JP4620448B2 - Substrate recognition processing method - Google Patents

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Description

本発明は、プリント基板に付された位置決めマークを照明装置が照明して基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法に関する。   The present invention relates to a substrate recognition processing method in which an illuminating device illuminates a positioning mark attached to a printed circuit board and an image is captured by a substrate recognition camera, and the captured image is recognized by a substrate recognition processing device.

この種の基板認識処理方法は、例えば特許文献1に開示されているが、プリント基板に付された位置決めマークを照明装置が照明して基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する際に、画像の入力信号を増幅することによりコントラストを強調して調節し、即ち感度を変更調節してプリント基板の種類に対応していたものである。
特開2002−94298号公報
This type of substrate recognition processing method is disclosed in, for example, Patent Document 1, but the illumination device illuminates the positioning mark attached to the printed circuit board, and the substrate recognition camera captures the image. When the processing device performs recognition processing, the input signal of the image is amplified and adjusted to enhance contrast, that is, the sensitivity is changed and adjusted to correspond to the type of printed circuit board.
Japanese Patent Laid-Open No. 2002-94298

しかしながら、感度を変更調節してプリント基板の種類に対応するのでは限度があり、対応できない場合も発生する。   However, there is a limit in changing the sensitivity and adapting to the type of the printed circuit board, and there are cases where it cannot be handled.

そこで本発明は、プリント基板の種類に応じて、照明装置により光を照射する輝度を最適なものとすることを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to optimize the luminance with which light is irradiated by an illumination device in accordance with the type of printed circuit board.

このため第1の発明は、プリント基板に付された位置決めマークを照明装置が照明して基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法において、
前記照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする。
Therefore, according to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate recognition processing method in which a lighting device illuminates a positioning mark attached to a printed circuit board, and a substrate recognition camera captures an image.
The substrate recognition processing device performs recognition processing on an image captured by the substrate recognition camera in a state where the illumination device is illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data,
When this recognition process is abnormal, illumination is performed based on the plurality of first luminance data increased or decreased with the reference luminance data as a center, and imaging and recognition processing are performed.
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Illumination, imaging, and recognition processing are performed based on a plurality of second luminance data that are increased or decreased around the first best luminance data selected based on the weighted result,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result.

第2の発明は、プリント基板に付された位置決めマークを照明装置が照明して基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法において、
前記照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として所定の第1増減率で増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として前記第1増減率より小さい第2増減率で増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a substrate recognition processing method in which an illumination device illuminates a positioning mark attached to a printed circuit board and the substrate recognition camera captures an image, and the captured image is recognized by the substrate recognition processing device.
The substrate recognition processing device performs recognition processing on an image captured by the substrate recognition camera in a state where the illumination device is illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data,
If this recognition process is abnormal, the image is illuminated, imaged and recognized based on a plurality of first luminance data increased or decreased at a predetermined first increase / decrease rate with the reference luminance data as the center,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Illuminating, imaging, and recognizing based on a plurality of second luminance data increased or decreased at a second increase / decrease rate smaller than the first increase / decrease rate with the first best luminance data selected based on the weighted result as a center,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result .

第3の発明は、プリント基板に付された位置決めマークを撮像する基板認識カメラの下方の筒内にハーフミラーを配設し、このハーフミラーの側方の前記筒の周囲には同軸照明装置を設けると共に前記ハーフミラーの下方における前記筒内には複数のリング照明装置を設け、前記位置決めマークを前記同軸照明装置及びリング照明装置が照明して前記基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法であって、
前記同軸照明装置及びリング照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, a half mirror is disposed in a cylinder below a board recognition camera that images a positioning mark attached to a printed circuit board, and a coaxial illumination device is provided around the cylinder on the side of the half mirror. A plurality of ring illumination devices are provided in the cylinder below the half mirror, the positioning mark is illuminated by the coaxial illumination device and the ring illumination device, and the substrate recognition camera images the image. A substrate recognition processing method in which the substrate recognition processing apparatus performs recognition processing,
The substrate recognition processing device recognizes the image captured by the substrate recognition camera in a state where the coaxial illumination device and the ring illumination device are illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data,
When this recognition process is abnormal, illumination is performed based on the plurality of first luminance data increased or decreased with the reference luminance data as a center, and imaging and recognition processing are performed.
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Illumination, imaging, and recognition processing are performed based on a plurality of second luminance data that are increased or decreased around the first best luminance data selected based on the weighted result,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result.

