JP4625826B2 - Probe unit - Google Patents
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Description
本発明は、例えば液晶表示パネルを検査する際に用いるプローブユニットに係り、特に複数のプローブブロックに支持されたプローブ針を液晶表示パネルの電極に精度よく接触させるための構造に関する。 The present invention relates to a probe unit used when, for example, inspecting a liquid crystal display panel, and more particularly to a structure for bringing probe needles supported by a plurality of probe blocks into contact with electrodes of a liquid crystal display panel with high accuracy.
例えば、液晶表示パネルの製造過程においては、出荷前に液晶表示パネルを点灯させて液晶表示パネルが正常に動作しているか否かの検査を行なっている。この検査では、複数のプローブ針を有するプローブユニットが用いられている。 For example, in the manufacturing process of a liquid crystal display panel, the liquid crystal display panel is turned on before shipping to check whether the liquid crystal display panel is operating normally. In this inspection, a probe unit having a plurality of probe needles is used.
プローブユニットは、検査すべき液晶表示パネルに対応する大きさのフレームと、このフレームに支持されたプローブブロックとを備えている。プローブブロックは、液晶表示パネルの一辺に対応する長さの板状をなしており、このプローブブロックの下面に液晶表示パネルの電極に接する複数のプローブ針が支持されている。プローブ針は、電極のピッチに対応するように配列されている。 The probe unit includes a frame having a size corresponding to the liquid crystal display panel to be inspected, and a probe block supported by the frame. The probe block has a plate shape with a length corresponding to one side of the liquid crystal display panel, and a plurality of probe needles that are in contact with the electrodes of the liquid crystal display panel are supported on the lower surface of the probe block. The probe needles are arranged so as to correspond to the pitch of the electrodes.
このプローブユニットでは、検査すべき液晶表示パネルとフレームとを位置合わせした状態で液晶表示パネルの全ての電極にプローブ針を接触させて、液晶表示パネルに電気信号を印加し、パネルの検査を行っている。しかし、液晶表示パネルが大型化する程にプローブブロックが長尺となるとともに、一つのプローブブロックが保有するプローブ針の数が増える。 In this probe unit, the probe needle is brought into contact with all the electrodes of the liquid crystal display panel in a state where the liquid crystal display panel to be inspected and the frame are aligned, and an electric signal is applied to the liquid crystal display panel to inspect the panel. ing. However, as the liquid crystal display panel becomes larger, the probe block becomes longer and the number of probe needles held by one probe block increases.
特に、最近の液晶表示パネルは高精細化が進んでいるので、プローブ針の数がより増大してプローブ針のピッチが益々狭くなるのを避けられない。よって、狭ピッチ化が進んだプローブ針をプローブブロックの全長に亘って精度よく配列することが困難な状況となる。 In particular, since recent liquid crystal display panels have been improved in definition, it is inevitable that the number of probe needles will increase and the pitch of probe needles will become increasingly narrower. Therefore, it becomes difficult to accurately arrange the probe needles whose pitches have been reduced over the entire length of the probe block.
このことから、従来、例えば特許文献1に開示されているように、プローブブロックを電極の配列方向に沿って一列に並べられた複数のブロック要素から構成したプローブユニットが知られている。
For this reason, conventionally, as disclosed in
この構成によれば、個々のブロック要素が保有するプローブ針の数を減らことができる。そのため、プローブ針の狭ピッチ化および液晶表示パネルの大型化・高精細化に対しても無理なく対応することができる。
特許文献1に開示されたプローブユニットによると、プローブブロックが複数のブロック要素に分けられているので、ブロック要素毎にプローブ針と液晶表示パネルの電極との位置合わせを実行しなくてはならない。
According to the probe unit disclosed in
このため、フレームに取り付けられた個々のブロック要素の位置を調整する作業が必須となり、プローブブロックが一つの場合との比較において、各ブロック要素の調整作業に多大な手間と労力を要するといった問題がある。 For this reason, the work of adjusting the position of each block element attached to the frame is essential, and in comparison with the case where there is one probe block, there is a problem that adjustment work of each block element requires a lot of labor and labor. is there.
本発明の目的は、フレームに取り付けられた個々のプローブブロックの位置を簡単かつ精度よく調整することができ、作業性に優れるプローブユニットを得ることにある。 An object of the present invention is to obtain a probe unit that can easily and accurately adjust the position of each probe block attached to a frame and has excellent workability.
