JP4650150B2 - マグネットロールの磁力データ補正方法 - Google Patents

Description

本発明は、主として電子写真装置に用いられるマグネットロールの表面磁力を複数の異なる磁力測定装置で測定した場合における該マグネットロールの磁力データ補正方法に関する。

従来、電子写真装置においては、感光体表面にトナーを付着させるため、マグネットロールが使用されている。このマグネットロールは、磁力測定装置による磁束密度の測定データに基づき、品質管理されている。なお、磁力測定装置及び磁力測定方法として、例えば、特許文献１には、ロール状マグネットの高精度磁力測定方法及びその装置が記載されている。この特許文献１では、マグネットロール（特許文献１には「ロール状マグネット」と記載）の表面近傍に磁気プローブを固定し、該マグネットロールの表面磁力を測定すると同時に、磁気プローブと該マグネットロールの表面との間隔を測定し、磁力データを間隔データで補正している。
特開平７−３５８３５号公報

ところが、磁力測定装置においては、磁力測定装置の機種が全く同一であり、かつ測定対象であるマグネットロールが同一のものであっても、精度差等による測定データの差（以下、「機差」と記載する）が生じる場合がある。このため、マグネットロールのメーカーの磁力測定装置と、ユーザーの磁力測定装置との間における機差を回避することはできない。そこで、従来は、メーカー又はユーザーのいずれか一方の磁力測定装置による測定データのうち、径方向磁力、極位置、０点角度、直線性等といった特性値のみを補正し、他方による測定データを推定していた。だがしかし、特性値のみの補正方法は、マグネットロール全体における磁力特性の傾向までは判断することができず、補正方法として不十分なものであった。
本発明は、このような従来技術に存在する問題点に着目してなされたものである。その目的とするところは、互いに異なる磁力測定装置間において、いずれかの磁力測定装置による測定データから、他の磁力測定装置による測定データを好適に推定することができるマグネットロールの磁力データ補正方法を提供することにある。

上記の目的を達成するために、請求項１に記載のマグネットロールの磁力データ補正方法の発明は、マグネットロールの径方向の磁束密度を２つの磁力測定装置Ａ，Ｂで測定する場合に、２つの磁力測定装置Ａ，Ｂ相互における磁束密度の測定データの差を補正する方法であって、各磁力測定装置Ａ，Ｂを使用して該磁束密度を所定の微小角度ｄθ毎に測定し、ｎ個（ｎ＝３６０°／ｄθ）の測定点（Ｐｒ_１，Ｐｒ_２，Ｐｒ_３，…Ｐｒ_ｎ）について、各測定点における測定角度（θ_１，θ_２，θ_３，…θ_ｎ）と、各測定点でそれぞれ測定された磁束密度値（Ｔｒ_１，Ｔｒ_２，Ｔｒ_３，…Ｔｒ_ｎ）とからなる測定データを得るものとして、磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合には、測定角度θを同一とする所定の測定点Ｐｒにおいて、磁力測定装置Ａによる磁束密度値Ｔｒ_Ａと、磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｒ_Ｂとの差Ｔｒ_Ａ−Ｔｒ_Ｂ＝ΔＴｒ（ΔＴｒは正または負の数値）を該測定点Ｐｒにおける補正値とするものとして、各磁力測定装置Ａ，Ｂによる全ての測定点について該補正値（ΔＴｒ_１，ΔＴｒ_２，ΔＴｒ_３，…ΔＴｒ_ｎ）を求めておき、磁力測定装置Ｂによる全ての測定点における磁束密度値（Ｔｒ_Ｂ１，Ｔｒ_Ｂ２，Ｔｒ_Ｂ３，…Ｔｒ_Ｂｎ）にそれぞれ補正値（ΔＴｒ_１，ΔＴｒ_２，ΔＴｒ_３，…ΔＴｒ_ｎ）を加えることにより、磁力測定装置Ａによる全ての測定点における磁束密度値（Ｔｒ_Ａ’１，Ｔｒ_Ａ’２，Ｔｒ_Ａ’３，…Ｔｒ_Ａ’ｎ）に補正することを要旨とする。

上記の補正方法は、マグネットロールの径方向の磁束密度の測定において、同一な所定の測定角度θで測定された磁束密度値Ｔｒ_Ａと磁束密度値Ｔｒ_Ｂとの差ΔＴｒを求め、該ΔＴｒを、測定角度θが同一となる所定の測定点Ｐｒにおける補正値として用い、磁束密度値Ｔｒ_Ｂを補正する方法である。そして、補正前の磁束密度値に機差が含まれていようとも、全ての磁束密度値について該補正値を求めて補正することにより、マグネットロール全体における磁力特性の傾向判断することができるようになる。その結果、互いに異なる磁力測定装置間において、いずれかの磁力測定装置による測定データから、他の磁力測定装置による測定データを推定することができるようになる。

請求項２に記載のマグネットロールの磁力データ補正方法の発明は、請求項１に記載の発明において、上記各磁力測定装置Ａ，Ｂによる測定データのなかでも磁束密度値Ｔｒが０ｍＴ付近となる測定点を基準測定点Ｐｒ_０として、該磁力測定装置Ａの基準測定点Ｐｒ_０における基準測定角度をθ_Ａ０とし、該磁力測定装置Ｂの基準測定点Ｐｒ_０における基準測定角度をθ_Ｂ０として、磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合には、基準測定角度の差θ_Ａ０−θ_Ｂ０＝Δθ（Δθは正または負の数値）を全ての測定点における角度補正値として求めておき、該磁力測定装置Ｂの全ての測定点における測定角度（θ_Ｂ１，θ_Ｂ２，θ_Ｂ３，…θ_Ｂｎ）に角度補正値Δθをそれぞれ加えることにより、該測定角度（θ_Ｂ１，θ_Ｂ２，θ_Ｂ３，…θ_Ｂｎ）を測定角度（θ_Ｂ’１，θ_Ｂ’２，θ_Ｂ’３，…θ_Ｂ’ｎ）にずらした後で、該補正値（ΔＴｒ_１，ΔＴｒ_２，ΔＴｒ_３，…ΔＴｒ_ｎ）を求めておくことを要旨とする。

上記構成によれば、まず各磁力測定装置Ａ，Ｂによる測定データの中から、磁束密度値Ｔが０ｍＴ付近の所定の測定点、つまりは測定データの中で相互に対応する測定点を選出し、その相互に対応する測定点の角度θ_Ａ０と角度θ_Ｂ０に基づいて測定データの角度をずらしている。このように測定データの角度をずらすことにより、磁力測定装置Ｂによる測定点の角度θ_Ｂを、磁力測定装置Ａによる測定点の角度θ_Ａに置き換えた状態で、磁束密度値Ｔｒ_Ａと磁束密度値Ｔｒ_Ｂとを比較することができる。このため、両磁力測定装置Ａ，Ｂ間における角度ずれ等のような単純な機差を解消したうえで、測定データ（磁束密度の波形）を補正することができる。

請求項３に記載のマグネットロールの磁力データ補正方法の発明は、請求項２に記載の発明において、上記磁束密度値Ｔｒが０ｍＴ付近となる該基準測定点Ｐｒ_０とは、磁束密度値Ｔｒと測定角度θとの関係を現す磁力波形を求めた場合に、該磁力波形の任意の隣接する２つの測定点Ｐｒを結んだ線の傾きが１ｍＴ／ｄｅｇ以上となる測定点であることを要旨とする。

上記構成によれば、磁束密度値Ｔｒが０ｍＴ付近の測定点においては、磁力波形の傾きが大きいため、両磁力測定装置Ａ，Ｂ間における機差が単純な角度ずれである場合、ΔＴｒの値が最も大きくなる傾向がある。よって、この０ｍＴ付近で測定データをずらしておくことで、単純な角度ずれによる影響をより少なくすることができ、補正をより正確に実施することができる。