第4の発明は、プリント基板に付された位置決めマークを撮像する基板認識カメラの下方の筒内にハーフミラーを配設し、このハーフミラーの側方の前記筒の周囲には同軸照明装置を設けると共に前記ハーフミラーの下方における前記筒内には複数のリング照明装置を設け、前記位置決めマークを前記同軸照明装置及びリング照明装置が照明して前記基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法であって、
前記同軸照明装置及びリング照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
前記リング照明装置による照明が暗い方が良いか否かを判断し、
暗い方が良いと判断した場合には前記リング照明装置を消した状態で前記同軸照明装置のみで前記複数の第1輝度データに基づいて照明して撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, a half mirror is disposed in a cylinder below a board recognition camera that images a positioning mark attached to a printed circuit board, and a coaxial illumination device is provided around the cylinder on the side of the half mirror. A plurality of ring illumination devices are provided in the cylinder below the half mirror, the positioning mark is illuminated by the coaxial illumination device and the ring illumination device, and the substrate recognition camera images the image. A substrate recognition processing method in which the substrate recognition processing apparatus performs recognition processing,
The substrate recognition processing device recognizes the image captured by the substrate recognition camera in a state where the coaxial illumination device and the ring illumination device are illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data,
When this recognition process is abnormal, illumination is performed based on the plurality of first luminance data increased or decreased with the reference luminance data as a center, and imaging and recognition processing are performed.
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Determine whether the illumination by the ring illumination device should be dark,
When it is determined that the darker one is better, the ring illumination device is turned off and illuminated with only the coaxial illumination device based on the plurality of first luminance data, imaged and recognized,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Illumination, imaging, and recognition processing are performed based on a plurality of second luminance data that are increased or decreased around the first best luminance data selected based on the weighted result,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result.

第5の発明は、プリント基板に付された位置決めマークを撮像する基板認識カメラの下方の筒内にハーフミラーを配設し、このハーフミラーの側方の前記筒の周囲には同軸照明装置を設けると共に前記ハーフミラーの下方における前記筒内には複数のリング照明装置を設け、前記位置決めマークを前記同軸照明装置及びリング照明装置が照明して前記基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法であって、
前記同軸照明装置及びリング照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
前記同軸照明装置による照明が暗い方が良いか否かを判断し、
暗い方が良いと判断した場合には前記同軸照明装置を消した状態で前記リング照明装置のみで前記複数の第1輝度データに基づいて照明して撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, a half mirror is disposed in a cylinder below a board recognition camera that images a positioning mark attached to a printed circuit board, and a coaxial illumination device is provided around the cylinder on the side of the half mirror. A plurality of ring illumination devices are provided in the cylinder below the half mirror, the positioning mark is illuminated by the coaxial illumination device and the ring illumination device, and the substrate recognition camera images the image. A substrate recognition processing method in which the substrate recognition processing apparatus performs recognition processing,
The substrate recognition processing device recognizes the image captured by the substrate recognition camera in a state where the coaxial illumination device and the ring illumination device are illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data,
When this recognition process is abnormal, illumination is performed based on the plurality of first luminance data increased or decreased with the reference luminance data as a center, and imaging and recognition processing are performed.
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Determine whether the illumination by the coaxial illumination device should be dark,
If it is determined that the darker one is better, the coaxial illumination device is turned off and only the ring illumination device is illuminated and imaged based on the plurality of first luminance data for recognition processing,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Illumination, imaging, and recognition processing are performed based on a plurality of second luminance data that are increased or decreased around the first best luminance data selected based on the weighted result,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result.

本発明は、プリント基板の種類に応じて、照明装置により光を照射する輝度を最適なものとすることができるから、従来の感度を変更調節するという方式では対応できない場合も発生していたが、確実に対応できる。   Since the present invention can optimize the luminance of light emitted from the lighting device according to the type of printed circuit board, there are cases where the conventional method of changing and adjusting the sensitivity cannot cope with it. Can respond reliably.

図に基づき、本発明の実施の形態を以下説明する。図1において、1は照明装置を備えた基板認識カメラ装置で、電子部品装着装置におけるプリント基板P上に付された位置決めマークを撮像する基板認識カメラ2を上部に備え、この基板認識カメラ2の下方の筒3内にはレンズ4が配設されている。   An embodiment of the present invention will be described below based on the drawings. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a board recognition camera apparatus having an illumination device, which includes a board recognition camera 2 for imaging a positioning mark attached on a printed board P in an electronic component mounting apparatus. A lens 4 is disposed in the lower cylinder 3.

そして、更に前記レンズ4の下方にはハーフミラー5が配設され、このハーフミラー5の側方の筒3の周囲には同軸照明装置6が設けられ、この同軸照明装置6からの光がハーフミラー5を介してプリント基板Pの位置決めマークに照射できる構成である。また、ハーフミラー5の下方における筒3内周囲に設けられた取付筒7には複数の第1リング照明装置8が設けられると共に、更に前記筒3下端部に設けられた取付筒9には複数の第2リング照明装置10が設けられ、プリント基板Pの位置決めマークに照射できる構成である。   Further, a half mirror 5 is disposed below the lens 4, and a coaxial illumination device 6 is provided around the tube 3 on the side of the half mirror 5, and light from the coaxial illumination device 6 is half-lighted. In this configuration, the positioning mark on the printed circuit board P can be irradiated through the mirror 5. A plurality of first ring illumination devices 8 are provided on the mounting cylinder 7 provided around the inside of the cylinder 3 below the half mirror 5, and a plurality of mounting cylinders 9 provided on the lower end of the cylinder 3 are provided. The second ring illumination device 10 is provided and can irradiate the positioning mark of the printed circuit board P.

