JP4694136B2 - 電動ステージの操作装置 - Google Patents

電動ステージの操作装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4694136B2
JP4694136B2 JP2004095449A JP2004095449A JP4694136B2 JP 4694136 B2 JP4694136 B2 JP 4694136B2 JP 2004095449 A JP2004095449 A JP 2004095449A JP 2004095449 A JP2004095449 A JP 2004095449A JP 4694136 B2 JP4694136 B2 JP 4694136B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
movement
handle
rotary knob
coaxial handle
stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004095449A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005283795A (ja
Inventor
万喜洋 徳永
喜裕 上
基彦 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Inter University Research Institute Corp Research Organization of Information and Systems
Original Assignee
Olympus Corp
Inter University Research Institute Corp Research Organization of Information and Systems
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp, Inter University Research Institute Corp Research Organization of Information and Systems filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2004095449A priority Critical patent/JP4694136B2/ja
Priority to DE112005000031T priority patent/DE112005000031T5/de
Priority to PCT/JP2005/005000 priority patent/WO2005093485A1/ja
Publication of JP2005283795A publication Critical patent/JP2005283795A/ja
Priority to US11/318,900 priority patent/US7233438B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4694136B2 publication Critical patent/JP4694136B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Description

本発明は電動ステージの操作装置に関する。
従来の顕微鏡は、観察者が行なった回転ハンドルの操作を機械的な伝達機構を介して伝達することによって、観察試料をXY方向へ移動させたり、焦点合わせを行なったりしている。
最近では、顕微鏡の自動化ニーズや観察試料・対物レンズの微小位置決めのニーズが高まり、対物レンズの準焦機構やXYステージに電動アクチュエーターが用いられることがある。このため、ハンドルの回転角度を電気信号に変換する装置が提案されている。そのような装置は例えば特開2002−182122号公報に開示されている。
特開2002−182122号公報
特開2002−182122号公報に開示されている装置では、粗動微動切換スイッチで粗動と微動を切り換えることによって、一つのハンドルで粗動と微動を行なっている。このため、観察試料を見ながらXYステージを操作する際に、粗動微動切換スイッチが粗動状態であるにもかかわらず、微動状態であると勘違いしてハンドルを操作してしまうと、観察対象が視野内から逸脱してしまう危険がある。
一方、顕微鏡による高倍率観察では振動を嫌うため、顕微鏡を除振台上に設置して観察を行なう。観察試料をセットし初期の焦点合わせや位置合わせは顕微鏡接眼レンズをのぞきながら行なうが、セッティングが完了したあとや観察途中で、観察位置を調整したり焦点位置を変更したりする場合は、操作の振動が観察に影響しないように除振台とは分離された机上などから行なう必要がある。