上記目的を達成するため、本発明の一つの形態に係るプローブユニットは、
外周部に互いに間隔を存して並べられた複数の電極を有する表示パネルを検査するためのプローブユニットであって、
上記表示パネルの外周部に沿うように設けられたフレームと、
上記フレームの支持面から突出する複数のピボット軸と、
上記電極と反対側の基端部の中央部にガイド孔を有し、上記ガイド孔と上記各ピボット軸とが摺動可能に嵌合することにより、上記ピボット軸を支点にして回動可能に支持され、上記表示パネルの電極の並び方向に沿って配列されるとともに、上記電極に接する複数のプローブ針を有する複数のプローブブロックと、
上記各プローブブロックを上記フレームに個々に固定する複数の固定部材と、
上記フレームに設けられ、上記フレームに対する上記各プローブブロックの向きを個々に調整する複数の調整機構と、を具備し、
上記各調整機構は、上記プローブブロック毎に対応する一対の調整体を含み、これら調整体は、上記フレームに回動可能に支持されるとともに、上記各プローブブロックを上記ピボット軸を支点に回動させるカム面を有し、上記調整体のカム面は、上記ピボット軸を挟んだ両側に振り分けられた位置で上記各プローブブロックに接することを特徴としている。
In order to achieve the above object, a probe unit according to one aspect of the present invention comprises:
A probe unit for inspecting a display panel having a plurality of electrodes arranged at intervals on the outer periphery,
A frame provided along the outer periphery of the display panel;
A plurality of pivot shafts protruding from the support surface of the frame;
A guide hole is provided at the center of the base end opposite to the electrode, and the guide hole and each of the pivot shafts are slidably fitted so that the pivot shaft can be used as a fulcrum. And a plurality of probe blocks having a plurality of probe needles that are arranged along the alignment direction of the electrodes of the display panel and that are in contact with the electrodes;
A plurality of fixing members for fixing the respective probe blocks individually to the frame,
Provided in the frame, anda plurality of adjusting mechanisms for adjusting individually the orientation of the respective probe blocks relative to the frame,
Each adjusting mechanism includes a pair of adjustment members corresponding to each said probe block, these adjustment bodies, while being rotatably supported by the frame, turning the respective probe blocks a fulcrum the pivot shaft And the cam surface of the adjusting body is in contact with each probe block at a position distributed to both sides across the pivot shaft.
本発明によれば、複数のプローブブロックは、個々にカム面の形状に応じてピボット軸を中心に回動するので、プローブブロック毎にプローブ針と表示パネルの電極との位置合わせを容易に行うことができる。 According to the present invention, the plurality of probe blocks individually rotate around the pivot shaft according to the shape of the cam surface, so that the probe needle and the electrode of the display panel are easily aligned for each probe block. be able to.
しかも、各プローブブロックとカム面とは、ピボット軸を挟んだ両側で互いに接触しているので、位置合わせが完了したプローブブロックが勝手に動くことはない。そのため、位置合わせが完了したプローブブロックを、固定部材を介してフレームに固定することで、個々のプローブブロックの向きが定まる。 In addition, since each probe block and the cam surface are in contact with each other on both sides of the pivot shaft, the probe block whose alignment has been completed does not move freely. For this reason, the orientation of each probe block is determined by fixing the probe block whose alignment has been completed to the frame via the fixing member.
よって、フレームに取り付けられた個々のプローブブロックの向きを簡単かつ精度よく調整することができ、プローブユニットが互いに独立した複数のプローブブロックを有する構成でありながら、作業性を良好に維持することができる。 Therefore, the orientation of the individual probe blocks attached to the frame can be adjusted easily and accurately, and the workability can be maintained well while the probe unit has a plurality of probe blocks independent from each other. it can.