そして、同軸照明装置6及び第1リング照明装置8による照明(標準照明選択)か、第2リング照明装置10による照明(オプション照明)がなされて、位置決めマークに光を照射し、基板認識カメラ2により撮像される構成である。   Then, illumination by the coaxial illumination device 6 and the first ring illumination device 8 (standard illumination selection) or illumination by the second ring illumination device 10 (optional illumination) is performed, the positioning mark is irradiated with light, and the substrate recognition camera 2 It is the structure imaged by.

次に、図2のブロック図において、11は電子部品装着装置の装着に係る動作を統括制御する制御部としてのCPU、12は電子部品の装着順序毎にプリント基板P内でのX方向、Y方向及び角度位置情報や、各部品供給ユニットの配置番号情報等から成る装着データ、パーツライブラリデータ、後述する照明装置による光の照射による明るさに係る基準輝度データ等を格納するRAM(ランダム・アクセス・メモリ)、13はプログラムを格納するROM(リ−ド・オンリー・メモリ)である。   Next, in the block diagram of FIG. 2, 11 is a CPU as a control unit that performs overall control of operations related to mounting of the electronic component mounting apparatus, 12 is the X direction in the printed circuit board P for each mounting order of electronic components, and Y RAM (Random Access) for storing mounting data, part library data, reference luminance data relating to brightness by light irradiation by a lighting device described later, and the like including direction and angle position information, arrangement number information of each component supply unit, etc. (Memory), 13 is a ROM (Read Only Memory) for storing the program.

そして、CPU11は前記RAM12に記憶された各データに基づき、前記ROM13に格納されたプログラムに従い、電子部品装着装置の部品装着動作に係る動作を統括制御する。即ち、CPUは、例えば駆動回路14を介して吸着ノズルを備えた装着ヘッドをX方向に移動させるためのX軸駆動モータ15、同じく装着ヘッドをY方向に移動させるためのY軸駆動モータ16、吸着ノズルを上下させるための上下軸駆動モータ17及び前記吸着ノズルを回転させるθ軸駆動モータ18の駆動を制御する。   Then, the CPU 11 comprehensively controls the operation related to the component mounting operation of the electronic component mounting apparatus according to the program stored in the ROM 13 based on each data stored in the RAM 12. That is, the CPU, for example, an X-axis drive motor 15 for moving the mounting head provided with the suction nozzle in the X direction via the drive circuit 14, and a Y-axis drive motor 16 for moving the mounting head in the Y direction, The driving of the vertical axis drive motor 17 for moving the suction nozzle up and down and the θ-axis drive motor 18 for rotating the suction nozzle are controlled.

そして、20は吸着ノズルに吸着された電子部品を撮像するための部品認識カメラで、21は電子部品が吸着ノズルに対してどれだけ位置ずれして吸着保持されているかXY方向及び回転角度につき認識処理する部品認識処理回路、22は前記基板認識カメラ2がプリント基板Pに付された位置決めマークを撮像した画像を認識処理して位置決めマークの位置を認識する基板認識処理回路である。前記基板認識カメラ2や部品認識カメラ20により撮像された画像等は、表示回路23によりモニタ24に表示される。   Reference numeral 20 denotes a component recognition camera for imaging an electronic component sucked by the suction nozzle. Reference numeral 21 denotes how much the electronic component is displaced and held with respect to the suction nozzle by XY direction and rotation angle. A component recognition processing circuit 22 to be processed is a substrate recognition processing circuit 22 for recognizing an image obtained by imaging the positioning mark attached to the printed board P by the board recognition camera 2 and recognizing the position of the positioning mark. Images taken by the board recognition camera 2 and the component recognition camera 20 are displayed on the monitor 24 by the display circuit 23.

部品認識処理回路21、基板認識処理回路22はインターフェース25を介して前記CPU11に接続され、前記部品認識カメラ20や基板認識カメラ2により撮像して取込まれた画像の認識処理を該部品認識処理回路21、基板認識処理回路22で行い、CPU11に処理結果が送出される。   The component recognition processing circuit 21 and the substrate recognition processing circuit 22 are connected to the CPU 11 via the interface 25, and the component recognition processing is performed by recognizing an image captured by the component recognition camera 20 or the substrate recognition camera 2. The processing is performed by the circuit 21 and the substrate recognition processing circuit 22, and the processing result is sent to the CPU 11.

そして、前記部品認識処理回路21、基板認識処理回路22の認識処理により位置ずれ量が把握されると、その結果がCPU11に送られ、CPU11は前記X軸駆動モータ15、Y軸駆動モータ16の駆動によりX方向、Y方向に移動させることにより、またθ軸駆動モータ18によりθ回転させ、X,Y方向及び鉛直軸線回りへの回転角度位置の補正がなされるものである。   Then, when the positional deviation amount is grasped by the recognition processing of the component recognition processing circuit 21 and the board recognition processing circuit 22, the result is sent to the CPU 11, and the CPU 11 detects the X axis drive motor 15 and the Y axis drive motor 16. By moving in the X direction and Y direction by driving, and by rotating θ by the θ axis drive motor 18, the rotational angular position about the X, Y direction and the vertical axis is corrected.

