JP4690947B2 - 異常対処方法、異常対処装置および荷電粒子線装置 - Google Patents
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Description
(荷電粒子線装置)
(電子顕微鏡本体)
図1に示すように、本発明の第1の実施の形態に係る荷電粒子線装置(SEM)1は、電子顕微鏡(SEM)本体と、異常検出部3と、異常対処装置2とを有している。電子顕微鏡本体については、真空排気系の構成を例に説明し、荷電粒子線を発生させる高電圧系については説明を省略するが高電圧系にも本発明は適用できる。
観察試料121を観察する場合は、観察試料121は、外部から前室とゲートバルブ112を通って観察室120に送られ、ポンプ101乃至105が運転し、ガスバルブ107乃至111が開状態、リークバルブ115、116が閉状態、ゲートバルブ112乃至114が開状態で、観察室120を含むSEM本体の内部は高真空に保たれている。
異常検出部3は、SEM本体で発生した異常および故障を検出し、検出した異常および故障を、異常対処装置2が受信可能な信号に変換して送信する。具体的に、異常検出部3は、ポンプ101から、オイルのレベルが検出レベル以下になったことを「ポンプ101異常」として検出する。同様に、異常検出部3は、ポンプ102から、圧力異常になったことを「ポンプ102異常」として検出する。また、異常検出部3は、ポンプ103乃至105から、イオンに起因する電流のレベルが検出レベル以上になったことを「ポンプ103等の異常」として検出する。異常検出部3は、ガスバルブ107乃至111とゲートバルブ112乃至114とリークバルブ115、116とから、開閉命令に対して対応する開閉完了信号が出力されないことを「バルブ故障」として検出する。異常検出部3は、真空計117乃至119から、真空度のレベルが検出レベルになったことを「真空計異常」として検出する。
異常対処装置2は、順位データベース6と交換提示時間データベース7とを有する記憶部5と、順位データベース6と交換提示時間データベース7とに基づいて異常および故障の対処を抽出し交換提示時間を変更するCPU4と、抽出された対処を表示し交換提示時間に達したことを表示する表示部8とを有している。
図3に示すように、本発明の第1の実施の形態に係る異常対処方法では、まず、ステップS1で、SEM本体で同時に複数の異常および故障が発生する。ステップS2で、異常検出部3は、複数の異常および故障を検出する。
(異常対処方法)
本発明の第2の実施の形態に係る異常対処方法も、図2に示す順位データベース6を有する図1の荷電粒子線装置1を用いて実行することができる。第2の実施の形態の異常対処方法では、複数の異常が発生し、対処を一つ提示するだけでは異常が解決しない場合に、更に別の対処を順次提示することができる。
2 異常対処装置
3 異常検出部
4 CPU
5 記憶部
6 順位データベース
7 交換提示時間データベース
8 表示部
11 異常項目抽出部
12 順番データ抽出部
13 回数順抽出部
14 日時順抽出部
15 順位順抽出部
16 単複判定部
17 対処抽出部
18 更新部
19 発生回数更新部
20 カウンタ
21 発生日時更新部
22 順位更新部
23 交換提示時間抽出部
24 タイマ
25 表示画面
26 対処の表示領域
27 異常個所の表示領域
Claims (9)
- 真空中において荷電粒子線を応用する荷電粒子線装置で検出された異常および故障に対応する対処を表示する異常対処方法において、
異常対処装置は、
前記異常および故障の識別子に、次回発生しやすい順番を決定可能な順番データと、前記異常および故障それぞれに対応する前記対処とを関係付けて記憶し、
同時に複数の前記異常および故障が発生した場合に、発生した複数の前記異常および故障の前記識別子を抽出し、
抽出した前記識別子に基づいて、発生した前記異常および故障の前記順番データを抽出し、
抽出した前記順番データに基づいて決定される前記順番にしたがって、発生した前記異常および故障に対応する前記対処を抽出し、
抽出した前記対処を表示し、
前記順番データは、前記異常および故障それぞれの直近の発生日時を含み、前記発生日時の早いまたは遅い順番をもって前記次回発生しやすい順番を決定することを特徴とする異常対処方法。 - 前記順番データは、前記異常および故障それぞれの発生回数を含み、前記発生回数の多い順番をもって前記次回発生しやすい順番を決定することを特徴とする請求項1に記載の異常対処方法。
- 前記対処を表示した後に、前記対処を実行した後の前記異常および故障が検出された場合は、抽出した前記順番データに基づいて決定される前記順番にしたがって、未実施の前記対処を抽出し、
前記未実施の前記対処を表示することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の異常対処方法。 - 前記順番データを、前記異常および故障が発生した際に、発生した前記異常および故障に応じて、更新することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の異常対処方法。
- 真空中において荷電粒子線を応用する荷電粒子線装置で検出された異常および故障に対応する対処を表示する異常対処装置において、
前記異常および故障の識別子に、次回発生しやすい順番を決定可能な順番データと、前記異常および故障それぞれに対応する前記対処とを関係付けて記憶する順位データベースと、
同時に複数の前記異常および故障が発生した場合に、発生した複数の前記異常および故障の前記識別子を抽出する異常項目抽出部と、
抽出した前記識別子に基づいて、発生した前記異常および故障の前記順番データを抽出する順番データ抽出部と、
抽出した前記順番データに基づいて決定される前記順番にしたがって、発生した前記異常および故障に対応する前記対処を抽出する対処抽出部と、
抽出した前記対処を表示する表示部とを有し、
前記順番データは、前記異常および故障それぞれの直近の発生日時を含み、
前記順番データ抽出部は、前記発生日時の早いまたは遅い順番をもって前記次回発生しやすい順番を決定する日時順抽出部を有することを特徴とする異常対処装置。 - 前記順番データは、前記異常および故障それぞれの発生回数を含み、
前記順番データ抽出部は、前記発生回数の多い順番をもって前記次回発生しやすい順番を決定する回数順抽出部を有することを特徴とする請求項5に記載の異常対処装置。 - 前記対処を表示した後に、前記対処を実行した後の前記異常および故障が検出された場合は、前記対処抽出部は、抽出した前記順番データに基づいて決定される前記順番にしたがって、未実施の前記対処を抽出し、
前記表示部は、前記未実施の前記対処を表示することを特徴とする請求項5または請求項6に記載の異常対処装置。 - 前記順位データベースは、前記順番データを、前記異常および故障が発生した際に、発生した前記異常および故障に応じて、更新することを特徴とする請求項5乃至請求項7のいずれか1項に記載の異常対処装置。
- 荷電粒子線装置であって、
前記異常および故障の発生を検出する異常検出部と、
請求項5乃至請求項8のいずれか1項に記載の異常対処装置とを有することを特徴とする荷電粒子線装置。
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---|---|---|---|---|
JPH0529192A (ja) * | 1991-07-19 | 1993-02-05 | Canon Inc | 半導体露光装置 |
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JP2003044128A (ja) * | 2001-08-01 | 2003-02-14 | Olympus Optical Co Ltd | 制御装置 |
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2006
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