請求項４に記載のマグネットロールの磁力データ補正方法の発明は、請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の発明において、上記各磁力測定装置Ａ，Ｂは、測定角度間隔である微小角度ｄθ_Ａ，ｄθ_Ｂが相互に異なっており（ｄθ_Ａ≠ｄθ_Ｂ）、かくして磁力測定装置Ａと磁力測定装置Ｂとで測定角度θ_Ａ，θ_Ｂが相互に一致しない測定点が存在しており、磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合、測定角度θ_Ａと同一の測定角度θ_Ｂ（θ_Ａ＝θ_Ｂ）における磁束密度値Ｔｒ_Ｂが存在しない測定点については、磁力測定装置Ｂにおいて測定角度θ_Ａの両側に最近接する２つの測定角度（θ_Ｂｍ，θ_Ｂｍ＋１）でそれぞれ測定された２つの磁束密度値（Ｔｒ_Ｂｍ，Ｔｒ_Ｂｍ＋１）を直線で結び、該直線上の測定角度θ_Ａ相当位置における値を該磁束密度値Ｔｒ_Ｂと仮想したうえで、該磁束密度値Ｔｒ_Ｂと磁力測定装置Ａの測定角度θ_Ａにおける磁束密度値Ｔｒ_Ａとの差Ｔｒ_Ａ−Ｔｒ_Ｂ＝ΔＴｒ（ΔＴｒは正または負の数値）を該測定点（Ｐｒ_Ａ，Ｐｒ_Ｂ）における補正値とすることを要旨とする。

上記構成によれば、マグネットロールの径方向における磁束密度を測定する場合であって、両磁力測定装置Ａ，Ｂ間で測定点数が異なる場合にも、未測定の測定点における磁束密度値を仮定し、測定点数を合わせた後に測定データ（磁束密度の波形）全体を補正することができる。

請求項５に記載のマグネットロールの磁力データ補正方法の発明は、マグネットロールの軸方向の磁束密度を２つの磁力測定装置Ａ，Ｂで測定する場合に、２つの磁力測定装置Ａ，Ｂ相互における磁束密度の測定データの差を補正する方法であって、各磁力測定装置Ａ，Ｂを使用して該磁束密度を所定の微小間隔ｄＬ毎に測定し、ｎ個（ｎ＝１＋（Ｗ／ｄＬ）、但しＷ＝マグネットロールの軸方向の測定長さ）の測定点（Ｐｓ_１，Ｐｓ_２，Ｐｓ_３，…Ｐｓ_ｎ）について、各測定点における測定開始位置からの測定長さ（Ｌ_１，Ｌ_２，Ｌ_３，…Ｌ_ｎ、但しＬ_１＝０）と、各測定点でそれぞれ測定された磁束密度値（Ｔｓ_１，Ｔｓ_２，Ｔｓ_３，…Ｔｓ_ｎ）とからなる測定データを得るものとして、磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合には、測定開始位置からの測定長さを同一とする所定の測定点Ｐｓにおいて、磁力測定装置Ａによる磁束密度値Ｔｓ_Ａと磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｓ_Ｂとの差Ｔｓ_Ａ−Ｔｓ_Ｂ＝ΔＴｓ（ΔＴｓは正または負の数値）を該測定点Ｐｓにおける補正値として、各磁力測定装置Ａ，Ｂによる全ての測定点ついて該補正値（ΔＴｓ_１，ΔＴｓ_２，ΔＴｓ_３，…ΔＴｓ_ｎ）を求めておき、磁力測定装置Ｂによる全ての測定点における磁束密度値（Ｔｓ_Ｂ１，Ｔｓ_Ｂ２，Ｔｓ_Ｂ３，…Ｔｓ_Ｂｎ）にそれぞれ補正値（ΔＴｓ_１，ΔＴｓ_２，ΔＴｓ_３，…ΔＴｓ_ｎ）を加えることにより、磁力測定装置Ａによる全ての測定点における磁束密度値（Ｔｓ_Ａ’１，Ｔｓ_Ａ’２，Ｔｓ_Ａ’３，…Ｔｓ_Ａ’ｎ）に補正することを要旨とする。

上記の補正方法は、マグネットロールの軸方向の磁束密度の測定において、同一な所定の測定長さＬで測定された磁束密度値Ｔｓ_Ａと磁束密度値Ｔｓ_Ｂとの差ΔＴｓを求め、該ΔＴｓを所定の測定長さＬにおける補正値として用い、磁束密度値Ｔｓ_Ｂを補正する方法である。そして、補正前の磁束密度値に機差が含まれていようとも、全ての磁束密度値について該補正値を求めて補正することにより、マグネットロール全体における磁力特性の傾向判断することができるようになる。その結果、互いに異なる磁力測定装置間において、いずれかの磁力測定装置による測定データから、他の磁力測定装置による測定データを推定することができるようになる。

請求項６に記載のマグネットロールの磁力データ補正方法の発明は、請求項５に記載の発明において、上記各磁力測定装置Ａ，Ｂは、測定長さ間隔である微小間隔ｄＬ_Ａ，ｄＬ_Ｂが相互に異なっており（ｄＬ_Ａ≠ｄＬ_Ｂ）、かくして磁力測定装置Ａと磁力測定装置Ｂとで測定開始位置からの測定長さＬ_Ａ，Ｌ_Ｂが相互に一致しない測定点が存在しており、磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合、測定開始位置からの測定長さＬ_Ａと同一の測定長さＬ_Ｂ（Ｌ_Ａ＝Ｌ_Ｂ）における磁束密度値Ｔｓ_Ｂが存在しない測定点については、磁力測定装置Ｂにおいて測定長さＬ_Ａの両側に最近接する２つの測定長さ（Ｌ_Ｂｍ，Ｌ_Ｂｍ＋１）でそれぞれ測定された２つの磁束密度値（Ｔｓ_Ｂｍ，Ｔｓ_Ｂｍ＋１）を直線で結び、該直線上の測定長さＬ_Ａ相当位置における値を該磁束密度値Ｔｓ_Ｂと仮想したうえで、該磁束密度値Ｔｓ_Ｂと磁力測定装置Ａの測定長さＬ_Ａにおける磁束密度値Ｔｓ_Ａとの差Ｔｓ_Ａ−Ｔｓ_Ｂ＝ΔＴｓ（ΔＴｓは正または負の数値）を該測定点（Ｐｓ_Ａ，Ｐｓ_Ｂ）における補正値とすることを要旨とする。

上記構成によれば、マグネットロールの軸方向における磁束密度を測定する場合であって、両磁力測定装置Ａ，Ｂ間で測定点数が異なる場合にも、未測定の測定位置における磁束密度値を仮定し、測定点数を合わせた後に測定データ（磁束密度の波形）全体を補正することができる。

請求項７に記載のマグネットロールの磁力データ補正方法の発明は、請求項５または請求項６に記載の発明において、該ΔＴｓの範囲は、−（０．３×Ｔｓ_Ａ）≦ΔＴｓ≦＋（０．３×Ｔｓ_Ａ）であることを要旨とする。
上記構成によれば、ΔＴの範囲を−（０．３×Ｔ_Ａ）≦ΔＴ≦＋（０．３×Ｔ_Ａ）とすることにより、補正値を好適なものとすることができる。

本発明によれば、互いに異なる磁力測定装置間において、いずれかの磁力測定装置による測定データから、他の磁力測定装置による測定データを推定することができる。

以下、本発明を具体化した一実施形態について説明する。
まずマグネットロールの概略構成を説明する。
マグネットロールは、電子写真装置内において、感光体の表面にトナーを付着させるべく設けられたものである。このマグネットロールは、円柱状、円筒状等のような、その表面が断面円形状をなす形状となるように形成されている。また、マグネットロールによってトナーを付着させるとき、感光体は、その表面が所定の電荷に帯電されるとともに、その表面に静電潜像が形成されており、該トナーは、該静電潜像に対応して感光体の表面に付着される。そして、マグネットロールは、感光体に付着させるトナーを好適に保持するべく、磁力を帯びている。

次に、マグネットロールの周面における磁束密度の測定方法について説明する。
マグネットロールは、磁力測定装置を使用することにより、径方向における磁束密度と、軸方向における磁束密度とが測定される。そして、径方向における磁束密度の測定データと、軸方向における磁束密度の測定データとを通じて品質管理される。磁力測定装置は、該マグネットロールを支持するための治具と、該マグネットロールの表面磁力を測定するための磁力測定用プローブとを備えている。該治具は、マグネットロールを、該マグネットロールの周方向へ回転自在に支持するものである。該磁力測定用プローブは、該マグネットロールの磁束密度を測定するためのものである。この磁力測定用プローブは、マグネットロールが該治具に支持された状態で該マグネットロールの周面近傍に配設されるとともに、該マグネットロールの軸方向へ移動することができるように構成されている。

