JP4620015B2 - Plasma generating apparatus and work processing apparatus using the same - Google Patents

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    • H01J37/32449Gas control, e.g. control of the gas flow

Description

本発明は、基板等の被処理ワークなどに対してプラズマを照射することで、前記ワークの表面の清浄化や改質などを図ることが可能なプラズマ発生装置およびそれを用いるワーク処理装置に関する。   The present invention relates to a plasma generator capable of purifying or modifying the surface of a workpiece by irradiating plasma on a workpiece to be processed such as a substrate, and a workpiece processing apparatus using the plasma generator.

たとえば半導体基板等の被処理ワークに対してプラズマを照射し、その表面の有機汚染物の除去、表面改質、エッチング、薄膜形成または薄膜除去等を行うワーク処理装置が知られている。たとえば特許文献1には、同心状の内側電極と外側電極とを有するプラズマ発生ノズルを用い、両電極間に高周波のパルス電界を印加することで、アーク放電ではなく、グロー放電を生じさせてプラズマを発生させ、ガス供給源からの処理ガスを両導電体間で旋回させながら基端側から遊端側へ向かわせることで高密度なプラズマを生成し、前記遊端に取付けられたノズルから被処理ワークに放射することで、常圧下で高密度なプラズマを得ることができるプラズマ処理装置が開示されている。   For example, there is known a workpiece processing apparatus that irradiates a workpiece to be processed such as a semiconductor substrate with plasma and removes organic contaminants on the surface, surface modification, etching, thin film formation, or thin film removal. For example, in Patent Document 1, a plasma generating nozzle having concentric inner and outer electrodes is used, and a high-frequency pulse electric field is applied between both electrodes, thereby generating glow discharge instead of arc discharge. A high-density plasma is generated by rotating the processing gas from the gas supply source from the base end side to the free end side while swirling between the two conductors, and is covered by the nozzle attached to the free end. There has been disclosed a plasma processing apparatus capable of obtaining a high-density plasma under normal pressure by irradiating a processing work.

上述の従来技術のプラズマ発生ノズルは、常圧下で高密度なプラズマを発生させることができるプラズマ発生に適した形状ではあるけれども、大面積のワークや複数の被処理ワークを纏めて処理するには適していないという問題がある。すなわち、幅広のワークの所望の照射位置までプラズマが到達した時点では、該プラズマが冷却されて消滅する割合が高くなり、前記大面積にプラズマ照射を行うためには、ノズル径を大径に形成しなければならない。そうなると、より高い電界のマイクロ波を発生させなければならず、コストが嵩むとともに、プラズマ発生に伴う騒音が大きくなるという問題がある。また、その大径のノズル内で前記グロー放電にばらつきが生じ、制御が困難になるという問題もある。   Although the above-described conventional plasma generating nozzle has a shape suitable for generating plasma capable of generating high-density plasma under normal pressure, it is necessary to process a large-area workpiece or a plurality of workpieces collectively. There is a problem that it is not suitable. In other words, when the plasma reaches the desired irradiation position of the wide workpiece, the rate of the plasma being cooled and extinguished increases, and in order to perform plasma irradiation over the large area, the nozzle diameter is made large. Must. If so, there is a problem in that microwaves with a higher electric field must be generated, which increases costs and increases noise associated with plasma generation. There is also a problem that the glow discharge varies within the large-diameter nozzle, making control difficult.

これに対して、特許文献2には、相互に平行に配置した帯状の電極の内、一方を電界印加電極とし、他方を接地電極とし、それらの間の側部を囲んで形成したプラズマ発生空間内に処理ガスを供給することでプラズマ化した処理ガスを発生させ、前記接地電極の長手方向に形成したスリット状の吹出し口からワークに照射するようにしたプラズマ処理装置が開示されている。この従来技術によれば、プラズマがスリット状の吹出し口から放射され、広範囲へのプラズマ照射が可能になる。
特開2003−197397号公報 特開2004−6211号公報
On the other hand, Patent Document 2 discloses a plasma generation space formed by surrounding one side of the strip-like electrodes arranged in parallel to each other as an electric field application electrode and the other as a ground electrode. There is disclosed a plasma processing apparatus in which a processing gas is generated by supplying a processing gas into the plasma, and a workpiece is irradiated from a slit-shaped outlet formed in the longitudinal direction of the ground electrode. According to this prior art, plasma is radiated from the slit-shaped outlet, and plasma irradiation over a wide range becomes possible.
JP 2003-197397 A Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-6221

上述の特許文献2の従来技術では、プラズマ化した処理ガスは、比較的一様かつ広範囲に照射できる可能性があるものの、平行平板の電極でグロー放電させるので、高電圧が必要になり、高価であるとともに、放電が安定しないという問題がある。また、局所的なアーク放電も生じ易く、それを抑えるために少なくとも一方の電極に誘電体を被せたりする必要があり、一層高電圧が必要になる。したがって、プラズマの発生には、前記特許文献1の方が優れている。   In the above-described prior art disclosed in Patent Document 2, plasma processing gas may be irradiated relatively uniformly and over a wide range. However, since glow discharge is caused by parallel plate electrodes, a high voltage is required and expensive. In addition, there is a problem that the discharge is not stable. Also, local arc discharge is likely to occur, and in order to suppress it, it is necessary to cover at least one of the electrodes with a dielectric, and a higher voltage is required. Therefore, Patent Document 1 is superior in generating plasma.

本発明の目的は、同心状の内側電極と外側電極とを有し、低コストで制御が容易なプラズマ発生ノズルを用いても、幅広のワークに対して均等なプラズマ照射を行うことができるプラズマ発生装置およびそれを用いるワーク処理装置を提供することである。   An object of the present invention is to provide a plasma that has a concentric inner electrode and outer electrode, and can perform uniform plasma irradiation on a wide workpiece even when using a low-cost and easy-to-control plasma generating nozzle. It is an object of the present invention to provide a generator and a work processing apparatus using the same.

発明のプラズマ発生装置は、マイクロ波を発生するマイクロ波発生手段と、前記マイクロ波を伝搬する導波管と、前記マイクロ波を受信し、そのマイクロ波のエネルギーに基づきプラズマ化したガスを生成して放出するプラズマ発生ノズルが前記導波管に取付けられて成るプラズマ発生部とを備えて構成されるプラズマ発生装置において、前記プラズマ発生ノズルは前記導波管に複数個配列して取付けられ、かつ各プラズマ発生ノズルは同心状に配置される内側電極と外側電極との間にグロー放電を生じさせてプラズマを発生させ、それらの間に処理ガスを供給することで、環状の吹出し口から常圧下でプラズマ化したガスを放射するように構成され、前記プラズマ発生ノズルの先端に装着され、前記環状の吹出し口を長手状の吹出し口に変換するアダプタを含むことを特徴とする。 The plasma generator of the present invention is a microwave generator that generates microwaves, a waveguide that propagates the microwaves, receives the microwaves, and generates plasma gas based on the energy of the microwaves. And a plasma generating device configured to include a plasma generating nozzle that is attached to the waveguide, and a plurality of the plasma generating nozzles are arranged and attached to the waveguide. Each plasma generating nozzle generates a glow discharge between the inner electrode and the outer electrode arranged concentrically to generate a plasma, and a processing gas is supplied between them, so that the plasma nozzle is normally supplied from an annular outlet. pressure is configured to emit plasma gas in said mounted to the distal end of each plasma generating nozzles, elongate the air outlet of the annular air outlet Characterized in that it comprises an adapter to convert.

上記の構成によれば、基板の改質等、ワークの処理などに使用することができるプラズマ発生装置において、前記プラズマ発生ノズルが、同心状に配置される内側電極と外側電極との間にグロー放電を生じさせてプラズマを発生させ、それらの間に処理ガスを供給することで、環状の吹出し口から常圧下でプラズマ化したガスを放射するプラズマ発生に適した形状に構成され、さらにマイクロ波の伝播に導波管が使用されてその導波管に複数の前記プラズマ発生ノズルが配列される場合、そのプラズマ発生ノズルの先端に、前記環状の吹出し口を長手状の吹出し口に変換するアダプタを装着する。 According to the above configuration, in the plasma generating apparatus that can be used for workpiece processing such as substrate modification, the plasma generating nozzle is formed between the inner electrode and the outer electrode arranged concentrically. A discharge is generated to generate plasma, and a processing gas is supplied between them to form a shape suitable for plasma generation that emits plasma gas from an annular outlet under normal pressure. When a waveguide is used for propagation and a plurality of the plasma generating nozzles are arranged in the waveguide, the annular outlet is converted into a longitudinal outlet at the tip of each plasma generating nozzle. Attach the adapter.

したがって、幅広のワークの所望の照射位置まで、プラズマが吹出し口から直接到達する場合は該プラズマが冷却されて消滅する割合が高いのに対して、アダプタを装着することで、同じ行路長であっても、該アダプタ内の行路ではプラズマが冷却されにくく、照射位置直近の開口部分から出て、実際に照射位置に到達するまでの僅かな行路でだけ冷却されることになり、照射位置がノズルから離れていてもプラズマが消失する割合が小さくなる。これによって、むやみに大きなプラズマ発生ノズルを用いることなく、低コストで制御が容易な小径のプラズマ発生ノズルを用いても、前記幅広のワークに対して均等なプラズマ照射を行うことができる。   Therefore, when the plasma reaches the desired irradiation position of a wide workpiece directly from the outlet, the rate of the plasma being cooled and extinguished is high. However, it is difficult for the plasma in the path in the adapter to be cooled, and it is cooled only in a slight path from the opening portion near the irradiation position until it actually reaches the irradiation position. The rate at which the plasma disappears becomes small even if it is away from the center. Accordingly, even if a small-sized plasma generating nozzle that is easy to control at low cost is used without using an unnecessarily large plasma generating nozzle, uniform plasma irradiation can be performed on the wide workpiece.

さらに、導波管に複数のプラズマ発生ノズルを配列するにあたって、各プラズマ発生ノズルに対応するアダプタを、該プラズマ発生ノズルの配列方向に対して所定の角度だけ傾斜して取付けることで、前記長手状の吹出し口の長手方向の端部から吹出されたプラズマが、隣接するアダプタ間で相互に衝突しないようにすることができ、その端部付近でのプラズマ密度の低下を抑えることができる。 Furthermore, when arranging a plurality of plasma generating nozzles to the waveguide, the adapter corresponding to each plasma generating nozzle, to attach to only tilted obliquely's predetermined angle with respect to the arrangement direction of the plasma generation nozzles, the It is possible to prevent the plasma blown out from the end portion in the longitudinal direction of the long outlet from colliding with each other between adjacent adapters, and to suppress the decrease in plasma density in the vicinity of the end portion.

或いは、相互に平行に導波管に複数列でプラズマ発生ノズルを配列する(相互に平行な複数の導波管にプラズマ発生ノズルが一直線上に取付けられる場合、或いは1本の導波管にプラズマ発生ノズルが複数列取付けられる場合のいずれでもよい)にあたって、前記プラズマ発生ノズルを前記列方向とは直交方向から見て前記列方向に相互に間隔を開けて配列し(たとえばプラズマ発生ノズルが2列の場合、平面視で千鳥状に配列されることになる)、これに対応して前記各プラズマ発生ノズルに対応するアダプタを、その長手方向が前記列方向と略平行に取付けることで、前記長手状の吹出し口の長手方向の端部から吹出されたプラズマが、隣接するアダプタ間で相互に衝突しないようにすることができ、その端部付近でのプラズマ密度の低下を抑えることができる。 Alternatively , the plasma generating nozzles are arranged in a plurality of rows in the waveguide in parallel with each other (if the plasma generating nozzles are mounted in a straight line on the plurality of waveguides parallel to each other, or the plasma is generated in one waveguide. When the generation nozzles are mounted in a plurality of rows), the plasma generation nozzles are arranged at intervals in the row direction when viewed from the direction orthogonal to the row direction (for example, two rows of plasma generation nozzles) In this case, they are arranged in a staggered pattern in plan view), and correspondingly, the adapter corresponding to each of the plasma generating nozzles is attached so that the longitudinal direction thereof is substantially parallel to the row direction, so that the longitudinal It is possible to prevent plasma blown out from the longitudinal end of the air outlet from colliding with each other between adjacent adapters, and reducing the plasma density in the vicinity of the end. It can be suppressed.