また、前記同軸照明装置6、第1リング照明装置8及び第2リング照明装置10は、CPU11により照明点灯回路27を介して点灯制御される。   The coaxial illumination device 6, the first ring illumination device 8, and the second ring illumination device 10 are controlled to be lit by the CPU 11 via the illumination lighting circuit 27.

以上の構成により、以下図3のフローチャートに基づき輝度レベルの自動追従動作について説明する。電子部品装着装置において、上流側装置から搬送されて位置決め装置で位置決めされたプリント基板Pは、平面方向に移動可能に構成された基板認識カメラ2により位置決めマークが撮像される。この場合、プリント基板Pの種類毎にRAM12に格納された基準輝度データに従って前記位置決めマークは照明されて、前述の如く、撮像される。   With the above configuration, the luminance level automatic tracking operation will be described below based on the flowchart of FIG. In the electronic component mounting apparatus, the printed circuit board P conveyed from the upstream apparatus and positioned by the positioning apparatus is imaged with a positioning mark by the board recognition camera 2 configured to be movable in the plane direction. In this case, the positioning mark is illuminated in accordance with the reference luminance data stored in the RAM 12 for each type of the printed circuit board P, and is imaged as described above.

この場合、RAM12に格納された前記基準輝度データに基づく同軸照明装置6及び第1リング照明装置8による照明(標準照明選択)か、第2リング照明装置10による照明(オプション照明)がなされるよう、CPU11により照明点灯回路27を介して点灯制御され、基板認識カメラ2により位置決めマークが撮像される。以下、特別の記述がない限り、同軸照明装置6及び第1リング照明装置8による標準照明であるものとして、説明する。   In this case, illumination by the coaxial illumination device 6 and the first ring illumination device 8 (standard illumination selection) based on the reference luminance data stored in the RAM 12 or illumination by the second ring illumination device 10 (optional illumination) is performed. The lighting is controlled by the CPU 11 via the illumination lighting circuit 27, and the positioning mark 2 is imaged by the substrate recognition camera 2. In the following description, it is assumed that the illumination is standard illumination by the coaxial illumination device 6 and the first ring illumination device 8 unless otherwise specified.

そして、撮像された位置決めマークの画像が、基板認識処理回路22により認識処理される。こ場合、基板認識処理回路22による認識処理の結果がCPU11により電子部品の装着に係る動作を続行すべきではなく異常と判断されると、例えば位置決めマークが見つからないとか、位置決めマークの面積が一定範囲外であるとか、コントラストが一定範囲外であるとかと判断されると異常と判断されると自動追従動作が続行される。   The captured image of the positioning mark is recognized by the substrate recognition processing circuit 22. In this case, if the result of the recognition processing by the board recognition processing circuit 22 is abnormal because the CPU 11 should not continue the operation related to the mounting of the electronic component, for example, the positioning mark is not found or the area of the positioning mark is constant. If it is determined that it is out of the range or the contrast is out of a certain range, the automatic follow-up operation is continued if it is determined as abnormal.

認識が異常と判断された場合には、選択されている照明が標準照明ではなくてオプション照明、即ち第2リング照明装置10による照明かが判断され、同軸照明装置6及び第1リング照明装置8による標準照明であって第2リング照明装置10によるオプション照明ではないので、図5の範囲A内の基準輝度値を除く24点の輝度レベル値で、前述と同様に同軸照明装置6及び第1リング照明装置8により照明されて基板認識カメラ2により位置決めマークが撮像され、基板認識処理回路22により基板認識処理を実行する。即ち、基準輝度値を中心として、第1リング照明装置8による照明の輝度レベル値を各40%ずつ増加減少及び同軸照明装置6による照明の輝度レベル値を各40%ずつ増加減少させた図5の範囲A内の基準輝度値を除く24点の輝度レベル値で照明し、撮像する。   When the recognition is determined to be abnormal, it is determined whether the selected illumination is not standard illumination but optional illumination, that is, illumination by the second ring illumination device 10, and the coaxial illumination device 6 and the first ring illumination device 8 are determined. The standard illumination by the second ring illumination device 10 and not the optional illumination by the second illumination device 10, the brightness level values of 24 points excluding the reference luminance value in the range A in FIG. Illuminated by the ring illumination device 8, the positioning mark is imaged by the substrate recognition camera 2, and the substrate recognition processing circuit 22 executes the substrate recognition processing. That is, with the reference luminance value as the center, the luminance level value of the illumination by the first ring illumination device 8 is increased and decreased by 40%, and the luminance level value of the illumination by the coaxial illumination device 6 is increased and decreased by 40%. Illuminate with 24 luminance level values excluding the reference luminance value in the range A, and take an image.

この場合、前記24点の各点に関して重み付けする。即ち、認識できない場合は0点(零点)とし、認識可能な場合には面積一致度とコントラストとから重み付けをし、具体的には(面積一致度×255+コントラスト)/2の計算をして点数を付ける。なお、前記面積一致度は検出した位置決めマークのエッジから算出した面積に対する2値化画像の面積の比率であり、虫食いの度合いを判断するのに必要であり、またコントラストは位置決めマークのエッジ近傍のプリント基板Pの基材部と位置決めマークのコントラスト差である。   In this case, each of the 24 points is weighted. In other words, when it cannot be recognized, it is set to 0 (zero point), and when it can be recognized, weighting is performed from the degree of area coincidence and contrast. Add. The area coincidence is the ratio of the area of the binarized image to the area calculated from the edge of the detected positioning mark, and is necessary for judging the degree of worm-eating, and the contrast is near the edge of the positioning mark. This is the contrast difference between the base material portion of the printed circuit board P and the positioning mark.