該磁力測定装置を使用してマグネットロールの径方向の磁束密度を測定する場合、まず治具にマグネットロールをセットし、次いで、磁力測定用プローブをマグネットロールの軸方向で所定位置に配置する。その後、該マグネットロールを回転させつつ、磁力測定用プローブによって所定の微小角度ｄθ毎に径方向の磁束密度を測定する。そして、その測定結果が径方向の磁束密度の測定データとして出力される。なお、磁力測定用プローブは、マグネットロールが１回転する毎に該マグネットロールの軸方向へ移動するようになっており、径方向の磁束密度を複数箇所で測定する。

径方向の磁束密度の測定データとしては、ｎ個（ｎ＝３６０°／ｄθ）の側定点（Ｐｒ_１，Ｐｒ_２，Ｐｒ_３，…Ｐｒ_ｎ）について、測定開始角度をθ＝０（°）とする各側定点における測定角度（θ_１，θ_２，θ_３，…θ_ｎ）と、各測定点でそれぞれ測定された磁束密度値（Ｔｒ_１，Ｔｒ_２，Ｔｒ_３，…Ｔｒ_ｎ）とが得られる。例えばｄθ＝１°である場合、Ｐｒ_１（θ_１＝０°，Ｔｒ_１＝−１３０ｍＴ）、Ｐｒ_６１（θ_６１＝６０゜，Ｔｒ_６１＝＋９０ｍＴ）、Ｐｒ_１８１（θ_１８１＝１８０゜，Ｔｒ_１８１＝−２ｍＴ）等のように出力される。そして、該測定データから、マグネットロールの径方向における磁束密度の波形を解析することができるようになる。

該測定データをわかりやすく示すと、図１に示すような、磁束密度波形グラフとなる。図１に示すマグネットロールは５極のものであり、３つのＳ極（図１中にＳ１，Ｓ２，Ｓ３として図示）と、２つのＮ極（図１中にＮ１，Ｎ２として図示）とを有するとともに、１つのダミー極（図１中にＤｍとして図示）を有している。なお、この磁束密度波形グラフは、各測定点における測定角度θと、磁束密度値Ｔｒとの関係をプロットし、プロットされた各点を結ぶことによって作成されたものである。当然ではあるが、このような磁束密度波形グラフを作成せずとも、測定データのみから磁束密度の波形を解析することも可能である。

一方、該磁力測定装置を使用してマグネットロールの軸方向の磁束密度を測定する場合には、治具にマグネットロールをセットした後、磁力測定用プローブを該マグネットロールの軸方向へ移動させる。磁力測定用プローブは、その移動時において所定の微小間隔ｄＬ毎に軸方向の磁束密度を測定する。そして、その測定結果が軸方向の磁束密度の測定データとして出力される。なお、軸方向の磁束密度の測定においては、磁力測定用プローブが該マグネットロールの軸方向全体に１移動した後で該マグネットロールをその周方向へ所定角度だけ回転させるか、あるいは磁力測定用プローブが微小間隔ｄＬだけ１移動する毎に該マグネットロールをその周方向へ所定角度だけ回転させることにより、軸方向の磁束密度を複数角度で測定される。

軸方向の磁束密度の測定データとしては、ｎ個（ｎ＝１＋（Ｗ／ｄＬ）、但しＷ＝マグネットロールの軸方向の測定長さ）の測定点（Ｐｓ_１，Ｐｓ_２，Ｐｓ_３，…Ｐｓ_ｎ）について、測定開始位置をＬ＝０（ｍｍ）とする各側定点における測定開始位置からの測定長さ（Ｌ_１，Ｌ_２，Ｌ_３，…Ｌ_ｎ）と、各側定点でそれぞれ測定された磁束密度値（Ｔｓ_１，Ｔｓ_２，Ｔｓ_３，…Ｔｓ_ｎ）とが得られる。例えばｄＬ＝１ｍｍである場合、Ｐｓ_１（Ｌ_１＝０ｍｍ，Ｔｓ_１＝−１３０ｍＴ）、Ｐｓ_１１（Ｌ_１１＝１０ｍｍ，Ｔｒ_１１＝−１２５ｍＴ）、Ｐｓ_１０１（Ｌ_１０１＝１００ｍｍ，Ｔｒ_１０１＝−１３５ｍＴ）等のように出力される。そして、該測定データから、マグネットロールの軸方向における磁束密度の波形を解析することができるようになる。

該測定データをわかりやすく示すと、図２に示すような、軸−Ｔグラフとなる。なお、この軸−Ｔグラフは、各測定点における測定開始位置からの測定長さＬと、磁束密度値Ｔｓとの関係をプロットし、プロットされた各点を結ぶことによって作成されたものである。当然ではあるが、このような軸−Ｔグラフを作成せずとも、測定データのみから磁束密度の波形を解析することも可能である。

次いで、上記のようにして得られた磁束密度のデータの補正方法について説明する。
さて、測定対象が同一のマグネットロールであっても、使用する磁力測定装置が異なる場合、磁力測定装置間の機差により、測定データの差が生じる。このため、異なる複数の磁力測定装置を使用した場合には、何れか１つの磁力測定装置で得られた測定データを基準とし、他の磁力測定装置で得られた測定データを補正する。そこで、マグネットロールの表面磁力を２つの異なる磁力測定装置Ａ，Ｂによって測定し、該マグネットロールの測定データを得た場合を例に挙げて、測定データの補正方法について説明する。但し、以下の説明においては、磁力測定装置Ａ，Ｂのうち、磁力測定装置Ａで得られた測定データを基準とし、磁力測定装置Ｂで得られた測定データを補正するものとする。また、該補正方法に係る演算は、電子計算機に格納された補正プログラムを使用して行うものとする。

なお、実際に測定データを補正する場合、対象の磁力測定装置は２台に限らず、３台以上であってもよい。例えば、３台の異なる磁力測定装置Ａ，Ｂ，Ｃによって表面磁力を測定し、磁力測定装置Ａで得られた測定データを基準とする場合、磁力測定装置Ｃで得られた測定データを磁力測定装置Ｂで得られた測定データと同様に補正すればよい。また、４台の異なる磁力測定装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによって表面磁力を測定し、磁力測定装置Ａで得られた測定データを基準とする場合、磁力測定装置Ｃ，Ｄで得られた測定データを磁力測定装置Ｂで得られた測定データと同様に補正すればよい。

まず、マグネットロールの径方向における磁束密度の測定データの補正について説明する。図３に、該測定データの補正に係る補正プログラムのフローチャートを示す。該補正プログラムにおいては、ステップ１０（以下、Ｓ１０と略す）において、磁力測定装置Ａ，Ｂによる測定データが入力される。続いて、ステップ１１（以下、Ｓ１１と略す）においては、入力された任意の命令に基づき、角度補正処理を行うか、否かを判断する。Ｓ１１で角度補正処理を行うと判断された場合（図３中でＳ１１のｙｅｓ）、ステップ１２（以下、Ｓ１２と略す）において角度補正処理が行われる。続いて、ステップ１３（以下、Ｓ１３と略す）においては、測定データの測定点数が等しいか、否かを判断する。Ｓ１３で測定点数が等しくないと判断された場合（図３中でＳ１３のｎｏ）、ステップ１４（以下、Ｓ１４と略す）において測定点数補正処理が行われる。続いて、ステップ１５（以下、Ｓ１５と略す）においては、磁束密度値補正処理が行われる。なお、Ｓ１１で角度補正処理を行わないと判断された場合（図３中でＳ１１のｎｏ）、Ｓ１２を実行することなくＳ１３が実行される。また、Ｓ１３で測定点数が等しいと判断された場合（図３中でＳ１３のｙｅｓ）、Ｓ１４を実行することなくＳ１５が実行される。

