JP4564213B2 - Plasma generating antenna and CVD apparatus - Google Patents

Plasma generating antenna and CVD apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP4564213B2
JP4564213B2 JP2001280285A JP2001280285A JP4564213B2 JP 4564213 B2 JP4564213 B2 JP 4564213B2 JP 2001280285 A JP2001280285 A JP 2001280285A JP 2001280285 A JP2001280285 A JP 2001280285A JP 4564213 B2 JP4564213 B2 JP 4564213B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
antenna
plasma
antenna element
value
dielectric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001280285A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2003086581A (en
Inventor
憲明 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
Mitsui E&S Holdings Co Ltd
Original Assignee
Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
Mitsui E&S Holdings Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd, Mitsui E&S Holdings Co Ltd filed Critical Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
Priority to JP2001280285A priority Critical patent/JP4564213B2/en
Publication of JP2003086581A publication Critical patent/JP2003086581A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4564213B2 publication Critical patent/JP4564213B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、大面積プラズマ生成用アンテナに関し、更に詳細には、例えば1m×1mのような大きな面積に対して均一、且つ高い効率でプラズマを発生させ、プラズマを用いた化学蒸着(CVD)、液晶製膜、半導体エッチングなどに適用できるプラズマ発生用アンテナに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
アモルファスタイプや結晶タイプの薄膜太陽電池は、既に様々な分野で利用されるに至っているが、クリーンエネルギー源として今後電力供給用として早期実用化が望まれていることは周知である。電力用薄膜太陽電池は、少なくとも1m×1mという大きな面積の薄膜太陽電池が必要とされている。このような大面積のプラズマをアンテナを用いて生成するためには、従来は導体柱状アンテナをガス中に直接挿入して行うとしていたが、空間的に均一なプラズマを生成することが困難であり、高速且つ高品質で製造することのできる新たなプラズマ生成用アンテナの開発が必要とされている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、例えば大型の薄膜太陽電池を製造する装置としてECR(electron cyclotron reasonance)プラズマCVD装置を用いることが考えられる。しかしながら、大きな面積の蒸着面を得るプラズマを発生させるには、サイクロトロンに使用する磁場発生用のコイルと放射電波用のアンテナの配置が互に干渉するようになり実現困難であるという問題がある。
【0004】
プラズマを発生させる別な手段としてアンテナだけでプラズマを発生させることが考えられる。しかしながらこの方法は、プラズマが電気の良導体であることから、アンテナに高周波を給電しても、給電口から先にエネルギーが伝播しないという現象(遮蔽効果)が生じる。しかも製造コストを下げるために製膜速度を向上させようとすればプラズマ密度を上げる必要があるが、そうすればますます前記遮蔽効果が大きくなる。
【0005】
また、前記のような大型の蒸着面やエッチング面を得るには、使用周波数も従来のECRプラズマCVD装置に使用されていた約13MHzから、1m×1m程度の面積とすると約100MHzと高くする必要がある。かかる高周波は波長がチャンバーサイズと同等あるいはそれ以下となるので、均一な電波強度を得ることが従来より困難となる。
【0006】
本発明は、以上の問題に着目してなされたものであり、遮蔽効果の発生を防止し、大面積にわたり高密度且つより均一なプラズマを発生させ、例えば大面積の太陽電池、液晶のどの製膜や半導体その他のエッチングなどに適用することのできる大面積プラズマ生成用アンテナを提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するための本発明のプラズマ生成用アンテナは、半径がa値である柱状の導電体からなる複数のアンテナ素子を、高周波電流が供給される端部が交互に逆になるように互いに平行かつ平面状に配置すると共に、前記アンテナ素子の表面を、下記の式で定義される該アンテナ素子の単位長さ当たりの容量C(ω)における負号を含めた第2項を正の値にするb値である臨界値bcを超える値から前記a値を差し引いた値と同じ厚さの誘電体で被覆してなることを特徴とするものである。

