JP4597079B2 - 画像ムラ検査装置及びその方法 - Google Patents
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Description
11 検査光照射部
19 デジタル信号処理部
21 積算部
30 ブロック
A 輝度シェーディング
a,b,c 画像ムラ
Claims (12)
- 画像ムラを検査する検査対象画像の画像データに対しホワイトバランス補正を施す補正手段と、該ホワイトバランス補正後の前記画像データをL*a*b*表色系に変換する変換手段と、該変換後の彩度データによって前記画像ムラを自動判定する判定手段とを備えることを特徴とする画像ムラ検査装置。
- 前記検査対象画像が、固体撮像素子から読み出した画像であることを特徴とする請求項1に記載の画像ムラ検査装置。
- 前記検査対象画像が、ディスプレイ装置に表示した画像であることを特徴とする請求項1に記載の画像ムラ検査装置。
- 検査対象画像の縮小画像を生成し該縮小画像を前記検査対象画像とすることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の画像ムラ検査装置。
- 前記縮小画像を複数ブロックに分割し、各ブロック内の画像データの平均値に対して前記変換を施し各ブロック毎に得られた彩度データにより当該ブロックに対する前記判定を行うことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の画像ムラ検査装置。
- 前記自動判定を行う閾値を画像ムラの目視判定レベルに設定したことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の画像ムラ検査装置。
- 画像ムラを検査する検査対象画像の画像データに対しホワイトバランス補正を施し、該ホワイトバランス補正後の前記画像データをL*a*b*表色系に変換し、該変換後の彩度データによって前記画像ムラを自動判定することを特徴とする画像ムラ検査方法。
- 前記検査対象画像が、固体撮像素子から読み出した画像であることを特徴とする請求項7に記載の画像ムラ検査方法。
- 前記検査対象画像が、ディスプレイ装置に表示した画像であることを特徴とする請求項7に記載の画像ムラ検査方法。
- 検査対象画像の縮小画像を生成し該縮小画像を前記検査対象画像とすることを特徴とする請求項7乃至請求項9のいずれかに記載の画像ムラ検査方法。
- 前記縮小画像を複数ブロックに分割し、各ブロック内の画像データの平均値に対して前記変換を施し各ブロック毎に得られた彩度データにより当該ブロックに対する前記判定を行うことを特徴とする請求項7乃至請求項10のいずれかに記載の画像ムラ検査方法。
- 前記自動判定を行う閾値を画像ムラの目視判定レベルに設定したことを特徴とする請求項7乃至請求項11のいずれかに記載の画像ムラ検査方法。
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JPH1166311A (ja) * | 1997-08-08 | 1999-03-09 | Hitachi Tobu Semiconductor Ltd | むら検査方法および装置 |
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