なお、オーバーレジストや位置決めマークが腐蝕傾向によってプリント基板Pの基材が光ったり、位置決めマークが光らずコントラストがとれない場合や、また位置決めマークに凹凸が多くあって虫食い状態などがある場合などに対応して、面積一致度とコントラストとから重み付けをしたものである。   In addition, when the base material of the printed circuit board P is shining due to the corrosion tendency of the over resist or the positioning mark, the positioning mark does not shine and the contrast cannot be obtained, or when the positioning mark has many irregularities and there is a worm-eaten state, etc. Correspondingly, weighting is performed from the degree of area coincidence and contrast.

そして、24点の重み付け点数が全て0点でなければ、点数の最大MAX値(最良値)が図5の範囲Bに含まれるか、言い換えると第1リング照明装置8による照明がもっと暗い方が良いか否かがCPU11により判断され、点数の最大MAX値が図5の範囲Bに含まれる場合には、第1リング照明装置8を消した状態で同軸照明装置6のみによる基準輝度値と、この基準輝度値を中心として各40%増加減少させた輝度レベル値と、この輝度レベル値を中心として各40%増加減少させた輝度レベル値とを使用して5回照明撮像し、前回の図5における範囲B及び今回の範囲D内の10の輝度レベル値における重み付け点数の最大MAX値を詳細追従基準輝度にする。   If the 24 weighting points are not all 0 points, the maximum MAX value (best value) of the points is included in the range B in FIG. 5, in other words, the illumination by the first ring illumination device 8 is darker. When the CPU 11 determines whether or not it is good and the maximum MAX value of the score is included in the range B of FIG. 5, the reference luminance value only by the coaxial illumination device 6 with the first ring illumination device 8 turned off, Using the brightness level value increased and decreased by 40% around the reference brightness value, and the brightness level value increased and decreased by 40% around the brightness level value, illumination imaging is performed five times. The maximum follow-up reference luminance is set to the maximum MAX value of the weighting points in the range B in 5 and the 10 luminance level values in the current range D.

しかし、24点の重み付け点数の最大MAX値が図5の範囲Bに含まれない場合には、この最大MAX値が図5の範囲Cに含まれるか、言い換えると同軸照明装置6による照明がもっと暗い方が良いか否かがCPU11により判断され、点数の最大MAX値が図5の範囲Cに含まれる場合には、同軸照明装置6を消した状態で第1リング照明装置8のみによる基準輝度値と、この基準輝度値を中心として各40%増加減少させた輝度レベル値と、この輝度レベル値を中心として各40%増加減少させた輝度レベル値とを使用して5回照明撮像し、前回の図5における範囲A及び今回の範囲E、D内の10の輝度レベル値における重み付け点数の最大MAX値を詳細追従基準輝度にする。   However, in the case where the maximum MAX value of the 24 weighted points is not included in the range B in FIG. 5, this maximum MAX value is included in the range C in FIG. 5, in other words, the illumination by the coaxial illumination device 6 is more. When the CPU 11 determines whether the darker one is better and the maximum MAX value of the score is included in the range C in FIG. 5, the reference luminance only by the first ring illumination device 8 with the coaxial illumination device 6 turned off. Using the value, the brightness level value increased and decreased by 40% around the reference brightness value, and the brightness level value increased and decreased by 40% around the brightness level value, The maximum MAX value of the weighting points in the 10 brightness level values in the previous range A and the current ranges E and D in FIG.

しかし、24点の重み付け点数の最大MAX値が図5の範囲Cに含まれない場合には、CPU11は24点の中で重み付けした最大MAX値を詳細追従基準輝度にする。   However, when the maximum MAX value of the 24 weighted points is not included in the range C in FIG. 5, the CPU 11 sets the maximum MAX value weighted among the 24 points as the detailed follow-up reference luminance.

