JP4685451B2 - 時間遅延が時間制限より良いか否かを評価する方法 - Google Patents
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Description
悪い時間遅延の数:ne=10
確率:D=0.002 C=0.998
結果:
NElow=3.26
NEhigh=22.98
解釈:
予備ER段pERsとのテストにおいて、ne=10個の測定された悪い時間遅延を有すると、低い確率D=0.002において、このテストにおける悪い時間遅延の平均数NEは、3.26から22.98の範囲外であり、又は、高い確率C=0.998では、3.26から22.98の範囲内である。
時間遅延の数nsと悪い時間遅延の数NEにより表現される特定のERは、
ERlimit=NElimit/ns (7)
であり、式における省略のために、
ernorm=er/ERlimit=ne/NElimit (8)
(正規化されたer)
早期の合格は、以下を要求する:
NEhigh<NElimit (9)
早期の不合格は、以下を要求する:
NElow>NElimit (10)
早期の合格制限の式は、
ne:検出されたエラー(悪い時間遅延)の数
ns:測定された時間遅延TDの数
(ne/ns=予備のエラー率er)
ER:分布の平均値は、エラー率である。
ERhigh<ERlimit
早期の不合格は、以下を要求する:
ERlow>ERlimit
ポアソンアプローチと同様に、早期の不合格制限は、
ernorm fail=er/ERlow (15)
早期の合格制限は、
ernorm pass=er/ERhigh (16)
以下の検討事項は、ポアソンアプローチ及び2項アプローチの両方に有効である。
ne>=K (17)
の有効後に、早期の停止が起きなければ、ERテストは停止され得、DUTは、nsが十分に高ければ、合格とされ得る。Kは、エラー(悪い時間遅延)の最大数である。例えば、Kは、200であることが可能である。
ポアソンについて、 NElimit,M=ERlimit・M・ns であり、
2項について、 ERlimit,M=ERlimit・M であり、
早期合格は、
NElimit・M=NElimit,M>NEhigh.(ポアソン)
ERlimit・M=ERlimit,M>ERhigh (2項) (18)
の場合に、許可される。
−例えば、10%である特定されるエラー制限
−テスト全体において誤決定をする確率(提案:F=3%)
−悪いDUTの決定(ERlimit・M)
これから、作業パラメータが得られる。即ち、1つのテスト段階の誤決定リスクであるDは、テスト全体の誤決定リスクであるFから得られる。これを行う方法を以下に説明する。
F=1−(1−D)ne (19)
により計算することが可能である。
F>D>1−(1−F)1/ne (20)
と考えることができる。
Claims (17)
- テスト対象装置の要求に対する応答までの時間遅延に基づいて該テスト対象装置をテストする方法であって、
前記テスト対象装置の前記時間遅延をns個、測定し、測定された前記ns個の時間遅延のうち、予め設定された特定の時間制限を越えるエラー時間遅延個数neを検出する段階と、
許容すべき予め設定された誤決定確率をD1、固定数の時間遅延のサンプルにおける時間遅延の個数niの、前記テスト対象装置を合格させるための分布を与える尤度分布をPDhigh(ni,NE)、前記測定されたエラー時間遅延の個数neに対して与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighとしたとき、検出された前記エラー時間遅延個数ne及び予め設定された前記許容する誤決定確率D1を与えることにより、
許容すべき限界として予め設定されるエラー率をERlimitとしたとき、前記エラー率ERlimit及び前記測定された時間遅延個数nsを与えることにより、許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitを
NElimit=ERlimit・ns
により得る段階と、
前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighを、前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitと比較する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより大きい場合、前記テストを停止し、前記テスト対象装置が前記テストを合格したと決定する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより小さい場合、前記テストを続行し、それにより、前記時間遅延個数nsを増加させる段階と、
を含み、
前記尤度分布PDhigh(ni,NE)は、ポアソン分布、又は、二項分布である方法。 - テスト対象装置の要求に対する応答までの時間遅延に基づいて該テスト対象装置をテストする方法であって、
前記テスト対象装置の前記時間遅延をns個、測定し、測定された前記ns個の時間遅延のうち、予め設定された特定の時間制限を越えるエラー時間遅延個数neを検出する段階と、
許容すべき予め設定されたシングルステップ誤決定確率をD1、固定数の時間遅延のサンプルにおける時間遅延の個数niの、前記テスト対象装置を合格させるための分布を与える尤度分布をPDhigh(ni,NE)、前記測定されたエラー時間遅延の個数neに対して与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighとしたとき、検出された前記エラー時間遅延個数ne及び予め設定された前記許容すべきシングルステップ誤決定確率D1を与えることにより、
許容すべき限界として予め設定されるエラー率をERlimitとしたとき、前記エラー率ERlimit及び前記測定された時間遅延個数nsを与えることにより、許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitを
NElimit=ERlimit・ns
により得る段階と、
前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighを、前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitと比較する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより大きい場合、前記テストを停止し、前記テスト対象装置が前記テストを合格したと決定する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより小さい場合、前記テストを続行し、それにより、前記時間遅延個数nsを増加させる段階と、
を含み、