また、生体試料を観察する際には蛍光観察が良く利用されるが、外乱光を嫌うため暗室内に顕微鏡を設置し観察が行なわれる。観察途中などに観察位置や焦点位置の変更を行なおうとした場合、暗室内は暗く、粗微動の切り換えは困難である。また、周囲が暗いためノートへの記録やキーボード操作は困難であるため、暗室外から操作できることが望ましい。
さらに生体試料を長時間生かしておくためには温度や湿度を一定に保つ必要があり、顕微鏡を恒温恒湿槽内に設置して観察する場合もある。このような場合は観察試料の位置合わせや焦点合わせは恒温恒湿槽外部から遠隔操作する必要がある。
本発明は、このような実状を考慮して成されたものであり、その目的は、粗動微動の切り換え操作なしで電動ステージを操作可能な操作装置を提供することである。
本発明は、電動ステージを操作するための操作装置であり、ベース部材と、前記ベース部材に設けられ、X移動用の粗動ハンドルと微動ハンドルを同軸に備えた一つのX移動用同軸ハンドルと、前記ベース部材に設けられ、Y移動用の粗動ハンドルと微動ハンドルを同軸に備えた一つのY移動用同軸ハンドルと、前記ベース部材に設けられ、Z移動用の粗動ハンドルと微動ハンドルを同軸に備えた一つのZ移動用同軸ハンドルとを備えている
本発明によれば、粗動微動の切り換え操作なしで電動ステージを操作する操作装置が提供される。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。
第一実施形態
本実施形態は、顕微鏡の電動ステージの操作装置に向けられている。図1は、本発明の第一実施形態による操作装置を示している。
図1に示されるように、操作装置100は、XY用ベース101とZ用ベース102とを備えている。XY用ベース101とZ用ベース102は空間的に分離可能である。XY用ベース101は一つのX移動用同軸ハンドル110と一つのY移動用同軸ハンドル120を備えており、Z用ベース102は一つのZ移動用同軸ハンドル130を備えている。
X移動用同軸ハンドル110は第一回転ツマミ111と第二回転ツマミ112を備えている。第一回転ツマミ111と第二回転ツマミ112にはX粗動とX微動が割り当てられる。第一回転ツマミ111と第二回転ツマミ112は、それぞれ、回転重さを調整する回転重さ調整部材113と回転重さ調整部材114を備えている。回転重さ調整部材113には溝115が設けられていて、回転重さ調整部材114には穴116が設けられている。
Y移動用同軸ハンドル120は第一回転ツマミ121と第二回転ツマミ122を備えている。第一回転ツマミ121と第二回転ツマミ122にはY粗動とY微動が割り当てられる。第一回転ツマミ121と第二回転ツマミ122は、それぞれ、回転重さを調整する回転重さ調整部材123と回転重さ調整部材124を備えている。回転重さ調整部材123には溝125が設けられていて、回転重さ調整部材124には穴126が設けられている。
Z移動用同軸ハンドル130は第一回転ツマミ131と第二回転ツマミ132を備えている。第一回転ツマミ131と第二回転ツマミ132にはZ粗動とZ微動が割り当てられる。第一回転ツマミ131と第二回転ツマミ132は、それぞれ、回転重さを調整する回転重さ調整部材133と回転重さ調整部材134を備えている。回転重さ調整部材133には溝135が設けられていて、回転重さ調整部材134には穴136が設けられている。
X移動用同軸ハンドル110とY移動用同軸ハンドル120とZ移動用同軸ハンドル130は同じ構造をしている。従って、回転重さ調整部材113と回転重さ調整部材123と回転重さ調整部材133も同じ構造をしている。同様に、回転重さ調整部材114と回転重さ調整部材124と回転重さ調整部材134も同じ構造をしている。以下では、代表的にZ移動用同軸ハンドル130の回転重さ調整部材133と回転重さ調整部材134について説明する。図2は、Z移動用同軸ハンドル130の部分断面を示している。
図2に示されるように、固定軸141の内側には回転軸142があり、回転軸142は固定軸141に対して回転可能である。回転軸142と第一回転ツマミ131は固定されていて、両者は一体となって回転する。固定軸141の外側には回転軸143があり、回転軸143は固定軸141に対して回転可能である。回転軸143と第二回転ツマミ132は固定されていて、両者は一体となって回転する。
回転重さ調整部材133は回転軸142の先端部にねじ込まれている。第一回転ツマミ131の内部にはピン151が設けられていて、ピン151は固定軸141の中心軸に平行につまり上下に移動可能である。ピン151の一方の端部は回転重さ調整部材133に接触している。ピン151の他方の端部と固定軸141の間に、摩擦部材152とばね153と摩擦部材154が配置されている。摩擦部材152と摩擦部材154はともに輪帯形状をしていて、回転軸142の周りに位置している。摩擦部材152はピン151に接触し、摩擦部材154は固定軸141に接触している。ばね153は、摩擦部材152と摩擦部材154の間に配置されていて、両者の間隔を広げる方向の力を両者に与えている。ばね153は例えばコイルばねであり、回転軸142の周りに位置している。