なお、上記の補正プログラムにおいては、１つのプログラムで角度補正処理、測定点数補正処理及び磁束密度値補正処理の３つの処理を行っているが、これに限らず、これら３つの処理をそれぞれ個別のプログラムで行うようにしてもよい。あるいは、角度補正処理、測定点数補正処理及び磁束密度値補正処理の３つの処理から選ばれる任意の２つの処理を１つのプログラムで行い、残りの１つの処理を該１つのプログラムとは別のプログラムで行うようにしてもよい。また、３つの処理から選ばれる任意の２つの処理を１つのプログラムで行い、残りの１つの処理を該１つのプログラムとは別のプログラムで行う場合であっても、最後に磁束密度値補正処理を行うものとする。さらに加えて、角度補正処理および測定点数補正処理については、角度補正処理後に測定点数補正処理を行うことに限らず、測定点数補正処理後に角度補正処理を行ってもよい。

上記補正プログラムの磁束密度値補正処理Ｓ１５について、より詳しく説明する。
磁束密度値補正処理においては、まず測定角度θが同一な測定点における該磁力測定装置Ａによる磁束密度値Ｔｒ_Ａと磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｒ_Ｂとの差、Ｔｒ_Ａ−Ｔｒ_Ｂ＝ΔＴｒ（ΔＴｒは正または負の数値）が、該測定点における補正値として算出される。この補正値は各磁力測定装置Ａ，Ｂによる全ての磁束密度値において算出され、補正値（ΔＴｒ_１，ΔＴｒ_２，ΔＴｒ_３，…ΔＴｒ_ｎ）が求められる。次いで、磁力測定装置Ｂによる該測定点における磁束密度値Ｔｒ_Ｂに該測定点における補正値ΔＴｒを加えた値Ｔｒ_Ｂ＋ΔＴｒが算出される。
このＴｒ_Ｂ＋ΔＴｒを磁力測定装置Ａによる該測定点における磁束密度値Ｔｒ_Ａ’としたうえで、磁力測定装置Ｂによる測定データの磁束密度値がＴｒ_Ａ’に置き換えられ、このＴｒ_Ａ’が補正後の磁束密度値として出力される。そして、該磁束密度値補正処理は、全ての測定点において、磁力測定装置Ｂによる磁束密度値（Ｔｒ_Ｂ１，Ｔｒ_Ｂ２，Ｔｒ_Ｂ３，…Ｔｒ_Ｂｎ）を磁力測定装置Ａによる磁束密度値（Ｔｒ_Ａ’１，Ｔｒ_Ａ’２，Ｔｒ_Ａ’３，…Ｔｒ_Ａ’ｎ）に置き換えて終了する。

磁束密度値補正処理に係る一連の手順を例示する。例えば、測定角度０°の測定点Ｐｒ_１における磁力測定装置ＡのデータがＰｒ_Ａ１（θ_Ａ１＝０°，Ｔｒ_Ａ１＝−１３０ｍＴ）であり、磁力測定装置ＢのデータがＰｒ_Ｂ１（θ_Ｂ１＝０°，Ｔｒ_Ｂ１＝−１２５ｍＴ）とする。この場合、測定点Ｐｒ_１における補正値ΔＴｒ_１は、−１３０−（−１２５）＝−５（ｍＴ）となる。そして、Ｔｒ_Ａ’は−１２５＋（−５）＝−１３０（ｍＴ）となり、磁力測定装置Ｂよる測定点Ｐｒ_１のデータは、（θ_Ｂ１＝０°，Ｔｒ_Ａ’１＝−１３０ｍＴ）として出力される。また、測定角度３０°の測定点Ｐｒ_３１における磁力測定装置ＡのデータがＰｒ_Ａ３１（θ_Ａ３１＝３０°，Ｔｒ_Ａ３１＝５ｍＴ）、磁力測定装置ＢのデータがＰｒ_Ｂ３１（θ_Ｂ３１＝３０°，Ｔｒ_Ｂ３１＝１０ｍＴ）の場合、測定点Ｐｒ_３１における補正値ΔＴｒ_３１＝−５（ｍＴ）となり、磁力測定装置Ｂよる測定点Ｐｒ_３１のデータは、（θ_Ｂ３１＝３０°，Ｔｒ_Ａ’３１＝５ｍＴ）として出力される。

なお、上記及び以下に示す文中において、測定点Ｐｒ_ｍと記載した場合、ｍは整数であり、測定データ全体における測定角度に基づいた測定点の順番（ナンバー）を示すものとする。具体的には、測定角度０°の測定点を１番として「測定点Ｐｒ_１」とし、以下測定角度が大きくなる順にナンバーが付与される。また、例えば補正前の測定データ、補正途中の測定データ等のように、各磁力測定装置Ａ，Ｂで測定点を区別する必要がある場合、磁力測定装置Ａによる測定点であればＰｒ_Ａｍ、磁力測定装置Ｂによる測定点であればＰｒ_Ｂｍ等と記載する。

上記補正プログラムの角度補正処理Ｓ１２について、より詳しく説明する。
角度補正処理は、入力された任意の命令、つまりは測定者等の所望に応じて実行される。また、前記磁束密度値補正処理は、該角度補正処理によって補正された測定データに対して実行される。角度補正処理においては、まず各磁力測定装置Ａ，Ｂによる測定データのなかから磁束密度値Ｔが０ｍＴ付近の所定の測定点が選出され、該測定点が基準測定点Ｐｒ_０とされる。続いて、該磁力測定装置Ａの基準測定点Ｐｒ_０における基準測定角度θ_Ａ０と、該磁力測定装置Ｂの基準測定点Ｐｒ_０における基準測定角度θ_Ｂ０とが求められ、両者の基準測定角度の差θ_Ａ０−θ_Ｂ０＝Δθ（Δθは正または負の数値）が求められる。その後、該磁力測定装置Ｂの全ての測定点における測定角度θ_ＢにΔθが補正値として加えられることにより、磁力測定装置Ｂの全ての測定点において、測定角度θ_Ｂが測定角度θ_Ｂ’（θ_Ｂ’＝θ_Ｂ＋Δθ）にずらされる。そして、測定角度θ_Ｂが測定角度θ_Ｂ’にずらされた測定データに対し、前記磁束密度値補正処理が実行される。

角度補正処理に係る一連の手順を例示する。例えば、磁束密度値Ｔｒが０ｍＴ付近となる基準測定点Ｐｒ_０が、磁力測定装置ＡはＰｒ_Ａ１６（θ_Ａ１６＝１５°，Ｔｒ_Ａ１６＝０．０１ｍＴ）であり、磁力測定装置ＢではＰｒ_Ｂ３１（θ_Ｂ３１＝３０°，Ｔｒ_Ｂ３１＝０．０５ｍＴ）であるものとする。なお、該磁束密度値Ｔｒが０ｍＴ付近となる該基準測定点Ｐｒ_０とは、磁束密度値Ｔｒと測定角度θとの関係を現す磁力波形を求めた場合に、該磁力波形の任意の隣接する２つの測定点Ｐｒを結んだ線の傾きが１ｍＴ／ｄｅｇ以上となる測定点をいうものとする。

さて、両者の基準測定角度の差θ_Ａ０−θ_Ｂ０＝Δθは、θ_Ａ１６＝１５°とθ_Ｂ３１＝３０°との差であり、Δθ＝−１５（°）である。その後、磁力測定装置Ｂの全ての測定点において、θ_ＢにΔθを補正値として加える。この結果、磁力測定装置Ｂの測定データは、Ｐｒ_Ｂ１（θ_Ｂ１＝０°，Ｔｒ_Ｂ１＝−１３０ｍＴ）、Ｐｒ_Ｂ６１（θ_Ｂ６１＝６０゜，Ｔｒ_Ｂ６１＝＋９０ｍＴ）、Ｐｒ_Ｂ１８１（θ_Ｂ１８１＝１８０゜，Ｔｒ_Ｂ１８１＝−２ｍＴ）であれば、Ｐｒ_Ｂ３４６（θ_Ｂ’１＝−１５°（３４５°），Ｔｒ_Ｂ１＝−１３０ｍＴ）、Ｐｒ_Ｂ４６（θ_Ｂ’６１＝４５゜，Ｔｒ_Ｂ６１＝＋９０ｍＴ）、Ｐｒ_Ｂ１６６（θ_{Ｂ’１８１}＝１６５゜，Ｔｒ_Ｂ１８１＝−２ｍＴ）と置き換えられる。この後、前記磁束密度値補正処理において、例えば測定角度４５°の測定点Ｐｒ_４６であれば、磁力測定装置ＡのＰｒ_Ａ４６（θ_Ａ４６＝４５゜，Ｔｒ_Ａ４６＝＋８０ｍＴ）と磁力測定装置ＢのＰｒ_Ｂ４６（θ_Ｂ’６１＝４５゜，Ｔｒ_Ｂ６１＝＋９０ｍＴ）とが比較され、その結果、測定点Ｐｒ_４６における補正値ΔＴｒ_４６は、８０−９０＝−１０（ｍＴ）となる。