以下、本発明の第1の実施の形態を図1ないし図8に基づいて説明する。 Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
図1は、例えば液晶表示パネルの点灯検査を行う際に用いる検査装置1を開示している。検査装置1は、台座2と、この台座2の上に据え付けられた装置本体3とを備えている。
FIG. 1 discloses an
装置本体3は、前面3aを有している。前面3aは、装置本体3の上方に進むに従い後方に倒れ込むように傾斜している。前面3aの中央部にパレット4が設置されている。
The apparatus
パレット4は、検査すべき液晶表示パネル5を取り外し可能に保持するためのものであり、液晶表示パネル5に対応した大きさの四角い枠状をなしている。パレット4は、液晶表示パネル5の厚み方向に沿うZ軸の方向に移動可能に前面3aに支持されている。
The
さらに、パレット4は、図示しないテーブルを介してX軸方向およびY軸方向に移動可能に前面3aに支持されているとともに、θ方向に回動可能に前面3aに支持されている。X軸およびY軸は、液晶表示パネル5と同一平面上で互いに直交している。θ方向は、上記Z軸の軸回り方向と一致している。
Further, the
液晶表示パネル5は、フラットな表示パネルの一例であって、互いに積層された第1および第2のガラス基板5a,5bを備えている。第1のガラス基板5aは、互いに直交するように隣り合う第1の辺6aおよび第2の辺6bを有し、これら第1および第2の辺6a,6bが第2のガラス基板5bの外に突出している。
The liquid
図1、図5および図6に示すように、第1のガラス基板5aのうち、第1および第2の辺6a,6bに対応する外周部7に多数の電極8が形成されている。電極8は、予め決められたピッチPで一列に並んでいる。隣り合う電極8の間のピッチPは、液晶表示パネル5が高精細化される程に狭くなる。さらに、第1のガラス基板5aに例えば十字形のアライメントマーク9a,9bが形成されている。アライメントマーク9a,9bは、液晶表示パネル5の幅方向に互いに離間するように、第1のガラス基板5aの隣り合う角部に位置している。
As shown in FIGS. 1, 5 and 6, a large number of
図1に示すように、装置本体3の前面3aにプローブユニット11が取り外し可能に支持される。プローブユニット11は、パレット4に保持された液晶表示パネル5の外周部7と向かい合うように配置される。
As shown in FIG. 1, the
図2に最もよく示されるように、プローブユニット11は、フレーム12および複数のプローブブロック13を備えている。フレーム12は、検査すべき液晶表示パネル5に対応する大きさの四角い枠状をなしている。
As best shown in FIG. 2, the
フレーム12は、一対の縦桟部14a,14bと一対の横桟部15a,15bとを有している。一方の縦桟部14aは、第1のガラス基板5aの第1の辺6aに沿うとともに、一方の横桟部15aは、第1のガラス基板5aの第2の辺6bに沿っている。縦桟部14a,14bおよび横桟部15a,15bは、液晶表示パネル5を取り囲むとともに、互いに協働して液晶表示パネル5を露出させる窓16を形成している。
The
プローブブロック13は、一方の縦桟部14aおよび一方の横桟部15aに夫々支持されている。これら縦桟部14aおよび横桟部15aに対するプローブブロック13の支持構造は互いに共通であるので、一方の縦桟部14aを代表して説明する。
The
図3ないし図5に示すように、一方の縦桟部14aは、窓16の内側に張り出すブロック支持部17を備えている。ブロック支持部17は、第1のガラス基板5aの第1の辺6aに沿って延びるとともに、平坦な支持面18を有している。
As shown in FIGS. 3 to 5, one
各プローブブロック13は、例えばセラミックによって造られており、平面的に見て四角い板状をなしている。プローブブロック13は、支持面18の上に載置されているとともに、電極8の並び方向に間隔を存して一列に並んでいる。各プローブブロック13は、夫々支持面18から窓16の内側に突出する先端部19を有している。各ブローブブロック13の先端部19は、パレット4の上に置かれた液晶表示パネル5の電極8と向かい合っている。
Each
各プローブブロック13の先端部19の下面に複数のプローブ針20が支持されている。プローブ針20は、例えば電極8のピッチPに対応するように、例えば千鳥状に並べられるとともに、先端部19の下面から電極8に向けて突出している。
A plurality of probe needles 20 are supported on the lower surface of the
図4および図8に示すように、各プローブブロック13は、先端部19とは反対側の基端部21にガイド孔22を有している。ガイド孔22は、プローブブロック13の配列方向に沿う中央部に位置し、このガイド孔22内に支持面18から突出するピボット軸23が摺動可能に嵌合している。この嵌合により、各プローブブロック13は、ピボット軸23を支点に回動可能となっている。