Figure 0004564213
但し、変数及び関数F(x)は次の通りである。
Figure 0004564213
(u):0次のベッセル関数
ω=高周波電流の角周波数
ω =プラズマの角周波数
ε =真空の誘電率
ε =誘電体の誘電率
μ =真空の誘電率
また、上記目的を達成するための本発明のCVD装置は、上記のプラズマ生成用アンテナを、蒸着ガスを導入するガス供給管と真空発生用の排気管とが取り付けられたチャンバー内に設置すると共に、前記プラズマ生成用アンテナの両側に蒸着用基板をそれぞれ配置してなることを特徴とするものである。
【0008】
前記誘電体の素材としては、例えば石英やセラミックスなどである。但し本発明はこれらの例示材料に限定されない。
【0009】
以下前記アンテナ素子について添付の図1により説明する。図1(A)は、対向する導電体壁 、W (いずれも接地されている)のそれぞれから同一長さのアンテナ素子Rを所定間隔だけ離し、反対方向に、且つそれぞれの自由端が対向する導電体壁 、W から所定間隔hを開けて、導電体壁 、W の壁面との干渉を避けるようにして配置したアンテナを形成した場合を図示したものである。
【0010】
なお図1に示す符合wは、アンテナ素子Rの根元部を覆った金属部材(接地されている)であり、前記所定間隔hに対応する部分から電波が放射されないようにした、アンテナ素子Rの長さ調整用部材である。但し本発明にとって本質的ではなく、省略することができる。
【0011】
図1(A)に示したアンテナにおいて、アンテナ素子Rに長さの4/3倍の波長の高周波電流を供給し、定在波を形成させた場合を図示したものである。図1(B)の上段はアンテナ素子Rの自由端側が開放されている場合に形成される定在波であり、下段は、アンテナ素子Rの自由端側に電波を反射する導電体壁Wがある場合である。製膜、エッチングなどは通常減圧下に行われるので、図1(B)の下段、即ち図1(A)に示した構成によって実施される。
【0012】
以上の説明から理解されるようにアンテナ素子の長さZは、アレイアンテナに供給する高周波の波長に対して、〔数1〕式によって与えられる。
【0013】
【数1】
Figure 0004564213
なお〔数1〕式中、nはゼロまたは正の整数を表す。
【0014】
〔数1〕式で与えられるアンテナ素子の長さは、この長さを基準にアンテナ素子上に高周波の定在波が得らるよう、実際に即して決定すればよく、幾何学的に厳密な長さを指定するものではなく、実質的にこの値を満たすようにすればよい。
【0015】
前記アンテナ素子の配置を面状にする場合、通常は平面状とするが、本発明はこれに限定されない。
【0016】
前記アンテナ素子は導電体とすることが必要であり、一般に銅、アルミニウム、白金などを使用することができる。しかしながらこれらの例示された金属に本発明は限定されない。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下図面を参照するプラズマCVD装置によって実施した一実施の形態を示し、本発明を具体的に説明する。
【0018】
図2, 3に示すCVD装置(以下単に装置)1は、本実施の形態の大面積プラズマ生成用アンテナ(以下単にアンテナ)2をチャンバー3内に配置し、その両側にガラスなどの蒸着用基板4をチャンバー3の金属製の壁面3aに配置した基板台3bに取り付け、蒸着ガスを壁面3aに開口するガス供給管5から装置1内に導入するようにしたものである。また使用する蒸着ガスは、蒸着目的によって一定しないが、太陽電池用としてはシランガスなどを用いることができる。
【0019】
なお前記基板3bには基板4を加熱するための発熱体 (図示せず) が取り付けられており、また図2、3に示す符合3cは真空発生用の排気管である。以上説明した装置構造は、プラズマ蒸着装置の概要説明用の例示であり、これによって本発明を限定的に解釈されるべきではない。
【0020】
アンテナ2は、複数のアンテナ素子6からなるアレイアンテナであり、各アンテナ素子6は、図2に示すように給電方向が交互に逆方向を向き、しかも互いに平行的(図2)且つ平面的(図3)に配置し、それぞれの極のアンテナ素子6に同相電力分配器7を配置し、ここからアンテナ素子6ごとに高周波電流を分配する。
【0021】
アンテナ素子6は、図4に示すように電気良導体からなる棒状(パイプであってもよい)で、長さSを使用高周波の波長λの(2n+1)/4倍(式中nはゼロ、または正の整数である)の長さとし、表面を誘電体8で被覆したもので、チャンバー壁3aに開けた開口3dに電気的に絶縁して取り付け、高周波電流供給端6a側を、同軸フィーダー9の芯線9aに接続したものである。なお図1,2に示すようにチャンバー壁3aは接地されている。
【0022】
図2、 3において、排気管3bに接続した真空ポンプ(図示せず)を作動させてを通常1mmTorr〜1Torr程度の真空にしたチャンバー3内に蒸着用ガスを送り込み、アンテナ素子6に高周波電流を供給すると、図5に示すようにアンテナ素子6の周囲には交番磁場および電場が発生し、アンテナ素子6から周囲に電波が放射され、チャンバー3内に供給されたガスが電離してプラズマとなる。
【0023】
この場合プラズマは導電性であるので、チャンバー3内にプラズマが充満して全体が導電性になると、放射された電波はプラズマに反射され、電波はアンテナ素子6の周辺に閉じ込められ、この部分にプラズマ加熱領域10(図6)が限定されるようになる。
【0024】
ところで、誘電体8の厚さをある値 (以下に説明する臨界値)以上とすると、電場および磁場がアンテナ素子の軸心方向(以下z軸という)に垂直な面内(図6のx軸、y軸を含む面)にあるTEMモード(transverse electromagnetic mode) の電波がz軸方向に伝播する。以下この電波放射と誘電体被覆との関係について順次説明する。
【0025】
プラズマ加熱のエネルギー源となる高周波電流の周波数をfとすると、通常のプラズマCVD装置やエッチング装置などの場合、プラズマ周波数fp より低いと仮定することができる。なおfp は〔数2〕式で与えられる。
【0026】
【数2】
Figure 0004564213
式中ne は電子の単位体積中の数、−eは電子の電荷、me は電子の質量、ε0 は真空の誘電率を表す。〔数2〕式を使用し電子密度ne とプラズマ周波数fp との関係を求めると図7がえられる。図7において、一般にプラズマCVDに使用する電子密度は1015〜1017の範囲であるから、プラズマCVDに使用するプラズマ周波数fp は、300MHz〜5GHzの範囲の値となることが分かる。
【0027】
アンテナ素子6に沿った軸をz軸とし、位置zにおける中心の導体部分の電位をV(z) 、電流をI(z) で、表し、系の時間依存性をexp(i ω t)と仮定する。ここでω=2πfであり、iは虚数(−1の平方根)を表す。このときアンテナ素子6に沿って伝播する電波の基礎方程式は単位長さ当たりのインダクタンスL(z) と容量C(z) を用いて電圧V(z) 、I(z) のz軸方向の変化を示すと、〔数3〕式、〔数4〕式のように表すことができる。
【0028】
【数3】
Figure 0004564213
【0029】
【数4】
Figure 0004564213
ここで、L(ω)は単位長さ当たりのインダクタンス、C(ω) は単位長さ当たりの容量を表す。
【0030】
インダクタンスL(ω)と容量C(ω)とは更に誘電体に関する部分とプラズマに関する部分とに分けることができる。アンテナ素子6本体(導体部分)の断面形状を半径をaの円形とし、同様に誘電体被覆後の断面形状の半径をbとすると、インダクタンスL(ω)および容量C(ω)はそれぞれ〔数5〕式、〔数6〕式で与えられる。
【0031】
【数5】
Figure 0004564213
【0032】
【数6】
Figure 0004564213
【0033】
ここでε はアンテナ素子6の誘電体8の誘電率、μは真空の誘電率、Inは自然対数を表す。また、〔数5〕式を第1項と第2項との加算式としたときの第2項はプラズマが寄与する単位長さ当たりのインダクタンスを表し、〔数6〕式を第1項と第2項との減算式としたときの第2項(負号を含む)はプラズマが寄与する単位長さ当たりの容量を表している。
【0034】
更に〔数5〕式および〔数6〕式中の関数F(x)は〔数7〕式で与えられる関数である。
【0035】
【数7】
Figure 0004564213
ここでK0 (u) は0次のベッセル関数であり、図8に〔数7〕式のxとF(x)との関係を示す。
【0036】
なお〔数6〕式の第2項の符号が負であることについては以降で説明する。
【0037】
z軸に沿って伝播する波動を〔数8〕式のように表すことができる。
【0038】
【数8】
Figure 0004564213
ここでγは伝播定数である。伝播定数γは、〔数3〕、〔数4〕から導いた〔数9〕式で与えられる。
【0039】
【数9】
Figure 0004564213
【0040】
もしアンテナ素子に誘電体8の被覆が無かったとすると、中心導体(アンテナ素子6)の半径aと誘電体8を被覆後の半径bとの関係はa=bとなり、C(ω)を与える〔数6〕式の分母の第1項は0となり、単位長さあたり容量C(ω)は負になってしまう。
【0041】
一方、前記「単位長さ当たりのインダクタンス」は常に正である。したがって〔数9〕式からγは正の数となる。このときアンテナ素子6の長手方向に沿って伝播する電波は、給電点からz軸方向に指数関数的に減衰し、波動として伝播しない。したがって、波長の(2n+1)/4倍の長さとしても共振はあり得ず、結果的に効率よくプラズマ中へのエネルギーを投入することができなくなる。この関係を図9に示す。
【0042】
一方アンテナ素子6に誘導体8の被覆があると、〔数6〕式の第2項を正の値にすることができる。このとき、伝播定数γは虚数となり、アンテナ素子6に沿って電波が伝播するようになる。この値(臨界値bc ) より大きな誘電体8を被覆後径bを選べば、図10に示すようにz 軸方向に高周波電流を伝播させることが可能となり、アンテナ素子6から電波を放射させることが可能となる。この場合、アンテナ素子6の長さを波長の(2n+1)/4倍とすることにより、アンテナ2が共振器として動作するようになる。
【0043】
次に、誘電体8の被覆厚さとアンテナ素子6を流れる電流との関係を説明する。アンテナ素子6の長手方向の電流強度は、供給端が最も高く、先端部でゼロになる。したがって、それぞれ反対極のアンテナ素子6に、互に反対方向から高周波電流を供給し、それぞれが放射した電波が合成されて均一なプラズマが形成され、膜厚が均一な蒸着膜が得られることとなる。
【0044】
ところで、前記誘電体8を被覆後の半径が前記臨界bc を超える厚さにし、高周波電流をアンテナ素子6内に伝播可能にすると、反対極のアンテナ素子6それぞれに流れる電流強度IaIbの減衰曲線は余弦曲線となり、エネルギーはその2乗に比例するから、電流強度Ia、Ibによるエネルギーの和は、正弦および余弦それぞれの2乗の和である1に比例する。即ち図11(B)のグラフに示すようにアンテナ素子6の軸方向に対して常に平らとなり、生成するプラズマのチャンバー3内の空間密度を均一とすることができる。
【0045】
前記臨界値bc から誘電体8の厚さtc(=bc −a)を求め、プラズマ周波数fp との関係を求めると図12が得られる。プラズマの電子密度を1016(1/m3 )とすると、プラズマ周波数fp はおよそ1GHzとなる。この値を図12に入れると誘電体厚の臨界値tc はおよそ2mmとなる。
【0046】
以上の説明から明らかなように、本発明によって1m×1mという従来実現できなかった大型の薄膜太陽電池、液晶の製膜やエッチングなどを効率よく行うことが可能となった。
【0047】
【発明の効果】