上記補正プログラムの測定点数補正処理Ｓ１４について、より詳しく説明する。
通常、磁力測定装置Ａ，Ｂにおいては、測定角度間隔である微小角度ｄθ_Ａ，ｄθ_Ｂが相互に異なっている（ｄθ_Ａ≠ｄθ_Ｂ）。その結果、各磁力測定装置Ａ，Ｂによる全ての測定点において、測定角度θ_Ａ，θ_Ｂが相互に一致する（θ_Ａ＝θ_Ｂ）測定点と、測定角度θ_Ａ，θ_Ｂが相互に一致しない測定点とが存在する。θ_Ａ＝θ_Ｂである測定点については、測定角度θ_Ａにおける磁力測定装置Ａによる磁束密度値Ｔｒ_Ａに対応して、該測定角度θ_Ａと同一の測定角度θ_Ｂにおける磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｒ_Ｂが存在する。従って、θ_Ａ＝θ_Ｂの場合には、磁力測定装置Ｂによる磁束密度値をそのまま利用して上記磁束密度値補正処理Ｓ１５等を行う。

一方、測定角度θ_Ａ，θ_Ｂが相互に一致しない測定点については、磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合、測定角度θ_Ａと同一の測定角度θ_Ｂにおける磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｒ_Ｂが存在しない。従って、このように磁力測定装置Ｂの測定データ中に測定角度θ_Ａに一致する測定角度θ_Ｂが存在しない測定点については、測定点数補正処理Ｓ１４を行うことにより、測定角度θ_Ａと同一の測定角度θ_Ｂ（θ_Ａ＝θ_Ｂ）において、磁力測定装置Ｂによって測定された磁束密度値Ｔｒ_Ｂを仮想する必要がある。

上記のような測定点において、磁束密度値Ｔｒ_Ｂを仮想する場合、まず磁力測定装置Ｂによるｎ_Ｂ個の測定点（Ｐｒ_Ｂ１，Ｐｒ_Ｂ２，Ｐｒ_Ｂ３，…Ｐｒ_ＢｎＢ）のなかから、測定角度θ_Ａの両側に最近接する２つの測定角度（θ_Ｂｍ，θ_Ｂｍ＋１、但しθ_Ｂｍ＜θ_Ａ＜θ_Ｂｍ＋１）で磁束密度を測定した２つの測定点（Ｐ_Ｂｍ，Ｐ_Ｂｍ＋１）を選出する。次いで、２つの測定点（Ｐ_Ｂｍ，Ｐ_Ｂｍ＋１）でそれぞれ測定された２つの磁束密度値（Ｔｒ_Ｂｍ，Ｔｒ_Ｂｍ＋１）を直線で結び、該直線上の測定角度θ_Ａ相当位置における値を求める。このように２つの磁束密度値（Ｔｒ_Ｂｍ，Ｔｒ_Ｂｍ＋１）を直線近似して得られた値が、測定角度θ_Ａと同一の測定角度θ_Ｂ（θ_Ａ＝θ_Ｂ）における磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｒ_Ｂと仮想される。このようにして磁力測定装置Ａにおける測定角度θ_Ａに対応する磁力測定装置Ｂにおける測定角度θ_Ｂ（θ_Ａ＝θ_Ｂ）が存在しない全ての測定角度について、磁束密度値Ｔｒ_Ｂを仮想する。すなわち、このような測定点がｘ個存在する場合には、ｘ個分の磁束密度値を仮想する。

測定点数補正処理に係る一連の手順を例示する。例えば、磁力測定装置Ａではｄθ_Ａ＝１°毎に磁束密度の測定を行い、磁力測定装置Ｂではｄθ_Ｂ＝２°毎に磁束密度の測定を行うものとする。磁力測定装置Ａによる測定データとしては、３６０／１＝３６０個の測定点（Ｐｒ_Ａ１，Ｐｒ_Ａ２，Ｐｒ_Ａ３，…Ｐｒ_Ａ３６０）が存在し、３６０個の磁束密度値（Ｔｒ_Ａ１，Ｔｒ_Ａ２，Ｔｒ_Ａ３，…Ｔｒ_Ａ３６０）が得られる。一方、磁力測定装置Ｂによる測定データとしては、３６０／２＝１８０個の測定点（Ｐｒ_Ｂ１，Ｐｒ_Ｂ２，Ｐｒ_Ｂ３，…Ｐｒ_Ｂ１８０）が存在し、１８０個の磁束密度値（Ｔｒ_Ｂ１，Ｔｒ_Ｂ２，Ｔｒ_Ｂ３，…Ｔｒ_Ｂ１８０）が得られる。そこで、１８０個分の磁束密度値を仮想し、磁力測定装置Ｂによる１８０個の磁束密度値（Ｔｒ_Ｂ１，Ｔｒ_Ｂ２，Ｔｒ_Ｂ３，…Ｔｒ_Ｂ１８０）を、３６０個の磁束密度値（Ｔｒ_Ｂ１’，Ｔｒ_Ｂ２’，Ｔｒ_Ｂ３’，…Ｔｒ_{Ｂ３６０’}）に補正する。

ここで、磁力測定装置Ａによる測定データは、Ｐｒ_Ａ１（θ_Ａ１＝０°，Ｔｒ_Ａ１＝５ｍＴ）、Ｐｒ_Ａ２（θ_Ａ２＝１°，Ｔｒ_Ａ２＝１０ｍＴ）、Ｐｒ_Ａ３（θ_Ａ３＝２°，Ｔｒ_Ａ３＝１５ｍＴ）等となっており、磁力測定装置Ｂによる測定データは、Ｐｒ_Ｂ１（θ_Ｂ１＝０°，Ｔｒ_Ｂ１＝２ｍＴ）、Ｐｒ_Ｂ２（θ_Ｂ２＝２°，Ｔｒ_Ｂ２＝６ｍＴ）、Ｐｒ_Ｂ３（θ_Ｂ３＝４°，Ｔｒ_Ｂ３＝１２ｍＴ）等となっているものとする。さて、該磁力測定装置Ａと該磁力測定装置Ｂとでは、例えば０°、２°、４°等のように、２°毎にθ_Ａ＝θ_Ｂとなる。従って、磁力測定装置ＢのＰｒ_Ｂ１、Ｐｒ_Ｂ２、Ｐｒ_Ｂ３におけるＴｒ_Ｂ１、Ｔｒ_Ｂ２、Ｔｒ_Ｂ３はそのまま利用される。結果、Ｔｒ_Ｂ１→Ｔｒ_Ｂ１’、Ｔｒ_Ｂ２→Ｔｒ_Ｂ３’とし、例えば測定角度θ_１＝０°における測定点Ｐｒ_１の補正値ΔＴｒ_１は、Ｔｒ_Ａ１＝５ｍＴと、Ｔｒ_Ｂ１’＝Ｔｒ_Ｂ１＝２ｍＴとの差となり、―３ｍＴとする。

一方、磁力測定装置Ｂによる測定データには、Ｐｒ_Ａ２（θ_Ａ２＝１°，Ｔｒ_Ａ２＝１０ｍＴ）に対応して測定角度１°で測定された測定点における磁束密度値が存在しないため、該Ｐｒ_Ａ２と対応する測定点Ｐｒ_Ｂ２’における磁束密度値Ｔｒ_Ｂ２’を仮想する。この場合、θ_Ａ２＝１°の両側に最近接する２つの測定角度は、θ_Ｂ１＝０°と、θ_Ｂ２＝２°である。従って、Ｔｒ_Ｂ１＝２ｍＴと、Ｔｒ_Ｂ２＝６ｍＴとを直線近似することにより、Ｐｒ_Ｂ２’におけるＴｒ_Ｂ２’は４ｍＴと仮想する。結果、測定角度θ_１＝１°における測定点Ｐｒ_２の補正値ΔＴｒ_２は、Ｔｒ_Ａ２＝１０ｍＴと、Ｔｒ_Ｂ２’＝４ｍＴとの差となり、６ｍＴとする。