As shown in FIGS. 4 and 8, each
各プローブブロック13は、一対の固定ねじ24を介してブロック支持部17の支持面18に固定されている。固定ねじ24は、固定部材の一例であって、ピボット軸23を間に挟んだ両側でプローブブロック13を貫通するとともに、ブロック支持部17に形成した一対のねじ孔25にねじ込まれている。各プローブブロック13は、固定ねじ24が貫通する貫通孔26を有している。貫通孔26の内面と固定ねじ24の外面との間には、プローブブロック13の位置調整を可能とするための僅かな遊びg(図7を参照)が形成されている。
Each
図2ないし図5に示すように、プローブユニット11のフレーム12は、個々のプローッブロック13の向きを微調整するための調整機構30を装備している。調整機構30は、一つのプローブブロック13毎に一対の調整体31を有している。調整体31は、各プローブブロック13の基端部21に隣接するとともに、各プローブブロック13の回動中心となるピボット軸23を間に挟むように、ピボット軸23の両側に振り分けて配置されている。
As shown in FIGS. 2 to 5, the
調整体31は、夫々支持軸32と外筒33とで構成されている。支持軸32は、第1のねじ部34が形成された一端と、第2のねじ部35が形成された他端とを有している。第1のねじ部34は、ブロック支持部17に設けたねじ孔36に取り外し可能にねじ込まれている。このねじ込みにより、支持軸32は、ブロック支持部17の支持面18から垂直に突出している。
The adjusting
さらに、支持軸32は、第2のねじ部35の先端から同軸状に突出する小径部37を有している。小径部37の突出端には、例えばドライバのような工具を引っ掛けるすりわり37aが形成されている。
Further, the
外筒33は、支持軸32を同軸状に覆う円筒状をなしている。外筒33の内面は、第2のねじ部35にねじ込まれている。そのため、外筒33を回転させると、第2のねじ部35に対する外筒33のねじ込み量が変化し、外筒33が支持軸32の軸方向に沿って例えば数ミクロン移動する。支持軸32の小径部37は、外筒33の上端を貫通して外筒33の外方に露出している。
The
図5および図7に示すように、外筒33の外周面の下部にカム面39が形成されている。カム面39は、外筒33の周方向に連続するとともに、外筒33の下端の方向に進むに従い径が逐次減少するようなテーパ状をなしている。カム面39は、プローブブロック13の基端部21と向かい合うとともに、この基端部21に形成したエッジ状に尖る角部40に接している。
As shown in FIGS. 5 and 7, a
このため、固定ねじ24を弛めた状態で調整体31の外筒33を回転させると、外筒33が支持軸32の軸方向に移動し、カム面39がプローブブロック13の角部40に対し変位する。よって、プローブブロック13がピボット軸23を中心に回動し、プローブ針20と電極8との位置関係が変化するようになっている。
For this reason, when the
図3に示すように、外筒33の上端に径方向に沿う係合溝41が形成されている。係合溝41は、図5に示す調整治具42を外筒33の上端に突き合わせた時に、この調整治具42に取り外し可能に引っ掛かる。そのため、外筒33は、調整治具42によって軸回り方向に回動される。
As shown in FIG. 3, an
図1および図2に示すように、プローブユニット11のフレーム12に一対のアライメントカメラ44a,44bが取り付けられている。アライメントカメラ44a,44bは、液晶表示パネル5の第2のガラス基板5b上のアライメントマーク9a,9bを認識するためのものである。
As shown in FIGS. 1 and 2, a pair of
アライメントカメラ44a,44bによって撮影された画像は、画像情報として図示しない制御部に取り込まれる。制御部は、アライメントカメラ44a,44bから送られる画像情報に基づいて、アライメントカメラ44a,44bの視野内の所定の領域にアライメントマーク9a,9bが位置するか否かを判定する。アライメントマーク9a,9bが所定の領域から外れている場合、制御部は画像情報に基づいてパレット4を支持するテーブルをX軸、Y軸方向に移動させるとともに、θ方向に回動させる。これにより、プローブユニット11と液晶表示パネル5との位置合わせが実行される。
Images taken by the
アライメントカメラ44a,44bにより撮影された画像は、装置本体3の上部に設置した一対のモニター45a,45bに表示される。そのため、作業者はモニター45a,45bに表示された画像を基にプローブユニット11と液晶表示パネル5との位置関係を認識することができる。さらに、装置本体3の前面3aの周囲には、例えば制御部を操作するための一対の操作パネル46a,46bが配置されている。