以上説明したように本発明の大面積プラズマ生成用アンテナは、アレイアンテナを構成する棒状アンテナ素子の表面を誘電体で被覆したことにより、放射電波エネルギーを効率よく電極周囲のガス中に放出することが可能となり、空間的に均質なプラズマを、可及的に高い密度で発生させることが可能となった。したがって、電力供給用として利用可能な大型の薄膜太陽電池の製造、液晶薄膜の製造、半導体などのエッチングその他各種の工業的用途に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)は本発明アンテナの基本形状を示し、それぞれアンテナ素子の自由端側を壁面WR 側にした場合と、アンテナ素子の自由端側をWL にした場合との対であることを示す図、(b)はそれぞれのアンテナ素子上に生じる定在波を示す図である。。
【図2】本発明の一実施の形態によるプラズマ発生用アンテナを取り付けたプラズマCVD装置の内部構成の概要を説明するための平面図である。
【図3】図2のIII−III線断面図である。
【図4】図1に示す棒状アンテナ素子をチャンバー壁に取り付けた部分の様子を示す拡大部分断面図である。
【図5】図3のアンテナ素子の周囲にプラズマが発生している様子を説明するための部分拡大断面図である。
【図6】図4の直角方向断面図である。
【図7】電子密度ne とプラズマ周波数fp との関係を示すグラフ図である。
【図8】〔数7〕式のxと関数F(x)との関係を示すグラフ図であり、(A)はxが0.01〜1の場合のグラフであり、(B)はxが1〜20の場合のF(x)の値を示す。
【図9】通常の導電体からなる棒状アンテナ素子を用いてプラズマを発生させる際の遮蔽効果を説明するグラフ図である。
【図10】誘電体層の厚さtがtc より大きい場合にz軸方向に無限に電波が減衰することなく伝播することを示す図である。
【図11】本発明の1/4λ長のアンテナ素子の長手方向の電流分布を最適化する方法の説明図であり、(A)はアンテナ素子の断面図を、 (B)は最適化された分布を示すグラフ図である。
【図12】誘電体の比誘電率を5. 0としたとき、アンテナ素子に進行波を給電可能にする限界誘電体被覆厚さを示すグラフ図である。
【符号の説明】
2 アレイアンテナ
6 アンテナ素子
8 誘電体[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an antenna for generating a large area plasma, and more specifically, generates a plasma uniformly and with high efficiency over a large area such as 1 m × 1 m, and performs chemical vapor deposition (CVD) using the plasma, The present invention relates to a plasma generating antenna applicable to liquid crystal film formation, semiconductor etching, and the like.
[0002]
[Prior art]
Amorphous and crystalline thin-film solar cells have already been used in various fields, but it is well known that early commercialization is desired for power supply as a clean energy source. The thin film solar cell for electric power is required to be a thin film solar cell having a large area of at least 1 m × 1 m. In order to generate such a large-area plasma using an antenna, conventionally, a conductive columnar antenna was directly inserted into a gas, but it is difficult to generate a spatially uniform plasma. There is a need to develop a new plasma generating antenna that can be manufactured at high speed and high quality.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, for example, ECR (e l ectron It is conceivable to use a plasma CVD apparatus. However, in order to generate a plasma for obtaining a vapor deposition surface having a large area, there is a problem that the arrangement of the magnetic field generating coil used in the cyclotron and the antenna for the radiated radio wave interfere with each other, which is difficult to realize.
[0004]
As another means for generating plasma, it is conceivable to generate plasma only by an antenna. However, in this method, since the plasma is a good electrical conductor, even if a high frequency is fed to the antenna, a phenomenon (shielding effect) that energy does not propagate first from the feeding port occurs. Moreover, if it is attempted to increase the film-forming speed in order to reduce the manufacturing cost, it is necessary to increase the plasma density.
[0005]
Further, in order to obtain a large deposition surface and etching surface as described above, it is necessary to increase the operating frequency from about 13 MHz used in the conventional ECR plasma CVD apparatus to about 100 MHz when the area is about 1 m × 1 m. There is. Since the wavelength of such a high frequency is equal to or less than the chamber size, it is more difficult than before to obtain a uniform radio wave intensity.
[0006]
The present invention has been made paying attention to the above-mentioned problems, prevents the generation of a shielding effect, and generates a high-density and more uniform plasma over a large area. An object of the present invention is to provide an antenna for generating a large-area plasma that can be applied to etching of a film, a semiconductor, or the like.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
Flop plasma generating antenna of the present invention for achieving the above object, a plurality of antenna elements with a radius of columnar conductor is a value such that the end portion through which a high-frequency current is supplied is reversed alternately Are parallel to each other and in a plane, and the surface of the antenna element is defined by a second term including a negative sign in the capacitance C (ω) per unit length of the antenna element defined by the following formula: It is characterized by being covered with a dielectric having the same thickness as the value obtained by subtracting the a value from the value exceeding the critical value bc which is the b value.
Figure 0004564213
However, the variables and the function F (x) are as follows.
Figure 0004564213
K 0 (u): 0th order Bessel function
ω = angular frequency of high-frequency current
ω p = plasma angular frequency
ε 0 = dielectric constant of vacuum
ε r = dielectric constant of dielectric
μ 0 = dielectric constant of vacuum
In addition, the CVD apparatus of the present invention for achieving the above object is characterized in that the plasma generating antenna is installed in a chamber in which a gas supply pipe for introducing a vapor deposition gas and an exhaust pipe for generating a vacuum are attached. The deposition substrates are respectively disposed on both sides of the plasma generating antenna.
[0008]
Examples of the dielectric material include quartz and ceramics. However, the present invention is not limited to these exemplified materials.