前記尤度分布PDhigh(ni,NE)は、ポアソン分布、又は、二項分布であり、
前記許容すべきシングルステップ誤決定確率D1は、許容すべきテスト全体の誤決定確率F1より小さく設定されている方法。 - ne=0の不確定の状況を回避するために、前記テストを人為的なエラー時間遅延個数ne=1で開始し、特定のエラーが発生するときにエラー時間遅延個数neを増加しないことを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか一項記載の方法。
- テスト対象装置の要求に対する応答までの時間遅延に基づいて該テスト対象装置をテストする方法であって、
前記テスト対象装置の前記時間遅延をns個、測定し、測定された前記ns個の時間遅延のうち、予め設定された特定の時間制限を越えるエラー時間遅延個数neを検出する段階と、
許容すべき予め設定された誤決定確率をD2、固定数の時間遅延のサンプルにおける時間遅延の個数niの前記テスト対象装置を不合格とするための分布を与える尤度分布をPDlow(ni,NE)、前記測定されたエラー時間遅延の個数neに対して与えられるエラー時間遅延の平均個数NElowとしたとき、検出された前記エラー時間遅延個数ne及び予め設定された前記許容する誤決定確率D2を与えることにより、
許容すべき限界として予め設定されるエラー率をERlimitとしたとき、前記エラー率ERlimit及び前記測定された時間遅延個数nsを与えることにより、許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitを
NElimit=ERlimit・ns
により得る段階と、
前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NElowを、前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitと比較する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NElowより小さい場合、前記テストを停止し、前記テスト対象装置が前記テストを不合格となったと決定する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NElowより大きい場合、前記テストを続行し、それにより、前記時間遅延個数nsを増加させる段階と、
を含み、
前記尤度分布PDhigh(ni,NE)は、ポアソン分布、又は、二項分布である方法。 - テスト対象装置の要求に対する応答までの時間遅延に基づいて該テスト対象装置をテストする方法であって、
前記テスト対象装置の前記時間遅延をns個、測定し、測定された前記ns個の時間遅延のうち、予め設定された特定の時間制限を越えるエラー時間遅延個数neを検出する段階と、
許容すべき予め設定された誤決定確率をD2、固定数の時間遅延のサンプルにおける時間遅延の個数niの前記テスト対象装置を不合格とするための分布を与える尤度分布をPDlow(ni,NE)、前記測定されたエラー時間遅延の個数neに対して与えられるエラー時間遅延の平均個数NElowとしたとき、検出された前記エラー時間遅延個数ne及び予め設定された前記許容する誤決定確率D2を与えることにより、
許容すべき限界として予め設定されるエラー率をERlimitとしたとき、前記エラー率ERlimit及び前記測定された時間遅延個数nsを与えることにより、許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitを
NElimit=ERlimit・ns
により得る段階と、
前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NElowを、前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitと比較する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NElowより小さい場合、前記テストを停止し、前記テスト対象装置が前記テストを不合格となったと決定する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NElowより大きい場合、前記テストを続行し、それにより、前記時間遅延個数nsを増加させる段階と、
を含み、
前記尤度分布PDlow(ni,NE)は、ポアソン分布、又は、二項分布であり、
前記許容すべきシングルステップ誤決定確率D2は、許容すべきテスト全体の誤決定確率F2より小さく設定されている方法。 - ne<k(kは、小さい数の悪い時間遅延)に対し不確定の状況を回避するために、neがkより小さい限り、前記テストを停止しないことを特徴とする請求項5乃至7のいずれか一項記載の方法。
- 更に、許容すべき予め設定された誤決定確率をD1、固定数の時間遅延のサンプルにおける時間遅延の個数niの、前記テスト対象装置を合格させるための分布を与える尤度分布をPDhigh(ni,NE)、前記測定されたエラー時間遅延の個数neに対して与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighとしたとき、検出された前記エラー時間遅延個数ne及び予め設定された前記許容する誤決定確率D1を与えることにより、
許容すべき限界として予め設定されるエラー率をERlimitとしたとき、前記エラー率ERlimit及び前記測定された時間遅延個数nsを与えることにより、許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitを
NElimit=ERlimit・ns
により得る段階と、
前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighを、前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitと比較する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより大きい場合、前記テストを停止し、前記テスト対象装置が前記テストを合格したと決定する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより小さい場合、前記テストを続行し、それにより、前記時間遅延個数nsを増加させる段階と、
を含み、
前記尤度分布PDhigh(ni,NE)は、ポアソン分布、又は、二項分布である請求項5乃至8のいずれか一項記載の方法。 - 更に、許容すべき予め設定された誤決定確率をD1、固定数の時間遅延のサンプルにおける時間遅延の個数niの、前記テスト対象装置を合格させるための分布を与える尤度分布をPDhigh(ni,NE)、前記測定されたエラー時間遅延の個数neに対して与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighとしたとき、検出された前記エラー時間遅延個数ne及び予め設定された前記許容する誤決定確率D1を与えることにより、