Images taken by the
このような構成のプローブユニット11において、フレーム12のブロック支持部17にねじ止めされた複数のプローブブロック13は、アライメントカメラ44a,44bによるプローブユニット11と液晶表示パネル5との位置合わせが完了した状態で、個々にプローブ針20が電極8と一致するように向きを微調整する。この調整作業は、以下のようにして実行される。
In the
最初に固定ねじ24を弛めてブロック支持部17に対するプローブブロック13の締め付けを解除する。この状態で、調整治具42を用いて調整体31の外筒33を周方向に回動させる。この回動により、外筒33のカム面39が支持軸32の軸方向に数ミクロン変位する。これにより、カム面39とプローブブロック13の角部40との位置関係が相対的に変化し、プローブブロック13から突出するプローブ針20が電極8と向かい合うように、プローブブロック13がピボット軸23を中心に回動する。このプローブブロック13を回動させる作業は、図示しないモニターに表示される画像を基に作業者の手作業により実行される。
First, the fixing
プローブブロック13の向きの微調整が完了して、プローブ針20と電極8とが正規の位置関係に保持されたならば、固定ねじ24を締め付けてプローブブロック13をブロック支持部17の支持面18の上に固定する。これにより、一つのプローブブロック13が正規の向きでフレーム12に固定される。
When the fine adjustment of the orientation of the
このような調整作業を全てのプローブロック13毎に実行することで、プローブユニット11の全てのプローブ針20が液晶表示パネル5の電極8と合致し、液晶表示パネル5に対するプローブユニット11の位置合わせが完了する。
By performing such an adjustment operation for every
最後に、調整体31をブロック支持部17から取り外す。この取り外し作業は、支持軸32の上端のすりわり37aに例えばドライバのような工具を引っ掛け、支持軸32を回転させる。これにより、ねじ孔36に対する第1のねじ部34のねじ込みが解除され、調整体31をブロック支持部17から取り外すことができる。
Finally, the
このような本発明の第1の実施の形態によれば、複数のプローブブロック13は、個々にカム面39の形状に応じてピボット軸23を中心に回動するので、プローブブロック13毎にプローブ針20と液晶表示パネル5の電極8との位置合わせを容易に行うことができる。
According to the first embodiment of the present invention as described above, the plurality of probe blocks 13 individually rotate around the
しかも、プローブブロック13の基端部21は、プローブブロック13の回動中心となるピボット軸23を挟んだ両側で調整体31のカム面39に接触している。そのため、固定ねじ24によるプローブブロック13の締め付けが解除されていてもプローブブロック13が勝手に動くことはない。したがって、固定ねじ24を締め付けることで、全てのプローブ針20が電極8と向かい合うように、個々のプローブブロック13の向きを的確に定めることができる。
In addition, the
よって、フレーム12のブロック支持部17に取り付けられた複数のプローブブロック13の向きを簡単かつ精度よく調整することが可能となり、プローブユニット11が互いに独立した複数のプローブブロック13を有するにも拘らず、作業性を良好に維持することができる。
Therefore, the orientation of the plurality of probe blocks 13 attached to the
また、各プローブブロック13を一度上記要領で調整し、固定すれば、次のパネルの検査からは上記調整は不要となり、精度良く、安定した検査が行える。
Further, once each
なお、本発明は上記第1の実施の形態に特定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施可能である。 The present invention is not limited to the first embodiment described above, and can be implemented with various modifications without departing from the spirit of the invention.
例えば、図9は本発明の第2の実施の形態を開示している。 For example, FIG. 9 discloses a second embodiment of the present invention.