次に、マグネットロールの軸方向における磁束密度の測定データの補正について説明する。図４に、該測定データの補正に係る補正プログラムのフローチャートを示す。該補正プログラムにおいては、ステップ２０（以下、Ｓ２０と略す）において、磁力測定装置Ａ，Ｂによる測定データが入力される。続いて、ステップ２１（以下、Ｓ２１と略す）において、測定データの測定点数が等しいか、否かを判断する。Ｓ２１で測定点数が等しくないと判断された場合（図４中でＳ２１のｎｏ）、ステップ２２（以下、Ｓ２２と略す）において測定点数補正処理が行われる。続いて、ステップ２３（以下、Ｓ２３と略す）においては、磁束密度値補正処理が行われる。なお、Ｓ２１で測定点数が等しいと判断された場合（図３中でＳ２１のｙｅｓ）、Ｓ２２を実行することなくＳ２３が実行される。なお、該補正プログラムにおいては、一のプログラムで測定点数補正処理及び磁束密度値補正処理の２つの処理を行っているが、これに限らず、これら２つの処理をそれぞれ個別のプログラムで行うようにしてもよい。また、２つの処理をそれぞれ個別のプログラムで行う場合であっても、最後に磁束密度値補正処理を行うものとする。

上記補正プログラムの磁束密度値補正処理Ｓ２３について、より詳しく説明する。
さて、磁束密度値補正処理においては、上記径方向における磁束密度の測定データの補正と略同様の処理が行われる。すなわち、各磁力測定装置Ａ，Ｂによる全ての磁束密度値において、測定開始位置からの測定長さＬが同一な測定点における磁力測定装置Ａによる磁束密度値Ｔｓ_Ａと、磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｓ_Ｂとの差Ｔｓ_Ａ−Ｔｓ_Ｂ＝ΔＴｓ（ΔＴｓは正または負の数値）が、該測定点における補正値として算出される。また、この補正値は各磁力測定装置Ａ，Ｂによる全ての磁束密度値において算出され、補正値（ΔＴｓ_１，ΔＴｓ_２，ΔＴｓ_３，…ΔＴｓ_ｎ）が求められる。次いで、磁力測定装置Ｂによる該測定点における磁束密度値Ｔｓ_Ｂに該測定点における補正値ΔＴｓを加えた値Ｔｓ_Ｂ＋ΔＴｓが算出される。このＴｓ_Ｂ＋ΔＴｓを磁力測定装置Ａによる該測定点における磁束密度値Ｔｓ_Ａ’としたうえで、磁力測定装置Ｂによる測定データの磁束密度値がＴｓ_Ａ’に補正され、このＴｓ_Ａ’が補正後の磁束密度値として出力される。そして、該磁束密度値補正処理は、全ての測定点において、磁力測定装置Ｂによる磁束密度値（Ｔｓ_Ｂ１，Ｔｒｓ_Ｂ２，Ｔｓ_Ｂ３，…Ｔｓ_Ｂｎ）を磁力測定装置Ａによる磁束密度値（Ｔｓ_Ａ’１，Ｔｓ_Ａ’２，Ｔｓ_Ａ’３，…Ｔｓ_Ａ’ｎ）に置き換えて終了する。

磁束密度値補正処理に係る一連の手順を例示する。例えば、測定開始位置からの測定長さ０ｍｍの測定点Ｐｓ_１における磁力測定装置ＡによるデータがＰｓ_Ａ１（Ｌ_Ａ１＝０ｍｍ，Ｔｓ_Ａ１＝−１３０ｍＴ）であり、磁力測定装置ＢによるデータがＰｓ_Ｂ１（Ｌ_Ｂ１＝０ｍｍ，Ｔｓ_Ｂ１＝−１２５ｍＴ）とする。この場合、測定点Ｐｓ_１における補正値ΔＴｓ_１は、−１３０−（−１２５）＝−５（ｍＴ）となる。そして、Ｔｓ_Ａ’は−１２５＋（−５）＝−１３０（ｍＴ）となり、磁力測定装置Ｂよる測定点Ｐｓ_１のデータは、（Ｌ_Ｂ１＝０ｍｍ，Ｔｓ_Ａ’１＝−１３０ｍＴ）として出力される。

なお、所定の位置Ｌにおける補正値ΔＴｓの算出時において、ΔＴｓの範囲は、−（０．３×Ｔｓ_Ａ）≦ΔＴｓ≦＋（０．３×Ｔｓ_Ａ）とされる。これは、ΔＴｓが該範囲外となる場合、Ｔｓ_ＡとＴｓ_Ｂとが正しく対応しておらず、補正の精度が低下してしまうおそれがあるためである。

また、上記及び以下に示す文中において、測定点Ｐｓ_ｍと記載した場合、ｍは整数であり、測定データ全体における測定開始位置からの測定長さに基づいた測定点の順番（ナンバー）を示すものとする。具体的には、測定長さ０ｍｍの測定点を１番として「測定点Ｐｓ_１」とし、以下測定角度が大きくなる順にナンバーが付与される。また、例えば補正前の測定データ、補正途中の測定データ等のように、各磁力測定装置Ａ，Ｂで測定点を区別する必要がある場合、磁力測定装置Ａによる測定点であればＰｓ_Ａｍ、磁力測定装置Ｂによる測定点であればＰｓ_Ｂｍ等と記載する。

上記補正プログラムの測定点数補正処理Ｓ２２について、より詳しく説明する。
通常、磁力測定装置Ａ，Ｂにおいて測定長さ間隔である微小間隔ｄＬ_Ａ，ｄＬ_Ｂが相互に異なっている（ｄＬ_Ａ≠ｄＬ_Ｂ）。その結果、各磁力測定装置Ａ，Ｂによる全ての測定点において、測定開始位置からの測定長さＬ_Ａ，Ｌ_Ｂが相互に一致する（Ｌ_Ａ＝Ｌ_Ｂ）測定点と、測定長さＬ_Ａ，Ｌ_Ｂが相互に一致しない測定点とが存在する。Ｌ_Ａ＝Ｌ_Ｂである測定点については、測定長さＬ_Ａにおける磁力測定装置Ａによる磁束密度値Ｔｓ_Ａに対応して、該測定長さＬ_Ａと同一の測定長さＬ_Ｂにおける磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｓ_Ｂが存在する。従って、Ｌ_Ａ＝Ｌ_Ｂとなる測定点においては、磁力測定装置Ｂによる磁束密度値をそのまま利用して上記磁束密度値補正処理Ｓ２３を行う。

一方、測定長さＬ_Ａ，Ｌ_Ｂが相互に一致しない測定点については、磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合、測定長さＬ_Ａと同一の測定長さＬ_Ｂにおける磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｓ_Ｂが存在しない。従って、このような測定点については、測定点数補正処理Ｓ２２を行うことにより、測定長さＬ_Ａと同一の測定長さＬ_Ｂ（Ｌ_Ａ＝Ｌ_Ｂ）において、磁力測定装置Ｂによって測定された磁束密度値Ｔｓ_Ｂを仮想する必要がある。

上記のような測定点において、磁束密度値Ｔｓ_Ｂを仮想する場合、まず磁力測定装置Ｂによるｎ_Ｂ個の測定点（Ｐｓ_Ｂ１，Ｐｓ_Ｂ２，Ｐｓ_Ｂ３，…Ｐｓ_ＢｎＢ）のなかから、測定長さＬ_Ａの両側に最近接する２つの測定長さ（Ｌ_Ｂｍ，Ｌ_Ｂｍ＋１、但しＬ_Ｂｍ＜Ｌ_Ａ＜Ｌ_Ｂｍ＋１）で磁束密度を測定した２つの測定点（Ｐｓ_Ｂｍ，Ｐｓ_Ｂｍ＋１）を選出する。次いで、２つの測定点（Ｐｓ_Ｂｍ，Ｐｓ_Ｂｍ＋１）でそれぞれ測定された２つの磁束密度値（Ｔｓ_Ｂｍ，Ｔｓ_Ｂｍ＋１）を直線で結び、該直線上の測定長さＬ_Ａ相当位置における値を求める。このように２つの磁束密度値（Ｔｓ_Ｂｍ，Ｔｓ_Ｂｍ＋１）を直線近似して得られた値が、測定長さＬ_Ａと同一の測定長さＬ_Ｂ（Ｌ_Ａ＝Ｌ_Ｂ）における磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｓ_Ｂと仮想される。このようにして磁力測定装置Ａにおける測定長さＬ_Ａに対応する磁力測定装置Ｂにおける測定長さＬ_Ｂ（Ｌ_Ａ＝Ｌ_Ｂ）が存在しない全ての測定長さについて、磁束密度値Ｔｓ_Ｂを仮想する。すなわち、このような測定点がｘ個存在した場合には、ｘ個分の磁束密度値を仮想する。