[0009]
For the antenna element it will now be described with reference to FIG. 1 of the accompanying drawings. FIG. 1A shows that antenna elements R having the same length are separated from each of opposing conductor walls W L and W R (both are grounded) by a predetermined distance, in the opposite direction, and at their respective free ends. Are spaced a predetermined distance h from the opposing conductor walls W R and W L , and the conductor walls W L and W R The case where the antenna arrange | positioned so that interference with the wall surface of this may be avoided is illustrated.
[0010]
Note sign w shown in FIG. 1 is a metal member which covers the base portion of the antenna element R (which is grounded), Telecommunications know to that portion corresponding to the predetermined interval h is prevented from being radiated, the antenna element R This is a length adjusting member. However, it is not essential to the present invention and can be omitted.
[0011]
In the antenna shown in FIG. 1A, a high-frequency current having a wavelength 4/3 times the length is supplied to the antenna element R to form a standing wave. The upper stage of FIG. 1B is a standing wave formed when the free end side of the antenna element R is open, and the lower stage is a conductor wall W that reflects radio waves on the free end side of the antenna element R. This is the case. Since film formation, etching, and the like are usually performed under reduced pressure, the lower stage of FIG. 1B, that is, the configuration shown in FIG.
[0012]
As understood from the above description, the length Z of the antenna element is given by the formula [1] with respect to the wavelength of the high frequency supplied to the array antenna.
[0013]
[Expression 1]
Figure 0004564213
In the formula [1], n represents zero or a positive integer.
[0014]
[Equation 1] The length of the antenna element given by equation, the frequency of the standing wave length based on the antenna element Re give al so that may be determined in practice conformity, geometric The strict length is not specified in the above, but it is sufficient that the value is substantially satisfied.
[0015]
When the antenna elements are arranged in a planar shape, the antenna elements are usually planar, but the present invention is not limited to this.
[0016]
The antenna element needs to be a conductor, and generally copper, aluminum, platinum or the like can be used. However, the present invention These exemplified metal is not restricted.
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment implemented by a plasma CVD apparatus with reference to the drawings will be described below to specifically describe the present invention.
[0018]
A CVD apparatus 1 (hereinafter simply referred to as an apparatus) 1 shown in FIGS. 2 and 3 has a large-area plasma generating antenna (hereinafter simply referred to as an antenna) 2 according to the present embodiment disposed in a chamber 3, and a deposition substrate such as glass on both sides thereof. 4 is attached to a substrate table 3b disposed on a metal wall surface 3a of the chamber 3, and vapor deposition gas is introduced into the apparatus 1 from a gas supply pipe 5 that opens to the wall surface 3a. The vapor deposition gas used is not constant depending on the purpose of vapor deposition, but silane gas or the like can be used for solar cells.
[0019]
A heating element (not shown) for heating the substrate 4 is attached to the substrate 3b, and reference numeral 3c shown in FIGS. 2 and 3 is an exhaust pipe for generating a vacuum. The apparatus structure described above is an example for explaining the outline of the plasma deposition apparatus, and the present invention should not be construed as being limited thereto.
[0020]
The antenna 2 is an array antenna composed of a plurality of antenna elements 6. Each of the antenna elements 6 has a feeding direction alternately opposite to each other as shown in FIG. 2, and is parallel to each other (FIG. 2) and planar ( 3), an in-phase power distributor 7 is disposed in each pole antenna element 6, and a high-frequency current is distributed to each antenna element 6 therefrom.
[0021]
The antenna element 6 has a rod shape (may be a pipe) made of a good electric conductor as shown in FIG. 4 and has a length S of (2n + 1) / 4 times the wavelength λ of the high frequency used (where n is zero, or A length of a positive integer), the surface of which is coated with a dielectric 8, and electrically insulated and attached to the opening 3d opened in the chamber wall 3a, and the high-frequency current supply end 6a side is connected to the coaxial feeder 9 It is connected to the core wire 9a. As shown in FIGS. 1 and 2, the chamber wall 3a is grounded.
[0022]
2 and 3, a vacuum pump (not shown) connected to the exhaust pipe 3 b is operated to feed a vapor deposition gas into the chamber 3, which is normally evacuated to about 1 mmTorr to 1 Torr, and a high-frequency current is applied to the antenna element 6. When supplied, an alternating magnetic field and an electric field are generated around the antenna element 6 as shown in FIG. 5, radio waves are emitted from the antenna element 6 to the surroundings, and the gas supplied into the chamber 3 is ionized into plasma. .