次に図6に示すように、前述したような24点の中で重み付けした点数がゼロでない場合であって、点数の最大MAX値が図5の範囲Bに含まれる場合の範囲B及びD内の重み付け点数の最大MAX値か、点数の最大MAX値が範囲Bに含まれず範囲Cに含まれる場合の範囲A及びD内の重み付け点数の最大MAX値か、点数の最大MAX値が範囲Bに含まれず範囲Cにも含まれない場合の24点の中で重み付けした最大MAX値かを詳細追従基準輝度にした場合のこの詳細追従基準輝度を中心にした複数の輝度レベル値を使用して、同軸照明装置6及び第1リング照明装置8による照明及び基板認識カメラ2で撮像し、基板認識処理22による基板認識処理を実行する。即ち、詳細追従基準輝度を中心として第1リング照明装置8及び同軸照明装置6の輝度レベル値を20%増加減少させたものを使用して基板認識処理を実行する。   Next, as shown in FIG. 6, when the weighted score among the 24 points as described above is not zero, and the maximum MAX value of the score is included in the range B in FIG. Or the maximum MAX value of the weighting points in the ranges A and D when the maximum MAX value of the points is not included in the range B and included in the range C, or the maximum MAX value of the points is in the range B Using a plurality of luminance level values centered on the detailed follow-up reference luminance when the maximum follow-up reference luminance is set to the maximum MAX value weighted among the 24 points when not included in the range C, Imaging with the illumination by the coaxial illumination device 6 and the first ring illumination device 8 and the substrate recognition camera 2 is performed, and the substrate recognition processing by the substrate recognition processing 22 is executed. That is, the board recognition processing is executed using the first ring illumination device 8 and the coaxial illumination device 6 whose luminance level values are increased or decreased by 20% with the detailed tracking reference luminance as the center.

そして、CPU11は詳細追従基準輝度を除く他の8点の各点に重み付け(点数付け)をする。この重み付けの最大MAX値の輝度レベル値を自動追従値としてRAM12に格納し、次回のプリント基板Pの認識処理の際からこの最大MAX値の輝度レベル値を使用して基板認識処理を実行する。   Then, the CPU 11 weights (scores) each of the other eight points excluding the detailed follow-up reference luminance. The luminance level value of the weighted maximum MAX value is stored in the RAM 12 as an automatic follow-up value, and the board recognition process is executed using the luminance level value of the maximum MAX value from the next recognition process of the printed board P.

なお、前述したように、同軸照明装置6及び第1リング照明装置8の基準輝度データに基づく照明がなされて、認識が正常と判断されて、選択されている照明がオプション照明、即ち第2リング照明装置10による照明かが判断された際に第2リング照明装置10による照明であると判断された場合には、図4に示すような制御がなされる。   As described above, the illumination based on the reference luminance data of the coaxial illumination device 6 and the first ring illumination device 8 is performed, the recognition is determined to be normal, and the selected illumination is the optional illumination, that is, the second ring. If it is determined that the illumination is performed by the second ring illumination device 10 when it is determined whether the illumination is performed by the illumination device 10, the control shown in FIG. 4 is performed.

即ち、選択されている照明がプリント基板Pがセラミック基板等の特殊な基板に対応するためのオプション照明である場合は、第2リング照明装置10による照明がなされ、図7に示すような基準輝度値を除く基準輝度値を中心としてそれぞれ20%ずつ増加減少させた8点の輝度レベル値で照明して基板認識処理を実行する。   That is, when the selected illumination is optional illumination for the printed circuit board P to correspond to a special substrate such as a ceramic substrate, illumination is performed by the second ring illumination device 10, and the reference luminance as shown in FIG. The board recognition process is executed by illuminating with the brightness level values of 8 points, each of which is increased or decreased by 20% around the reference brightness value excluding the value.

この場合、前記8点の各点に関して重み付けする。即ち、認識できない場合は0点(零点)とし、認識可能な場合には面積一致度とコントラストとから重み付けをし、具体的には(面積一致度×255+コントラスト)/2の計算をして点数を付ける。   In this case, each of the 8 points is weighted. In other words, when it cannot be recognized, it is set to 0 (zero point), and when it can be recognized, weighting is performed from the degree of area coincidence and contrast. Add.

そして、8点の重み付け点数が全て0点でなければ、8点の中で点数の最大MAX値を詳細追従基準輝度とし、図8に示すように、詳細追従基準輝度を中心に細かく輝度レベル値を使用して、基板認識処理を実行する。即ち、詳細追従基準輝度を中心として第2照明装置10の輝度レベル値を2%づつ増加減少させたもの8点を使用して基板認識処理を実行する。   If the eight weighting points are not all 0 points, the maximum MAX value of the points among the eight points is set as the detailed follow-up reference luminance, and as shown in FIG. Is used to execute the substrate recognition process. That is, the board recognition process is executed using eight points obtained by increasing and decreasing the brightness level value of the second illumination device 10 by 2% around the detailed follow-up reference brightness.

そして、8点の各点に重み付け(点数付け)をする。この重み付けの最大MAX値の輝度レベル値を自動追従値として、次回のプリント基板Pの認識処理の際からこの最大MAX値の輝度レベル値を使用して基板認識処理を実行する。   Then, each of the eight points is weighted (scored). Using the luminance level value of the weighted maximum MAX value as the automatic follow-up value, the board recognition process is executed using the luminance level value of the maximum MAX value from the next recognition process of the printed circuit board P.

なお、前述したように、選択された照明がオプション照明でなくて図5における範囲A内の24点の重み付け点数が全て0点の場合や、選択された照明がオプション照明で前記8点の重み付け点数が全て0点の場合には、CPU11はモニタ24に認識異常表示するように制御する。   As described above, when the selected illumination is not the optional illumination and the weighting points of 24 points in the range A in FIG. 5 are all 0 points, or the selected illumination is the optional illumination and the 8 points are weighted. When all the points are 0, the CPU 11 performs control so that the recognition abnormality is displayed on the monitor 24.