許容すべき限界として予め設定されるエラー率をERlimitとしたとき、前記エラー率ERlimit及び前記測定された時間遅延個数nsを与えることにより、許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitを
NElimit,M=ERlimit・M・ns(M>1)
により得る段階と、
前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighを、前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimit,Mと比較する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimit,Mが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより大きい場合、前記テストを停止し、前記テスト対象装置が前記テストを合格したと決定する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimit,Mが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより小さい場合、前記テストを続行し、それにより、前記時間遅延個数nsを増加させる段階と、
を含み、
前記尤度分布PDhigh(ni,NE)は、ポアソン分布、又は、二項分布である請求項5乃至8のいずれか一項記載の方法。 - 前記シングルステップ誤決定確率D1、D2は、等しい(D1=D2)であることを特徴とする請求項9又は10記載の方法。
- 更に、許容すべき予め設定されたシングルステップ誤決定確率をD1、固定数の時間遅延のサンプルにおける時間遅延の個数niの、前記テスト対象装置を合格させるための分布を与える尤度分布をPDhigh(ni,NE)、前記測定されたエラー時間遅延の個数neに対して与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighとしたとき、検出された前記エラー時間遅延個数ne及び予め設定された前記許容すべきシングルステップ誤決定確率D1を与えることにより、
許容すべき限界として予め設定されるエラー率をERlimitとしたとき、前記エラー率ERlimit及び前記測定された時間遅延個数nsを与えることにより、許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitを
NElimit=ERlimit・ns
により得る段階と、
前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighを、前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitと比較する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより大きい場合、前記テストを停止し、前記テスト対象装置が前記テストを合格したと決定する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより小さい場合、前記テストを続行し、それにより、前記時間遅延個数nsを増加させる段階と、
を含み、
前記尤度分布PDhigh(ni,NE)は、ポアソン分布、又は、二項分布であり、
前記許容すべきシングルステップ誤決定確率D1は、許容すべきテスト全体の誤決定確率F1より小さく設定されている請求項5乃至8のうちいずれか一項記載の方法。 - 更に、許容すべき予め設定されたシングルステップ誤決定確率をD1、固定数の時間遅延のサンプルにおける時間遅延の個数niの、前記テスト対象装置を合格させるための分布を与える尤度分布をPDhigh(ni,NE)、前記測定されたエラー時間遅延の個数neに対して与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighとしたとき、検出された前記エラー時間遅延個数ne及び予め設定された前記許容すべきシングルステップ誤決定確率D1を与えることにより、
許容すべき限界として予め設定されるエラー率をERlimitとしたとき、前記エラー率ERlimit及び前記測定された時間遅延個数nsを与えることにより、許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimitを
NElimit,M=ERlimit・M・ns(M>1)
により得る段階と、
前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighを、前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimit,Mと比較する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimit,Mが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより大きい場合、前記テストを停止し、前記テスト対象装置が前記テストを合格したと決定する段階と、
前記許容すべき限界値として与えられるエラー時間遅延の平均個数NElimit,Mが、前記検出されたエラー時間遅延個数neに対して前記尤度分布により与えられるエラー時間遅延の平均個数NEhighより小さい場合、前記テストを続行し、それにより、前記時間遅延個数nsを増加させる段階と、
を含み、
前記尤度分布PDhigh(ni,NE)は、ポアソン分布、又は、二項分布であり、
前記許容すべきシングルステップ誤決定確率D1は、許容すべきテスト全体の誤決定確率F1より小さく設定されている請求項5乃至8のうちいずれか一項記載の方法。 - 前記許容すべきテスト全体の誤決定確率F1、F2は、等しい(F1=F2)であることを特徴とする請求項12又は13記載の方法。
- ne=0の不確定の状況を回避するために、前記テストを人為的なエラー時間遅延個数ne=1で開始し、特定のエラーが発生したときにエラー時間遅延個数neを増加しないことを特徴とする請求項5乃至14のうちいずれか一項記載の方法。
- コンピュータ又はデジタル信号プロセッサに、請求項1乃至15のうちいずれか一項記載の各段階を実行させるプログラムが記憶されたコンピュータ又はデジタル信号プロセッサにより読み取り可能なデジタル記憶媒体。
- 請求項1乃至15のうちいずれか一項記載の方法を実行するコンピュータプログラムが記録された記録媒体。
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