[0023]
In this case, since the plasma is conductive, when the chamber 3 is filled with the plasma and becomes entirely conductive, the radiated radio wave is reflected by the plasma, and the radio wave is confined around the antenna element 6. The plasma heating region 10 (FIG. 6) is limited.
[0024]
By the way, when the thickness of the dielectric 8 is set to a certain value (critical value described below) or more, the electric field and the magnetic field are in a plane perpendicular to the axial direction of the antenna element (hereinafter referred to as z axis) (the x axis in FIG. 6). , The TEM mode (transverse electromagnetic mode) radio wave in the plane including the y-axis propagates in the z-axis direction. Hereinafter, the relationship between the radio wave radiation and the dielectric coating will be sequentially described.
[0025]
If the frequency of the high-frequency current that is the energy source for plasma heating is f, it can be assumed that the frequency is lower than the plasma frequency fp in the case of a normal plasma CVD apparatus or etching apparatus. Note that fp is given by the formula [2].
[0026]
[Expression 2]
Figure 0004564213
The number of n e is in unit volume of the electron in the formula, -e is the electron charge, m e is the electron mass, epsilon 0 denotes the dielectric constant of a vacuum. Expression (2) equation using the obtain the relationship between the electron density n e and the plasma frequency fp 7 will be obtained. In FIG. 7, since the electron density generally used for plasma CVD is in the range of 10 15 to 10 17 , it can be seen that the plasma frequency fp used for plasma CVD is a value in the range of 300 MHz to 5 GHz.
[0027]
The axis along the antenna element 6 is the z axis, the potential of the central conductor portion at the position z is expressed as V (z), the current is expressed as I (z), and the time dependence of the system is expressed as exp (i ω t). Assume. Here, ω = 2πf, and i represents an imaginary number (square root of −1). At this time, the basic equation of the radio wave propagating along the antenna element 6 is the change of the voltages V (z) and I (z) in the z-axis direction using the inductance L (z) and the capacitance C (z) per unit length. Can be expressed as [Equation 3] and [Equation 4].
[0028]
[Equation 3]
Figure 0004564213
[0029]
[Expression 4]
Figure 0004564213
Here, L (ω) represents an inductance per unit length, and C (ω) represents a capacity per unit length.
[0030]
The inductance L (omega) and capacitance C (omega) further can and Turkey divided into a portion related parts and the plasma relates to a dielectric. Assuming that the cross-sectional shape of the antenna element 6 body (conductor portion) is a circle with a radius a, and similarly the radius of the cross-sectional shape after coating the dielectric 8 is b , the inductance L (ω) and the capacitance C (ω) are respectively It is given by [Formula 5] and [Formula 6].
[0031]
[Equation 5]
Figure 0004564213
[0032]
[Formula 6]
Figure 0004564213
[0033]
Here, ε r is the dielectric constant of the dielectric 8 of the antenna element 6, μ 0 is the vacuum dielectric constant, and In is the natural logarithm. In addition, when the formula [5] is an addition formula of the first term and the second term, the second term represents the inductance per unit length contributed by plasma, and the formula [6] is expressed as the first term and the second term. The second term (including the negative sign) when subtracting from the second term represents the capacity per unit length contributed by plasma.
[0034]
Further, the function F (x) in the [Equation 5] and [Equation 6] is a function given by the [Equation 7].
[0035]
[Expression 7]
Figure 0004564213
Here, K 0 (u) is a 0th-order Bessel function, and FIG. 8 shows the relationship between x and F (x) in Equation (7).
[0036]
The fact that the sign of the second term of the formula [6] is negative will be described later.
[0037]
A wave propagating along the z-axis can be expressed as [Equation 8].
[0038]
[Equation 8]
Figure 0004564213
Here, γ is a propagation constant. The propagation constant γ is given by the following [Equation 9] derived from [Equation 3] and [Equation 4].
[0039]
[Equation 9]
Figure 0004564213
[0040]
If the coating of the dielectric 8 to the antenna element was no relationship between the radius b after coating the radius a and the dielectric 8 of the center conductor (antenna element 6) gives a = b becomes, C a (omega) The first term of the denominator of the equation [6] is 0, and the capacity C (ω) per unit length is negative.
[0041]
On the other hand, the “inductance per unit length” is always positive. Therefore, γ is a positive number from the formula [9]. At this time, the radio wave propagating along the longitudinal direction of the antenna element 6 attenuates exponentially from the feeding point in the z-axis direction and does not propagate as a wave. Therefore, there is no resonance even when the length is (2n + 1) / 4 times the wavelength, and as a result, it is impossible to efficiently input energy into the plasma. This relationship is shown in FIG.
[0042]