回転重さ調整部材133は、回転軸142に対する回転に伴って、回転軸142に対して上下移動する。回転重さ調整部材133の上下移動に応じてピン151が上下移動し、これに伴って摩擦部材152も上下移動する。その結果、ばね153が伸縮する。ばね153の伸縮によって、摩擦部材152とばね153の接触圧と摩擦部材154と固定軸141の接触圧とが変化する。
第一回転ツマミ131を回転させると、ピン151は一体となって回転する。例えば、第一回転ツマミ131をおさえながら回転重さ調整部材133を回転させて下方向に移動させると、ピン151は摩擦部材152を介してばね153を圧縮する。圧縮によってばね153の復元力が大きくなる。このため、摩擦部材152とばね153の接触圧と摩擦部材154と固定軸141の接触圧とが大きくなる。その結果、第一回転ツマミ131の回転に要する力が大きくなり、回転重さが重くなる。
回転重さ調整部材134は回転軸143の周囲にねじ込まれている。第二回転ツマミ132の内部にはピン161が設けられていて、ピン161は固定軸141の中心軸に平行につまり上下に移動可能である。ピン161の一方の端部は回転重さ調整部材134に接触している。ピン161の他方の端部と固定軸141の間に、摩擦部材162とばね163と摩擦部材164が配置されている。摩擦部材162と摩擦部材164はともに輪帯形状をしていて、回転軸143の周りに位置している。摩擦部材162はピン161に接触し、摩擦部材164は固定軸141に接触している。ばね163は、摩擦部材162と摩擦部材164の間に配置されていて、両者の間隔を広げる方向の力を両者に与えている。ばね163は例えばコイルばねであり、回転軸143の周りに位置している。
回転重さ調整部材134は、回転に伴って、回転軸143に対して上下移動する。これに応じてピン161が上下移動し、摩擦部材162も上下移動する。その結果、ばね163が伸縮する。ばね163の伸縮によって、摩擦部材162とばね163の接触圧と摩擦部材164と固定軸141の接触圧とが変化する。その結果、第二回転ツマミ132の回転に要する力が変化し、回転重さが変わる。
図3は、図1に示した操作装置のひとつの使用形態を示している。
図3に示されるように、顕微鏡170は、観察試料をXY方向に移動させるXYステージ171と、対物レンズ175をZ方向に移動させるZステージ172とを備えている。XYステージ171とZステージ172はともに電動ステージで構成されている。顕微鏡170は、XYステージ171とZステージ172の駆動用のコントローラー181を介して操作装置100と接続されている。コントローラー181と操作装置100とは接続ケーブルで接続されている。顕微鏡170は、除振台182の上に設置されている。操作装置100は、操作の振動が観察に影響しないように、除振台182から空間的に分離している机183の上に配置される。
次に操作装置100の作用について説明する。
観察試料の焦点合わせを行なう場合はZ移動用同軸ハンドル130を操作する。最初に第一回転ツマミ131を回転させて粗動でおおよその焦点合わせを行なう。続いて第二回転ツマミ132を回転させて微動で焦点を合わせる。Z用ベース102は、Z移動用同軸ハンドル130の操作に対応した電気信号(操作信号)を発する。Z用ベース102から発せられた操作信号は接続ケーブルを介してコントローラー181に伝えられる。この信号に基づいてコントローラー181はZステージ172を動作させる。このようにして顕微鏡170のZステージ172を操作できる。
ここで、回転ツマミ(第一回転ツマミ131と第二回転ツマミ132)の回転重さは、望ましくは、粗動時は重く、微動時は軽いとよい。また、最適な回転重さはアプリケーションや操作者によって差があるため、操作者がアプリケーションに適した好みの重さに調整するとよい。回転重さ調整は次のようにして行なわれる。まず、第一回転ツマミ131の回転重さを調整する場合は、第一回転ツマミ131を押さえながら回転重さ調整部材133の溝135にコインなどを差し入れて回転させることによって回転重さを調整できる。第二回転ツマミ132の回転重さを調整する場合は、回転重さ調整部材134の穴136にドライバーなどを差し入れて固定し、第二回転ツマミ132を回転させることによって回転重さを調整できる。以上のようにして操作者は回転重さを任意に調整することができる。
観察試料のX方向位置決めを行なう場合はX移動用同軸ハンドル110を操作する。最初に第一回転ツマミ111を回転させて粗動でおおよそのX方向位置合わせを行なう。続いて第二回転ツマミ112を回転させて微動でX方向位置を合わせる。XY用ベース101は、X移動用同軸ハンドル110の操作に対応した電気信号(操作信号)を発する。XY用ベース101から発せられた操作信号は接続ケーブルを介してコントローラー181に伝えられる。この信号に基づいてコントローラー181はXYステージ171をX方向に動作させる。このようにして顕微鏡170のXYステージ171をX方向に操作できる。
