the pressing member 61 at a location facing the crack portion 58 formed in an array on the H element cut surface 111. . The TFT array mother substrate 102 sinks into the base 60, and tension acts on the crack portion 58. The TFT array mother substrate 102 breaks and breaks starting from a crack portion 58 close to the surface in contact with the base 60.

図17(d)に示す様に、その結果、TFTアレイマザー基板102は、H素子切断面111で分断され、いくつかのTFTアレイ基板片103bに分割される。以上の工程により、マザー基板108が分割されて、図8に示す液晶表示装置81の形状に形成され、図9に示す偏光シート98,99を接着して液晶表示装置81が完成する。   As shown in FIG. 17D, as a result, the TFT array mother substrate 102 is divided at the H element cut surface 111 and divided into several TFT array substrate pieces 103b. Through the above steps, the mother substrate 108 is divided and formed into the shape of the liquid crystal display device 81 shown in FIG. 8, and the polarizing sheets 98 and 99 shown in FIG. 9 are bonded to complete the liquid crystal display device 81.

上述したように、本実施形態によれば、以下の効果を有する。
(1)本実施形態によれば、液晶表示装置81を構成するTFTアレイマザー基板102において、H対向切断面109及びV対向切断面110と対向する場所の近くには、電極端子88及び配線90a,90bが形成されている。電極端子88及び配線90a,90bは、光透過性の導電膜により形成されている。
As described above, this embodiment has the following effects.
(1) According to the present embodiment, in the TFT array mother substrate 102 constituting the liquid crystal display device 81, the electrode terminal 88 and the wiring 90 a are located in the vicinity of the place facing the H facing cutting surface 109 and the V facing cutting surface 110. , 90b are formed. The electrode terminal 88 and the wirings 90a and 90b are formed of a light transmissive conductive film.

対向マザー基板106を分断するとき、改質部57を形成する為に用いるレーザ光56を照射するとき、TFTアレイマザー基板102に形成されている電極端子88及び配線90a,90bは、光透過性であることから損傷を受けにくくなっている。従って、対向マザー基板106を分断するときに、TFTアレイマザー基板102に形成されている電極端子88及び配線90a,90bの損傷が防止できる液晶表示装置81の製造方法とすることができる。   When the counter mother substrate 106 is divided, when the laser beam 56 used for forming the modified portion 57 is irradiated, the electrode terminals 88 and the wirings 90a and 90b formed on the TFT array mother substrate 102 are light transmissive. Therefore, it is hard to be damaged. Therefore, when the opposing mother substrate 106 is divided, a method of manufacturing the liquid crystal display device 81 that can prevent the electrode terminals 88 and the wirings 90a and 90b formed on the TFT array mother substrate 102 from being damaged can be obtained.

(2)本実施形態によれば、液晶表示装置81を構成するTFTアレイマザー基板102において、H素子切断面111及びV素子切断面112の近くには、電極端子88及び配線90a,90bが形成されている。電極端子88及び配線90a,90bは、光透過性の導電膜により形成されている。   (2) According to the present embodiment, in the TFT array mother substrate 102 constituting the liquid crystal display device 81, the electrode terminal 88 and the wirings 90 a and 90 b are formed near the H element cutting surface 111 and the V element cutting surface 112. Has been. The electrode terminal 88 and the wirings 90a and 90b are formed of a light transmissive conductive film.

TFTアレイマザー基板102を分断するとき、改質部57を形成する為に用いるレーザ光56を照射するとき、TFTアレイマザー基板102に形成されている電極端子88及び配線90a,90bは、光透過性であることから損傷を受けにくくなっている。従って、TFTアレイマザー基板102を分断するときに、TFTアレイマザー基板102に形成されている電極端子88及び配線90a,90bの損傷が防止できる液晶表示装置81の製造方法とすることができる。   When the TFT array mother substrate 102 is divided, when the laser beam 56 used for forming the modified portion 57 is irradiated, the electrode terminals 88 and the wirings 90a and 90b formed on the TFT array mother substrate 102 are light transmissive. It is less susceptible to damage due to its nature. Therefore, when the TFT array mother substrate 102 is divided, a method for manufacturing the liquid crystal display device 81 that can prevent the electrode terminals 88 and the wirings 90a and 90b formed on the TFT array mother substrate 102 from being damaged can be obtained.