測定点数補正処理に係る一連の手順を例示する。例えば、磁力測定装置ＡではｄＬ_Ａ＝１ｍｍ毎に磁束密度の測定を行い、磁力測定装置ＢではｄＬ_Ｂ＝２ｍｍ毎に磁束密度の測定を行うものとする。マグネットロールの軸方向の測定長さＷを２００ｍｍとした場合、磁力測定装置Ａによる測定データとしては、１＋２００／１＝２０１個の測定点（Ｐｓ_Ａ１，Ｐｓ_Ａ２，Ｐｓ_Ａ３，…Ｐｓ_Ａ２０１）が存在し、２０１個の磁束密度値（Ｔｓ_Ａ１，Ｔｓ_Ａ２，Ｔｓ_Ａ３，…Ｔｓ_Ａ２０１）が得られる。一方、磁力測定装置Ｂによる測定データとしては、１＋２００／２＝１０１個の測定点（Ｐｓ_Ｂ１，Ｐｓ_Ｂ２，Ｐｓ_Ｂ３，…Ｐｓ_Ｂ１０１）が存在し、１０１個の磁束密度値（Ｔｓ_Ｂ１，Ｔｓ_Ｂ２，Ｔｓ_Ｂ３，…Ｔｓ_Ｂ１０１）が得られる。そこで、１００個分の磁束密度値を仮想し、磁力測定装置Ｂによる１０１個の磁束密度値（Ｔｓ_Ｂ１，Ｔｓ_Ｂ２，Ｔｓ_Ｂ３，…Ｔｓ_Ｂ１８０）を、２０１個の磁束密度値（Ｔｓ_Ｂ１’，Ｔｓ_Ｂ２’，Ｔｓ_Ｂ３’，…Ｔｓ_{Ｂ２０１’}）に補正する。

ここで、磁力測定装置Ａによる測定データは、Ｐｓ_Ａ１（Ｌ_Ａ１＝０ｍｍ，Ｔｓ_Ａ１＝５ｍＴ）、Ｐｓ_Ａ２（Ｌ_Ａ２＝１ｍｍ，Ｔｓ_Ａ２＝６ｍＴ）、Ｐｓ_Ａ３（Ｌ_Ａ３＝２ｍｍ，Ｔｓ_Ａ３＝４ｍＴ）等となっており、磁力測定装置Ｂによる測定データは、Ｐｓ_Ｂ１（Ｌ_Ｂ１＝０ｍｍ，Ｔｓ_Ｂ１＝２ｍＴ）、Ｐｓ_Ｂ２（Ｌ_Ｂ２＝２ｍｍ，Ｔｓ_Ｂ２＝６ｍＴ）、Ｐｓ_Ｂ３（Ｌ_Ｂ３＝４ｍｍ，Ｔｓ_Ｂ３＝８ｍＴ）等となっているものとする。さて、該磁力測定装置Ａと該磁力測定装置Ｂとでは、例えば０ｍｍ、２ｍｍ、４ｍｍ等のように、２ｍｍ毎にＬ_Ａ＝Ｌ_Ｂとなる。従って、磁力測定装置ＢのＰｓ_Ｂ１、Ｐｓ_Ｂ２、Ｐｓ_Ｂ３におけるＴｓ_Ｂ１、Ｔｓ_Ｂ２、Ｔｓ_Ｂ３はそのまま利用される。結果、Ｔｓ_Ｂ１→Ｔｓ_Ｂ１’、Ｔｓ_Ｂ２→Ｔｓ_Ｂ３’とし、例えば測定角度Ｌ_１＝０ｍｍにおける測定点Ｐｓ_１の補正値ΔＴｓ_１は、Ｔｓ_Ａ１＝５ｍＴと、Ｔｓ_Ｂ１’＝Ｔｓ_Ｂ１＝２ｍＴとの差となり、―３ｍＴとする。

一方、磁力測定装置Ｂによる測定データには、Ｐｓ_Ａ２（Ｌ_Ａ２＝１ｍｍ，Ｔｓ_Ａ２＝６ｍＴ）に対応して測定開始位置からの測定長さ１ｍｍで測定された測定点における磁束密度値が存在しないため、該Ｐｓ_Ａ２と対応する測定点Ｐｓ_Ｂ２’における磁束密度値Ｔｓ_Ｂ２’を仮想する。この場合、Ｌ_Ａ２＝１ｍｍの両側に最近接する２つの測定長さは、Ｌ_Ｂ１＝０ｍｍと、Ｌ_Ｂ２＝２ｍｍである。従って、Ｔｓ_Ｂ１＝２ｍＴと、Ｔｓ_Ｂ２＝６ｍＴとを直線近似することにより、Ｐｓ_Ｂ２’におけるＴｓ_Ｂ２’は４ｍＴと仮想する。結果、測定長さＬ_２＝１ｍｍにおける測定点Ｐｓ_２の補正値ΔＴｓ_２は、Ｔｓ_Ａ２＝６ｍＴと、Ｔｓ_Ｂ２’＝４ｍＴとの差となり、２ｍＴとする。

なお、上記の径方向及び軸方向における測定データの補正方法においては、一旦補正値であるΔＴｒ、あるいはΔＴｓを求めた後であれば、該補正値を求める際に使用した磁力測定装置を変更しない限り、同一仕様のマグネットロールの磁力データを測定する場合であれば該補正値を適用することができる。
また、マグネットロールは、図１に示したような５極のものに限らず、例えば図５に示す４極のような、磁界が５極未満のもの、あるいは図６に示す１０極のような、磁界が５極を超えるものも存在する。ただし、磁界が５極未満のものであろうと、また磁界が５極を超えるものであろうとも、上記と同様にして表面磁力のデータ及び磁力データの補正を行うことができる。

５極のマグネットロールの径方向の磁力測定データに基づく磁力波形図。 マグネットロールの軸方向の磁力測定データに基づく磁力波形図。 径方向の磁力測定データの補正プログラムを示すフローチャート。 軸方向の磁力測定データの補正プログラムを示すフローチャート。 ４極のマグネットロールの径方向の磁力測定データに基づく磁力波形図。 １０極のマグネットロールの径方向の磁力測定データに基づく磁力波形図。

Claims (7)