ここで、回転ツマミ(第一回転ツマミ111と第二回転ツマミ112)の回転重さは、望ましくは、粗動時は重く、微動時は軽いとよい。また、最適な回転重さはアプリケーションや操作者によって差があるため、操作者がアプリケーションに適した好みの重さに調整するとよい。回転重さ調整は次のようにして行なわれる。まず、第一回転ツマミ111の回転重さを調整する場合は、第一回転ツマミ111を押さえながら回転重さ調整部材113の溝115にコインなどを差し入れて回転させることによって回転重さを調整できる。第二回転ツマミ112の回転重さを調整する場合は、回転重さ調整部材114の穴116にドライバーなどを差し入れて固定し、第二回転ツマミ112を回転させることによって回転重さを調整できる。以上のようにして操作者は回転重さを任意に調整することができる。
観察試料のY方向位置決めを行なう場合はY移動用同軸ハンドル120を操作する。最初に第一回転ツマミ121を回転させて粗動でおおよそのY方向位置合わせを行なう。続いて第二回転ツマミ122を回転させて微動でY方向位置を合わせる。XY用ベース101は、Y移動用同軸ハンドル120の操作に対応した電気信号(操作信号)を発する。XY用ベース101から発せられた操作信号は接続ケーブルを介してコントローラー181に伝えられる。この信号に基づいてコントローラー181はXYステージ171をY方向に動作させる。このようにして顕微鏡170のXYステージ171をY方向に操作できる。
ここで、回転ツマミ(第一回転ツマミ121と第二回転ツマミ122)の回転重さは、望ましくは、粗動時は重く、微動時は軽いとよい。また、最適な回転重さはアプリケーションや操作者によって差があるため、操作者がアプリケーションに適した好みの重さに調整するとよい。回転重さ調整は次のようにして行なわれる。まず、第一回転ツマミ121の回転重さを調整する場合は、第一回転ツマミ121を押さえながら回転重さ調整部材123の溝125にコインなどを差し入れて回転させることによって回転重さを調整できる。第二回転ツマミ122の回転重さを調整する場合は、回転重さ調整部材124の穴126にドライバーなどを差し入れて固定し、第二回転ツマミ122を回転させることによって回転重さを調整できる。以上のようにして操作者は回転重さを任意に調整することができる。
以上のようにして、顕微鏡170のXYステージ171とZステージ172とを、顕微鏡170が設置された除振台182から空間的に分離している机183の上から操作できる。つまり、操作装置100の操作の振動を顕微鏡170に伝えることなく、顕微鏡170のXYステージ171とZステージ172とを操作できる。
また、例えば観察時にXYステージ171の操作が不要な場合は、XY用ベース101をコントローラー181から取り外すことが可能である。これによって、観察者の手元のスペースを広く取ることが可能である。
XY用ベース101とZ用ベース102は分離可能であるため、操作者は、使用状況に応じて、XY用ベース101とZ用ベース102をそれぞれ都合の良い適当な位置に配置して使用することができる。
コントローラー181は複数のXY用ベース101と複数のZ用ベース102が接続可能である。コントローラー181に複数のXY用ベース101と複数のZ用ベース102を接続し、複数のXY用ベース101と複数のZ用ベース102をそれぞれ異なる位置に配置することによって、顕微鏡を異なる位置から操作することができる。
また、XY用ベース101とZ用ベース102はそれぞれいくつかのスイッチを備えている。これらのスイッチは、例えば、焦点合わせや位置決めが完了した後で、不用意に回転ツマミに触れても動かないようにする位置ロックスイッチや、不用意に触れてしまっても元の位置に戻れるようにする位置記憶スイッチと位置記憶位置復帰スイッチなどである。
XY用ベース101の上面は傾斜しているため、観察者がひじを机上に置いた状態でXY用ベース101の上面に手を置きやすく、長時間の操作で操作者が受ける疲労を軽減する。
XY用ベース101に設けられたX移動用同軸ハンドル110とY移動用同軸ハンドル120は縦に配列されている。このため、左右どちらの手を使っても片手で回転ツマミを操作できる。しかし、縦配列に限定するものではなく、横に配列されていてもかまわない。
Z移動用同軸ハンドル130は右側面に横向きに設けられているが、この位置に限定するものではなく、左側面に横向きに設けられたり、上面に上向きに設けられたりしてもよい。
四つの回転ツマミ111、112、121、122には、X粗動、X微動、Y粗動、Y微動の機能が任意に割り当てられてよい。つまり、実施形態では、回転ツマミ111にX粗動が、回転ツマミ112にX微動が割り当てられているが、回転ツマミ111にX微動が、回転ツマミ112にX粗動が割り当てられてもよい。同様に、回転ツマミ121にY粗動が、回転ツマミ122にY微動が割り当てられているが、回転ツマミ121にY微動が、回転ツマミ122にY粗動が割り当てられてもよい。