また、導波管に複数のプラズマ発生ノズルを配列するにあたって、一直線上に配列される場合に、各プラズマ発生ノズルに対応するアダプタを、前記長手状の吹出し口が、前記一直線と略平行に、かつ隣接するノズル間で交互に前記一直線とは直交方向にずれて配列されるようにたとえば、前記環状の吹出し口の中心からずれて長手状の吹出し口を形成したアダプタを、交互に180°ずつ回転させてプラズマ発生ノズルに取付けることで、前記長手状の吹出し口の長手方向の端部から吹出されたプラズマが、隣接するアダプタ間で相互に衝突しないようにすることができ、その端部付近でのプラズマ密度の低下を抑えることができる。 Or, when arranging a plurality of plasma generating nozzles to the waveguide, when arranged in a straight line, the adapter corresponding to the respective plasma generating nozzles, the longitudinal-shaped air outlet is, the straight line substantially parallel to and as the said straight line alternately between adjacent nozzles are sequence shifted in the orthogonal direction, for example, an adapter to form a longitudinal-shaped air outlet offset from the center of the annular air outlet, alternately By rotating it by 180 ° and attaching it to the plasma generating nozzle, it is possible to prevent the plasma blown out from the longitudinal end of the long blowout port from colliding with each other between adjacent adapters. A decrease in plasma density near the end can be suppressed.

さらにまた、本発明のプラズマ発生装置は、隣接するアダプタの長手方向の端部が、前記プラズマ発生ノズルの配列方向とは直交方向から見て重なり合っていることを特徴とする。 Furthermore, the plasma generator of the present invention is characterized in that end portions in the longitudinal direction of adjacent adapters overlap each other when viewed from a direction orthogonal to the arrangement direction of the plasma generating nozzles.

上記の構成によれば、相対的にプラズマ密度が低くなる前記長手状の吹出し口の長手方向の端部を前記プラズマ発生ノズルの配列方向とは直交方向から見てオーバーラップさせておく(重なり合わせておく)ことで、前記プラズマ発生ノズルの配列方向に亘って、プラズマ密度を略均一にすることができる。 According to said structure, the longitudinal direction edge part of the said longitudinal blower outlet in which a plasma density becomes relatively low is overlapped seeing from the direction orthogonal to the arrangement direction of the said plasma generation nozzle (overlapping). Thus , the plasma density can be made substantially uniform over the direction of arrangement of the plasma generating nozzles.

また、本発明のプラズマ発生装置では、前記長手状の吹出し口は、該吹出し口の中心から外方へ向うにつれて、開口面積が段階的または連続的に拡大形成されていることを特徴とする。 In the plasma generator of the present invention, the elongated blower outlet is formed such that the opening area is enlarged stepwise or continuously as it goes outward from the center of the blower outlet.

上記の構成によれば、前記の長手状の吹出し口において、該吹出し口の中心から外方へ向うにつれて前記プラズマの勢い(吹出しの圧力、すなわち流速(単位時間当りの流量))が衰え、また温度も低下するので、該長手状の吹出し口が、単に一定の幅に形成されているのではなく、開口面積が段階的または連続的に拡大形成されることで、前記長手状の吹出し口の外方側程、吹出されるプラズマの量が多くなり、前記長手状の吹出し口の全長に亘って、より一層均等なプラズマ照射を行うことができる。 According to the above-described configuration, the momentum of the plasma (the pressure of the blowout, that is, the flow velocity (flow rate per unit time)) decreases from the center of the blowout port toward the outside in the longitudinal blowout port. Since the temperature also decreases, the longitudinal outlet is not simply formed to have a constant width, but the opening area is formed to be enlarged stepwise or continuously, so that the longitudinal outlet of the longitudinal outlet is increased. The amount of plasma to be blown out increases toward the outer side, and more uniform plasma irradiation can be performed over the entire length of the longitudinal blowout port.

さらにまた、本発明のワーク処理装置は、前記のプラズマ発生装置に、所定の搬送方向にワークを搬送する搬送手段を備えて成ることを特徴とする。   Furthermore, the workpiece processing apparatus of the present invention is characterized in that the plasma generating apparatus is provided with a conveying means for conveying the workpiece in a predetermined conveying direction.

上記の構成によれば、むやみに大きなプラズマ発生ノズルを用いることなく、低コストで制御が容易な小径のプラズマ発生ノズルを用いても、幅広のワークに対して均等なプラズマ照射を行うことができるワーク処理装置を実現することができる。   According to the above configuration, even with a small-sized plasma generating nozzle that is easy to control at low cost without using a large plasma generating nozzle, it is possible to perform uniform plasma irradiation on a wide workpiece. A work processing apparatus can be realized.

発明のプラズマ発生装置は、以上のように、基板の改質等、ワークの処理などに使用することができるプラズマ発生装置において、プラズマ発生ノズルが、同心状に配置される内側電極と外側電極との間にグロー放電を生じさせてプラズマを発生させ、それらの間に処理ガスを供給することで、環状の吹出し口から常圧下でプラズマ化したガスを放射するプラズマ発生に適した形状に構成され、さらにマイクロ波の伝播に導波管が使用されてその導波管に複数の前記プラズマ発生ノズルが配列される場合、そのプラズマ発生ノズルの先端に、前記環状の吹出し口を長手状の吹出し口に変換するアダプタを装着する。 As described above, the plasma generator according to the present invention is a plasma generator that can be used for processing of a workpiece such as substrate modification, and the inner electrode and the outer electrode in which the plasma generating nozzles are arranged concentrically. Glow discharge is generated between them and plasma is generated, and a processing gas is supplied between them to form a shape suitable for generating plasma that emits plasma gas from the annular outlet under normal pressure. Further, when a waveguide is used for the propagation of microwaves and a plurality of the plasma generation nozzles are arranged in the waveguide, the annular blowout port is formed in a longitudinal shape at the tip of each plasma generation nozzle. Attach an adapter to convert the outlet.

それゆえ、むやみに大きなプラズマ発生ノズルを用いることなく、低コストで制御が容易な小径のプラズマ発生ノズルを用いても、前記幅広のワークに対して均等なプラズマ照射を行うことができる。   Therefore, even if a small-sized plasma generating nozzle that is easy to control at low cost is used without using an unnecessarily large plasma generating nozzle, uniform plasma irradiation can be performed on the wide workpiece.

さらにまた、本発明のワーク処理装置は、以上のように、前記のプラズマ発生装置に、所定の搬送方向にワークを搬送する搬送手段を備えて成る。   Furthermore, as described above, the workpiece processing apparatus of the present invention is provided with a transfer means for transferring the workpiece in a predetermined transfer direction in the plasma generator.

それゆえ、むやみに大きなプラズマ発生ノズルを用いることなく、低コストで制御が容易な小径のプラズマ発生ノズルを用いても、幅広のワークに対して均等なプラズマ照射を行うことができるワーク処理装置を実現することができる。   Therefore, there is provided a workpiece processing apparatus capable of performing uniform plasma irradiation on a wide workpiece without using an excessively large plasma generating nozzle and using a small diameter plasma generating nozzle that is easy to control at low cost. Can be realized.

[実施の形態1]
図1は、本発明の実施の一形態に係るワーク処理装置Sの全体構成を示す斜視図である。このワーク処理装置Sは、プラズマを発生し被処理物となるワークWに前記プラズマを照射するプラズマ発生ユニットPU(プラズマ発生装置)と、ワークWを前記プラズマの照射領域を経由する所定のルートで搬送する搬送手段Cとから構成されている。図2は、図1とは視線方向を異ならせたプラズマ発生ユニットPUの斜視図、図3は一部透視側面図である。なお、図1〜図3において、X−X方向を前後方向、Y−Y方向を左右方向、Z−Z方向を上下方向というものとし、−X方向を前方向、+X方向を後方向、−Yを左方向、+Y方向を右方向、−Z方向を下方向、+Z方向を上方向として説明する。
[Embodiment 1]
FIG. 1 is a perspective view showing an overall configuration of a work processing apparatus S according to an embodiment of the present invention. The workpiece processing apparatus S includes a plasma generation unit PU (plasma generation apparatus) that generates plasma and irradiates the workpiece W, which is an object to be processed, with the plasma, and a predetermined route that passes the workpiece W through the plasma irradiation region. It is comprised from the conveyance means C which conveys. FIG. 2 is a perspective view of the plasma generation unit PU having a different line-of-sight direction from FIG. 1, and FIG. 3 is a partially transparent side view. 1 to 3, the XX direction is the front-rear direction, the Y-Y direction is the left-right direction, the ZZ direction is the up-down direction, the -X direction is the front direction, the + X direction is the rear direction,- Y will be described as a left direction, + Y direction as a right direction, -Z direction as a downward direction, and + Z direction as an upward direction.

プラズマ発生ユニットPUは、マイクロ波を利用し、常温常圧でのプラズマ発生が可能なユニットであって、大略的に、マイクロ波を伝搬させる導波管10、この導波管10の一端側(左側)に配置され所定波長のマイクロ波を発生するマイクロ波発生装置20、導波管10に設けられたプラズマ発生部30、導波管10の他端側(右側)に配置されマイクロ波を反射させるスライディングショート40、導波管10に放出されたマイクロ波のうち反射マイクロ波がマイクロ波発生装置20に戻らないよう分離するサーキュレータ50、サーキュレータ50で分離された反射マイクロ波を吸収するダミーロード60および導波管10とプラズマ発生ノズル31とのインピーダンス整合を図るスタブチューナ70を備えて構成されている。また搬送手段Cは、図略の駆動手段により回転駆動される搬送ローラ80を含んで構成されている。本実施形態では、平板状のワークWが搬送手段Cにより搬送される例を示している。   The plasma generation unit PU is a unit capable of generating plasma at normal temperature and pressure using microwaves. In general, the waveguide 10 propagates microwaves, and one end side of the waveguide 10 ( Microwave generator 20 arranged on the left side to generate microwaves of a predetermined wavelength, plasma generator 30 provided on waveguide 10, and arranged on the other end side (right side) of waveguide 10 to reflect microwaves The sliding short 40 to be performed, the circulator 50 for separating the reflected microwaves from the microwaves emitted to the waveguide 10 so as not to return to the microwave generator 20, and the dummy load 60 for absorbing the reflected microwaves separated by the circulator 50. In addition, a stub tuner 70 for matching impedance between the waveguide 10 and the plasma generation nozzle 31 is provided. The conveying means C includes a conveying roller 80 that is rotationally driven by a driving means (not shown). In the present embodiment, an example in which a flat workpiece W is conveyed by the conveying means C is shown.

導波管10は、アルミニウム等の非磁性金属から成り、断面矩形の長尺管状を呈し、マイクロ波発生装置20により発生されたマイクロ波をプラズマ発生部30へ向けて、その長手方向に伝搬させるものである。導波管10は、分割された複数の導波管ピースが互いのフランジ部同士で連結された連結体で構成されており、一端側から順に、マイクロ波発生装置20が搭載される第1導波管ピース11、スタブチューナ70が組付けられる第2導波管ピース12およびプラズマ発生部30が設けられている第3導波管ピース13が連結されて成る。なお、第1導波管ピース11と第2導波管ピース12との間にはサーキュレータ50が介在され、第3導波管ピース13の他端側にはスライディングショート40が連結されている。   The waveguide 10 is made of a nonmagnetic metal such as aluminum, has a long tubular shape with a rectangular cross section, and propagates the microwave generated by the microwave generator 20 toward the plasma generator 30 in the longitudinal direction thereof. Is. The waveguide 10 is composed of a connected body in which a plurality of divided waveguide pieces are connected to each other by flange portions, and the first conductor on which the microwave generator 20 is mounted in order from one end side. The wave tube piece 11, the second waveguide piece 12 to which the stub tuner 70 is assembled, and the third waveguide piece 13 provided with the plasma generator 30 are connected. A circulator 50 is interposed between the first waveguide piece 11 and the second waveguide piece 12, and a sliding short 40 is connected to the other end side of the third waveguide piece 13.

また、第1導波管ピース11、第2導波管ピース12および第3導波管ピース13は、それぞれ金属平板からなる上面板、下面板および2枚の側面板を用いて、角筒状に組立てられ、その両端にフランジ板が取付けられて構成されている。なお、このような平板の組み立てによらず、押出し成形や板状部材の折り曲げ加工等により形成された矩形導波管ピースもしくは非分割型の導波管を用いるようにしてもよい。また、非磁性金属に限らず、導波作用を有する各種の部材で導波管を構成することができる。   The first waveguide piece 11, the second waveguide piece 12 and the third waveguide piece 13 are each formed in a rectangular tube shape using an upper plate, a lower plate and two side plates made of a metal flat plate, respectively. And flange plates are attached to both ends thereof. In addition, you may make it use the rectangular waveguide piece formed by extrusion molding, the bending process of a plate-shaped member, etc., or a non-dividing type | mold waveguide irrespective of the assembly of such a flat plate. Further, not only a nonmagnetic metal but also a waveguide can be constituted by various members having a waveguide action.

マイクロ波発生装置20は、たとえば2.45GHzのマイクロ波を発生するマグネトロン等のマイクロ波発生源を具備する装置本体部21と、装置本体部21で発生されたマイクロ波を導波管10の内部へ放出するマイクロ波送信アンテナ22とを備えて構成されている。本実施形態に係るプラズマ発生ユニットPUでは、たとえば1W〜3kWのマイクロ波エネルギーを出力できる連続可変型のマイクロ波発生装置20が好適に用いられる。   The microwave generator 20 includes, for example, an apparatus main body portion 21 including a microwave generation source such as a magnetron that generates a microwave of 2.45 GHz, and the microwave generated by the apparatus main body portion 21 inside the waveguide 10. And a microwave transmission antenna 22 that emits light to the outside. In the plasma generation unit PU according to the present embodiment, for example, a continuously variable microwave generator 20 that can output microwave energy of 1 W to 3 kW is preferably used.

図3に示すように、マイクロ波発生装置20は、装置本体部21からマイクロ波送信アンテナ22が突設された形態のものであり、第1導波管ピース11に載置される態様で固定されている。詳しくは、装置本体部21が第1導波管ピース11の上面板11Uに載置され、マイクロ波送信アンテナ22が上面板11Uに穿設された貫通孔111を通して第1導波管ピース11内部の導波空間110に突出する態様で固定されている。このように構成されることで、マイクロ波送信アンテナ22から放出された、たとえば2.45GHzのマイクロ波は、導波管10により、その一端側(左側)から他端側(右側)に向けて伝搬される。   As shown in FIG. 3, the microwave generation device 20 has a configuration in which a microwave transmission antenna 22 protrudes from the device main body 21, and is fixed in a mode of being placed on the first waveguide piece 11. Has been. Specifically, the apparatus main body 21 is placed on the upper surface plate 11U of the first waveguide piece 11, and the microwave transmitting antenna 22 is inside the first waveguide piece 11 through the through hole 111 formed in the upper surface plate 11U. The waveguide space 110 is fixed so as to protrude. With this configuration, the microwave of 2.45 GHz, for example, emitted from the microwave transmission antenna 22 is directed from one end side (left side) to the other end side (right side) by the waveguide 10. Propagated.

プラズマ発生部30は、第3導波管ピース13の下面板13B(処理対象ワークとの対向面)に、マイクロ波の伝搬方向(左右方向)に相互に間隔を開けて配列された複数のプラズマ発生ノズル31を具備して構成されている。このプラズマ発生部30の幅員、つまり8個のプラズマ発生ノズル31の左右方向の配列幅は、平板状ワークWの搬送方向と直交する幅方向のサイズtと略合致する幅員とされている。これにより、ワークWを搬送ローラ80で搬送しながら、ワークWの全表面(下面板13Bと対向する面)に対してプラズマ処理が行えるようになっている。なお、プラズマ発生ノズル31の配列間隔は、導波管10内を伝搬させるマイクロ波の波長λに応じて定めることが望ましい。たとえば、波長λの1/2ピッチ、1/4ピッチでプラズマ発生ノズル31を配列することが望ましく、2.45GHzのマイクロ波を用いる場合は、λ=230mmであるので、115mm(λ/2)ピッチ、或いは57.5mm(λ/4)ピッチでプラズマ発生ノズル31を配列すればよい。 The plasma generating unit 30 includes a plurality of plasmas arranged on the lower surface plate 13B of the third waveguide piece 13 (a surface facing the workpiece to be processed) spaced apart from each other in the microwave propagation direction (left-right direction). A generation nozzle 31 is provided. The width of the plasma generation unit 30, that is, the arrangement width in the left-right direction of the eight plasma generation nozzles 31 is a width that substantially matches the size t in the width direction orthogonal to the conveying direction of the flat workpiece W. Thereby, the plasma processing can be performed on the entire surface of the workpiece W (the surface facing the lower surface plate 13B) while the workpiece W is being conveyed by the conveying roller 80. Note that it is desirable that the arrangement interval of the plasma generating nozzles 31 is determined according to the wavelength λ G of the microwave propagating in the waveguide 10. For example, it is desirable to arrange the plasma generating nozzles 31 at a ½ pitch and a ¼ pitch of the wavelength λ G. When a microwave of 2.45 GHz is used, since λ G = 230 mm, 115 mm (λ G / 2) The plasma generating nozzles 31 may be arranged at a pitch or 57.5 mm (λ G / 4) pitch.

スライディングショート40は、各々のプラズマ発生ノズル31に備えられている中心導電体32と、導波管10の内部を伝搬されるマイクロ波との結合状態を最適化するために備えられているもので、マイクロ波の反射位置を変化させて定在波パターンを調整可能とするべく第3導波管ピース13の右側端部に連結されている。したがって、定在波を利用しない場合は、当該スライディングショート40に代えて、電波吸収作用を有するダミーロードが取付けられる。このスライディングショート40は、たとえば内部に円柱状の反射ブロックを備えて成り、その反射ブロックを左右方向に摺動することで、導波管10内での定在波パターンを最適化する。   The sliding short 40 is provided for optimizing the coupling state between the central conductor 32 provided in each plasma generation nozzle 31 and the microwave propagated inside the waveguide 10. The third wave guide piece 13 is connected to the right end of the third waveguide piece 13 so that the standing wave pattern can be adjusted by changing the microwave reflection position. Therefore, when a standing wave is not used, a dummy load having a radio wave absorption function is attached instead of the sliding short 40. The sliding short 40 includes, for example, a cylindrical reflection block inside, and the standing wave pattern in the waveguide 10 is optimized by sliding the reflection block in the left-right direction.

サーキュレータ50は、たとえばフェライト柱を内蔵する導波管型の3ポートサーキュレータからなり、一旦はプラズマ発生部30へ向けて伝搬されたマイクロ波のうち、プラズマ発生部30で電力消費されずに戻って来た反射マイクロ波を、マイクロ波発生装置20に戻さずダミーロード60へ向かわせるものである。このようなサーキュレータ50を配置することで、マイクロ波発生装置20が反射マイクロ波によって過熱状態となることが防止される。   The circulator 50 is composed of, for example, a waveguide-type three-port circulator with a built-in ferrite column. Of the microwaves once propagated toward the plasma generation unit 30, the plasma generation unit 30 returns without being consumed. The incoming reflected microwave is directed to the dummy load 60 without returning to the microwave generator 20. By arranging such a circulator 50, the microwave generator 20 is prevented from being overheated by the reflected microwave.

ダミーロード60は、上述の反射マイクロ波を吸収して熱に変換する水冷型(空冷型でも良い)の電波吸収体である。このダミーロード60には、冷却水を内部に流通させるための冷却水流通口61が設けられており、反射マイクロ波を熱変換することにより発生した熱が前記冷却水に熱交換されるようになっている。   The dummy load 60 is a water-cooled (or air-cooled) radio wave absorber that absorbs the reflected microwave and converts it into heat. The dummy load 60 is provided with a cooling water circulation port 61 for circulating cooling water therein so that heat generated by heat conversion of the reflected microwaves is exchanged with the cooling water. It has become.

スタブチューナ70は、導波管10とプラズマ発生ノズル31とのインピーダンス整合を図るためのもので、第2導波管ピース12の上面板12Uに所定間隔を置いて直列配置された3つのスタブチューナユニット70A〜70Cを備えている。3つのスタブチューナユニット70A〜70Cは同一構造を備えており、図3で示すように第2導波管ピース12の導波空間120に突出するスタブ71を、上下方向に出没動作させることで中心導電体32による消費電力が最大、すなわち反射マイクロ波を最小として、プラズマ点火を生じ易くするものである。   The stub tuner 70 is for impedance matching between the waveguide 10 and the plasma generation nozzle 31, and has three stub tuners arranged in series on the upper surface plate 12 U of the second waveguide piece 12 at a predetermined interval. Units 70A to 70C are provided. The three stub tuner units 70 </ b> A to 70 </ b> C have the same structure, and as shown in FIG. 3, the stub 71 projecting into the waveguide space 120 of the second waveguide piece 12 is moved up and down in the vertical direction. The power consumption by the conductor 32 is maximized, that is, the reflected microwave is minimized, so that plasma ignition is easily generated.

搬送手段Cは、所定の搬送路に沿って配置された複数の搬送ローラ80を備え、図略の駆動手段により搬送ローラ80が駆動されることで、処理対象となるワークWを、前記プラズマ発生部30を経由して搬送させるものである。ここで、処理対象となるワークWとしては、プラズマディスプレイパネルや半導体基板のような平型基板、電子部品が実装された回路基板等を例示することができる。また、平型形状でないパーツや組部品等も処理対象とすることができ、この場合は搬送ローラに代えてベルトコンベア等を採用すればよい。   The conveyance means C includes a plurality of conveyance rollers 80 arranged along a predetermined conveyance path, and the conveyance roller 80 is driven by a driving means (not shown), so that the workpiece W to be processed is generated by the plasma generation. It is conveyed via the section 30. Here, examples of the workpiece W to be processed include a flat substrate such as a plasma display panel and a semiconductor substrate, a circuit substrate on which electronic components are mounted, and the like. Also, parts or assembled parts that are not flat-shaped can be processed, and in this case, a belt conveyor or the like may be employed instead of the conveying roller.

注目すべきは、本実施の形態では、各プラズマ発生ノズル31の先端には、アダプタ32が装着されていることである。図4は、プラズマ発生ノズル31からそのアダプタ38を拡大して示す断面図であり、図5はアダプタ38の分解斜視図であり、図6は第3導波管ピース13におけるそれらの取付け部分を拡大して示す斜視図である。プラズマ発生ノズル31は、中心導電体32(内側電極)、ノズル本体33(外側電極)、ノズルホルダ34およびシール部材35を含んで構成されている。   It should be noted that in this embodiment, an adapter 32 is attached to the tip of each plasma generating nozzle 31. 4 is an enlarged cross-sectional view showing the adapter 38 from the plasma generating nozzle 31, FIG. 5 is an exploded perspective view of the adapter 38, and FIG. 6 shows their attachment portions in the third waveguide piece 13. As shown in FIG. It is a perspective view which expands and shows. The plasma generating nozzle 31 includes a central conductor 32 (inner electrode), a nozzle body 33 (outer electrode), a nozzle holder 34, and a seal member 35.

中心導電体32は、銅、アルミ、真鍮などの良導電性の金属から構成され、φ1〜5mm程度の棒状部材から成り、その上端部321の側が第3導波管ピース13の下面板13Bを貫通して導波空間130に所定長さだけ突出(この突出部分を受信アンテナ部320という)する一方で、下端部322がノズル本体33の下端縁331と略面一になるように、上下方向に配置されている。この中心導電体32には、受信アンテナ部320が導波管10内を伝搬するマイクロ波を受信することで、マイクロ波エネルギー(マイクロ波電力)が与えられるようになっている。当該中心導電体32は、長さ方向略中間部において、シール部材35により保持されている。   The center conductor 32 is made of a highly conductive metal such as copper, aluminum, or brass, and is made of a rod-like member having a diameter of about 1 to 5 mm. The upper end 321 side of the center conductor 32 is a lower plate 13B of the third waveguide piece 13. While vertically penetrating and projecting into the waveguide space 130 by a predetermined length (this projecting portion is referred to as a receiving antenna unit 320), the lower end 322 is substantially flush with the lower end edge 331 of the nozzle body 33. Is arranged. Microwave energy (microwave power) is applied to the central conductor 32 when the receiving antenna unit 320 receives the microwave propagating through the waveguide 10. The central conductor 32 is held by a seal member 35 at a substantially intermediate portion in the length direction.

ノズル本体33は、良導電性の金属から構成され、中心導電体32を収納する筒状空間332を有する筒状体である。また、ノズルホルダ34も良導電性の金属から構成され、ノズル本体33を保持する比較的大径の下部保持空間341と、シール部材35を保持する比較的小径の上部保持空間342とを有する筒状体である。一方、シール部材35は、テフロン(登録商標)等の耐熱性樹脂材料やセラミック等の絶縁性部材から成り、前記中心導電体32を固定的に保持する保持孔351をその中心軸上に備える筒状体から成る。   The nozzle body 33 is a cylindrical body made of a highly conductive metal and having a cylindrical space 332 that houses the central conductor 32. The nozzle holder 34 is also made of a highly conductive metal, and has a relatively large-diameter lower holding space 341 that holds the nozzle body 33 and a relatively small-diameter upper holding space 342 that holds the seal member 35. It is a state. On the other hand, the seal member 35 is made of a heat-resistant resin material such as Teflon (registered trademark) or an insulating member such as ceramic, and has a holding hole 351 for holding the central conductor 32 fixedly on its central axis. It consists of a body.

ノズル本体33は、上方から順に、ノズルホルダ34の下部保持空間341に嵌合される上側胴部33Uと、後述するガスシールリング37を保持するための環状凹部33Sと、環状に突設されたフランジ部33Fと、ノズルホルダ34から突出する下側胴部33Bとを具備している。また、上側胴部33Uには、所定の処理ガスを前記筒状空間332へ供給させるための連通孔333が穿孔されている。   The nozzle body 33 is provided in an annularly projecting manner from the upper side, an upper body part 33U fitted in the lower holding space 341 of the nozzle holder 34, an annular recess 33S for holding a gas seal ring 37 described later. A flange portion 33F and a lower body portion 33B protruding from the nozzle holder 34 are provided. In addition, a communication hole 333 for supplying a predetermined processing gas to the cylindrical space 332 is formed in the upper body portion 33U.

このノズル本体33は、中心導電体32の周囲に配置された外部導電体として機能するもので、中心導電体32は所定の環状空間H(絶縁間隔)が周囲に確保された状態で筒状空間332の中心軸上に挿通されている。ノズル本体33は、上側胴部33Uの外周部がノズルホルダ34の下部保持空間341の内周壁と接触し、またフランジ部33Fの上端面がノズルホルダ34の下端縁343と接触するようにノズルホルダ34に嵌合されている。なお、ノズル本体33は、たとえばプランジャやセットビス等を用いて、ノズルホルダ34に対して着脱自在な固定構造で装着されることが望ましい。   The nozzle body 33 functions as an external conductor disposed around the central conductor 32. The central conductor 32 is a cylindrical space with a predetermined annular space H (insulation interval) secured around it. It is inserted on the central axis of 332. The nozzle body 33 has a nozzle holder such that the outer peripheral portion of the upper body portion 33U is in contact with the inner peripheral wall of the lower holding space 341 of the nozzle holder 34 and the upper end surface of the flange portion 33F is in contact with the lower end edge 343 of the nozzle holder 34. 34 is fitted. The nozzle body 33 is preferably attached to the nozzle holder 34 with a detachable fixing structure using, for example, a plunger or a set screw.

ノズルホルダ34は、第3導波管ピース13の下面板13Bに穿孔された貫通孔131に密嵌合される上側胴部34U(上部保持空間342の位置に略対応する)と、下面板13Bから下方向に延出する下側胴部34B(下部保持空間341の位置に略対応する)とを備えている。前記第3導波管ピース13の下面板13B上には、この下側胴部34Bに接触して放熱を行う冷却配管39が敷設されている。   The nozzle holder 34 includes an upper body portion 34U (corresponding approximately to the position of the upper holding space 342) and a lower surface plate 13B that are closely fitted in a through hole 131 formed in the lower surface plate 13B of the third waveguide piece 13. And a lower body portion 34B (substantially corresponding to the position of the lower holding space 341). On the lower surface plate 13B of the third waveguide piece 13, a cooling pipe 39 that radiates heat in contact with the lower body portion 34B is laid.

また、前記下側胴部34Bの外周には、処理ガスを前記環状空間Hに供給するためのガス供給孔344が穿孔されている。図示は省略しているが、このガス供給孔344には、所定の処理ガスを供給するガス供給管の終端部が接続するための管継手等が取り付けられる。かかるガス供給孔344と、ノズル本体33の連通孔333とは、ノズル本体33がノズルホルダ34への定位置嵌合された場合に互いに連通状態となるように、各々位置設定されている。なお、ガス供給孔344と連通孔333との突き合わせ部からのガス漏洩を抑止するために、ノズル本体33とノズルホルダ34との間にはガスシールリング37が介在されている。   Further, a gas supply hole 344 for supplying a processing gas to the annular space H is formed in the outer periphery of the lower body portion 34B. Although not shown, a pipe joint or the like for connecting a terminal portion of a gas supply pipe for supplying a predetermined processing gas is attached to the gas supply hole 344. The gas supply hole 344 and the communication hole 333 of the nozzle body 33 are set so that they are in communication with each other when the nozzle body 33 is fitted into the nozzle holder 34 at a fixed position. A gas seal ring 37 is interposed between the nozzle body 33 and the nozzle holder 34 in order to suppress gas leakage from the abutting portion between the gas supply hole 344 and the communication hole 333.

これらガス供給孔344および連通孔333は、周方向に等間隔に複数穿孔されていてもよく、また中心へ向けて半径方向に穿孔されるのではなく、前述の特許文献1のように、処理ガスを旋回させるように、前記筒状空間332の外周面の接線方向に穿孔されてもよい。また、ガス供給孔344および連通孔333は、中心導電体32に対して垂直ではなく、処理ガスの流れを良くするために、上端部321側から下端部322側へ斜めに穿設されてもよい。   A plurality of the gas supply holes 344 and the communication holes 333 may be perforated at equal intervals in the circumferential direction, and are not perforated in the radial direction toward the center. The gas may be perforated in the tangential direction of the outer peripheral surface of the cylindrical space 332 so as to swirl the gas. Further, the gas supply hole 344 and the communication hole 333 are not perpendicular to the central conductor 32, and may be formed obliquely from the upper end 321 side to the lower end 322 side in order to improve the flow of the processing gas. Good.

シール部材35は、その下端縁352がノズル本体33の上端縁334と当接し、その上端縁353がノズルホルダ34の上端係止部345と当接する態様で、ノズルホルダ34の上部保持空間342に保持されている。すなわち、上部保持空間342に中心導電体32を支持した状態のシール部材35が嵌合され、ノズル本体33の上端縁334でその下端縁352が押圧されるようにして組付けられているものである。   The seal member 35 has a lower end edge 352 in contact with an upper end edge 334 of the nozzle body 33 and an upper end edge 353 in contact with an upper end locking portion 345 of the nozzle holder 34 in the upper holding space 342 of the nozzle holder 34. Is retained. That is, the upper holding space 342 is assembled so that the seal member 35 supporting the central conductor 32 is fitted and the lower end edge 352 of the nozzle body 33 is pressed by the upper end edge 334. is there.

プラズマ発生ノズル31は上記のように構成されている結果、ノズル本体33、ノズルホルダ34および第3導波管ピース13(導波管10)は導通状態(同電位)とされている一方で、中心導電体32は絶縁性のシール部材35で支持されていることから、これらの部材とは電気的に絶縁されている。したがって、導波管10がアース電位とされた状態で、中心導電体32の受信アンテナ部320でマイクロ波が受信され中心導電体32にマイクロ波電力が給電されると、その下端部322およびノズル本体33の下端縁331の近傍に電界集中部が形成されるようになる。   As a result of the plasma generation nozzle 31 being configured as described above, the nozzle body 33, the nozzle holder 34, and the third waveguide piece 13 (waveguide 10) are in a conductive state (the same potential), Since the central conductor 32 is supported by the insulating seal member 35, it is electrically insulated from these members. Therefore, when the microwave is received by the receiving antenna unit 320 of the central conductor 32 and the microwave power is supplied to the central conductor 32 in a state where the waveguide 10 is at the ground potential, the lower end 322 and the nozzle An electric field concentration portion is formed in the vicinity of the lower end edge 331 of the main body 33.

かかる状態で、ガス供給孔344から、たとえば酸素ガスや空気のような酸素系の処理ガスが環状空間Hへ供給されると、前記マイクロ波電力により処理ガスが励起されて中心導電体32の下端部322付近においてプラズマ(電離気体)が発生する。このプラズマは、電子温度が数万度であるものの、ガス温度は外界温度に近い反応性プラズマ(中性分子が示すガス温度に比較して、電子が示す電子温度が極めて高い状態のプラズマ)であって、常圧下で発生するプラズマである。   In this state, when an oxygen-based processing gas such as oxygen gas or air is supplied from the gas supply hole 344 to the annular space H, the processing gas is excited by the microwave power and the lower end of the central conductor 32 is excited. Plasma (ionized gas) is generated near the portion 322. Although this plasma has an electron temperature of tens of thousands of degrees, the gas temperature is a reactive plasma that is close to the outside temperature (a plasma in which the electron temperature indicated by electrons is extremely high compared to the gas temperature indicated by neutral molecules). It is a plasma generated under normal pressure.

このようにしてプラズマ化された処理ガスは、ガス供給孔344から与えられるガス流によりプルームとしてノズル本体33の下端縁331から放射される。このプルームにはラジカルが含まれ、たとえば処理ガスとして酸素系ガスを使用すると酸素ラジカルが生成されることとなり、有機物の分解・除去作用、レジスト除去作用等を有するプルームとすることができる。本実施形態に係るプラズマ発生ユニットPUでは、プラズマ発生ノズル31が複数個配列されていることから、左右方向に延びるライン状のプルームを発生させることが可能となる。   The processing gas thus converted into plasma is radiated from the lower edge 331 of the nozzle body 33 as a plume by the gas flow provided from the gas supply hole 344. This plume contains radicals. For example, when an oxygen-based gas is used as a processing gas, oxygen radicals are generated, and a plume having an action of decomposing / removing organic matter, a resist removing action, and the like can be obtained. In the plasma generation unit PU according to the present embodiment, since a plurality of plasma generation nozzles 31 are arranged, it is possible to generate a line-shaped plume extending in the left-right direction.

因みに、処理ガスとしてアルゴンガスのような不活性ガスや窒素ガスを用いれば、各種基板の表面クリーニングや表面改質を行うことができる。また、フッ素を含有する化合物ガスを用いれば基板表面を撥水性表面に改質することができ、親水基を含む化合物ガスを用いることで基板表面を親水性表面に改質することができる。さらに、金属元素を含む化合物ガスを用いれば、基板上に金属薄膜層を形成することができる。   Incidentally, when an inert gas such as argon gas or nitrogen gas is used as the processing gas, the surface cleaning and surface modification of various substrates can be performed. Further, if a compound gas containing fluorine is used, the substrate surface can be modified to a water-repellent surface, and using a compound gas containing a hydrophilic group can modify the substrate surface to a hydrophilic surface. Furthermore, if a compound gas containing a metal element is used, a metal thin film layer can be formed on the substrate.

前記アダプタ38は、大略的に、前記ノズル本体33の下側胴部33Bが嵌まり込む取付け部381と、前記取付け部381の先端から水平方向に延びるプラズマチャンバー382と、前記プラズマチャンバー382に被せられる一対のスリット板383,384とを備えて構成される。前記取付け部381からプラズマチャンバー382は、削り出しまたは鋳造によって成り、一体で形成されている。スリット板383,384は、削り出しや打抜きによって形成されている。前記下側胴部33Bから取付け部381は、薄肉に形成されており、これによってノズル本体33からアダプタ38へ効率良く熱伝導が行われるようになっている。   The adapter 38 is generally covered with a mounting portion 381 into which the lower body portion 33B of the nozzle body 33 is fitted, a plasma chamber 382 extending horizontally from the tip of the mounting portion 381, and the plasma chamber 382. And a pair of slit plates 383 and 384. The plasma chamber 382 from the mounting portion 381 is formed by machining or casting, and is integrally formed. The slit plates 383 and 384 are formed by cutting or punching. The attachment portion 381 is formed thinly from the lower body portion 33B, whereby heat conduction is efficiently performed from the nozzle body 33 to the adapter 38.

前記取付け部381は、筒状に形成され、該筒内に前記下側胴部33Bが嵌り込み、その側部に形成されたねじ孔3811に取付けビス385が螺着されると、その先端3851が前記下側胴部33Bの外周面に形成された凹所33B1に嵌り込むことで抜け止めが行われる。また、スリット板383,384は、複数の皿ビス386によってプラズマチャンバー382の底面に取付けられる。   The attachment portion 381 is formed in a cylindrical shape, and when the lower body portion 33B is fitted into the cylinder, and the attachment screw 385 is screwed into the screw hole 3811 formed in the side portion, the tip 3851 thereof. Is fitted into a recess 33B1 formed on the outer peripheral surface of the lower body portion 33B, thereby preventing the removal. The slit plates 383 and 384 are attached to the bottom surface of the plasma chamber 382 by a plurality of countersunk screws 386.

前記プラズマチャンバー382は前記取付け部381の下端3812から相互に離反方向に延びる一対のチャンバー部3821,3822から成り、そのチャンバー部3821,3822に亘って、上方に凹となる長手状の凹溝3823が連通して形成されており、その凹溝3823の略中央部が前記取付け部381の内周部に連通した大径の開口部3824となっている。   The plasma chamber 382 includes a pair of chamber portions 3821 and 3822 extending away from the lower end 3812 of the attachment portion 381, and a longitudinal groove 3823 that is recessed upwardly across the chamber portions 3821 and 3822. Are formed, and a substantially central portion of the concave groove 3823 is a large-diameter opening 3824 communicating with the inner peripheral portion of the mounting portion 381.

このように形成される凹溝3823上に前記スリット板383,384が嵌め込まれることで、該スリット板383,384およびチャンバー部3821,3822で囲まれた空間がチャンバーとなり、前記ノズル本体33の筒状空間332から放射されたプラズマ処理されたガスは、取付け部381から開口部3824を経て凹溝3823内を伝播し、前記スリット板383,384間の吹出し口387から帯状に放射される。前記吹出し口387の幅W0は、前記ノズル本体33の筒状空間332の径φより充分大きく、たとえばφ=5mmに対して、W0=70mmである。   By inserting the slit plates 383 and 384 into the concave grooves 3823 formed in this way, the space surrounded by the slit plates 383 and 384 and the chamber portions 3821 and 3822 becomes a chamber, and the cylinder of the nozzle body 33 is formed. The plasma-treated gas radiated from the space 332 propagates in the concave groove 3823 from the attachment portion 381 through the opening 3824, and is radiated in a strip shape from the outlet 387 between the slit plates 383 and 384. The width W0 of the outlet 387 is sufficiently larger than the diameter φ of the cylindrical space 332 of the nozzle body 33, for example, W0 = 70 mm for φ = 5 mm.

したがって、前記の同心状に配置される内側電極である中心導電体32と外側電極であるノズル本体33との間にグロー放電を生じさせてプラズマを発生させ、それらの間に処理ガスを供給することで、環状の吹出し口から常圧下でプラズマ化したガスを放射するプラズマ発生ノズル31では、図7で示すように、幅広のワークWの所望の照射位置Pにプラズマ照射する場合、参照符号L1で示すように吹出し口(前記ノズル本体33の筒状空間332)から直接到達する場合は、その行路L1の殆どでプラズマが冷却されて消滅する割合が高くなる。これに対して、前記環状の吹出し口を長手状の吹出し口387に変換するこのアダプタ38を装着することで、前記照射位置Pまで同じ行路長であっても、高温になる該アダプタ38内を通過する行路L21ではプラズマが冷却されにくく、照射位置P直近の開口部分から出て、実際に照射位置に到達するまでの僅かな行路L22でだけ冷却されることになり、照射位置Pがノズル本体33から離れていても、プラズマが消失する割合が小さくなる。これによって、むやみに大きなプラズマ発生ノズルを用いることなく、低コストで制御が容易な小径のプラズマ発生ノズルを用いても、幅広のワークWに対して均等なプラズマ照射を行うことができる。   Therefore, a glow discharge is generated between the central conductor 32 as the inner electrode and the nozzle body 33 as the outer electrode arranged concentrically to generate plasma, and a processing gas is supplied between them. Thus, in the plasma generating nozzle 31 that radiates plasma gas from the annular outlet under normal pressure, as shown in FIG. 7, when the plasma irradiation is performed on the desired irradiation position P of the wide workpiece W, the reference symbol L1 In the case of reaching directly from the outlet (cylindrical space 332 of the nozzle main body 33), the rate at which the plasma is cooled and disappears in most of the path L1 increases. On the other hand, by installing this adapter 38 that converts the annular outlet into a longitudinal outlet 387, the adapter 38 that becomes hot even in the same path length up to the irradiation position P can be obtained. In the passing path L21, the plasma is difficult to be cooled, and the cooling is performed only in the slight path L22 that exits from the opening portion nearest to the irradiation position P and actually reaches the irradiation position. Even if it is away from 33, the rate at which the plasma disappears is small. Accordingly, even if a small-sized plasma generating nozzle that is easy to control at low cost is used without using an unnecessarily large plasma generating nozzle, uniform plasma irradiation can be performed on the wide workpiece W.

また、前記アダプタ38は、前記図5や図6などでも示されるように、長手状の吹出し口387は、外方へ向うにつれて、開口面積が段階的に拡大形成されている(図5および図6の例では、前記筒状空間332からのプラズマ流を直接受ける開口部3824の直下の部分3871では狭幅W1、たとえば0.3mmに形成され、それ以外の部分3872では広幅W2、たとえば0.5mmに形成される。)。   Further, as shown in FIG. 5 and FIG. 6 and the like, the adapter 38 has a longitudinal outlet 387 whose opening area is gradually increased as it goes outward (FIGS. 5 and 6). In the example of FIG. 6, the portion 3871 directly below the opening 3824 that directly receives the plasma flow from the cylindrical space 332 is formed to have a narrow width W1, for example 0.3 mm, and the other portion 3872 has a wide width W2, for example, 0. Formed to 5 mm).

この吹出し口387の形状は、外方へ向うにつれて、図8(a)で示すように長手状の吹出し口の開口幅が連続的に拡大形成されてもよく、図8(b)で示すように長手方向に配置されたスポット開口の径が順次拡大形成されてもよく、図8(c)で示すように長手方向に配置されたスポット開口の数が順次増加するように形成されてもよく、開口面積が連続的または段階的に拡大形成されていればよい。   As shown in FIG. 8 (a), the shape of the outlet 387 may be formed such that the opening width of the longitudinal outlet is continuously enlarged as shown in FIG. 8 (a). The diameters of the spot openings arranged in the longitudinal direction may be sequentially enlarged and formed so that the number of the spot openings arranged in the longitudinal direction sequentially increases as shown in FIG. The opening area may be enlarged continuously or stepwise.

このように構成することで、前記の長手状の吹出し口387において、外方へ向うにつれて前記プラズマの勢い(吹出しの圧力、すなわち流速(単位時間当りの流量))が衰え、また温度も低下するので、該長手状の吹出し口387が、単に一定の幅に形成されているのではなく、上述のように開口面積が段階的または連続的に拡大形成されることで、前記長手状の吹出し口387の外方側程、吹出されるプラズマの量が多くなり、前記幅広のワークWに対して、より一層均等なプラズマ照射を行うことができる。なお、スリット板383,384は相互に一体で形成されてもよく、また一方の側面に幅の異なる前記部分3871,3872を形成するための段差を設け、他方の側面は平面とされてもよい。   With this configuration, the momentum of the plasma (the pressure of the blowing, that is, the flow velocity (flow rate per unit time)) decreases and the temperature also decreases in the longitudinal blowing port 387 toward the outside. Therefore, the longitudinal outlet 387 is not simply formed with a constant width, but the opening area is enlarged stepwise or continuously as described above, so that the longitudinal outlet 387 is formed. The amount of plasma that is blown out increases toward the outer side of 387, so that more uniform plasma irradiation can be performed on the wide workpiece W. The slit plates 383 and 384 may be formed integrally with each other, or a step for forming the portions 3871 and 3872 having different widths is provided on one side surface, and the other side surface may be flat. .

さらにまた、前記長手状の吹出し口387を有するアダプタ38において、1つのアダプタに複数のプラズマ発生ノズルが取付けられ、前記吹出し口が連通する場合、隣接するプラズマ発生ノズルからのプラズマ流に衝突が生じ、プラズマ密度が低下する部分が発生してしまうのに対して、上記のように複数のプラズマ発生ノズル31のそれぞれにアダプタ38を設けることで、そのような不具合を無くすことができる。   Furthermore, in the adapter 38 having the elongated blowout port 387, when a plurality of plasma generating nozzles are attached to one adapter and the blowout ports communicate with each other, a collision occurs in the plasma flow from the adjacent plasma generating nozzles. In contrast to the occurrence of a portion where the plasma density is reduced, such an inconvenience can be eliminated by providing the adapter 38 in each of the plurality of plasma generating nozzles 31 as described above.

なお、複数のプラズマ発生ノズルに対して1つのアダプタを取付ける場合、ノズルの軸線回りのアダプタの角度位置の調整などを不要にできる等、特にアダプタの着脱に関して利点を有する。このため、長手状の吹出し口387(スリット板383,384による開口部分)が連通していても、内部のチャンバー部3821,3822部分を整流板で区画するなどして、前記のような隣接するプラズマ発生ノズルからのプラズマ流の衝突を抑えられる場合には、1つのアダプタに複数のプラズマ発生ノズルが取付けられてもよい。   Note that when one adapter is attached to a plurality of plasma generating nozzles, there is an advantage particularly in connection with attachment / detachment of the adapter, such as adjustment of the angular position of the adapter around the axis of the nozzle becomes unnecessary. For this reason, even if the longitudinal outlet 387 (opening portion by the slit plates 383 and 384) communicates, the inner chamber portions 3821 and 3822 are separated by a rectifying plate, and are adjacent as described above. When the collision of the plasma flow from the plasma generation nozzle can be suppressed, a plurality of plasma generation nozzles may be attached to one adapter.

また、前記のプラズマ発生装置PUに搬送手段Cを設けてワーク処理装置Sを構成するにあたって、マイクロ波発生装置20からプラズマ発生ノズル31へマイクロ波が導波管10を介して伝播され、その導波管には複数の前記プラズマ発生ノズル31がワークWの搬送方向D1とは直交方向である該導波管10の長手方向D2に配列して取付けられる場合、図6で拡大して示すように、前記アダプタ38の軸線D3は、前記プラズマ発生ノズル31の配列方向(導波管10の長手方向)に対して所定の角度αだけ傾斜して取付けられている。 Further, when the work processing apparatus S is configured by providing the plasma generating apparatus PU with the conveying means C, the microwave is propagated from the microwave generating apparatus 20 to the plasma generating nozzle 31 through the waveguide 10 and guided there. When the plurality of plasma generating nozzles 31 are attached to the wave tube in the longitudinal direction D2 of the waveguide 10 which is orthogonal to the conveying direction D1 of the workpiece W, as shown in an enlarged view in FIG. , the axis D3 of the adapter 38 is attached to only tilted swash's predetermined angle α with respect to (the longitudinal direction of the waveguide 10) arrangement direction of the plasma generation nozzle 31.

このように構成することで、前記長手状の吹出し口387の長手方向の端部から吹出されたプラズマが、より一層、隣接するアダプタ38間で相互に衝突しないようにすることができ、その端部付近でのプラズマ密度の低下を抑えることができる。   By configuring in this way, it is possible to prevent the plasma blown from the longitudinal end portion of the longitudinal blowout port 387 from colliding with each other between the adjacent adapters 38. A decrease in plasma density in the vicinity of the portion can be suppressed.

さらにまた、その吹出し口387の長手方向の端部が、前記搬送方向D1から見てオーバーラップしていることで、相対的にプラズマ密度が低くなる前記長手状の吹出し口387の長手方向の端部付近からワークWに照射されるプラズマ密度を略均一にすることができる。オーバーラップ量W4は、前記チャンバー部3821,3822の長さ、吹出し口387の形状、ガス流量などに対応して適宜定められればよい。   Furthermore, the longitudinal ends of the blowout ports 387 overlap with each other when viewed from the transport direction D1, so that the longitudinal ends of the longitudinal blowout ports 387 at which the plasma density becomes relatively low. The plasma density irradiated onto the workpiece W from the vicinity of the part can be made substantially uniform. The overlap amount W4 may be appropriately determined according to the length of the chamber portions 3821 and 3822, the shape of the blowout port 387, the gas flow rate, and the like.

次に、本実施形態に係るワーク処理装置Sの電気的構成について説明する。図9は、ワーク処理装置Sの制御系を示すブロック図である。この制御系は、CPU(中央演算処理装置)901およびその周辺回路等から成る全体制御部90と、出力インタフェイスや駆動回路等から成るマイクロ波出力制御部91、ガス流量制御部92および搬送制御部93と、表示手段や操作パネル等から成り、前記全体制御部90に対して所定の操作信号を与える操作部95と、入力インタフェイスやアナログ/デジタル変換器等から成るセンサ入力部96,97と、センサ961,971ならびに駆動モータ931および流量制御弁923とを備えて構成される。   Next, an electrical configuration of the work processing apparatus S according to the present embodiment will be described. FIG. 9 is a block diagram showing a control system of the work processing apparatus S. This control system includes a CPU (central processing unit) 901 and an overall control unit 90 including its peripheral circuits, a microwave output control unit 91 including an output interface and a drive circuit, a gas flow rate control unit 92, and a conveyance control. Unit 93, a display means, an operation panel, and the like, an operation unit 95 for supplying a predetermined operation signal to the overall control unit 90, and sensor input units 96, 97 including an input interface, an analog / digital converter, and the like. And sensors 961, 971, a drive motor 931, and a flow rate control valve 923.

マイクロ波出力制御部91は、マイクロ波発生装置20から出力されるマイクロ波のON−OFF制御、出力強度制御を行うもので、前記2.45GHzのパルス信号を生成してマイクロ波発生装置20の装置本体部21によるマイクロ波発生の動作制御を行う。   The microwave output control unit 91 performs ON / OFF control and output intensity control of the microwave output from the microwave generator 20. The microwave output controller 91 generates the 2.45 GHz pulse signal and The operation control of the microwave generation by the apparatus main body 21 is performed.

ガス流量制御部92は、プラズマ発生部30の各プラズマ発生ノズル31へ供給する処理ガスの流量制御を行うものである。具体的には、ガスボンベ等の処理ガス供給源921と各プラズマ発生ノズル31との間を接続するガス供給管922に設けられた前記流量制御弁923の開度調整をそれぞれ行う。   The gas flow rate control unit 92 controls the flow rate of the processing gas supplied to each plasma generation nozzle 31 of the plasma generation unit 30. Specifically, the opening degree of the flow rate control valve 923 provided in the gas supply pipe 922 connecting the processing gas supply source 921 such as a gas cylinder and each plasma generating nozzle 31 is adjusted.

搬送制御部93は、搬送ローラ80を回転駆動させる駆動モータ931の動作制御を行うもので、ワークWの搬送開始/停止、および搬送速度の制御等を行うものである。   The conveyance control unit 93 controls the operation of the drive motor 931 that rotationally drives the conveyance roller 80, and controls the start / stop of conveyance of the workpiece W, the conveyance speed, and the like.

全体制御部90は、当該ワーク処理装置Sの全体的な動作制御を司るもので、操作部95から与えられる操作信号に応じて、センサ入力部96から入力される流量センサ961の測定結果、センサ入力部97から入力される速度センサ971によるワークWの搬送速度の測定結果等をモニタし、上記マイクロ波出力制御部91、ガス流量制御部92および搬送制御部93を、所定のシーケンスに基づいて動作制御する。   The overall control unit 90 is responsible for overall operation control of the work processing apparatus S. The measurement result of the flow rate sensor 961 input from the sensor input unit 96 according to the operation signal given from the operation unit 95, the sensor The measurement result of the conveyance speed of the workpiece W by the speed sensor 971 input from the input unit 97 is monitored, and the microwave output control unit 91, the gas flow rate control unit 92, and the conveyance control unit 93 are controlled based on a predetermined sequence. Control the operation.

具体的には、前記CPU901は、メモリ902に予め格納されている制御プログラムに基づいて、ワークWの搬送を開始させてワークWをプラズマ発生部30へ導き、流量センサ961の測定結果をモニタして所定流量の処理ガスを各プラズマ発生ノズル31へ供給させつつ、マイクロ波電力を与えてプラズマ処理されたガスを発生させ、ワークWを搬送しながらその表面に処理ガスを照射させるものである。これにより、複数のワークWを連続的に処理する。   Specifically, the CPU 901 starts conveying the workpiece W based on a control program stored in advance in the memory 902, guides the workpiece W to the plasma generation unit 30, and monitors the measurement result of the flow rate sensor 961. Then, while supplying a predetermined flow rate of processing gas to each plasma generation nozzle 31, a microwave-processed gas is generated by supplying microwave power, and the surface of the workpiece W is irradiated with the processing gas while conveying the workpiece W. Thereby, a plurality of works W are processed continuously.

以上説明したワーク処理装置Sによれば、ワーク搬送手段CでワークWを搬送しつつ、導波管10に複数個配列して取付けられたプラズマ発生ノズル31の先のアダプタ38からプラズマ化されたガスをワークWに対して放射することが可能であるので、複数の被処理ワークに対して連続的にプラズマ処理を行うことができ、また大面積のワークに対しても効率良くプラズマ処理を行うことができる。したがって、バッチ処理タイプのワーク処理装置に比較して、各種の被処理ワークに対するプラズマ処理作業性に優れるワーク処理装置S若しくはプラズマ発生装置PUを提供することができる。しかも、外界の温度および圧力でプラズマを発生させることができるので、真空チャンバー等を必要とせず、設備構成を簡素化することができる。   According to the work processing apparatus S described above, the work W is transported by the work transport means C, and plasma is generated from the adapter 38 at the tip of the plasma generating nozzle 31 attached to the waveguide 10 in an array. Since it is possible to radiate the gas to the workpiece W, it is possible to continuously perform plasma processing on a plurality of workpieces to be processed, and also to efficiently perform plasma processing on large-area workpieces. be able to. Therefore, it is possible to provide the work processing apparatus S or the plasma generation apparatus PU that is superior in plasma processing workability to various types of workpieces as compared with batch processing type work processing apparatuses. Moreover, since plasma can be generated at an external temperature and pressure, a vacuum chamber or the like is not required, and the equipment configuration can be simplified.

また、マイクロ波発生装置20から発生されたマイクロ波を、各々のプラズマ発生ノズル31が備える受信アンテナ部320で受信させ、そのマイクロ波のエネルギーに基づきそれぞれのプラズマ発生ノズル31からプラズマ化されたガスを放出させることができるので、マイクロ波が保有するエネルギーの各プラズマ発生ノズル31への伝達系を簡素化することができる。したがって、装置構成のシンプル化、コストダウン等を図ることができる。   In addition, the microwave generated from the microwave generator 20 is received by the receiving antenna unit 320 provided in each plasma generation nozzle 31, and the gas converted into plasma from each plasma generation nozzle 31 based on the energy of the microwave. Therefore, the transmission system of the energy held by the microwave to each plasma generating nozzle 31 can be simplified. Therefore, simplification of the device configuration, cost reduction, and the like can be achieved.

さらに、複数のプラズマ発生ノズル31が一列に整列配置されて成るプラズマ発生部30が、平板状のワークWの搬送方向と直交する幅方向のサイズtに略合致した幅員を有しているので、当該ワークWを、搬送手段Cにより一度だけプラズマ発生部30を通過させるだけで、その全面の処理を完了させることができ、平板状のワークに対するプラズマ処理効率を格段に向上させることができる。   Further, since the plasma generation unit 30 in which the plurality of plasma generation nozzles 31 are arranged in a line has a width that substantially matches the size t in the width direction orthogonal to the conveyance direction of the flat workpiece W, By simply passing the workpiece W through the plasma generating unit 30 only once by the conveying means C, the processing of the entire surface can be completed, and the plasma processing efficiency for the plate-shaped workpiece can be remarkably improved.

[実施の形態2]
図10は、本発明の実施の他の形態に係るワーク処理装置におけるノズルおよびアダプタ配列を説明するための図である。この図10は、前記プラズマ発生部30を底面側から見た図である。注目すべきは、本実施の形態では、プラズマ発生ノズル31が相互に並列に複数列配列されることである。図10の例では、前記搬送方向D1に相互に間隔を開けて配置され、かつ前記搬送方向D1と直交方向(D2)に延びる2つの導波管10A,10Bが用いられ、各導波管10A,10Bにおいて、その長手方向D2に間隔を開けて取付けられるプラズマ発生ノズル31は、平面視で千鳥状に配列されている。そして、前記アダプタ38は、その長手方向D2と平行に配列される。このように構成してもまた、前記長手状の吹出し口387の長手方向の端部から吹出されたプラズマが、隣接するアダプタ38間で相互に衝突しないようにすることができ、その端部付近でのプラズマ密度の低下を抑えることができる。
[Embodiment 2]
FIG. 10 is a diagram for explaining a nozzle and adapter arrangement in a workpiece processing apparatus according to another embodiment of the present invention. FIG. 10 is a view of the plasma generating unit 30 as viewed from the bottom side. It should be noted that in this embodiment, the plasma generating nozzles 31 are arranged in a plurality of rows in parallel with each other. In the example of FIG. 10, two waveguides 10A and 10B that are arranged in the transport direction D1 with a space between each other and extend in a direction orthogonal to the transport direction D1 (D2) are used. , 10B, the plasma generating nozzles 31 attached at intervals in the longitudinal direction D2 are arranged in a staggered manner in plan view. The adapter 38 is arranged in parallel with the longitudinal direction D2. Even with this configuration, it is possible to prevent the plasma blown from the longitudinal end portion of the longitudinal blowout port 387 from colliding with each other between the adjacent adapters 38, and in the vicinity of the end portion. It is possible to suppress a decrease in the plasma density.

さらに、前記アダプタ38は、その吹出し口387の長手方向の端部が、前記搬送方向D1から見てオーバーラップされている(重なり合っている)ことで、相対的にプラズマ密度が低くなる前記長手状の吹出し口387の長手方向の端部付近からワークWに照射されるプラズマ密度を略均一にすることができる。なお、プラズマ発生ノズル31が搬送方向D1に相互に間隔を開けて、直交方向(D2)に延びて複数列配置されればよく、1本の導波管10にプラズマ発生ノズル31が複数列配置されてもよい。 Further, the adapter 38 has the longitudinal shape in which the plasma density is relatively low because the longitudinal end of the outlet 387 is overlapped (overlapped) when viewed from the transport direction D1. The plasma density irradiated onto the workpiece W from the vicinity of the end in the longitudinal direction of the blowout port 387 can be made substantially uniform. The plasma generation nozzles 31 need only be arranged in a plurality of rows at intervals in the transport direction D1 and extending in the orthogonal direction (D2). The plasma generation nozzles 31 may be arranged in a plurality of rows in one waveguide 10. May be.

[実施の形態3]
図11は、本発明の実施のさらに他の形態に係るワーク処理装置におけるノズルおよびアダプタ配列を説明するための図である。この図11も、前記プラズマ発生部30を底面側から見た図である。注目すべきは、本実施の形態では、前記搬送方向D1と直交方向(D4)に延びる導波管10において、複数の前記プラズマ発生ノズル31が前記長手方向の一直線D4上に取付けられており、対応する各アダプタ38Aは、前記長手状の吹出し口387Aが、導波管10の長手方向と平行に、かつ交互に前記搬送方向D1にずれて配列されていることである。この図11の例では、アダプタ38Aは、前記環状の吹出し口(筒状空間332)の中心(前記D4上に位置する)からずれて長手状の吹出し口387Aを形成したアダプタ38Aを、交互に180°ずつ回転させてプラズマ発生ノズル31に取付けている。
[Embodiment 3]
FIG. 11 is a diagram for explaining a nozzle and adapter arrangement in a work processing apparatus according to still another embodiment of the present invention. FIG. 11 is also a view of the plasma generation unit 30 as viewed from the bottom side. It should be noted that in the present embodiment, in the waveguide 10 extending in the direction (D4) orthogonal to the transport direction D1, a plurality of the plasma generation nozzles 31 are mounted on a straight line D4 in the longitudinal direction. each corresponding adapter 38A, the longitudinal-shaped air outlet 387A is that parallel to the longitudinal direction of the waveguide 10, and shifted the in the conveying direction D1 alternately are array. In the example of FIG. 11, the adapter 38 </ b> A is configured such that an adapter 38 </ b> A having a longitudinal outlet 387 </ b> A that is shifted from the center (located on the D <b> 4) of the annular outlet (cylindrical space 332) The plasma generation nozzle 31 is attached by rotating 180 degrees.

このように構成することで、プラズマ発生ノズル31が一直線D4上に取付けられていても、共通のアダプタ38Aを用いて、前記長手状の吹出し口387Aの長手方向の端部から吹出されたプラズマが、隣接するアダプタ38A間で相互に衝突しないようにすることができ、その端部付近でのプラズマ密度の低下を抑えることができる。さらにそのオフセット配列を利用して、前記オーバーラップ部を設けることで、長手方向の端部付近からワークWに照射されるプラズマ密度を略均一にすることができる。   With this configuration, even if the plasma generating nozzle 31 is mounted on the straight line D4, the plasma blown out from the longitudinal end of the longitudinal blowout port 387A using the common adapter 38A. The adjacent adapters 38A can be prevented from colliding with each other, and a decrease in plasma density in the vicinity of the end can be suppressed. Furthermore, by using the offset arrangement and providing the overlap portion, the plasma density irradiated onto the workpiece W from the vicinity of the end portion in the longitudinal direction can be made substantially uniform.

以上、本発明の一実施形態に係るワーク処理装置Sについて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、たとえば下記の実施形態を取ることができる。
(1)上記実施形態では、移動手段としてワークWを搬送する搬送手段Cが用いられ、その搬送手段Cとしては搬送ローラ80の上面にワークWを載置して搬送する形態を例示したが、この他に、たとえば上下の搬送ローラ間にワークWをニップさせて搬送させる形態、搬送ローラを用いず所定のバスケット等にワークを収納し前記バスケット等をラインコンベア等で搬送させる形態、或いはロボットハンド等でワークWを把持してプラズマ発生部30へ搬送させる形態であってもよい。或いは、移動手段としてはプラズマ発生ノズル31側を移動させる構成であってもよい。すなわち、ワークWとプラズマ発生ノズル31とは、プラズマ照射方向(Z方向)およびプラズマ発生ノズル31の配列方向(Y方向)とは交差する方向(X方向)上で相対的に移動すればよい。
(2)上記実施形態では、マイクロ波発生源として2.45GHzのマイクロ波を発生するマグネトロンを例示したが、マグネトロン以外の各種高周波電源も使用可能であり、また2.45GHzとは異なる波長のマイクロ波を用いるようにしてもよい。
The work processing apparatus S according to the embodiment of the present invention has been described above, but the present invention is not limited to this, and for example, the following embodiment can be taken.
(1) In the above-described embodiment, the transport unit C that transports the workpiece W is used as the moving unit. As the transport unit C, a mode in which the workpiece W is mounted on the upper surface of the transport roller 80 and transported is exemplified. In addition to this, for example, a form in which the work W is nipped between the upper and lower transport rollers and transported, a form in which the work is stored in a predetermined basket without using the transport roller, and the basket is transported by a line conveyor or the like, or a robot hand For example, the workpiece W may be gripped and conveyed to the plasma generation unit 30 by using a method such as that described above. Alternatively, the moving means may be configured to move the plasma generating nozzle 31 side. That is, the workpiece W and the plasma generation nozzle 31 may be relatively moved in a direction (X direction) intersecting the plasma irradiation direction (Z direction) and the arrangement direction (Y direction) of the plasma generation nozzles 31.
(2) In the above embodiment, a magnetron that generates a microwave of 2.45 GHz is illustrated as a microwave generation source. However, various high-frequency power sources other than the magnetron can be used, and a microwave having a wavelength different from 2.45 GHz. A wave may be used.

本発明に係るワーク処理装置およびプラズマ発生装置は、半導体ウェハ等の半導体基板に対するエッチング処理装置や成膜装置、プラズマディスプレイパネル等のガラス基板やプリント基板の清浄化処理装置、医療機器等に対する滅菌処理装置、タンパク質の分解装置等に好適に適用することができる。   A workpiece processing apparatus and a plasma generation apparatus according to the present invention include an etching processing apparatus and a film forming apparatus for a semiconductor substrate such as a semiconductor wafer, a glass substrate such as a plasma display panel and a cleaning processing apparatus for a printed board, and a sterilization process for medical equipment The present invention can be suitably applied to an apparatus, a protein decomposition apparatus, and the like.

本発明に係るワーク処理装置の全体構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the whole structure of the workpiece processing apparatus which concerns on this invention. 図1とは視線方向を異ならせたプラズマ発生ユニットの斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of a plasma generation unit with a different line-of-sight direction from FIG. 1. ワーク処理装置の一部透視側面図である。It is a partial see-through | perspective side view of a workpiece | work processing apparatus. プラズマ発生ノズルからアダプタを拡大して示す断面図である。It is sectional drawing which expands and shows an adapter from a plasma generation nozzle. 前記アダプタの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the said adapter. 前記プラズマ発生ノズルからアダプタの導波管への取付け部分を拡大して示す斜視図である。It is a perspective view which expands and shows the attachment part from the said plasma generation nozzle to the waveguide of an adapter. アダプタの機能を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows the function of an adapter typically. アダプタの吹出し口の他の形状の例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the example of the other shape of the blower outlet of an adapter. ワーク処理装置の制御系を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the control system of a workpiece | work processing apparatus. 本発明の実施の他の形態に係るワーク処理装置におけるノズルおよびアダプタ配列を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the nozzle and adapter arrangement | sequence in the workpiece processing apparatus which concerns on other forms of implementation of this invention. 本発明の実施のさらに他の形態に係るワーク処理装置におけるノズルおよびアダプタ配列を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the nozzle and adapter arrangement | sequence in the workpiece processing apparatus which concerns on further another form of implementation of this invention.