1. マグネットロールの径方向の磁束密度を２つの磁力測定装置Ａ，Ｂで測定する場合に、２つの磁力測定装置Ａ，Ｂ相互における磁束密度の測定データの差を補正する方法であって、
   各磁力測定装置Ａ，Ｂを使用して該磁束密度を所定の微小角度ｄθ毎に測定し、ｎ個（ｎ＝３６０°／ｄθ）の測定点（Ｐｒ_１，Ｐｒ_２，Ｐｒ_３，…Ｐｒ_ｎ）について、各測定点における測定角度（θ_１，θ_２，θ_３，…θ_ｎ）と、各測定点でそれぞれ測定された磁束密度値（Ｔｒ_１，Ｔｒ_２，Ｔｒ_３，…Ｔｒ_ｎ）とからなる測定データを得るものとして、
   磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合には、
   測定角度θを同一とする所定の測定点Ｐｒにおいて、磁力測定装置Ａによる磁束密度値Ｔｒ_Ａと、磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｒ_Ｂとの差Ｔｒ_Ａ−Ｔｒ_Ｂ＝ΔＴｒ（ΔＴｒは正または負の数値）を該測定点Ｐｒにおける補正値とするものとして、
   各磁力測定装置Ａ，Ｂによる全ての測定点について該補正値（ΔＴｒ_１，ΔＴｒ_２，ΔＴｒ_３，…ΔＴｒ_ｎ）を求めておき、磁力測定装置Ｂによる全ての測定点における磁束密度値（Ｔｒ_Ｂ１，Ｔｒ_Ｂ２，Ｔｒ_Ｂ３，…Ｔｒ_Ｂｎ）にそれぞれ補正値（ΔＴｒ_１，ΔＴｒ_２，ΔＴｒ_３，…ΔＴｒ_ｎ）を加えることにより、磁力測定装置Ａによる全ての測定点における磁束密度値（Ｔｒ_Ａ’１，Ｔｒ_Ａ’２，Ｔｒ_Ａ’３，…Ｔｒ_Ａ’ｎ）に補正する
   ことを特徴とするマグネットロールの磁力測定データの補正方法。
2. 上記各磁力測定装置Ａ，Ｂによる測定データのなかでも磁束密度値Ｔｒが０ｍＴ付近となる測定点を基準測定点Ｐｒ_０として、該磁力測定装置Ａの基準測定点Ｐｒ_０における基準測定角度をθ_Ａ０とし、該磁力測定装置Ｂの基準測定点Ｐｒ_０における基準測定角度をθ_Ｂ０として、
   磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合には、
   基準測定角度の差θ_Ａ０−θ_Ｂ０＝Δθ（Δθは正または負の数値）を全ての測定点における角度補正値として求めておき、該磁力測定装置Ｂの全ての測定点における測定角度（θ_Ｂ１，θ_Ｂ２，θ_Ｂ３，…θ_Ｂｎ）に角度補正値Δθをそれぞれ加えることにより、該測定角度（θ_Ｂ１，θ_Ｂ２，θ_Ｂ３，…θ_Ｂｎ）を測定角度（θ_Ｂ’１，θ_Ｂ’２，θ_Ｂ’３，…θ_Ｂ’ｎ）にずらした後で、該補正値（ΔＴｒ_１，ΔＴｒ_２，ΔＴｒ_３，…ΔＴｒ_ｎ）を求めておく請求項１に記載のマグネットロールの磁力測定データの補正方法。
3. 上記磁束密度値Ｔｒが０ｍＴ付近となる該基準測定点Ｐｒ_０とは、磁束密度値Ｔｒと測定角度θとの関係を現す磁力波形を求めた場合に、該磁力波形の任意の隣接する２つの測定点Ｐｒを結んだ線の傾きが１ｍＴ／ｄｅｇ以上となる測定点である請求項２に記載のマグネットロールの磁力測定データの補正方法。
4. 上記各磁力測定装置Ａ，Ｂは、測定角度間隔である微小角度ｄθ_Ａ，ｄθ_Ｂが相互に異なっており（ｄθ_Ａ≠ｄθ_Ｂ）、かくして磁力測定装置Ａと磁力測定装置Ｂとで測定角度θ_Ａ，θ_Ｂが相互に一致しない測定点が存在しており、
   磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合、測定角度θ_Ａと同一の測定角度θ_Ｂ（θ_Ａ＝θ_Ｂ）における磁束密度値Ｔｒ_Ｂが存在しない測定点については、磁力測定装置Ｂにおいて測定角度θ_Ａの両側に最近接する２つの測定角度（θ_Ｂｍ，θ_Ｂｍ＋１）でそれぞれ測定された２つの磁束密度値（Ｔｒ_Ｂｍ，Ｔｒ_Ｂｍ＋１）を直線で結び、該直線上の測定角度θ_Ａ相当位置における値を該磁束密度値Ｔｒ_Ｂと仮想したうえで、該磁束密度値Ｔｒ_Ｂと磁力測定装置Ａの測定角度θ_Ａにおける磁束密度値Ｔｒ_Ａとの差Ｔｒ_Ａ−Ｔｒ_Ｂ＝ΔＴｒ（ΔＴｒは正または負の数値）を該測定点（Ｐｒ_Ａ，Ｐｒ_Ｂ）における補正値とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のマグネットロールの磁力測定データの補正方法。
5. マグネットロールの軸方向の磁束密度を２つの磁力測定装置Ａ，Ｂで測定する場合に、２つの磁力測定装置Ａ，Ｂ相互における磁束密度の測定データの差を補正する方法であって、
   各磁力測定装置Ａ，Ｂを使用して該磁束密度を所定の微小間隔ｄＬ毎に測定し、ｎ個（ｎ＝１＋（Ｗ／ｄＬ）、但しＷ＝マグネットロールの軸方向の測定長さ）の測定点（Ｐｓ_１，Ｐｓ_２，Ｐｓ_３，…Ｐｓ_ｎ）について、各測定点における測定開始位置からの測定長さ（Ｌ_１，Ｌ_２，Ｌ_３，…Ｌ_ｎ、但しＬ_１＝０）と、各測定点でそれぞれ測定された磁束密度値（Ｔｓ_１，Ｔｓ_２，Ｔｓ_３，…Ｔｓ_ｎ）とからなる測定データを得るものとして、
   磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合には、
   測定開始位置からの測定長さを同一とする所定の測定点Ｐｓにおいて、磁力測定装置Ａによる磁束密度値Ｔｓ_Ａと磁力測定装置Ｂによる磁束密度値Ｔｓ_Ｂとの差Ｔｓ_Ａ−Ｔｓ_Ｂ＝ΔＴｓ（ΔＴｓは正または負の数値）を該測定点Ｐｓにおける補正値として、
   各磁力測定装置Ａ，Ｂによる全ての測定点ついて該補正値（ΔＴｓ_１，ΔＴｓ_２，ΔＴｓ_３，…ΔＴｓ_ｎ）を求めておき、磁力測定装置Ｂによる全ての測定点における磁束密度値（Ｔｓ_Ｂ１，Ｔｓ_Ｂ２，Ｔｓ_Ｂ３，…Ｔｓ_Ｂｎ）にそれぞれ補正値（ΔＴｓ_１，ΔＴｓ_２，ΔＴｓ_３，…ΔＴｓ_ｎ）を加えることにより、磁力測定装置Ａによる全ての測定点における磁束密度値（Ｔｓ_Ａ’１，Ｔｓ_Ａ’２，Ｔｓ_Ａ’３，…Ｔｓ_Ａ’ｎ）に補正する
   ことを特徴とするマグネットロールの磁力測定データの補正方法。
6. 上記各磁力測定装置Ａ，Ｂは、測定長さ間隔である微小間隔ｄＬ_Ａ，ｄＬ_Ｂが相互に異なっており（ｄＬ_Ａ≠ｄＬ_Ｂ）、かくして磁力測定装置Ａと磁力測定装置Ｂとで測定開始位置からの測定長さＬ_Ａ，Ｌ_Ｂが相互に一致しない測定点が存在しており、
   磁力測定装置Ａの測定データを基準として磁力測定装置Ｂの測定データを補正する場合、測定開始位置からの測定長さＬ_Ａと同一の測定長さＬ_Ｂ（Ｌ_Ａ＝Ｌ_Ｂ）における磁束密度値Ｔｓ_Ｂが存在しない測定点については、磁力測定装置Ｂにおいて測定長さＬ_Ａの両側に最近接する２つの測定長さ（Ｌ_Ｂｍ，Ｌ_Ｂｍ＋１）でそれぞれ測定された２つの磁束密度値（Ｔｓ_Ｂｍ，Ｔｓ_Ｂｍ＋１）を直線で結び、該直線上の測定長さＬ_Ａ相当位置における値を該磁束密度値Ｔｓ_Ｂと仮想したうえで、該磁束密度値Ｔｓ_Ｂと磁力測定装置Ａの測定長さＬ_Ａにおける磁束密度値Ｔｓ_Ａとの差Ｔｓ_Ａ−Ｔｓ_Ｂ＝ΔＴｓ（ΔＴｓは正または負の数値）を該測定点（Ｐｓ_Ａ，Ｐｓ_Ｂ）における補正値とする請求項５に記載のマグネットロールの磁力測定データの補正方法。
7. 該ΔＴｓの範囲は、−（０．３×Ｔｓ_Ａ）≦ΔＴｓ≦＋（０．３×Ｔｓ_Ａ）である請求項５または請求項６に記載のマグネットロールの磁力測定データの補正方法。
   

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