また、実施形態では、同軸ハンドル110にX粗動とX微動が、同軸ハンドル120にY粗動とY微動が割り当てられているが、同軸ハンドル110にY粗動とY微動が、同軸ハンドル120にX粗動とX微動が割り当てられてもよい。その場合も当然ながら、同軸ハンドル110の回転ツマミ111と112に対するY粗動とY微動の割り当ては任意に交換可能である。同様に、同軸ハンドル120の回転ツマミ121と122に対するX粗動とX微動の割り当ては任意に交換可能である。
第二実施形態
本実施形態は、第一実施形態で説明した操作装置の別の使用形態に向けられている。図4は、図1に示した操作装置の第二実施形態での使用形態を示している。図4において、図3に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。
図4に示されるように、顕微鏡170は、XYステージ171とZステージ172の駆動用のコントローラー181と一緒に、恒温恒湿槽191の中に設置されている。一方、操作装置100は、光や電波を遮へいする恒温恒湿槽191の外に配置されている。コントローラー181と操作装置100とは接続ケーブルで接続されている。
本実施形態の操作装置100の操作は、第一実施形態の操作装置100の操作と同様である。すなわち、観察試料の焦点合わせを行なう場合はZ移動用同軸ハンドル130を操作する。最初に第一回転ツマミ131を回転させて粗動でおおよその焦点合わせを行なう。続いて第二回転ツマミ132を回転させて微動で焦点を合わせる。Z移動用同軸ハンドル130の操作によって発せられた操作信号は接続ケーブルを介して恒温恒湿槽191の中に置かれたコントローラー181に伝えられる。この信号に基づいてコントローラー181はZステージ172を動作させる。このようにして顕微鏡170のZステージ172を操作できる。
観察試料のX方向位置決めを行なう場合はX移動用同軸ハンドル110を操作する。最初に第一回転ツマミ111を回転させて粗動でおおよそのX方向位置合わせを行なう。続いて第二回転ツマミ112を回転させて微動でX方向位置を合わせる。X移動用同軸ハンドル110の操作によって発せられた操作信号は接続ケーブルを介して恒温恒湿槽191の中に置かれたコントローラー181に伝えられる。この信号に基づいてコントローラー181はXステージを動作させる。このようにして顕微鏡170のXYステージ171をX方向に操作できる。
観察試料のY方向位置決めを行なう場合はY移動用同軸ハンドル120を操作する。最初に第一回転ツマミ121を回転させて粗動でおおよそのY方向位置合わせを行なう。続いて第二回転ツマミ122を回転させて微動でY方向位置を合わせる。Y移動用同軸ハンドル120の操作によって発せられた操作信号は接続ケーブルを介して恒温恒湿槽191の中に置かれたコントローラー181に伝えられる。この信号に基づいてコントローラー181はXYステージ171とZステージ172とを動作させる。このようにして顕微鏡170のXYステージ171をY方向に操作できる。
本実施形態では、光や電波を遮へいする恒温恒湿槽191の外に配置された操作装置100によって、恒温恒湿槽191の中にある顕微鏡170のXYステージ171とZステージ172とを、恒温恒湿槽191の外から遠隔操作することができる。
第三実施形態
本実施形態は、第一実施形態で説明した操作装置のさらに別の使用形態に向けられている。図5は、図1に示した操作装置の第三実施形態での使用形態を示している。図5において、図3に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。
図5に示されるように、顕微鏡170は、XYステージ171とZステージ172の駆動用のコントローラー181と一緒に、暗室192の中に設置されている。顕微鏡170とコントローラー181は除振台182の上に設置されている。コントローラー181には、接続ケーブルを介して、二つの操作装置100Aと100Bが接続されている。操作装置100Aと操作装置100Bは、第一実施形態で説明した操作装置100と同じものであり、その具体的な操作も第一実施形態で説明した操作と同じである。
一方の操作装置100Aは、暗室192の中にあり、机183の上に置かれている。他方の操作装置100Bは、暗室192の外にあり、机184の上に置かれている。さらに、顕微鏡170には、接続ケーブルを介して、二つの観察用モニター185と186が接続されている。一方の観察用モニター185は暗室192の中に配置され、他方の観察用モニター186は暗室192の外に配置されている。