この場合、CPU11は電子部品装着装置の運転を停止して、目合わせモードに移行し、作業者は基準輝度データの変更や、各同軸照明装置6、第1及び第2リング照明装置8、10の調整などを行なう。   In this case, the CPU 11 stops the operation of the electronic component mounting apparatus and shifts to the alignment mode, and the operator changes the reference luminance data, and each coaxial illumination device 6, the first and second ring illumination devices 8, 10. Make adjustments.

以上のように本発明の実施態様について説明したが、上述の説明に基づいて当業者にとって種々の代替例、修正又は変形が可能であり、本発明はその趣旨を逸脱しない範囲で前述の種々の代替例、修正又は変形を包含するものである。   Although the embodiments of the present invention have been described above, various alternatives, modifications, and variations can be made by those skilled in the art based on the above description, and the present invention is not limited to the various embodiments described above without departing from the spirit of the present invention. It encompasses alternatives, modifications or variations.

基板認識カメラ装置の一部断面する側面図である。It is a side view which carries out a partial section of a substrate recognition camera device. 制御ブロック図である。It is a control block diagram. 基板認識における輝度レベル自動追従に係るフローチャート図である。It is a flowchart figure which concerns on the luminance level automatic tracking in board | substrate recognition. 同じく基板認識における輝度レベル自動追従に係るフローチャート図である。It is a flowchart figure similarly concerning the luminance level automatic tracking in board | substrate recognition. 標準照明が選択されている場合の粗追従例の輝度レベル値を示す図である。It is a figure which shows the luminance level value of the example of rough tracking in case standard illumination is selected. 標準照明が選択されている場合の詳細追従例の輝度レベル値を示す図である。It is a figure which shows the luminance level value of the detailed follow-up example when standard illumination is selected. オプション照明が選択されている場合の粗追従例の輝度レベル値を示す図である。It is a figure which shows the luminance level value of the example of rough tracking when option illumination is selected. オプション照明が選択されている場合の詳細追従例の輝度レベル値を示す図である。It is a figure which shows the luminance level value of the example of detailed follow-up when option illumination is selected.

符号の説明Explanation of symbols

2 基板認識カメラ
6 同軸照明装置
8 第1リング照明装置
10 第2リング照明装置
11 CPU
12 RAM
22 基板認識処理回路
P プリント基板

2 substrate recognition camera 6 coaxial illumination device 8 first ring illumination device 10 second ring illumination device 11 CPU
12 RAM
22 PCB recognition processing circuit P Printed circuit board

Claims (5)