この第2の実施の形態は、個々のプローブロック13の向きを微調整する調整機構30に関する事項が上記第1の実施の形態と相違しており、これ以外のプローブユニット11の構成は、基本的に第1の実施の形態と同様である。そのため、第2の実施の形態において、第1の実施の形態と同一の構成部分には同一の参照符号を付して、その説明を省略する。
This second embodiment is different from the first embodiment in matters relating to the
図9に示すように、調整機構30は、一つのプローブブロック13毎に一つの調整体31と圧縮コイルばね51とを備えている。調整体31は、ピボット軸23に対しプローブブロック13の配列方向に沿う一方側にずれた位置に設けられている。圧縮コイルばね51は、弾性部材の一例であって、ピボット軸23に対しプローブブロック13の配列方向に沿う他方側にずれた位置に設けられている。したがって、調整体31および圧縮コイルばね51は、プローブブロック13毎にピボット軸23を挟んだ両側に振り分けて配置されている。
As shown in FIG. 9, the
圧縮コイルばね51は、弾性部材の一例である。圧縮コイルばね51は、縦桟部14aと各プローブブロック13の基端部21との間に圧縮状態で介在されて、各プローブブロック13をピボット軸23を中心に時計回り方向に弾性的に付勢している。そのため、各プローブブロック13の基端部21の角部40は、調整体31のカム面39に弾性的に押し付けられている。
The
このような構成においても、調整体31の外筒33を回動させると、各プローブブロック13は、プローブ針20が電極8と向かい合うように個々にカム面39の形状に応じて回動する。したがって、上記第1の実施の形態と同様に、プローブブロック13毎にプローブ針20と液晶表示パネル5の電極8との位置合わせを容易に行うことができる。
Even in such a configuration, when the
さらに、プローブブロック13の基端部21は、圧縮コイルばね51によってカム面39に押し付けられているので、固定ねじ24によるプローブブロック13の締め付けが解除されていてもプローブブロック13が勝手に動くことはない。よって、固定ねじ24を締め付けることで、全てのプローブ針20が電極8と向かい合うように、個々のプローブブロック13の向きを的確に定めることができる。
Further, since the
なお、上記第1および第2の実施の形態では、フレームの支持面から突出するピボット軸を各プローブブロックの嵌合孔に嵌合させることで、プローブブロックを回動可能に支持している。しかしながら、本発明はこれに限らず、例えばフレームの支持面に嵌合孔を開けるとともに、プローブブロックに嵌合孔に摺動可能に嵌合されるピボット軸を設けてもよい。 In the first and second embodiments, the probe block is rotatably supported by fitting the pivot shaft protruding from the support surface of the frame into the fitting hole of each probe block. However, the present invention is not limited to this. For example, a fitting hole may be formed in the support surface of the frame, and a pivot shaft that is slidably fitted into the fitting hole may be provided in the probe block.
さらに、検査すべき表示パネルは液晶表示パネルに限らず、例えば有機EL表示パネル、プラズマ表示パネルあるいはFEDのようなその他のフラットな表示パネルに適用可能である。 Furthermore, the display panel to be inspected is not limited to the liquid crystal display panel, and can be applied to other flat display panels such as an organic EL display panel, a plasma display panel, or an FED.
5…表示パネル(液晶表示パネル)、7…外周部、8…電極、11…プローブユニット、12…フレーム、13…プローブブロック、20…プローブ針、23…ピボット軸、24…固定部材(固定ねじ)、30…調整機構、31…調整体、39…カム面、51…弾性部材(圧縮コイルばね)。
DESCRIPTION OF
Claims (6)
上記表示パネルの外周部に沿うように設けられたフレームと、
上記フレームの支持面から突出する複数のピボット軸と、
上記電極と反対側の基端部の中央部にガイド孔を有し、上記ガイド孔と上記各ピボット軸とが摺動可能に嵌合することにより、上記ピボット軸を支点にして回動可能に支持され、上記表示パネルの電極の並び方向に沿って配列されるとともに、上記電極に接する複数のプローブ針を有する複数のプローブブロックと、
上記各プローブブロックを上記フレームに個々に固定する複数の固定部材と、
上記フレームに設けられ、上記フレームに対する上記各プローブブロックの向きを個々に調整する複数の調整機構と、を具備し、
上記各調整機構は、上記プローブブロック毎に対応する一対の調整体を含み、これら調整体は、上記フレームに回動可能に支持されるとともに、上記各プローブブロックを上記ピボット軸を支点に回動させるカム面を有し、上記調整体のカム面は、上記ピボット軸を挟んだ両側に振り分けられた位置で上記各プローブブロックに接することを特徴とするプローブユニット。 A probe unit for inspecting a display panel having a plurality of electrodes arranged at intervals on the outer periphery,
A frame provided along the outer periphery of the display panel;
A plurality of pivot shafts protruding from the support surface of the frame;
A guide hole is provided at the center of the base end opposite to the electrode, and the guide hole and each of the pivot shafts are slidably fitted so that the pivot shaft can be used as a fulcrum. And a plurality of probe blocks having a plurality of probe needles that are arranged along the alignment direction of the electrodes of the display panel and that are in contact with the electrodes;
A plurality of fixing members for fixing the respective probe blocks individually to the frame,
Provided in the frame, anda plurality of adjusting mechanisms for adjusting individually the orientation of the respective probe blocks relative to the frame,
Each adjusting mechanism includes a pair of adjustment members corresponding to each said probe block, these adjustment bodies, while being rotatably supported by the frame, turning the respective probe blocks a fulcrum the pivot shaft A probe unit, wherein the cam surface of the adjusting body is in contact with each of the probe blocks at a position distributed on both sides of the pivot shaft.