本実施形態では、操作装置100Aと操作装置100Bのいずれを用いても顕微鏡170のXYステージ171とZステージ172を駆動することができる。特に、蛍光観察の最中など、顕微鏡170が暗い環境下に置かれている場合には、暗室192の外に配置されている操作装置100Bと観察用モニター186とを用いることによって、観察位置や焦点位置の変更などの操作を暗室192の外から行なうことができる。暗室192の外は明るいため、または、暗い場合には明るくしても差し支えないため、粗動微動の切り換えは容易に行なえる。また、ノートへの記録やキーボードの操作も容易に行なえる。
観察試料の焦点合わせを行なう場合はZ移動用同軸ハンドル130を操作する。最初に第一回転ツマミ131を回転させて粗動でおおよその焦点合わせを行なう。続いて第二回転ツマミ132を回転させて微動で焦点を合わせる。Z移動用同軸ハンドル130の操作によって発せられた操作信号は接続ケーブルを介して暗室192の中に置かれたコントローラー181に伝えられる。この信号に基づいてコントローラー181はZステージ172を動作させる。このようにして暗室192の中にある顕微鏡170のZステージ172を遠隔操作ができる。
観察試料のX方向位置決めを行なう場合はX移動用同軸ハンドル110を操作する。最初に第一回転ツマミ111を回転させて粗動でおおよそのX方向位置合わせを行なう。続いて第二回転ツマミ112を回転させて微動でX方向位置を合わせる。X移動用同軸ハンドル110の操作によって発せられた操作信号は接続ケーブルを介して暗室192の中に置かれたコントローラー181に伝えられる。この信号に基づいてコントローラー181はXステージを動作させる。
観察試料のY方向位置決めを行なう場合はY移動用同軸ハンドル120を操作する。最初に第一回転ツマミ121を回転させて粗動でおおよそのY方向位置合わせを行なう。続いて第二回転ツマミ122を回転させて微動でY方向位置を合わせる。Y移動用同軸ハンドル120の操作によって発せられた操作信号は接続ケーブルを介して暗室192の中に置かれたコントローラー181に伝えられる。この信号に基づいてコントローラー181はXYステージ171とZステージ172とを動作させる。
本実施形態では、暗室内にある顕微鏡170のXYステージ171とZステージ172を暗室内または暗室外の任意の位置から遠隔操作することができる。
第四実施形態
本実施形態は、第一実施形態で説明したXY用ベースの変形に向けられている。図6は本発明の第四実施形態によるXY用ベースを示している。
図6に示されるように、XY用ベース103はX移動用同軸ハンドル110とY移動用同軸ハンドル120を備えている。X移動用同軸ハンドル110とY移動用同軸ハンドル120の詳細は第一実施形態で述べているので、ここではその詳しい説明は省略する。
本実施形態では、X移動用同軸ハンドル110とY移動用同軸ハンドル120はXY用ベース103の下面に下向きに設けられている
XY用ベース103は平らな上面を有しており、例えば、机の下面に取り付けることが可能である。XY用ベース103を机の下面に取り付けた場合、操作者は、手を机上に置いたまま、XYステージ171とZステージ172とを操作することができる。これによって、長時間の操作で操作者が受ける疲労が軽減される。
これまで、図面を参照しながら本発明の実施形態を述べたが、本発明は、これらの実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において様々な変形や変更が施されてもよい。
本発明の第一実施形態による操作装置を示している。 図1に示したZ移動用同軸ハンドルの部分断面を示している。 図1に示した操作装置のひとつの使用形態を示している。 図1に示した操作装置の第二実施形態での使用形態を示している。 図1に示した操作装置の第三実施形態での使用形態を示している。 本発明の第三実施形態によるXY用ベースを示している。
符号の説明
100…操作装置、100A、100B…操作装置、100A…操作装置、100B…操作装置、101…XY用ベース、102…Z用ベース、103…XY用ベース、110…X移動用同軸ハンドル、111…第一回転ツマミ、112…第二回転ツマミ、113…回転重さ調整部材、114…回転重さ調整部材、115…溝、116…穴、120…Y移動用同軸ハンドル、121…第一回転ツマミ、122…第二回転ツマミ、123…回転重さ調整部材、124…回転重さ調整部材、125…溝、126…穴、130…Z移動用同軸ハンドル、131…第一回転ツマミ、132…第二回転ツマミ、133…回転重さ調整部材、134…回転重さ調整部材、135…溝、136…穴、141…固定軸、142…回転軸、143…回転軸、151…ピン、152…摩擦部材、153…ばね、154…摩擦部材、161…ピン、162…摩擦部材、163…ばね、164…摩擦部材、170…顕微鏡、171…XYステージ、172…Zステージ、175…対物レンズ、181…コントローラー、182…除振台、183…机、184…机、185…観察用モニター、186…観察用モニター、191…恒温恒湿槽、192…暗室。