10,10A,10B 導波管
20 マイクロ波発生装置
30 プラズマ発生部
31 プラズマ発生ノズル
32 中心導電体
320 受信アンテナ部
33 ノズル本体
332 筒状空間
34 ノズルホルダ
344 ガス供給孔
38,38A アダプタ
381 取付け部
382 プラズマチャンバー
3821,3822 チャンバー部
3823 凹溝
3824 開口部
383,384 スリット板
387,387A 吹出し口
40 スライディングショート
50 サーキュレータ
60 ダミーロード
70 スタブチューナ
80 搬送ローラ
90 全体制御部
901 CPU
91 マイクロ波出力制御部
92 ガス流量制御部
921 処理ガス供給源
922 ガス供給管
923 流量制御弁
93 搬送制御部
931 駆動モータ
95 操作部
96,97 センサ入力部
S ワーク処理装置
PU プラズマ発生ユニット
C 搬送手段
W ワーク
10, 10A, 10B Waveguide 20 Microwave generator 30 Plasma generating part 31 Plasma generating nozzle 32 Central conductor 320 Receiving antenna part 33 Nozzle body 332 Tubular space 34 Nozzle holder 344 Gas supply hole 38, 38A Adapter 381 Attachment part 382 Plasma chambers 3821, 3822 Chamber part 3823 Concave groove 3824 Opening part 383, 384 Slit plate 387, 387A Air outlet 40 Sliding short 50 Circulator 60 Dummy load 70 Stub tuner 80 Conveying roller 90 Overall controller 901 CPU
91 Microwave Output Control Unit 92 Gas Flow Rate Control Unit 921 Processing Gas Supply Source 922 Gas Supply Pipe 923 Flow Control Valve 93 Transfer Control Unit 931 Drive Motor 95 Operation Unit 96, 97 Sensor Input Unit S Work Processing Unit PU Plasma Generation Unit C Transfer Means W Work

Claims (6)

マイクロ波を発生するマイクロ波発生手段と、前記マイクロ波を伝搬する導波管と、前記マイクロ波を受信し、そのマイクロ波のエネルギーに基づきプラズマ化したガスを生成して放出するプラズマ発生ノズルが前記導波管に取付けられて成るプラズマ発生部とを備えて構成されるプラズマ発生装置において、
前記プラズマ発生ノズルは前記導波管に複数個配列して取付けられ、かつ各プラズマ発生ノズルは同心状に配置される内側電極と外側電極との間にグロー放電を生じさせてプラズマを発生させ、それらの間に処理ガスを供給することで、環状の吹出し口から常圧下でプラズマ化したガスを放射するように構成され、
前記プラズマ発生ノズルの先端に装着され、前記環状の吹出し口を長手状の吹出し口に変換するアダプタを含み、
前記各アダプタは、前記プラズマ発生ノズルの配列方向に対して所定の角度だけ傾斜して対応するプラズマ発生ノズルに取付けられていることを特徴とするプラズマ発生装置。
A microwave generating means for generating microwaves, a waveguide for propagating the microwave, and receives the microwave, plasma generation nozzle to release to generate plasma gas on the basis of the energy of the microwave In the plasma generator configured to include a plasma generator attached to the waveguide ,
A plurality of the plasma generating nozzles are arranged and attached to the waveguide, and each plasma generating nozzle generates a glow discharge between an inner electrode and an outer electrode arranged concentrically to generate plasma, By supplying the processing gas between them, it is configured to radiate plasma gas from the annular outlet under normal pressure,
The mounted to the distal end of each plasma generating nozzles, seen including an adapter for converting the annular air outlet in the longitudinal-shaped air outlet,
Each of the adapters is attached to a corresponding plasma generation nozzle inclined at a predetermined angle with respect to the arrangement direction of the plasma generation nozzles .
マイクロ波を発生するマイクロ波発生手段と、前記マイクロ波を伝搬する導波管と、前記マイクロ波を受信し、そのマイクロ波のエネルギーに基づきプラズマ化したガスを生成して放出するプラズマ発生ノズルが前記導波管に取付けられて成るプラズマ発生部とを備えて構成されるプラズマ発生装置において、
前記プラズマ発生ノズルは前記導波管に複数個配列して取付けられ、かつ各プラズマ発生ノズルは同心状に配置される内側電極と外側電極との間にグロー放電を生じさせてプラズマを発生させ、それらの間に処理ガスを供給することで、環状の吹出し口から常圧下でプラズマ化したガスを放射するように構成され、
前記各プラズマ発生ノズルの先端に装着され、前記環状の吹出し口を長手状の吹出し口に変換するアダプタを含み、
前記プラズマ発生ノズルは相互に平行に複数列配列され、かつその複数列でその列方向とは直交方向から見て前記列方向に相互に間隔を開けて配列され、前記各プラズマ発生ノズルに対応するアダプタは、その長手方向が前記列方向と略平行に取付けられていることを特徴とするプラズマ発生装置。
A microwave generating means for generating a microwave; a waveguide for propagating the microwave; and a plasma generating nozzle for receiving the microwave, generating a plasma gas based on the energy of the microwave, and emitting the gas. In the plasma generator configured to include a plasma generator attached to the waveguide,
A plurality of the plasma generating nozzles are arranged and attached to the waveguide, and each plasma generating nozzle generates a glow discharge between an inner electrode and an outer electrode arranged concentrically to generate plasma, By supplying the processing gas between them, it is configured to radiate plasma gas from the annular outlet under normal pressure,
An adapter that is attached to the tip of each plasma generating nozzle and converts the annular outlet into a longitudinal outlet;
The plasma generating nozzles are arranged in a plurality of rows parallel to each other, and the plurality of rows are arranged at intervals in the row direction when viewed from a direction orthogonal to the row direction, and correspond to each plasma generating nozzle. adapter characteristics and to pulp plasma generating apparatus that the longitudinal direction is mounted in parallel the column direction and substantially.
マイクロ波を発生するマイクロ波発生手段と、前記マイクロ波を伝搬する導波管と、前記マイクロ波を受信し、そのマイクロ波のエネルギーに基づきプラズマ化したガスを生成して放出するプラズマ発生ノズルが前記導波管に取付けられて成るプラズマ発生部とを備えて構成されるプラズマ発生装置において、
前記プラズマ発生ノズルは前記導波管に複数個配列して取付けられ、かつ各プラズマ発生ノズルは同心状に配置される内側電極と外側電極との間にグロー放電を生じさせてプラズマを発生させ、それらの間に処理ガスを供給することで、環状の吹出し口から常圧下でプラズマ化したガスを放射するように構成され、
前記各プラズマ発生ノズルの先端に装着され、前記環状の吹出し口を長手状の吹出し口に変換するアダプタを含み、
前記プラズマ発生ノズルは一直線上に配列され、対応する各アダプタは、前記長手状の吹出し口が、前記一直線と略平行に、かつ交互に前記一直線とは直交方向にずれて配列されていることを特徴とするプラズマ発生装置。
A microwave generating means for generating a microwave; a waveguide for propagating the microwave; and a plasma generating nozzle for receiving the microwave, generating a plasma gas based on the energy of the microwave, and emitting the gas. In the plasma generator configured to include a plasma generator attached to the waveguide,
A plurality of the plasma generating nozzles are arranged and attached to the waveguide, and each plasma generating nozzle generates a glow discharge between an inner electrode and an outer electrode arranged concentrically to generate plasma, By supplying the processing gas between them, it is configured to radiate plasma gas from the annular outlet under normal pressure,
An adapter that is attached to the tip of each plasma generating nozzle and converts the annular outlet into a longitudinal outlet;
The plasma generating nozzles are arranged on a straight line, and the corresponding adapters are arranged such that the long outlets are arranged substantially parallel to the straight line and alternately shifted in a direction orthogonal to the straight line. features and to Help plasma generating device.
隣接するアダプタの長手方向の端部が、前記プラズマ発生ノズルの配列方向とは直交方向から見て重なり合っていることを特徴とする請求項のいずれか1項に記載のプラズマ発生装置。 The plasma generating apparatus according to any one of claims 1 to 3 , wherein ends of adjacent adapters in the longitudinal direction overlap each other when viewed from a direction orthogonal to the arrangement direction of the plasma generating nozzles. 前記長手状の吹出し口は、該吹出し口の中心から外方へ向うにつれて、開口面積が段階的または連続的に拡大形成されていることを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載のプラズマ発生装置。 The longitudinal-shaped air outlet, as the direction from the center of該吹spout outwardly to any one of claims 1 to 4, the opening area is characterized by being enlarged form stepwise or continuously The plasma generator described. 前記請求項1〜のいずれか1項に記載のプラズマ発生装置に、所定の搬送方向にワークを搬送する搬送手段を備えて成ることを特徴とするワーク処理装置。 6. A workpiece processing apparatus, comprising: the plasma generating apparatus according to any one of claims 1 to 5 ; and a conveyance unit that conveys a workpiece in a predetermined conveyance direction.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7164095B2 (en) 2004-07-07 2007-01-16 Noritsu Koki Co., Ltd. Microwave plasma nozzle with enhanced plume stability and heating efficiency
TW200742506A (en) 2006-02-17 2007-11-01 Noritsu Koki Co Ltd Plasma generation apparatus and work process apparatus
GB0718721D0 (en) 2007-09-25 2007-11-07 Medical Device Innovations Ltd Surgical resection apparatus
EP2599506B1 (en) 2007-11-06 2018-07-11 Creo Medical Limited Applicator for microwave plasma sterilisation
US7921804B2 (en) 2008-12-08 2011-04-12 Amarante Technologies, Inc. Plasma generating nozzle having impedance control mechanism
CA2972027C (en) * 2015-01-09 2019-06-04 Illinois Tool Works Inc. Inline plasma-based system and method for thermal treatment of continuous products
CN107064114A (en) * 2016-12-15 2017-08-18 伊创仪器科技(广州)有限公司 A kind of removable Microwave Induced Plasma torch pipe
GB2564404A (en) * 2017-07-06 2019-01-16 Tokamak Energy Ltd Machine learning in fusion reactors
JP7344796B2 (en) * 2017-08-31 2023-09-14 積水化学工業株式会社 Active gas irradiation device
CN107708283A (en) * 2017-11-06 2018-02-16 清华大学 The temprature control method and equipment of a kind of microwave plasma
CN115466939A (en) * 2022-10-10 2022-12-13 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 Light modulation chemical vapor deposition device and method for modulating film growth temperature by using same

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6046029A (en) * 1983-08-24 1985-03-12 Hitachi Ltd Equipment for manufacturing semiconductor
JPS60502243A (en) * 1983-08-30 1985-12-26 カストリン・ソシエテ・アノニム A device that uses heat to melt and spray materials to be melted and painted.
JP2001068298A (en) * 1999-07-09 2001-03-16 Agrodyn Hochspannungstechnik Gmbh Plasma nozzle
JP2003133302A (en) * 2001-10-26 2003-05-09 Applied Materials Inc Adaptor holder, adaptor, gas inlet nozzle, and plasma treatment apparatus
JP2004006211A (en) * 2001-09-27 2004-01-08 Sekisui Chem Co Ltd Plasma treatment device
JP2005095744A (en) * 2003-09-24 2005-04-14 Matsushita Electric Works Ltd Surface treatment method of insulating member, and surface treatment apparatus for insulating member
JP2008508683A (en) * 2004-07-30 2008-03-21 アマランテ テクノロジーズ,インク. Plasma nozzle array for uniform and scalable microwave plasma generation

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6046029A (en) * 1983-08-24 1985-03-12 Hitachi Ltd Equipment for manufacturing semiconductor
JPS60502243A (en) * 1983-08-30 1985-12-26 カストリン・ソシエテ・アノニム A device that uses heat to melt and spray materials to be melted and painted.
JP2001068298A (en) * 1999-07-09 2001-03-16 Agrodyn Hochspannungstechnik Gmbh Plasma nozzle
JP2004006211A (en) * 2001-09-27 2004-01-08 Sekisui Chem Co Ltd Plasma treatment device
JP2003133302A (en) * 2001-10-26 2003-05-09 Applied Materials Inc Adaptor holder, adaptor, gas inlet nozzle, and plasma treatment apparatus
JP2005095744A (en) * 2003-09-24 2005-04-14 Matsushita Electric Works Ltd Surface treatment method of insulating member, and surface treatment apparatus for insulating member
JP2008508683A (en) * 2004-07-30 2008-03-21 アマランテ テクノロジーズ,インク. Plasma nozzle array for uniform and scalable microwave plasma generation

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