上記フレームに取り外し可能に支持された支持軸と、
上記支持軸を同軸状に覆うように上記支持軸にねじ込まれた円筒状の外筒と、
を有し、
上記外筒の外周面上に上記カム面が形成されていることを特徴とするプローブユニット。 In the description of claim 1, each of the pair of adjusting bodies is
A support shaft removably supported by the frame;
A cylindrical outer cylinder screwed into the support shaft so as to cover the support shaft coaxially ;
Have
The probe unit, wherein the cam surface is formed on an outer peripheral surface of the outer cylinder.
上記各固定部材は上記各ピボット軸の両側に設けられ、上記各プローブブロックを貫通して上記フレームにねじ込まれる固定ねじであり、
上記各プローブブロップは、上記固定ねじが遊びを以て貫通する貫通孔を有することを特徴とするプローブユニット。 In the description of any one of claims 1 to 3,
Each fixing member is provided on both sides of each pivot shaft , and is a fixing screw that passes through each probe block and is screwed into the frame.
Each of the probe blocks has a through hole through which the fixing screw penetrates with play.
上記表示パネルの外周部に沿うように設けられたフレームと、
上記フレームの支持面から突出する複数のピボット軸と、
上記電極と反対側の基端部の中央部にガイド孔を有し、上記ガイド孔と上記各ピボット軸とが摺動可能に嵌合することにより、上記ピボット軸を支点にして回動可能に支持され、上記表示パネルの電極の並び方向に沿って配列されるとともに、上記電極に接する複数のプローブ針を有する複数のプローブブロックと、
上記各プローブブロックを上記フレームに個々に固定する複数の固定部材と、
上記フレームに設けられ、上記フレームに対する上記各プローブブロックの向きを個々に調整する複数の調整機構と、を具備し、
上記各調整機構は、
(1)上記フレームに回動可能に支持され、上記各プローブブロックに接することで上記各プローブブロックを上記ピボット軸を支点に回動させるカム面を有する調整体と、
(2)上記各プローブブロックを上記調整体のカム面に押し付ける弾性部材と、
を備えていること特徴とするプローブユニット。 A probe unit for inspecting a display panel having a plurality of electrodes arranged at intervals on the outer periphery,
A frame provided along the outer periphery of the display panel;
A plurality of pivot shafts protruding from the support surface of the frame;
A guide hole is provided at the center of the base end opposite to the electrode, and the guide hole and each of the pivot shafts are slidably fitted so that the pivot shaft can be used as a fulcrum. And a plurality of probe blocks having a plurality of probe needles that are arranged along the alignment direction of the electrodes of the display panel and that are in contact with the electrodes;
A plurality of fixing members for fixing the respective probe blocks individually to the frame,
Provided in the frame, anda plurality of adjusting mechanisms for adjusting individually the orientation of the respective probe blocks relative to the frame,
Each adjustment mechanism is
(1) it is rotatably supported by the frame, and adjustment member having a cam surface for pivoting the respective probe blocks a fulcrum the pivot shaft by contact with the respective probe blocks,
(2) an elastic member that presses each of the probe blocks against the cam surface of the adjustment body;
A probe unit comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007134591A JP4625826B2 (en) | 2007-05-21 | 2007-05-21 | Probe unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007134591A JP4625826B2 (en) | 2007-05-21 | 2007-05-21 | Probe unit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008286757A JP2008286757A (en) | 2008-11-27 |
JP4625826B2 true JP4625826B2 (en) | 2011-02-02 |
Family
ID=40146601
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007134591A Expired - Fee Related JP4625826B2 (en) | 2007-05-21 | 2007-05-21 | Probe unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4625826B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102590566A (en) * | 2012-03-16 | 2012-07-18 | 苏州工业园区世纪福科技有限公司 | Automatic alignment method for electronic product testing clamp |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101162912B1 (en) * | 2009-10-27 | 2012-07-06 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Apparatus and method for testing array substrate |
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-
2007
- 2007-05-21 JP JP2007134591A patent/JP4625826B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008286757A (en) | 2008-11-27 |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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