Claims (5)

  1. 電動ステージを操作するための操作装置であり、
    ベース部材と、
    前記ベース部材に設けられ、X移動用の粗動ハンドルと微動ハンドルを同軸に備えた一つのX移動用同軸ハンドルと
    前記ベース部材に設けられ、Y移動用の粗動ハンドルと微動ハンドルを同軸に備えた一つのY移動用同軸ハンドルと
    前記ベース部材に設けられ、Z移動用の粗動ハンドルと微動ハンドルを同軸に備えた一つのZ移動用同軸ハンドルとを備えている、操作装置。
  2. 前記X移動用同軸ハンドルと前記Y移動用同軸ハンドルと前記Z移動用同軸ハンドルは、それぞれ独立した回転軸を備えている、請求項1記載の操作装置。
  3. 前記X移動用同軸ハンドルと前記Y移動用同軸ハンドルと前記Z移動用同軸ハンドルのそれぞれの粗動ハンドルと微動ハンドルはそれぞれ回転重さ調整部材を備えている、請求項1または2のいずれかに記載の操作装置。
  4. 前記ベース部材はXY用ベース部材とZ用ベース部材とを備えており、
    前記XY用ベース部材は前記X移動用同軸ハンドルと前記Y移動用同軸ハンドルを備えており、
    前記Z用ベース部材は前記Z移動用同軸ハンドルを備えており、
    前記XY用ベース部材と前記Z用ベース部材は空間的に分離可能である、請求項1乃至3のいずれかに記載の操作装置。
  5. 独立した回転軸を有する前記X移動用同軸ハンドルと前記Y移動用同軸ハンドルは、それぞれ並んで縦方向に配列されている、請求項1乃至4のいずれかに記載の操作装置。
JP2004095449A 2004-03-29 2004-03-29 電動ステージの操作装置 Expired - Lifetime JP4694136B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004095449A JP4694136B2 (ja) 2004-03-29 2004-03-29 電動ステージの操作装置
DE112005000031T DE112005000031T5 (de) 2004-03-29 2005-03-18 Probentemperatureinstellvorrichtung
PCT/JP2005/005000 WO2005093485A1 (ja) 2004-03-29 2005-03-18 試料温度調節装置
US11/318,900 US7233438B2 (en) 2004-03-29 2005-12-27 Specimen temperature adjusting apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004095449A JP4694136B2 (ja) 2004-03-29 2004-03-29 電動ステージの操作装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005283795A JP2005283795A (ja) 2005-10-13
JP4694136B2 true JP4694136B2 (ja) 2011-06-08