On the other hand, if the antenna element 6 is coated with the derivative 8 , the second term of the formula [6] can be set to a positive value. At this time, the propagation constant γ is an imaginary number, and radio waves propagate along the antenna element 6. If you choose this value radius b after coating a large dielectric 8 from (critical value bc), it is possible to propagate a high-frequency current to the z-axis direction as shown in FIG. 10, radiates a radio wave from the antenna element 6 It becomes possible to make it. In this case, by setting the length of the antenna element 6 to (2n + 1) / 4 times the wavelength, the antenna 2 operates as a resonator.
[0043]
Next, the relationship between the coating thickness of the dielectric 8 and the current flowing through the antenna element 6 will be described. The current intensity in the longitudinal direction of the antenna element 6 is highest at the supply end and becomes zero at the tip. Therefore, high frequency currents are supplied to the antenna elements 6 of opposite polarities from opposite directions, and the radio waves radiated from each other are combined to form a uniform plasma, thereby obtaining a vapor deposition film having a uniform film thickness. Become.
[0044]
By the way, when the radius b after coating the dielectric 8 is set to a thickness exceeding the critical bc so that a high-frequency current can be propagated in the antenna element 6, the current intensities Ia and Ib flowing in the antenna elements 6 of the opposite poles , respectively. Is a cosine curve, and the energy is proportional to the square thereof. Therefore, the sum of the energy due to the current intensities Ia and Ib is proportional to 1, which is the sum of the squares of the sine and cosine. That is, as shown in the graph of FIG. 11 (B), it is always flat with respect to the axial direction of the antenna element 6, and the spatial density of the generated plasma in the chamber 3 can be made uniform.
[0045]
When the thickness tc (= bc-a) of the dielectric 8 is obtained from the critical value bc and the relationship with the plasma frequency fp is obtained, FIG. 12 is obtained. If the electron density of the plasma is 10 16 (1 / m 3 ), the plasma frequency fp is approximately 1 GHz. When this value is entered in FIG. 12, the critical value tc of the dielectric thickness is about 2 mm.
[0046]
As apparent from the above description, a large thin-film solar cell which can not be achieved conventionally called 1 m × 1 m, and film or etching of the liquid crystal becomes possible to perform good efficiency by the present invention.
[0047]
【The invention's effect】
As described above, the large-area plasma generating antenna of the present invention efficiently emits radiated radio wave energy into the gas around the electrode by covering the surface of the rod-shaped antenna element constituting the array antenna with a dielectric. It became possible to generate a spatially homogeneous plasma at as high a density as possible. Therefore, it can be applied to the manufacture of large-sized thin film solar cells that can be used for power supply, the manufacture of liquid crystal thin films, etching of semiconductors, and other various industrial uses.
[Brief description of the drawings]
1 (A) shows the basic shape of the present invention the antenna, and when the free end side of the antenna element to the wall W R side, respectively, the free end of the antenna elements in pairs as when the W L FIG. 4B is a diagram showing standing waves generated on the respective antenna elements. .
FIG. 2 is a plan view for explaining an outline of an internal configuration of a plasma CVD apparatus equipped with a plasma generating antenna according to an embodiment of the present invention.
3 is a cross-sectional view taken along line III-III in FIG.
4 is an enlarged partial cross-sectional view showing a state where a rod-shaped antenna element shown in FIG. 1 is attached to a chamber wall. FIG.
5 is a partial enlarged cross-sectional view for explaining a state in which plasma is generated around the antenna element of FIG. 3;
6 is a cross-sectional view in the direction perpendicular to FIG. 4;
7 is a graph showing the relationship between the electron density n e and the plasma frequency fp.
8 is a graph showing the relationship between x and the function F (x) in [Expression 7], (A) is a graph when x is 0.01 to 1, and (B) is x. Indicates the value of F (x) in the case of 1-20.
FIG. 9 is a graph illustrating a shielding effect when plasma is generated using a rod-shaped antenna element made of a normal conductor.
FIG. 10 is a diagram showing that a radio wave propagates infinitely in the z-axis direction without attenuation when the thickness t of the dielectric layer is larger than t c .
FIGS. 11A and 11B are explanatory diagrams of a method for optimizing the current distribution in the longitudinal direction of a 1 / 4λ-long antenna element according to the present invention, in which FIG. 11A is a cross-sectional view of the antenna element, and FIG. It is a graph which shows distribution.
FIG. 12 is a graph showing a limit dielectric coating thickness that enables a traveling wave to be fed to the antenna element when the relative dielectric constant of the dielectric is 5.0.
[Explanation of symbols]
2 Array antenna 6 Antenna element 8 Dielectric