(3)本実施形態によれば、液晶表示装置81はスイッチング素子(TFT)を有している。スイッチング素子は、電気信号を元に電流の流れを切り替えて、画素電極96に流す電流を制御している。画素電極96個々に電流を供給する配線を形成する方法に比べて、配線の数を減らすことができることから、配線の設計をしやすい液晶表示装置81とすることができる。
(第4の実施形態)
(3) According to this embodiment, the liquid crystal display device 81 has a switching element (TFT). The switching element controls the current flowing through the pixel electrode 96 by switching the current flow based on the electrical signal. Since the number of wirings can be reduced as compared with the method of forming wirings for supplying current to each pixel electrode 96, the liquid crystal display device 81 can be easily designed.
(Fourth embodiment)

次に、上記の第3の実施形態の液晶表示装置81を備えた電子機器について説明する。
図18は、パーソナルコンピュータに液晶表示装置を搭載した例を示す概略斜視図である。図18に示すように、電子機器としてのパーソナルコンピュータ120の本体は、情報を表示する表示部に、表示装置121を備えている。この表示装置121に、第3の実施形態により製造された液晶表示装置81が配置されている。パーソナルコンピュータ120に配置されている表示装置121は上記した第3の実施形態により製造され、表示装置121における基板は、基板に配置されている素子等がレーザ光により損傷を殆ど受けずにスクライブされて分断されている。従って、パーソナルコンピュータ120は、基板に配置されている素子等がレーザ光により損傷を殆ど受けずにスクライブされて分断されている液晶表示装置81を、表示部に備えた電子機器となっている。
Next, an electronic apparatus including the liquid crystal display device 81 according to the third embodiment will be described.
FIG. 18 is a schematic perspective view showing an example in which a liquid crystal display device is mounted on a personal computer. As shown in FIG. 18, the main body of a personal computer 120 as an electronic apparatus includes a display device 121 in a display unit that displays information. The display device 121 is provided with the liquid crystal display device 81 manufactured according to the third embodiment. The display device 121 disposed in the personal computer 120 is manufactured according to the above-described third embodiment, and the substrate in the display device 121 is scribed with the elements disposed on the substrate being hardly damaged by the laser beam. Is divided. Therefore, the personal computer 120 is an electronic device provided with a liquid crystal display device 81 in which the elements and the like arranged on the substrate are scribed and divided without being damaged by the laser light.

尚、本発明は上述した第1〜第4の実施形態に限定されるものではなく、種々の変更や改良を加えることも可能である。変形例を以下に述べる。   In addition, this invention is not limited to the 1st-4th embodiment mentioned above, A various change and improvement can also be added. A modification will be described below.

(変形例1)
前記第1及び、第2の実施形態では、第1の基板35,71と第2の基板36,65との2枚の基板を接合して実施しているが、基板を3枚以上接合して実施するときにも、同様の方法にて実施できる。そのとき、前記第1及び第2の実施形態と同様の効果が得られる。
(Modification 1)
In the first and second embodiments, two substrates of the first substrate 35, 71 and the second substrate 36, 65 are bonded, but three or more substrates are bonded. Can be carried out in the same manner. At that time, the same effect as in the first and second embodiments can be obtained.

(変形例2)
前記第1及び、第2の実施形態では、第1の基板35,71にレーザ光56を照射する場所と対応する第2の基板36,65の近くの場所に形成する配線及び実装端子を、光透過性の導電膜により形成している。第2の基板36,65に限らず、第1の基板35,71において、配線及び実装端子を形成し、その配線及び実装端子のうち、レーザ光56が照射される可能性のある場所の配線及び実装端子は、光透過性の導電膜により形成しても良い。そのとき、前記第1及び第2の実施形態と同様の効果が得られる。
(Modification 2)
In the first and second embodiments, the wiring and mounting terminals formed at locations near the second substrates 36 and 65 corresponding to the locations where the first substrates 35 and 71 are irradiated with the laser light 56, It is formed of a light transmissive conductive film. Wiring and mounting terminals are formed not only on the second substrates 36 and 65 but also on the first substrates 35 and 71, and wirings where the laser beam 56 may be irradiated among the wirings and mounting terminals. The mounting terminal may be formed of a light transmissive conductive film. At that time, the same effect as in the first and second embodiments can be obtained.

(変形例3)
前記第1の実施形態では、第1の基板35及び、第2の基板36に石英ガラスを用い、前記第2の実施形態では、第1の基板71及び、第2の基板65に石英ガラスを用いている。前記第3の実施形態では、対向マザー基板106とTFTアレイマザー基板102に石英ガラスを用いている。これに限らず、光透過性があり、液晶表示装置81を構成できる脆性材料であれば良い。例えば、石英ガラスの他に、ソーダ石灰ガラス、パイレックス(登録商標)等のホウ珪酸ガラス、OA−10(日本電気硝子社製)等の無アルカリガラス、ネオセラム(登録商標)等の耐熱結晶化ガラス、光学ガラス、水晶等を挙げることができる。
(Modification 3)
In the first embodiment, quartz glass is used for the first substrate 35 and the second substrate 36. In the second embodiment, quartz glass is used for the first substrate 71 and the second substrate 65. Used. In the third embodiment, quartz glass is used for the counter mother substrate 106 and the TFT array mother substrate 102. Any brittle material may be used as long as it is light transmissive and can form the liquid crystal display device 81. For example, in addition to quartz glass, soda-lime glass, borosilicate glass such as Pyrex (registered trademark), alkali-free glass such as OA-10 (manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.), and heat-resistant crystallized glass such as Neoceram (registered trademark) , Optical glass, crystal and the like.

(変形例4)
前記第3の実施形態では、液晶表示装置81に本発明の基板の分断方法を用いたが、液晶表示装置81以外の電気光学装置にも用いることができる。基板を備えた電気光学装置として、例えば、プラズマディスプレイ、有機EL(ELECTROLUMINESCENCE)ディスプレイ、真空蛍光ディスプレイ、フィールドエミッションディスプレイ等における基板の分断手段として好適に用いることができる。いずれの場合でも、基板を分断する工程でレーザ光56により配線や実装端子の損傷が防止できる基板を備えた電気光学装置を提供することができる。
(Modification 4)
In the third embodiment, the method for dividing a substrate of the present invention is used for the liquid crystal display device 81, but it can also be used for electro-optical devices other than the liquid crystal display device 81. As an electro-optical device provided with a substrate, for example, it can be suitably used as a means for dividing a substrate in a plasma display, an organic EL (ELECTROLUMINESCENCE) display, a vacuum fluorescent display, a field emission display, or the like. In any case, it is possible to provide an electro-optical device including a substrate that can prevent damage to wiring and mounting terminals by the laser light 56 in the step of dividing the substrate.

(変形例5)
前記第4の実施形態で、液晶表示装置81をパーソナルコンピュータ120の表示装置121に用いたが、これに限定されない。例えば、電子ブック、携帯電話、ディジタルスチルカメラ、液晶テレビ、ビューファインダ型あるいはモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネル等の電子機器の画像表示手段として好適に用いることができる。いずれの場合でも、表示装置121に、基板を分断する工程でレーザ光56により配線や実装端子の損傷が防止できる基板を備えた液晶表示装置81を有する電子機器を提供することができる。
(Modification 5)
In the fourth embodiment, the liquid crystal display device 81 is used as the display device 121 of the personal computer 120. However, the present invention is not limited to this. For example, electronic book, mobile phone, digital still camera, LCD TV, viewfinder type or monitor direct-view type video tape recorder, car navigation device, pager, electronic notebook, calculator, word processor, workstation, video phone, POS terminal, touch panel It can be suitably used as an image display means of electronic equipment such as. In any case, it is possible to provide an electronic device having the liquid crystal display device 81 provided with the substrate that can prevent the wiring and the mounting terminal from being damaged by the laser light 56 in the step of dividing the substrate.

(変形例6)
前記第1〜第2の実施形態では、レーザ光源2にYAGレーザを用いたが、フェムト秒レーザを用いても良い。出射するレーザ光を加工対象物の内部に集光して多光子吸収による改質部を形成できる光源であれば良い。例えば、チタンサファイアを固体光源とするレーザ光をフェムト秒のパルス幅で出射するいわゆるフェムト秒レーザを採用しても良い。発光条件及び集光レンズの条件の例としては、パルスレーザ光は、波長分散特性を有しており、中心波長が800nmであり、その半値幅はおよそ20nmである。またパルス幅はおよそ300fs(フェムト秒)、パルス周期は1kHz、出力はおよそ700mWである。集光レンズは、この場合、倍率が100倍、開口数(NA)が0.8、WD(Working Distance)が3mmの対物レンズを採用しても良い。
(Modification 6)
In the first to second embodiments, the YAG laser is used for the laser light source 2, but a femtosecond laser may be used. Any light source may be used as long as the emitted laser light is condensed inside the object to be processed to form a modified portion by multiphoton absorption. For example, a so-called femtosecond laser that emits laser light using titanium sapphire as a solid light source with a pulse width of femtosecond may be employed. As an example of the light emission conditions and the condensing lens conditions, the pulsed laser light has wavelength dispersion characteristics, the center wavelength is 800 nm, and the half width is about 20 nm. The pulse width is about 300 fs (femtosecond), the pulse period is 1 kHz, and the output is about 700 mW. In this case, the condenser lens may be an objective lens having a magnification of 100, a numerical aperture (NA) of 0.8, and a WD (Working Distance) of 3 mm.

(変形例7)
前記第3の実施形態では、ステップS13及びステップS14において、対向マザー基板106をスクライブした後、マザー基板108を反転して、TFTアレイマザー基板102をスクライブした。対向マザー基板106をスクライブした後、マザー基板108を反転せず、マザー基板108側からTFTアレイマザー基板102にレーザ光56を照射してスクライブしても良い。マザー基板108を反転する工程を削減できることから、生産性良く製造する事ができる。
(Modification 7)
In the third embodiment, in step S13 and step S14, after the opposing mother substrate 106 is scribed, the mother substrate 108 is inverted and the TFT array mother substrate 102 is scribed. After scribing the opposing mother substrate 106, the TFT substrate mother substrate 102 may be irradiated with laser light 56 from the mother substrate 108 side without inverting the mother substrate 108. Since the process of inverting the mother substrate 108 can be reduced, it can be manufactured with high productivity.

第1の実施形態に係るレーザ照射装置の構成を示す概略図。Schematic which shows the structure of the laser irradiation apparatus which concerns on 1st Embodiment. 基板の分断方法のフローチャート。The flowchart of the dividing method of a board | substrate. (a)〜(e)は、基板の分断方法を説明する図。(A)-(e) is a figure explaining the dividing method of a board | substrate. (a)〜(d)は、基板の分断方法を説明する図。(A)-(d) is a figure explaining the dividing method of a board | substrate. (a)〜(c)は、第2の実施形態に係る基板の分断方法を説明する図。(A)-(c) is a figure explaining the dividing method of the board | substrate which concerns on 2nd Embodiment. (a)〜(c)は、基板の分断方法を説明する図。(A)-(c) is a figure explaining the dividing method of a board | substrate. (a)及び(b)は、基板の分断方法を説明する図。(A) And (b) is a figure explaining the dividing method of a board | substrate. 第3の実施形態に係る液晶表示装置の模式平面図。FIG. 6 is a schematic plan view of a liquid crystal display device according to a third embodiment. 液晶表示装置の模式断面図。1 is a schematic cross-sectional view of a liquid crystal display device. 液晶表示装置の製造方法のフローチャート。The flowchart of the manufacturing method of a liquid crystal display device. (a)及び(b)は、液晶表示パネルが区画形成されたTFTアレイマザー基板を示す模式図。(A) And (b) is a schematic diagram which shows the TFT array mother board | substrate with which the liquid crystal display panel was dividedly formed. (a)及び(b)は、液晶表示装置の製造方法を説明する図。(A) And (b) is a figure explaining the manufacturing method of a liquid crystal display device. (a)及び(b)は、液晶表示パネルが区画形成されたマザー基板を示す模式図。(A) And (b) is a schematic diagram which shows the mother board | substrate with which the liquid crystal display panel was dividedly formed. (a)〜(d)は、液晶表示装置の製造方法を説明する図。(A)-(d) is a figure explaining the manufacturing method of a liquid crystal display device. (a)〜(d)は、液晶表示装置の製造方法を説明する図。(A)-(d) is a figure explaining the manufacturing method of a liquid crystal display device. (a)〜(d)は、液晶表示装置の製造方法を説明する図。(A)-(d) is a figure explaining the manufacturing method of a liquid crystal display device. (a)〜(d)は、液晶表示装置の製造方法を説明する図。(A)-(d) is a figure explaining the manufacturing method of a liquid crystal display device. 第4の実施形態に係るパーソナルコンピュータを示す概略斜視図。The schematic perspective view which shows the personal computer which concerns on 4th Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

35,72…第1の基板、36,65…第2の基板、41,46a,46b,46c,46d,46e,49,50,54,90a,90b…導電膜としての配線、42a,42b,47,48,51,52,53,66,67,68,88…導電膜としての電極端子、56…レーザ光、57…改質部、81…電気光学装置としての液晶表示装置、102…基板及び第2の基板としてのTFTアレイマザー基板、106…第1の基板としての対向マザー基板、120…電子機器としてのパーソナルコンピュータ。

35, 72 ... first substrate, 36, 65 ... second substrate, 41, 46a, 46b, 46c, 46d, 46e, 49, 50, 54, 90a, 90b ... wiring as conductive films, 42a, 42b, 47, 48, 51, 52, 53, 66, 67, 68, 88 ... Electrode terminals as conductive films, 56 ... Laser light, 57 ... Modification part, 81 ... Liquid crystal display device as electro-optical device, 102 ... Substrate And a TFT array mother substrate as a second substrate, 106... A counter mother substrate as a first substrate, 120... A personal computer as an electronic device.

Claims (11)

基板を分断する基板の分断方法であって、
レーザ光が透過する光透過性導電膜を前記基板に形成する光透過性導電膜形成工程と、
金属導電膜を前記基板に形成する金属導電膜形成工程と、
前記基板に前記レーザ光を照射して、前記基板の内部に改質部を形成するスクライブ工程と、
前記改質部を押圧して前記基板を分断する分断工程と、を有し、
前記基板は前記レーザ光を透過する材料であり、
前記光透過性導電膜は、前記スクライブ工程において前記レーザ光が照射される場所を横断して形成され、
前記金属導電膜は前記スクライブ工程において前記レーザ光が照射されない場所に形成され、かつ、前記金属導電膜は前記光透過性導電膜の前記レーザ光が照射される場所を挟む位置に電気的に接続される、
ことを特徴とする基板の分断方法。
A substrate dividing method for dividing a substrate,
A light-transmitting conductive film forming step of forming a light-transmitting conductive film through which laser light is transmitted on the substrate;
A metal conductive film forming step of forming a metal conductive film on the substrate;
A scribing step of irradiating the substrate with the laser light to form a modified portion inside the substrate;
A cutting step of pressing the modified portion to cut the substrate,
The substrate is a material that transmits the laser light,
The light transmissive conductive film is formed across a place where the laser light is irradiated in the scribing step,
The metal conductive film, wherein the laser beam in the scribing step is formed in a location that is not irradiated, and the metal conductive film is electrically in a position sandwiching the place where the laser beam of the light transmitting conductive film is illuminated Ru is connected,
A method for dividing a substrate, comprising:
第1の基板と、第2の基板とを接合して、第1の基板を分断する基板の分断方法であって、
レーザ光が透過する光透過性導電膜を前記第2の基板に形成する光透過性導電膜形成工程と、
金属導電膜を前記第2の基板に形成する金属導電膜形成工程と、
前記第1の基板と前記第2の基板とを接合する接合工程と、
前記第1の基板に前記レーザ光を照射して、前記第1の基板の内部に改質部を形成する
スクライブ工程と、
前記改質部を押圧して前記第1の基板を分断する分断工程と、を有し、
前記基板は前記レーザ光を透過する材料であり、
前記光透過性導電膜は、前記スクライブ工程において前記レーザ光が照射される場所を横断して形成され、
前記金属導電膜は前記スクライブ工程において前記レーザ光が照射されない場所に形成され、かつ、前記金属導電膜は前記光透過性導電膜の前記レーザ光が照射される場所を挟む位置に電気的に接続される、
ことを特徴とする基板の分断方法。
A substrate dividing method for joining a first substrate and a second substrate to divide the first substrate,
A light-transmitting conductive film forming step of forming a light-transmitting conductive film that transmits laser light on the second substrate;
Forming a metal conductive film on the second substrate;
A bonding step of bonding the first substrate and the second substrate;
A scribing step of irradiating the first substrate with the laser light to form a modified portion in the first substrate;
A cutting step of pressing the modified portion to cut the first substrate,
The substrate is a material that transmits the laser light,
The light transmissive conductive film is formed across a place where the laser light is irradiated in the scribing step,
The metal conductive film, wherein the laser beam in the scribing step is formed in a location that is not irradiated, and the metal conductive film is electrically in a position sandwiching the place where the laser beam of the light transmitting conductive film is illuminated Ru is connected,
A method for dividing a substrate, comprising:
請求項1又は2に記載の基板の分断方法であって、
前記光透過性導電膜はITO膜であることを特徴とする基板の分断方法。
A method for dividing a substrate according to claim 1 or 2,
The method for dividing a substrate, wherein the light transmissive conductive film is an ITO film.
請求項2又は3に記載の基板の分断方法であって、
前記スクライブ工程では、前記レーザ光により前記第1の基板の内部に改質部を形成し、かつ、前記レーザ光は前記第1の基板を透過して前記第2の基板を照射し、前記レーザ光により前記第2の基板の内部に改質部を形成することを特徴とする基板の分断方法。
A method for dividing a substrate according to claim 2 or 3,
In the scribing step, a modified portion is formed inside the first substrate by the laser beam, and the laser beam is transmitted through the first substrate to irradiate the second substrate, and the laser A method for dividing a substrate, wherein a modified portion is formed inside the second substrate by light.
光透過性の第1の基板と、第2の基板とを接合して第1の基板を分断する電気光学装置
の製造方法であって、
請求項2〜4に記載の基板の分断方法を用いて形成することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing an electro-optical device, in which a first substrate that is light transmissive and a second substrate are joined to divide the first substrate,
5. A method for manufacturing an electro-optical device, wherein the method is formed using the substrate cutting method according to claim 2.
請求項5に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記光透過性導電膜は、配線であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method for manufacturing the electro-optical device according to claim 5,
The method of manufacturing an electro-optical device, wherein the light transmissive conductive film is a wiring.
請求項5に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記光透過性導電膜は、電極端子であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method for manufacturing the electro-optical device according to claim 5,
The method of manufacturing an electro-optical device, wherein the light transmissive conductive film is an electrode terminal.
請求項5〜7のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記電気光学装置はスイッチング素子を有し、前記光透過性導電膜は、前記スイッチング素子と電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing an electro-optical device according to any one of claims 5 to 7,
The electro-optical device includes a switching element, and the light-transmitting conductive film is electrically connected to the switching element.
請求項2〜4
のいずれか一項に記載の基板の分断方法で分断されていることを特徴とする基板。
Claims 2-4
A substrate that is divided by the method for dividing a substrate according to any one of the above.
請求項5〜8のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法を用いて製造されていることを特徴とする電気光学装置。   An electro-optical device manufactured using the method for manufacturing an electro-optical device according to claim 5. 請求項10に記載の電気光学装置を表示部に備えることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 10 in a display unit.
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