Family

ID=35182264

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004095449A Expired - Lifetime JP4694136B2 (ja) 2004-03-29 2004-03-29 電動ステージの操作装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4694136B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009015154A (ja) * 2007-07-06 2009-01-22 Nikon Corp 操作装置、顕微鏡、ステージ装置
JP5126675B2 (ja) * 2007-09-04 2013-01-23 日本精工株式会社 マニピュレータシステム
JP5570804B2 (ja) * 2009-12-25 2014-08-13 オリンパス株式会社 顕微鏡

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0288198U (ja) * 1988-12-23 1990-07-12
JP2001083431A (ja) * 1999-09-09 2001-03-30 Nikon Corp 顕微鏡のステージ
JP2002196256A (ja) * 2000-12-22 2002-07-12 Nikon Corp 遠隔操作装置及び顕微鏡システム

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0288198U (ja) * 1988-12-23 1990-07-12
JP2001083431A (ja) * 1999-09-09 2001-03-30 Nikon Corp 顕微鏡のステージ
JP2002196256A (ja) * 2000-12-22 2002-07-12 Nikon Corp 遠隔操作装置及び顕微鏡システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005283795A (ja) 2005-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6514239B2 (en) Medical instrument holding apparatus
US7233438B2 (en) Specimen temperature adjusting apparatus
US11137589B2 (en) Stage apparatus and linear actuator
US7791796B2 (en) Motorized table apparatus and microscope stage
JP4694136B2 (ja) 電動ステージの操作装置
US6690510B2 (en) Microscope
JP2005037941A (ja) 顕微鏡およびその操作方法
US7141914B2 (en) Micromanipulator including piezoelectric benders
CN109425974A (zh) 变焦光学系统
JP2003302579A (ja) 試料ステージ及びそれを用いた顕微鏡又は測定器
US6717725B2 (en) Automated microscope system
CN100445795C (zh) 可互换的显微镜台驱动组件
JP6513902B2 (ja) 電動デジタル顕微鏡を制御するための制御装置および方法
JP5242351B2 (ja) 顕微鏡
JP2011242815A (ja) 顕微鏡システム及び観察方法
JP2010536095A (ja) 磁気ハンド・コントローラ装置と磁気ハンド・コントロール方法
JP5126675B2 (ja) マニピュレータシステム
US6898006B2 (en) Microscope
Yu et al. MEMS-based tunable iris diaphragm
US20040196546A1 (en) Manipulator having arm mechanism for hand
US20070268573A1 (en) Microscope System
JP2002328309A (ja) 試料支持装置
CN1592863A (zh) 磁性光学元件固定器及包括该固定器的显微镜装置
Eisinberg et al. Teleoperated assembly of a micro‐lens system by means of a micro‐manipulation workstation
US20050195475A1 (en) Microscope

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070327

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20090430

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100615

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100811

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110201

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110223

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140304

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4694136

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250