Claims (3)

半径がa値である柱状の導電体からなる複数のアンテナ素子を、高周波電流が供給される端部が交互に逆になるように互いに平行かつ平面状に配置すると共に、前記アンテナ素子の表面を、下記の式で定義される該アンテナ素子の単位長さ当たりの容量C(ω)における負号を含めた第2項を正の値にするb値である臨界値bcを超える値から前記a値を差し引いた値と同じ厚さの誘電体で被覆してなるプラズマ生成用アンテナ。
Figure 0004564213
但し、変数及び関数F(x)は次の通りである。
Figure 0004564213
(u):0次のベッセル関数
ω=高周波電流の角周波数
ω =プラズマの角周波数
ε =真空の誘電率
ε =誘電体の誘電率
μ =真空の誘電率
A plurality of antenna elements composed of columnar conductors having a radius a are arranged in parallel and in a plane so that ends to which a high-frequency current is supplied are alternately reversed, and the surface of the antenna element is arranged From the value exceeding the critical value bc, which is the b value that makes the second term including the negative sign in the capacity C (ω) per unit length of the antenna element defined by the following formula a positive value: flop plasma generation antenna formed by coating with a dielectric having the same thickness as the value obtained by subtracting the value.
Figure 0004564213
However, the variables and the function F (x) are as follows.
Figure 0004564213
K 0 (u): 0th order Bessel function
ω = angular frequency of high-frequency current
ω p = plasma angular frequency
ε 0 = dielectric constant of vacuum
ε r = dielectric constant of dielectric
μ 0 = dielectric constant of vacuum
前記アンテナ素子の長さを、前記高周波電流の波長の(2n+1)/4倍(n0又は正の整数)となるようにした請求項1記載のプラズマ生成用アンテナ。Wherein the length of the antenna elements, the high-frequency current of the wavelength of the (2n + 1) / 4 times (n is 0 or a positive integer) so as flop plasma generation antenna according to claim 1 which is a. 請求項1又は2に記載のプラズマ生成用アンテナを、蒸着ガスを導入するガス供給管と真空発生用の排気管とが取り付けられたチャンバー内に設置すると共に、前記プラズマ生成用アンテナの両側に蒸着用基板をそれぞれ配置してなるCVD装置。The plasma generating antenna according to claim 1 or 2 is installed in a chamber in which a gas supply pipe for introducing a vapor deposition gas and an exhaust pipe for generating a vacuum are attached, and vapor deposition is performed on both sides of the plasma generating antenna. CVD apparatus in which a substrate is disposed.
JP2001280285A 2001-09-14 2001-09-14 Plasma generating antenna and CVD apparatus Expired - Fee Related JP4564213B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001280285A JP4564213B2 (en) 2001-09-14 2001-09-14 Plasma generating antenna and CVD apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001280285A JP4564213B2 (en) 2001-09-14 2001-09-14 Plasma generating antenna and CVD apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003086581A JP2003086581A (en) 2003-03-20
JP4564213B2 true JP4564213B2 (en) 2010-10-20