プリント基板に付された位置決めマークを照明装置が照明して基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法において、
前記照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする基板認識処理方法。
In the substrate recognition processing method in which the illumination device illuminates the positioning mark attached to the printed circuit board and the substrate recognition camera captures an image, and the captured image is recognized by the substrate recognition processing device.
The substrate recognition processing device performs recognition processing on an image captured by the substrate recognition camera in a state where the illumination device is illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data,
When this recognition process is abnormal, illumination is performed based on the plurality of first luminance data increased or decreased with the reference luminance data as a center, and imaging and recognition processing are performed.
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data ,
Illumination, imaging, and recognition processing are performed based on a plurality of second luminance data that are increased or decreased around the first best luminance data selected based on the weighted result ,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A substrate recognition processing method, wherein a subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result .
プリント基板に付された位置決めマークを照明装置が照明して基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法において、
前記照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として所定の第1増減率で増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として前記第1増減率より小さい第2増減率で増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする基板認識処理方法。
In the substrate recognition processing method in which the illumination device illuminates the positioning mark attached to the printed circuit board and the substrate recognition camera captures an image, and the captured image is recognized by the substrate recognition processing device.
The substrate recognition processing device performs recognition processing on an image captured by the substrate recognition camera in a state where the illumination device is illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data ,
If this recognition process is abnormal, the image is illuminated, imaged and recognized based on a plurality of first luminance data increased or decreased at a predetermined first increase / decrease rate with the reference luminance data as the center,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data ,
Illuminating, imaging, and recognizing processing based on a plurality of second luminance data that are increased or decreased at a second increase / decrease rate smaller than the first increase / decrease rate with the first best luminance data selected based on the weighted result as a center,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A substrate recognition processing method, wherein a subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result .
プリント基板に付された位置決めマークを撮像する基板認識カメラの下方の筒内にハーフミラーを配設し、このハーフミラーの側方の前記筒の周囲には同軸照明装置を設けると共に前記ハーフミラーの下方における前記筒内には複数のリング照明装置を設け、前記位置決めマークを前記同軸照明装置及びリング照明装置が照明して前記基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法であって
前記同軸照明装置及びリング照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする基板認識処理方法。
A half mirror is disposed in a cylinder below the board recognition camera that images the positioning mark attached to the printed circuit board, and a coaxial illumination device is provided around the cylinder on the side of the half mirror, and the half mirror A plurality of ring illumination devices are provided in the cylinder at the lower side, the coaxial illumination device and the ring illumination device illuminate the positioning mark, and the substrate recognition camera captures an image, and the substrate recognition processing device captures the captured image. A substrate recognition processing method for performing recognition processing ,
The substrate recognition processing device recognizes the image captured by the substrate recognition camera in a state where the coaxial illumination device and the ring illumination device are illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data,
When this recognition process is abnormal, illumination is performed based on the plurality of first luminance data increased or decreased with the reference luminance data as a center, and imaging and recognition processing are performed.
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Illumination, imaging, and recognition processing are performed based on a plurality of second luminance data that are increased or decreased around the first best luminance data selected based on the weighted result,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A substrate recognition processing method, wherein a subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result.
プリント基板に付された位置決めマークを撮像する基板認識カメラの下方の筒内にハーフミラーを配設し、このハーフミラーの側方の前記筒の周囲には同軸照明装置を設けると共に前記ハーフミラーの下方における前記筒内には複数のリング照明装置を設け、前記位置決めマークを前記同軸照明装置及びリング照明装置が照明して前記基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法であって
前記同軸照明装置及びリング照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
前記リング照明装置による照明が暗い方が良いか否かを判断し、
暗い方が良いと判断した場合には前記リング照明装置を消した状態で前記同軸照明装置のみで前記複数の第1輝度データに基づいて照明して撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする基板認識処理方法。
A half mirror is disposed in a cylinder below the board recognition camera that images the positioning mark attached to the printed circuit board, and a coaxial illumination device is provided around the cylinder on the side of the half mirror, and the half mirror A plurality of ring illumination devices are provided in the cylinder at the lower side, the coaxial illumination device and the ring illumination device illuminate the positioning mark, and the substrate recognition camera captures an image, and the substrate recognition processing device captures the captured image. A substrate recognition processing method for performing recognition processing ,
The substrate recognition processing device recognizes the image captured by the substrate recognition camera in a state where the coaxial illumination device and the ring illumination device are illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data,
When this recognition process is abnormal, illumination is performed based on the plurality of first luminance data increased or decreased with the reference luminance data as a center, and imaging and recognition processing are performed.
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Determine whether the illumination by the ring illumination device should be dark,
When it is determined that the darker one is better, the ring illumination device is turned off and illuminated with only the coaxial illumination device based on the plurality of first luminance data, imaged and recognized,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Illumination, imaging, and recognition processing are performed based on a plurality of second luminance data that are increased or decreased around the first best luminance data selected based on the weighted result,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A substrate recognition processing method, wherein a subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result.
プリント基板に付された位置決めマークを撮像する基板認識カメラの下方の筒内にハーフミラーを配設し、このハーフミラーの側方の前記筒の周囲には同軸照明装置を設けると共に前記ハーフミラーの下方における前記筒内には複数のリング照明装置を設け、前記位置決めマークを前記同軸照明装置及びリング照明装置が照明して前記基板認識カメラが撮像し、この撮像された画像を基板認識処理装置が認識処理する基板認識処理方法であって、
前記同軸照明装置及びリング照明装置が基準輝度データに基づいた所定の明るさとなるように照明した状態で前記基板認識カメラが撮像した画像を前記基板認識処理装置が認識処理し、
この認識処理が異常である場合には前記基準輝度データを中心として増減させた複数の第1輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
前記同軸照明装置による照明が暗い方が良いか否かを判断し、
暗い方が良いと判断した場合には前記同軸照明装置を消した状態で前記リング照明装置のみで前記複数の第1輝度データに基づいて照明して撮像し認識処理し、
この複数の第1輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第1最良輝度データを中心として増減させた複数の第2輝度データに基づいて照明し撮像し認識処理し、
この複数の第2輝度データ毎の認識処理結果を重み付けし、
この重み付けされた結果に基づき選ばれた第2最良輝度データに基づいて以後のプリント基板の認識処理をすることを特徴とする基板認識処理方法。
A half mirror is disposed in a cylinder below the board recognition camera that images the positioning mark attached to the printed circuit board, and a coaxial illumination device is provided around the cylinder on the side of the half mirror, and the half mirror A plurality of ring illumination devices are provided in the cylinder at the lower side, the coaxial illumination device and the ring illumination device illuminate the positioning mark, and the substrate recognition camera captures an image, and the substrate recognition processing device captures the captured image. A substrate recognition processing method for performing recognition processing,
The substrate recognition processing device recognizes the image captured by the substrate recognition camera in a state where the coaxial illumination device and the ring illumination device are illuminated so as to have a predetermined brightness based on reference luminance data,
When this recognition process is abnormal, illumination is performed based on the plurality of first luminance data increased or decreased with the reference luminance data as a center, and imaging and recognition processing are performed.
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Determine whether the illumination by the coaxial illumination device should be dark,
If it is determined that the darker one is better, the coaxial illumination device is turned off and only the ring illumination device is illuminated and imaged based on the plurality of first luminance data for recognition processing,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of first luminance data,
Illumination, imaging, and recognition processing are performed based on a plurality of second luminance data that are increased or decreased around the first best luminance data selected based on the weighted result,
Weighting the recognition processing results for each of the plurality of second luminance data,
A substrate recognition processing method, wherein a subsequent printed circuit board recognition process is performed based on the second best luminance data selected based on the weighted result.
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