Family

ID=19104312

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001280285A Expired - Fee Related JP4564213B2 (en) 2001-09-14 2001-09-14 Plasma generating antenna and CVD apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4564213B2 (en)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4594770B2 (en) * 2005-03-18 2010-12-08 三井造船株式会社 Plasma CVD equipment
JP2006278862A (en) * 2005-03-30 2006-10-12 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd Plasma processing device
JP2006274420A (en) * 2005-03-30 2006-10-12 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd Plasma film deposition method, and plasma cvd apparatus
JP4862375B2 (en) * 2005-12-06 2012-01-25 株式会社エーイーティー Traveling waveform microwave plasma generator
JP2007258570A (en) * 2006-03-24 2007-10-04 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd Plasma processing device
JP4817923B2 (en) 2006-03-29 2011-11-16 三井造船株式会社 Plasma generating apparatus and plasma generating method
US8440268B2 (en) 2006-03-30 2013-05-14 Mitsui Engineering & Shipbuilding Co., Ltd. Method and apparatus for growing plasma atomic layer
TW200845833A (en) * 2007-05-01 2008-11-16 Delta Electronics Inc Plasma generating device
TW200946714A (en) 2008-02-18 2009-11-16 Mitsui Engineering & Shipbuilding Co Ltd Atomic layer deposition apparatus and atomic layer deposition method
JP5052537B2 (en) * 2009-01-27 2012-10-17 三井造船株式会社 Plasma generating apparatus and plasma generating method
JP2013527609A (en) 2010-04-30 2013-06-27 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Vertical in-line CVD system
JP5609661B2 (en) * 2011-01-17 2014-10-22 株式会社Ihi Inductively coupled double tube electrode and array antenna CVD plasma apparatus
US9397380B2 (en) 2011-01-28 2016-07-19 Applied Materials, Inc. Guided wave applicator with non-gaseous dielectric for plasma chamber
JP5625991B2 (en) * 2011-02-18 2014-11-19 株式会社Ihi Antenna carrier system and antenna carrier method for array antenna type plasma CVD apparatus
US8872428B2 (en) 2011-02-25 2014-10-28 Applied Materials, Inc. Plasma source with vertical gradient
DE102011100057A1 (en) * 2011-04-29 2012-10-31 Centrotherm Thermal Solutions Gmbh & Co. Kg Plasma treatment device for treating e.g. semiconductor substrate, has electrodes arranged in pairs with same distance from center plane of chamber such that microwaves of electrodes are partially offset with respect to each other
JP5935461B2 (en) * 2012-04-03 2016-06-15 株式会社Ihi Plasma processing equipment
JP5875155B2 (en) * 2012-07-27 2016-03-02 国立大学法人大阪大学 Deposition equipment
WO2018016131A1 (en) * 2016-07-21 2018-01-25 株式会社日立国際電気 Plasma generating device, substrate processing device, and method of manufacturing semiconductor device
CN118553594A (en) * 2024-07-26 2024-08-27 中科研和(宁波)科技有限公司 Graphite boat cleaning equipment and method based on straight rod antenna ICP

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10189293A (en) * 1996-10-28 1998-07-21 Anelva Corp Plasma processing device
JP2000008170A (en) * 1998-06-23 2000-01-11 Ricoh Co Ltd Plasma cvd device
JP2000355771A (en) * 1999-06-14 2000-12-26 Canon Inc Film deposition and film deposition system
JP2001126899A (en) * 1999-10-26 2001-05-11 Ulvac Japan Ltd Antenna unit and plasma processing apparatus
JP2001274101A (en) * 2000-03-27 2001-10-05 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Plasma chemiclal vapor deposition apparatus having rod- like electrodes

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10189293A (en) * 1996-10-28 1998-07-21 Anelva Corp Plasma processing device
JP2000008170A (en) * 1998-06-23 2000-01-11 Ricoh Co Ltd Plasma cvd device
JP2000355771A (en) * 1999-06-14 2000-12-26 Canon Inc Film deposition and film deposition system
JP2001126899A (en) * 1999-10-26 2001-05-11 Ulvac Japan Ltd Antenna unit and plasma processing apparatus
JP2001274101A (en) * 2000-03-27 2001-10-05 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Plasma chemiclal vapor deposition apparatus having rod- like electrodes

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003086581A (en) 2003-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4564213B2 (en) Plasma generating antenna and CVD apparatus
KR100602074B1 (en) Parallel-antenna transformer-coupled plasma generation systems
JP4029615B2 (en) Internal electrode type plasma processing apparatus and plasma processing method
Wu et al. The influence of antenna configuration and standing wave effects on density profile in a large-area inductive plasma source
JP2004055600A (en) Plasma processing apparatus
JP2004532506A (en) Apparatus and method for improving plasma distribution and performance in inductively coupled plasmas
JP2010525155A (en) Plasma generator
JP2002280196A (en) Plasma generating device using microwave
JP5017762B2 (en) Discharge device, plasma processing method
JP4982783B2 (en) Sheet plasma generator
KR0174070B1 (en) Plasma treatment device and plasma treatment method
WO2002056649A1 (en) Plasma generator
JP4452061B2 (en) Method of matching antenna for plasma generator and plasma generator
KR20140087215A (en) Plasma generation apparatus and substrate processing apparatus
JP5506826B2 (en) Large area plasma processing equipment
JP4471589B2 (en) Antenna device for plasma generation and plasma processing apparatus
JP2000345351A (en) Plasma cvd device
JPH09289099A (en) Plasma processing method and device
JP3816359B2 (en) Plasma processing apparatus and plasma processing system
Wu et al. A large-area plasma source excited by a tunable surface wave cavity
US20080245969A1 (en) Method and Apparatus for Creating a Plasma
JP3745700B2 (en) Antenna for generating microwave plasma
JP3071814B2 (en) Plasma processing apparatus and processing method thereof
JPH09320966A (en) Plasma enhanced chemical vapor deposition system and plasma etching system
JP2791770B2 (en) Apparatus for forming functional deposited film by microwave plasma CVD

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071001

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100518

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100628

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100720

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100730

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140806

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees